KR20210014335A - 터치 디스플레이 장치 - Google Patents

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KR20210014335A
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김슬기
이규태
김진열
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엘지디스플레이 주식회사
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Abstract

본 발명은 검사 공정 및 리페어 공정을 용이하게 수행할 수 있는 터치 디스플레이 장치에 관한 것으로서, 본 발명은 서로 이격되는 제1 및 제2 터치 전극들과; 제1 및 제2 터치 전극들 중 적어도 어느 하나와 이격된 더미 도전층을 구비하며, 제1 경계 영역에 배치되는 제1 및 제2 터치 전극 중 적어도 어느 하나와, 제2 경계 영역에 배치되는 제1 및 제2 터치 전극과, 더미 도전층 중 적어도 어느 하나의 형상을 다르게 형성함으로써 불량 위치를 빠르게 찾을 수 있어 검사 및 리페어 공정의 효율이 향상된다.

Description

터치 디스플레이 장치{TOUCH DISPLAY DEVICE}
본 명세서는 디스플레이 장치에 관한 것으로, 특히 본 발명은 검사 공정 및 리페어 공정을 용이하게 수행할 수 있는 터치 디스플레이 장치를 제공하는 것이다.
터치 스크린은 디스플레이 장치 등의 화면에 나타난 지시 내용을 사람의 손 또는 물체로 선택하여 사용자의 명령을 입력할 수 있도록 한 입력장치이다. 이 터치 스크린은 키보드 및 마우스와 같이 디스플레이 장치에 연결되어 동작하는 별도의 입력장치를 대체할 수 있기 때문에 그 이용범위가 점차 확장되고 있는 추세이다. 이러한 터치 스크린은 다수의 제1 및 제2 터치 전극들을 구비하며, 제 1 및 제2 터치 전극 사이의 정전 용량 변화에 기초하여 터치 유무를 판단하고 터치 좌표를 정확하게 검출한다. 이 때, 제1 및 제2 터치 전극들 사이의 정전 용량이 높이기 위해, 제1 및 제2 터치 전극들 사이의 이격거리를 가깝게 배치하면, 제1 및 제2 터치 전극들 사이에 단락 불량이 발생된다. 따라서, 최근에는 제1 및 제2 터치 전극들 사이의 단락 불량의 검사 공정 및 리페어 공정을 용이하게 수행할 수 있는 방안이 요구되고 있다.
상기 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 본 발명은 검사 공정 및 리페어 공정을 용이하게 수행할 수 있는 터치 디스플레이 장치를 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 터치 디스플레이 장치는 서로 이격되는 제1 및 제2 터치 전극들과; 제1 및 제2 터치 전극들 중 적어도 어느 하나와 이격된 더미 도전층을 구비하며, 제1 경계 영역에 배치되는 상기 제1 및 제2 터치 전극 중 적어도 어느 하나와, 상기 제2 경계 영역에 배치되는 상기 제1 및 제2 터치 전극과, 상기 더미 도전층 중 적어도 어느 하나의 형상을 다르게 형성한다.
본 발명에서는 제1 경계 영역에 배치되는 제1 및 제2 돌출부 중 적어도 어느 하나와, 제2 경계 영역에 배치되는 제1 내지 제3 돌출부 중 적어도 어느 하나의 형상을 다르게 형성함으로써 제1 및 제2 경계 영역을 검사자가 쉽게 구분할 수 있다. 이에 따라, 검사자는 제1 경계 영역에 배치되는 제1 및 제2 터치 전극 간의 전기적 단락 불량을 쉽게 인지할 수 있고, 리페어 공정이 필요한 불량 위치를 쉽게 찾을 수 있다.
또한, 본 발명은 검사 및 리페어 공정의 효율을 향상시킬 수 있으므로, 검사자의 피로도 저감으로 인건비 저감 및 수율 향상의 효과를 얻을 수 있다.
도 1은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 터치 디스플레이 장치를 나타내는 평면도이다.
도 2는 도 1에 도시된 제1 및 제2 터치 전극을 상세히 나타내는 평면도이다.
도 3은 도 2에 도시된 제1 및 제2 터치 전극, 더미 도전층의 관계를 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 도 2에 도시된 제1 및 제2 터치 전극과 더미 도전층을 설명하기 위한 도면이다.
도 5a 및 도 5b는 도 4에서 선Ⅰ-Ⅰ', Ⅱ-Ⅱ'를 따라 절취한 터치 디스플레이 장치를 나타내는 단면도이다.
도 6은 본 발명의 제2 실시 예에 따른 터치 디스플레이 장치의 제1 및 제2 터치 전극과 더미 도전층을 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 본 발명의 제3 실시 예에 따른 터치 디스플레이 장치의 제1 및 제2 터치 전극과 더미 도전층을 설명하기 위한 도면이다.
도 8은 도 7에 도시된 제1 내지 제3 돌출부의 다른 실시 예를 나타내는 단면도이다.
도 9는 본 발명의 제4 실시 예에 따른 터치 디스플레이 장치의 제1 및 제2 터치 전극과 더미 도전층을 설명하기 위한 도면이다.
도 10은 도 1 에서 선A-A', B-B', C-C'를 따라 절취한 절취한 터치 디스플레이 장치를 나타내는 단면도이다.
도 11은 이형 디자인이 적용된 본 발명에 따른 터치 디스플레이 장치를 나타내는 평면도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시 예를 상세하게 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명에 따른 터치 디스플레이 장치를 나타내는 평면도이다.
도 1에 도시된 터치 디스플레이 장치는 터치 센싱 기능 및 디스플레이 기능을 수행한다. 즉, 터치 디스플레이 장치는 매트릭스 형태로 배열된 서브 화소들을 통해 영상을 표시하고, 다수의 제1 및 제2 터치 전극들(152e,154e)을 이용하여 터치 센싱 기능을 수행한다.
