KR20150142409A - Apparatus and Method for inspection display panel - Google Patents

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KR20150142409A
KR20150142409A KR1020140071193A KR20140071193A KR20150142409A KR 20150142409 A KR20150142409 A KR 20150142409A KR 1020140071193 A KR1020140071193 A KR 1020140071193A KR 20140071193 A KR20140071193 A KR 20140071193A KR 20150142409 A KR20150142409 A KR 20150142409A
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Abstract

The present invention provides an apparatus to inspect a display panel comprising: a transfer unit which transfers a panel to be passed through an inspection area; a camera unit disposed on a lateral side of the transfer unit, wherein the camera unit includes an upper part camera and a lower part camera arranged to be facing each other having a panel inspection reference surface therebetween; a panel driving unit including a lifting means and a rotating means arranged on the inspection area which is in a transfer path of the transfer unit; and a camera driving unit which moves the camera unit, such that the present invention reduces take time, and provides a favorable effect in inspecting panels while not touching a top surface of the panel.

Description

패널 검사 장치 및 방법{Apparatus and Method for inspection display panel}≪ Desc / Clms Page number 1 > Apparatus and Method for Inspection Display Panel [

본 발명은 패널 검사 장치 및 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는, 연마 가공 후, 패널의 에지를 검사는 패널 검사 장치 및 방법에 관한 것이다.
The present invention relates to a panel inspection apparatus and method, and more particularly, to a panel inspection apparatus and method for inspecting an edge of a panel after polishing.

평판 디스플레이 패널은 원판유리에서 필요한 크기로 절단하여 사용한다. 패널을 절단하는 원리는 패널 표면 상에 직선 형태의 흠집을 내게 되면 내부에 크랙이 생기고, 크랙이 진행하여 패널이 절단된다.The flat panel display panel is cut to the required size from the original glass. The principle of cutting the panel is that a straight line of scratches on the surface of the panel causes internal cracks, cracks, and the panel is broken.

이때, 절단 과정 중에는 다양한 결함이 발생하게 된다. 예를 들어, 에지면이 날카롭기 때문에 공정 중 깨짐이나 크랙 등이 발생할 수 있다. 절단된 패널의 날카로운 모서리는 연마지석을 이용하여 네 변을 연마하는 공정을 거치게 된다. 연마면은 패널 모서리의 상하면에 일정 각도를 가지고 연마한다. At this time, various defects are generated during the cutting process. For example, since the edge surface is sharp, cracks or cracks may occur during the process. The sharp edges of the cut panel are subjected to a process of polishing the four sides using a grinding wheel. The polished surface is polished at an angle to the top and bottom surfaces of the panel edge.

연마공정 후 절단면에 결함은 없는지를 검사하는 절단면 검사와, 연마면이 적정량만큼 연마되었는지 또는 결함은 없는지 연마면 검사를 하여야 한다.After the polishing process, inspection of the cut surface to check whether there is any defect in the cut surface, and inspection of the abrasive surface should be carried out to determine whether the abrasive surface has been polished by a proper amount or not.

이러한 검사는 패널 검사 장치를 통해 수행할 수 있는데, 대한민국 공개특허 제10-2008-0044517호(2008.05.21, 공개, 이하, 본 문헌이라 한다)에는 패널의 검사 시스템을 개시하고 있다. Such inspection can be performed through a panel inspection apparatus. Korean Patent Laid-Open No. 10-2008-0044517 (published May 21, 2008, hereafter referred to as the present document) discloses a panel inspection system.

본 문헌의 패널 검사 장치는 패널을 지지하는 로딩/언로딩부와 패널을 연마 또는 검사를 수행하는 연마/검사수단을 구비하고 있다. 그리고 로딩부의 패널을 연마/검사수단에 전달하거나, 연마/검사수단에서 언로딩부로 패널을 전달하는 피커(Picker)를 구비하고 있다. 피커는 패널을 흡착하여 승하강시키는 구성요소로서, 패널을 진공 흡착할 수 있는 흡착모듈과 패널을 정렬할 수 있는 정렬모듈 등을 포함할 수 있다.The panel inspection apparatus of this document includes a loading / unloading section for supporting the panel and polishing / inspection means for polishing or inspecting the panel. And a picker for transferring the panel of the loading part to the polishing / inspecting unit or transmitting the panel from the polishing / inspecting unit to the unloading part. The picker may include an adsorption module capable of vacuum adsorbing the panel and an alignment module capable of aligning the panel, and the like.

