KR20170130555A - 전단 에지의 성형 가부 평가 방법 - Google Patents

전단 에지의 성형 가부 평가 방법 Download PDF

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KR20170130555A
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Abstract

예성형 후에 전단되는 재료 에지의 성형 가부를 더욱 정밀도좋게 평가하는 기술의 제공을 목적으로 한다. 예성형 후의 금속판에 대한 구멍 확대 시험에 의해서, 전단 에지에서의 왜곡 구배를 바꾸어 왜곡 구배에 대한 변형 한계 상당 왜곡량의 데이터를 복수 구하고, 그 복수의 데이터와 예변형 상당 왜곡량으로부터 왜곡 구배에 대한 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡의 관계를 구한다. 구한 관계로부터 상기 전단 에지의 성형 한계선 L이나 성형 가능 영역 R로부터, 예성형에 의해서 예변형을 가한 금속판에 대한 전단 에지의 성형 가부를 평가한다.

Description

전단 에지의 성형 가부 평가 방법
본 발명은 일차 성형 후에 전단되는 재료 에지의 성형 가부의 평가 기술에 관한 것이다. 예를 들면, 자동차용 프레스품 등의 전단 에지에 있어서의 FEM 시뮬레이션에서의 성형 가부를 평가하는 기술에 관한 것이다.
프레스품의 전단 에지에 있어서의 변형 한계로의 영향도가 큰 전단 에지 근방의 변형 상태를 답습한 성형 가부를 평가하는 방법으로서는 예를 들면 특허문헌 1∼3에 기재된 판정 방법이 있다.
그러나, 상기의 프레스품의 전단 에지에 있어서의 성형 가부 판정 방법은 모두 예변형(일차 성형)을 받지 않고 전단된 재료 에지를 평가하는 것으로서, 예변형을 받은 후에 전단된 재료 에지에의 적용에 대해서는 하등 고려되어 있지 않다.
이와 같이, 일차 성형을 받은 후의 전단 에지에 있어서의 성형 가부의 판정 정밀도에 대해서는 종래부터 문제가 있으며, 금형 제작 후가 아니면 성형 가부가 불명확하다는 과제가 있었다.
특허문헌 1: 일본국 특허공보 제4935713호 특허문헌 2: 일본국 특허공보 제5561203호 특허문헌 3: 일본국 특허공보 제5472518호
본 발명은 상기와 같은 점에 착안한 것으로, 예성형 후에 전단되는 재료 에지의 성형 가부를 더욱 정밀도좋게 평가하는 기술의 제공을 목적으로 하고 있다.
과제를 해결하기 위해, 본 발명의 1양태는 예성형에 의해서 예변형을 가한 금속판에 대한 프레스 성형에 의한 전단 에지의 성형 가부를 평가하는 평가 방법으로서, 예성형 후의 금속판에 대한 구멍 확대 시험에 의해서 전단 에지에서의 변형 한계를 구하고, 구한 전단 에지에서의 변형 한계량을 변형 한계 상당 왜곡량으로 표현하여, 전단 에지에서의 직경 방향의 왜곡 구배에 대한 상기 구멍 확대 시험에 의해서 구한 변형 한계 상당 왜곡량으로 이루어지는 데이터로서, 왜곡 구배가 다른 복수의 데이터를 취득하고, 상기 예성형에서 상기 금속판에 가해지는 상당 왜곡량을 예변형 상당 왜곡량으로 정의하고, 그 예변형 상당 왜곡량과 상기 예성형 후의 금속판에서의 변형 한계 상당 왜곡량의 합을 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡으로 정의하고, 상기 예변형 상당 왜곡량과 상기 복수의 데이터에 의거하여, 왜곡 구배에 대한 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡의 관계를 구하고, 상기 구한 관계로부터 전단 에지의 성형 가능 영역을 특정하여, 예성형에 의해서 예변형을 가한 금속판에 대한 전단 에지의 성형 가부를 평가하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 1양태에 따르면, 일차 성형(예성형) 및 이차 성형을 거쳐 형성되는 성형품에 있어서의 예성형 후에 전단되는 금속판의 재료 에지의 성형 가부를 더욱 간편하게 더욱 정밀도좋게 평가할 수 있게 된다.
즉, 금형을 몇 번이나 작성하는 일 없이, 이차 성형에 있어서의 신장 플랜지부에서의 성형 가부나 성형 여유도 등의 평가를 정밀도좋게 예측할 수 있는 결과, 깨짐 발생에 의한 불량을 조기에 예방할 수 있다.
도 1은 실험 1에 있어서의 왜곡 구배가 큰 경우에 있어서의 예변형 상당 왜곡과 이차 변형 한계 왜곡의 관계를 나타내는 도면이다.
도 2는 실험 1에 있어서의 왜곡 구배가 큰 경우에 있어서의 예변형 상당 왜곡과 토탈 변형량의 관계를 나타내는 도면이다.
도 3은 실험 1에 있어서의 왜곡 구배가 작은 경우에 있어서의 예변형 상당 왜곡과 이차 변형 한계 왜곡의 관계를 나타내는 도면이다.
도 4는 실험 1에 있어서의 왜곡 구배가 작은 경우에 있어서의 예변형 상당 왜곡과 토탈 변형량의 관계를 나타내는 도면이다.
도 5는 실험 2에 있어서의 왜곡 구배가 큰 경우에 있어서의 예변형 상당 왜곡과 이차 변형 한계 왜곡의 관계를 나타내는 도면이다.
도 6은 실험 2에 있어서의 왜곡 구배가 큰 경우에 있어서의 예변형 상당 왜곡과 토탈 변형량의 관계를 나타내는 도면이다.
도 7은 실험 2에 있어서의 왜곡 구배가 작은 경우에 있어서의 예변형 상당 왜곡과 이차 변형 한계 왜곡의 관계를 나타내는 도면이다.
도 8은 실험 2에 있어서의 왜곡 구배가 작은 경우에 있어서의 예변형 상당 왜곡과 토탈 변형량의 관계를 나타내는 도면이다.
도 9는 실험 3에 있어서의 왜곡 구배가 큰 경우에 있어서의 예변형 상당 왜곡과 이차 변형 한계 왜곡의 관계를 나타내는 도면이다.
도 10은 실험 3에 있어서의 왜곡 구배가 큰 경우에 있어서의 예변형 상당 왜곡과 토탈 변형량의 관계를 나타내는 도면이다.
도 11은 실험 3에 있어서의 왜곡 구배가 작은 경우에 있어서의 예변형 상당 왜곡과 이차 변형 한계 왜곡의 관계를 나타내는 도면이다.
도 12는 실험 3에 있어서의 왜곡 구배가 작은 경우에 있어서의 예변형 상당 왜곡과 토탈 변형량의 관계를 나타내는 도면이다.
도 13은 본 발명에 의거하는 제 1 실시형태에 관한 처리 공정을 설명하는 도면이다.
도 14는 본 발명에 의거하는 제 1 실시형태에 관한 성형 한계선과 성형 가능 영역을 설명하는 도면이다.
도 15는 본 발명에 의거하는 변형예에 관한 성형 한계선과 성형 가능 영역을 설명하는 도면이다.
도 16은 본 발명에 의거하는 제 2 실시형태에 관한 처리 공정을 설명하는 도면이다.
도 17은 본 발명에 의거하는 제 2 실시형태에 관한 성형 한계선과 성형 가능 영역을 설명하는 도면이다.
(본 발명에 이르는 지견)
상기의 종래 기술에 의한, 가공에 의한 전단 에지의 성형 가부의 판정 방법의 평가는 모두 예변형(일차 성형)을 받고 있지 않은 상태로부터의 전단 에지에 관한 변형 한계만의 평가를 상정한 것이다. 이 때문에, 상기의 종래기술의 평가 방법이 일차 성형을 받은 후의 전단 에지에 관한 성형 가부의 판정으로도 직접 전개할 수 있는지 어떤지는 불명하였다. 왜냐하면, 전단에 의한 데미지가 예성형에 의해서 생기는 일차 변형량에 의존하지 않는다고는 단언할 수 없기 때문이다.
그리고, 발명자는 이차 성형시의 변형 한계에 미치는 예변형량(일차 변형량)의 영향을 정량적으로 해명하기 위한 상세 조사를 실시하였다.
이하, 그 내용에 대해 설명한다.
여기서, 표 1에 나타내는 공시재 A∼E를 사용하여, 일차 성형(예변형)을 부여한 금속판에 대해, 각종 구멍 확대 시험을 실시하였다. 구멍 확대 시험으로서는 원추형상의 펀치를 사용한 원추 구멍 확대 시험과, 원통형상의 펀치를 사용한 원통 구멍 확대 시험을 실시하였다.
[표 1]
Figure pct00001
상기의 구멍 확대 시험은 대상으로 하는 금속판을 원추대 형상으로 일차 성형을 가한 후에, 원추대의 상면을 중심으로 시료로 하는 부분을 잘라내고, 그 잘라낸 시료를 평탄화한다. 그 후, 시료의 중심에 빼기 구멍을 형성하고, 펀치에 의해서 빼기 구멍의 구멍 확대를 실행하는 시험이다. 사용한 원추형상의 펀치는 60도 원추 펀치이며, 원통형상의 펀치는 직경 50mm의 원통 펀치이다.
또한, 반경 방향의 왜곡 구배는 사용하는 펀치의 형상이나 예성형 후의 빼기 구멍 직경을 변경함으로써 조정 가능하다.
<실험 1>
공시재 A로 이루어지는 금속판에 대해, 원추 구멍 확대 시험을 실행하였다.
그리고, 예성형에 의한 예변형 상당 왜곡에 대한 예성형 후의 금속판에 있어서의 이차 변형 한계 왜곡으로 정리한 결과, 도 1에 나타내는 결과를 얻었다. 또, 예성형에 의한 예변형 상당 왜곡에 대한 예변형 상당 왜곡과 이차 변형 한계 왜곡의 합인 토탈 변형량으로 정리한 결과, 도 2에 나타내는 결과를 얻었다.
다음에, 공시재 A로 이루어지는 금속판에 대해, 원통 구멍 확대 시험을 실행하였다.
그리고, 예성형에 의한 예변형 상당 왜곡에 대한, 예성형 후의 금속판에 있어서의 이차 변형 한계 왜곡으로 정리한 결과, 도 3에 나타내는 결과를 얻었다. 또, 예성형에 의한 예변형 상당 왜곡에 대한 예변형 상당 왜곡과 이차 변형 한계 왜곡의 합인 토탈 변형량으로 정리한 결과, 도 4에 나타내는 결과를 얻었다.
여기서, 각 도면에 있어서
○：등이축에 의한 왜곡
□：부등이축에 의한 왜곡
△：평면 왜곡에 의한 왜곡
이다.
원추 구멍 확대를 실행한 경우에는 원통 구멍 확대를 실행하는 경우에 비해, 전단 에지에서의 왜곡 구배가 커진다.
따라서, 공시재 A에서는 왜곡 구배가 큰 경우에는 도 1로부터 알 수 있는 바와 같이, 이차 변형 한계 왜곡은 예변형 상당 왜곡량이 증가할수록 작아지지만, 도 2로부터 알 수 있는 바와 같이, 토탈 변형량에서는 예변형 상당 왜곡량이 증가할수록 증가하는 경향에 있다.
한편, 전단 에지에서의 왜곡 구배가 작은 경우에는 도 3으로부터 알 수 있는 바와 같이, 이차 변형 한계 왜곡은 예변형 상당 왜곡량이 증가할수록 작아지지만, 도 4로부터 알 수 있는 바와 같이, 토탈 변형량에서는 예변형 상당 왜곡량에 그다지 의존하지 않고, 예변형 상당 왜곡량과의 상관이 낮다.
또, 도 1∼도 4로부터 알 수 있는 바와 같이, 이차 변형 한계 왜곡에 미치는 예변형 상당 왜곡량(예변형량, 일차 변형량)의 영향은 예변형의 변형 형태에 그다지 의존하지 않는다. 이 때문에 이차 변형 한계 왜곡은 상당 왜곡으로 정리할 수 있는 것을 밝혀내었다.
<실험 2>
공시재 D에 대해, 실험 1과 마찬가지의 실험을 실행하였다. 그 결과를 도 5∼도 8에 나타낸다.
이 공시재 D에 있어서도, 도 5∼도 8로부터 알 수 있는 바와 같이, 공시재 A와 마찬가지의 경향이 있는 것을 알 수 있다.
<실험 3>
공시재 E에 대해, 실험 1과 마찬가지의 실험을 실행하였다. 그 결과를 도 9∼도 12에 나타낸다.
공시재 E에 있어서도, 도 9∼도 12로부터 알 수 있는 바와 같이, 공시재 A와 유사한 경향은 있지만, 다음과 같은 경향도 있는 것을 알 수 있다.
즉, 왜곡 구배가 큰 경우, 소정의 변형 영역에서는 예변형량에 의해서 이차 변형 한계는 거의 저하하지 않는다. 한편, 왜곡 구배가 작은 경우, 토탈 변형량이 예변형량에 의존성이 있으며, 예변형량의 증가에 수반하여 감소한다. 즉, 예변형을 부여하는 것이 역효과로 된다.
<실험 결과의 정리>
공시재 B, C에 대해서도 실험 1과 마찬가지의 실험을 실행하였다.
그리고, 상기의 결과를 예변형량(예변형 상당 왜곡량)에 대한 (이차 성형에서의 변형 한계량의 저하량)의 비로 정리하면, 표 2에 나타내는 결과로 되었다.
[표 2]
Figure pct00002
표 2로부터 알 수 있는 바와 같이, 왜곡 구배가 작은 경우에 비해, 왜곡 구배가 큰 경우에는 예성형 후의 금속판에 대한 성형 여유량(성형 여유도)이 과소하게 가늠될 가능성이 있는 것을 알 수 있다. 그리고, 과소하게 가늠된 경우에는 쓸데없는 틀 수정이 발생할 우려가 있는 것을 알 수 있다.
<지견>
이상의 실험으로부터, 발명자는 이하와 같은 지견을 얻었다.
(1) 전단 후의 변형 한계 왜곡에 대한 일차 변형량의 영향도는 전단 후의 변형 한계 왜곡의 변형 형태(등이축, 부등이축, 평면 왜곡)에 그다지 의존하지 않으며, 상당 왜곡으로 정리할 수 있다.
이 때문에, 본 발명에서는 상당 왜곡으로 평가하고 있다.
(2) 왜곡 구배가 큰 경우, 이차 변형만의 변형 한계 왜곡에 미치는 일차 변형에 의한 영향은 작다. 그 때문에, 일차 변형에서의 왜곡을 포함시킨 최종적인 재료 에지의 변형 한계는 일차 변형량의 증가에 수반하여 증가한다. 한편, 왜곡 구배가 작은 경우, 상기 최종적인 재료 에지의 변형 한계는 일차 변형량의 증가에 수반하여 이차 변형만의 변형 한계 왜곡은 변경되지 않거나 크게 감소한다.
즉, 예변형도 포함시킨 이차 성형에 의한 신장 플랜지부의 최종적인 변형 한계 왜곡은 일차 변형량과 왜곡 구배의 양쪽에 의존한다.
또, 일차 변형의 의존성은 왜곡 구배가 큰 경우와 작은 경우에서 다르다. 즉, 소정의 왜곡 구배에 대해, 왜곡 구배가 작은 경우와 큰 경우로 나누어 전단 에지를 평가하는 쪽이 평가의 정밀도가 향상한다. 또한, 이 경향은 두께에는 의존성이 없다.
본 발명은 이상과 같은 새로운 지견에 의거하여 이루어진 것이다.
이하에, 이 지견에 의거하는 각 실시형태에 대해 설명한다.
(제 1 실시형태)
다음에, 본 실시형태의 전단 에지의 성형 가부 평가 방법에 대해, 도면을 참조하면서 설명한다.
본 실시형태의 전단 에지의 성형 가부 평가 방법은 일차 성형(예성형)된 금속판에 대한 전단 에지의 성형 가부를 평가하는 기술이다.
<구성>
본 실시형태의 성형 가부 평가 방법은 도 13에 나타내는 바와 같이, 실험 데이터 취득 공정(1), 예변형 상당 왜곡량 설정 공정(2), 성형 가능 영역 특정 공정(3), 성형 사양 데이터 취득 공정(4) 및 가부 판정 공정(5)를 구비한다.
실험 데이터 취득 공정(1)은 미리 설정한 예성형을 실시한 금속판에 대해 구멍 확대 시험을 실시한다. 구멍 확대 시험에서는 사용하는 펀치 형상 혹은 직경확대 전의 빼기 구멍의 직경을 바꿈으로써, 전단 에지에서의 직경 방향의 왜곡 구배가 다른 2종류 이상의 구멍 확대 시험을 실시한다.
데이터를 취득하기 위해 금속판에 실시하는 예성형, 및 예성형을 실시한 금속판에 대한 구멍 확대 시험은 상기의 실험 1에서 설명한 바와 같은 방법으로 실행하면 좋다. 이 경우, 구멍 확대를 실행하는 장소에 가해진 예성형에 의한 상당 왜곡량은 일정한 값으로 되도록 일차 성형하면 간편하다.
여기서, 각 구멍 확대 시험에 의해서 직경 확대한 후의 구멍의 왜곡 구배는 그 시험에 의한 성형품의 분석 혹은 별도로 실시한 성형 분석(FEM 해석 계산)에 의해서 특정한다. 또, 각 구멍 확대 시험에 의한 구멍 확대율로부터, 이차 성형에 의한 각 구멍의 전단 에지에 발생한 변형 한계 왜곡량을 구한다. 본 실시형태에서는 취득하는 변형 한계 왜곡량으로서 변형 한계 상당 왜곡량을 채용한다.
구멍 확대율 λ는 빼기 구멍 직경을 d0, 직경 확대 후의 구멍 직경을 d로 한 경우, 하기 식으로 나타낼 수 있다.
λ=((d-d0)/d0)×100
본 실시형태에서는 왜곡 구배를 구멍의 에지로부터의 반경 방향을 따른 소정 구간(예를 들면 에지에서 5mm까지의 구간)에서의 최대 주왜곡의 평균 구배로 표현한다. 또한, 본 실시형태에서는 왜곡 구배의 값은 절대값으로 표현한다.
이상의 처리에 의해서, 실험 데이터 취득 공정(1)은 전단 에지에서의 직경 방향의 왜곡 구배와 상기 예성형 후의 금속판에서의 변형 한계 상당 왜곡량으로 이루어지는 데이터로서, 왜곡 구배가 다른 복수의 데이터를 취득한다. 취득하는 위치는 사용자가 특정한다.