다수의 제1 터치 전극들(152e)은 제1 방향을 따라 일정한 간격으로 이격되며, 제1 브릿지(152b)를 통해 인접한 제1 터치 전극(152e)과 전기적으로 연결된다. 이 때, 제1 브릿지(152b)는 제1 터치 전극(152e)과 동일 평면 상에 배치되므로 별도의 컨택홀 없이 제1 터치 전극(152e)과 전기적으로 접속된다. 제1 브릿지(152b)를 통해 전기적으로 연결된 제1 터치 전극들(152e)은 제1 방향으로 신장되는 터치 구동 라인(152)을 형성한다.
다수의 제2 터치 전극들(154e)은 제1 방향과 교차하는 제2 방향을 따라 일정한 간격으로 이격되며, 제2 브릿지(154b)를 통해 인접한 제1 터치 전극(154e)과 전기적으로 연결된다. 이 때, 제2 브릿지(154b)는 터치 컨택홀(158)을 통해 제2 터치 전극(154e)과 전기적으로 연결된다. 제2 브릿지(154b)를 통해 전기적으로 연결된 제2 터치 전극들(154e)은 제2 방향으로 신장되는 터치 센싱 라인(154)을 형성한다. 한편, 제2 터치 전극들(154e)이 터치 컨택홀(158)을 통해 제2 브릿지(154b)와 연결되는 구조를 예로 들어 설명하였지만, 이외에도 제1 터치 전극들(152e)이 터치 컨택홀(158)을 통해 제1 브릿지(152b)와 연결되고 제2 터치 전극들(154e)이 터치 컨택홀(158)없이 제2 브릿지(154b)와 연결될 수도 있다.
이러한 터치 구동 라인(152) 및 터치 센싱 라인(154)을 이용한 상호-캐패시턴스(Mutual-capacitance; Cm) 기반의 터치 센싱 방식으로 사용자의 터치를 센싱한다. 즉, 터치 구동 라인(152)에 터치 검출을 위한 터치 구동 신호가 공급될 때, 사용자의 터치 유무에 따라 터치 구동 라인(152) 및 터치 센싱 라인(154) 사이의 캐패시턴스가 변화게 되며, 캐패시턴스의 변화는 터치 센싱 라인(154)으로부터 터치 구동 회로(도시하지 않음)로 전송되는 터치 감지 신호들을 이용하여, 터치 유무 및/또는 터치 좌표 등을 판단한다.
터치 구동 라인(152) 및 터치 센싱 라인(154) 각각은 라우팅 라인(180)을 통해 터치 패드(170)와 접속된다. 이 때, 라우팅 라인(180)은 기판(111)의 좌측, 우측, 하측 및 상측 중 적어도 어느 하나에 배치된다. 예를 들어, 터치 구동 라인(152)과 접속된 라우팅 라인(180)은 기판(111)의 상측, 우측 및 하측에 배치되며, 터치 센싱 라인(154)과 접속되는 라우팅 라인(180)은 기판(111)의 좌측에 배치된다.
터치 패드(170)는 기판(111)의 비액티브 영역 상에 배치된다. 이 때, 기판(111) 상에 배치되는 서브 화소가 발광층을 구비하는 경우, 터치 패드(170)는 발광층을 봉지하는 봉지 유닛(140)에 의해 노출된다.
이 터치 패드(170)는 표시 패드(178)와 함께 기판(111)의 일측 및 타측 영역 중 적어도 어느 한 영역에 배치되는 비액티브 영역에 배치되거나, 터치 패드(170)는 표시 패드(178)와 다른 비액티브 영역에 배치될 수 있다.
도 2는 도 1에 도시된 제1 및 제2 터치 전극 각각을 상세히 나타내는 평면도이다.
도 2에 도시된 제1 및 제2 터치 전극들(152e,154e)은 Ta, Ti, Cu, Mo와 같은 내식성 및 내산성이 강하고 전도성이 좋은 터치 금속층을 이용하여 단층 또는 다층 구조로 형성된다. 예를 들어, 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e)들은 Ti/Al/Ti, MoTi/Cu/MoTi 또는 Ti/Al/Mo와 같이 적층된 3층 구조로 형성된다. 제1 및 제2 터치 전극들(152e,154e)을 이루는 터치 금속층은 투명 도전층보다 전도성이 좋아 제1 및 제2 터치 전극들(152e,154e)은 저저항 전극으로 형성할 수 있다. 이에 따라, 제1 및 제2 터치 전극들(152e,154e) 자체의 저항과 커패시턴스 감소되어 RC 지연이 감소되어 터치 감도를 향상시킬 수 있다.
이러한 터치 금속층을 이용하는 제1 및 제2 터치 전극들(152e,154e)은 다수의 개구 영역(OA)을 가지는 메쉬 형태로 형성된다. 개구 영역(OA)은 발광층을 구비하는 서브 화소(SP)에 적용되는 경우, 적색(R) 서브 화소, (SP) 녹색(G) 서브 화소(SP) 및 청색(B) 서브 화소(SP) 각각의 발광 영역과 중첩되도록 형성된다. 메쉬 형태의 제1 및 제2 터치 전극들(152e,154e)은 발광 영역들 사이의 비발광 영역, 예를 들어 뱅크와 중첩되도록 형성된다. 이에 따라, 제1 및 제2 터치 전극들(152e,154e)에 의해 개구율 및 투과율이 저하되는 것을 방지할 수 있다.
제1 및 제2 터치 전극들(152e,154e) 각각의 적어도 일부 영역에는 플로팅된 더미 도전층(150)이 배치된다. 더미 도전층(150)은 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e) 과 동일 평면 상에 동일 재질로 이루어지므로, 더미 도전층(150)은 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e) 각각과 이격되도록 배치된다.
