KR20170122649A - 디스플레이 유닛을 검사하기 위한 기술 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 디스플레이 유닛을 검사하기 위한 방법 및 장치에 관한 것이다. 본 발명의 방법에 대한 태양은 다음의 단계를 포함한다. 광 검출기 매트릭스를 포함하는 적어도 하나의 센서 장치를 제공하고, 광 검출기 매트릭스는 제1 방향의 제1 개수의 광 검출기 및 제1 방향에 수직인 제2 방향의 제2 개수의 광 검출기를 포함한다. 광 검출기의 출력 신호의 검출 하에 검사될 디스플레이 유닛을 적어도 하나의 센서 장치에 대해 이동시킨다. 검출된 출력 신호에 기초하여 디스플레이 유닛을 검사한다. 상술된 방법에 상응하게, 상기 방법을 실행하도록 설치되는 장치가 또한 개시된다.
Description
본 발명은 일반적으로 디스플레이 유닛을 검사하는 분야에 관한 것이다. 구체적으로는, 디스플레이 유닛을 검사하기 위한 장치 및 방법이 제공된다.
예를 들어 (O)LED 및 LC-디스플레이와 같은 디스플레이 유닛은 다양한 분야에서 사용되며, 대부분 자동화식으로 제작된다. 예를 들어, 이러한 디스플레이 유닛은 점점 더 자동차에 설치되고 있다.
일반적으로 디스플레이 유닛의 제조업체의 목표는 결함이 없는 실행 가능한 디스플레이 유닛을 자동화식으로 제작하고 고품질을 보장하는 것이다. 제작 공정 중에는 예를 들어 처리된 재료의 품질 또는 설정값에 대한 작은 편차가 발생하는 제작의 부분 공정과 같이 다양한 인자가 변화될 수 있다. 결함이 있는 재료의 처리 또는 에러가 있는 부분 공정은 디스플레이 유닛의 결함을 야기하거나 또는 심지어 완전한 장애를 야기할 수도 있다.
따라서 생산 에러를 방지하기 위해 재료를 선택할 때 이미 많은 주의가 취해진다. 또한 부분 공정들은 연속적인 품질 제어를 받는다. 또한 기성품의 디스플레이 유닛은 인도 전에 검사가 행해진다. 검사는 종종 직원의 검토와 평가를 통해 수행된다. 여기서 직원에 의한 검사는 디스플레이 유닛 상에 미리 결정된 패턴이 디스플레이되는 동안 수행될 수 있다. 사람의 눈은 한정된 해상도를 갖기 때문에, 특정 에러는 거의 감지될 수 없거나 또는 전혀 감지될 수 없으므로, 이러한 에러가 발견되지 않고 남아있을 수 있다.
US 2011/0221784 A1호는 픽셀을 갖는 디스플레이와 연결된 검사 장치를 개시한다. 검사 장치는 픽셀을 측정하는 측정 유닛을 포함한다. 측정된 휘도값은 제어 장치에 의해 대응하는 전압값으로 변환된다. 또한, 휘도값과 목표 휘도값을 비교함으로써, 픽셀의 전압값은 목표 휘도값에 도달하도록 그에 상응하게 변화될 수 있다. 그에 상응하게 제어 장치는 전원 공급 장치와 연결되고, 전원 공급 장치는 다시 디스플레이와 연결된다.
US 6,111,424호에는 적외선 카메라로 결함 픽셀을 검출하는 방법이 기재되어 있다. 적외선 카메라는 상응하는 전기적 신호에 응답하는 픽셀의 열 특성을 기록하고 분석하도록 형성된다. 균일한 전기적 신호에 대응하여 무결함 픽셀은 균일하게 가열되어 균일한 적외선 화상을 제공한다. 결함이 있는 픽셀은 균일하게 가열되지 않고 무결함 픽셀과 다른 온도에 도달하므로, 결함이 있는 픽셀은 적외선 카메라에 의해 검출될 수 있다.
본 발명은 디스플레이 유닛의 자동화된 검사를 위한 방법 및 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
제1 태양에 따르면, 디스플레이 유닛을 검사하기 위한 방법이 개시된다. 상기 방법에서 광 검출기 매트릭스를 포함하는 적어도 하나의 센서 장치를 제공하고, 광 검출기 매트릭스는 제1 방향의 제1 개수의 광 검출기 및 제1 방향에 수직인 제2 방향의 제2 개수의 광 검출기를 포함한다. 광 검출기의 출력 신호의 검출 하에 검사될 디스플레이 유닛을 적어도 하나의 센서 장치에 대해 이동시킨다. 검출된 출력 신호에 기초하여 디스플레이 유닛을 검사한다.
디스플레이 유닛이 고정되고 적어도 하나의 센서 장치가 이동되거나 또는 센서 장치가 고정되고 디스플레이 유닛이 이동되는 방식으로 상대적 이동이 수행될 수 있다. 상대적 이동은 또한 디스플레이 유닛 및 센서 장치의 이동을 포함할 수도 있다. 검사될 디스플레이 유닛은 광 검출기의 출력 신호의 검출 하에 실질적으로 제2 방향을 따라 이동될 수 있다. 대안적으로, 검사될 디스플레이 유닛은 실질적으로 제1 방향을 따라 또는 제1 방향과 제2 방향 사이의 방향을 따라(즉, 제1 및 제2 방향에 대해 경사지게) 이동될 수 있다.
센서 장치는 예를 들어 CCD-칩 또는 포토 레지스터(photoresistor) 매트릭스와 같은 광 검출기를 포함하는 당업자에게 알려진 임의의 유형의 광학적 감응성 장치일 수 있다.
제1 개수의 광 검출기는 제2 개수의 광 검출기보다 더 클 수 있다. 제1 개수의 광 검출기는 제1 방향으로 적어도 1000, 1500 또는 2000 인치당 도트(DPI)의 해상도를 보장할 수 있다. 제2 개수 및/또는 상대적 이동(필요한 경우, 광 검출기의 판독 주파수와 조합됨)은 제2 방향으로 적어도 1000, 1500 또는 2000 DPI의 해상도를 보장할 수 있다.
상기 방법에서는, 디스플레이 유닛이 적어도 하나의 센서 장치에 대해 이동하는 동안 디스플레이 유닛이 제어될 수 있다. 디스플레이 유닛의 제어는 적어도 하나의 센서 장치에 대한 이동 및/또는 위치에 따라 행해질 수 있다. 디스플레이 유닛은 복수의 디스플레이 요소를 포함할 수 있고, 디스플레이 요소는 적어도 하나의 센서 장치에 대한 디스플레이 유닛의 이동 및/또는 위치에 따라 제어될 수 있다.
디스플레이 요소는 픽셀 또는 표면 요소(surface element)일 수 있다. 각 픽셀은 2개 이상의 서브픽셀을 포함할 수 있다. 서브픽셀은 상이한 파장을 갖는 광(예를 들어, 적색, 녹색 및 청색 광)을 발광하도록 형성될 수 있다.
디스플레이 유닛은 제1 방향의 제3 개수의 디스플레이 요소 및 제2 방향의 제4 개수의 디스플레이 요소를 갖는 디스플레이 요소 매트릭스를 포함할 수 있다. 여기서 제4 개수는 제3 개수보다 더 클 수 있거나, 또는 제1 개수는 적어도 제3 개수에 상응할 수 있고, 제2 개수는 제4 개수보다 더 작을 수 있다.
