JPS60179666A - 電子回路検査装置 - Google Patents
電子回路検査装置Info
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- JPS60179666A JPS60179666A JP59112101A JP11210184A JPS60179666A JP S60179666 A JPS60179666 A JP S60179666A JP 59112101 A JP59112101 A JP 59112101A JP 11210184 A JP11210184 A JP 11210184A JP S60179666 A JPS60179666 A JP S60179666A
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- electronic circuit
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2805—Bare printed circuit boards
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はプリント配線回路板等の電子回路内の短絡を検
出する検査装置に関する。− 各種電子機器内で部品を接続および支持するためにプリ
ント配線回路板が多用されている。一般にプリント配線
回路板は非導電性平板の基板を使い、その表面にそれぞ
れ独立した多数の導電路を形成しである。導電路は通常
銅で形成し、多くの場合、銅の腐食を防ぐためにニッケ
ル、銀又は金の薄い層で被覆しである。機器内で各プリ
ント配線回路板上の回路を別の回路と接続するために、
グリント配線回路板の縁に沿ってくしの歯状の端子を等
間隔に形成して外縁コネクタとすることが多い。使用時
には、各プリント配線回路板の外縁コネクタをそのくし
の歯状端子に対応した配列の端子を持つ別のコネクタと
差し込みで接続する。
出する検査装置に関する。− 各種電子機器内で部品を接続および支持するためにプリ
ント配線回路板が多用されている。一般にプリント配線
回路板は非導電性平板の基板を使い、その表面にそれぞ
れ独立した多数の導電路を形成しである。導電路は通常
銅で形成し、多くの場合、銅の腐食を防ぐためにニッケ
ル、銀又は金の薄い層で被覆しである。機器内で各プリ
ント配線回路板上の回路を別の回路と接続するために、
グリント配線回路板の縁に沿ってくしの歯状の端子を等
間隔に形成して外縁コネクタとすることが多い。使用時
には、各プリント配線回路板の外縁コネクタをそのくし
の歯状端子に対応した配列の端子を持つ別のコネクタと
差し込みで接続する。
プリント配線回路板にはそれぞれ独立した多数の導電路
を形成しであるので、回路板に部品数例けの前後に検査
をして、電気的に分離しているはずの二つの導電路が短
絡していないことを確認するのが通例である。通常との
検査では電気的検査と視覚検査を行う。この際の電気的
検査は直接的で原理的には確実な方法だが、単調で明間
のかがる仕事である。即ち、プリント配線回路板のくし
の歯状端子のうち隣接する二つに導通試験器の二本の探
針をそれぞれ接触させることの繰返しで、短絡している
場合には試験器が可視又は可聴の信号を発する。二本の
探針は互いに独立していて検査員は両手に一本づつの探
針を持つのが普通なので、各回路板の多数の端子のうち
幾つかを飛ばして検査を進めてし１うことがある。また
、この方法による検査中は注意の集中が必要なので、プ
リント配線回路板上に微小間隔で並んでいるくしの歯状
端子を連続的に注視している検査員は短時間で眼の疲労
を覚える。この旧来の方法では、長さ約１０ｃｍの標準
的プリント配線回路板の両側の外縁コネクタの全端子に
ついて検査するのに、熟練した検査員でも約４０秒を要
する。
を形成しであるので、回路板に部品数例けの前後に検査
をして、電気的に分離しているはずの二つの導電路が短
絡していないことを確認するのが通例である。通常との