예변형 상당 왜곡량 설정 공정(2)은 예성형한 성형품 또는 별도로 실시한 성형 분석(FEM 해석 계산)에 의해서, 상기의 구멍 확대 시험의 구멍 확대를 실행하는 부분에 있어서의, 예성형에서 금속판에 가해진 상당 왜곡량을 예변형 상당 왜곡량으로서 취득한다. 예변형 상당 왜곡량은 상기 구멍 확대 시험시에 취득 혹은 일차 가공 조건을 설정하면 좋다.
성형 가능 영역 특정 공정(3)은 실험 데이터 취득 공정(1)이 취득한 왜곡 구배가 다른 복수의 데이터와, 예변형 상당 왜곡량 설정 공정(2)이 취득한 예변형 상당 왜곡량으로부터 왜곡 구배에 대한 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡의 관계를 구한다.
여기서, 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡은 변형 한계 상당 왜곡량과 예변형 상당 왜곡량의 합이다. 즉, 실험 데이터 취득 공정(1)에서 취득한 변형 한계 상당 왜곡량에, 예변형 상당 왜곡량 설정 공정(2)에서 취득한 예변형 상당 왜곡량을 가산하여, 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡으로 한다.
이것에 의해서, 왜곡 구배와 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡의 2개를 파라미터(변수)로 한 2이상의 데이터를 관계 생성용의 데이터로서 구할 수 있다.
그리고, 도 14와 같이 횡축에 왜곡 구배를 취하고, 종축에 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡을 취하여 구한 복수의 (왜곡 구배, 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡)의 데이터를 플롯하고, 그 플롯한 점을 연결한 선을 성형 한계선 L로 한다. 그리고, 성형 한계선 L을 경계로 하여, 그 하측의 영역을 성형 가능 영역 R로서 특정한다.
여기서, 취득하는 데이터가 2점의 데이터이면, 도 14와 같이, 그 2점을 통과하는 직선을 성형 한계선 L로 한다. 이 경우에, 예를 들면, 한쪽의 데이터는 왜곡 구배가 0.03미만으로 하고, 다른쪽의 데이터는 왜곡 구배가 0.06이상인 것이 바람직하다. 또는 이차 성형에서 발생할 가능성이 있는 왜곡 구배의 범위가 정해져 있는 바와 같으면, 그 범위의 왜곡 구배가 있는 2개의 데이터를 채용해도 좋다. 어느 경우에도 2점의 왜곡 구배 사이가 0.03이상 떨어져 있는 것이 바람직하다.
취득하는 데이터는 3데이터 이상인 것이 바람직하다. 이 경우에, 왜곡 구배가 0.03이하의 데이터, 왜곡 구배가 0.06이상의 데이터, 0.03보다 크고 또한 0.06미만의 데이터의 3개의 데이터를 포함하는 것이 바람직하다. 이와 같이 하면, 왜곡 구배가 큰 경우와 작은 경우의 경향의 차이를 가미하여 성형 한계선 L을 구하는 것이 가능하게 된다.
또, 플롯하는 데이터가 3점 이상인 경우에는 인접하는 각 점을 직선으로 연결한 선을 성형 한계선 L로 하거나, 그 복수의 데이터를 통과하는 곡선을 성형 한계선 L로 한다.
여기서, 성형 가능 영역 특정 공정(3)에서 구하는 성형 한계선 L을 (왜곡 구배, 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡)을 파라미터로 한 관계식으로서 구해도 좋다.
상기 성형 가능 영역 특정 공정(3)은 실험 데이터 취득 공정(1)이 취득한 왜곡 구배가 다른 복수의 데이터와, 예변형 상당 왜곡량 설정 공정(2)이 취득한 예변형 상당 왜곡량의 데이터를 입력하고, 상기 처리의 연산을 컴퓨터로 실행하여 상기 성형 한계선 L 및 성형 가능 영역 R의 적어도 한쪽의 정보를 아웃풋해서 생성하도록 구성해 두면 좋다. 성형 한계선 L은 식으로 하여, 그 식의 계수를 기억해 두어도 좋다.
여기서, 실험 데이터 취득 공정(1)의 구멍 확대 시험 이외의 연산 처리 부분은 FEM 해석 계산 등의 프로그램을 사용해서 컴퓨터에서 실행시키도록 해도 좋다.
이상의 처리에 의해서, 예성형에 의해서 예변형을 가한 금속판에 대한 프레스 성형에 의한 전단 에지의 성형 가부를 평가하기 위한 기초 정보의 취득이 종료한다.
성형 사양 데이터 취득 공정(4)에서는 일차 성형 및 이차 성형의 적어도 2개의 공정에서 작성되는 성형품의 성형 사양을 잠정하고, 이 잠정한 성형 사양에 대해 FEM 해석 계산을 실행하여, 예성형 후의 금속판에 대한 성형 완료 후의 전단 에지의 변형량 및 왜곡 구배를 구하는 동시에, 예성형에 의해서, 상기의 전단 에지 근방에 발생하는 상당 왜곡량을 예변형 상당 왜곡량으로서 연산한다. 이 성형 사양 데이터 취득 공정(4)에 있어서, FEM 해석 계산에 가하여, 필요에 따라 적절히 실험을 실행하여 데이터를 취득하도록 해도 좋다.
여기서, 성형품의 성형 사양에 있어서는 예변형 상당 왜곡의 크기는 예성형에 부여하는 형상에 따라 다르며, 신장 플랜지의 각 위치에 따라 다른 경우가 많기 때문에, 설정한 전단 에지마다 개별적으로 연산하는 것이 바람직하다. 예성형시에 있어서의 각 전단 에지에 발생하는 예변형 상당 왜곡의 폭이 좁은 경우에는 그 대표값을 채용해도 좋다.
가부 판정 공정(5)에서는 성형 사양 데이터 취득 공정(4)에서 구한 성형 완료 후의 전단 에지에서의 토탈의 변형량을 성형 가부 판정 대상 부위에서의 상당 왜곡량으로서 출력한다. 그리고, 그 토탈의 변형량과 왜곡 구배의 데이터 조가 성형 가능 영역 특정 공정(3)의 출력 정보에서 특정되는 성형 가능 영역 R내에 존재하는지를 판정한다. 성형 가능 영역 R내에 존재하는 경우에는 성형 가능으로 평가하고, 그렇지 않은 경우에는 성형 불가로 평가한다. 이 평가는 컴퓨터에서 자동 연산시켜도 상관없다. 그리고, 그 평가를 표시부(6)에 표시한다.