그러나 이러한 피커를 구비한 패널 검사 장치는 흡착된 상태로 컨베이어의 이송 경로를 벗어나서 패널이 운반되기 때문에 택타임이 길어 지는 문제점이 있다. 또한, 유기발광다이오드(Organic Light Emitting Diodes) 패널의 경우, 패널의 상면을 터치하면 안되기 때문에, 패널의 에지를 잡아 운반하게 되는데, 이러한 경우 운반 중 패널이 흔들리는 문제점이 있다.
However, the panel inspecting apparatus having such a picker has a drawback that the panel is transported out of the conveying path of the conveyor in the adsorbed state, thereby increasing the tack time. Further, in the case of an organic light emitting diode panel, since the upper surface of the panel can not be touched, the edge of the panel is carried and carried. In this case, the panel is shaken during transportation.

대한민국 공개특허 제10-2008-0044517호(2008.05.21, 공개)Korean Patent Publication No. 10-2008-0044517 (published May 21, 2008)

이에, 본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 택타임을 단축하고 패널의 상면을 터치하지 않은 상태에서 패널의 검사를 수행할 수 있는 패널 검사 장치 및 방법을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a panel inspection apparatus and method capable of shortening a tact time and performing inspection of a panel without touching an upper surface of the panel.

본 발명이 해결하고자 하는 과제는 이상에서 언급된 과제에 국한되지 않으며 여기서 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
The problems to be solved by the present invention are not limited to the above-mentioned problems, and other problems not mentioned here can be understood by those skilled in the art from the following description.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 검사영역을 지나도록 패널을 이송시키는 이송부와, 상기 이송부의 측면에 배치되며, 패널검사기준면을 사이에 두고 대향하여 배치되는 상부카메라와 하부카메라를 포함하는 카메라부와, 상기 이송부의 이송 경로상에서 상기 검사영역에 배치되는 승강수단과 회전수단을 포함하는 패널구동부 및 상기 카메라부를 이동시키는 카메라구동부를 포함하는 패널 검사 장치를 제공할 수 있다.According to an aspect of the present invention, there is provided a camera comprising: a transfer unit for transferring a panel over an inspection area; a camera disposed on a side surface of the transfer unit and including an upper camera and a lower camera disposed so as to face each other with a panel inspection reference plane interposed therebetween; And a camera driving unit for moving the camera unit. The panel driving unit includes: a panel driving unit including elevating means and rotating means disposed in the inspection area on the conveying path of the conveying unit; and a camera driving unit moving the camera unit.

바람직하게는, 상기 상부카메라의 광축과 상기 하부카메라는 광축이 상기 패널검사기준면에 수직이 되도록 형성될 수 있다.The optical axis of the upper camera and the lower camera may be formed such that the optical axis is perpendicular to the panel inspection reference plane.

바람직하게는, 상기 카메라부는 상기 검사영역의 측면에 배치될 수 있다.Preferably, the camera portion may be disposed on a side surface of the inspection region.

바람직하게는, 상기 회전수단은 상기 승강수단 위에 형성될 수 있다.Preferably, the rotating means may be formed on the lifting means.

바람직하게는, 상기 승강수단은 수직 방향으로 상기 패널을 이동시킬 수 있다.Preferably, the elevating means can move the panel in a vertical direction.

바람직하게는, 상기 승강수단은 상기 패널을 상기 패널검사기준면에 대응하는 높이까지 이동시킬 수 있다.Preferably, the elevating means may move the panel to a height corresponding to the panel inspection reference surface.

바람직하게는, 상기 회전수단은 수직 방향을 회전축 방향으로 하여 상기 패널의 중심을 기준으로 상기 패널을 회전시킬 수 있다. Preferably, the rotating means is capable of rotating the panel with respect to the center of the panel with the vertical direction being the rotational axis direction.

바람직하게는, 상기 카메라구동부는 상기 상부카메라 및 상기 하부카메라의 광축이 상기 패널을 지나도록 상기 카메라부를 수평 이동시킬 수 있다.Preferably, the camera driving unit horizontally moves the camera unit such that an optical axis of the upper camera and the lower camera passes through the panel.

바람직하게는, 상기 카메라구동부는 상기 상부카메라 및 상기 하부카메라를 x축 이동시키는 x축 스테이지와, 상기 상부카메라 및 상기 하부카메라를 y축 이동시키는 y축 스테이지를 포함할 수 있다.
The camera driving unit may include an x-axis stage for moving the upper camera and the lower camera in the x-axis direction, and a y-axis stage for moving the upper camera and the lower camera in the y-axis direction.

