KR20080044517A - Grinding/inspecting machine for flat panel disply panel - Google Patents
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Abstract
Description
도 1은 본 발명에 의한 제 1 실시예의 측면도이다. 1 is a side view of a first embodiment according to the present invention.
도 2는 도 1에 도시된 시스템의 평면도이다. FIG. 2 is a plan view of the system shown in FIG. 1.
도 3a 및 도 3b는 도 1에 도시된 시스템의 연마/검사수단을 나타낸 것이다. 3a and 3b show grinding / inspection means of the system shown in FIG.
도 4 및 도 5는 본 발명에 의한 제 2 실시예를 나타낸 평면도이다. 4 and 5 are plan views showing a second embodiment according to the present invention.
도 6a 내지 도 6i는 본 발명에 의한 제 2 실시예의 작동상태를 나타낸 것이다. 6A to 6I show an operating state of the second embodiment according to the present invention.
**도면의 주요부분에 대한 부호의 설명**** Description of the symbols for the main parts of the drawings **
1: 연마/검사시스템 10: 로딩/언로딩부1: Polishing / Inspection System 10: Loading / Unloading Part
20: 피커 21: 흡착부20: picker 21: adsorption part
22: 정렬부 30: 연마/검사부22: alignment unit 30: polishing / inspection unit
31: 가변테이블 32: 가이드31: variable table 32: guide
33: 연마부 34: 검사부33: grinding part 34: inspection part
35: 회전부35: rotating part
100: 연마/검사시스템 110: 로딩부100: polishing / inspection system 110: loading part
120: 제 1 피커 121: 흡착부120: first picker 121: adsorption unit
122: 정렬부 130: 연마/검사부122: alignment unit 130: polishing / inspection unit
131: 가변테이블 132: 가이드131: variable table 132: guide
133: 연마부 134: 검사부133: polishing unit 134: inspection unit
135: 회전부 140: 언로딩부135: rotating part 140: unloading part
150: 제 2 피커 151: 흡착부150: second picker 151: adsorption unit
본 발명은 평판 디스플레이 패널의 연마/검사 시스템에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 패널을 로딩하거나 또는 언로딩하기 위한 별도의 공간이 불필요하여 장비 전체의 면적을 감소시키고, 택타임을 단축할 수 있는 패널의 연마/검사 시스템에 관한 것이다. The present invention relates to a polishing / inspection system of a flat panel display panel, and more particularly, a panel that can reduce the total area of the equipment and shorten the tactile time by eliminating a separate space for loading or unloading the panel. To a polishing / inspection system.
일반적으로 평판 디스플레이 패널은 원판유리에서 필요한 크기로 절단하여 사용한다. 이렇게 절단된 패널은 모서리가 날카롭기 때문에 연마지석을 이용하여 네 변을 연마하고, 연마된 패널은 연마면과 절단면, 패턴면 등을 검사하는 공정을 거치게 된다. In general, a flat panel display panel is cut to the required size from the original glass. Since the cut panel has sharp edges, four sides are polished using abrasive grinds, and the polished panel undergoes a process of inspecting the polished surface, the cut surface, and the pattern surface.
이러한 연마공정과 검사공정은 각각 별도의 스테이지에서 수행되어 왔으나, 최근에는 이들 공정을 하나의 스테이지에서 순차적으로 수행하는 기술이 소개되었 다. The polishing process and the inspection process have been performed in separate stages, but recently, a technique of sequentially performing these processes in one stage has been introduced.
그러나 종래의 연마/검사 시스템은 전 공정에서 전달된 패널을 로딩하는 로딩부와, 상기 로딩부의 측면에 구비되어 상기 로딩부로부터 패널을 전달받아 고정하여 연마 또는 검사하는 연마/검사 스테이지와, 상기 연마/검사 스테이지의 측면에 구비되어 연마 또는 검사된 패널을 전달받아 언로딩하는 언로딩부로 구성되었다. However, the conventional polishing / inspection system includes a loading unit for loading a panel delivered in the previous process, a polishing / inspection stage provided at a side of the loading unit to receive and fix the panel from the loading unit, and to fix or inspect the panel; It is composed of an unloading unit provided on the side of the inspection stage to receive and unload the polished or inspected panel.