여기서, 잠정한 성형 사양에 있어서의 전단 에지 평가를 위한 취득 데이터는 1개소에 한정되지 않으며, 복수 개소의 전단 에지에서 취득하여, 각각 상기의 성형의 가부의 평가를 실행하도록 해도 좋다.
그리고, 성형 불가의 전단 에지가 존재하고 있는 경우에는 그 성형 불가의 전단 에지 근방의 사양을 변경한 잠정의 성형 사양(예성형의 사양과 예성형 후의 사양)을 다시 책정하여, 상기의 성형 사양 데이터 취득 공정(4) 및 가부 판정 공정(5)을 반복한다. 그리고, 설정한 모든 전단 에지 개소에서 성형 가능으로 된 잠정의 성형 사양으로부터, 예성형한 금속판에 대한 최종의 성형 사양을 결정한다.
여기서, 사용하는 금속판의 강종마다 성형 한계선 L을 구하여, 사용하도록 하면 좋다.
또, 상기의 성형 평가에서는 가부 판정을 예시했지만, 어느 정도 여유가 있거나, 어느 정도 변형량이 오버하고 있는지로 평가해도 좋다.
〈본 실시형태의 효과〉
본 실시형태에서는 다음과 같은 효과를 갖는다.
(1) 전단 에지에서의 왜곡 구배에 대한 예성형 후의 금속판에서의 변형 한계 상당 왜곡량의 데이터를 복수 취득하고, 그 복수의 데이터에 의거하여, 왜곡 구배에 대한 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡의 관계를 구하고, 구한 관계로부터 성형 한계선 L을 특정함으로써, 전단 에지의 성형 가능 영역 R을 특정한다. 그리고, 특정한 성형 한계선 L이나 성형 가능 영역 R에 의거하여, 잠정한 성형 사양으로부터 구해지는 전단 에지에서의 왜곡 구배에 대한 토탈의 변형량에 대해, 성형 가부를 평가한다.
이 구성에 의하면, 일차 성형(예성형) 및 이차 성형을 거쳐 형성되는 성형품에 있어서의 예성형 후에 전단되는 금속판의 재료 에지의 성형 가부를 더욱 간편하게 더욱 정밀도좋게 평가할 수 있게 된다.
즉, 금형을 몇 번이나 작성하는 일 없이, 이차 성형에 있어서의 신장 플랜지부에서의 성형 가부나 성형 여유도 등의 평가를 정밀도좋게 예측할 수 있는 결과, 깨짐 발생에 의한 불량을 조기에 예방할 수 있다.
또, 상당 왜곡으로 평가함으로써, 왜곡 형태의 차이를 고려할 필요도 없다.
<변형예>
여기서, 상기의 실시형태에서는 하나의 연속된 성형 한계선 L을 구하는 경우로 설명하고 있다. 이에 대해, 본 변형예에서는 왜곡 구배가 0.03이상 0.06이하의 기준 왜곡 구배 범위내에 기준의 왜곡 구배를 설정하여, 그 기준의 왜곡 구배를 경계로 2개의 영역으로 구분하고, 구분마다 성형 한계선 L1, L2를 구한다.
여기서, 발명자가 확인한 바로는 변형 한계 상당 왜곡량과 예변형 상당 왜곡량의 합인 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡은 왜곡 구배가 작은 경우에는 예변형 상당 왜곡량의 크기에 그다지 의존하지 않는다. 한편, 왜곡 구배가 큰 경우에는 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡은 예변형 상당 왜곡량의 증가에 수반하여 증가하는 경향에 있다. 발명자가 그 2개의 왜곡 구배의 경계에 대해 확인한 결과, 0.03∼0.06의 사이에 존재하는 것을 확인하였기 때문에, 기준 왜곡 구배 범위를 0.03이상 0.06이하로 하였다. 바람직하게는 0.04이상 0.05이하이다.
예를 들면, 각종 자동차용 프레스품에서 이차 성형에서의 신장 플랜지 성형 가부 판정이 문제로 되는 부위의 왜곡 구배를 조사한 결과, 0.03미만 또는 0.06이상으로 크게 나뉘었다.
또, 구멍 직경에도 의하지만, 대부분의 케이스에서, 원추 구멍 확대 시험에서는 왜곡 구배가 0.06이상, 원통 구멍 확대 시험에서 왜곡 구배가 0.03미만이 된다.
이상으로부터, 경계로 되는 기준의 왜곡 구배를 상기 범위로 하였다.
본 변형예에서의 평가 방법에 대해, 상세하게 설명한다.
우선, 0.03이상 0.06이하의 기준 왜곡 구배 범위로부터, 기준의 왜곡 구배를 선택한다. 본 실시형태에서는 예를 들면 기준의 왜곡 구배로서 0.05를 설정한다.
그리고, 왜곡 구배가 기준의 왜곡 구배 미만의 제 1 영역과, 왜곡 구배가 기준의 왜곡 구배 이상의 제 2 영역의 2개로 구분한다.
실험 데이터 취득 공정(1)에서는 상기와 마찬가지로, 전단 에지에서의 직경 방향의 왜곡 구배와 상기 예성형 후의 금속판에 대한 변형 한계 상당 왜곡량을 파라미터로 한 왜곡 구배가 다른 복수의 데이터를 취득한다. 단, 복수의 데이터로서, 기준의 왜곡 구배보다 작은 왜곡 구배로 이루어지는 2이상의 제 1 데이터와, 상기 기준으로 되는 왜곡 구배보다 큰 왜곡 구배로 이루어지는 2이상의 제 2 데이터를 개별적으로 취득한다.
그리고, 제 1 데이터 및 제 2 데이터마다 예변형 상당 왜곡량 설정 공정(2) 및 성형 가능 영역 특정 공정(3)을 실시한다.