상기 목적을 달성하기 위한 다른 발명은, 검사영역을 지나도록 패널을 이송시키는 단계와, 상기 검사영역에서 상기 패널을 정렬하는 단계와, 상기 검사영역에서 카메라부의 패널검사기준면에 대응되는 높이까지 정렬된 상기 패널을 상승시키는 단계와, 상기 패널검사기준면을 사이에 두고 대향하여 배치되는 상부카메라와 하부카메라의 광축이 상기 패널을 지나도록 카메라부를 수평 이동시키는 단계와, 상기 패널을 회전시켜 상기 패널의 장변의 에지 또는 단변의 에지를 검사하는 단계와, 상기 카메라부를 원위치로 수평 이동시키는 단계 및 상기 패널을 원위치로 하강시키는 단계를 포함하는 패널 검사 방법을 제공할 수 있다.
According to another aspect of the present invention, there is provided a method of inspecting a panel, comprising the steps of: transferring a panel over an inspection area; aligning the panel in the inspection area; Moving the camera unit horizontally such that an optical axis of an upper camera and a lower camera disposed opposite to each other with the panel inspection reference plane therebetween passes horizontally through the panel; Inspecting the edge of the edge or short edge of the camera portion, horizontally moving the camera portion in the home position, and lowering the panel to the original position.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 이송 경로상에서 패널을 승강시키고 회전시키는 패널구동부를 구비하여 패널의 이송 과정 중에 카메라부를 통해 패널의 에지를 검사할 수 있도록 구성함으로써, 택타임을 단축하는 유리한 효과를 제공한다.According to an embodiment of the present invention, there is provided a panel driving unit for raising and lowering a panel on a conveying path, so that an edge of a panel can be inspected through a camera unit during a conveying process of the panel, to provide.

또한, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 이송 경로상에서 패널이 패널검사기준면까지 상승하고 카메라부가 패널의 에지를 비추도록 x축 및 y축 이동 가능하게 형성됨으로써, 패널의 상면을 터치하지 않은 상태에서 패널의 검사를 유리한 효과를 제공한다.
In addition, according to an embodiment of the present invention, the panel is formed on the conveying path so as to move up to the panel inspection reference plane and move in the x and y axes so that the camera portion illuminates the edge of the panel, Inspection of the panel provides an advantageous effect.

도 1은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 패널 검사 장치를 도시한 도면,
도 2는 패널이 패널검사기준면까지 상승 이동한 상태에서 패널구동부와 카메라부를 도시한 도면,
도 3은 수평 이동 하는 카메라부를 도시한 도면,
도 4는 회전수단에 의해 회전하는 패널을 도시한 도면,
도 5는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 패널 검사 방법을 도시한 도면이다.
1 is a view showing a panel inspection apparatus according to a preferred embodiment of the present invention,
2 is a view showing a panel driving unit and a camera unit in a state in which the panel moves up to the panel inspection reference plane,
3 is a view showing a horizontally moving camera unit,
4 is a view showing a panel rotated by a rotating means,
5 is a view illustrating a panel inspection method according to an embodiment of the present invention.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면들을 참조하여 상세히 설명한다. 본 발명의 목적, 특정한 장점들 및 신규한 특징들은 첨부된 도면들과 연관되는 이하의 상세한 설명과 바람직한 실시예들로부터 더욱 명백해질 것이다. 그리고 본 명세서 및 특허청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정하여 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해서 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여, 본 발명의 기술적 사상에 부합되는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 그리고 본 발명을 설명함에 있어서, 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 관련된 공지기술에 대한 상세한 설명은 생략한다.
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The objectives, specific advantages, and novel features of the present invention will become more apparent from the following detailed description taken in conjunction with the accompanying drawings, in which: FIG. The terms and words used in the present specification and claims should not be construed to be limited to ordinary or dictionary terms and the inventor should properly define the concept of the term in order to describe its own invention in the best way. The present invention should be construed in accordance with the meaning and concept consistent with the technical idea of the present invention. In the following description, well-known functions or constructions are not described in detail since they would obscure the invention in unnecessary detail.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
The terminology used in this application is used only to describe a specific embodiment and is not intended to limit the invention. The singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. In the present application, the terms "comprises" or "having" and the like are used to specify that there is a feature, a number, a step, an operation, an element, a component or a combination thereof described in the specification, But do not preclude the presence or addition of one or more other features, integers, steps, operations, elements, components, or combinations thereof.

