KR20140124402A - Surface-treated electrolytic copper foil, laminate, and printed circuit board - Google Patents

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KR20140124402A
KR20140124402A KR1020147025481A KR20147025481A KR20140124402A KR 20140124402 A KR20140124402 A KR 20140124402A KR 1020147025481 A KR1020147025481 A KR 1020147025481A KR 20147025481 A KR20147025481 A KR 20147025481A KR 20140124402 A KR20140124402 A KR 20140124402A
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미치야 고히키
겐지 이누카이
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제이엑스 닛코 닛세키 킨조쿠 가부시키가이샤
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Abstract

파인 피치화가 가능하고 또한 수지와의 밀착 신뢰성이 우수한 표면 처리 전해 동박, 적층판, 및 프린트 배선판을 제공한다. 촉침식 조도계를 사용하여 측정되는 동박의 조면의 조도 (Rz) 가 2.0 ㎛ 이하이고, 상기 조면의 조도 곡선의 쿨토시스수 (Sku) 가 2 ∼ 4 인 표면 처리 전해 동박. A surface treated electrolytic copper foil, a laminated board, and a printed wiring board which are capable of fine pitching and are excellent in adhesion reliability to a resin. A surface treated electrolytic copper foil having a roughened surface roughness (Rz) of a copper foil measured using a contact type roughness meter of not more than 2.0 mu m and a coefficient of condensation (Sku) of an roughness curve of the roughened surface of 2 to 4.

Description

표면 처리 전해 동박, 적층판, 및 프린트 배선판{SURFACE-TREATED ELECTROLYTIC COPPER FOIL, LAMINATE, AND PRINTED CIRCUIT BOARD}[0001] DESCRIPTION [0002] SURFACE-TREATED ELECTROLYTIC COPPER FOIL, LAMINATE, AND PRINTED CIRCUIT BOARD [0003]

본 발명은 표면 처리 전해 동박, 적층판, 및 프린트 배선판에 관한 것이다. The present invention relates to a surface treated electrolytic copper foil, a laminated board, and a printed wiring board.

프린트 배선판은 지난 반세기에 걸쳐 큰 진전을 이뤄, 오늘날에 와서는 거의 모든 전자 기기에 사용되기에 이르렀다. 최근의 전자 기기의 소형화, 고성능화 요구의 증대에 따라 탑재 부품의 고밀도 실장화나 신호의 고주파화가 진전되고, 프린트 배선판에 대해 도체 패턴의 미세화 (파인 피치화) 나 고주파 대응 등이 요구되고 있다. Printed circuit boards have made great strides over the past half century, and today they have come to be used in almost all electronic devices. In recent years, as electronic equipment has become more compact and higher in performance, there has been a demand for high-density packaging of mounted components and high frequency signal, and a printed circuit board is required to have finer conductor patterns (high pitch) and high frequency response.

프린트 배선판에 대한 도체 패턴의 파인 피치는, 동박 조화 처리면의 조도가 낮을수록 양호하게 형성된다. 그 때문에, 최근의 도체 패턴의 파인 피치화에 따라, 동박 조화 처리면의 저조도화에 대한 요구가 증대되고 있다. The finer pitch of the conductor pattern with respect to the printed wiring board is better formed as the roughness of the copper foil roughened surface is lower. For this reason, the demand for lowering of the surface of the copper foil-roughened surface has been increased due to recent fine pitching of the conductor pattern.

한편, 동박은 수지와 접착시켜 적층판을 구성하지만, 그 때의 수지와의 밀착 신뢰성은, 동박의 조면의 조도가 클수록, 조면에 발생하는 앵커 효과가 높아지기 때문에 양호해진다. 당해 밀착 신뢰성은, 파인 피치를 형성하는 데에 있어서 중요한 관리 항목의 하나로, 90°필 강도가 일정값 (0.6 ㎏/㎝) 이상이면 좋다고 여겨지고 있다. 또, 다른 밀착 신뢰성의 평가 방법으로서, 260 ℃ 의 고온욕에 수지 기판과의 적층체를 침지시켜, 표면에 발생하는 팽윤의 수를 측정하는 것이 있으며, 당해 팽윤 발생수 0 ∼ 1 개/㎡ 가 밀착 신뢰성의 기준으로 되어 있다. On the other hand, the copper foil is bonded to the resin to form a laminated board. However, the adhesion reliability with the resin at that time is improved because the anchor effect generated on the roughened surface becomes higher the greater the roughness of the copper foil. This close reliability is considered to be one of important management items for forming a fine pitch, and it is considered that the 90 ° peel strength should be equal to or higher than a certain value (0.6 kg / cm). Another method for evaluating adhesion reliability is to immerse a laminated body with a resin substrate in a high temperature bath at 260 占 폚 to measure the number of swellings occurring on the surface. The swelling number of 0 to 1 / It is a standard of reliability.

파인 피치화가 가능하고 또한 수지와의 밀착 신뢰성을 향상시킨 동박에 대해서는 여러 가지 기술이 개발되어 있다. 예를 들어, 특허문헌 1 에는, 표면 조도 (Rzjis) 가 2.5 ㎛ 이하, 표면적이 6550 μ㎡ 인 2 차원 영역을 레이저법으로 측정했을 때의 표면적 (3 차원 면적 : A μ㎡) 과 2 차원 영역 면적의 비 [(A)/(6550)] 로 산출되는 표면적비 (B) 의 값이 1.25 ∼ 2.50, 2 차원 영역의 단위 면적당의 크롬의 양이 2.0 ㎎/㎡ 이상인 절연 수지 기재와의 접착면을 구비하는 것을 특징으로 한 표면 처리 동박이 개시되어 있다. Various techniques have been developed for a copper foil which can be made into a fine pitch and which has improved adhesion reliability to a resin. For example, Patent Document 1 discloses a surface area (A) of a two-dimensional region having a surface roughness (Rzjis) of 2.5 mu m or less and a surface area of 6550 mu m measured by a laser method and a surface area Wherein the value of the surface area ratio (B) calculated by the ratio of the area [(A) / (6550)] is 1.25 to 2.50, and the amount of chromium per unit area of the two-dimensional area is 2.0 mg / Wherein the surface-treated copper foil is a surface-treated copper foil.

일본 공개특허공보 2009-105286호Japanese Laid-Open Patent Publication No. 2009-105286

특허문헌 1 에 개시되어 있는 바와 같이, 종래 기술은 수지와의 밀착 신뢰성을 향상시키기 위해, 특히 동박의 조화면의 Rz 에 주목하여, 이것을 제어하는 것이 주된 일이었다. 그러나, 발명자들의 검토에 의하면, 동박의 조화면의 Rz 를 동일한 값이 되도록 제어하고, 그 밖의 조건도 동일하게 해도, 상기 서술한 수지 기판과의 접착 계면의 팽윤 발생수가 상이하다는 결과가 얻어졌다. 이 때문에, 동박의 조화면의 Rz 만을 제어한 동박에서는, 양호한 밀착 신뢰성을 얻기 위해서는 충분하지 않은 것이 판명되었다. As disclosed in Patent Document 1, in the prior art, in order to improve the adhesion reliability with the resin, it has been a major object to pay particular attention to the Rz of the roughened surface of the copper foil and to control it. However, according to the examination by the inventors, it was found that the number of swellings occurred at the interface of adhesion with the above-described resin substrate was different even if the Rz of the roughened surface of the copper foil was controlled to be the same value and the other conditions were the same. For this reason, it has been found that the copper foil in which only the Rz of the roughened surface of the copper foil is controlled is not sufficient for obtaining good adhesion reliability.

본 발명은 파인 피치화가 가능하고 또한 수지와의 밀착 신뢰성이 우수한 표면 처리 전해 동박, 적층판, 및 프린트 배선판을 제공한다. The present invention provides a surface-treated electrolytic copper foil, a laminate, and a printed wiring board which can be made into a fine pitch and have excellent adhesion reliability to a resin.

동박의 도체 패턴을 파인 피치화하기 위해, 조화면의 Rz 를 저하시킨 경우, 동박 표면과 수지 기판의 접착 계면에 있어서, 동박 표면에 형성된 미세한 요철에 공기가 모인다. 이 공기가 빠져나가기 어렵기 때문에, 고온 상태로 하면 미세한 요철에 모인 공기가 팽창하여, 팽윤을 발생시키고 있었다. 그래서, 본 발명자들은 예의 연구를 거듭한 결과, 파인 피치화용의 저조화 동박을 사용하여도 동박 표면에 공기가 모이기 어려워지는 구조를 동박 표면에 부여함으로써, 상기 팽윤의 발생을 억제하고, 이로써 수지 기판과의 양호한 밀착 신뢰성이 얻어지는 것을 알아내었다. When Rz of the roughened surface is lowered in order to make the conductor pattern of the copper foil finer, the air is gathered at the fine unevenness formed on the copper foil surface at the interface between the copper foil surface and the resin substrate. Since this air is difficult to escape, the air gathered in fine unevenness expands and swells when it is in a high temperature state. As a result of intensive studies, the inventors of the present invention have found that, by using a copper foil having a low coarseness for fine pitching, it is possible to suppress the occurrence of the swelling by imparting a structure to the copper foil surface such that air hardly collects on the surface of the copper foil, It is possible to obtain good adhesion reliability.

이상의 지견을 기초로 하여 완성된 본 발명은 일 측면에 있어서, 촉침식 조도계를 사용하여 측정되는 동박의 조면의 조도 (Rz) 가 2.0 ㎛ 이하이고, 상기 조면의 조도 곡선의 쿨토시스수 (Sku) 가 2 ∼ 4 인 표면 처리 전해 동박이다. In one aspect of the present invention, which is completed on the basis of the above findings, it is preferable that the roughness Rz of the roughened surface Rz of the copper foil measured using a sensory roughness meter is 2.0 占 퐉 or less and the Coulossy number Sku of the roughness curve of the rough surface Is 2 to 4 surface treated electrolytic copper foil.

본 발명에 관련된 표면 처리 전해 동박의 일 실시형태에 있어서는, 상기 조도 (Rz) 가 0.8 ∼ 1.8 ㎛ 이다. In one embodiment of the surface treated electrolytic copper foil according to the present invention, the roughness Rz is 0.8 to 1.8 占 퐉.

본 발명에 관련된 표면 처리 전해 동박의 다른 실시형태에 있어서는, 상기 쿨토시스수 (Sku) 가 2.5 ∼ 3.5 이다. In another embodiment of the surface-treated electrolytic copper foil according to the present invention, the culosis number (Sku) is 2.5 to 3.5.

본 발명에 관련된 표면 처리 전해 동박의 또 다른 실시형태에 있어서는, 상기 조면의 표면적 A 와, 상기 조면을 평면에서 보았을 때 얻어지는 면적 B 의 비 A/B 가 1.2 ∼ 2.0 이다. In another embodiment of the surface treated electrolytic copper foil according to the present invention, the ratio A / B of the surface area A of the rough surface to the area B obtained when the rough surface is viewed from the plane is 1.2 to 2.0.

본 발명에 관련된 표면 처리 전해 동박의 또 다른 실시형태에 있어서는, 상기 비 A/B 가 1.3 ∼ 1.9 이다. In another embodiment of the surface treated electrolytic copper foil according to the present invention, the ratio A / B is 1.3 to 1.9.

본 발명에 관련된 표면 처리 전해 동박의 또 다른 실시형태에 있어서는, 상태 필 강도가 0.8 ㎏/㎝ 이상이다. In another embodiment of the surface treated electrolytic copper foil according to the present invention, the state fill strength is 0.8 kg / cm or more.

본 발명은 다른 측면에 있어서, 본 발명의 표면 처리 전해 동박과 수지 기판을 적층하여 구성한 적층판이다. Another aspect of the present invention is a laminated board comprising the surface treated electrolytic copper foil of the present invention and a resin substrate laminated.

본 발명은 또 다른 측면에 있어서, 본 발명의 적층판을 재료로 한 프린트 배선판이다. According to another aspect of the present invention, there is provided a printed wiring board comprising the laminate of the present invention as a material.

본 발명에 의하면, 파인 피치화가 가능하고 또한 수지와의 밀착 신뢰성이 우수한 표면 처리 전해 동박, 적층판, 및 프린트 배선판을 제공할 수 있다. According to the present invention, it is possible to provide a surface-treated electrolytic copper foil, a laminated board, and a printed wiring board which can be formed into a fine pitch and have excellent adhesion reliability to a resin.

도 1 은 실시예 1 의 시료의 조화 처리면의 SEM 관찰 사진이다.
도 2 는 비교예 1 의 시료의 조화 처리면의 SEM 관찰 사진이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is an SEM observation image of a roughened surface of a sample of Example 1. FIG.
Fig. 2 is an SEM photograph of the roughened surface of the sample of Comparative Example 1. Fig.