이것에 의해서, 성형 가능 영역 특정 공정(3)의 아웃풋으로서, 왜곡 구배가 기준의 왜곡 구배 미만의 제 1 영역을 대상으로 하는 제 1 성형 한계선 L1 및 제 1 성형 가능 영역 R1의 적어도 한쪽으로 이루어지는 제 1 정보와, 왜곡 구배가 기준의 왜곡 구배 이상의 제 2 영역을 대상으로 하는 제 2 성형 한계선 L2 및 제 2 성형 가능 영역 R2의 적어도 한쪽으로 이루어지는 제 2 정보를 얻는다(도 15 참조).
그리고, 성형 사양 데이터 취득 공정(4)에서는 상기와 마찬가지로, 일차 성형 및 이차 성형이 실행되어 작성되는 성형품의 성형 사양을 잠정하고, 이 잠정한 성형 사양에 대해 FEM 해석 계산을 실행하여, 예성형 후의 금속판에 대한 성형 완료 후의 전단 에지의 변형량 및 왜곡 구배를 구하는 동시에, 예성형에 의해서, 상기의 전단 에지 근방에 발생하는 상당 왜곡량을 예변형 상당 왜곡량으로서 연산한다. 즉, 프레스 성형에 의해서 대상으로 하는 전단 에지에 발생하는 왜곡 구배를 성형품 혹은 성형 분석에 의해 추정한다.
그리고, 가부 판정 공정(5)에서는 성형 사양 데이터 취득 공정(4)에서 구한 성형 완료 후의 전단 에지의 변형량을 성형 가부 판정 부위에서의 상당 왜곡량으로서 구하고, 그 구한 변형량과 왜곡 구배의 데이터 조가 성형 가능 영역 특정 공정(3)의 출력 정보에서 특정되는 성형 가능 영역내에 존재하는지를 판정한다. 이 때, 대상으로 하는 왜곡 구배가 제 1 영역의 경우에는 제 1 정보를 사용하여 가부 판정을 실행하고, 대상으로 하는 왜곡 구배가 제 2 영역의 경우에는 제 2 정보를 사용하여 가부 판정을 실행한다.
그 밖의 구성이나 처리 등은 상기 제 1 실시형태와 마찬가지이다.
본 변형예의 평가 방법의 효과는 제 1 실시형태와 마찬가지이지만, 왜곡 구배에 따라 2개의 영역으로 나누어 평가하고 있다. 이 때문에, 왜곡 구배가 큰 경우와 작은 경우의 경향 차이를 고려하여 평가하는 것이 가능하게 된다.
(제 2 실시형태)
다음에, 제 2 실시형태에 대해 도면을 참조하여 설명한다. 제 1 실시형태와 마찬가지의 구성에 대해서는 동일한 부호를 붙여 설명한다.
본 실시형태의 성형 가부 평가 방법은 도 16에 나타내는 바와 같이, 예성형 없음에서의 실험 데이터 취득 공정(7), 예성형 없음에서의 성형 가능 영역 특정 공정(8), 예성형 후로의 변환 공정(9), 성형 사양 데이터 취득 공정(4) 및 가부 판정 공정(5)을 구비한다.
예성형 없음에서의 실험 데이터 취득 공정(7)에서는 예성형 없음에서의 금속판(예성형 전의 금속판)에 대해 구멍 확대 시험을 실행하여, 전단 에지에서의 직경 방향의 왜곡 구배와 상기 금속판에 대한 변형 한계 상당 왜곡량을 파라미터로 한 왜곡 구배가 다른 복수의 데이터를 구한다.
예성형 없음에서의 성형 가능 영역 특정 공정(8)은 예성형 없음에서의 실험 데이터 취득 공정(7)이 구한 복수의 데이터로부터, 예성형 없음에서의 금속판에 대한, 왜곡 구배에 대한 변형 한계 상당 왜곡량의 관계를 구한다.
예를 들면, 복수의 데이터에 의거하여, 도 17과 같이 횡축에 왜곡 구배를 취하고, 종축에 변형 한계 상당 왜곡을 취하여, 구한 복수의 (왜곡 구배, 변형 한계 상당 왜곡)의 데이터를 플롯하고, 그 플롯한 점을 연결한 선을 예성형 없음에서의 성형 한계선 L0으로 한다.
이 예성형 없음에서의 성형 한계선 L0은 일본특허공보 제4935713호에 기재된 방법에 의해서 구해도 상관없다. 이 예성형 없음에서의 성형 한계선 L0에 의해서, 예성형 없음에서의 성형 가능 영역이 특정된다.
예성형 후로의 변환 공정(9)에서는 왜곡 구배를 파라미터로 한 상기 예성형 없음에서의 성형 한계선 L0에 대해, 예성형 없음에서의 변형 한계 상당 왜곡을 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡 상당으로 변환하기 위한 환산값 k1, k2를 각 영역마다 가산하여, 예성형 후의 금속판에 있어서의 전단 에지에서의 왜곡 구배에 대한 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡에 대응하는 예성형 있음에서의 성형 한계선 Lx를 구한다.
여기서, 제 1 실시형태와 마찬가지로, 예성형에서 금속판에 가해진 상당 왜곡량을 예변형 상당 왜곡량으로 정의하고, 그 예변형 상당 왜곡량과 예성형 후의 금속판에서의 변형 한계 상당 왜곡량의 합을 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡으로 정의한다.
그리고, 예성형 후에의 변환 공정(9)에서 구한 예변형 있음에서의 성형 한계선 Lx이하의 영역을 성형 가능 영역 R로 한다.
상기의 환산값 k1, k2는 왜곡 구배를 변수로 한 값이며, 기준의 왜곡 구배 이상의 왜곡 구배일 때의 환산값 k2가 기준의 왜곡 구배 미만의 왜곡 구배일 때의 환산값 k1보다 커지도록 설정한다.
이것은 상기의 지견에 의거하여, 왜곡 구배가 큰 경우, 왜곡 구배가 작은 경우보다 예성형의 증가에 의해서 증가하는 경향이 있는 것을 고려한 것이다.
기준의 왜곡 구배는 상술한 바와 마찬가지로, 0.03이상 0.06이하의 기준 왜곡 구배 범위내로부터 선택한다. 본 실시형태에서는 예를 들면 기준의 왜곡 구배로서 0.05를 설정한다.
