KR20220043425A - 홀 센서 오프셋 저감 장치 및 렌즈 모듈 제어 장치 - Google Patents

홀 센서 오프셋 저감 장치 및 렌즈 모듈 제어 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치는, 홀 센서(hall sensor)의 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압 차이를 증폭하는 증폭기와, 제1 홀 센서 출력단자의 전압이 증폭기를 선택적으로 우회하여 전달되도록 구성된 제1 스위치와, 제2 홀 센서 출력단자의 전압이 증폭기를 선택적으로 우회하여 전달되도록 구성된 제2 스위치와, 제1 및 제2 홀 센서 출력단자에 전기적으로 연결되고 제1 또는 제2 스위치에 의해 우회하여 전달된 전압에 기반하여 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압 오프셋(offset)을 줄이도록 가변하는 저항값을 가지는 오프셋 저감기를 포함할 수 있다.

Description

홀 센서 오프셋 저감 장치 및 렌즈 모듈 제어 장치{Apparatus for reducing offset of hall sensor and apparatus for control lens module}
본 발명은 홀 센서 오프셋 저감 장치 및 렌즈 모듈 제어 장치에 관한 것이다.
일반적으로 외부로부터 받는 힘에 따라 렌즈 모듈이 움직일 때, 상기 렌즈 모듈의 외부에 대한 상대적인 위치를 고정시키기 위한 기술이 널리 활용되고 있다.
예를 들어, 카메라 모듈은 외부로부터 힘을 받더라도 내부의 렌즈 모듈의 위치를 고정시키는 광학식 손떨림 보정(Optical Image Stabilizer) 장치를 포함할 수 있다.
홀 센서는 렌즈 모듈의 위치 정보를 측정하기 위해 사용될 수 있으며, 홀 센서는 렌즈 모듈의 위치에 따라 달라지는 전압을 출력할 수 있다. 광학식 손떨림 보정 정확도는 홀 센서의 출력전압과 렌즈 모듈의 위치 정보 간의 대응관계 정확도가 높을수록 높아질 수 있다.
홀 센서의 오프셋(offset)은 홀 센서의 출력전압과 렌즈 모듈의 위치 정보 간의 대응관계 정확도를 저하시킬 수 있다.
등록특허공보 제10-2105034호
본 발명은 홀 센서 오프셋 저감 장치 및 렌즈 모듈 제어 장치를 제공한다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치는, 홀 센서(hall sensor)의 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압 차이를 증폭하는 증폭기; 상기 제1 홀 센서 출력단자의 전압이 상기 증폭기를 선택적으로 우회하여 전달되도록 구성된 제1 스위치; 상기 제2 홀 센서 출력단자의 전압이 상기 증폭기를 선택적으로 우회하여 전달되도록 구성된 제2 스위치; 및 상기 제1 및 제2 홀 센서 출력단자에 전기적으로 연결되고, 상기 제1 또는 제2 스위치에 의해 우회하여 전달된 전압에 기반하여 상기 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압 오프셋(offset)을 줄이도록 가변하는 저항값을 가지는 오프셋 저감기; 를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 렌즈 모듈 제어 장치는, 상기 홀 센서 오프셋 저감 장치; 상기 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압 차이에 기반하여 구동 전류를 출력하는 구동기; 상기 구동 전류를 전달받는 구동 코일; 상기 구동 코일에 흐르는 구동 전류에 기반하여 움직이도록 배치된 렌즈 모듈; 및 상기 렌즈 모듈의 위치에 기반하여 상기 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압 차이가 결정되도록 배치된 상기 홀 센서; 를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치 및 렌즈 모듈 제어 장치는, 홀 센서의 오프셋 레벨이나 증폭기의 이득에 따른 영향을 받지 않고도 홀 센서의 오프셋을 효율적으로 줄일 수 있으며, 상대적으로 전력소모가 작고 간소화된 구조를 가질 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치를 나타낸 도면이다.
도 2a 내지 도 2c는 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치의 제1, 제2 및 제3 모드에서의 등가회로를 나타낸 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치의 오프셋 저감기의 저항값 결정 과정을 예시한 순서도이다.
도 4a 및 도 4b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치의 스위치 및 오프셋 저감기에 대한 제어를 나타낸 도면이다.
도 5a 내지 도 5c는 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치의 스위치 주변의 변형적 구조를 예시한 도면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치의 가변 저항기를 예시한 도면이다.
도 7a는 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치가 오프셋 저감기의 저항값을 제어하기 전의 전압을 예시한 그래프이다.
도 7b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치가 오프셋 저감기의 저항값을 제어한 이후의 전압을 예시한 그래프이다.
도 8a 및 도 8b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치의 바이어스 전류에 따른 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압 차이를 예시한 그래프이다.
도 9는 본 발명의 일 실시 예에 따른 렌즈 모듈 제어 장치를 나타낸 도면이다.
후술하는 본 발명에 대한 상세한 설명은, 본 발명이 실시될 수 있는 특정 실시예를 예시로서 도시하는 첨부 도면을 참조한다. 본 발명의 다양한 실시예는 서로 다르지만 상호 배타적일 필요는 없음이 이해되어야 한다. 예를 들어, 여기에 기재되어 있는 특정 형상, 구조 및 특성은 일 실시예에 관련하여 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 다른 실시예로 구현될 수 있다. 또한, 각각의 개시된 실시예 내의 개별 구성요소의 위치 또는 배치는 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 변경될 수 있음이 이해되어야 한다. 따라서, 후술하는 상세한 설명은 한정적인 의미로서 취하려는 것이 아니며, 본 발명의 범위는, 적절하게 설명된다면, 그 청구항들이 주장하는 것과 균등한 모든 범위와 더불어 첨부된 청구항에 의해서만 한정된다. 도면에서 유사한 참조부호는 여러 측면에 걸쳐서 동일하거나 유사한 기능을 지칭한다.
