KR20160135001A - 유기 발광 표시 장치 - Google Patents

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Abstract

유기 발광 표시 장치는 화상을 표시하는 표시부, 상기 표시부를 둘러싸고 있는 주변부를 포함하는 기판, 상기 기판 상에 형성되어 있으며 제1 방향으로 연장된 복수의 스캔 라인들, 상기 복수의 스캔 라인들과 교차하며 제2 방향으로 연장되어 있는 복수의 데이터 라인들, 상기 표시부에 형성되어 있으며, 각각이 상기 복수의 스캔 라인들 각각 및 상기 복수의 데이터 라인들 각각에 연결되어 있는 복수의 화소들, 상기 주변부에 형성되어 상기 표시부를 둘러싸며, 다른 부분 대비 좁은 너비를 가지는 제1 부분을 포함하는 리페어 링, 및 상기 복수의 데이터 라인들 및 상기 리페어 링에 데이터 신호를 전달하는 구동 회로를 포함한다.

Description

유기 발광 표시 장치{ORGANIC LIGHT EMITTING DIODE DISPLAY}
본 발명은 유기 발광 표시 장치에 관한 것이다.
유기 발광 표시 장치는 두 개의 전극과 그 사이에 위치하는 유기 발광층을 포함하며, 하나의 전극인 캐소드(cathode)로부터 주입된 전자(electron)와 다른 전극인 애노드(anode)로부터 주입된 정공(hole)이 유기 발광층에서 결합하여 여기자(exciton)를 형성하고, 여기자가 에너지를 방출하면서 발광한다.
유기 발광 표시 장치는 캐소드, 애노드 및 유기 발광층으로 이루어진 유기 발광 소자를 포함하는 복수의 화소를 포함하며, 각 화소에는 유기 발광 소자를 구동하기 위한 복수의 트랜지스터 및 하나 이상의 커패시터(Capacitor)가 형성되어 있다.
이러한 유기 발광 표시 장치의 각 화소들에 구비된 소자들의 특성 편차나 배선들의 단선 또는 단락 등에 기인한 화소 불량이 발생될 수 있다. 이러한 경우, 유기 발광 표시 장치의 주변부에 리페어 링(repair ring)을 형성하고, 화소 불량이 발생한 배선의 연장선과 리페어 링의 중첩부를 레이저 빔 등을 이용하여 단락(short)시켜 불량 화소를 수리하게 된다.
그러나, 유기 발광 표시 장치는 전류 구동 방식이므로, 리페어 링을 통하는 신호가 전압 강하되는 문제점이 있었다.
본 발명의 과제는, 리페어 링을 통하는 신호에 전압 강하 발생되는 것이 억제된 유기 발광 표시 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 일 측면은 화상을 표시하는 표시부, 상기 표시부를 둘러싸고 있는 주변부를 포함하는 기판, 상기 기판 상에 형성되어 있으며 제1 방향으로 연장된 복수의 스캔 라인들, 상기 복수의 스캔 라인들과 교차하며 제2 방향으로 연장되어 있는 복수의 데이터 라인들, 상기 표시부에 형성되어 있으며, 각각이 상기 복수의 스캔 라인들 각각 및 상기 복수의 데이터 라인들 각각에 연결되어 있는 복수의 화소들, 상기 주변부에 형성되어 상기 표시부를 둘러싸며, 다른 부분 대비 좁은 너비를 가지는 제1 부분을 포함하는 리페어 링, 및 상기 복수의 데이터 라인들 및 상기 리페어 링에 데이터 신호를 전달하는 구동 회로를 포함하는 유기 발광 표시 장치를 제공한다.
상기 주변부에 형성되어 있으며, 상기 리페어 링의 상기 제1 부분과 중첩하는 제1 주변 신호 라인을 더 포함할 수 있다.
상기 리페어 링의 상기 제1 부분은 상기 구동 회로와 이웃할 수 있다.
상기 리페어 링은 상기 리페어 링을 덮는 절연층에 형성된 하나 이상의 컨택홀에 의해 노출되는 제2 부분을 더 포함할 수 있다.
상기 리페어 링은 상기 제2 부분과 나란한 방향으로 연장되어 상기 하나 이상의 컨택홀을 통해 상기 제2 부분과 접촉하는 컨택부를 더 포함할 수 있다.
상기 주변부에 형성되어 상기 복수의 스캔 라인들과 연결된 스캔 회로를 더 포함하며, 상기 리페어 링의 상기 제2 부분은 상기 스캔 회로와 이웃할 수 있다.
상기 리페어 링은 상기 주변부에서 상기 복수의 데이터 라인들과 교차하는 제3 부분을 더 포함하며, 상기 주변부에 형성되어 있으며, 상기 리페어 링의 상기 제3 부분과 대응하는 개구부를 포함하는 제2 주변 신호 라인을 더 포함할 수 있다.
상기 리페어 링의 상기 제3 부분은 상기 표시부를 사이에 두고 상기 구동 회로와 이격될 수 있다.
상기 구동 회로는 상기 복수의 데이터 라인들 중 불량 데이터 라인에 전달한 데이터 신호와 동일한 데이터 신호를 상기 리페어 링에 전달할 수 있다.
상기 리페어 링은 좌측 리페어 링 및 우측 리페어 링으로 분리되어 있을 수 있다.
또한, 본 발명의 다른 측면은 화상을 표시하는 표시부, 상기 표시부를 둘러싸고 있는 주변부를 포함하는 기판, 상기 기판 상에 형성되어 있으며 제1 방향으로 연장된 복수의 스캔 라인들, 상기 복수의 스캔 라인들과 교차하며 제2 방향으로 연장되어 있는 복수의 데이터 라인들, 상기 표시부에 형성되어 있으며, 각각이 상기 복수의 스캔 라인들 각각 및 상기 복수의 데이터 라인들 각각에 연결되어 있는 복수의 화소들, 상기 주변부에 형성되어 상기 표시부를 둘러싸며, 상기 리페어 링을 덮는 절연층에 형성된 하나 이상의 컨택홀에 의해 노출되는 일 부분을 포함하는 리페어 링, 및 상기 복수의 데이터 라인들 및 상기 리페어 링에 데이터 신호를 전달하는 구동 회로를 포함하는 유기 발광 표시 장치를 제공한다.