이에 따라, 플로팅된 더미 도전층(150) 하부에 배치되는 각 서브 화소의 표시 전극(100) 사이에는 도 3에 도시된 바와 같이 기생 커패시터(Cp)가 형성되지 않게 된다. 이 때, 서브 화소가 발광층을 구비하는 경우, 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e)과 더미 도전층(150) 각각은 봉지 유닛(140)을 사이에 두고 서브 화소의 표시 전극(100)인 캐소드 전극과 중첩된다. 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e) 각각과 표시 전극(100) 사이에는 기생 커패시터(Cp)가 형성되지만, 플로팅 상태의 더미 도전층(150)과 표시 전극(100) 사이에는 기생 커패시터가 형성되지 않는다. 이에 따라, 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e) 내에 더미 도전층(150)을 구비하지 않는 비교예에 비해, 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e) 내에 더미 도전층(150)을 구비하는 본 발명은 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e) 각각과, 표시 전극(100) 사이에 형성되는 기생커패시턴스를 줄일 수 있다.
이와 같은 더미 도전층(150)은 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e)과 동일층 상에 동일 재질로 이루어진다. 특히, 더미 도전층(150)은 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e)과 마찬가지로 메쉬 형상으로 이루어진다. 이 경우, 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e) 간의 전기적인 단락(short) 불량이 발생하더라도 불량 위치를 찾기 어려울 뿐만 아니라, 실제 불량인 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e) 간의 전기적인 단락(short)과, 실제 불량이 아닌 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e)과, 더미 도전층(150) 간의 단락을 구분하기 어렵다. 이에 따라, 본 발명에서는 도 4에 도시된 바와 같이 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e)이 배치되는 제1 경계 영역(SA1)과, 더미 도전층(150), 제1 및 제2 터치 전극들(152e,154e)이 배치되는 제2 경계 영역(BA2)의 단면 형상을 다르게 형성한다.
도 4에 도시된 더미 도전층(150), 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e) 각각은 돌출부(PP1,PP2,PP3)를 구비한다. 제1 터치 전극(152e)은 제2 터치 전극(154e)과의 제1 경계 영역(BA1) 및 더미 도전층(150)과의 제2 경계 영역(BA2)으로 신장되는 제1 돌출부(PP1)를 구비한다. 제2 터치 전극(154e)은 제1 터치 전극(152e)과의 제1 경계 영역(BA1) 및 더미 도전층(150)과의 제2 경계 영역(BA2)으로 신장되는 제2 돌출부(PP2)를 구비한다. 더미 도전층(150)은 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e) 각각과의 제2 경계 영역(BA2)으로 신장되는 제3 돌출부(PP3)를 구비한다.
이 때, 제1 및 제2 경계 영역(BA1,BA2) 중 어느 하나에 선택적으로 에지 마크층(160)이 형성된다. 예를 들어, 도 5a에 도시된 바와 같이 제1 경계 영역(BA1)에 형성되고, 도 5b에 도시된 바와 같이 제2 경계 영역(BA2)에 형성되지 않는다. 제1 경계 영역(BA1)에 배치되는 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e)은 단락되면 터치 센싱 동작이 이루어지지 않는 반면에, 제2 경계 영역(BA2)에 배치되는 1 및 제2 터치 전극(152e,154e) 각각과, 플로팅 상태의 더미 도전층(150)은 단락되더라도 터치 센싱 동작에 영향을 미치지 않는다. 따라서, 에지 마크층(160)은 단락 불량으로 인해 리페어 공정이 필요한 제1 경계 영역(BA1)에 형성되고, 단락 불량이 발생하더라도 리페어 공정이 불필요한 제2 경계 영역(BA2)에 형성되지 않는다. 한편, 에지 마크층(160)이 제1 경계 영역(BA1)에 형성되더라도, 제1 경계 영역(BA1)에 배치되는 제1 및 제2 돌출부들(PP1,PP2)의 이격거리가 변동되지 않으므로, 제1 및 제2 돌출부들(PP1,PP2) 사이에 형성되는 상호 정전 용량이 변동되는 것을 방지할 수 있다.
에지 마크층(160)은 도 5a에 도시된 바와 같이 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e)과 다른 평면 상에 배치된다. 예를 들어, 에지 마크층(160)은 제2 브릿지(154b)와 동일 평면 상에 동일 재질로 이루어진다. 이 에지 마크층(160)은 도 5a에 도시된 바와 같이 터치 절연층(156)을 사이에 두고 제1 경계 영역(BA1)에 배치되는 제1 및 제2 돌출부(PP1,PP2) 중 적어도 어느 하나와 중첩되게 형성된다. 이러한 에지 마크층(160)이 배치되는 제1 경계 영역(BA1)의 단면 형상은 제2 경계 영역(BA2)의 단면 형상보다 돌출되게 형성된다. 에지 마크층(160)에 의해 돌출된 제1 경계 영역(BA1)은 검사 장비를 통해 에지 마크층(160)이 배치되지 않은 제2 경계 영역(BA2)과 다르게 시인되므로, 검사자는 제1 및 제2 경계 영역(BA1,BA2)을 쉽게 구분할 수 있다. 이에 따라, 검사자는 제1 경계 영역(BA1)에 배치되는 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e) 간의 전기적 단락 불량을 쉽게 인지할 수 있고, 리페어 공정이 필요한 불량 위치를 쉽게 찾을 수 있어 검사 및 리페어 공정의 효율을 향상시킬 수 있다. 또한, 본 발명은 검사자의 피로도 저감으로 인건비 저감 및 수율 향상의 효과를 얻을 수 있다.
도 6은 본 발명의 제2 실시 예에 따른 터치 디스플레이 장치의 제1 및 제2 터치 전극의 일부를 나타내는 평면도이다.
