KR20160103615A - 표시장치 및 그의 검사방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 주사 구동부의 불량을 검출할 수 있도록 한 표시장치에 관한 것이다.
본 발명의 실시예에 의한 표시장치는 주사선들 및 데이터선들에 의하여 구획된 영역에 위치되는 화소들과; 상기 주사선들에 접속되는 복수의 스테이지를 포함하는 주사 구동부와; 상기 스테이지들의 불량여부를 검출하기 위하여 상기 스테이지들 각각과 접속되며, 제어신호가 공급될 때 턴-온되는 제 1트랜지스터들을 포함하는 검사부와; 상기 제어신호를 공급하기 위한 타이밍 제어부를 구비하며; 상기 타이밍 제어부는 상기 제어신호가 공급되는 기간을 적어도 한번 줄이면서 불량이 발생된 스테이지의 위치를 검출한다.

Description

표시장치 및 그의 검사방법{DISPLAY DEVICE AND INSPECTING METHOD THEREOF}
본 발명의 실시예는 표시장치 및 그의 검사방법에 관한 것으로, 특히 주사 구동부의 불량을 검출할 수 있도록 한 표시장치 및 그의 검사방법에 관한 것이다.
정보화 기술이 발달함에 따라 사용자와 정보간의 연결매체인 표시장치의 중요성이 부각되고 있다. 이에 부응하여 액정 표시장치(Liquid Crystal Display Device : LCD), 유기전계발광 표시장치(Organic Light Emitting Display Device : OLED) 및 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel : PDP) 등과 같은 표시장치(Display Device)의 사용이 증가하고 있다.
일반적으로, 표시장치는 데이터선들로 데이터신호를 공급하기 위한 데이터 구동부, 주사선들로 주사신호를 공급하기 위한 주사 구동부 및 주사선들 및 데이터선들에 접속되는 복수의 화소들을 포함하는 화소부를 구비한다.
화소부에 포함된 화소들은 주사선으로 주사신호가 공급될 때 선택되어 데이터선으로부터 데이터신호를 공급받는다. 데이터신호를 공급받은 화소들은 데이터신호에 대응하는 휘도의 빛을 외부로 공급한다.
주사 구동부는 주사선들과 각각 접속되는 스테이지들을 구비한다. 스테이지들은 타이밍 제어부로부터의 신호들에 대응하여 자신과 접속된 주사선으로 주사신호를 공급한다. 이를 위하여, 스테이지들 각각은 P형(예를 들면, PMOS) 및/또는 N형(예를 들면, NMOS)의 트랜지스터로 구성되며, 화소들과 동시에 패널에 실장될 수 있다.
한편, 주사 구동부가 패널에 실장되는 경우 화소들로부터 생성되는 빛의 이상 유무를 이용하여 주사 구동부의 불량을 검출한다.(Visual Test) 하지만, 화소들로부터 생성되는 빛을 이용하여 주사 구동부의 불량을 검출하는 경우, 화소들의 공정과정이 완료되어야 한다. 즉, 주사 구동부가 불량인 패널도 액정 주입 공정 등 추가 공정이 진행되어야 하고, 이에 따라 불필요한 손실이 발생된다. 따라서, 화소를 이용하지 않고, 주사 구동부를 이루는 트랜지스터들의 불량을 검출할 수 있는 방법이 요구되고 있다.
따라서, 본 발명은 주사 구동부를 이루는 스테이지들의 출력전압(즉, 주사신호)을 이용하여 주사 구동부의 불량을 검출할 수 있도록 한 표시장치 및 그의 검사방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 실시예에 의한 표시장치는 주사선들 및 데이터선들에 의하여 구획된 영역에 위치되는 화소들과; 상기 주사선들에 접속되는 복수의 스테이지를 포함하는 주사 구동부와; 상기 스테이지들의 불량여부를 검출하기 위하여 상기 스테이지들 각각과 접속되며, 제어신호가 공급될 때 턴-온되는 제 1트랜지스터들을 포함하는 검사부와; 상기 제어신호를 공급하기 위한 타이밍 제어부를 구비하며; 상기 타이밍 제어부는 상기 제어신호가 공급되는 기간을 적어도 한번 줄이면서 불량이 발생된 스테이지의 위치를 검출한다.
실시 예에 의한, i(i는 자연수)번째 제 1트랜지스터의 제 1전극은 i번째 스테이지의 출력단자에 접속된다.
실시 예에 의한, 상기 검사부는 제 1전극이 상기 i번째 스테이지의 출력단자에 접속되며, 게이트전극이 상기 i번째 제 1트랜지스터의 제 2전극에 접속되는 i번째 제 2트랜지스터를 구비한다.
실시 예에 의한, 상기 검사부는 게이트전극 및 제 1전극이 상기 i번째 제 1트랜지스터의 제 2전극에 접속되는 i번째 제 2트랜지스터를 구비한다.
실시 예에 의한, 상기 타이밍 제어부는 최초 모든 스테이지들에서 주사신호가 공급되는 기간 동안 상기 제어신호를 공급하며, 상기 스테이지들 중 적어도 하나에서 불량이 발생된 경우 상기 제어신호의 공급기간을 줄이면서 최종적으로 불량이 발생된 스테이지를 검출한다.
본 발명의 다른 실시예에 의한 표시장치는 주사선들 및 데이터선들에 의하여 구획된 영역에 위치되는 화소들과; 상기 주사선들에 접속되는 스테이지들을 포함하는 주사 구동부와; 상기 스테이지들의 불량여부를 검출하기 위하여 상기 스테이지들 각각과 접속되는 제 1트랜지스터들과, 상기 제 1트랜지스터들 각각과 접속되며 제어신호가 공급될 때 턴-온되는 제 2트랜지스터들을 포함하는 검사부와; 상기 제어신호를 공급하기 위한 타이밍 제어부를 구비하며; 상기 타이밍 제어부는 상기 제어신호가 공급되는 기간을 적어도 한번 줄이면서 불량이 발생된 스테이지의 위치를 검출한다.
실시 예에 의한, i(i는 자연수) 번째 제 1트랜지스터의 게이트전극은 i번째 스테이지의 출력단자에 접속되며, 홀수번째 스테이지들에 접속되는 제 1트랜지스터들의 제 1전극은 제 1전압원에 접속되며, 짝수번째 스테이지들에 접속되는 제 1트랜지스터들의 제 1전극은 상기 제 1전압원의 전압과 상이한 전압을 가지는 2전압원에 접속된다.