다시 말하면, 상기 로딩부와, 연마/검사 스테이지와, 언로딩부가 좌우측에 순차적으로 구비되었던 것이다. In other words, the loading part, the polishing / inspection stage, and the unloading part were sequentially provided on the left and right sides.
따라서 시스템이 차지하는 전체 면적이 필요 이상으로 크고, 그에 따라 패널을 로딩, 언로딩하는 시간이 길어 공정 택타임이 길다는 문제점이 있었다. Therefore, the total area occupied by the system is larger than necessary, and thus there is a problem in that the process tack time is long because the time for loading and unloading the panel is long.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 패널을 로딩하거나 또는 언로딩하기 위한 공간이 연마/검사수단의 상층부에 구비되어 장비 전체의 면적을 감소시키고, 택타임을 단축할 수 있는 패널의 연마/검사 시스템을 제공함에 있다. The present invention has been made to solve the above problems, an object of the present invention is to provide a space for loading or unloading the panel is provided in the upper layer of the polishing / inspection means to reduce the area of the entire equipment, and tack time The present invention provides a polishing / inspection system for a panel which can shorten the time required.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 의한 평판 디스플레이 패널의 연마/검사 시스템은 패널을 지지하는 로딩/언로딩부; 상기 패널을 연마 또는 검 사를 수행하는 연마/검사수단; 및 상기 로딩/언로딩부에 지지된 패널을 흡착하여 상기 연마/검사수단에 전달하고, 연마 또는 검사된 패널을 상기 로딩/언로딩부에 전달하도록 승강 가능한 피커;를 포함하여 이루어지는데, 상기 연마/검사수단은 로딩/언로딩부의 하부에 위치하고, 상기 피커는 상기 로딩/언로딩부의 상부에 위치하도록 배치된다. In order to achieve the above object, a polishing / inspection system of a flat panel display panel according to the present invention includes a loading / unloading unit supporting a panel; Polishing / inspection means for polishing or inspecting the panel; And a picker capable of absorbing the panel supported by the loading / unloading unit to transfer the polishing / inspection means to the polishing / inspecting unit and transferring the polished or inspected panel to the loading / unloading unit. The inspection means is located below the loading / unloading part and the picker is arranged to be above the loading / unloading part.
상기 연마/검사수단은, 상기 패널을 흡착하고, 상기 패널을 회전시킬 수 있는 스테이지와, 상기 테이블에 고정된 패널의 장변 또는 단변을 연마하는 연마부와, 연마된 상기 패널의 장변 또는 단변을 검사하는 검사부를 포함함으로써, 패널의 연마뿐 아니라 검사를 연속적으로 수행할 수 있다. The polishing / inspection means inspects a stage capable of adsorbing the panel and rotating the panel, a polishing portion for polishing the long side or the short side of the panel fixed to the table, and the long side or the short side of the polished panel. By including an inspection section, the inspection can be performed continuously as well as the polishing of the panel.
특히, 상기 스테이지는 상기 패널의 장변 또는 단변의 양측 단부를 지지할 수 있는 한 쌍의 가변 테이블과, 상기 패널의 중앙을 지지한 상태에서 상기 패널을 회전시킬 수 있는 회전부로 구성되어 예를 들어 상기 패널의 양측 장변을 연마 및 검사한 후, 상기 패널을 회전시켜 양측 단변을 연마 및 검사할 수 있는 것이다. In particular, the stage comprises a pair of variable tables capable of supporting both end portions of the long side or the short side of the panel, and a rotating unit capable of rotating the panel while supporting the center of the panel. After polishing and inspecting both long sides of the panel, the panel can be rotated to polish and inspect both short sides.
