KR900017180A - 반도체 장치와 그 제조방법 - Google Patents
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- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
- H01L27/04—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body
- H01L27/06—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration
Abstract
내용 없음.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도와 제2도는 각각 본 발명을 설명하기 위한 단면도와 평면도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
3 : 에미터영역 5 : 절연막
6 : 에미터전극 11 : 반도체기판
12 : 에피택셜층(epitaxial layer) 13 : 분리영역
14,35 : 섬영역 15 : P형의 인젝터영역
16 : P형의 베이스영역 17 : N+형의 콜렉터영역
18,33 : N+형 매립층 19 : N+형칼라영역
20 : 접촉구멍 21 : 전극
31 : P형 실리콘 반도체기판 32 : N-형 에피택셜층
34 : P+형 분리영역 36 : 베이스영역
37,42 : P형 외부 베이스영역 38 : N+형 에미터영역
39 : N+형 콜렉터접촉영역 40 : P-형 베이스영역
41 : 인젝터영역 43 : N형 제1의 콜렉터영역
44 : N+형 제2의 콜렉터영역 45 : N형의 칼라영역
46 : 실리콘 산화막 55 : 블록
56 : 접촉구멍 61 : N+칼라 접촉영역
Claims (4)
- 반도체 기체의 표면에 부식에미터 구조의 바이폴라 트랜지스터와 IIL과를 집적화한 반도체 장치에 있어서.전기한 IIL의 역방향 세로형 인버어터 트랜지스터는 그 바닥부분에 고동노의 매립층(33)을 갖고. 전기한 역방향세로형 인버어턴 트랜지스터의 에미터가 되는 섬영역 (14).(35)의 표면에 1도전형의 베이스 영역(16).(36)을 형성하고. 그 베이스 영역(16).(36)의 표면에 역도전형(逆導電馨)의 제1의 콜렉터 영역(43)을 형성하고. 그 제1의콜렉터영역(43)의 표면에 전기한 제1의 콜렉터영역(43)보다 페터언의 열린 곳의 면적이 적은 역도전형의 제2의콜렉터영역(44)을 형성하고. 전기한 반도체 기체상에 전기한 제2의 콜렉터영역(44)을 규정하는 열린구멍을 갖는절연막(5)이 형성되고. 이 열린구멍을 거쳐서 전기한 제2의 콜렉터영역(44)와 오움접촉하는 전극(47)을 마련한것을 특징으로 하는 반도체 장치.
- 제1항에 있어서, 상기한 제2의 콜렉터영역(44)의 형성은 NPN트랜지스터의 N+형 에미터영역(38)의 형성과 동시에 행하는 것을 특징으로 하는 반도체장치의 제조방법.
- IIL의 역방향 세로형 바이폴라 트랜지스터의 에미터가 되는 섬영역(14).(35)의 표면에 1도전형의 베이스영역(16),(36)을 형성하는 공정, 전기한 IIL의 베이스영역(16)(36) 표면에 역도전형의 제1의 콜렉터 영역(43)을 형성항과 아울러 전기한 제1의 콜렉터영역(43)의 표면에 절연막(5)를 형성하는 공정. 전기한 절연막(5)를 패터언화(patterning)해서 전기한 제1의 콜렉터영역(43)의 표면에 불순물 확산용의 창을 형성하고. 1도전형의 제2의 콜렉터영역(44)를 형성하는 불순물을 상기한 창을 통해서 도입하는 공정과, 상기한 불순물을 확산함으로서 상기한 제1의 콜렉터영역(43)의 표면에 이보다 열린곳 부분이 적은 제2의 콜렉터영역(44)를 형성하는 공정과, 상기한 불순물을 확산하는 과정에서 상기한 제2의 콜렉터영역(44) 표면에 생성된 엷은 절연막을 부식액으로 세척하므로서 반도체표면을 노출시키는 공정과, 상기한 확산용의 창을 접촉구멍으로서 상기한 제2의 콜렉터영역(44)와 오옴접촉하는 전극을 배치하는 공정을 구비한 것을 특징으로 하는 반도체장치의 제조방법.
- 제3항에 있어서, 전기한 제2의 콜렉터영역(44)의 형성은 NPN 트랜지스터의 N+형 에미터영역(38)과 동시에행하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (3)
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JP???1-96710 | 1989-04-17 | ||
JP1-96710 | 1989-04-17 | ||
JP1096710A JPH06103739B2 (ja) | 1989-04-17 | 1989-04-17 | 半導体装置の製造方法 |
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KR900017180A true KR900017180A (ko) | 1990-11-15 |
KR970010016B1 KR970010016B1 (ko) | 1997-06-20 |
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KR1019900004819A KR970010016B1 (ko) | 1989-04-17 | 1990-04-09 | 반도체장치의 제조방법 |
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Country | Link |
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---|---|---|---|---|
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JPS63208270A (ja) * | 1987-02-25 | 1988-08-29 | Hitachi Ltd | 半導体装置とその製造法 |
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1989
- 1989-04-17 JP JP1096710A patent/JPH06103739B2/ja not_active Expired - Fee Related
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1990
- 1990-04-09 KR KR1019900004819A patent/KR970010016B1/ko not_active IP Right Cessation
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