상기 리페어 링은 상기 일 부분과 나란한 방향으로 연장되어 상기 하나 이상의 컨택홀을 통해 상기 일 부분과 접촉하는 컨택부를 더 포함할 수 있다.
상기 주변부에 형성되어 상기 복수의 스캔 라인들과 연결된 스캔 회로를 더 포함하며, 상기 리페어 링의 상기 일 부분은 상기 스캔 회로와 이웃할 수 있다.
상기 리페어 링은 상기 주변부에서 상기 복수의 데이터 라인들과 교차하는 타 부분을 더 포함하며, 상기 주변부에 형성되어 있으며, 상기 리페어 링의 상기 타 부분과 대응하는 개구부를 포함하는 주변 신호 라인을 더 포함할 수 있다.
상기 리페어 링의 상기 타 부분은 상기 표시부를 사이에 두고 상기 구동 회로와 이격될 수 있다.
또한, 본 발명의 다른 측면은 화상을 표시하는 표시부, 상기 표시부를 둘러싸고 있는 주변부를 포함하는 기판, 상기 기판 상에 형성되어 있으며 제1 방향으로 연장된 복수의 스캔 라인들, 상기 복수의 스캔 라인들과 교차하며 제2 방향으로 연장되어 있는 복수의 데이터 라인들, 상기 표시부에 형성되어 있으며, 각각이 상기 복수의 스캔 라인들 각각 및 상기 복수의 데이터 라인들 각각에 연결되어 있는 복수의 화소들, 상기 주변부에 형성되어 상기 표시부를 둘러싸며, 상기 주변부에서 상기 복수의 데이터 라인들과 교차하는 일 부분을 포함하는 리페어 링, 상기 복수의 데이터 라인들 및 상기 리페어 링에 데이터 신호를 전달하는 구동 회로, 및 상기 주변부에 형성되어 있으며, 상기 리페어 링의 상기 일 부분과 대응하는 개구부를 포함하는 주변 신호 라인를 포함하는 유기 발광 표시 장치을 제공한다.
상기 리페어 링의 상기 일 부분은 상기 표시부를 사이에 두고 상기 구동 회로와 이격될 수 있다.
본 발명에 따르면, 리페어 링을 통하는 신호에 전압 강하 발생되는 것이 억제된 유기 발광 표시 장치가 제공된다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타낸 평면도이다.
도 2는 도 1에 도시된 일 화소를 나타낸 회로도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 리페어 방법을 나타낸 평면도이다.
도 4는 도 1의 A 부분을 나타낸 평면도이다.
도 5는 도 1의 B 부분을 나타낸 단면도이다.
도 6은 도 1의 C 부분을 나타낸 평면도이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타낸 평면도이다.
도 8은 도 7의 A 부분을 나타낸 평면도이다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타낸 평면도이다.
도 10은 도 9의 B 부분을 나타낸 단면도이다.
도 11은 본 발명의 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타낸 평면도이다.
도 12는 도 11의 C 부분을 나타낸 평면도이다.
이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 여러 실시예들에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예들에 한정되지 않는다.
본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 붙이도록 한다.
또한, 도면에서 나타난 각 구성의 크기 및 두께는 설명의 편의를 위해 임의로 나타내었으므로, 본 발명이 반드시 도시된 바에 한정되지 않는다.
도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 그리고 도면에서, 설명의 편의를 위해, 일부 층 및 영역의 두께를 과장되게 나타내었다. 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "위에" 또는 "상에" 있다고 할 때, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다.
또한, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함" 한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. 또한, 명세서 전체에서, "~상에"라 함은 대상 부분의 위 또는 아래에 위치함을 의미하는 것이며, 반드시 중력 방향을 기준으로 상 측에 위치하는 것을 의미하는 것은 아니다.
이하, 도 1 내지 도 6을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타낸 평면도이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치는 기판(SUB), 기판(SUB) 위에 형성되어 있는 복수의 스캔 라인들(Sn), 복수의 데이터 라인들(DA), 복수의 화소들(PX), 리페어 링(RE), 스캔 회로(SD), 구동 회로(DD)를 포함한다.
기판(SUB)은 화상을 표시하는 표시부(DIA), 표시부(DIA)를 둘러싸고 있는 주변부(NDA)를 포함한다. 표시부(DIA)에 스캔 라인(Sn), 데이터 라인(DA), 화소(PX)가 형성되어 있으며, 주변부(NDA)에 스캔 라인(Sn)의 단부, 데이터 라인(DA)의 단부, 리페어 링(RE), 스캔 회로(SD), 구동 회로(DD)가 형성되어 있다.
스캔 라인(Sn)은 스캔 신호를 전달하며 제1 방향인 가로 방향으로 연장되어 있다. 데이터 라인(DA)은 데이터 신호를 전달하며 스캔 라인(Sn)과 교차하며 제2 방향인 세로 방향으로 연장되어 있다.
화소(PX)는 스캔 라인(Sn) 및 데이터 라인(DA) 각각에 연결되어 있는 화소 회로부, 화소 회로부에 연결되어 있는 유기 발광 소자(OLED)를 포함한다. 화소 회로부는 유기 발광 소자(OLED)를 구동하기 위한 복수의 박막 트랜지스터 및 하나 이상의 커패시터(Capacitor)를 포함하며, 유기 발광 소자(OLED)는 캐소드 전극, 애노드 전극및 유기 발광층을 포함한다.
설명의 편의를 위해 도 1에는 도시하지 않았지만 복수의 화소들(PX) 각각은 서로 다른 스캔 신호를 공급하는 복수의 스캔 라인들 각각과 연결될 수 있으며, 나아가 전압을 공급하는 구동 전원 라인 및 초기화 전원 라인과 연결될 수 있다. 또한, 복수의 화소들(PX) 각각에 포함된 유기 발광 소자의 캐소드 전극은 공통 전원과 연결될 수 있다. 이러한 복수의 화소들(PX) 각각의 자세한 구조에 대해서는 후술한다. 상술한 복수의 스캔 라인들, 구동 전원 라인, 초기화 전원 라인은 후술하나, 이에 한정되지 않고 공지된 다양한 형태로 복수의 화소들(PX) 각각과 연결될 수 있다.