도 6에 도시된 터치 디스플레이 장치는 도 4에 도시된 터치 디스플레이 장치와 대비하여 에지 마크층 대신에 제1 및 제2 경계 영역(BA1,BA2) 각각에 배치되는 돌출부(PP1,PP2,PP3)의 평면형상을 서로 다르게 형성하는 것을 제외하고는 동일한 구성요소를 구비한다. 이에 따라, 동일한 구성요소에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
제1 및 제2 경계 영역(BA1,BA2) 중 어느 한 영역에 배치되는 돌출부들(PP1,PP2,PP3)이 마주보는 변의 길이는 제1 및 제2 경계 영역(BA1,BA2) 중 나머지 영역에 배치되는 돌출부들(PP1,PP2,PP3)이 마주보는 변의 길이와 다르게 형성된다. 예를 들어, 제2 경계 영역(BA2)에 배치되는 돌출부들(PP1,PP2,PP3)이 마주보는 변의 길이는 제1 경계 영역(BA1)에 배치되는 돌출부들(PP1,PP2)이 마주보는 변의 길이보다 길게 형성되도록 제2 경계 영역(BA2)에 배치되는 돌출부들(PP1,PP2,PP3)이 마주보는 변은 사선 형태로 형성된다. 이 때, 제2 경계 영역(BA2)에 배치되는 제1 내지 제3 돌출부들(PP1,PP2,PP3) 각각의 첨단부의 내각은 예각으로 형성되고, 제1 경계 영역(BA1)에 배치되는 제1 및 제2 돌출부(PP1,PP2)의 내각은 제2 경계 영역(BA2)에 배치되는 제1 내지 제3 돌출부들(PP1,PP2,PP3)의 내각보다 크게 형성된다. 예를 들어, 제1 경계 영역(BA1)에 배치되는 제1 및 제2 돌출부(PP1,PP2)의 내각은 직각이다.
이러한 제1 경계 영역(BA1)에 배치되는 제1 및 제2 돌출부들(PP1,PP2)의 이격 거리(d1)는 제2 경계 영역(BA2)에 배치되는 제1 및 제2 돌출부(PP1,PP2)와, 제3 돌출부들(PP3)의 이격거리(d2)와 동일하게 형성된다. 이에 따라, 제1 경계 영역(BA1)에 배치되는 제1 및 제2 돌출부들(PP1,PP2)의 이격거리가 변동되지 않으므로, 제1 경계 영역(BA1)에 배치되는 제1 및 제2 돌출부들(PP1,PP2) 사이에 형성되는 상호 정전 용량이 변동되는 것을 방지할 수 있다.
이와 같이, 본 발명에 따른 터치 디스플레이 장치는 제1 경계 영역(BA1)에 배치되는 돌출부들(PP1,PP2)의 형상과 제2 경계 영역(BA2)에 배치되는 돌출부들(PP1,PP2,PP3)의 형상을 다르게 형성한다. 돌출부들(PP1,PP2,PP3)의 형상이 다른 제1 및 제2 경계 영역(BA1,BA2)은 검사 장비를 통해 다르게 시인된다. 이에 따라, 검사자는 제1 경계 영역(BA1)에 배치되는 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e) 간의 전기적 단락 불량을 쉽게 인지할 수 있고, 리페어 공정이 필요한 불량 위치를 쉽게 찾을 수 있어 검사 및 리페어 공정의 효율을 향상시킬 수 있다.
도 7은 본 발명의 제3 실시 예에 따른 터치 디스플레이 장치의 제1 및 제2 터치 전극의 일부를 나타내는 평면도이다.
도 7에 도시된 터치 디스플레이 장치는 도 4에 도시된 터치 디스플레이 장치와 대비하여 에지 마크층 대신에 제1 및 제2 경계 영역(BA1,BA2) 각각에 배치되는 돌출부(PP1,PP2,PP3)의 길이가 서로 다르게 형성하는 것을 제외하고는 동일한 구성요소를 구비한다. 이에 따라, 동일한 구성요소에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
제1 및 제2 경계 영역(BA1,BA2) 중 어느 한 영역에 배치되는 돌출부들(PP1,PP2,PP3)의 길이는 제1 및 제2 경계 영역(BA1,BA2) 중 나머지 영역에 배치되는 돌출부들(PP1,PP2,PP3)이 길이와 다르게 형성된다. 예를 들어, 제1 경계 영역(BA1)에 배치되는 제1 돌출부(PP1)의 길이(La1)와, 제2 돌출부(PP2)의 길이(La2)는 서로 동일하게 형성된다. 반면에, 제2 경계 영역(BA2)에 배치되는 제1 및 제2 돌출부(PP1,PP2)의 길이(Lb1)는 제3 돌출부(PP3)의 길이(Lb2)와 다르게 형성된다. 예를 들어, 제2 경계 영역(BA2)에 배치되는 제1 및 제2 돌출부(PP1,PP2)의 길이(Lb1)는 도 7에 도시된 바와 같이 제3 돌출부(PP3)의 길이(Lb2)보다 짧거나 길게 형성되거나, 도 8에 도시된 바와 같이 제1 및 제2 돌출부(PP1,PP2)의 길이(Lb1,Lb2)와, 제3 돌출부(PP3)의 길이(Lb1,Lb2)가 교번적으로 바뀌게 형성된다.
이에 따라, 제1 경계 영역(BA1)에 배치되는 돌출부들(PP1,PP2) 간의 이격 공간은 제1 경계 영역(BA1)의 중앙에 배치되는 반면에, 제2 경계 영역(BA2)에 배치되는 돌출부들(PP1,PP2,PP3) 간의 이격 공간은 제2 경계 영역(BA2)의 일측 및 타측 중 적어도 어느 한 측에 배치된다. 이 경우, 제1 경계 영역(BA1)에 배치되는 제1 및 제2 돌출부들(PP1,PP2)의 길이(이격 공간)은 변동되지 않으므로, 제1 및 제2 돌출부들(PP1,PP2) 사이에 형성되는 상호 정전 용량이 변동되는 것을 방지할 수 있다.