성형 사양 데이터 취득 공정(4)에서는 일차 성형 및 이차 성형이 실행되어 작성되는 성형품의 성형 사양을 잠정하고, 이 잠정한 성형 사양에 대해 FEM 해석 계산을 실행하여, 예성형 후의 금속판에 대한 성형 완료 후의 전단 에지의 변형량 및 왜곡 구배를 구하는 동시에, 예성형에 의해서, 상기의 전단 에지 근방에 발생하는 변형 상당 왜곡량을 예변형 상당 왜곡량으로서 연산한다.
가부 판정 공정(5)에서는 성형 사양 데이터 취득 공정(4)에서 구한 성형 완료 후의 전단 에지의 변형량을 성형 가부 판정 부위에서의 상당 왜곡량으로서 구하고, 그 구한 변형량과 왜곡 구배의 데이터 조가 예성형 후에의 변환 공정(9)의 출력 정보에서 특정되는 성형 가능 영역 R내에 존재하는지를 판정한다. 성형 가능 영역 R내에 존재하는 경우에는 성형 가능으로 평가하고, 그렇지 않은 경우에는 성형 불가로 평가한다.
여기서, 성형 사양 데이터 취득 공정(4) 및 가부 판정 공정(5)의 처리는 제 1 실시형태와 마찬가지의 처리로 상관없다.
<환산값에 대해>
이 환산값 k1, k2는 기준의 왜곡 구배를 경계로 한 각 왜곡 구배의 영역내로부터 대표점을 임의로 설정하고, 그 대표점에 있어서, 각각의 예변형 없음에서의 성형 한계값과 예성형 있음에서의 성형 한계값을 실험 등에서 구하여, 그 차를 각 영역에서의 각 환산값 k1, k2로 해도 좋다.
다음에, 별도의 환산값의 결정 방법의 예를 설명한다.
성형 사양 데이터 취득 공정(4)으로부터, 평가하는 전단 에지 위치에서의 예성형에 의한 변형 상당 왜곡량을 취득하는 동시에, 그 전단 에지의 왜곡 구배를 취득한다.
그리고, 취득한 왜곡 구배가 기준 왜곡 구배 미만의 경우에는 취득한 변형 상당 왜곡량에 대해 α=-0.5∼0.5의 범위에서 선택한 계수를 승산하여 환산값으로 한다. 또, 취득한 왜곡 구배가 기준 왜곡 구배 이상인 경우에는 취득한 변형 상당 왜곡량에 대해 β= 0.5∼1.0의 범위에서 선택한 계수를 승산하여 환산값으로 한다.
즉,
k1=α×εeq1
k2=β×εeq1
로 된다.
단, εeq1은 예변형 상당 왜곡량이다.
그리고, 가부 판정 공정(5)은 평가하는 왜곡 구배에 대해, 구한 환산값을 사용해서 예성형 있음에서의 성형 한계값을 특정하여, 성형 가능 영역 R내에 존재하는지를 판정한다.
여기서, 성형품 작성시에 있어서의 예성형시의 변형 상당 왜곡량이 일정한 경우에는 그 일정한 예성형시의 변형 상당 왜곡량에 대해, α=-0.5∼0.5의 범위에서 선택한 계수를 승산하여, 기준 왜곡 구배 미만의 왜곡 구배에 대한 환산값으로 하고, 일정한 예성형시의 변형 상당 왜곡량에 대해, β=0.5∼1.0의 범위에서 선택한 계수를 승산하여, 기준 왜곡 구배 이상의 왜곡 구배에 대한 환산값으로서, 미리 결정한다.
본 실시형태는 간이한 평가 방법이므로, 상기 범위내로부터 임의의 값을 선택해서 사용해도 좋지만, 더욱 정밀도를 올리기 위해서는 다음과 같이 하여 계수 α, β의 결정을 실행한다.
여기서, α, β는 다음식에서 결정하는 것이 좋다.
α=1-R
β=1-R
예를 들면, 표 2에 나타낸 바와 같은 「이차 성형에서의 변형 한계 저하량/예변형량」= R의 비에 의해서 상기의 승산하는 계수를 결정하면 좋다. 표 2에서는 예를 들면, 「왜곡 구배 소」의 경우가 취득한 왜곡 구배가 기준 왜곡 구배 미만의 경우에 상당하고, 「왜곡 구배 대」의 경우가 취득한 왜곡 구배가 기준 왜곡 구배 이상의 경우에 상당한다.
본 실시형태에서는 예성형 없음에서 취득한 실험 데이터로부터 간이하게 전단 에지의 성형 가부를 평가하는 것이 가능하게 된다.
이 경우, 성형 한계선의 정밀도가 제 1 실시형태보다 낮을 우려가 있다.
여기서, 전체의 실시형태에 있어서, 예성형시의 예변형 상당 왜곡량을 성형 사양에서 변경 가능한 경우에는 예변형 상당 왜곡량측도 변경함으로써, 최종적인 성형 사양을 구하는 것도 가능하다.
이상, 본원이 우선권을 주장하는 일본국 특허출원 2015-95861(2015년 5월 8일 출원)의 전체 내용은 참조에 의해 본 개시의 일부를 이룬다.
여기서는 한정된 수의 실시형태를 참조하면서 설명했지만, 권리 범위는 그들에 한정되는 것은 아니며, 상기의 개시에 의거하는 각 실시형태의 개조변경은 해당 업자에게 있어서 자명한 것이다.
1; 실험 데이터 취득 공정
2; 예변형 상당 왜곡량 설정 공정
3; 성형 가능 영역 특정 공정
4; 성형 사양 데이터 취득 공정
5; 가부 판정 공정
6; 표시부
7; 예성형 없음에서의 실험 데이터 취득 공정
8; 예성형 없음에서의 성형 가능 영역 특정 공정
9; 예성형 후로의 변환 공정
k1, k2; 환산값
L; 성형 한계선
L0; 예성형 없음에서의 성형 한계선
L1, L2; 성형 한계선
Lx; 성형 한계선
R; 성형 가능 영역
R1; 성형 가능 영역
R2; 성형 가능 영역

Claims (6)

  1. 예성형에 의해서 예변형을 가한 금속판에 대한 프레스 성형에 의한 전단 에지의 성형 가부를 평가하는 평가 방법으로서,
    예성형 후의 금속판에 대한 구멍 확대 시험에 의해서 전단 에지에서의 변형 한계를 구하고, 구한 전단 에지에서의 변형 한계량을 변형 한계 상당 왜곡량으로 표현하여, 전단 에지에서의 직경 방향의 왜곡 구배에 대한 상기 구멍 확대 시험에 의해서 구한 변형 한계 상당 왜곡량으로 이루어지는 데이터로서, 왜곡 구배가 다른 복수의 데이터를 취득하고,
    상기 예성형에서 상기 금속판에 가해지는 상당 왜곡량을 예변형 상당 왜곡량으로 정의하고, 그 예변형 상당 왜곡량과 상기 예성형 후의 금속판에서의 변형 한계 상당 왜곡량의 합을 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡으로 정의하고,
    상기 예변형 상당 왜곡량과 상기 복수의 데이터에 의거하여, 왜곡 구배에 대한 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡의 관계를 구하고,
    상기 구한 관계로부터 전단 에지의 성형 가능 영역을 특정하여, 예성형에 의해서 예변형을 가한 금속판에 대한 전단 에지의 성형 가부를 평가하는 것을 특징으로 하는 전단 에지의 성형 가부 평가 방법.