이하에서는, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있도록 하기 위하여, 본 발명의 실시 예들에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치를 나타낸 도면이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치(100a)는, 증폭기(110), 스위치부(140) 및 오프셋 저감기(120)를 포함할 수 있다.
예를 들어, 홀 센서 오프셋 저감 장치(100a)는 IC(Integrated Circuit)로 구현될 수 있으며, 인쇄회로기판과 같은 기판 상에 실장될 수 있으며, 기판을 통해 홀 센서(300)에 전기적으로 연결될 수 있다. 설계에 따라, 홀 센서 오프셋 저감 장치(100a)와 홀 센서(300)는 단일 IC로 통합될 수도 있다.
홀 센서(400)의 등가회로는 제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서 저항(HR1, HR2, HR3, HR4)을 포함할 수 있다. 바이어스 전류(IB)는 제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서 저항(HR1, HR2, HR3, HR4)을 흐를 수 있다. 제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서 저항(HR1, HR2, HR3, HR4)의 구체적 구조는 등가회로로 제한되지 않고, 다양한 방식으로 구현될 수 있다.
홀 센서(400)는 홀 효과(hall effect)를 이용하여 홀 센서(400)를 통과하는 자속(magnetic flux)을 감지할 수 있다. 홀 센서(400)에 자속이 통과할 경우, 홀 센서(400)는 바이어스 전류(IB)와 상기 자속에 수직인 방향으로 홀 전압을 생성할 수 있으며, 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)의 전압 차이는 상기 홀 전압에 대응될 수 있다. 따라서, 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)의 전압 차이는 홀 센서(400)를 통과하는 자속에 대한 측정값으로 사용될 수 있다.
예를 들어, 홀 센서(400)를 통과하는 자속을 형성하는 자성 구조(예: 렌즈 모듈에 배치된 자석)의 위치가 홀 센서(400)에 가까울수록 홀 센서(400)를 통과하는 자속은 커질 수 있다. 따라서, 홀 센서(400)를 통과하는 자속의 변화값은 상기 자성 구조의 움직인 거리에 비례할 수 있다.
기준 자속이 정의되고 기준 자속에 대응되는 상기 자성 구조의 위치가 정의될 경우, 홀 센서(400)를 통과하는 자속과 기준 자속 간의 차이값은 상기 자성 구조의 절대적 위치에 대응될 수 있다.
예를 들어, 기준 자속에 대응되는 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)의 전압 차이의 기준은 0으로 정해질 수 있으며, 상기 자성 구조의 위치는 중심 위치로 정의될 수 있다.
그러나, 상기 자성 구조의 배치/조립 과정에서의 오차나 홀 센서(400)의 저항값 오차나 홀 센서 오프셋 저감 장치(100a)가 배치된 전자기기의 타 구조(예: 무선전력전송기) 등으로 인해, 상기 자성 구조의 실제 위치는 정의된 자성 구조의 위치로부터 벗어날 수 있다. 상기 자성 구조의 실제 위치와 정의된 자성 구조의 위치 간의 차이는 오프셋(offset)으로 정의될 수 있다.
또한, 오프셋은 자성 구조의 실제 위치가 정의된 자성 구조의 위치일 때의 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)의 전압 차이와 기준 전압(예: 0) 간의 차이로 정의될 수도 있다. 예를 들어, 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)의 전압 차이의 기준이 0으로 정의될 경우, 자성 구조의 실제 위치가 정의된 자성 구조의 위치일 때의 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)의 전압 차이는 0보다 크거나 작을 수 있다.
증폭기(110)는 홀 센서(400)의 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)의 전압 차이를 증폭할 수 있다.
예를 들어, 증폭기(110)는 연산 증폭기와 복수의 저항이 조합된 (비)반전 증폭기 회로로 구현될 수 있으며, 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)의 전압 차이에 비례하는 증폭된 전압을 출력할 수 있다. 증폭기(110)에 의해 증폭된 전압은 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)의 전압 차이에 비례할 수 있다.
증폭기(110)의 이득(gain)은 상기 복수의 저항의 저항값 관계에 따라 결정될 수 있다. 낮은 이득을 가지는 증폭기(110)는 홀 센서(400)의 자속 감지 범위가 넓게 요구될 경우에 유리할 수 있으며, 높은 이득을 가지는 증폭기(110)는 홀 센서(400)의 자속 감지 해상도(resolution)가 높게 요구될 경우에 유리할 수 있다.
만약 홀 센서(400)에 오프셋이 있을 경우, 자성 구조의 실제 위치가 정의된 자성 구조의 위치일 때의 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)의 전압 차이는 오프셋에 대응될 수 있으며, 증폭기(110)에 의해 증폭될 수 있다. 즉, 증폭기(110)는 홀 센서(400)를 통과하는 자속에 대응되는 전압과 홀 센서(400)의 오프셋에 대응되는 전압을 함께 증폭할 수 있다.
증폭기(110)의 출력전압범위가 무한하지 않으므로, 증폭기(110)의 출력 전압은 오프셋에 의해 출력전압범위의 최대값 또는 최소값에 걸릴 수 있다. 이때, 증폭기(110)의 출력 전압은 홀 센서(400)를 통과하는 자속에 상관없이 항상 출력전압범위의 최대값 또는 최소값에 대응될 수 있다. 즉, 증폭기(110)의 입력 전압 차이 범위는 증폭기(110)의 출력 전압이 출력전압범위의 최대값 또는 최소값에 걸리는 범위만큼 컷-아웃(cut-out)될 수 있다.
증폭기(110)의 출력 전압이 오프셋에 의해 출력전압범위의 최대값 또는 최소값에 걸릴 경우, 홀 센서(400)의 오프셋 레벨은 증폭기(110)의 출력 전압으로부터 파악되기 어려울 수 있다. 즉, 증폭기(110)의 출력단에 전기적으로 연결된 구성요소는 증폭기(110)의 출력 전압으로부터 홀 센서(400)의 오프셋 레벨을 검출하기 어려울 수 있다.
스위치부(140)는 제1 스위치(141) 및 제2 스위치(142)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 및 제2 스위치(141, 142) 각각은 게이트 단자를 통해 제어 전압을 입력 받고 제어 전압에 기반하여 드레인/소스 단자 사이의 등가저항값이 변하는 트랜지스터로 구현될 수 있다. 제1 및 제2 스위치(141, 142) 각각은 입력된 제어 전압이 높을 경우에 온 상태로 동작하고 입력된 제어 전압이 낮은 경우에 오프 상태로 동작할 수 있다. 제1 및 제2 스위치(141, 142) 각각은 온 상태에서 드레인/소스 단자 중 하나의 전압을 다른 하나로 전달할 수 있으며, 오프 상태에서 드레인/소스 단자 사이의 전압 전달을 차단할 수 있다.
제1 스위치(141)는 제1 홀 센서 출력단자(HP)의 전압이 증폭기(110)를 선택적으로 우회하여 전달되도록 구성될 수 있으며, 제2 스위치(142)는 제2 홀 센서 출력단자(HN)의 전압이 증폭기(110)를 선택적으로 우회하여 전달되도록 구성될 수 있다.
증폭기(110)를 선택적으로 우회하여 전달된 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)의 전압은 증폭기(110)의 출력 전압이 출력전압범위의 최대값 또는 최소값에 걸리는 범위만큼 컷-아웃되는 현상을 유발하지 않으므로, 증폭기(110)에 의해 증폭되기 전의 상태에서 홀 센서(400)의 오프셋 레벨의 파악에 효율적으로 활용될 수 있다.
오프셋 저감기(120)는 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)에 전기적으로 연결되고, 제1 또는 제2 스위치(141, 142)에 의해 우회하여 전달된 전압에 기반하여 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)의 전압 오프셋을 줄이도록 가변하는 저항값을 가질 수 있다.
오프셋 저감기(120)의 저항값이 변경될 경우, 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN) 중 적어도 하나의 전압은 변경될 수 있으며, 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)의 전압 차이는 변경될 수 있다. 따라서, 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)의 전압 차이는 오프셋 저감기(120)의 저항값 변경을 통해 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)의 전압 기준에 가까워지고 상기 기준과 동일해질 수 있다.
이에 따라, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치(100a)는 증폭기(110)의 출력 전압이 출력전압범위의 최대값 또는 최소값에 걸리는 범위만큼 컷-아웃되는 현상에도 불구하고 홀 센서(400)의 오프셋을 효율적으로 줄일 수 있다. 즉, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치(100a)는 홀 센서(400)의 오프셋 레벨이나 증폭기(110)의 이득에 따른 영향을 받지 않고도 홀 센서(400)의 오프셋을 효율적으로 줄일 수 있다.
또한, 스위치부(140)와 오프셋 저감기(120)는 능동소자에 비해 전력소모가 작고 간소화된 구조를 가질 수 있으므로, 홀 센서(400)의 오프셋을 효율적으로 줄일 수 있다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치(100a)는, 바이어스 제공기(160), AD변환기(130a) 및 멀티플렉서(150) 중 적어도 하나를 더 포함할 수 있다.
바이어스 제공기(160)는 홀 센서(300)의 입력단자(HB)로 바이어스 전류(IB)를 제공할 수 있다. 예를 들어, 바이어스 제공기(160)는 밴드갭 레퍼런스(bandgap reference) 회로와 같이 외부 환경이나 공정편차에 대해 강건하게 바이어스 전류(IB)를 생성하는 회로로 구성될 수 있으며, 트랜지스터의 게이트 단자에 인가하는 전압에 따라 트랜지스터의 드레인/소스 단자 사이로 바이어스 전류(IB)가 형성되도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 바이어스 제공기(160)는 디지털 제어 신호를 입력 받고 상기 디지털 제어 신호에 대응되는 아날로그 전압을 생성하도록 구성될 수 있으며, 상기 아날로그 전압을 상기 트랜지스터의 게이트 단자나 밴드갭 레퍼런스 회로의 일부 트랜지스터에 인가할 수 있다.
오프셋 저감기(120)는 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)와 바이어스 제공기(160)의 사이에 전기적으로 연결될 수 있다. 즉, 바이어스 제공기(160)에서 생성되는 전류는 바이어스 전류(IB)와 오프셋 저감기(120)를 흐르는 전류의 합일 수 있다.
오프셋 저감기(120)의 양단에 걸리는 전압은 오프셋 저감기(120)를 흐르는 전류와 오프셋 저감기(120)의 저항값의 곱일 수 있다. 오프셋 저감기(120)의 일단의 전압은 바이어스 제공기(160)의 출력전압에 대응될 수 있으며, 바이어스 제공기(160)의 출력전압은 바이어스 제공기(160)의 특성상 안정적일 수 있다. 따라서, 오프셋 저감기(120)의 타단인 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)의 전압은 오프셋 저감기(120)의 저항값의 변화에 따라 안정적으로 변화할 수 있으므로, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치(100a)는 홀 센서(400)의 오프셋을 효율적으로 줄일 수 있다.
오프셋 저감기(120)는 제1 가변 저항기(121a) 및 제2 가변 저항기(122a)를 포함할 수 있다.
제1 가변 저항기(121a)는 바이어스 제공기(160)와 제1 홀 센서 출력단자(HP)의 사이에 전기적으로 연결되고, 제1 스위치(141)에 의해 우회하여 전달된 전압에 기반하여 가변적인 저항값을 가질 수 있다.
