KR880000837A - 분주 검사 기능을 갖춘 집적 회로 - Google Patents
분주 검사 기능을 갖춘 집적 회로 Download PDFInfo
- Publication number
- KR880000837A KR880000837A KR870005561A KR870005561A KR880000837A KR 880000837 A KR880000837 A KR 880000837A KR 870005561 A KR870005561 A KR 870005561A KR 870005561 A KR870005561 A KR 870005561A KR 880000837 A KR880000837 A KR 880000837A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- circuit
- reset
- dividing
- clock pulse
- divider
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
-
- G—PHYSICS
- G04—HOROLOGY
- G04D—APPARATUS OR TOOLS SPECIALLY DESIGNED FOR MAKING OR MAINTAINING CLOCKS OR WATCHES
- G04D7/00—Measuring, counting, calibrating, testing or regulating apparatus
- G04D7/12—Timing devices for clocks or watches for comparing the rate of the oscillating member with a standard
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31701—Arrangements for setting the Unit Under Test [UUT] in a test mode
-
- G—PHYSICS
- G04—HOROLOGY
- G04G—ELECTRONIC TIME-PIECES
- G04G3/00—Producing timing pulses
- G04G3/02—Circuits for deriving low frequency timing pulses from pulses of higher frequency
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Electric Clocks (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 일실시예에 대한 논리 회로 선도. 제2도 및 제3도는 작동 설명을 위한 시간 챠트.
Claims (2)
- 표준 주파수 신호를 분할하는 제1분주 회로와, 상기 제1분주 회로로부터의 출력 신호를 분할하는 제2분주 회로와, 상기 제1분주 회로로부터 상기 제2분주 회로로 출력 신호를 공급하는 것을 금지하는 검사 클럭펄스가 공급되고, 상기 검사 클럭 펄스를 상기 제2분주 회로에 공급하는 단자를 구비하는 것을 특징으로 하는 분주 검사 기능을 갖춘 집적 회로.
- 표준 주파수 신호를 분할하는 분주 회로와, 상기 분주 회로의 리세트 입력 단자에 접속된 리세트 단자와, 그러한 리세트 단자를 지정된 전압 레벨로 보유함으로써 상기 분주 회로의 최소한 일부를 리세트하는 리세트 회로와, 클럭 펄스를 상기 리세트 단자에 외부적으로 입력시킴으로써 상기 분주 회로의 지정된 수효의 분주단을 리세트하고, 지정된 분주단 다음의 후속 분주단에 상기 클럭 펄스를 공급하는 제어 회로를 구비하는 것을 특징으로 하는 분주 검사 기능을 갖춘 집적 회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61128967A JPH0752214B2 (ja) | 1986-06-03 | 1986-06-03 | 分周テスト機能付集積回路 |
JP128967 | 1986-06-03 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR880000837A true KR880000837A (ko) | 1988-03-29 |
KR900008604B1 KR900008604B1 (ko) | 1990-11-26 |
Family
ID=14997839
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019870005561A KR900008604B1 (ko) | 1986-06-03 | 1987-06-02 | 분주 검사 기능을 갖춘 집적 회로 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4801875A (ko) |
JP (1) | JPH0752214B2 (ko) |
KR (1) | KR900008604B1 (ko) |
DE (1) | DE3717292A1 (ko) |
GB (1) | GB2192466B (ko) |
HK (1) | HK11393A (ko) |
SG (1) | SG115292G (ko) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5039602A (en) * | 1990-03-19 | 1991-08-13 | National Semiconductor Corporation | Method of screening A.C. performance characteristics during D.C. parametric test operation |
US5095267A (en) * | 1990-03-19 | 1992-03-10 | National Semiconductor Corporation | Method of screening A.C. performance characteristics during D.C. parametric test operation |
JP2745869B2 (ja) * | 1991-07-11 | 1998-04-28 | 日本電気株式会社 | 可変クロック分周回路 |
JP6304472B2 (ja) * | 2013-02-12 | 2018-04-04 | セイコーエプソン株式会社 | 半導体集積回路、発振器、電子機器、移動体および半導体集積回路の検査方法 |
US11879939B2 (en) | 2022-02-08 | 2024-01-23 | Nxp B.V. | System and method for testing clocking systems in integrated circuits |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57201885A (en) * | 1981-06-08 | 1982-12-10 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Electronic circuit |
-
1986
- 1986-06-03 JP JP61128967A patent/JPH0752214B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1987
- 1987-03-04 US US07/021,670 patent/US4801875A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-04-03 GB GB8707964A patent/GB2192466B/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-05-22 DE DE19873717292 patent/DE3717292A1/de active Granted
- 1987-06-02 KR KR1019870005561A patent/KR900008604B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1992
- 1992-11-04 SG SG1152/92A patent/SG115292G/en unknown
-
1993
- 1993-02-11 HK HK113/93A patent/HK11393A/xx not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2192466A (en) | 1988-01-13 |
GB2192466B (en) | 1990-04-25 |
HK11393A (en) | 1993-02-19 |
GB8707964D0 (en) | 1987-05-07 |
JPH0752214B2 (ja) | 1995-06-05 |
US4801875A (en) | 1989-01-31 |
JPS62285078A (ja) | 1987-12-10 |
KR900008604B1 (ko) | 1990-11-26 |
DE3717292A1 (de) | 1987-12-10 |
SG115292G (en) | 1993-01-29 |
DE3717292C2 (ko) | 1989-08-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR920005172A (ko) | 테스트 모드 진입을 위한 클럭된 호출 코드를 가지는 반도체 메모리 | |
KR880005746A (ko) | 반도체집적회로 | |
KR890007126A (ko) | 프로그램 가능 입력/출력 회로 | |
KR910003898A (ko) | 전원용 모놀리식집적회로 | |
KR840001026A (ko) | 데이타 독출회로 | |
KR900005694A (ko) | 트리거 신호에 따른 소정 펄스폭의 펄스 발생회로 | |
KR880000837A (ko) | 분주 검사 기능을 갖춘 집적 회로 | |
CH613343B (fr) | Piece d'horlogerie electronique, notamment montre-bracelet electronique, comprenant un agencement pour indiquer la duree de vie restante d'une pile qui l'alimente. | |
KR850008567A (ko) | 반도체 집적회로 | |
KR840005625A (ko) | 진단시간 지연장치 | |
KR890006085A (ko) | Pll 회로 | |
KR910006986A (ko) | 기능선택회로 | |
KR910010705A (ko) | 반도체집적회로 | |
KR910014785A (ko) | 집적회로장치(integrated circuit device) | |
KR880000969A (ko) | 스타틱ram | |
KR860001361Y1 (ko) | 모노 멀티바이브레이터 | |
KR900002624A (ko) | 클램프펄스 작성회로 | |
GB934306A (en) | Tunnel diode logic circuit | |
IT1134023B (it) | Circuito integrato monolitico includente un generatore di segnale d'orologio | |
SU758122A1 (ru) | Устройство для ввода информации | |
KR890004865Y1 (ko) | 카운터를 이용한 지연단축형 분주회로 | |
SU1649525A1 (ru) | Устройство дл ввода информации | |
KR940004964A (ko) | 최소치회로 | |
KR890007502A (ko) | 카운터를 사용한 테스트 논리회로 | |
SU392508A1 (ru) | Частотно-импульсное множительно- делительное устройство |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
G160 | Decision to publish patent application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |