KR20240001701A - 유기 일렉트로루미네센스 소자, 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치 및 전자 기기 - Google Patents
유기 일렉트로루미네센스 소자, 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치 및 전자 기기 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20240001701A KR20240001701A KR1020237039114A KR20237039114A KR20240001701A KR 20240001701 A KR20240001701 A KR 20240001701A KR 1020237039114 A KR1020237039114 A KR 1020237039114A KR 20237039114 A KR20237039114 A KR 20237039114A KR 20240001701 A KR20240001701 A KR 20240001701A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- group
- organic
- substituted
- light
- unsubstituted
- Prior art date
Links
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims abstract description 669
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims abstract description 542
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 410
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 claims abstract description 365
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 claims abstract description 327
- JJLKTTCRRLHVGL-UHFFFAOYSA-L [acetyloxy(dibutyl)stannyl] acetate Chemical compound CC([O-])=O.CC([O-])=O.CCCC[Sn+2]CCCC JJLKTTCRRLHVGL-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims abstract description 146
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 628
- 125000000623 heterocyclic group Chemical group 0.000 claims description 265
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 claims description 197
- 125000006413 ring segment Chemical group 0.000 claims description 144
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 63
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 56
- 125000000732 arylene group Chemical group 0.000 claims description 40
- 239000007850 fluorescent dye Substances 0.000 claims description 40
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims description 35
- 125000002950 monocyclic group Chemical group 0.000 claims description 29
- 239000011368 organic material Substances 0.000 claims description 26
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 claims description 24
- 238000001903 differential pulse voltammetry Methods 0.000 claims description 9
- 238000001420 photoelectron spectroscopy Methods 0.000 claims description 8
- 125000003277 amino group Chemical group 0.000 claims description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 185
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 169
- -1 9,9-diphenylfluorenyl group Chemical group 0.000 description 146
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 124
- 125000000753 cycloalkyl group Chemical group 0.000 description 113
- 239000010408 film Substances 0.000 description 84
- 125000003342 alkenyl group Chemical group 0.000 description 82
- 125000000304 alkynyl group Chemical group 0.000 description 76
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 65
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 60
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 description 57
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 51
- 125000000449 nitro group Chemical group [O-][N+](*)=O 0.000 description 51
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 50
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 50
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 48
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 37
- 150000001721 carbon Chemical group 0.000 description 32
- 125000001188 haloalkyl group Chemical group 0.000 description 32
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 30
- 150000004945 aromatic hydrocarbons Chemical group 0.000 description 30
- 125000003710 aryl alkyl group Chemical group 0.000 description 29
- ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N diphenyl Chemical group C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1 ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 28
- 125000004430 oxygen atom Chemical group O* 0.000 description 28
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 27
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 27
- 125000001624 naphthyl group Chemical group 0.000 description 26
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 24
- 125000004434 sulfur atom Chemical group 0.000 description 24
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 22
- 238000005424 photoluminescence Methods 0.000 description 19
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 19
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 18
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 17
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 17
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 17
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 17
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 17
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 17
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 16
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 15
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 14
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 14
- 238000001296 phosphorescence spectrum Methods 0.000 description 14
- 125000000547 substituted alkyl group Chemical group 0.000 description 14
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 14
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 13
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 13
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 13
- FHCPAXDKURNIOZ-UHFFFAOYSA-N tetrathiafulvalene Chemical compound S1C=CSC1=C1SC=CS1 FHCPAXDKURNIOZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 12
- 125000004433 nitrogen atom Chemical group N* 0.000 description 12
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 12
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 12
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 125000003107 substituted aryl group Chemical group 0.000 description 12
- 125000005346 substituted cycloalkyl group Chemical group 0.000 description 12
- 239000004305 biphenyl Substances 0.000 description 11
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 11
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 11
- 125000005017 substituted alkenyl group Chemical group 0.000 description 11
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical compound CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 125000005577 anthracene group Chemical group 0.000 description 10
- 235000010290 biphenyl Nutrition 0.000 description 10
- 125000000609 carbazolyl group Chemical group C1(=CC=CC=2C3=CC=CC=C3NC12)* 0.000 description 10
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N ether Substances CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 238000002847 impedance measurement Methods 0.000 description 10
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 10
- 238000007363 ring formation reaction Methods 0.000 description 10
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 10
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 10
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 125000003709 fluoroalkyl group Chemical group 0.000 description 9
- PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M lithium fluoride Chemical compound [Li+].[F-] PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 9
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N Pyridine Chemical group C1=CC=NC=C1 JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 8
- 150000004696 coordination complex Chemical class 0.000 description 8
- 125000003983 fluorenyl group Chemical group C1(=CC=CC=2C3=CC=CC=C3CC12)* 0.000 description 8
- 238000002189 fluorescence spectrum Methods 0.000 description 8
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 8
- 238000013517 stratification Methods 0.000 description 8
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical group [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 7
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 7
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 7
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 7
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 7
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 7
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 7
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 7
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 7
- 125000001725 pyrenyl group Chemical group 0.000 description 7
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 7
- NAWXUBYGYWOOIX-SFHVURJKSA-N (2s)-2-[[4-[2-(2,4-diaminoquinazolin-6-yl)ethyl]benzoyl]amino]-4-methylidenepentanedioic acid Chemical compound C1=CC2=NC(N)=NC(N)=C2C=C1CCC1=CC=C(C(=O)N[C@@H](CC(=C)C(O)=O)C(O)=O)C=C1 NAWXUBYGYWOOIX-SFHVURJKSA-N 0.000 description 6
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 6
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 6
- MWPLVEDNUUSJAV-UHFFFAOYSA-N anthracene Natural products C1=CC=CC2=CC3=CC=CC=C3C=C21 MWPLVEDNUUSJAV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 6
- 125000004093 cyano group Chemical group *C#N 0.000 description 6
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 6
- 230000005281 excited state Effects 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 6
- 229910001385 heavy metal Inorganic materials 0.000 description 6
- QWTDNUCVQCZILF-UHFFFAOYSA-N isopentane Chemical compound CCC(C)C QWTDNUCVQCZILF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 125000002294 quinazolinyl group Chemical group N1=C(N=CC2=CC=CC=C12)* 0.000 description 6
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 6
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 description 6
- 125000002947 alkylene group Chemical group 0.000 description 5
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- WINTXHPCODMMRI-UHFFFAOYSA-N benzene naphthalene Chemical compound C1=CC=CC=C1.C1=CC=CC=C1.C1=CC=CC2=CC=CC=C21 WINTXHPCODMMRI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 5
- 229910052805 deuterium Inorganic materials 0.000 description 5
- 230000005283 ground state Effects 0.000 description 5
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 5
- GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N iridium atom Chemical compound [Ir] GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 125000005561 phenanthryl group Chemical group 0.000 description 5
- 239000012488 sample solution Substances 0.000 description 5
- WTGQALLALWYDJH-WYHSTMEOSA-N scopolamine hydrobromide Chemical compound Br.C1([C@@H](CO)C(=O)OC2C[C@@H]3N([C@H](C2)[C@@H]2[C@H]3O2)C)=CC=CC=C1 WTGQALLALWYDJH-WYHSTMEOSA-N 0.000 description 5
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 5
- YJTKZCDBKVTVBY-UHFFFAOYSA-N 1,3-Diphenylbenzene Chemical group C1=CC=CC=C1C1=CC=CC(C=2C=CC=CC=2)=C1 YJTKZCDBKVTVBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 description 4
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 description 4
- 125000004414 alkyl thio group Chemical group 0.000 description 4
- 150000004982 aromatic amines Chemical class 0.000 description 4
- 125000005110 aryl thio group Chemical group 0.000 description 4
- 125000004104 aryloxy group Chemical group 0.000 description 4
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 4
- 150000001555 benzenes Chemical group 0.000 description 4
- 125000006267 biphenyl group Chemical group 0.000 description 4
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 4
- 229910052792 caesium Inorganic materials 0.000 description 4
- TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N caesium atom Chemical compound [Cs] TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- XJHCXCQVJFPJIK-UHFFFAOYSA-M caesium fluoride Chemical compound [F-].[Cs+] XJHCXCQVJFPJIK-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 4
- KVUAALJSMIVURS-ZEDZUCNESA-L calcium folinate Chemical compound [Ca+2].C1NC=2NC(N)=NC(=O)C=2N(C=O)C1CNC1=CC=C(C(=O)N[C@@H](CCC([O-])=O)C([O-])=O)C=C1 KVUAALJSMIVURS-ZEDZUCNESA-L 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 4
- 150000001975 deuterium Chemical group 0.000 description 4
- TXCDCPKCNAJMEE-UHFFFAOYSA-N dibenzofuran Chemical group C1=CC=C2C3=CC=CC=C3OC2=C1 TXCDCPKCNAJMEE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- IYYZUPMFVPLQIF-ALWQSETLSA-N dibenzothiophene Chemical group C1=CC=CC=2[34S]C3=C(C=21)C=CC=C3 IYYZUPMFVPLQIF-ALWQSETLSA-N 0.000 description 4
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 4
- 125000001153 fluoro group Chemical group F* 0.000 description 4
- 125000005842 heteroatom Chemical group 0.000 description 4
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 4
- 125000001449 isopropyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 4
- 125000005647 linker group Chemical group 0.000 description 4
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 4
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 4
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 125000000999 tert-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C(*)(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 4
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 4
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 4
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 4
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052693 Europium Inorganic materials 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical group [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- YZCKVEUIGOORGS-NJFSPNSNSA-N Tritium Chemical compound [3H] YZCKVEUIGOORGS-NJFSPNSNSA-N 0.000 description 3
- 229910052769 Ytterbium Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000001454 anthracenes Chemical class 0.000 description 3
- 125000006615 aromatic heterocyclic group Chemical group 0.000 description 3
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 125000003917 carbamoyl group Chemical group [H]N([H])C(*)=O 0.000 description 3
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 3
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 3
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 3
- 125000005509 dibenzothiophenyl group Chemical group 0.000 description 3
- AFABGHUZZDYHJO-UHFFFAOYSA-N dimethyl butane Natural products CCCC(C)C AFABGHUZZDYHJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- OGPBJKLSAFTDLK-UHFFFAOYSA-N europium atom Chemical compound [Eu] OGPBJKLSAFTDLK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 150000002391 heterocyclic compounds Chemical class 0.000 description 3
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 125000001041 indolyl group Chemical group 0.000 description 3
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 3
- FUJCRWPEOMXPAD-UHFFFAOYSA-N lithium oxide Chemical compound [Li+].[Li+].[O-2] FUJCRWPEOMXPAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910001947 lithium oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 3
- QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N nitrogen group Chemical group [N] QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N nonaoxidotritungsten Chemical compound O=[W]1(=O)O[W](=O)(=O)O[W](=O)(=O)O1 QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052762 osmium Inorganic materials 0.000 description 3
- SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N osmium atom Chemical compound [Os] SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 3
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 3
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 3
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000010791 quenching Methods 0.000 description 3
- 230000000171 quenching effect Effects 0.000 description 3
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 3
- 125000004426 substituted alkynyl group Chemical group 0.000 description 3
- 125000004665 trialkylsilyl group Chemical group 0.000 description 3
- 125000003960 triphenylenyl group Chemical group C1(=CC=CC=2C3=CC=CC=C3C3=CC=CC=C3C12)* 0.000 description 3
- 229910052722 tritium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910001930 tungsten oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 description 3
- NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N ytterbium Chemical compound [Yb] NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- DXBHBZVCASKNBY-UHFFFAOYSA-N 1,2-Benz(a)anthracene Chemical group C1=CC=C2C3=CC4=CC=CC=C4C=C3C=CC2=C1 DXBHBZVCASKNBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000001637 1-naphthyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C2C(*)=C([H])C([H])=C([H])C2=C1[H] 0.000 description 2
- 125000001622 2-naphthyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C2C([H])=C(*)C([H])=C([H])C2=C1[H] 0.000 description 2
- ZVFQEOPUXVPSLB-UHFFFAOYSA-N 3-(4-tert-butylphenyl)-4-phenyl-5-(4-phenylphenyl)-1,2,4-triazole Chemical compound C1=CC(C(C)(C)C)=CC=C1C(N1C=2C=CC=CC=2)=NN=C1C1=CC=C(C=2C=CC=CC=2)C=C1 ZVFQEOPUXVPSLB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910017073 AlLi Inorganic materials 0.000 description 2
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N Deuterium Chemical compound [2H] YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N 0.000 description 2
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N Furan Chemical group C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910021607 Silver chloride Inorganic materials 0.000 description 2
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- AZWHFTKIBIQKCA-UHFFFAOYSA-N [Sn+2]=O.[O-2].[In+3] Chemical compound [Sn+2]=O.[O-2].[In+3] AZWHFTKIBIQKCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000001338 aliphatic hydrocarbons Chemical group 0.000 description 2
- 125000005907 alkyl ester group Chemical group 0.000 description 2
- AZDRQVAHHNSJOQ-UHFFFAOYSA-N alumane Chemical class [AlH3] AZDRQVAHHNSJOQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000005428 anthryl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C2C([H])=C3C(*)=C([H])C([H])=C([H])C3=C([H])C2=C1[H] 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000007860 aryl ester derivatives Chemical group 0.000 description 2
- QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N barium oxide Chemical compound [Ba]=O QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000004196 benzothienyl group Chemical group S1C(=CC2=C1C=CC=C2)* 0.000 description 2
- 150000001572 beryllium Chemical class 0.000 description 2
- 125000002619 bicyclic group Chemical group 0.000 description 2
- 150000001717 carbocyclic compounds Chemical class 0.000 description 2
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 2
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 2
- 125000002676 chrysenyl group Chemical group C1(=CC=CC=2C3=CC=C4C=CC=CC4=C3C=CC12)* 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 125000004988 dibenzothienyl group Chemical group C1(=CC=CC=2SC3=C(C21)C=CC=C3)* 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 125000004185 ester group Chemical group 0.000 description 2
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- KTWOOEGAPBSYNW-UHFFFAOYSA-N ferrocene Chemical compound [Fe+2].C=1C=C[CH-]C=1.C=1C=C[CH-]C=1 KTWOOEGAPBSYNW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000003914 fluoranthenyl group Chemical group C1(=CC=C2C=CC=C3C4=CC=CC=C4C1=C23)* 0.000 description 2
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 2
- 229910021397 glassy carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 229910021389 graphene Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000002390 heteroarenes Chemical class 0.000 description 2
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 2
- 125000002883 imidazolyl group Chemical group 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 125000000959 isobutyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(C([H])([H])[H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- 125000005956 isoquinolyl group Chemical group 0.000 description 2
- 125000001786 isothiazolyl group Chemical group 0.000 description 2
- 125000000842 isoxazolyl group Chemical group 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 125000004573 morpholin-4-yl group Chemical group N1(CCOCC1)* 0.000 description 2
- 125000004108 n-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- AHLBNYSZXLDEJQ-FWEHEUNISA-N orlistat Chemical compound CCCCCCCCCCC[C@H](OC(=O)[C@H](CC(C)C)NC=O)C[C@@H]1OC(=O)[C@H]1CCCCCC AHLBNYSZXLDEJQ-FWEHEUNISA-N 0.000 description 2
- 125000001715 oxadiazolyl group Chemical group 0.000 description 2
- 125000002971 oxazolyl group Chemical group 0.000 description 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- 150000005041 phenanthrolines Chemical class 0.000 description 2
- 125000004625 phenanthrolinyl group Chemical group N1=C(C=CC2=CC=C3C=CC=NC3=C12)* 0.000 description 2
- 125000001484 phenothiazinyl group Chemical group C1(=CC=CC=2SC3=CC=CC=C3NC12)* 0.000 description 2
- 125000001644 phenoxazinyl group Chemical group C1(=CC=CC=2OC3=CC=CC=C3NC12)* 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 239000000047 product Substances 0.000 description 2
- 125000005581 pyrene group Chemical group 0.000 description 2
- 125000004076 pyridyl group Chemical group 0.000 description 2
- 125000000714 pyrimidinyl group Chemical group 0.000 description 2
- 125000000168 pyrrolyl group Chemical group 0.000 description 2
- 125000005493 quinolyl group Chemical group 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 125000005401 siloxanyl group Chemical group 0.000 description 2
- HKZLPVFGJNLROG-UHFFFAOYSA-M silver monochloride Chemical compound [Cl-].[Ag+] HKZLPVFGJNLROG-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 2
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 2
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 2
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 2
- 239000003115 supporting electrolyte Substances 0.000 description 2
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 2
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 2
- CIHOLLKRGTVIJN-UHFFFAOYSA-N tert‐butyl hydroperoxide Chemical compound CC(C)(C)OO CIHOLLKRGTVIJN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000001113 thiadiazolyl group Chemical group 0.000 description 2
- 125000000335 thiazolyl group Chemical group 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 125000004306 triazinyl group Chemical group 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- 150000003751 zinc Chemical class 0.000 description 2
- OYQCBJZGELKKPM-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Zn+2].[O-2].[In+3] OYQCBJZGELKKPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IANQTJSKSUMEQM-UHFFFAOYSA-N 1-benzofuran Chemical group C1=CC=C2OC=CC2=C1 IANQTJSKSUMEQM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FCEHBMOGCRZNNI-UHFFFAOYSA-N 1-benzothiophene Chemical group C1=CC=C2SC=CC2=C1 FCEHBMOGCRZNNI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004973 1-butenyl group Chemical group C(=CCC)* 0.000 description 1
- 125000004134 1-norbornyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C2(*)C([H])([H])C([H])([H])C1([H])C2([H])[H] 0.000 description 1
- 125000004343 1-phenylethyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- HYZJCKYKOHLVJF-UHFFFAOYSA-N 1H-benzimidazole Chemical class C1=CC=C2NC=NC2=C1 HYZJCKYKOHLVJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004206 2,2,2-trifluoroethyl group Chemical group [H]C([H])(*)C(F)(F)F 0.000 description 1
- FQJQNLKWTRGIEB-UHFFFAOYSA-N 2-(4-tert-butylphenyl)-5-[3-[5-(4-tert-butylphenyl)-1,3,4-oxadiazol-2-yl]phenyl]-1,3,4-oxadiazole Chemical compound C1=CC(C(C)(C)C)=CC=C1C1=NN=C(C=2C=C(C=CC=2)C=2OC(=NN=2)C=2C=CC(=CC=2)C(C)(C)C)O1 FQJQNLKWTRGIEB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004974 2-butenyl group Chemical group C(C=CC)* 0.000 description 1
- 125000004135 2-norbornyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C2([H])C([H])([H])C1([H])C([H])([H])C2([H])* 0.000 description 1
- 125000000094 2-phenylethyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- PZLZJGZGJHZQAU-UHFFFAOYSA-N 3-(4-tert-butylphenyl)-4-(4-ethylphenyl)-5-(4-phenylphenyl)-1,2,4-triazole Chemical compound C1=CC(CC)=CC=C1N1C(C=2C=CC(=CC=2)C(C)(C)C)=NN=C1C1=CC=C(C=2C=CC=CC=2)C=C1 PZLZJGZGJHZQAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004975 3-butenyl group Chemical group C(CC=C)* 0.000 description 1
- DHDHJYNTEFLIHY-UHFFFAOYSA-N 4,7-diphenyl-1,10-phenanthroline Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=CC=NC2=C1C=CC1=C(C=3C=CC=CC=3)C=CN=C21 DHDHJYNTEFLIHY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 7553-56-2 Chemical group [I] ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FCNCGHJSNVOIKE-UHFFFAOYSA-N 9,10-diphenylanthracene Chemical compound C1=CC=CC=C1C(C1=CC=CC=C11)=C(C=CC=C2)C2=C1C1=CC=CC=C1 FCNCGHJSNVOIKE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N Bromine atom Chemical group [Br] WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006443 Buchwald-Hartwig cross coupling reaction Methods 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052691 Erbium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005727 Friedel-Crafts reaction Methods 0.000 description 1
- 206010056740 Genital discharge Diseases 0.000 description 1
- 108010043121 Green Fluorescent Proteins Proteins 0.000 description 1
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002879 Lewis base Substances 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004695 Polyether sulfone Substances 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 1
- YZCKVEUIGOORGS-IGMARMGPSA-N Protium Chemical compound [1H] YZCKVEUIGOORGS-IGMARMGPSA-N 0.000 description 1
- 241000720974 Protium Species 0.000 description 1
- PJANXHGTPQOBST-VAWYXSNFSA-N Stilbene Natural products C=1C=CC=CC=1/C=C/C1=CC=CC=C1 PJANXHGTPQOBST-VAWYXSNFSA-N 0.000 description 1
- 229910052771 Terbium Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N Titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007983 Tris buffer Substances 0.000 description 1
- 125000000641 acridinyl group Chemical group C1(=CC=CC2=NC3=CC=CC=C3C=C12)* 0.000 description 1
- 125000003670 adamantan-2-yl group Chemical group [H]C1([H])C(C2([H])[H])([H])C([H])([H])C3([H])C([*])([H])C1([H])C([H])([H])C2([H])C3([H])[H] 0.000 description 1
- 229910000272 alkali metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000287 alkaline earth metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004450 alkenylene group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004419 alkynylene group Chemical group 0.000 description 1
- 238000005576 amination reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 125000004653 anthracenylene group Chemical group 0.000 description 1
- 229940058303 antinematodal benzimidazole derivative Drugs 0.000 description 1
- 239000012300 argon atmosphere Substances 0.000 description 1
- 150000001491 aromatic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 150000001556 benzimidazoles Chemical class 0.000 description 1
- 125000000499 benzofuranyl group Chemical group O1C(=CC2=C1C=CC=C2)* 0.000 description 1
- 125000001164 benzothiazolyl group Chemical group S1C(=NC2=C1C=CC=C2)* 0.000 description 1
- 125000004541 benzoxazolyl group Chemical group O1C(=NC2=C1C=CC=C2)* 0.000 description 1
- 125000003236 benzoyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C(*)=O 0.000 description 1
- 125000001797 benzyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- GQVWHWAWLPCBHB-UHFFFAOYSA-L beryllium;benzo[h]quinolin-10-olate Chemical compound [Be+2].C1=CC=NC2=C3C([O-])=CC=CC3=CC=C21.C1=CC=NC2=C3C([O-])=CC=CC3=CC=C21 GQVWHWAWLPCBHB-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- UFVXQDWNSAGPHN-UHFFFAOYSA-K bis[(2-methylquinolin-8-yl)oxy]-(4-phenylphenoxy)alumane Chemical compound [Al+3].C1=CC=C([O-])C2=NC(C)=CC=C21.C1=CC=C([O-])C2=NC(C)=CC=C21.C1=CC([O-])=CC=C1C1=CC=CC=C1 UFVXQDWNSAGPHN-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- XZCJVWCMJYNSQO-UHFFFAOYSA-N butyl pbd Chemical compound C1=CC(C(C)(C)C)=CC=C1C1=NN=C(C=2C=CC(=CC=2)C=2C=CC=CC=2)O1 XZCJVWCMJYNSQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L calcium difluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ca+2] WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Chemical compound [O-2].[Ca+2] BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Inorganic materials [Ca]=O ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000292 calcium oxide Substances 0.000 description 1
- 125000003178 carboxy group Chemical group [H]OC(*)=O 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000001309 chloro group Chemical group Cl* 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001846 chrysenes Chemical class 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 125000004802 cyanophenyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 125000002993 cycloalkylene group Chemical group 0.000 description 1
- 125000001995 cyclobutyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C([H])(*)C1([H])[H] 0.000 description 1
- 125000000113 cyclohexyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])C1([H])[H] 0.000 description 1
- 125000001511 cyclopentyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C1([H])[H] 0.000 description 1
- 125000001559 cyclopropyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C1([H])* 0.000 description 1
- 230000009849 deactivation Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 150000004985 diamines Chemical class 0.000 description 1
- 125000005299 dibenzofluorenyl group Chemical group C1(=CC=CC2=C3C(=C4C=5C=CC=CC5CC4=C21)C=CC=C3)* 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N erbium Chemical compound [Er] UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002534 ethynyl group Chemical group [H]C#C* 0.000 description 1
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 1
- 125000002541 furyl group Chemical group 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000006343 heptafluoro propyl group Chemical group 0.000 description 1
- 238000004770 highest occupied molecular orbital Methods 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical group 0.000 description 1
- 150000002460 imidazoles Chemical class 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 125000003453 indazolyl group Chemical group N1N=C(C2=C1C=CC=C2)* 0.000 description 1
- 229940079865 intestinal antiinfectives imidazole derivative Drugs 0.000 description 1
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 1
- 125000001977 isobenzofuranyl group Chemical group C=1(OC=C2C=CC=CC12)* 0.000 description 1
- 125000005990 isobenzothienyl group Chemical group 0.000 description 1
- 150000007527 lewis bases Chemical class 0.000 description 1
- 238000004768 lowest unoccupied molecular orbital Methods 0.000 description 1
- 238000001748 luminescence spectrum Methods 0.000 description 1
- 125000000040 m-tolyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(*)=C([H])C(=C1[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 1
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 125000005394 methallyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000001570 methylene group Chemical group [H]C([H])([*:1])[*:2] 0.000 description 1
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 1
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- BWSNYLWZGNCWIH-UHFFFAOYSA-N naphthalene Chemical compound C1=CC=CC2=CC=CC=C21.C1=CC=CC2=CC=CC=C21 BWSNYLWZGNCWIH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007773 negative electrode material Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 125000003261 o-tolyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(*)=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 150000004866 oxadiazoles Chemical class 0.000 description 1
- 125000001037 p-tolyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(=C([H])C([H])=C1*)C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000003933 pentacenyl group Chemical group C1(=CC=CC2=CC3=CC4=CC5=CC=CC=C5C=C4C=C3C=C12)* 0.000 description 1
- 125000006340 pentafluoro ethyl group Chemical group FC(F)(F)C(F)(F)* 0.000 description 1
- 125000002080 perylenyl group Chemical group C1(=CC=C2C=CC=C3C4=CC=CC5=CC=CC(C1=C23)=C45)* 0.000 description 1
- 125000001828 phenalenyl group Chemical group C1(C=CC2=CC=CC3=CC=CC1=C23)* 0.000 description 1
- 150000002987 phenanthrenes Chemical class 0.000 description 1
- 125000004934 phenanthridinyl group Chemical group C1(=CC=CC2=NC=C3C=CC=CC3=C12)* 0.000 description 1
- 125000001791 phenazinyl group Chemical group C1(=CC=CC2=NC3=CC=CC=C3N=C12)* 0.000 description 1
- 125000004437 phosphorous atom Chemical group 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001443 photoexcitation Effects 0.000 description 1
- 125000004592 phthalazinyl group Chemical group C1(=NN=CC2=CC=CC=C12)* 0.000 description 1
- 239000006187 pill Substances 0.000 description 1
- 229920003207 poly(ethylene-2,6-naphthalate) Polymers 0.000 description 1
- 229920001230 polyarylate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 229920006393 polyether sulfone Polymers 0.000 description 1
- 239000011112 polyethylene naphthalate Substances 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 1
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 1
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 1
- 229920002620 polyvinyl fluoride Polymers 0.000 description 1
- 125000001436 propyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 125000003373 pyrazinyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000003226 pyrazolyl group Chemical group 0.000 description 1
- 150000003220 pyrenes Chemical class 0.000 description 1
- 238000006862 quantum yield reaction Methods 0.000 description 1
- 125000001567 quinoxalinyl group Chemical group N1=C(C=NC2=CC=CC=C12)* 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 125000002914 sec-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 150000003377 silicon compounds Chemical group 0.000 description 1
- RAPRNSRXWWPZEV-UHFFFAOYSA-N spiro[fluorene-9,9'-thioxanthene] Chemical compound C12=CC=CC=C2SC2=CC=CC=C2C11C2=CC=CC=C2C2=CC=CC=C21 RAPRNSRXWWPZEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QQNLHOMPVNTETJ-UHFFFAOYSA-N spiro[fluorene-9,9'-xanthene] Chemical compound C12=CC=CC=C2OC2=CC=CC=C2C11C2=CC=CC=C2C2=CC=CC=C21 QQNLHOMPVNTETJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PJANXHGTPQOBST-UHFFFAOYSA-N stilbene Chemical compound C=1C=CC=CC=1C=CC1=CC=CC=C1 PJANXHGTPQOBST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000021286 stilbenes Nutrition 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- GZCRRIHWUXGPOV-UHFFFAOYSA-N terbium atom Chemical compound [Tb] GZCRRIHWUXGPOV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003518 tetracenes Chemical class 0.000 description 1
- 125000001935 tetracenyl group Chemical group C1(=CC=CC2=CC3=CC4=CC=CC=C4C=C3C=C12)* 0.000 description 1
- 125000003831 tetrazolyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000001544 thienyl group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000005259 triarylamine group Chemical group 0.000 description 1
- 125000001425 triazolyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000002023 trifluoromethyl group Chemical group FC(F)(F)* 0.000 description 1
- ODHXBMXNKOYIBV-UHFFFAOYSA-N triphenylamine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 ODHXBMXNKOYIBV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 description 1
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 1
- 125000001834 xanthenyl group Chemical group C1=CC=CC=2OC3=CC=CC=C3C(C12)* 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/10—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/10—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
- H10K50/14—Carrier transporting layers
- H10K50/15—Hole transporting layers
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09F—DISPLAYING; ADVERTISING; SIGNS; LABELS OR NAME-PLATES; SEALS
- G09F9/00—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements
- G09F9/30—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements in which the desired character or characters are formed by combining individual elements
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B33/00—Electroluminescent light sources
- H05B33/12—Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/10—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
- H10K50/11—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/10—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
- H10K50/11—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers
- H10K50/125—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers specially adapted for multicolour light emission, e.g. for emitting white light
- H10K50/13—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers specially adapted for multicolour light emission, e.g. for emitting white light comprising stacked EL layers within one EL unit
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/10—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
- H10K50/14—Carrier transporting layers
- H10K50/15—Hole transporting layers
- H10K50/156—Hole transporting layers comprising a multilayered structure
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/10—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
- H10K50/18—Carrier blocking layers
- H10K50/181—Electron blocking layers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/805—Electrodes
- H10K50/81—Anodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/805—Electrodes
- H10K50/82—Cathodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/30—Devices specially adapted for multicolour light emission
- H10K59/35—Devices specially adapted for multicolour light emission comprising red-green-blue [RGB] subpixels
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/60—Organic compounds having low molecular weight
- H10K85/615—Polycyclic condensed aromatic hydrocarbons, e.g. anthracene
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/60—Organic compounds having low molecular weight
- H10K85/631—Amine compounds having at least two aryl rest on at least one amine-nitrogen atom, e.g. triphenylamine
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/60—Organic compounds having low molecular weight
- H10K85/649—Aromatic compounds comprising a hetero atom
- H10K85/654—Aromatic compounds comprising a hetero atom comprising only nitrogen as heteroatom
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/60—Organic compounds having low molecular weight
- H10K85/649—Aromatic compounds comprising a hetero atom
- H10K85/657—Polycyclic condensed heteroaromatic hydrocarbons
- H10K85/6574—Polycyclic condensed heteroaromatic hydrocarbons comprising only oxygen in the heteroaromatic polycondensed ring system, e.g. cumarine dyes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K2101/00—Properties of the organic materials covered by group H10K85/00
- H10K2101/10—Triplet emission
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K2101/00—Properties of the organic materials covered by group H10K85/00
- H10K2101/20—Delayed fluorescence emission
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K2101/00—Properties of the organic materials covered by group H10K85/00
- H10K2101/30—Highest occupied molecular orbital [HOMO], lowest unoccupied molecular orbital [LUMO] or Fermi energy values
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K2101/00—Properties of the organic materials covered by group H10K85/00
- H10K2101/40—Interrelation of parameters between multiple constituent active layers or sublayers, e.g. HOMO values in adjacent layers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K2101/00—Properties of the organic materials covered by group H10K85/00
- H10K2101/90—Multiple hosts in the emissive layer
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/60—Organic compounds having low molecular weight
- H10K85/615—Polycyclic condensed aromatic hydrocarbons, e.g. anthracene
- H10K85/624—Polycyclic condensed aromatic hydrocarbons, e.g. anthracene containing six or more rings
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/60—Organic compounds having low molecular weight
- H10K85/615—Polycyclic condensed aromatic hydrocarbons, e.g. anthracene
- H10K85/626—Polycyclic condensed aromatic hydrocarbons, e.g. anthracene containing more than one polycyclic condensed aromatic rings, e.g. bis-anthracene
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/60—Organic compounds having low molecular weight
- H10K85/631—Amine compounds having at least two aryl rest on at least one amine-nitrogen atom, e.g. triphenylamine
- H10K85/633—Amine compounds having at least two aryl rest on at least one amine-nitrogen atom, e.g. triphenylamine comprising polycyclic condensed aromatic hydrocarbons as substituents on the nitrogen atom
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/60—Organic compounds having low molecular weight
- H10K85/631—Amine compounds having at least two aryl rest on at least one amine-nitrogen atom, e.g. triphenylamine
- H10K85/636—Amine compounds having at least two aryl rest on at least one amine-nitrogen atom, e.g. triphenylamine comprising heteroaromatic hydrocarbons as substituents on the nitrogen atom
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/60—Organic compounds having low molecular weight
- H10K85/649—Aromatic compounds comprising a hetero atom
- H10K85/657—Polycyclic condensed heteroaromatic hydrocarbons
- H10K85/6572—Polycyclic condensed heteroaromatic hydrocarbons comprising only nitrogen in the heteroaromatic polycondensed ring system, e.g. phenanthroline or carbazole
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
양극(3), 음극(4), 발광 영역(5) 및 정공 수송 대역(6)을 가지며, 발광 영역(5)은, 제1 호스트 재료 및 제1 발광성 화합물을 포함하는 제1 발광층(51)과, 제2 호스트 재료 및 제2 발광성 화합물을 포함하는 제2 발광층(52)을 가지며, 제1 발광층(51)이 양극(3)측에 배치되고, 정공 수송 대역(6)은, 제1 발광층(51)과 직접 접하는 제1 유기층을 포함하며, 제1 유기층은 정공 수송 대역 재료를 포함하고, 제1 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H1)과 제2 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H2)이 수식(수 1)의 관계를 충족시키며, 정공 수송 대역 재료의 어피니티값 Af(cHT)가 1.47 eV 미만인, 유기 EL 소자(1).
T1(H1)>T1(H2) …(수 1)
T1(H1)>T1(H2) …(수 1)
Description
본 발명은, 유기 일렉트로루미네센스 소자, 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치 및 전자 기기에 관한 것이다.
유기 일렉트로루미네센스 소자(이하, 「유기 EL 소자」라고 하는 경우가 있음)는, 휴대전화 및 텔레비전 등의 풀 컬러 디스플레이에 응용되고 있다. 유기 EL 소자에 전압을 인가하면, 양극으로부터 정공이 발광층에 주입되고, 또한 음극으로부터 전자가 발광층에 주입된다. 그리고, 발광층에 있어서, 주입된 정공과 전자가 재결합하여, 여기자가 형성된다. 이때, 전자 스핀의 통계칙에 의해, 일중항 여기자가 25%의 비율로 생성되고, 삼중항 여기자가 75%의 비율로 생성된다.
EL 소자의 성능 향상을 도모하기 위해, 예컨대, 특허문헌 1 및 2에 있어서는, 복수의 발광층을 적층시키는 것에 대해서 검토가 이루어지고 있다. 또한, 특허문헌 3에는, 유기 EL 소자의 성능 향상을 도모하기 위해, 2개의 삼중항 여기자의 충돌 융합에 의해 일중항 여기자가 생성되는 현상(이하, Triplet-Triplet Fusion=TTF 현상이라고 칭하는 경우가 있음)이 기재되어 있다.
유기 EL 소자의 성능으로서는, 예컨대, 휘도, 발광 파장, 색도, 발광 효율, 구동 전압, 및 수명을 들 수 있다.
특허문헌 1에 기재된 유기 일렉트로루미네센스 소자는, 양극과 음극의 사이에 복수층의 발광층을 구비하여 형성되는 유기 일렉트로루미네센스 소자에 있어서, 복수의 재료의 혼합물로 형성되고, 또한 주성분이 상이한 인접한 발광층을 구비하며, 이 인접한 발광층은, 양극측에 위치하는 발광층의 전자 이동도를 홀 이동도로 나눈 값이, 음극측에 위치하는 발광층의 전자 이동도를 홀 이동도로 나눈 값보다 큰 조합으로 이루어지고, 상기 인접한 발광층에 있어서, 양극측에 위치하는 발광층의 전자 이동도가 음극측에 위치하는 발광층의 전자 이동도보다 큰 것을 특징으로 한다.
그러나, 특허문헌 1에 기재된 유기 일렉트로루미네센스 소자와 같이 양극과 발광층의 사이에 배치되는 정공 수송 대역을 구성하는 유기층의 수를 줄이면(층화를 줄이면), 발광 영역으로부터 정공 수송 대역으로 전자가 누출되기 쉬워져, 발광 효율의 저하 또는 단수명화할 우려가 있다. 그러나, 특허문헌 1에 있어서는, 정공 수송 대역으로의 전자 누출에 대해서 인식되어 있지 않다.
본 발명의 목적은, 복수의 발광층을 적층시킴으로써 향상된 소자 성능의 저하를 억제하면서, 정공 수송 대역을 구성하는 유기층의 수를 줄일 수 있는 유기 일렉트로루미네센스 소자 및 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치, 상기 유기 일렉트로루미네센스 소자를 탑재한 전자 기기, 그리고, 상기 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치를 탑재한 전자 기기를 제공하는 것이다.
본 발명의 일 양태에 따르면, 유기 일렉트로루미네센스 소자로서, 양극과, 음극과, 상기 양극 및 상기 음극의 사이에 배치된 발광 영역과, 상기 양극 및 상기 발광 영역의 사이에 배치된 정공 수송 대역을 가지며, 상기 발광 영역은, 제1 발광층 및 제2 발광층을 포함하고, 상기 제1 발광층이, 상기 발광 영역에 있어서 상기 양극측에 배치되며, 상기 정공 수송 대역은, 상기 양극 및 상기 제1 발광층과 직접 접하고, 상기 정공 수송 대역은, 1 또는 복수의 유기층을 포함하며, 상기 정공 수송 대역 중의 적어도 하나의 유기층은, 상기 제1 발광층과 직접 접하는 제1 유기층이고, 상기 제1 유기층은, 정공 수송 대역 재료를 포함하며, 상기 제1 발광층은, 제1 호스트 재료와, 최대 피크 파장이 500 nm 이하인 발광을 나타내는 제1 발광성 화합물을 포함하고, 상기 제2 발광층은, 제2 호스트 재료와, 최대 피크 파장이 500 nm 이하인 발광을 나타내는 제2 발광성 화합물을 포함하며, 상기 제1 호스트 재료와 상기 제2 호스트 재료는 서로 상이하고, 상기 제1 발광성 화합물과 상기 제2 발광성 화합물이 서로 동일하거나 또는 상이하며, 상기 제1 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H1)과 상기 제2 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H2)이, 하기 수식(수 1)의 관계를 충족시키고, 상기 정공 수송 대역 재료의 어피니티값 Af(cHT)가 1.47 eV 미만이며, 상기 정공 수송 대역 재료의 어피니티값 Af(cHT)는, 미분 펄스 볼턴메트리법으로 측정한 값인, 유기 일렉트로루미네센스 소자가 제공된다.
T1(H1)>T1(H2) …(수 1)
본 발명의 일 양태에 따르면, 전술한 본 발명의 일 양태에 따른 유기 일렉트로루미네센스 소자를 탑재한 전자 기기가 제공된다.
본 발명의 일 양태에 따르면, 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치로서, 서로 대향하여 배치된 양극 및 음극을 가지며, 청색 화소로서의 청색 유기 EL 소자, 녹색 화소로서의 녹색 유기 EL 소자 및 적색 화소로서의 적색 유기 EL 소자를 가지며, 상기 청색 유기 EL 소자는, 상기 양극과 상기 음극의 사이에 배치된 제1 발광층 및 제2 발광층을 갖는 청색 발광 영역을 가지며, 상기 제1 발광층이, 상기 청색 발광 영역에 있어서 상기 양극측에 배치되고, 상기 녹색 유기 EL 소자는, 상기 양극과 상기 음극의 사이에 배치된 녹색 발광층을 가지며, 상기 적색 유기 EL 소자는, 상기 양극과 상기 음극의 사이에 배치된 적색 발광층을 가지며, 상기 청색 유기 EL 소자, 상기 녹색 유기 EL 소자 및 상기 적색 유기 EL 소자는, 상기 청색 유기 EL 소자의 상기 청색 발광 영역, 상기 녹색 유기 EL 소자의 상기 녹색 발광층 및 상기 적색 유기 EL 소자의 상기 적색 발광층 각각과, 상기 양극의 사이에 있어서, 상기 청색 유기 EL 소자, 상기 녹색 유기 EL 소자 및 상기 적색 유기 EL 소자에 걸쳐 공통으로 설치된 정공 수송 대역을 가지며, 상기 정공 수송 대역은, 상기 청색 유기 EL 소자의 상기 제1 발광층과 직접 접하는 제1 유기층을 가지며, 상기 제1 유기층은, 정공 수송 대역 재료를 함유하고, 상기 제1 발광층은, 제1 호스트 재료와, 최대 피크 파장이 500 nm 이하인 발광을 나타내는 제1 발광성 화합물을 포함하며, 상기 제2 발광층은, 제2 호스트 재료와, 최대 피크 파장이 500 nm 이하인 발광을 나타내는 제2 발광성 화합물을 포함하고, 상기 제1 호스트 재료와 상기 제2 호스트 재료는 서로 상이하며, 상기 제1 발광성 화합물과 상기 제2 발광성 화합물이 서로 동일하거나 또는 상이하고, 상기 제1 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H1)과 상기 제2 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H2)이, 하기 수식(수 1)의 관계를 충족시키며, 상기 정공 수송 대역 재료의 어피니티값 Af(cHT)가 1.47 eV 미만이고, 상기 정공 수송 대역 재료의 어피니티값 Af(cHT)는, 미분 펄스 볼턴메트리법으로 측정한 값인, 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치가 제공된다.
T1(H1)>T1(H2) …(수 1)
본 발명의 일 양태에 따르면, 전술한 본 발명의 일 양태에 따른 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치를 탑재한 전자 기기가 제공된다.
본 발명의 일 양태에 따르면, 복수의 발광층을 적층시킴으로써 향상된 소자 성능의 저하를 억제하면서, 정공 수송 대역을 구성하는 유기층의 수를 줄일 수 있는 유기 일렉트로루미네센스 소자 및 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치, 상기 유기 일렉트로루미네센스 소자를 탑재한 전자 기기, 그리고 상기 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치를 탑재한 전자 기기를 제공할 수 있다.
도 1은 제1 실시형태에 따른 유기 일렉트로루미네센스 소자의 일례의 개략 구성을 나타낸 도면이다.
도 2는 제1 실시형태에 따른 유기 일렉트로루미네센스 소자의 다른 일례의 개략 구성을 나타낸 도면이다.
도 3은 제1 실시형태에 따른 유기 일렉트로루미네센스 소자의 다른 일례의 개략 구성을 나타낸 도면이다.
도 4는 제2 실시형태에 따른 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치의 일례의 개략 구성을 나타낸 도면이다.
도 5는 제2 실시형태에 따른 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치의 다른 일례의 개략 구성을 나타낸 도면이다.
도 6은 과도 PL을 측정하는 장치의 개략도이다.
도 7은 과도 PL의 감쇠 곡선의 일례를 나타낸 도면이다.
도 2는 제1 실시형태에 따른 유기 일렉트로루미네센스 소자의 다른 일례의 개략 구성을 나타낸 도면이다.
도 3은 제1 실시형태에 따른 유기 일렉트로루미네센스 소자의 다른 일례의 개략 구성을 나타낸 도면이다.
도 4는 제2 실시형태에 따른 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치의 일례의 개략 구성을 나타낸 도면이다.
도 5는 제2 실시형태에 따른 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치의 다른 일례의 개략 구성을 나타낸 도면이다.
도 6은 과도 PL을 측정하는 장치의 개략도이다.
도 7은 과도 PL의 감쇠 곡선의 일례를 나타낸 도면이다.
[정의]
본 명세서에 있어서, 수소 원자란, 중성자수가 상이한 동위체, 즉, 경수소(protium), 중수소(deuterium) 및 삼중수소(tritium)를 포함한다.
본 명세서에 있어서, 화학 구조식 중, 「R」 등의 기호나 중수소 원자를 나타내는 「D」가 명시되어 있지 않은 결합 가능 위치에는, 수소 원자, 즉, 경수소 원자, 중수소 원자 또는 삼중 수소 원자가 결합되어 있는 것으로 한다.
본 명세서에 있어서, 고리 형성 탄소수란, 원자가 환상으로 결합한 구조의 화합물(예컨대, 단환 화합물, 축합환 화합물, 가교 화합물, 탄소환 화합물 및 복소환 화합물)의 당해 고리 자체를 구성하는 원자 중의 탄소 원자의 수를 나타낸다. 당해 고리가 치환기에 의해 치환되는 경우, 치환기에 포함되는 탄소는 고리 형성 탄소수에는 포함하지 않는다. 이하에 기재된 「고리 형성 탄소수」에 대해서는 별도 기재가 없는 한 동일한 것으로 한다. 예컨대 벤젠환은 고리 형성 탄소수가 6이고, 나프탈렌환은 고리 형성 탄소수가 10이며, 피리딘환은 고리 형성 탄소수 5이고, 푸란환은 고리 형성 탄소수 4이다. 또한, 예컨대 9,9-디페닐플루오레닐기의 고리 형성 탄소수는 13이고, 9,9'-스피로비플루오레닐기의 고리 형성 탄소수는 25이다.
또한, 벤젠환에 치환기로서, 예컨대 알킬기가 치환되어 있는 경우, 상기 알킬기의 탄소수는 벤젠환의 고리 형성 탄소수에 포함시키지 않는다. 그 때문에, 알킬기가 치환되어 있는 벤젠환의 고리 형성 탄소수는 6이다. 또한, 나프탈렌환에 치환기로서, 예컨대 알킬기가 치환되어 있는 경우, 상기 알킬기의 탄소수는 나프탈렌환의 고리 형성 탄소수에 포함시키지 않는다. 그 때문에, 알킬기가 치환되어 있는 나프탈렌환의 고리 형성 탄소수는 10이다.
본 명세서에 있어서, 고리 형성 원자수란, 원자가 환상으로 결합한 구조(예컨대, 단환, 축합환 및 환집합)의 화합물(예컨대, 단환 화합물, 축합환 화합물, 가교 화합물, 탄소환 화합물 및 복소환 화합물)의 당해 고리 자체를 구성하는 원자의 수를 나타낸다. 고리를 구성하지 않는 원자(예컨대 고리를 구성하는 원자의 결합을 종단(終端)하는 수소 원자)나, 당해 고리가 치환기에 의해 치환되는 경우의 치환기에 포함되는 원자는 고리 형성 원자수에는 포함하지 않는다. 이하에 기재된 「고리 형성 원자수」에 대해서는 별도 기재가 없는 한 동일한 것으로 한다. 예컨대 피리딘환의 고리 형성 원자수는 6이고, 퀴나졸린환의 고리 형성 원자수는 10이며, 푸란환의 고리 형성 원자수는 5이다. 예컨대 피리딘환에 결합되어 있는 수소 원자 또는 치환기를 구성하는 원자의 수는, 피리딘환 형성 원자수의 수에 포함시키지 않는다. 그 때문에, 수소 원자 또는 치환기가 결합되어 있는 피리딘환의 고리 형성 원자수는 6이다. 또한, 예컨대 퀴나졸린환의 탄소 원자에 결합되어 있는 수소 원자 또는 치환기를 구성하는 원자에 대해서는, 퀴나졸린환의 고리 형성 원자수의 수에 포함시키지 않는다. 그 때문에, 수소 원자 또는 치환기가 결합되어 있는 퀴나졸린환의 고리 형성 원자수는 10이다.
본 명세서에 있어서, 「치환 혹은 무치환의 탄소수 XX∼YY의 ZZ기」라고 하는 표현에 있어서의 「탄소수 XX∼YY」는, ZZ기가 무치환인 경우의 탄소수를 나타내고, 치환되어 있는 경우의 치환기의 탄소수를 포함시키지 않는다. 여기서, 「YY」는 「XX」보다 크며, 「XX」는 1 이상의 정수를 의미하고, 「YY」는 2 이상의 정수를 의미한다.
본 명세서에 있어서, 「치환 혹은 무치환의 원자수 XX∼YY의 ZZ기」라고 하는 표현에 있어서의 「원자수 XX∼YY」는, ZZ기가 무치환인 경우의 원자수를 나타내며, 치환되어 있는 경우의 치환기의 원자수를 포함시키지 않는다. 여기서, 「YY」는 「XX」보다 크며, 「XX」는 1 이상의 정수를 의미하고, 「YY」는 2 이상의 정수를 의미한다.
본 명세서에 있어서, 무치환의 ZZ기란 「치환 혹은 무치환의 ZZ기」가 「무치환의 ZZ기」인 경우를 나타내고, 치환의 ZZ기란 「치환 혹은 무치환의 ZZ기」가 「치환의 ZZ기」인 경우를 나타낸다.
본 명세서에 있어서, 「치환 혹은 무치환의 ZZ기」라고 하는 경우에 있어서의 「무치환」이란, ZZ기에 있어서의 수소 원자가 치환기로 치환되어 있지 않음을 의미한다. 「무치환의 ZZ기」에 있어서의 수소 원자는 경수소 원자, 중수소 원자 또는 삼중수소 원자이다.
또한, 본 명세서에 있어서, 「치환 혹은 무치환의 ZZ기」라고 하는 경우에 있어서의 「치환」이란, ZZ기에 있어서의 하나 이상의 수소 원자가 치환기로 치환되어 있음을 의미한다. 「AA기로 치환된 BB기」라고 하는 경우에 있어서의 「치환」도 마찬가지로, BB기에 있어서의 하나 이상의 수소 원자가 AA기로 치환되어 있음을 의미한다.
「본 명세서에 기재된 치환기」
이하, 본 명세서에 기재된 치환기에 대해서 설명한다.
본 명세서에 기재된 「무치환의 아릴기」의 고리 형성 탄소수는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한 6∼50이고, 바람직하게는 6∼30, 보다 바람직하게는 6∼18이다.
본 명세서에 기재된 「무치환의 복소환기」의 고리 형성 원자수는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한 5∼50이고, 바람직하게는 5∼30, 보다 바람직하게는 5∼18이다.
본 명세서에 기재된 「무치환의 알킬기」의 탄소수는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한 1∼50이며, 바람직하게는 1∼20, 보다 바람직하게는 1∼6이다.
본 명세서에 기재된 「무치환의 알케닐기」의 탄소수는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한 2∼50이며, 바람직하게는 2∼20, 보다 바람직하게는 2∼6이다.
본 명세서에 기재된 「무치환의 알키닐기」의 탄소수는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한 2∼50이며, 바람직하게는 2∼20, 보다 바람직하게는 2∼6이다.
본 명세서에 기재된 「무치환의 시클로알킬기」의 고리 형성 탄소수는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한 3∼50이며, 바람직하게는 3∼20, 보다 바람직하게는 3∼6이다.
본 명세서에 기재된 「무치환의 아릴렌기」의 고리 형성 탄소수는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한 6∼50이며, 바람직하게는 6∼30, 보다 바람직하게는 6∼18이다.
본 명세서에 기재된 「무치환의 2가의 복소환기」의 고리 형성 원자수는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한 5∼50이며, 바람직하게는 5∼30, 보다 바람직하게는 5∼18이다.
본 명세서에 기재된 「무치환의 알킬렌기」의 탄소수는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한 1∼50이며, 바람직하게는 1∼20, 보다 바람직하게는 1∼6이다.
·「치환 혹은 무치환의 아릴기」
본 명세서에 기재된 「치환 혹은 무치환의 아릴기」의 구체예(구체예군 G1)로서는, 이하의 무치환의 아릴기(구체예군 G1A) 및 치환의 아릴기(구체예군 G1B) 등을 들 수 있다. (여기서, 무치환의 아릴기란 「치환 혹은 무치환의 아릴기」가 「무치환의 아릴기」인 경우를 가리키고, 치환의 아릴기란 「치환 혹은 무치환의 아릴기」가 「치환의 아릴기」인 경우를 가리킨다.). 본 명세서에 있어서, 단순히 「아릴기」라고 하는 경우는 「무치환의 아릴기」와 「치환의 아릴기」 양쪽 모두를 포함한다.
「치환의 아릴기」는 「무치환의 아릴기」의 하나 이상의 수소 원자가 치환기로 치환된 기를 의미한다. 「치환의 아릴기」로서는, 예컨대 하기 구체예군 G1A의 「무치환의 아릴기」의 하나 이상의 수소 원자가 치환기로 치환된 기 및 하기 구체예군 G1B의 치환의 아릴기의 예 등을 들 수 있다. 또한, 여기에 열거한 「무치환의 아릴기」의 예 및 「치환의 아릴기」의 예는 일례에 불과하며, 본 명세서에 기재된 「치환의 아릴기」에는, 하기 구체예군 G1B의 「치환의 아릴기」에 있어서의 아릴기 자체의 탄소 원자에 결합하는 수소 원자가 치환기로 더 치환된 기 및 하기 구체예군 G1B의 「치환의 아릴기」에 있어서의 치환기의 수소 원자가 치환기로 더 치환된 기도 포함된다.
·무치환의 아릴기(구체예군 G1A): 페닐기,
p-비페닐기,
m-비페닐기,
o-비페닐기,
p-터페닐-4-일기,
p-터페닐-3-일기,
p-터페닐-2-일기,
m-터페닐-4-일기,
m-터페닐-3-일기,
m-터페닐-2-일기,
o-터페닐-4-일기,
o-터페닐-3-일기,
o-터페닐-2-일기,
1-나프틸기,
2-나프틸기,
안트릴기,
벤조안트릴기,
페난트릴기,
벤조페난트릴기,
페날레닐기,
피레닐기,
크리세닐기,
벤조크리세닐기,
트리페닐레닐기,
벤조트리페닐레닐기,
테트라세닐기,
펜타세닐기,
플루오레닐기,
9,9'-스피로비플루오레닐기,
벤조플루오레닐기,
디벤조플루오레닐기,
플루오란테닐기,
벤조플루오란테닐기,
페릴레닐기, 및 하기 일반식 (TEMP-1)∼(TEMP-15)로 표시되는 고리 구조에서 하나의 수소 원자를 제거함으로써 유도되는 1가의 아릴기.
[화 1]
[화 2]
·치환의 아릴기(구체예군 G1B):
o-톨릴기,
m-톨릴기,
p-톨릴기,
파라-크실릴기,
메타-크실릴기,
오르토-크실릴기,
파라-이소프로필페닐기,
메타-이소프로필페닐기,
오르토-이소프로필페닐기,
파라-t-부틸페닐기,
메타-t-부틸페닐기,
오르토-t-부틸페닐기,
3,4,5-트리메틸페닐기,
9,9-디메틸플루오레닐기,
9,9-디페닐플루오레닐기,
9,9-비스(4-메틸페닐)플루오레닐기,
9,9-비스(4-이소프로필페닐)플루오레닐기,
9,9-비스(4-t-부틸페닐)플루오레닐기,
시아노페닐기,
트리페닐실릴페닐기,
트리메틸실릴페닐기,
페닐나프틸기,
나프틸페닐기, 및 상기 일반식 (TEMP-1)∼(TEMP-15)로 표시되는 고리 구조로부터 유도되는 1가의 기의 하나 이상의 수소 원자가 치환기로 치환된 기.
·「치환 혹은 무치환의 복소환기」
본 명세서에 기재된 「복소환기」는 고리 형성 원자에 헤테로 원자를 적어도 하나 포함하는 환상의 기이다. 헤테로 원자의 구체예로서는, 질소 원자, 산소 원자, 황 원자, 규소 원자, 인 원자 및 붕소 원자를 들 수 있다.
본 명세서에 기재된 「복소환기」는 단환의 기이거나 또는 축합환의 기이다.
본 명세서에 기재된 「복소환기」는 방향족 복소환기이거나 또는 비방향족 복소환기이다.
본 명세서에 기재된 「치환 혹은 무치환의 복소환기」의 구체예(구체예군 G2)로서는, 이하의 무치환의 복소환기(구체예군 G2A) 및 치환의 복소환기(구체예군 G2B) 등을 들 수 있다. (여기서, 무치환의 복소환기란 「치환 혹은 무치환의 복소환기」가 「무치환의 복소환기」인 경우를 가리키고, 치환의 복소환기란 「치환 혹은 무치환의 복소환기」가 「치환의 복소환기」인 경우를 가리킨다.). 본 명세서에 있어서, 단순히 「복소환기」라고 하는 경우는 「무치환의 복소환기」와 「치환의 복소환기」 양쪽 모두를 포함한다.
「치환의 복소환기」는 「무치환의 복소환기」의 하나 이상의 수소 원자가 치환기로 치환된 기를 의미한다. 「치환의 복소환기」의 구체예는, 하기 구체예군 G2A의 「무치환의 복소환기」의 수소 원자가 치환된 기 및 하기 구체예군 G2B의 치환의 복소환기의 예 등을 들 수 있다. 또한, 여기에 열거한 「무치환의 복소환기」의 예나 「치환의 복소환기」의 예는 일례에 불과하며, 본 명세서에 기재된 「치환의 복소환기」에는, 구체예군 G2B의 「치환의 복소환기」에 있어서의 복소환기 자체의 고리 형성 원자에 결합하는 수소 원자가 치환기로 더 치환된 기 및 구체예군 G2B의 「치환의 복소환기」에 있어서의 치환기의 수소 원자가 치환기로 더 치환된기도 포함된다.
구체예군 G2A는, 예컨대 이하의 질소 원자를 포함하는 무치환의 복소환기(구체예군 G2A1), 산소 원자를 포함하는 무치환의 복소환기(구체예군 G2A2), 황 원자를 포함하는 무치환의 복소환기(구체예군 G2A3) 및 하기 일반식 (TEMP-16)∼(TEMP-33)으로 표시되는 고리 구조에서 하나의 수소 원자를 제거함으로써 유도되는 1가의 복소환기(구체예군 G2A4)를 포함한다.
구체예군 G2B는, 예컨대 이하의 질소 원자를 포함하는 치환의 복소환기(구체예군 G2B1), 산소 원자를 포함하는 치환의 복소환기(구체예군 G2B2), 황 원자를 포함하는 치환의 복소환기(구체예군 G2B3) 및 하기 일반식 (TEMP-16)∼(TEMP-33)으로 표시되는 고리 구조로부터 유도되는 1가의 복소환기의 하나 이상의 수소 원자가 치환기로 치환된 기(구체예군 G2B4)를 포함한다.
·질소 원자를 포함하는 무치환의 복소환기(구체예군 G2A1):
피롤릴기,
이미다졸릴기,
피라졸릴기,
트리아졸릴기,
테트라졸릴기,
옥사졸릴기,
이소옥사졸릴기,
옥사디아졸릴기,
티아졸릴기,
이소티아졸릴기,
티아디아졸릴기,
피리딜기,
피리다지닐기,
피리미디닐기,
피라지닐기,
트리아지닐기,
인돌릴기,
이소인돌릴기,
인돌리지닐기,
퀴놀리지닐기,
퀴놀릴기,
이소퀴놀릴기,
신놀릴기,
프탈라지닐기,
퀴나졸리닐기,
퀴녹살리닐기,
벤조이미다졸릴기,
인다졸릴기,
페난트롤리닐기,
페난트리디닐기,
아크리디닐기,
페나지닐기,
카르바졸릴기,
벤조카르바졸릴기,
모르폴리노기,
페녹사지닐기,
페노티아지닐기,
아자카르바졸릴기 및 디아자카르바졸릴기.
·산소 원자를 포함하는 무치환의 복소환기(구체예군 G2A2):
푸릴기,
옥사졸릴기,
이소옥사졸릴기,
옥사디아졸릴기,
크산테닐기,
벤조푸라닐기,
이소벤조푸라닐기,
디벤조푸라닐기,
나프토벤조푸라닐기,
벤조옥사졸릴기,
벤조이소옥사졸릴기,
페녹사지닐기,
모르폴리노기,
디나프토푸라닐기,
아자디벤조푸라닐기,
디아자디벤조푸라닐기,
아자나프토벤조푸라닐기, 및 디아자나프토벤조푸라닐기.
·황 원자를 포함하는 무치환의 복소환기(구체예군 G2A3):
티에닐기,
티아졸릴기,
이소티아졸릴기,
티아디아졸릴기,
벤조티오페닐기(벤조티에닐기),
이소벤조티오페닐기(이소벤조티에닐기),
디벤조티오페닐기(디벤조티에닐기),
나프토벤조티오페닐기(나프토벤조티에닐기),
벤조티아졸릴기,
벤조이소티아졸릴기,
페노티아지닐기,
디나프토티오페닐기(디나프토티에닐기),
아자디벤조티오페닐기(아자디벤조티에닐기),
디아자디벤조티오페닐기(디아자디벤조티에닐기),
아자나프토벤조티오페닐기(아자나프토벤조티에닐기), 및 디아자나프토벤조티오페닐기(디아자나프토벤조티에닐기).
·하기 일반식 (TEMP-16)∼(TEMP-33)으로 표시되는 고리 구조에서 하나의 수소 원자를 제거함으로써 유도되는 1가의 복소환기(구체예군 G2A4):
[화 3]
[화 4]
상기 일반식 (TEMP-16)∼(TEMP-33)에 있어서, XA 및 YA는 각각 독립적으로 산소 원자, 황 원자, NH 또는 CH2이다. 단, XA 및 YA 중 적어도 하나는 산소 원자, 황 원자 또는 NH이다.
상기 일반식 (TEMP-16)∼(TEMP-33)에 있어서, XA 및 YA 중 적어도 어느 하나가 NH 또는 CH2인 경우, 상기 일반식 (TEMP-16)∼(TEMP-33)으로 표시되는 고리 구조로부터 유도되는 1가의 복소환기에는, 이들 NH 또는 CH2로부터 하나의 수소 원자를 제거하여 얻어지는 1가의 기가 포함된다.
·질소 원자를 포함하는 치환의 복소환기(구체예군 G2B1):
(9-페닐)카르바졸릴기,
(9-비페닐릴)카르바졸릴기,
(9-페닐)페닐카르바졸릴기,
(9-나프틸)카르바졸릴기,
디페닐카르바졸-9-일기,
페닐카르바졸-9-일기,
메틸벤조이미다졸릴기,
에틸벤조이미다졸릴기,
페닐트리아지닐기,
비페닐릴트리아지닐기,
디페닐트리아지닐기,
페닐퀴나졸리닐기, 및 비페닐릴퀴나졸리닐기.
·산소 원자를 포함하는 치환의 복소환기(구체예군 G2B2):
페닐디벤조푸라닐기,
메틸디벤조푸라닐기,
t-부틸디벤조푸라닐기, 및
스피로[9H-크산텐-9,9'-[9H]플루오렌]의 1가의 잔기.
·황 원자를 포함하는 치환의 복소환기(구체예군 G2B3):
페닐디벤조티오페닐기,
메틸디벤조티오페닐기,
t-부틸디벤조티오페닐기, 및
스피로[9H-티오크산텐-9,9'-[9H]플루오렌]의 1가의 잔기.
·상기 일반식 (TEMP-16)∼(TEMP-33)으로 표시되는 고리 구조로부터 유도되는 1가의 복소환기의 하나 이상의 수소 원자가 치환기로 치환된 기(구체예군 G2B4):
상기 「1가의 복소환기의 하나 이상의 수소 원자」란, 상기 1가의 복소환기의 고리 형성 탄소 원자에 결합되어 있는 수소 원자, XA 및 YA 중 적어도 어느 하나가 NH인 경우의 질소 원자에 결합되어 있는 수소 원자, 그리고 XA 및 YA 중 한쪽이 CH2인 경우의 메틸렌기의 수소 원자로부터 선택되는 하나 이상의 수소 원자를 의미한다.
·「치환 혹은 무치환의 알킬기」
본 명세서에 기재된 「치환 혹은 무치환의 알킬기」의 구체예(구체예군 G3)로서는, 이하의 무치환의 알킬기(구체예군 G3A) 및 치환의 알킬기(구체예군 G3B)를 들 수 있다. (여기서, 무치환의 알킬기란 「치환 혹은 무치환의 알킬기」가 「무치환의 알킬기」인 경우를 가리키고, 치환의 알킬기란 「치환 혹은 무치환의 알킬기」가 「치환의 알킬기」인 경우를 가리킨다.). 이하, 단순히 「알킬기」라고 하는 경우는 「무치환의 알킬기」와 「치환의 알킬기」 양쪽 모두를 포함한다.
「치환의 알킬기」는 「무치환의 알킬기」에 있어서의 하나 이상의 수소 원자가 치환기로 치환된 기를 의미한다. 「치환의 알킬기」의 구체예로서는, 하기의 「무치환의 알킬기」(구체예군 G3A)에 있어서의 하나 이상의 수소 원자가 치환기로 치환된 기 및 치환의 알킬기(구체예군 G3B)의 예 등을 들 수 있다. 본 명세서에 있어서, 「무치환의 알킬기」에 있어서의 알킬기는 쇄상 알킬기를 의미한다. 그 때문에, 「무치환의 알킬기」는 직쇄인 「무치환의 알킬기」 및 분기상인 「무치환의 알킬기」가 포함된다. 또한, 여기에 열거한 「무치환의 알킬기」의 예나 「치환의 알킬기」의 예는 일례에 불과하며, 본 명세서에 기재된 「치환의 알킬기」에는, 구체예군 G3B의 「치환의 알킬기」에 있어서의 알킬기 자체의 수소 원자가 치환기로 더 치환된 기 및 구체예군 G3B의 「치환의 알킬기」에 있어서의 치환기의 수소 원자가 치환기로 더 치환된 기도 포함된다.
·무치환의 알킬기(구체예군 G3A):
메틸기,
에틸기,
n-프로필기,
이소프로필기,
n-부틸기,
이소부틸기,
s-부틸기 및 t-부틸기.
·치환의 알킬기(구체예군 G3B):
헵타플루오로프로필기(이성체를 포함함),
펜타플루오로에틸기,
2,2,2-트리플루오로에틸기, 및 트리플루오로메틸기.
·「치환 혹은 무치환의 알케닐기」
본 명세서에 기재된 「치환 혹은 무치환의 알케닐기」의 구체예(구체예군 G4)로서는, 이하의 무치환의 알케닐기(구체예군 G4A) 및 치환의 알케닐기(구체예군 G4B) 등을 들 수 있다. (여기서, 무치환의 알케닐기란 「치환 혹은 무치환의 알케닐기」가 「무치환의 알케닐기」인 경우를 가리키고, 「치환의 알케닐기」란 「치환 혹은 무치환의 알케닐기」가 「치환의 알케닐기」인 경우를 가리킨다.). 본 명세서에 있어서, 단순히 「알케닐기」라고 하는 경우는, 「무치환의 알케닐기」와 「치환의 알케닐기」 양쪽 모두를 포함한다.
「치환의 알케닐기」는 「무치환의 알케닐기」에 있어서의 하나 이상의 수소 원자가 치환기로 치환된 기를 의미한다. 「치환의 알케닐기」의 구체예로서는, 하기의 「무치환의 알케닐기」(구체예군 G4A)가 치환기를 갖는 기 및 치환의 알케닐기(구체예군 G4B)의 예 등을 들 수 있다. 또한, 여기에 열거한 「무치환의 알케닐기」의 예나 「치환의 알케닐기」의 예는 일례에 불과하며, 본 명세서에 기재된 「치환의 알케닐기」에는, 구체예군 G4B의 「치환의 알케닐기」에 있어서의 알케닐기 자체의 수소 원자가 치환기로 더 치환된 기 및 구체예군 G4B의 「치환의 알케닐기」에 있어서의 치환기의 수소 원자가 치환기로 더 치환된 기도 포함된다.
·무치환의 알케닐기(구체예군 G4A):
비닐기,
알릴기,
1-부테닐기,
2-부테닐기, 및 3-부테닐기.
·치환의 알케닐기(구체예군 G4B):
1,3-부탄디에닐기,
1-메틸비닐기,
1-메틸알릴기,
1,1-디메틸알릴기,
2-메틸알릴기, 및 1,2-디메틸알릴기.
·「치환 혹은 무치환의 알키닐기」
본 명세서에 기재된 「치환 혹은 무치환의 알키닐기」의 구체예(구체예군 G5)로서는, 이하의 무치환의 알키닐기(구체예군 G5A) 등을 들 수 있다. (여기서, 무치환의 알키닐기란 「치환 혹은 무치환의 알키닐기」가 「무치환의 알키닐기」인 경우를 가리킨다.). 이하, 단순히 「알키닐기」라고 하는 경우는, 「무치환의 알키닐기」와 「치환의 알키닐기」 양쪽 모두를 포함한다.
「치환의 알키닐기」는 「무치환의 알키닐기」에 있어서의 하나 이상의 수소 원자가 치환기로 치환된 기를 의미한다. 「치환의 알키닐기」의 구체예로서는, 하기의 「무치환의 알키닐기」(구체예군 G5A)에 있어서의 하나 이상의 수소 원자가 치환기로 치환된 기 등을 들 수 있다.
·무치환의 알키닐기(구체예군 G5A):
에티닐기.
·「치환 혹은 무치환의 시클로알킬기」
본 명세서에 기재된 「치환 혹은 무치환의 시클로알킬기」의 구체예(구체예군 G6)로서는, 이하의 무치환의 시클로알킬기(구체예군 G6A) 및 치환의 시클로알킬기(구체예군 G6B) 등을 들 수 있다. (여기서, 무치환의 시클로알킬기란 「치환 혹은 무치환의 시클로알킬기」가 「무치환의 시클로알킬기」인 경우를 가리키고, 치환의 시클로알킬기란 「치환 혹은 무치환의 시클로알킬기」가 「치환의 시클로알킬기」인 경우를 가리킨다.). 본 명세서에 있어서, 단순히 「시클로알킬기」라고 하는 경우는, 「무치환의 시클로알킬기」와 「치환의 시클로알킬기」 양쪽 모두를 포함한다.
「치환의 시클로알킬기」는 「무치환의 시클로알킬기」에 있어서의 하나 이상의 수소 원자가 치환기로 치환된 기를 의미한다. 「치환의 시클로알킬기」의 구체예로서는, 하기의 「무치환의 시클로알킬기」(구체예군 G6A)에 있어서의 하나 이상의 수소 원자가 치환기로 치환된 기 및 치환의 시클로알킬기(구체예군 G6B)의 예 등을 들 수 있다. 또한, 여기에 열거한 「무치환의 시클로알킬기」의 예나 「치환의 시클로알킬기」의 예는 일례에 불과하며, 본 명세서에 기재된 「치환의 시클로알킬기」에는, 구체예군 G6B의 「치환의 시클로알킬기」에 있어서의 시클로알킬기 자체의 탄소 원자에 결합하는 하나 이상의 수소 원자가 치환기로 치환된 기 및 구체예군 G6B의 「치환의 시클로알킬기」에 있어서의 치환기의 수소 원자가 치환기로 더 치환된 기도 포함된다.
·무치환의 시클로알킬기(구체예군 G6A):
시클로프로필기,
시클로부틸기,
시클로펜틸기,
시클로헥실기,
1-아다만틸기,
2-아다만틸기,
1-노르보르닐기, 및 2-노르보르닐기.
·치환의 시클로알킬기(구체예군 G6B):
4-메틸시클로헥실기.
·「-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기」
본 명세서에 기재된 -Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기의 구체예(구체예군 G7)로서는,
-Si(G1)(G1)(G1),
-Si(G1)(G2)(G2),
-Si(G1)(G1)(G2),
-Si(G2)(G2)(G2),
-Si(G3)(G3)(G3), 및 -Si(G6)(G6)(G6)
을 들 수 있다. 여기서,
G1은 구체예군 G1에 기재된 「치환 혹은 무치환의 아릴기」이다.
G2는 구체예군 G2에 기재된 「치환 혹은 무치환의 복소환기」이다.
G3은 구체예군 G3에 기재된 「치환 혹은 무치환의 알킬기」이다.
G6은 구체예군 G6에 기재된 「치환 혹은 무치환의 시클로알킬기」이다.
-Si(G1)(G1)(G1)에 있어서의 복수의 G1은 서로 동일하거나 또는 상이하다.
-Si(G1)(G2)(G2)에 있어서의 복수의 G2는 서로 동일하거나 또는 상이하다.
-Si(G1)(G1)(G2)에 있어서의 복수의 G1은 서로 동일하거나 또는 상이하다.
-Si(G2)(G2)(G2)에 있어서의 복수의 G2는 서로 동일하거나 또는 상이하다.
-Si(G3)(G3)(G3)에 있어서의 복수의 G3은 서로 동일하거나 또는 상이하다.
-Si(G6)(G6)(G6)에 있어서의 복수의 G6은 서로 동일하거나 또는 상이하다.
·「-O-(R904)로 표시되는 기」
본 명세서에 기재된 -O-(R904)로 표시되는 기의 구체예(구체예군 G8)로서는,
-O(G1),
-O(G2),
-O(G3), 및 -O(G6)
을 들 수 있다.
여기서,
G1은 구체예군 G1에 기재된 「치환 혹은 무치환의 아릴기」이다.
G2는 구체예군 G2에 기재된 「치환 혹은 무치환의 복소환기」이다.
G3은 구체예군 G3에 기재된 「치환 혹은 무치환의 알킬기」이다.
G6은 구체예군 G6에 기재된 「치환 혹은 무치환의 시클로알킬기」이다.
·「-S-(R905)로 표시되는 기」
본 명세서에 기재된 -S-(R905)로 표시되는 기의 구체예(구체예군 G9)로서는,
-S(G1),
-S(G2),
-S(G3), 및 -S(G6)
을 들 수 있다.
여기서,
G1은 구체예군 G1에 기재된 「치환 혹은 무치환의 아릴기」이다.
G2는 구체예군 G2에 기재된 「치환 혹은 무치환의 복소환기」이다.
G3은 구체예군 G3에 기재된 「치환 혹은 무치환의 알킬기」이다.
G6은 구체예군 G6에 기재된 「치환 혹은 무치환의 시클로알킬기」이다.
·「-N(R906)(R907)로 표시되는 기」
본 명세서에 기재된 -N(R906)(R907)로 표시되는 기의 구체예(구체예군 G10)로서는,
-N(G1)(G1),
-N(G2)(G2),
-N(G1)(G2),
-N(G3)(G3), 및 -N(G6)(G6)
을 들 수 있다.
여기서,
G1은 구체예군 G1에 기재된 「치환 혹은 무치환의 아릴기」이다.
G2는 구체예군 G2에 기재된 「치환 혹은 무치환의 복소환기」이다.
G3은 구체예군 G3에 기재된 「치환 혹은 무치환의 알킬기」이다.
G6은 구체예군 G6에 기재된 「치환 혹은 무치환의 시클로알킬기」이다.
-N(G1)(G1)에 있어서의 복수의 G1은 서로 동일하거나 또는 상이하다.
-N(G2)(G2)에 있어서의 복수의 G2는 서로 동일하거나 또는 상이하다.
-N(G3)(G3)에 있어서의 복수의 G3은 서로 동일하거나 또는 상이하다.
-N(G6)(G6)에 있어서의 복수의 G6은 서로 동일하거나 또는 상이하다.
·「할로겐 원자」
본 명세서에 기재된 「할로겐 원자」의 구체예(구체예군 G11)로서는, 불소 원자, 염소 원자, 브롬 원자 및 요오드 원자 등을 들 수 있다.
·「치환 혹은 무치환의 플루오로알킬기」
본 명세서에 기재된 「치환 혹은 무치환의 플루오로알킬기」는, 「치환 혹은 무치환의 알킬기」에 있어서의 알킬기를 구성하는 탄소 원자에 결합되어 있는 적어도 하나의 수소 원자가 불소 원자로 치환된 기를 의미하며, 「치환 혹은 무치환의 알킬기」에 있어서의 알킬기를 구성하는 탄소 원자에 결합되어 있는 모든 수소 원자가 불소 원자로 치환된 기(퍼플루오로기)도 포함한다. 「무치환의 플루오로알킬기」의 탄소수는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한 1∼50이며, 바람직하게는 1∼30이고, 보다 바람직하게는 1∼18이다. 「치환의 플루오로알킬기」는 「플루오로알킬기」의 하나 이상의 수소 원자가 치환기로 치환된 기를 의미한다. 또한, 본 명세서에 기재된 「치환의 플루오로알킬기」에는, 「치환의 플루오로알킬기」에 있어서의 알킬쇄의 탄소 원자에 결합하는 하나 이상의 수소 원자가 치환기로 더 치환된 기 및 「치환의 플루오로알킬기」에 있어서의 치환기의 하나 이상의 수소 원자가 치환기로 더 치환된 기도 포함된다. 「무치환의 플루오로알킬기」의 구체예로서는, 상기 「알킬기」(구체예군 G3)에 있어서의 하나 이상의 수소 원자가 불소 원자로 치환된 기의 예 등을 들 수 있다.
·「치환 혹은 무치환의 할로알킬기」
본 명세서에 기재된 「치환 혹은 무치환의 할로알킬기」는, 「치환 혹은 무치환의 알킬기」에 있어서의 알킬기를 구성하는 탄소 원자에 결합되어 있는 적어도 하나의 수소 원자가 할로겐 원자로 치환된 기를 의미하며, 「치환 혹은 무치환의 알킬기」에 있어서의 알킬기를 구성하는 탄소 원자에 결합되어 있는 모든 수소 원자가 할로겐 원자로 치환된 기도 포함한다. 「무치환의 할로알킬기」의 탄소수는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한 1∼50이며, 바람직하게는 1∼30이고, 보다 바람직하게는 1∼18이다. 「치환의 할로알킬기」는 「할로알킬기」의 하나 이상의 수소 원자가 치환기로 치환된 기를 의미한다. 또한, 본 명세서에 기재된 「치환의 할로알킬기」에는, 「치환의 할로알킬기」에 있어서의 알킬쇄의 탄소 원자에 결합하는 하나 이상의 수소 원자가 치환기로 더 치환된 기 및 「치환의 할로알킬기」에 있어서의 치환기의 하나 이상의 수소 원자가 치환기로 더 치환된 기도 포함된다. 「무치환의 할로알킬기」의 구체예로서는, 상기 「알킬기」(구체예군 G3)에 있어서의 하나 이상의 수소 원자가 할로겐 원자로 치환된 기의 예 등을 들 수 있다. 할로알킬기를 할로겐화알킬기라고 칭하는 경우가 있다.
·「치환 혹은 무치환의 알콕시기」
본 명세서에 기재된 「치환 혹은 무치환의 알콕시기」의 구체예로서는, -O(G3)으로 표시되는 기이며, 여기서 G3은 구체예군 G3에 기재된 「치환 혹은 무치환의 알킬기」이다. 「무치환의 알콕시기」의 탄소수는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한 1∼50이며, 바람직하게는 1∼30이고, 보다 바람직하게는 1∼18이다.
·「치환 혹은 무치환의 알킬티오기」
본 명세서에 기재된 「치환 혹은 무치환의 알킬티오기」의 구체예로서는, -S(G3)으로 표시되는 기이며, 여기서 G3은 구체예군 G3에 기재된 「치환 혹은 무치환의 알킬기」이다. 「무치환의 알킬티오기」의 탄소수는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한 1∼50이며, 바람직하게는 1∼30이고, 보다 바람직하게는 1∼18이다.
·「치환 혹은 무치환의 아릴옥시기」
본 명세서에 기재된 「치환 혹은 무치환의 아릴옥시기」의 구체예로서는, -O(G1)로 표시되는 기이며, 여기서 G1은 구체예군 G1에 기재된 「치환 혹은 무치환의 아릴기」이다. 「무치환의 아릴옥시기」의 고리 형성 탄소수는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한 6∼50이며, 바람직하게는 6∼30이고, 보다 바람직하게는 6∼18이다.
·「치환 혹은 무치환의 아릴티오기」
본 명세서에 기재된 「치환 혹은 무치환의 아릴티오기」의 구체예로서는, -S(G1)로 표시되는 기이며, 여기서 G1은 구체예군 G1에 기재된 「치환 혹은 무치환의 아릴기」이다. 「무치환의 아릴티오기」의 고리 형성 탄소수는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한 6∼50이며, 바람직하게는 6∼30이고, 보다 바람직하게는 6∼18이다.
·「치환 혹은 무치환의 트리알킬실릴기」
본 명세서에 기재된 「트리알킬실릴기」의 구체예로서는, -Si(G3)(G3)(G3)으로 표시되는 기이며, 여기서 G3은 구체예군 G3에 기재된 「치환 혹은 무치환의 알킬기」이다. -Si(G3)(G3)(G3)에 있어서의 복수의 G3은 서로 동일하거나 또는 상이하다. 「트리알킬실릴기」의 각 알킬기의 탄소수는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한 1∼50이며, 바람직하게는 1∼20이고, 보다 바람직하게는 1∼6이다.
·「치환 혹은 무치환의 아랄킬기」
본 명세서에 기재된 「치환 혹은 무치환의 아랄킬기」의 구체예로서는, -(G3)-(G1)로 표시되는 기이며, 여기서 G3은 구체예군 G3에 기재된 「치환 혹은 무치환의 알킬기」이고, G1은 구체예군 G1에 기재된 「치환 혹은 무치환의 아릴기」이다. 따라서, 「아랄킬기」는 「알킬기」의 수소 원자가 치환기로서의 「아릴기」로 치환된 기이며, 「치환의 알킬기」의 일 양태이다. 「무치환의 아랄킬기」는 「무치환의 아릴기」가 치환한 「무치환의 알킬기」이고, 「무치환의 아랄킬기」의 탄소수는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한 7∼50이며, 바람직하게는 7∼30이고, 보다 바람직하게는 7∼18이다.
「치환 혹은 무치환의 아랄킬기」의 구체예로서는, 벤질기, 1-페닐에틸기, 2-페닐에틸기, 1-페닐이소프로필기, 2-페닐이소프로필기, 페닐-t-부틸기, α-나프틸메틸기, 1-α-나프틸에틸기, 2-α-나프틸에틸기, 1-α-나프틸이소프로필기, 2-α-나프틸이소프로필기, β-나프틸메틸기, 1-β-나프틸에틸기, 2-β-나프틸에틸기, 1-β-나프틸이소프로필기 및 2-β-나프틸이소프로필기 등을 들 수 있다.
본 명세서에 기재된 치환 혹은 무치환의 아릴기는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한, 바람직하게는 페닐기, p-비페닐기, m-비페닐기, o-비페닐기, p-터페닐-4-일기, p-터페닐-3-일기, p-터페닐-2-일기, m-터페닐-4-일기, m-터페닐-3-일기, m-터페닐-2-일기, o-터페닐-4-일기, o-터페닐-3-일기, o-터페닐-2-일기, 1-나프틸기, 2-나프틸기, 안트릴기, 페난트릴기, 피레닐기, 크리세닐기, 트리페닐레닐기, 플루오레닐기, 9,9'-스피로비플루오레닐기, 9,9-디메틸플루오레닐기, 및 9,9-디페닐플루오레닐기 등이다.
본 명세서에 기재된 치환 혹은 무치환의 복소환기는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한, 바람직하게는 피리딜기, 피리미디닐기, 트리아지닐기, 퀴놀릴기, 이소퀴놀릴기, 퀴나졸리닐기, 벤조이미다졸릴기, 페난트롤리닐기, 카르바졸릴기(1-카르바졸릴기, 2-카르바졸릴기, 3-카르바졸릴기, 4-카르바졸릴기 또는 9-카르바졸릴기), 벤조카르바졸릴기, 아자카르바졸릴기, 디아자카르바졸릴기, 디벤조푸라닐기, 나프토벤조푸라닐기, 아자디벤조푸라닐기, 디아자디벤조푸라닐기, 디벤조티오페닐기, 나프토벤조티오페닐기, 아자디벤조티오페닐기, 디아자디벤조티오페닐기, (9-페닐)카르바졸릴기((9-페닐)카르바졸-1-일기, (9-페닐)카르바졸-2-일기, (9-페닐)카르바졸-3-일기 또는 (9-페닐)카르바졸-4-일기), (9-비페닐릴)카르바졸릴기, (9-페닐)페닐카르바졸릴기, 디페닐카르바졸-9-일기, 페닐카르바졸-9-일기, 페닐트리아지닐기, 비페닐릴트리아지닐기, 디페닐트리아지닐기, 페닐디벤조푸라닐기, 및 페닐디벤조티오페닐기 등이다.
본 명세서에 있어서, 카르바졸릴기는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한, 구체적으로는 이하의 어느 하나의 기이다.
[화 5]
본 명세서에 있어서, (9-페닐)카르바졸릴기는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한, 구체적으로는 이하의 어느 하나의 기이다.
[화 6]
상기 일반식 (TEMP-Cz1)∼(TEMP-Cz9) 중, *는 결합 위치를 나타낸다.
본 명세서에 있어서, 디벤조푸라닐기 및 디벤조티오페닐기는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한, 구체적으로는 이하의 어느 하나의 기이다.
[화 7]
상기 일반식 (TEMP-34)∼(TEMP-41) 중, *는 결합 위치를 나타낸다.
본 명세서에 기재된 치환 혹은 무치환의 알킬기는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한, 바람직하게는 메틸기, 에틸기, 프로필기, 이소프로필기, n-부틸기, 이소부틸기 및 t-부틸기 등이다.
·「치환 혹은 무치환의 아릴렌기」
본 명세서에 기재된 「치환 혹은 무치환의 아릴렌기」는, 별도 기재가 없는 한, 상기 「치환 혹은 무치환의 아릴기」로부터 아릴환 상의 하나의 수소 원자를 제거함으로써 유도되는 2가의 기이다. 「치환 혹은 무치환의 아릴렌기」의 구체예(구체예군 G12)로서는, 구체예군 G1에 기재된 「치환 혹은 무치환의 아릴기」로부터 아릴환 상의 하나의 수소 원자를 제거함으로써 유도되는 2가의 기 등을 들 수 있다.
·「치환 혹은 무치환의 2가의 복소환기」
본 명세서에 기재된 「치환 혹은 무치환의 2가의 복소환기」는, 별도 기재가 없는 한, 상기 「치환 혹은 무치환의 복소환기」로부터 복소환 상의 하나의 수소 원자를 제거함으로써 유도되는 2가의 기이다. 「치환 혹은 무치환의 2가의 복소환기」의 구체예(구체예군 G13)로서는, 구체예군 G2에 기재된 「치환 혹은 무치환의 복소환기」로부터 복소환 상의 하나의 수소 원자를 제거함으로써 유도되는 2가의 기 등을 들 수 있다.
·「치환 혹은 무치환의 알킬렌기」
본 명세서에 기재된 「치환 혹은 무치환의 알킬렌기」는, 별도 기재가 없는 한, 상기 「치환 혹은 무치환의 알킬기」로부터 알킬쇄 상의 하나의 수소 원자를 제거함으로써 유도되는 2가의 기이다. 「치환 혹은 무치환의 알킬렌기」의 구체예(구체예군 G14)로서는, 구체예군 G3에 기재된 「치환 혹은 무치환의 알킬기」로부터 알킬쇄 상의 하나의 수소 원자를 제거함으로써 유도되는 2가의 기 등을 들 수 있다.
본 명세서에 기재된 치환 혹은 무치환의 아릴렌기는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한, 바람직하게는 하기 일반식 (TEMP-42)∼(TEMP-68) 중 어느 하나의 기이다.
[화 8]
[화 9]
상기 일반식 (TEMP-42)∼(TEMP-52) 중, Q1∼Q10은 각각 독립적으로 수소 원자 또는 치환기이다.
상기 일반식 (TEMP-42)∼(TEMP-52) 중, *는 결합 위치를 나타낸다.
[화 10]
상기 일반식 (TEMP-53)∼(TEMP-62) 중, Q1∼Q10은 각각 독립적으로 수소 원자 또는 치환기이다.
식 Q9 및 Q10은 단일 결합을 통해 서로 결합하여 고리를 형성하여도 좋다.
상기 일반식 (TEMP-53)∼(TEMP-62) 중, *는 결합 위치를 나타낸다.
[화 11]
상기 일반식 (TEMP-63)∼(TEMP-68) 중, Q1∼Q8은 각각 독립적으로 수소 원자 또는 치환기이다.
상기 일반식 (TEMP-63)∼(TEMP-68) 중, *는 결합 위치를 나타낸다.
본 명세서에 기재된 치환 혹은 무치환의 2가의 복소환기는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한, 바람직하게는 하기 일반식 (TEMP-69)∼(TEMP-102) 중 어느 하나의 기이다.
[화 12]
[화 13]
[화 14]
상기 일반식 (TEMP-69)∼(TEMP-82) 중, Q1∼Q9는 각각 독립적으로 수소 원자 또는 치환기이다.
[화 15]
[화 16]
[화 17]
[화 18]
상기 일반식 (TEMP-83)∼(TEMP-102) 중, Q1∼Q8은 각각 독립적으로 수소 원자 또는 치환기이다.
이상이 「본 명세서에 기재된 치환기」에 대한 설명이다.
·「결합하여 고리를 형성하는 경우」
본 명세서에 있어서, 「인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이 서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나, 서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는 서로 결합하지 않고」라고 하는 경우는, 「인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이 서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하는」 경우와, 「인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이 서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하는」 경우와, 「인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이 서로 결합하지 않는」 경우를 의미한다.
본 명세서에 있어서의 「인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이 서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하는」 경우 및 「인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이 서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하는」 경우(이하, 이들 경우를 통합하여 「결합하여 고리를 형성하는 경우」라고 칭하는 경우가 있음)에 대해서 이하에 설명한다. 모골격이 안트라센환인 하기 일반식 (TEMP-103)으로 표시되는 안트라센 화합물의 경우를 예로 들어 설명한다.
[화 19]
예컨대 R921∼R930 중의 「인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이 서로 결합하여 고리를 형성하는」 경우에 있어서, 1조가 되는 인접한 2개로 이루어지는 조는, R921과 R922의 조, R922와 R923의 조, R923과 R924의 조, R924와 R930의 조, R930과 R925의 조, R925와 R926의 조, R926과 R927의 조, R927과 R928의 조, R928과 R929의 조, 그리고 R929와 R921의 조이다.
상기 「1조 이상」이란, 상기 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 2조 이상이 동시에 고리를 형성하여도 좋다는 것을 의미한다. 예컨대 R921과 R922가 서로 결합하여 고리 QA를 형성하고, 동시에 R925와 R926이 서로 결합하여 고리 QB를 형성한 경우는, 상기 일반식 (TEMP-103)으로 표시되는 안트라센 화합물은 하기 일반식 (TEMP-104)로 표시된다.
[화 20]
「인접한 2개 이상으로 이루어지는 조」가 고리를 형성하는 경우란, 전술한 예와 같이 인접한 「2개」로 이루어지는 조가 결합하는 경우뿐만 아니라, 인접한 「3개 이상」으로 이루어지는 조가 결합하는 경우도 포함한다. 예컨대 R921과 R922가 서로 결합하여 고리 QA를 형성하며, 또한 R922와 R923이 서로 결합하여 고리 QC를 형성하고, 서로 인접한 3개(R921, R922 및 R923)로 이루어지는 조가 서로 결합하여 고리를 형성하여, 안트라센 모골격에 축합하는 경우를 의미하며, 이 경우, 상기 일반식 (TEMP-103)으로 표시되는 안트라센 화합물은 하기 일반식 (TEMP-105)로 표시된다. 하기 일반식 (TEMP-105)에 있어서, 고리 QA 및 고리 QC는 R922를 공유한다.
[화 21]
형성되는 「단환」 또는 「축합환」은, 형성된 고리만의 구조로서, 포화 고리여도 좋고 불포화 고리여도 좋다. 「인접한 2개로 이루어지는 조의 1조」가 「단환」 또는 「축합환」을 형성하는 경우여도, 상기 「단환」 또는 「축합환」은 포화 고리 또는 불포화 고리를 형성할 수 있다. 예컨대, 상기 일반식 (TEMP-104)에 있어서 형성된 고리 QA 및 고리 QB는 각각 「단환」 또는 「축합환」이다. 또한, 상기 일반식 (TEMP-105)에 있어서 형성된 고리 QA 및 고리 QC는 「축합환」이다. 상기 일반식 (TEMP-105)의 고리 QA와 고리 QC는 고리 QA와 고리 QC가 축합함으로써 축합환으로 되어 있다. 상기 일반식 (TMEP-104)의 고리 QA가 벤젠환이면, 고리 QA는 단환이다. 상기 일반식 (TMEP-104)의 고리 QA가 나프탈렌환이면, 고리 QA는 축합환이다.
「불포화 고리」란, 방향족 탄화수소환 또는 방향족 복소환을 의미한다. 「포화 고리」란, 지방족 탄화수소환 또는 비방향족 복소환을 의미한다.
방향족 탄화수소환의 구체예로서는, 구체예군 G1에 있어서 구체예로서 든 기가 수소 원자에 의해 종단된 구조를 들 수 있다.
방향족 복소환의 구체예로서는, 구체예군 G2에 있어서 구체예로서 든 방향족 복소환기가 수소 원자에 의해 종단된 구조를 들 수 있다.
지방족 탄화수소환의 구체예로서는, 구체예군 G6에 있어서 구체예로서 든 기가 수소 원자에 의해 종단된 구조를 들 수 있다.
「고리를 형성한다」란, 모골격의 복수의 원자만 혹은 모골격의 복수의 원자와 추가로 1 이상의 임의의 원소로 고리를 형성하는 것을 의미한다. 예컨대 상기 일반식 (TEMP-104)에 나타내는, R921과 R922가 서로 결합하여 형성된 고리 QA는, R921이 결합하는 안트라센 골격의 탄소 원자와, R922가 결합하는 안트라센 골격의 탄소 원자와, 1 이상의 임의의 원소로 형성하는 고리를 의미한다. 구체예로서는, R921과 R922로 고리 QA를 형성하는 경우에 있어서, R921이 결합하는 안트라센 골격의 탄소 원자와, R922가 결합하는 안트라센 골격의 탄소 원자와, 4개의 탄소 원자로 단환의 불포화 고리를 형성하는 경우, R921과 R922로 형성하는 고리는 벤젠환이다.
여기서, 「임의의 원소」는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한, 바람직하게는 탄소 원소, 질소 원소, 산소 원소 및 황 원소로 이루어진 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 원소이다. 임의의 원소에 있어서(예컨대, 탄소 원소 또는 질소 원소의 경우), 고리를 형성하지 않는 결합은, 수소 원자 등으로 종단되어도 좋고, 후술하는 「임의의 치환기」로 치환되어도 좋다. 탄소 원소 이외의 임의의 원소를 포함하는 경우, 형성되는 고리는 복소환이다.
단환 또는 축합환을 구성하는 「1 이상의 임의의 원소」는, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한, 바람직하게는 2개 이상 15개 이하이며, 보다 바람직하게는 3개 이상 12개 이하이고, 더욱 바람직하게는 3개 이상 5개 이하이다.
본 명세서에 별도 기재가 없는 한, 「단환」 및 「축합환」 중, 바람직하게는 「단환」이다.
본 명세서에 별도 기재가 없는 한, 「포화 고리」 및 「불포화 고리」 중, 바람직하게는 「불포화 고리」이다.
본 명세서에 별도 기재가 없는 한, 「단환」은 바람직하게는 벤젠환이다.
본 명세서에 별도 기재가 없는 한, 「불포화 고리」는 바람직하게는 벤젠환이다.
「인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상」이 「서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하는」 경우 또는 「서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하는」 경우, 본 명세서에 별도 기재가 없는 한, 바람직하게는 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이, 서로 결합하여, 모골격의 복수의 원자와, 1개 이상 15개 이하의 탄소 원소, 질소 원소, 산소 원소 및 황 원소로 이루어진 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 원소로 이루어지는 치환 혹은 무치환의 「불포화 고리」를 형성한다.
상기한 「단환」 또는 「축합환」이 치환기를 갖는 경우의 치환기는, 예컨대, 후술하는 「임의의 치환기」이다. 상기한 「단환」 또는 「축합환」이 치환기를 갖는 경우의 치환기의 구체예는, 전술한 「본 명세서에 기재된 치환기」의 항에서 설명한 치환기이다.
상기한 「포화 고리」 또는 「불포화 고리」가 치환기를 갖는 경우의 치환기는, 예컨대 후술하는 「임의의 치환기」이다. 상기한 「단환」 또는 「축합환」이 치환기를 갖는 경우의 치환기의 구체예는, 전술한 「본 명세서에 기재된 치환기」의 항에서 설명한 치환기이다.
이상이 「인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이 서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하는」 경우 및 「인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이 서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하는」 경우(「결합하여 고리를 형성하는 경우」)에 대한 설명이다.
·「치환 혹은 무치환의」라고 하는 경우의 치환기
본 명세서에 있어서의 일 실시형태에서는, 상기 「치환 혹은 무치환의」라고 하는 경우의 치환기(본 명세서에 있어서 「임의의 치환기」라고 칭하는 경우가 있음)는, 예컨대
무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903),
-O-(R904),
-S-(R905),
-N(R906)(R907),
할로겐 원자, 시아노기, 니트로기,
무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 및
무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기
로 이루어진 군으로부터 선택되는 기 등이고,
여기서, R901∼R907은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.
R901이 2개 이상 존재하는 경우, 2개 이상의 R901은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R902가 2개 이상 존재하는 경우, 2개 이상의 R902는 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R903이 2개 이상 존재하는 경우, 2개 이상의 R903은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R904가 2개 이상 존재하는 경우, 2개 이상의 R904는 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R905가 2개 이상 존재하는 경우, 2개 이상의 R905는 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R906이 2개 이상 존재하는 경우, 2개 이상의 R906은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R907이 2개 이상 존재하는 경우, 2개 이상의 R907은 서로 동일하거나 또는 상이하다.
일 실시형태에서는, 상기 「치환 혹은 무치환의」라고 하는 경우의 치환기는,
탄소수 1∼50의 알킬기,
고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 및
고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기
로 이루어진 군으로부터 선택되는 기이다.
일 실시형태에서는, 상기 「치환 혹은 무치환의」라고 하는 경우의 치환기는,
탄소수 1∼18의 알킬기,
고리 형성 탄소수 6∼18의 아릴기, 및
고리 형성 원자수 5∼18의 복소환기
로 이루어진 군으로부터 선택되는 기이다.
상기 임의의 치환기의 각 기의 구체예는 전술한 「본 명세서에 기재된 치환기」의 항에서 설명한 치환기의 구체예이다.
본 명세서에 있어서 별도 기재가 없는 한, 인접한 임의의 치환기들이 「포화 고리」 또는 「불포화 고리」를 형성하여도 좋고, 바람직하게는 치환 혹은 무치환의 포화 5원환, 치환 혹은 무치환의 포화 6원환, 치환 혹은 무치환의 불포화 5원환, 또는 치환 혹은 무치환의 불포화 6원환을 형성하고, 보다 바람직하게는 벤젠환을 형성한다.
본 명세서에 있어서 별도 기재가 없는 한, 임의의 치환기는 치환기를 더 가져도 좋다. 임의의 치환기가 더 갖는 치환기로서는 상기 임의의 치환기와 동일하다.
본 명세서에 있어서 「AA∼BB」를 이용하여 표시되는 수치 범위는, 「AA∼BB」 앞에 기재되는 수치 AA를 하한값으로서, 「AA∼BB」 뒤에 기재되는 수치 BB를 상한값으로서 포함하는 범위를 의미한다.
[제1 실시형태]
(유기 일렉트로루미네센스 소자)
본 실시형태에 따른 유기 일렉트로루미네센스 소자는, 유기 일렉트로루미네센스 소자로서, 양극과, 음극과, 상기 양극 및 상기 음극의 사이에 배치된 발광 영역과, 상기 양극 및 상기 발광 영역의 사이에 배치된 정공 수송 대역을 가지며, 상기 발광 영역은, 제1 발광층 및 제2 발광층을 포함하고, 상기 제1 발광층이, 상기 발광 영역에 있어서 상기 양극측에 배치되며, 상기 정공 수송 대역은, 상기 양극 및 상기 제1 발광층과 직접 접하고, 상기 정공 수송 대역은, 1 또는 복수의 유기층을 포함하며, 상기 정공 수송 대역 중의 적어도 하나의 유기층은, 상기 제1 발광층과 직접 접하는 제1 유기층이고,
상기 제1 유기층은, 정공 수송 대역 재료를 포함하며, 상기 제1 발광층은, 제1 호스트 재료와, 최대 피크 파장이 500 nm 이하인 발광을 나타내는 제1 발광성 화합물을 포함하고, 상기 제2 발광층은, 제2 호스트 재료와, 최대 피크 파장이 500 nm 이하인 발광을 나타내는 제2 발광성 화합물을 포함하며, 상기 제1 호스트 재료와 상기 제2 호스트 재료는 서로 상이하고, 상기 제1 발광성 화합물과 상기 제2 발광성 화합물이 서로 동일하거나 또는 상이하며, 상기 제1 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H1)과 상기 제2 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H2)이 하기 수식(수 1)의 관계를 충족시키고, 상기 정공 수송 대역 재료의 어피니티값 Af(cHT)가 1.47 eV 미만이다.
T1(H1)>T1(H2) …(수 1)
종래, 유기 일렉트로루미네센스 소자의 발광 효율을 향상시키기 위한 기술로서, Triplet-Triplet-Annhilation(TTA라고 칭하는 경우가 있음)이 알려져 있다. TTA는, 삼중항 여기자와 삼중항 여기자가 충돌하여, 일중항 여기자를 생성한다고 하는 기구(메커니즘)이다. 또한, TTA 메커니즘은, 특허문헌 3에 기재된 바와 같이 TTF 메커니즘이라고 칭하는 경우도 있다.
TTF 현상을 설명한다. 양극으로부터 주입된 정공과, 음극으로부터 주입된 전자는, 발광층 내에서 재결합하여 여기자를 생성한다. 그 스핀 상태는, 종래부터 알려져 있는 바와 같이, 일중항 여기자가 25%, 삼중항 여기자가 75%의 비율이다. 종래 알려져 있는 형광 소자에 있어서는, 25%의 일중항 여기자가 기저 상태로 완화될 때에 광을 발생시키지만, 나머지 75%의 삼중항 여기자에 대해서는 광을 발생시키지 않고 열적 실활 과정을 거쳐 기저 상태로 되돌아간다. 따라서, 종래의 형광 소자의 내부 양자 효율의 이론 한계값은 25%라고 되어 있었다.
한편, 유기물 내부에서 생성된 삼중항 여기자의 거동이 이론적으로 조사되고 있다. S. M. Bachilo 연구진에 따르면(J. Phys. Chem. A, 104, 7711(2000)), 오중항 등의 고차의 여기자가 즉시 삼중항으로 되돌아간다고 가정하면, 삼중항 여기자(이하, 3A*라고 기재함)의 밀도가 높아졌을 때, 삼중항 여기자끼리가 충돌하여 하기 식과 같은 반응이 일어난다. 여기서, 1A는 기저 상태를 나타내고, 1A*는 최저 여기 일중항 여기자를 나타낸다.
3A*+3A*→(4/9)1A+(1/9)1A*+(13/9)3A*
즉, 53A*→41A+1A*가 되고, 당초 생성된 75%의 삼중항 여기자 중, 1/5 즉 20%가 일중항 여기자로 변화되는 것이 예측되고 있다. 따라서, 광으로서 기여하는 일중항 여기자는, 당초 생성되는 25%분에 75%×(1/5)=15%를 더한 40%라고 하게 된다. 이때, 전체 발광 강도 중에 차지하는 TTF 유래의 발광 비율(TTF 비율)은, 15/40, 즉 37.5%가 된다. 또한, 당초 생성된 75%의 삼중항 여기자가 서로 충돌하여 일중항 여기자가 생성되었다(2개의 삼중항 여기자로부터 하나의 일중항 여기자가 생성되었다)고 하면, 당초 생성되는 일중항 여기자 25%분에 75%×(1/2)=37.5%를 더한 62.5%라는 매우 높은 내부 양자 효율이 얻어진다. 이때, TTF 비율은, 37.5/62.5=60%이다.
본 실시형태에 따른 유기 일렉트로루미네센스 소자에 의하면, 제1 발광층에서 정공과 전자의 재결합에 의해 생성된 삼중항 여기자는, 상기 제1 발광층과 직접 접하는 유기층과의 계면에 캐리어가 과잉으로 존재하고 있어도, 제1 발광층과 상기 유기층과의 계면에 존재하는 삼중항 여기자가 퀀치되기 어려워진다고 생각된다. 예컨대, 재결합 영역이, 제1 발광층과 정공 수송층 또는 전자 장벽층과의 계면에 국소적으로 존재하는 경우에는, 과잉 전자에 의한 퀀치를 생각할 수 있다. 한편, 재결합 영역이, 제1 발광층과 전자 수송층 또는 정공 장벽층과의 계면에 국소적으로 존재하는 경우에는, 과잉 정공에 의한 퀀치를 생각할 수 있다.
본 실시형태에 따른 유기 일렉트로루미네센스 소자는, 소정의 관계를 충족시키는 적어도 2개의 발광층(즉, 제1 발광층 및 제2 발광층)을 구비하고, 제1 발광층 중의 제1 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H1)과, 제2 발광층 중의 제2 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H2)이, 상기 수식(수 1)의 관계를 충족시킨다.
상기 수식(수 1)의 관계를 충족시키도록 제1 발광층 및 제2 발광층을 구비함으로써, 제1 발광층에서 생성된 삼중항 여기자는, 과잉 캐리어에 의해 퀀치되지 않고 제2 발광층으로 이동하며, 또한, 제2 발광층으로부터 제1 발광층으로 역이동하는 것을 억제할 수 있다. 그 결과, 제2 발광층에 있어서, TTF 메커니즘이 발현되어, 일중항 여기자가 효율적으로 생성되고, 발광 효율이 향상된다.
이와 같이, 유기 일렉트로루미네센스 소자가, 삼중항 여기자를 주로 생성시키는 제1 발광층과, 제1 발광층으로부터 이동해 온 삼중항 여기자를 활용하여 TTF 메커니즘을 주로 발현시키는 제2 발광층을 상이한 영역으로서 구비하고, 제2 발광층 중의 제2 호스트 재료로서, 제1 발광층 중의 제1 호스트 재료보다 작은 삼중항 에너지를 갖는 화합물을 이용하여, 삼중항 에너지의 차를 둠으로써, 발광 효율이 향상된다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자는, 수식(수 1)의 관계를 충족시키는 제1 발광층 및 제2 발광층을 갖기 때문에, 소자의 발광 효율을 향상시킬 수 있다.
특허문헌 1에 기재된 유기 일렉트로루미네센스 소자와 같이 양극과 발광층의 사이에 배치되는 정공 수송 대역을 구성하는 유기층의 수를 줄이면(층화를 줄이면), 소자 성능이 저하될 우려가 있다. 정공 수송 대역의 층화를 줄여, 예컨대, 양극측에 배치된 발광층과 직접 접하는 유기층(예컨대, 전자 장벽층)의 층화를 줄여, 정공 수송 대역 중의 다른 유기층의 막 두께를 크게 하면, 발광 영역으로의 정공(홀)의 공급량이 감소하고, 발광 효율이 저하된다고 생각된다. 또한, 발광 영역으로의 홀 공급량이 감소하면, 발광 영역의 정공 수송 대역측이 발광 위치가 되어, 발광 영역으로부터 정공 수송 대역으로 전자가 누출되기 쉬워진다고 생각된다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서는, 발광 영역이 제1 발광층 및 제2 발광층을 포함하고, 발광 영역과 직접 접하는 정공 수송 대역의 제1 유기층이 정공 수송 대역 재료를 함유하고, 정공 수송 대역 재료의 어피니티값 Af(cHT)가 1.47 eV 미만이다. 이러한 어피니티값 Af의 재료를 정공 수송 대역 재료로서 이용함으로써, 정공 수송 대역의 제1 유기층의 전자 블록성이 향상된다. 정공 수송 대역의 유기층의 전자 블록성이 향상됨으로써, 발광 영역으로부터 정공 수송 대역으로의 전자 누출이 억제되어, 발광 영역의 발광층 내에서의 정공과 전자의 재결합 효율이 향상된다. 본 실시형태에 따르면, 정공 수송 대역을 구성하는 유기층의 수를 줄여도, 소자 성능의 저하가 억제된 고효율 및 장수명의 유기 EL 소자를 제공할 수 있다.
(정공 수송 대역)
정공 수송 대역은, 양극 및 발광 영역의 사이에 배치되어 있다. 정공 수송 대역은, 양극과 직접 접함과 더불어, 발광 영역과 직접 접한다. 정공 수송 대역은, 1 또는 복수의 유기층을 포함한다. 정공 수송 대역은, 발광 영역측에 배치된 제1 유기층을 포함한다. 제1 유기층과 제1 발광층이 직접 접한다.
일 실시형태에 있어서, 양극과 발광 영역의 사이에 배치되는 층의 수는 1층이다.
일 실시형태에 있어서, 양극과 발광 영역의 사이에 배치되는 층의 수는 2층이다.
일 실시형태에 있어서, 양극과 발광 영역의 사이에 배치되는 층의 수는 3층 이상이다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역이 포함하는 유기층은, 각각 독립적으로, 정공 주입층, 정공 수송층 및 전자 장벽층 중 적어도 어느 하나의 유기층이어도 좋다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 유기층은, 정공 수송층이자 전자 장벽층이어도 좋다.
전자 장벽층은, 예컨대, 정공을 수송하고, 또한 전자가 상기 장벽층보다 양극측의 층(예컨대, 정공 수송층 또는 정공 주입층)에 도달하는 것을 저지하는 층이다. 또한, 전자 장벽층은, 여기 에너지가 발광 영역으로부터 그 주변층으로 누출되는 것을 저지하는 층이어도 좋다. 이 경우, 전자 장벽층은, 발광 영역에서 생성된 여기자가, 상기 장벽층보다 양극측의 층(예컨대, 정공 수송층 또는 정공 주입층)으로 이동하는 것을 저지한다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역 중의 유기층은 모두 정공 수송 대역 재료를 공통으로 함유하는 것이 바람직하다.
본 명세서에 있어서, 정공 수송 대역 중의 복수의 유기층이, 모두, 정공 수송 대역 재료를 공통으로 함유하는 경우, 복수의 유기층이 공통으로 함유하는 정공 수송 대역 재료를 「공통 정공 수송 대역 재료」라고 칭하여 설명하는 경우가 있다.
정공 수송 대역이 하나의 유기층으로 구성되어 있는 경우, 하나의 유기층(제1 유기층)은, 정공 수송 대역 재료를 함유한다. 정공 수송 대역이 2개의 유기층으로 구성되어 있는 경우, 2개의 유기층은, 서로 동일한 화합물을 공통 정공 수송 대역 재료로서 함유하는 것이 바람직하다. 정공 수송 대역이 3개의 유기층으로 구성되어 있는 경우, 적어도 2개의 유기층이, 서로 동일한 화합물을 공통 정공 수송 대역 재료로서 함유하는 것이 바람직하고, 3개의 유기층이, 서로 동일한 화합물을 공통 정공 수송 대역 재료로서 함유하는 것이 보다 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역 중의 유기층은, 모두 어피니티값 Af(cHT)가 1.47 eV 미만인 상기 정공 수송 대역 재료를 공통으로 함유하는 것도 바람직하다.
정공 수송 대역에 있어서의 유기층이 함유하는 정공 수송 대역 재료는, 1종의 화합물이어도 좋고, 2종 이상의 화합물을 함유하는 혼합물이어도 좋다.
정공 수송 대역 중의 유기층이 모두 공통 정공 수송 대역 재료를 함유하는 경우, 공통 정공 수송 대역 재료는, 1종의 화합물이어도 좋고, 2종 이상의 화합물을 함유하는 혼합물이어도 좋다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 유기층은, 정공 수송 대역 재료와, 정공 수송 대역 재료와는 상이한 제1 정공 수송 대역 재료를 함유하는 것도 바람직하다. 제1 정공 수송 대역 재료는, 정공 수송 대역 재료와는 상이한 분자 구조의 화합물이다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역이, 정공 수송 대역 재료와는 상이한 재료를 함유하지 않을 수도 있다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역이, 제1 유기층만으로 이루어질 수도 있다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 유기층이, 정공 수송 대역 재료와는 상이한 재료를 함유하지 않을 수도 있다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역은, 제1 유기층과, 제1 유기층과 양극의 사이에 배치된 제2 유기층을 포함하는 것도 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역이 제1 유기층 및 제2 유기층을 포함하는 경우, 제2 유기층은, 정공 수송 대역 재료와, 추가로 정공 수송 대역 재료와는 상이한 제2 정공 수송 대역 재료를 함유하는 것도 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제2 유기층은, 양극과 직접 접하고 있어도 좋다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 유기층과, 제2 유기층이 직접 접하고 있어도 좋다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역이 제1 유기층 및 제2 유기층을 포함하는 경우, 제1 유기층이 공통 정공 수송 대역 재료를 함유하고, 또한 제2 유기층이 공통 정공 수송 대역 재료와, 공통 정공 수송 대역 재료와는 상이한 제2 정공 수송 대역 재료를 함유하는 것도 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역이 제1 유기층 및 제2 유기층을 포함하는 경우, 제1 유기층이 공통 정공 수송 대역 재료와, 공통 정공 수송 대역 재료와는 상이한 제1 정공 수송 대역 재료를 함유하고, 또한 제2 유기층이 공통 정공 수송 대역 재료와, 공통 정공 수송 대역 재료와는 상이한 제2 정공 수송 대역 재료를 함유하는 것도 바람직하다.
제2 정공 수송 대역 재료는, 공통 정공 수송 대역 재료와는 상이한 분자 구조의 화합물이다. 제2 정공 수송 대역 재료는, 도프 화합물인 것도 바람직하다.
또한, 정공 수송 대역이 제1 유기층 및 제2 유기층을 포함하는 경우, 제1 유기층이 정공 수송 대역 재료와, 제1 정공 수송 대역 재료를 함유하고, 또한 제2 유기층이 정공 수송 대역 재료와, 제2 정공 수송 대역 재료를 함유하는 것도 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역이 제1 유기층 및 제2 유기층을 포함하는 경우, 제1 유기층의 막 두께는, 제2 유기층의 막 두께보다 두꺼워도 좋다.
제2 유기층의 막 두께는, 5 nm 이상, 15 nm 이하인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역 중의 각 유기층이 공통 정공 수송 대역 재료를 함유하는 경우, 각 유기층 중에 있어서의 공통 정공 수송 대역 재료의 함유량은, 40 질량% 이상인 것이 바람직하고, 45 질량% 이상인 것이 보다 바람직하며, 50 질량% 이상인 것이 더욱 바람직하다. 각 유기층 중에 있어서의 공통 정공 수송 대역 재료의 함유량의 상한값은 100 질량%이다.
각 유기층 중에 포함되는 공통 정공 수송 대역 재료가 2종 이상의 화합물을 함유하는 혼합물인 경우, 각 유기층 중의 공통 정공 수송 대역 재료(혼합물)의 함유량의 상한값은 100 질량%이다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역이 제1 유기층 및 제2 유기층을 포함하고, 또한 제2 유기층이, 공통 정공 수송 대역 재료와, 제2 정공 수송 대역 재료로서 도프 화합물을 함유하는 경우, 제2 유기층 중의 도프 화합물의 함유량은, 0.5 질량% 이상 5 질량% 이하인 것이 바람직하고, 1.0 질량% 이상 3 질량% 이하인 것이 보다 바람직하다. 제2 유기층 중의 공통 정공 수송 대역 재료의 함유량은, 40 질량% 이상인 것이 바람직하고, 45 질량% 이상인 것이 보다 바람직하며, 50 질량% 이상인 것이 더욱 바람직하다. 제2 유기층 중의 공통 정공 수송 대역 재료의 함유량은 99.5 질량% 이하인 것이 바람직하다. 제2 유기층 중의 공통 정공 수송 대역 재료 및 도프 화합물의 함유량의 합계는 100 질량% 이하이다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역은, 제1 유기층과, 제2 유기층과, 제2 유기층과 양극의 사이에 배치된 제3 유기층을 포함하고 있어도 좋다. 제3 유기층은, 양극과 직접 접하고 있어도 좋다. 제1 유기층과 제2 유기층과 제3 유기층이 서로 직접 접하고 있어도 좋다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역이 제1 유기층, 제2 유기층 및 제3 유기층을 포함하는 경우, 제3 유기층은, 정공 수송 대역 재료와, 추가로 정공 수송 대역 재료와는 상이한 제3 정공 수송 대역 재료를 함유하는 것도 바람직하다. 제2 유기층은, 정공 수송 대역 재료와, 정공 수송 대역 재료와는 상이한 제2 정공 수송 대역 재료를 함유하는 것도 바람직하다. 제1 유기층은, 정공 수송 대역 재료와, 정공 수송 대역 재료와는 상이한 제1 정공 수송 대역 재료를 함유하는 것도 바람직하다.
제1 정공 수송 대역 재료와 제2 정공 수송 대역 재료와 제3 정공 수송 대역 재료는 서로 동일하거나 또는 상이하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역이 제1 유기층, 제2 유기층 및 제3 유기층을 포함하고, 제3 유기층이, 제3 정공 수송 대역 재료를 함유하는 경우, 제3 정공 수송 대역 재료는 도프 화합물인 것도 바람직하다.
정공 수송 대역이 제1 유기층, 제2 유기층 및 제3 유기층을 포함하는 경우, 제1 유기층이 공통 정공 수송 대역 재료와는 상이한 제1 정공 수송 대역 재료를 함유하고, 또한 제3 유기층이 공통 정공 수송 대역 재료와는 상이한 제3 정공 수송 대역 재료를 함유하는 것도 바람직하다. 이 양태의 경우, 제1 정공 수송 대역 재료와 제3 정공 수송 대역 재료는 서로 동일하거나 또는 상이하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역이 제1 유기층, 제2 유기층 및 제3 유기층을 포함하는 경우, 제1 유기층의 막 두께는, 제2 유기층의 막 두께 및 제3 유기층의 막 두께보다 두꺼운 것도 바람직하다.
또한, 본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역이 제1 유기층, 제2 유기층 및 제3 유기층을 포함하는 경우, 제2 유기층의 막 두께는, 제1 유기층의 막 두께 및 제3 유기층의 막 두께보다 두꺼운 것도 바람직하다.
또한, 본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역이 제1 유기층, 제2 유기층 및 제3 유기층을 포함하는 경우, 제3 유기층의 막 두께는, 제1 유기층의 막 두께 및 제2 유기층의 막 두께보다 얇은 것도 바람직하다.
제3 유기층이, 정공 수송 대역 재료와는 상이한 제3 정공 수송 대역 재료를 함유하는 경우, 제3 유기층의 막 두께는, 5 nm 이상, 15 nm 이하인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역이 제1 유기층, 제2 유기층 및 제3 유기층을 포함하고, 또한 제3 유기층이, 공통 정공 수송 대역 재료와, 제3 정공 수송 대역 재료로서 도프 화합물을 함유하는 경우, 제3 유기층 중의 도프 화합물의 함유량 및 제3 유기층 중의 공통 정공 수송 대역 재료의 함유량은, 전술한 제2 유기층 중의 도프 화합물의 함유량 및 제2 유기층 중의 공통 정공 수송 대역 재료의 함유량과 동일한 범위인 것이 바람직하다.
정공 수송 대역에 있어서의 유기층이, 복수 종류의 화합물을 함유하는 유기층인 경우, 상기 유기층은, 예컨대, 복수 종류의 화합물을 공증착법에 의해 성막할 수도 있고, 복수 종류의 화합물을 미리 혼합한 혼합물을 이용하여 증착법에 의해 성막할 수도 있으며, 또는 복수 종류의 화합물을 미리 혼합한 혼합물을 이용하여 도포법에 의해 성막할 수도 있다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제2 유기층은, 예컨대, 하기 일반식 (P11)로 표시되는 제1 고리 구조 및 하기 일반식 (P12)로 표시되는 제2 고리 구조 중 적어도 어느 하나를 포함하는 화합물을 도프 화합물(제2 정공 수송 대역 재료의 일 양태)로서 포함하는 것도 바람직하고, 후술하는 일반식 (21)로 표시되는 화합물 및 일반식 (22)로 표시되는 화합물 중 적어도 어느 하나의 화합물을 제2 정공 수송 대역 재료로서 포함하는 것도 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역이 제1 유기층 및 제2 유기층을 포함하고, 또한 제2 유기층이 양극과 직접 접하고 있는 경우에, 제2 유기층은 도프 화합물을 함유하고 있는 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제3 유기층은, 예컨대, 하기 일반식 (P11)로 표시되는 제1 고리 구조 및 하기 일반식 (P12)로 표시되는 제2 고리 구조 중 적어도 어느 하나를 포함하는 화합물을 도프 화합물(제3 정공 수송 대역 재료의 일 양태)로서 포함하는 것도 바람직하고, 후술하는 일반식 (21)로 표시되는 화합물 및 일반식 (22)로 표시되는 화합물 중 적어도 어느 하나의 화합물을 제3 정공 수송 대역 재료로서 포함하는 것도 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역이 제1 유기층, 제2 유기층 및 제3 유기층을 포함하고, 또한 제3 유기층이 양극과 직접 접하고 있는 경우에, 제3 유기층은 도프 화합물을 함유하고 있는 것이 바람직하다. 제3 유기층이, 제3 정공 수송 대역 재료로서 도프 화합물을 함유하는 경우, 제2 유기층은, 제2 정공 수송 대역 재료를 함유하고 있지 않아도 좋고, 제2 정공 수송 대역 재료로서, 도프 화합물과는 상이한 화합물(예컨대, 후술하는 일반식 (21)로 표시되는 화합물 및 일반식 (22)로 표시되는 화합물 중 적어도 어느 하나의 화합물)을 함유하고 있어도 좋다.
[화 22]
(상기 일반식 (P11)로 표시되는 제1 고리 구조는, 상기 도프 화합물의 분자 중에서, 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 방향족 탄화수소환 및 치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환 중 적어도 어느 하나의 고리 구조와 축합하고,
=Z10으로 표시되는 구조는, 하기 일반식 (11a), (11b), (11c), (11d), (11e), (11f), (11g), (11h), (11i), (11j), (11k) 또는 (11m)으로 표시된다.)
[화 23]
[화 24]
(상기 일반식 (11a), (11b), (11c), (11d), (11e), (11f), (11g), (11h), (11i), (11j), (11k) 또는 (11m) 중, R11∼R14 그리고 R1101∼R1110은 각각 독립적으로
수소 원자,
할로겐 원자,
히드록시기,
시아노기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 할로겐화알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.)
(상기 일반식 (P12)에 있어서, Z1∼Z5는 각각 독립적으로
질소 원자,
R15와 결합하는 탄소 원자, 또는
상기 도프 화합물의 분자 중의 다른 원자와 결합하는 탄소 원자이며,
Z1∼Z5 중, 적어도 하나는 상기 도프 화합물의 분자 중의 다른 원자와 결합하는 탄소 원자이고,
R15는
수소 원자,
할로겐 원자,
시아노기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 할로겐화알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 7∼50의 아랄킬기,
카르복시기,
치환 혹은 무치환의 에스테르기,
치환 혹은 무치환의 카르바모일기,
니트로기, 및
치환 혹은 무치환의 실록사닐기로 이루어진 군으로부터 선택되고,
R15가 복수 존재하는 경우, 복수의 R15는 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
(상기 도프 화합물 중, R901∼R907은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이며,
R901이 복수 있는 경우, 복수의 R901은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R902가 복수 있는 경우, 복수의 R902는 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R903이 복수 있는 경우, 복수의 R903은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R904가 복수 있는 경우, 복수의 R904는 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R905가 복수 있는 경우, 복수의 R905는 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R906이 복수 있는 경우, 복수의 R906은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R907이 복수 있는 경우, 복수의 R907은 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
본 명세서에 있어서의 에스테르기는, 알킬에스테르기 및 아릴에스테르기로 이루어진 군으로부터 선택되는 적어도 어느 하나의 기이다.
본 명세서에 있어서의 알킬에스테르기는, 예컨대, -C(=O)ORE로 표시된다. RE는, 예컨대, 치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50(바람직하게는 탄소수 1∼10)의 알킬기이다.
본 명세서에 있어서의 아릴에스테르기는, 예컨대, -C(=O)ORAr로 표시된다. RAr은, 예컨대, 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼30의 아릴기이다.
본 명세서에 있어서의 실록사닐기는, 에테르 결합을 통한 규소 화합물기이며, 예컨대, 트리메틸실록사닐기이다.
본 명세서에 있어서의 카르바모일기는, -CONH2로 표시된다.
본 명세서에 있어서의 치환의 카르바모일기는, 예컨대, -CONH-ArC, 또는 -CONH-RC로 표시된다. ArC는, 예컨대, 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50(바람직하게는 고리 형성 탄소수 6∼10)의 아릴기 및 고리 형성 원자수 5∼50(바람직하게는 고리 형성 원자수 5∼14)의 복소환기로 이루어진 군으로부터 선택되는 적어도 어느 하나의 기이다. ArC는, 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기와 치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기가 결합한 기여도 좋다.
RC는, 예컨대, 치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50(바람직하게는 탄소수 1∼6)의 알킬기이다.
상기 도프 화합물에 있어서, 「치환 혹은 무치환」이라고 기재된 기는 모두 「무치환」의 기인 것이 바람직하다.
(도프 화합물의 구체예)
도프 화합물(제2 정공 수송 대역 재료 혹은 제3 정공 수송 대역 재료의 일 양태)의 구체예로서는, 예컨대, 이하의 화합물을 들 수 있다. 단, 본 발명은, 이들도프 화합물의 구체예에 한정되지 않는다.
[화 25]
[화 26]
[화 27]
[화 28]
[화 29]
[화 30]
[화 31]
[화 32]
[화 33]
[화 34]
[화 35]
[화 36]
[화 37]
[화 38]
[화 39]
[화 40]
[화 41]
[화 42]
[화 43]
[화 44]
[화 45]
[화 46]
[화 47]
[화 48]
[화 49]
[화 50]
[화 51]
[화 52]
[화 53]
[화 54]
[화 55]
[화 56]
[화 57]
[화 58]
[화 59]
[화 60]
[화 61]
[화 62]
[화 63]
[화 64]
[화 65]
[화 66]
[화 67]
[화 68]
[화 69]
[화 70]
(정공 수송 대역 재료)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 유기층이 함유하는 정공 수송 대역 재료는, 어피니티값 Af(cHT)가 1.47 eV 미만이면, 특별히 한정되지 않는다. 본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역 재료의 어피니티값 Af(cHT)는, 1.45 eV 이하인 것도 바람직하고, 1.40 eV 이하인 것도 바람직하다.
정공 수송 대역 재료의 어피니티값 Af(cHT)는, 미분 펄스 볼턴메트리법으로 측정한 값이다. 미분 펄스 볼턴메트리법의 상세한 내용은 다음과 같다.
(어피니티값 Af의 측정 방법)
측정 대상물(화합물 또는 재료)의 어피니티값 Af는, 다음 수식(수 1Y)에 의해 산출되는 값이다. 어피니티값 Af의 단위는 eV이다.
Af=-1.19×(Ere-Efc)-4.78 eV …(수 1Y)
수식(수 1Y)에 있어서, Ere 및 Efc는 다음과 같다.
Ere: 측정 대상물의 제1 환원 전위(DPV, Negative scan)
Efc: 페로센의 제1 산화 전위(DPV, Positive scan), (ca.+0.55V vs Ag/AgCl)
산화 환원 전위는, 전기화학 분석기(ALS사 제조: CHI852D)를 이용하여 미분 펄스 볼턴메트리(DPV)법으로 측정하였다.
측정에 이용하는 시료 용액은, 용매로서 N,N-디메틸포름아미드(N,N-dimethylformamide(DMF))를 이용하고, 측정 대상물을, 그 농도가 1.0 mmol/L가 되도록 용해시켜, 지지 전해질로서의 테트라부틸암모늄헥사플루오로포스페이트(tetrabuthylammmonium hexafluorophosphate(TBHP))를, 그 농도가 100 mmol/L가 되도록 용해시켜 조제한다. 작용 전극으로서는, 글래시 카본(glassy carbon) 전극을 이용한다. 대향 전극으로서는, 백금(Pt) 전극을 이용한다.
(참고 문헌) M. E. Thompson, et. al., Organic Electronics, 6(2005), p.11-20, Organic Electronics, 10(2009), p.515-520
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역 재료의 이온화 포텐셜 Ip(cHT)가, 5.70 eV 이하인 것이 바람직하고, 5.65 eV 미만인 것이 보다 바람직하다. 정공 수송 대역 재료의 이온화 포텐셜 Ip(cHT)가 5.70 eV 이하임으로써, 정공 수송 대역의 유기층 중의 P형 도펀트의 도프량이 적은 경우에도, 발광 영역으로의 홀의 공급량 저하가 방지되기 때문에, 유기 EL 소자가 저전압으로 구동한다.
본 실시형태에 있어서, 정공 수송 대역 재료의 이온화 포텐셜 Ip(cHT)는, 대기중 광전자 분광법에 의해 측정한 값이다.
(이온화 포텐셜(Ip)의 측정 방법)
이온화 포텐셜 Ip를 측정하는 대기중 광전자 분광법은 다음과 같다. 이온화 포텐셜 Ip는, 측정 대상 화합물에 광을 조사하고, 그 때에 전하 분리에 의해 생기는 전자량을, 대기하 광전자 분광 장치(리켄케키가부시키가이샤 제조: AC-3)를 이용하여 측정한다.
정공 수송 대역에 있어서의 유기층이 함유하는 공통의 정공 수송 대역 재료(공통 정공 수송 대역 재료)는, 1종의 화합물이어도 좋고, 2종 이상의 화합물을 함유하는 혼합물이어도 좋다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역 재료는, 디아민 화합물이 아닌 것이 바람직하다. 디아민 화합물은, 치환 혹은 무치환의 아미노기를 분자 중에 2개 갖는 화합물이다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역에 있어서의 유기층은, 모두, 치환 혹은 무치환의 아미노기를 분자 중에 2개 갖는 디아민 화합물을 포함하지 않는 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역 재료는, 치환 혹은 무치환의 아미노기를 분자 중에 하나만 갖는 모노아민 화합물인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역 재료는, 하기 일반식 (21)로 표시되는 화합물인 것도 바람직하다.
[화 71]
(상기 일반식 (21)에 있어서,
LA1, LB1, 및 LC1은 각각 독립적으로
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼18의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼13의 2가의 복소환기이고,
LA1 및 LB1이 단일 결합인 경우, A1 및 B1이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않으며,
LA1 및 LC1이 단일 결합인 경우, A1 및 C1이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않고,
LB1 및 LC1이 단일 결합인 경우, B1 및 C1이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않으며,
상기 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하지 않고, 또한 상기 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하지 않는 A1, B1, 및 C1은 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼30의 아릴기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼30의 복소환기, 또는
-Si(R921)(R922)(R923)으로 표시되는 기이며,
R921, R922 및 R923은 각각 독립적으로 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼30의 아릴기이고,
R921이 복수 존재하는 경우, 복수의 R921은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R922가 복수 존재하는 경우, 복수의 R922는 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R923이 복수 존재하는 경우, 복수의 R923은 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
상기 일반식 (21)로 표시되는 화합물이 하기 일반식 (212)로 표시되는 화합물인 것도 바람직하다.
[화 72]
(상기 일반식 (212)에 있어서,
LC1, A1, B1 및 C1은 각각 상기 일반식 (21)에서 정의한 바와 같고,
n1 및 n2는 각각 독립적으로 0, 1, 2, 3 또는 4이며,
R이 복수 존재하는 경우, 복수의 R은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R이 복수 존재하는 경우, 복수의 R 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않으며,
상기 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하지 않고, 또한 상기 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하지 않는 R은,
시아노기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.)
상기 일반식 (21)로 표시되는 화합물에 있어서, A1, B1 및 C1 중, 적어도 하나는, 하기 일반식 (21a), 일반식 (21b), 일반식 (21c), 일반식 (21d) 및 일반식 (21e)로 표시되는 기로 이루어진 군으로부터 선택되는 기인 것이 바람직하다.
[화 73]
(상기 일반식 (21a), 일반식 (21b), 일반식 (21c), 일반식 (21d) 및 일반식 (21e)에 있어서,
X21은 NR21, CR22R23, 산소 원자 또는 황 원자이며,
X21이 복수 있는 경우, 복수의 X21은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
X21이 CR22R23인 경우, R22와 R23으로 이루어지는 조가
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않으며,
R21, 그리고 상기 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하지 않고, 또한 상기 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하지 않는 R22 및 R23은 각각 독립적으로
수소 원자,
시아노기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 할로겐화알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이며,
R211∼R218 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않고,
상기 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하지 않으며, 또한 상기 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하지 않는 R211∼R218은 각각 독립적으로
수소 원자,
시아노기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 할로겐화알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
상기 일반식 (21a), 일반식 (21b), 일반식 (21c), 일반식 (21d) 및 일반식 (21e)에 있어서의 *는 각각 독립적으로 LA1, LB1, 또는 LC1과의 결합 위치이다.)
상기 일반식 (21a), 일반식 (21b), 일반식 (21c), 일반식 (21d) 및 일반식 (21e)로 표시되는 기로 이루어진 군으로부터 선택되는 기가 아닌, A1, B1, 및 C1은 각각 독립적으로 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼30의 아릴기인 것이 바람직하고, 치환 혹은 무치환의 페닐기 또는 치환 혹은 무치환의 비페닐기인 것이 보다 바람직하다.
상기 일반식 (21)로 표시되는 화합물에 있어서, A1, B1 및 C1 중, 2개가, 상기 일반식 (21a), 일반식 (21b), 일반식 (21c), 일반식 (21d) 및 일반식 (21e)로 표시되는 기로 이루어진 군으로부터 선택되는 기이고, A1, B1 및 C1 중, 그 밖의 하나가, 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼30의 아릴기인 것도 바람직하다.
상기 일반식 (21)로 표시되는 화합물에 있어서, A1, B1 및 C1 중, 하나가, 상기 일반식 (21a), 일반식 (21b), 일반식 (21c), 일반식 (21d) 및 일반식 (21e)로 표시되는 기로 이루어진 군으로부터 선택되는 기이며, A1, B1 및 C1 중, 그 밖의 2개가, 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼30의 아릴기인 것도 바람직하다.
상기 일반식 (21) 및 (212)로 표시되는 화합물에 있어서, 「치환 혹은 무치환의」라고 하는 경우에 있어서의 치환기는, -N(R906)(R907)로 표시되는 기가 아닌 것이 바람직하고, 이 경우의 R906 및 R907은 각각 독립적으로 수소 원자, 치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기, 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기, 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는 치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.
상기 일반식 (21)로 표시되는 화합물은 모노아민 화합물인 것이 바람직하다.
상기 일반식 (212)로 표시되는 화합물은 모노아민 화합물인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역 재료는, 하기 일반식 (22)로 표시되는 화합물인 것도 바람직하다.
[화 74]
(상기 일반식 (22)에 있어서,
A21 및 A22는 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼30의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼30의 복소환기이고,
Y5∼Y8 중 하나는 *1에 결합하는 탄소 원자이며,
Y9∼Y12 중 하나는 *2에 결합하는 탄소 원자이고,
Y1∼Y4, Y13∼Y16, *1에 결합하는 탄소 원자가 아닌 Y5∼Y8, 및 *2에 결합하는 탄소 원자가 아닌 Y9∼Y12는 각각 독립적으로 CR20이며,
R20이 복수 존재하는 경우, 복수의 R20 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이 서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나, 서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는 서로 결합하지 않고,
상기 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하지 않으며, 또한, 상기 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하지 않는 R20은 각각 독립적으로
수소 원자,
시아노기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
할로겐 원자,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
L21 및 L22는 각각 독립적으로
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼30의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼30의 2가의 복소환기이다.)
상기 일반식 (22)로 표시되는 화합물에 있어서, 예컨대, Y6이 *1에 결합하는 탄소 원자이며, Y11이 *2에 결합하는 탄소 원자인 경우, 상기 일반식 (22)는 하기 일반식 (221)로 표시된다.
상기 일반식 (22)로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (221)로 표시되는 화합물인 것도 바람직하다.
[화 75]
(상기 일반식 (221)에 있어서,
Y1∼Y5, Y7∼Y10 및 Y12∼Y16은 CR20이고,
A21, A22, L21, L22 및 R20은 각각 상기 일반식 (22)에 있어서의 A21, A22, L21, L22 및 R20과 동일한 의미이며, 복수의 R20은 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
상기 일반식 (22)로 표시되는 화합물에 있어서, A21 및 A22는 각각 독립적으로 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼30의 아릴기인 것이 바람직하다.
상기 일반식 (22)로 표시되는 화합물에 있어서, A21 및 A22의 한쪽이 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼30의 아릴기이고, A21 및 A22의 다른 쪽이 치환 혹은 무치환의 페닐기, 치환 혹은 무치환의 비페닐기, 치환 혹은 무치환의 터페닐기, 치환 혹은 무치환의 나프틸기, 나프틸페닐기, 치환 혹은 무치환의 트리페닐레닐기, 또는 9,9-비페닐플루오레닐기인 것이 바람직하다.
상기 일반식 (22)로 표시되는 화합물에 있어서, A21 및 A22의 한쪽이 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼30의 아릴기이고, A21 및 A22의 다른 쪽이 치환 혹은 무치환의 페닐기, 치환 혹은 무치환의 p-비페닐기, 치환 혹은 무치환의 m-비페닐기, 치환 혹은 무치환의 o-비페닐기, 치환 혹은 무치환의 3-나프틸페닐기, 트리페닐레닐기, 또는 9,9-비페닐플루오레닐기인 것이 바람직하다.
상기 일반식 (22)로 표시되는 화합물에 있어서, L21 및 L22는 각각 독립적으로 단일 결합, 또는 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼30의 아릴렌기인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역 재료 중의 R901, R902, R903 및 R904는 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
R901이 복수 존재하는 경우, 복수의 R901은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R902가 복수 존재하는 경우, 복수의 R902는 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R903이 복수 존재하는 경우, 복수의 R903은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R904가 복수 존재하는 경우, 복수의 R904는 서로 동일하거나 또는 상이하다.
본 실시형태에 따른 정공 수송 대역 재료에 있어서, 「치환 혹은 무치환」이라고 기재된 기는 모두 「무치환」의 기인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역 재료는, 분자 중에 치환 혹은 무치환의 3-카르바졸릴기를 포함하고 있는 화합물이어도 좋다. 또한, 본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역 재료는, 분자 중에 치환 혹은 무치환의 3-카르바졸릴기를 포함하지 않는 화합물이어도 좋다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역이 정공 수송층을 포함하고 있는 경우, 정공 수송층에는, 예컨대, 상기 일반식 (21)로 표시되는 화합물 및 상기 일반식 (22)로 표시되는 화합물 중 적어도 어느 하나의 화합물을 이용할 수 있다. 또한, 정공 수송층에는, 예컨대, 방향족 아민 유도체, 카르바졸 유도체, 안트라센 유도체 등을 이용할 수도 있다. 구체적으로는, 4-페닐-4'-(9-페닐플루오렌-9-일)트리페닐아민(약칭: BAFLP) 등의 방향족 아민 유도체 등을 정공 수송층에 이용할 수 있다. 정공 수송층에 이용하는 방향족 아민 유도체는, 모노아민 화합물인 것이 바람직하다.
정공 수송층에 이용되는 정공 수송성이 높은 물질로서는, 예컨대, 10-6 ㎠/(V·s) 이상의 정공 이동도를 갖는 물질이다. 단, 정공 수송층에 이용하는 물질로서는, 전자 수송성보다 정공 수송성이 높은 물질이라면, 이들 이외의 물질을 이용하여도 좋다. 또한, 정공 수송성이 높은 물질을 포함하는 층은, 단층이어도 좋고, 상기 물질을 포함하는 층이 2층 이상 적층된 적층 구조여도 좋다.
또한, 예컨대, 발광 영역의 양극측, 및 음극측 중 적어도 한쪽에 장벽층을 인접시켜 설치하여도 좋다. 장벽층은, 발광 영역에 접하여 배치되고, 정공, 전자, 및 여기자 중 적어도 어느 하나를 저지하는 것이 바람직하다.
예컨대, 발광 영역의 음극측에서 접하여 장벽층이 배치된 경우, 상기 장벽층은, 전자를 수송하고, 또한 정공이 상기 장벽층보다 음극측의 층(예컨대, 전자 수송층)에 도달하는 것을 저지한다. 유기 EL 소자가, 전자 수송층을 포함하는 경우는, 발광 영역과 전자 수송층의 사이에 상기 장벽층이 배치되어 있어도 좋다.
(정공 수송 대역 재료의 제조 방법)
정공 수송 대역 재료는, 공지된 방법에 의해 제조할 수 있다. 또한, 정공 수송 대역 재료는, 공지된 방법에 따라, 목적물에 맞춘 기지의 대체 반응 및 원료를 이용함으로써도 제조할 수 있다.
(정공 수송 대역 재료의 구체예)
정공 수송 대역 재료의 구체예로서는, 예컨대, 이하의 화합물을 들 수 있다. 단, 본 발명은, 이들 정공 수송 대역 재료의 구체예에 한정되지 않는다.
[화 76]
[화 77]
[화 78]
[화 79]
[화 80]
(발광 영역)
발광 영역은, 정공 수송 대역 및 상기 음극의 사이에 배치되어 있다. 발광 영역은, 정공 수송 대역과 직접 접한다. 발광 영역은, 제1 발광층 및 제2 발광층을 포함한다. 제1 발광층이, 발광 영역에 있어서 양극측에 배치된다. 본 실시형태에 따른 유기 EL 소자는, 양극측으로부터, 제1 발광층과 제2 발광층을 이 순서로 갖고 있다. 양극측에 배치된 제1 발광층이, 정공 수송 대역의 음극측에 배치된 제1 유기층과 직접 접한다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 호스트 재료의 이온화 포텐셜 Ip(H1)와, 정공 수송 대역 재료의 이온화 포텐셜 Ip(cHT)가, 하기 수식(수 40)을 충족시키는 것도 바람직하다.
0eV<Ip(H1)-Ip(cHT)<0.30 eV …(수 40)
제1 호스트 재료의 이온화 포텐셜 Ip(H1)와, 정공 수송 대역 재료의 이온화 포텐셜 Ip(cHT)의 차 ΔIp(=Ip(H1)-Ip(cHT))는, 0.30 eV 미만인 것도 바람직하고, 0.28 eV 이하인 것도 바람직하며, 0.25 eV 이하인 것도 바람직하다.
제1 호스트 재료의 이온화 포텐셜 Ip(H1)와, 정공 수송 대역 재료의 이온화 포텐셜 Ip(cHT)의 차 ΔIp는, 0 eV 초과인 것도 바람직하고, 0.03 eV 이상인 것도 바람직하며, 0.05 eV 이상인 것도 바람직하다.
본 실시형태에 있어서, 정공 수송 대역 재료의 이온화 포텐셜 Ip(cHT) 및 제1 호스트 재료의 Ip(H1)는, 대기중 광전자 분광법에 의해 측정한 값이다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 발광층과 제2 발광층의 적층 순서가, 양극측에서부터, 제1 발광층과 제2 발광층의 순서인 경우, 제1 호스트 재료의 전자 이동도 μe(H1)와, 제2 호스트 재료의 전자 이동도 μe(H2)가, 하기 수식(수 30)의 관계를 충족시키는 것도 바람직하다.
μe(H2)>μe(H1) …(수 30)
제1 호스트 재료와 제2 호스트 재료가, 상기 수식(수 30)의 관계를 충족시킴으로써, 제1 발광층에서의 홀과 전자의 재결합능이 향상된다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 발광층과 제2 발광층의 적층 순서가, 양극측에서부터, 제1 발광층과 제2 발광층의 순서인 경우, 제1 호스트 재료의 정공 이동도 μh(H1)와, 제2 호스트 재료의 정공 이동도 μh(H2)가, 하기 수식(수 31)의 관계를 충족시키는 것도 바람직하다.
μh(H1)>μh(H2) …(수 31)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 발광층과 제2 발광층의 적층 순서가, 양극측에서부터 제1 발광층과 제2 발광층의 순서인 경우, 제1 호스트 재료의 정공 이동도 μh(H1)와, 제1 호스트 재료의 전자 이동도 μe(H1)와, 제2 호스트 재료의 정공 이동도 μh(H2)와, 제2 호스트 재료의 전자 이동도 μe(H2)가, 하기 수식(수 3)의 관계를 충족시키는 것도 바람직하다.
(μe(H2)/μh(H2))>(μe(H1)/μh(H1)) …(수 32)
(전자 이동도의 측정 방법)
전자 이동도는, 하기의 절차에 의해 제작된 이동도 평가용 소자를 이용하여, 임피던스 측정을 행함으로써 측정할 수 있다. 이동도 평가용 소자는, 예컨대, 하기의 절차에 의해 제작된다.
알루미늄 전극(양극)이 구비된 유리 기판 상에, 알루미늄 전극을 덮도록 하여 전자 이동도의 측정 대상이 되는 화합물 Target을 증착하여 측정 대상층을 형성한다. 이 측정 대상층 상에, 하기 화합물 ET-A를 증착하여 전자 수송층을 형성한다. 이 전자 수송층의 성막 상에, LiF를 증착하여 전자 주입층을 형성한다. 이 전자 주입층의 성막 상에 금속 알루미늄(Al)을 증착하여 금속 음극을 형성한다.
이상의 이동도 평가용 소자 구성을 약식으로 나타내면, 다음과 같다.
glass/Al(50)/Target(200)/ET-A(10)/LiF(1)/Al(50)
또한, 괄호 안의 숫자는 막 두께(nm)를 나타낸다.
[화 81]
전자 이동도의 이동도 평가용 소자를, 임피던스 측정 장치에 설치하여, 임피던스 측정을 행한다. 임피던스 측정은, 측정 주파수를 1 Hz에서 1 MHz까지 소인(掃引)하여 행한다. 그때, 소자에는 교류 진폭 0.1 V와 동시에, 직류 전압 V를 인가한다. 측정된 임피던스(Z)로부터, 하기 계산식 (C1)의 관계를 이용하여 모듈러스(M)를 계산한다.
계산식 (C1): M=jωZ
상기 계산식 (C1)에 있어서, j는 그 평방이 -1이 되는 허수 단위, ω는 각주파수[rad/s]이다.
모듈러스(M)의 허수부를 종축, 주파수[Hz]를 횡축으로 한 보데 플롯에 있어서, 피크를 나타내는 주파수 fmax로부터 이동도 평가용 소자의 전기적인 시정수 τ를 하기 계산식 (C2)로부터 구하였다.
계산식 (C2): τ=1/(2πfmax)
상기 계산식 (C2)의 π는 원주율을 나타내는 기호이다.
상기 τ를 이용하여, 하기 계산식 (C3-1)의 관계로부터 전자 이동도 μe를 산출한다.
계산식 (C3-1): μe=d2/(Vτ)
상기 계산식 (C3-1)의 d는, 소자를 구성하는 유기 박막의 총 막 두께이며, 전자 이동도의 이동도 평가용 소자 구성의 경우, d=210[nm]이다.
(정공 이동도의 측정 방법)
정공 이동도는, 하기의 절차에 의해 제작된 이동도 평가용 소자를 이용하여, 임피던스 측정을 행함으로써 측정할 수 있다. 이동도 평가용 소자는, 예컨대, 하기의 절차에 의해 제작된다.
ITO 투명 전극(양극)이 구비된 유리 기판 상에, 투명 전극을 덮도록 하여 하기 화합물 HA-2를 증착하여 정공 주입층을 형성한다. 이 정공 주입층의 성막 상에, 하기 화합물 HT-A를 증착하여 정공 수송층을 형성한다. 계속해서, 정공 이동도의 측정 대상이 되는 화합물 Target을 증착하여 측정 대상층을 형성한다. 이 측정 대상층 상에, 금속 알루미늄(Al)을 증착하여 금속 음극을 형성한다.
이상의 이동도 평가용 소자 구성을 약식으로 나타내면, 다음과 같다.
ITO(130)/HA-2(5)/HT-A(10)/Target(200)/Al(80)
또한, 괄호 안의 숫자는 막 두께(nm)를 나타낸다.
[화 82]
정공 이동도의 이동도 평가용 소자를, 임피던스 측정 장치에 설치하여, 임피던스 측정을 행한다. 임피던스 측정은, 측정 주파수를 1 Hz에서 1 MHz까지 소인하여 행한다. 그때, 소자에는 교류 진폭 0.1 V와 동시에, 직류 전압 V를 인가한다. 측정된 임피던스(Z)로부터, 상기 계산식 (C1)의 관계를 이용하여 모듈러스(M)를 계산한다.
모듈러스(M)의 허수부를 종축, 주파수[Hz]를 횡축으로 한 보데 플롯에 있어서, 피크를 나타내는 주파수 fmax로부터 이동도 평가용 소자의 전기적인 시정수 τ를 상기 계산식 (C2)로부터 구하였다.
상기 계산식 (C2)로부터 구한 τ를 이용하여, 하기 계산식 (C3-2)의 관계로부터 정공 이동도 μh를 산출한다.
계산식 (C3-2): μh=d2/(Vτ)
상기 계산식 (C3-2)의 d는, 소자를 구성하는 유기 박막의 총 막 두께이며, 정공 이동도의 이동도 평가용 소자 구성의 경우, d=215[nm]이다.
본 명세서에 있어서의 전자 이동도 및 정공 이동도는, 전계 강도의 평방근 E1/2=500[V1/2/cm1/2]일 때의 값이다. 전계 강도의 평방근 E1/2은 하기 계산식 (C4)의 관계로부터 산출할 수 있다.
계산식 (C4): E1/2=V1/2/d1/2
상기 임피던스 측정에는 임피던스 측정 장치로서 솔라트론사의 1260형을 이용하고, 고정밀도화를 위해, 솔라트론사의 1296형 유전율 측정 인터페이스를 함께 이용할 수 있다.
(제1 발광층)
제1 발광층은, 제1 호스트 재료를 포함한다. 제1 호스트 재료는, 제2 발광층이 함유하는 제2 호스트 재료와는 상이한 화합물이다.
본 명세서에 있어서, 「호스트 재료」란, 예컨대 「층의 50 질량% 이상」 포함되는 재료이다. 따라서, 제1 발광층은, 예컨대, 제1 호스트 재료를, 제1 발광층의 전체 질량의 50 질량% 이상 함유한다. 제2 발광층은, 예컨대, 제2 호스트 재료를, 제2 발광층의 전체 질량의 50 질량% 이상 함유한다.
제1 발광층은, 최대 피크 파장이 500 nm 이하인 발광을 나타내는 제1 발광성 화합물을 포함한다. 제1 발광성 화합물은, 최대 피크 파장이 480 nm 이하인 발광을 나타내는 것이 바람직하다. 제1 발광성 화합물은, 최대 피크 파장이 430 nm 이상인 발광을 나타내는 것이 바람직하다.
제1 발광성 화합물은, 최대 피크 파장이 500 nm 이하인 형광 발광을 나타내는 형광 발광성 화합물인 것이 보다 바람직하다. 제1 발광성 화합물은, 최대 피크 파장이 480 nm 이하인 형광 발광을 나타내는 것이 바람직하다. 제1 발광성 화합물은, 최대 피크 파장이 430 nm 이상인 형광 발광을 나타내는 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 발광성 화합물은, 분자 중에 아진환 구조를 포함하지 않는 화합물인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 발광성 화합물은, 붕소 함유 착체가 아닌 것이 바람직하고, 제1 발광성 화합물은, 착체가 아닌 것이 보다 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 발광층은, 금속 착체를 함유하지 않는 것이 바람직하다. 또한, 본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 발광층은, 붕소 함유 착체를 함유하지 않는 것도 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 발광층은, 인광 발광성 재료(도펀트 재료)를 포함하지 않는 것이 바람직하다.
또한, 제1 발광층은, 중금속 착체 및 인광 발광성 희토류 금속 착체를 포함하지 않는 것이 바람직하다. 여기서, 중금속 착체로서는, 예컨대, 이리듐 착체, 오스뮴 착체 및 백금 착체 등을 들 수 있다.
화합물의 최대 피크 파장의 측정 방법은 다음과 같다. 측정 대상이 되는 화합물의 5 μmol/L 톨루엔 용액을 조제하여 석영 셀에 넣고, 상온(300 K)에서 이 시료의 발광 스펙트럼(종축: 발광 강도, 횡축: 파장으로 함)을 측정한다. 발광 스펙트럼은, 가부시키가이샤 히타치하이테크사이언스 제조의 분광 형광 광도계(장치명: F-7000)에 의해 측정할 수 있다. 또한, 발광 스펙트럼 측정 장치는, 여기서 이용한 장치에 한정되지 않는다.
발광 스펙트럼에 있어서, 발광 강도가 최대가 되는 발광 스펙트럼의 피크 파장을 최대 피크 파장으로 한다. 또한, 본 명세서에 있어서, 형광 발광의 최대 피크 파장을 형광 발광 최대 피크 파장(FL-peak)이라고 칭하는 경우가 있다.
제1 발광성 화합물의 발광 스펙트럼에 있어서, 발광 강도가 최대가 되는 피크를 최대 피크로 하고, 상기 최대 피크의 높이를 1로 했을 때, 상기 발광 스펙트럼에 나타나는 다른 피크의 높이는, 0.6 미만인 것이 바람직하다. 또한, 발광 스펙트럼에 있어서의 피크는 극대값으로 한다.
또한, 제1 발광성 화합물의 발광 스펙트럼에 있어서, 피크의 수가 3개 미만인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 발광층은, 소자 구동시에 최대 피크 파장이 500 nm 이하인 광을 방사하는 것이 바람직하다.
소자 구동시에 발광층이 방사하는 광의 최대 피크 파장의 측정은, 다음에 기재된 방법에 의해 행할 수 있다.
·소자 구동시에 발광층으로부터 방사되는 광의 최대 피크 파장 λp
소자 구동시에 제1 발광층으로부터 방사되는 광의 최대 피크 파장 λp1은, 제2 발광층을 제1 발광층과 동일한 재료를 이용하여 유기 EL 소자를 제작하고, 유기 EL 소자의 전류 밀도가 10 mA/㎠가 되도록 소자에 전압을 인가했을 때의 분광 방사 휘도 스펙트럼을 분광 방사 휘도계 CS-2000(코니카미놀타 가부시키가이샤 제조)으로 계측한다. 얻어진 분광 방사 휘도 스펙트럼으로부터, 최대 피크 파장 λp1(단위: nm)을 산출한다.
소자 구동시에 제2 발광층으로부터 방사되는 광의 최대 피크 파장 λp2는, 제1 발광층을 제2 발광층과 동일한 재료를 이용하여 유기 EL 소자를 제작하고, 유기 EL 소자의 전류 밀도가 10 mA/㎠가 되도록 소자에 전압을 인가했을 때의 분광 방사 휘도 스펙트럼을 분광 방사 휘도계 CS-2000(코니카미놀타 가부시키가이샤 제조)으로 계측한다. 얻어진 분광 방사 휘도 스펙트럼으로부터, 최대 피크 파장 λp2(단위: nm)를 산출한다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 호스트 재료의 일중항 에너지 S1(H1)과, 제1 발광성 화합물의 일중항 에너지 S1(D1)이 하기 수식(수 20)의 관계를 충족시키는 것이 바람직하다.
S1(H1)>S1(D1) …(수 20)
일중항 에너지 S1이란, 최저 여기 일중항 상태와 기저 상태의 에너지차를 의미한다.
제1 호스트 재료와 제1 발광성 화합물이, 수식(수 20)의 관계를 충족시킴으로써, 제1 호스트 재료 상에서 생성된 일중항 여기자는, 제1 호스트 재료로부터 제1 발광성 화합물로 에너지 이동하기 쉬워져, 제1 발광성 화합물의 발광(바람직하게는 형광성 발광)에 기여한다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H1)과, 제1 발광성 화합물의 삼중항 에너지 T1(D1)이 하기 수식(수 20A)의 관계를 충족시키는 것이 바람직하다.
T1(D1)>T1(H1) …(수 20A)
제1 호스트 재료와 제1 발광성 화합물이, 하기 수식(수 20A)의 관계를 충족시킴으로써, 제1 발광층 내에서 생성된 삼중항 여기자는, 보다 높은 삼중항 에너지를 갖는 제1 발광성 화합물이 아니라, 제1 호스트 재료 상을 이동하기 때문에, 제2 발광층으로 이동하기 쉬워진다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자는, 하기 수식(수 20B)의 관계를 충족시키는 것이 바람직하다.
T1(D1)>T1(H1)>T1(H2) …(수 20B)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H1)과 제2 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H2)이, 하기 수식(수 5)의 관계를 충족시키는 것이 바람직하다.
T1(H1)-T1(H2)>0.03 eV …(수 5)
(삼중항 에너지 T1)
삼중항 에너지 T1의 측정 방법으로서는 하기의 방법을 들 수 있다.
측정 대상이 되는 화합물을 EPA(디에틸에테르:이소펜탄:에탄올=5:5:2(용적비)) 중에, 10-5 mol/L 이상 10-4 mol/L 이하가 되도록 용해하고, 이 용액을 석영 셀 안에 넣어 측정 시료로 한다. 이 측정 시료에 대해서, 저온(77[K])에서 인광 스펙트럼(종축: 인광 발광 강도, 횡축: 파장으로 함)을 측정하고, 이 인광 스펙트럼의 단파장측의 상승에 대하여 접선을 긋고, 그 접선과 횡축의 교점의 파장값 λedge[nm]에 기초하여, 다음의 환산식 (F1)로부터 산출되는 에너지량을 삼중항 에너지 T1로 한다.
환산식 (F1): T1[eV]＝1239.85/λedge
인광 스펙트럼의 단파장측의 상승에 대한 접선은 이하와 같이 긋는다. 인광 스펙트럼의 단파장측으로부터, 스펙트럼의 극대값 중, 가장 단파장측의 극대값까지 스펙트럼 곡선 상을 이동할 때에, 장파장측을 향해 곡선 상의 각 점에 있어서의 접선을 생각한다. 이 접선은, 곡선이 상승함에 따라(즉 종축이 증가함에 따라), 기울기가 증가한다. 이 기울기의 값이 극대값을 취하는 점에 있어서 그은 접선(즉 변곡점에 있어서의 접선)은, 상기 인광 스펙트럼의 단파장측의 상승에 대한 접선으로 한다.
또한, 스펙트럼의 최대 피크 강도의 15% 이하의 피크 강도를 갖는 극대점은, 전술한 가장 단파장측의 극대값에는 포함시키지 않고, 가장 단파장측의 극대값에 가장 가까운, 기울기의 값이 극대값을 취하는 점에 있어서 그은 접선을 상기 인광 스펙트럼의 단파장측의 상승에 대한 접선으로 한다.
인광의 측정에는, (주)히타치하이테크놀로지 제조의 F-4500형 분광 형광 광도계 본체를 이용할 수 있다. 또한, 측정 장치는 이에 한정되지 않고, 냉각 장치, 및 저온용 용기와, 여기 광원과, 수광 장치를 조합함으로써, 측정하여도 좋다.
(일중항 에너지 S1)
용액을 이용한 일중항 에너지 S1의 측정 방법(용액법이라고 칭하는 경우가 있음)으로는, 하기의 방법을 들 수 있다.
측정 대상이 되는 화합물의 10-5 mol/L 이상 10-4 mol/L 이하의 톨루엔 용액을 조제하여 석영 셀에 넣고, 상온(300 K)에서 이 시료의 흡수 스펙트럼(종축: 흡수 강도, 횡축: 파장으로 함)을 측정한다. 이 흡수 스펙트럼의 장파장측의 하강에 대하여 접선을 긋고, 그 접선과 횡축의 교점의 파장값 λedge[nm]를 다음에 나타내는 환산식 (F2)에 대입하여 일중항 에너지를 산출한다.
환산식 (F2): S1[eV]＝1239.85/λedge
흡수 스펙트럼 측정 장치로서는, 예컨대, 히타치사 제조의 분광 광도계(장치명: U3310)를 들 수 있지만, 이것에 한정되지 않는다.
흡수 스펙트럼의 장파장측의 하강에 대한 접선은 이하와 같이 긋는다. 흡수 스펙트럼의 극대값 중, 가장 장파장측의 극대값으로부터 장파장 방향으로 스펙트럼 곡선 상을 이동할 때에, 곡선 상의 각 점에 있어서의 접선을 생각한다. 이 접선은, 곡선이 하강함에 따라(즉 종축의 값이 감소함에 따라), 기울기가 감소하고 그 후 증가하는 것을 반복한다. 기울기의 값이 가장 장파장측(단, 흡광도가 0.1 이하가 되는 경우는 제외함)에서 극소값을 취하는 점에 있어서 그은 접선을 상기 흡수 스펙트럼의 장파장측의 하강에 대한 접선으로 한다.
또한, 흡광도의 값이 0.2 이하인 극대점은, 상기 가장 장파장측의 극대값에는 포함시키지 않는다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 발광층은, 제1 발광성 화합물을, 제1 발광층의 전체 질량의 1.0 질량% 이상 함유하는 것이 바람직하다.
제1 발광층은, 제1 발광성 화합물을, 제1 발광층의 전체 질량의 10 질량% 이하 함유하는 것이 바람직하고, 제1 발광층의 전체 질량의 7 질량% 이하 함유하는 것이 보다 바람직하며, 제1 발광층의 전체 질량의 5 질량% 이하 함유하는 것이 더욱 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 발광층은, 제1 호스트 재료로서의 제1 화합물을, 제1 발광층의 전체 질량의 60 질량% 이상 함유하는 것이 바람직하고, 제1 발광층의 전체 질량의 70 질량% 이상 함유하는 것이 보다 바람직하며, 제1 발광층의 전체 질량의 80 질량% 이상 함유하는 것이 더욱 바람직하고, 제1 발광층의 전체 질량의 90 질량% 이상 함유하는 것이 보다 더 바람직하며, 제1 발광층의 전체 질량의 95 질량% 이상 함유하는 것이 더욱 바람직하다.
제1 발광층은, 제1 호스트 재료를, 제1 발광층의 전체 질량의 99 질량% 이하 함유하는 것이 바람직하다.
단, 제1 발광층이 제1 호스트 재료와 제1 발광성 화합물을 함유하는 경우, 제1 호스트 재료 및 제1 발광성 화합물의 합계 함유율의 상한은 100 질량%이다.
또한, 본 실시형태는, 제1 발광층에, 제1 호스트 재료와 제1 발광성 화합물 이외의 재료가 포함되는 것을 제외하지 않는다.
제1 발광층은, 제1 호스트 재료를 1종만 포함하여도 좋고, 2종 이상 포함하여도 좋다. 제1 발광층은, 제1 발광성 화합물을 1종만 포함하여도 좋고, 2종 이상 포함하여도 좋다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 발광층의 막 두께는, 3 nm 이상인 것이 바람직하고, 5 nm 이상인 것이 보다 바람직하다. 제1 발광층의 막 두께가 3 nm 이상이면, 제1 발광층에 있어서, 정공과 전자의 재결합을 일으키기에 충분한 막 두께이다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 발광층의 막 두께는, 15 nm 이하인 것이 바람직하고, 10 nm 이하인 것이 보다 바람직하다. 제1 발광층의 막 두께가 15 nm 이하이면, 제2 발광층으로 삼중항 여기자가 이동하기에 충분히 얇은 막 두께이다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 발광층의 막 두께는, 3 nm 이상, 15 nm 이하인 것이 보다 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 발광층은, 본 실시형태에 따른 공통 정공 수송 대역 재료를 포함하고 있어도 좋다.
(제2 발광층)
제2 발광층은, 제2 호스트 재료를 포함한다. 제2 호스트 재료는, 제1 발광층이 함유하는 제1 호스트 재료와는 상이한 화합물이다.
제2 발광층은, 최대 피크 파장이 500 nm 이하인 발광을 나타내는 제2 발광성 화합물을 포함한다. 제2 발광성 화합물은, 최대 피크 파장이 480 nm 이하인 발광을 나타내는 것이 바람직하다. 제2 발광성 화합물은, 최대 피크 파장이 430 nm 이상인 발광을 나타내는 것이 바람직하다.
제2 발광성 화합물은, 최대 피크 파장이 500 nm 이하인 형광 발광을 나타내는 형광 발광성 화합물인 것이 바람직하다. 제2 발광성 화합물은, 최대 피크 파장이 480 nm 이하인 형광 발광을 나타내는 것이 바람직하다. 제2 발광성 화합물은, 최대 피크 파장이 430 nm 이상인 형광 발광을 나타내는 것이 바람직하다.
화합물의 최대 피크 파장의 측정 방법은, 전술한 바와 같다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제2 발광층은, 소자 구동시에 최대 피크 파장이 500 nm 이하인 광을 방사하는 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제2 발광성 화합물의 최대 피크의 반치폭이, 1 nm 이상, 20 nm 이하인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제2 발광성 화합물의 스토크스 시프트는, 7 nm를 초과하는 것이 바람직하다.
제2 발광성 화합물의 스토크스 시프트가 7 nm를 초과하고 있으면, 자기 흡수에 의한 발광 효율의 저하를 방지하기 쉬워진다.
자기 흡수란, 방출된 광을 동일 화합물이 흡수하는 현상으로, 발광 효율의 저하를 일으키는 현상이다. 자기 흡수는, 스토크스 시프트가 작은(즉, 흡수 스펙트럼과 형광 스펙트럼의 겹침이 큰) 화합물에서 현저하게 관측되기 때문에, 자기 흡수를 억제하기 위해서는 스토크스 시프트가 큰(흡수 스펙트럼과 형광 스펙트럼의 겹침이 작은) 화합물을 이용하는 것이 바람직하다. 스토크스 시프트는, 다음에 기재된 방법으로 측정할 수 있다.
측정 대상이 되는 화합물을 2.0×10-5 mol/L의 농도로 톨루엔에 용해하여, 측정용 시료를 조제한다. 석영 셀에 넣은 측정용 시료에 실온(300 K)에서 자외-가시 영역의 연속광을 조사하고, 흡수 스펙트럼(종축: 흡광도, 횡축: 파장)을 측정한다. 흡수 스펙트럼 측정에는, 분광 광도계를 이용할 수 있고, 예컨대, 히타치하이테크사이언스사의 분광 광도계 U-3900/3900H형을 이용할 수 있다. 또한, 측정 대상이 되는 화합물을 4.9×10-6 mol/L의 농도로 톨루엔에 용해하여, 측정용 시료를 조제한다. 석영 셀에 넣은 측정용 시료에 실온(300 K)에서 여기광을 조사하고, 형광 스펙트럼(종축: 형광 강도, 횡축: 파장)을 측정하였다. 형광 스펙트럼 측정에는, 분광 광도계를 이용할 수 있고, 예컨대, 히타치하이테크사이언스사의 분광 형광 광도계 F-7000형을 이용할 수 있다.
이들 흡수 스펙트럼과 형광 스펙트럼으로부터, 흡수 극대 파장과 형광 극대 파장의 차를 산출하여, 스토크스 시프트(SS)를 구한다. 스토크스 시프트(SS)의 단위는, nm이다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제2 발광성 화합물의 삼중항 에너지 T1(D2)과, 제2 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H2)이 하기 수식(수 3A)의 관계를 충족시키는 것이 바람직하다.
T1(D2)>T1(H2) …(수 3A)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제2 발광성 화합물과, 제2 호스트 재료가 상기 수식(수 3A)의 관계를 충족시킴으로써, 제1 발광층에서 생성된 삼중항 여기자는, 제2 발광층으로 이동할 때, 보다 높은 삼중항 에너지를 갖는 제2 발광성 화합물이 아니라, 제2 호스트 재료의 분자로 에너지 이동한다. 또한, 제2 호스트 재료 상에서 정공 및 전자가 재결합하여 발생한 삼중항 여기자는, 보다 높은 삼중항 에너지를 갖는 제2 발광성 화합물로는 이동하지 않는다. 제2 발광성 화합물의 분자 상에서 재결합하여 발생한 삼중항 여기자는, 신속하게 제2 호스트 재료의 분자로 에너지 이동한다.
제2 호스트 재료의 삼중항 여기자가 제2 발광성 화합물로 이동하지 않고, TTF 현상에 의해 제2 호스트 재료 상에서 삼중항 여기자끼리가 효율적으로 충돌함으로써, 일중항 여기자가 생성된다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제2 호스트 재료의 일중항 에너지 S1(H2)과 제2 발광성 화합물의 일중항 에너지 S1(D2)이 하기 수식(수 4)의 관계를 충족시키는 것이 바람직하다.
S1(H2)>S1(D2) …(수 4)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제2 발광성 화합물과, 제2 호스트 재료가 상기 수식(수 4)의 관계를 충족시킴으로써, 제2 발광성 화합물의 일중항 에너지는, 제2 호스트 재료의 일중항 에너지보다 작기 때문에, TTF 현상에 의해 생성된 일중항 여기자는, 제2 호스트 재료로부터 제2 발광성 화합물로 에너지 이동하여, 제2 발광성 화합물의 발광(바람직하게는 형광성 발광)에 기여한다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제2 발광성 화합물은, 분자 중에 아진환 구조를 포함하지 않는 화합물인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제2 발광성 화합물은, 붕소 함유 착체가 아닌 것이 바람직하고, 제2 발광성 화합물은, 착체가 아닌 것이 보다 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제2 발광층은, 금속 착체를 함유하지 않는 것이 바람직하다. 또한, 본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제2 발광층은, 붕소 함유 착체를 함유하지 않는 것도 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제2 발광층은, 인광 발광성 재료(도펀트 재료)를 포함하지 않는 것이 바람직하다.
또한, 제2 발광층은, 중금속 착체 및 인광 발광성의 희토류 금속 착체를 포함하지 않는 것이 바람직하다. 여기서, 중금속 착체로서는, 예컨대, 이리듐 착체, 오스뮴 착체 및 백금 착체 등을 들 수 있다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제2 발광층은, 제2 발광성 화합물을, 제2 발광층의 전체 질량의 1.0 질량% 이상 함유하는 것이 바람직하다.
제2 발광층은, 제2 발광성 화합물을, 제2 발광층의 전체 질량의 10 질량% 이하 함유하는 것이 바람직하고, 제2 발광층의 전체 질량의 7 질량% 이하 함유하는 것이 보다 바람직하며, 제2 발광층의 전체 질량의 5 질량% 이하 함유하는 것이 더욱 바람직하다.
제2 발광층은, 제2 호스트 재료로서의 제2 화합물을, 제2 발광층의 전체 질량의 60 질량% 이상 함유하는 것이 바람직하고, 제2 발광층의 전체 질량의 70 질량% 이상 함유하는 것이 보다 바람직하며, 제2 발광층의 전체 질량의 80 질량% 이상 함유하는 것이 더욱 바람직하고, 제2 발광층의 전체 질량의 90 질량% 이상 함유하는 것이 보다 더 바람직하며, 제2 발광층의 전체 질량의 95 질량% 이상 함유하는 것이 더욱 더 바람직하다.
제2 발광층은, 제2 호스트 재료를, 제2 발광층의 전체 질량의 99 질량% 이하 함유하는 것이 바람직하다.
제2 발광층이 제2 호스트 재료와 제2 발광성 화합물을 함유하는 경우, 제2 호스트 재료 및 제2 발광성 화합물의 합계 함유율의 상한은 100 질량%이다.
또한, 본 실시형태는, 제2 발광층에, 제2 호스트 재료와 제2 발광성 화합물 이외의 재료가 포함되는 것을 제외하지 않는다.
제2 발광층은, 제2 호스트 재료를 1종만 포함하여도 좋고, 2종 이상 포함하여도 좋다. 제2 발광층은, 제2 발광성 화합물을 1종만 포함하여도 좋고, 2종 이상 포함하여도 좋다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제2 발광층의 막 두께는, 5 nm 이상인 것이 바람직하다. 제2 발광층의 막 두께가 5 nm 이상이면, 제1 발광층으로부터 제2 발광층으로 이동해 온 삼중항 여기자가 다시 제1 발광층으로 되돌아가는 것을 억제하기 쉽다. 또한, 제2 발광층의 막 두께가 5 nm 이상이면, 제1 발광층에 있어서의 재결합 부분으로부터 삼중항 여기자를 충분히 분리할 수 있다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제2 발광층의 막 두께는, 20 nm 이하인 것이 바람직하다. 제2 발광층의 막 두께가 20 nm 이하이면, 제2 발광층 중의 삼중항 여기자의 밀도를 향상시켜, TTF 현상을 더욱 일어나기 쉽게 할 수 있다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제2 발광층의 막 두께는, 5 nm 이상, 20 nm 이하인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 발광성 화합물 또는 제2 발광성 화합물의 삼중항 에너지 T1(DX)과, 제1 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H1)과 제2 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H2)이 하기 수식(수 10)의 관계를 충족시키는 것이 바람직하다.
2.6 eV>T1(DX)>T1(H1)>T1(H2) …(수 10)
제1 발광성 화합물의 삼중항 에너지 T1(D1)은, 하기 수식(수 10A)의 관계를 충족시키는 것이 바람직하다.
2.6 eV>T1(D1)>T1(H1)>T1(H2) …(수 10A)
제2 발광성 화합물의 삼중항 에너지 T1(D2)은, 하기 수식(수 10B)의 관계를 충족시키는 것이 바람직하다.
2.6 eV>T1(D2)>T1(H1)>T1(H2) …(수 10B)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 발광성 화합물 또는 제2 발광성 화합물의 삼중항 에너지 T1(DX)과 제1 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H1)이 하기 수식(수 11)의 관계를 충족시키는 것이 바람직하다.
0 eV<T1(DX)-T1(H1)<0.6 eV …(수 11)
제1 발광성 화합물의 삼중항 에너지 T1(D1)은, 하기 수식(수 11A)의 관계를 충족시키는 것이 바람직하다.
0 eV<T1(D1)-T1(H1)<0.6 eV …(수 11A)
제2 발광성 화합물의 삼중항 에너지 T1(D2)은, 하기 수식(수 11B)의 관계를 충족시키는 것이 바람직하다.
0 eV<T1(D2)-T1(H2)<0.8 eV …(수 11B)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H1)이 하기 수식(수 12)의 관계를 충족시키는 것이 바람직하다.
T1(H1)>2.0 eV …(수 12)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H1)이, 하기 수식(수 12A)의 관계를 충족시키는 것도 바람직하고, 하기 수식(수 12B)의 관계를 충족시키는 것도 바람직하다.
T1(H1)>2.10 eV …(수 12A)
T1(H1)>2.15 eV …(수 12B)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H1)이 상기 수식(수 12A) 또는 상기 수식(수 12B)의 관계를 충족시킴으로써, 제1 발광층에서 생성된 삼중항 여기자는, 제2 발광층으로 이동하기 쉬워지고, 또한, 제2 발광층으로부터 제1 발광층으로 역이동하는 것을 억제하기 쉬워진다. 그 결과, 제2 발광층에 있어서, 일중항 여기자가 효율적으로 생성되어, 발광 효율이 향상된다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H1)이, 하기 수식(수 12C)의 관계를 충족시키는 것도 바람직하고, 하기 수식(수 12D)의 관계를 충족시키는 것도 바람직하다.
2.08 eV>T1(H1)>1.87 eV …(수 12C)
2.05 eV>T1(H1)>1.90 eV …(수 12D)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H1)이 상기 수식(수 12C) 또는 상기 수식(수 12D)의 관계를 충족시킴으로써, 제1 발광층에서 생성된 삼중항 여기자의 에너지가 작아져, 유기 EL 소자의 장수명화를 기대할 수 있다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 발광성 화합물의 삼중항 에너지 T1(D1)이, 하기 수식(수 14A)의 관계를 충족시키는 것도 바람직하고, 하기 수식(수 14B)의 관계를 충족시키는 것도 바람직하다.
2.60 eV>T1(D1) …(수 14A)
2.50 eV>T1(D1) …(수 14B)
제1 발광층이 상기 수식 (수 14A) 또는 (수 14B)의 관계를 충족시키는 제1 발광성 화합물을 함유함으로써, 유기 EL 소자가 장수명화한다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제2 발광성 화합물의 삼중항 에너지 T1(D2)이, 하기 수식(수 14C)의 관계를 충족시키는 것도 바람직하고, 하기 수식(수 14D)의 관계를 충족시키는 것도 바람직하다.
2.60 eV>T1(D2) …(수 14C)
2.50 eV>T1(D2) …(수 14D)
제2 발광층이 상기 수식 (수 14C) 또는 (수 14D)의 관계를 충족시키는 제2 발광성 화합물을 함유함으로써, 유기 EL 소자가 장수명화한다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제2 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H2)이, 하기 수식(수 13)의 관계를 충족시키는 것이 바람직하다.
T1(H2)≥1.9 eV …(수 13)
(유기 EL 소자의 그 밖의 층)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자는, 정공 수송 대역, 제1 발광층 및 제2 발광층 이외에, 1 이상의 유기층을 갖고 있어도 좋다. 유기층으로서는, 예컨대 전자 주입층, 전자 수송층, 정공 장벽층 및 전자 장벽층으로 이루어진 군으로부터 선택되는 적어도 어느 하나의 층을 들 수 있다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역, 제1 발광층 및 제2 발광층만으로 구성되어 있어도 좋지만, 예컨대, 전자 주입층, 전자 수송층, 및 정공 장벽층 등으로 이루어진 군으로부터 선택되는 적어도 어느 하나의 층을 더 갖고 있어도 좋다.
도 1에, 본 실시형태에 따른 유기 EL 소자의 일례의 개략 구성을 나타낸다.
유기 EL 소자(1)는, 기판(2)과, 양극(3)과, 음극(4)과, 양극(3)과 음극(4)의 사이에 배치된 유기층(10)을 포함한다. 유기층(10)은, 양극(3)측에서부터 차례로, 정공 수송 대역(6), 제1 발광층(51), 제2 발광층(52), 전자 수송층(8), 및 전자 주입층(9)이, 이 순서로 적층되어 구성된다. 발광 영역(5)은, 제1 발광층(51) 및 제2 발광층(52)으로 구성된다.
도 2에, 본 실시형태에 따른 유기 EL 소자의 다른 일례의 개략 구성을 나타낸다.
유기 EL 소자(1B)는, 기판(2)과, 양극(3)과, 음극(4)과, 양극(3)과 음극(4)의 사이에 배치된 유기층(12)을 포함한다. 유기층(12)은, 양극(3)측에서부터 차례로, 제2 유기층(62), 제1 유기층(61), 제1 발광층(51), 제2 발광층(52), 전자 수송층(8), 및 전자 주입층(9)이, 이 순서로 적층되어 구성된다. 유기 EL 소자(1B)에 있어서, 정공 수송 대역(6A)은, 제1 유기층(61) 및 제2 유기층(62)으로 구성된다.
도 3에, 본 실시형태에 따른 유기 EL 소자의 다른 일례의 개략 구성을 나타낸다.
유기 EL 소자(1C)는, 기판(2)과, 양극(3)과, 음극(4)과, 양극(3)과 음극(4)의 사이에 배치된 유기층(13)을 포함한다. 유기층(13)은, 양극(3)측에서부터 차례로, 제3 유기층(63), 제2 유기층(62), 제1 유기층(61), 제1 발광층(51), 제2 발광층(52), 전자 수송층(8), 및 전자 주입층(9)이, 이 순서로 적층되어 구성된다. 유기 EL 소자(1C)에 있어서, 정공 수송 대역(6B)은, 제1 유기층(61), 제2 유기층(62) 및 제3 유기층(63)으로 구성된다.
본 발명은, 도 1∼도 3에 도시된 유기 EL 소자의 구성에 한정되지 않는다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 발광층과 제2 발광층이 직접 접하고 있는 것이 바람직하다.
본 명세서에 있어서, 「제1 발광층과 제2 발광층이 직접 접하고 있는」 층 구조는, 예컨대, 이하의 양태 (LS1), (LS2) 및 (LS3) 중 어느 하나의 양태도 포함할 수 있다.
(LS1) 제1 발광층에 따른 화합물의 증착 공정과 제2 발광층에 따른 화합물의 증착 공정을 거치는 과정에서 제1 호스트 재료 및 제2 호스트 재료 양쪽 모두가 혼재되는 영역이 생겨, 이 영역이 제1 발광층과 제2 발광층의 계면에 존재하는 양태.
(LS2) 제1 발광층 및 제2 발광층이 발광성의 화합물을 포함하는 경우에, 제1 발광층에 따른 화합물의 증착 공정과 제2 발광층에 따른 화합물의 증착 공정을 거치는 과정에서 제1 호스트 재료, 제2 호스트 재료 및 발광성의 화합물이 혼재되는 영역이 생겨, 이 영역이 제1 발광층과 제2 발광층의 계면에 존재하는 양태.
(LS3) 제1 발광층 및 제2 발광층이 발광성의 화합물을 포함하는 경우에, 제1 발광층에 따른 화합물의 증착 공정과 제2 발광층에 따른 화합물의 증착 공정을 거치는 과정에서 상기 발광성의 화합물로 이루어지는 영역, 제1 호스트 재료로 이루어지는 영역, 또는 제2 호스트 재료로 이루어지는 영역이 생겨, 이 영역이 제1 발광층과 제2 발광층의 계면에 존재하는 양태.
유기 EL 소자의 구성에 대해서 더 설명한다. 이하, 부호의 기재는 생략하는 경우가 있다.
(기판)
기판은 유기 EL 소자의 지지체로서 이용된다. 기판으로서는, 예컨대, 유리, 석영, 및 플라스틱 등을 이용할 수 있다. 또한, 가요성 기판을 이용하여도 좋다. 가요성 기판은 구부릴 수 있는(플렉시블) 기판을 말하며, 예컨대, 플라스틱 기판 등을 들 수 있다. 플라스틱 기판을 형성하는 재료로서는, 예컨대, 폴리카보네이트, 폴리아릴레이트, 폴리에테르술폰, 폴리프로필렌, 폴리에스테르, 폴리불화비닐, 폴리염화비닐, 폴리이미드, 및 폴리에틸렌나프탈레이트 등을 들 수 있다. 또한, 무기 증착 필름을 이용할 수도 있다.
(양극)
기판 상에 형성되는 양극에는, 일함수가 큰(구체적으로는 4.0 eV 이상) 금속, 합금, 전기 전도성 화합물, 및 이들의 혼합물 등을 이용하는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 예컨대, 산화인듐-산화주석(ITO: Indium Tin Oxide), 규소 혹은 산화규소를 함유한 산화인듐-산화주석, 산화인듐-산화아연, 산화텅스텐, 및 산화아연을 함유한 산화인듐, 그래핀 등을 들 수 있다. 이밖에, 금(Au), 백금(Pt), 니켈(Ni), 텅스텐(W), 크롬(Cr), 몰리브덴(Mo), 철(Fe), 코발트(Co), 구리(Cu), 팔라듐(Pd), 티탄(Ti), 또는 금속 재료의 질화물(예컨대, 질화티탄) 등을 들 수 있다.
이들 재료는, 통상, 스퍼터링법에 의해 성막된다. 예컨대, 산화인듐-산화아연은, 산화인듐에 대하여 1 질량% 이상 10 질량% 이하의 산화아연을 첨가한 타겟을 이용함으로써, 스퍼터링법으로 형성할 수 있다. 또한, 예컨대, 산화텅스텐, 및 산화아연을 함유한 산화인듐은, 산화인듐에 대하여 산화텅스텐을 0.5 질량% 이상 5 질량% 이하, 산화아연을 0.1 질량% 이상 1 질량% 이하 함유한 타겟을 이용함으로써, 스퍼터링법으로 형성할 수 있다. 그 밖에, 진공 증착법, 도포법, 잉크젯법, 스핀 코트법 등에 의해 제작하여도 좋다.
양극 상에 형성되는 EL층 중, 양극에 접하여 형성되는 정공 주입층은, 양극의 일함수에 관계없이 정공(홀) 주입이 용이한 복합 재료를 이용하여 형성되기 때문에, 전극 재료로서 가능한 재료(예컨대, 금속, 합금, 전기 전도성 화합물, 및 이들의 혼합물, 그 밖에, 원소 주기표의 제1족 또는 제2족에 속하는 원소도 포함함)를 이용할 수 있다.
일함수가 작은 재료인, 원소 주기표의 제1족 또는 제2족에 속하는 원소, 즉 리튬(Li)이나 세슘(Cs) 등의 알칼리 금속, 및 마그네슘(Mg), 칼슘(Ca), 스트론튬(Sr) 등의 알칼리 토류 금속, 및 이들을 포함하는 합금(예컨대, MgAg, AlLi), 유로퓸(Eu), 이테르븀(Yb) 등의 희토류 금속 및 이들을 포함하는 합금 등을 이용할 수도 있다. 또한, 알칼리 금속, 알칼리 토류 금속, 및 이들을 포함하는 합금을 이용하여 양극을 형성하는 경우에는, 진공 증착법이나 스퍼터링법을 이용할 수 있다. 또한, 은 페이스트 등을 이용하는 경우에는, 도포법이나 잉크젯법 등을 이용할 수 있다.
(음극)
음극에는, 일함수가 작은(구체적으로는 3.8 eV 이하) 금속, 합금, 전기 전도성 화합물, 및 이들의 혼합물 등을 이용하는 것이 바람직하다. 이러한 음극 재료의 구체예로서는, 원소 주기표의 제1족 또는 제2족에 속하는 원소, 즉 리튬(Li)이나 세슘(Cs) 등의 알칼리 금속, 및 마그네슘(Mg), 칼슘(Ca), 스트론튬(Sr) 등의 알칼리 토류 금속, 및 이들을 포함하는 합금(예컨대, MgAg, AlLi), 유로퓸(Eu), 이테르븀(Yb) 등의 희토류 금속 및 이들을 포함하는 합금 등을 들 수 있다.
또한, 알칼리 금속, 알칼리 토류 금속, 이들을 포함하는 합금을 이용하여 음극을 형성하는 경우에는, 진공 증착법이나 스퍼터링법을 이용할 수 있다. 또한, 은 페이스트 등을 이용하는 경우에는, 도포법이나 잉크젯법 등을 이용할 수 있다.
또한, 전자 주입층을 설치함으로써, 일함수의 대소에 관계없이, Al, Ag, ITO, 그래핀, 규소 혹은 산화규소를 함유한 산화인듐-산화주석 등 여러 가지 도전성 재료를 이용하여 음극을 형성할 수 있다. 이들 도전성 재료는 스퍼터링법이나 잉크젯법, 스핀 코트법 등을 이용하여 성막할 수 있다.
(전자 수송층)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 발광층과 음극의 사이에 전자 수송층을 포함하는 것이 바람직하다.
전자 수송층은, 전자 수송성이 높은 물질을 포함하는 층이다. 전자 수송층에는, 1) 알루미늄 착체, 베릴륨 착체, 아연 착체 등의 금속 착체, 2) 이미다졸 유도체, 벤조이미다졸 유도체, 아진 유도체, 카르바졸 유도체, 페난트롤린 유도체 등의 복소 방향족 화합물, 3) 고분자 화합물을 사용할 수 있다. 구체적으로는 저분자 유기 화합물로서, Alq, 트리스(4-메틸-8-퀴놀리놀라토)알루미늄(약칭: Almq3), 비스(10-히드록시벤조[h]퀴놀리나토)베릴륨(약칭: BeBq2), BAlq, Znq, ZnPBO, ZnBTZ 등의 금속 착체 등을 이용할 수 있다. 또한, 금속 착체 이외에도, 2-(4-비페닐릴)-5-(4-tert-부틸페닐)-1,3,4-옥사디아졸(약칭: PBD), 1,3-비스[5-(ptert-부틸페닐)-1,3,4-옥사디아졸-2-일]벤젠(약칭: OXD-7), 3-(4-tert-부틸페닐)-4-페닐-5-(4-비페닐릴)-1,2,4-트리아졸(약칭: TAZ), 3-(4-tert-부틸페닐)-4-(4-에틸페닐)-5-(4-비페닐릴)-1,2,4-트리아졸(약칭: p-EtTAZ), 바소페난트롤린(약칭: BPhen), 바소큐프로인(약칭: BCP), 4,4'-비스(5-메틸벤조옥사졸-2-일)스틸벤(약칭: BzOs) 등의 복소 방향족 화합물도 이용할 수 있다. 본 실시양태에 있어서는, 벤조이미다졸 화합물을 적합하게 이용할 수 있다. 여기에 설명한 물질은, 주로 10-6 ㎠/(V·s) 이상의 전자 이동도를 갖는 물질이다. 또한, 정공 수송성보다 전자 수송성이 높은 물질이라면, 상기 이외의 물질을 전자 수송층으로서 이용하여도 좋다. 또한, 전자 수송층은, 단층으로 구성되어 있어도 좋고, 상기 물질로 이루어지는 층이 2층 이상 적층되어 구성되어 있어도 좋다.
또한, 전자 수송층에는, 고분자 화합물을 이용할 수도 있다. 예컨대, 폴리[(9,9-디헥실플루오렌-2,7-디일)-co-(피리딘-3,5-디일)](약칭: PF-Py), 폴리[(9,9-디옥틸플루오렌-2,7-디일)-co-(2,2'-비피리딘-6,6'-디일)](약칭: PF-BPy) 등을 이용할 수 있다.
(전자 주입층)
전자 주입층은, 전자 주입성이 높은 물질을 포함하는 층이다. 전자 주입층에는, 리튬(Li), 세슘(Cs), 칼슘(Ca), 불화리튬(LiF), 불화세슘(CsF), 불화칼슘(CaF2), 리튬산화물(LiOx) 등과 같은 알칼리 금속, 알칼리 토류 금속, 또는 이들의 화합물을 이용할 수 있다. 그 밖에, 전자 수송성을 갖는 물질에 알칼리 금속, 알칼리 토류 금속, 또는 이들의 화합물을 함유시킨 것, 구체적으로는 Alq 중에 마그네슘(Mg)을 함유시킨 것 등을 이용하여도 좋다. 또한, 이 경우에는, 음극으로부터의 전자 주입을 보다 효율적으로 행할 수 있다.
혹은, 전자 주입층에, 유기 화합물과 전자 공여체(도너)를 혼합하여 이루어지는 복합 재료를 이용하여도 좋다. 이러한 복합 재료는, 전자 공여체에 의해 유기 화합물에 전자가 발생하기 때문에, 전자 주입성 및 전자 수송성이 우수하다. 이 경우, 유기 화합물로서는, 발생한 전자의 수송이 우수한 재료인 것이 바람직하고, 구체적으로는, 예컨대 전술한 전자 수송층을 구성하는 물질(금속 착체나 복소 방향족 화합물 등)을 이용할 수 있다. 전자 공여체로서는, 유기 화합물에 대하여 전자 공여성을 나타내는 물질이면 좋다. 구체적으로는, 알칼리 금속이나 알칼리 토류 금속이나 희토류 금속이 바람직하고, 리튬, 세슘, 마그네슘, 칼슘, 에르븀, 이테르븀 등을 들 수 있다. 또한, 알칼리 금속 산화물이나 알칼리 토류 금속 산화물이 바람직하고, 리튬 산화물, 칼슘 산화물, 바륨 산화물 등을 들 수 있다. 또한, 산화마그네슘과 같은 루이스 염기를 이용할 수도 있다. 또한, 테트라티아풀발렌(약칭: TTF) 등의 유기 화합물을 이용할 수도 있다.
(층형성 방법)
본 실시형태의 유기 EL 소자의 각 층의 형성 방법으로서는, 상기에서 특별히 언급한 것 이외에는 제한되지 않지만, 진공 증착법, 스퍼터링법, 플라즈마법, 이온 플레이팅법 등의 건식 성막법이나, 스핀 코팅법, 디핑법, 플로우 코팅법, 잉크젯법 등의 습식 성막법 등의 공지된 방법을 채용할 수 있다.
(막 두께)
본 실시형태의 유기 EL 소자의 각 유기층의 막 두께는, 상기에서 특별히 언급한 경우를 제외하고 한정되지 않는다. 일반적으로, 막 두께가 지나치게 얇으면 핀홀 등의 결함이 생기기 쉽고, 막 두께가 지나치게 두꺼우면 높은 인가 전압이 필요하게 되어 효율이 나빠지기 때문에, 통상, 유기 EL 소자의 각 유기층의 막 두께는, 수 nm에서 1 ㎛의 범위가 바람직하다.
(유기 EL 소자의 발광 파장)
본 실시형태에 따른 유기 일렉트로루미네센스 소자는, 소자 구동시에 최대 피크 파장이 500 nm 이하인 광을 방사하는 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 일렉트로루미네센스 소자는, 소자 구동시에 최대 피크 파장이 430 nm 이상 480 nm 이하인 광을 방사하는 것이 보다 바람직하다.
소자 구동시에 유기 EL 소자가 방사하는 광의 최대 피크 파장의 측정은, 이하와 같이 하여 행한다. 전류 밀도가 10 mA/㎠가 되도록 유기 EL 소자에 전압을 인가했을 때의 분광 방사 휘도 스펙트럼을 분광 방사 휘도계 CS-2000(코니카미놀타사 제조)으로 계측한다. 얻어진 분광 방사 휘도 스펙트럼에 있어서, 발광 강도가 최대가 되는 발광 스펙트럼의 피크 파장을 측정하고, 이것을 최대 피크 파장(단위: nm)으로 한다.
(제1 호스트 재료 및 제2 호스트 재료)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 호스트 재료 및 제2 호스트 재료는, 예컨대, 각각 독립적으로 하기 일반식 (1), 일반식 (1X), 일반식 (12X), 일반식 (13X), 일반식 (14X), 일반식 (15X) 또는 일반식 (16X)로 표시되는 제1 화합물, 및 하기 일반식 (2)로 표시되는 제2 화합물 등 중 적어도 어느 하나의 화합물인 것도 바람직하다. 또한, 제1 화합물을 제1 호스트 재료 및 제2 호스트 재료로서 이용할 수도 있고, 이 경우, 제2 호스트 재료로서 이용한 하기 일반식 (1), 하기 일반식 (1X), 일반식 (12X), 일반식 (13X), 일반식 (14X), 일반식 (15X) 또는 일반식 (16X)로 표시되는 화합물을, 편의적으로 제2 화합물이라고 칭하는 경우가 있다.
(제1 화합물)
·일반식 (1)로 표시되는 화합물
[화 83]
(상기 일반식 (1)에 있어서,
R101∼R110은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 할로알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 7∼50의 아랄킬기,
-C(=O)R801로 표시되는 기,
-COOR802로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기, 또는
상기 일반식 (11)로 표시되는 기이고,
단, R101∼R110 중 적어도 하나는, 상기 일반식 (11)로 표시되는 기이며,
상기 일반식 (11)로 표시되는 기가 복수 존재하는 경우, 복수의 상기 일반식 (11)로 표시되는 기는 서로 동일하거나 또는 상이하고,
L101은
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 2가의 복소환기이며,
Ar101은
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
mx는 0, 1, 2, 3, 4 또는 5이며,
L101이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 L101은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
Ar101이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 Ar101은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
상기 일반식 (11) 중의 *는 상기 일반식 (1) 중의 피렌환과의 결합 위치를 나타낸다.)
(본 실시형태에 따른 제1 화합물 중, R901, R902, R903, R904, R905, R906, R907, R801 및 R802는 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이며,
R901이 복수 존재하는 경우, 복수의 R901은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R902가 복수 존재하는 경우, 복수의 R902는 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R903이 복수 존재하는 경우, 복수의 R903은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R904가 복수 존재하는 경우, 복수의 R904는 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R905가 복수 존재하는 경우, 복수의 R905는 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R906이 복수 존재하는 경우, 복수의 R906은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R907이 복수 존재하는 경우, 복수의 R907은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R801이 복수 존재하는 경우, 복수의 R801은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R802가 복수 존재하는 경우, 복수의 R802는 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 상기 일반식 (11)로 표시되는 기는, 하기 일반식 (111)로 표시되는 기인 것이 바람직하다.
[화 84]
(상기 일반식 (111)에 있어서,
X1은 CR123R124, 산소 원자, 황 원자, 또는 NR125이고,
L111 및 L112는 각각 독립적으로
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 2가의 복소환기이며,
ma는 0, 1, 2, 3 또는 4이고,
mb는 0, 1, 2, 3 또는 4이며,
ma+mb는 0, 1, 2, 3 또는 4이고,
Ar101은 상기 일반식 (11)에 있어서의 Ar101과 동일한 의미이며,
R121, R122, R123, R124 및 R125는 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 할로알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 7∼50의 아랄킬기,
-C(=O)R801로 표시되는 기,
-COOR802로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
mc는 3이며,
3개의 R121은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
md는 3이며,
3개의 R122는 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
상기 일반식 (111)로 표시되는 기에 있어서의 하기 일반식 (111a)로 표시되는 고리 구조 중의 탄소 원자 *1∼*8의 위치 중, *1∼*4 중 어느 하나의 위치에 L111이 결합하고, *1∼*4 중 나머지 3개의 위치에 R121이 결합하며, *5∼*8 중 어느 하나의 위치에 L112가 결합하고, *5∼*8 중 나머지 3개의 위치에 R122가 결합한다.
[화 85]
예컨대, 상기 일반식 (111)로 표시되는 기에 있어서, L111이 상기 일반식 (111a)로 표시되는 고리 구조 중의 *2의 탄소 원자의 위치에 결합하고, L112가 상기 일반식 (111a)로 표시되는 고리 구조 중의 *7의 탄소 원자의 위치에 결합하는 경우, 상기 일반식 (111)로 표시되는 기는 하기 일반식 (111b)로 표시된다.
[화 86]
(상기 일반식 (111b)에 있어서,
X1, L111, L112, ma, mb, Ar101, R121, R122, R123, R124 및 R125는 각각 독립적으로 상기 일반식 (111)에 있어서의 X1, L111, L112, ma, mb, Ar101, R121, R122, R123, R124 및 R125와 동일한 의미이며,
복수의 R121은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
복수의 R122는 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 상기 일반식 (111)로 표시되는 기는 상기 일반식 (111b)로 표시되는 기인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, ma는 0, 1 또는 2이며, mb는 0, 1 또는 2인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, ma는 0 또는 1이며, mb는 0 또는 1인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, Ar101은 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, Ar101은 치환 혹은 무치환의 페닐기, 치환 혹은 무치환의 나프틸기, 치환 혹은 무치환의 비페닐기, 치환 혹은 무치환의 터페닐기, 치환 혹은 무치환의 피레닐기, 치환 혹은 무치환의 페난트릴기, 또는 치환 혹은 무치환의 플루오레닐기인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, Ar101은 하기 일반식 (12), 일반식 (13) 또는 일반식 (14)로 표시되는 기인 것도 바람직하다.
[화 87]
(상기 일반식 (12), 일반식 (13) 및 일반식 (14)에 있어서,
R111∼R120은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 할로알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 7∼50의 아랄킬기,
-C(=O)R124로 표시되는 기,
-COOR125로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이며,
상기 일반식 (12), 일반식 (13) 및 일반식 (14) 중의 *는 상기 일반식 (11) 중의 L101과의 결합 위치, 또는 상기 일반식 (111) 혹은 일반식 (111b) 중의 L112와의 결합 위치를 나타낸다.)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 상기 제1 화합물은 하기 일반식 (101)로 표시되는 것이 바람직하다.
[화 88]
(상기 일반식 (101)에 있어서,
R101∼R120은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 할로알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 7∼50의 아랄킬기,
-C(=O)R801로 표시되는 기,
-COOR802로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이며,
단, R101∼R110 중 하나가 L101과의 결합 위치를 나타내고, R111∼R120 중 하나가 L101과의 결합 위치를 나타내며,
L101은
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 2가의 복소환기이고,
mx는 0, 1, 2, 3, 4 또는 5이며,
L101이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 L101은 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, L101은 단일 결합, 또는 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴렌기인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 화합물은, 하기 일반식 (102)로 표시되는 것이 바람직하다.
[화 89]
(상기 일반식 (102)에 있어서,
R101∼R120은 각각 독립적으로 상기 일반식 (101)에 있어서의 R101∼R120과 동일한 의미이며,
단, R101∼R110 중 하나가 L111과의 결합 위치를 나타내고, R111∼R120 중 하나가 L112와의 결합 위치를 나타내며,
X1은 CR123R124, 산소 원자, 황 원자, 또는 NR125이고,
L111 및 L112는 각각 독립적으로
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 2가의 복소환기이며,
ma는 0, 1, 2, 3 또는 4이고,
mb는 0, 1, 2, 3 또는 4이며,
ma+mb는 0, 1, 2, 3 또는 4이고,
R121, R122, R123, R124 및 R125는 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 할로알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 7∼50의 아랄킬기,
-C(=O)R801로 표시되는 기,
-COOR802로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이며,
mc는 3이고,
3개의 R121은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
md는 3이고,
3개의 R122는 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
상기 일반식 (102)로 표시되는 화합물에 있어서, ma는 0, 1 또는 2이며, mb는 0, 1 또는 2인 것이 바람직하다.
상기 일반식 (102)로 표시되는 화합물에 있어서, ma는 0 또는 1이고, mb는 0 또는 1인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, R101∼R110 중 2개 이상이, 상기 일반식 (11)로 표시되는 기인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, R101∼R110 중 2개 이상이, 상기 일반식 (11)로 표시되는 기이고, 또한, Ar101은 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, Ar101은 치환 혹은 무치환의 피레닐기가 아니고, L101은 치환 혹은 무치환의 피레닐렌기가 아니며, 상기 일반식 (11)로 표시되는 기가 아닌 R101∼R110으로서의 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기는, 치환 혹은 무치환의 피레닐기가 아닌 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 상기 일반식 (11)로 표시되는 기가 아닌 R101∼R110은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기, 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기, 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는 치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 상기 일반식 (11)로 표시되는 기가 아닌 R101∼R110은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기, 또는 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 상기 일반식 (11)로 표시되는 기가 아닌 R101∼R110은 수소 원자인 것이 바람직하다.
·일반식 (1X)로 표시되는 화합물
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 화합물은, 하기 일반식 (1X)로 표시되는 화합물인 것도 바람직하다.
[화 90]
(상기 일반식 (1X)에 있어서,
R101∼R112는 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 할로알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 7∼50의 아랄킬기,
-C(=O)R801로 표시되는 기,
-COOR802로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기, 또는
상기 일반식 (11X)로 표시되는 기이고,
단, R101∼R112 중 적어도 하나는 상기 일반식 (11X)로 표시되는 기이며,
상기 일반식 (11X)로 표시되는 기가 복수 존재하는 경우, 복수의 상기 일반식 (11X)로 표시되는 기는 서로 동일하거나 또는 상이하고,
L101은
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 2가의 복소환기이며,
Ar101은
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
mx는 1, 2, 3, 4 또는 5이며,
L101이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 L101은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
Ar101이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 Ar101은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
상기 일반식 (11X) 중의 *는 상기 일반식 (1X) 중의 벤즈[a]안트라센환과의 결합 위치를 나타낸다.)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 상기 일반식 (11X)로 표시되는 기는, 하기 일반식 (111X)로 표시되는 기인 것이 바람직하다.
[화 91]
(상기 일반식 (111X)에 있어서,
X1은 CR143R144, 산소 원자, 황 원자, 또는 NR145이고,
L111 및 L112는 각각 독립적으로
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 2가의 복소환기이며,
ma는 1, 2, 3 또는 4이고,
mb는 1, 2, 3 또는 4이며,
ma＋mb는 2, 3 또는 4이고,
Ar101은 상기 일반식 (11X)에 있어서의 Ar101과 동일한 의미이며,
R141, R142, R143, R144 및 R145는 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 할로알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 7∼50의 아랄킬기,
-C(=O)R801로 표시되는 기,
-COOR802로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
mc는 3이며,
3개의 R141은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
md는 3이며,
3개의 R142는 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
상기 일반식 (111X)로 표시되는 기에 있어서의 하기 일반식 (111aX)로 표시되는 고리 구조 중의 탄소 원자 *1∼*8의 위치 중, *1∼*4 중 어느 하나의 위치에 L111이 결합하고, *1∼*4 중 나머지 3개의 위치에 R141이 결합하며, *5∼*8 중 어느 하나의 위치에 L112가 결합하고, *5∼*8 중 나머지 3개의 위치에 R142가 결합한다.
[화 92]
예컨대, 상기 일반식 (111X)로 표시되는 기에 있어서, L111이 상기 일반식 (111aX)로 표시되는 고리 구조 중의 *2의 탄소 원자의 위치에 결합하고, L112가 상기 일반식 (111aX)로 표시되는 고리 구조 중의 *7의 탄소 원자의 위치에 결합하는 경우, 상기 일반식 (111X)로 표시되는 기는 하기 일반식 (111bX)로 표시된다.
[화 93]
(상기 일반식 (111bX)에 있어서, X1, L111, L112, ma, mb, Ar101, R141, R142, R143, R144 및 R145는 각각 독립적으로 상기 일반식 (111X)에 있어서의 X1, L111, L112, ma, mb, Ar101, R141, R142, R143, R144 및 R145와 동일한 의미이고,
복수의 R141은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
복수의 R142는 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 상기 일반식 (111X)로 표시되는 기는 상기 일반식 (111bX)로 표시되는 기인 것이 바람직하다.
상기 일반식 (1X)로 표시되는 화합물에 있어서, ma는 1 또는 2이고, mb는 1 또는 2인 것이 바람직하다.
상기 일반식 (1X)로 표시되는 화합물에 있어서, ma는 1이고, mb는 1인 것이 바람직하다.
상기 화학식 (1X)로 표시되는 화합물에 있어서, Ar101은 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기인 것이 바람직하다.
상기 일반식 (1X)로 표시되는 화합물에 있어서, Ar101은 치환 혹은 무치환의 페닐기, 치환 혹은 무치환의 나프틸기, 치환 혹은 무치환의 비페닐기, 치환 혹은 무치환의 터페닐기, 치환 혹은 무치환의 벤즈[a]안트릴기, 치환 혹은 무치환의 피레닐기, 치환 혹은 무치환의 페난트릴기, 또는 치환 혹은 무치환의 플루오레닐기인 것이 바람직하다.
상기 일반식 (1X)로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (101X)로 표시되는 것도 바람직하다.
[화 94]
(상기 일반식 (101X)에 있어서,
R111 및 R112 중 하나가 L101과의 결합 위치를 나타내고, R133 및 R134 중 하나가 L101과의 결합 위치를 나타내며,
R101∼R110, R121∼R130, L101과의 결합 위치가 아닌 R111 또는 R112, 그리고 L101과의 결합 위치가 아닌 R133 또는 R134는 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 할로알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 7∼50의 아랄킬기,
-C(=O)R801로 표시되는 기,
-COOR802로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
L101은
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 2가의 복소환기이며,
mx는 1, 2, 3, 4 또는 5이고,
L101이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 L101은 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
상기 화학식 (1X)로 표시되는 화합물에 있어서, L101은 단일 결합, 또는 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴렌기인 것이 바람직하다.
상기 일반식 (1X)로 표시되는 화합물은, 하기 일반식 (102X)로 표시되는 것도 바람직하다.
[화 95]
(상기 일반식 (102X)에 있어서,
R111 및 R112 중 하나가 L111과의 결합 위치를 나타내고, R133 및 R134 중 하나가 L112와의 결합 위치를 나타내며,
R101∼R110, R121∼R130, L111과의 결합 위치가 아닌 R111 또는 R112 그리고 L112와의 결합 위치가 아닌 R133 또는 R134는 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 할로알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 7∼50의 아랄킬기,
-C(=O)R801로 표시되는 기,
-COOR802로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
X1은 CR143R144, 산소 원자, 황 원자, 또는 NR145이며,
L111 및 L112는 각각 독립적으로
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 2가의 복소환기이고,
ma는 1, 2, 3 또는 4이며,
mb는 1, 2, 3 또는 4이고,
ma＋mb은 2, 3, 4 또는 5이며,
R141, R142, R143, R144 및 R145는 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 할로알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 7∼50의 아랄킬기,
-C(=O)R801로 표시되는 기,
-COOR802로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
mc는 3이며,
3개의 R141은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
md는 3이며,
3개의 R142는 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
상기 일반식 (1X)로 표시되는 화합물에 있어서, 상기 일반식 (102X) 중의 ma는 1 또는 2이고, mb는 1 또는 2인 것이 바람직하다.
상기 일반식 (1X)로 표시되는 화합물에 있어서, 상기 일반식 (102X) 중의 ma는 1이고, mb는 1인 것이 바람직하다.
상기 일반식 (1X)로 표시되는 화합물에 있어서, 상기 일반식 (11X)로 표시되는 기는, 하기 일반식 (11AX)로 표시되는 기, 또는 하기 일반식 (11BX)로 표시되는 기인 것도 바람직하다.
[화 96]
(상기 일반식 (11AX) 및 상기 일반식 (11BX)에 있어서,
R121∼R131은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 할로알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 7∼50의 아랄킬기,
-C(=O)R801로 표시되는 기,
-COOR802로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이며,
상기 일반식 (11AX)로 표시되는 기가 복수 존재하는 경우, 복수의 상기 일반식 (11AX)로 표시되는 기는 서로 동일하거나 또는 상이하고,
상기 일반식 (11BX)로 표시되는 기가 복수 존재하는 경우, 복수의 상기 일반식 (11BX)로 표시되는 기는 서로 동일하거나 또는 상이하며,
L131 및 L132는 각각 독립적으로
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 2가의 복소환기이고,
상기 일반식 (11AX) 및 상기 일반식 (11BX) 중의 *는 각각 상기 일반식 (1X) 중의 벤즈[a]안트라센환과의 결합 위치를 나타낸다.)
상기 일반식 (1X)로 표시되는 화합물은, 하기 일반식 (103X)로 표시되는 것도 바람직하다.
[화 97]
(상기 일반식 (103X)에 있어서,
R101∼R110 그리고 R112는 각각 상기 일반식 (1X)에 있어서의 R101∼R110 그리고 R112와 동일한 의미이고,
R121∼R131, L131 및 L132는 각각 상기 일반식 (11BX)에 있어서의 R121∼R131, L131 및 L132와 동일한 의미이다.)
상기 화학식 (1X)로 표시되는 화합물에 있어서, L131은 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴렌기인 것도 바람직하다.
상기 화학식 (1X)로 표시되는 화합물에 있어서, L132는 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴렌기인 것도 바람직하다.
상기 일반식 (1X)로 표시되는 화합물에 있어서, R101∼R112 중 2개 이상이 상기 일반식 (11)로 표시되는 기인 것도 바람직하다.
본 화학식 (1X)로 표시되는 화합물에 있어서, R101∼R112 중 2개 이상이 상기 화학식 (11X)로 표시되는 기이고, 화학식 (11X) 중의 Ar101은 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기인 것이 바람직하다.
상기 일반식 (1X)로 표시되는 화합물에 있어서, Ar101은 치환 혹은 무치환의 벤즈[a]안트릴기가 아니며, L101은 치환 혹은 무치환의 벤즈[a]안트릴렌기가 아니고, 상기 일반식 (11X)로 표시되는 기가 아닌 R101∼R110으로서의 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기는, 치환 혹은 무치환의 벤즈[a]안트릴기가 아닌 것도 바람직하다.
상기 일반식 (1X)로 표시되는 화합물에 있어서, 상기 일반식 (11X)로 표시되는 기가 아닌 R101∼R112는 각각 독립적으로 수소 원자, 치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기, 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기, 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는 치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기인 것이 바람직하다.
상기 화학식 (1X)로 표시되는 화합물에 있어서, 상기 화학식 (11X)로 표시되는 기가 아닌 R101∼R112는 수소 원자, 치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기, 또는 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기인 것이 바람직하다.
상기 일반식 (1X)로 표시되는 화합물에 있어서, 상기 일반식 (11X)로 표시되는 기가 아닌 R101∼R112는 수소 원자인 것이 바람직하다.
·일반식 (12X)로 표시되는 화합물
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 화합물은, 하기 일반식 (12X)로 표시되는 화합물인 것도 바람직하다.
[화 98]
(상기 일반식 (12X)에 있어서,
R1201∼R1210 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나, 또는
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하고,
상기 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하지 않으며, 또한 및 상기 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하지 않는 R1201∼R1210은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 할로알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 7∼50의 아랄킬기,
-C(=O)R801로 표시되는 기,
-COOR802로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기, 또는
상기 일반식 (121)로 표시되는 기이고,
단, 상기 치환 혹은 무치환의 단환이 치환기를 갖는 경우의 이 치환기, 상기 치환 혹은 무치환의 축합환이 치환기를 갖는 경우의 이 치환기, 그리고 R1201∼R1210 중 적어도 하나가 상기 일반식 (121)로 표시되는 기이며,
상기 일반식 (121)로 표시되는 기가 복수 존재하는 경우, 복수의 상기 일반식 (121)로 표시되는 기는 서로 동일하거나 또는 상이하고,
L1201은
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 2가의 복소환기이며,
Ar1201은
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
mx2는 0, 1, 2, 3, 4 또는 5이며,
L1201이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 L1201은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
Ar1201이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 Ar1201은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
상기 일반식 (121) 중의 *는 상기 일반식 (12X)로 표시되는 고리와의 결합 위치를 나타낸다.)
상기 일반식 (12X)에 있어서, R1201∼R1210 중 인접한 2개로 이루어지는 조란, R1201과 R1202의 조, R1202와 R1203의 조, R1203과 R1204의 조, R1204와 R1205의 조, R1205와 R1206의 조, R1207과 R1208의 조, R1208과 R1209의 조, 그리고 R1209와 R1210의 조이다.
·일반식 (13X)로 표시되는 화합물
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 화합물은, 하기 일반식 (13X)로 표시되는 화합물인 것도 바람직하다.
[화 99]
(상기 일반식 (13X)에 있어서,
R1301∼R1310은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 할로알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 7∼50의 아랄킬기,
-C(=O)R801으로 표시되는 기,
-COOR802로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기, 또는
상기 일반식 (131)로 표시되는 기이고,
단, R1301∼R1310 중 적어도 하나는 상기 일반식 (131)로 표시되는 기이며,
상기 일반식 (131)로 표시되는 기가 복수 존재하는 경우, 복수의 상기 일반식 (131)로 표시되는 기는 서로 동일하거나 또는 상이하고,
L1301은
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 2가의 복소환기이며,
Ar1301은,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
mx3은 0, 1, 2, 3, 4 또는 5이며,
L1301이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 L1301은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
Ar1301이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 Ar1301은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
상기 일반식 (131) 중의 *는 상기 일반식 (13X) 중의 플루오란텐환과의 결합 위치를 나타낸다.)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 상기 일반식 (131)로 표시되는 기가 아닌 R1301∼R1310 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조는 모두 서로 결합하지 않는다. 상기 일반식 (13X)에 있어서 인접한 2개로 이루어지는 조란, R1301과 R1302의 조, R1302와 R1303의 조, R1303과 R1304의 조, R1304와 R1305의 조, R1305와 R1306의 조, R1307과 R1308의 조, R1308과 R1309의 조, 그리고 R1309와 R1310의 조이다.
·일반식 (14X)로 표시되는 화합물
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 화합물은, 하기 일반식 (14X)로 표시되는 화합물인 것도 바람직하다.
[화 100]
(상기 일반식 (14X)에 있어서,
R1401∼R1410은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 할로알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 7∼50의 아랄킬기,
-C(=O)R801로 표시되는 기,
-COOR802로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기, 또는
상기 일반식 (141)로 표시되는 기이고,
단, R1401∼R1410 중 적어도 하나는 상기 일반식 (141)로 표시되는 기이며,
상기 일반식 (141)로 표시되는 기가 복수 존재하는 경우, 복수의 상기 일반식 (141)로 표시되는 기는 서로 동일하거나 또는 상이하고,
L1401은
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 2가의 복소환기이며,
Ar1401은
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이며,
mx4는 0, 1, 2, 3, 4 또는 5이고,
L1401이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 L1401은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
Ar1401이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 Ar1401은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
상기 일반식 (141) 중의 *는 상기 일반식 (14X)로 표시되는 고리와의 결합 위치를 나타낸다.)
·일반식 (15X)로 표시되는 화합물
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 화합물은, 하기 일반식 (15X)로 표시되는 화합물인 것도 바람직하다.
[화 101]
(상기 일반식 (15X)에 있어서,
R1501∼R1514는 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 할로알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 7∼50의 아랄킬기,
-C(=O)R801로 표시되는 기,
-COOR802로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기, 또는
상기 일반식 (151)로 표시되는 기이고,
단, R1501∼R1514 중 적어도 하나는 상기 일반식 (151)로 표시되는 기이며,
상기 일반식 (151)로 표시되는 기가 복수 존재하는 경우, 복수의 상기 일반식 (151)로 표시되는 기는 서로 동일하거나 또는 상이하고,
L1501은
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 2가의 복소환기이며,
Ar1501은
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
mx5는 0, 1, 2, 3, 4 또는 5이며,
L1501이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 L1501은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
Ar1501이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 Ar1501은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
상기 일반식 (151) 중의 *는 상기 일반식 (15X)로 표시되는 고리와의 결합 위치를 나타낸다.)
·일반식 (16X)로 표시되는 화합물
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 화합물은, 하기 일반식 (16X)로 표시되는 화합물인 것도 바람직하다.
[화 102]
(상기 일반식 (16X)에 있어서,
R1601∼R1614는 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 할로알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 7∼50의 아랄킬기,
-C(=O)R801로 표시되는 기,
-COOR802로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기, 또는
상기 일반식 (161)로 표시되는 기이고,
단, R1601∼R1614 중 적어도 하나는 상기 일반식 (161)로 표시되는 기이며,
상기 일반식 (161)로 표시되는 기가 복수 존재하는 경우, 복수의 상기 일반식 (161)로 표시되는 기는 서로 동일하거나 또는 상이하고,
L1601은
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 2가의 복소환기이며,
Ar1601은
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이며,
mx6은 0, 1, 2, 3, 4 또는 5이고,
L1601이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 L1601은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
Ar1601이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 Ar1601은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
상기 일반식 (161) 중의 *는 상기 일반식 (16X)로 표시되는 고리와의 결합 위치를 나타낸다.)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 호스트 재료는, 분자 중에, 단일 결합으로 연결된 벤젠환과 나프탈렌환을 포함하는 연결 구조를 가지며, 상기 연결 구조 중의 벤젠환 및 나프탈렌환에는 각각 독립적으로 단환 또는 축합환이 더 축합되어 있거나 또는 축합되어 있지 않고, 상기 연결 구조 중의 벤젠환과 나프탈렌환이, 상기 단일 결합 이외의 적어도 하나의 부분에 있어서 가교에 의해 더 연결되어 있는 것도 바람직하다.
제1 호스트 재료가, 이와 같은 가교를 포함한 연결 구조를 갖고 있음으로써, 유기 EL 소자의 색도 악화의 억제를 기대할 수 있다.
이 경우의 제1 호스트 재료는, 분자 중에, 하기 식 (X1) 또는 식 (X2)로 표시되는 바와 같은, 단일 결합으로 연결된 벤젠환과 나프탈렌환을 포함하는 연결 구조(벤젠-나프탈렌 연결 구조라고 칭하는 경우가 있음)를 최소 단위로서 갖고 있으면 좋고, 상기 벤젠환에 단환 또는 축합환이 더 축합되어 있어도 좋으며, 상기 나프탈렌환에 단환 또는 축합환이 더 축합되어 있어도 좋다. 예컨대, 제1 호스트 재료가, 분자 중에, 하기 식 (X3), 식 (X4), 또는 식 (X5)로 표시되는 바와 같은, 단일 결합으로 연결된 나프탈렌환과 나프탈렌환을 포함하는 연결 구조(나프탈렌-나프탈렌 연결 구조라고 칭하는 경우가 있음)에 있어서도, 한쪽 나프탈렌환은, 벤젠환을 포함하고 있기 때문에, 벤젠-나프탈렌 연결 구조를 포함하고 있는 것이 된다.
[화 103]
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 상기 가교가 이중 결합을 포함하는 것도 바람직하다. 즉, 상기 벤젠환과 상기 나프탈렌환이, 단일 결합 이외의 부분에 있어서 이중 결합을 포함하는 가교 구조에 의해 더 연결된 구조를 갖는 것도 바람직하다.
벤젠-나프탈렌 연결 구조 중의 벤젠환과 나프탈렌환이, 단일 결합 이외의 적어도 하나의 부분에 있어서 가교에 의해 더 연결되면, 예컨대, 상기 식 (X1)의 경우, 하기 식 (X11)로 표시되는 연결 구조(축합환)가 되고, 상기 식 (X3)의 경우, 하기 식 (X31)로 표시되는 연결 구조(축합환)가 된다.
벤젠-나프탈렌 연결 구조 중의 벤젠환과 나프탈렌환이, 단일 결합 이외의 부분에 있어서 이중 결합을 포함하는 가교에 의해 더 연결되면, 예컨대, 상기 식 (X1)의 경우, 하기 식 (X12)로 표시되는 연결 구조(축합환)가 되고, 상기 식 (X2)의 경우, 하기 식 (X21) 또는 식 (X22)로 표시되는 연결 구조(축합환)가 되며, 상기 식 (X4)의 경우, 하기 식 (X41)로 표시되는 연결 구조(축합환)가 되고, 상기 식 (X5)의 경우, 하기 식 (X51)로 표시되는 연결 구조(축합환)가 된다.
벤젠-나프탈렌 연결 구조 중의 벤젠환과 나프탈렌환이, 단일 결합 이외의 적어도 하나의 부분에 있어서 헤테로 원자(예컨대, 산소 원자)를 포함하는 가교에 의해 더 연결되면, 예컨대, 상기 식 (X1)의 경우, 하기 식 (X13)으로 표시되는 연결 구조(축합환)가 된다.
[화 104]
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 호스트 재료는, 분자 중에, 제1 벤젠환과 제2 벤젠환이 단일 결합으로 연결된 비페닐 구조를 가지며, 상기 비페닐 구조 중의 제1 벤젠환과 제2 벤젠환이 상기 단일 결합 이외의 적어도 하나의 부분에 있어서 가교에 의해 더 연결되어 있는 것도 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 상기 비페닐 구조 중의 제1 벤젠환과 제2 벤젠환이, 상기 단일 결합 이외의 하나의 부분에 있어서 상기 가교에 의해 더 연결되어 있는 것도 바람직하다. 제1 호스트 재료가, 이와 같은 가교를 포함한 비페닐 구조를 갖고 있음으로써, 유기 EL 소자의 색도 악화의 억제를 기대할 수 있다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 상기 가교가 이중 결합을 포함하는 것도 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 상기 가교가 이중 결합을 포함하지 않는 것도 바람직하다.
상기 비페닐 구조 중의 제1 벤젠환과 제2 벤젠환이, 상기 단일 결합 이외의 2개의 부분에 있어서 상기 가교에 의해 더 연결되어 있는 것도 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 상기 비페닐 구조 중의 제1 벤젠환과 제2 벤젠환이, 상기 단일 결합 이외의 2개의 부분에 있어서 상기 가교에 의해 더 연결되고, 상기 가교가 이중 결합을 포함하지 않는 것도 바람직하다. 제1 호스트 재료가, 이와 같은 가교를 포함한 비페닐 구조를 갖고 있음으로써, 유기 EL 소자의 색도 악화의 억제를 기대할 수 있다.
예컨대, 하기 식 (BP1)로 표시되는 상기 비페닐 구조 중의 제1 벤젠환과 제2 벤젠환이, 단일 결합 이외의 적어도 하나의 부분에 있어서 가교에 의해 더 연결되면, 상기 비페닐 구조는, 하기 식 (BP11)∼(BP15) 등의 연결 구조(축합환)가 된다.
[화 105]
상기 식 (BP11)은 상기 단일 결합 이외의 하나의 부분에 있어서 이중 결합을 포함하지 않는 가교에 의해 연결한 구조이다.
상기 식 (BP12)는 상기 단일 결합 이외의 하나의 부분에 있어서 이중 결합을 포함하는 가교에 의해 연결한 구조이다.
상기 식 (BP13)은 상기 단일 결합 이외의 2개의 부분에 있어서 이중 결합을 포함하지 않는 가교에 의해 연결한 구조이다.
상기 식 (BP14)는 상기 단일 결합 이외의 2개의 부분 중 한쪽에 있어서 이중 결합을 포함하지 않는 가교에 의해 연결하고, 상기 단일 결합 이외의 2개의 부분 중 다른 쪽에 있어서 이중 결합을 포함하는 가교에 의해 연결한 구조이다.
상기 식 (BP15)는 상기 단일 결합 이외의 2개의 부분에 있어서 이중 결합을 포함하는 가교에 의해 연결한 구조이다.
제1 화합물 및 제2 화합물에 있어서, 「치환 혹은 무치환」이라고 기재된 기는 모두 「무치환」의 기인 것이 바람직하다.
(제1 화합물의 제조 방법)
제1 화합물은 공지된 방법에 의해 제조할 수 있다. 또한, 제1 화합물은, 공지된 방법에 따라, 목적물에 맞춘 기지의 대체 반응 및 원료를 이용함으로써도 제조할 수 있다.
(제1 화합물의 구체예)
제1 화합물의 구체예로서는, 예컨대, 이하의 화합물을 들 수 있다. 단, 본 발명은, 이들 제1 화합물의 구체예에 한정되지 않는다.
본 명세서에 있어서, 화합물의 구체예 중, D는 중수소 원자를 나타내고, Me는 메틸기를 나타내며, tBu은 tert-부틸기를 나타낸다.
[화 106]
[화 107]
[화 108]
[화 109]
[화 110]
[화 111]
[화 112]
[화 113]
[화 114]
[화 115]
[화 116]
[화 117]
[화 118]
[화 119]
[화 120]
[화 121]
[화 122]
[화 123]
[화 124]
[화 125]
[화 126]
[화 127]
[화 128]
[화 129]
[화 130]
[화 131]
[화 132]
[화 133]
[화 134]
[화 135]
[화 136]
[화 137]
[화 138]
[화 139]
[화 140]
[화 141]
[화 142]
[화 143]
[화 144]
[화 145]
[화 146]
[화 147]
[화 148]
[화 149]
[화 150]
[화 151]
[화 152]
[화 153]
[화 154]
[화 155]
[화 156]
[화 157]
[화 158]
[화 159]
[화 160]
[화 161]
[화 162]
[화 163]
[화 164]
[화 165]
[화 166]
[화 167]
[화 168]
[화 169]
[화 170]
[화 171]
[화 172]
[화 173]
[화 174]
[화 175]
[화 176]
[화 177]
[화 178]
[화 179]
[화 180]
[화 181]
[화 182]
[화 183]
[화 184]
[화 185]
[화 186]
[화 187]
[화 188]
[화 189]
[화 190]
[화 191]
[화 192]
[화 193]
[화 194]
[화 195]
(제2 화합물)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제2 화합물은, 하기 일반식 (2)로 표시되는 화합물이다.
[화 196]
(상기 일반식 (2)에 있어서,
R201∼R208은 각각 독립적으로
수소 원자
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 할로알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 7∼50의 아랄킬기,
-C(=O)R801로 표시되는 기,
-COOR802로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
L201 및 L202는 각각 독립적으로
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 2가의 복소환기이며,
Ar201 및 Ar202는 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.)
(본 실시형태에 따른 제2 화합물 중, R901, R902, R903, R904, R905, R906, R907, R801 및 R802는 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이며,
R901이 복수 존재하는 경우, 복수의 R901은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R902가 복수 존재하는 경우, 복수의 R902는 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R903이 복수 존재하는 경우, 복수의 R903은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R904가 복수 존재하는 경우, 복수의 R904는 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R905가 복수 존재하는 경우, 복수의 R905는 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R906이 복수 존재하는 경우, 복수의 R906은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R907이 복수 존재하는 경우, 복수의 R907은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R801이 복수 존재하는 경우, 복수의 R801은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R802가 복수 존재하는 경우, 복수의 R802는 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서,
R201∼R208은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 할로알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 7∼50의 아랄킬기,
-C(=O)R801로 표시되는 기,
-COOR802로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기, 또는
니트로기이고,
L201 및 L202는 각각 독립적으로
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 2가의 복소환기이며,
Ar201 및 Ar202는 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, L201 및 L202는 각각 독립적으로 단일 결합, 또는 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴렌기이고, Ar201 및 Ar202는 각각 독립적으로 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, Ar201 및 Ar202는 각각 독립적으로 페닐기, 나프틸기, 페난트릴기, 비페닐기, 터페닐기, 디페닐플루오레닐기, 디메틸플루오레닐기, 벤조디페닐플루오레닐기, 벤조디메틸플루오레닐기, 디벤조푸라닐기, 디벤조티에닐기, 나프토벤조푸라닐기, 또는 나프토벤조티에닐기인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 상기 일반식 (2)로 표시되는 제2 화합물은, 하기 일반식 (201), 일반식 (202), 일반식 (203), 일반식 (204), 일반식 (205), 일반식 (206), 일반식 (207), 일반식 (208) 또는 일반식 (209)로 표시되는 화합물인 것이 바람직하다.
[화 197]
[화 198]
[화 199]
[화 200]
[화 201]
[화 202]
[화 203]
[화 204]
[화 205]
(상기 일반식 (201)∼(209) 중,
L201 및 Ar201은 상기 일반식 (2)에 있어서의 L201 및 Ar201과 동일한 의미이고,
R201∼R208은 각각 독립적으로 상기 일반식 (2)에 있어서의 R201∼R208과 동일한 의미이다.)
상기 일반식 (2)로 표시되는 제2 화합물은, 하기 일반식 (221), 일반식 (222), 일반식 (223), 일반식 (224), 일반식 (225), 일반식 (226), 일반식 (227), 일반식 (228) 또는 일반식 (229)로 표시되는 화합물인 것도 바람직하다.
[화 206]
[화 207]
[화 208]
[화 209]
[화 210]
[화 211]
[화 212]
[화 213]
[화 214]
(상기 일반식 (221), 일반식 (222), 일반식 (223), 일반식 (224), 일반식 (225), 일반식 (226), 일반식 (227), 일반식 (228) 및 일반식 (229)에 있어서,
R201 그리고 R203∼R208은 각각 독립적으로 상기 일반식 (2)에 있어서의 R201 그리고 R203∼R208과 동일한 의미이며,
L201 및 Ar201은 각각 상기 일반식 (2)에 있어서의 L201 및 Ar201과 동일한 의미이고,
L203은 상기 일반식 (2)에 있어서의 L201과 동일한 의미이며,
L203과 L201은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
Ar203은 상기 일반식 (2)에 있어서의 Ar201과 동일한 의미이며,
Ar203과 Ar201은 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
상기 일반식 (2)로 표시되는 제2 화합물은, 하기 일반식 (241), 일반식 (242), 일반식 (243), 일반식 (244), 일반식 (245), 일반식 (246), 일반식 (247), 일반식 (248) 또는 일반식 (249)로 표시되는 화합물인 것도 바람직하다.
[화 215]
[화 216]
[화 217]
[화 218]
[화 219]
[화 220]
[화 221]
[화 222]
[화 223]
(상기 일반식 (241), 일반식 (242), 일반식 (243), 일반식 (244), 일반식 (245), 일반식 (246), 일반식 (247), 일반식 (248) 및 일반식 (249)에 있어서,
R201, R202 그리고 R204∼R208은 각각 독립적으로 상기 일반식 (2)에 있어서의 R201, R202 그리고 R204∼R208과 동일한 의미이고,
L201 및 Ar201은 각각 상기 일반식 (2)에 있어서의 L201 및 Ar201과 동일한 의미이며,
L203은 상기 일반식 (2)에 있어서의 L201과 동일한 의미이고,
L203과 L201은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
Ar203은 상기 일반식 (2)에 있어서의 Ar201과 동일한 의미이고,
Ar203과 Ar201은 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
상기 일반식 (2)로 표시되는 제2 화합물 중, R201∼R208은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기, 또는
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기인 것이 바람직하다.
L101은
단일 결합, 또는
무치환의 고리 형성 탄소수 6∼22의 아릴렌기이고,
Ar101은 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼22의 아릴기인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 상기 일반식 (2)로 표시되는 제2 화합물 중, 안트라센 골격의 치환기인 R201∼R208은 분자간의 상호 작용이 억제되는 것을 막고, 전자 이동도의 저하를 억제한다는 점에서 수소 원자인 것이 바람직하지만, R201∼R208은 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는 치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기여도 좋다.
R201∼R208이 알킬기 및 시클로알킬기 등의 부피가 큰 치환기가 된 경우, 분자간의 상호 작용이 억제되고, 제1 호스트 재료에 대하여 전자 이동도가 저하되어, 상기 수식(수 30)에 기재된 μe(H2)>μe(H1)의 관계를 충족시키지 못하게 될 우려가 있다. 제2 화합물을 제2 발광층에 이용한 경우에는, μe(H2)>μe(H1)의 관계를 충족시킴으로써 제1 발광층에서의 홀과 전자의 재결합능의 저하, 및 발광 효율의 저하를 억제하는 것을 기대할 수 있다. 또한, 치환기로서는, 할로알킬기, 알케닐기, 알키닐기, -Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기, -O-(R904)로 표시되는 기, -S-(R905)로 표시되는 기, -N(R906)(R907)로 표시되는 기, 아랄킬기, -C(=O)R801로 표시되는 기, -COOR802로 표시되는 기, 할로겐 원자, 시아노기, 및 니트로기가 부피가 커질 우려가 있고, 알킬기, 및 시클로알킬기가 더욱 부피가 커질 우려가 있다.
상기 일반식 (2)로 표시되는 제2 화합물 중, 안트라센 골격의 치환기인 R201∼R208은 부피가 큰 치환기가 아닌 것이 바람직하고, 알킬기 및 시클로알킬기가 아닌 것이 바람직하며, 알킬기, 시클로알킬기, 할로알킬기, 알케닐기, 알키닐기, -Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기, -O-(R904)로 표시되는 기, -S-(R905)로 표시되는 기, -N(R906)(R907)로 표시되는 기, 아랄킬기, -C(=O)R801로 표시되는 기, -COOR802로 표시되는 기, 할로겐 원자, 시아노기, 및 니트로기가 아닌 것이 보다 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 상기 일반식 (2)로 표시되는 제2 화합물 중, R201∼R208은 각각 독립적으로 수소 원자, 치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기, 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기, 또는 -Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기인 것도 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 상기 일반식 (2)로 표시되는 제2 화합물 중, R201∼R208은 수소 원자인 것이 바람직하다.
제2 화합물 중, R201∼R208에 있어서의 「치환 혹은 무치환의」라고 하는 경우에 있어서의 치환기는, 전술한 부피가 커질 우려가 있는 치환기, 특히 치환 혹은 무치환의 알킬기, 및 치환 혹은 무치환의 시클로알킬기를 포함하지 않는 것도 바람직하다. R201∼R208에 있어서의 「치환 혹은 무치환의」라고 하는 경우에 있어서의 치환기가, 치환 혹은 무치환의 알킬기, 및 치환 혹은 무치환의 시클로알킬기를 포함하지 않음으로써, 알킬기 및 시클로알킬기 등의 부피가 큰 치환기가 존재함에 따른 분자간의 상호 작용이 억제되는 것을 막아, 전자 이동도의 저하를 막을 수 있고, 또한, 이러한 제2 화합물을 제2 발광층에 이용한 경우에는, 제1 발광층에서의 홀과 전자의 재결합능의 저하, 및 발광 효율의 저하를 억제할 수 있다.
안트라센 골격의 치환기인 R201∼R208이 부피가 큰 치환기가 아니라, 치환기로서의 R201∼R208은 무치환인 것이 더욱 바람직하다. 또한, 안트라센 골격의 치환기인 R201∼R208이 부피가 큰 치환기가 아닌 경우에 있어서, 부피가 크지 않은 치환기로서의 R201∼R208에 치환기가 결합하는 경우, 이 치환기도 부피가 큰 치환기가 아닌 것이 바람직하고, 치환기로서의 R201∼R208에 결합하는 상기 치환기는, 알킬기 및 시클로알킬기가 아닌 것이 바람직하며, 알킬기, 시클로알킬기, 할로알킬기, 알케닐기, 알키닐기, -Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기, -O-(R904)로 표시되는 기, -S-(R905)로 표시되는 기, -N(R906)(R907)로 표시되는 기, 아랄킬기, -C(=O)R801로 표시되는 기, -COOR802로 표시되는 기, 할로겐 원자, 시아노기, 및 니트로기가 아닌 것이 보다 바람직하다.
제2 화합물에 있어서, 「치환 혹은 무치환」이라고 기재된 기는 모두 「무치환」의 기인 것이 바람직하다.
(제2 화합물의 제조 방법)
제2 화합물은 공지된 방법에 의해 제조할 수 있다. 또한, 제2 화합물은, 공지된 방법에 따라, 목적물에 맞춘 기지의 대체 반응 및 원료를 이용함으로써도 제조할 수 있다.
(제2 화합물의 구체예)
제2 화합물의 구체예로서는, 예컨대, 이하의 화합물을 들 수 있다. 단, 본 발명은, 이들 제2 화합물의 구체예에 한정되지 않는다.
[화 224]
[화 225]
[화 226]
[화 227]
[화 228]
[화 229]
[화 230]
[화 231]
[화 232]
[화 233]
[화 234]
[화 235]
[화 236]
[화 237]
[화 238]
[화 239]
[화 240]
[화 241]
[화 242]
[화 243]
[화 244]
[화 245]
[화 246]
[화 247]
[화 248]
(제1 발광성 화합물 및 제2 발광성 화합물)
본 실시형태에 따른 유기 EL 소자에 있어서, 제1 발광성 화합물 및 제2 발광성 화합물로서는, 예컨대, 하기 제3 화합물 및 하기 제4 화합물 등을 들 수 있다.
제3 화합물 및 제4 화합물은 각각 독립적으로 하기 일반식 (3)으로 표시되는 화합물, 하기 일반식 (4)로 표시되는 화합물, 하기 일반식 (5)로 표시되는 화합물, 하기 일반식 (6)으로 표시되는 화합물, 하기 일반식 (7)로 표시되는 화합물, 하기 일반식 (8)로 표시되는 화합물, 하기 일반식 (9)로 표시되는 화합물, 및 하기 일반식 (10)으로 표시되는 화합물로 이루어진 군으로부터 선택되는 1 이상의 화합물이다.
(일반식 (3)으로 표시되는 화합물)
일반식 (3)으로 표시되는 화합물에 대해서 설명한다.
[화 249]
(상기 일반식 (3)에 있어서,
R301∼R310 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않고,
R301∼R310 중 적어도 하나는 하기 일반식 (31)로 표시되는 1가의 기이며,
상기 단환을 형성하지 않고, 상기 축합환을 형성하지 않으며, 또한 하기 일반식 (31)로 표시되는 1가의 기가 아닌 R301∼R310은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.)
[화 250]
(상기 일반식 (31)에 있어서,
Ar301 및 Ar302는 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
L301∼L303은 각각 독립적으로
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼30의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼30의 2가의 복소환기이며,
*는 상기 일반식 (3) 중의 피렌환에 있어서의 결합 위치를 나타낸다.)
제3 화합물 및 제4 화합물 중, R901, R902, R903, R904, R905, R906 및 R907은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
바람직하게는, 치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기이며,
R901이 복수 존재하는 경우, 복수의 R901은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R902가 복수 존재하는 경우, 복수의 R902는 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R903이 복수 존재하는 경우, 복수의 R903은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R904가 복수 존재하는 경우, 복수의 R904는 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R905가 복수 존재하는 경우, 복수의 R905는 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R906이 복수 존재하는 경우, 복수의 R906은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R907이 복수 존재하는 경우, 복수의 R907은 서로 동일하거나 또는 상이하다.
상기 일반식 (3)에 있어서, R301∼R310 중 2개가 상기 일반식 (31)로 표시되는 기인 것이 바람직하다.
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (3)으로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (33)으로 표시되는 화합물이다.
[화 251]
(상기 일반식 (33)에 있어서,
R311∼R318은 각각 독립적으로 상기 일반식 (3)에 있어서의 상기 일반식 (31)로 표시되는 1가의 기가 아닌 R301∼R310과 동일한 의미이며,
L311∼L316은 각각 독립적으로
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼30의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼30의 2가의 복소환기이고,
Ar312, Ar313, Ar315 및 Ar316은 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.)
상기 일반식 (31)에 있어서, L301은 단일 결합인 것이 바람직하고, L302 및 L303은 단일 결합인 것이 바람직하다.
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (3)으로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (34) 또는 일반식 (35)로 표시된다.
[화 252]
(상기 일반식 (34)에 있어서,
R311∼R318은 각각 독립적으로 상기 일반식 (3)에 있어서의 상기 일반식 (31)로 표시되는 1가의 기가 아닌 R301∼R310과 동일한 의미이며,
L312, L313, L315 및 L316은 각각 독립적으로 상기 일반식 (33)에 있어서의 L312, L313, L315 및 L316과 동일한 의미이고,
Ar312, Ar313, Ar315 및 Ar316은 각각 독립적으로 상기 일반식 (33)에 있어서의 Ar312, Ar313, Ar315 및 Ar316과 동일한 의미이다.)
[화 253]
(상기 일반식 (35)에 있어서,
R311∼R318은 각각 독립적으로 상기 일반식 (3)에 있어서의 상기 일반식 (31)로 표시되는 1가의 기가 아닌 R301∼R310과 동일한 의미이며,
Ar312, Ar313, Ar315 및 Ar316은 각각 독립적으로 상기 일반식 (33)에 있어서의 Ar312, Ar313, Ar315 및 Ar316과 동일한 의미이다.)
상기 일반식 (31)에 있어서, 바람직하게는, Ar301 및 Ar302 중 적어도 하나가 하기 일반식 (36)으로 표시되는 기이다.
상기 일반식 (33)∼일반식 (35)에 있어서, 바람직하게는 Ar312 및 Ar313 중 적어도 하나가 하기 일반식 (36)으로 표시되는 기이다.
상기 일반식 (33)∼일반식 (35)에 있어서, 바람직하게는 Ar315 및 Ar316 중 적어도 하나가 하기 일반식 (36)으로 표시되는 기이다.
[화 254]
(상기 일반식 (36)에 있어서,
X3은 산소 원자 또는 황 원자를 나타내고,
R321∼R327 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않으며,
상기 단환을 형성하지 않고, 또한 상기 축합환을 형성하지 않는 R321∼R327은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이며,
*는 L302, L303, L312, L313, L315 또는 L316과의 결합 위치를 나타낸다.)
X3은 산소 원자인 것이 바람직하다.
R321∼R327 중 적어도 하나는,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기인 것이 바람직하다.
상기 일반식 (31)에 있어서, Ar301이 상기 일반식 (36)으로 표시되는 기이고, Ar302가 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기인 것이 바람직하다.
상기 일반식 (33)∼일반식 (35)에 있어서, Ar312가 상기 일반식 (36)으로 표시되는 기이고, Ar313이 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기인 것이 바람직하다.
상기 일반식 (33)∼일반식 (35)에 있어서, Ar315가 상기 일반식 (36)으로 표시되는 기이고, Ar316이 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기인 것이 바람직하다.
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (3)으로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (37)로 표시된다.
[화 255]
(상기 일반식 (37)에 있어서,
R311∼R318은 각각 독립적으로 상기 일반식 (3)에 있어서의 상기 일반식 (31)로 표시되는 1가의 기가 아닌 R301∼R310과 동일한 의미이며,
R321∼R327 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않고,
R341∼R347 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않으며,
상기 단환을 형성하지 않고, 또한 상기 축합환을 형성하지 않는 R321∼R327 그리고 R341∼R347은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이며,
R331∼R335 그리고 R351∼R355는 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
할로겐 원자, 시아노기, 니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.)
(일반식 (3)으로 표시되는 화합물의 구체예)
상기 일반식 (3)으로 표시되는 화합물로서는, 예컨대, 이하에 나타낸 화합물을 구체예로서 들 수 있다.
[화 256]
[화 257]
[화 258]
[화 259]
[화 260]
(일반식 (4)로 표시되는 화합물)
일반식 (4)로 표시되는 화합물에 대해서 설명한다.
[화 261]
(상기 일반식 (4)에 있어서,
Z는 각각 독립적으로 CRa 또는 질소 원자이고,
A1 고리 및 A2 고리는 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 방향족 탄화수소환, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환이며,
Ra가 복수 존재하는 경우, 복수의 Ra 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않고,
n21 및 n22는 각각 독립적으로 0, 1, 2, 3 또는 4이며,
Rb가 복수 존재하는 경우, 복수의 Rb 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않고,
Rc가 복수 존재하는 경우, 복수의 Rc 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않으며,
상기 단환을 형성하지 않고, 또한 상기 축합환을 형성하지 않는 Ra, Rb 및 Rc는 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.)
A1 고리 및 A2 고리의 「방향족 탄화수소환」은 전술한 「아릴기」에 수소 원자를 도입한 화합물과 동일한 구조이다.
A1 고리 및 A2 고리의 「방향족 탄화수소환」은 상기 일반식 (4) 중앙의 축합 2환 구조 상의 탄소 원자 2개를 고리 형성 원자로서 포함한다.
「치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 방향족 탄화수소환」의 구체예로서는, 구체예군 G1에 기재된 「아릴기」에 수소 원자를 도입한 화합물 등을 들 수 있다.
A1 고리 및 A2 고리의 「복소환」은 전술한 「복소환기」에 수소 원자를 도입한 화합물과 동일한 구조이다.
A1 고리 및 A2 고리의 「복소환」은 상기 일반식 (4) 중앙의 축합 2환 구조 상의 탄소 원자 2개를 고리 형성 원자로서 포함한다.
「치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환」의 구체예로서는, 구체예군 G2에 기재된 「복소환기」에 수소 원자를 도입한 화합물 등을 들 수 있다.
Rb는 A1 고리로서의 방향족 탄화수소환을 형성하는 탄소 원자 중 어느 하나, 또는, A1 고리로서의 복소환을 형성하는 원자 중 어느 하나에 결합한다.
Rc는 A2 고리로서의 방향족 탄화수소환을 형성하는 탄소 원자 중 어느 하나, 또는, A2 고리로서의 복소환을 형성하는 원자 중 어느 하나에 결합한다.
Ra, Rb 및 Rc 중 적어도 하나가 하기 일반식 (4a)로 표시되는 기인 것이 바람직하고, 적어도 2개가 하기 일반식 (4a)로 표시되는 기인 것이 보다 바람직하다.
[화 262]
(상기 일반식 (4a)에 있어서,
L401은
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼30의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼30의 2가의 복소환기이며,
Ar401은
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기, 또는
하기 일반식 (4b)로 표시되는 기이다.)
[화 263]
(상기 일반식 (4b)에 있어서,
L402 및 L403은 각각 독립적으로
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼30의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼30의 2가의 복소환기이며,
Ar402 및 Ar403으로 이루어지는 조는
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않고,
상기 단환을 형성하지 않으며, 또한 상기 축합환을 형성하지 않는 Ar402 및 Ar403은 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.)
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (4)로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (42)로 표시된다.
[화 264]
(상기 일반식 (42)에 있어서,
R401∼R411 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않고,
상기 단환을 형성하지 않으며, 또한 상기 축합환을 형성하지 않는 R401∼R411은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.)
R401∼R411 중 적어도 하나가 상기 일반식 (4a)로 표시되는 기인 것이 바람직하고, 적어도 2개가 상기 일반식 (4a)로 표시되는 기인 것이 보다 바람직하다.
R404 및 R411이 상기 일반식 (4a)로 표시되는 기인 것이 바람직하다.
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (4)로 표시되는 화합물은 A1 고리에 하기 일반식 (4-1) 또는 일반식 (4-2)로 표시되는 구조가 결합한 화합물이다.
또한, 일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (42)로 표시되는 화합물은 R404∼R407이 결합하는 고리에 하기 일반식 (4-1) 또는 일반식 (4-2)로 표시되는 구조가 결합한 화합물이다.
[화 265]
(상기 일반식 (4-1)에 있어서, 2개의 *는 각각 독립적으로 상기 일반식 (4)의 A1 고리로서의 방향족 탄화수소환의 고리 형성 탄소 원자 혹은 복소환의 고리 형성 원자와 결합하거나 또는 상기 일반식 (42)의 R404∼R407 중 어느 하나와 결합하고,
상기 일반식 (4-2)의 3개의 *는 각각 독립적으로 상기 일반식 (4)의 A1 고리로서의 방향족 탄화수소환의 고리 형성 탄소 원자 혹은 복소환의 고리 형성 원자와 결합하거나 또는 상기 일반식 (42)의 R404∼R407 중 어느 하나와 결합하며,
R421∼R427 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않고,
R431∼R438 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않으며,
상기 단환을 형성하지 않고, 또한 상기 축합환을 형성하지 않는 R421∼R427 그리고 R431∼R438은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.)
일 실시형태에 있어서는, 상기 일반식 (4)로 표시되는 화합물은, 하기 일반식 (41-3), 일반식 (41-4) 또는 일반식 (41-5)로 표시되는 화합물이다.
[화 266]
[화 267]
[화 268]
(상기 일반식 (41-3), 식 (41-4) 및 식 (41-5) 중,
A1 고리는 상기 일반식 (4)에서 정의한 바와 같고,
R421∼R427은 각각 독립적으로 상기 일반식 (4-1)에 있어서의 R421∼R427과 동일한 의미이며,
R440∼R448은 각각 독립적으로 상기 일반식 (42)에 있어서의 R401∼R411과 동일한 의미이다.)
일 실시형태에 있어서는, 상기 일반식 (41-5)의 A1 고리로서의 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 방향족 탄화수소환은,
치환 혹은 무치환의 나프탈렌환, 또는
치환 혹은 무치환의 플루오렌환이다.
일 실시형태에 있어서는, 상기 일반식 (41-5)의 A1 고리로서의 치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환은,
치환 혹은 무치환의 디벤조푸란환,
치환 혹은 무치환의 카르바졸환, 또는
치환 혹은 무치환의 디벤조티오펜환이다.
일 실시형태에 있어서는, 상기 일반식 (4) 또는 상기 일반식 (42)로 표시되는 화합물은, 하기 일반식 (461)∼일반식 (467)로 표시되는 화합물로 이루어진 군으로부터 선택된다.
[화 269]
[화 270]
[화 271]
[화 272]
[화 273]
(상기 일반식 (461), 일반식 (462), 일반식 (463), 일반식 (464), 일반식 (465), 일반식 (466) 및 일반식 (467) 중,
R421∼R427은 각각 독립적으로 상기 일반식 (4-1)에 있어서의 R421∼R427과 동일한 의미이고,
R431∼R438은 각각 독립적으로 상기 일반식 (4-2)에 있어서의 R431∼R438과 동일한 의미이며,
R440∼R448 그리고 R451∼R454는 각각 독립적으로 상기 일반식 (42)에 있어서의 R401∼R411과 동일한 의미이고,
X4는 산소 원자, NR801, 또는 C(R802)(R803)이며,
R801, R802 및 R803은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
바람직하게는, 치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기이며,
R801이 복수 존재하는 경우, 복수의 R801은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R802가 복수 존재하는 경우, 복수의 R802는 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R803이 복수 존재하는 경우, 복수의 R803은 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (42)로 표시되는 화합물은, R401∼R411 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이 서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나, 또는 서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하며, 당해 실시형태에 관해서, 이하 일반식 (45)로 표시되는 화합물로서 상세히 설명한다.
(일반식 (45)로 표시되는 화합물)
일반식 (45)로 표시되는 화합물에 대해서 설명한다.
[화 274]
(상기 일반식 (45)에 있어서,
R461과 R462로 이루어지는 조, R462와 R463으로 이루어지는 조, R464와 R465로 이루어지는 조, R465와 R466으로 이루어지는 조, R466과 R467로 이루어지는 조, R468과 R469로 이루어지는 조, R469와 R470으로 이루어지는 조, 및, R470과 R471로 이루어지는 조로 이루어진 군으로부터 선택되는 조 중 2 이상은 서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환 또는 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하고,
단,
R461과 R462로 이루어지는 조 및 R462와 R463으로 이루어지는 조;
R464와 R465로 이루어지는 조 및 R465와 R466으로 이루어지는 조;
R465와 R466으로 이루어지는 조 및 R466과 R467로 이루어지는 조;
R468과 R469로 이루어지는 조 및 R469와 R470으로 이루어지는 조; 그리고
R469와 R470으로 이루어지는 조 및 R470과 R471로 이루어지는 조가 동시에 고리를 형성하는 일은 없으며,
R461∼R471이 형성하는 2개 이상의 고리는 서로 동일하거나 또는 상이하고,
상기 단환을 형성하지 않으며, 또한 상기 축합환을 형성하지 않는 R461∼R471은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905), -N(R906)(R907)로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.)
상기 일반식 (45)에 있어서, Rn과 Rn+1(n은 461, 462, 464∼466, 및 468∼470으로부터 선택되는 정수를 나타냄)은 서로 결합하여 Rn과 Rn+1이 결합하는 2개의 고리 형성 탄소 원자와 함께, 치환 혹은 무치환의 단환 또는 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성한다. 당해 고리는, 바람직하게는, 탄소 원자, 산소 원자, 황 원자 및 질소 원자로 이루어진 군으로부터 선택되는 원자로 구성되고, 당해 고리의 원자수는 바람직하게는 3∼7이며, 보다 바람직하게는 5 또는 6이다.
상기 일반식 (45)로 표시되는 화합물에 있어서의 상기한 고리 구조의 수는, 예컨대, 2개, 3개, 또는 4개이다. 2개 이상의 고리 구조는 각각 상기 일반식 (45)의 모골격 상의 동일한 벤젠환 상에 존재하여도 좋고, 상이한 벤젠환 상에 존재하여도 좋다. 예컨대, 고리 구조를 3개 갖는 경우, 상기 일반식 (45)의 3개의 벤젠환의 각각에 하나씩 고리 구조가 존재하여도 좋다.
상기 일반식 (45)로 표시되는 화합물에 있어서의 상기한 고리 구조로서는, 예컨대, 하기 일반식 (451)∼(460)으로 표시되는 구조 등을 들 수 있다.
[화 275]
(상기 일반식 (451)∼(457)에 있어서,
*1과 *2, *3과 *4, *5와 *6, *7과 *8, *9와 *10, *11과 *12 및 *13과 *14 각각은 Rn과 Rn+1이 결합하는 상기 2개의 고리 형성 탄소 원자를 나타내고,
Rn이 결합하는 고리 형성 탄소 원자는 *1과 *2, *3과 *4, *5와 *6, *7과 *8, *9와 *10, *11과 *12 및 *13과 *14가 나타내는 2개의 고리 형성 탄소 원자 중 어느 쪽이어도 좋고,
X45는 C(R4512)(R4513), NR4514, 산소 원자 또는 황 원자이며,
R4501∼R4506 및 R4512∼R4513 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않고,
상기 단환을 형성하지 않으며, 또한 상기 축합환을 형성하지 않는 R4501∼R4514는 각각 독립적으로 상기 일반식 (45)에 있어서의 R461∼R471과 동일한 의미이다.)
[화 276]
(상기 일반식 (458)∼(460)에 있어서,
*1과 *2, 및 *3과 *4 각각은 Rn과 Rn+1이 결합하는 상기 2개의 고리 형성 탄소 원자를 나타내고,
Rn이 결합하는 고리 형성 탄소 원자는 *1과 *2, 또는 *3과 *4가 나타내는 2개의 고리 형성 탄소 원자 중 어느 쪽이어도 좋으며,
X45는 C(R4512)(R4513), NR4514, 산소 원자 또는 황 원자이고,
R4512∼R4513 및 R4515∼R4525 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않으며,
상기 단환을 형성하지 않고, 또한 상기 축합환을 형성하지 않는 R4512∼R4513, R4515∼R4521 및 R4522∼R4525, 그리고 R4514는 각각 독립적으로 상기 일반식 (45)에 있어서의 R461∼R471과 동일한 의미이다.)
상기 일반식 (45)에 있어서, R462, R464, R465, R470 및 R471 중 적어도 하나(바람직하게는 R462, R465 및 R470 중 적어도 하나, 더욱 바람직하게는 R462)가 고리 구조를 형성하지 않는 기이면 바람직하다.
(i) 상기 일반식 (45)에 있어서, Rn과 Rn+1에 의해 형성되는 고리 구조가 치환기를 갖는 경우의 치환기,
(ii) 상기 일반식 (45)에 있어서, 고리 구조를 형성하지 않는 R461∼R471, 및
(iii) 식 (451)∼(460)에 있어서의 R4501∼R4514, R4515∼R4525는 바람직하게는, 각각 독립적으로,
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기, 또는
하기 일반식 (461)∼일반식 (464)로 표시되는 기로 이루어진 군으로부터 선택되는 기 중 어느 하나이다.
[화 277]
(상기 일반식 (461)∼(464) 중,
Rd는 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
X46은 C(R801)(R802), NR803, 산소 원자 또는 황 원자이며,
R801, R802 및 R803은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
바람직하게는, 치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기이며,
R801이 복수 존재하는 경우, 복수의 R801은 서로 동일일하거나 또는 상이하고,
R802가 복수 존재하는 경우, 복수의 R802는 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R803이 복수 존재하는 경우, 복수의 R803은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
p1은 5이며,
p2는 4이고,
p3은 3이며,
p4는 7이고,
상기 일반식 (461)∼(464) 중의 *는 각각 독립적으로 고리 구조와의 결합 위치를 나타낸다.)
제3 화합물 및 제4 화합물에 있어서, R901∼R907은 전술과 같이 정의한 바와 같다.
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (45)로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (45-1)∼(45-6) 중 어느 하나로 표시된다.
[화 278]
[화 279]
(상기 일반식 (45-1)∼(45-6)에 있어서,
고리 d∼i는 각각 독립적으로 치환 혹은 무치환의 단환 또는 치환 혹은 무치환의 축합환이며,
R461∼R471은 각각 독립적으로 상기 일반식 (45)에 있어서의 R461∼R471과 동일한 의미이다.)
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (45)로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (45-7)∼(45-12) 중 어느 하나로 표시된다.
[화 280]
[화 281]
(상기 일반식 (45-7)∼(45-12)에 있어서,
고리 d∼f, k, j는 각각 독립적으로 치환 혹은 무치환의 단환 또는 치환 혹은 무치환의 축합환이며,
R461∼R471은 각각 독립적으로 상기 일반식 (45)에 있어서의 R461∼R471과 동일한 의미이다.)
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (45)로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (45-13)∼(45-21) 중 어느 하나로 표시된다.
[화 282]
[화 283]
[화 284]
(상기 일반식 (45-13)∼(45-21)에 있어서,
고리 d∼k는 각각 독립적으로 치환 혹은 무치환의 단환 또는 치환 혹은 무치환의 축합환이며,
R461∼R471은 각각 독립적으로 상기 일반식 (45)에 있어서의 R461∼R471과 동일한 의미이다.)
상기 고리 g 또는 상기 고리 h가 치환기를 더 갖는 경우의 치환기로서는, 예컨대,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기,
상기 일반식 (461)로 표시되는 기,
상기 일반식 (463)으로 표시되는 기, 또는
상기 일반식 (464)로 표시되는 기를 들 수 있다.
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (45)로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (45-22)∼(45-25) 중 어느 하나로 표시된다.
[화 285]
(상기 일반식 (45-22)∼(45-25)에 있어서,
X46 및 X47은 각각 독립적으로 C(R801)(R802), NR803, 산소 원자 또는 황 원자이고,
R461∼R471 그리고 R481∼R488은 각각 독립적으로 상기 일반식 (45)에 있어서의 R461∼R471과 동일한 의미이다.
R801, R802 및 R803은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
바람직하게는, 치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기이며,
R801이 복수 존재하는 경우, 복수의 R801은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R802가 복수 존재하는 경우, 복수의 R802는 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R803이 복수 존재하는 경우, 복수의 R803은 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (45)로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (45-26)으로 표시된다.
[화 286]
(상기 일반식 (45-26)에 있어서,
X46은 C(R801)(R802), NR803, 산소 원자 또는 황 원자이고,
R463, R464, R467, R468, R471, 및 R481∼R492는 각각 독립적으로 상기 일반식 (45)에 있어서의 R461∼R471과 동일한 의미이다.
R801, R802 및 R803은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
바람직하게는, 치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기이며,
R801이 복수 존재하는 경우, 복수의 R801은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R802가 복수 존재하는 경우, 복수의 R802는 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R803이 복수 존재하는 경우, 복수의 R803은 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
(일반식 (4)로 표시되는 화합물의 구체예)
상기 일반식 (4)로 표시되는 화합물로서는, 예컨대, 이하에 나타내는 화합물을 구체예로서 들 수 있다. 하기 구체예 중, Ph는 페닐기를 나타내고, D는 중수소 원자를 나타낸다.
[화 287]
[화 288]
[화 289]
[화 290]
[화 291]
[화 292]
[화 293]
[화 294]
[화 295]
[화 296]
(일반식 (5)로 표시되는 화합물)
일반식 (5)로 표시되는 화합물에 대해서 설명한다. 일반식 (5)로 표시되는 화합물은 전술한 일반식 (41-3)으로 표시되는 화합물에 대응하는 화합물이다.
[화 297]
(상기 일반식 (5)에 있어서,
R501∼R507 및 R511∼R517 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않고,
상기 단환을 형성하지 않으며, 또한 상기 축합환을 형성하지 않는 R501∼R507 및 R511∼R517은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.
R521 및 R522는 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.)
「R501∼R507 및 R511∼R517 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조」는, 예컨대, R501과 R502로 이루어지는 조, R502와 R503으로 이루어지는 조, R503과 R504로 이루어지는 조, R505와 R506으로 이루어지는 조, R506과 R507로 이루어지는 조, R501과 R502와 R503으로 이루어지는 조 등의 조합이다.
일 시형태에 있어서, R501∼R507 및 R511∼R517 중 적어도 하나, 바람직하게는 2개가 -N(R906)(R907)로 표시되는 기이다.
일 실시형태에 있어서는, R501∼R507 및 R511∼R517은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.
일 실시형태에 있어서는, 상기 일반식 (5)로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (52)로 표시되는 화합물이다.
[화 298]
(상기 일반식 (52)에 있어서,
R531∼R534 및 R541∼R544 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않고,
상기 단환을 형성하지 않으며, 또한 상기 축합환을 형성하지 않는 R531∼R534, R541∼R544, 그리고 R551 및 R552는 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이며,
R561∼R564는 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.)
일 실시형태에 있어서는, 상기 일반식 (5)로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (53)으로 표시되는 화합물이다.
[화 299]
(상기 일반식 (53)에 있어서, R551, R552 및 R561∼R564는 각각 독립적으로 상기 일반식 (52)에 있어서의 R551, R552 및 R561∼R564와 동일한 의미이다.)
일 실시형태에 있어서는, 상기 일반식 (52) 및 일반식 (53)에 있어서의 R561∼R564는 각각 독립적으로 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기(바람직하게는 페닐기)이다.
일 실시형태에 있어서는, 상기 일반식 (5)에 있어서의 R521 및 R522, 상기 일반식 (52) 및 일반식 (53)에 있어서의 R551 및 R552는 수소 원자이다.
일 실시형태에 있어서는, 상기 일반식 (5), 일반식 (52) 및 일반식 (53)에 있어서의 「치환 혹은 무치환의」라고 하는 경우에 있어서의 치환기는,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.
(일반식 (5)로 표시되는 화합물의 구체예)
상기 일반식 (5)로 표시되는 화합물로서는, 예컨대, 이하에 나타낸 화합물을 구체예로서 들 수 있다.
[화 300]
[화 301]
[화 302]
[화 303]
[화 304]
[화 305]
[화 306]
[화 307]
[화 308]
[화 309]
[화 310]
[화 311]
[화 312]
[화 313]
[화 314]
[화 315]
[화 316]
(일반식 (6)으로 표시되는 화합물)
일반식 (6)으로 표시되는 화합물에 대해서 설명한다.
[화 317]
(상기 일반식 (6)에 있어서,
a 고리, b 고리 및 c 고리는 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 방향족 탄화수소환, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환이며,
R601 및 R602는 각각 독립적으로 상기 a 고리, b 고리 또는 c 고리와 결합하여 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하거나, 또는 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하지 않고,
상기 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하지 않는 R601 및 R602는 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.)
a 고리, b 고리 및 c 고리는 붕소 원자 및 2개의 질소 원자로 구성되는 상기 일반식 (6) 중앙의 축합 2환 구조에 축합되는 고리(치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 방향족 탄화수소환, 또는 치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환)이다.
a 고리, b 고리 및 c 고리의 「방향족 탄화수소환」은 전술한 「아릴기」에 수소 원자를 도입한 화합물과 동일한 구조이다.
a 고리의 「방향족 탄화수소환」은 상기 일반식 (6) 중앙의 축합 2환 구조 상의 탄소 원자 3개를 고리 형성 원자로서 포함한다.
b 고리 및 c 고리의 「방향족 탄화수소환」은 상기 일반식 (6) 중앙의 축합 2환 구조 상의 탄소 원자 2개를 고리 형성 원자로서 포함한다.
「치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 방향족 탄화수소환」의 구체예로서는, 구체예군 G1에 기재된 「아릴기」에 수소 원자를 도입한 화합물 등을 들 수 있다.
a 고리, b 고리 및 c 고리의 「복소환」은 전술한 「복소환기」에 수소 원자를 도입한 화합물과 동일한 구조이다.
a 고리의 「복소환」은, 상기 일반식 (6) 중앙의 축합 2환 구조 상의 탄소 원자 3개를 고리 형성 원자로서 포함한다. b 고리 및 c 고리의 「복소환」은 상기 일반식 (6) 중앙의 축합 2환 구조 상의 탄소 원자 2개를 고리 형성 원자로서 포함한다. 「치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환」의 구체예로서는, 구체예군 G2에 기재된 「복소환기」에 수소 원자를 도입한 화합물 등을 들 수 있다.
R601 및 R602는 각각 독립적으로 a 고리, b 고리 또는 c 고리와 결합하여, 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하여도 좋다. 이 경우에 있어서의 복소환은, 상기 일반식 (6) 중앙의 축합 2환 구조 상의 질소 원자를 포함한다. 이 경우에 있어서의 복소환은, 질소 원자 이외의 헤테로 원자를 포함하고 있어도 좋다. R601 및 R602가 a 고리, b 고리 또는 c 고리와 결합한다고 하는 것은, 구체적으로는, a 고리, b 고리 또는 c 고리를 구성하는 원자와 R601 및 R602를 구성하는 원자가 결합하는 것을 의미한다. 예컨대, R601이 a 고리와 결합하여, R601을 포함하는 고리와 a 고리가 축합한 2환 축합(또는 3환 축합 이상)의 함질소 복소환을 형성하여도 좋다. 상기 함질소 복소환의 구체예로서는, 구체예군 G2 중, 질소를 포함하는 2환 축합 이상의 복소환기에 대응하는 화합물 등을 들 수 있다.
R601이 b 고리와 결합하는 경우, R602가 a 고리와 결합하는 경우, 및 R602가 c 고리와 결합하는 경우도 상기와 동일하다.
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (6)에 있어서의 a 고리, b 고리 및 c 고리는 각각 독립적으로 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 방향족 탄화수소환이다.
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (6)에 있어서의 a 고리, b 고리 및 c 고리는 각각 독립적으로 치환 혹은 무치환의 벤젠환 또는 나프탈렌환이다.
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (6)에 있어서의 R601 및 R602는 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이며,
바람직하게는 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기이다.
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (6)으로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (62)로 표시되는 화합물이다.
[화 318]
(상기 일반식 (62)에 있어서,
R601A는 R611 및 R621로 이루어진 군으로부터 선택되는 1 이상과 결합하여 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하거나, 또는 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하지 않고,
R602A는 R613 및 R614로 이루어진 군으로부터 선택되는 1 이상과 결합하여 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하거나, 또는 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하지 않고,
상기 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하지 않는 R601A 및 R602A는 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이며,
R611∼R621 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않고,
상기 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하지 않고, 상기 단환을 형성하지 않으며, 또한 상기 축합환을 형성하지 않는 R611∼R621은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.)
상기 일반식 (62)의 R601A 및 R602A는 각각 상기 일반식 (6)의 R601 및 R602에 대응하는 기이다.
예컨대, R601A와 R611이 결합하여, 이들을 포함하는 고리와 a 고리에 대응하는 벤젠환이 축합한 2환 축합(또는 3환 축합 이상)의 함질소 복소환을 형성하여도 좋다. 상기 함질소 복소환의 구체예로서는, 구체예군 G2 중, 질소를 포함하는 2환 축합 이상의 복소환기에 대응하는 화합물 등을 들 수 있다. R601A와 R621이 결합하는 경우, R602A와 R613이 결합하는 경우, 및 R602A와 R614가 결합하는 경우도 상기와 동일하다.
R611∼R621 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나, 또는
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하여도 좋다.
예컨대, R611과 R612가 결합하여, 이들이 결합하는 6원환에 대하여, 벤젠환, 인돌환, 피롤환, 벤조푸란환 또는 벤조티오펜환 등이 축합된 구조를 형성하여도 좋고, 형성된 축합환은 나프탈렌환, 카르바졸환, 인돌환, 디벤조푸란환 또는 디벤조티오펜환이 된다.
일 실시형태에 있어서, 고리 형성에 기여하지 않는 R611∼R621은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.
일 실시형태에 있어서, 고리 형성에 기여하지 않는 R611∼R621은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.
일 실시형태에 있어서, 고리 형성에 기여하지 않는 R611∼R621은 각각 독립적으로
수소 원자, 또는
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기이다.
일 실시형태에 있어서, 고리 형성에 기여하지 않는 R611∼R621은 각각 독립적으로
수소 원자, 또는
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기이며,
R611∼R621 중 적어도 하나는 치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기이다.
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (62)로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (63)으로 표시되는 화합물이다.
[화 319]
(상기 일반식 (63)에 있어서,
R631은 R646과 결합하여 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하거나, 또는 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하지 않고,
R633은 R647과 결합하여 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하거나, 또는 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하지 않으며,
R634는 R651과 결합하여 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하거나, 또는 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하지 않고,
R641은 R642와 결합하여 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하거나, 또는 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하지 않으며,
R631∼R651 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않고,
상기 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하지 않으며, 상기 단환을 형성하지 않고, 또한 상기 축합환을 형성하지 않는 R631∼R651은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.)
R631은 R646과 결합하여 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하여도 좋다. 예컨대, R631과 R646이 결합하여, R646이 결합하는 벤젠환과, N을 포함하는 고리와, a 고리에 대응하는 벤젠환이 축합된 3환 축합 이상의 함질소 복소환을 형성하여도 좋다. 상기 함질소 복소환의 구체예로서는, 구체예군 G2 중, 질소를 포함하는 3환 축합 이상의 복소환기에 대응하는 화합물 등을 들 수 있다. R633과 R647이 결합하는 경우, R634와 R651이 결합하는 경우, 및 R641와 R642가 결합하는 경우도 상기와 동일하다.
일 실시형태에 있어서, 고리 형성에 기여하지 않는 R631∼R651은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.
일 실시형태에 있어서, 고리 형성에 기여하지 않는 R631∼R651은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.
일 실시형태에 있어서, 고리 형성에 기여하지 않는 R631∼R651은 각각 독립적으로
수소 원자, 또는
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기이다.
일 실시형태에 있어서, 고리 형성에 기여하지 않는 R631∼R651은 각각 독립적으로
수소 원자, 또는
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기이고,
R631∼R651 중 적어도 하나는 치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기이다.
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (63)으로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (63A)로 표시되는 화합물이다.
[화 320]
(상기 일반식 (63A)에 있어서,
R661은
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기이며,
R662∼R665는 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기이다.)
일 실시형태에 있어서, R661∼R665는 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기이다.
일 실시형태에 있어서, R661∼R665는 각각 독립적으로 치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기이다.
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (63)으로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (63B)로 표시되는 화합물이다.
[화 321]
(상기 일반식 (63B)에 있어서,
R671 및 R672는 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기이며,
R673∼R675는 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기이다.)
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (63)으로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (63B')로 표시되는 화합물이다.
[화 322]
(상기 일반식 (63B')에 있어서, R672∼R675는 각각 독립적으로 상기 일반식 (63B)에 있어서의 R672∼R675와 동일한 의미이다.)
일 실시형태에 있어서, R671∼R675 중 적어도 하나는,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기이다.
일 실시형태에 있어서,
R672는
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기이며,
R671 및 R673∼R675는 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기이다.
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (63)으로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (63C)로 표시되는 화합물이다.
[화 323]
(상기 일반식 (63C)에 있어서,
R681 및 R682는 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기이다.
R683∼R686은 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기이다.)
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (63)으로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (63C')로 표시되는 화합물이다.
[화 324]
(상기 일반식 (63C')에 있어서, R683∼R686은 각각 독립적으로 상기 일반식 (63C)에 있어서의 R683∼R686과 동일한 의미이다.)
일 실시형태에 있어서, R681∼R686은 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기이다.
일 실시형태에 있어서, R681∼R686은 각각 독립적으로 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기이다.
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (6)으로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (42-2)로 표시되는 화합물이다.
[화 325]
(상기 일반식 (42-2)에 있어서,
R441 및 R442는 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.
R443∼R446은 각각 독립적으로 수소 원자 또는 치환기 R이며, 이 치환기 R은 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903),
-O-(R904),
-S-(R905),
-N(R906)(R907),
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
X는 산소 원자 또는 황 원자이며,
R901∼R907은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
R901이 복수 존재하는 경우, 복수의 R901은 서로 동일하거나 또는 상이하며, R902가 복수 존재하는 경우, 복수의 R902는 서로 동일하거나 또는 상이하고, R903이 복수 존재하는 경우, 복수의 R903은 서로 동일하거나 또는 상이하며, R904가 복수 존재하는 경우, 복수의 R904는 서로 동일하거나 또는 상이하고, R905가 복수 존재하는 경우, 복수의 R905는 서로 동일하거나 또는 상이하며, R906이 복수 존재하는 경우, 복수의 R906은 서로 동일하거나 또는 상이하고, R907이 복수 존재하는 경우, 복수의 R907은 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (42-2)에 있어서의 「치환 혹은 무치환의」라고 하는 경우에 있어서의 치환기는,
무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
무치환의 탄소수 1∼50의 할로알킬기,
무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
무치환의 탄소수 1∼50의 알콕시기,
무치환의 탄소수 1∼50의 알킬티오기,
무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴옥시기,
무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴티오기,
무치환의 탄소수 7∼50의 아랄킬기,
-Si(R41)(R42)(R43),
-C(=O)R44, -COOR45,
-S(=O)2R46,
-P(=O)(R47)(R48),
-Ge(R49)(R50)(R51),
-N(R52)(R53),
(여기서, R41∼R53은 각각 독립적으로 수소 원자, 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기, 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다. R41이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 R41은 서로 동일하거나 또는 상이하고, R42가 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 R42는 서로 동일하거나 또는 상이하며, R43이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 R43은 서로 동일하거나 또는 상이하고, R44가 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 R44는 서로 동일하거나 또는 상이하며, R45가 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 R45는 서로 동일하거나 또는 상이하고, R46이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 R46은 서로 동일하거나 또는 상이하며, R47이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 R47은 서로 동일하거나 또는 상이하고, R48이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 R48은 서로 동일하거나 또는 상이하며, R49가 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 R49는 서로 동일하거나 또는 상이하고, R50이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 R50은 서로 동일하거나 또는 상이하며, R51이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 R51은 서로 동일하거나 또는 상이하고, R52가 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 R52는 서로 동일하거나 또는 상이하며, R53이 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 R53은 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
히드록시기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 및
고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기로 이루어진 군으로부터 선택된다.
상기 일반식 (6)으로 표시되는 화합물은, 우선 a 고리, b 고리 및 c 고리를 연결기(N-R601을 포함하는 기 및 N-R602를 포함하는 기)로 결합시킴으로써 중간체를 제조하고(제1 반응), a 고리, b 고리 및 c 고리를 연결기(붕소 원자를 포함하는 기)로 결합시킴으로써 최종 생성물을 제조할 수 있다(제2 반응). 제1 반응에서는 부흐발트-하르트비히 반응 등의 아미노화 반응을 적용할 수 있다. 제2 반응에서는, 탠덤 헤테로-프리델 크래프츠 반응 등을 적용할 수 있다.
(일반식 (6)으로 표시되는 화합물의 구체예)
이하에, 상기 일반식 (6)으로 표시되는 화합물의 구체예를 기재하였으나, 이들은 예시에 불과하며, 상기 일반식 (6)으로 표시되는 화합물은 하기 구체예로 한정되지 않는다.
[화 326]
[화 327]
[화 328]
[화 329]
[화 330]
[화 331]
[화 332]
[화 333]
[화 334]
[화 335]
[화 336]
[화 337]
(일반식 (7)로 표시되는 화합물)
일반식 (7)로 표시되는 화합물에 대해서 설명한다.
[화 338]
[화 339]
(상기 일반식 (7)에 있어서,
r 고리는 인접 고리의 임의의 위치에서 축합하는 상기 일반식 (72) 또는 일반식 (73)으로 표시되는 고리이며,
q 고리 및 s 고리는 각각 독립적으로 인접 고리의 임의의 위치에서 축합하는 상기 일반식 (74)로 표시되는 고리이고,
p 고리 및 t 고리는 각각 독립적으로 인접 고리의 임의의 위치에서 축합하는 상기 일반식 (75) 또는 일반식 (76)으로 표시되는 구조이며,
X7은 산소 원자, 황 원자, 또는 NR702이다.
R701이 복수 존재하는 경우, 인접한 복수의 R701은
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않고,
상기 단환을 형성하지 않으며, 또한 상기 축합환을 형성하지 않는 R701 및 R702는 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
Ar701 및 Ar702는 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이며,
L701은
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬렌기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐렌기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐렌기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬렌기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 2가의 복소환기이고,
m1은 0, 1 또는 2이며,
m2는 0, 1, 2, 3 또는 4이고,
m3은 각각 독립적으로 0, 1, 2 또는 3이며,
m4는 각각 독립적으로 0, 1, 2, 3, 4 또는 5이고,
R701이 복수 존재하는 경우, 복수의 R701은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
X7이 복수 존재하는 경우, 복수의 X7은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R702가 복수 존재하는 경우, 복수의 R702는 서로 동일하거나 또는 상이하며,
Ar701이 복수 존재하는 경우, 복수의 Ar701은 서로 동일하거나 또는 상이하고,
Ar702가 복수 존재하는 경우, 복수의 Ar702는 서로 동일하거나 또는 상이하며,
L701이 복수 존재하는 경우, 복수의 L701은 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
상기 일반식 (7)에 있어서, p 고리, q 고리, r 고리, s 고리 및 t 고리의 각 고리는 인접 고리와 탄소 원자 2개를 공유하여 축합한다. 축합하는 위치 및 방향은 한정되지 않고, 임의의 위치 및 방향에서 축합 가능하다.
일 실시형태에 있어서, r 고리로서의 상기 일반식 (72) 또는 일반식 (73)에 있어서, m1=0 또는 m2=0이다.
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (7)로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (71-1)∼(71-6) 중 어느 하나로 표시된다.
[화 340]
[화 341]
[화 342]
[화 343]
[화 344]
[화 345]
(상기 일반식 (71-1)∼일반식 (71-6)에 있어서, R701, X7, Ar701, Ar702, L701, m1 및 m3은 각각 상기 일반식 (7)에 있어서의 R701, X7, Ar701, Ar702, L701, m1 및 m3과 동일한 의미이다.)
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (7)로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (71-11)∼일반식 (71-13) 중 어느 하나로 표시된다.
[화 346]
[화 347]
[화 348]
(상기 일반식 (71-11)∼일반식 (71-13)에 있어서, R701, X7, Ar701, Ar702, L701, m1, m3 및 m4는 각각 상기 일반식 (7)에 있어서의 R701, X7, Ar701, Ar702, L701, m1, m3 및 m4와 동일한 의미이다.)
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (7)로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (71-21)∼(71-25) 중 어느 하나로 표시된다.
[화 349]
[화 350]
[화 351]
[화 352]
[화 353]
(상기 일반식 (71-21)∼일반식 (71-25)에 있어서, R701, X7, Ar701, Ar702, L701, m1 및 m4는 각각 상기 일반식 (7)에 있어서의 R701, X7, Ar701, Ar702, L701, m1 및 m4와 동일한 의미이다.)
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (7)로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (71-31)∼일반식 (71-33) 중 어느 하나로 표시된다.
[화 354]
[화 355]
[화 356]
(상기 일반식 (71-31)∼일반식 (71-33)에 있어서, R701, X7, Ar701, Ar702, L701, m2∼m4는 각각 상기 일반식 (7)에 있어서의 R701, X7, Ar701, Ar702, L701, m2∼m4와 동일한 의미이다.)
일 실시형태에 있어서는, Ar701 및 Ar702가 각각 독립적으로 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기이다.
일 실시형태에 있어서는, Ar701 및 Ar702 중 한쪽이 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기이고, Ar701 및 Ar702 중 다른 쪽이 치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.
(일반식 (7)로 표시되는 화합물의 구체예)
상기 일반식 (7)로 표시되는 화합물로서는, 예컨대, 이하에 나타낸 화합물을 구체예로서 들 수 있다.
[화 357]
[화 358]
[화 359]
[화 360]
[화 361]
[화 362]
(일반식 (8)로 표시되는 화합물)
일반식 (8)로 표시되는 화합물에 대해서 설명한다.
[화 363]
(상기 일반식 (8)에 있어서,
R801과 R802, R802와 R803, 및 R803과 R804 중 적어도 1조는 서로 결합하여 하기 일반식 (82)로 표시되는 2가의 기를 형성하고,
R805와 R806, R806과 R807, 및 R807과 R808 중 적어도 1조는 서로 결합하여 하기 일반식 (83)으로 표시되는 2가의 기를 형성한다.)
[화 364]
(상기 일반식 (82)로 표시되는 2가의 기를 형성하지 않는 R801∼R804, 및 R811∼R814 중 적어도 하나는 하기 일반식 (84)로 표시되는 1가의 기이며,
상기 일반식 (83)으로 표시되는 2가의 기를 형성하지 않는 R805∼R808, 및 R821∼R824 중 적어도 하나는 하기 일반식 (84)로 표시되는 1가의 기이고,
X8은 산소 원자, 황 원자, 또는 NR809이며,
상기 일반식 (82) 및 일반식 (83)으로 표시되는 2가의 기를 형성하지 않고, 또한, 상기 일반식 (84)로 표시되는 1가의 기가 아닌 R801∼R808, 상기 일반식 (84)로 표시되는 1가의 기가 아닌 R811∼R814 및 R821∼R824, 그리고 R809는 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.)
[화 365]
(상기 일반식 (84)에 있어서,
Ar801 및 Ar802는 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이며,
L801∼L803은 각각 독립적으로
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼30의 아릴렌기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼30의 2가의 복소환기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼30의 아릴렌기 및 치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼30의 2가의 복소환기로 이루어진 군으로부터 선택되는 2∼4개의 기가 결합하여 형성되는 2가의 연결기이고,
상기 일반식 (84) 중의 *는 상기 일반식 (8)로 표시되는 고리 구조, 일반식 (82) 또는 일반식 (83)으로 표시되는 기와의 결합 위치를 나타낸다.)
상기 일반식 (8)에 있어서, 상기 일반식 (82)로 표시되는 2가의 기 및 일반식 (83)으로 표시되는 2가의 기가 형성되는 위치는 특별히 한정되지 않고, R801∼R808의 가능한 위치에 있어서 당해 기를 형성할 수 있다.
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (8)로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (81-1)∼(81-6) 중 어느 하나로 표시된다.
[화 366]
[화 367]
[화 368]
(상기 일반식 (81-1)∼일반식 (81-6)에 있어서,
X8은 상기 일반식 (8)에 있어서의 X8과 동일한 의미이며,
R801∼R824 중 적어도 2개는 상기 일반식 (84)로 표시되는 1가의 기이고,
상기 일반식 (84)로 표시되는 1가의 기가 아닌 R801∼R824는 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.)
일 실시형태에 있어서, 상기 일반식 (8)로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (81-7)∼(81-18) 중 어느 하나로 표시된다.
[화 369]
[화 370]
[화 371]
[화 372]
[화 373]
[화 374]
(상기 일반식 (81-7)∼일반식 (81-18)에 있어서,
X8은 상기 일반식 (8)에 있어서의 X8과 동일한 의미이며,
*는 상기 일반식 (84)로 표시되는 1가의 기와 결합하는 단일 결합이고,
R801∼R824는 각각 독립적으로 상기 일반식 (81-1)∼일반식 (81-6)에 있어서의 상기 일반식 (84)로 표시되는 1가의 기가 아닌 R801∼R824와 동일한 의미이다.)
상기 일반식 (82) 및 일반식 (83)으로 표시되는 2가의 기를 형성하지 않고, 또한, 상기 일반식 (84)로 표시되는 1가의 기가 아닌 R801∼R808, 및, 상기 일반식 (84)로 표시되는 1가의 기가 아닌 R811∼R814 및 R821∼R824는, 바람직하게는, 각각 독립적으로,
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.
상기 일반식 (84)로 표시되는 1가의 기는, 바람직하게는 하기 일반식 (85) 또는 일반식 (86)으로 표시된다.
[화 375]
(상기 일반식 (85)에 있어서,
R831∼R840은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이며,
상기 일반식 (85) 중의 *는 상기 일반식 (84) 중의 *와 동일한 의미이다.)
[화 376]
(상기 일반식 (86)에 있어서,
Ar801, L801 및 L803은 상기 일반식 (84)에 있어서의 Ar801, L801 및 L803과 동일한 의미이며,
HAr801은 하기 일반식 (87)로 표시되는 구조이다.)
[화 377]
(상기 일반식 (87)에 있어서,
X81은 산소 원자 또는 황 원자이고,
R841∼R848 중 어느 하나는 L803에 결합하는 단일 결합이며,
단일 결합이 아닌 R841∼R848은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.)
(일반식 (8)로 표시되는 화합물의 구체예)
상기 일반식 (8)로 표시되는 화합물로서는, 국제 공개 제2014/104144호에 기재된 화합물 이외에, 예컨대, 이하에 나타낸 화합물을 구체예로서 들 수 있다.
[화 378]
[화 379]
[화 380]
[화 381]
[화 382]
[화 383]
(일반식 (9)로 표시되는 화합물)
일반식 (9)로 표시되는 화합물에 대해서 설명한다.
[화 384]
(상기 일반식 (9)에 있어서,
A91 고리 및 A92 고리는 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 방향족 탄화수소환, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환이며,
A91 고리 및 A92 고리로 이루어진 군으로부터 선택되는 1 이상의 고리는
하기 일반식 (92)로 표시되는 구조의 *와 결합한다.)
[화 385]
(상기 일반식 (92)에 있어서,
A93 고리는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 방향족 탄화수소환, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환이며,
X9는 NR93, C(R94)(R95), Si(R96)(R97), Ge(R98)(R99), 산소 원자, 황 원자 또는 셀레늄 원자이고,
R91 및 R92는
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않으며,
상기 단환을 형성하지 않고, 또한 상기 축합환을 형성하지 않는 R91 및 R92, 그리고 R93∼R99는 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.)
A91 고리 및 A92 고리로 이루어진 군으로부터 선택되는 1 이상의 고리는 상기 일반식 (92)로 표시되는 구조의 *와 결합한다. 즉, 일 실시형태에 있어서, A91 고리의 상기 방향족 탄화수소환의 고리 형성 탄소 원자, 또는 상기 복소환의 고리 형성 원자는 상기 일반식 (92)로 표시되는 구조의 *와 결합한다. 또한, 일 실시형태에 있어서, A92 고리의 상기 방향족 탄화수소환의 고리 형성 탄소 원자, 또는 상기 복소환의 고리 형성 원자는 상기 일반식 (92)로 표시되는 구조의 *와 결합한다.
일 실시형태에 있어서, A91 고리 및 A92 고리 중 어느 하나 또는 양쪽 모두에 하기 일반식 (93)으로 표시되는 기가 결합한다.
[화 386]
(상기 일반식 (93)에 있어서,
Ar91 및 Ar92는 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
L91∼L93은 각각 독립적으로
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼30의 아릴렌기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼30의 2가의 복소환기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼30의 아릴렌기 및 치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼30의 2가의 복소환기로 이루어진 군으로부터 선택되는 2∼4개 결합하여 형성되는 2가의 연결기이며,
상기 일반식 (93) 중의 *는 A91 고리 및 A92 고리 중 어느 하나와의 결합 위치를 나타낸다.)
일 실시형태에 있어서, A91 고리에 더하여, A92 고리의 상기 방향족 탄화수소환의 고리 형성 탄소 원자, 또는 상기 복소환의 고리 형성 원자는 상기 일반식 (92)로 표시되는 구조의 *와 결합한다. 이 경우, 상기 일반식 (92)로 표시되는 구조는 서로 동일하여도 좋고 상이하여도 좋다.
일 실시형태에 있어서, R91 및 R92는 각각 독립적으로 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기이다.
일 실시형태에 있어서, R91 및 R92는 서로 결합하여 플루오렌 구조를 형성한다.
일 실시형태에 있어서, 고리 A91 및 고리 A92는 각각 독립적으로 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 방향족 탄화수소환이며, 예컨대, 치환 혹은 무치환의 벤젠환이다.
일 실시형태에 있어서, 고리 A93은 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 방향족 탄화수소환이며, 예컨대, 치환 혹은 무치환의 벤젠환이다.
일 실시형태에 있어서, X9는 산소 원자 또는 황 원자이다.
(일반식 (9)로 표시되는 화합물의 구체예)
상기 일반식 (9)로 표시되는 화합물로서는, 예컨대, 이하에 나타낸 화합물을 구체예로서 들 수 있다.
[화 387]
[화 388]
[화 389]
[화 390]
(일반식 (10)으로 표시되는 화합물)
일반식 (10)으로 표시되는 화합물에 대해서 설명한다.
[화 391]
[화 392]
(상기 일반식 (10)에 있어서,
Ax1 고리는 인접 고리의 임의의 위치에서 축합하는 상기 일반식 (10a)로 표시되는 고리이고,
Ax2 고리는 인접 고리의 임의의 위치에서 축합하는 상기 일반식 (10b)로 표시되는 고리이며,
상기 일반식 (10b) 중의 2개의 *는 Ax3 고리의 임의의 위치와 결합하고,
XA 및 XB는 각각 독립적으로 C(R1003)(R1004), Si(R1005)(R1006), 산소 원자 또는 황 원자이며,
Ax3 고리는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 방향족 탄화수소환, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환이고,
Ar1001은
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이며,
R1001∼R1006은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
mx1은 3이며, mx2는 2이고,
복수의 R1001은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
복수의 R1002는 서로 동일하거나 또는 상이하고,
ax는 0, 1 또는 2이며,
ax가 0 또는 1인 경우, 「3-ax」로 표시되는 괄호 안의 구조는 서로 동일하거나 또는 상이하고,
ax가 2인 경우, 복수의 Ar1001은 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
일 실시형태에 있어서, Ar1001은 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기이다.