  2. 예성형에 의해서 예변형을 가한 금속판에 대한 프레스 성형에 의한 전단 에지의 성형 가부를 평가하는 평가 방법으로서,
    예성형 후의 금속판에 대한 구멍 확대 시험에 의해서 전단 에지에서의 변형 한계를 구하고, 구한 전단 에지에서의 변형 한계량을 변형 한계 상당 왜곡량으로 표현하여, 전단 에지에서의 직경 방향의 왜곡 구배에 대한 상기 구멍 확대 시험에 의해서 구한 변형 한계 상당 왜곡량으로 이루어지는 복수의 데이터를 취득하고,
    상기 복수의 데이터는 미리 설정한 기준의 왜곡 구배보다 작은 왜곡 구배로 이루어지는 2이상의 제 1 데이터와, 상기 기준의 왜곡 구배보다 큰 왜곡 구배로 이루어지는 2이상의 제 2 데이터를 갖고,
    상기 예성형에서 상기 금속판에 가해지는 상당 왜곡량을 예변형 상당 왜곡량으로 정의하고, 그 예변형 상당 왜곡량과 상기 예성형 후의 금속판에서의 변형 한계 상당 왜곡량의 합을 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡으로 정의하고,
    상기 예변형 상당 왜곡량과 상기 2이상의 제 1 데이터에 의거하여, 왜곡 구배에 대한 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡의 관계인 제 1 관계를 구하고,
    상기 예변형 상당 왜곡량과 상기 2이상의 제 2 데이터에 의거하여, 왜곡 구배에 대한 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡의 관계인 제 2 관계를 구하고,
    상기 프레스 성형에 의해서 대상으로 하는 전단 에지에 발생하는 왜곡 구배를 추정하고,
    상기 추정한 왜곡 구배가 상기 기준의 왜곡 구배 미만인 경우에는 상기 제 1 관계에 의해서 전단 에지의 제 1 성형 가능 영역을 특정하여 프레스 성형에 의한 전단 에지의 성형 가부를 평가하고, 상기 추정한 왜곡 구배가 상기 기준의 왜곡 구배 이상인 경우에는 상기 제 2 관계에 의해서 전단 에지의 제 2 성형 가능 영역을 특정하여 프레스 성형에 의한 전단 에지의 성형 가부를 평가하는 것을 특징으로 하는 전단 에지의 성형 가부 평가 방법.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 기준의 왜곡 구배는 0.03이상 0.06이하의 범위에서 선택하는 것을 특징으로 하는 전단 에지의 성형 가부 평가 방법.
  4. 예성형에 의해서 예변형을 가한 금속판에 대한 프레스 성형에 의한 전단 에지의 성형 가부를 평가하는 평가 방법으로서,
    예성형 없음에서의 금속판에 대한 구멍 확대 시험에 의해서 전단 에지에서의 변형 한계를 구하고, 구한 전단 에지에서의 변형 한계량을 변형 한계 상당 왜곡량으로 표현하여, 상기 예성형 없음에서의 금속판에 있어서의, 전단 에지에서의 직경 방향의 왜곡 구배에 대한 상기 구멍 확대 시험에 의해서 구한 변형 한계 상당 왜곡량으로 이루어지는 데이터로서, 왜곡 구배가 다른 복수의 데이터를 취득하고,
    상기 복수의 데이터로부터, 상기 예성형 없음에서의 금속판에 있어서의 왜곡 구배에 대한 예성형 없음에서의 변형 한계 상당 왜곡량의 관계인 예성형 없음에서의 관계를 구하고,
    예성형에서 상기 금속판에 가해지는 상당 왜곡량을 예변형 상당 왜곡량으로 정의하고, 그 예변형 상당 왜곡량과 상기 예성형 후의 금속판에서의 변형 한계 상당 왜곡량의 합을 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡으로 정의하고,
    상기 구한 예성형 없음에서의 관계에 있어서의 변형 한계 상당 왜곡량을 상기 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡 상당으로 변환하기 위한 환산값을 해당 변형 한계 상당 왜곡량에 가산하여, 왜곡 구배에 대한 신장 플랜지 변형 한계 상당 왜곡의 관계인 예성형 있음에서의 관계를 구하고,
    상기 구한 예성형 있음에서의 관계로부터 전단 에지의 성형 가능 영역을 특정하여, 예성형에 의해서 예변형을 가한 금속판에 대한 전단 에지의 성형 가부를 평가하는 것을 특징으로 하는 전단 에지의 성형 가부 평가 방법.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 환산값으로서, 미리 설정한 기준의 왜곡 구배 이상인 경우의 환산값을 상기 기준의 왜곡 구배 미만인 경우의 환산값보다 큰 값으로 설정하는 것을 특징으로 하는 전단 에지의 성형 가부 평가 방법.
  6. 제 4 항 또는 제 5 항에 있어서,
    상기 환산값은 미리 설정한 기준의 왜곡 구배 미만인 경우, 평가하는 전단 에지에서의 상기 예변형 상당 왜곡량의 -0.5배 이상 0.5배 이하의 범위에서 선택한 값을 환산값으로 하고, 상기 기준의 왜곡 구배 이상인 경우, 평가하는 전단 에지에서의 상기 예변형 상당 왜곡량의 0.5배 이상 1.0배 이하의 범위에서 선택한 값을 환산값으로 하는 것을 특징으로 하는 전단 에지의 성형 가부 평가 방법.
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