検査では電気的検査と視覚検査を行う。この際の電気的
検査は直接的で原理的には確実な方法だが、単調で明間
のかがる仕事である。即ち、プリント配線回路板のくし
の歯状端子のうち隣接する二つに導通試験器の二本の探
針をそれぞれ接触させることの繰返しで、短絡している
場合には試験器が可視又は可聴の信号を発する。二本の
探針は互いに独立していて検査員は両手に一本づつの探
針を持つのが普通なので、各回路板の多数の端子のうち
幾つかを飛ばして検査を進めてし１うことがある。また
、この方法による検査中は注意の集中が必要なので、プ
リント配線回路板上に微小間隔で並んでいるくしの歯状
端子を連続的に注視している検査員は短時間で眼の疲労
を覚える。この旧来の方法では、長さ約１０ｃｍの標準
的プリント配線回路板の両側の外縁コネクタの全端子に
ついて検査するのに、熟練した検査員でも約４０秒を要
する。
プリン］・配線回路板の外縁コネクタの端子間隔に合わ
せて探針間隔を設定することができ、回路板の縁に沿っ
て動かしていけば短絡の有無が判明するような検査装置
があれは好便である。本発明の目的はそのような検査装
置を提供することである。
せて探針間隔を設定することができ、回路板の縁に沿っ
て動かしていけば短絡の有無が判明するような検査装置
があれは好便である。本発明の目的はそのような検査装
置を提供することである。
本発明の電子回路検査装置は、電子回路内の低インピー
ダンス導電路検出のため、当該電子回路の選択した部分
と電気的に接触させる第−及び第二接触手段と、第−及
び第二接触手段の間に外部低インピーダンス導電路の存
在を表示するため第−及び第二接触手段の間に電気的に
接続した報知手段を有し、更に、第−及び第二接触手段
相互の相対的位置を選択的・に定める調節手段と第−及
び第二接触手段の位置を電子回路外縁の選択した部分に
合わせて定める位置決め手段の少くとも一方を有するも
のである。
ダンス導電路検出のため、当該電子回路の選択した部分
と電気的に接触させる第−及び第二接触手段と、第−及
び第二接触手段の間に外部低インピーダンス導電路の存
在を表示するため第−及び第二接触手段の間に電気的に
接続した報知手段を有し、更に、第−及び第二接触手段
相互の相対的位置を選択的・に定める調節手段と第−及
び第二接触手段の位置を電子回路外縁の選択した部分に
合わせて定める位置決め手段の少くとも一方を有するも
のである。
本発明による電子回路検査装置を使用すれば、回路板の
電気的検査を従来の検査装置使用の場合よシ短時間で楽
に行うことができる。本発明の検査装置は、外縁に沿っ
てくしの歯状接点のある回路板検査用の手持型の物にす
ることが可能で、その装置を回路板の外縁全長に沿って
左から右へ、又は右から左に動かすという一動作で検査
が行える。低インピーダンス導電路がある時には、視覚
、聴覚又は触覚によって検査員が迅速正確に認知できる
指示信号を出す。
電気的検査を従来の検査装置使用の場合よシ短時間で楽
に行うことができる。本発明の検査装置は、外縁に沿っ
てくしの歯状接点のある回路板検査用の手持型の物にす
ることが可能で、その装置を回路板の外縁全長に沿って
左から右へ、又は右から左に動かすという一動作で検査
が行える。低インピーダンス導電路がある時には、視覚
、聴覚又は触覚によって検査員が迅速正確に認知できる
指示信号を出す。
本発明による検査装置は、外部電源等を必要としない可
搬型の物にし、しかも取扱い不便なリード線を使わずに
検査が行えるようにすることが可能である。然し、その
装置にリード線接続用ジャックを付加して、必要又は所
望の場合には従来の検査法にも利用可能にすることがで
きる。回路の検査には低電圧低電流を使うので、既に部
品を取り付けた回路板の検査の場合にも回路板上の部品
に悪影響を及ぼすおそれは無い。
搬型の物にし、しかも取扱い不便なリード線を使わずに
検査が行えるようにすることが可能である。然し、その
装置にリード線接続用ジャックを付加して、必要又は所
望の場合には従来の検査法にも利用可能にすることがで