도 2는 도 1에 도시된 일 화소를 나타낸 회로도이다.
도 2에 도시된 바와 같이, 화소(PX)는 복수의 배선(Sn, Sn-1, Sn-2, EM, Vin, DA, ELVDD)에 선택적으로 연결된 복수의 박막 트랜지스터(T1, T2, T3, T4, T5, T6, T7) 및 커패시터(Cst)를 포함하는 화소 회로(PC)와 이 화소 회로(PC)와 연결된 유기 발광 소자(OLED)를 포함한다.
복수의 박막 트랜지스터(T1, T2, T3, T4, T5, T6, T7)는 제1 박막 트랜지스터(T1), 제2 박막 트랜지스터(T2), 제3 박막 트랜지스터(T3), 제4 박막 트랜지스터(T4), 제5 박막 트랜지스터(T5), 제6 박막 트랜지스터(T6), 제7 박막 트랜지스터(T7)를 포함한다.
제1 박막 트랜지스터(T1)의 제1 게이트 전극(G1)은 제3 박막 트랜지스터(T3)의 제3 드레인 전극(D3) 및 제4 박막 트랜지스터(T4)의 제4 드레인 전극(D4) 각각에 연결되어 있고, 제1 소스 전극(S1)은 제2 박막 트랜지스터(T2)의 제2 드레인 전극(D2) 및 제5 박막 트랜지스터(T5)의 제5 드레인 전극(D5)에 연결되어 있고, 제1 드레인 전극(D1)은 제3 박막 트랜지스터(T3)의 제3 소스 전극(S3) 및 제6 박막 트랜지스터(T6)의 제6 소스 전극(S6)각각에 연결되어 있다.
제2 박막 트랜지스터(T2)의 제2 게이트 전극(G2)은 제1 스캔 라인(Sn)과 연결되어 있고, 제2 소스 전극(S2)은 데이터 라인(DA)과 연결되어 있으며, 제2 드레인 전극(D2)은 제1 박막 트랜지스터(T1)의 제1 소스 전극(S1)과 연결되어 있다.
제3 박막 트랜지스터(T3)의 제3 게이트 전극(G3)은 제1 스캔 라인(Sn)과 연결되어 있고, 제3 소스 전극(S3)은 제1 박막 트랜지스터(T1)의 제1 드레인 전극(D1)과 연결되어 있으며, 제3 드레인 전극(D3)은 제1 박막 트랜지스터(T1)의 제1 게이트 전극(G1)과 연결되어 있다.
제4 박막 트랜지스터(T4)의 제4 게이트 전극(G4)은 제2 스캔 라인(Sn-1)과 연결되어 있고, 제4 소스 전극(S4)은 초기화 전원 라인(Vin)과 연결되어 있으며, 제4 드레인 전극(D4)은 제1 박막 트랜지스터(T1)의 제1 게이트 전극(G1)과 연결되어 있다.
제5 박막 트랜지스터(T5)의 제5 게이트 전극(G5)은 발광 제어 라인(EM)과 연결되어 있고, 제5 소스 전극(S5)은 구동 전원 라인(ELVDD)과 연결되어 있으며, 제5 드레인 전극(D5)은 제1 박막 트랜지스터(T1)의 제1 소스 전극(S1)과 연결되어 있다.
제6 박막 트랜지스터(T6)의 제6 게이트 전극(G6)은 발광 제어 라인(EM)과 연결되어 있으며, 제6 소스 전극(S6)은 제1 박막 트랜지스터(T1)의 제1 드레인 전극(D1)과 연결되어 있다.
제7 박막 트랜지스터(T7)의 제7 게이트 전극(G7)은 제3 스캔 라인(Sn-2)과 연결되어 있고, 제7 소스 전극(S7)은 유기 발광 소자(OLED)와 연결되어 있으며, 제7 드레인 전극(D7)은 제4 박막 트랜지스터(T4)의 제4 소스 전극(S4)과 연결되어 있다.
상술한 복수의 스캔 라인들은 제2 박막 트랜지스터(T2) 및 제3 박막 트랜지스터(T3) 각각의 제2 게이트 전극(G2) 및 제3 게이트 전극(G3) 각각에 제1 스캔 신호를 전달하는 제1 스캔 라인(Sn), 제4 박막 트랜지스터(T4)의 제4 게이트 전극(G4)에 제2 스캔 신호를 전달하는 제2 스캔 라인(Sn-1), 제7 박막 트랜지스터(T7)의 제7 게이트 전극(G7)에 제3 스캔 신호를 전달하는 제3 스캔 라인(Sn-2), 제5 박막 트랜지스터(T5) 및 제6 박막 트랜지스터(T6) 각각의 제5 게이트 전극(G5) 및 제6 게이트 전극(G6) 각각에 발광 제어 신호를 전달하는 발광 제어 라인(EM)을 포함할 수 있다.
커패시터(Cst)는 구동 전원 라인(ELVDD)과 연결된 일 전극 및 제1 게이트 전극(G1) 및 제3 박막 트랜지스터(T3)의 제3 드레인 전극(D3)과 연결된 타 전극을 포함한다.
유기 발광 소자(OLED)는 애노드 전극, 캐소드 전극, 양 전극 사이에 위치하는 유기 발광층을 포함한다. 유기 발광 소자(OLED)의 애노드 전극은 제7 박막 트랜지스터(T7)의 제7 소스 전극(S7) 및 제6 박막 트랜지스터(T6)의 제6 드레인 전극(D6) 각각과 연결되어 있으며, 캐소드 전극은 공통 신호가 전달되는 공통 전원(ELVSS)과 연결된다.
이러한 화소의 구동의 일례로서, 우선, 제3 스캔 라인(Sn-2)에 제3 스캔 신호가 전달되어 제7 박막 트랜지스터(T7)가 턴 온(turn on)되면, 유기 발광 소자(OLED)의 애노드 전극에 흐르는 잔류 전류가 제7 박막 트랜지스터(T7)를 통해 제4 박막 트랜지스터(T4)로 빠져나감으로써, 유기 발광 소자(OLED)의 애노드 전극에 흐르는 잔류 전류에 의한 유기 발광 소자(OLED)의 의도치 않은 발광이 억제된다.
다음, 제2 스캔 라인(Sn-1)에 제2 스캔 신호가 전달되고, 초기화 전원 라인(Vin)에 초기화 신호가 전달되면, 제4 박막 트랜지스터(T4)가 턴 온되어 초기화 신호에 의한 초기화 전압이 제4 박막 트랜지스터(T4)를 통해 제1 박막 트랜지스터(T1)의 제1 게이트 전극(G1) 및 커패시터(Cst)의 타 전극에 공급되며, 이로 인해 제1 게이트 전극(G1) 및 커패시터(Cst)가 초기화된다. 이때, 제1 게이트 전극(G1)이 초기화되면서 제1 박막 트랜지스터(T1)가 턴 온된다.
다음, 제1 스캔 라인(Sn)에 제1 스캔 신호가 전달되고, 데이터 라인(DA)에 데이터 신호가 전달되면, 제2 박막 트랜지스터(T2) 및 제3 박막 트랜지스터(T3) 각각이 턴 온되어 데이터 신호에 의한 데이터 전압(Vd)이 제2 박막 트랜지스터(T2), 제1 박막 트랜지스터(T1), 제3 박막 트랜지스터(T3)를 통해 제1 게이트 전극(G1)에 공급된다. 이때, 제1 게이트 전극(G1)에 공급되는 전압은 최초 데이터 라인(DA)으로부터 공급된 데이터 전압(Vd)으로부터 제1 박막 트랜지스터(T1)의 문턱 전압(Threshold voltage, Vth)만큼 감소한 보상 전압{Vd+Vth, Vth는 (-)의 값}이 공급된다. 제1 게이트 전극(G1)에 공급되는 보상 전압(Vd+Vth)은 제1 게이트 전극(G1)에 연결된 커패시터(Cst)의 타 전극에도 공급된다.
다음, 커패시터(Cst)의 일 전극에는 구동 전원 라인(ELVDD)으로부터 구동 신호에 의한 구동 전압(Vel)이 공급되고, 타 전극에는 상술한 보상 전압(Vd+Vth)이 공급됨으로써, 커패시터(Cst)에는 양 전극에 각각에 인가되는 전압 차에 대응하는 전하가 저장되어 일정 시간 동안 제1 박막 트랜지스터(T1)가 턴 온된다.
다음, 발광 제어 라인(EM)에 발광 제어 신호가 인가되면, 제5 박막 트랜지스터(T5) 및 제6 박막 트랜지스터(T6) 각각이 턴 온되어 구동 전원 라인(ELVDD)으로부터 구동 신호에 의한 구동 전압(Vel)이 제5 박막 트랜지스터(T5)를 통해 제1 박막 트랜지스터(T1)로 공급된다.
그러면, 구동 전압(Vel)이 커패시터(Cst)에 의해 턴 온되어 있는 제1 박막 트랜지스터(T1)를 통과하면서, 커패시터(Cst)에 의해 제1 게이트 전극(G1)에 공급되는 전압과 구동 전압(Vel) 간의 전압차에 대응하는 구동 전류(Id)가 제1 박막 트랜지스터(T1)의 제1 드레인 전극(D1)을 흐르게 되고, 이 구동 전류(Id)가 제6 박막 트랜지스터(T6)를 통해 유기 발광 소자(OLED)로 공급되어 유기 발광 소자(OLED) 일정 시간 동안 발광된다.
한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 일 화소(PX)의 화소 회로(PC)는 제1 스캔 라인(Sn) 내지 제3 스캔 라인(Sn-2), 데이터 라인(DA), 구동 전원 라인(ELVDD), 초기화 전원 라인(Vin)에 선택적으로 연결된 제1 박막 트랜지스터(T1) 내지 제7 박막 트랜지스터(T7) 및 커패시터(Cst)로 구성되었으나, 이에 한정되지 않고 본 발명의 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 일 화소의 화소 회로는 하나 이상의 스캔 라인 및 하나 이상의 데이터 라인을 포함하는 배선들에 선택적으로 연결된 복수의 박막 트랜지스터 및 하나 이상의 커패시터로 구성될 수 있다.
다시 도 1을 참조하면, 리페어 링(RE)은 주변부(NDA)에 형성되어 표시부(DIA)를 둘러싸고 있다. 리페어 링(RE)은 복수의 데이터 라인들(DA) 각각의 단부와 교차하고 있으며, 신호 지연을 방지하기 위해 좌측 리페어 링(LR) 및 우측 리페어 링(RR)으로 분리되어 있다.
스캔 회로(SD)는 기판(SUB)의 주변부(NDA)에 형성되어 있으며, 복수의 스캔 라인들(Sn)과 연결되어 있다. 스캔 회로(SD)는 복수의 스캔 라인들(Sn)의 단부와 연결되어 있으며, 복수의 스캔 라인들(Sn) 각각에 스캔 신호를 전달한다. 도 1에서 스캔 회로(SD)는 표시부(DIA)를 사이에 두고 2개로 서로 대향하여 위치하고 있으나, 이에 한정되지 않고 스캔 회로(SD)는 1개 또는 3개 이상일 수 있다.
구동 회로(DD)는 복수의 데이터 라인들(DA) 및 리페어 링(RE)에 연결되어 복수의 데이터 라인들(DA) 및 리페어 링(RE) 각각에 데이터 신호를 전달한다. 구동 회로(DD)는 타이밍 컨트롤러(Timing controller)를 포함할 수 있다.
이러한 구조에서, 구동 회로를 이용하여 불량 데이터 라인에 전달한 데이터 신호와 동일한 데이터 신호를 리페어 링을 통해 불량 데이터 라인에 전달하여 불량 데이터 라인을 구동할 수 있다. 다만, 이를 위해서는 불량 데이터 라인과 리페어 링을 단락시키는 리페어 공정이 필요하게 된다. 이러한 리페어 공정에 대해서는 후술한다.
이하 도 3을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 리페어 방법에 대해 설명한다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 리페어 방법을 나타낸 평면도이다.
