KR20150071545A

KR20150071545A - 프로브 카드 검사용 커넥터

Info

Publication number: KR20150071545A
Application number: KR1020130158700A
Authority: KR
Inventors: 전진국; 박성규; 이상헌; 장승철
Original assignee: 주식회사 오킨스전자
Priority date: 2013-12-18
Filing date: 2013-12-18
Publication date: 2015-06-26
Also published as: KR101532761B1

Abstract

본 발명은 프로브 카드 검사용 커넥터에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 원형판 형상으로 다수의 관통공 열과 검사용 패턴이 형성된 베이스보드, 베이스보드의 각 관통공 열의 상측에 각각 배열되고, 내부에 각 관통공과 연통되도록 장착공간부를 갖는 하우징, 하우징의 양면을 따라 다수 개 구비되어 검사를 위한 프로브 카드와 접촉되기 위한 컨택트, 베이스보드의 하측에 위치되되, 각 관통공에 대응되도록 다수의 고정공이 형성되는 클램프플레이트 및 하우징의 장착공간부에 장착되고, 베이스보드의 각 관통공을 통과하여 클램프플레이트의 고정공에 걸려 하우징을 베이스보드에 고정시키는 삽입플레이트로 구성되며, 컨택트가 구비된 하우징을 교체할 경우, 클램프플레이트의 고정공을 통과한 삽입플레이트의 고정핀 단부를 절단시켜 베이스보드에서 분리시킬 수 있음에 따라 커넥터를 수평방향 변위 및 흔들림없이 용이하게 고정시켜 프로브 카드에 대한 검사가 이루어짐은 물론, 교체 시, 용이하게 분리시킬 수 있어 비용을 절감시키며, 작업효율을 향상시킬 수 있다.

Description

프로브 카드 검사용 커넥터{Connector for probe card inspection}

본 발명은 검사용 커넥터에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 프로브 카드 검사를 위한 커넥터를 베이스보드에 견고하게 고정시킴은 물론, 교체 시, 용이하게 분리할 수 있게하여 용이한 검사와 교체에 따른 작업효율을 향상시킬 수 있는 프로브 카드 검사용 커넥터에 관한 것이다.

일반적으로, 각종 반도체 및 회로기판은 제작 후, 검사과정을 거침에 따라 불량여부를 확인하게 되고, 양품의 경우만, 제품화하여 판매되고 있다.

이러한 검사를 위한 커넥터는 다수의 컨택트를 갖는 하우징이 구비되고, 회로기판에 결합됨에 따라 회로기판(이하, '베이스보드'라 함.)의 검사용 패턴과 다수의 컨택트가 접속되며, 검사를 위한 카드를 결합시켜 카드에 대한 검사가 이루어진다.

여기서, 종래 검사용 커넥터는 베이스보드에 다수 개 구비되며, 각 커넥터는 리벳터미널에 의해 베이스보드에 결합되는 것으로, 리벳터미널은 커넥터의 하우징에 구비되어 베이스보드의 리벳공에 관통된 후, 하단을 소성변형시켜 커넥터를 베이스보드에 결합시키게 된다.

그러나 종래 커넥터의 리베팅 작업 과정에서 리벳을 변형시키기 위하여 과도한 힘이 소요되는 문제점이 발생하였을 뿐만 아니라, 이 힘에 의해 커넥터의 각종 부품 및 베이스보드 등이 손상되는 문제점도 발생하였다.

특히, 리벳공의 직경이 리벳의 직경보다 커 고정된 커넥터가 베이스보드의 면과 수평한 방향으로 이동될 수 있어 해당 컨택트가 검사용 패턴과 접촉되지 못함에 따라 검사가 되지 않는 문제점이 있다.

이를 해소하기 위해, 등록특허 10-0909683호에서 개진된 바와 같이, 리벳터미널은 다수의 수직고정편이 형성되고, 각 수직고정편의 하단부는 양측으로 분기되어 리벳홈이 형성된다.

이러한 리벳터미널은 다수의 수직고정편이 회로기판의 해당 관통공에 관통설치된 후, 분기된 단부가 리벳홈을 기준으로 외측으로 벌어짐에 따라 베이스보드에 고정된다.

