KR20190042447A - Work holding tool, electronic device processing system and production method for electronic device - Google Patents

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KR20190042447A
KR20190042447A KR1020180117500A KR20180117500A KR20190042447A KR 20190042447 A KR20190042447 A KR 20190042447A KR 1020180117500 A KR1020180117500 A KR 1020180117500A KR 20180117500 A KR20180117500 A KR 20180117500A KR 20190042447 A KR20190042447 A KR 20190042447A
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Abstract

The objective of the present invention is to provide: a work support jig capable of performing continuous processing on a plurality of processing-scheduled surfaces of a work at high accuracy; an electronic component processing apparatus; and a method for manufacturing an electronic component. The work support jig (1) according to the present invention comprises a work support mechanism (10) for supporting a work (50). The work support mechanism (10) has a work receiving part (13) having first to third abutment surfaces (131, 132, 133) in which three sides of the work (50) are in contact with each other. The work receiving part (13) has opposite sides of the first and second abutment surfaces (131, 132) to be opened so as to expose at least two processing-scheduled surfaces (a cross section (52a3) of a step part (52a) and upper surfaces (52a1, 52a2) of step parts (52a, 52b)) of the work (50) received in the work receiving unit (13).

Description

워크 지지 지그, 전자 부품 처리 장치 및 전자 부품의 제조 방법{WORK HOLDING TOOL, ELECTRONIC DEVICE PROCESSING SYSTEM AND PRODUCTION METHOD FOR ELECTRONIC DEVICE}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a workpiece holding jig,

본 발명은, 워크를 지지하는 워크 지지 기구를 갖는 워크 지지 지그, 이 워크 지지 지그를 갖는 전자 부품 처리 장치, 및 이 워크 지지 지그를 이용한 전자 부품의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a work supporting jig having a work supporting mechanism for supporting a work, an electronic part processing apparatus having the work supporting jig, and a method of manufacturing an electronic part using the work supporting jig.

전자 부품 제조시에는, 특허 문헌 1의 도 7 등에 기재되어 있는 바와 같은 워크 지지 지그에 복수의 워크를 지지하고, 스퀴지(squeegee) 등에 의해 한 번에 복수 개의 워크의 처리 예정면에 전극막(단자 전극)을 형성하는 경우가 있다.In the manufacture of electronic parts, a plurality of workpieces are supported on a workpiece supporting jig as shown in Fig. 7 and the like of Patent Document 1, and a plurality of workpieces Electrode) may be formed.

복수의 처리 예정면을 구비하는 전자 부품에서 각 처리 예정면에 전극막을 형성하기 위해서는, 처리 예정면에 전극막을 형성할 때마다, 워크 지지 지그로부터 워크를 분리하고 전극막이 형성되지 않은 처리 예정면이 인쇄용 스크린 등을 향하도록 방향을 바꿀 필요가 있다.In order to form an electrode film on each processing-scheduled surface in an electronic component having a plurality of process planes, a workpiece is separated from the workpiece-supporting jig every time an electrode film is formed on the process-scheduled surface, It is necessary to change the direction to face the printing screen or the like.

그러나, 일단 워크 지지 지그로부터 워크를 분리하면, 그 워크를 원래 위치에 정확하게 재배치하는 것이 쉽지 않다. 위치가 어긋난 상태로 전극막을 형성하면, 원하는 위치에 전극막이 형성되지 않거나 원하는 형상의 전극막을 얻을 수 없기도 하고, 혹은 전극막의 일부에 결손이 생기는 등 문제가 생길 우려가 있다.However, once the workpiece is separated from the workpiece supporting jig, it is not easy to accurately reposition the workpiece to the original position. If an electrode film is formed in a position shifted state, an electrode film may not be formed at a desired position, an electrode film of a desired shape may not be obtained, or a problem may occur such as a defect in a part of the electrode film.

특허 문헌 1: 일본 특허공개 평7-201653호 공보Patent Document 1: JP-A-7-201653

본 발명은 이와 같은 실상을 감안하여 이루어진 것으로, 그 목적은 워크의 복수의 처리 예정면에 연속적인 처리를 높은 정확도로 행할 수 있는 워크 지지 지그, 전자 부품 처리 장치 및 전자 부품의 제조 방법을 제공하는 것이다.The object of the present invention is to provide a work supporting jig, an electronic part processing apparatus, and a manufacturing method of an electronic part, which can perform continuous processing on a plurality of processing planes of a work with high accuracy will be.

상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 따른 워크 지지 지그는,In order to achieve the above object, a work supporting jig according to the present invention comprises:

워크를 지지하는 워크 지지 기구를 갖는 워크 지지 지그로서,1. A work supporting jig having a work supporting mechanism for supporting a work,

상기 워크 지지 기구는, 상기 워크의 3면이 맞닿는 제1 맞댐면, 제2 맞댐면 및 제3 맞댐면을 갖는 워크 수용부를 구비하고,The work supporting mechanism includes a work receiving portion having a first abutting surface, a second abutting surface, and a third abutting surface to which the three surfaces of the work are abutted,

상기 워크 수용부는, 상기 워크 수용부에 수용되는 워크의 적어도 2개의 처리 예정면이 노출되도록, 적어도 상기 제1 맞댐면의 반대쪽과 상기 제2 맞댐면의 반대쪽이 개방되어 있는 것을 특징으로 한다.And the work receiving portion is open at least on the opposite side of the first butting surface and the opposite side of the second butting surface so that at least two processing surfaces of the work accommodated in the work receiving portion are exposed.

본 발명에 따른 워크 지지 지그는, 워크를 지지하는 워크 지지 기구를 갖는다. 그리고, 워크 지지 기구는 제1 맞댐면, 제2 맞댐면 및 제3 맞댐면을 갖는 워크 수용부를 구비하고, 워크 수용부는 워크 수용부에 수용되는 워크의 적어도 2개의 처리 예정면이 노출되도록, 적어도 제1 맞댐면의 반대쪽과 제2 맞댐면의 반대쪽이 개방되어 있다. 이 때문에, 워크 수용부에 워크를 수용하면, 워크의 적어도 2개의 처리 예정면이, 적어도 워크 수용부의 제1 맞댐면의 반대쪽과 제2 맞댐면의 반대쪽으로부터 노출된다.The work supporting jig according to the present invention has a work supporting mechanism for supporting the work. The work receiving portion includes a work receiving portion having a first abutting surface, a second abutting surface, and a third abutting surface. The work receiving portion has at least two processing surfaces The opposite side of the first butting face and the opposite side of the second butting face are opened. Therefore, when the workpiece is accommodated in the workpiece receiving portion, at least two processing surfaces of the workpiece are exposed at least from the opposite side of the first abutting surface and the opposite side of the second abutting surface of the work receiving portion.

본 발명에서는, 상기 워크 수용부로부터 노출된 워크의 처리 예정면이 인쇄용 스크린 등을 향하게 함으로써, 이 처리 예정면에 전극막을 형성하는 것이 가능하다. 그리고, 워크 수용부로부터 노출된 워크의 어느 하나의 처리 예정면(예를 들어, 제1 맞댐면의 반대쪽으로부터 노출된 처리 예정면)에 전극막을 형성한 후에는, 워크 지지 지그를 소정 각도만큼 회전시켜, 워크 수용부로부터 노출된 다른 어느 하나의 처리 예정면(예를 들어, 제2 맞댐면의 반대쪽으로부터 노출된 처리 예정면)을 인쇄용 스크린 등을 향하게 함으로써, 이 처리 예정면에 전극막을 형성할 수 있다.In the present invention, it is possible to form an electrode film on the surface to be treated by making the surface to be treated of the work exposed from the work receiving portion face the printing screen or the like. Then, after the electrode film is formed on any one processing-scheduled surface (for example, the processing-scheduled surface exposed from the opposite side of the first abutting surface) of the work exposed from the work receiving portion, the workpiece holding jig is rotated (For example, a processing-scheduled surface exposed from the opposite side of the second abutting surface) exposed from the work accommodating portion is directed to a printing screen or the like to form an electrode film on the processing-scheduled surface .

즉, 본 발명에서는, 종래와 달리, 처리 예정면에 전극막을 형성할 때마다, 워크를 워크 지지 지그로부터 분리해 워크의 방향을 바꿀 필요 없이, 워크 수용부로부터 노출된 적어도 2개의 처리 예정면에 연속적으로 전극막을 형성하는 것이 가능하다. 따라서, 워크 분리에 기인해 발생할 수 있는 전극막의 위치 어긋남이나 결손 등의 문제를 방지해, 워크의 소정 위치에 전극막을 높은 정확도로 형성할 수 있다.That is, in the present invention, unlike the prior art, every time the electrode film is formed on the surface to be processed, the workpiece is separated from the workpiece-supporting jig, It is possible to continuously form the electrode film. Therefore, it is possible to prevent problems such as positional deviation and defects of the electrode film that may occur due to work separation, and to form the electrode film at a predetermined position of the work with high accuracy.

또한, 본 발명에 따른 워크 지지 지그를 이용함으로써, 워크의 처리 예정면에 전극막 뿐만 아니라 그 외의 기능 피막(예를 들어, 절연막)을 형성하는 것도 가능하다. 또한, 처리 예정면에는 피막 형성 처리 뿐만 아니라 그 외의 처리(예를 들어, 에칭 등의 표면 처리)를 실시하는 것도 가능하다. 어떤 처리에 있어서도, 전술한 요령으로 워크 지지 지그를 소정 각도만큼 회전시켜 처리 대상의 처리 예정면을 순차적으로 시프트해 나감으로써, 워크의 복수의 처리 예정면에 연속적인 처리를 높은 정확도로 실시할 수 있다.Further, by using the work supporting jig according to the present invention, not only the electrode film but also other functional films (for example, insulating films) can be formed on the surface to be processed of the work. It is also possible to perform other processes (for example, surface treatment such as etching) in addition to the film forming process on the surface to be processed. In any processing, the workpiece supporting jig is rotated by a predetermined angle in the above-described manner to successively shift the processing target surfaces to be processed, whereby continuous processing can be performed on a plurality of processing target surfaces of the workpiece with high accuracy have.

또한, 워크가 제1 맞댐면, 제2 맞댐면 및 제3 맞댐면에서 위치 결정됨으로써 워크의 위치 어긋남을 방지하고, 워크의 복수의 처리 예정면에 연속적인 처리를 보다 높은 정확도로 실시할 수 있다.Further, since the workpiece is positioned on the first abutting surface, the second abutting surface, and the third abutting surface, it is possible to prevent misalignment of the work, and to carry out continuous processing on a plurality of processing planes of the work with higher accuracy .

또한, 복수의 워크 지지 지그(예를 들어, 2개의 제1 및 제2 지지 지그)를 배열해, 이들에 지지된 워크의 각각의 처리 예정면에 동시에 처리를 실시해도 된다. 예를 들어, 제1 워크 지지 지그의 워크의 제1 맞댐면과 반대쪽의 처리 예정면과 제2 워크 지지 지그의 워크의 제2 맞댐면과 반대쪽의 처리 예정면이 대략 동일 평면이 되도록 배치해도 된다. 이와 같은 구성으로 함으로써, 2개의 워크의 처리 예정면에 동시에 전극막 형성 처리 등의 처리를 실시할 수 있다.In addition, a plurality of work supporting jigs (for example, two first and second supporting jigs) may be arranged and processed on each of the processing planes of the work supported by them. For example, the process-scheduled surface opposite to the first abutting surface of the work of the first work supporting jig and the process-scheduled surface opposite to the second abutting surface of the work of the second work supporting jig may be arranged to be substantially flush with each other . With such a configuration, it is possible to simultaneously perform processing such as an electrode film forming process on the processing target surface of the two workpieces.

바람직하게는, 상기 워크 수용부에 수용되어 있는 워크의 2개의 상기 처리 예정면이, 각각 상기 제1 맞댐면의 반대쪽과 상기 제2 맞댐면의 반대쪽으로부터 노출되도록, 상기 워크가 상기 워크 수용부에 수용된다. 이와 같은 구성으로 함으로써, 제1 맞댐면의 반대쪽으로부터 노출된 처리 예정면과 제2 맞댐면의 반대쪽으로부터 노출된 처리 예정면에, 전술한 요령으로 연속적인 처리를 보다 높은 정확도로 실시할 수 있다.Preferably, the two work planes of the work accommodated in the work receiving portion are respectively exposed from the opposite side of the first abutting surface and the opposite side of the second abutting surface, . With such a configuration, continuous processing can be performed with higher accuracy to the treatment target surface exposed from the opposite side of the first butting face from the opposite side of the treatment target face exposed from the opposite side and the second butting face.

바람직하게는, 2개의 상기 처리 예정면이, 상기 워크 수용부의 바깥쪽으로 돌출되도록, 상기 워크가 상기 워크 수용부에 수용된다. 이와 같은 구성으로 함으로써, 워크 수용부의 바깥쪽으로 워크의 각 처리 예정면이 돌출되어, 스퀴지 등에 의해 각 처리 예정면에 전극막 형성 처리 등의 처리를 용이하게 실시할 수 있다.Preferably, the work is received in the work receiving portion such that the two processing planes protrude outward of the work receiving portion. With such a configuration, each planned processing surface of the work protrudes outwardly of the work receiving portion, and processing such as electrode film forming processing can be easily performed on each processing target surface by a squeegee or the like.

바람직하게는, 상기 제1 맞댐면의 반대쪽으로부터 돌출된 워크의 처리 예정면의 돌출량과 상기 제2 맞댐면의 반대쪽으로부터 돌출된 워크의 처리 예정면의 돌출량이 대략 동일하다. 이와 같은 구성으로 함으로써, 워크 지지 지그를 소정 각도만큼 회전시켰을 때, 어느 하나의 처리 예정면이 인쇄용 스크린 등을 향했다고 해도, 인쇄용 스크린 등과 워크의 처리 예정면 사이의 거리가 항상 일정하게 되도록 조정하기 쉬워진다. 따라서, 워크 지지 지그를 소정 각도만큼 회전시킬 때마다 상기 거리를 조정할 필요 없이, 스퀴지 등에 의해 용이하게 워크의 처리 예정면에 전극막을 형성할 수 있다.Preferably, the protruding amount of the processing surface of the work protruded from the opposite side of the first abutting surface and the protruding amount of the processing surface of the work protruding from the opposite side of the second abutting surface are substantially the same. With such a configuration, even when any one of the processing planes faces the printing screen or the like when the work supporting jig is rotated by a predetermined angle, adjustment is made so that the distance between the printing screen or the like and the processing- It gets easier. Therefore, it is possible to easily form the electrode film on the surface of the work to be processed by a squeegee without adjusting the distance each time the workpiece supporting jig is rotated by a predetermined angle.

바람직하게는, 상기 워크 지지 기구는 복수의 상기 워크 수용부를 구비한다. 이와 같은 구성으로 함으로써, 복수의 워크의 각각을 각 워크 수용부에 배치하는 것이 가능해져, 한 번에 복수의 워크에 단자 전극을 높은 정확도로 형성할 수 있다.Preferably, the work supporting mechanism includes a plurality of the work receiving portions. With this configuration, it is possible to arrange each of the plurality of workpieces in each of the workpiece receiving portions, so that the terminal electrodes can be formed with a high accuracy in a plurality of workpieces at a time.

바람직하게는, 상기 제2 맞댐면에는 상기 워크 수용부에 수용되는 워크와 반대쪽을 향해 함몰되는 오목부가 형성되어 있다. 이와 같은 구성으로 함으로써, 처리 예정면에 소정의 처리를 실시한 후에 오목부에 핀 등을 삽입하고, 이 핀 등으로 긁어내듯이 제2 맞댐면에 고정되어 있는 워크를 밀어냄으로써, 워크 수용부로부터 워크를 꺼낼 수 있다.Preferably, the second abutting surface is formed with a concave portion that is recessed toward the opposite side of the work received in the work receiving portion. With such a configuration, after finishing the predetermined processing on the processing target surface, a pin or the like is inserted into the recess and the work fixed to the second abutting surface is pushed as if scraped by the pin, You can take it out.

바람직하게는, 상기 워크 지지 기구는, 제1 워크 지지부 및 상기 제1 워크 지지부에 분리 가능하게 장착되는 제2 워크 지지부를 구비하고, 상기 제1 맞댐면과 상기 제3 맞댐면이 상기 제1 워크 지지부에 형성되어 있고, 상기 제2 맞댐면이 상기 제2 워크 지지부에 형성되어 있다. 이와 같은 구성으로 함으로써, 다음과 같은 형태로 처리하는 것이 가능해진다.Preferably, the workpiece support mechanism includes a first workpiece support portion and a second workpiece support portion detachably mounted on the first workpiece support portion, wherein the first abutment surface and the third abutment surface are engaged with the first workpiece support portion, And the second abutting surface is formed on the second work supporting portion. With this configuration, it is possible to perform processing in the following manner.

즉, 미리, 워크 수용부의 사이즈(제1 맞댐면 및 제3 맞댐면의 면적)가 각각 상이한 복수의 제1 워크 지지부를 준비해 두고, 처리를 실시하는 워크의 사이즈에 따라 원하는 사이즈의 워크 수용부를 갖는 제1 워크 지지부를 선택한다. 이 제1 워크 지지부를 제2 워크 지지부에 장착해 처리를 실시하면, 제2 워크 지지부를 바꾸지 않아도 되기 때문에 다른 종류의 전자 부품의 생산성을 향상시킬 수 있다.That is, a plurality of first work supporting portions having different sizes of the work receiving portions (the areas of the first abutting surface and the third abutting surface) are prepared in advance, and a work accommodating portion having a desired size is formed according to the size of the work to be processed The first work supporting portion is selected. When the first work supporting portion is mounted on the second work supporting portion and processed, the second work supporting portion does not need to be changed, so that the productivity of other kinds of electronic components can be improved.

바람직하게는, 상기 워크 수용부에 수용되어 있는 워크는, 상기 제2 맞댐면과 상기 제3 맞댐면이 이루는 코너부의 내측에 배치된다. 이와 같은 구성으로 함으로써, 워크 수용부의 코너부의 내측에 워크가 고정되어 워크의 위치 결정을 용이하게 행하는 것이 가능해진다. 따라서, 워크의 위치 어긋남을 방지해, 워크의 복수의 처리 예정면에 연속적인 처리를 보다 높은 정확도로 실시할 수 있다.Preferably, the work accommodated in the work receiving portion is disposed inside a corner portion formed by the second butting face and the third butting face. With this configuration, the workpiece is fixed to the inside of the corner portion of the workpiece receiving portion, so that it is possible to easily position the workpiece. Therefore, it is possible to prevent the misalignment of the work and to carry out continuous processing on a plurality of processing planes of the work with higher accuracy.