도 3에 도시한 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 리페어 방법은 우선, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 복수의 데이터 라인들의 불량을 검사한다. 이 때, 비주얼 인스펙션(visual inspection) 등의 방법을 이용해 복수의 데이터 라인들의 불량을 검사할 수 있다.
다음, 검출된 불량 데이터 라인(EDA)과 교차하는 리페어 링(RE)을 불량 데이터 라인(EDA)과 리페어 링(RE)의 교차점(P1)에서 단락시킨다. 이 때, 레이저 등을 이용하여 불량 데이터 라인(EDA)과 리페어 링(RE)을 단락시킬 수 있다.
다음으로, 구동 회로(DD)를 이용하여 불량 데이터 라인(EDA)에 전달한 데이터 신호와 동일한 데이터 신호를 리페어 링(RE)에 전달한다. 이 때, 데이터 신호의 전달 경로가 길어지는 것을 방지하기 위해 표시부(DIA)의 좌측에 위치한 불량 데이터 라인(EDA)에는 좌측 리페어 링(LR)을 이용하고, 표시부(DIA)의 우측에 위치한 불량 데이터 라인(EDA)에는 우측 리페어 링(RR)을 이용하여 리페어 공정을 진행할 수 있다.
따라서, 구동 회로(DD)를 이용하여, 불량 데이터 라인(EDA)에 전달한 데이터 신호와 동일한 데이터 신호를 리페어 링(RE)을 통해 불량 데이터 라인(EDA)으로 전달하게 된다. 즉, 도 3에 도시한 바와 같이, 제1 리페어 경로(R1)을 통해 데이터 신호가 전압 강하가 최소화되어 화소(PX)로 전달된다.
한편, 상기 일 실시예에서는 구동 회로(DD)만을 이용하여 불량 데이터 라인(EDA)에 전달한 데이터 신호와 동일한 데이터 신호를 리페어 링(RE)에 전달하였으나, 이에 한정되지 않고 본 발명의 다른 실시예에서는 별도의 추가 구동 회로를 이용하여 불량 데이터 라인에 전달한 데이터 신호와 동일한 데이터 신호를 리페어 링(RE)에 전달할 수 있다.
한편, 도 1에서는 설명의 편의를 위해 기판(SUB)의 주변부(NDA)에 형성된 배선으로서 리페어 링(RE), 복수의 스캔 라인들(Sn)의 단부 및 복수의 데이터 라인들(DA)의 단부를 도시하였다. 그러나, 도 2를 참조하여 설명한 바와 같이, 하나의 화소(PX)에 형성된 화소 회로(PC)는 복수의 배선들(Sn, Sn-1, Sn-2, EM, Vin, DA, ELVDD)과 연결되어 있기 때문에, 기판(SUB)의 주변부(NDA)에는 상술한 복수의 배선들(Sn, Sn-1, Sn-2, EM, Vin, DA, ELVDD) 중 하나 이상과 연결된 다양한 주변 신호 라인들이 형성되어 있으며, 이러한 다양한 주변 신호 라인들과 리페어 링(RE)이 중첩되는 부분에는 원치 않는 커패시터가 형성되어 리페어 링(RE)을 통하는 데이터 신호에 전압 강하가 발생될 수 있다.
본 발명의 발명자들은 이러한 리페어 링(RE)을 통하는 데이터 신호에 전압 강하가 발생되는 것을 억제하기 위해 진보된 유기 발광 표시 장치를 발명하였으며, 이러한 유기 발광 표시 장치의 구체적인 형태에 대해 후술한다.
도 4는 도 1의 A 부분을 나타낸 평면도이다.
도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 리페어 링(RE)은 제1 부분(PA1)을 포함하며, 유기 발광 표시 장치는 주변부(NDA)에 형성되어 리페어 링(RE)의 제1 부분(PA1)과 중첩하는 제1 주변 신호 라인(PSL1)을 더 포함한다.
제1 주변 신호 라인(PSL1)은 도 2를 참조하여 설명한 복수의 배선들(Sn, Sn-1, Sn-2, EM, Vin, DA, ELVDD, ELVSS) 중 하나 이상과 연결된 주변 신호 라인일 수 있으며, 리페어 링(RE)의 제1 부분(PA1)과 교차하여 제1 부분(PA1)과 중첩하고 있다.
리페어 링(RE)의 제1 부분(PA1)은 구동 회로(DD)와 이웃하는 리페어 링(RE)의 일 부분이며, 리페어 링(RE)의 제1 부분(PA1)은 다른 부분 대비 좁은 너비를 가지고 있다.
제1 주변 신호 라인(PSL1)과 중첩하는 리페어 링(RE)의 제1 부분(PA1)이 다른 부분 대비 좁은 너비를 가짐으로써, 서로 중첩하는 리페어 링(RE)의 제1 부분(PA1)과 제1 주변 신호 라인(PSL1) 사이에 형성되는 커패시턴스(capacitance)의 크기가 최소화된다.
이로 인해, 리페어 링(RE)의 제1 부분(PA1)을 통하는 데이터 신호가 제1 주변 신호 라인(PSL1)에 의해 형성되는 커패시턴스에 의해 지연되는 것이 최소화되기 때문에, 리페어 링(RE)을 통하는 데이터 신호에 전압 강하가 발생되는 것이 억제된다.
도 5는 도 1의 B 부분을 나타낸 단면도이다.
도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 리페어 링(RE)은 제2 부분(PA2)을 더 포함한다.
리페어 링(RE)의 제2 부분(PA2)은 스캔 회로(SD)와 이웃하고 있으며, 리페어 링(RE)의 제2 부분(PA2)은 복수의 배선들(Sn, Sn-1, Sn-2, EM, Vin, DA, ELVDD, ELVSS) 중 하나 이상과 연결된 주변 신호 라인과 비중첩하고 있다.
리페어 링(RE)의 제2 부분(PA2)은 리페어 링(RE)을 덮는 절연층(IL)에 형성된 하나 이상의 컨택홀(CNT)에 의해 일 부분 이상이 노출되어 있으며, 리페어 링(RE)은 제2 부분(PA2)과 나란한 방향으로 연장되어 하나 이상의 컨택홀(CNT)을 통해 제2 부분(PA2)과 접촉하는 컨택부(CP)를 더 포함한다.