패널을 연마 후 검사하는 과정 중에 피커를 통해 패널을 이송 경로에서 이탈시켜 검사하는 경우, 택타임이 길어 지는 문제점이 있었다. 또한, 유기발광다이오드 패널의 경우, 상면을 터치하면 안되기 때문에 에지를 잡아 운반하여야 하고 이로 인하여 패널이 흔들리는 문제점이 있었다. 본 발명의 일 실시예에 따른 패널 검사 장치 및 방법은, 이러한 문제를 근본적으로 해결하고자 패널의 이송 경로 상에서 패널의 에지를 검사하고자 안출된 장치이다.When the panel is detached from the conveyance path through the picker during the inspection process after the polishing of the panel, there is a problem in that the tack time is prolonged. In addition, in the case of the organic light emitting diode panel, since the upper surface of the organic light emitting diode panel can not be touched, the edge must be carried and transported, thereby causing the panel to shake. The apparatus and method for inspecting a panel according to an embodiment of the present invention are designed to inspect the edge of a panel on a conveyance path of a panel to fundamentally solve such a problem.

도 1은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 패널 검사 장치를 도시한 도면이고, 도 2는 패널이 패널검사기준면까지 상승 이동한 상태에서 패널구동부와 카메라부를 도시한 도면이다. 이러한, 도 1 및 도 2는 본 발명을 개념적으로 명확히 이해하기 위하여, 주요 특징 부분만을 명확히 도시한 것이며, 그 결과 도해의 다양한 변형이 예상되며, 도면에 도시된 특정 형상에 의해 본 발명의 범위가 제한될 필요는 없다.
FIG. 1 is a view showing a panel inspection apparatus according to a preferred embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a view illustrating a panel driving unit and a camera unit in a state in which the panel moves up to a panel inspection reference plane. 1 and 2 clearly illustrate only the major feature parts for the purpose of a clear understanding of the present invention and as a result various variations of the illustrations are to be expected and the scope of the invention Need not be limited.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 패널 검사 장치는 이송부(110)와, 카메라부(120)와, 패널구동부(130)와, 카메라구동부(140)를 포함할 수 있다.
1 and 2, a panel inspection apparatus according to an embodiment of the present invention may include a transfer unit 110, a camera unit 120, a panel drive unit 130, and a camera drive unit 140 have.

먼저, 이송부(110)는 컨베이어일 수 있다. 그리고 이송부(110)의 이송 경로 상에 검사 영역(S)이 마련될 수 있다. 검사 영역(S)에서는 카메라부(120)를 통해 패널(P)의 에지를 검사하게 된다. 이송부(110)에는 검사 영역(S)에 위치한 패널(P)을 정렬하는 별도의 정렬수단이 구비될 수 있다. 패널(P)은 이러한 이송부(110)에 의해 도 1에서 표시한 화살표 방향으로 이송된다.
First, the transfer unit 110 may be a conveyor. An inspection area S may be provided on the conveyance path of the transfer unit 110. In the inspection area S, the edge of the panel P is inspected through the camera unit 120. The transfer unit 110 may be provided with a separate alignment unit for aligning the panel P located in the inspection area S. The panel P is transported in the direction of the arrow shown in Fig.

카메라부(120)는 이송부(110)의 측면에 배치될 수 있다. 나아가 카메라부(120)는 검사 영역(S)의 측면에 인접하여 배치될 수 있다. 이러한 카메라부(120)는 패널(P)의 네 변의 에지에서 어느 정도 연마가 되었는지. 연마면에는 불량이 없는지를 검사하게 된다. The camera unit 120 may be disposed on the side of the transfer unit 110. Further, the camera unit 120 may be disposed adjacent to the side surface of the inspection area S. How much the camera unit 120 is polished at the edges of the four sides of the panel P. [ The polishing surface is inspected for defects.

카메라부(120)는 패널(P)의 에지를 촬상하는 상부카메라(121)와 하부카메라(122)를 포함할 수 있다. 상부카메라(121)와 하부카메라(122)는 패널검사기준면(F)을 사이에 두고 상호 대향하여 배치될 수 있다. 이때, 상부카메라(121)와 하부카메라(122)에는 별도의 조명이 설치될 수 있다. 여기서, 상부카메라(121)는 패널(P)의 에지의 상면을 검사하기 위한 것이고, 하부카메라(122)는 패널(P)의 에지의 하면을 검사하기 위한 것이다.The camera unit 120 may include an upper camera 121 and a lower camera 122 for picking up an edge of the panel P. [ The upper camera 121 and the lower camera 122 may be disposed facing each other with the panel inspection reference plane F therebetween. At this time, separate lights may be installed in the upper camera 121 and the lower camera 122. Here, the upper camera 121 is for checking the upper surface of the edge of the panel P, and the lower camera 122 is for checking the lower surface of the edge of the panel P.