제2 가변 저항기(122a)는 바이어스 제공기(160)와 제2 홀 센서 출력단자(HN)의 사이에 전기적으로 연결되고, 제2 스위치(142)에 의해 우회하여 전달된 전압에 기반하여 가변적인 저항값을 가질 수 있다.
제1 가변 저항기(121a)의 저항값과 제2 가변 저항기(122a)의 저항값이 다를 경우, 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)의 전압 차이는 제1 및 제2 가변 저항기(121a, 122a)가 없는 경우의 그것과 다를 수 있다.
예를 들어, 제1 가변 저항기(121a)의 저항값이 제2 가변 저항기(122a)의 저항값보다 더 큰 경우, 제1 홀 센서 출력단자(HP)의 전압은 제2 홀 센서 출력단자(HN)의 전압에 비해 더 큰 전압강하의 영향을 받을 수 있다. 이에 따라, 제1 홀 센서 출력단자(HP)의 전압은 제1 가변 저항기(121a)가 없을 경우의 그것보다 더 낮아질 수 있다.
AD변환기(130a)는 증폭기(110)의 출력단에 전기적으로 연결되고 아날로그 값을 디지털 값으로 변환하도록 구성될 수 있다. AD변환기(130a)에서 출력된 디지털 값은 홀 센서(400)를 통과하는 자속을 형성하는 자성 구조(예: 렌즈 모듈에 배치된 자석)의 위치를 제어하는데 사용될 수 있다.
AD변환기(130a)에서 출력되는 디지털 값의 최소값부터 최대값까지의 총 개수는 증폭기(110)의 출력전압범위의 최대값과 최소값에 가깝도록 설정될 수 있다. 이에 따라, AD변환기(130a)는 홀 센서(400)의 자속 감지 범위를 넓게 커버하거나 홀 센서(400)의 자속 감지 해상도(resolution)가 높도록 자속 감지 범위를 커버할 수 있다. 따라서, AD변환기(130a)의 출력값도 홀 센서(400)의 오프셋으로 인해 최대값 또는 최소값에 걸릴 수 있다.
증폭기(110)를 선택적으로 우회하여 전달된 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)의 전압은 AD변환기(130a)의 출력값이 최대값 또는 최소값에 걸리는 범위만큼 컷-아웃되는 현상을 유발하지 않으므로, AD변환기(130a)에서 출력되는 디지털 값은 오프셋 저감기(120)의 저항값을 제어하는 제어기에 효율적으로 사용될 수 있다.
제1 및 제2 스위치(141, 142)는 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)의 전압이 증폭기(110)를 선택적으로 우회하여 AD변환기(130a)로 전달되도록 연결될 수 있다.
멀티플렉서(150)는 제1 및 제2 스위치(141, 142)와 AD변환기(130a)의 사이에 전기적으로 연결될 수 있다. 멀티플렉서(150)는 제1 및 제2 스위치(141, 142)와 증폭기(110) 중 하나를 AD변환기(130a)에 전기적으로 연결시키고, 나머지를 AD변환기(130a)로부터 분리시키도록 동작할 수 있다. 이에 따라, 단일 AD변환기(130a)는 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)의 전압 차이에 대응되는 디지털 값과, 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN) 각각의 전압에 대응되는 디지털 값 중 하나를 선택적으로 생성할 수 있다.
도 2a 내지 도 2c는 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치의 제1, 제2 및 제3 모드에서의 등가회로를 나타낸 도면이다.
도 2a를 참조하면, 제1 모드로 동작하는 홀 센서 오프셋 저감 장치(100a-1)는, 제1 스위치(141)가 온 상태이도록 제어할 수 있으며, 제1 홀 센서 출력단자(HP)의 전압에 기반하여 제1 가변 저항기(121a)의 저항값을 조절할 수 있다.
도 2b를 참조하면, 제2 모드로 동작하는 홀 센서 오프셋 저감 장치(100a-2)는, 제2 스위치(142)가 온 상태이도록 제어할 수 있으며, 제2 홀 센서 출력단자(HN)의 전압에 기반하여 제2 가변 저항기(122a)의 저항값을 조절할 수 있다.
도 2c를 참조하면, 제3 모드로 동작하는 홀 센서 오프셋 저감 장치(100a-3)는, 저항값이 고정된 제1 가변 저항기(121a_F)와 저항값이 고정된 제2 가변 저항기(122a_F)에 의해 오프셋이 감소된 상태에서 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)의 전압을 홀 센서(400)를 통과하는 자속에 대한 측정값으로서 사용할 수 있다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치의 오프셋 저감기의 저항값 결정 과정을 예시한 순서도이다.
도 3을 참조하면, 제1 모드로 동작하는 홀 센서 오프셋 저감 장치는, 렌즈(홀 센서를 통과하는 자속을 형성하는 자성 구조가 배치되는 대상)가 중심에 위치하도록 렌즈의 위치를 제어(S110)하고, 바이어스 전류를 홀 센서로 출력(S120)하고, 제1 홀 센서 출력단자와 AD변환기(ADC) 사이를 전기적으로 연결(S130)시키고, 제1 가변 저항기의 저항값을 제어(S140)하고, AD변환기(ADC)의 출력이 목표값 범위 내에 속할 때까지 제1 가변 저항기의 저항값을 반복적으로 제어(S150)할 수 있다.
도 3을 참조하면, 제2 모드로 동작하는 홀 센서 오프셋 저감 장치는, 제2 홀 센서 출력단자와 AD변환기(ADC) 사이를 전기적으로 연결(S160)시키고, 제2 가변 저항기의 저항값을 제어(S170)하고, AD변환기(ADC)의 출력이 목표값 범위 내에 속할 때까지 제2 가변 저항기의 저항값을 반복적으로 제어(S180)할 수 있다.