실시 예에 의한, i번째 제 2트랜지스터의 제 1전극은 i번째 제 1트랜지스터의 제 2전극에 접속된다.
실시 예에 의한, 상기 타이밍 제어부는 최초 모든 스테이지들에서 주사신호가 공급되는 기간 동안 상기 제어신호를 공급하며, 상기 스테이지들 중 적어도 하나에서 불량이 발생된 경우 상기 제어신호의 공급기간을 줄이면서 최종적으로 불량이 발생된 스테이지를 검출한다.
본 발명의 실시예에 의한 주사신호를 공급하기 위한 스테이지들을 포함하는 표시장치의 검사방법에 있어서, 제어신호를 공급하여 감지선과 상기 스테이지들 사이에 각각 접속된 제 1트랜지스터들을 턴-온 상태로 설정하는 단계와, 상기 감지선으로 공급되는 전압을 이용하여 상기 스테이지들의 불량여부를 검사하는 단계를 포함하며, 상기 스테이지들 중 적어도 하나가 불량으로 판단된 경우 상기 제어신호의 공급기간을 적어도 한번 줄이면서 불량이 발생된 스테이지의 위치를 검출한다.
실시 예에 의한, 상기 스테이지들의 불량여부가 검사된 후 상기 감지선은 패널에서 컷팅된다.
실시 예에 의한, 상기 스테이지들의 불량여부가 검사된 후 상기 감지선 및 상기 제 1트랜지스터들은 패널에서 컷팅된다.
본 발명의 실시예에 의한 표시장치 및 그의 검사방법에 의하면 스테이지들 각각에서 출력되는 주사신호를 이용하여 주사 구동부의 불량을 검출할 수 있다. 또한, 본원 발명에서는 검사부로 공급되는 제어신호의 공급기간을 줄이면서 불량이 발생된 스테이지의 위치를 파악할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 의한 표시장치를 개략적으로 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1에 도시된 검사부의 제 1실시예를 나타내는 도면이다.
도 3은 도 2에서 감지선이 컷팅된 모습을 나타내는 도면이다.
도 4는 도 2에서 감지선 및 검사부가 컷팅된 모습을 나타내는 도면이다.
도 5는 검사기간 동안 공급되는 제어신호의 실시예를 나타내는 도면이다.
도 6은 스테이지의 불량에 대응한 감지선의 전압의 일례를 나타내는 도면이다.
도 7은 스테이지의 불량에 대응한 감지선의 전압의 다른예를 나타내는 도면이다.
도 8은 불량이 발생된 스테이지의 위치를 파악하기 위한 제어신호의 공급기간 실시예를 나타내는 도면이다.
도 9는 도 1에 도시된 검사부의 제 2실시예를 나타내는 도면이다.
도 10은 도 1에 도시된 검사부의 제 3실시예를 나타내는 도면이다.
도 11은 도 10의 검사부에 감지선이 연결된 모습을 나타내는 도면이다.
도 12는 도 10의 검사부에 대응한 감지선 전압의 실시예을 나타내는 도면이다.
도 13은 도 10의 검사부에 대응한 감지선의 전압의 다른 실시예를 나타내는 도면이다.
이하 첨부한 도면을 참고하여 본 발명의 실시예 및 그 밖에 당업자가 본 발명의 내용을 쉽게 이해하기 위하여 필요한 사항에 대하여 상세히 기재한다. 다만, 본 발명은 청구범위에 기재된 범위 안에서 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으므로 하기에 설명하는 실시예는 표현 여부에 불구하고 예시적인 것에 불과하다.
즉, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 이하의 설명에서 어떤 부분이 다른 부분과 연결되어 있다고 할 때, 이는 직접적으로 연결되어 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 전기적으로 연결되어 있는 경우도 포함한다. 또한, 도면에서 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 참조번호 및 부호로 나타내고 있음에 유의해야 한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 의한 표시장치를 개략적으로 나타내는 블록도이다. 도 1에서는 설명의 편의성을 위하여 표시장치가 액정 표시장치인 것으로 가정하여 설명하지만, 본원 발명이 이에 한정되지는 않는다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 실시예에 의한 표시장치는 화소부(100), 주사 구동부(110), 데이터 구동부(120), 타이밍 제어부(130), 호스트 시스템(140) 및 검사부(150) 등을 포함한다.
화소부(100)는 액정패널의 유효 표시부를 의미한다. 액정패널은 박막트랜지스터(Thin Film Transistor : 이하 "TFT"라 함) 기판과 컬러필터 기판을 포함한다. TFT 기판과 컬러필터 기판 사이에는 액정층이 형성된다. TFT 기판 상에는 데이터선(D)들 및 주사선(S)들이 형성되고, 주사선(S)들 및 데이터선(D)들에 의하여 구획된 영역에는 복수의 화소들이 배치된다.
화소들 각각에 포함되는 TFT는 주사선(S)으로부터의 주사신호에 응답하여 데이터선(D)을 경유하여 공급되는 데이터신호의 전압을 액정 커패시터(Clc)에 전달한다. 이를 위하여 TFT의 게이트전극은 주사선(S)에 접속되고, 제 1전극은 데이터선(D)에 접속된다. 그리고, TFT의 제 2전극은 액정 커패시터(Clc) 및 스토리지 커패시터(Storage Capacitor : SC)에 접속된다.
여기서, 제 1전극은 TFT의 소오스전극 및 드레인전극 중 어느 하나를 의미하며, 제 2전극은 제 1전극과 다른 전극을 의미한다. 일례로, 제 1전극이 소오스전극으로 설정되는 경우, 제 2전극은 드레인전극으로 설정된다. 또한, 액정 커패시터(Clc)는 TFT 기판에 형성되는 화소전극(미도시)과 공통전극 사이의 액정을 등가적으로 표현한 것이다. 스토리지 커패시터(SC)는 화소전극에 전달된 데이터신호의 전압을 다음 데이터신호가 공급될 때까지 일정시간 유지한다.
컬러필터 기판에는 블랙 매트릭스 및 컬러필터 등이 형성된다.
공통전극은 TN(Twisted Nematic) 모드와 VA(Vertical Alignment) 모드와 같은 수직전계 구동방식에서 컬러필터 기판에 형성되며, IPS(In Plane Switching) 모드와 FFS(Fringe Field Switching) 모드와 같은 수평전계 구동방식에서 화소전극과 함께 하부 유리기판 상에 형성된다. 여기서, 액정패널의 액정모드는 전술한 TN 모드, VA 모드, IPS 모드, FFS 모드뿐 아니라 어떠한 액정모드로도 구현될 수 있다.