きる。回路の検査には低電圧低電流を使うので、既に部
品を取り付けた回路板の検査の場合にも回路板上の部品
に悪影響を及ぼすおそれは無い。
本発明による検査装置を使えば、長さ約１０ｃＴＬの標
準的プリント配線回路板の両側の外縁コネクタの全端子
についての検査を一人の検査員が行うのに要する時間は
約４秒で、これは、従来の回路試験器を使う場合と比較
すると約１０倍の能率向上になる。
準的プリント配線回路板の両側の外縁コネクタの全端子
についての検査を一人の検査員が行うのに要する時間は
約４秒で、これは、従来の回路試験器を使う場合と比較
すると約１０倍の能率向上になる。
以下、本発明をその実施例について図面を参照しながら
更に詳細に説明する。
更に詳細に説明する。
第１図は、本発明の一実施例の回路板検査装置１０を検
査対象のプリント配線回路板３０の外縁コネクタのくし
の歯状端子２０に接触させた状態を示す。検査装置１０
の箱状ケース４０は例えば合成樹脂のような軽量で耐久
性のある絶縁性拐料製である。ケース４０の両側面には
透明な合成樹脂の窓５０があり、内部にある二重だの固
定接点アーム６０と二またの可動接点アーム７０が回路
板のくしの歯状接点２０と接触する状態が外部からはっ
きり見える。接点アーム６０には一対の接点８２．８４
があり、接点アーム７０にも一対の接点８６．８８があ
り、この装置１０は右手でも左手でも操作できるように
なっている。隣接した二つのくしの歯状接点２０間の測
定には、接点８２と８６を使っても良いし接点８４と８
８を使っても良い。可動接点アーム７０は、例えばナイ
ロンのような絶縁性拐料製のねじ９０（第２図参照）に
よって、ケース４０の底面に平行な平面内で固定接点ア
ーム６０に対して相対的に動かすことができる。この接
点アーム７０の固定接点アーム６０に対する相対的位置
を調節できるので、検査装置１０は用途が広い物になり
、くしの歯状端子２０の間隔Ｘが異なる別の回路板の検
査にも利用可能になる。回路板の外縁コネクタには接点
２０の間隔が違う（例えば２．５４ミｌＪ、３．１８ミ
リ、４７２ミリ）数種の規格があるので、このように調
節可能なことは重要な利点になる。
査対象のプリント配線回路板３０の外縁コネクタのくし
の歯状端子２０に接触させた状態を示す。検査装置１０
の箱状ケース４０は例えば合成樹脂のような軽量で耐久
性のある絶縁性拐料製である。ケース４０の両側面には
透明な合成樹脂の窓５０があり、内部にある二重だの固
定接点アーム６０と二またの可動接点アーム７０が回路
板のくしの歯状接点２０と接触する状態が外部からはっ
きり見える。接点アーム６０には一対の接点８２．８４
があり、接点アーム７０にも一対の接点８６．８８があ
り、この装置１０は右手でも左手でも操作できるように
なっている。隣接した二つのくしの歯状接点２０間の測
定には、接点８２と８６を使っても良いし接点８４と８
８を使っても良い。可動接点アーム７０は、例えばナイ
ロンのような絶縁性拐料製のねじ９０（第２図参照）に
よって、ケース４０の底面に平行な平面内で固定接点ア
ーム６０に対して相対的に動かすことができる。この接
点アーム７０の固定接点アーム６０に対する相対的位置
を調節できるので、検査装置１０は用途が広い物になり
、くしの歯状端子２０の間隔Ｘが異なる別の回路板の検
査にも利用可能になる。回路板の外縁コネクタには接点
２０の間隔が違う（例えば２．５４ミｌＪ、３．１８ミ
リ、４７２ミリ）数種の規格があるので、このように調
節可能なことは重要な利点になる。
第２図は同じ検査装置１０の縦断面図で、第５図は同装
置全体の斜視図である。取外し可能なカバー１１５を外
すと、電源として二つのばね接点１１０と１５０の間に
直列に挿入した二個の１．４Ｖの乾電池１００が表れる
。電池用のばね接点１１０と固定接点アーム６０の間に
はブザー１２〇七ライプ１３０が直列に接続されている
。固定接点アーム６０はグラス側のジャック１４０にモ
接続しである。電池用のばね接点１５０は可動接点アー
ム７０及びマイナス側のジャック１６０に接続しである