즉, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치는 제1 모드에서 제1 가변 저항기의 저항값을 결정하고, 제2 모드에서 제1 가변 저항기의 저항값을 고정시키고 제2 가변 저항기의 저항값을 결정하도록 제1 및 제2 가변 저항기의 저항값을 제어할 수 있다.
이에 따라, 홀 센서 오프셋 저감 장치는 홀 센서의 오프셋을 저감하는 과정에서 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압의 공통모드 전압에 주는 영향을 더욱 줄일 수 있으므로, 더욱 정확하게 오프셋을 줄일 수 있다.
도 3을 참조하면, 제3 모드로 동작하는 홀 센서 오프셋 저감 장치는, 오프셋 저감이 완료(S190)된 상태에서 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압을 홀 센서(400)를 통과하는 자속에 대한 측정값으로서 사용할 수 있다.
도 4a 및 도 4b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치의 스위치 및 오프셋 저감기에 대한 제어를 나타낸 도면이다.
도 4a를 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치(100b)는, 제1 및 제2 스위치(141, 142)의 온-오프 상태를 제어하고, 오프셋 저감기(120)의 저항값을 제어하는 제어기(170)를 더 포함할 수 있다.
예를 들어, 제어기(170)는 프로세서와 유사한 구조를 가질 수 있으며, 디지털 제어 신호를 직접 제1 및 제2 스위치(141, 142)나 오프셋 저감기(120)로 전달하거나 디지털 제어 신호를 아날로그 전압으로 변환하여 제1 및 제2 스위치(141, 142)나 오프셋 저감기(120)로 전달할 수 있다. 즉, 제어기(170)는 디지털 회로를 포함할 수 있고, 설계에 따라 아날로그 회로를 더 포함할 수 있다.
제어기(170)는 제1 모드에서 제1 스위치(141)를 온 상태로 제어하고 제1 가변 저항기(121a)의 저항값을 제어하고, 제2 모드에서 제2 스위치(142)를 온 상태로 제어하고 제2 가변 저항기(122a)의 저항값을 제어할 수 있다.
또한, 제어기(170)는 오프셋 저감기(120)의 저항값을 제어하는 동안에 바이어스 제공기(160)가 홀 센서(400)로 소정의 전류를 제공하도록 바이어스 제공기(160)를 제어할 수 있다. 예를 들어, 상기 소정의 전류는 바이어스 전류(IB)와 동일할 수 있고, 바이어스 전류(IB)와 상이할 수도 있다.
또한, 제어기(170)는 오프셋 저감기(120)의 저항값을 제어하는 동안에 증폭기(110)가 비활성화되고 오프셋 저감기(120)의 저항값을 제어한 이후에 증폭기(110)가 활성화되도록 증폭기(110)를 제어할 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치(100b)의 총 전력소모는 감소할 수 있다.
도 4b를 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치(100c)는, 외부의 프로세서(예: 도 9에 도시된 프로세서)로부터 제어 신호를 전달받을 수 있으며, 제어 신호는 제1 및 제2 스위치(141, 142), 오프셋 저감기(120), 바이어스 제공기(160), 증폭기(110) 및 AD변환기(130a) 중 적어도 일부로 전달될 수 있다.
도 5a 내지 도 5c는 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치의 스위치 주변의 변형적 구조를 예시한 도면이다.
도 5a를 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치(100d)는, 도 1에 도시된 멀티플렉서가 생략된 구조를 가질 수 있다.
예를 들어, AD변환기(130b)는 서로 독립적인 복수의 AD변환 채널을 가질 수 있으며, 상기 복수의 AD변환 채널 중 하나는 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN)의 전압 차이에 대응되는 디지털 값을 출력하도록 구성될 수 있고, 상기 복수의 AD변환 채널 중 나머지는 제1 및 제2 홀 센서 출력단자(HP, HN) 각각의 전압에 대응되는 디지털 값을 출력하도록 구성될 수 있다. 설계에 따라, 상기 복수의 AD변환 채널은 서로 이격되어 배치될 수도 있다.
도 5b를 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치(100e)는, 제1 버퍼(143) 및 제2 버퍼(144)를 더 포함할 수 있다.
증폭기(110)는 증폭기(110)의 특성상 출력 임피던스보다 높은 입력 임피던스(예: 무한대)를 가지도록 설계되기 쉬우나, 온 상태일 경우의 제1 및 제2 스위치(141, 142)는 스위치의 특성상 출력 임피던스보다 높은 입력 임피던스를 가지기 상대적으로 어려울 수 있다. 증폭기(110)의 입력 임피던스와 제1 및 제2 스위치(141, 142)의 입력 임피던스가 다를 경우, 증폭기(110)에서 증폭되는 전압과 제1 및 제2 스위치(141, 142)를 통해 전달되는 전압은 약간 달라질 수 있다.
제1 버퍼(143)는 증폭기(110)를 우회하는 제1 스위치(141)에 전기적으로 연결되는 경로에 배치되고, 출력 임피던스보다 더 큰 입력 임피던스를 가지도록 구성될 수 있다.
제2 버퍼(144)는 증폭기(110)를 우회하는 제2 스위치(142)에 전기적으로 연결되는 경로에 배치되고, 출력 임피던스보다 더 큰 입력 임피던스를 가지도록 구성될 수 있다.
이에 따라, 증폭기(110)의 입력 임피던스와 제1 및 제2 스위치(141, 142)의 입력 임피던스가 유사하거나 동일해질 수 있으므로, 증폭기(110)에서 증폭되는 전압과 제1 및 제2 스위치(141, 142)를 통해 전달되는 전압은 동일할 수 있으며, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치(100e)는 오프셋을 더욱 정확하게 줄일 수 있다.