데이터 구동부(120)는 타이밍 제어부(130)로부터 입력되는 영상 데이터(RGB)를 정극성/부극성 감마보상전압으로 변환하여 정극성/부극성 아날로그 데이터전압들을 생성한다. 데이터 구동부(120)에서 생성된 정극성/부극성 아날로그 데이터전압은 데이터신호로써 데이터선(D)들로 공급된다.
주사 구동부(110)는 주사선(S)들로 주사신호를 공급한다. 일례로, 주사 구동부(110)는 주사선(S)들로 주사신호를 순차적으로 공급할 수 있다. 주사선(S)들로 주사신호가 순차적으로 공급되면 화소들이 수평라인 단위로 선택되고, 주사신호에 의하여 선택된 화소들은 데이터신호를 공급받는다. 이를 위하여, 주사 구동부(110)는 도 2에 도시된 바와 같이 주사선(S)들 각각에 접속되는 스테이지(ST)를 구비한다. 이와 같은 주사 구동부(110)는 ASG(Armophouse silicon gate driver)의 형태로 액정 패널에 실장될 수 있다. 즉, 주사 구동부(110)는 박막 공정을 통해서 TFT 기판에 실장될 수 있다. 또한, 주사 구동부(110)는 화소부(100)를 사이에 두고 액정 패널의 양측에 실장될 수도 있다.
타이밍 제어부(130)는 호스트 시스템(140)으로부터 출력된 영상 데이터(RGB), 수직동기신호(Vsync), 수평동기신호(Hsync), 데이터 인에이블 신호(DE) 및 클럭신호(CLK) 등의 타이밍 신호들에 기초하여 게이트 제어신호를 주사 구동부(110)로 공급하고, 데이터 제어신호를 데이터 구동부(120)로 공급한다. 또한, 타이밍 제어부(130)는 제어신호(CS)를 검사부(150)로 공급한다.
게이트 제어신호에는 게이트 스타트 펄스(Gate Start Pulse : GSP), 하나 이상의 게이트 쉬프트 클럭(Gate Shift Clock : GSC) 등이 포함된다. 게이트 스타트 펄스(GSP)는 첫 번째 주사신호의 타이밍을 제어한다. 하나 이상의 게이트 쉬프트 클럭(GSC)은 게이트 스타트 펄스(GSP)를 쉬프트시키기 위한 클럭신호로 사용된다.
데이터 제어신호에는 소스 스타트 펄스(Source Start Pulse : SSP), 소스 샘플링 클럭(Source Sampling Clock : SSC), 소스 출력 인에이블신호(Source Output Enable : SOE) 및 극성 제어신호(POL) 등이 포함된다. 소스 스타트 펄스(SSP)는 데이터 구동부(120)의 데이터 샘플링 시작 시점을 제어한다. 소스 샘플링 클럭(SSC)은 라이징 또는 폴링 에지에 기준하여 데이터 구동부(120)의 샘플링 동작을 제어한다. 소스 출력 인에이블신호(SOE)는 데이터 구동부(120)의 출력 타이밍을 제어한다. 극성 제어신호(POL)는 데이터 구동부(120)로부터 출력되는 데이터신호의 극성을 j(j는 자연수) 수평기간 주기로 반전시킨다. 여기서, 데이터 구동부(120)에 입력될 비디오 데이터(RGB)가 mini LVDS(Low Voltage Differential Signaling) 인터페이스 규격으로 전송된다면, 소스 스타트 펄스(SSP)와 소스 샘플링 클럭(SSC)은 생략될 수 있다.
호스트 시스템(140)은 LVDS(Low Voltage Differential Signaling), TMDS(Transition Minimized Differential Signaling) 등의 인터페이스를 통해 영상 데이터(RGB)를 타이밍 제어부(130)로 공급한다. 또한, 호스트 시스템(140)은 타이밍 신호들(Vsync, Hsync, DE, CLK)을 타이밍 제어부(130)로 공급한다.
검사부(150)는 주사 구동부(110)에 포함된 스테이지(ST)들의 불량여부를 검사한다. 특히, 검사부(150)는 주사 구동부(110)가 형성된 후 액정이 주입되기 전에 주사 구동부(110)의 불량을 검출하고, 이에 따라 제조 비용들을 절감할 수 있다.
도 2는 도 1에 도시된 검사부의 제 1실시예를 나타내는 도면이다.
도 2를 참조하면, 주사 구동부(110)는 스테이지들(ST1 내지 STn)을 구비한다. 스테이지들(ST1 내지 STn) 각각은 주사선들(S1 내지 Sn) 중 어느 하나와 접속된다. 즉, i(i는 자연수)번째 스테이지(STi)는 i번째 주사선(Si)에 접속되며, i번째 주사선(Si)으로 주사신호를 공급한다. 이를 위하여, 스테이지들(ST1 내지 STn) 각각은 복수의 트랜지스터들을 구비하며, 소스 스타트 펄스(SSP) 및 소스 샘플링 클럭(SSC) 등에 응답하여 주사선(S1 내지 Sn 중 어느 하나)으로 주사신호를 공급한다.
검사부(150)는 스테이지들(ST1 내지 STn) 각각의 출력단자(즉, 주사선에 접속되는 단자)에 접속되는 제 1트랜지스터(M1) 및 제 2트랜지스터(M2)를 구비한다.
i번째 수평라인에 위치된 제 1트랜지스터(M1)의 제 1전극은 i번째 스테이지(STi)의 출력단자에 접속되고, 제 2전극은 i번째 수평라인에 위치된 제 2트랜지스터(M2)의 게이트전극에 접속된다. 이와 같은 제 1트랜지스터(M1)는 제어신호(CS)가 공급될 때 턴-온되고, 제어신호(CS)가 공급되지 않을 때 턴-오프된다. 여기서, 제어신호(CS)가 공급된다는 것은 제어신호(CS)를 공급하는 제어선(152)으로 제 1트랜지스터(M1)가 턴-온될 수 있는 전압(예를 들어, 하이전압)이 공급됨을 의미하며, 제어신호(CS)가 공급되지 않는다는 것은 제어선(152)으로 제 1트랜지스터(M1)가 턴-오프될 수 있는 전압(예를 들면, 로우전압)이 공급됨을 의미한다.
i번째 수평라인에 위치된 제 2트랜지스터(M2)의 제 1전극은 i번째 스테이지(STi)의 출력단자에 접속되고, 제 2전극은 감지선(Detect Line : DEL)에 접속된다. 그리고, i번째 수평라인에 위치된 제 2트랜지스터(M2)의 게이트전극은 i번째 수평라인에 위치된 제 1트랜지스터(M1)의 제 2전극에 접속된다. 이 경우, 제 1트랜지스터(M1)가 턴-온되면 제 2트랜지스터(M2)는 스테이지(STi)로부터 감지선(DEL)으로 전류가 공급될 수 있도록 다이오드 형태로 접속된다.