그리고 상부카메라(121)와 하부카메라(122)는 각각의 광축(도 3의 O)이 수직 방향으로 정렬됨과 동시에 패널검사기준면(F)에 수직이 되도록 배치될 수 있다. 이와 같은 상부카메라(121)와 하부카메라(122)를 통해 패널(P)의 에지의 상면 및 하면을 동시에 검사하는 것이 가능하다.
The upper camera 121 and the lower camera 122 may be arranged so that the respective optical axes (O in FIG. 3) are aligned in the vertical direction and perpendicular to the panel inspection reference plane F. FIG. It is possible to simultaneously inspect the upper and lower surfaces of the edge of the panel P through the upper camera 121 and the lower camera 122.

패널구동부(130)는 검사 영역(S)에서 패널(P)의 패널검사기준면(F)까지 상승시키고 패널(P)의 에지(장변, 단변)이 상부카메라(121)와 하부카메라(122)의 촬상 영역에 위치하도록 패널(P)를 회전시키는 역할을 한다.The panel driving unit 130 raises from the inspection area S to the panel inspection reference plane F of the panel P and the edge (long side, short side) of the panel P contacts the upper camera 121 and the lower camera 122 And serves to rotate the panel P so as to be positioned in the imaging area.

패널구동부(130)는 검사 영역(S)에 대응하여 이송부(110)의 이동 경로 상에 배치될 수 있다. 이러한 패널구동부(130)는 승강수단(131)과 회전수단(132)을 포함할 수 있다.The panel driving unit 130 may be disposed on the movement path of the transfer unit 110 in correspondence with the inspection area S. [ The panel driving unit 130 may include a lifting unit 131 and a rotating unit 132.

승강수단(131)은 검사 영역(S)으로 이송된 패널(P)을 패널검사기준면(F)에대응하는 높이까지 수직 방향(z축 방향)으로 이송시키는 역할을 한다. 승강수단(131)은 유압, 공압 또는 모터를 동력으로 하는 구동모듈을 포함할 수 있다. 이러한 승강수단(131)이 패널(P)의 하면을 지지한 채, 패널검사기준면(F)까지 패널(P)을 상승시키기 때문에, 피커와 같이 패널(P)의 상면을 흡착하거나 패널(P)의 에지를 측면에서 잡아 운반할 필요가 없게 된다.The elevating means 131 serves to transport the panel P conveyed to the inspection region S in the vertical direction (z-axis direction) to a height corresponding to the panel inspection reference plane F. [ The elevating means 131 may include a driving module powered by hydraulic, pneumatic or motor. The lifting means 131 lifts the panel P up to the panel inspection reference plane F while supporting the lower surface of the panel P so that the upper surface of the panel P can be attracted to the panel P, So that it is not necessary to carry the edge of the wafer from the side.

회전수단(132)은 승강수단(131) 위에 형성될 수 있다. 회전수단(132)은 패널(P)의 하면을 직접적으로 지지한 상태에서 수평 방향으로 회전하게 된다. 회전수단(132)의 회전축은 높이 방향(z축 방향)으로 형성될 수 있다. 이때, 회전수단(132)은 패널(P)의 중심을 지지하도록 형성될 수 있다. 회전수단(132)이 패널(P)을 회전시킴에 따라 패널(P)의 4개의 변을 카메라부(120)를 통해 단계적으로 검사할 수 있게 된다.
The rotating means 132 may be formed on the elevating means 131. The rotating means 132 rotates in the horizontal direction in a state in which the lower surface of the panel P is directly supported. The rotating shaft of the rotating means 132 may be formed in the height direction (z-axis direction). At this time, the rotating means 132 may be formed to support the center of the panel P. As the rotating means 132 rotates the panel P, the four sides of the panel P can be inspected step by step through the camera unit 120.

카메라구동부(140)는 카메라부(120)를 수평 이동 시키는 역할을 한다.The camera driving unit 140 serves to horizontally move the camera unit 120.

도 3은 수평 이동 하는 카메라부를 도시한 도면이다.3 is a view showing a horizontally moving camera unit.