또한, 워크 지지 지그는, 길이 방향에 수직인 단면 형상이 대략 정사각 형상이어도 된다. 이와 같은 구성으로 함으로써, 워크 지지 지그를 소정 각도 회전시켰을 때, 인쇄용 스크린 등과 워크의 처리 예정면 사이의 거리를 항상 일정하게 하는 것이 쉬워진다.In addition, the work supporting jig may have a substantially square shape in cross section perpendicular to the longitudinal direction. With this configuration, when the work supporting jig is rotated by a predetermined angle, it becomes easy to make the distance between the screen for printing and the surface to be processed of the work always constant.

또한, 복수의 워크 지지 지그를 서로 인접하게 배열한 경우, 각 워크 지지 지그를 소정 각도만큼 회전시켰을 때, 서로 인접하는 워크 지지 지그 사이에서, 지지되는 워크의 처리 예정면을 대략 동일 평면으로 하기 쉬워져, 스크린 인쇄 등의 처리를 실시하기 쉬워진다.Further, when a plurality of workpiece supporting jigs are arranged adjacent to each other, it is easy to make the processable surfaces of the workpiece to be supported substantially flat between adjacent workpiece supporting jigs when the respective workpiece supporting jigs are rotated by a predetermined angle And it becomes easy to perform processes such as screen printing.

상기 워크 수용부에 수용되어 있는 워크는, 상기 제2 맞댐면과 상기 제3 맞댐면이 이루는 코너부의 바깥쪽에 배치해도 된다. 이와 같은 구성으로 함으로써, 워크 수용부의 코너부의 바깥쪽에 워크가 고정되어 워크의 위치 결정을 실시하는 것이 가능해진다. 따라서, 워크의 위치 어긋남을 방지해, 워크의 복수의 처리 예정면에 연속적인 처리를 보다 높은 정확도로 실시할 수 있다.The work accommodated in the work accommodating portion may be disposed outside the corner portion formed by the second abutting surface and the third abutting surface. With this configuration, the workpiece is fixed to the outside of the corner portion of the workpiece receiving portion, and the workpiece can be positioned. Therefore, it is possible to prevent the misalignment of the work and to carry out continuous processing on a plurality of processing planes of the work with higher accuracy.

또한, 상기와 같은 구성으로 함으로써, 워크 수용부에 워크를 배치하면, 워크 수용부로부터 워크의 적어도 3개의 처리 예정면이 제1 맞댐면의 반대쪽과 2개의 제2 맞댐면의 반대쪽으로부터 노출된다. 따라서, 전술한 요령으로 워크 지지 지그를 소정 각도만큼 회전시켜, 처리 대상의 적어도 3개의 처리 예정면을 순차적으로 시프트해 나감으로써, 워크의 복수의 처리 예정면에 연속적인 처리를 높은 정확도로 실시할 수 있다.With the above arrangement, at least three processing planes of the workpiece are exposed from the opposite side of the first butting face and the opposite side of the two second butting faces from the work receiving portion when the work is placed in the work accommodating portion. Therefore, by continuously rotating the workpiece supporting jig by a predetermined angle and sequentially shifting at least three processing planes to be processed, the continuous processing on the plurality of processing planes of the workpiece is performed with high accuracy .

또한, 복수의 워크 지지 지그(예를 들어, 3개의 제1∼제3 지지 지그)를 배열하고, 이들에 지지된 워크의 각각의 처리 예정면에 동시에 처리를 실시해도 된다. 예를 들어, 제1 워크 지지 지그의 워크의 제1 맞댐면과 반대쪽의 처리 예정면과, 제2 워크 지지 지그의 워크의 제2 맞댐면과 반대쪽의 처리 예정면과, 제3 워크 지지 지그의 워크의 제2 맞댐면과 반대쪽의 처리 예정면이 대략 동일 평면이 되도록 배치해도 된다. 이와 같은 구성으로 함으로써, 3개의 워크의 처리 예정면에 동시에 전극막 형성 처리 등의 처리를 실시할 수 있다.It is also possible to arrange a plurality of work supporting jigs (for example, three first to third supporting jigs) and simultaneously process the respective processing surfaces of the work supported thereon. For example, it is preferable that the processing target surface on the opposite side of the first abutting surface of the work of the first work supporting jig, the processing intended surface opposite to the second abutting surface of the work of the second work supporting jig, And the process-scheduled surface opposite to the second abutting surface of the work may be arranged to be substantially coplanar. With such a configuration, it is possible to simultaneously perform processing such as an electrode film forming process on the processing target surfaces of the three workpieces.

바람직하게는, 상기 워크 수용부에 수용되어 있는 워크를, 상기 제2 맞댐면 및 상기 제3 맞댐면에 맞닿도록 끌어당기는 풀인(pull-in) 수단을 더 구비한다. 이와 같은 구성으로 함으로써, 워크 수용부에 수용되어 있는 워크를 제2 맞댐면 및 제3 맞댐면에 맞닿도록 끌어당기는 것이 가능해져, 워크 지지 지그에 대한 워크의 위치 결정 정밀도를 향상시킬 수 있다.Preferably, the apparatus further comprises a pull-in means for pulling the work accommodated in the work receiving portion in contact with the second abutting surface and the third abutting surface. With this configuration, the work accommodated in the work accommodating portion can be pulled in contact with the second abutting surface and the third abutting surface, and the positioning accuracy of the work with respect to the work supporting jig can be improved.

한편, 보조 부재를 워크 지지 기구와 탈착 가능하게 구성해도 되고, 이 경우, 워크 지지 지그의 내부 등에 먼지 등(페라이트 분말이나 가루 등)이 축적된 경우라도, 보조 부재를 워크 지지 기구로부터 분리하고 워크 지지 지그의 내부 등을 청소할 수 있다.On the other hand, the auxiliary member may be configured to be detachable from the workpiece holding mechanism. In this case, even when dust or the like (ferrite powder or powder) is accumulated on the inside of the workpiece supporting jig, The inside of the support jig can be cleaned.

전자 부품 처리 장치에 워크 지지 지그를 복수 개 구비해도 된다. 전자 부품 처리 장치로는, 예를 들어 인쇄 장치나 날인 장치, 혹은 도포 장치 등을 들 수 있다.A plurality of work supporting jigs may be provided in the electronic component processing apparatus. Examples of the electronic parts processing apparatus include a printing apparatus, a printing apparatus, a coating apparatus, and the like.

바람직하게는, 본 발명에 따른 전자 부품의 제조 방법은, 전술한 어느 하나의 워크 지지 지그를 이용해, 적어도 2개의 처리 예정면이 워크 수용부로부터 노출된 워크의 어느 하나의 처리 예정면에 처리를 실시하는 공정과, 상기 워크 지지 지그를 소정 각도만큼 회전시켜, 이 워크의 다른 어느 하나의 처리 예정면에 처리를 실시하는 공정을 갖는다. 이와 같은 방법으로 전자 부품을 제조함으로써, 워크의 복수의 처리 예정면에 연속적인 처리를 높은 정확도로 실시할 수 있다.Preferably, the method for manufacturing an electronic component according to the present invention is a method for manufacturing an electronic component, wherein at least two processing planes are processed on any one of the work planes exposed from the work receiving portion by using any one of the above- And a step of rotating the workpiece supporting jig by a predetermined angle to perform processing on any other processing target surface of the workpiece. By manufacturing the electronic component in this way, it is possible to perform continuous processing on a plurality of processing target planes of the work with high accuracy.

또는, 본 발명에 따른 전자 부품의 제조 방법은, 전술한 어느 하나의 워크 지지 지그를, 서로 인접하는 한쪽의 워크 지지 지그의 워크 수용부의 제1 맞댐면과 서로 인접하는 다른 쪽의 워크 지지 지그의 워크 수용부의 제2 맞댐면이 동일 방향을 향하도록, 소정 각도만큼 회전시켜 배열하는 공정과,Alternatively, the method of manufacturing an electronic component according to the present invention is characterized in that any one of the above-described work supporting jigs is mounted on the first abutting surface of the work accommodating portion of one of the work supporting jigs adjacent to the other, A step of rotating and arranging the second abutting surfaces of the work receiving portions so as to face the same direction,

상기 한쪽의 워크 지지 지그의 상기 제1 맞댐면의 반대쪽으로부터 노출된 워크의 처리 예정면과, 상기 다른 쪽의 워크 지지 지그의 상기 제2 맞댐면의 반대쪽으로부터 노출된 워크의 처리 예정면에 처리를 실시하는 공정을 갖고 있어도 된다.Processing is performed on a planned processing surface of the work exposed from the opposite side of the first abutting surface of the one work supporting jig and a processing intended side of the work exposed from the opposite side of the other abutting surface of the work supporting jig Or may be carried out.

이와 같은 방법으로 전자 부품을 제조함으로써, 스퀴지 등에 의해, 서로 인접하는 한쪽의 워크 지지 지그의 워크 수용부의 제1 맞댐면의 반대쪽으로 노출된 처리 예정면과, 서로 인접하는 다른 쪽의 워크 지지 지그의 워크 수용부의 제2 맞댐면의 반대쪽으로 노출된 처리 예정면에, 연속적인 처리를 한번에 높은 정확도로 실시할 수 있다.By manufacturing the electronic component in this manner, the processed surface exposed by the squeegee or the like opposite to the first abutting surface of the work receiving portion of one of the work supporting jigs and the other surface of the other work supporting jig Continuous processing can be performed at a high accuracy at a time on the processing target surface exposed on the opposite side of the second abutting surface of the work receiving portion.

도 1a는 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 워크 지지 지그의 전체 사시도이다.
도 1b는 도 1a에 나타낸 워크 지지 지그의 부분 확대도이다.
도 1c는 도 1a에 나타낸 워크의 확대도이다.
도 1d는 도 1c에 나타낸 워크의 변형예를 나타내는 확대도이다.
도 2a는 도 1a에 나타낸 워크 지지 지그를 이용해 전자 부품에 단자 전극을 형성하는 과정을 나타내는 측면도이다.
도 2b는 도 2a에 이어지는 공정을 나타내는 측면도이다.
도 2c는 도 2b에 이어지는 공정을 나타내는 측면도이다.
도 2d는 도 2c에 이어지는 공정을 나타내는 측면도이다.
도 2e는 본 발명의 제2 실시 형태에 따른 워크 지지 지그를 이용해 전자 부품에 다른 형태의 단자 전극을 형성하는 과정을 나타내는 측면도이다.
도 2f는 도 2e에 이어지는 공정을 나타내는 측면도이다.
도 2g는 도 2f에 이어지는 공정을 나타내는 측면도이다.
도 2h는 도 2g에 이어지는 공정을 나타내는 측면도이다.
도 3은 도 1a에 나타낸 워크 지지 지그의 분해 사시도이다.
도 4a는 도 1a에 나타낸 워크 지지 지그의 다른 배치 형태를 나타내는 전체 사시도이다.
도 4b는 도 4a에 나타낸 워크 지지 지그를 회전시켰을 때의 전체 사시도이다.
도 5a는 본 발명의 제3 실시 형태에 따른 워크 지지 지그의 전체 사시도이다.
도 5b는 도 5a에 나타낸 워크 지지 지그의 부분 확대도이다.
도 6a는 도 5a에 나타낸 워크 지지 지그를 이용해 전자 부품에 단자 전극을 형성하는 과정을 나타내는 측면도이다.
도 6b는 도 6a에 이어지는 공정을 나타내는 측면도이다.
도 6c는 도 6b에 이어지는 공정을 나타내는 측면도이다.
1A is an entire perspective view of a work supporting jig according to a first embodiment of the present invention.
Fig. 1B is a partially enlarged view of the work supporting jig shown in Fig. 1A.
Fig. 1C is an enlarged view of the work shown in Fig. 1A.
FIG. 1D is an enlarged view showing a modified example of the work shown in FIG. 1C. FIG.
2A is a side view showing a process of forming a terminal electrode on an electronic part using the work supporting jig shown in FIG. 1A.
Figure 2B is a side view showing the process that follows Figure 2A.
Figure 2c is a side view showing the process that follows Figure 2b.
Fig. 2D is a side view showing the process subsequent to Fig. 2C.
2E is a side view showing a process of forming another type of terminal electrode on an electronic part by using a work supporting jig according to a second embodiment of the present invention.
Figure 2f is a side view showing the process following Figure 2e.
Figure 2g is a side view showing the process that follows Figure 2f.
Figure 2h is a side view showing the process following Figure 2g.
3 is an exploded perspective view of the work supporting jig shown in Fig.
Fig. 4A is an overall perspective view showing another configuration of the work supporting jig shown in Fig. 1A.
Fig. 4B is an overall perspective view when the work supporting jig shown in Fig. 4A is rotated. Fig.
5A is an entire perspective view of a work supporting jig according to a third embodiment of the present invention.
Fig. 5B is a partial enlarged view of the work supporting jig shown in Fig. 5A. Fig.
6A is a side view showing a process of forming a terminal electrode on an electronic part using the work supporting jig shown in FIG. 5A.
FIG. 6B is a side view showing the process subsequent to FIG. 6A. FIG.
FIG. 6C is a side view showing the process subsequent to FIG. 6B. FIG.

이하, 본 발명을 도면에 나타낸 실시 형태에 기초해 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described based on the embodiments shown in the drawings.

제1 실시 형태First Embodiment

도 1a에 나타낸 바와 같이, 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 워크 지지 지그(1A, 1B)는 워크 지지 기구(10) 및 워크 지지 기구(10)에 탈착 가능하게 구성되어 있는 보조 부재(20)를 갖는다. 전자 부품 처리 장치에서는, 복수의 워크 지지 지그(1A, 1B)가, 도 1a에 나타낸 바와 같이, 각각 배열된 상태로 구비된다. 도 1a에 나타낸 예에서는, 2개의 워크 지지 지그(1A, 1B)가, 각각 대략 평행하게 배열되고, 한쪽 워크 지지 지그(1A)는 다른 쪽 워크 지지 지그(1B)에 대해 Y축을 중심축으로 하여 시계 방향으로 90° 회전되어 있다.1A, the work supporting jig 1A and 1B according to the first embodiment of the present invention includes a work supporting mechanism 10 and an auxiliary member 20 detachably attached to the work supporting mechanism 10, . In the electronic component processing apparatus, a plurality of work supporting jigs 1A and 1B are provided in a state in which they are arranged as shown in Fig. 1A. In the example shown in Fig. 1A, the two work supporting jigs 1A and 1B are arranged substantially parallel to each other, and one of the work supporting jigs 1A is arranged with respect to the other work supporting jig 1B about the Y axis as a central axis It is rotated 90 ° clockwise.

워크 지지 지그(1A, 1B)는, 전자 부품 제조시에 단자 전극을 형성하기 위해 복수의 전자 부품의 소체(이하, 워크(50))를 정렬 지지하기 위한 지그이다. 워크 지지 지그(1A, 1B)는 전자 부품 처리 장치(미도시)의 보조 지그로서 이용되며, 전자 부품 처리 장치(미도시)에 복수 개 구비된다.The work supporting jigs 1A and 1B are jigs for aligning and supporting a body of a plurality of electronic components (hereinafter, work 50) in order to form terminal electrodes at the time of manufacturing electronic parts. The work supporting jigs 1A and 1B are used as auxiliary jigs of an electronic part processing apparatus (not shown), and a plurality of them are provided in an electronic part processing apparatus (not shown).

전자 부품 처리 장치로는, 예를 들어 인쇄 장치, 날인 장치 또는 도포 장치 등을 들 수 있다. 전자 부품 제조시에는, 예를 들어 인쇄 장치에 구비되는 스퀴지 등에 의해, 워크 지지 지그(1A, 1B)에 지지된 복수의 워크(50)의 처리 예정면(본 실시 형태에서는, 도 1b에 나타내는 단턱부(52a, 52b)의 표면)에 전극막(단자 전극) 형성 처리가 실시된다.Examples of the electronic parts processing apparatus include a printing apparatus, a sealing apparatus, a coating apparatus, and the like. 1B) of the plurality of workpieces 50 supported on the workpiece support jigs 1A and 1B by a squeegee or the like provided in a printing apparatus, for example, (The surface of the jaws 52a and 52b) is subjected to an electrode film (terminal electrode) forming process.

이하, 우선, 워크(50)에 전극막 형성 처리를 실시해 이루어지는 전자 부품의 상세에 대해 설명한다. 이하의 설명에 있어서, 워크 지지 지그(1A, 1B)의 길이 방향과 평행한 방향을 Y축 방향, Y축과 수직인 방향을 X축 방향, Y축 및 X축에 수직인 방향을 Z축 방향으로 한다.Hereinafter, the details of the electronic component obtained by performing the electrode film forming process on the work 50 will be described. In the following description, a direction parallel to the longitudinal direction of the work supporting jig 1A or 1B is referred to as a Y axis direction, a direction perpendicular to the Y axis as an X axis direction, a direction perpendicular to the Y axis and X axis as a Z axis direction .

도 1b에 나타낸 바와 같이, 한쪽 워크 지지 지그(1A)에 지지되는 워크(50)(전자 부품의 소체)는 드럼 코어로 이루어지고, X축 방향으로 권축을 갖는 권심부(51) 및 권심부(51)의 X축 방향의 양단에 구비되는 한 쌍의 단턱부(52a, 52b)를 갖는다. 단턱부(52a, 52b)는 X축 방향으로 소정의 간격을 두고 서로 대략 평행이 되도록 배치되어 있다. 권심부(51)는 한 쌍의 단턱부(52a, 52b)에서 서로 마주 보는 각각의 면의 중앙부에 접속되어, 한 쌍의 단턱부(52a, 52b)를 접속하고 있다.1B, a work 50 (a body of an electronic component) supported by one of the work supporting jig 1A is formed of a drum core, and includes a winding core portion 51 having a crimp in the X- 51 provided at both ends in the X-axis direction. The step portions 52a and 52b are arranged so as to be substantially parallel to each other at a predetermined interval in the X axis direction. The winding core portion 51 is connected to a central portion of each of the surfaces facing each other in the pair of step portions 52a and 52b and connects the pair of step portions 52a and 52b.