감지선(DEL)은 검사기간 동안 스테이지들(ST1 내지 STn)로부터 주사신호를 공급받는다. 그리고, 검사기간 동안 감지선(DEL)으로 공급된 주사신호의 전압을 체크하여 주사 구동부(110), 즉 스테이지들(ST1 내지 STn)의 불량여부를 검출한다.
한편, 감지선(DEL)은 검사기간 이후에 컷팅선(Cutting line : 200)을 따라 패널에서 제거되고, 이에 따라 검사기간 이후의 표시장치에는 도 3과 같이 감지선(DEL)이 포함되지 않는다. 한편, 제 1트랜지스터(M1) 및 제 2트랜지스터(M2)는 다이오드 형태로 접속되기 때문에 감지선(DEL)이 컷팅된 후 정전기를 방지하는 다이오드 역할을 수행할 수 있다. 추가적으로, 컷팅선의 위치는 다양하게 설정될 수 있다. 일례로, 도 4와 같이 컷팅선(200')에 의하여 검사부(150)가 제거될 수도 있다.
도 5는 검사기간 동안 공급되는 제어신호의 실시예를 나타내는 도면이다. 도 5에서는 설명의 편의성을 위하여 주사선들(S1 내지 Sn)로 주사신호가 순차적으로 공급되는 것으로 도시되었지만, 본원 발명이 이에 한정되지는 않는다.
도 5를 참조하면, 검사기간 동안 제어선(152)으로 제어신호(CS)가 공급된다. 제어선(152)으로 제어신호(CS)가 공급되면 제 1트랜지스터(M1)들이 턴-온된다. 제 1트랜지스터(M1)들이 턴-온되면 검사부(150)에 포함된 제 2트랜지스터(M2)들은 다이오드 형태로 접속된다.
제어선(152)으로 제어신호가 공급될 때 스테이지들(ST1 내지 STn)은 주사선들(S1 내지 Sn)로 주사신호를 순차적으로 공급한다. 주사선들(S1 내지 Sn)로 공급된 주사신호는 제 2트랜지스터(M2)들을 경유하여 감지선(DEL)으로 공급된다. 이때, 감지선(DEL)으로 공급되는 주사신호의 전압을 이용하여 스테이지들(ST1 내지 STn)의 불량을 검출한다.
일례로, 도 6에 도시된 바와 같이 검사기간 동안 감지선(DEL)의 전압이 특정 시점에 하강될 수 있다. 이때, 특정 시점에 주사신호를 공급한 스테이지는 정상적인 주사신호를 출력하지 못한 것으로 판단되며, 이에 따라 특정 시점에 주사신호를 공급한 스테이지를 불량으로 판정한다.
한편, 스테이지들(ST1 내지 STn) 각각에 포함되는 풀업 트랜지스터(즉, 주사선과 접속되어 하이전압을 공급하는 트랜지스터)에 불량이 발생한 경우 도 7에 도시된 바와 같이 감지선(DEL)의 전압이 시간이 지날수록 상승한다. 이 경우, 주사 구동부(110)가 불량이라고 판단되지만, 불량이 발생된 스테이지(ST1 내지 STn 중 어느 하나)의 위치를 파악할 수 없다. 따라서, 본원 발명에서는 도 8과 같이 제어신호(CS)의 공급기간을 제어하여 불량이 발생된 스테이지(ST1 내지 STn 중 어느 하나)의 위치를 판단한다.
도 8은 불량이 발생된 스테이지의 위치를 파악하기 위한 제어신호의 공급기간 실시예를 나타내는 도면이다. 도 8에서는 설명의 편의성을 위하여 n을 1080으로 설정하며, 제 1주사선(S1)과 접속된 제 1스테이지(ST1)에서 불량이 발생 되었다고 가정하기로 한다.
도 8을 참조하면, 먼저 타이밍 제어부(130)는 모든 주사선(S1 내지 Sn)으로 주사신호가 공급되는 기간, 즉 모든 스테이지(ST1 내지 STn)에서 주사신호가 출력되는 기간 동안 제어선(152)으로 제어신호(CS)를 공급한다. 이때, 도 6에 도시된 바와 같이 감지선(DEL)의 전압이 시간이 지날수록 상승된다면, 주사 구동부(150)를 불량으로 판단한다.
이후, 타이밍 제어부(130)는 n/2에 대응하여 특정 프레임 기간 동안 제 1스테이지(ST1) 내지 제 540스테이지(ST540)에서 주사신호가 출력되는 기간(S1 내지 S540) 동안 제어선(152)으로 제어신호(CS)를 공급하고, 다음 프레임 기간 동안 제 541스테이지(ST541) 내지 제 1080스테이지(ST1080)에서 주사신호가 출력되는 기간(S541 내지 S1080) 동안 제어선(152)으로 제어신호(CS)를 공급한다. 이 경우, 제 1스테이지(ST1)에서 불량이 발생했으므로, 제 1스테이지(ST1) 내지 제 540스테이지(ST540)는 불량으로 판단되고, 제 541스테이지(ST541) 및 제 1080스테이지(ST1080)는 정상으로 판단된다. (추가적으로, 제 1스테이지(ST1) 내지 제 540스테이지(ST540)가 불량으로 판단되는 경우, 제 541스테이지(ST541) 및 제 1080스테이지(ST1080)에 대해서는 불량검사가 진행되지 않을 수도 있다.)
제 1스테이지(ST1) 내지 제 540스테이지(ST540)가 불량으로 판단되면 타이밍 제어부(130)는 540/2에 대응하여 제 1스테이지(ST1) 내지 제 270스테이지(ST270)에서 주사신호가 출력되는 기간(S1 내지 S270) 동안 제어선(152)으로 제어신호(CS)를 공급하고, 다음 프레임 기간 동안 제 271스테이지(ST271) 내지 제 540스테이지(ST540)에서 주사신호가 출력되는 기간(S271 내지 S540) 동안 제어선(152)으로 제어신호(CS)를 공급한다. 그러면, 제 1스테이지(ST1) 내지 제 270스테이지(ST270)는 불량으로 판단되고, 제 271스테이지(ST271) 내지 제 540스테이지(ST540)는 정상으로 판단된다.