또한, 적어도 하나의 온도 센서 장치에는 온도 검출기가 제공될 수 있다. 검사될 디스플레이 유닛은 온도 검출기의 출력 신호의 검출 하에 적어도 하나의 온도 센서 장치에 대해 이동될 수 있다. 검출된 출력 신호에 기초하여 디스플레이 유닛이 검사된다. 적어도 하나의 온도 센서 장치는 제1 방향을 따르는 제1 개수의 온도 검출기 및 제2 방향을 따르는 제2 개수의 온도 검출기를 포함할 수 있다. 여기서 제2 개수의 온도 검출기는 제1 개수의 온도 검출기보다 더 클 수 있다. 제1 개수의 온도 검출기는 제1 개수의 광 검출기에 대응할 수 있고, 제2 개수의 온도 검출기는 제2 개수의 광 검출기 이하일 수 있다. 온도 검출기는 열전쌍 또는 방사선 센서(볼로메트릭 또는 초전성 검출기)일 수 있다.
제2 태양에 따르면, 디스플레이 유닛을 검사하기 위한 장치가 개시된다. 상기 장치는 검사될 디스플레이 유닛을 수용하도록 형성된 수용 장치, 및 제1 광 검출기 매트릭스를 포함하는 제1 센서 장치를 포함하고, 제1 광 검출기 매트릭스는 제1 방향의 제1 개수의 광 검출기 및 제1 방향에 수직인 제2 방향의 제2 개수의 광 검출기를 포함한다. 또한 상기 장치는 수용 장치에 대해 제1 센서 장치를 이동시키도록 제1 센서 장치 및/또는 수용 장치와 결합된 이송 장치 및 광 검출기의 출력 신호에 기초하여 수용된 디스플레이 유닛을 검사하기 위한 검사 장치를 포함한다.
상기 장치는 수용된 디스플레이 유닛을 제1 센서 장치에 대한 이동 및/또는 위치에 따라 제어하기 위한 제어 장치를 더 포함할 수 있다. 제어 장치는 디스플레이 유닛의 제어를 이송 장치의 속도와 동기화시키도록 형성될 수 있다. 또한 디스플레이 유닛은 복수의 디스플레이 요소를 포함하고, 제어 장치는 제1 센서 장치의 영역에 현재 위치하는 디스플레이 유닛의 제1 디스플레이 요소를 선택적으로 제어하거나 또는 제어하지 않도록 형성될 수 있다. 하나 이상의 제2 디스플레이 요소는 제1 디스플레이 요소와 다르게 제어될 수 있다. 이는 제1 디스플레이 요소가 제어될 때, 제2 디스플레이 요소를 비-제어하는 것을 포함한다.
상기 장치는 제2 광 검출기 매트릭스를 포함하는 제2 센서 장치를 포함할 수 있고, 제2 광 검출기 매트릭스는 제1 방향의 제3 개수의 광 검출기 및 제2 방향의 제4 개수의 광 검출기를 포함할 수 있다. 특히, 제3 개수는 제4 개수보다 더 클 수 있다. 또한, 제2 센서 장치는 제2 방향을 따라 제1 센서 장치에 대해 오프셋되어 배치될 수 있다. 제어 장치는 제2 센서 장치의 영역에 현재 위치하는 디스플레이 유닛의 제2 디스플레이 요소를 선택적으로 제1 디스플레이 요소와 상이하게 제어할 수 있다(제1 디스플레이 요소가 제어될 때, 제2 디스플레이 요소를 비-제어하는 것을 포함).
상기 장치는 제3 광 검출기 매트릭스를 포함하는 제3 센서 장치를 더 포함할 수 있고, 제3 광 검출기 매트릭스는 제1 방향의 제5 개수의 광 검출기 및 제2 방향의 제6 개수의 광 검출기를 포함할 수 있다. 특히, 제5 개수는 제6 개수보다 더 클 수 있다. 센서 장치는 제2 방향을 따라 제1 및 제2 센서 장치에 대해 오프셋되어 배치될 수 있다. 제어 장치는 제3 센서 장치의 영역에 현재 위치하는 디스플레이 유닛의 제3 디스플레이 요소를 선택적으로 제1 디스플레이 요소 및/또는 제2 디스플레이 요소와 상이하게 제어할 수 있다(제1 디스플레이 요소 및/또는 제2 디스플레이 요소가 제어될 때, 제3 디스플레이 요소를 비-제어하는 것을 포함).
제1, 제2 및 제3 디스플레이 요소 중 적어도 하나의 디스플레이 요소의 제어는 미리 결정된 전압 레벨, 컬러, 광 강도, 회색 음영(shade of gray), 명암 또는 다른 패턴 및/또는 미리 결정된 구동 주파수로 디스플레이 요소를 구동 제어하는 것을 포함할 수 있다. 제어는 디스플레이 요소의 정적인 또는 시간적으로 가변적인 제어를 포함할 수 있다.
제1, 제2 및 제3 센서 장치는 상이한 광 특성(예를 들어, 상이한 파장 범위, 특히 컬러)을 검출하도록 형성될 수 있다. 센서 장치에 의해 검출될 수 있는 광은 적외선 범위 및/또는 자외선 범위의 광 및/또는 가시광 및/또는 편광된 광일 수 있다. 이를 위해, 적어도 하나의 필터가 하나 이상의 센서 장치의 광 검출기 이전에 각각 위치될 수 있다. 필터는 편광 필터 또는 컬러 필터를 포함할 수 있지만, 보정 필터 또는 변환 필터를 포함할 수도 있다.
구체적으로는 디스플레이 요소 또는 일반적으로는 디스플레이 유닛의 제어는 무선으로 (예를 들어, WLAN 또는 블루투스를 통해) 또는 적어도 하나의 케이블 접속을 통해 행해질 수 있다. 이를 위해, 디스플레이 유닛에 존재하는 수신 유닛 및 제어 장치에 존재하는 송신 유닛이 제공될 수 있다. 제어 장치에 존재하는 송신 유닛은 무선 또는 케이블에 의해 디스플레이 유닛의 수신 유닛과 차례로 연결될 수 있다.
적어도 제1 센서 장치는 라인 센서일 수 있고, 여기서 제2 개수는 1이다. 원하는 해상도 이외에, 적어도 제1 센서 장치의 제1 개수의 광 검출기는 또한 검사될 디스플레이 유닛의 길이 및/또는 사전 설정된 상대적 이동(예를 들어, 사전 설정된 이송 속도)에 의존할 수 있다. 제2 및/또는 제3 센서 장치는 마찬가지로 각각 라인 센서일 수 있고, 여기서 제2 개수는 1이다. 제1 및/또는 제2 개수는 이송 장치에 대한 디스플레이 유닛의 사전 설정된 상대적 이동에 상응하게 선택될 수 있다. 제1, 제2, 및 필요한 경우 제3 센서 장치는 각각 개별 장치로서 또는 제1, 제2 및 필요한 경우 제3 센서 장치를 포함하는 집적된 장치로서 형성될 수 있다.