예를 들어, 제1 및 제2 버퍼(143, 144)는 연산 증폭기의 출력단과 제2 입력단이 서로 연결된 구조를 가질 수 있으며, 상기 연산 증폭기의 제1 입력단을 통해 전압을 입력 받도록 구성될 수 있다. 이에 따라, 제1 및 제2 버퍼(143, 144)의 입력 임피던스는 이상적으로 무한대에 가까울 수 있고, 출력 임피던스는 이상적으로 0에 가까울 수 있다.
도 5c를 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치(100f)는, 제1 우회 증폭기(145) 및 제2 우회 증폭기(146)를 더 포함할 수 있다.
제1 우회 증폭기(145)는 증폭기(110)를 우회하는 제1 스위치(141)에 전기적으로 연결되는 경로에 배치되고, 입력된 전압을 증폭하도록 구성될 수 있다.
제2 우회 증폭기(146)는 증폭기(110)를 우회하는 제2 스위치(142)에 전기적으로 연결되는 경로에 배치되고, 입력된 전압을 증폭하도록 구성될 수 있다.
예를 들어, 제1 및 제2 우회 증폭기(145, 146) 각각은 증폭기(110)의 이득보다 더 낮은 이득을 가지도록 구성될 수 있다. 제1 및 제2 우회 증폭기(145, 146) 각각은 증폭기의 특성상 큰 임피던스를 가지기 쉽도록 구성될 수 있으므로, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치(100f)는 오프셋을 더욱 정확하게 줄일 수 있다.
도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치의 가변 저항기를 예시한 도면이다.
도 6을 참조하면, 제1 가변 저항기(121b)는 복수의 제1 저항기(121-1, 121-2, 121-3, 121-4), 복수의 제1 저항 스위치(121-5, 121-6, 121-7) 및 저항값 제어기(121-0)를 포함할 수 있다.
복수의 제1 저항기(121-1, 121-2, 121-3, 121-4)는 직렬로 연결될 수 있으나, 설계에 따라 병렬로 연결될 수 있고 직렬연결과 병렬연결이 조합된 구조를 가질 수 있다.
저항값 제어기(121-0)는 제어기나 프로세서로부터 전달받은 저항값 제어 신호에 기반하여 복수의 제1 저항 스위치(121-5, 121-6, 121-7)의 온-오프 상태를 제어할 수 있다.
복수의 제1 저항 스위치(121-5, 121-6, 121-7)는 복수의 제1 저항기(121-1, 121-2, 121-3, 121-4)의 총 저항값이 복수의 제1 저항 스위치(121-5, 121-6, 121-7)의 온-오프 상태 조합에 따라 달라지도록 구성될 수 있다. 복수의 제1 저항 스위치(121-5, 121-6, 121-7)는 복수의 제1 저항기(121-1, 121-2, 121-3, 121-4)에 병렬로 연결될 수 있다.
도 7a는 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치가 오프셋 저감기의 저항값을 제어하기 전의 전압을 예시한 그래프이다.
도 7a를 참조하면, 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압 차이(Hall-diff output)는 렌즈의 위치(position)가 중심(center)에 있을 때 0보다 큰 오프셋 전압(offset)일 수 있다.
증폭기의 이득과 오프셋 전압(offset)의 곱은 증폭기의 출력전압범위의 최대값(예: 2.8V)보다 클 수 있으므로, 증폭기의 출력전압(HAMP output)은 렌즈의 위치(position)에 상관없이 최대값(예: 2.8V)에 걸릴 수 있다.
AD변환기의 출력값(ADC output)은 증폭기의 출력전압(HAMP output)에 대응하여 최대값(예: 4095code)에 걸릴 수 있다.
도 7b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치가 오프셋 저감기의 저항값을 제어한 이후의 전압을 예시한 그래프이다.
도 7b를 참조하면, 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압 차이(Hall-diff output)는 렌즈의 위치(position)가 중심(center)에 있을 때 0일 수 있다.
따라서, 증폭기의 출력전압(HAMP output)은 최대값(예: 2.8V)보다 낮을 수 있으며, AD변환기의 출력값(ADC output)은 최대값(예: 4095code)보다 낮을 수 있다.
도 8a 및 도 8b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치의 바이어스 전류에 따른 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압 차이를 예시한 그래프이다.
도 8a를 참조하면, 홀 센서의 오프셋이 있고 바이어스 전류가 클 때(IBL1)의 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압 차이(Hall-diff output)는 렌즈의 위치(position)의 변화에 따라 상대적으로 큰 폭으로 변할 수 있으며, 홀 센서의 오프셋이 있고 바이어스 전류가 작을 때(IBS1)의 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압 차이(Hall-diff output)는 렌즈의 위치(position)의 변화에 따라 상대적으로 작은 폭으로 변할 수 있다.
홀 센서의 오프셋은 렌즈의 위치(position)가 중심(center)에 있을 때의 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압 차이(Hall-diff output)가 바이어스 전류에 종속적이게 만들 수 있다. 따라서, 홀 센서의 오프셋은 바이어스 전류의 범위를 제한할 수 있다.
도 8b를 참조하면, 홀 센서의 오프셋이 제거되고 바이어스 전류가 클 때(IBL2)의 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압 차이(Hall-diff output)는 렌즈의 위치(position)의 변화에 따라 상대적으로 큰 폭으로 변할 수 있으며, 홀 센서의 오프셋이 제거되고 전류가 작을 때(IBS2)의 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압 차이(Hall-diff output)는 렌즈의 위치(position)의 변화에 따라 상대적으로 작은 폭으로 변할 수 있다.
홀 센서의 오프셋이 제거되고 렌즈의 위치(position)가 중심(center)에 있을 때의 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압 차이(Hall-diff output)는 바이어스 전류에 실질적으로 무관할 수 있다. 따라서, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 오프셋 저감 장치는 오프셋을 저감함으로써 바이어스 전류의 범위를 보다 넓힐 수 있다.