제 1스테이지(ST1) 내지 제 270스테이지(ST270)가 불량으로 판단되면 타이밍 제어부(130)는 270/2에 대응하여 제 1스테이지(ST1) 내지 제 135스테이지(ST135)에서 주사신호가 출력되는 기간(S1 내지 S135) 동안 제어선(152)으로 제어신호(CS)를 공급하고, 다음 프레임 기간 동안 제 136스테이지(ST136) 내지 제 270스테이지(ST270)에서 주사신호가 출력되는 기간(S136 내지 S270) 동안 제어선(152)으로 제어신호(CS)를 공급한다. 그러면, 제 1스테이지(ST1) 내지 제 135스테이지(ST135)는 불량으로 판단되고, 제 136스테이지(ST136) 내지 제 270스테이지(ST270)는 정상으로 판단된다.
제 1스테이지(ST1) 내지 제 135스테이지(ST135)가 불량으로 판단되면 타이밍 제어부(130)는 135/2에 대응하여(일례로, 반올림) 제 1스테이지(ST1) 내지 제 68스테이지(ST68)에서 주사신호가 출력되는 기간(S1 내지 S68) 동안 제어선(152)으로 제어신호(CS)를 공급하며, 다음 프레임 기간 동안 제 69스테이지(S69) 내지 제 135스테이지(ST135)에서 주사신호가 출력되는 기간(S69 내지 S135) 동안 제어선(152)으로 제어신호(CS)를 공급한다. 그러면, 제 1스테이지(ST1) 내지 제 1스테이지(ST1) 내지 제 68스테이지(ST68)가 불량으로 판단되고, 제 69스테이지(ST69) 내지 제 135스테이지(ST135)는 정상으로 판단된다.
제 1스테이지(ST1) 내지 제 68스테이지(ST68)가 불량으로 판단되면 타이밍 제어부(130)는 68/2에 대응하여 제 1스테이지(ST1) 내지 제 34스테이지(ST34)에서 주사신호가 출력되는 기간(S1 내지 S34) 동안 제어선(152)으로 제어신호(CS)를 공급하며, 다음 프레임 기간 동안 제 35스테이지(ST35) 내지 제 68스테이지(ST68)에서 주사신호가 출력되는 기간(S35 내지 S68) 동안 제어선(152)으로 제어신호(CS)를 공급한다. 그러면, 제 1스테이지(ST1) 내지 제 34스테이지(ST34)가 불량으로 판단되고, 제 35스테이지(ST35) 내지 제 68스테이지(ST68)는 정상으로 판단된다.
제 1스테이지(ST1) 내지 제 34스테이지(ST34)가 불량으로 판단되면 타이밍 제어부(130)는 34/2에 대응하여 제 1스테이지(ST1) 내지 제 17스테이지(ST17)에서 주사신호가 출력되는 기간(S1 내지 S17) 동안 제어선(152)으로 제어신호(CS)를 공급하며, 다음 프레임 기간 동안 제 18스테이지(ST18) 내지 제 34스테이지(ST34)에서 주사신호가 출력되는 기간(S18 내지 S34) 동안 제어선(152)으로 제어신호(CS)를 공급한다. 그러면, 제 1스테이지(ST1) 내지 제 17스테이지(ST17)가 불량으로 판단되고, 제 18스테이지(ST18) 내지 제 34스테이지(ST34)는 정상으로 판단된다.
제 1스테이지(ST1) 내지 제 17스테이지(ST17)가 불량으로 판단되면 타이밍 제어부(130)는 17/2에 대응하여(일예로, 내림) 제 1스테이지(ST1) 내지 제 8스테이지(ST8)에서 주사신호가 출력되는 기간(S1 내지 S8) 동안 제어선(152)으로 제어신호(CS)를 공급하며, 다음 프레임 기간 동안 제 9스테이지(ST9) 내지 제 17스테이지(ST17)에서 주사신호가 출력되는 기간(S9 내지 S17) 동안 제어선(152)으로 제어신호(CS)를 공급한다. 그러면, 제 1스테이지(ST1) 내지 제 8스테이지(ST8)가 불량으로 판단되고, 제 9스테이지(ST9) 내지 제 17스테이지(ST17)는 정상으로 판단된다.
제 1스테이지(ST1) 내지 제 8스테이지(ST8)가 불량으로 판단되면 타이밍 제어부(130)는 8/2에 대응하여 제 1스테이지(ST1) 내지 제 4스테이지(ST4)에서 주사신호가 출력되는 기간(S1 내지 S4) 동안 제어선(152)으로 제어신호(CS)를 공급하며, 다음 프레임 기간 동안 제 5스테이지(ST5) 내지 제 8스테이지(ST8)에서 주사신호가 출력되는 기간(S5 내지 S8) 동안 제어선(152)으로 제어신호(CS)를 공급한다. 그러면, 제 1스테이지(ST1) 내지 제 4스테이지(ST4)가 불량으로 판단되고, 제 5스테이지(ST5) 내지 제 8스테이지(ST8)는 정상으로 판단된다.
제 1스테이지(ST1) 내지 제 4스테이지(ST4)가 불량으로 판단되면 타이밍 제어부(130)는 4/2에 대응하여 제 1스테이지(ST1) 내지 제 2스테이지(ST2)에서 주사신호가 출력되는 기간(S1 내지 S2) 동안 제어선(152)으로 제어신호(CS)를 공급하며, 다음 프레임 기간 동안 제 3스테이지(ST3) 내지 제 4스테이지(ST4)에서 주사신호가 출력되는 기간(S3 내지 S4) 동안 제어선(152)으로 제어신호(CS)를 공급한다. 그러면, 제 1스테이지(ST1) 내지 제 2스테이지(ST2)가 불량으로 판단되고, 제 3스테이지(ST3) 내지 제 4스테이지(ST4)는 정상으로 판단된다.
이후, 타이밍 제어부(130)는 제 1스테이지(ST1)에서 주사신호가 출력되는 기간 동안 제어선(152)으로 제어신호(CS)를 공급하고, 다음 프레임 기간 동안 제 2스테이지(ST2)에서 주사신호가 출력되는 기간 동안 제어선(152)으로 제어신호(CS)를 공급한다. 그러면, 제 1스테이지(ST1)에서 원하는 주사신호가 출력되지 않음을 확인할 수 있고, 이에 따라 제 1스테이지(ST1)의 불량을 검출할 수 있다.