수용 장치는 수용 장치가 그 안에 또는 그 위에 배치될 수 있는, 개구부를 갖는 트레이 또는 프레임일 수 있거나 또는 이를 포함할 수 있다. 수용 장치는 이송 장치에 의해 이동되는 벨트, 특히 무단 벨트일 수 있거나 또는 이를 포함할 수 있다. 대안적으로, 수용 장치는 이송 장치와 결합되지 않을 수 있다. 예를 들어, 수용 장치는 고정식으로 형성될 수 있다. 또한, 이송 장치는 적어도 하나의 센서 장치와 결합될 수 있다.
이송 장치는 디스플레이 유닛을 다시 검사할 수 있도록, 수용 장치를 디스플레이 유닛의 제1 검사 후 이동 방향과 반대 방향으로 이동시키도록 형성될 수 있다. 이동 방향 및 이동 방향과 반대 방향의 이송 속도는 동일하거나 또는 다르게 설정될 수 있다. 새로운 검사의 경우, 디스플레이 유닛은 제어 장치에 의해 다르게 또는 동일하게 제어될 수 있다.
검사 결과에 기초하여 디스플레이 유닛은 캘리브레이션(calibration)될 수 있다. 캘리브레이션은 검사될 디스플레이 유닛의 컬러 및/또는 휘도 캘리브레이션을 포함할 수 있다. 디스플레이 유닛의 캘리브레이션은 제어 장치에 의해 또는 다른 방법으로 행해질 수 있다.
수용 장치는 수용된 디스플레이 유닛(즉, 그 활성 측면)이, 장치가 배치되어 있는 베이스 영역(예를 들어, 공간의 바닥)에 대면하도록 형성될 수 있다. 이러한 경우 적어도 제1 센서 장치는 수용 장치와 베이스 영역 사이에 배치될 수 있다. 대안적으로, 디스플레이 유닛은 적어도 하나의 센서 장치와 베이스 영역 사이에 배치될 수 있다.
디스플레이 유닛은 복수의 디스플레이 요소를 포함하고, 검사 장치는 디스플레이 요소 에러를 검출하도록 형성될 수 있다. 디스플레이 요소 에러는 제어 성능의 결여, 명암 패턴의 부정확한 재생 및 컬러 에러를 포함할 수 있다. 검사 장치는 추가적으로 또는 대안적으로 디스플레이 유닛의 기계적 에러(예를 들어, 내포물(inclusions) 및 변형)를 검출하도록 형성될 수도 있다.
기본 컬러를 갖는 디스플레이 요소, 특히 서브픽셀을 제어하는 것 외에도, 기본 컬러의 특정 비율로 이루어지는 다양한 혼합 컬러를 검사할 수 있다. 이에 대응되게, 검사 장치는 예를 들어 서브픽셀에 대한 결론을 이끌어낼 수 있도록, 혼합 컬러를 광 검출기의 검출된 신호로서 검사하거나 또는 혼합 컬러 내의 기본 컬러의 상응하는 비율을 검사할 수 있다.
상기 장치는 디스플레이 유닛을 조명하도록 적어도 하나의 조명 장치를 더 포함할 수 있다. 조명 장치는 특정 광 특성을 갖는 광(예를 들어, 적외선 파장 범위 또는 편광된 광)을 발광하도록 형성될 수 있다. 이러한 목적을 위해, 조명 장치는 하나 이상의 필터를 포함할 수 있다.
조명 장치는 적외선 광으로 디스플레이 유닛을 조명할 수 있다. 추가적으로 또는 대안적으로, 적어도 제1 센서 장치는 적외선에서 감응성을 가질 수 있다. 검사 장치는 광 검출기에 의해 검출된 적외선 광에 기초하여 디스플레이 유닛 내의 내포물(예를 들어, 디스플레이 스택 내의 내포 공기)을 검출하도록 형성될 수 있다. 조명 장치는 또한 또는 대안적으로 편광된 광으로 디스플레이 유닛을 조명하도록 형성될 수 있다. 제1 센서 장치 또는 제2 센서 장치는 편광된 광에 대한 감응성을 가질 수 있다. 검사 장치는 광 검출기에 의해 검출된 편광된 광에 기초하여 디스플레이 유닛 내의 변형을 검출하도록 형성될 수 있다.
또한, 상기 장치는 수용된 디스플레이 유닛을 클리닝하도록 형성된 클리닝 장치를 포함할 수 있고, 여기서 클리닝 장치는 제1 센서 장치의 이송 방향에서 상류측에 위치되는 것이 바람직하다. 클리닝 장치는 압축 공기를 수용 장치에 의해 수용된 디스플레이 유닛에 대항하여 전달하는 압축 공기 장치일 수 있다. 또한, 클리닝 장치는 제1 단계에서 유체로 디스플레이 유닛을 젖게 하고 제2 단계에서 젖은 영역을 건조시키는 장치일 수 있다.
상기에서 설명된 태양들 중 일부가 방법과 관련하여 설명되었지만, 이들 태양들은 또한 장치의 구성에도 적용될 수 있다. 마찬가지로, 장치에 관해서 위에서 설명된 태양은 본 방법에 적절하게 대응되도록 적용될 수 있다.
본 명세서에 개시된 해결 방안의 다른 태양, 장점 및 세부 사항은 도면을 참조하여 설명되는 예시적인 실시예에 대한 이하의 설명에서 명확해진다.
도 1은 실시예에 따른 디스플레이 유닛을 검사하기 위한 장치의 블록도를 도시한다.
도 2는 디스플레이 유닛을 검사하기 위한 방법의 실시예를 예시하는 흐름도를 도시한다.
도 3은 다른 실시예에 따른 디스플레이 유닛을 검사하기 위한 장치의 블록도를 도시한다.
도 4는 다른 실시예에 따른 디스플레이 유닛을 검사하기 위한 장치의 블록도를 도시한다.
도 5는 디스플레이 유닛의 제어를 예시하는 개략적인 도면을 도시한다.
도 6은 다른 실시예에 따른 디스플레이 유닛을 검사하기 위한 장치의 블록도를 도시한다.
도 1은 실시예에 따른 디스플레이 유닛을 검사하기 위한 장치의 블록도를 도시한다.
도 2는 디스플레이 유닛을 검사하기 위한 방법의 실시예를 예시하는 흐름도를 도시한다.
도 3은 다른 실시예에 따른 디스플레이 유닛을 검사하기 위한 장치의 블록도를 도시한다.
도 4는 다른 실시예에 따른 디스플레이 유닛을 검사하기 위한 장치의 블록도를 도시한다.
도 5는 디스플레이 유닛의 제어를 예시하는 개략적인 도면을 도시한다.
도 6은 다른 실시예에 따른 디스플레이 유닛을 검사하기 위한 장치의 블록도를 도시한다.
이하의 상세한 설명에서는 본 명세서에 개시된 내용의 기초적인 이해를 보장하도록 소정의 실시예에 대한 상세가 설명된다. 본 개시 내용이 상기 상세를 구현하지 않는 다른 실시예로도 구체화될 수 있다는 것이 당업자에게 명확해질 것이다.
또한, 이하에 설명되는 방법, 기능 및 단계가 프로세서와 조합하여 제공되는 소프트웨어-코드를 사용하거나 또는 주문형 집적 회로(application specific integrated circuit)(ASIC) 또는 디지털 신호 프로세서(DSP)를 사용하여 구현될 수 있다는 것이 당업자에게 명백할 것이다.