또한 상기 로딩/언로딩부는 상기 패널의 양단부를 지지하고, 상호 접근 또는 멀어지도록 구동되는 한 쌍의 컨베이어인 것이 바람직하다. It is also preferred that the loading / unloading portion is a pair of conveyors that support both ends of the panel and are driven to approach or move away from each other.
또한 상기 피커는 패널을 진공흡착하는 흡착부뿐 아니라 정렬부가 구비되는데, 상기 정렬부는 상기 로딩/언로딩부 상에 지지된 패널의 2 이상의 변에 대하여 힘을 작용하여 정렬하도록 수직으로 설치되어 상기 패널의 변에 힘을 작용하는 선형의 바와, 상기 패널의 단부를 하부에서 지지할 수 있도록 상기 바의 하단부에서 내측으로 형성된 후크로 구성된다. In addition, the picker is provided with an alignment unit as well as an adsorption unit for vacuum adsorption of the panel, the alignment unit is installed vertically to align the force applied to two or more sides of the panel supported on the loading / unloading unit the panel The linear bar exerts a force on the sides of the bar, and consists of a hook formed inward at the lower end of the bar to support the end of the panel from the bottom.
본 발명에 의한 다른 패널의 연마/검사 시스템은 패널을 로딩하고 지지하는 로딩부; 상기 로딩부에 지지된 패널을 흡착하고, 승강 가능한 제 1 피커; 상기 제 1 피커로부터 전달받은 상기 패널을 연마 또는 검사하는 연마/검사수단; 상기 연마 또는 검사된 패널을 흡착하고, 승강 가능한 제 2 피커; 및 상기 제 2 피커로부터 전달받은 상기 패널을 배출하는 언로딩부;를 포함하여 이루어지는데, 상기 제 1 피커는 상기 로딩부의 상부에 위치하고, 상기 제 2 피커는 상기 언로딩부의 상부에 위치하고, 상기 연마/검사수단은 상기 로딩부의 하부와 언로딩부의 하부로 각각 위치이동할 수 있도록 구성된다. Another panel polishing / inspection system according to the present invention includes a loading unit for loading and supporting a panel; A first picker capable of absorbing and lifting the panel supported by the loading unit; Polishing / inspecting means for polishing or inspecting the panel received from the first picker; A second picker capable of adsorbing and elevating the polished or inspected panel; And an unloading part for discharging the panel received from the second picker, wherein the first picker is positioned above the loading part and the second picker is positioned above the unloading part. The inspection means are configured to be able to move to the lower part of the loading part and the lower part of the unloading part, respectively.
이와 같은 구성으로 인해, 상기 로딩부 및 제 1 피커의 하부에서 패널의 장변 또는 단변을 연마/검사한 후, 연마/검사수단을 이동시켜 상기 언로딩부 및 제 2 피커의 하부에서 다른 변(단변 또는 장변)을 연마/검사하는 것이다. 이와 같이 패널의 4변을 연마/검사함에 있어, 장변과 단변을 구분하여 이 중 어느 하나는 로딩부의 하부에서, 다른 하나는 언로딩부의 하부에서 수행함으로써 전체 공정의 택타임을 단축시킬 수 있도록 구성된 것이다. Due to this configuration, after the long side or the short side of the panel is polished / inspected at the lower part of the loading part and the first picker, the polishing / inspection means is moved to the other side (short side) at the bottom of the unloading part and the second picker. Or long side). As described above, in polishing / inspecting four sides of the panel, a long side and a short side are distinguished, and one of them is performed at the bottom of the loading part and the other is performed at the bottom of the unloading part to shorten the tack time of the entire process. will be.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 구성 및 작용을 구체적으로 설명한다. Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail the configuration and operation of the present invention.
도 1 내지 도 3b는 본 발명에 의한 제 1 실시예를 도시한 것이다. 1 to 3b show a first embodiment according to the present invention.