。可動接点アーム７０は、ケース４０の側壁に回転可能
に取付けたねじ９０に係合している。ねじ９０を回転さ
せることによって、可動接点アーム７０と固定接点アー
ム６０の間隔Ｘを調節できる。
置全体の斜視図である。取外し可能なカバー１１５を外
すと、電源として二つのばね接点１１０と１５０の間に
直列に挿入した二個の１．４Ｖの乾電池１００が表れる
。電池用のばね接点１１０と固定接点アーム６０の間に
はブザー１２〇七ライプ１３０が直列に接続されている
。固定接点アーム６０はグラス側のジャック１４０にモ
接続しである。電池用のばね接点１５０は可動接点アー
ム７０及びマイナス側のジャック１６０に接続しである
。可動接点アーム７０は、ケース４０の側壁に回転可能
に取付けたねじ９０に係合している。ねじ９０を回転さ
せることによって、可動接点アーム７０と固定接点アー
ム６０の間隔Ｘを調節できる。
ジャック１４０と１６０に普通の導通試験器用の探針付
きリード線を接続すれば、この装置１０を使って従来と
全く同じ方法で回路板３０の検査をすることができる。
きリード線を接続すれば、この装置１０を使って従来と
全く同じ方法で回路板３０の検査をすることができる。
また、他の電子機器に短絡又は低インピーダンスが生じ
た時に警報を出す目的で、ジャック１４０，１６０を使
ってこの装置１０をその電子機器と接続することもでき
る。
た時に警報を出す目的で、ジャック１４０，１６０を使
ってこの装置１０をその電子機器と接続することもでき
る。
二またの固定接点アーム６０は通常−片の部材で、例え
ば、ばね用２５φ硬質銅合金の約０．２５ミリ厚の板の
成形品にすれば強度も弾力性も適当な物になる。固定接
点アーＡ６０はケース４０の内部にねじ１７０で固定し
、二またに分岐しだ接点８２と８４がケース４ｏの底面
から外に出るようにする。二またの可動接点アーム７ｏ
は四個の部品から成る。即ち、例えばナイロンのような
非導電性材料の成形品である二またの支持部１９０、導
電性のはね１８０及びばね金属製の二つの接点８６．８
８から成る。支持部１９０とばね１８０はおのおのねじ
９０に係合してあり、接点８６と８８はそれぞれ支持部
１９０の二重だに分岐した部分にクリップ式に取付けて
あり、導電性ばね１８０によって定位置に保持されると
ともに電源１００に至る回路に接続されている。組立て
た時には、接点８６と８８もケース４０の底面から外に
出る。各接点８２，８４，８６．８８の表面にはほぼ半
球形の小突起２００を形成してあり、この小突起２００
が回路板の端子２０に接触することによって各接点８２
，８４，８６．８８と端子２０の電気的接触を確実にし
ている。
ば、ばね用２５φ硬質銅合金の約０．２５ミリ厚の板の
成形品にすれば強度も弾力性も適当な物になる。固定接
点アーＡ６０はケース４０の内部にねじ１７０で固定し
、二またに分岐しだ接点８２と８４がケース４ｏの底面
から外に出るようにする。二またの可動接点アーム７ｏ
は四個の部品から成る。即ち、例えばナイロンのような
非導電性材料の成形品である二またの支持部１９０、導
電性のはね１８０及びばね金属製の二つの接点８６．８
８から成る。支持部１９０とばね１８０はおのおのねじ
９０に係合してあり、接点８６と８８はそれぞれ支持部
１９０の二重だに分岐した部分にクリップ式に取付けて
あり、導電性ばね１８０によって定位置に保持されると
ともに電源１００に至る回路に接続されている。組立て
た時には、接点８６と８８もケース４０の底面から外に
出る。各接点８２，８４，８６．８８の表面にはほぼ半
球形の小突起２００を形成してあり、この小突起２００
が回路板の端子２０に接触することによって各接点８２
，８４，８６．８８と端子２０の電気的接触を確実にし
ている。
検査の際に回路板損傷の可能性を最小限にするため、各
接点８２，８４Ｌ ８６．ｓｓの表面、あるいは小突起
２００だけを回路板の端子２ｏのめつきに使った金属（
例えば金、ニッケル又は銀）と同じ金属でめっき又は形
成することが望ましい。