즉, 본원 발명에서는 타이밍 제어부(130)를 이용하여 제어신호(CS)의 공급기간을 줄이면서, 일례로, 제어신호(CS)의 공급기간을 반감하면서 최종적으로 불량이 발생된 스테이지의 위치를 검출할 수 있다.
도 9는 도 1에 도시된 검사부의 제 2실시예를 나타내는 도면이다.
도 9를 참조하면, 본 발명의 제 2실시예에 의한 검사부(150)는 스테이지들(ST1 내지 STn) 각각의 출력단자에 접속되는 제 1트랜지스터(M1') 및 제 2트랜지스터(M2')를 구비한다.
i번째 수평라인에 위치된 제 1트랜지스터(M1')의 제 1전극은 i번째 스테이지(STi)의 출력단자에 접속되고, 제 2전극은 i번째 수평라인에 위치된 제 2트랜지스터(M2')의 제 1전극 및 게이트전극에 접속된다. 이와 같은 제 1트랜지스터(M1')는 제어신호(CS)가 공급될 때 턴-온되어 제 2트랜지스터(M2')와 스테이지(STi)를 전기적으로 접속시킨다.
i번째 수평라인에 위치된 제 2트랜지스터(M2')의 제 1전극 및 게이트전극은 i번째 수평라인에 위치된 제 1트랜지스터(M1')의 제 2전극에 접속된다. 그리고, i번째 수평라인에 위치된 제 2트랜지스터(M2')의 제 2전극은 감지선(미도시)에 접속된다. 즉, 제 2트랜지스터(M2')는 스테이지(STi)로부터 감지선으로 전류가 흐를 수 있도록 다이오드 형태로 된다. 추가적으로, 감지선은 검사기간 이후에 패널에서 제거되기 때문에 도 9에서는 감지선을 별도로 도시하지 않았다.
상술한, 본원 발명의 제 2실시예에 의한 검사부는 도 2에 도시된 본원 발명의 제 1실시예에 의한 검사부와 동일한 과정을 거치면서 스테이지들(ST1 내지 STn)의 불량을 검출한다. 이와 관련하여 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 10은 도 1에 도시된 검사부의 제 3실시예를 나타내는 도면이다.
도 10을 참조하면, 본 발명의 제 3실시예에 의한 검사부(150)는 스테이지들(ST1 내지 STn) 각각의 출력단자에 접속되는 제 1트랜지스터(M1'') 및 제 2트랜지스터(M2'')를 구비한다.
i번째 수평라인에 위치된 제 1트랜지스터(M1'')의 게이트전극은 i번째 스테이지(STi)의 출력단자에 접속되고, 제 2전극은 i번째 수평라인에 위치된 제 2트랜지스터(M2'')의 제 1전극에 접속된다. 이 경우, 제 1트랜지스터(M1'')은 스테이지들(ST1 내지 STn)로부터 출력되는 주사신호에 대응하여 순차적으로 턴-온될 수 있다.
홀수번째 수평라인에 위치된 제 1트랜지스터(M1'')의 제 1전극은 제 1전압원에 접속되고, 짝수번째 수평라인에 위치된 제 1트랜지스터(M1'')의 제 1전극은 제 1전압원과 상이한 전압을 가지는 제 2전압원에 접속된다. 일례로, 제 1전압원은 로우전압(Low Voltage)으로 설정될 수 있고, 제 2전압원은 제 1전압원의 전압보다 높은 하이전압(High Voltage)으로 설정될 수 있다.
i번째 수평라인에 위치된 제 2트랜지스터(M2'')의 제 1전극은 i번째 수평라인에 위치된 제 1트랜지스터(M1'')의 제 2전극에 접속되고, 제 2전극은 도 11에 도시된 바와 같이 감지선(DEL)에 접속된다. 이와 같은 제 2트랜지스터(M2'')는 제어선(152')으로 제어신호(CS)가 공급될 때 턴-온되고, 제어신호(CS)가 공급되지 않을 때 턴-오프 상태로 설정된다.
감지선(DEL)은 검사기간 동안 순차적으로 턴-온되는 제 1트랜지스터들(M1'')에 대응하여 제 1전압원 및 제 2전압원의 전압을 공급받는다. 이 경우, 감지선(DEL)으로 공급되는 전압을 체크하면서 스테이지들(ST1 내지 STn)의 불량여부를 검출할 수 있다.
한편, 감지선(DEL)은 검사기간 이후에 컷팅선(200'')을 따라 패널에서 제거되고, 이에 따라 검사기간 이후에 표시장치에는 감지선(DEL)이 포함되지 않는다. 추가적으로, 컷팅선의 위치는 다양하게 설정될 수 있다. 일례로, 검사기간 이후에 제 1트랜지스터(M11'') 및 제 2트랜지스터(M2'')들도 제거될 수 있다.
동작과정을 설명하면, 검사기간에는 도 5와 같이 제어선(152')으로 제어신호(CS)가 공급되고, 스테이지들(ST1 내지 STn)로부터 주사신호가 순차적으로 출력된다.
제어선(152')으로 제어신호(CS)가 공급되면 제 2트랜지스터(M2'')들이 턴-온 상태로 설정된다. 스테이지들(ST1 내지 STn)로부터 주사신호가 순차적으로 출력되면 제 1트랜지스터(M1'')들이 순차적으로 턴-온된다. 제 1트랜지스터(M11'')들이 순차적으로 턴-온되면 도 12에 도시된 바와 같이 감지선(DEL)으로 제 1전압원 및 제 2전압원의 전압이 순차적으로 출력된다. 이때, 특정 스테이지에서 불량이 발생되는 경우 감지선(DEL)의 전압이 원하는 형태로 변화되지 않고, 이에 따라 특정 스테이지의 불량을 검출할 수 있다.
한편, 스테이지들(ST1 내지 STn) 각각에 포함되는 풀업 트랜지스터(즉, 주사선과 접속되어 하이전압을 공급하는 트랜지스터)에 불량이 발생한 경우 도 13과 같이 감지선(DEL)의 전압이 제 2전압원의 전압으로 하강되지 않는다. 이 경우, 도 8에 도시된 바와 같이 제어신호(CS)의 공급기간을 반감하면서 불량이 발생된 스테이지를 검출한다.
본 발명의 기술 사상은 상기 바람직한 실시예에 따라 구체적으로 기술되었으나, 상기한 실시예는 그 설명을 위한 것이며 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여야 한다. 또한, 본 발명의 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 기술 사상의 범위 내에서 다양한 변형예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.