이와 같이, 본 발명에 따른 터치 디스플레이 장치는 제1 경계 영역(BA1)에 배치되는 돌출부들(PP1,PP2)의 길이와 제2 경계 영역(BA2)에 배치되는 돌출부들(PP1,PP2,PP3)의 길이를 다르게 형성한다. 돌출부들(PP1,PP2,PP3)의 길이가 다른 제1 및 제2 경계 영역(BA1,BA2)은 검사 장비를 통해 다르게 시인된다. 이에 따라, 검사자는 제1 경계 영역(BA1)에 배치되는 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e) 간의 전기적 단락 불량을 쉽게 인지할 수 있고, 리페어 공정이 필요한 불량 위치를 쉽게 찾을 수 있어 검사 및 리페어 공정의 효율을 향상시킬 수 있다.
도 9는 본 발명의 제4 실시 예에 따른 터치 디스플레이 장치의 제1 및 제2 터치 전극의 일부를 나타내는 평면도이다.
도 9에 도시된 터치 디스플레이 장치는 도 4에 도시된 터치 디스플레이 장치와 대비하여 에지 마크층 대신에 제1 및 제2 경계 영역(BA1,BA2) 각각에 배치되는 돌출부(PP1,PP2,PP3) 간의 이격거리(d1,d2)가 서로 다르게 형성하는 것을 제외하고는 동일한 구성요소를 구비한다. 이에 따라, 동일한 구성요소에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
제1 및 제2 경계 영역(BA1,BA2) 중 어느 한 영역에 배치되는 돌출부들(PP1,PP2,PP3) 간의 이격거리는 제1 및 제2 경계 영역(BA1,BA2) 중 나머지 영역에 배치되는 돌출부들(PP1,PP2,PP3) 간의 이격거리와 다르게 형성된다. 예를 들어, 제2 경계 영역(BA2)에 배치되는 제1 및 제2 돌출부(PP1,PP2)와, 제3 돌출부(PP3) 간의 이격거리(d2)는 제1 경계 영역(BA1)에 배치되는 제1 및 제2 돌출부(PP1,PP2) 간의 이격 거리(d1) 보다 길거나 짧게 형성된다. 이 경우, 제2 경계 영역(BA2)에 배치되는 제1 내지 제3 돌출부(PP1,PP2,PP3)의 길이는 제1 경계 영역(BA1)에 배치되는 제1 및 제2 돌출부(PP1,PP2)길이보다 짧거나 길게 형성된다. 이에 따라, 제1 경계 영역(BA1)에 배치되는 제1 및 제2 돌출부들(PP1,PP2)의 길이 및 이격거리는 변동되지 않으므로, 제1 및 제2 돌출부들(PP1,PP2) 사이에 형성되는 상호 정전 용량이 변동되는 것을 방지할 수 있다.
이와 같이, 본 발명에 따른 터치 디스플레이 장치는 제1 경계 영역(BA1)에 배치되는 돌출부들(PP1,PP2) 간의 이격거리(d1)와 제2 경계 영역(BA2)에 배치되는 돌출부들(PP1,PP2,PP3) 간의 이격거리(d2)를 다르게 형성한다. 돌출부들(PP1,PP2,PP3) 간의 이격거리가 서로 다른 제1 및 제2 경계 영역(BA1,BA2)은 검사 장비를 통해 다르게 시인된다. 이에 따라, 검사자는 제1 경계 영역(BA1)에 배치되는 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e) 간의 전기적 단락 불량을 쉽게 인지할 수 있고, 리페어 공정이 필요한 불량 위치를 쉽게 찾을 수 있어 검사 및 리페어 공정의 효율을 향상시킬 수 있다.
이와 같은 제1 및 제2 경계 영역(BA1,BA2)에 배치되는 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e)과 더미 도전층(150)은 도 10에 도시된 바와 같이 발광 소자(120) 상부에 직접 형성된다. 한편, 도 10에 도시된 터치 디스플레이 장치의 단면도는 도 4에 도시된 에지 마크층(160)을 구비하는 터치 디스플레이 장치에 적용되는 단면도로서, 이를 한정하는 것은 아니다. 즉, 도 10에 도시된 터치 디스플레이 장치의 단면도는 도 6 내지 도 9에 도시된 에지 마크층(160)을 구비하지 않는 터치 디스플레이 장치에도 적용될 수 있다.
도 10에 도시된 바와 같이, 터치 디스플레이 장치는 기판(111) 상에 매트릭스 형태로 배열된 다수의 서브 화소들과, 다수의 서브 화소들 상에 배치된 봉지 유닛(140)과, 봉지 유닛(140) 상에 배치된 터치 전극들(152e,154e)을 구비한다.
기판(111)은 폴딩(folding) 또는 벤딩(bending)이 가능하도록 가요성(flexibility)을 가지는 플라스틱 재질 또는 유리 재질로 형성된다. 예를 들어, 기판(111)은 PI(Polyimide), PET(polyethylene terephthalate), PEN(polyethylene naphthalate), PC(polycarbonate), PES(polyethersulfone), PAR(polyarylate), PSF(polysulfone), COC(ciclic-olefin copolymer) 등의 재질로 형성된다.
다수의 서브 화소들 각각은 다수의 박막 트랜지스터(130)를 포함하는 화소 구동 회로와, 화소 구동 회로와 접속되는 발광 소자(120)를 구비한다.
화소 구동 회로에 포함되는 박막 트랜지스터(130)는 멀티 버퍼막(112) 상에 배치되는 반도체층(134)과, 게이트 절연막(102)을 사이에 두고 반도체층(134)과 중첩되는 게이트 전극(132)과, 층간 절연막(114) 상에 형성되어 반도체층(134)과 접촉하는 소스 및 드레인 전극(136,138)을 구비한다. 여기서, 반도체층(134)은 비정질 반도체 물질, 다결정 반도체 물질 및 산화물 반도체 물질 중 적어도 어느 하나로 형성된다.
발광 소자(120)는 애노드 전극(122)과, 애노드 전극(122) 상에 형성되는 적어도 하나의 발광 스택(124)과, 발광 스택(124) 위에 형성된 캐소드 전극(126)을 구비한다.
애노드 전극(122)은 보호막(108) 및 화소 평탄화층(118)을 관통하는 화소 컨택홀(116)을 통해 노출된 박막트랜지스터(130)의 드레인 전극(138)과 전기적으로 접속된다.