接点８２，８４Ｌ ８６．ｓｓの表面、あるいは小突起
２００だけを回路板の端子２ｏのめつきに使った金属（
例えば金、ニッケル又は銀）と同じ金属でめっき又は形
成することが望ましい。
また、長期間使用すると小突起２００が摩耗するので、
可動接点アーム７０の接点８６と８８及び固定接点アー
ム６０は適時に交換する。固定接点アーム６０の交換は
取付ねじ１７０を緩めて行う。
可動接点アーム７０の接点８６と８８及び固定接点アー
ム６０は適時に交換する。固定接点アーム６０の交換は
取付ねじ１７０を緩めて行う。
接点８６．８８の交換の際は、ばね１８０の端部を押し
て支持部１９０の二またに分岐した部分から離す。
て支持部１９０の二またに分岐した部分から離す。
第３図は検査装置１０を底面側から見た斜視図で、二つ
の接点アーム６０及び７０と前記の小突起２００を判り
易く示している。図示の如く、ケース４０の底面には位
置決め用の案内板２１０を固定しである。この案内板２
１０は短冊形で、その長軸をケース底面の中心線、即ち
一対の接点８２と８４及び８６と８８の間隔の中心線Ｃ
Ｌに合わせである。使用時には案内板２１０を常に回路
板３０の側縁２５に接触させておくことによって（第１
図参照）、検査装置１０と回路板３０の縁２５に沿った
端子２０との正しい位置関係を確実に保つ。また、案内
板２１０はケース４ｏ底面の中心にあるので、回路板の
縁２５に沿って検査装置１０を右に向けても左に向けて
も使用できる。
の接点アーム６０及び７０と前記の小突起２００を判り
易く示している。図示の如く、ケース４０の底面には位
置決め用の案内板２１０を固定しである。この案内板２
１０は短冊形で、その長軸をケース底面の中心線、即ち
一対の接点８２と８４及び８６と８８の間隔の中心線Ｃ
Ｌに合わせである。使用時には案内板２１０を常に回路
板３０の側縁２５に接触させておくことによって（第１
図参照）、検査装置１０と回路板３０の縁２５に沿った
端子２０との正しい位置関係を確実に保つ。また、案内
板２１０はケース４ｏ底面の中心にあるので、回路板の
縁２５に沿って検査装置１０を右に向けても左に向けて
も使用できる。
検査装置１０を使用する際は、先ず接点８２゜８４と８
６．８８の突起２００の間隔Ｘを検査する回路板３０の
くしの歯状端子２０の間隔Ｘに合わせて調節する。その
後案内板２１０を回路板３０の縁２５に当てて接点８２
と８６又は８４と８８を端子２０に接触させる。もし隣
接する二つの端子２０間に短絡があればブザー１２０が
鳴り、ランプ１３０が点灯して聴覚的にも視覚的にも短
絡の存在を報知する。寸だ、ブザー１２０が鳴ると手に
持っている装置１０のケース４０が共鳴するので、触覚
的にも短絡のあることが判る。
６．８８の突起２００の間隔Ｘを検査する回路板３０の
くしの歯状端子２０の間隔Ｘに合わせて調節する。その
後案内板２１０を回路板３０の縁２５に当てて接点８２
と８６又は８４と８８を端子２０に接触させる。もし隣
接する二つの端子２０間に短絡があればブザー１２０が
鳴り、ランプ１３０が点灯して聴覚的にも視覚的にも短
絡の存在を報知する。寸だ、ブザー１２０が鳴ると手に
持っている装置１０のケース４０が共鳴するので、触覚
的にも短絡のあることが判る。
第４図は本発明の第二の実施例を示す。この実施例では
、ケース４０が制御部２２０と接点部２３０に分かれて
おり、接点部２３０はヴ団」し式に制御部２２０と分離
することができる。接点部２３０の内部にある固定接点
アーム６０と可動接点アーム７０は二つのばね接点２４
０と２５０を介してそれぞれ制御部２２０と電気的に接
続している。この実施例では接点アーム６０及び７０の
交換が容易である。また、−個の制御部２２０について
複数の接点部２３０を用意して、くしの歯状端子の間隔
Ｘ又は利質（銅、銀、金、ニッケル等）が異なる数種類
の回路板の検査をすることができる。なお、摩耗した接
点の交換が短時間で容易にできるという利点もある。
、ケース４０が制御部２２０と接点部２３０に分かれて
おり、接点部２３０はヴ団」し式に制御部２２０と分離