도 3을 참조하면, 카메라구동부(140)는 패널(P)이 승강수단(131)에 의해 패널검사기준면(F)에 대응되는 높이까지 이동한 상태에서 상부카메라(121) 및 하부카메라(122)의 각각의 광축(도 3의 O)이 패널(P)의 에지에 위치하도록 x축 방향을 기준으로 전진 이동시킬 수 있다. 이를 위해 카메라구동부(140)에는 x축 스테이지(141)가 마련될 수 있다.3, the camera driving unit 140 drives the upper and lower cameras 121 and 122 in a state in which the panel P is moved to the height corresponding to the panel inspection reference plane F by the elevating unit 131, (O in Fig. 3) of the panel P can be moved forward with respect to the x-axis direction so as to be positioned at the edge of the panel P. To this end, the camera driver 140 may be provided with an x-axis stage 141.

회전수단(132)에 의해 패널(P)이 회전함으로써 패널(P)의 에지가 전환되는 과정에서 카메라구동부(140)는 카메라부(120)를 x축 방향을 기준으로 후퇴 이동시킨 후, 패널(P)이 회전되어 정렬된 이후에 패널(P)의 에지에 광축(도 3의 O)이 위치하도록 다시 카메라부(120)를 x축 방향을 기준으로 전퇴 이동시킬 수 있다.The camera driving unit 140 retracts the camera unit 120 with respect to the x-axis direction in the process of the edge of the panel P being rotated by the rotation unit 132 by rotating the panel P, P can be rotated and aligned, the camera unit 120 can be moved backward with respect to the x-axis direction so that the optical axis (O in Fig. 3) is positioned at the edge of the panel P. [

한편, 카메라구동부(140)는 이송부(110)의 길이 방향(y축 방향)으로 수평이동하도록 카메라부(120)를 제어할 수 있다. 이를 위해 카메라구동부(140)에는 y축 스테이지(142)가 마련될 수 있다. 카메라부(120)는 카메라구동부(140)에 의해 y축 방향으로 이동하면서 패널(P)의 에지를 촬상할 수 있다.
Meanwhile, the camera driving unit 140 may control the camera unit 120 to move horizontally in the longitudinal direction (y-axis direction) of the transfer unit 110. To this end, the camera driver 140 may be provided with a y-axis stage 142. The camera unit 120 can capture the edge of the panel P while moving in the y-axis direction by the camera driving unit 140. [

도 4는 회전수단에 의해 회전하는 패널을 도시한 도면이다.Fig. 4 is a view showing a panel rotated by the rotating means. Fig.

도 4를 참조하면, 패널(P)의 어느 하나의 단변(Pa) 또는 장변(Pb)의 검사가 종료된 이후에는 아직 검사가 수행되지 않은 에지가 카메라부(120)의 촬상 영역에 위치하도록, 회전수단(132)은 패널(P)의 중심(C)을 기준으로 패널(P)을 회전시킨다.
4, after the inspection of one of the short side Pa or the long side Pb of the panel P is completed, the edge not yet inspected is positioned in the imaging area of the camera unit 120, The rotating means 132 rotates the panel P about the center C of the panel P. [

도 5는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 패널 검사 방법을 도시한 도면이다.5 is a view illustrating a panel inspection method according to an embodiment of the present invention.

도 5를 참조하면, 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 패널 검사 방법은 먼저, 이송부(110)는 검사영역(S)을 지나도록 패널(P)을 이송시킨다.(S100) 이때, 이송부(110)에 형성된 정렬수단은 검사영역(S)에서 패널을 정렬시킬 수 있다.5, the panel inspection method according to the preferred embodiment of the present invention firstly transfers the panel P so as to pass the inspection area S (S100). At this time, the transfer unit 110 ) Can align the panel in the inspection area S.

이후, 승강수단(131)은 검사영역(S)에서 카메라부(120)의 패널검사기준면(F)에 대응되는 높이까지 정렬된 패널(P)을 상승시킨다.(S200)The lifting unit 131 raises the panel P aligned to the height corresponding to the panel inspection reference plane F of the camera unit 120 in the inspection area S. S200,

다음으로, 카메라구동부(140)는 패널검사기준면(F)을 사이에 두고 대향하여 배치되는 상부카메라(121)와 하부카메라(122)의 광축(O)이 패널(P)을 지나도록 카메라부(120)를 수평 이동시킨다.(S300)The camera driving unit 140 drives the camera P such that the optical axis O of the upper camera 121 and the lower camera 122 disposed opposite to each other with the panel inspection reference plane F therebetween passes through the panel P. [ 120 are horizontally moved (S300)

