KR880005683A - Lsi칩 실장(實裝)구조체 - Google Patents
Lsi칩 실장(實裝)구조체 Download PDFInfo
- Publication number
- KR880005683A KR880005683A KR870010825A KR870010825A KR880005683A KR 880005683 A KR880005683 A KR 880005683A KR 870010825 A KR870010825 A KR 870010825A KR 870010825 A KR870010825 A KR 870010825A KR 880005683 A KR880005683 A KR 880005683A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- group
- solder bump
- lsi chip
- connection pad
- mounting structure
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/12—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process
- H01L2224/14—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process of a plurality of bump connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32225—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73201—Location after the connecting process on the same surface
- H01L2224/73203—Bump and layer connectors
- H01L2224/73204—Bump and layer connectors the bump connector being embedded into the layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/93—Batch processes
- H01L2224/94—Batch processes at wafer-level, i.e. with connecting carried out on a wafer comprising a plurality of undiced individual devices
Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 의한 LSI칩 실장(實裝)구조체의 예이고, (a)는 단면도, (b)는 캐리어기판측에서본 평면도,
제2도는 본 발명에 있어서의 LSI칩 상의 땜납범프(bump)의 배치예를 나타낸 평면도이다.
Claims (12)
- 땜납범프군을 구비한 LSI 칩과, 상기 땜납범프군과 대응하는 접속패드군을 구비한 캐리어기판을 플립칩 접합에 의하여 접속한 LSI칩 실장체에 있어서, 상기 땜납범프군을 패턴화된 복수개의 땜납범프군의 단위로 분할 할 수 있게 배열되어 있고, 또한 상기 접속패드군은 패턴화된 복수개의 접속패드군의 단위로 분할할수 있게 배열되어 있는 것을 특징으로 하는 LSI칩실장 구조체.
- 땜납범프군을 구비한 LSI칩과, 상기 땜납범프군과 대응하는 접속패드군을 구비한 케리어기판을 플립칩 접합에 의하여 접속한 LSI칩 실장구조체에 있어서, 상기 땜납범프군을 패턴화된 복수개의 땜납범프군의 단위로 분할 할 수 있도록 배열되어 있고 상기 접속패드군은 패턴화된 복수개의 접속패드군의 단위로 분할 할수 있도록 배열되어 있고, 또한 상기 땜납군과 접속패턴군의 각각 2개이상의 다른 패턴의 단위로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 LSI칩 실장구조체.
- 땜납범프군을 구비한 LSI칩과, 상기땜납범프군과 대응하는 접속패드군을 구비한 캐리어 기판을 플립칩접합에 의하여 접속한 LSI칩 실장장치에 있어서, 상기 땜납범프군은 패턴화된 복수개의 땜납군의 단위의 반복 집합체에 의하여 구성되어있고, 또한 상기 접속패드군은 패턴화된 복수개의 접속패트군의 단위의 반복집합체에 의하여 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 LSI칩 실장구조체.
- 땜납범프군을 구비한 LSI칩과, 상기 땜납범프군과 대응하는 접속패드군을 구비한 캐리어 기판을 플립칩 접합에 의하여 접속한 LSI칩 실장구조체에 있어서, 상기 땜납범프군은 패턴화된 복수개의 땜납범프군의 단위의 집합체에 의하여 구성되어있고, 상기 접속패드군을 패턴화된 복수개의 접속패드군의 단위의 집합체에 의하여 구성되어있고 또한 상기 땜납범프군과 접속패드군의 각각은 2개 이상의 다른 패턴의 단위에 의하여 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 LSI칩 실장구조체.
- 땜납범프군을 구비한 LSI칩과 상기 땜납범프군과 대응하는 접속패드군을 구비한 캐리어 기판을 플립칩접합에 의하여 접속한 LSI칩 실장구조체이 있어서, 상기 땜납범프군은 패턴화된 복수개의 땜납범프군의 단위로 분할 할 수 있도록 배열되어 있고 또한 상기 패드군은 패턴화된 복수개의 접속패드군의 단위로 분할 할수 있도록 배열되어 있고, 그 땜납범프군의 접합부에 있어서의 칩과 캐리어 기판과의 공극부가 수지로 충정되어 있는 것을 특징으로 하는 LSI칩 실장구조체.
- 제5항에 있어서, 상기 충전수지의 열팽창계수가 상기 칩과 캐리어 기판의 열팽창계수의 사이의 열팽창계수를 가지는 것을 특징으로 하는 LSI칩 실장구조체.
- 제5항에 있어서, 상기 충전수지의 유리전이온도가 150℃이상에서 열팽창 계수가 40×10-6/℃ 이하 인것을 특징으로 하는 LSI칩 실장구조체.
- 제5항에 있어서, 상기 충전수지의 유리 전이온도가 150℃이상에서 열팽창계수가 (5-30)×10-6/℃이하인것을 특징으로 하는 LSI칩 실장구조체.
- 땜납범프군을 구비한 LSI칩과 상기 땜납범프군과 대응하는 접속패드군을 구비한 캐리어 기판과를 플립칩 접합에 의하여 접속한 LSI칩 실장구조체에 있어서, 상기 땜납범프군은 복수개의 땜납범프군의 단위로 분할 할 수 있도록 배열되어 있고, 또한 상기 접속패드군은 패턴화된 복수개의 접속패드군의 단위로 분할 할 수 있도록 배열되어 있고 상기 캐리어 기판은 상기 접속패드군이 형성되어 있는 개소에 관통공이 형성되고, 그 관통공내에는 도체가 설치되고 그단부에 외부접속용의 접속패드를 가지며 상기 땜납범프군의 접합부에 있어서의 칩과 캐리어 기판과의 공극부가 수지로 충전되어 있는 것을 특징으로 하는 LSI칩 실장구조체.