또한 관통공에 위치되는 수직고정편의 양측에는 다수의 걸림돌기가 형성되되 관통공의 직경보다 크게 형성되고, 내측에는 탄성밀착공이 형성되어 관통공 설치 시, 다수의 걸림돌기가 관통공의 내주면과 닿으면 관통되도록 탄성밀착공이 변형되어 베이스보드에 고정되는 것이다.

그러나 커넥터의 결합 시, 어느 한측으로 힘이 더 가해져 양측의 걸림돌기가 동일한 형상으로 변형되지 못하게 되어 관통공의 내주면을 파손시킬 수 있으며, 이는 수평방향의 변위 및 흔들림을 발생시키게되는 원인이 되고 있다.

특히, 마모된 컨택트를 갖는 커넥터를 교체할 경우, 양측으로 벌어진 수직고정핀의 하단부를 원상복구시키고, 상측으로 분리시켜야 됨에 따라 베이스보드의 관통공을 파손시켜 교체된 커넥터의 수평 변위와 흔들림이 더욱 심해져 검사신뢰성이 저하되는 문제점이 있다.

이에 따라, 베이스보드에 수평이동 및 흔들림 없이 견고하게 고정시킴은 물론, 용이하게 분리시킬 수 있어 파손방지에 따른 비용절감과 검사신뢰성 및 작업효율을 향상시킬 수 있는 기술에 대한 개발이 절실히 요구되고 있는 실정이다.

이에 본 발명은 상기와 같은 문제점들을 해소하기 위해 안출된 것으로써, 다수의 컨택트가 구비된 하우징을 베이스보드에 고정시키되, 베이스보드의 관통공에 대응되는 고정공이 형성된 클램프플레이트를 베이스보드 하측에 위치시키고, 하우징에 고정되는 삽입플레이트의 고정핀이 고정공에 관통설치되도록 하여 하우징을 흔들림없이 베이스보드에 견고하게 고정시킬 수 있으며, 클램프플레이트의 고정공을 통과한 고정핀의 단부를 절단시켜 하우징을 베이스보드에서 용이하게 분리시킬 수 있어 비용 절감은 물론, 작업효율성을 향상시킬 수 있는 프로브 카드 검사용 커넥터를 제공하는 것이 목적이다.

상기 목적을 이루기 위한 본 발명은, 원형판 형상으로 형성되며, 상호 일정 간격으로 이격된 다수의 관통공이 하나의 열을 이루고, 검사용 패턴이 형성된 베이스보드, 상기 베이스보드의 각 관통공 열의 상측에 각각 배열되고, 내부에 상기 각 관통공과 연통되도록 장착공간부를 갖는 하우징, 상기 하우징의 양면을 따라 다수 개 구비되어 검사를 위한 프로브 카드와 접촉되기 위한 컨택트, 상기 베이스보드의 하측에 위치되되, 상기 각 관통공에 대응되도록 다수의 고정공이 형성되는 클램프플레이트, 및 상기 하우징의 장착공간부에 장착되고, 상기 베이스보드의 각 관통공을 통과하여 상기 클램프플레이트의 고정공에 걸려 고정됨에 따라 상기 하우징을 베이스보드에 고정시키는 삽입플레이트,를 포함하여 이루어진다.

바람직하게, 상기 삽입플레이트는, 상기 하우징에 구비되는 지지플레이트, 상기 베이스보드의 각 관통공에 관통설치되도록 상기 지지플레이트의 하단부에 다수 개 구비되는 고정핀, 및 상기 각 고정핀의 양측으로 돌출되며, 상기 클램프플레이트의 고정공에 걸려지기 위한 다수의 걸림돌기,를 포함하여 이루어지고, 상기 하우징을 분리시킬 경우, 상기 클램프플레이트의 고정공을 통과한 상기 고정핀 단부를 절단하여 상기 베이스보드에서 분리된다.

그리고 상기 삽입플레이트와 하우징은 이중사출에 의해 일체로 성형된다.