도 1을 참조하면, 본 발명에 의한 연마/검사 시스템(1)은 로딩/언로딩부(10)와, 피커(20)와, 연마/검사수단(30)으로 이루어지며, 그 위치는 피커(20), 로딩/언 로딩부(10) 및 연마/검사수단(30)이 상부에서 순차적으로 배치된다.Referring to FIG. 1, the polishing /
상기 피커(20)는 패널(P)을 진공흡착할 수 있는 흡착부(21)와, 상기 로딩/언로딩부(10)에 지지된 패널을 얼라인하는 정렬부(22)로 구성된다. 상기 정렬부(22)는 수직으로 설치된 다수개의 바가 구비되어 패널의 2 이상의 변을 중심으로 밀도록 힘을 작용하여 정렬한다. 또한 상기 바의 끝단에는 패널의 단부를 하부에서 지지할 수 있도록 내측으로 후크가 구비되어 있다. The
도 2를 참조하면, 상기 로딩/언로딩부(10)는 패널의 양단부를 지지할 수 있도록 한 쌍의 컨베이어(11,12)로 구비되며, 상기 한 쌍의 컨베이어(11,12)는 각각 패널(P)을 이송하는 이송롤러(11a, 12a)로 구성된다. Referring to FIG. 2, the loading /
상기 한 쌍의 컨베이어(11,12)는 상호 접근 또는 멀어지도록 구동된다. The pair of
또한 상기 피커(20)의 정렬부(22)는 상기 패널의 각 변마다 2개씩 구비되어 중심을 향하여 밀어서 패널을 정위치에 정렬한다. In addition, the
도 3a 및 도 3b를 참조하면, 본 발명에 의한 연마/검사수단(30)은 서로 마주보게 설치되어 패널(P)을 지지하는 스테이지(31,35)와, 상기 패널을 연마하는 연마부(33)와, 연마된 패널의 연마면을 연속적으로 검사하는 검사부(34)를 포함하여 이루어진다. 3A and 3B, the polishing / inspection means 30 according to the present invention are provided to face each other to support the stages P, and
특히, 상기 스테이지(31,35)는 상기 패널의 양단부를 진공흡착할 수 있는 한 쌍의 가변 테이블(31a,31b)과, 상기 가변테이블(31a, 31b)의 사이에 위치하여 상기 패널의 중앙을 지지한 상태에서 패널을 회전시킬 수 있는 회전부(35)로 구성된다. In particular, the
또한 상기 가변테이블(31)을 상호 접근하거나 멀어지도록 구동하는 가이 드(32)를 포함하는 수평이동부(미도시)가 구비된다. In addition, a horizontal moving unit (not shown) including a
이하, 도 1을 참조하여 본 발명에 의한 제 1 실시예(1)의 작동을 설명한다. 1, the operation of the
도시된 바와 같이, 패널이 로딩/언로딩부(10)에 로딩되면, 상기 피커(20)가 하강하여 상기 다수개의 정렬부(22)를 내측으로 밀어 정렬한다. As shown, when the panel is loaded in the loading /
다음으로, 정렬된 패널(P)을 흡착부(21)로 진공흡착하고, 후크로 패널의 하부를 지지하면서 상승시킨다. Next, the aligned panel P is vacuum-adsorbed by the
다음으로, 한 쌍의 컨베이어인 로딩/언로딩부(10)를 서로 멀어지도록 구동한 다음, 로딩/언로딩부(10)를 통과하여 상기 피커(20)를 하강하여 가변테이블(31) 및 회전부(35)에 패널을 안착시킨다. Next, the pair of conveyors, which are loaded / unloaded 10, are driven away from each other, and then the
다음으로, 스테이지(31,35)에 안착된 패널의 장변(또는 단변)을 연마하면서 연속적으로 검사를 수행한다. Next, the inspection is continuously performed while grinding the long side (or short side) of the panel seated on the
다음으로, 상기 패널을 90°회전하여 단변(또는 장변)을 연마하면서 연속적으로 검사를 수행한다. Next, the panel is rotated by 90 ° to perform the inspection continuously while polishing the short side (or long side).