도 9는 본 발명의 일 실시 예에 따른 렌즈 모듈 제어 장치를 나타낸 도면이다.
도 9를 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 렌즈 모듈 제어 장치는, 홀 센서 오프셋 저감 장치(100c), 구동기(220), 구동 코일(230), 렌즈 모듈(210) 및 홀 센서(400)를 포함할 수 있다.
구동기(220)는 홀 센서 오프셋 저감 장치(100c)의 AD변환기의 출력값을 전달받을 수 있으며, 홀 센서(400)의 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압 차이(상기 출력값에 대응됨)에 기반하여 구동 전류를 출력할 수 있다.
예를 들어, 구동기(220)는 OIS(Optical Image Stabilization) 제어 구조나 AF(Auto Focus) 제어 구조를 가질 수 있으며, 제어 구조의 출력값에 기반하여 구동 전류를 생성하는 구동 회로를 포함할 수 있다. 설계에 따라, 상기 제어 구조는 홀 센서 오프셋 저감 장치(100c)에 포함될 수 있으며, 홀 센서 오프셋 저감 장치(100c)와 구동기(220)는 단일 IC로 구현될 수 있다.
구동 코일(230)은 구동 전류를 전달받을 수 있다. 예를 들어, 구동 코일(230)은 렌즈 모듈(210)의 자성 구조(211)의 근처에 배치될 수 있다. 즉, 렌즈 모듈(210)은 구동 코일(230)에 흐르는 구동 전류에 기반하여 움직이도록 배치될 수 있다.
렌즈 모듈(210)은 구동 코일(230)의 자속에 반응하여 자성 구조(211)가 받는 힘에 따라 움직일 수 있다. 이때, 렌즈 모듈(210)은 홀 센서(400)를 통과하는 자속의 변화와 반대방향으로 상기 자속이 변하도록 움직일 수 있다. 이에 따라, 렌즈 모듈(210)의 절대적 위치는 실질적으로 고정될 수 있으며, 렌즈 모듈(210)에 의해 획득되는 이미지는 안정적일 수 있다.
홀 센서(400)는 렌즈 모듈(210)의 위치에 기반하여 홀 센서(400)의 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압 차이가 결정되도록 배치될 수 있다.
예를 들어, 홀 센서(400), 구동기(220), 홀 센서 오프셋 저감 장치(100c) 및 구동 코일(230) 중 적어도 하나는 제1 기판(240)에 배치될 수 있다.
도 9를 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 렌즈 모듈 제어 장치는 홀 센서 오프셋 저감 장치(100c)의 제1 및 제2 스위치의 온-오프 상태를 제어하고 오프셋 저감기의 저항값을 제어하는 프로세서(270)를 포함할 수 있다.
프로세서(270)는 제1 모드에서 제1 스위치를 온 상태로 제어하고 제1 가변 저항기의 저항값을 제어하고, 제2 모드에서 제2 스위치를 온 상태로 제어하고 제2 가변 저항기의 저항값을 제어할 수 있다.
예를 들어, 프로세서(270)는 ISP(Image Signal Processor)로 구현될 수 있으며, 제1 지지 부재(261) 상의 이미지 센서(262)로부터 이미지 정보를 전달받을 수 있으며, 처리한 정보를 구동기(220)로 제공할 수 있다. 설계에 따라, 프로세서(270)는 상기 ISP로부터 분리되거나 통합될 수 있다.
렌즈 모듈(210)은 제2 지지 부재(213) 상의 복수의 가이드 볼(212)의 회전에 따라 1차원 또는 2차원적으로 움직일 수 있으며, 하우징(250)에 의해 둘러싸일 수 있다.
이상에서는 본 발명을 실시 예로써 설명하였으나, 본 발명은 상기한 실시 예에 한정되지 아니하며, 특허청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형이 가능할 것이다.
100a, 100c: 홀 센서 오프셋 저감 장치
110: 증폭기
120: 오프셋 저감기
121a: 제1 가변 저항기
122a: 제2 가변 저항기
130a: AD(Analog-Digital)변환기
140: 스위치부
141: 제1 스위치
142: 제2 스위치
143: 제1 버퍼
144: 제2 버퍼
145: 제1 우회 증폭기
146: 제2 우회 증폭기
150: 멀티플렉서
160: 바이어스(bias) 제공기
170: 제어기
210: 렌즈 모듈(lens module)
220: 구동기
270: 프로세서
400: 홀 센서(hall sensor)

Claims (16)

  1. 홀 센서(hall sensor)의 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압 차이를 증폭하는 증폭기;
    상기 제1 홀 센서 출력단자의 전압이 상기 증폭기를 선택적으로 우회하여 전달되도록 구성된 제1 스위치;
    상기 제2 홀 센서 출력단자의 전압이 상기 증폭기를 선택적으로 우회하여 전달되도록 구성된 제2 스위치; 및
    상기 제1 및 제2 홀 센서 출력단자에 전기적으로 연결되고, 상기 제1 또는 제2 스위치에 의해 우회하여 전달된 전압에 기반하여 상기 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압 오프셋(offset)을 줄이도록 가변하는 저항값을 가지는 오프셋 저감기; 를 포함하는 홀 센서 오프셋 저감 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 홀 센서로 바이어스(bias) 전류를 제공하는 바이어스 제공기를 더 포함하고,
    상기 오프셋 저감기는 상기 제1 및 제2 홀 센서 출력단자와 상기 바이어스 제공기의 사이에 전기적으로 연결되는 홀 센서 오프셋 저감 장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 오프셋 저감기는,
    상기 바이어스 제공기와 상기 제1 홀 센서 출력단자의 사이에 전기적으로 연결되고, 상기 제1 스위치에 의해 우회하여 전달된 전압에 기반하여 가변적인 저항값을 가지는 제1 가변 저항기; 및