도 1c에 나타낸 바와 같이, 단턱부(52a, 52b)는 대략 직방형상(대략 6면체)으로 이루어지고, 상면(52a1, 52b1), 상면(52a1, 52b1)과 Z축 방향으로 반대쪽에 있는 하면(52a2, 52b2), 단면(52a3, 52b3), 제1 측면(52a4, 52b4), 제1 측면(52a4, 52b4)과 Y축 방향으로 반대쪽에 있는 제2 측면(52a5, 52b5) 및 단면(52a3, 52b3)과 X축 방향으로 반대쪽에 있는 내측면(52a6, 52b6)을 갖는다. 상면(52a1, 52b1) 또는 하면(52a2, 52b2)은, 예를 들어 회로 기판 등에 접합되는 부분이다.As shown in Fig. 1C, the step portions 52a and 52b have substantially a rectangular shape (substantially a hexahedron shape). The stepped portions 52a and 52b are formed on the upper surface 52a1 and the lower surface 52b1, Second side surfaces 52a5 and 52b5 opposite to the first side surfaces 52a4 and 52b4 in the Y-axis direction, and end surfaces 52a3 and 52b2, 52a2 and 52b2, the end surfaces 52a3 and 52b3, the first side surfaces 52a4 and 52b4, And inner sides 52a6 and 52b6 on the opposite sides in the X-axis direction. The upper surfaces 52a1, 52b1 or the lower surfaces 52a2, 52b2 are portions joined to, for example, a circuit board or the like.

도 1c에 나타낸 바와 같이, 단턱부(52a, 52b)에는 소정 패턴의 전극막(53)이 형성된다. 전극막(53)은, 예를 들어 금속 페이스트 소부막(燒付膜)이나 금속 도금막으로 구성된다. 전극막(53)은 상면 전극부(531), 단면 전극부(532) 및 하면 전극부(533)를 구비하고, 이들은 전기적 및 물리적으로 접속된다.As shown in Fig. 1C, an electrode film 53 of a predetermined pattern is formed on the step portions 52a and 52b. The electrode film 53 is composed of, for example, a metal paste baked film or a metal plating film. The electrode film 53 has an upper electrode section 531, a section electrode section 532, and a lower electrode section 533, which are electrically and physically connected.

상면 전극부(531)는 XY 평면에 평행한 면으로 이루어지고, 상면(52a1, 52b1)에 형성된다. 단면 전극부(532)는 YZ 평면에 평행한 면으로 이루어지고, 단면(52a3, 52b3)에 형성된다. 하면 전극부(533)는 XY 평면에 평행한 면으로 이루어지고, 하면(52a2, 52b2)에 형성된다.The upper surface electrode portion 531 is a surface parallel to the XY plane, and is formed on the upper surfaces 52a1 and 52b1. The end surface electrode portions 532 are formed on the surfaces parallel to the YZ plane and are formed on the end surfaces 52a3 and 52b3. The lower surface electrode portion 533 is formed on the lower surfaces 52a2 and 52b2, which are parallel to the XY plane.

다음으로, 워크 지지 지그(1A, 1B)의 상세에 대해 설명한다. 워크 지지 지그(1A, 1B)는 각각 같은 구성을 갖기 때문에, 이하의 설명에서는 워크 지지 지그(1A)를 참조하면서 워크 지지 지그(1A, 1B)의 상세에 대해 설명한다.Next, the details of the work supporting jig 1A, 1B will be described. Since the work supporting jigs 1A and 1B have the same configuration, the following description will be made on the details of the work supporting jig 1A and 1B while referring to the work supporting jig 1A.

워크 지지 지그(1A)에 있어서, X축 방향은 워크 지지 지그(1A)의 폭 방향에 대응하고, Y축 방향은 워크 지지 지그(1A)의 길이 방향에 대응하고, Z축 방향은 워크 지지 지그(1A)의 높이 방향에 대응한다. 또한, 이하에서는 Z축의 화살표 방향쪽을 상방이라고 하고, Z축의 화살표 방향과 반대 방향쪽을 하방이라고 한다.In the work supporting jig 1A, the X-axis direction corresponds to the width direction of the work supporting jig 1A, the Y-axis direction corresponds to the longitudinal direction of the work supporting jig 1A, And corresponds to the height direction of the main body 1A. In the following description, the arrow direction of the Z-axis is referred to as the upper direction, and the direction opposite to the arrow direction of the Z-axis is referred to as the downward direction.

도 1a에 나타낸 바와 같이, 워크 지지 지그(1A)는 Y축 방향으로 얇고 긴 형상을 갖는다. 워크 지지 기구(10)와 보조 부재(20)의 결합시에, 워크 지지 지그(1A)의 결합체의 길이 방향에 수직인 단면 형상은 대략 정사각 형상이다. 보다 상세하게는, 워크 지지 지그(1A)의 Y축 방향 길이는 예를 들어 200∼300㎜이고, X축 방향폭은 10∼30㎜이고, Z축 방향폭은 10∼30㎜이다.As shown in Fig. 1A, the work supporting jig 1A has a thin and long shape in the Y-axis direction. The cross sectional shape perpendicular to the longitudinal direction of the joined body of the work supporting jig 1A is substantially square when the work supporting mechanism 10 and the auxiliary member 20 are coupled. More specifically, the length of the work supporting jig 1A in the Y-axis direction is, for example, 200 to 300 mm, the width in the X-axis direction is 10 to 30 mm, and the width in the Z-axis direction is 10 to 30 mm.

워크 지지 기구(10)는 복수의 워크 수용부(13)를 갖는다. 워크 수용부(13)는 오목부로 이루어지고, 상방 및 측방에 워크를 반입 가능한 개방부가 형성되어 있다. 이 개방부를 통해 워크 수용부(13)에 워크(50)가 수용된다.The work support mechanism (10) has a plurality of work receiving portions (13). The work receiving portion 13 is a concave portion, and an opening portion capable of loading the work in the upper side and the lateral side is formed. And the work 50 is received in the work receiving portion 13 through this opening.

도 1b에 나타낸 바와 같이, 워크 수용부(13)는 제1 맞댐면(131), 제2 맞댐면(132), 제3 맞댐면(133) 및 대향면(134)을 갖는다.The work receiving portion 13 has a first abutting surface 131, a second abutting surface 132, a third abutting surface 133, and an opposed surface 134, as shown in Fig. 1B.

제1 맞댐면(131)은 워크 지지 지그(1)의 폭 방향 및 길이 방향에 평행한 면(도시한 예에서는, XY 평면)으로 이루어진다. 제2 맞댐면(132)은 워크 지지 지그(1)의 길이 방향 및 높이 방향에 평행한 면(도시한 예에서는, YZ 평면)으로 이루어진다. 제3 맞댐면(133)은 워크 지지 지그(1)의 폭 방향 및 높이 방향에 평행한 면(도시한 예에서는, XZ 평면)으로 이루어진다. 대향면(134)은 워크 지지 지그(1)의 폭 방향 및 높이 방향에 평행한 면(도시한 예에서는, XZ 평면)으로 이루어지고, 제3 맞댐면과는 Y축 방향 반대쪽에 배치되어 있다.The first abutting surface 131 is formed in a plane parallel to the width direction and the longitudinal direction of the work supporting jig 1 (XY plane in the illustrated example). The second abutting surface 132 is formed in a plane parallel to the longitudinal direction and the height direction of the work supporting jig 1 (YZ plane in the illustrated example). The third abutting surface 133 is formed in a plane parallel to the width direction and the height direction of the work supporting jig 1 (XZ plane in the illustrated example). The opposing face 134 is formed in a plane parallel to the width direction and the height direction of the work supporting jig 1 (XZ plane in the illustrated example), and is arranged on the opposite side of the third abutment face in the Y axis direction.

제2 맞댐면(132) 및 제3 맞댐면(133)은 서로 대략 직각으로 교차해, 코너부를 형성하고 있다. 마찬가지로, 제2 맞댐면(132) 및 대향면(1034)은 서로 대략 직각으로 교차해, 코너부를 형성하고 있다.The second abutting surface 132 and the third abutting surface 133 intersect at substantially right angles to form a corner. Likewise, the second abutment surface 132 and the opposing surface 1034 cross each other at substantially right angles to form a corner.

워크 수용부(13)에 워크(50)를 수용하면, 워크 수용부(13)의 제1 맞댐면(131)에는, 도 1c에 나타내는 워크(50)의 단턱부(52a, 52b)의 하면(52a2, 52b2)이 맞닿는다. 또한, 도 1b에 나타내는 워크 수용부(13)의 제2 맞댐면(132)에는, 도 1c에 나타내는 워크(50)의 단턱부(52b)의 단면(52b3)이 맞닿는다. 또한, 도 1b에 나타내는 워크 수용부(13)의 제3 맞댐면(133)에는, 도 1c에 나타내는 워크(50)의 단턱부(52a, 52b)의 제2 측면(52a5, 52b5)이 맞닿는다. 즉, 도 1b에 나타내는 제1 맞댐면(131), 제2 맞댐면(132) 및 제3 맞댐면(133)에는 워크(50)의 3면이 맞닿는다.When the work 50 is accommodated in the work accommodating portion 13, the first abutting surface 131 of the work accommodating portion 13 is provided on the lower surface of the step portions 52a and 52b of the work 50 shown in Fig. 52a2, 52b2. The end face 52b3 of the step portion 52b of the work 50 shown in Fig. 1C abuts on the second abutment surface 132 of the work receiving portion 13 shown in Fig. 1B. The second side surfaces 52a5 and 52b5 of the step portions 52a and 52b of the work 50 shown in Fig. 1C abut on the third abutting surface 133 of the work accommodating portion 13 shown in Fig. 1B . That is, three surfaces of the work 50 abut against the first abutment surface 131, the second abutment surface 132, and the third abutment surface 133 shown in Fig. 1B.

본 실시 형태에서는, 제1 맞댐면(131) 및 제3 맞댐면(133)의 X축 방향폭은, 도 1c에 나타내는 단턱부(52a, 52b)의 단면(52a3, 52b3) 사이의 X축 방향폭보다 약간 짧게 형성되어 있다. 또한, 도 1b에 나타내는 제2 맞댐면(132), 제3 맞댐면(133) 및 대향면(134)의 Z축 방향폭은, 단턱부(52a, 52b)의 Z축 방향 높이보다 약간 작게 형성되어 있다.In this embodiment, the X-axis direction widths of the first butting face 131 and the third butting face 133 are the same as the X-axis direction widths between the end faces 52a3 and 52b3 of the step portions 52a and 52b shown in Fig. Is formed to be slightly shorter than the width. The Z-axis direction width of the second abutment surface 132, the third abutment surface 133 and the opposing surface 134 shown in Fig. 1B is formed to be slightly smaller than the Z-axis direction height of the step portions 52a, 52b .

이 때문에, 워크 수용부(13)에 워크(50)를 수용하면, 제1 맞댐면(131)의 반대쪽과 제2 맞댐면(132)의 반대쪽으로부터, 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50)의 처리 예정면(소정 패턴의 전극막(53)이 형성될 예정면)이 워크 수용부(13)의 바깥쪽으로 돌출된다.Therefore, when the work 50 is accommodated in the work accommodating portion 13, the work 50 is accommodated in the work accommodating portion 13 from the opposite side of the first abutment surface 131 and the second abutment surface 132, (The surface on which the electrode film 53 of the predetermined pattern is to be formed) of the work 50 is protruded outward of the work accommodating portion 13.

보다 상세하게는, 도 1c에 나타내는 단턱부(52a, 52b)의 상면(52a1, 52b1)이, 도 1b에 나타내는 제1 맞댐면(131)의 반대쪽으로부터 돌출됨과 함께, 워크 수용부(13)의 바깥쪽으로 노출된다. 또한, 도 1c에 나타내는 단턱부(52a)의 단면(52a3)이, 도 1b에 나타내는 제2 맞댐면(132)의 반대쪽으로부터 돌출됨과 함께, 워크 수용부(13)의 바깥쪽으로 노출된다.More specifically, the upper surfaces 52a1 and 52b1 of the step portions 52a and 52b shown in Fig. 1C protrude from the opposite side of the first abutment surface 131 shown in Fig. 1B, Exposed to the outside. The end surface 52a3 of the step portion 52a shown in Fig. 1C protrudes from the opposite side of the second abutting surface 132 shown in Fig. 1B and is exposed to the outside of the work accommodating portion 13. Fig.

한편, 워크(50)를 상하(Z축 방향) 및 좌우(Y축 방향)를 반전시킨 상태로 워크 수용부(13)의 내부에 수용한 경우에는, 도 1c에 나타내는 단턱부(52a, 52b)의 하면(52a2, 52b2)이, 도 1b에 나타내는 제1 맞댐면(131)의 반대쪽으로부터 돌출됨과 함께, 워크 수용부(13)의 바깥쪽으로 노출된다. 또한, 도 1c에 나타내는 단턱부(52b)의 단면(52b3)이, 도 1b에 나타내는 제2 맞댐면(132)의 반대쪽으로부터 돌출됨과 함께, 워크 수용부(13)의 바깥쪽으로 노출된다.On the other hand, in the case where the work 50 is accommodated in the work receiving portion 13 with the top and bottom (Z axis direction) and the left and right (Y axis directions) inverted, the step portions 52a and 52b shown in FIG. The lower surfaces 52a2 and 52b2 of the work holding portion 13 protrude from the opposite side of the first abutting surface 131 shown in Fig. 1B and are exposed to the outside of the work receiving portion 13. [ The end surface 52b3 of the step portion 52b shown in Fig. 1C protrudes from the opposite side of the second abutting surface 132 shown in Fig. 1B and is exposed to the outside of the work accommodating portion 13. Fig.

본 실시 형태에서는, 제1 맞댐면(131)의 반대쪽으로부터 돌출된 단턱부(52a, 52b)의 상면(52a1, 52b1)의 돌출량과 제2 맞댐면(132)의 반대쪽으로부터 돌출된 단턱부(52a)의 단면(52a3)의 처리 예정면의 돌출량이 대략 같게 되어 있다.The projecting amount of the upper surfaces 52a1 and 52b1 of the step portions 52a and 52b protruding from the opposite side of the first abutting surface 131 and the projecting amount of the step portions 52a1 and 52b1 projecting from the opposite side of the second abutting surface 132 The projecting amount of the end face 52a3 of the projection 52a on the processing target surface is substantially equal.

본 실시 형태에서는, 워크(50)를 워크 수용부(13)에 수용하면, 워크 수용부(13)의 제2 맞댐면(132) 및 제3 맞댐면(133)을 따라, 워크(50)의 단턱부(52b)의 단면(52b3)(도 1c 참조) 및 단턱부(52a, 52b)의 제2 측면(52a5, 52b5)(도 1c 참조)이 배치된다. 이 때문에, 도 1b에 나타낸 바와 같이, 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50)는, 제2 맞댐면(132)과 제3 맞댐면(133)이 이루는 코너부의 내측에 배치되게 된다.In this embodiment, when the work 50 is accommodated in the work accommodating portion 13, along the second abutting surface 132 and the third abutting surface 133 of the work accommodating portion 13, The end surface 52b3 of the step portion 52b (see FIG. 1C) and the second side surfaces 52a5 and 52b5 of the step portions 52a and 52b (see FIG. 1B, the work 50 accommodated in the work receiving portion 13 is disposed inside the corner portion formed by the second abutting surface 132 and the third abutting surface 133 .

워크(50)는, 제3 맞댐면(133)쪽으로 치우쳐 배치되어, 워크(50)의 제1 측면(52a4)과 대향면(134) 사이에는 틈새가 형성되게 되어 있다. 한편, 이 틈새의 크기는 워크(50)의 크기(특히, Y축 방향폭)에 따라 적절하게 설정해도 된다.The work 50 is biased toward the third abutment surface 133 so that a gap is formed between the first side surface 52a4 of the work 50 and the opposed surface 134. [ On the other hand, the size of the clearance may be appropriately set in accordance with the size (in particular, the Y-axis direction width) of the work 50.

제2 맞댐면(132)에는, 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50)와는 반대쪽(이 워크(50)의 단턱부(52b)의 단면(52b3)(도 1c 참조)의 법선 방향)을 향해 함몰되는 오목부(132a)가 형성되어 있다. 오목부(132a)는 제2 맞댐면(132) 중에서 제3 맞댐면(133)쪽으로 치우쳐 형성되어 있다.1C) of the step portion 52b of the step 50 on the side opposite to the work 50 accommodated in the work receiving portion 13 is formed in the second abutting surface 132, The concave portion 132a is formed so as to be recessed toward the front side. The concave portion 132a is biased toward the third abutment surface 133 in the second abutment surface 132. [

오목부(132a)는, 워크 지지 지그(1A)의 상방으로부터 보아, 장공 형상을 갖지만, 오목부(132a)의 형상은 특별히 한정되는 것은 아니고, 적절하게 변경해도 된다. 또한, 오목부(132a)의 Z축 방향 깊이는, 워크 수용부(13)의 Z축 방향 깊이와 같아도 되지만, 달라도 무방하다.Although the concave portion 132a has a long hole shape as viewed from above the work supporting jig 1A, the shape of the concave portion 132a is not particularly limited, and may be appropriately changed. The depth of the concave portion 132a in the Z-axis direction may be equal to or different from the depth of the work receiving portion 13 in the Z-axis direction.

오목부(132a)의 Y축 방향폭은 단턱부(52a, 52b)의 Y축 방향폭보다 작다. 이와 같은 구성으로 함으로써, 워크(50)를 워크 수용부(13)에 수용했을 때, 워크(50)가 오목부(132a) 내부에 매몰되는 것이 방지된다.The width of the concave portion 132a in the Y-axis direction is smaller than the width of the step portions 52a and 52b in the Y-axis direction. With this configuration, when the work 50 is received in the work receiving portion 13, the work 50 is prevented from being buried in the recess 132a.

본 실시 형태에서는, 워크 지지 기구(10)는 제1 워크 지지부(11) 및 제2 워크 지지부(12)를 구비하고, 각 워크 지지부(11, 12)로 분리 가능하게 결합된다. 도 2a에 나타낸 바와 같이, 제1 워크 지지부(11) 및 제2 워크 지지부(12)는 각각 단면에 단차부를 구비하고, 각 단차부를 탈착 가능하게 결합시킴으로써, 각 워크 지지부(11, 12)를 결합할 수 있게 되어 있다.In the present embodiment, the work supporting mechanism 10 has the first work supporting portion 11 and the second work supporting portion 12, and is detachably coupled to each of the work supporting portions 11 and 12. [ 2A, each of the first work supporting portion 11 and the second work supporting portion 12 has a step portion in its cross section, and each of the step supporting portions 11 and 12 is detachably coupled to each of the work supporting portions 11 and 12 It is possible to do.