することができる。接点部２３０の内部にある固定接点
アーム６０と可動接点アーム７０は二つのばね接点２４
０と２５０を介してそれぞれ制御部２２０と電気的に接
続している。この実施例では接点アーム６０及び７０の
交換が容易である。また、−個の制御部２２０について
複数の接点部２３０を用意して、くしの歯状端子の間隔
Ｘ又は利質（銅、銀、金、ニッケル等）が異なる数種類
の回路板の検査をすることができる。なお、摩耗した接
点の交換が短時間で容易にできるという利点もある。
第１図は本発明の第一実施例の回路板検査装置の一部切
欠斜視図で、検査するプリント配線回路板に接触させた
状態を示す。第２図は第１図の検査装置の縦断面図、第
３図は第１図の検査装置の底面側から見た斜視図である
。第４図は本発明の第二実施例の縦断面図である。第５
図は第１図の検査装置の斜視図である。 １０・・・検査装置、 ２０・・回路板のくしの歯状端
子、 ３０・・・プリント配線回路板、 ４０・・ケー
ス、６０・・固定接点アーム、７０・・・可動接点アー
ム、 ８２，８４，８６．８８・・・接点、９０・・・
調節用ねじ、 １００・・・乾電池、１２０・・・ブザ
ー、１３０・・・ランプ、１４０゜１６０・・・ジャッ
ク、１８０・導電性ばね、１９０・・・非導電性支持部
、 ２００・・小突起、２１０・・・位置決め用案内板
、２２０・・・制御部、２３０・・・接点部 特許出願人 ジョセフ・エフ曇フエスタ代理人弁理士
森 崎 俊 明 □□リソ −ＩＧ、 ２ ＦＩＧ、４ ＦＩＧ、 ５ 手続補正宿坊式・自鋤 １．事件の表示 昭和５９年特許願 第１１２１０１号 ２、発明の名称 電子回路検査装置 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 アメリカ合衆国カリフォルニア用 ９５１１８、
サンノゼ、カレ・デ０トスカ ４５６１氏名ショセフ・
エフのフエスタ 国籍 米国 ４、代理人 〒１０４ （電話）０３−５４３−４６０
７住所 東京都中央区銀座５丁目１２番８号 本州ビル
２）正式図面の提出 ７、補正の内容 別紙のとおり
欠斜視図で、検査するプリント配線回路板に接触させた
状態を示す。第２図は第１図の検査装置の縦断面図、第
３図は第１図の検査装置の底面側から見た斜視図である
。第４図は本発明の第二実施例の縦断面図である。第５
図は第１図の検査装置の斜視図である。 １０・・・検査装置、 ２０・・回路板のくしの歯状端
子、 ３０・・・プリント配線回路板、 ４０・・ケー
ス、６０・・固定接点アーム、７０・・・可動接点アー
ム、 ８２，８４，８６．８８・・・接点、９０・・・
調節用ねじ、 １００・・・乾電池、１２０・・・ブザ
ー、１３０・・・ランプ、１４０゜１６０・・・ジャッ
ク、１８０・導電性ばね、１９０・・・非導電性支持部
、 ２００・・小突起、２１０・・・位置決め用案内板
、２２０・・・制御部、２３０・・・接点部 特許出願人 ジョセフ・エフ曇フエスタ代理人弁理士
森 崎 俊 明 □□リソ −ＩＧ、 ２ ＦＩＧ、４ ＦＩＧ、 ５ 手続補正宿坊式・自鋤 １．事件の表示 昭和５９年特許願 第１１２１０１号 ２、発明の名称 電子回路検査装置 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 アメリカ合衆国カリフォルニア用 ９５１１８、
サンノゼ、カレ・デ０トスカ ４５６１氏名ショセフ・
エフのフエスタ 国籍 米国 ４、代理人 〒１０４ （電話）０３−５４３−４６０
７住所 東京都中央区銀座５丁目１２番８号 本州ビル
２）正式図面の提出 ７、補正の内容 別紙のとおり
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１）電子回路内の低インピーダンス導電路検出のため
、当該電子回路の選択した部分と電気的に接触させる第
−及び第二接触手段、第−及び第二接触手段相互の相対
的位置を選択的に定める調節手段、及び、第−及び第二
接触手段の間に外部低インピーダンス導電路の存在を表