일 실시형태에 있어서, Ax3 고리는 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 방향족 탄화수소환이고, 예컨대, 치환 혹은 무치환의 벤젠환, 치환 혹은 무치환의 나프탈렌환, 또는 치환 혹은 무치환의 안트라센환이다.
일 실시형태에 있어서, R1003 및 R1004는 각각 독립적으로 치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기이다.
일 실시형태에 있어서, ax는 1이다.
(일반식 (10)으로 표시되는 화합물의 구체예)
상기 일반식 (10)으로 표시되는 화합물로서는, 예컨대, 이하에 나타낸 화합물을 구체예로서 들 수 있다.
[화 393]
일 실시형태에 있어서는, 상기 발광층이, 제3 화합물 및 제4 화합물 중 적어도 어느 하나의 화합물로서, 상기 일반식 (4)로 표시되는 화합물, 상기 일반식 (5)로 표시되는 화합물, 상기 일반식 (7)로 표시되는 화합물, 상기 일반식 (8)로 표시되는 화합물, 상기 일반식 (9)로 표시되는 화합물 및 하기 일반식 (63a)로 표시되는 화합물로 이루어진 군으로부터 선택되는 1 이상의 화합물을 함유한다.
[화 394]
(상기 일반식 (63a)에 있어서,
R631은 R646과 결합하여 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하거나, 또는 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하지 않는다.
R633은 R647과 결합하여 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하거나, 또는 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하지 않는다.
R634는 R651과 결합하여 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하거나, 또는 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하지 않는다.
R641은 R642와 결합하여 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하거나, 또는 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하지 않는다.
R631∼R651 중 인접한 2개 이상의 1조 이상은
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않고,
상기 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하지 않으며, 상기 단환을 형성하지 않고, 또한 상기 축합환을 형성하지 않는 R631∼R651은 각각 독립적으로
수소 원자,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는 치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이며,
단, 상기 치환 혹은 무치환의 복소환을 형성하지 않고, 상기 단환을 형성하지 않으며, 또한 상기 축합환을 형성하지 않는 R631∼R651 중 적어도 하나는
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.)
일 실시형태에 있어서는, 상기 일반식 (4)로 표시되는 화합물이, 상기 일반식 (41-3), 일반식 (41-4) 또는 일반식 (41-5)로 표시되는 화합물이며, 상기 일반식 (41-5) 중의 A1 고리가, 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 10∼50의 축합 방향족 탄화수소환, 또는 치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 8∼50의 축합 복소환이다.
일 실시형태에 있어서는, 상기 일반식 (41-3), 일반식 (41-4), 및 일반식 (41-5)에 있어서의, 상기 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 10∼50의 축합 방향족 탄화수소환이, 치환 혹은 무치환의 나프탈렌환, 치환 혹은 무치환의 안트라센환, 또는 치환 혹은 무치환의 플루오렌환이며, 상기 치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 8∼50의 축합 복소환이, 치환 혹은 무치환의 디벤조푸란환, 치환 혹은 무치환의 카르바졸환, 또는 치환 혹은 무치환의 디벤조티오펜환이다.
일 실시형태에 있어서는, 상기 일반식 (41-3), 일반식 (41-4) 또는 일반식 (41-5)에 있어서의, 상기 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 10∼50의 축합 방향족 탄화수소환이, 치환 혹은 무치환의 나프탈렌환, 또는 치환 혹은 무치환의 플루오렌환이며, 상기 치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 8∼50의 축합 복소환이, 치환 혹은 무치환의 디벤조푸란환, 치환 혹은 무치환의 카르바졸환, 또는 치환 혹은 무치환의 디벤조티오펜환이다.
일 실시형태에 있어서는, 상기 일반식 (4)로 표시되는 화합물이, 하기 일반식 (461)로 표시되는 화합물, 하기 일반식 (462)로 표시되는 화합물, 하기 일반식 (463)으로 표시되는 화합물, 하기 일반식 (464)로 표시되는 화합물, 하기 일반식 (465)로 표시되는 화합물, 하기 일반식 (466)으로 표시되는 화합물, 및 하기 일반식 (467)로 표시되는 화합물로 이루어진 군으로부터 선택된다.
[화 395]
[화 396]
[화 397]
[화 398]
[화 399]
(상기 일반식 (461)∼(467) 중,
R421∼R427, R431∼R436, R440∼R448 및 R451∼R454 중 인접한 2개 이상으로 이루어지는 조의 1조 이상이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않으며,
R437, R438, 그리고 상기 단환을 형성하지 않고, 또한 상기 축합환을 형성하지 않는 R421∼R427, R431∼R436, R440∼R448 및 R451∼R454는 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
치환 혹은 무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901)(R902)(R903)으로 표시되는 기,
-O-(R904)로 표시되는 기,
-S-(R905)로 표시되는 기,
-N(R906)(R907)로 표시되는 기,
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이며,
X4는 산소 원자, NR801, 또는 C(R802)(R803)이고,
R801, R802 및 R803은 각각 독립적으로
수소 원자,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이며,
치환 혹은 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기이고,
R801이 복수 존재하는 경우, 복수의 R801은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R802가 복수 존재하는 경우, 복수의 R802는 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R803이 복수 존재하는 경우, 복수의 R803은 서로 동일하거나 또는 상이하다.)
일 실시형태에 있어서는, R421∼R427 및 R440∼R448이 각각 독립적으로 수소 원자, 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는 치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.
일 실시형태에 있어서는, R421∼R427 및 R440∼R447이 각각 독립적으로 수소 원자, 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼18의 아릴기, 및 치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼18의 복소환기로 이루어진 군으로부터 선택된다.
일 실시형태에 있어서는, 상기 일반식 (41-3)으로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (41-3-1)로 표시되는 화합물이다.
[화 400]
(상기 일반식 (41-3-1) 중, R423, R425, R426, R442, R444 및 R445는 각각 독립적으로 상기 일반식 (41-3)에 있어서의 R423, R425, R426, R442, R444 및 R445와 동일한 의미이다.)
일 실시형태에 있어서는, 상기 일반식 (41-3)으로 표시되는 화합물은 하기 일반식 (41-3-2)로 표시되는 화합물이다.
[화 401]
(상기 일반식 (41-3-2) 중, R421∼R427 및 R440∼R448은 각각 독립적으로 상기 일반식 (41-3)에 있어서의 R421∼R427 및 R440∼R448과 동일한 의미이며,
단, R421∼R427 및 R440∼R446 중 적어도 하나는 -N(R906)(R907)로 표시되는 기이다.)
일 실시형태에 있어서는, 상기 식 (41-3-2)에 있어서의, R421∼R427 및 R440∼R446 중 어느 2개가 -N(R906)(R907)로 표시되는 기이다.
일 실시형태에 있어서는, 상기 식 (41-3-2)로 표시되는 화합물은 하기 식 (41-3-3)으로 표시되는 화합물이다.
[화 402]
(상기 일반식 (41-3-3) 중, R421∼R424, R440∼R443, R447 및 R448은 각각 독립적으로 상기 일반식 (41-3)에 있어서의 R421∼R424, R440∼R443, R447 및 R448과 동일한 의미이며,
RA, RB, RC 및 RD는 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼18의 아릴기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼18의 복소환기이다.)
일 실시형태에 있어서는, 상기 식 (41-3-3)으로 표시되는 화합물이 하기 식 (41-3-4)로 표시되는 화합물이다.
[화 403]
(상기 일반식 (41-3-4) 중, R447, R448, RA, RB, RC 및 RD는 각각 독립적으로 상기 식 (41-3-3)에 있어서의 R447, R448, RA, RB, RC 및 RD와 동일한 의미이다.)
일 실시형태에 있어서는, RA, RB, RC 및 RD가 각각 독립적으로 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼18의 아릴기이다.
일 실시형태에 있어서는, RA, RB, RC 및 RD가 각각 독립적으로 치환 혹은 무치환의 페닐기이다.
일 실시형태에 있어서는, R447 및 R448이 수소 원자이다.
일 실시형태에 있어서는, 상기 각 식 중의 「치환 혹은 무치환의」라고 하는 경우에 있어서의 치환기가,
무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
무치환의 탄소수 2∼50의 알케닐기,
무치환의 탄소수 2∼50의 알키닐기,
무치환의 고리 형성 탄소수 3∼50의 시클로알킬기,
-Si(R901a)(R902a)(R903a),
-O-(R904a),
-S-(R905a),
-N(R906a)(R907a),
할로겐 원자,
시아노기,
니트로기,
무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이며,
R901a∼R907a는 각각 독립적으로
수소 원자,
무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기,
무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는
무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이고,
R901a가 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 R901a는 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R902a가 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 R902a는 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R903a가 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 R903a는 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R904a가 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 R904a는 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R905a가 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 R905a는 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R906a가 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 R906a는 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R907a가 2 이상 존재하는 경우, 2 이상의 R907a는 서로 동일하거나 또는 상이하다.
일 실시형태에 있어서는, 상기 각 식 중의 「치환 혹은 무치환의」라고 하는 경우에 있어서의 치환기가, 무치환의 탄소수 1∼50의 알킬기, 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼50의 아릴기, 또는 무치환의 고리 형성 원자수 5∼50의 복소환기이다.
일 실시형태에 있어서는, 상기 각 식 중의 「치환 혹은 무치환의」라고 하는 경우에 있어서의 치환기가, 무치환의 탄소수 1∼18의 알킬기, 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼18의 아릴기, 또는 무치환의 고리 형성 원자수 5∼18의 복소환기이다.
[제2 실시형태]
제2 실시형태에 따른 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치(이하, 유기 EL 표시 장치라고도 칭함)에 대해서 설명한다. 제2 실시형태의 설명에 있어서 제1 실시형태와 동일한 구성 요소는, 동일 부호나 명칭을 붙이는 등으로 설명을 생략하거나 혹은 간략화한다. 또한, 제2 실시형태에서는, 특별히 언급되지 않는 재료나 화합물에 대해서는, 제1 실시형태에서 설명한 재료나 화합물과 동일한 재료나 화합물을 이용할 수 있다.
(유기 일렉트로루미네센스 표시 장치)
본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치는, 서로 대향하여 배치된 양극 및 음극을 가지며, 청색 화소로서의 청색 유기 EL 소자, 녹색 화소로서의 녹색 유기 EL 소자 및 적색 화소로서의 적색 유기 EL 소자를 가지며, 상기 청색 유기 EL 소자는, 상기 양극과 상기 음극의 사이에 배치된 제1 발광층 및 제2 발광층을 갖는 청색 발광 영역을 가지며, 상기 제1 발광층이, 상기 청색 발광 영역에 있어서 상기 양극측에 배치되고, 상기 녹색 유기 EL 소자는, 상기 양극과 상기 음극의 사이에 배치된 녹색 발광층을 가지며, 상기 적색 유기 EL 소자는, 상기 양극과 상기 음극의 사이에 배치된 적색 발광층을 가지며, 상기 청색 유기 EL 소자, 상기 녹색 유기 EL 소자 및 상기 적색 유기 EL 소자는, 상기 청색 유기 EL 소자의 상기 청색 발광 영역, 상기 녹색 유기 EL 소자의 상기 녹색 발광층 및 상기 적색 유기 EL 소자의 상기 적색 발광층 각각과, 상기 양극의 사이에 있어서, 상기 청색 유기 EL 소자, 상기 녹색 유기 EL 소자 및 상기 적색 유기 EL 소자에 걸쳐 공통으로 설치된 정공 수송 대역을 가지며, 상기 정공 수송 대역은, 상기 청색 유기 EL 소자의 상기 제1 발광층과 직접 접하는 제1 유기층을 가지며, 상기 제1 유기층은, 정공 수송 대역 재료를 함유하고, 상기 제1 발광층은, 제1 호스트 재료와, 최대 피크 파장이 500 nm 이하인 발광을 나타내는 제1 발광성 화합물을 포함하며, 상기 제2 발광층은, 제2 호스트 재료와, 최대 피크 파장이 500 nm 이하인 발광을 나타내는 제2 발광성 화합물을 포함하고, 상기 제1 호스트 재료와 상기 제2 호스트 재료와는 서로 상이하며, 상기 제1 발광성 화합물과 상기 제2 발광성 화합물이, 서로 동일하거나 또는 상이하고, 상기 제1 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H1)과 상기 제2 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H2)이, 상기 수식(수 1)의 관계를 충족시키며, 상기 정공 수송 대역 재료의 어피니티값 Af(cHT)가 1.47 eV 미만이다. 정공 수송 대역 재료의 어피니티값 Af(cHT)는 미분 펄스 볼턴메트리법으로 측정한 값이다. 미분 펄스 볼턴메트리법의 상세한 내용은 전술한 바와 같다.
본 명세서에 있어서, 복수의 소자에 걸쳐 공통으로 설치되어 있는 층을 공통층이라고 칭하는 경우가 있다. 본 명세서에 있어서, 복수의 소자에 걸쳐 공통으로 설치되어 있지 않은 층을 비공통층이라고 칭하는 경우가 있다.
또한, 본 명세서에 있어서는, 복수의 소자에 걸쳐 공통으로 설치되어 있는 대역을 공통 대역이라고 칭하는 경우가 있다. 청색 유기 EL 소자의 청색 발광 영역, 녹색 유기 EL 소자의 녹색 발광층 및 적색 유기 EL 소자의 적색 발광층 각각과, 양극의 사이에 있어서, 청색 유기 EL 소자, 녹색 유기 EL 소자 및 적색 유기 EL 소자에 걸쳐 공통으로 설치되어 있는 정공 수송 대역은, 공통 대역이다.
또한, 본 명세서에 있어서, 「화소」, 「발광층」, 「유기층」 또는 「재료」에 붙여진 「청색」, 「녹색」 또는 「적색」은 각각 「화소」, 「발광층」, 「유기층」 또는 「재료」의 각 요소를 다른 요소와 구별하기 위해 붙여져 있고, 「청색」, 「녹색」 또는 「적색」은, 「화소」, 「발광층」, 「유기층」 또는 「재료」가 발하는 광의 색을 나타내는 경우가 있지만 각 요소의 외관을 「청색」, 「녹색」 또는 「적색」으로 특정하기 위해 붙여져 있는 것은 아니다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치는, 청색 유기 EL 소자가, 수식(수 1)의 관계를 충족시키는 제1 발광층 및 제2 발광층을 갖는다. 그 때문에, 제1 실시형태와 동일한 이유에 의해, 청색 유기 EL 소자의 발광 효율을 향상시킬 수 있다.
또한 본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치는, 청색 발광 영역과 양극의 사이에 있어서, 정공 수송 대역을 구성하는 유기층의 수를 저감한 층구성(층화를 줄이는 구성)으로 되어 있다.
종래의 유기 EL 표시 장치에 있어서는, 청색 유기 EL 소자의 청색 발광 영역과 양극의 사이에, 녹색 유기 EL 소자 및 적색 유기 EL 소자와는 공통되지 않는 비공통층(예컨대 전자 장벽층)을 별도로 설치하고 있었다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치에 있어서는, 청색 유기 EL 소자, 녹색 유기 EL 소자 및 적색 유기 EL 소자에 걸쳐 공통되는 정공 수송 대역(공통 대역)이, 청색 발광 영역 중 제1 발광층 또는 상기 제2 발광층과 직접 접하는 구성으로 되어 있다. 즉, 본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치는, 청색 유기 EL 소자의 발광층의 양극측에 비공통층을 갖지 않고, 구체적으로는, 청색 유기 EL 소자의 정공 수송 대역의 층화가 줄고 있다.
한편, 정공 수송 대역을 구성하는 유기층의 수를 줄이면(층화를 줄이면), 청색 유기 EL 소자의 소자 성능이 저하될 우려가 있다. 정공 수송 대역의 층화를 줄여, 예컨대, 청색 유기 EL 소자의 양극측에 배치된 발광층과 직접 접하는 유기층(예컨대, 전자 장벽층)의 층화를 줄여, 정공 수송 대역 중의 다른 유기층의 막 두께를 크게 하면, 청색 발광 영역으로의 홀의 공급량이 감소하고, 발광 효율이 저하된다고 생각된다. 또한, 청색 발광 영역으로의 홀 공급량이 감소하면, 청색 발광 영역의 정공 수송 대역측이 발광 위치가 되어, 청색 발광 영역으로부터 정공 수송 대역으로 전자가 누출되기 쉬워진다고 생각된다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치에 있어서는, 청색 발광 영역이 제1 발광층 및 제2 발광층을 포함하고, 청색 발광 영역과 직접 접하는 정공 수송 대역의 제1 유기층이 정공 수송 대역 재료를 함유하고, 정공 수송 대역 재료의 어피니티값 Af(cHT)가 1.47 eV 미만이다. 이러한 어피니티값 Af의 재료를 제1 유기층의 정공 수송 대역 재료로서 이용함으로써, 정공 수송 대역의 제1 유기층의 전자 블록성이 향상된다. 정공 수송 대역의 제1 유기층의 전자 블록성이 향상됨으로써, 청색 발광 영역으로부터 정공 수송 대역으로의 전자 누출이 억제되고, 청색 발광 영역의 발광층 내에서의 정공과 전자의 재결합 효율이 향상된다. 본 실시형태에 따르면, 정공 수송 대역을 구성하는 유기층의 수를 줄여도, 청색 유기 EL 소자의 소자 성능의 저하가 억제된, 고효율 및 장수명의 유기 EL 표시 장치를 제공할 수 있다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치에 있어서, 정공 수송 대역(공통 대역) 중의 발광 영역측에 배치된 유기층은, 제1 발광층과 직접 접하는 제1 유기층이며, 제1 유기층은 정공 수송 대역 재료를 포함한다.
본 실시형태에 따른 청색 유기 EL 소자에 있어서, 정공 수송 대역의 제1 유기층은, 어피니티값 Af(cHT)가 1.47 eV 미만의 정공 수송 대역 재료를 함유한다.
제1 유기층이 함유하는 정공 수송 대역 재료는, 제1 실시형태에서 설명한 정공 수송 대역 재료인 것이 바람직하다.
또한, 본 실시형태에 있어서는, 정공 수송 대역의 제1 유기층 이외의 유기층도, 제1 유기층과 공통으로 공통 정공 수송 대역 재료를 포함하여도 좋지만, 포함하지 않아도 좋다.
제1 실시형태의 유기 EL 소자와 동일한 구성에 대해서는 본 실시형태에 따른 청색 유기 EL 소자에 적용할 수 있다.
본 실시형태에 따른 청색 발광 영역이 함유하는 제1 발광층 및 제2 발광층으로서는, 제1 실시형태에서 설명한 제1 발광층 및 제2 발광층을 이용할 수 있다.
또한, 본 실시형태에 따른 정공 수송 대역이 함유하는 1 또는 복수의 유기층으로서는, 제1 실시형태에 따른 정공 수송 대역이 함유하는 1 또는 복수의 유기층(예컨대, 제1 유기층, 제2 유기층 및 제3 유기층 등)을 이용할 수 있다.
제2 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치의 일례의 구성에 대해서 도 4를 참조하여 설명한다.
도 4에는, 일 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치(100A)가 기재되어 있다.
유기 EL 표시 장치(100A)는, 기판(2A)에 의해 지지된 전극 및 유기층을 갖는다.
유기 EL 표시 장치(100A)는, 서로 대향하여 배치된 양극(3) 및 음극(4)을 갖는다.
유기 EL 표시 장치(100A)는, 청색 화소로서의 청색 유기 EL 소자(10B), 녹색 화소로서의 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 적색 화소로서의 적색 유기 EL 소자(10R)를 갖는다.
또한, 도 4는 유기 EL 표시 장치(100A)의 개략도로서, 유기 EL 표시 장치(100A)의 사이즈나 각 층의 두께 등을 한정하는 것은 아니다. 예컨대, 도 4에 있어서 제1 발광층(51) 및 제2 발광층(52), 그리고 녹색 발광층(53) 및 적색 발광층(54)은, 각각 동일한 두께로 표현되고 있지만, 실제의 유기 EL 표시 장치에 있어서 이들 층의 두께가 동일한 것을 한정하는 것은 아니다.
청색 유기 EL 소자(10B)에 있어서는, 양극(3)과 음극(4) 사이에 있어서, 양극(3)측에서부터 차례로, 정공 수송 대역(7), 청색 발광 영역(5), 전자 수송층(8), 및 전자 주입층(9)이, 이 순서로 적층되어 있다. 청색 발광 영역(5)은, 제1 발광층(51) 및 제2 발광층(52)을 갖는다.
녹색 유기 EL 소자(10G)에 있어서는, 양극(3)과 음극(4) 사이에 있어서, 양극(3)측에서부터 차례로, 정공 수송 대역(7), 녹색 발광층(53), 전자 수송층(8), 및 전자 주입층(9)이, 이 순서로 적층되어 있다.
적색 유기 EL 소자(10R)에 있어서는, 양극(3)과 음극(4) 사이에 있어서, 양극(3)측에서부터 차례로, 정공 수송 대역(7), 적색 발광층(54), 전자 수송층(8), 및 전자 주입층(9)이, 이 순서로 적층되어 있다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치(100A)에서는, 정공 수송 대역(7)은, 유기층(L1)에서 유기층(Ln)까지 합계 n층의 유기층을 포함하는 공통 대역이다. n은, 1, 2 또는 3 이상으로 할 수도 있다. 본 실시형태에 있어서, 유기층(L1)은, 청색 발광 영역(5)과 직접 접하는 층이고, 제1 유기층은 유기층(L1)에 상당한다.
예컨대, 정공 수송 대역이, 하나의 유기층(제1 유기층)만을 포함하는 경우, n은 1이고, 유기층(L1)이 제1 유기층이며, 유기층(L1)은, 양극과 직접 접함과 더불어, 청색 유기 EL 소자의 제1 발광층과 직접 접한다.
예컨대, 정공 수송 대역이, 2개의 유기층(제1 유기층 및 제2 유기층)만을 포함하는 경우, n은 2이며, 유기층(L1)이 제1 유기층이고, 유기층(L2)이 제2 유기층이며, 유기층(L1)은 청색 유기 EL 소자의 제1 발광층과 직접 접하고, 유기층(L2)은 양극과 직접 접한다.
양극(3)은, 청색 유기 EL 소자(10B), 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 적색 유기 EL 소자(10R)의 각각에 독립적으로 설치되어 있다. 그 때문에, 유기 EL 표시 장치(100A)는, 청색 유기 EL 소자(10B), 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 적색 유기 EL 소자(10R)를 개별로 구동시키는 것이 가능하다. 유기 EL 소자(10B, 10G, 10R)의 각각의 양극은, 도시되지 않은 절연재 등으로 서로 절연되어 있다. 음극(4)은, 청색 유기 EL 소자(10B), 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 적색 유기 EL 소자(10R)에 공통으로 설치되어 있다.
일 실시형태에 있어서는, 화소로서의 청색 유기 EL 소자(10B), 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 적색 유기 EL 소자(10R)가 기판(2A) 상에 병렬로 배치되어 있다.
도 5에, 제2 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치의 다른 일례의 개략 구성을 나타낸다.
유기 EL 표시 장치(200)는, 녹색 화소로서의 녹색 유기 EL 소자(20G) 및 적색 화소로서의 적색 유기 EL 소자(20R) 이외에, 도 4에 도시된 유기 EL 표시 장치(100A)와 동일한 구성이다. 유기 EL 표시 장치(100A)와 상이한 점에 대해서 설명한다.
녹색 유기 EL 소자(20G)에 있어서는, 양극(3)과 음극(4) 사이에 있어서, 양극(3)측에서부터 차례로, 정공 수송 대역(7), 녹색 유기층(531), 녹색 발광층(53), 전자 수송층(8), 및 전자 주입층(9)이, 이 순서로 적층되어 있다. 도 5의 경우, 녹색 유기층(531)이 정공 수송 대역(7)과 직접 접하고 있다. 녹색 유기층(531)은, 전자 장벽층인 것이 바람직하다.
적색 유기 EL 소자(20R)에서는, 양극(3)과 음극(4) 사이에 있어서, 양극(3)측에서부터 차례로, 정공 수송 대역(7), 적색 유기층(541), 적색 발광층(54), 전자 수송층(8), 및 전자 주입층(9)이, 이 순서로 적층되어 있다. 도 5의 경우, 적색 유기층(541)이 정공 수송 대역(7)과 직접 접하고 있다. 적색 유기층(541)은, 전자 장벽층인 것이 바람직하다.
본 발명은, 도 4∼도 5에 도시된 유기 EL 표시 장치의 구성으로 한정되지 않는다.
또한, 도 4∼도 5에 도시된 유기 EL 표시 장치에 있어서, 녹색 유기 EL 소자 및 적색 유기 EL 소자는, 형광 발광하는 소자여도, 인광 발광하는 소자여도 좋다.
또한, 도 4∼도 5에 도시된 유기 EL 표시 장치에 있어서, 후술하는 바와 같이, 녹색 발광층(53)이 지연 형광성 화합물을 함유하는 발광층이어도 좋고, 적색 발광층(54)이 지연 형광성 화합물을 함유하는 발광층이어도 좋다.
본 실시형태의 유기 EL 표시 장치에 대해서, 도 4를 참조하여 더 설명한다.
(정공 수송 대역)
정공 수송 대역(7)은, 청색 유기 EL 소자(10B)의 청색 발광 영역(5), 녹색 유기 EL 소자(10G)의 녹색 발광층(53) 및 적색 유기 EL 소자(10R)의 적색 발광층(54) 각각과, 양극(3) 사이에 있어서, 상기 청색 유기 EL 소자(10B), 상기 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 상기 적색 유기 EL 소자(10R)에 걸쳐 공통으로 설치된 공통 대역이다.
정공 수송 대역(7)이 복수의 층으로 구성되는 경우, 상기 복수의 층은, 모두, 청색 유기 EL 소자(10B)의 청색 발광 영역(5), 녹색 유기 EL 소자(10G)의 녹색 발광층(53) 및 적색 유기 EL 소자(10R)의 적색 발광층(54) 각각과, 양극(3) 사이에 있어서, 상기 청색 유기 EL 소자(10B), 상기 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 상기 적색 유기 EL 소자(10R)에 걸쳐 공통으로 설치된 공통층이다.
일 실시형태에 있어서, 제1 유기층이 함유하는 정공 수송 대역 재료의 정공 이동도가, 1.0×10-5 cm2/Vs 이상인 것이 바람직하고, 5.0×10-5 cm2/Vs 이상인 것이 보다 바람직하며, 1.0×10-4 cm2/Vs 이상인 것이 더욱 바람직하다.
또한, 정공 수송 대역(7)에 있어서의 제1 유기층 이외의 유기층(유기층(L2)에서 유기층(Ln)) 중, 적어도 1 이상의 유기층은, 정공 이동도가, 1.0×10-5 cm2/Vs 이상(바람직하게는, 5.0×10-5 cm2/Vs 이상, 더욱 바람직하게는 1.0×10-4 cm2/Vs 이상)인 재료를 함유하는 것도 바람직하다.
정공 수송 대역의 유기층이, 1.0×10-5 cm2/Vs 이상의 정공 이동도를 갖는 재료를 함유함으로써, 정공 수송 대역으로부터 발광 영역으로의 홀 주입성을 보다 촉진시킬 수 있다.
정공 수송 대역(7)에 있어서의 상기 유기층 중, 적어도 2 이상의 유기층이, 정공 수송 대역 재료를 포함하는 것도 바람직하다.
정공 수송 대역 재료로서는, 예컨대, 제1 실시형태에서 설명한 도프 화합물, 상기 일반식 (21)로 표시되는 화합물, 상기 일반식 (22)로 표시되는 화합물, 및 정공 수송층으로서 이용할 수 있는 화합물 등을 이용할 수 있다.
정공 수송 대역(7)이 함유하는 n층의 유기층으로서는, 예컨대, 제1 실시형태에서 설명한 제1 유기층, 제2 유기층, 제3 유기층, 정공 주입층 및 정공 수송층으로 이루어진 군으로부터 선택되는 1 이상의 층을 조합하여 이용할 수 있다.
<청색 유기 EL 소자>
일 실시형태에 있어서, 청색 유기 EL 소자(10B)는, 양극(3), 정공 수송 대역(7), 청색 발광 영역(5), 전자 수송층(8), 전자 주입층(9) 및 음극(4)을 이 순서로 갖는다. 또한, 청색 유기 EL 소자(10B)는, 도 4에 도시된 층과 상이한 다른 층을 포함하고 있어도 좋다.
(제1 발광층 및 제2 발광층)
청색 발광 영역(5)은, 제1 발광층(51)과 제2 발광층(52)을 포함한다. 청색 발광 영역(5)은, 제1 실시형태에 따른 발광 영역과 동일한 구성이다. 바람직한 범위도 동일하다.
<녹색 유기 EL 소자>
일 실시형태에 있어서, 녹색 유기 EL 소자(10G)는, 양극(3), 정공 수송 대역(7), 녹색 발광층(53), 전자 수송층(8), 전자 주입층(9) 및 음극(4)을 이 순서로 구비한다. 또한, 녹색 유기 EL 소자(10G)는, 도 4에 도시된 층과 상이한 다른 층을 포함하고 있어도 좋다.
(녹색 발광층)
일 실시형태에 있어서, 녹색 발광층(53)은, 정공 수송 대역(7)과 전자 수송층(8)의 사이에 배치되며, 녹색 발광층(53)과 전자 수송층(8)이 직접 접하고 있다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치에 있어서, 녹색 발광층은, 호스트 재료를 함유하고 있는 것이 바람직하다. 따라서, 예컨대, 녹색 발광층은, 호스트 재료를, 녹색 발광층의 전체 질량의 50 질량% 이상 함유한다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치에 있어서, 녹색 유기 EL 소자의 녹색 발광층은, 최대 피크 파장이 500 nm 이상, 550 nm 이하인 발광을 나타내는 녹색 발광성 화합물을 적어도 포함하는 것이 바람직하다. 녹색 발광성 화합물은, 최대 피크 파장이 500 nm 이상, 550 nm 이하인 형광 발광을 나타내는 형광 발광성 화합물인 것도 바람직하다. 또한, 녹색 발광성 화합물은, 최대 피크 파장이 500 nm 이상, 550 nm 이하인 인광 발광을 나타내는 인광 발광성 화합물인 것도 바람직하다. 본 명세서에 있어서, 녹색의 발광이란, 발광 스펙트럼의 최대 피크 파장이 500 nm 이상, 550 nm 이하의 범위 내인 발광을 말한다.
형광성 화합물은, 일중항 여기 상태로부터 발광 가능한 화합물이며, 인광 발광성 화합물은, 삼중항 여기 상태로부터 발광 가능한 화합물이다.
녹색 발광층에 이용할 수 있는 녹색으로 형광 발광하는 화합물로서, 예컨대, 방향족 아민 유도체 등을 사용할 수 있다. 녹색 발광층에 이용할 수 있는 녹색으로 인광 발광하는 화합물로서, 예컨대, 이리듐 착체 등이 사용된다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치에 있어서, 후술하는 바와 같이, 녹색 발광층은, 지연 형광성 화합물을 함유하고 있어도 좋다.
(인광 발광 최대 피크 파장(PH-peak))
인광 발광성 화합물의 최대 피크 파장(인광 발광 최대 피크 파장)은, 다음 방법에 의해 측정할 수 있다. 측정 대상이 되는 화합물을 EPA(디에틸에테르:이소펜탄:에탄올=5:5:2(용적비)) 중에, 10-5 mol/L 이상 10-4 mol/L 이하가 되도록 용해하고, 이 EPA 용액을 석영 셀 안에 넣어 측정 시료로 한다. 이 측정 시료에 대해서, 저온(77[K])에서 인광 스펙트럼(종축: 인광 발광 강도, 횡축: 파장으로 함)을 측정하고, 이 인광 스펙트럼의 극대값 중, 가장 단파장측의 극대값을 인광 발광 최대 피크 파장으로 한다. 인광의 측정에는, 분광 형광 광도계 F-7000(가부시키가이샤 히타치하이테크사이언스 제조)을 이용할 수 있다. 또한, 측정 장치는 이것으로 한정되지 않고, 냉각 장치, 및 저온용 용기와, 여기 광원과, 수광 장치를 조합함으로써, 측정하여도 좋다. 또한, 본 명세서에 있어서, 인광 발광의 최대 피크 파장을 인광 발광 최대 피크 파장(PH-peak)이라고 칭하는 경우가 있다.
(녹색 유기층)
본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치에 있어서, 녹색 유기 EL 소자는, 녹색 발광층과 정공 수송 대역의 사이에, 녹색 유기층을 구비하는 것이 바람직하다. 녹색 유기층은, 정공 수송 대역과 직접 접하고 있어도 좋다. 또한, 녹색 유기층은, 녹색 발광층과 직접 접하고 있어도 좋다.
녹색 유기층은 녹색 유기 재료를 함유한다. 녹색 유기 재료로서는, 본 실시형태에 따른 정공 수송 재료 또는 제1 실시형태에 따른 공통 정공 수송 대역 재료를 이용할 수 있다. 녹색 유기 재료는, 정공 수송 대역이 함유하는 정공 수송 대역 재료와 동일한 화합물이어도 좋고, 상이한 화합물이어도 좋지만, 녹색 유기 재료와 정공 수송 대역 재료는 서로 상이한 것이 바람직하다. 녹색 유기 재료의 정공 이동도는, 정공 수송 대역이 함유하는 정공 수송 대역 재료의 정공 이동도보다 큰 것이 바람직하다. 녹색 유기 재료는, 녹색 발광층이 함유하는 호스트 재료 및 녹색 발광성 화합물과는 상이한 화합물이다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치에 있어서, 녹색 유기 EL 소자가 녹색 유기층을 가짐으로써, 녹색 유기 EL 소자에 있어서의 발광 위치를 조정하기 쉽다.
<적색 유기 EL 소자>
일 실시형태에 있어서, 적색 유기 EL 소자(10R)는, 양극(3), 정공 수송 대역(7), 적색 발광층(54), 전자 수송층(8), 전자 주입층(9) 및 음극(4)을 이 순서로 구비한다. 또한, 적색 유기 EL 소자(10R)는, 도 4에 도시된 층과 상이한 다른 층을 포함하고 있어도 좋다.
(적색 발광층)
일 실시형태에 있어서, 적색 발광층(54)은, 정공 수송 대역(7)과 전자 수송층(8)의 사이에 배치되고, 적색 발광층(54)과 전자 수송층(8)이 직접 접하고 있다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치에 있어서, 적색 발광층은, 호스트 재료를 함유하고 있는 것이 바람직하다. 따라서, 예컨대, 적색 발광층(54)은, 호스트 재료를, 적색 발광층(54)의 전체 질량의 50 질량% 이상 함유한다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치에 있어서, 적색 유기 EL 소자의 적색 발광층은, 최대 피크 파장이 600 nm 이상, 640 nm 이하인 발광을 나타내는 적색 발광성 화합물을 적어도 포함하는 것이 바람직하다. 적색 발광성 화합물은, 최대 피크 파장이 600 nm 이상, 640 nm 이하인 형광 발광을 나타내는 형광 발광성 화합물인 것도 바람직하다. 또한, 적색 발광성 화합물은, 최대 피크 파장이 600 nm 이상, 640 nm 이하인 인광 발광을 나타내는 인광 발광성 화합물인 것도 바람직하다. 본 명세서에 있어서, 적색 발광이란, 발광 스펙트럼의 최대 피크 파장이 600 nm 이상, 640 nm 이하의 범위 내인 발광을 말한다.
적색 발광층에 이용할 수 있는 적색으로 형광 발광하는 화합물로서, 예컨대, 테트라센 유도체 및 디아민 유도체 등을 사용할 수 있다. 적색 발광층에 이용할 수 있는 적색으로 인광 발광하는 화합물로서, 예컨대, 이리듐 착체, 백금 착체, 테르븀 착체 및 유로퓸 착체 등의 금속 착체를 사용할 수 있다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치에 있어서, 후술하는 바와 같이, 적색 발광층은, 지연 형광성 화합물을 함유하고 있어도 좋다.
(적색 유기층)
본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치에 있어서, 적색 유기 EL 소자는, 적색 발광층과 정공 수송 대역의 사이에, 적색 유기층을 구비하는 것이 바람직하다. 적색 유기층은, 정공 수송 대역과 직접 접하고 있어도 좋다. 또한, 적색 유기층은, 적색 발광층과 직접 접하고 있어도 좋다.
적색 유기층은 적색 유기 재료를 함유한다. 적색 유기 재료로서는, 본 실시형태에 따른 정공 수송 재료 또는 제1 실시형태에 따른 정공 수송 대역 재료를 이용할 수 있다. 적색 유기 재료는, 정공 수송 대역이 함유하는 정공 수송 대역 재료와 동일한 화합물이어도 좋고, 상이한 화합물이어도 좋지만, 적색 유기 재료와 정공 수송 대역 재료는 서로 상이한 것이 바람직하다. 적색 유기 재료의 정공 이동도는, 정공 수송 대역이 함유하는 정공 수송 대역 재료의 정공 이동도보다 큰 것이 바람직하다. 적색 유기 재료는, 적색 발광층이 함유하는 호스트 재료 및 적색 발광성 화합물과는 상이한 화합물이다.
적색 유기 EL 소자의 적색 유기층이 함유하는 적색 유기 재료와, 녹색 유기 EL 소자의 녹색 발광층이 함유하는 녹색 유기 재료가 동일한 화합물이어도 좋고, 상이한 화합물이어도 좋지만, 적색 유기 재료와 녹색 유기 재료가 서로 상이한 것이 바람직하다. 적색 유기 재료의 정공 이동도는, 녹색 유기 재료의 정공 이동도보다 큰 것이 바람직하다.
적색 유기층의 막 두께는, 녹색 유기층의 막 두께보다 두꺼운 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치에 있어서, 적색 유기 EL 소자가 적색유기층을 가짐으로써, 적색 유기 EL 소자에 있어서의 발광 위치를 조정하기 쉽다.
녹색 발광층이 함유하는 호스트 재료 및 적색 발광층이 함유하는 호스트 재료는, 예컨대, 발광성이 높은 물질(도펀트 재료)을 발광층 중에 분산시키기 위한 화합물인 것이 바람직하다. 녹색 발광층이 함유하는 호스트 재료 및 적색 발광층이 함유하는 호스트 재료로서는, 발광성이 높은 물질보다 최저 공궤도 준위(LUMO 준위)가 높고, 최고 피점유 궤도 준위(HOMO 준위)가 낮은 물질을 이용하는 것이 바람직하다.
녹색 발광층이 함유하는 호스트 재료 및 적색 발광층이 함유하는 호스트 재료로서는, 예컨대, 각각 독립적으로 하기 (1)∼(4)의 화합물을 사용할 수 있다.
(1) 알루미늄 착체, 베릴륨 착체, 혹은 아연 착체 등의 금속 착체,
(2) 옥사디아졸 유도체, 벤조이미다졸 유도체, 혹은 페난트롤린 유도체 등의 복소환 화합물,
(3) 카르바졸 유도체, 안트라센 유도체, 페난트렌 유도체, 피렌 유도체, 혹은 크리센 유도체 등의 축합 방향족 화합물,
(4) 트리아릴아민 유도체, 혹은 축합 다환 방향족 아민 유도체 등의 방향족 아민 화합물
본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치에 있어서, 녹색 유기 EL 소자 및 적색 유기 EL 소자 중 적어도 어느 하나의 유기 EL 소자가 지연 형광성 화합물을 함유하고 있어도 좋다. 지연 형광성 화합물은, 금속 착체가 아닌 것이 바람직하다. 지연 형광성 화합물은, 금속 원자를 포함하지 않는 유기 화합물인 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치에 있어서, 녹색 유기 EL 소자 및 적색 유기 EL 소자 중 적어도 어느 하나의 유기 EL 소자가, 지연 형광성 화합물을 함유하는 경우, 녹색 유기 EL 소자의 녹색 발광층 및 적색 유기 EL 소자의 적색 발광층 중 적어도 어느 하나의 발광층이, 지연 형광성 화합물을 함유하는 것이 바람직하다. 지연 형광성 화합물을 함유하는 발광층을, 지연 형광 발광층이라고 칭하는 경우가 있다.
지연 형광 발광층은, 지연 형광성 화합물을 호스트 재료로서 함유하는 것이 바람직하다. 지연 형광 발광층은, 호스트 재료로서의 지연 형광성 화합물과, 형광 발광성 화합물을 함유하는 것이 바람직하다. 호스트 재료로서의 지연 형광성 화합물의 일중항 에너지는, 형광 발광성 화합물의 일중항 에너지보다 큰 것이 바람직하다.
지연 형광 발광층은, 중금속 착체 및 인광 발광성의 희토류 금속 착체를 포함하지 않는 것이 바람직하다. 여기서, 중금속 착체로서는, 예컨대, 이리듐 착체, 오스뮴 착체, 및 백금 착체 등을 들 수 있다. 지연 형광 발광층은, 금속 착체를 포함하지 않는 것도 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치에 있어서, 지연 형광성 화합물을 포함하는 발광층은, 상기 지연 형광성 화합물의 어피니티값보다 작은 어피니티값을 갖는 제1 유기 재료를 함유하고 있어도 좋다. 즉, 지연 형광 발광층은, 지연 형광성 화합물과 제1 유기 재료를 함유하고, 지연 형광성 화합물의 어피니티값 Af(M2)와, 제1 유기 재료의 어피니티값 Af(M1)가, 하기 수식(수 6A)의 관계를 충족시키는 것이 바람직하다.
Af(M2)-Af(M1)>0 eV …(수 6A)
제1 유기 재료의 일중항 에너지는, 지연 형광성 화합물의 일중항 에너지보다 큰 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치에 있어서, 지연 형광 발광층은, 제1 유기 재료와, 호스트 재료로서의 지연 형광성 화합물과, 형광 발광성 화합물을 함유하는 것도 바람직하다. 이 경우, 제1 유기 재료의 일중항 에너지는, 지연 형광성 화합물의 일중항 에너지보다 크고, 지연 형광성 화합물의 일중항 에너지는, 형광 발광성 화합물의 일중항 에너지보다 큰 것이 바람직하다.
본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치에 있어서, 녹색 발광층 및 적색 발광층 중, 지연 형광성 화합물을 함유하지 않는 발광층은, 인광 발광성 화합물을 함유하는 것도 바람직하다. 예컨대, 녹색 발광층이 지연 형광성 화합물을 함유하고, 적색 발광층이 지연 형광성 화합물을 함유하지 않는 경우, 적색 발광층이 인광 발광성 화합물을 함유한다. 본 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치에 있어서, 녹색 발광층 및 적색 발광층은, 지연 형광성 화합물과 인광 발광성 화합물을 동시에 함유하지 않는 것도 바람직하다.
(지연 형광성)
지연 형광에 대해서는, 「유기 반도체의 디바이스 물성」(아다치치하야 편저, 고단샤 발행)의 261∼268 페이지에서 해설되어 있다. 그 문헌 중에서, 형광 발광 재료의 여기 일중항 상태와 여기 삼중항 상태의 에너지차 ΔE13을 작게 할 수 있으면, 통상은 천이(遷移) 확률이 낮은 여기 삼중항 상태로부터 여기 일중항 상태로의 역에너지 이동이 고효율로 발생하고, 열활성화 지연 형광(Thermally Activated delayed Fluorescence, TADF)이 발현된다고 설명되어 있다. 또한, 상기 문헌 중의 도 10. 38에서, 지연 형광의 발생 메커니즘이 설명되어 있다. 본 실시형태에 있어서의 지연 형광성 화합물(지연 형광성 발광 재료)은, 이러한 메커니즘으로 발생하는 열활성화 지연 형광을 나타내는 화합물인 것이 바람직하다.
일반적으로, 지연 형광의 발광은 과도 PL(Photo Luminescence) 측정에 의해 확인할 수 있다.
과도 PL 측정으로부터 얻은 감쇠 곡선에 기초하여 지연 형광의 거동을 해석할 수도 있다. 과도 PL 측정이란, 시료에 펄스 레이저를 조사하여 여기시키고, 조사를 멈춘 후의 PL 발광의 감쇠 거동(과도 특성)을 측정하는 수법이다. TADF 재료에 있어서의 PL 발광은, 최초의 PL 여기로 생성되는 일중항 여기자로부터의 발광 성분과, 삼중항 여기자를 경유하여 생성되는 일중항 여기자로부터의 발광 성분으로 분류된다. 최초의 PL 여기로 생성되는 일중항 여기자의 수명은, 나노초 오더이며, 매우 짧다. 그 때문에, 상기 일중항 여기자로부터의 발광은, 펄스 레이저를 조사한 후, 빠르게 감쇠된다.
한편, 지연 형광은, 수명이 긴 삼중항 여기자를 경유하여 생성되는 일중항 여기자로부터의 발광이기 때문에, 완만하게 감쇠된다. 이와 같이 최초의 PL 여기로 생성되는 일중항 여기자로부터의 발광과, 삼중항 여기자를 경유하여 생성되는 일중항 여기자로부터의 발광에서는, 시간적으로 큰 차이가 있다. 그 때문에, 지연 형광 유래의 발광 강도를 구할 수 있다.
도 6에는, 과도 PL을 측정하기 위한 예시적 장치의 개략도가 도시되어 있다. 도 6을 이용한 과도 PL의 측정 방법, 및 지연 형광의 거동 해석의 일례를 설명한다.
도 6의 과도 PL 측정 장치(100)는, 소정 파장의 광을 조사 가능한 펄스 레이저부(101)와, 측정 시료를 수용하는 시료실(102)과, 측정 시료로부터 방사된 광을 분광하는 분광기(103)와, 2차원 상을 결상하기 위한 스트리크 카메라(104)와, 2차원 상을 취입하여 해석하는 퍼스널 컴퓨터(105)를 구비한다. 또한, 과도 PL의 측정은, 도 6에 기재된 장치에 한정되지 않는다.
시료실(102)에 수용되는 시료는, 매트릭스 재료에 대하여, 도핑 재료가 12 질량%의 농도로 도프된 박막을 석영 기판에 성막함으로써 얻어진다.
시료실(102)에 수용된 박막 시료에 대하여, 펄스 레이저부(101)로부터 펄스 레이저를 조사하여 도핑 재료를 여기시킨다. 여기광의 조사 방향에 대하여 90도의 방향으로 발광을 취출하고, 취출한 광을 분광기(103)로 분광하고, 스트리크 카메라(104) 내에서 2차원 상을 결상한다. 그 결과, 종축이 시간에 대응하고, 횡축이 파장에 대응하며, 휘점이 발광 강도에 대응하는 2차원 화상을 얻을 수 있다. 이 2차원 화상을 소정의 시간축으로 잘라내면, 종축이 발광 강도이고, 횡축이 파장인 발광 스펙트럼을 얻을 수 있다. 또한, 상기 2차원 화상을 파장축으로 잘라내면, 종축이 발광 강도의 대수이고, 횡축이 시간인 감쇠 곡선(과도 PL)을 얻을 수 있다.
예컨대, 매트릭스 재료로서, 하기 참고 화합물 H1을 이용하고, 도핑 재료로서 하기 참고 화합물 D1을 이용하여 전술한 바와 같이 하여 박막 시료 A를 제작하고, 과도 PL 측정을 행하였다.
[화 404]
여기서는, 전술한 박막 시료 A, 및 박막 시료 B를 이용하여 감쇠 곡선을 해석하였다. 박막 시료 B는, 매트릭스 재료로서 하기 참고 화합물 H2를 이용하고, 도핑 재료로서 상기 참고 화합물 D1을 이용하여, 전술한 바와 같이 하여 박막 시료를 제작하였다.
도 7에는, 박막 시료 A 및 박막 시료 B에 대해서 측정한 과도 PL로부터 얻은 감쇠 곡선이 도시되어 있다.
[화 405]
상기한 바와 같이 과도 PL 측정에 의해, 종축을 발광 강도로 하고, 횡축을 시간으로 하는 발광 감쇠 곡선을 얻을 수 있다. 이 발광 감쇠 곡선에 기초하여, 광여기에 의해 생성된 일중항 여기 상태로부터 발광하는 형광과, 삼중항 여기 상태를 경유하여, 역에너지 이동에 의해 생성되는 일중항 여기 상태로부터 발광하는 지연 형광과의, 형광 강도비를 어림할 수 있다. 지연 형광성 재료에서는, 신속하게 감쇠되는 형광의 강도에 대하여, 완만하게 감쇠되는 지연 형광의 강도 비율이, 어느 정도 크다.