도 1a에 나타낸 바와 같이, 제2 워크 지지부(12)에는 나사공(60)이 형성되어 있어, 나사공(60)에 나사(70)를 끼움으로써 제1 워크 지지부(11)와 제2 워크 지지부(12)를 강고하게 고정하는 것이 가능하다.1A, a screw hole 60 is formed in the second work supporting portion 12, and a screw 70 is inserted into the screw hole 60, so that the first and second work supporting portions 11, It is possible to firmly fix the base 12.

본 실시 형태에서는, 워크 수용부(13)는 제1 워크 지지부(11)와 제2 워크 지지부(12)를 조합함으로써 형성된다. 즉, 워크 수용부(13)는 분리 가능하게 구성되어 있다. 이하, 워크 수용부(13)의 상세한 구조에 대해 설명한다.In the present embodiment, the work receiving portion 13 is formed by combining the first work supporting portion 11 and the second work supporting portion 12. That is, the work receiving portion 13 is configured to be detachable. Hereinafter, the detailed structure of the work receiving portion 13 will be described.

제1 워크 지지부(11)는 제1 구획단부(111), 제2 구획단부(112), 복수의 구획부(113) 및 복수의 오목부(114)를 갖는다. 복수의 구획부(113)는 Y축 방향을 따라 소정의 두께를 갖고, 제1 워크 지지부(11)의 길이 방향을 따라 소정의 간격을 두고 배치되어 있다. 한편, 구획부(113)의 Y축 방향에 따른 두께는, 특별히 한정되는 것은 아니고, 적절하게 변경해도 된다.The first work supporting portion 11 has a first dividing end 111, a second dividing end 112, a plurality of dividing portions 113 and a plurality of concave portions 114. The plurality of partitioning portions 113 have a predetermined thickness along the Y-axis direction and are arranged at a predetermined interval along the longitudinal direction of the first work supporting portion 11. On the other hand, the thickness of the partitioning portion 113 along the Y-axis direction is not particularly limited, and may be appropriately changed.

제1 구획단부(111)는 제1 워크 지지부(11)의 길이 방향 일단에 형성되고, 제2 구획단부(112)는 제1 워크 지지부(11)의 길이 방향 타단에 형성되어 있다.The first partitioning end 111 is formed at one end in the longitudinal direction of the first work supporting portion 11 and the second partitioning end 112 is formed at the other end in the longitudinal direction of the first work supporting portion 11.

복수의 오목부(114)의 각각은, 제1 구획단부(111)와 이것에 인접하는 구획부(113)의 사이, 제2 구획단부(112)와 이것에 인접하는 구획부(113)의 사이, 및 복수의 구획부(113)의 각각의 사이에 형성되어 있다. 오목부(114)의 상방은 개방되어 있다. 또한, 제1 지지부(11)와 제2 지지부(12)가 분리되어 있는 상태에서, 오목부(114)의 측방(폭 방향 양단)은 개방되어 있다.Each of the plurality of recesses 114 is formed between the first partitioning end 111 and the adjacent partitioning portion 113 and between the second partitioning end 112 and the adjacent partitioning portion 113 And a plurality of partition portions 113, respectively. The upper portion of the concave portion 114 is open. The lateral sides (both ends in the width direction) of the concave portion 114 are opened in a state where the first supporting portion 11 and the second supporting portion 12 are separated from each other.

제2 워크 지지부(12)는 단면부(121)를 갖는다. 단면부(121)는 제2 워크 지지부(12)의 폭 방향 일단을 구성하고, 단면부(121)에는 전술한 워크 수용부(13)의 오목부(132a)가 형성되어 있다. 한편, 제2 워크 지지부(12)의 상면과 구획부(113)의 상면이 동일 평면이 되어 있는 것이 바람직하지만, 단차가 형성되어 있어도 무방하다.The second work supporting portion 12 has an end face 121. The end face 121 constitutes one end in the width direction of the second work supporting portion 12 and the end face 121 is formed with the recess 132a of the work receiving portion 13 described above. On the other hand, it is preferable that the upper surface of the second work supporting portion 12 and the upper surface of the partition portion 113 are flush with each other, but a step may be formed.

워크 지지 지그(1A)에 있어서, 제1 지지부(11)에 제2 지지부(12)가 결합되면, 오목부(114)의 측방(X축 방향 일단)에 제2 지지부(12)의 단면부(121)(도 1b에 나타내는 워크 수용부(13)의 제2 맞댐면(132)에 대응하는 부분)가 맞닿는다. 이에 따라, 오목부(114)의 폭 방향 일단이 폐쇄되고, 폭 방향 타단이 개방되는 워크 수용부(13)가 형성된다.When the second supporting portion 12 is engaged with the first supporting portion 11 of the work supporting jig 1A, the cross section of the second supporting portion 12 (one end in the X axis direction) of the concave portion 114 121 (a portion corresponding to the second abutting surface 132 of the work accommodating portion 13 shown in Fig. 1B). Thereby, a work accommodating portion 13 is formed in which one end in the width direction of the concave portion 114 is closed and the other end in the width direction is opened.

즉, 도 1b에 나타낸 바와 같이, 워크 수용부(13)에 수용되는 워크(50)의 단턱부(52a, 52b)의 상면(52a1, 52b1)(도 1c참조)과 단턱부(52a)의 단면(52a3)(도 1c참조)이 노출되도록, 제1 맞댐면(131)의 반대쪽과 제2 맞댐면(132)의 반대쪽이 개방되어 있는 워크 수용부(13)가 형성된다.1C) of the step portions 52a and 52b of the work 50 accommodated in the work accommodating portion 13 and the end faces 52a1 and 52b2 of the step portion 52a A work receiving portion 13 is formed in which the opposite side of the first abutting surface 131 and the opposite side of the second abutting surface 132 are opened so that the second abutting surface 52a3 (see Fig.

도 1b에 나타내는 예에서는, 제1 맞댐면(131)과 제3 맞댐면(133)이 제1 워크 지지부(11)에 형성되어 있고, 제2 맞댐면(132)이 제2 워크 지지부(12)에 형성되어 있다. 그러나, 워크 수용부(13)의 형태로서, 반드시 도시한 예와 같이 제1 워크 지지부(11)와 제2 워크 지지부(12)를 조합해 구성할 필요는 없고, 예를 들어 워크 수용부(13)를 제1 워크 지지부(11)에만 형성해도 된다.1B, the first abutting surface 131 and the third abutting surface 133 are formed in the first work supporting portion 11 and the second abutting surface 132 is formed in the second work supporting portion 12, As shown in Fig. However, it is not always necessary to form the work receiving portion 13 as a combination of the first work supporting portion 11 and the second work supporting portion 12 as shown in the drawing. For example, the work receiving portion 13 May be formed only in the first work supporting portion 11.

도 3에 나타낸 바와 같이, 워크 지지 기구(10)에 결합되는 보조 부재(20)는 본체부(21), 복수의 마그넷(22), 마그넷 지지부(23) 및 위치 결정 돌기(24)를 갖는다. 도시한 예에서는, 본체부(21)는 제1 워크 지지부(11)와 대략 동일한 길이, 폭 및 높이를 갖는다. 도시한 예에서는, 2개의 위치 결정 돌기(24)가 본체부(21)의 길이 방향 양단에 형성되어 있다. 위치 결정 돌기(24)는, 워크 지지 기구(10)와 보조 부재(20)의 장착시에, 제1 워크 지지부(11)가 갖는 위치 결정 오목부(미도시)에 결합된다.3, the auxiliary member 20 coupled to the work supporting mechanism 10 has a body portion 21, a plurality of magnets 22, a magnet supporting portion 23, and a positioning projection 24. In the illustrated example, the main body portion 21 has substantially the same length, width, and height as the first work supporting portion 11. In the illustrated example, two positioning projections 24 are formed at both ends of the body portion 21 in the longitudinal direction. The positioning projection 24 is engaged with a positioning concave portion (not shown) of the first work supporting portion 11 when the work supporting mechanism 10 and the auxiliary member 20 are mounted.

마그넷 지지부(23)는 본체부(21)의 길이 방향을 따라 형성되고, 본체부(21)의 폭 방향 일단에 배치되어 있다. 마그넷 지지부(23)는 복수(워크 수용부(13)의 개수와 동일)의 마그넷(22)을 수용하기 위한 복수의 수용 오목부(220)를 갖는다. 복수의 수용 오목부(220)의 각각은, 마그넷 지지부(23)의 길이 방향을 따라, 소정의 간격을 두고 배치되어 있다.The magnet support portion 23 is formed along the longitudinal direction of the main body portion 21 and is disposed at one end in the width direction of the main body portion 21. [ The magnet support portion 23 has a plurality of accommodating concave portions 220 for accommodating a plurality of magnets 22 (which is the same as the number of the work accommodating portions 13). Each of the plurality of accommodating concave portions 220 is disposed at a predetermined interval along the longitudinal direction of the magnet support portion 23.

마그넷(22)은 대략 원기둥 형상을 갖고, 수용 오목부(220)의 내부에 수용되어 있다. 마그넷(22)은 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50)를, 제1 맞댐면(131), 제2 맞댐면(132) 및 제3 맞댐면(133)에 맞닿도록 끌어당기는 풀인 수단으로서의 역할을 한다. 마그넷(22)의 일단은 수용 오목부(220)의 상단으로부터 노출되어, 제1 지지부(11)의 워크 수용부(13)의 제1 맞댐면(131)을 향하고 있다.The magnet 22 has a substantially cylindrical shape and is accommodated in the accommodating concave portion 220. The magnet 22 is a pulling member that pulls the work 50 accommodated in the work receiving portion 13 in contact with the first abutting surface 131, the second abutting surface 132 and the third abutting surface 133 It serves as a means. One end of the magnet 22 is exposed from the upper end of the accommodating concave portion 220 and faces the first abutment surface 131 of the work receiving portion 13 of the first supporting portion 11.

마그넷(22)은, 도 1b에 나타내는 제1 워크 지지부(11)의 오목부(114)의 하방, 즉 워크 수용부(13)의 하방에 배치되어 있다. 보다 상세하게는, 도 3에 나타내는 마그넷(22)은, 도 1b에 나타내는 워크 수용부(13) 가운데, 제2 맞댐면(132)과 제3 맞댐면(133)이 이루는 코너부에 자력에 의해 워크(50)를 끌어당기는 역할을 한다.The magnet 22 is disposed below the concave portion 114 of the first work supporting portion 11 shown in Fig. 1B, that is, below the work receiving portion 13. More specifically, the magnet 22 shown in Fig. 3 is formed by a magnetic force at a corner portion formed by the second abutment surface 132 and the third abutment surface 133 among the work accommodating portions 13 shown in Fig. 1B And pulls the work 50.

전자 부품의 제조에서는, 우선, 도 2a에 나타낸 바와 같이 복수의 워크 지지 지그(1A, 1B) 및 예를 들어 드럼형의 워크(50)를 준비한다(워크 준비 공정). 워크(50)에는, 도 1b에 나타내는 권심부(51)와 단턱부(52a, 52b)가 일체적으로 성형된다. 본 실시 형태에서는, 워크(50)의 단턱부(52a, 52b)의 상면(52a1, 52b1), 하면(52a2, 52b2) 및 단면(52a3, 52b3)이 처리 예정면이다.In manufacturing electronic parts, first, as shown in Fig. 2A, a plurality of work supporting jigs 1A and 1B and, for example, a drum type work 50 are prepared (work preparation step). The winding core portion 51 and the step portions 52a and 52b shown in Fig. 1B are molded integrally with the work 50. In the present embodiment, the upper surfaces 52a1 and 52b1, the lower surfaces 52a2 and 52b2, and the end faces 52a3 and 52b3 of the step portions 52a and 52b of the work 50 are planes to be processed.

다음으로, 도 2a에 나타내는 바와 같이, 복수의 워크(50)의 각각을 워크 지지 지그(1A, 1B)의 각 워크 수용부(13)의 내부에 수용한다(워크 수용 공정). 워크 수용 공정에서는, 단턱부(52b)의 단면(52b3)이 제2 맞댐면(132)에 맞닿고, 단턱부(52b)의 제2 측면(52b5)이 제3 맞댐면(133)에 맞닿도록, 각 워크(50)를 각 워크 수용부(13)의 내부에 배치한다. 마찬가지로, 단턱부(52a)의 제2 측면(52a5)(도 1d 참조)도 제3 맞댐면(133)(도 1b참조)에 맞닿도록, 각 워크(50)를 각 워크 수용부(13)의 내부에 배치한다.Next, as shown in Fig. 2A, each of the plurality of workpieces 50 is accommodated in each of the workpiece receiving portions 13 of the workpiece supporting jigs 1A, 1B (workpiece receiving step). The end face 52b3 of the step portion 52b is brought into contact with the second abutment surface 132 and the second side face 52b5 of the step portion 52b is abutted against the third abutment surface 133 , And each work (50) is arranged inside each work receiving portion (13). Likewise, each of the workpieces 50 is held in contact with each of the workpiece receiving portions 13 (see Fig. 1B) so that the second side surface 52a5 (see Fig. 1D) of the step portion 52a is also abutted against the third abutment surface 133 Respectively.

이와 같이 하여 각 워크 수용부(13)의 내부에 수용된 각 워크(50)는, 도 3에 나타내는 제2 워크 지지부(12)의 각 마그넷(22)의 자력에 의해, 도 1b에 나타내는 제1 맞댐면(131)과 제2 맞댐면(132)이 이루는 코너부로 끌어당겨져, 이 코너부의 내측에 위치 결정된다.Each of the workpieces 50 accommodated in each of the workpiece receiving portions 13 in this way is moved in the direction of the axis of the first workpiece W by the magnetic force of each magnet 22 of the second workpiece supporting portion 12 shown in Fig. Is drawn to the corner portion formed by the surface 131 and the second abutment surface 132, and is positioned inside the corner portion.

다음으로, 도 1b에 나타낸 바와 같이, 워크 지지 지그(1A, 1B)의 각각을, 서로 인접하는 한쪽의 워크 지지 지그(1A)의 워크 수용부(13)의 제1 맞댐면(131)과 서로 인접하는 다른 쪽 워크 지지 지그(1B)의 워크 수용부(13)의 제2 맞댐면(132)이 동일 방향(Z축 상방)을 향하도록, 소정 각도(90도)만큼 회전시켜 배열한다(워크 배열 공정).Next, as shown in Fig. 1B, each of the work supporting jigs 1A and 1B is connected to the first abutting surface 131 of the work receiving portion 13 of one of the work supporting jig 1A adjacent to each other, (90 degrees) such that the second abutting surfaces 132 of the work receiving portions 13 of the adjacent work supporting jig 1B face the same direction (Z-axis upward) Array process).

이 결과, 도 2a에 나타낸 바와 같이, 워크 지지 지그(1B)의 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50)에서는, 단턱부(52a)의 단면(52a3)이 상방을 향하고, 워크 수용부(13)의 제2 맞댐면(132)의 반대쪽으로부터 노출된다. 또한, 워크 지지 지그(1A)의 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50)에서는, 단턱부(52a, 52b)의 상면(52a1, 52b1)이 상방을 향하고, 워크 수용부(13)의 제1 맞댐면(131)의 반대쪽으로부터 노출된다.2A, in the work 50 accommodated in the work receiving portion 13 of the work supporting jig 1B, the end surface 52a3 of the step portion 52a faces upward, Is exposed from the opposite side of the second abutting surface (132) of the part (13). The upper surfaces 52a1 and 52b1 of the step portions 52a and 52b are directed upward and the workpiece receiving portion 13 is moved upward in the work 50 accommodated in the work receiving portion 13 of the work supporting jig 1A. Is exposed from the opposite side of the first abutting surface (131).

다음으로, 워크 수용부(13)로부터 노출된 워크(50)의 처리 예정면(상면(52a1, 52b1) 및 단면(52a3))에 스크린 인쇄 등으로 전극막 형성 처리를 실시해 소정 패턴으로 도 1c에 나타내는 전극부(53)를 형성한다(제1 처리 공정).Next, an electrode film forming process is performed on the surface (top surfaces 52a1, 52b1 and end surface 52a3) of the work 50 exposed from the work accommodating portion 13 by screen printing or the like, (First processing step).

보다 상세하게는, 도 2a에 나타낸 바와 같이, 워크 지지 지그(1B)의 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50)에 대해, 제2 맞댐면(132)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52a)의 단면(52a3)에 전극막 형성 처리를 실시해 전극부(53)의 단면 전극부(532)를 형성한다.More specifically, as shown in Fig. 2A, with respect to the work 50 accommodated in the work receiving portion 13 of the work supporting jig 1B, the end portion exposed from the opposite side of the second abutting surface 132 The end surface 52a3 of the jaw portion 52a is subjected to an electrode film forming process to form the end surface electrode portion 532 of the electrode portion 53. [

또한, 워크 지지 지그(1A)의 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50)에 대해, 제1 맞댐면(131)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52a, 52b)의 상면(52a1, 52b1)에 전극막 형성 처리를 실시해 전극부(53)의 상면 전극부(531, 531)를 형성한다.The upper surface 52a1 of the step portions 52a and 52b exposed from the opposite side of the first abutting surface 131 is pressed against the work 50 accommodated in the work receiving portion 13 of the work supporting jig 1A And 52b1 are subjected to the electrode film forming process to form the upper surface electrode portions 531 and 531 of the electrode portion 53. [

한편, 전극막 형성 처리는, 스퀴지 등을 이용해, 워크 지지 지그(1)에 지지되어 있는 각 워크(50)의 처리 예정면에, 스크린을 통해 금속 페이스트(예를 들어, Ag 페이스트)를 도포함으로써 행해진다.On the other hand, the electrode film forming process is carried out by applying a metal paste (for example, Ag paste) on a surface to be processed of each work 50 supported by the work supporting jig 1 by using a squeegee or the like Is done.

다음으로, 워크 지지 지그(1A, 1B)를 소정 각도만큼 회전시킨다. 보다 상세하게는, 도 2b에 나타낸 바와 같이, 워크 지지 지그(1B)에 대해서는, 제1 맞댐면(131)이 상방을 향하도록, Y축을 중심축으로 하여 반시계 방향으로 90도 회전시킨다. 또한, 워크 지지 지그(1A)에 대해서는, 제2 맞댐면(132)이 상방을 향하도록, Y축을 중심축으로 하여 시계 방향으로 90도 회전시킨다. 이와 같이, 워크 지지 지그(1A, 1B)를 90도만큼 회전시켜, 워크 지지 지그(1A, 1B)의 좌우의 배치를 바꾼다.Next, the work supporting jigs 1A and 1B are rotated by a predetermined angle. More specifically, as shown in Fig. 2B, with respect to the work supporting jig 1B, the first abutment surface 131 is rotated 90 degrees in the counterclockwise direction about the Y axis as a center axis so as to face upward. Further, with respect to the work supporting jig 1A, the second abutting surface 132 is rotated 90 degrees in a clockwise direction about the Y axis as a center axis so as to face upward. Thus, the work supporting jigs 1A and 1B are rotated by 90 degrees to change the arrangement of the left and right work supporting jigs 1A and 1B.

그리고, 계속해서, 워크 지지 지그(1A)의 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50)에 대해, 제2 맞댐면(132)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52a)의 단면(52a3)에 전극막 형성 처리를 실시해 단면 전극부(532)를 형성한다.Subsequently, the end face of the step portion 52a exposed from the opposite side of the second abutting surface 132 is pressed against the work 50 accommodated in the work receiving portion 13 of the work supporting jig 1A 52a3 are subjected to an electrode film forming process to form a cross-section electrode portion 532. [

또한, 워크 지지 지그(1B)의 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50)에 대해, 제1 맞댐면(131)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52a, 52b)의 상면(52a1, 52b1)에 전극막 형성 처리를 실시해 상면 전극부(531, 531)를 형성한다.The upper surface 52a1 of the step portions 52a and 52b exposed from the opposite side of the first abutting surface 131 is pressed against the work 50 accommodated in the work receiving portion 13 of the work supporting jig 1B, And 52b1 are subjected to the electrode film forming process to form the upper surface electrode portions 531 and 531. [

한편, 워크 지지 지그(1A, 1B)의 회전 전후에서의 일련의 전극막 형성 처리에 있어서, 회전 후의 전극막 형성 처리는 회전 전의 전극막 형성 처리에서 형성된 전극막(53)이 건조되기 전에 행해도 된다. 일련의 전극막 형성 처리가 완료된 후, 전극막(53)을 건조시켜도 무방하다(건조 처리).On the other hand, in the series of electrode film forming processes before and after the rotation of the work supporting jigs 1A and 1B, the electrode film forming process after the rotation is performed before the electrode film 53 formed in the electrode film forming process before rotation is dried do. After the series of electrode film forming processes are completed, the electrode film 53 may be dried (drying process).

다음으로, 도 2c에 나타낸 바와 같이, 워크(50)를 워크 지지 지그(1A, 1B)의 워크 수용부(13)로부터 각각 꺼내, 워크(50)의 상하 좌우를 반전시키고, 전술한 워크 수용 공정을 실시한다. 이 결과, 도 2c에 나타낸 바와 같이, 도 2b에 나타내는 단턱부(52a)의 단면(52a3)에 형성되어 있는 단면 전극부(532)는, 워크 수용부(13)의 제2 맞댐면(132)에 맞닿는다. 또한, 도 1c에 나타내는 단턱부(52a, 52b)의 제2 측면(52a5, 52b5)은, 도 1b에 나타내는 제3 맞댐면(133)에 맞닿는다. 또한, 도 2c에 나타낸 바와 같이, 도 2b에 나타내는 단턱부(52a, 52b)의 상면(52a1, 52b1)에 형성되어 있는 상면 전극부(531, 531)는 제1 맞댐면(131)에 맞닿는다.Next, as shown in Fig. 2C, the work 50 is taken out from the work receiving portion 13 of the work supporting jigs 1A and 1B, the work 50 is turned upside down, left and right, . 2C, the end surface electrode portion 532 formed on the end surface 52a3 of the step portion 52a shown in FIG. 2B is pressed against the second abutting surface 132 of the work accommodating portion 13, Lt; / RTI > The second side surfaces 52a5 and 52b5 of the step portions 52a and 52b shown in Fig. 1C abut against the third abutting surface 133 shown in Fig. 1B. 2C, the upper surface electrode portions 531 and 531 formed on the upper surfaces 52a1 and 52b1 of the step portions 52a and 52b shown in FIG. 2B abut against the first abutment surface 131 .

이 결과, 도 2c에 나타낸 바와 같이, 워크 지지 지그(1A)의 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50)에서는, 단턱부(52b)의 단면(52b3)이 상방을 향하고, 워크 수용부(13)의 제2 맞댐면(132)의 반대쪽으로부터 노출된다. 또한, 워크 지지 지그(1B)의 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50)에서는, 단턱부(52a, 52b)의 하면(52a2, 52b2)이 상방을 향하고, 워크 수용부(13)의 제1 맞댐면(131)의 반대쪽으로부터 노출된다.As a result, as shown in Fig. 2C, in the work 50 accommodated in the work receiving portion 13 of the work supporting jig 1A, the end surface 52b3 of the step portion 52b faces upward, Is exposed from the opposite side of the second abutting surface (132) of the part (13). The lower surfaces 52a2 and 52b2 of the step portions 52a and 52b are directed upward and the work receiving portion 13 of the work receiving portion 13 of the work supporting jig 1B is moved upward. Is exposed from the opposite side of the first abutting surface (131).

다음으로, 다시, 워크 수용부(13)로부터 노출된 워크(50)의 처리 예정면(하면(52a2, 52b2) 및 단면(52b3))에 전극막 형성 처리를 실시한다(제2 처리 공정).Next, again, the electrode film forming process is performed on the process target surfaces (lower surfaces 52a2, 52b2 and end surface 52b3) of the work 50 exposed from the work accommodating portion 13 (second process step).

제2 처리 공정에서는, 워크 지지 지그(1B)의 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50)에 대해, 제1 맞댐면(131)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52a, 52b)의 하면(52a2, 52b2)에 전극막 형성 처리를 실시해 하면 전극부(533, 533)를 형성한다.The step portions 52a and 52b exposed from the opposite side of the first abutting surface 131 are pressed against the work 50 accommodated in the work receiving portion 13 of the work supporting jig 1B in the second processing step, The electrode portions 533 and 533 are formed by performing the electrode film forming process on the lower surfaces 52a2 and 52b2.

또한, 워크 지지 지그(1A)의 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50)에 대해, 제2 맞댐면(132)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52b)의 단면(52b3)에 전극막 형성 처리를 실시해 단면 전극부(532)를 형성한다.The work 50 accommodated in the work accommodating portion 13 of the work supporting jig 1A is pressed against the end face 52b3 of the step portion 52b exposed from the opposite side of the second abutting surface 132 An electrode film forming process is performed to form a cross-section electrode portion 532. [

다음으로, 워크 지지 지그(1A, 1B)를 소정 각도만큼 회전시킨다. 보다 상세하게는, 워크 지지 지그(1B)에 대해서는, 제2 맞댐면(132)이 상방을 향하도록, Y축을 중심축으로 하여 시계 방향으로 90도 회전시킨다. 또한, 워크 지지 지그(1A)에 대해서는, 제1 맞댐면(131)이 상방을 향하도록, Y축을 중심축으로 하여 반시계 방향으로 90도 회전시킨다. 이와 같이, 워크 지지 지그(1A, 1B)를 90도만큼 회전시켜, 도 2d에 나타낸 바와 같이, 워크 지지 지그(1A, 1B)의 좌우의 배치를 바꾼다.Next, the work supporting jigs 1A and 1B are rotated by a predetermined angle. More specifically, with respect to the work supporting jig 1B, the second abutting surface 132 is rotated 90 degrees clockwise with the Y axis as the central axis so as to face upward. Further, with respect to the work supporting jig 1A, the first abutting surface 131 is rotated 90 degrees in the counterclockwise direction with the Y axis as the central axis so as to face upward. Thus, the work supporting jigs 1A, 1B are rotated by 90 degrees to change the arrangement of the left and right work supporting jigs 1A, 1B as shown in Fig. 2D.

그리고, 계속해서, 워크 지지 지그(1B)의 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50)에 대해, 제2 맞댐면(132)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52b)의 단면(52b3)에 전극막 형성 처리를 실시해 단면 전극부(532)를 형성한다.Subsequently, the end face of the step portion 52b exposed from the opposite side of the second abutting surface 132 is pressed against the work 50 accommodated in the work receiving portion 13 of the work supporting jig 1B 52b3 are subjected to an electrode film forming process to form a cross-section electrode portion 532. [

또한, 워크 지지 지그(1A)의 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50)에 대해, 제1 맞댐면(131)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52a, 52b)의 하면(52a2, 52b2)에 전극막 형성 처리를 실시해 하면 전극부(533, 533)를 형성한다.The lower surface 52a2 of the step portions 52a and 52b exposed from the opposite side of the first abutting surface 131 is pressed against the work 50 accommodated in the work receiving portion 13 of the work supporting jig 1A , And 52b2, electrode portions 533 and 533 are formed.

일련의 전극막 형성 처리가 완료된 후, 건조 처리를 실시해도 된다. 한편, 제2 처리 공정의 뒤에, 워크(50)를 소정의 온도로 소부한 후, 그 처리 예정면에 필요에 따라, 예를 들어 전해 도금 또는 무전해 도금을 실시해 도금막을 형성한다.After the series of electrode film forming processes are completed, a drying process may be performed. On the other hand, after the second treatment step, the work 50 is baked at a predetermined temperature, and then a plating film is formed on the surface to be treated, for example, by electrolytic plating or electroless plating, if necessary.

본 실시 형태에서는, 워크 수용부(13)에 워크(50)를 수용하면, 워크(50)의 2개의 처리 예정면(상면(52a1, 52b1) 및 단면(52a3) 혹은 하면(52a2, 52b2) 및 단면(52b3))이 워크 수용부(13)의 제1 맞댐면(131)의 반대쪽과 제2 맞댐면(132)의 반대쪽으로부터 노출된다.The upper surface 52a1 and the lower surface 52a2 of the work 50 and the lower surfaces 52a2 and 52b2 of the work 50 and the lower surfaces 52a2 and 52b2 of the work 50 are accommodated in the work accommodating portion 13. In this embodiment, The end face 52b3 is exposed from the opposite side of the first butting face 131 of the work receiving portion 13 and the opposite side of the second butting face 132. [

본 실시 형태에서는, 워크 수용부(13)로부터 노출된 워크(50)의 처리 예정면이 인쇄용 스크린 등을 향하게 함으로써, 이 처리 예정면에 소정 패턴의 전극막(53)을 형성하는 것이 가능하다. 그리고, 워크 수용부(13)로부터 노출된 워크(50)의 어느 하나의 처리 예정면(예를 들어, 상면(51a1, 51b1))에 상면 전극부(531)를 형성한 후에는, 워크 지지 지그(1)를 90도만큼 회전시켜, 워크 수용부(13)로부터 노출된 다른 어느 하나의 처리 예정면(예를 들어, 단면(51a3))을 인쇄용 스크린 등을 향하게 함으로써, 이 처리 예정면에 단면 전극부(532)를 상면 전극부(531)에 연속하여 위치 어긋남 없이 소정 패턴으로 형성할 수 있다.In the present embodiment, it is possible to form the electrode film 53 of a predetermined pattern on the processing target surface by making the surface to be processed of the work 50 exposed from the work receiving portion 13 point toward the printing screen or the like. After the upper surface electrode portion 531 is formed on one of the processing planes (for example, upper surfaces 51a1 and 51b1) of the work 50 exposed from the work accommodating portion 13, (For example, the end face 51a3) exposed from the work receiving portion 13 is directed to the printing screen or the like by rotating the substrate 1 by 90 degrees, The electrode portion 532 can be formed in a predetermined pattern continuously from the upper surface electrode portion 531 without positional deviation.

즉, 본 실시 형태에서는, 종래와 달리, 처리 예정면에 전극막을 형성할 때마다 워크를 워크 지지 지그로부터 분리해 워크의 방향을 바꿀 필요가 없이, 워크 수용부(13)로부터 노출된 2개의 처리 예정면(예를 들어, 상면(52a1, 52b1) 및 단면(52a3))에 연속적으로 전극막(53)을 형성하는 것이 가능하다. 따라서, 워크(50)의 분리에 기인해 발생할 수 있는 전극막(53)의 위치 어긋남이나 결손 등의 문제를 방지해, 워크(50)의 소정 위치에 전극막(53)을 높은 정확도로 형성할 수 있다.That is, in the present embodiment, unlike the prior art, there is no need to separate the workpiece from the workpiece-supporting jig every time the electrode film is formed on the surface to be processed and change the direction of the workpiece, It is possible to continuously form the electrode film 53 on the planar surface (for example, the upper surfaces 52a1 and 52b1 and the end surface 52a3). Therefore, it is possible to prevent problems such as positional deviation and deficiency of the electrode film 53 that may occur due to separation of the work 50, and to form the electrode film 53 at a predetermined position of the work 50 with high accuracy .

보다 구체적으로는, 본 실시 형태에서는 전극 형성 프로세스가 일련의 공정으로 처리 가능하기 때문에, 각 공정에서 위치 결정해야 하는 종래의 방법과 비교해, 전극 이음매의 어긋남을 회피할 수 있다. 일례로는, 도 1c에 나타내는 전극부(53)의 상면 전극부(531)와 단면 전극부(532)를 형성할 때에도, 도 1b에 나타내는 제3 맞댐면(133)이 위치 결정의 기준이 되기 때문에, 상면 전극부(531)와 단면 전극부(532)가 직교하는 능선 부분(이음매)의 어긋남을 회피할 수 있다.More specifically, in the present embodiment, since the electrode forming process can be performed by a series of steps, it is possible to avoid displacement of the electrode joints as compared with the conventional method of positioning in each step. For example, when forming the top surface electrode portion 531 and the end surface electrode portion 532 of the electrode portion 53 shown in Fig. 1C, the third abutting surface 133 shown in Fig. Therefore, it is possible to avoid the displacement of the ridge portion (joint) where the top electrode portion 531 and the end surface electrode portion 532 are orthogonal to each other.

또한, 본 실시 형태에서는, 입방체의 4면(예를 들어 도 1c에 나타내는 상면 전극부(531)와 X축 양측의 단면 전극부(532)와 하면 전극부(533)의 4면)에 전극 형성을 행하기 위해 필요한 워크(50)의 방향 전환을 필요 최소한으로 할 수 있다. 또한, 도 1b에 나타내는 제3 맞댐면(133)의 위치 결정 방향을 동일 방향으로 맞춤으로써, 입방체의 4면에 높은 정확도로 전극을 형성하는 것이 가능해진다.In this embodiment, electrode formation is performed on four surfaces of the cube (for example, four surfaces of the upper surface electrode portion 531 shown in Fig. 1C, the end surface electrode portion 532 on both sides of the X axis and the lower surface electrode portion 533) It is possible to minimize the necessity of switching the direction of the work 50 required for performing the operation. In addition, by aligning the positioning direction of the third abutment surface 133 shown in Fig. 1B in the same direction, it is possible to form the electrode with high accuracy on the four sides of the cube.

또한, 본 실시 형태에 따른 워크 지지 지그(1A, 1B)를 이용함으로써, 워크(50)의 처리 예정면에, 전극막(53) 뿐만 아니라, 그 외의 기능 피막(예를 들어, 절연막)을 형성하는 것도 가능하다. 또한, 처리 예정면에는, 피막 형성 처리 뿐만 아니라, 그 외의 처리(예를 들어, 에칭 등의 표면 처리)를 실시하는 것도 가능하다. 어떤 처리에 있어서도, 전술한 요령으로 워크 지지 지그(1A, 1B)를 90도만큼 회전시켜, 처리 대상의 처리 예정면을 순차적으로 시프트해 나감으로써, 워크(50)의 복수의 처리 예정면에 연속적인 처리를 높은 정확도로 실시할 수 있다.By using the workpiece supporting jig 1A and 1B according to the present embodiment, not only the electrode film 53 but also other functional films (for example, insulating films) are formed on the surface to be processed of the work 50 It is also possible to do. It is also possible to perform not only the film formation treatment but also other treatments (for example, surface treatment such as etching) on the surface to be treated. The workpiece supporting jig 1A or 1B is rotated by 90 degrees in any of the processes described above to successively shift the process target surface to be processed so that the plurality of process target surfaces of the workpiece 50 are continuously It is possible to perform the processing with high accuracy.

또한, 워크(50)가 제1 맞댐면(131), 제2 맞댐면(132) 및 제3 맞댐면(133)에서 위치 결정됨으로써 워크(50)의 위치 어긋남을 방지해, 워크(50)의 복수의 처리 예정면에 연속적인 처리를 보다 높은 정확도로 실시할 수 있다.The work 50 is positioned on the first abutting surface 131, the second abutting surface 132 and the third abutting surface 133 to prevent the work 50 from being displaced, Continuous processing on a plurality of processing target planes can be performed with higher accuracy.

또한, 본 실시 형태에서는, 복수의 워크 지지 지그(1A, 1B)를, 워크 지지 지그(1A)에 지지된 워크(50)의 제1 맞댐면(131)과 반대쪽의 처리 예정면(단턱부(52a, 52b)의 상면(52a1, 52b1))과 워크 지지 지그(1B)에 지지된 워크(50)의 제2 맞댐면(132)와 반대쪽의 처리 예정면(단턱부(52a)의 단면(53a3))이 대략 동일 평면이 되도록 배열한다. 그리고, 이들에 지지된 워크(50)의 각각의 처리 예정면에 동시에 처리를 실시한다. 이 때문에, 2개의 워크(50)의 처리 예정면에 동시에 전극막 형성 처리 등의 처리를 실시할 수 있다.In the present embodiment, the plurality of work supporting jigs 1A and 1B are disposed on the process-scheduled surface (the stepped portion (the stepped portion) opposite to the first abutting surface 131 of the work 50 supported by the work supporting jig (The upper surfaces 52a1 and 52b1 of the stepped portions 52a and 52b of the workpiece supporting jig 1B and the end surfaces 52a1 and 52b2 of the stepped portion 52a opposite to the second abutting surface 132 of the work 50 supported by the work supporting jig 1B) ) Are arranged to be substantially coplanar. Then, processing is performed simultaneously on each of the processing planes of the work 50 supported by these workpieces. Therefore, the processing such as the electrode film forming process can be simultaneously performed on the process-scheduled surface of the two works 50. [

또한, 본 실시 형태에서는, 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50)의 2개의 처리 예정면(상면(52a1, 52b1)과 단면(52a3))이, 각각 제1 맞댐면(131)의 반대쪽과 상기 제2 맞댐면(132)의 반대쪽으로부터 노출되도록, 워크(50)가 워크 수용부(13)에 수용된다. 이 때문에, 제1 맞댐면(131)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 상면(52a1, 52b1)과 제2 맞댐면(132)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단면(52a3)에, 전술한 요령으로 연속적인 처리를 보다 높은 정확도로 실시할 수 있다.In the present embodiment, the two process planes (upper surfaces 52a1, 52b1 and end surface 52a3) of the work 50 accommodated in the work accommodating portion 13 are the first abutting surfaces 131, The work 50 is received in the work receiving portion 13 so that the work 50 is exposed from the opposite side of the second abutting surface 132 and the opposite side of the second abutting surface 132. For this reason, continuous processing is performed on the upper faces 52a1 and 52b1 exposed from the opposite side of the first abutting surface 131 and the end face 52a3 exposed from the opposite side of the second abutting face 132 in the above-described manner And can be performed with higher accuracy.