示するだめ第−及び第二接触手段の間に電気的に接続し
た報知手段を有することを特徴とする電子回路検査装置
。 （２）前記第−及び第二接触手段の位置を前記電子回路
外縁の選択した部分に合わせて定める位置決め手段を有
する特許請求の範囲第１項に記載の検査装置。 （３）電子回路内の低インピーダンス導電路検出のため
、当該電子回路の選択した部分と電気的に接触させる第
−及び第二接触手段、第−及び第二接触手段の位置を前
記電子回路外縁の選択した部分に合わせて定める位置決
め手段、及び、第−及び第二接触手段の間に外部低イン
ピーダンス導電路の存在を表示するため第−及び第二接
触手段の間に電気的に接続した報知手段を有することを
特徴とする電子回路検査装置。 （４）前記第−及び第二接触手段相互の相対的位置を選
択的に定める調節手段を有する特許請求の範囲第３項に
記載の検査装置。 （５）少くとも一縁に沿ってくしの歯状に形成した等間
隔のコネクタ端子があるプリント配線回路板の配線間の
低インピーダンス導電路検出のため、第一のコネクタ端
子と電気的に接触させる第一接触手段、第二のコネクタ
端子と電気的に接触させる第二接触手段、第−及び第二
接触手段を前記回路板外縁に沿ったくしの歯状の前記コ
ネクタ端子に合わせて定めるため第−及び第二接触手段
と機械的に接続した位置決め手段、及び、第−及び第二
接触手段の間に外部低インピーダンス導電路の存在を表
示するため第−及び第二接触手段の間に電気的に接続し
た報知手段を有することを特徴とする電子回路検査装置
。 （６）前記第−及び第二接触手段相互の相対的位置を選
択的に定める調節手段を有する特許請求の範囲第５項に
記載の検査装置。 （７）前記第−及び第二接触手段にはおのおの二またの
フォーク状接点部があり、その二またに分岐した部分は
前記位置決め手段に関して対称である特許請求の範囲第
５項に記載の検査装置。 （８）前記第−及び第二接触手段にはおのおのばねで伺
勢された接点部がある特許請求の範囲第６項に記載の検
査装置。 （９） Ｍ記のばねで伺勢された接点部に、前記回路板
の前記コネクタ端子との接触を確実にするだめの小突起
がある特許請求の範囲第８項に記載の検査装置。 ００）前記第−及び第二接触手段の前記フォーク状接点
部のニオだに分岐した部分が導電性材料で形成されてい
る特許請求の範囲第７項に記載の検査装置。 Ｑｌ） 前記フォーク状接点部の二またに分岐した部分
の表面に、前記回路板の前記コネクタ端子の表面めっき
金属に適合した金属の被膜がある特許請求の範囲第１０
項に記載の検査装置。 （１２）前記接点部が取υ外し及び交換可能な特許請求
の範囲第８項に記載の検査装置。 ０３）それぞれ前記第−及び第二接触手段と電気的に接
続した二個のジャックを有する特許請求の範囲第５項に
記載の検査装置。 ０４）前記報知手段か電池及び該電池と前記第−及び第
二接触手段の一方に接続したブザーを含む特許請求の範
囲第５項に記載の検査装置。 （Ｉ５）前記報知手段が電池及び該電池と前記第−及び
第二接触手段の一方に接続したランプを含む特許請求の
範囲第５項に記載の検査装置。 ０６）前記報知手段が電池、ブザー及びランプを含み、
該ブザー及びランプが共に前記電池と前記第−及び第二
接触手段の一方に接続されている特許請求の範囲第５項
に記載の検査装置。 αη 前記第−及び第二接触手段ふ前記報知手段の間に
、前記第−及び第二接触手段をそれぞれ前記報知手段と
機械的及び電気的に取り外し可能に接続する連結手段が
ある特許請求の範囲第５項に記載の検査装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US49998483A | 1983-06-01 | 1983-06-01 | |
| US499984 | 1983-06-01 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60179666A true JPS60179666A (ja) | 1985-09-13 |
Family
ID=23987564