도 1은 디스플레이 유닛(102)을 검사하기 위한 장치(100)의 제1 실시예를 도시한다. 장치(100)는 수용 장치(104), 센서 장치(106), 검사 장치(108) 및 이송 장치(110)를 포함한다. 수용 장치(104) 및 이송 장치(110)는 단일 장치로 통합될 수 있다.
이하의 설명에서는 항상 단일 디스플레이 유닛(102)에 대한 검사가 설명되며, 수용 장치(104) 및 이송 장치(110)의 적절한 구성에서는 복수의 디스플레이 유닛(102)이 수용되어 자동적으로 하나씩 연속적으로 적용될 수 있다는 것이 당업자에게 명확해질 것이다. 디스플레이 유닛(102)은 완전히 또는 부분적으로 장착된 (O)LED 또는 LC-디스플레이일 수 있다. 또한, 디스플레이 유닛(102)은 픽셀과 같은 복수의 디스플레이 요소를 포함할 수 있다. 픽셀은 각각 상이한 파장의 광을 발광하는 수 개의 서브픽셀로 이루어질 수 있다.
수용 장치(104)는 검사될 디스플레이 유닛(102)을 수용하도록 형성된다. 이를 위해 수용 장치(104)는 디스플레이 유닛(102)이 배치될 수 있는 적어도 하나의 트레이(104A)를 포함한다. 이러한 경우, 디스플레이 요소(도시하지 않음)가 제공된 디스플레이 유닛(102)의 활성 표면이, 수용된 상태에서 센서 장치(106)에 대면한다. 이러한 목적을 위해, 트레이(104A)는, 디스플레이 유닛(102)의 디스플레이 요소가 센서 장치(106)에 의해 검출될 수 있게 하는 중앙 개구를 갖는 프레임으로서 형성될 수 있다.
수용 장치(104)에 대한 디스플레이 유닛(102)의 위치는 트레이(104A)에 의해 고정될 수 있다. 또한, 이에 따라 디스플레이 유닛(102)의 위치는 미리 한정될 수 있고, 적어도 하나의 센서 장치(106)가 트레이(104A)에 대응하여 정렬될 수 있다.
제1 센서 장치(106)는 CCD-장치로서 형성될 수 있다. 이 장치는 제1 광 검출기 매트릭스를 포함하고, 광 검출기 매트릭스는 제1 방향의(도 5의 화살표(A) 참조) 제1 개수의 광 검출기 및 제1 방향에 수직인 제2 방향의 제2 개수의 광 검출기를 포함한다. 제2 방향은 도 1의 화살표(B)에 의해 개략적으로 도시되고, 수용 장치(104)의 이동 방향에 평행하다. 이동 방향은 도 1에서 그리고 이하의 도면에서 설명을 위해 제2 방향과 평행하게 연장되지만, 이동 방향은 이에 한정되지 않는다. 특히, 센서 장치(106)의 공간 해상도를 증가시키기 위해, 이동 방향은 제2 방향에 대해 경사지게 (예를 들어, 제2 방향에 대해 10° 내지 80°, 특히 30° 내지 60°의 각도 범위 내에서) 연장될 수 있다. 제1 센서 장치(106)는 검사 장치(108)와 연결되어, 여기에 광 검출기의 출력 신호를 전송한다.
제1 방향의 제1 개수의 광 검출기는 이 제1 개수의 광 검출기가 제2 방향의 제2 개수의 광 검출기보다 더 크도록 선택될 수 있다. 검사될 디스플레이 유닛(102)의 표면에 따라, 제1 개수의 광 검출기가 제1 방향으로 디스플레이 유닛(102)의 영역의 최대 폭에 걸쳐 연장되고 동시에 예를 들어 2000 DPI 이상의 원하는 해상도가 보장되도록 제1 개수의 광 검출기를 선택하는 것이 유용할 수 있다. 제1 센서 장치(106)의 제2 개수의 광 검출기는 제1 센서 장치(106)가 라인 센서로서 형성되게 하는 것일 수 있다.
본 예시적인 실시예에서 수용 장치(104)는 이송 장치(110)에 의해 이동되는 벨트, 보다 정확하게는 연속 공정에서 디스플레이 요소(102)의 자동화된 검사를 위한 무단 벨트(endless belt)이다. 이를 위해, 이송 장치(110)는 수용 장치(104)와 결합된 모터(도시되지 않음)를 포함할 수 있다. 모터의 인가된 구동 토크에 따라, 벨트는 미리 결정된 속도로 이동된다. 검사 장치(108)는 이송 장치(110)와 전기적으로 연결될 수 있고, 이송 장치를 제어할 수 있거나 또는 이송 장치로부터 이송 관련 신호를 수신할 수 있다. 또한, 이송 장치(110)는 사전 설정된 속도를 조정하도록 형성될 수 있다. 속도는 검사 장치(108)에 의해 사전 설정될 수 있다. 대안적으로 또는 추가적으로, 이송 장치(110) 또는 다른 장치는 이송 속도 또는 다른 이송 관련 파라미터(예컨대 수용 장치(104) 또는 디스플레이 유닛(102)의 현재 위치)를 검사 장치(108)에 시그널링할 수 있다.
도 1에 도시된 실시예에서, 이송 장치(110)는 수용 장치(104)와 결합되고 센서 장치(106)는 고정되어 있다. 이송 장치(110)는 수용 장치(104) 상에 위치된 디스플레이 유닛(102)이 제2 방향(B)으로 이동하도록 수용 장치(104)를 구동시킨다. 대안적으로, 이송 장치(110)는 수용 장치(104) 및 센서 장치(106)와 결합되어, 이송 장치(110)는 수용 장치(104) 및 센서 장치(106) 모두를 이동시킬 수 있다. 여기서 센서 장치(106)의 이동은 수용 장치(104)의 이동 방향과 동일한 이동 방향으로 행해질 수 있고, 센서 장치(106)에 의해 수용 장치(104) 전체를 스캔할 수 있도록, 센서 장치(106)의 이동 속도는 수용 장치(104)의 이동 속도보다 더 작거나 또는 더 클 수 있다. 또한, 센서 장치(106)의 이동 방향은 수용 장치(104)의 이동 방향과 반대이거나 또는 직교할 수 있다. 도 1에 도시된 실시예에서 센서 장치(104)는 수용 장치(104)의 아래에 위치한다. 디스플레이 유닛(102)의 활성 측면이 상부를 향해 수용 장치(104) 내에 배치되면, 센서 장치(106)는 이에 상응하여 수용 장치(104) 위에 배치된다.
대안적으로, 수용 장치(104)는 이송 장치(110)에 결합되지 않을 수 있다. 따라서, 이송 장치(110)는 센서 장치(106)만을 이동시킬 수 있다.
검사 장치(108)는 제1 센서 장치(106)의 광 검출기의 출력 신호에 기초하여 디스플레이 유닛(102)을 검사하도록 형성된다. 검사 장치(108)는 이를 위해 프로세서(108A) 및 메모리(108B)를 포함한다. 프로세서(108A)는 본 명세서에 제시된 방법을 수행하기 위한 컴퓨터 프로그램을 실행하도록 형성된다. 이를 위해 컴퓨터 프로그램은 메모리(108B)(예를 들어, 반도체 메모리, 자기 또는 광학 매체 등)에 저장될 수 있다. 또한, 광 검출기에 의해 검출된 출력 신호와 비교될 수 있는 디스플레이 유닛(102) 및/또는 그 디스플레이 요소에 대한 미리 결정된 값 또는 패턴이 메모리(108B)에 저장될 수 있다. 광 검출기의 출력 신호와 미리 결정된 값 또는 패턴의 비교에 기초하여, 검사 장치(108)는 디스플레이 유닛이 결함이 있는지 또는 결함이 없는지를 결정할 수 있다.