또한, 본 실시 형태에서는, 제1 맞댐면(131)의 반대쪽과 제2 맞댐면(132)의 반대쪽으로부터, 2개의 처리 예정면(예를 들어, 상면(52a1, 52b1)과 단면(52a3))이 워크 수용부(13)의 바깥쪽으로 돌출되도록, 워크(50)가 워크 수용부(13)에 수용된다. 이 때문에, 워크 수용부(13)의 바깥쪽으로 워크(50)의 각 처리 예정면이 돌출되어, 스퀴지 등에 의해, 각 처리 예정면에 전극막 형성 처리 등의 처리를 용이하게 실시할 수 있다.In the present embodiment, two treatment planes (for example, upper faces 52a1 and 52b1 and cross-section 52a3) are formed from the opposite side of the first butting face 131 and the opposite side of the second butting face 132, The work 50 is accommodated in the work receiving portion 13 so as to protrude to the outside of the work accommodating portion 13. [ As a result, the respective treatment target surfaces of the work 50 protrude outward of the work receiving portion 13, and it is possible to easily perform treatment such as electrode film forming treatment on each treatment target surface by squeegees or the like.

또한, 본 실시 형태에서는, 제1 맞댐면(131)의 반대쪽으로부터 돌출된 워크(50)의 단면(52a3)의 돌출량과 제2 맞댐면의 반대쪽으로부터 돌출된 워크(50)의 상면(52a1, 52b1)의 돌출량이 대략 동일하다. 이 때문에, 워크 지지 지그(1A, 1B)를 90도만큼 회전시켰을 때, 인쇄용 스크린 등과 워크(50)의 처리 예정면 사이의 거리가 항상 일정하게 되도록 조정하기 쉬워진다. 따라서, 워크 지지 지그(1A, 1B)를 90도만큼 회전시킬 때마다 상기 거리를 조정할 필요가 없이, 스퀴지 등에 의해 용이하게 워크(50)의 처리 예정면에 전극막을 형성할 수 있다.The projecting amount of the end face 52a3 of the work 50 projected from the opposite side of the first abutting surface 131 and the projecting amount of the projecting amount of the upper face 52a1 of the work 50 projected from the opposite side of the second abutting face, 52b1 are substantially the same. Therefore, when the work supporting jig 1A or 1B is rotated by 90 degrees, it becomes easy to adjust the distance between the printing screen or the like and the surface to be processed of the work 50 to be always constant. Therefore, it is not necessary to adjust the distance each time the work supporting jig 1A or 1B is rotated by 90 degrees, and an electrode film can be easily formed on the surface to be processed of the work 50 by a squeegee or the like.

또한, 본 실시 형태에서는, 워크 지지 기구(10)는 복수의 워크 수용부(13)를 구비한다. 이 때문에, 복수의 워크(50)의 각각을 각 워크 수용부(13)에 배치하는 것이 가능해져, 한 번에 복수의 워크(50)에 단자 전극을 높은 정확도로 형성할 수 있다.Further, in the present embodiment, the work supporting mechanism 10 includes a plurality of work receiving portions 13. Therefore, it is possible to arrange each of the plurality of workpieces 50 in each of the workpiece receiving portions 13, so that the terminal electrodes can be formed in a plurality of the workpieces 50 at a time with high accuracy.

또한, 본 실시 형태에서는, 제2 맞댐면(132)에는 워크 수용부(13)에 수용되는 워크(50)와 반대쪽을 향해 함몰되는 오목부(132a)가 형성되어 있다. 이 때문에, 처리 예정면에 소정의 처리를 실시한 후, 오목부(132a)에 핀 등을 삽입해, 이 핀 등으로 긁어내듯이 제2 맞댐면(132)에 고정되어 있는 워크(50)를 밀어냄으로써, 워크 수용부(13)로부터 워크(50)를 꺼낼 수 있다.In the present embodiment, the second abutting surface 132 is formed with a concave portion 132a that is recessed toward the opposite side of the work 50 accommodated in the work accommodating portion 13. For this reason, after a predetermined process is performed on the surface to be processed, a pin or the like is inserted into the concave portion 132a and the work 50 fixed to the second abutment surface 132 is pushed as if scraped by the pin or the like , The work 50 can be taken out from the work receiving portion 13.

또한, 본 실시 형태에서는, 워크 지지 기구(10)는 제1 워크 지지부(11) 및 제1 워크 지지부(11)에 분리 가능하게 장착되는 제2 워크 지지부(12)를 구비하고, 제1 맞댐면(131)과 제3 맞댐면(133)이 제1 워크 지지부(11)에 형성되고, 제2 맞댐면(132)이 제2 워크 지지부(12)에 형성되어 있다. 이 때문에, 다음과 같은 형태로 처리를 실시하는 것이 가능해진다.In the present embodiment, the work supporting mechanism 10 includes a first work supporting portion 11 and a second work supporting portion 12 detachably mounted on the first work supporting portion 11, The third abutment surface 131 and the third abutting surface 133 are formed on the first work supporting portion 11 and the second abutting surface 132 is formed on the second work supporting portion 12. [ Therefore, it is possible to perform processing in the following manner.

즉, 미리, 워크 수용부(13)의 사이즈(제1 맞댐면(131) 및 제3 맞댐면(133)의 면적)가 각각 상이한 복수의 제1 워크 지지부(11)을 준비해 두고, 처리를 실시하는 워크(50)의 사이즈에 따라 원하는 사이즈의 워크 수용부(13)를 갖는 제1 워크 지지부(11)를 선택한다. 이 제1 워크 지지부(11)를 제2 워크 지지부(12)에 장착해 처리를 실시하면, 제2 워크 지지부(12)를 바꾸지 않아도 되기 때문에, 다른 종류의 전자 부품(50)의 생산성을 향상시킬 수 있다.That is, a plurality of first work supporting portions 11 having different sizes of the work receiving portions 13 (the areas of the first abutting surface 131 and the third abutting surface 133) are prepared in advance and processed The first work supporting portion 11 having the work receiving portion 13 of a desired size is selected according to the size of the work 50 to be processed. When the first work supporting portion 11 is mounted on the second work supporting portion 12 and the processing is performed, the second work supporting portion 12 need not be changed, so that the productivity of other types of electronic components 50 can be improved .

또한, 본 실시 형태에서는, 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50)는 제2 맞댐면(132)과 제3 맞댐면(133)이 이루는 코너부의 내측에 배치된다. 이 때문에, 워크 수용부(13)의 코너부의 내측에 워크(50)를 용이하게 위치 결정하는 것이 가능해진다. 따라서, 워크(50)의 위치 어긋남을 방지해, 워크(50)의 복수의 처리 예정면에 연속적인 처리를 보다 높은 정확도로 실시할 수 있다.In the present embodiment, the work 50 accommodated in the work receiving portion 13 is disposed inside the corner portion formed by the second abutment surface 132 and the third abutment surface 133. Therefore, the work 50 can be easily positioned inside the corner portion of the work receiving portion 13. Therefore, the displacement of the work 50 can be prevented, and continuous processing can be performed on the plurality of processing planes of the work 50 with higher accuracy.

또한, 본 실시 형태에서는, 워크 지지 지그(1A, 1B)의 길이 방향에 수직인 단면 형상이 대략 정사각 형상이다. 이 때문에, 워크 지지 지그(1A, 1B)를 90도 회전시켰을 때, 인쇄용 스크린 등과 워크(50)의 처리 예정면 사이의 거리를 항상 일정하게 하는 것이 쉬워진다.In the present embodiment, the cross-sectional shape perpendicular to the longitudinal direction of the work supporting jig 1A, 1B is substantially a square. Therefore, when the work supporting jig 1A or 1B is rotated by 90 degrees, it becomes easy to always keep the distance between the printing screen and the surface to be processed of the work 50 constant.

또한, 복수의 워크 지지 지그(1A, 1B)를 서로 이웃이 되도록 배열한 경우, 각 워크 지지 지그(1A, 1B)를 소정 각도만큼 회전시켰을 때, 서로 인접하는 워크 지지 지그(1A, 1B) 사이에서, 지지되는 워크(50)의 처리 예정면을 대략 동일 평면으로 하기 쉬워져, 스크린 인쇄 등의 처리를 실시하기 쉬워진다.When the plurality of work supporting jigs 1A and 1B are arranged adjacent to each other and the work supporting jigs 1A and 1B are rotated by a predetermined angle, It is easy to make the planes to be processed of the workpiece 50 to be supported substantially coplanar, and it becomes easy to perform a process such as screen printing.

또한, 본 실시 형태에서는, 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50)를 제1 맞댐면(131), 제2 맞댐면(132) 및 제3 맞댐면(133)에 맞닿도록 끌어당기는 마그넷(22)을 갖는다. 이 때문에, 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50)를 제2 맞댐면(132) 및 제3 맞댐면(133)에 맞닿도록 끌어당기는 것이 가능해져, 워크 지지 지그(1A, 1B)에 대한 워크(50)의 위치 결정 정밀도를 향상시킬 수 있다.In this embodiment, the work 50 accommodated in the work receiving portion 13 is pulled so as to abut the first abutting surface 131, the second abutting surface 132 and the third abutting surface 133 And has a magnet 22. This makes it possible to pull the work 50 accommodated in the work receiving portion 13 against the second abutting surface 132 and the third abutting surface 133 so that the work supporting jig 1A, It is possible to improve the positioning accuracy of the work 50 with respect to the workpiece W.

또한, 본 실시 형태에서는, 보조 부재(20)가 워크 지지 기구(11)와 탈착 가능하게 구성되어 있기 때문에, 워크 지지 지그(1A, 1B)의 내부 등에 먼지 등(페라이트 분말이나 가루 등)이 축적된 경우라도, 보조 부재(20)를 워크 지지 기구(11)로부터 분리하고 워크 지지 지그(1A, 1B)의 내부 등을 청소할 수 있다.In the present embodiment, since the auxiliary member 20 is configured to be detachable from the workpiece holding mechanism 11, dust (ferrite powder, powder, etc.) accumulates on the inside of the workpiece holding jigs 1A and 1B The auxiliary member 20 can be separated from the work supporting mechanism 11 and the inside of the work supporting jig 1A and 1B can be cleaned.

제2 실시 형태Second Embodiment

본 실시 형태에 따른 워크 지지 지그(1A, 1B)에서는, 전극막 형성 처리의 형태가 다른 것 외에는, 제1 실시 형태에 따른 워크 지지 지그(1A, 1B)와 동일하다. 이하, 제1 실시 형태와 다른 부분에 대해 상세하게 설명하고, 공통되는 부분의 설명은 생략한다. 또한, 도면에 나타내는 부재에 있어서, 공통되는 부재에는 공통되는 부호를 부여하고, 그 설명은 일부 생략한다.The workpiece supporting jigs 1A and 1B according to the present embodiment are the same as the workpiece supporting jigs 1A and 1B according to the first embodiment except that the electrode film forming process is different. Hereinafter, parts different from those of the first embodiment will be described in detail, and description of common parts will be omitted. In the members shown in the drawings, common members are given the same reference numerals and explanations thereof are partially omitted.

도 1d에 나타낸 바와 같이, 워크(50A)에 본 실시 형태에서의 전극막 형성 처리를 실시해 이루어지는 전자 부품은, 전극막(53A)이 하면 전극부에 상당하는 구성을 구비하고 있지 않다는 점과, 단면 전극부(532A)의 Z축 방향폭이 제1 실시 형태에서의 단면 전극부(532)의 Z축 방향폭보다 짧다는 점에서, 제1 실시 형태에서의 전자 부품과 상이하다. 단면 전극부(532A)는 워크(50A)의 단턱부(52a, 52b)의 단면(52a3, 52b3)의 대략 상반부에만 형성된다.As shown in Fig. 1D, the electronic part formed by subjecting the work 50A to the electrode film forming process according to the present embodiment is characterized in that the electrode film 53A does not have a configuration corresponding to the lower electrode portion, Is different from the electronic component in the first embodiment in that the Z-axis direction width of the electrode portion 532A is shorter than the Z-axis direction width of the end surface electrode portion 532 in the first embodiment. The end surface electrode portion 532A is formed only at approximately the upper half of the end surfaces 52a3 and 52b3 of the step portions 52a and 52b of the work 50A.

본 실시 형태에서는, 제1 처리 공정(워크 지지 지그(1A, 1B)를 회전하기 전의 공정)에서, 워크 지지 지그(1B)의 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50A)에 대해, 제2 맞댐면(132)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52a)의 단면(52a3)의 대략 상반부에만 전극막 형성 처리를 실시해 단면 전극부(532A)를 형성한다.In the present embodiment, in the work 50A accommodated in the work receiving portion 13 of the work supporting jig 1B in the first processing step (before the work supporting jig 1A, 1B is rotated) An electrode film forming process is performed only on the approximately upper half of the end surface 52a3 of the step portion 52a exposed from the opposite side of the second abutting surface 132 to form the end surface electrode portion 532A.

또한, 워크 지지 지그(1A)의 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50A)에 대해, 제1 맞댐면(131)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52a)의 상면(52a1)에만 전극막 형성 처리를 실시해 상면 전극부(531)를 형성한다. 한편, 단턱부(52b)의 상면(52b1)에는 전극막 형성 처리가 이루어지지 않도록 마스킹되어 있는 것이 바람직하다.Only the upper surface 52a1 of the step portion 52a exposed from the opposite side of the first abutting surface 131 is pressed against the work 50A accommodated in the work receiving portion 13 of the work supporting jig 1A An electrode film forming process is performed to form an upper surface electrode portion 531. [ On the other hand, it is preferable that the upper surface 52b1 of the step portion 52b is masked so that the electrode film forming process is not performed.

또한, 도 2f에 나타낸 바와 같이, 워크 지지 지그(1A, 1B)를 90도만큼 회전시킨 다음, 계속해서 워크 지지 지그(1B)의 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50A)에 대해, 제1 맞댐면(131)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52a)의 상면(52a1)에만 전극막 형성 처리를 실시해 상면 전극부(531)를 형성한다. 단턱부(52b)의 상면(52b1)에는 전극막 형성 처리가 이루어지지 않도록 마스킹되어 있는 것이 바람직하다.As shown in Fig. 2F, after the work supporting jig 1A or 1B is rotated by 90 degrees, the work 50A, which is accommodated in the work receiving portion 13 of the work supporting jig 1B, , An electrode film forming process is performed only on the upper surface 52a1 of the step portion 52a exposed from the opposite side of the first abutment surface 131 to form the upper surface electrode portion 531. [ It is preferable that the upper surface 52b1 of the step portion 52b is masked so that the electrode film forming process is not performed.

또한, 워크 지지 지그(1A)의 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50A)에 대해, 제2 맞댐면(132)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52a)의 단면(52a3)의 대략 상반부에만 전극막 형성 처리를 실시해 단면 전극부(532A)를 형성한다.In addition, the work 50A held in the work receiving portion 13 of the work supporting jig 1A is moved in the direction in which the end face 52a3 of the step portion 52a exposed from the opposite side of the second abutting surface 132 An electrode film forming process is performed only in approximately the upper half portion to form the end surface electrode portion 532A.

본 실시 형태에서는, 제1 처리 공정이 완료된 후, 워크(50A)를 워크 지지 지그(1A, 1B)의 워크 수용부(13)로부터 꺼내, 워크(50A)의 상하는 반전시키지 않고 좌우만을 반전시켜, 워크 수용부(13)의 내부에 수용한다.In this embodiment, after the completion of the first processing step, the work 50A is taken out from the work receiving portion 13 of the work supporting jig 1A, 1B and the work 50A is inverted only in the right and left directions, And accommodated in the work accommodating portion 13.

제2 처리 공정(워크 지지 지그(1A, 1B)를 회전한 후의 공정)에 있어서도, 전술한 요령으로 전극막 형성 처리를 실시한다. 즉, 도 2g에 나타낸 바와 같이, 워크 지지 지그(1A)의 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50A)에 대해, 제2 맞댐면(132)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52b)의 단면(52b3)의 대략 상반부에만 전극막 형성 처리를 실시해 단면 전극부(532A)를 형성한다.In the second process (the process after the workpiece supporting jig 1A or 1B is rotated), the electrode film forming process is performed as described above. That is, as shown in FIG. 2G, the step 50B exposed from the opposite side of the second abutting surface 132 to the work 50A accommodated in the work receiving portion 13 of the work supporting jig 1A Electrode section forming process is performed only on the approximately upper half of the end face 52b3 of the electrode section 532A to form the end section electrode section 532A.

또한, 워크 지지 지그(1B)의 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50A)에 대해, 제1 맞댐면(131)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52b)의 상면(52b1)에만 전극막 형성 처리를 실시해 상면 전극부(531)를 형성한다. 단턱부(52a)의 상면(52a1)에는 전극막 형성 처리가 이루어지지 않도록 마스킹되어 있는 것이 바람직하다.Only the upper surface 52b1 of the step portion 52b exposed from the opposite side of the first abutment surface 131 is pressed against the work 50A accommodated in the work receiving portion 13 of the work supporting jig 1B An electrode film forming process is performed to form an upper surface electrode portion 531. [ It is preferable that the upper surface 52a1 of the step portion 52a is masked so that the electrode film forming process is not performed.

또한, 도 2h에 나타낸 바와 같이, 워크 지지 지그(1A, 1B)를 90도만큼 회전시킨 다음, 계속해서 워크 지지 지그(1B)의 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50A)에 대해, 제2 맞댐면(132)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52b)의 단면(52b3)의 대략 상반부에만 전극막 형성 처리를 실시해 단면 전극부(532A)를 형성한다.2H, the workpiece supporting jig 1A and 1B are rotated by 90 degrees and then the workpiece 50A, which is accommodated in the workpiece receiving portion 13 of the workpiece holding jig 1B, The electrode film forming process is performed only on the approximately upper half of the end face 52b3 of the step portion 52b exposed from the opposite side of the second abutment face 132 to form the end face electrode portion 532A.