여기서, 리페어 링(RE)은 상술한 스캔 라인(Sn)과 동일한 층에 위치하는 도전층으로 형성될 수 있으며, 컨택부(CP)는 상술한 데이터 라인(DA)과 동일한 층에 위치하는 도전층으로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않고 다양한 도전층으로 형성될 수 있다.
주변 신호 라인과 비중첩하는 리페어 링(RE)의 제2 부분(PA2)이 절연층(IL)에 형성된 컨택홀(CNT)을 통해 컨택부(CP)와 접촉하고 있음으로써, 리페어 링(RE)의 제2 부분(PA2)의 전기 저항이 최소화된다.
이로 인해, 리페어 링(RE)의 제2 부분(PA2)을 통하는 데이터 신호가 리페어 링(RE)의 제2 부분(PA2)의 전기 저항에 의해 지연되는 것이 최소화되기 때문에, 리페어 링(RE)을 통하는 데이터 신호에 전압 강하가 발생되는 것이 억제된다.
도 6은 도 1의 C 부분을 나타낸 평면도이다.
도 6에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 리페어 링(RE)은 제3 부분(PA3)을 더 포함하며, 유기 발광 표시 장치는 주변부(NDA)에 형성되어 리페어 링(RE)의 제3 부분(PA3)과 대응하는 개구부(OA)를 포함하는 제2 주변 신호 라인(PSL2)을 더 포함한다.
제2 주변 신호 라인(PSL2)은 도 2를 참조하여 설명한 복수의 배선들(Sn, Sn-1, Sn-2, EM, Vin, DA, ELVDD, ELVSS) 중 하나 이상과 연결된 주변 신호 라인일 수 있으며, 리페어 링(RE)의 제3 부분(PA3)과 대응하는 개구부(OA)를 포함한다.
리페어 링(RE)의 제3 부분(PA3)은 표시부(DIA)를 사이에 두고 구동 회로(DD)와 이격된 리페어 링(RE)의 일 부분이며, 주변부(NDA)에서 복수의 데이터 라인들(DA)과 교차하는 부분이다.
제2 주변 신호 라인(PSL2)이 리페어 링(RE)의 제3 부분(PA3)과 대응하는 부분에 개구부(OA)를 포함함으로써, 리페어 링(RE)의 제3 부분(PA3)과 제2 주변 신호 라인(PSL2) 사이에 커패시턴스(capacitance)가 형성되는 것이 방지된다.
이로 인해, 리페어 링(RE)의 제3 부분(PA3)을 통하는 데이터 신호가 제2 주변 신호 라인(PSL2)에 의해 형성되는 커패시턴스에 의해 지연되는 것이 방지되기 때문에, 리페어 링(RE)을 통하는 데이터 신호에 전압 강하가 발생되는 것이 억제된다.
한편, 본 발명의 일 실시예에서는 리페어 링(RE)의 제1 부분(PA1), 제2 부분(PA2), 제3 부분(PA3) 각각이 좌측 리페어 링(LR) 및 우측 리페어 링(RR) 중 좌측 리페어 링(LR)에 형성되는 것으로 설명하나, 이에 한정되지 않고, 상술한 제1 부분(PA1), 제2 부분(PA2), 제3 부분(PA3) 각각은 우측 리페어 링(RR)에도 형성될 수 있다.
이상과 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치는 제1 주변 신호 라인(PSL1)과 중첩하는 리페어 링(RE)의 제1 부분(PA1)이 다른 부분 대비 좁은 너비를 가지고, 주변 신호 라인과 비중첩하는 리페어 링(RE)의 제2 부분(PA2)이 절연층(IL)에 형성된 컨택홀(CNT)을 통해 컨택부(CP)와 접촉하고 있고, 제2 주변 신호 라인(PSL2)이 리페어 링(RE)의 제3 부분(PA3)과 대응하는 부분에 개구부(OA)를 포함함으로써, 서로 중첩하는 리페어 링(RE)의 제1 부분(PA1)과 제1 주변 신호 라인(PSL1) 사이에 형성되는 커패시턴스(capacitance)의 크기가 최소화되고, 리페어 링(RE)의 제2 부분(PA2)의 전기 저항이 최소화되며, 리페어 링(RE)의 제3 부분(PA3)과 제2 주변 신호 라인(PSL2) 사이에 커패시턴스(capacitance)가 형성되는 것이 방지되기 때문에, 리페어 링(RE)의 제1 부분(PA1), 제2 부분(PA2), 제3 부분(PA3) 각각을 통하는 데이터 신호에 전압 강하가 발생되는 것이 억제되어 리페어 링(RE)을 통하는 데이터 신호에 전압 강하가 발생되는 것이 억제된다.
즉, 리페어 링(RE)을 통하는 신호에 전압 강하 발생되는 것이 억제된 유기 발광 표시 장치가 제공된다.
이하, 도 7 및 도 8을 참조하여 본 발명의 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 설명한다. 이하에서, 상술한 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치와 다른 부분에 대해서 설명한다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타낸 평면도이다. 도 8은 도 7의 A 부분을 나타낸 평면도이다.
도 7 및 도 8에 도시된 바와 같이, 본 발명의 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 리페어 링(RE)은 일 부분(PA1)을 포함하며, 유기 발광 표시 장치는 주변부(NDA)에 형성되어 리페어 링(RE)의 일 부분(PA1)과 중첩하는 제1 주변 신호 라인(PSL1)을 더 포함한다.
제1 주변 신호 라인(PSL1)은 상술한 본 발명의 일 실시예에서 설명한 복수의 배선들(Sn, Sn-1, Sn-2, EM, Vin, DA, ELVDD, ELVSS) 중 하나 이상과 연결된 주변 신호 라인일 수 있으며, 리페어 링(RE)의 일 부분(PA1)과 교차하여 일 부분(PA1)과 중첩하고 있다.
리페어 링(RE)의 일 부분(PA1)은 구동 회로(DD)와 이웃하는 리페어 링(RE)의 일 부분이며, 리페어 링(RE)의 일 부분(PA1)은 다른 부분 대비 좁은 너비를 가지고 있다.
