KR850007155A - 반도체 메모리 장치 - Google Patents
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제10도 내지 제12도는 본 발명의 실시예를 설명하는 도. 제10도는 본 발명의 실시예에 따른 반도체 메모리장치내에서 리세트 펄스 발생기를 일반적으로 도시한 블룩회로도. 제11도는 제10도에 도시된 리세트 펄스발생기에서 리세트 발생회로의 블록도. 제12도는제 11도에 도신된 회로의 상세한 회로도.
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
3 : 플립플롭, 4 : 지연회로,: 칩선택 제어신호,ØR : 비트선 리세트신호.
Claims (5)
- 제어신호에 응하여 선택상태와 비선택상태를 갖는 반도체 메모리장치에 있어서, 상기 장치는 상보적(complementary)신호를 전송하는 1쌍의 신호선, 및 상기 제어신호가 상기 장치의 상기 비선택상태를 나타낼때 상기 신호선을 등가전위로 리세트하는 제 1리세트 신호를 발생하는 리세트신호 발생기를 포함하고 있으며, 상기 제 1리세트 신호는 상기 제어신호에 의하여 나타내진 비선택상태의 시간이 소정기간보다 짧을대라도 상기 소정기간보다 더 긴 리세트기간을 갖는 것을 특징으로하는 반도체 메모리장치.
- 제1항에 있어서, 더우기 상기 장치는 상보적 어드레스 신호를 제공하는 어드레스 버퍼회로를 포함하고 있으며, 상기 상부적 어드레스신호는 상기 비선택상태 동안 등가전위로 리세트되며, 더우기 상기 리세트신호 발생기는 상기 상보적 어드레스신호의 변환에 응하여 제 2리세트신호를 발생하는 펄스 발생회로를 포함하고 있으며, 상기 상보적 신호는 상기 제 1리세트신호와 상기 제 2리세트신호중 어느 하나로부터 획득된 보다 긴 리세트기간을 갖는 리세트신호에 의하여 리세트되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
- 제2항에 있어서, 상기 제2리세트신호의 펄스폭이 상기 비선택상태의 시간이 증가함에 따라서 더 짧아지는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
- 제1항에 있어서, 상기 상보적 신호가 비트선쌍인 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
- 제1항에 있어서, 상기 리세트신호 발생회로는 상기 제어신호를 세트단자에서 수신하는 플립플롭, 및 상기 상보적 신호전위를 리세트하는데 필요한 시간만큼 상기 플립플롭의 출력을 지연시키는 지연회로로 구성되어 있으며, 상기 지연회로의 출력에 의하여 상기 플립플롭을 리세트하도록 구성되어 있고 상기 플립플롭의 출력이 제 1리세트 신호로서 사용되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59-035920 | 1984-02-29 | ||
JP59035920A JPS60182096A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 半導体記憶装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR850007155A true KR850007155A (ko) | 1985-10-30 |
KR910000963B1 KR910000963B1 (en) | 1991-02-19 |
Family
ID=12455464
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR8501299A KR910000963B1 (en) | 1984-02-29 | 1985-02-28 | Semiconductor memory device |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4766571A (ko) |
EP (1) | EP0155787B1 (ko) |
JP (1) | JPS60182096A (ko) |
KR (1) | KR910000963B1 (ko) |
DE (1) | DE3581223D1 (ko) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4800552A (en) * | 1985-12-18 | 1989-01-24 | Fujitsu Limited | Semiconductor memory device with reset signal generating circuit |
JPH0612612B2 (ja) * | 1987-03-06 | 1994-02-16 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
US5719812A (en) * | 1988-11-16 | 1998-02-17 | Fujitsu Limited | Semiconductor memory including bit line reset circuitry and a pulse generator having output delay time dependent on type of transition in an input signal |
JPH0814995B2 (ja) * | 1989-01-27 | 1996-02-14 | 株式会社東芝 | 半導体メモリ |
EP0558079B1 (en) * | 1992-02-28 | 1998-04-15 | Sony Corporation | Semiconductor memory device with address transition detector |
GB2277390B (en) * | 1993-04-21 | 1997-02-26 | Plessey Semiconductors Ltd | Random access memory |
KR100695512B1 (ko) * | 2005-06-30 | 2007-03-15 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS52119160A (en) * | 1976-03-31 | 1977-10-06 | Nec Corp | Semiconductor circuit with insulating gate type field dffect transisto r |
JPS5432235A (en) * | 1977-08-18 | 1979-03-09 | Fujitsu Ltd | Output timing measuring circuit of high impedance |
US4150441A (en) * | 1978-03-20 | 1979-04-17 | Microtechnology Corporation | Clocked static memory |
US4272834A (en) * | 1978-10-06 | 1981-06-09 | Hitachi, Ltd. | Data line potential setting circuit and MIS memory circuit using the same |
JPS5634186A (en) * | 1979-08-29 | 1981-04-06 | Hitachi Ltd | Bipolar memory circuit |
GB2070372B (en) * | 1980-01-31 | 1983-09-28 | Tokyo Shibaura Electric Co | Semiconductor memory device |
JPS56165983A (en) * | 1980-05-26 | 1981-12-19 | Toshiba Corp | Semiconductor storage device |
JPS6055916B2 (ja) * | 1980-09-26 | 1985-12-07 | 日本電気株式会社 | タイミング回路 |
US4405996A (en) * | 1981-02-06 | 1983-09-20 | Rca Corporation | Precharge with power conservation |
JPS5819794A (ja) * | 1981-07-29 | 1983-02-04 | Fujitsu Ltd | 半導体メモリ |
JPS58121195A (ja) * | 1982-01-13 | 1983-07-19 | Nec Corp | プリチヤ−ジ信号発生回路 |
JPS5963091A (ja) * | 1982-09-30 | 1984-04-10 | Fujitsu Ltd | スタテイツクメモリ回路 |
-
1984
- 1984-02-29 JP JP59035920A patent/JPS60182096A/ja active Pending
-
1985
- 1985-02-27 US US06/706,290 patent/US4766571A/en not_active Expired - Fee Related
- 1985-02-28 KR KR8501299A patent/KR910000963B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1985-02-28 EP EP85301380A patent/EP0155787B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1985-02-28 DE DE8585301380T patent/DE3581223D1/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0155787B1 (en) | 1991-01-09 |
KR910000963B1 (en) | 1991-02-19 |
EP0155787A3 (en) | 1987-11-25 |
JPS60182096A (ja) | 1985-09-17 |
EP0155787A2 (en) | 1985-09-25 |
US4766571A (en) | 1988-08-23 |
DE3581223D1 (de) | 1991-02-14 |
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Legal Events
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A201 | Request for examination | ||
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