다음으로, 회전수단(132)은 패널(P)을 회전시키고 카메라부(120)는 패널(P)의 장변의 에지 또는 단변의 에지를 검사한다.(S400)Next, the rotating means 132 rotates the panel P and the camera unit 120 inspects the edge of the long side of the panel P or the edge of the short side (S400)

다음으로, 카메라부(120)를 원위치로 수평 이동시킨다.(S500)Next, the camera unit 120 is horizontally moved in the home position (S500)

다음으로, 승강수단(131)이 패널(P)을 원위치로 하강시키고(S600), 패널(P)은 본래 이송 경로를 따라 이송부(110)에 의해 이송된다.
Next, the elevating means 131 lowers the panel P to the original position (S600), and the panel P is conveyed by the conveying portion 110 along the original conveying path.

이러한 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 패널 검사 방법에 따르면, 패널(P)을 이송 경로에서 이탈시키지 않고, 이송 경로 상에서 패널(P)의 에지를 검사하기 때문에 택타임이 단축시킬 수 있는 이점이 있다.
According to the panel inspection method according to the preferred embodiment of the present invention, since the edge of the panel P is inspected on the conveyance path without detaching the panel P from the conveyance path, an advantage that the tack time can be shortened have.

이상으로 본 발명의 바람직한 하나의 실시예에 따른 패널 검사 장치 및 방법에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 구체적으로 살펴보았다.As described above, the panel inspection apparatus and method according to one preferred embodiment of the present invention have been specifically described with reference to the accompanying drawings.

이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 수정, 변경 및 치환이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예 및 첨부된 도면들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예 및 첨부된 도면에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
It will be apparent to those skilled in the art that various modifications, substitutions and substitutions are possible, without departing from the scope and spirit of the invention as disclosed in the accompanying claims. will be. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention and the accompanying drawings are intended to illustrate and not to limit the technical spirit of the present invention, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments and the accompanying drawings . The scope of protection of the present invention should be construed according to the following claims, and all technical ideas within the scope of equivalents should be construed as falling within the scope of the present invention.

110: 이송부
120: 카메라부
130: 패널구동부
140: 카메라구동부
S: 검사 영역
P: 패널
110:
120:
130:
140:
S: Inspection area
P: Panel

Claims (10)