전술한 발명에 대한 권리범위는 이하의 특허청구범위에서 정해지는 것으로써, 명세서 본문의 기재에 구속되지 않으며, 청구범위의 균등 범위에 속하는 변형과 변경은 모두 본 발명의 범위에 속할 것이다.
100 : 화소부 110 : 주사 구동부
120 : 데이터 구동부 130 : 타이밍 제어부
140 : 호스트 시스템 150 : 검사부
152 : 제어선 200 : 컷팅선

Claims (12)

  1. 주사선들 및 데이터선들에 의하여 구획된 영역에 위치되는 화소들과;
    상기 주사선들에 접속되는 복수의 스테이지를 포함하는 주사 구동부와;
    상기 스테이지들의 불량여부를 검출하기 위하여 상기 스테이지들 각각과 접속되며, 제어신호가 공급될 때 턴-온되는 제 1트랜지스터들을 포함하는 검사부와;
    상기 제어신호를 공급하기 위한 타이밍 제어부를 구비하며;
    상기 타이밍 제어부는 상기 제어신호가 공급되는 기간을 적어도 한번 줄이면서 불량이 발생된 스테이지의 위치를 검출하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    i(i는 자연수)번째 제 1트랜지스터의 제 1전극은 i번째 스테이지의 출력단자에 접속되는 것을 특징으로 하는 표시장치.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 검사부는
    제 1전극이 상기 i번째 스테이지의 출력단자에 접속되며, 게이트전극이 상기 i번째 제 1트랜지스터의 제 2전극에 접속되는 i번째 제 2트랜지스터를 구비하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
  4. 제 2항에 있어서,
    상기 검사부는
    게이트전극 및 제 1전극이 상기 i번째 제 1트랜지스터의 제 2전극에 접속되는 i번째 제 2트랜지스터를 구비하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 타이밍 제어부는 최초 모든 스테이지들에서 주사신호가 공급되는 기간 동안 상기 제어신호를 공급하며,
    상기 스테이지들 중 적어도 하나에서 불량이 발생된 경우 상기 제어신호의 공급기간을 줄이면서 최종적으로 불량이 발생된 스테이지를 검출하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
  6. 주사선들 및 데이터선들에 의하여 구획된 영역에 위치되는 화소들과;
    상기 주사선들에 접속되는 스테이지들을 포함하는 주사 구동부와;
    상기 스테이지들의 불량여부를 검출하기 위하여 상기 스테이지들 각각과 접속되는 제 1트랜지스터들과, 상기 제 1트랜지스터들 각각과 접속되며 제어신호가 공급될 때 턴-온되는 제 2트랜지스터들을 포함하는 검사부와;
    상기 제어신호를 공급하기 위한 타이밍 제어부를 구비하며;
    상기 타이밍 제어부는 상기 제어신호가 공급되는 기간을 적어도 한번 줄이면서 불량이 발생된 스테이지의 위치를 검출하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
  7. 제 6항에 있어서,
    i(i는 자연수) 번째 제 1트랜지스터의 게이트전극은 i번째 스테이지의 출력단자에 접속되며,
    홀수번째 스테이지들에 접속되는 제 1트랜지스터들의 제 1전극은 제 1전압원에 접속되며, 짝수번째 스테이지들에 접속되는 제 1트랜지스터들의 제 1전극은 상기 제 1전압원의 전압과 상이한 전압을 가지는 2전압원에 접속되는 것을 특징으로 하는 표시장치.
  8. 제 7항에 있어서,
    i번째 제 2트랜지스터의 제 1전극은 i번째 제 1트랜지스터의 제 2전극에 접속되는 것을 특징으로 하는 표시장치.
  9. 제 6항에 있어서,
    상기 타이밍 제어부는 최초 모든 스테이지들에서 주사신호가 공급되는 기간 동안 상기 제어신호를 공급하며,
    상기 스테이지들 중 적어도 하나에서 불량이 발생된 경우 상기 제어신호의 공급기간을 줄이면서 최종적으로 불량이 발생된 스테이지를 검출하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
  10. 주사신호를 공급하기 위한 스테이지들을 포함하는 표시장치의 검사방법에 있어서,
    제어신호를 공급하여 감지선과 상기 스테이지들 사이에 각각 접속된 제 1트랜지스터들을 턴-온 상태로 설정하는 단계와,
    상기 감지선으로 공급되는 전압을 이용하여 상기 스테이지들의 불량여부를 검사하는 단계를 포함하며,
    상기 스테이지들 중 적어도 하나가 불량으로 판단된 경우 상기 제어신호의 공급기간을 적어도 한번 줄이면서 불량이 발생된 스테이지의 위치를 검출하는 것을 특징으로 하는 표시장치의 검사방법.
  11. 제 10항에 있어서,
    상기 스테이지들의 불량여부가 검사된 후 상기 감지선은 패널에서 컷팅되는 것을 특징으로 하는 표시장치의 검사방법.
