KR870009237A - 테스트용이화회로 및 테스트방법 - Google Patents

테스트용이화회로 및 테스트방법 Download PDF

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Abstract

내용 없음

Description

테스트용이화회로 및 테스트방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 테스트용이화회로의 일실시예를 나타낸 회로다이어그램,
제2도는 제1도의 회로에대한 통상적인 동작을 나타낸 등가회로다이어그램,
제3도는 본 발명의 개념을 나타내기 위해 사용된 회로예의 블록다이어그램

Claims (18)

  1. 회로모듈간이 계속됨과 더불어 소정의 회로모듈로부터 외부마디를 인출하여 구성된 계층을 이루는 상부레벨의 회로수단과, 각 회로모듈의 입,출력부에 설치된 삽입게이트수단, 상기 삽입게이트수단 사이의 상호배선을 일단으로 하여 설치된 입,출력용게이트수단, 상기 상호 배선의 출력측에 회로모듈이 속하지 않는 회로모듈의 입력외부마디에 상기 입,출력용게이트의 입력단자를 연결시키 주기 위한 수단, 상기 상호배선의 입력측회로모듈에 속하지 않는 회로모듈의 출력외부마디에 상기 입,출력용게이트의 출력단자를 연결시켜주기 위한 수단 및, 각 삽입게이트와 입,출력용게이트의 제어단자에 설치된 재기록가능메모리수단등으로 구성된 것을 특징으로 하는 테스트용이화 회로.
  2. 제1항에 있어서, 메모리수단이 플립플륨으로 구성된 것을 특징으로 하는 테스용이화 회로.
  3. 제2항에 있어서, 플립플롭이 직렬로 접속되어 쉬프트레지스터를 구성하는 것을 특징으로 하는 테스트용이화 회로.
  4. 제3항에 있어서, 각 플립플롭에 삽입게이트수단 또는 입력게이트수단에 대응하여 셋트단자 또는 리셋트단자가 설치된 것을 특징으로 하는 테스트용이화 회로.
  5. 제1항에 있어서 같은 회로모듈에 속하는 삽·입게이트수단이 같은 메모리수단에 의해 제어되는 것을 특징으로 하는 테스트용이화 회로.
  6. 제1항에 있어서, 같은 회로모듈에 속하는 삽입게이트를 공통으로 제어하는 기억수단과는 별개로 같은 회로모듈에 속하는 입·출력용게이트를 공통으로 제어하는 기억수단이 설치된 것을 특징으로 하는 테스트용이화 회로.
  7. 제1항에 있어서, 같은 회로모듈에 속하는 삽입게이트를 공동으로 제어하는 기억수단과는 별개로 같은 회로모듈에 속하는 입·출력용게이트를 공통으로 제어하는 기억수단이 설치된 것을 특징으로 하는 테스트용이화 회로.
  8. 제1항에 있어서, 입·츨력게이트수단이 버퍼게이트로 구성된 것을 특징으로 하는 테스트용이화 회로.
  9. 제1항에 있어서, 삽입게이트수단이 쌍방향삽입게이트로 구성된 것을 특징으로 하는 테스트용이화 회로.
  10. 제1항에 있어서, 입력외부마디에 연결된 수단이 회로모듈에 연결된 버퍼게이트에 연결된 플립플롭을 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트용이화 회로.
  11. 제1항에 있어서, 출력외부마디에 연결된 수단이 회로모듈에 연결된 버퍼게이트에 연결된 플립플롭을 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트용이화 회로.
  12. 회로모듈이 접속됨과 더불어 소정의 회로모듈로부터 외부마디를 인출하여 구성된 계층을 이루는 상위레벨의 회로수단과, 각 회로모듈의 입·출력부에 설치된 삽입게이트수단, 상기 삽입게이트수단 사이의 상호배선을 일단으로 하여 설치된 입·출력용게이트수단, 상기 상호배선의 출력측회로모듈에 속하지 않는 회로모듈의 입력외부마디수단에 상기 입·출력용게이트수단의 입력단자를 접속시켜 주기 위한 수단 및, 상기 상호배선의 입력측회로모듈에 속하지 않는 회로모둘의 출력 외부마디 수단에 상기 입·출력게이트 수단의 출력단자를 접속시켜 주기 위한 수단을 셋팅시켜 테스트를 수행하되, 같은 회로모듈에 속하는 삽입게이트수단과 입·출력게이트 수단을 선택적으로 활성화시키고, 회로모듈에 속하는 외부마디수단 및 입·출력용게이트수단에 접속된 다른 회로모듈의외 부마디수단을 사용하여 회로모듈의 테스트를 수행하은 것을 특징으로 하는 테스트방법.
  13. 제12항에 있어서, 각각의 삽입게이트수단과 입·출력용게이트수단의 제어단자에 재기록가능한 메모리수단이 설치되고, 상기 메모리수단은 플립플롭으로 구성되게 하는 한편, 셋트단자와 리셋트단자가 상기 삽입게이트수단 또는 입·출력용게이트 수단을 제어할 목적으로 각 플립플롭에 설치되게 되며, 제어데이터가 쉬프트레지스터의 동작에 의해 세이트수단에 입력되게 되고, 회로의 통상적인 동작시에 상기 셋트단자와 리셋트단자를 일괄제어하여 삽입게이트만을 활성화시켜줄 수 있도록 된 것을 특징으로 하는 테스트방법.
  14. 제13항에 있어서, 셋트와 리셋트단자를 통해 플립플롭에 데이터를 입력시키고, 데이터를 스캔닝아웃(scanning out)시키며, 계속해서 쉬프트레지스터에 새로운 데이터를 스켄닝인, 아웃시켜 쉬프트레지스터의 테스트를 행하는 것을 특징으로 하는 테스트방법.
  15. 제12항에 있어서, 새로이 설계된 회로모듈이 선택적으로 또는 우선적으로 테스트되는 것을 특징으로 하는 테스트방법.
  16. 제12항에 있어서, 상부레벨회로를 회로모듈로 구비하고 있으면서 계층을 이루는 더 많은 상부레벨의 회로가 동일한 기준으로 구성되게 되고, 최하위의 회로모듈을 테스트할 때에는 그 상위회로의 외부마디에 접속되어 있는 삽입게이트 혹은 삽입게이트와 입력용게이트, 삽입게이트와 출력용게이트를 통해 상기 상위 회로모듈의 외부마디, 즉 최상위회로의 외부마디를 이용하여 테스트를 행하는 것을 특징으로 하는 테스트 방법.
  17. 제12항에 있어서 상호배선의 테스트가 같은 상호배선에 속하는 입·출력용게이트수단의 사용에 의해 수행되는 것을 특징으로 하는 테스트방법.
  18. 제12항에 있어서, 삽입게이트수단이 쌍방항 삽입게이트로 구성된 것을 특징으로 하는 테스트방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019870002116A 1986-03-10 1987-03-10 테스트용이화회로 및 테스트방법 KR900002579B1 (ko)

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