또한, 워크 지지 지그(1A)의 워크 수용부(13)에 수용되어 있는 워크(50A)에 대해, 제1 맞댐면(131)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52b)의 상면(52b1)에만 전극막 형성 처리를 실시해 상면 전극부(531)를 형성한다. 단턱부(52a)의 상면(52a1)에는 전극막 형성 처리가 이루어지지 않도록 마스킹되어 있는 것이 바람직하다.Only the upper surface 52b1 of the step portion 52b exposed from the opposite side of the first abutting surface 131 is pressed against the work 50A accommodated in the work receiving portion 13 of the work supporting jig 1A An electrode film forming process is performed to form an upper surface electrode portion 531. [ It is preferable that the upper surface 52a1 of the step portion 52a is masked so that the electrode film forming process is not performed.

본 실시 형태에 의하면, 제1 실시 형태에 따른 워크 지지 지그(1A, 1B)를 이용함으로써, 예를 들어 하면 전극부에 상당하는 구성을 구비하지 않는 전극부(53A)를 형성하는 것이 가능하고, 전자 부품의 용도 등에 따라 여러 가지 전극부를 형성할 수 있다.According to the present embodiment, by using the work supporting jig 1A and 1B according to the first embodiment, it is possible to form the electrode portion 53A which does not have a configuration corresponding to, for example, a lower electrode portion, Various electrode portions can be formed depending on the use of the electronic component or the like.

제3 실시 형태Third Embodiment

도 5a 및 도 5b에 나타낸 바와 같이, 본 실시 형태에 따른 워크 지지 지그(201)에서는, 워크 지지 기구(210)의 구성이 다른 것 외에는, 제1 실시 형태에 따른 워크 지지 지그(1A 또는 1B)와 동일하다. 이하, 제1 실시 형태와 다른 부분에 대해 상세하게 설명하고, 공통되는 부분의 설명은 생략한다. 또한, 도면에 나타내는 부재에 있어서, 공통되는 부재에는 공통되는 부호를 부여하고, 그 설명은 일부 생략한다.As shown in Figs. 5A and 5B, in the work supporting jig 201 according to the present embodiment, the work supporting jig 1A or 1B according to the first embodiment, except that the structure of the work supporting mechanism 210 is different, . Hereinafter, parts different from those of the first embodiment will be described in detail, and description of common parts will be omitted. In the members shown in the drawings, common members are given the same reference numerals and explanations thereof are partially omitted.

도 5a에 나타낸 바와 같이, 본 실시 형태에서의 워크 지지 기구(210)의 Z축 방향의 상부에는, Y축 방향을 따라 복수의 워크 수용부(213)를 갖는다.5A, a plurality of work receiving portions 213 are provided along the Y-axis direction at an upper portion in the Z-axis direction of the work supporting mechanism 210 in the present embodiment.

워크 수용부(213)는 오목부(114)에 의해 구성되고, 제1 실시 형태에서의 워크 수용부(13)와 달리 오목부(114)의 X축 방향의 양측이 외부에 개방되어 있다.The work accommodating portion 213 is constituted by the concave portion 114 and unlike the work accommodating portion 13 in the first embodiment, both sides in the X axis direction of the concave portion 114 are open to the outside.

도 5b에 나타낸 바와 같이, 워크 수용부(213)는 도 1b에 나타낸 제2 맞댐면(132) 대신 제2 맞댐면(232)을 갖는다는 점에서, 제1 실시 형태에서의 워크 수용부(13)와 상이하다.5B, the work receiving portion 213 has the second abutting surface 232 instead of the second abutting surface 132 shown in Fig. 1B. Therefore, the work receiving portion 213 of the first embodiment ).

제2 맞댐면(232)은, 워크 지지 지그(201)의 길이 방향 및 높이 방향으로 평행한 면(도시한 예에서는 YZ 평면)으로 이루어지고, 구획부(113)의 폭 방향(X축 방향)의 양측면에 대응한다. 본 실시 형태에서는, 1개의 워크 수용부(213)에 대해 2개의 제2 맞댐면(232)이 구비되어 있다.The second abutting surface 232 is formed in a plane parallel to the longitudinal direction and the height direction of the work supporting jig 201 (YZ plane in the illustrated example), and the width direction (X axis direction) Respectively. In the present embodiment, two second abutting surfaces 232 are provided for one work accommodating portion 213.

워크 수용부(213)에서, 제2 맞댐면(232) 및 제3 맞댐면(133)은 서로 대략 직각으로 교차해 코너부를 형성한다. 마찬가지로, 대향면(134) 및 제2 맞댐면(132)은 서로 대략 직각으로 교차해 코너부를 형성하고 있다.In the work receiving portion 213, the second butting surface 232 and the third butting surface 133 intersect at approximately right angles to form a corner portion. Likewise, the opposing face 134 and the second abutting face 132 intersect at approximately right angles to form a corner portion.

워크 수용부(213)에 워크(50)를 수용하면, 워크 수용부(213)의 제1 맞댐면(131) 및 제3 맞댐면(133)에는 워크(50)의 권심부(51)의 외주면이 맞닿는다. 또한, 워크 수용부(213)의 어느 한쪽의 제2 맞댐면(232)에는, 워크(50)의 단턱부(52a, 52b)의 어느 한쪽의 내측면(52a6, 52b6)이 맞닿는다.When the work 50 is accommodated in the work accommodating portion 213, the first abutting surface 131 and the third abutting surface 133 of the work accommodating portion 213 are provided on the outer peripheral surface of the winding portion 51 of the work 50 . One of the inner side surfaces 52a6 and 52b6 of the step portions 52a and 52b of the work 50 is abutted against one of the second abutting surfaces 232 of the work accommodating portion 213. [

즉, 본 실시 형태에서는, 워크(50)를 워크 수용부(213)에 수용하면, 워크 수용부(213)의 제2 맞댐면(232) 및 제3 맞댐면(133)에 따르도록, 워크(50)의 권심부(51)의 외주면 및 단턱부(52a, 52b)의 내측면(52a6, 52b6)이 배치된다. 이 때문에, 워크 수용부(213)에 수용되어 있는 워크(50)는, 제2 맞댐면(232)과 제3 맞댐면(133)이 이루는 코너부의 바깥쪽에 배치되게 된다.That is, in the present embodiment, when the work 50 is accommodated in the work accommodating portion 213, the work (not shown) is moved along the second abutting surface 232 and the third abutting surface 133 of the work accommodating portion 213 And the inner surfaces 52a6 and 52b6 of the step portions 52a and 52b are disposed. The work 50 accommodated in the work accommodating portion 213 is disposed outside the corner portion formed by the second abutting surface 232 and the third abutting surface 133. [

워크(50)는 제3 맞댐면(133)측으로 치우쳐 배치되어 있어, 상세한 도시는 생략하지만, 워크(50)의 권심부(51)의 외주면과 대향면(134) 사이에는 틈새가 조금 형성된다.A slight gap is slightly formed between the outer circumferential surface of the winding portion 51 of the work 50 and the opposed surface 134 although the detailed description is omitted.

이 틈새는, 도 5a에 나타내는 보조 부재(20)가 갖는 마그넷(22)(도 3 참조)에 워크(50)가 끌어당겨짐으로써 형성되어, 워크(50)의 크기(특히, Y축 방향폭)에 따라 적절하게 변동한다. 본 실시 형태에서는, 마그넷(22)은 워크 수용부(213)에 수용되어 있는 워크(50)를 제1 맞댐면(131) 및 제3 맞댐면(133)에 맞닿도록 끌어당긴다.This gap is formed by pulling the work 50 into the magnet 22 (see Fig. 3) of the assistance member 20 shown in Fig. 5A, and the size (in particular, the Y- As shown in FIG. The magnet 22 pulls the work 50 accommodated in the work accommodating portion 213 against the first abutment surface 131 and the third abutment surface 133 in this embodiment.

워크 지지 지그(201)를 이용한 전자 부품의 제조에서는, 우선, 도 6a∼도 6c에 나타낸 바와 같이, 복수(도시한 예에서는, 3개)의 워크 지지 지그(201A, 201B, 201C)를 준비한다. 한편, 워크 지지 지그(201A, 201B, 201C)의 구성은, 도 5a에 나타내는 워크 지지 지그(201)의 구성과 동일하다.6A to 6C, a plurality of (three in the illustrated example) work supporting jigs 201A, 201B and 201C are prepared in the production of electronic parts using the work supporting jig 201 . The construction of the work supporting jigs 201A, 201B and 201C is the same as that of the work supporting jig 201 shown in Fig. 5A.

그리고, 도 5b에 나타낸 바와 같은 형태로, 복수의 워크(50)의 각각을 워크 지지 지그(201A∼201C)의 각 워크 수용부(213)의 내부에 수용한다(워크 수용 공정). 도 5b에 나타낸 바와 같이, 워크 수용 공정에서는, 권심부(51)의 외주면의 일부가 제3 맞댐면(133)에 맞닿고, 단턱부(52a, 52b)의 내측면(52a6, 52b6)이 제2 맞댐면(232, 232)에 맞닿도록, 각 워크(50)를 각 워크 수용부(213)의 내부에 배치한다.5B, each of the plurality of workpieces 50 is received in each of the workpiece receiving portions 213 of the workpiece holding jigs 201A to 201C (workpiece receiving step). A part of the outer circumferential surface of the winding core portion 51 abuts on the third abutment surface 133 and the inner surfaces 52a6 and 52b6 of the step portions 52a and 52b The work pieces 50 are placed inside the respective workpiece receiving portions 213 so as to abut against the abutting surfaces 232 and 232.

다음으로, 도 6a에 나타낸 바와 같이, 워크 지지 지그(201A∼201C)의 각각을 배열한다(워크 배열 공정). 워크 배열 공정에서는, 서로 인접하는 한쪽의 워크 지지 지그(201A∼201C) 및 서로 인접하는 다른 쪽의 워크 지지 지그(201A∼201C)를, Y축을 중심축으로 하여 소정 각도(90도)만큼 회전해 배열한다. 도시한 예에서는, 워크 지지 지그(201B)가 중앙에 배치되고, 워크 지지 지그(201A, 201C)가 각각 Y축을 중심축으로 하여 90도만큼 회전한 상태로 워크 지지 지그(201B)의 좌우에 배치되어 있다.Next, as shown in Fig. 6A, each of the work supporting jigs 201A to 201C is arranged (work arranging step). In the work aligning step, the work supporting jigs 201A to 201C adjacent to each other and the other work supporting jig 201A to 201C adjacent to each other are rotated by a predetermined angle (90 degrees) about the Y axis as a central axis . In the illustrated example, the work supporting jig 201B is disposed in the center, and the work supporting jig 201A and 201C are arranged on the left and right sides of the work supporting jig 201B with the Y axis being rotated about 90 degrees .

그 결과, 워크 지지 지그(201A)의 워크 수용부(213)에 수용되어 있는 워크(50)에서는, 단턱부(52a)의 단면(52a3)이 상방을 향하고, 워크 수용부(213)의 제2 맞댐면(232, 미도시)의 반대쪽으로부터 노출된다. 또한, 워크 지지 지그(201B)의 워크 수용부(213)에 수용되어 있는 워크(50)에서는, 단턱부(52a, 52b)의 상면(52a1, 52b1)이 상방을 향하고, 워크 수용부(213)의 제1 맞댐면(131)의 반대쪽으로부터 노출된다. 또한, 워크 지지 지그(201C)의 워크 수용부(213)에 수용되어 있는 워크(50)에서는, 단턱부(52b)의 단면(52b3)이 상방을 향하고, 워크 수용부(213)의 제2 맞댐면(232, 미도시)의 반대쪽으로부터 노출된다.As a result, in the work 50 accommodated in the work receiving portion 213 of the work supporting jig 201A, the end surface 52a3 of the step portion 52a faces upward, Is exposed from the opposite side of the abutting surface 232 (not shown). The upper surfaces 52a1 and 52b1 of the step portions 52a and 52b are directed upward and the work accommodating portion 213 of the work accommodating portion 213 of the work supporting jig 201B, Is exposed from the opposite side of the first abutting surface (131). In the work 50 accommodated in the work receiving portion 213 of the work supporting jig 201C, the end surface 52b3 of the step portion 52b faces upward, Is exposed from the opposite side of the surface 232 (not shown).

다음으로, 워크 수용부(213)로부터 노출된 워크(50)의 처리 예정면(상면(52a1, 52b1) 및 단면(52a3, 52b3))에 전극막 형성 처리를 실시한다(제1 처리 공정).Next, an electrode film forming process is performed on the process target surfaces (upper surfaces 52a1 and 52b1 and end surfaces 52a3 and 52b3) of the work 50 exposed from the work accommodating portion 213 (first process step).

보다 상세하게는, 도 6a에 나타낸 바와 같이, 워크 지지 지그(201A)의 워크 수용부(213)에 수용되어 있는 워크(50)에 대해, 제2 맞댐면(232, 미도시)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52a)의 단면(52a3)에 전극막 형성 처리를 실시해 단면 전극부(532)를 형성한다.More specifically, as shown in FIG. 6A, the work 50 accommodated in the work receiving portion 213 of the work supporting jig 201A is exposed from the opposite side of the second abutting surface 232 (not shown) The end surface 52a3 of the step portion 52a is subjected to the electrode film forming process to form the end surface electrode portion 532. [

또한, 워크 지지 지그(201B)의 워크 수용부(213)에 수용되어 있는 워크(50)에 대해, 제1 맞댐면(131)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52a, 52b)의 상면(52a1, 52b1)에 전극막 형성 처리를 실시해 상면 전극부(531, 531)를 형성한다.The upper surface 52a1 of the step portions 52a and 52b exposed from the opposite side of the first abutting surface 131 is pressed against the work 50 accommodated in the work receiving portion 213 of the work supporting jig 201B And 52b1 are subjected to the electrode film forming process to form the upper surface electrode portions 531 and 531. [

또한, 워크 지지 지그(201C)의 워크 수용부(213)에 수용되어 있는 워크(50)에 대해, 제2 맞댐면(232, 미도시)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52b)의 단면(52b3)에 전극막 형성 처리를 실시해 단면 전극부(532)를 형성한다.The end face of the step portion 52b exposed from the opposite side of the second abutting surface 232 (not shown) is pressed against the work 50 accommodated in the work receiving portion 213 of the work supporting jig 201C 52b3 are subjected to an electrode film forming process to form a cross-section electrode portion 532. [

다음으로, 도 6b에 나타낸 바와 같이, 워크 지지 지그(201A∼201C)를 소정 각도만큼 회전시킨다. 보다 상세하게는, 워크 지지 지그(201A)에 대해서는, 제1 맞댐면(131)이 상방을 향하도록, Y축을 중심축으로 하여 반시계 방향으로 90도 회전시킨다. 또한, 워크 지지 지그(201B)에 대해서는, 제2 맞댐면(232, 미도시)이 상방을 향하도록, Y축을 중심축으로 하여 반시계 방향으로 90도 회전시킨다. 또한, 워크 지지 지그(201C)에 대해서는, 제2 맞댐면(232, 미도시)이 상방을 향하도록, Y축을 중심축으로 하여 반시계 방향으로 180도 회전시킨다.Next, as shown in Fig. 6B, the work supporting jigs 201A to 201C are rotated by a predetermined angle. More specifically, with respect to the work supporting jig 201A, the first abutment surface 131 is rotated 90 degrees in the counterclockwise direction with the Y axis as the central axis so as to face upward. Further, with respect to the work supporting jig 201B, the second abutting surface 232 (not shown) is rotated 90 degrees in the counterclockwise direction with the Y axis as the central axis so as to face upward. Further, with respect to the work supporting jig 201C, the second abutting surface 232 (not shown) is rotated 180 degrees in the counterclockwise direction with the Y axis as the central axis so as to face upward.

이와 같이, 워크 지지 지그(201A∼201C)를 소정 각도만큼 회전시키면, 도 6a에서 워크 지지 지그(201A)가 배치되어 있던 위치에 워크 지지 지그(201C)가 배치되고, 워크 지지 지그(201B)가 배치되어 있던 위치에 워크 지지 지그(201A)가 배치되고, 워크 지지 지그(201C)가 배치되어 있던 위치에 워크 지지 지그(201B)가 배치된다.When the work supporting jigs 201A to 201C are rotated by a predetermined angle in this way, the work supporting jig 201C is disposed at the position where the work supporting jig 201A is disposed in Fig. 6A, The work supporting jig 201A is disposed at the position where the work supporting jig 201C is disposed and the work supporting jig 201B is disposed at the position where the work supporting jig 201C was disposed.

그리고, 계속해서, 워크 지지 지그(201A)의 워크 수용부(213)에 수용되어 있는 워크(50)에 대해, 제1 맞댐면(131)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52a, 52b)의 상면(52a1, 52b1)에 전극막 형성 처리를 실시해 상면 전극부(531, 531)를 형성한다.Subsequently, with respect to the work 50 accommodated in the work receiving portion 213 of the work supporting jig 201A, the distance between the step portions 52a and 52b exposed from the opposite side of the first abutting surface 131 Electrode films are formed on the upper surfaces 52a1 and 52b1 to form the upper surface electrode portions 531 and 531. [

또한, 워크 지지 지그(201B)의 워크 수용부(213)에 수용되어 있는 워크(50)에 대해, 제2 맞댐면(232, 미도시)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52b)의 단면(52b3)에 전극막 형성 처리를 실시해 단면 전극부(532)를 형성한다.The end face of the step portion 52b exposed from the opposite side of the second abutting surface 232 (not shown) is pressed against the work 50 accommodated in the work receiving portion 213 of the work supporting jig 201B 52b3 are subjected to an electrode film forming process to form a cross-section electrode portion 532. [

또한, 워크 지지 지그(201C)의 워크 수용부(213)에 수용되어 있는 워크(50)에 대해, 제2 맞댐면(232, 미도시)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52a)의 단면(52a3)에 전극막 형성 처리를 실시해 단면 전극부(532)를 형성한다.The end face of the step portion 52a exposed from the opposite side of the second abutting surface 232 (not shown) is pressed against the work 50 accommodated in the work receiving portion 213 of the work supporting jig 201C 52a3 are subjected to an electrode film forming process to form a cross-section electrode portion 532. [

다음으로, 도 6c에 나타낸 바와 같이, 워크 지지 지그(201A∼201C)를 소정 각도만큼 회전시킨다. 보다 상세하게는, 워크 지지 지그(201C)에 대해서는, 제1 맞댐면(131)이 상방을 향하도록, Y축을 중심축으로 하여 반시계 방향으로 90도 회전시킨다. 또한, 워크 지지 지그(201A)에 대해서는, 제2 맞댐면(232)이 상방을 향하도록, Y축을 중심축으로 하여 반시계 방향으로 90도 회전시킨다. 또한, 워크 지지 지그(201B)에 대해서는, 제2 맞댐면(232)이 상방을 향하도록, Y축을 중심축으로 하여 반시계 방향으로 180도 회전시킨다.Next, as shown in Fig. 6C, the work supporting jigs 201A to 201C are rotated by a predetermined angle. More specifically, with respect to the work supporting jig 201C, the first abutment surface 131 is rotated 90 degrees in the counterclockwise direction with the Y axis as the central axis so as to face upward. Further, with respect to the work supporting jig 201A, the second abutting surface 232 is rotated 90 degrees in the counterclockwise direction with the Y axis as the central axis so as to face upward. With respect to the work supporting jig 201B, the second abutting surface 232 is rotated 180 degrees in the counterclockwise direction with the Y axis as the central axis so as to face upward.