또한, 상기 관통공 열은 상기 베이스보드의 가장자리를 따라 다수 열 형성되고, 각 관통공 열에 상기 컨택트가 구비된 하우징이 각각 구비되어 프로브 카드에 대한 검사가 이루어진다.

그리고 상기 다수의 걸림돌기는 상기 고정핀의 중심축을 기준으로 대칭되도록 형성된다.

또한, 상기 다수의 걸림돌기는 상기 고정핀의 중심축을 기준으로 비대칭되도록 교대로 하나씩 형성되어 지그재그 형상으로 형성된다.

그리고 상기 다수의 걸림돌기는 상단이 상기 고정핀의 중심축과 직교되도록 형성되고, 하단이 상기 고정핀의 중심축과 일정 경사지도록 형성되어 상기 클램프플레이트의 고정공을 하측으로만 통과시키고, 상측으로 통과되지 않는다.

또한, 상기 클램프플레이트의 고정공은 하측으로 돌출되도록 고정단턱이 돌출형성되되, 상기 고정공의 직경은 상기 베이스보드의 해당 관통공의 직경보다 작게 형성되고, 상기 고정단턱의 내측은 상기 베이스보드의 해당 관통공의 직경보다 큰 직경을 갖는 걸림공간부가 형성되어 관통공을 통과한 상기 고정핀의 걸림돌기는 상기 클램프플레이트의 고정공 가장자리에만 걸려져 고정되며, 상기 고정공의 하측으로 돌출된 고정핀의 단부 절단 시, 절단되지 않은 걸림돌기들은 상기 관통공을 이탈할 수 있다.

그리고 상기 고정핀은, 하단부의 폭이 하측으로 갈수록 점진적으로 좁아지도록 형성됨에 따라 걸림돌기의 단부가 하측으로 갈수록 상기 고정핀의 중심축 방향으로 위치된다.

또한, 상기 각 관통공 열이 형성된 베이스보드의 하단부 내측에 베이스보드의 외주방향과 하측으로 개방된 장착홈이 형성되되, 하측으로 개방된 부분은 외주방향으로 개방된 부분보다 작은 폭으로 형성되고, 상기 장착홈의 외주방향 개방된 부분으로 상기 클램프플레이트가 삽입되어 베이스보드에 장착된다.

상기한 바와 같이, 본 발명에 의한 프로브 카드 검사용 커넥터에 의하면, 커넥터를 수평방향 변위 및 흔들림없이 베이스보드에 용이하게 고정시켜 프로브 카드에 대한 검사가 이루어짐은 물론, 교체 시, 용이하게 분리시킬 수 있어 비용을 절감시키며, 작업효율을 향상시킬 수 있게 하는 매우 유용하고 효과적인 발명이다.

도 1은 본 발명에 따른 프로브 카드 검사용 커넥터를 도시한 도면이고,
도 2는 본 발명에 따른 프로브 카드 검사용 커넥터의 분해도를 도시한 도면이며,
도 3은 본 발명에 따른 프로브 카드 검사용 커넥터의 단면도를 도시한 도면이고,
도 4는 본 발명에 따른 삽입플레이트의 고정핀과 클램프플레이트를 도시한 도면이며,
도 5는 본 발명에 따른 삽입플레이트의 고정핀의 다른 실시 예를 도시한 도면이고,
도 6은 본 발명에 따른 삽입플레이트의 고정핀의 또 다른 실시 예를 도시한 도면이며,
도 7은 본 발명에 따른 하우징의 분리상태를 도시한 도면이고,
도 8은 본 발명에 따른 클램프플레이트의 다른 실시 예를 도시한 도면이다.

이하, 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 설명한다.

또한, 본 실시 예는 본 발명의 권리범위를 한정하는 것은 아니고 단지 예시로 제시된 것이며, 그 기술적 요지를 이탈하지 않는 범위 내에서 다양한 변경이 가능하다.

도면에서 도시한 바와 같이, 프로브 카드 검사용 커넥터(10)는 베이스보드(100)와 하우징(200), 컨택트(300), 클램프플레이트(400) 및 삽입플레이트(500)로 구성된다.