구체적으로는, 지연 형광성 재료로부터의 발광으로서는, Prompt 발광(즉시 발광)과, Delay 발광(지연 발광)이 존재한다. Prompt 발광(즉시 발광)은, 상기 지연 형광성 재료가 흡수하는 파장의 펄스광(펄스 레이저로부터 조사되는 광)으로 여기된 후, 당해 여기 상태로부터 곧바로 관찰되는 발광이다. Delay 발광(지연 발광)은, 상기 펄스광에 의한 여기 후, 곧바로는 관찰되지 않고, 그 후 관찰되는 발광이다.
또한, 본 명세서에서는, 지연 형광성 발광 재료의 지연 형광성의 측정에는, 다음에 나타내는 방법에 의해 제작한 시료를 이용한다. 예컨대, 지연 형광성 발광 재료를 톨루엔에 용해하고, 자기 흡수의 기여를 제거하기 위해 여기 파장에 있어서 흡광도가 0.05 이하인 희박 용액을 조제한다. 또한 산소에 의한 소광을 막기 위해, 시료 용액을 동결 탈기한 후에 아르곤 분위기 하에서 덮개가 부착된 셀에 봉입함으로써, 아르곤으로 포화된 산소 프리의 시료 용액으로 한다.
상기 시료 용액의 형광 스펙트럼을 분광 형광 광도계 FP-8600(니혼분코사 제조)으로 측정하고, 또한 같은 조건으로 9,10-디페닐안트라센의 에탄올 용액의 형광 스펙트럼을 측정한다. 양 스펙트럼의 형광 면적 강도를 이용하여, Morris et al. J. Phys. Chem. 80(1976) 969 중의 (1)식에 의해 전체 형광 양자 수율을 산출한다.
Prompt 발광과 Delay 발광의 양과 그 비는, “Nature 492, 234-238, 2012” (참고문헌 1)에 기재된 방법과 동일한 방법에 의해 구할 수 있다. 또한, Prompt 발광과 Delay 발광의 양의 산출에 사용되는 장치는, 상기 참고문헌 1에 기재된 장치, 또는 도 6에 기재된 장치에 한정되지 않는다.
본 실시형태에 있어서는, 측정 대상 화합물(지연 형광성 발광 재료)의 Prompt 발광(즉시 발광)의 양을 XP로 하고, Delay 발광(지연 발광)의 양을 XD로 했을 때에, XD/XP의 값이 0.05 이상인 것이 바람직하다.
본 명세서에 있어서의 지연 형광성 발광 재료 이외의 화합물의 Prompt 발광과 Delay 발광의 양과 그 비의 측정도, 지연 형광성 발광 재료의 Prompt 발광과 Delay 발광의 양과 그 비의 측정과 동일하다.
본 실시형태의 유기 EL 표시 장치에 대해서, 도 4를 참조하여 더 설명한다. 제1 실시형태에 따른 유기 EL 소자와 공통하는 구성에 대해서는 기재를 간략화 또는 생략한다.
(양극)
일 실시형태에 있어서, 양극(3)은, 음극(4)에 대하여 대향하여 배치되어 있다.
일 실시형태에 있어서, 양극(3)은, 통상, 비공통층이다. 일 실시형태에 있어서, 예컨대, 양극(3)이 비공통층인 경우, 청색 유기 EL 소자(10B), 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 적색 유기 EL 소자(10R) 각각에 있어서의 양극은, 서로 물리적으로 분리된 상태이며, 예컨대, 도시되지 않은 절연재 등에 의해 서로 절연되어 있다.
(음극)
일 실시형태에 있어서, 음극(4)은, 양극(3)에 대하여 대향하여 배치되어 있다.
일 실시형태에 있어서, 음극(4)은, 공통층이어도 좋고, 비공통층이어도 좋다.
일 실시형태에 있어서, 음극(4)은, 청색 유기 EL 소자(10B), 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 적색 유기 EL 소자(10R)에 걸쳐 공통으로 설치된 공통층인 것이 바람직하다.
일 실시형태에 있어서, 음극(4)은, 전자 주입층(9)과 직접 접하고 있다.
일 실시형태에 있어서, 음극(4)은, 공통층인 경우, 청색 유기 EL 소자(10B), 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 적색 유기 EL 소자(10R)에 걸쳐 동일한 막 두께이다. 음극(4)이 공통층인 경우, 청색 유기 EL 소자(10B), 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 적색 유기 EL 소자(10R)의 각각의 음극(4)을, 마스크 등을 교체하지 않고 제작할 수 있다. 그 결과, 유기 EL 표시 장치(100A)의 생산성이 향상된다.
(전자 수송층)
일 실시형태에 있어서, 전자 수송층(8)은, 청색 유기 EL 소자(10B), 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 적색 유기 EL 소자(10R)에 걸쳐 공통으로 설치된 공통층이다.
일 실시형태에 있어서, 전자 수송층(8)은, 청색 유기 EL 소자(10B), 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 적색 유기 EL 소자(10R)의 각 발광층과, 전자 주입층(9)의 사이에 배치되어 있다.
일 실시형태에 있어서, 전자 수송층(8)은, 그 양극(3)측에서, 제2 발광층(52), 녹색 발광층(53) 및 적색 발광층(54)과 직접 접하고 있다.
전자 수송층(8)은, 그 음극(4)측에서, 전자 주입층(9)과 직접 접하고 있다.
일 실시형태에 있어서, 전자 수송층(8)은, 공통층이며, 청색 유기 EL 소자(10B), 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 적색 유기 EL 소자(10R)에 걸쳐 동일한 막 두께이다. 전자 수송층(8)이 공통층이기 때문에, 청색 유기 EL 소자(10B), 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 적색 유기 EL 소자(10R)의 각각의 전자 수송층(8)을, 마스크 등을 교체하지 않고 제작할 수 있다. 그 결과, 유기 EL 표시 장치(100A)의 생산성이 향상된다.
(전자 주입층)
일 실시형태에 있어서, 전자 주입층(9)은, 청색 유기 EL 소자(10B), 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 적색 유기 EL 소자(10R)에 걸쳐 공통으로 설치된 공통층이다.
일 실시형태에 있어서, 전자 주입층(9)은, 전자 수송층(8)과 음극(4)의 사이에 배치되어 있다.
일 실시형태에 있어서, 전자 주입층(9)은, 전자 수송층(8)에 직접 접하고 있다.
일 실시형태에 있어서, 전자 주입층(9)은, 공통층이며, 청색 유기 EL 소자(10B), 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 적색 유기 EL 소자(10R)에 걸쳐 동일한 막 두께이다. 전자 주입층(9)이 공통층이기 때문에, 청색 유기 EL 소자(10B), 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 적색 유기 EL 소자(10R)의 각각의 전자 주입층(9)을, 마스크 등을 교체하지 않고 제작할 수 있다. 그 결과, 유기 EL 표시 장치(100A)의 생산성이 향상된다.
일 실시형태에 있어서, 제1 발광층(51), 제2 발광층(52), 녹색 발광층(53), 적색 발광층(54), 녹색 유기층(531) 및 적색 유기층(541) 이외의 층은, 청색 유기 EL 소자(10B), 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 적색 유기 EL 소자(10R)에 걸쳐 공통으로 설치되어 있는 것이 바람직하다. 유기 EL 표시 장치(100A)에 있어서의 비공통층의 수를 줄임으로써, 제조 효율이 향상된다.
<유기 EL 표시 장치의 제조 방법>
일 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치(100A)(도 4)의 제조 방법에 대해서 설명한다.
우선, 기판(2A) 상에 양극(3)을 성막한다.
다음으로, 공통층으로서의 유기층(유기층(L1)부터 유기층(Ln))을 양극(3) 상에 걸쳐 차례로 성막하고, 공통 대역으로서의 정공 수송 대역(7)을 제작한다. 청색유기 EL 소자(10B), 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 적색 유기 EL 소자(10R)의 정공 수송 대역(7) 중의 각 유기층은, 각각 동일한 재료, 또한, 동일한 막 두께로 성막된다.
다음으로, 정공 수송 대역(7) 상으로서, 청색 유기 EL 소자(10B)의 양극(3)에 대응하는 영역에, 소정의 성막용 마스크(청색 유기 EL 소자용 마스크)를 이용하여, 제1 발광층(51)을 성막한다. 제1 발광층(51)의 성막에 이어서, 제1 발광층(51) 상에 제2 발광층(52)을 성막한다.
다음으로, 정공 수송 대역(7) 상으로서, 녹색 유기 EL 소자(10G)의 양극(3)에 대응하는 영역에, 소정의 성막용 마스크(녹색 유기 EL 소자용 마스크)를 이용하여, 소정 막 두께로 녹색 발광층(53)을 성막한다.
다음으로, 정공 수송 대역(7) 상으로서, 적색 유기 EL 소자(10R)의 양극(3)에 대응하는 영역에, 소정의 성막용 마스크(적색 유기 EL 소자용 마스크)를 이용하여, 소정 막 두께로 적색 발광층(54)을 성막한다.
제1 발광층(51), 제2 발광층(52), 녹색 발광층(53) 및 적색 발광층(54)은 서로 상이한 재료로 성막된다.
또한, 정공 수송 대역(7)의 성막 다음에, 청색 유기 EL 소자(10B), 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 적색 유기 EL 소자(10R)의 비공통층을 성막하는 순서는, 특별히 한정되지 않는다.
예컨대, 정공 수송 대역(7)을 성막한 후, 녹색 유기 EL 소자(10G)의 녹색 발광층(53)을 성막하고, 그 후, 적색 유기 EL 소자(10R)의 적색 발광층(54)을 성막하며, 그 후, 청색 유기 EL 소자(10B)의 제1 발광층(51) 및 제2 발광층(52)을 성막한다고 하는 순서여도 좋다.
또한, 예컨대, 정공 수송 대역(7)을 성막한 후, 적색 유기 EL 소자(10R)의 적색 발광층(54)을 성막하고, 그 후, 녹색 유기 EL 소자(10G)의 녹색 발광층(53)을 성막하며, 그 후, 청색 유기 EL 소자(10B)의 제1 발광층(51) 및 제2 발광층(52)을 성막한다고 하는 순서여도 좋다.
다음으로, 공통층으로서의 전자 수송층(8)을, 제2 발광층(52), 녹색 발광층(53) 및 적색 발광층(54) 상에 걸쳐 성막한다. 청색 유기 EL 소자(10B), 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 적색 유기 EL 소자(10R)의 전자 수송층(8)은, 동일한 재료, 또한, 동일한 막 두께로 성막한다.
다음으로, 공통층으로서의 전자 주입층(9)을 전자 수송층(8) 상에 성막한다. 청색 유기 EL 소자(10B), 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 적색 유기 EL 소자(10R)의 전자 주입층(9)은, 동일한 재료, 또한, 동일한 막 두께로 성막한다.
다음으로, 전자 주입층(9) 상에 공통층으로서의 음극(4)을 성막한다. 청색 유기 EL 소자(10B), 녹색 유기 EL 소자(10G) 및 적색 유기 EL 소자(10R)의 음극(4)은, 동일한 재료, 또한, 동일한 막 두께로 성막한다.
이상과 같이 하여, 도 4에 도시된 유기 EL 표시 장치(100A)를 제조한다.
다음으로, 일 실시형태에 따른 유기 EL 표시 장치(200)(도 5)의 제조 방법에 대해서 설명한다.
우선, 기판(2A) 상에 양극(3)을 성막한다.
다음으로, 공통층으로서의 유기층(유기층(L1)부터 유기층(Ln))을 양극(3) 상에 걸쳐 차례로 성막하고, 공통 대역으로서의 정공 수송 대역(7)을 제작한다. 청색 유기 EL 소자(10B), 녹색 유기 EL 소자(20G) 및 적색 유기 EL 소자(20R)의 정공 수송 대역(7) 중의 각 유기층은, 각각 동일한 재료, 또한, 동일한 막 두께로 성막된다.
다음에, 정공 수송 대역(7) 상으로서, 청색 유기 EL 소자(10B)의 양극(3)에 대응하는 영역에, 소정의 성막용 마스크(청색 유기 EL 소자용 마스크)를 이용하여, 제1 발광층(51)을 성막한다. 제1 발광층(51)의 성막에 이어서, 제1 발광층(51) 상에 제2 발광층(52)을 성막한다.
다음에, 정공 수송 대역(7) 상으로서, 녹색 유기 EL 소자(20G)의 양극(3)에 대응하는 영역에, 소정의 성막용 마스크(녹색 유기 EL 소자용 마스크)를 이용하여, 소정 막 두께로 녹색 유기층(531)을 성막한다. 녹색 유기층(531)의 성막에 이어서, 녹색 유기층(531) 상에 녹색 발광층(53)을 성막한다.
다음에, 정공 수송 대역(7) 상으로서, 적색 유기 EL 소자(20R)의 양극(3)에 대응하는 영역에, 소정의 성막용 마스크(적색 유기 EL 소자용 마스크)를 이용하여, 소정 막 두께로 적색 유기층(541)을 성막한다. 적색 유기층(541)의 성막에 이어서, 적색 유기층(541) 상에 적색 발광층(54)을 성막한다.
제1 발광층(51), 제2 발광층(52), 녹색 발광층(53) 및 적색 발광층(54)은, 서로 상이한 재료로 성막된다.
또한, 정공 수송 대역(7)의 성막 다음에, 청색 유기 EL 소자(10B), 녹색 유기 EL 소자(20G) 및 적색 유기 EL 소자(20R)의 비공통층을 성막하는 순서는, 특별히 한정되지 않는다.
예컨대, 정공 수송 대역(7)을 성막한 후, 녹색 유기 EL 소자(20G)의 녹색 유기층(531) 및 녹색 발광층(53)을 성막하고, 그 후, 적색 유기 EL 소자(20R)의 적색 유기층(541) 및 적색 발광층(54)을 성막하며, 그 후, 청색 유기 EL 소자(10B)의 제1 발광층(51) 및 제2 발광층(52)을 성막한다고 하는 순서여도 좋다.
또한, 예컨대, 정공 수송 대역(7)을 성막한 후, 적색 유기 EL 소자(20R)의 적색 유기층(541) 및 적색 발광층(54)을 성막하고, 그 후, 녹색 유기 EL 소자(20G)의 녹색 유기층(531) 및 녹색 발광층(53)을 성막하며, 그 후, 청색 유기 EL 소자(10B)의 제1 발광층(51) 및 제2 발광층(52)을 성막한다고 하는 순서여도 좋다.
다음에, 공통층으로서의 전자 수송층(8), 공통층으로서의 전자 주입층(9), 및 공통층으로서의 음극(4)을, 전술한 도 4에 도시된 유기 EL 표시 장치(100A)의 제조 방법과 동일한 방법으로 성막한다.
이상과 같이 하여, 도 5에 도시된 유기 EL 표시 장치(200)를 제조한다.
제2 실시형태에 따르면, 기존의 제조 라인을 활용하여 제조 가능하고, 복수의 발광층이 적층된 유기 EL 소자를 화소로서 구비하는 유기 EL 표시 장치를 제공할 수 있다.
[제3 실시형태]
(전자 기기)
본 실시형태에 따른 전자 기기는, 전술한 실시형태 중 어느 하나의 유기 EL 소자 또는 전술한 실시형태 중 어느 하나의 유기 EL 표시 장치를 탑재하고 있다. 전자 기기로서는, 예컨대, 표시 장치 및 발광 장치 등을 들 수 있다. 표시 장치로서는, 예컨대, 표시 부품(예컨대, 유기 EL 패널 모듈 등), 텔레비전, 휴대전화, 태블릿, 및 퍼스널 컴퓨터 등을 들 수 있다. 발광 장치로서는, 예컨대, 조명 및 차량용 등기구 등을 들 수 있다.
[실시형태의 변형]
또한, 본 발명은, 전술한 실시형태에 한정되지 않고, 본 발명의 목적을 달성할 수 있는 범위에서의 변경, 개량 등은 본 발명에 포함된다.
예컨대, 발광층은, 2층에 한정되지 않고, 2를 초과하는 복수의 발광층이 적층되어 있어도 좋다. 유기 EL 소자가 2를 초과하는 복수의 발광층을 갖는 경우, 적어도 2개의 발광층이 상기 실시형태에서 설명한 조건을 충족하고 있으면 좋다. 예컨대, 그 밖의 발광층이, 형광 발광형의 발광층이어도, 삼중항 여기 상태로부터 직접 기저 상태로의 전자 천이에 의한 발광을 이용한 인광 발광형의 발광층이어도 좋다.
또한, 유기 EL 소자가 복수의 발광층을 갖는 경우, 이들 발광층이 서로 인접하여 설치되어 있어도 좋고, 중간층을 통해 복수의 발광 유닛이 적층된, 이른바 탠덤형 유기 EL 소자여도 좋다.
또한, 예컨대, 발광층의 음극측에 장벽층을 인접시켜 설치하여도 좋다. 발광층의 음극측에서 직접 접하여 배치된 장벽층은, 정공, 및 여기자 중 적어도 어느 하나를 저지하는 것이 바람직하다.
예컨대, 발광층의 음극측에서 접하여 장벽층이 배치된 경우, 상기 장벽층은, 전자를 수송하고, 또한 정공이 상기 장벽층보다 음극측의 층(예컨대, 전자 수송층)에 도달하는 것을 저지한다. 유기 EL 소자가 전자 수송층을 포함하는 경우는, 발광층과 전자 수송층의 사이에 상기 장벽층을 포함하는 것이 바람직하다.
또한, 여기 에너지가 발광층으로부터 그 주변층으로 누출되지 않도록, 장벽층을 발광층에 인접시켜 설치하여도 좋다. 발광층에서 생성된 여기자가 상기 장벽층보다 전극측의 층(예컨대, 전자 수송층 및 정공 수송층 등)으로 이동하는 것을 저지한다.
발광층과 장벽층은 접합되어 있는 것이 바람직하다.
그 밖에, 본 발명의 실시에 있어서의 구체적인 구조, 및 형상 등은, 본 발명의 목적을 달성할 수 있는 범위에서 다른 구조 등으로 하여도 좋다.
실시예
이하, 실시예를 들어 본 발명을 더욱 상세히 설명한다. 본 발명은 이들 실시예에 전혀 한정되지 않는다.
<화합물>
실시예의 유기 EL 소자의 제조에 이용한 정공 수송 대역 재료로서의 화합물을 이하에 나타낸다.
[화 406]
[화 407]
[화 408]
비교예의 유기 EL 소자의 제조에 이용한 정공 수송 대역 재료로서의 화합물을 이하에 나타낸다.
[화 409]
실시예 및 비교예의 유기 EL 소자의 제조에 이용한 화합물을 이하에 나타낸다.
[화 410]
<유기 EL 소자의 제작>
유기 EL 소자를 이하와 같이 제작하여, 평가하였다.
[실시예 1]
25 mm×75 mm×1.1 mm 두께의 ITO(Indium Tin Oxide) 투명 전극(양극)이 구비된 유리 기판(지오마텍 가부시키가이샤 제조)을 이소프로필알코올 중에서 초음파 세정을 5분간 행한 후, UV 오존 세정을 30분간 행하였다. ITO 투명 전극의 막 두께는 130 nm로 하였다.
세정 후의 투명 전극 라인이 구비된 유리 기판을 진공 증착 장치의 기판 홀더에 장착하고, 우선 투명 전극 라인이 형성되어 있는 쪽의 면 상에 투명 전극을 덮도록 하여, 화합물 HT-1 및 화합물 HA-1을 공증착하여, 막 두께 10 nm의 제2 유기층(정공 주입층(HI)이라 칭하는 경우도 있음)을 형성하였다. 이 제2 유기층 중의 화합물 HT-1의 비율을 97 질량%로 하고, 화합물 HA-1의 비율을 3 질량%로 하였다.
제2 유기층의 성막에 이어서 화합물 HT-1을 증착하고, 막 두께 80 nm의 제1 유기층(정공 수송층(HT) 또는 전자 장벽층(EBL)이라고 칭하는 경우도 있음)을 형성하였다.
이와 같이 하여, 공통 정공 수송 대역 재료로서의 화합물 HT-1을 함유하는 제1 유기층 및 제2 유기층을 포함하는 정공 수송 대역을 형성하였다.
제1 유기층 상에 화합물 BH1-1(제1 호스트 재료(BH)) 및 화합물 BD-1(제1 발광성 화합물(BD))을, 화합물 BD-1의 비율이 1 질량%가 되도록 공증착하여, 막 두께 10 nm의 제1 발광층을 형성하였다.
제1 발광층 상에 화합물 BH2-1(제2 호스트 재료(BH)) 및 화합물 BD-1(제2 발광성 화합물(BD))을, 화합물 BD-1의 비율이 1 질량%가 되도록 공증착하여, 막 두께 10 nm의 제2 발광층을 형성하였다.
제2 발광층 상에 화합물 ET1-1을 증착하여, 막 두께 5 nm의 제1 전자 수송층(정공 장벽층(HBL)이라고 칭하는 경우도 있음)을 형성하였다.
제1 전자 수송층 상에 화합물 ET2-1을 증착하여, 막 두께 20 nm의 제2 전자 수송층(ET)을 형성하였다.
제2 전자 수송층 상에 화합물 LiF를 증착하여 막 두께 1 nm의 전자 주입층을 형성하였다.
전자 주입층 상에 금속 Al을 증착하여 막 두께 60 nm의 음극을 형성하였다.
실시예 1의 소자 구성을 약식으로 나타내면, 다음과 같다.
ITO(130)/HT-1:HA-1(10,97%:3%)/HT-1(80)/BH1-1:BD-1(10,99%:1%)/BH2-1:BD-1(10,99%:1%)/ET1-1(5)/ET2-1(20)/LiF(1)/Al(60)
또한, 괄호 안의 숫자는 막 두께(단위: nm)를 나타낸다.
동 괄호 안에 있어서, 퍼센트 표시된 숫자(97%:3%)는 제2 유기층에 있어서의 화합물 HT-1 및 화합물 HA-1의 비율(질량%)을 나타내고, 퍼센트 표시된 숫자(99%:1%)는 제1 발광층 또는 제2 발광층에 있어서의 호스트 재료(화합물 BH1-1 또는 BH2-1) 및 발광성 화합물(화합물 BD-1)의 비율(질량%)을 나타낸다.
[실시예 2∼16]
실시예 2∼16의 유기 EL 소자는 각각 공통 정공 수송 대역 재료로서의 화합물 HT-1을 표 1에 나타내는 정공 수송 대역 재료로 변경하고, 제1 유기층 및 제2 유기층을 성막한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 제작하였다.
[실시예 17]
실시예 17의 유기 EL 소자는 공통 정공 수송 대역 재료로서의 화합물 HT-1을 표 2에 나타내는 정공 수송 대역 재료로 변경하고, 제1 유기층 및 제2 유기층을 성막한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 제작하였다.
[비교예 1]
비교예 1의 유기 EL 소자는, 공통 정공 수송 대역 재료로서의 화합물 HT-1을 표 1에 나타내는 정공 수송 대역 재료로 변경하고, 제1 유기층 및 제2 유기층을 성막한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 제작하였다.
<유기 EL 소자의 평가>
제작한 유기 EL 소자에 대해서 이하의 평가를 행하였다. 평가 결과를 표 1 및 표 2에 나타낸다.
(구동 전압)
전류 밀도가 10 mA/cm2가 되도록 양극과 음극의 사이에 통전했을 때의 전압(단위: V)을 계측하였다.
(외부 양자 효율 EQE)
전류 밀도가 10 mA/㎠가 되도록 소자에 전압을 인가했을 때의 분광 방사 휘도 스펙트럼을 분광 방사 휘도계 CS-2000(코니카미놀타 가부시키가이샤 제조)으로 계측하였다.
얻어진 분광 방사 휘도 스펙트럼으로부터, 램버시안 방사를 행했다고 가정하고 외부 양자 효율 EQE(단위: %)를 산출하였다.
(수명 LT95)
제작한 유기 EL 소자에, 전류 밀도가 50 mA/㎠가 되도록 전압을 인가하고, 초기 휘도에 대하여 휘도가 95%가 될 때까지의 시간[LT95(단위: 시간)]을 수명으로서 측정하였다. 휘도는 분광 방사 휘도계 CS-2000(코니카미놀타 가부시키가이샤 제조)을 이용하여 측정하였다.
실시예 1∼17의 유기 EL 소자는, 정공 수송 대역을 구성하는 유기층의 수가 2층이어도, 소자 성능의 저하가 억제되어, 고효율이고 장수명이었다.
<화합물의 평가 방법>
(삼중항 에너지 T1)
측정 대상이 되는 화합물을 EPA(디에틸에테르:이소펜탄:에탄올=5:5:2(용적비)) 중에, 농도가 10 μmol/L가 되도록 용해하여 용액을 얻고, 이 용액을 석영 셀 안에 넣어 측정 시료로 하였다. 이 측정 시료에 대해서, 저온(77[K])에서 인광 스펙트럼(종축: 인광 발광 강도, 횡축: 파장으로 함)을 측정하고, 이 인광 스펙트럼의 단파장측의 상승에 대하여 접선을 긋고, 그 접선과 횡축과의 교점의 파장값 λedge[nm]에 기초하여, 다음 환산식 (F1)으로부터 산출되는 에너지량을 삼중항 에너지 T1로 하였다. 또한, 삼중항 에너지 T1은, 측정 조건에 따라서는 상하 0.02 eV 정도의 오차가 발생할 수 있다.
환산식 (F1): T1[eV]=1239.85/λedge
인광 스펙트럼의 단파장측의 상승에 대한 접선은 이하와 같이 긋는다. 인광 스펙트럼의 단파장측으로부터, 스펙트럼의 극대값 중, 가장 단파장측의 극대값까지 스펙트럼 곡선 상을 이동할 때에, 장파장측을 향해 곡선 상의 각 점에 있어서의 접선을 생각한다. 이 접선은, 곡선이 상승함에 따라(즉 종축이 증가함에 따라), 기울기가 증가한다. 이 기울기의 값이 극대값을 취하는 점에 있어서 그은 접선(즉 변곡점에 있어서의 접선)은, 상기 인광 스펙트럼의 단파장측의 상승에 대한 접선으로 한다.
또한, 스펙트럼의 최대 피크 강도의 15% 이하의 피크 강도를 갖는 극대점은, 전술한 가장 단파장측의 극대값에는 포함시키지 않고, 가장 단파장측의 극대값에 가장 가까운, 기울기의 값이 극대값을 취하는 점에 있어서 그은 접선을 상기 인광 스펙트럼의 단파장측의 상승에 대한 접선으로 한다.
인광의 측정에는, (주)히타치하이테크놀로지 제조의 F-4500형 분광 형광 광도계 본체를 이용하였다.
(일중항 에너지 S1)
측정 대상이 되는 화합물의 10 μmol/L 톨루엔 용액을 조제하여 석영 셀에 넣고, 상온(300 K)에서 이 시료의 흡수 스펙트럼(종축: 흡수 강도, 횡축: 파장으로 함)을 측정하였다. 이 흡수 스펙트럼의 장파장측의 하강에 대하여 접선을 긋고, 그 접선과 횡축과의 교점의 파장값 λedge[nm]를 다음에 나타내는 환산식 (F2)에 대입하여 일중항 에너지를 산출하였다.
환산식 (F2): S1[eV]=1239.85/λedge
흡수 스펙트럼 측정 장치로서는, 히타치사 제조의 분광 광도계(장치명: U3310)를 이용하였다.
흡수 스펙트럼의 장파장측의 하강에 대한 접선은 이하와 같이 긋는다. 흡수 스펙트럼의 극대값 중, 가장 장파장측의 극대값으로부터 장파장 방향으로 스펙트럼 곡선 상을 이동할 때에, 곡선 상의 각 점에 있어서의 접선을 생각한다. 이 접선은, 곡선이 하강함에 따라(즉 종축의 값이 감소함에 따라), 기울기가 감소하고 그 후 증가하는 것을 반복한다. 기울기의 값이 가장 장파장측(단, 흡광도가 0.1 이하가 되는 경우는 제외함)에서 극소값을 취하는 점에 있어서 그은 접선을 상기 흡수 스펙트럼의 장파장측의 하강에 대한 접선으로 한다.
또한, 흡광도의 값이 0.2 이하인 극대점은, 상기 가장 장파장측의 극대값에는 포함시키지 않는다.
(이온화 포텐셜 Ip)
이온화 포텐셜 Ip를 대기중 광전자 분광법에 의해 측정하였다. 측정 방법은, 다음과 같다. 이온화 포텐셜 Ip는, 측정 대상 화합물에 광을 조사하고, 그 때에 전하 분리에 의해 발생하는 전자량을, 대기하 광전자 분광 장치(리켄케이키가부시키가이샤 제조: AC-3)를 이용하여 측정함으로써, 화합물의 이온화 포텐셜을 측정하였다. 이온화 포텐셜을 Ip라고 표기하는 경우가 있다. 표에 있어서, ΔIp는, 제1 호스트 재료의 이온화 포텐셜 Ip(H1)와, 정공 수송 대역 재료의 이온화 포텐셜 Ip(cHT)의 차이며, 하기 수식(수 1X)에 의해 산출된다.
ΔIp=Ip(H1)-Ip(cHT) …(수 1X)
(어피니티값 Af)
측정 대상물(화합물 또는 재료)의 어피니티값 Af는 다음 수식(수 1Y)에 의해 산출하였다. 어피니티값 Af의 단위는 eV이다.
Af=-1.19×(Ere-Efc)-4.78 eV …(수 1Y)
수식(수 1Y)에 있어서, Ere 및 Efc는 다음과 같다.
Ere: 측정 대상물의 제1 환원 전위(DPV, Negative scan)
Efc: 페로센의 제1 산화 전위(DPV, Positive scan), (ca. +0.55 V vs Ag/AgCl)
산화 환원 전위는, 전기 화학 분석기(ALS사 제조: CHI630B)를 이용하여 미분 펄스 볼턴메트리(DPV)법으로 측정하였다. 측정에 이용하는 시료 용액은, 용매로서 N,N-디메틸포름아미드(N,N-dimethylformamide(DMF))를 이용하고, 측정 대상물을, 그 농도가 1.0 mmol/L가 되도록 용해시켜, 지지 전해질로서의 테트라부틸암모늄헥사플루오로포스페이트(tetrabuthylammmonium hexafluorophosphate(TBHP))를, 그 농도가 100 mmol/L가 되도록 용해시켜 조제하였다. 작용 전극으로서는, 글래시 카본(glassy carbon) 전극을 이용하였다. 대향 전극으로서는, 백금(Pt) 전극을 이용하였다.
(형광 발광 최대 피크 파장(FL-peak)의 측정)
측정 대상이 되는 화합물을, 4.9×10-6 mol/L의 농도로 톨루엔에 용해하고, 톨루엔 용액을 조제하였다. 형광 스펙트럼 측정 장치(분광 형광 광도계 F-7000(가부시키가이샤 히타치하이테크사이언스 제조))를 이용하여, 톨루엔 용액을 390 nm로 여기한 경우의 형광 발광 최대 피크 파장 λ(단위: nm)를 측정하였다.
화합물 BD-1의 형광 발광 최대 피크 파장 λ는 445 nm였다.
1, 1B, 1C…유기 일렉트로루미네센스 소자, 10, 12, 13…유기층, 2, 2A…기판, 3…양극, 4…음극, 5…발광 영역, 6, 6A, 6B, 7…정공 수송 대역, 8…전자 수송층, 9…전자 주입층, 10B…청색 유기 EL 소자, 10G, 20G…녹색 유기 EL 소자, 10R, 20R…적색 유기 EL 소자, 51…제1 발광층, 52…제2 발광층, 53…녹색 발광층, 54…적색 발광층, 61…제1 유기층, 62…제2 유기층, 63…제3 유기층, 100A, 200…유기 EL 표시 장치, 531…녹색 유기층, 541…적색 유기층.
Claims (27)
- 유기 일렉트로루미네센스 소자로서,
양극과,
음극과,
상기 양극 및 상기 음극의 사이에 배치된 발광 영역과,
상기 양극 및 상기 발광 영역의 사이에 배치된 정공 수송 대역을 가지며,
상기 발광 영역은 제1 발광층 및 제2 발광층을 포함하고,
상기 제1 발광층이 상기 발광 영역에 있어서 상기 양극측에 배치되며,
상기 정공 수송 대역은 상기 양극 및 상기 제1 발광층과 직접 접하고,
상기 정공 수송 대역은 1 또는 복수의 유기층을 포함하며,
상기 정공 수송 대역 중의 적어도 하나의 유기층은 상기 제1 발광층과 직접 접하는 제1 유기층이고,
상기 제1 유기층은 정공 수송 대역 재료를 포함하며,
상기 제1 발광층은, 제1 호스트 재료와, 최대 피크 파장이 500 nm 이하인 발광을 나타내는 제1 발광성 화합물을 포함하고,
상기 제2 발광층은, 제2 호스트 재료와, 최대 피크 파장이 500 nm 이하인 발광을 나타내는 제2 발광성 화합물을 포함하며,
상기 제1 호스트 재료와 상기 제2 호스트 재료는 서로 상이하고,
상기 제1 발광성 화합물과 상기 제2 발광성 화합물이 서로 동일하거나 또는 상이하며,
상기 제1 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H1)과 상기 제2 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H2)이 하기 수식(수 1)의 관계를 충족시키고,
상기 정공 수송 대역 재료의 어피니티값 Af(cHT)가 1.47 eV 미만이며,
상기 정공 수송 대역 재료의 어피니티값 Af(cHT)는 미분 펄스 볼턴메트리법으로 측정한 값인, 유기 일렉트로루미네센스 소자.
T1(H1)>T1(H2) …(수 1) - 제1항에 있어서, 상기 정공 수송 대역 재료의 이온화 포텐셜 Ip(cHT)가 5.70 eV 이하이고,
상기 정공 수송 대역 재료의 이온화 포텐셜 Ip(cHT)는, 대기중 광전자 분광법에 의해 측정한 값인, 유기 일렉트로루미네센스 소자. - 제2항에 있어서, 상기 정공 수송 대역 재료의 이온화 포텐셜 Ip(cHT)가 5.65 eV 미만인, 유기 일렉트로루미네센스 소자.
- 제1항에 있어서, 상기 제1 호스트 재료의 이온화 포텐셜 Ip(H1)와, 상기 정공 수송 대역 재료의 이온화 포텐셜 Ip(cHT)가, 하기 수식(수 40)을 충족시키고,
상기 정공 수송 대역 재료의 이온화 포텐셜 Ip(cHT) 및 상기 제1 호스트 재료의 Ip(H1)는, 대기중 광전자 분광법에 의해 측정한 값인, 유기 일렉트로루미네센스 소자.
0 eV<Ip(H1)-Ip(cHT)<0.30 eV …(수 40) - 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 정공 수송 대역 중의 유기층은 모두 상기 정공 수송 대역 재료를 공통으로 함유하는, 유기 일렉트로루미네센스 소자.
- 제5항에 있어서, 상기 정공 수송 대역 중의 유기층은, 모두, 어피니티값 Af(cHT)가 1.47 eV 미만인 상기 정공 수송 대역 재료를 공통으로 함유하는, 유기 일렉트로루미네센스 소자.
- 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 정공 수송 대역 재료는, 치환 혹은 무치환의 아미노기를 분자 중에 하나만 갖는 모노아민 화합물인, 유기 일렉트로루미네센스 소자.
- 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 정공 수송 대역 재료는, 하기 일반식 (21)로 표시되는 화합물인, 유기 일렉트로루미네센스 소자.
[화 1]
(상기 일반식 (21)에 있어서,
LA1, LB1, 및 LC1은 각각 독립적으로
단일 결합,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼18의 아릴렌기, 또는
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼13의 2가의 복소환기이고,
LA1 및 LB1이 단일 결합인 경우, A1 및 B1이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않으며,
LA1 및 LC1이 단일 결합인 경우, A1 및 C1이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않고,
LB1 및 LC1이 단일 결합인 경우, B1 및 C1이
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하거나,
서로 결합하여 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하거나, 또는
서로 결합하지 않으며,
상기 치환 혹은 무치환의 단환을 형성하지 않고, 또한 상기 치환 혹은 무치환의 축합환을 형성하지 않는 A1, B1, 및 C1은 각각 독립적으로
치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼30의 아릴기,
치환 혹은 무치환의 고리 형성 원자수 5∼30의 복소환기, 또는
-Si(R921)(R922)(R923)으로 표시되는 기이며,
R921, R922 및 R923은 각각 독립적으로 치환 혹은 무치환의 고리 형성 탄소수 6∼30의 아릴기이고,
R921이 복수 존재하는 경우, 복수의 R921은 서로 동일하거나 또는 상이하며,
R922가 복수 존재하는 경우, 복수의 R922는 서로 동일하거나 또는 상이하고,
R923이 복수 존재하는 경우, 복수의 R923은 서로 동일하거나 또는 상이하다.) - 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 유기층은 정공 수송층이며 전자 장벽층인, 유기 일렉트로루미네센스 소자.
- 제1항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 정공 수송 대역은, 상기 제1 유기층과, 상기 제1 유기층과 상기 양극의 사이에 배치된 제2 유기층을 포함하고,
상기 제2 유기층은, 상기 정공 수송 대역 재료와, 추가로 상기 정공 수송 대역 재료와는 상이한 제2 정공 수송 대역 재료를 함유하는, 유기 일렉트로루미네센스 소자. - 제10항에 있어서, 상기 제2 유기층은 상기 양극과 직접 접하는, 유기 일렉트로루미네센스 소자.
- 제10항에 있어서, 상기 정공 수송 대역은, 상기 제1 유기층과, 상기 제2 유기층과, 상기 제2 유기층과 상기 양극의 사이에 배치된 제3 유기층을 포함하고,
상기 제3 유기층은, 상기 정공 수송 대역 재료와, 추가로 상기 정공 수송 대역 재료와는 상이한 제3 정공 수송 대역 재료를 함유하는, 유기 일렉트로루미네센스 소자. - 제1항 내지 제12항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 유기층은, 상기 정공 수송 대역 재료와, 상기 정공 수송 대역 재료와는 상이한 제1 정공 수송 대역 재료를 함유하는, 유기 일렉트로루미네센스 소자.
- 제1항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 정공 수송 대역은, 상기 정공 수송 대역 재료와는 상이한 재료를 함유하지 않는, 유기 일렉트로루미네센스 소자.
- 제1항 내지 제14항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 호스트 재료의 일중항 에너지 S1(H1)과, 상기 제1 발광성 화합물의 일중항 에너지 S1(D1)이 하기 수식(수 20)의 관계를 충족시키는, 유기 일렉트로루미네센스 소자.
S1(H1)>S1(D1) …(수 20) - 제1항 내지 제15항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H1)과, 상기 제1 발광성 화합물의 삼중항 에너지 T1(D1)이 하기 수식(수 20A)의 관계를 충족시키는, 유기 일렉트로루미네센스 소자.
T1(D1)>T1(H1) …(수 20A) - 제1항 내지 제16항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 발광층과 상기 제2 발광층이 직접 접하고 있는, 유기 일렉트로루미네센스 소자.
- 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치로서,
서로 대향하여 배치된 양극 및 음극을 가지며,
청색 화소로서의 청색 유기 EL 소자, 녹색 화소로서의 녹색 유기 EL 소자 및 적색 화소로서의 적색 유기 EL 소자를 가지며,
상기 청색 유기 EL 소자는, 상기 양극과 상기 음극의 사이에 배치된 제1 발광층 및 제2 발광층을 갖는 청색 발광 영역을 가지며,
상기 제1 발광층이, 상기 청색 발광 영역에 있어서 상기 양극측에 배치되고,
상기 녹색 유기 EL 소자는, 상기 양극과 상기 음극의 사이에 배치된 녹색 발광층을 가지며,
상기 적색 유기 EL 소자는, 상기 양극과 상기 음극의 사이에 배치된 적색 발광층을 가지며,
상기 청색 유기 EL 소자, 상기 녹색 유기 EL 소자 및 상기 적색 유기 EL 소자는, 상기 청색 유기 EL 소자의 상기 청색 발광 영역, 상기 녹색 유기 EL 소자의 상기 녹색 발광층 및 상기 적색 유기 EL 소자의 상기 적색 발광층 각각과, 상기 양극의 사이에 있어서, 상기 청색 유기 EL 소자, 상기 녹색 유기 EL 소자 및 상기 적색 유기 EL 소자에 걸쳐 공통으로 설치된 정공 수송 대역을 가지며,
상기 정공 수송 대역은, 상기 청색 유기 EL 소자의 상기 제1 발광층과 직접 접하는 제1 유기층을 가지며,
상기 제1 유기층은 정공 수송 대역 재료를 함유하고,
상기 제1 발광층은, 제1 호스트 재료와, 최대 피크 파장이 500 nm 이하인 발광을 나타내는 제1 발광성 화합물을 포함하며,
상기 제2 발광층은, 제2 호스트 재료와, 최대 피크 파장이 500 nm 이하인 발광을 나타내는 제2 발광성 화합물을 포함하고,
상기 제1 호스트 재료와 상기 제2 호스트 재료는 서로 상이하며,
상기 제1 발광성 화합물과 상기 제2 발광성 화합물이 서로 동일하거나 또는 상이하고,
상기 제1 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H1)과 상기 제2 호스트 재료의 삼중항 에너지 T1(H2)이 하기 수식(수 1)의 관계를 충족시키며,
상기 정공 수송 대역 재료의 어피니티값 Af(cHT)가 1.47 eV 미만이고,
상기 정공 수송 대역 재료의 어피니티값 Af(cHT)는 미분 펄스 볼턴메트리법으로 측정한 값인, 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치.
T1(H1)>T1(H2) …(수 1) - 제18항에 있어서, 상기 정공 수송 대역 재료의 정공 이동도가 1.0×10-5 cm2/Vs 이상인, 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치.
- 제18항 또는 제19항에 있어서, 상기 녹색 발광층과 상기 정공 수송 대역의 사이에 녹색 유기층을 구비하는, 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치.
- 제18항 내지 제20항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 적색 발광층과 상기 정공 수송 대역의 사이에 적색 유기층을 구비하는, 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치.
- 제8항 내지 제21항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 녹색 유기 EL 소자 및 상기 적색 유기 EL 소자 중 적어도 어느 하나의 유기 EL 소자가 지연 형광성 화합물을 함유하는, 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치.
- 제18항 내지 제22항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 녹색 유기 EL 소자의 상기 녹색 발광층 및 상기 적색 유기 EL 소자의 상기 적색 발광층 중 적어도 어느 하나의 발광층이 지연 형광성 화합물을 함유하는, 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치.
- 제23항에 있어서, 상기 지연 형광성 화합물을 포함하는 발광층은, 상기 지연 형광성 화합물의 어피니티값보다 작은 어피니티값을 갖는 제1 유기 재료를 함유하는, 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치.
- 제23항 또는 제24항에 있어서, 상기 녹색 발광층 및 상기 적색 발광층 중, 상기 지연 형광성 화합물을 함유하지 않는 발광층은, 인광 발광성 화합물을 함유하는, 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치.
- 제1항 내지 제17항 중 어느 한 항에 기재된 유기 일렉트로루미네센스 소자를 탑재한 전자 기기.
- 제18항 내지 제25항 중 어느 한 항에 기재된 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치를 탑재한 전자 기기.
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JPJP-P-2021-074488 | 2021-04-26 | ||
| JP2021074488A JP2024112327A (ja) | 2021-04-26 | 2021-04-26 | 有機エレクトロルミネッセンス素子、有機エレクトロルミネッセンス表示装置及び電子機器 |
| PCT/JP2022/018802 WO2022230842A1 (ja) | 2021-04-26 | 2022-04-26 | 有機エレクトロルミネッセンス素子、有機エレクトロルミネッセンス表示装置及び電子機器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20240001701A true KR20240001701A (ko) | 2024-01-03 |
Family
ID=83848130
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020237039114A KR20240001701A (ko) | 2021-04-26 | 2022-04-26 | 유기 일렉트로루미네센스 소자, 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치 및 전자 기기 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20240260300A1 (ko) |
| JP (1) | JP2024112327A (ko) |
| KR (1) | KR20240001701A (ko) |
| CN (1) | CN117223393A (ko) |
| WO (1) | WO2022230842A1 (ko) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007294261A (ja) | 2006-04-25 | 2007-11-08 | Matsushita Electric Works Ltd | 有機エレクトロルミネッセンス素子 |
| WO2010134350A1 (ja) | 2009-05-22 | 2010-11-25 | 出光興産株式会社 | 有機エレクトロルミネッセンス素子 |
| US20190280209A1 (en) | 2018-03-08 | 2019-09-12 | Jnc Corporation | Organic electroluminescent element |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20120022859A (ko) * | 2009-04-01 | 2012-03-12 | 이데미쓰 고산 가부시키가이샤 | 유기 전기발광 소자 |
| US20100295445A1 (en) * | 2009-05-22 | 2010-11-25 | Idemitsu Kosan Co., Ltd. | Organic electroluminescent device |
| JP2013200939A (ja) * | 2010-06-08 | 2013-10-03 | Idemitsu Kosan Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンス素子 |
| JP2015065248A (ja) * | 2013-09-24 | 2015-04-09 | 出光興産株式会社 | 有機エレクトロルミネッセンス素子および電子機器 |
| US9917270B1 (en) * | 2017-05-08 | 2018-03-13 | Cynora Gmbh | Organic electroluminescent device having an exciton quenching layer |
| WO2021049653A1 (ja) * | 2019-09-13 | 2021-03-18 | 出光興産株式会社 | 有機エレクトロルミネッセンス素子及び電子機器 |
-
2021
- 2021-04-26 JP JP2021074488A patent/JP2024112327A/ja active Pending
-
2022
- 2022-04-26 CN CN202280029320.2A patent/CN117223393A/zh active Pending
- 2022-04-26 US US18/288,149 patent/US20240260300A1/en active Pending
- 2022-04-26 WO PCT/JP2022/018802 patent/WO2022230842A1/ja active Application Filing
- 2022-04-26 KR KR1020237039114A patent/KR20240001701A/ko unknown
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007294261A (ja) | 2006-04-25 | 2007-11-08 | Matsushita Electric Works Ltd | 有機エレクトロルミネッセンス素子 |
| WO2010134350A1 (ja) | 2009-05-22 | 2010-11-25 | 出光興産株式会社 | 有機エレクトロルミネッセンス素子 |
| US20190280209A1 (en) | 2018-03-08 | 2019-09-12 | Jnc Corporation | Organic electroluminescent element |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20240260300A1 (en) | 2024-08-01 |
| WO2022230842A1 (ja) | 2022-11-03 |
| JP2024112327A (ja) | 2024-08-21 |
| CN117223393A (zh) | 2023-12-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR20220061138A (ko) | 유기 일렉트로루미네센스 소자 및 전자 기기 | |
| KR20220097876A (ko) | 유기 일렉트로루미네센스 소자 및 전자 기기 | |
| WO2021210582A1 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子及び電子機器 | |
| WO2017115788A1 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子及び電子機器 | |
| EP4310931A1 (en) | Organic electroluminescent element, compound, and electronic device | |
| JP7487223B2 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子及び電子機器 | |
| KR20230027191A (ko) | 유기 일렉트로루미네센스 소자 및 전자 기기 | |
| KR20240021855A (ko) | 유기 일렉트로루미네센스 소자, 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치 및 전자 기기 | |
| EP4141011A1 (en) | Compound, material for organic electroluminescent element, organic electroluminescent element, and electronic equipment | |
| KR20230131254A (ko) | 유기 일렉트로루미네센스 소자, 유기 일렉트로루미네센스표시 장치 및 전자 기기 | |
| WO2022230844A1 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子、有機エレクトロルミネッセンス表示装置及び電子機器 | |
| WO2022186390A1 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子及び電子機器 | |
| KR20240019325A (ko) | 유기 일렉트로루미네센스 소자, 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치 및 전자 기기 | |
| CN116998242A (zh) | 有机电致发光元件及电子设备 | |
| CN116568776A (zh) | 有机电致发光元件及电子设备 | |
| JP2023004428A (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子、有機エレクトロルミネッセンス表示装置及び電子機器 | |
| WO2022230842A1 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子、有機エレクトロルミネッセンス表示装置及び電子機器 | |
| WO2022230843A1 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子、有機エレクトロルミネッセンス表示装置及び電子機器 | |
| WO2022191234A1 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子、電子機器及び有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法 | |
| WO2021256565A1 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子及び電子機器 | |
| WO2022191326A1 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子及び電子機器 | |
| US20240114780A1 (en) | Organic electroluminescent element and electronic device | |
| WO2023238769A1 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子、化合物、及び電子機器 | |
| JP2023133651A (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子及び電子機器 | |
| JP2024094440A (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子、電子機器及び有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法 |