도 2는 디스플레이 유닛(102)을 검사하기 위한 방법의 흐름도(200)를 도시한다. 이 방법은 도 1에 도시된 장치(100) 또는 다른 장치에 의해 수행될 수 있다.
제1 단계(202)에서, 적어도 하나의 센서 장치(106)가 제공되고, 검사될 디스플레이 유닛(102)이 수용 장치(104)에 의해 수용된다. 이러한 상황이 도 1에 도시된다.
단계(204)에서, 이송 장치(110)를 통해, 검사될 디스플레이 유닛(102)이 제1 센서 장치(106)에 대해 이동된다. 검사될 디스플레이 유닛(102)이 센서 장치(106)의 광 검출기에 의해 검출 가능한 영역 내로 이동될 때, 광 검출기는 단계(206)에서 각각 신호를 검출한다. 검출된 신호는 시험 장치(108)의 AD 변환기에 의해 전기 신호로 변환되는 임의의 종류의 광, 예를 들어 상이한 파장 또는 휘도의 광일 수 있다. 검사 장치(108)는 이송 장치(110), 수용 장치(104), 디스플레이 유닛(102) 및 주위 공간을 구별하도록 형성될 수 있다. 따라서, 센서 장치(106)의 검출된 신호는 추가 처리 이전에 검사 장치(108)에 의해 필터링될 수 있다.
단계(208)에서, 검사 장치(108)는 검출된 출력 신호에 기초하여 디스플레이 유닛(102)을 검사한다. 검사 장치(108)에 의한 디스플레이 유닛(102)의 검사는 검출된 출력 신호를 적어도 하나의 미리 결정된 패턴, 미리 결정된 값, 예를 들어 미리 결정된 파장 또는 휘도와 비교하는 단계 및/또는 개별 디스플레이 요소의 검출된 신호를 서로 비교하는 단계를 포함한다. 검사 장치(108)에 의한 디스플레이 유닛(102)의 검사 결과에 기초하여, 디스플레이 유닛(102)이 결함이 없는지 또는 결함이 있는지에 대해 자동적으로 결정이 이루어질 수 있다.
이하의 설명에서는, 이전의 도면들에서 이미 설명되었지만, 다른 장치 구성에서 유사하거나 또는 동일한 기능을 갖는 장치들은 동일한 참조 부호로 표시된다. 각각의 예시적인 실시예들은 서로 조합될 수 있다.
도 3은 디스플레이 유닛(102)을 검사하기 위한 장치(300)의 제2 실시예를 도시한다. 도 1에 도시된 장치(100)와 상이하게, 장치(300)는 추가로 제어 장치(116)를 포함한다.
제어 장치(116)는 예를 들어 센서 장치(106)에 대한 이동 및/또는 위치에 따라, 수용된 디스플레이 유닛(102)을 제어하도록 형성된다. 제어는 예를 들어 NFC-인터페이스 또는 무선 네트워크를 통해 무선으로 수행될 수 있다.
또한, 제어 장치(116)는 디스플레이 유닛(102)의 제어를 이송 장치(110)의 이송 속도 또는 (예를 들어, 센서 장치(106)에 대한) 디스플레이 유닛(102)의 위치와 동기화하도록 형성될 수 있다. 이러한 목적으로, 제어 장치(116)는 디스플레이 유닛(102) 및/또는 수용 장치(104)(예를 들어, 트레이(104A))의 위치 및/또는 이송 속도를 결정하는 센서를 포함할 수 있다. 결정된 위치에 대응하여, 디스플레이 유닛(102)의 동기식 제어가 하나 이상의 미리 결정된 시간에 행해질 수 있다. 제어 장치(116)에 의한 제어는 또한 특정 디스플레이 요소의 비-제어를 포함할 수도 있다(특히 이와 동시에 다른 디스플레이 요소들이 제어되는 경우).
디스플레이 유닛(102)에 위치된 NFC-칩 및 제어 장치(116)에 포함된 대응하는 NFC-칩을 사용하여 디스플레이 유닛(102)의 위치 결정 또는 이동의 검출을 위한 커플링이 달성될 수 있다. 커플링을 위해 NFC-칩에 제한되지 않고, 광 센서 및 LED(들) (또는 다른 광원), 홀 스위치를 통해 또는 다른 방법으로도 수행될 수 있다. 제어 장치(116)는 또한 검사 장치(108)와 연결될 수 있고, 검사 장치에 의해 제어되고 그리고/또는 검사 장치와 동기화될 수 있다.
구체적으로는 디스플레이 요소 또는 일반적으로는 디스플레이 유닛(102)의 제어는 무선으로 (예를 들어, WLAN 또는 블루투스를 통해) 또는 적어도 하나의 케이블 접속을 통해 행해질 수 있다. 제어 장치(116) 및 디스플레이 유닛(102)은 이를 위해 각각 단방향 또는 양방향 통신을 가능하게 하기 위해 송신 및/또는 수신 유닛을 포함할 수 있다.
제어 장치(116)는 디스플레이 유닛(102)의 제1 디스플레이 요소가 센서 장치(106)의 영역에 위치될 때 디스플레이 유닛의 제1 디스플레이 요소를 선택적으로 제어하거나 또는 제어하지 않을 수 있다. 상응하게, 디스플레이 유닛(102)을 상이한 전압 레벨, 컬러, 광 강도, 회색 음영, 명암 패턴 및/또는 미리 결정된 구동 주파수와 같은 상이한 조건 하에서 검사하는 것이 가능하다.
도 4는 디스플레이 유닛(102)을 검사하기 위한 장치(400)의 또 다른 예시적인 실시예를 도시한다. 도 4에 도시된 장치(400)는 도 3에 도시된 장치에 추가적으로 선택적인 클리닝 유닛(114), 제2 센서 장치(402) 및 선택적인 조명 장치(410)를 포함한다.
제2 센서 장치(402)는 제2 광 검출기 매트릭스를 포함하고, 제2 광 검출기 매트릭스는 제1 방향의 제3 개수의 광 검출기 및 제2 방향의 제4 개수의 광 검출기를 포함한다. 제2 센서 장치(402)는 제1 센서 장치(106)와 동일한 구조일 수 있다. 제2 센서 장치(402)는 제2 방향을 따라 센서 장치(106)에 대해 오프셋되어 배치된다. 도 4에 도시된 센서 장치(106, 402) 및 후술하는 추가의 센서 장치는 단일 장치 내에 통합되어 배치될 수 있다.