이와 같이, 워크 지지 지그(201A∼201C)를 소정 각도만큼 회전시키면, 도 6b에서 워크 지지 지그(201A)가 배치되어 있던 위치에 워크 지지 지그(201C)가 배치되고, 워크 지지 지그(201B)가 배치되어 있던 위치에 워크 지지 지그(201A)가 배치되고, 워크 지지 지그(201C)가 배치되어 있던 위치에 워크 지지 지그(201B)가 배치된다.When the work supporting jigs 201A to 201C are rotated by a predetermined angle in this manner, the work supporting jig 201C is arranged at the position where the work supporting jig 201A is arranged in Fig. 6B, The work supporting jig 201A is disposed at the position where the work supporting jig 201C is disposed and the work supporting jig 201B is disposed at the position where the work supporting jig 201C was disposed.

그리고, 계속해서, 워크 지지 지그(201A)의 워크 수용부(213)에 수용되어 있는 워크(50)에 대해, 제2 맞댐면(232)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52b)의 단면(52b3)에 전극막 형성 처리를 실시해 단면 전극부(532)를 형성한다.Subsequently, the end face of the step portion 52b exposed from the opposite side of the second abutting surface 232 with respect to the work 50 accommodated in the work accommodating portion 213 of the work supporting jig 201A 52b3 are subjected to an electrode film forming process to form a cross-section electrode portion 532. [

또한, 워크 지지 지그(201B)의 워크 수용부(213)에 수용되어 있는 워크(50)에 대해, 제2 맞댐면(232)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52a)의 단면(52a3)에 전극막 형성 처리를 실시해 단면 전극부(532)를 형성한다.The work 50 accommodated in the work accommodating portion 213 of the work supporting jig 201B is pressed against the end face 52a3 of the step portion 52a exposed from the opposite side of the second abutting surface 232 An electrode film forming process is performed to form a cross-section electrode portion 532. [

또한, 워크 지지 지그(201C)의 워크 수용부(213)에 수용되어 있는 워크(50)에 대해, 제1 맞댐면(131)의 반대쪽으로부터 노출되어 있는 단턱부(52a, 52b)의 상면(52a1, 52b1)에 전극막 형성 처리를 실시해 상면 전극부(531, 531)를 형성한다.The upper surface 52a1 of the step portions 52a and 52b exposed from the opposite side of the first abutment surface 131 is pressed against the work 50 accommodated in the work accommodating portion 213 of the work supporting jig 201C And 52b1 are subjected to the electrode film forming process to form the upper surface electrode portions 531 and 531. [

본 실시 형태에서는, 워크 수용부(213)에 수용되어 있는 워크(50)가 제2 맞댐면(232)과 제3 맞댐면(133)이 이루는 코너부의 바깥쪽에 배치되어 있다. 이 때문에, 워크 수용부(213)의 코너부의 바깥쪽에 워크(50)가 고정되어, 워크(50)의 위치 결정을 행하는 것이 가능해진다. 따라서, 워크(50)의 위치 어긋남을 방지해, 워크(50)의 복수의 처리 예정면에 연속적인 처리를 보다 높은 정확도로 실시할 수 있다.The work 50 accommodated in the work accommodating portion 213 is disposed outside the corner portion formed by the second abutting surface 232 and the third abutting surface 133 in this embodiment. Therefore, the work 50 is fixed to the outside of the corner of the work receiving portion 213, and the work 50 can be positioned. Therefore, the displacement of the work 50 can be prevented, and continuous processing can be performed on the plurality of processing planes of the work 50 with higher accuracy.

또한, 워크 수용부(213)에 워크(50)를 배치하면, 워크 수용부(213)로부터 워크(50)의 3개의 처리 예정면(단턱부(52a, 52b)의 상면(52a1, 52b1) 및 단면(52a3, 52b3))이, 제1 맞댐면(131)의 반대쪽과 2개의 제2 맞댐면(232)의 반대쪽으로부터 노출된다. 따라서, 전술한 요령으로 워크 지지 지그(201)를 90도만큼 회전시켜, 처리 대상의 3개의 처리 예정면을 순차적으로 시프트해 나감으로써, 워크(50)의 복수의 처리 예정면에 연속적인 처리를 높은 정확도로 실시할 수 있다.When the work 50 is arranged in the work accommodating portion 213, the upper surfaces 52a1 and 52b1 of the step portions 52a and 52b and the upper surfaces 52a1 and 52b1 of the work 50, The end faces 52a3 and 52b3 are exposed from the opposite side of the first butting face 131 and the opposite side of the two second butting faces 232. [ Therefore, by sequentially turning the three processing target surfaces to be processed by rotating the workpiece holding jig 201 by 90 degrees in the above-described manner, continuous processing is performed on a plurality of processing target surfaces of the work 50 Can be performed with high accuracy.

또한, 본 실시 형태에서는, 복수의 워크 지지 지그(201A, 201B, 201C)를, 워크 지지 지그(201A)에 지지된 워크(50)의 제1 맞댐면(131)과 반대쪽의 처리 예정면과, 워크 지지 지그(201B)에 지지된 워크(50)의 제2 맞댐면(132)과 반대쪽의 처리 예정면과, 워크 지지 지그(201C)에 지지된 워크(50)의 제2 맞댐면(132)과 반대쪽의 처리 예정면이 대략 동일 평면이 되도록 배열한다. 그리고, 이들에 지지된 워크(50)의 각각의 처리 예정면에 동시에 처리를 실시한다. 이 때문에, 3개의 워크의 처리 예정면에 동시에 전극막 형성 처리 등의 처리를 실시할 수 있다.In the present embodiment, the plurality of work supporting jigs 201A, 201B and 201C are arranged on the processing side opposite to the first butting surface 131 of the work 50 supported by the work supporting jig 201A, The processing surface to be processed opposite to the second abutting surface 132 of the work 50 supported by the work supporting jig 201B and the second abutting surface 132 of the work 50 supported by the work supporting jig 201C, And the other side to be processed are substantially coplanar. Then, processing is performed simultaneously on each of the processing planes of the work 50 supported by these workpieces. Therefore, the processing such as the electrode film forming processing can be simultaneously performed on the processing target surfaces of the three workpieces.

한편, 본 발명은, 전술한 실시 형태로 한정되는 것은 아니고, 본 발명의 범위 내에서 여러 가지로 변경할 수 있다. 예를 들어, 도 1a에 나타낸 예에서는, 워크 지지 지그(1A, 1B)를 각각 90도 반전시킨 상태로 배열하였지만, 도 4a 및 도 4b에 나타낸 바와 같이 반전시키지 않고 배열해도 된다.On the other hand, the present invention is not limited to the above-described embodiments, but can be variously modified within the scope of the present invention. For example, in the example shown in FIG. 1A, the work supporting jigs 1A and 1B are arranged in a state in which they are inverted by 90 degrees, but they may be arranged without being inverted as shown in FIGS. 4A and 4B.

또한, 전술한 각 실시 형태에서는, 권심부(51)의 횡단면 형상이 직사각형이었지만, 그 횡단면 형상은 특별히 한정되는 것이 아니라, 원형이나 대략 팔각형, 혹은 그 외의 다각형이라도 된다.In each of the above-described embodiments, although the cross-sectional shape of the winding core portion 51 is rectangular, the cross-sectional shape thereof is not particularly limited, but may be circular, approximately octagonal, or other polygonal shape.

또한, 전술한 실시 형태에서는, 단턱부(52a, 52b)의 횡단면 형상이 직사각형이었지만, 그 횡단면 형상은 특별히 한정되는 것은 아니라, 원형이나 대략 팔각형, 혹은 그 외의 다각형이라도 된다.Although the stepped portions 52a and 52b have a rectangular cross-sectional shape in the above-described embodiment, the cross-sectional shape thereof is not particularly limited, and may be circular, approximately octagonal, or other polygonal shape.

1A, 1B, 201, 201A, 201B, 201C … 워크 지지 지그
10, 210 … 워크 지지 기구
11 … 제1 지지부
111 … 제1 구획단부
112 … 제2 구획단부
113 … 구획부
114 … 오목부
12 … 제2 지지부
121 … 단면부
13, 213 … 워크 수용부
131 … 제1 맞댐면
132, 232 … 제2 맞댐면
132a … 오목부
133 … 제3 맞댐면
134 … 대향면
20 … 보조 부재
21 … 본체부
22 … 마그넷
220 … 수용 오목부
23 … 마그넷 지지부
24 … 위치 결정 돌기
50, 50A … 워크(전자 부품)
51 … 권심부
52a, 52b … 단턱부
52a1, 52b1 … 상면
52a2, 52b2 … 하면
52a3, 52b3 … 단면
52a4, 52b4 … 제1 측면
52a5, 52b5 … 제2 측면
52a6, 52b6 … 내측면
53, 53A … 전극부
531 … 상면 전극부
532, 532A … 단면 전극부
533 … 하면 전극부
60 … 나사공
70 … 나사
1A, 1B, 201, 201A, 201B, 201C ... Work support jig
10, 210 ... Work support mechanism
11 ... The first support portion
111 ... The first compartment end
112 ... The second compartment end
113 ... The compartment
114 ... Concave portion
12 ... The second support
121 ... Section
13, 213 ... The work accommodating portion
131 ... The first butting face
132, 232 ... The second abutting surface
132a ... Concave portion
133 ... Third abutment surface
134 ... Facing face
20 ... Auxiliary member
21 ... The body portion
22 ... Magnet
220 ... Receiving recess
23 ... The magnet support
24 ... Positioning projection
50, 50A ... Work (electronic parts)
51 ... Winding portion
52a, 52b ... Jaw
52a1, 52b1 ... Top surface
52a2, 52b2 ... if
52a3, 52b3 ... section
52a4, 52b4 ... First aspect
52a5, 52b5 ... Second aspect
52a6, 52b6 ... My side
53, 53A ... The electrode portion
531 ... The upper surface electrode portion
532, 532A ... The cross-
533 ... The lower electrode portion
60 ... Napong
70 ... screw

Claims (14)

워크를 지지하는 워크 지지 기구를 갖는 워크 지지 지그로서,
상기 워크 지지 기구는, 상기 워크의 3면이 맞닿는 제1 맞댐면, 제2 맞댐면 및 제3 맞댐면을 갖는 워크 수용부를 구비하고,
상기 워크 수용부는, 상기 워크 수용부에 수용되는 워크의 적어도 2개의 처리 예정면이 노출되도록, 적어도 상기 제1 맞댐면의 반대쪽과 상기 제2 맞댐면의 반대쪽이 개방되어 있는 것을 특징으로 하는 워크 지지 지그.
1. A work supporting jig having a work supporting mechanism for supporting a work,
The work supporting mechanism includes a work receiving portion having a first abutting surface, a second abutting surface, and a third abutting surface to which the three surfaces of the work are abutted,
Characterized in that the work accommodating portion is open at least on the opposite side of the first abutting surface and the opposite side of the second abutting surface so that at least two processing surfaces of the work accommodated in the work accommodating portion are exposed. Jig.
제1항에 있어서,
상기 워크 수용부에 수용되어 있는 워크의 2개의 상기 처리 예정면이, 각각 상기 제1 맞댐면의 반대쪽과 상기 제2 맞댐면의 반대쪽으로부터 노출되도록, 상기 워크가 상기 워크 수용부에 수용되는 것을 특징으로 하는 워크 지지 지그.
The method according to claim 1,
Characterized in that the work is received in the work accommodating portion such that the two processing planes of the work accommodated in the work accommodating portion are respectively exposed from the opposite side of the first abutting surface and the opposite side of the second abutting surface .
제2항에 있어서,
2개의 상기 처리 예정면이, 상기 워크 수용부의 바깥쪽으로 돌출되도록, 상기 워크가 상기 워크 수용부에 수용되는 것을 특징으로 하는 워크 지지 지그.
3. The method of claim 2,
Wherein the work is received in the work receiving portion such that the two processing planes protrude outward of the work receiving portion.
제3항에 있어서,
상기 제1 맞댐면의 반대쪽으로부터 돌출된 워크의 처리 예정면의 돌출량과 상기 제2 맞댐면의 반대쪽으로부터 돌출된 워크의 처리 예정면의 돌출량이 대략 동일한 것을 특징으로 하는 워크 지지 지그.
The method of claim 3,
Wherein a protruding amount of a work processing surface of the work projected from the opposite side of the first abutting surface is substantially equal to a projecting amount of a work processing surface of the work projected from the opposite side of the second abutting surface.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 워크 지지 기구는, 복수의 상기 워크 수용부를 구비하는 것을 특징으로 하는 워크 지지 지그.
3. The method according to claim 1 or 2,
Wherein the work supporting mechanism comprises a plurality of the work receiving portions.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 제2 맞댐면에는, 상기 워크 수용부에 수용되는 워크와 반대쪽을 향해 함몰되는 오목부가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 워크 지지 지그.
3. The method according to claim 1 or 2,
And the second abutting surface is formed with a concave portion that is recessed toward the opposite side of the work accommodated in the work accommodating portion.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 워크 지지 기구는, 제1 워크 지지부 및 상기 제1 워크 지지부와 분리 가능하게 장착되는 제2 워크 지지부를 구비하고,
상기 제1 맞댐면과 상기 제3 맞댐면이, 상기 제1 워크 지지부에 형성되고,
상기 제2 맞댐면이, 상기 제2 워크 지지부에 형성되는 것을 특징으로 하는 워크 지지 지그.
3. The method according to claim 1 or 2,
The work supporting mechanism includes a first work supporting portion and a second work supporting portion detachably mounted to the first work supporting portion,
The first butting face and the third butting face are formed in the first work supporting portion,
And the second abutting surface is formed on the second work supporting portion.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 워크 수용부에 수용되어 있는 워크는, 상기 제2 맞댐면과 상기 제3 맞댐면이 이루는 코너부의 내측에 배치되는 것을 특징으로 하는 워크 지지 지그.
3. The method according to claim 1 or 2,
And the work accommodated in the work receiving portion is disposed inside a corner portion formed by the second abutting surface and the third abutting surface.
제8항에 있어서,
길이 방향에 수직인 단면 형상이 대략 정사각 형상인 것을 특징으로 하는 워크 지지 지그.
9. The method of claim 8,
And the cross-sectional shape perpendicular to the longitudinal direction is substantially a square shape.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 워크 수용부에 수용되어 있는 워크는, 상기 제2 맞댐면과 상기 제3 맞댐면이 이루는 코너부의 바깥쪽에 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 워크 지지 지그.
3. The method according to claim 1 or 2,
Wherein a work accommodated in the work accommodating portion is disposed outside the corner portion formed by the second abutting surface and the third abutting surface.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 워크 수용부에 수용되어 있는 워크를, 상기 제2 맞댐면 및 상기 제3 맞댐면에 맞닿도록 끌어당기는 풀인 수단을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 워크 지지 지그.
3. The method according to claim 1 or 2,
Further comprising pull-in means for pulling the work accommodated in the work accommodating portion so as to abut the second abutting surface and the third abutting surface.
제1항 또는 제2항에 기재된 워크 지지 지그를 복수 개 갖는 전자 부품 처리 장치.An electronic part processing apparatus having a plurality of work supporting jigs according to any one of claims 1 to 5. 제1항 또는 제2항에 기재된 워크 지지 지그를 이용해, 적어도 2개의 처리 예정면이 워크 수용부로부터 노출된 워크의 어느 하나의 처리 예정면에 처리를 실시하는 공정과,
상기 워크 지지 지그를 소정 각도만큼 회전시켜, 상기 워크의 다른 어느 하나의 처리 예정면에 처리를 실시하는 공정을 갖는 전자 부품의 제조 방법.
A method for manufacturing a workpiece, comprising the steps of: performing processing on any one of the workpiece planes of a workpiece exposed from a workpiece receiving portion by at least two workpiece planes by using the workpiece jig of claim 1 or 2;
And a step of rotating the work supporting jig by a predetermined angle to perform a process on any one of the other process planes of the work.
제1항 또는 제2항에 기재된 복수의 워크 지지 지그의 각각을, 서로 인접하는 한쪽의 워크 지지 지그의 워크 수용부의 제1 맞댐면과 서로 인접하는 다른 쪽의 워크 지지 지그의 워크 수용부의 제2 맞댐면이 동일 방향을 향하도록, 소정 각도만큼 회전시켜 배열하는 공정과,
상기 한쪽의 워크 지지 지그의 상기 제1 맞댐면의 반대쪽으로부터 노출된 워크의 처리 예정면과 상기 다른 쪽의 워크 지지 지그의 상기 제2 맞댐면의 반대쪽으로부터 노출된 워크의 처리 예정면에 처리를 실시하는 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 전자 부품의 제조 방법.
Wherein each of the plurality of work supporting jigs according to any one of claims 1 to 3 is mounted on a first abutting surface of a work receiving portion of one of the work supporting jigs which are adjacent to each other and a second abutting surface of a work receiving portion of the other work supporting jig A step of arranging the abutting surfaces to rotate by a predetermined angle so as to face the same direction,
Processing is carried out on the surface to be processed of the work exposed from the side of the work support jig exposed from the opposite side of the first abutting surface and the side opposite to the second abutting surface of the other work support jig Wherein the step of forming the electronic component comprises the steps of:
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