적어도 하나의 발광 스택(124)은 뱅크(128)에 의해 마련된 발광 영역의 애노드 전극(122) 상에 형성된다. 적어도 하나의 발광 스택(124)은 애노드 전극(122) 상에 정공 관련층, 유기 발광층, 전자 관련층 순으로 또는 역순으로 적층되어 형성된다. 이외에도 발광 스택(124)은 전하 생성층을 사이에 두고 대향하는 제1 및 제2 발광 스택들을 구비할 수도 있다. 이 경우, 제1 및 제2 발광 스택 중 어느 하나의 유기 발광층은 청색광을 생성하고, 제1 및 제2 발광 스택 중 나머지 하나의 유기 발광층은 노란색-녹색광을 생성함으로써 제1 및 제2 발광 스택을 통해 백색광이 생성된다. 이 발광 스택(124)에서 생성된 백색광은 발광 스택(124) 상부 또는 하부에 위치하는 컬러 필터에 입사되므로 컬러 영상을 구현할 수 있다. 이외에도 별도의 컬러 필터 없이 각 발광 스택(124)에서 각 서브 화소에 해당하는 컬러광을 생성하여 컬러 영상을 구현할 수도 있다. 즉, 적색 서브 화소의 발광 스택(124)은 적색광을, 녹색 서브 화소의 발광 스택(124)은 녹색광을, 청색 서브 화소의 발광 스택(124)은 청색광을 생성할 수도 있다.
캐소드 전극(126)은 발광 스택(124)을 사이에 두고 애노드 전극(122)과 대향하도록 형성된다.
봉지 유닛(140)은 외부의 수분이나 산소에 취약한 발광 소자(120)로 외부의 수분이나 산소가 침투되는 것을 차단한다. 이를 위해, 봉지 유닛(140)은 적어도 1층의 무기 봉지층(142)과, 적어도 1층의 유기 봉지층(144)을 구비한다. 본 발명에서는 제1 무기 봉지층(142), 유기 봉지층(144) 및 제2 무기 봉지층(146)이 순차적으로 적층된 봉지 유닛(140)의 구조를 예로 들어 설명하기로 한다.
제1 무기 봉지층(142)은 캐소드 전극(126)이 형성된 기판(111) 상에 형성된다. 제2 무기 봉지층(146)은 유기 봉지층(144)이 형성된 기판(111) 상에 형성되며, 제1 무기 봉지층(142)과 함께 유기 봉지층(144)의 상부면, 하부면 및 측면을 둘러싸도록 형성된다.
이러한 제1 및 제2 무기 봉지층(142,146)은 외부의 수분이나 산소가 발광 스택(124)으로 침투하는 것을 최소화하거나 차단한다. 이 제1 및 제2 무기 봉지층(142,146)은 질화실리콘(SiNx), 산화 실리콘(SiOx), 산화질화실리콘(SiON) 또는 산화 알루미늄(Al2O3)과 같은 저온 증착이 가능한 무기 절연 재질로 형성된다. 이에 따라, 제1 및 제2 무기 봉지층(142,146)은 저온 분위기에서 증착되므로, 제1 및 제2 무기 봉지층(142,146)의 증착 공정시 고온 분위기에 취약한 발광 스택(124)이 손상되는 것을 방지할 수 있다.
유기 봉지층(144)은 유기 발광 디스플레이 장치의 휘어짐에 따른 각 층들 간의 응력을 완화시키는 완충역할을 하며, 평탄화 성능을 강화한다. 이 유기 봉지층(144)은 제1 무기 봉지층(142)이 형성된 기판(111) 상에 PCL, 아크릴 수지, 에폭시 수지, 폴리이미드, 폴리에틸렌 또는 실리콘옥시카본(SiOC)과 같은 비감광성 유기 절연 재질 또는 포토아크릴과 같은 감광성 유기 절연 재질로 형성된다. 이러한 유기 봉지층(144)은 비액티브 영역을 제외한 액티브 영역에 배치된다. 이를 위해, 적어도 하나의 댐(106)은 유기 봉지층(144)이 비액티브 영역으로 확산되는 것을 차단하도록 배치된다. 적어도 하나의 댐(106)은 화소 평탄화층(118), 뱅크(128) 및 스페이서(도시하지 않음) 중 적어도 어느 하나와 동일 재질로 형성된다. 한편, 댐(106)이 다수개 구비되는 경우, 댐(106)과 댐(106) 사이에는 외곽 평탄화층(190)이 배치될 수도 있다. 외곽 평탄화층(190)은 아크릴 계열, 에폭시 계열 또는 실록산(Siloxan) 계열의 고평탄화 기능을 가지는 유기 절연 재질로 형성되므로, 외곽 평탄화층(158)은 댐(106)의 높이로 인해 발생되는 단차를 평탄화한다. 이에 따라, 라우팅 라인(180)은 외곽 평탄화층(190)과 댐(106) 상부에서 실질적인 단차없이 평탄하게 형성되므로, 댐(106)을 가로지르는 라우팅 라인(180)의 단선 또는 단락을 방지할 수 있다. 또한, 댐(106)이 다수개 구비되는 경우, 유기 봉지층(144)이 댐(106)과 댐(106) 사이의 영역으로 신장되어 댐(106)과 댐(106) 사이에는 유기 봉지층(144)이 채워질수도 있다.
이와 같은, 봉지 유닛(140) 상부에는 제1 터치 전극(152e) 및 제1 브릿지(152b)를 포함하는 터치 구동 라인(152)과, 제2 터치 전극(154e) 및 제2 브릿지(154b)를 포함하는 터치 센싱 라인(154)과, 더미 도전층(160) 및 에지 마크층(160)이 배치된다.