검사영역을 지나도록 패널을 이송시키는 이송부;
상기 이송부의 측면에 배치되며, 패널검사기준면을 사이에 두고 대향하여 배치되는 상부카메라와 하부카메라를 포함하는 카메라부;
상기 이송부의 이송 경로상에서 상기 검사영역에 배치되는 승강수단과 회전수단을 포함하는 패널구동부;및
상기 카메라부를 이동시키는 카메라구동부
를 포함하는 패널 검사 장치.
A conveying part for conveying the panel so as to pass the inspection area;
A camera unit disposed on a side surface of the transfer unit and including an upper camera and a lower camera disposed so as to face each other with a panel inspection reference surface in between;
A panel driving unit including elevating means and rotating means disposed in the inspection region on the conveying path of the conveying unit;
And a camera driver
And the panel inspection apparatus.
제1 항에 있어서,
상기 상부카메라의 광축과 상기 하부카메라는 광축이 상기 패널검사기준면에 수직이 되도록 형성되는 것을 특징으로 하는 패널 검사 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the optical axis of the upper camera and the lower camera are formed such that the optical axis is perpendicular to the panel inspection reference plane.
제1 항에 있어서,
상기 카메라부는 상기 검사영역의 측면에 배치되는 것을 특징으로 하는 패널 검사 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the camera unit is disposed on a side surface of the inspection area.
제1 항에 있어서,
상기 회전수단은 상기 승강수단 위에 형성되는 것을 특징으로 하는 패널 검사 장치.
The method according to claim 1,
And the rotating means is formed on the elevating means.
제4 항에 있어서,
상기 승강수단은 수직 방향으로 상기 패널을 이동시키는 것을 특징으로 하는 패널 검사 장치.
5. The method of claim 4,
And the elevating means moves the panel in the vertical direction.
제5 항에 있어서,
상기 승강수단은 상기 패널을 상기 패널검사기준면에 대응하는 높이까지 이동시키는 것을 특징으로 패널 검사 장치.
6. The method of claim 5,
Wherein the elevating means moves the panel to a height corresponding to the panel inspection reference surface.
제4 항에 있어서,
상기 회전수단은 수직 방향을 회전축 방향으로 하여 상기 패널의 중심을 기준으로 상기 패널을 회전시키는 것을 특징으로 하는 패널 검사 장치.
5. The method of claim 4,
Wherein the rotating means rotates the panel with respect to the center of the panel with the vertical direction being the rotational axis direction.
제1 항에 있어서,
상기 카메라구동부는 상기 상부카메라 및 상기 하부카메라의 광축이 상기 패널을 지나도록 상기 카메라부를 수평 이동시키는 것을 특징으로 하는 패널 검사 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the camera driving unit horizontally moves the camera unit such that the optical axis of the upper camera and the lower camera passes through the panel.
제8 항에 있어서,
상기 카메라구동부는 상기 상부카메라 및 상기 하부카메라를 x축 이동시키는 x축 스테이지와, 상기 상부카메라 및 상기 하부카메라를 y축 이동시키는 y축 스테이지를 포함하는 패널 검사 장치.
9. The method of claim 8,
Wherein the camera driving unit includes an x-axis stage for moving the upper camera and the lower camera in the x-axis direction, and a y-axis stage for moving the upper camera and the lower camera in the y-axis direction.
검사영역을 지나도록 패널을 이송시키는 단계;
상기 검사영역에서 상기 패널을 정렬하는 단계;
상기 검사영역에서 카메라부의 패널검사기준면에 대응되는 높이까지 정렬된 상기 패널을 상승시키는 단계;
상기 패널검사기준면을 사이에 두고 대향하여 배치되는 상부카메라와 하부카메라의 광축이 상기 패널을 지나도록 카메라부를 수평 이동시키는 단계;
상기 패널을 회전시켜 상기 패널의 장변의 에지 또는 단변의 에지를 검사하는 단계;
상기 카메라부를 원위치로 수평 이동시키는 단계;및
상기 패널을 원위치로 하강시키는 단계
를 포함하는 패널 검사 방법.
Transferring the panel past the inspection area;
Aligning the panel in the inspection area;
Raising the panel arranged in the inspection area to a height corresponding to a panel inspection reference plane of the camera unit;
Horizontally moving the camera unit such that an optical axis of the upper camera and the lower camera disposed opposite to each other with the panel inspection reference surface therebetween passes through the panel;
Rotating the panel to inspect an edge of a long side or an edge of a short side of the panel;
Horizontally moving the camera unit in an original position;
Lowering the panel back to its original position
The method comprising the steps of:
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180086564A (en) * 2017-01-23 2018-08-01 주식회사 에스에프에이 A glass transferring system
KR102375486B1 (en) 2021-02-23 2022-03-16 이영현 Connection device of safety temporary scaffold
KR20230039591A (en) 2021-09-13 2023-03-21 이영현 Footrest All-in-one Fixture

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200363207Y1 (en) * 2004-07-07 2004-09-24 (주)에이치아이티에스 Lcd cell edge check system
KR20080044517A (en) 2006-11-16 2008-05-21 주식회사 케이엔제이 Grinding/inspecting machine for flat panel disply panel
KR20110072771A (en) * 2009-12-23 2011-06-29 (주)미래컴퍼니 Method for inspecting edge of plate
KR20120004249A (en) * 2010-07-06 2012-01-12 주식회사 영우디에스피 Auto visual testing apparatus for plasma display panel
KR20140047974A (en) * 2012-10-15 2014-04-23 (주)에이엔피 크리비즈 Vision inspection apparatus and method using the same

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200363207Y1 (en) * 2004-07-07 2004-09-24 (주)에이치아이티에스 Lcd cell edge check system
KR20080044517A (en) 2006-11-16 2008-05-21 주식회사 케이엔제이 Grinding/inspecting machine for flat panel disply panel
KR20110072771A (en) * 2009-12-23 2011-06-29 (주)미래컴퍼니 Method for inspecting edge of plate
KR20120004249A (en) * 2010-07-06 2012-01-12 주식회사 영우디에스피 Auto visual testing apparatus for plasma display panel
KR20140047974A (en) * 2012-10-15 2014-04-23 (주)에이엔피 크리비즈 Vision inspection apparatus and method using the same

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180086564A (en) * 2017-01-23 2018-08-01 주식회사 에스에프에이 A glass transferring system
KR102375486B1 (en) 2021-02-23 2022-03-16 이영현 Connection device of safety temporary scaffold
KR20230039591A (en) 2021-09-13 2023-03-21 이영현 Footrest All-in-one Fixture
KR20230038993A (en) 2021-09-13 2023-03-21 이영현 Footrest All-in-one Fixture

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