본 발명에 있어서 사용하는 전해 동박은, 수지 기판과 접착시켜 적층체를 제조하고, 에칭에 의해 제거함으로써 사용되는 전해 동박에 유용하다. The electrolytic copper foil used in the present invention is useful for an electrolytic copper foil to be used by bonding a resin substrate to produce a laminate and removing the same by etching.

본 발명에 있어서 사용하는 전해 동박은, 동박의, 수지 기판과 접착하는 면, 즉 조화면에, 적층 후의 동박의 박리 강도 (밀착 신뢰성) 를 향상시키는 것을 목적으로 하여, 전처리 후의 동박의 표면에 마디혹상의 전착을 실시하는 조화 처리가 실시된다. 전해 동박은 제조 시점에서 요철을 갖고 있지만, 조화 처리에 의해 전해 동박의 볼록부를 증강하여 요철을 더욱 크게 한다. The electrolytic copper foil used in the present invention is a copper foil used for the purpose of improving the peel strength (adhesion reliability) of the copper foil after lamination on the surface of the copper foil to be bonded to the resin substrate, A harmonic treatment for electrodeposition on the bark is performed. Although the electrolytic copper foil has irregularities at the time of manufacture, the convex portions of the electrolytic copper foil are strengthened by roughening treatment to further increase the irregularities.

[조도 (Rz)][Roughness (Rz)]

본 발명의 표면 처리 전해 동박은, JIS B 0601-1994 에 준거하여, 촉침식 조도계를 사용하여 측정되는 동박의 조면의 조도 (Rz) 가 2.0 ㎛ 이하이다. 조도 (Rz) 가 2.0 ㎛ 를 초과하면, 동박 표면과 수지 기판의 접착 계면에 있어서, 동박 표면에 형성된 미세한 요철에 공기가 모이기 쉬워지고, 이 공기가 빠져나가기 어렵다. 이 때문에, 고온 상태로 하면 미세한 요철에 모인 공기가 팽창하여, 팽윤이 발생한다. 촉침식 조도계를 사용하여 측정되는 상기 조화면의 조도 (Rz) 는 바람직하게는 0.8 ∼ 1.8 ㎛, 보다 바람직하게는 1.0 ∼ 1.7 ㎛ 이다. 이 조도 (Rz) 는, 동박의 샤인면 (S 면) 처리 조건의 최적화 그리고 양면 평활 생박의 사용에 의해 제어할 수 있다. In the surface treated electrolytic copper foil of the present invention, the roughness Rz of the roughened surface of the copper foil measured using a contact-type roughness meter according to JIS B 0601-1994 is 2.0 占 퐉 or less. If the roughness Rz is more than 2.0 占 퐉, air tends to collect at fine irregularities formed on the surface of the copper foil at the interface between the copper foil surface and the resin substrate, and this air is difficult to escape. For this reason, in a high temperature state, air gathered in fine unevenness expands and swelling occurs. The roughness Rz of the roughened surface measured using a contact type illuminometer is preferably 0.8 to 1.8 占 퐉, more preferably 1.0 to 1.7 占 퐉. This roughness Rz can be controlled by optimizing the processing conditions of the shiny side (S side) of the copper foil and the use of double-side smooth blending.

[쿨토시스수 (Sku)][Coulosis water (Sku)]

본 발명의 표면 처리 전해 동박은, 조면에 존재하는 요철에 대하여, 그 「첨도」가 수지 기판과의 밀착 신뢰성에 영향을 준다는 관점에서, 조면의 조도 곡선의 쿨토시스수 (Sku) 를 2 ∼ 4 로 제어하고 있다. 조도 곡선의 쿨토시스수 (Sku) 는, 동박 조면에 있어서의 요철의 뾰족한 정도 (둥그스름한 정도) 를 나타내며, 쿨토시스수 (Sku) 가 작아질수록 요철은 둥그스름함을 띤 곡선이 되고, 쿨토시스수 (Sku) 가 커질수록 요철은 뾰족한 곡선이 된다. 조도 곡선의 쿨토시스수 (Sku) 는, ISO25178 드래프트에 준거한 비접촉식 조도계에 의한 3 차원 표면 조도 측정에 있어서의 요철의 뾰족한 정도의 지표이며, 하기 식으로 나타내어, 3 차원 표면 조도의 Z 축 방향의 요철 (산의) 높이로서, 기준 길이 lr 에 있어서의 산의 높이 Z(x) 의 하기 4 승 평균을, 하기 제곱 평균 제곱근 조도 (Rq) 의 4 승으로 나눈 것이다. The surface treated electrolytic copper foil of the present invention has a crothosis number (Sku) of the roughness curve of the rough surface in a range of from 2 to 4 (inclusive) from the viewpoint that the "kurtosis" Respectively. The culosis number Sku of the roughness curve indicates the degree of sharpness (roundness degree) of the unevenness in the rough surface of the copper foil. As the culosis number Sku becomes smaller, the unevenness becomes curved with roundness, (Sku) becomes larger, the irregularities become sharp curves. The culosis number Sku of the roughness curve is an index of the degree of sharpness of the unevenness in the measurement of the three-dimensional surface roughness by the non-contact type roughness meter based on the ISO 25178 draft, and is represented by the following formula, The height of the unevenness (mountain) is obtained by dividing the height of the mountain Z (x) at the reference length lr by the fourth power of the square root mean square roughness (Rq) shown below.