    상기 바이어스 제공기와 상기 제2 홀 센서 출력단자의 사이에 전기적으로 연결되고, 상기 제2 스위치에 의해 우회하여 전달된 전압에 기반하여 가변적인 저항값을 가지는 제2 가변 저항기; 를 포함하는 홀 센서 오프셋 저감 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 증폭기의 출력단에 전기적으로 연결되고 아날로그 값을 디지털 값으로 변환하도록 구성된 AD변환기를 더 포함하고,
    상기 제1 및 제2 스위치는 상기 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압이 상기 증폭기를 선택적으로 우회하여 상기 AD변환기로 전달되도록 연결된 홀 센서 오프셋 저감 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 스위치와 상기 AD변환기의 사이에 전기적으로 연결된 멀티플렉서(multiplexer)를 더 포함하는 홀 센서 오프셋 저감 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 증폭기를 우회하는 상기 제1 스위치에 전기적으로 연결되는 경로에 배치되고, 출력 임피던스보다 더 큰 입력 임피던스를 가지도록 구성된 제1 버퍼; 및
    상기 증폭기를 우회하는 상기 제2 스위치에 전기적으로 연결되는 경로에 배치되고, 출력 임피던스보다 더 큰 입력 임피던스를 가지도록 구성된 제2 버퍼; 를 더 포함하는 홀 센서 오프셋 저감 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 증폭기를 우회하는 상기 제1 스위치에 전기적으로 연결되는 경로에 배치되고, 입력된 전압을 증폭하도록 구성된 제1 우회 증폭기; 및
    상기 증폭기를 우회하는 상기 제2 스위치에 전기적으로 연결되는 경로에 배치되고, 입력된 전압을 증폭하도록 구성된 제2 우회 증폭기; 를 더 포함하는 홀 센서 오프셋 저감 장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 스위치의 온-오프 상태를 제어하고, 상기 오프셋 저감기의 저항값을 제어하는 제어기를 더 포함하는 홀 센서 오프셋 저감 장치.
  9. 제8항에 있어서, 상기 오프셋 저감기는,
    상기 제1 홀 센서 출력단자에 전기적으로 연결되고 가변적인 저항값을 가지는 제1 가변 저항기; 및
    상기 제2 홀 센서 출력단자에 전기적으로 연결되고 가변적인 저항값을 가지는 제2 가변 저항기; 를 포함하고,
    상기 제어기는 제1 모드에서 상기 제1 스위치를 온 상태로 제어하고 상기 제1 가변 저항기의 저항값을 제어하고, 제2 모드에서 상기 제2 스위치를 온 상태로 제어하고 상기 제2 가변 저항기의 저항값을 제어하는 홀 센서 오프셋 저감 장치.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 제어기는 상기 제1 모드에서 상기 제1 가변 저항기의 저항값을 결정하고, 상기 제2 모드에서 상기 제1 가변 저항기의 저항값을 고정시키고 상기 제2 가변 저항기의 저항값을 결정하도록 상기 제1 및 제2 가변 저항기의 저항값을 제어하는 홀 센서 오프셋 저감 장치.
  11. 제8항에 있어서,
    상기 홀 센서로 바이어스(bias) 전류를 제공하는 바이어스 제공기를 더 포함하고,
    상기 제어기는 상기 오프셋 저감기의 저항값을 제어하는 동안에 상기 바이어스 제공기가 상기 홀 센서로 소정의 전류를 제공하도록 상기 바이어스 제공기를 제어하는 홀 센서 오프셋 저감 장치.
  12. 제8항에 있어서,
    상기 제어기는 상기 오프셋 저감기의 저항값을 제어하는 동안에 상기 증폭기가 비활성화되고 상기 오프셋 저감기의 저항값을 제어한 이후에 상기 증폭기가 활성화되도록 상기 증폭기를 제어하는 홀 센서 오프셋 저감 장치.
  13. 제1항의 홀 센서 오프셋 저감 장치;
    상기 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압 차이에 기반하여 구동 전류를 출력하는 구동기;
    상기 구동 전류를 전달받는 구동 코일;
    상기 구동 코일에 흐르는 구동 전류에 기반하여 움직이도록 배치된 렌즈 모듈; 및
    상기 렌즈 모듈의 위치에 기반하여 상기 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압 차이가 결정되도록 배치된 상기 홀 센서; 를 포함하는 렌즈 모듈 제어 장치.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 스위치의 온-오프 상태를 제어하고, 상기 오프셋 저감기의 저항값을 제어하는 프로세서를 더 포함하는 렌즈 모듈 제어 장치.
  15. 제14항에 있어서, 상기 오프셋 저감기는,
    상기 제1 홀 센서 출력단자에 전기적으로 연결되고 가변적인 저항값을 가지는 제1 가변 저항기; 및
    상기 제2 홀 센서 출력단자에 전기적으로 연결되고 가변적인 저항값을 가지는 제2 가변 저항기; 를 포함하고,
    상기 프로세서는 제1 모드에서 상기 제1 스위치를 온 상태로 제어하고 상기 제1 가변 저항기의 저항값을 제어하고, 제2 모드에서 상기 제2 스위치를 온 상태로 제어하고 상기 제2 가변 저항기의 저항값을 제어하는 렌즈 모듈 제어 장치.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 홀 센서 오프셋 저감 장치는 상기 홀 센서로 바이어스(bias) 전류를 제공하는 바이어스 제공기를 더 포함하고,
    상기 제1 가변 저항기는 상기 바이어스 제공기와 상기 제1 홀 센서 출력단자의 사이에 전기적으로 연결되고,
    상기 제2 가변 저항기는 상기 바이어스 제공기와 상기 제2 홀 센서 출력단자의 사이에 전기적으로 연결되는 렌즈 모듈 제어 장치.
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