다음으로, 상기 피커(20)를 하강하여 상기 패널을 흡착부(21)로 흡착하고, w정렬부(22)의 후크로 하부를 지지하면서 상승시킨다. Next, the
다음으로, 상기 한 쌍의 컨베이어인 로딩/언로딩부(10)를 상호 접근하도록 구동한 다음, 상기 피커(20)를 하강하여 상기 패널을 로딩/언로딩부(10)에 안착시켜 언로딩한다. Next, the pair of conveyors, the loading /
도 4 및 도 5는 본 발명에 의한 제 2 실시예(100)를 도시한 것이다. 4 and 5 show a
이를 참조하면, 로딩부(110)와, 언로딩부(140), 상기 로딩부(110)의 상부에 위치하는 제 1 피커(120)와, 상기 언로딩부(140)의 상부에 위치하는 제 2 피커(150) 및 최하부에 위치하는 연마/검사수단(130)으로 구성된다. Referring to this, the
상기 로딩부(110)와 언로딩부(140)는 패널(P)의 양단부를 지지할 수 있도록 각각 한 쌍의 컨베이어(111,112)(141,142)로 구성되며, 상기 한 쌍의 컨베이어(11,12)(41,42)는 상호 접근하거나 또는 멀어지도록 구동된다(도 4의 화살표 참조). 이것은 서로 다른 면적을 가진 패널에 대한 호환성 및 동일 패널이라도 장변 또는 단변을 모두 지지할 수 있도록 하기 위함이다. 또한, 상부에 위치하는 제 1 및 제 2 피커(120,150)가 상기 패널(P)을 흡착하여 한 쌍의 컨베이어(11,12)(41,42)를 통과하여 하강 또는 상승하기 위한 이유이기도 하다. The
상기 로딩부(110) 또는 언로딩부(140)를 구성하는 한 쌍의 컨베이어(111,112)(141,142)는 각각 패널(P)을 이송하는 이송롤러(111a, 112a)(141a,142a)로 구성된다. The pair of
도 5를 참조하면, 본 발명에 의한 연마/검사 시스템(100)은 피커(120,150), (언)로딩부(110,150) 및 연마/검사수단(130)이 상부에서부터 순차적으로 배치된다. Referring to FIG. 5, in the polishing /
상기 제 1 피커(120) 및 제 2 피커(150)는 그 위치가 상술한 바와 같이 다를 뿐, 동일한 구성을 한다. 즉, 상기 제 1 피커(120) 및 제 2 피커(150)는 패널(P)을 진공흡착할 수 있는 흡착부(121,151)가 구비된다. 특히, 제 1 피커(120)는 상기 로딩부(110)에 지지되는 패널을 정렬하기 위한 정렬부(122)가 구비된다. 상기 정렬부(122)는 제 1 실시예와 동일한 구성 및 작용을 한다. The
또한 본 실시예에서의 연마/검사수단(130)도 도 3a 및 도 3b에 도시된 제 1 실시예의 연마/검사수단(30)과 동일하다. 다만, 본 실시예에서는 로딩부(110)의 하부에서 패널의 장변(또는 단변)을 연마 및 검사하고, 언로딩부(140)의 하부에서 단변(또는 장변)을 연마 및 검사할 수 있도록 하기 위하여 연마/검사수단(130)을 로딩부(110)의 하부와 언로딩부(140)의 하부로 왕복운동시키는 구동부(미도시)가 더 구비된다는 차이가 있다. The polishing / inspection means 130 in this embodiment is also the same as the polishing / inspection means 30 in the first embodiment shown in Figs. 3A and 3B. However, in this embodiment, in order to polish and inspect the long side (or short side) of the panel at the lower portion of the
이하, 도 6a 내지 도 6i를 참조하여 본 발명에 의한 제 2 실시예의 작동을 설명한다. Hereinafter, the operation of the second embodiment according to the present invention will be described with reference to FIGS. 6A to 6I.