에지 마크층(160)은 제2 브릿지(154b)와 동일 평면(예를 들어, 터치 버퍼막(148)) 상에 동일 재질로 이루어진다. 즉, 에지 마크층(160)은 제2 브릿지(154b)와 동일한 마스크 공정으로 함께 형성된다. 한편, 제1 브릿지(152b)가 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e)과 다른 평면 상에 배치되는 경우, 에지 마크층(160)은 제1 브릿지(152b)와 동일 평면 상에 동일 재질로 이루어질 수도 있다.
한편, 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e)과, 제1 및 제2 브릿지(152b,154b) 각각과, 캐소드 전극(126) 사이의 기생커패시터의 용량 증가를 방지하기 위해, 봉지 유닛(140) 상에는 무기 또는/및 유기 절연막으로 이루어진 터치 버퍼막(148)이 배치될 수 있다.
제1 및 제2 터치 전극(152e,154e) 각각과 접속된 라우팅 라인(180)은 봉지 유닛(140)의 측면을 따라 배치된다. 이 때, 터치 버퍼막(148)을 구비하는 경우, 라우팅 라인(180)은 터치 버퍼막(148)의 측면과 접촉하고, 터치 버퍼막(148)을 구비하지 않는 경우, 라우팅 라인(180)은 제2 무기 봉지층(146)의 측면과 접촉한다.
이러한 라우팅 라인(180)과 접속되는 터치 패드(170)는 터치 패드 하부 전극(172)과, 그 터치 패드 하부 전극(172)과 접촉하는 터치 패드 상부 전극(174)을 구비한다. 터치 패드 하부 전극(172)은 게이트 전극(132) 및 드레인 전극(138) 중 적어도 어느 하나와 동일 평면 상에 동일 재질로 형성된다. 예를 들어, 터치 패드 하부 전극(172)은 드레인 전극(138)과 동일 재질로 동일 평면인 층간 절연막(114) 상에 배치된다. 터치 패드 상부 전극(174)은 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e)과 동일 평면 상에 동일 재질로 형성된다. 이 터치 패드 상부 전극(174)은 보호막(108), 터치 버퍼막(148) 및 터치 절연막(156)을 관통하는 패드 컨택홀(176)을 통해 노출된 터치 패드 하부 전극(172)과 전기적으로 접속된다.
한편, 본 발명에서는 터치 디스플레이 장치가 도 1에 도시된 바와 같이 사각형 형태인 경우를 예로 들어 설명하였지만, 이외에도 터치 디스플레이 장치는 웨어러블 기기, 플렉서블 기기, 계기판 등에서, 사각형 형태가 아닌 다양한 형태로 설계될 수 있다. 예를 들어, 터치 디스플레이 장치는 도 11에 도시된 바와 같이 곡선을 가지는 형태, 사선을 가지는 형태, 원형, 타원형, 또는 다각형 등 이형 디자인으로 설계된다.
이러한 이형 디자인으로 설계된 터치 디스플레이 장치는 이형 디자인 적용된 부분에 대응되도록 터치 전극(152e,154e) 및 라우팅 라인(180)이 변경된다. 예를 들어, 도 11에 도시된 바와 같이 터치 디스플레이 장치의 기판(111)의 코너 영역이 곡선 형태인 경우, 코너 영역의 곡선 형태를 따라 터치 전극(152e,154e) 및 라우팅 라인(180)도 곡선 형태를 가지도록 형성된다. 코너 영역에 배치되는 터치 전극(152e,154e)들의 크기 및 형상은 서로 다르며, 코너 영역에 배치되는 터치 전극(152e,154e)들의 크기는 비코너 영역에 배치되는 터치 전극(152e,154e)들의 크기보다 작게 형성된다.
한편, 본 발명에서는 더미 도전층(150)을 가지는 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e)이 표시 소자인 발광 소자(120) 상부에 배치되는 구조를 예로 들어 설명하였지만, 이외에도 더미 도전층(150)을 가지는 제1 및 제2 터치 전극(152e,154e)은 액정 소자 등을 포함하는 표시 소자 상부에 배치될 수도 있다.
이상의 설명은 본 발명을 예시적으로 설명한 것에 불과하며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술적 사상에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 변형이 가능할 것이다. 따라서 본 발명의 명세서에 개시된 실시 예들은 본 발명을 한정하는 것이 아니다. 본 발명의 범위는 아래의 특허청구범위에 의해 해석되어야 하며, 그와 균등한 범위 내에 있는 모든 기술도 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석해야 할 것이다.
120: 발광 소자 130 : 트랜지스터
140: 봉지 유닛 150: 더미 도전층
152 : 터치 구동 라인 154 : 터치 센싱 라인
160 : 에지 마크층 170 : 터치 패드
180 : 라우팅 라인

Claims (19)

  1. 기판 상에 배치되는 발광 소자와;
    상기 발광 소자 상에 배치되는 봉지 유닛과;
    상기 봉지 유닛 상에 배치되는 제1 터치 전극들과;
    상기 제1 터치 전극들과 제1 경계 영역에서 이격되는 제2 터치 전극들과;
    상기 제1 및 제2 터치 전극들 중 적어도 어느 하나와 제2 경계 영역에서 이격되는 더미 도전층과;
    상기 제1 경계 영역에 배치되는 상기 제1 및 제2 터치 전극 중 적어도 어느 하나와, 상기 제2 경계 영역에 배치되는 상기 제1 및 제2 터치 전극과, 상기 더미 도전층 중 적어도 어느 하나의 형상이 다른 터치 디스플레이 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제1 터치 전극은 상기 제1 및 제2 경계 영역에 배치되는 제1 돌출부를 구비하며,
    상기 제2 터치 전극은 상기 제1 및 제2 경계 영역에 배치되는 제2 돌출부를 구비하며,
    상기 더미 도전층은 상기 제2 경계 영역에 배치되는 제3 돌출부를 구비하는 터치 디스플레이 장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 제1 경계 영역에 배치되는 제1 및 제2 돌출부 중 적어도 어느 하나는
    상기 제2 경계 영역에 배치되는 제1 내지 제3 돌출부 중 적어도 어느 하나보다 돌출된 터치 디스플레이 장치.