먼저, 베이스보드(100)는 원형판 형상으로 형성되며, 상호 일정 간격으로 이격된 다수의 관통공(102)이 하나의 열(110)을 이루고, 검사용 패턴(미 도시)이 형성된다.

그리고 하우징(200)은 베이스보드(100)의 각 관통공 열(110)의 상측에 각각 배열되고, 내부에 각 관통공(102)과 연통되도록 장착공간부(210)가 형성된다.

컨택트(300)는 하우징(200)의 양면을 따라 다수 개 구비되어 검사를 위한 프로브 카드와 접촉되기 위해 구비된다.

또한 클램프플레이트(400)는 베이스보드(100)의 하측에 위치되되, 각 관통공(102)에 대응되도록 다수의 고정공(410)이 형성된다.

삽입플레이트(500)는 하우징(200)의 장착공간부(210)에 장착되고, 베이스보드(100)의 각 관통공(102)을 통과하여 클램프플레이트(400)의 고정공(410)에 걸려짐에 따라 하우징(200)을 베이스보드(100)에 고정시키게 된다.

이러한 삽입플레이트(500)를 더욱 자세히 살펴보면, 지지플레이트(510)와 고정핀(520) 및 걸림돌기(530)로 구성된다.

지지플레이트(510)는 하우징(200)에 구비되고, 고정핀(520)은 베이스보드(100)의 각 관통공(102)에 관통설치되도록 지지플레이트(510)의 하단부에 다수 개 구비된다.

그리고 걸림돌기(530)는 각 고정핀(520)의 양측으로 각각 다수 개 돌출되며, 클램프플레이트(400)의 고정공(410)에 걸려지게 된다.

여기서, 삽입플레이트(500)는 하우징(200)의 장착공간부(210)에 탈부착될 수도 있고, 일체로 형성될 수도 있다.

탈부착될 경우, 다수의 돌기와 홈이 각각 대응되도록 형성되어 상호 끼워져 고정되며, 일체로 형성될 경우, 이중사출에 의해 성형됨이 바람직하다.

이러한 프로브 카드 검사용 커넥터(10)는 일정 횟수 또는 기간 프로브 카드 검사를 실시 후, 교체할 경우, 클램프플레이트(400)의 고정공(410)을 통과한 삽입플레이트(500)의 고정핀(520) 단부를 절단시켜 베이스보드(100)에서 분리시킬 수 있다.

다시 말해, 도 7에서 도시한 바와 같이, 삽입플레이트(500)에 의해 고정된 하우징(200)을 분리시킬 경우, 클램프플레이트(400)의 고정공(410)을 통과한 고정핀(520) 단부를 절단하여 베이스보드(100)에서 분리시킬 수 있는 것이다.

여기서, 관통공 열(110)은 베이스보드(100)의 가장자리를 따라 다수 열 형성되고, 각 관통공 열(110)에 컨택트(300)가 구비된 하우징(200)이 각각 구비되어 프로브 카드에 대한 검사가 이루어진다.

그리고 도 4에서 도시한 바와 같이, 삽입플레이트(500)의 고정핀(520) 양측에 형성된 다수의 걸림돌기(530)는 고정핀(520)의 중심축을 기준으로 대칭되도록 형성된다.

이에, 고정핀(520) 양측에 형성된 해당 걸림돌기(530)가 클램프플레이트(400)의 고정공(410)을 통과 후, 가장자리에 걸려지는 것이다.

한편, 도 5에서 도시한 바와 같이, 삽입플레이트(500)의 고정핀(520) 양측에 형성된 다수의 걸림돌기(530)는 고정핀(520)의 중심축을 기준으로 비대칭되도록 교대로 하나씩 형성되어 지그재그 형상으로 형성된다.

다시 말해, 고정핀(520)의 어느 한 측에 형성된 인접한 두 개의 걸림돌기(530)의 중간부를 수평으로 지나는 수평연장선상에 다른 한 측에 형성된 걸림돌기(530)가 위치된다.