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59112101A Pending JPS60179666A (ja) | 1983-06-01 | 1984-05-31 | 電子回路検査装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0129993A1 (ja) |
| JP (1) | JPS60179666A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6266152A (ja) * | 1985-09-19 | 1987-03-25 | Seiko Epson Corp | 電極の検査方法 |
| JPH08211119A (ja) * | 1995-11-13 | 1996-08-20 | Seiko Epson Corp | 電極基板の検査方法 |
| JP2007045512A (ja) * | 2005-08-12 | 2007-02-22 | Dainippon Printing Co Ltd | 複合容器 |
| JP2008056267A (ja) * | 2006-08-30 | 2008-03-13 | Yoshino Kogyosho Co Ltd | 防虫シート用容器 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3537000A (en) * | 1967-09-20 | 1970-10-27 | Vimm Research Dev Corp | Electrical probe including pivotable contact elements |
| US3670245A (en) * | 1970-03-05 | 1972-06-13 | Hewlett Packard Co | Logic clip |
| US4176315A (en) * | 1978-05-11 | 1979-11-27 | Sunnarborg Earl D | Miniature electrical voltage and continuity tester with circuit compartment and test lead compartment casing |
| DE2912826A1 (de) * | 1979-03-30 | 1980-10-16 | Heinz Laass | Elektrisches pruefgeraet |
-
1984
- 1984-05-31 JP JP59112101A patent/JPS60179666A/ja active Pending
- 1984-06-01 EP EP84303709A patent/EP0129993A1/en not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6266152A (ja) * | 1985-09-19 | 1987-03-25 | Seiko Epson Corp | 電極の検査方法 |
| JPH08211119A (ja) * | 1995-11-13 | 1996-08-20 | Seiko Epson Corp | 電極基板の検査方法 |
| JP2007045512A (ja) * | 2005-08-12 | 2007-02-22 | Dainippon Printing Co Ltd | 複合容器 |
| JP2008056267A (ja) * | 2006-08-30 | 2008-03-13 | Yoshino Kogyosho Co Ltd | 防虫シート用容器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0129993A1 (en) | 1985-01-02 |
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