  4. 제 2 항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 경계 영역 중 어느 하나의 경계 영역에 배치되는 에지 마크층을 더 구비하며,
    상기 에지 마크층은 상기 제1 내지 제3 돌출부 중 적어도 어느 하나와 중첩되는 터치 디스플레이 장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 에지 마크층은 상기 제1 내지 제3 돌출부 중 적어도 어느 하나와 절연층을 사이에 두고 중첩되는 터치 디스플레이 장치.
  6. 제 4 항에 있어서,
    상기 제1 터치 전극들을 연결하는 제1 브릿지와;
    상기 제2 터치 전극들을 연결하며 상기 제1 브릿지와 다른 평면 상에 배치되는 제2 브릿지를 더 구비하며,
    상기 에지 마크층은 상기 제1 및 제2 브릿지 중 어느 하나와 동일 평면 상에 동일 재질로 이루어지는 터치 디스플레이 장치.
  7. 제 2 항에 있어서,
    상기 제2 경계 영역에 배치되는 제1 내지 제3 돌출부 각각의 내각은 예각이며,
    상기 제1 경계 영역에 배치되는 제1 및 제2 돌출부 각각의 내각은 상기 제2 경계 영역에 배치되는 제1 내지 제3 돌출부 각각의 내각보다 큰 터치 디스플레이 장치.
  8. 제 2 항에 있어서,
    상기 제2 경계 영역에 배치되는 제1 및 제2 돌출부 각각과 상기 제3 돌출부의 마주보는 변의 길이는 상기 제1 경계 영역에 배치되는 제1 돌출부 및 제2 돌출부의 마주보는 변의 길이보다 긴 터치 디스플레이 장치.
  9. 제 2 항에 있어서,
    상기 제1 경계 영역에 배치되는 상기 제1 및 제2 돌출부의 길이는 서로 동일하며,
    상기 제2 경계 영역에 배치되는 상기 제1 및 제2 돌출부 각각의 길이와, 상기 제3 돌출부의 길이는 서로 다른 터치 디스플레이 장치.
  10. 제 2 항에 있어서,
    상기 제1 경계 영역에 배치되는 상기 제1 및 제2 돌출부는 제1 이격 거리를 사이에 두고 이격되며,
    상기 제2 경계 영역에 배치되는 상기 제1 및 제2 돌출부 각각과 상기 제3 돌출부는 상기 제1 이격거리와 다른 제2 이격거리를 사이에 두고 이격되는 터치 디스플레이 장치.
  11. 제 1 항에 있어서,
    상기 발광 소자의 애노드 전극들 사이에 배치되는 뱅크를 더 구비하며,
    상기 제1 및 제2 터치 전극과, 상기 더미 도전층은 상기 뱅크와 중첩되는 메쉬 형태로 이루어지는 터치 디스플레이 장치.
  12. 기판 상에 배치되는 제1 터치 전극들과;
    상기 제1 터치 전극들과 제1 경계 영역에서 이격되는 제2 터치 전극들과;
    상기 제1 및 제2 터치 전극들 중 적어도 어느 하나와 제2 경계 영역에서 이격되는 더미 도전층과;
    상기 제1 경계 영역에 배치되는 상기 제1 및 제2 터치 전극 중 적어도 어느 하나와, 상기 제2 경계 영역에 배치되는 상기 제1 및 제2 터치 전극과, 상기 더미 도전층 중 적어도 어느 하나의 형상이 다른 터치 디스플레이 장치.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 제1 터치 전극은 상기 제1 및 제2 경계 영역에 배치되는 제1 돌출부를 구비하며,
    상기 제2 터치 전극은 상기 제1 및 제2 경계 영역에 배치되는 제2 돌출부를 구비하며,
    상기 더미 도전층은 상기 제2 경계 영역에 배치되는 제3 돌출부를 구비하는 터치 디스플레이 장치.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 경계 영역 중 어느 하나의 경계 영역에 배치되는 에지 마크층을 더 구비하며,
    상기 에지 마크층은 상기 제1 내지 제3 돌출부 중 적어도 어느 하나와 중첩되는 터치 디스플레이 장치.
  15. 제 13 항에 있어서,
    상기 제2 경계 영역에 배치되는 제1 내지 제3 돌출부 각각의 내각은 예각이며,
    상기 제1 경계 영역에 배치되는 제1 및 제2 돌출부 각각의 내각은 상기 제2 경계 영역에 배치되는 제1 내지 제3 돌출부 각각의 내각보다 큰 터치 디스플레이 장치.
  16. 제 13 항에 있어서,
    상기 제2 경계 영역에 배치되는 제1 및 제2 돌출부 각각과 상기 제3 돌출부의 마주보는 변의 길이는 상기 제1 경계 영역에 배치되는 제1 돌출부 및 제2 돌출부의 마주보는 변의 길이보다 긴 터치 디스플레이 장치.
  17. 제 13 항에 있어서,
    상기 제1 경계 영역에 배치되는 상기 제1 및 제2 돌출부의 길이는 서로 동일하며,
    상기 제2 경계 영역에 배치되는 상기 제1 및 제2 돌출부 각각의 길이와, 상기 제3 돌출부의 길이는 서로 다른 터치 디스플레이 장치.
  18. 제 13 항에 있어서,
    상기 제1 경계 영역에 배치되는 상기 제1 및 제2 돌출부는 제1 이격 거리를 사이에 두고 이격되며,
    상기 제2 경계 영역에 배치되는 상기 제1 및 제2 돌출부 각각과 상기 제3 돌출부는 상기 제1 이격거리와 다른 제2 이격거리를 사이에 두고 이격되는 터치 디스플레이 장치.
  19. 제 13 항에 있어서,
    상기 기판의 코너 영역은 곡선 또는 사선 형태로 형성되며,
    상기 터치 전극은 상기 코너 영역의 형태를 따라 상기 곡선 또는 사선 형태로 형성되는 터치 디스플레이 장치.
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