이는, 지그재그 형상으로 형성된 걸림돌기(530) 중 하나가 클램프플레이트(400)의 고정공(410)을 통과 후, 가장자리에 걸려지는 것으로, 클램프플레이트(400)와의 걸려지는 간격이 좁아 하우징(200)을 베이스보드(100)에 더욱 밀착시킨 상태로 고정킬 수 있는 것이다.

그리고 도 4 내지 5에서 도시한 바와 같이, 삽입플레이트(500)의 고정핀(520) 양측에 형성된 다수의 걸림돌기(530)는 상단이 고정핀(520)의 중심축과 직교되도록 형성되고, 하단이 고정핀(520)의 중심축과 일정 경사지도록 형성된다.

이에, 클램프플레이트(400)의 고정공(410)을 하측으로만 통과시키고, 상측으로 통과되지 않게하여 고정되는 것이다.

여기서, 고정핀(520)의 중심축은 길이방향과 평행한 중심축을 나타낸다.

또한 도 4 내지 도 5에서 도시한 바와 같이, 클램프플레이트(400)의 고정공(410)은 하측으로 돌출되도록 고정단턱(420)이 돌출형성되되, 고정공(410)의 직경은 베이스보드(100)의 해당 관통공(102)의 직경보다 작게 형성된다.

이러한 고정단턱(420)의 내측은 베이스보드(100)의 해당 관통공(102)의 직경보다 큰 직경을 갖는 걸림공간부(430)가 형성되어 관통공(102)을 통과한 고정핀(520)의 걸림돌기(530)는 클램프플레이트(400)의 고정공(410) 가장자리에만 걸려져 고정되는 것이다.

이에, 고정공(410)의 하측으로 돌출된 고정핀(520)의 단부 절단 시, 절단되지 않은 걸림돌기(530)들은 관통공(102)을 이탈할 수 있어, 삽입플에이트(500)와 하우징(200)을 베이스보드(100)에서 용이하게 분리시킬 수 있다.

그리고 도 6에서 도시한 바와 같이, 다른 실시 예의 고정핀(520)은 하단부의 폭이 하측으로 갈수록 점진적으로 좁아지도록 형성됨에 따라 걸림돌기(530)의 단부가 하측으로 갈수록 고정핀(520)의 중심축 방향으로 위치된다.

이에, 삽입플에이트(500)와 하우징(200) 분리 시, 걸림돌기(530)가 베이스보드(100)의 관통공(102)에 걸려지는 것을 방지하여 용이하게 분리시킬 수 있는 것이다.

또한 도 8에서 도시한 바와 같이, 각 관통공 열(110)이 형성된 베이스보드(100)의 하단부 내측에 베이스보드(100)의 외주방향과 하측으로 개방된 장착홈(120)이 형성된다.

이 장착홈(120)의 하측으로 개방된 부분은 외주방향으로 개방된 부분보다 작은 폭으로 형성되고, 외주방향 개방된 부분으로 클램프플레이트(400)가 삽입되어 베이스보드(100)에 장착된다.

이에, 하우징(200)과 삽입플에이트(500)를 베이스보드(100)에 용이하게 고정시킬 수 있다.

10 : 검사용 커넥터 100 : 베이스보드
102 : 관통공 110 : 관통공 열
120 : 장착홈 200 : 하우징
210 : 장착공간부 300 : 컨택트
400 : 클램프플레이트 410 : 고정공
500 : 삽입플레이트 510 : 지지플레이트
520 : 고정핀 530 : 걸림돌기