클리닝 유닛(114)을 디스플레이 유닛(102)을 검사하는 장치에 통합하는 것이 바람직하고, 여기서 장치의 설계에 따라, 클리닝 유닛(114)을 이송 방향으로 센서 장치(106, 402)의 전방의 위치에 위치시키는 것이 유용하다. 클리닝 유닛(114)은 디스플레이 유닛(102) 상의 오염물을 제거하는 기능을 갖는다. 오염물은 디스플레이 유닛(102)(또는 그 디스플레이 요소)과 센서 장치(106, 402) 사이의 광학적 경로 또는 광 특성(파장, 광 강도 등)의 변형을 야기할 수 있다. 상응하게, 오염물은 디스플레이 유닛(102)의 검사를 어렵게 하거나 또는 검사 결과를 왜곡할 수 있다. 일 실시예에서, 클리닝 유닛(114)은 미리 결정된 압축 공기를 디스플레이 유닛(102)에 대항하여 전달하는 압축 공기 장치일 수 있다. 마찬가지로, 다른 실시예에서, 클리닝 유닛(114)은 유체로 디스플레이 유닛(102)을 젖게 하고 후속하여 젖은 표면을 건조시킬 수 있다.
도 4에 도시된 조명 장치(410)는 디스플레이 유닛(102)을 사전 설정된 광 유형으로 조명하도록 형성된다. 사전 설정된 광 유형은 사전 설정된 파장의 적외선 광, 자외선 광, 편광된 광 또는 가시광일 수 있다. 내포물 및/또는 표면 손상을 갖는 디스플레이 유닛(102)은 임의의 내포물 및/또는 표면 손상이 없는 디스플레이 유닛(102)과는 다르게 예컨대 적외선 광을 반사한다. 상기 내포물은 가스 또는 이물질을 포함하는 것일 수 있다. 한편, 편광된 광에 의해 디스플레이 유닛(102)을 조명하는 것은 디스플레이 유닛(102) 내의 변형을 검출할 수 있게 하는데, 왜냐하면 이러한 변형은 반사된 광의 편광 변화를 야기하기 때문이다. 상응하게, 센서 장치(106, 402) 중 적어도 하나는 (예를 들어, 편광기를 포함하는 상류에 연결된 필터를 통해) 오직 특정 파장의 적외선 광, 자외선 광, 편광된 광 및/또는 가시광을 검출하도록 형성될 수 있다.
제어 장치(116)는 제2 센서 장치(402)의 광 검출기의 영역에 현재 위치한 디스플레이 유닛(102)의 디스플레이 요소를, 제1 센서 장치(106)의 광 검출기의 영역에 현재 위치한 (또는 이미 존재했었고 이 영역을 이미 떠난) 디스플레이 요소와 다르게 제어하도록 형성된다. 도 4에 도시된 디스플레이 유닛(102)을 검사하는 장치(400)는 디스플레이 유닛(102)의 명암-에러를 검사하는데 특히 적합하고, 여기서 검사는 전술한 바와 같이 다르게 수행될 수도 있다. 디스플레이 요소의 위치에 따라, 제어 장치(116)는 제1 센서 장치(106)의 광 검출기의 영역에 있는 디스플레이 요소가 밝은 패턴을 재생하고 제2 센서 장치(402)의 영역에서는 어두운 패턴을 재생하도록 디스플레이 요소를 제어할 수 있다. 검사 장치(108)는 광 검출기의 출력 신호에 기초하여 디스플레이 유닛(102)을 검사하여, 예를 들어 항상 켜져 있거나(명) 또는 항상 꺼져 있는(암) 에러가 있는 디스플레이 요소를 식별해낼 수 있다.
제어 장치(116)에 의한 디스플레이 유닛(102)의 제어를 예시하기 위해, 명암 패턴에 의한 제어의 시간에 따른 경과가 도 5에 개략적으로 도시된다. 디스플레이 유닛(102)의 이동은 화살표(B)로 나타낸 바와 같이 제2 방향으로 행해진다. 여기서, 제어 장치(116)에 의한 디스플레이 유닛(102)의 디스플레이 요소의 제어는 디스플레이 유닛(102)[또는 수용 장치(104)]의 이송 속도 및/또는 현재 위치와 동기화된다. 이를 위해, 제어 장치(110)는 이송 장치(110) 또는 다른 장치로부터의 대응되는 신호를 수신할 수 있다.
시간(T1)에서, 디스플레이 유닛(102)이 수용된 도 5에 따른 수용 장치(104)는 제1 센서 장치(106) 및 제2 센서 장치(402)의 광 검출기 이전에 위치된다. 본 예에서, 디스플레이 요소는 오프 상태에 있다. 디스플레이 유닛(102)이 제1 센서 장치(106)의 광 검출기에 도달하거나 또는 이전에 이미 도달했을 때, 제어 장치(116)는 디스플레이 유닛(102)의 디스플레이 요소를 제어한다. 도 5에 도시된 바와 같이, 디스플레이 요소는 밝은 패턴을 재생하도록 센서 장치(106) 위에서 제어된다.
시간(T2)에서, 많은 디스플레이 요소들은 전체 제1 센서 장치(106)가 상응하게 제어된 디스플레이 요소들로 커버되도록 제1 센서 장치(106) 위에 위치된다. 시간(T2) 이후에 디스플레이 유닛(102)이 더욱 이동되면, 제어 장치(116)는 센서 장치(106)의 영역을 다시 떠난 디스플레이 요소를 원래의 상태로 복귀하거나 또는 미리 결정된 색조를 재생하도록 제어한다. 이 예에서는 원래 상태가 스위치 오프 상태이다.
시간(T3)에서, 디스플레이 요소는 제2 센서 장치(402)의 광 검출기에 도달한다. 디스플레이 요소는 다시 제어되지는 않고, 스위치 오프 상태는 어두운 패턴에 의해 검사될 수 있다.
이에 상응하게, 에러가 있어서 항상 켜져 있거나(명) 또는 항상 꺼져 있는(암) 디스플레이 요소는 센서 장치(402) 또는 센서 장치(106)에 의해 검출되어 검사 장치(108)에 의해 식별될 수 있다.
도 6은 디스플레이 유닛(102)을 검사하기 위한 장치(600)의 또 다른 예시적인 실시예를 도시한다. 도 1, 도 3 및 도 4에 도시된 장치에 추가적으로, 장치(600)는 디스플레이 유닛(102)과 센서 장치(106, 402, 604) 사이에 상응하게 배치된 제3 센서 장치(604), 제1 필터(618), 제2 필터(606) 및 제3 필터(608)를 포함한다.
도 6에 도시된 필터(618, 606, 608)는 각각 편광 필터, 보정 필터, 대화 필터 또는 컬러 필터일 수 있다. 도 6에 도시된 장치(600)에서, 유리한 실시예는 각각의 센서 장치(106, 402, 604)에 단일 기본 컬러의 검출이 할당되는 것이다. 그에 대응하여, 오직 적색광만을 투과시키는 컬러 필터(618)가 제1 센서 장치(106) 이전에 배치될 수 있다. 청색광을 투과시키는 컬러 필터(606)가 제2 센서 장치(402)의 이전에 배치될 수 있고, 녹색광을 투과시키는 컬러 필터(608)가 상응하게 제3 센서 장치(604) 이전에 배치될 수 있다. 일반적으로 알려진 바와 같이, 픽셀은 서브픽셀로 이루어질 수 있으며, 각각의 서브픽셀은 기본 컬러에 할당된다. 디스플레이 요소의 제어 장치(116)에 의한 상응하는 제어에 의해, 혼합된 색조를 생성하기 위해 적색, 녹색 및 청색의 중첩이 이루어질 수 있다.