기준 길이 lr 에 있어서의 산의 높이의 4 승 평균 : Fourth mean of the height of the mountain at the reference length lr:

{(1/lr) × ∫Z4(x)dx (단 인테그랄은 0 부터 lr 까지의 적산값)} {(1 / lr) × ∫Z 4 (x) dx ( stage 0 is integral to the integrated value of from lr)}

제곱 평균 제곱근 조도 (Rq) : Square root mean square roughness (Rq):

Rq : √{(1/lr) × ∫Z2(x)dx (단 인테그랄은 0 부터 lr 까지의 적산값)}Rq: √ {(1 / lr) × ∫Z 2 (x) dx (Integral integral value from 0 to 1r)}

조도 곡선의 쿨토시스수 (Sku) : Coulosis number of illumination curve (Sku):

Sku = (1/Rq4) × {(1/lr) × ∫Z4(x)dx (단 인테그랄은 0 부터 lr 까지의 적산값)} Sku = (1 / Rq 4) × {(1 / lr) × ∫Z 4 (x) dx ( stage 0 is integral to the integrated value of from lr)}

상기 서술한 바와 같이, 동박 조면에 있어서의 요철의 뾰족한 정도, 뾰족한 모양이 험할수록, 조도 곡선의 쿨토시스수 (Sku) 는 커진다. 그리고, 요철의 뾰족한 정도, 뾰족한 모양이 험할수록, 동박 조면에 존재하는 요철의 크기의 편차가 커진다. 따라서, 요철의 형상을 제어하는 것을 나타내는 조도 곡선의 쿨토시스수 (Sku) 를 제어하면, 보다 동박 조면에 존재하는 요철의 크기의 편차를 보다 억제할 수 있다. 이와 같이 동박 조면에 존재하는 요철의 크기의 편차를 억제함으로서, 파인 피치화하여도 동박 표면에 공기가 모이기 어려워진다. 따라서, 고온 상태에서의 요철 내에 모인 공기의 팽창에 의해 일어나는 팽윤의 발생을 억제하고, 이로써 수지 기판과의 양호한 밀착 신뢰성이 얻어진다. 조면의 조도 곡선의 쿨토시스수 (Sku) 가 2 미만이면 수지와의 충분한 밀착력을 유지할 수 없게 되고, 4 초과이면 상기 서술한 바와 같이, 가열 후에 팽윤이 발생한다는 문제가 발생한다. 또, 조도 곡선의 쿨토시스수 (Sku) 는, 바람직하게는 2.5 ∼ 3.7, 보다 바람직하게는 2.5 ∼ 3.5, 보다 바람직하게는 2.4 ∼ 3.4 이다. 쿨토시스수 (Sku) 는 동박의 조화 처리 조건을 최적화함으로써 제어할 수 있다. As described above, the roughness (Sku) of the roughness curve increases as the sharpness and sharpness of the unevenness of the rough surface of the copper foil become worse. Further, the steepness of the irregularities and the sharpness of the irregularities increases the variation in the size of the irregularities existing on the copper foil rough surface. Therefore, by controlling the Couloty number Sku of the roughness curve indicating the control of the shape of the irregularities, it is possible to further suppress the variation in the size of the irregularities existing on the copper foil rough surface. By suppressing the variation in the size of the irregularities present on the surface of the copper foil in this way, even if the pitch is made fine, the air hardly collects on the surface of the copper foil. Therefore, the occurrence of swelling caused by the expansion of air gathered in the unevenness at a high temperature state is suppressed, whereby good adhesion reliability with the resin substrate can be obtained. If the roughness coefficient Sku of the roughness curve of the rough surface is less than 2, a sufficient adhesion force with the resin can not be maintained, and if it is more than 4, there arises a problem that swelling occurs after heating as described above. The Coulthis number (Sku) of the roughness curve is preferably 2.5 to 3.7, more preferably 2.5 to 3.5, and still more preferably 2.4 to 3.4. The culosis number (Sku) can be controlled by optimizing the coarsening treatment conditions of the copper foil.