먼저, 전 공정에서 이송된 패널(P)을 로딩부(110)의 한 쌍의 컨베이어(111,112)로 지지하면서, 상기 이송롤러를 구동하여 패널을 로딩한다(도 6a 참조). First, the panel P transferred in the previous process is supported by a pair of
다음으로, 상기 제 1 피커(120)를 하강하고, 정렬부(122)를 내측으로 이동시켜 패널(P)을 중심으로 밀어서 정위치에 정렬한다(도 6b 참조). Next, the
다음으로, 상기 패널(P)을 흡착부(121)로 흡착하고, 하부에서는 정렬부(122)의 후크로 지지하여 상승함과 동시에, 상기 로딩부(110)의 한 쌍의 컨베이어(111,112)를 상호 멀어지도록 동기 구동한다(도 6c 참조). Next, the panel P is adsorbed by the
다음으로, 상기 제 1 피커(120)를 하강하여 패널(P)을 한 쌍의 컨베이어(111,112)를 통과하여 연마/검사수단(130)의 스테이지(131a, 135)에 안착한다(도 6d 참조). Next, the
다음으로, 스테이지(131a, 131b, 135)에 안착된 패널(P)을 흡착하여 고정한 상태에서, 상기 패널(P)의 양측 장변 모서리를 연마한다. 이어서 연속적으로 패널(P)의 연마된 부분을 연마량 측정 및 검사한다(도 6e 참조). Next, both sides of the long side edges of the panel P are polished while the panel P mounted on the
다음으로, 상기 한 쌍의 가변테이블(131a, 131b)을 상호 멀어지도록 동기 구동하면서 회전부(135)를 이용하여 상기 패널(P)을 90°회전시킨다. 이로써 상기 패널(P)의 단변의 연마 및 검사 준비를 한다. 한편, 이와 동시에 로딩부(110)의 하부에 위치하던 상기 연마/검사수단(130)을 상기 언로딩부(140)의 하측으로 이동한다. 즉, 로딩부(110)의 하부에서 장변(또는 단변)의 연마 및 검사를 하고, 언로딩부(140)의 하부에서 단변(또는 장변)의 연마 및 검사를 수행하는 것이다. 이로써 패널(P)의 장변 및 단변의 연마/검사가 모두 완료된다(도 6f 참조). Next, the panel P is rotated by 90 ° using the
다음으로, 상기 언로딩부(140)의 상부에 위치하는 제 2 피커(150)가 상기 언로딩부(140)를 통과하여 하강하고, 흡착부(151)가 상기 패널(P)을 흡착한다(도 6g). Next, the
다음으로, 상기 제 2 피커(150)를 상기 한 쌍의 컨베이어(141,142)인 언로딩부(140)를 통과하여 상승한다(도 6h 참조).Next, the
마지막으로, 상기 한 쌍의 컨베이어(141,142)를 상호 접근하도록 동기 구동한 후, 상기 제 2 피커(150)를 하강하여 패널(P)을 상기 언로딩부(140)에 안착시킨다. 상기 제 2 피커(150)는 패널(P)을 내려놓고 곧바로 상승하며, 상기 언로딩부(140)에 의해 상기 패널(P)을 이송하여 언로딩한다. Finally, after the pair of
본 발명에 따르면, 패널을 로딩하거나 또는 언로딩하기 위한 별도의 공간이 불필요하기 때문에 장비 전체의 면적이 현저히 감소하는 효과가 있다. According to the present invention, since the separate space for loading or unloading the panel is not necessary, the area of the entire equipment is significantly reduced.
따라서 패널의 연마/검사를 위한 택타임을 단축할 수 있다. Therefore, the tack time for polishing / inspecting the panel can be shortened.
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