- 제9항에 있어서, 상기 충전수지의 열팽창계수가 상기 칩과 캐리어 기판의 열팽창계수의 사이의 열팽창 계수를 가지는 것을 특징으로 하는 LSI칩 실장구조체.
- 제9항에 있어서, 상기 충전수지의 유리 전이온도가 150℃이상에서, 열팽창계수가 40×10-6/℃ 이하 인것을 특징으로 하는 LSI칩 실장구조체.
- 제9항에 있어서, 상기 충전수지의 유리 전이온도가 150℃에서 열팽창계수가 (5-30)×10-6/℃이하인것을 특징으로하는 LSI칩 실장구조체.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61241314A JPH0738401B2 (ja) | 1986-10-13 | 1986-10-13 | Lsiチツプ実装構造体 |
JP241314 | 1986-10-13 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR880005683A true KR880005683A (ko) | 1988-06-30 |
Family
ID=17072448
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR870010825A KR880005683A (ko) | 1986-10-13 | 1987-09-29 | Lsi칩 실장(實裝)구조체 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0738401B2 (ko) |
KR (1) | KR880005683A (ko) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2592308B2 (ja) * | 1988-09-30 | 1997-03-19 | 株式会社日立製作所 | 半導体パッケージ及びそれを用いたコンピュータ |
US5166773A (en) * | 1989-07-03 | 1992-11-24 | General Electric Company | Hermetic package and packaged semiconductor chip having closely spaced leads extending through the package lid |
JPH0476219U (ko) * | 1990-11-15 | 1992-07-03 | ||
JP2826049B2 (ja) * | 1992-11-18 | 1998-11-18 | 松下電子工業株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
JP2518508B2 (ja) * | 1993-04-14 | 1996-07-24 | 日本電気株式会社 | 半導体装置 |
JP3176307B2 (ja) * | 1997-03-03 | 2001-06-18 | 日本電気株式会社 | 集積回路装置の実装構造およびその製造方法 |
FR2782840B1 (fr) * | 1998-08-25 | 2003-09-05 | Commissariat Energie Atomique | Circuit electronique et procede de realisation d'un circuit electronique integre comprenant au moins un composant electronique de puissance dans une plaque de substrat |
US6405429B1 (en) * | 1999-08-26 | 2002-06-18 | Honeywell Inc. | Microbeam assembly and associated method for integrated circuit interconnection to substrates |
EP1359617A1 (fr) * | 2002-04-29 | 2003-11-05 | Valtronic S.A. | Procédé de fabrication de modules électroniques |
-
1986
- 1986-10-13 JP JP61241314A patent/JPH0738401B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1987
- 1987-09-29 KR KR870010825A patent/KR880005683A/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0738401B2 (ja) | 1995-04-26 |
JPS6395638A (ja) | 1988-04-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR960035835A (ko) | 반도체장치와 그 제조방법 | |
KR940022755A (ko) | 반도체 장치 및 그 제조방법과 반도체장치용 리드프레임(Lead frame) | |
EP0329133A3 (en) | Flip substrate for chip mount | |
KR930001365A (ko) | 복합 플립 칩 반도체 소자와 그 제조 및 번-인(burning-in) 방법 | |
KR880013241A (ko) | 다중칩 모듈 구조체 | |
KR970017920A (ko) | 반도체장치 및 그 제조방법 | |
JPS57207356A (en) | Semiconductor device | |
CA2242802A1 (en) | Mounting structure for one or more semiconductor devices | |
KR970067787A (ko) | 반도체장치 | |
KR830004676A (ko) | 회로 패키지들의 제조방법 | |
KR930009036A (ko) | 반전형 IC의 제조방법 및 그것을 사용한 IC모듈(module) | |
KR940001363A (ko) | 로우 프로필 오버몰드된 패드 배열 반도체 디바이스 및 그 제조방법 | |
KR950015725A (ko) | 전단 응력의 발생을 방지할 수 있는 반도체 장치 | |
KR850002173A (ko) | 집적회로 소자내의 칩 지지패드를 접지시키기 위한방법 | |
KR880005683A (ko) | Lsi칩 실장(實裝)구조체 | |
KR970023907A (ko) | 반도체 장치 | |
KR920010761A (ko) | 반도체소자실장방법 | |
KR920010872A (ko) | 멀티칩 모듈 | |
KR930005101A (ko) | 테이프 자동 결합 반도체 장치 | |
KR950012694A (ko) | 반도체 장치 | |
KR940006187Y1 (ko) | 반도체장치 | |
KR900019545A (ko) | 표면장착용 배선기판의 제조방법 | |
EP1041618A4 (en) | SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF, PRINTED CIRCUIT BOARD AND ELECTRONIC EQUIPMENT | |
JPS57181144A (en) | Semiconductor device | |
EP0268111A3 (en) | Interposer chip technique for making engineering changes between interconnected semiconductor chips |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
SUBM | Submission of document of abandonment before or after decision of registration |