여기서 제어 장치(116)에 의한 디스플레이 요소의 제어는 센서 장치(106, 402, 604)의 광 검출기의 모든 검출 가능한 영역에 대해 혼합 색조를 생성하는 것일 수 있다. 대안적으로, 제어는 센서 장치(106)의 광 검출기의 검출 가능한 영역에서 적색 색조가 재생되고, 센서 장치(402)의 광 검출기의 검출 가능한 영역에서 녹색 색조가 재생되고, 센서 장치(604)의 광 검출기의 검출 가능한 영역에서 청색 색조가 재생되는 것을 포함할 수 있다.
도 5에 도시된 제어와 유사하게, 디스플레이 유닛(예컨대 102)의 디스플레이 요소는 제1 센서 장치(106)의 범위에 도달했거나 또는 이미 이전에 도달한 디스플레이 요소가 적색 색조를 재생하도록 제어된다(예를 들어, 오직 적색 서브픽셀만이 제어된다). 그 다음, 디스플레이 요소는 제1 센서 장치(106)의 영역을 떠나면 스위치 오프되도록 제어된다. 디스플레이 요소가 제2 센서 장치(402)의 영역에 도달하자마자, 디스플레이 요소는 디스플레이 요소가 녹색 색조를 재생하도록 제어된다(예를 들어, 녹색 서브픽셀만이 제어된다). 디스플레이 요소가 제2 센서 장치(402)의 영역을 떠날 때, 디스플레이 요소는 스위치 오프되도록 다시 제어될 수 있다. 상응하게, 제3 센서 장치(604)의 영역 내의 디스플레이 요소는 청색 색조를 재생하고(예를 들어, 청색 서브픽셀만이 제어되고) 제3 센서 장치(604)의 영역을 떠나면 스위치 오프되도록 제어된다.
예시적인 실시예에 설명된 패턴 및 컬러의 시퀀스들은 단지 예시일 뿐이며, 본 개시 내용은 이에 한정되지 않는다는 것은 당업자에게 명백해질 것이다.
이미 언급된 바와 같이, 조명 장치(410)는 미리 결정된 광 유형으로 디스플레이 유닛(102)을 조명하도록 배치될 수 있다. 광 유형이 적외선 광인 경우, 검사 장치(108)는 센서 장치(106, 402, 604) 중 적어도 하나의 검출된 출력 신호에 기초하여 디스플레이 유닛(102) 내의 내포물을 식별하도록 형성된다. 디스플레이 유닛(102)이 편광된 광으로 조명되는 경우, 검사 장치(108)는 센서 장치(106, 402, 604) 중 적어도 하나의 검출된 출력 신호에 기초하여 디스플레이 유닛(102) 내의 변형을 식별하도록 형성된다.
또한, 디스플레이 유닛(102)을 검사하는 장치에서, 추가적으로 적어도 하나의 렌즈가 디스플레이 요소와 적어도 하나의 센서 장치(106, 402, 604) 사이의 광학적 경로에 배치되는 것이 유리할 수 있다. 적어도 하나의 렌즈는 이를 위해 적어도 하나의 센서 장치(106, 402, 604)에 배치될 수 있다. 대안적으로 또는 추가적으로, 적어도 하나의 렌즈는 디스플레이 유닛이 검사되기 전에 디스플레이 유닛(102)의 디스플레이 요소 이전에 위치될 수 있다.
설명된 예시적인 실시예에서, 디스플레이 유닛(102)은 센서 장치(106, 402, 704)를 통해 단지 한 번만 이동되고, 여기서 본 발명은 한 번의 검사에 한정되지 않는다. 이송 장치(110)는 센서 장치(106, 402, 604)에 의해 다시 디스플레이 유닛(102)을 검사할 수 있도록, 디스플레이 유닛(102)의 제1 검사 후에 수용 장치(104)를 이동 방향과 반대 방향으로 이동시키도록 형성될 수 있다. 이동 방향 및 이동 방향과 반대 방향으로의 이동 속도는 동일하게 또는 미리 결정된 비율로 설정될 수 있다. 이러한 왕복 운동을 통해 서로 다른 전압 레벨, 컬러, 광 강도, 회색 음영, 명암 또는 다른 패턴을 오직 하나의 센서 장치에 의해 검사할 수 있다.
또한, 검사될 디스플레이 유닛(102)은 검사 결과에 기초하여 캘리브레이션될 수 있다. 캘리브레이션은 검사될 디스플레이 유닛(102)의 컬러 및/또는 휘도 캘리브레이션을 포함할 수 있다. 캘리브레이션은 제어 장치(116)(이러한 목적을 위해 검사 장치(108)와 통신함)에 의해 또는 다른 방법으로 수행될 수 있다. 또한, 동일한 디스플레이 유닛(102)의 다중 검사에 의해, 디스플레이 유닛(102)의 컬러 및/또는 휘도 캘리브레이션이 성공적인지 그리고 디스플레이 유닛(102)이 미리 결정된 색조 및/또는 미리 결정된 휘도를 재생하는지를 결정할 수 있다.
설명된 센서 장치(106, 402, 704)에 추가적으로, 적어도 하나의 온도 센서 장치가 제공될 수 있다. 온도 센서 장치는 이동 방향을 따라 센서 장치(106, 402, 704)의 이전에, 이들의 사이 또는 이들의 이후에 배치될 수 있거나 또는 센서 장치(106, 402, 704)와 함께 전체 유닛에 배치될 수 있다. 온도 센서 장치는 제1 방향의 제1 개수의 온도 검출기를 포함하고 제2 방향의 제2 개수의 온도 검출기를 포함한다. 가능한 예시적인 실시예에서, 제2 개수의 온도 검출기는 제2 개수의 온도 검출기의 전체 폭이 제2 방향으로 검사될 디스플레이 유닛의 폭에 대응되도록 선택된다.
디스플레이 유닛(102)은 이송 장치(110)에 의해 온도 검출기의 출력 신호의 검출 하에 온도 센서 장치에 대해 이동된다. 온도 센서 장치는 개별 디스플레이 요소의 방열을 검출하고, 대응하는 출력 신호를 검사 장치(108)에 출력한다. 이에 따라 예를 들면 동일한 색조를 갖는 디스플레이 요소를 제어할 때, 디스플레이 유닛이 방열에 의한 균일한 화상을 생성하는지를 검사할 수 있다. 또한, 온도 값이 전압 레벨 및/또는 색조에 할당되어 있는 값테이블이 검사 장치(108)의 메모리(108B)에 저장되어, 검사 장치(108)가 센서 장치(106, 402, 704)의 출력 신호를 온도 센서 장치의 출력 신호와 비교할 수 있다. 온도 센서 장치는 열전쌍 또는 방사선 센서(볼로메트릭 또는 초전성 검출기)일 수 있다.