  12. 제 10항에 있어서,
    상기 스테이지들의 불량여부가 검사된 후 상기 감지선 및 상기 제 1트랜지스터들은 패널에서 컷팅되는 것을 특징으로 하는 표시장치의 검사방법.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111312194A (zh) * 2020-04-03 2020-06-19 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 用于goa电路的保护系统及液晶显示面板

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102312291B1 (ko) * 2015-02-24 2021-10-15 삼성디스플레이 주식회사 표시장치 및 그의 검사방법
CN105469731A (zh) * 2016-01-28 2016-04-06 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板、电学老化方法、显示装置及其制作方法
US9947255B2 (en) * 2016-08-19 2018-04-17 Apple Inc. Electronic device display with monitoring circuitry
JP2018132744A (ja) * 2017-02-17 2018-08-23 パナソニック液晶ディスプレイ株式会社 表示装置
US10769978B2 (en) * 2018-04-28 2020-09-08 Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. Detection signal selecting circuit, thin film transistor substrate, and display panel
CN109036254A (zh) * 2018-09-14 2018-12-18 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种栅极驱动电路及其驱动方法和显示装置
US10832607B2 (en) * 2018-09-27 2020-11-10 HKC Corporation Limited Display control device, display, and self-test interrupt method
CN109243347B (zh) * 2018-10-31 2020-07-28 合肥鑫晟光电科技有限公司 栅极驱动器的检测电路及显示装置
CN109859714B (zh) * 2019-03-27 2021-09-24 京东方科技集团股份有限公司 一种移位寄存单元、移位寄存器、显示装置和检测方法
US11417257B2 (en) * 2019-12-26 2022-08-16 Lg Display Co., Ltd. Display device
CN114999413B (zh) * 2021-11-30 2023-04-11 荣耀终端有限公司 显示屏和电子设备

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050104575A (ko) * 2004-04-29 2005-11-03 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 액정표시장치
KR20130070206A (ko) * 2011-12-19 2013-06-27 삼성디스플레이 주식회사 유기 전계 발광 표시 장치
KR20140035756A (ko) * 2012-09-14 2014-03-24 엘지디스플레이 주식회사 검사회로를 포함하는 액정표시장치 및 이의 검사방법

Family Cites Families (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5285150A (en) * 1990-11-26 1994-02-08 Photon Dynamics, Inc. Method and apparatus for testing LCD panel array
US5391985A (en) * 1992-03-06 1995-02-21 Photon Dynamics, Inc. Method and apparatus for measuring high speed logic states using voltage imaging with burst clocking
JP3213472B2 (ja) * 1994-04-26 2001-10-02 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板又はアクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出検査方法、欠陥検出検査装置
TW331599B (en) * 1995-09-26 1998-05-11 Toshiba Co Ltd Array substrate for LCD and method of making same
KR100244182B1 (ko) * 1996-11-29 2000-02-01 구본준 액정표시장치
JP4147594B2 (ja) * 1997-01-29 2008-09-10 セイコーエプソン株式会社 アクティブマトリクス基板、液晶表示装置および電子機器
JPH10260391A (ja) * 1997-03-19 1998-09-29 Fujitsu Ltd 検査回路を有する液晶表示装置
JP3667548B2 (ja) * 1998-03-27 2005-07-06 シャープ株式会社 アクティブマトリクス型液晶表示パネル及びその検査方法
KR100324914B1 (ko) * 1998-09-25 2002-02-28 니시무로 타이죠 기판의 검사방법
US6545500B1 (en) * 1999-12-08 2003-04-08 John E. Field Use of localized temperature change in determining the location and character of defects in flat-panel displays
TW527513B (en) * 2000-03-06 2003-04-11 Hitachi Ltd Liquid crystal display device and manufacturing method thereof
JP4659180B2 (ja) 2000-07-12 2011-03-30 シャープ株式会社 表示装置
JP4112300B2 (ja) * 2002-07-26 2008-07-02 株式会社半導体エネルギー研究所 電気的検査方法及び半導体表示装置の作製方法
KR100491560B1 (ko) * 2003-05-06 2005-05-27 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시소자의 검사방법 및 장치
JP2005098901A (ja) 2003-09-26 2005-04-14 Shimadzu Corp Ｔｆｔアレイ検査装置
TWI229199B (en) * 2004-01-02 2005-03-11 Au Optronics Corp Testing apparatus of flat display
KR100713887B1 (ko) 2004-10-08 2007-05-07 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 액정표시장치 및 그 어레이 테스트 방법
KR100673749B1 (ko) * 2005-06-29 2007-01-24 삼성에스디아이 주식회사 원장단위 검사가 가능한 유기 발광표시장치의 어레이 기판및 그 검사 방법
KR101157940B1 (ko) 2005-12-08 2012-06-25 엘지디스플레이 주식회사 게이트 구동회로 및 이의 리페어방법
JP4869807B2 (ja) * 2006-06-30 2012-02-08 株式会社 日立ディスプレイズ 表示装置
JP2008015366A (ja) * 2006-07-07 2008-01-24 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 表示装置および表示装置の検査方法
KR100749423B1 (ko) * 2006-08-09 2007-08-14 삼성에스디아이 주식회사 유기발광표시장치 및 유기발광표시장치의 검사회로구동방법
EP2058697B1 (en) * 2006-08-31 2014-05-07 Sharp Kabushiki Kaisha Display panel, and display device having the panel
KR101308456B1 (ko) 2007-03-14 2013-09-16 엘지디스플레이 주식회사 평판 표시장치와 이의 검사방법 및 제조방법
KR100840090B1 (ko) * 2007-08-17 2008-06-20 삼성에스디아이 주식회사 유기전계발광 표시장치 및 그의 모기판
TW200937069A (en) * 2008-02-25 2009-09-01 Chunghwa Picture Tubes Ltd Active device array substrate and liquid crystal display panel
CN101359024B (zh) * 2008-09-23 2012-05-30 友达光电（苏州）有限公司 电子装置显示面板的测试电路和显示面板
TWI372278B (en) * 2009-01-07 2012-09-11 Au Optronics Corp Flat-panel display having test architecture
KR101015312B1 (ko) * 2009-08-20 2011-02-15 삼성모바일디스플레이주식회사 유기전계발광 표시장치 및 그의 모기판
JP5404289B2 (ja) * 2009-10-05 2014-01-29 株式会社ジャパンディスプレイ 表示パネル
TWI424401B (zh) 2009-11-02 2014-01-21 Chunghwa Picture Tubes Ltd 顯示器與其閘極驅動電路
KR20120002069A (ko) * 2010-06-30 2012-01-05 삼성모바일디스플레이주식회사 유기전계발광 표시장치 및 그의 구동방법
US20130265069A1 (en) * 2012-04-10 2013-10-10 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co. Ltd. Liquid Crystal Panel, Liquid Crystal Module, and Method Of Determining Reason Behind Bad Display
US9588387B2 (en) * 2013-07-10 2017-03-07 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd Fast testing switch device and the corresponding TFT-LCD array substrate
US10049620B2 (en) * 2014-04-23 2018-08-14 Joled Inc. Display device and method for controlling the same
KR102246365B1 (ko) * 2014-08-06 2021-04-30 삼성디스플레이 주식회사 표시장치와 그의 제조방법
KR102203281B1 (ko) * 2014-08-29 2021-01-13 엘지디스플레이 주식회사 디스플레이 장치와 이의 제조방법
KR102312291B1 (ko) * 2015-02-24 2021-10-15 삼성디스플레이 주식회사 표시장치 및 그의 검사방법

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050104575A (ko) * 2004-04-29 2005-11-03 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 액정표시장치
KR20130070206A (ko) * 2011-12-19 2013-06-27 삼성디스플레이 주식회사 유기 전계 발광 표시 장치
KR20140035756A (ko) * 2012-09-14 2014-03-24 엘지디스플레이 주식회사 검사회로를 포함하는 액정표시장치 및 이의 검사방법

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111312194A (zh) * 2020-04-03 2020-06-19 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 用于goa电路的保护系统及液晶显示面板
US11443665B2 (en) 2020-04-03 2022-09-13 Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. Protection system for goa circuit and liquid crystal display panel

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