제1 주변 신호 라인(PSL1)과 중첩하는 리페어 링(RE)의 일 부분(PA1)이 다른 부분 대비 좁은 너비를 가짐으로써, 서로 중첩하는 리페어 링(RE)의 일 부분(PA1)과 제1 주변 신호 라인(PSL1) 사이에 형성되는 커패시턴스(capacitance)의 크기가 최소화된다.
이로 인해, 리페어 링(RE)의 일 부분(PA1)을 통하는 데이터 신호가 제1 주변 신호 라인(PSL1)에 의해 형성되는 커패시턴스에 의해 지연되는 것이 최소화되기 때문에, 리페어 링(RE)을 통하는 데이터 신호에 전압 강하가 발생되는 것이 억제된다.
즉, 리페어 링(RE)을 통하는 신호에 전압 강하 발생되는 것이 억제된 유기 발광 표시 장치가 제공된다.
이하, 도 9 및 도 10을 참조하여 본 발명의 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 설명한다. 이하에서, 상술한 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치와 다른 부분에 대해서 설명한다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타낸 평면도이다. 도 10은 도 9의 B 부분을 나타낸 단면도이다.
도 9 및 도 10에 도시된 바와 같이, 본 발명의 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 리페어 링(RE)은 일 부분(PA2)을 더 포함한다.
리페어 링(RE)의 일 부분(PA2)은 스캔 회로(SD)와 이웃하고 있으며, 리페어 링(RE)의 일 부분(PA2)은 복수의 배선들(Sn, Sn-1, Sn-2, EM, Vin, DA, ELVDD, ELVSS) 중 하나 이상과 연결된 주변 신호 라인과 비중첩하고 있다.
리페어 링(RE)의 일 부분(PA2)은 리페어 링(RE)을 덮는 절연층(IL)에 형성된 하나 이상의 컨택홀(CNT)에 의해 일부 이상이 노출되어 있으며, 리페어 링(RE)은 일 부분(PA2)과 나란한 방향으로 연장되어 하나 이상의 컨택홀(CNT)을 통해 일 부분(PA2)과 접촉하는 컨택부(CP)를 더 포함한다.
여기서, 리페어 링(RE)은 상술한 스캔 라인(Sn)과 동일한 층에 위치하는 도전층으로 형성될 수 있으며, 컨택부(CP)는 상술한 데이터 라인(DA)과 동일한 층에 위치하는 도전층으로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않고 다양한 도전층으로 형성될 수 있다.
주변 신호 라인과 비중첩하는 리페어 링(RE)의 일 부분(PA2)이 절연층(IL)에 형성된 컨택홀(CNT)을 통해 컨택부(CP)와 접촉하고 있음으로써, 리페어 링(RE)의 일 부분(PA2)의 전기 저항이 최소화된다.
이로 인해, 리페어 링(RE)의 일 부분(PA2)을 통하는 데이터 신호가 리페어 링(RE)의 일 부분(PA2)의 전기 저항에 의해 지연되는 것이 최소화되기 때문에, 리페어 링(RE)을 통하는 데이터 신호에 전압 강하가 발생되는 것이 억제된다.
즉, 리페어 링(RE)을 통하는 신호에 전압 강하 발생되는 것이 억제된 유기 발광 표시 장치가 제공된다.
이하, 도 10 및 도 11을 참조하여 본 발명의 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 설명한다. 이하에서, 상술한 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치와 다른 부분에 대해서 설명한다.
도 11은 본 발명의 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타낸 평면도이다. 도 12는 도 11의 C 부분을 나타낸 평면도이다.
도 11 및 도 12에 도시된 바와 같이, 본 발명의 다른 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 리페어 링(RE)은 일 부분(PA3)을 더 포함하며, 유기 발광 표시 장치는 주변부(NDA)에 형성되어 리페어 링(RE)의 일 부분(PA3)과 대응하는 개구부(OA)를 포함하는 제2 주변 신호 라인(PSL2)을 더 포함한다.
제2 주변 신호 라인(PSL2)은 복수의 배선들(Sn, Sn-1, Sn-2, EM, Vin, DA, ELVDD, ELVSS) 중 하나 이상과 연결된 주변 신호 라인일 수 있으며, 리페어 링(RE)의 일 부분(PA3)과 대응하는 개구부(OA)를 포함한다.
리페어 링(RE)의 일 부분(PA3)은 표시부(DIA)를 사이에 두고 구동 회로(DD)와 이격된 리페어 링(RE)의 일부이며, 주변부(NDA)에서 복수의 데이터 라인들(DA)과 교차하는 부분이다.
제2 주변 신호 라인(PSL2)이 리페어 링(RE)의 일 부분(PA3)과 대응하는 부분에 개구부(OA)를 포함함으로써, 리페어 링(RE)의 일 부분(PA3)과 제2 주변 신호 라인(PSL2) 사이에 커패시턴스(capacitance)가 형성되는 것이 방지된다.
이로 인해, 리페어 링(RE)의 일 부분(PA3)을 통하는 데이터 신호가 제2 주변 신호 라인(PSL2)에 의해 형성되는 커패시턴스에 의해 지연되는 것이 방지되기 때문에, 리페어 링(RE)을 통하는 데이터 신호에 전압 강하가 발생되는 것이 억제된다.
본 발명을 앞서 기재한 바에 따라 바람직한 실시예를 통해 설명하였지만, 본 발명은 이에 한정되지 않으며 다음에 기재하는 특허청구범위의 개념과 범위를 벗어나지 않는 한, 다양한 수정 및 변형이 가능하다는 것을 본 발명이 속하는 기술 분야에 종사하는 자들은 쉽게 이해할 것이다.