Claims

원형판 형상으로 형성되며, 상호 일정 간격으로 이격된 다수의 관통공이 하나의 열을 이루고, 검사용 패턴이 형성된 베이스보드;
상기 베이스보드의 각 관통공 열의 상측에 각각 배열되고, 내부에 상기 각 관통공과 연통되도록 장착공간부를 갖는 하우징;
상기 하우징의 양면을 따라 다수 개 구비되어 검사를 위한 프로브 카드와 접촉되기 위한 컨택트;
상기 베이스보드의 하측에 위치되되, 상기 각 관통공에 대응되도록 다수의 고정공이 형성되는 클램프플레이트; 및
상기 하우징의 장착공간부에 장착되고, 상기 베이스보드의 각 관통공을 통과하여 상기 클램프플레이트의 고정공에 걸려 고정됨에 따라 상기 하우징을 베이스보드에 고정시키는 삽입플레이트;를 포함하여 이루어지는 프로브 카드 검사용 커넥터.
제1항에 있어서, 상기 삽입플레이트는,
상기 하우징에 구비되는 지지플레이트,
상기 베이스보드의 각 관통공에 관통설치되도록 상기 지지플레이트의 하단부에 다수 개 구비되는 고정핀, 및
상기 각 고정핀의 양측으로 돌출되며, 상기 클램프플레이트의 고정공에 걸려지기 위한 다수의 걸림돌기,를 포함하여 이루어지고,
상기 하우징을 분리시킬 경우, 상기 클램프플레이트의 고정공을 통과한 상기 고정핀 단부를 절단하여 상기 베이스보드에서 분리되는 것을 특징으로 하는 프로브 카드 검사용 커넥터.
제1항에 있어서,
상기 삽입플레이트와 하우징은 이중사출에 의해 일체로 성형되는 것을 특징으로 하는 프로브 카드 검사용 커넥터.
제1항에 있어서,
상기 관통공 열은 상기 베이스보드의 가장자리를 따라 다수 열 형성되고, 각 관통공 열에 상기 컨택트가 구비된 하우징이 각각 구비되어 프로브 카드에 대한 검사가 이루어지는 것을 특징으로 하는 프로브 카드 검사용 커넥터.
제2항에 있어서,
상기 다수의 걸림돌기는 상기 고정핀의 중심축을 기준으로 대칭되도록 형성되는 것을 특징으로 하는 프로브 카드 검사용 커넥터.
제2항에 있어서,
상기 다수의 걸림돌기는 상기 고정핀의 중심축을 기준으로 비대칭되도록 교대로 하나씩 형성되어 지그재그 형상으로 형성되는 것을 특징으로 하는 프로브 카드 검사용 커넥터.
제2항에 있어서,
상기 다수의 걸림돌기는 상단이 상기 고정핀의 중심축과 직교되도록 형성되고, 하단이 상기 고정핀의 중심축과 일정 경사지도록 형성되어 상기 클램프플레이트의 고정공을 하측으로만 통과시키고, 상측으로 통과되지 않는 것을 특징으로 하는 프로브 카드 검사용 커넥터.
제2항에 있어서,
상기 클램프플레이트의 고정공은 하측으로 돌출되도록 고정단턱이 돌출형성되되, 상기 고정공의 직경은 상기 베이스보드의 해당 관통공의 직경보다 작게 형성되고, 상기 고정단턱의 내측은 상기 베이스보드의 해당 관통공의 직경보다 큰 직경을 갖는 걸림공간부가 형성되어 관통공을 통과한 상기 고정핀의 걸림돌기는 상기 클램프플레이트의 고정공 가장자리에만 걸려져 고정되며, 상기 고정공의 하측으로 돌출된 고정핀의 단부 절단 시, 절단되지 않은 걸림돌기들은 상기 관통공을 이탈할 수 있는 것을 특징으로 하는 프로브 카드 검사용 커넥터.
제2항에 있어서, 상기 고정핀은,
하단부의 폭이 하측으로 갈수록 점진적으로 좁아지도록 형성됨에 따라 걸림돌기의 단부가 하측으로 갈수록 상기 고정핀의 중심축 방향으로 위치되는 것을 특징으로 하는 프로브 카드 검사용 커넥터.
제1항에 있어서,
상기 각 관통공 열이 형성된 베이스보드의 하단부 내측에 베이스보드의 외주방향과 하측으로 개방된 장착홈이 형성되되, 하측으로 개방된 부분은 외주방향으로 개방된 부분보다 작은 폭으로 형성되고, 상기 장착홈의 외주방향 개방된 부분으로 상기 클램프플레이트가 삽입되어 베이스보드에 장착되는 것을 특징으로 하는 프로브 카드 검사용 커넥터.