100: 장치
102: 디스플레이 유닛
104: 수용 장치
106: 센서 장치
108: 검사 장치
110: 이송 장치
102: 디스플레이 유닛
104: 수용 장치
106: 센서 장치
108: 검사 장치
110: 이송 장치
Claims (24)
- 디스플레이 유닛(102)을 검사하기 위한 방법(200)으로서, 상기 방법(200)은,
광 검출기 매트릭스를 포함하는 적어도 하나의 센서 장치(106, 402, 604)를 제공하는 단계(202) - 광 검출기 매트릭스는 제1 방향(A)의 제1 개수의 광 검출기 및 제1 방향(A)에 수직인 제2 방향(B)의 제2 개수의 광 검출기를 포함함 - ;
광 검출기의 출력 신호의 검출(206) 하에 검사될 디스플레이 유닛(102)을 적어도 하나의 센서 장치(106, 402, 604)에 대해 이동시키는 단계(204); 및
검출된 출력 신호에 기초하여 디스플레이 유닛을 검사하는 단계(208)
를 포함하는 방법. - 제1항에 있어서,
디스플레이 유닛(102)이 적어도 하나의 센서 장치(106, 402, 604)에 대해 이동하는 동안 디스플레이 유닛(102)의 제어를 행하는 단계를 더 포함하는 방법. - 제2항에 있어서,
디스플레이 유닛(102)의 제어는 적어도 하나의 센서 장치(106, 402, 604)에 대한 이동 및/또는 위치에 따라 행해지는 방법. - 제3항에 있어서,
디스플레이 유닛(102)은 복수의 디스플레이 요소를 포함하며, 디스플레이 요소는 적어도 하나의 센서 장치(106, 402, 604)에 대한 디스플레이 유닛의 이동 및/또는 위치에 따라 제어되는 방법. - 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
디스플레이 유닛(102)은 제1 방향의 제3 개수의 디스플레이 요소 및 제2 방향의 제4 개수의 디스플레이 요소를 갖는 디스플레이 요소 매트릭스를 포함하는 방법. - 디스플레이 유닛(102)을 검사하기 위한 장치(100, 300, 400, 600)로서,
상기 장치(100, 300, 400, 600)는
검사될 디스플레이 유닛(102)을 수용하도록 형성된 수용 장치(104);
제1 광 검출기 매트릭스를 포함하는 제1 센서 장치(106) - 제1 광 검출기 매트릭스는 제1 방향(A)의 제1 개수의 광 검출기 및 제1 방향(A)에 수직인 제2 방향(B)의 제2 개수의 광 검출기를 포함함 - ;
수용 장치(104)에 대해 제1 센서 장치(106)를 이동시키도록 제1 센서 장치(106) 및/또는 수용 장치(104)와 결합된 이송 장치(110); 및
광 검출기의 출력 신호에 기초하여 수용된 디스플레이 유닛(102)을 검사하기 위한 검사 장치(108)
를 포함하는 장치. - 제6항에 있어서,
수용된 디스플레이 유닛(102)을 제1 센서 장치(106)에 대한 이동 및/또는 위치에 따라 제어하기 위한 제어 장치(116)를 더 포함하는 장치. - 제7항에 있어서,
제어 장치(116)는 디스플레이 유닛(102)의 제어를 이송 장치(110)의 이송 속도와 동기화시키도록 형성되는 장치. - 제7항 또는 제8항에 있어서,
디스플레이 유닛(102)은 복수의 디스플레이 요소를 포함하고, 제어 장치(116)는 제1 센서 장치(106)의 영역에 현재 위치하는 디스플레이 유닛(102)의 제1 디스플레이 요소를 선택적으로 제어하거나 또는 제어하지 않도록 형성되는 장치. - 제6항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서,
제2 광 검출기 매트릭스를 포함하는 제2 센서 장치(402)를 더 포함하고, 제2 광 검출기 매트릭스는 제1 방향(A)의 제3 개수의 광 검출기 및 제2 방향(B)의 제4 개수의 광 검출기를 포함하고, 상기 제3 개수는 제4 개수보다 더 크고, 제2 센서 장치(402)는 제2 방향(B)을 따라 제1 센서 장치(106)에 대해 오프셋되어 배치되는 장치. - 제9항 및 제10항에 있어서,
제어 장치(116)는 제2 센서 장치(402)의 영역에 현재 위치하는 디스플레이 유닛(102)의 제2 디스플레이 요소를 선택적으로 제1 디스플레이 요소와 상이하게 제어하도록 형성되는 장치. - 제10항 또는 제10항 및 제11항의 조합에 있어서,
제3 광 검출기 매트릭스를 포함하는 제3 센서 장치(604)를 더 포함하고, 제3 광 검출기 매트릭스는 제1 방향(A)의 제5 개수의 광 검출기 및 제2 방향(B)의 제6 개수의 광 검출기를 포함하고, 상기 제5 개수는 제6 개수보다 더 크고, 제3 센서 장치(604)는 제2 방향(B)을 따라 제1 및 제2 센서 장치(106, 402)에 대해 오프셋되어 배치되는 장치. - 제12항에 있어서,
제1, 제2 및 제3 센서 장치(106, 402, 604)는 상이한 광 특성을 검출하도록 형성되는 장치. - 제11항과 조합된 제12항 또는 제13항에 있어서,
제어 장치(116)는 제3 센서 장치(604)의 영역에 현재 위치하는 디스플레이 유닛(102)의 제3 디스플레이 요소를 선택적으로 제1 디스플레이 요소 및 제2 디스플레이 요소와 상이하게 제어하도록 형성되는 장치. - 제14항에 있어서,
제어 장치(116)는 제1, 제2 및 제3 디스플레이 요소가 상이하게 제어되도록 제1, 제2 및 제3 디스플레이 요소를 제어하는 방식으로 형성되는 장치. - 제6항 내지 제15항 중 어느 한 항에 있어서,
적어도 제1 센서 장치(106)는 라인 센서이며, 제2 개수는 1인 장치. - 제6항 내지 제16항 중 어느 한 항에 있어서,
수용 장치(104)는 이송 장치(110)에 의해 이동되는 벨트를 포함하는 장치. - 제6항 내지 제17항 중 어느 한 항에 있어서,
적어도 제1 센서 장치(106)는 이송 장치(110)와 결합되는 장치. - 제6항 내지 제18항 중 어느 한 항에 있어서,
수용 장치(104)는 수용된 디스플레이 유닛이, 장치가 배치되어 있는 베이스 영역에 대면하도록 형성되고, 여기서 적어도 제1 센서 장치(106)는 수용 장치(104)와 베이스 영역 사이에 배치되는 장치. - 제6항 내지 제19항 중 어느 한 항에 있어서,
디스플레이 유닛(102)은 복수의 디스플레이 요소를 포함하고, 검사 장치(108)는 디스플레이 요소 에러를 검출하도록 형성되는 장치. - 제6항 내지 제20항 중 어느 한 항에 있어서,
사전 설정된 광 유형으로 디스플레이 유닛(102)을 조명하도록 형성된 적어도 하나의 조명 장치(410)를 더 포함하는 장치. - 제21항에 있어서,
조명 장치(410)는 디스플레이 유닛(102)을 적외선 광으로 조명하도록 형성되고 그리고/또는 적어도 제1 센서 장치(106)는 적외선에서 감응성을 갖는 장치. - 제21항 또는 제22항에 있어서,
조명 장치는 디스플레이 유닛(102)을 편광된 광으로 조명하도록 형성되고 그리고/또는 적어도 제1 센서 장치(106) 또는 제2 센서 장치(402)는 편광된 광에 대한 감응성을 갖는 장치. - 제6항 내지 제23항 중 어느 한 항에 있어서,
수용된 디스플레이 유닛(102)을 클리닝하도록 형성된 클리닝 장치(114)를 더 포함하고, 클리닝 장치(114)는 제1 센서 장치(106)의 이송 방향에서 상류측에 위치되는 장치.
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| AMND | Amendment | ||
| E601 | Decision to refuse application | ||
| AMND | Amendment | ||
| X701 | Decision to grant (after re-examination) |