표시부(DIA), 주변부(NDA), 기판(SUB), 스캔 라인(Sn), 데이터 라인(DA), 화소(PX), 리페어 링(RE), 구동 회로(DD)

Claims (17)

  1. 화상을 표시하는 표시부, 상기 표시부를 둘러싸고 있는 주변부를 포함하는 기판;
    상기 기판 상에 형성되어 있으며 제1 방향으로 연장된 복수의 스캔 라인들;
    상기 복수의 스캔 라인들과 교차하며 제2 방향으로 연장되어 있는 복수의 데이터 라인들;
    상기 표시부에 형성되어 있으며, 각각이 상기 복수의 스캔 라인들 각각 및 상기 복수의 데이터 라인들 각각에 연결되어 있는 복수의 화소들;
    상기 주변부에 형성되어 상기 표시부를 둘러싸며, 다른 부분 대비 좁은 너비를 가지는 제1 부분을 포함하는 리페어 링; 및
    상기 복수의 데이터 라인들 및 상기 리페어 링에 데이터 신호를 전달하는 구동 회로
    를 포함하는 유기 발광 표시 장치.
  2. 제1항에서,
    상기 주변부에 형성되어 있으며, 상기 리페어 링의 상기 제1 부분과 중첩하는 제1 주변 신호 라인을 더 포함하는 유기 발광 표시 장치.
  3. 제2항에서,
    상기 리페어 링의 상기 제1 부분은 상기 구동 회로와 이웃하는 유기 발광 표시 장치.
  4. 제1항에서,
    상기 리페어 링은 상기 리페어 링을 덮는 절연층에 형성된 하나 이상의 컨택홀에 의해 노출되는 제2 부분을 더 포함하는 유기 발광 표시 장치.
  5. 제4항에서,
    상기 리페어 링은 상기 제2 부분과 나란한 방향으로 연장되어 상기 하나 이상의 컨택홀을 통해 상기 제2 부분과 접촉하는 컨택부를 더 포함하는 유기 발광 표시 장치.
  6. 제4항에서,
    상기 주변부에 형성되어 상기 복수의 스캔 라인들과 연결된 스캔 회로를 더 포함하며,
    상기 리페어 링의 상기 제2 부분은 상기 스캔 회로와 이웃하는 유기 발광 표시 장치.
  7. 제1항에서,
    상기 리페어 링은 상기 주변부에서 상기 복수의 데이터 라인들과 교차하는 제3 부분을 더 포함하며,
    상기 주변부에 형성되어 있으며, 상기 리페어 링의 상기 제3 부분과 대응하는 개구부를 포함하는 제2 주변 신호 라인을 더 포함하는 유기 발광 표시 장치.
  8. 제7항에서,
    상기 리페어 링의 상기 제3 부분은 상기 표시부를 사이에 두고 상기 구동 회로와 이격된 유기 발광 표시 장치.
  9. 제1항에서,
    상기 구동 회로는 상기 복수의 데이터 라인들 중 불량 데이터 라인에 전달한 데이터 신호와 동일한 데이터 신호를 상기 리페어 링에 전달하는 유기 발광 표시 장치.
  10. 제1항에서,
    상기 리페어 링은 좌측 리페어 링 및 우측 리페어 링으로 분리되어 있는 유기 발광 표시 장치.
  11. 화상을 표시하는 표시부, 상기 표시부를 둘러싸고 있는 주변부를 포함하는 기판;
    상기 기판 상에 형성되어 있으며 제1 방향으로 연장된 복수의 스캔 라인들;
    상기 복수의 스캔 라인들과 교차하며 제2 방향으로 연장되어 있는 복수의 데이터 라인들;
    상기 표시부에 형성되어 있으며, 각각이 상기 복수의 스캔 라인들 각각 및 상기 복수의 데이터 라인들 각각에 연결되어 있는 복수의 화소들;
    상기 주변부에 형성되어 상기 표시부를 둘러싸며, 상기 리페어 링을 덮는 절연층에 형성된 하나 이상의 컨택홀에 의해 노출되는 일 부분을 포함하는 리페어 링; 및
    상기 복수의 데이터 라인들 및 상기 리페어 링에 데이터 신호를 전달하는 구동 회로
    를 포함하는 유기 발광 표시 장치.
  12. 제11항에서,
    상기 리페어 링은 상기 일 부분과 나란한 방향으로 연장되어 상기 하나 이상의 컨택홀을 통해 상기 일 부분과 접촉하는 컨택부를 더 포함하는 유기 발광 표시 장치.
  13. 제11항에서,
    상기 주변부에 형성되어 상기 복수의 스캔 라인들과 연결된 스캔 회로를 더 포함하며,
    상기 리페어 링의 상기 일 부분은 상기 스캔 회로와 이웃하는 유기 발광 표시 장치.
  14. 제11항에서,
    상기 리페어 링은 상기 주변부에서 상기 복수의 데이터 라인들과 교차하는 타 부분을 더 포함하며,
    상기 주변부에 형성되어 있으며, 상기 리페어 링의 상기 타 부분과 대응하는 개구부를 포함하는 주변 신호 라인을 더 포함하는 유기 발광 표시 장치.
  15. 제14항에서,
    상기 리페어 링의 상기 타 부분은 상기 표시부를 사이에 두고 상기 구동 회로와 이격된 유기 발광 표시 장치.
  16. 화상을 표시하는 표시부, 상기 표시부를 둘러싸고 있는 주변부를 포함하는 기판;
    상기 기판 상에 형성되어 있으며 제1 방향으로 연장된 복수의 스캔 라인들;
    상기 복수의 스캔 라인들과 교차하며 제2 방향으로 연장되어 있는 복수의 데이터 라인들;
    상기 표시부에 형성되어 있으며, 각각이 상기 복수의 스캔 라인들 각각 및 상기 복수의 데이터 라인들 각각에 연결되어 있는 복수의 화소들;
    상기 주변부에 형성되어 상기 표시부를 둘러싸며, 상기 주변부에서 상기 복수의 데이터 라인들과 교차하는 일 부분을 포함하는 리페어 링;
    상기 복수의 데이터 라인들 및 상기 리페어 링에 데이터 신호를 전달하는 구동 회로; 및
    상기 주변부에 형성되어 있으며, 상기 리페어 링의 상기 일 부분과 대응하는 개구부를 포함하는 주변 신호 라인
    를 포함하는 유기 발광 표시 장치.
  17. 제16항에서,
    상기 리페어 링의 상기 일 부분은 상기 표시부를 사이에 두고 상기 구동 회로와 이격된 유기 발광 표시 장치.
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