[표면적비 A/B][Surface area ratio A / B]

본 발명의 표면 처리 전해 동박은, 조면 (조화 처리된 면) 의 표면적 A 와, 조면을 평면에서 보았을 때 얻어지는 면적 B 의 비 A/B 가 1.2 ∼ 2.0 인 것이 바람직하다. 여기서, 표면적 A 는, 소정 범위의 2 차원 영역을 레이저법으로 측정했을 때의 표면적 (3 차원 면적) 이고, 조면을 평면에서 보았을 때 얻어지는 면적 B 는, 당해 2 차원 영역의 면적을 나타낸다. 이들 표면적비 A/B 는, 표면 처리 전해 동박과 수지 기판의 접촉 면적의 대체 지표이며, 1.2 미만이면 수지와의 밀착력이 충분히 확보되지 않을 우려가 있고, 2.0 초과이면, 상기 서술한 바와 같이, 가열 후에 팽윤이 발생한다는 문제가 발생할 우려가 있다. 표면적비 A/B 는, 보다 바람직하게는 1.3 ∼ 1.9 이다. 표면적비 A/B 는, 동박의 조화 처리 조건을 최적화함으로써 제어할 수 있다. 예를 들어, 구리 조화 처리액에 W 를 첨가하면 표면적비 A/B 는 커진다. 또, 구리 조화 처리에 있어서 전류 밀도를 높게 하면 표면적비 A/B 는 커지고, 전류 밀도를 낮게 하면 표면적비는 작아진다. 이와 같이 하여 표면적비 A/B 를 1.2 ∼ 2.0 으로 제어할 수 있다. In the surface treated electrolytic copper foil of the present invention, the ratio A / B of the surface area A of the roughened surface (roughened surface) to the area B obtained when the roughened surface is viewed in plan is preferably 1.2 to 2.0. Here, the surface area A is a surface area (three-dimensional area) when a two-dimensional area in a predetermined range is measured by a laser method, and an area B obtained when the rough surface is viewed in a plane indicates an area of the two- The surface area ratio A / B is a substitute for the contact area between the surface treated electrolytic copper foil and the resin substrate. If the ratio is less than 1.2, adhesion to the resin may not be secured sufficiently. If the ratio is more than 2.0, There is a possibility of causing a problem that swelling occurs later. The surface area ratio A / B is more preferably 1.3 to 1.9. The surface area ratio A / B can be controlled by optimizing the roughening treatment conditions of the copper foil. For example, when W is added to the copper plating solution, the surface area ratio A / B increases. Also, when the current density is increased in the copper roughening treatment, the surface area ratio A / B becomes larger. When the current density is lowered, the surface area ratio becomes smaller. Thus, the surface area ratio A / B can be controlled to 1.2 to 2.0.

[상태 필 강도][State Peel Strength]

본 발명의 표면 처리 전해 동박은, 상기 서술한 바와 같이, 양호한 상태 필 강도를 갖고 있다. 상세하게는, 본 발명의 표면 처리 전해 동박은, JIS C 5016 에 준거하여 측정된 상태 필 강도가 0.8 ㎏/㎝ 이상인 것이 바람직하다. 또, 당해 상태 필 강도는, 보다 바람직하게는 0.9 ㎏/㎝ 이상이다. The surface treated electrolytic copper foil of the present invention has a good state peel strength as described above. Specifically, the surface-treated electrolytic copper foil of the present invention preferably has a state fill strength measured according to JIS C 5016 of 0.8 kg / cm or more. The state fill strength is more preferably 0.9 kg / cm or more.

[고온 욕조 팽윤][Swelling of high temperature bath]

본 발명의 표면 처리 전해 동박은, 상기 서술한 바와 같이, 고온욕 팽윤이 양호하게 억제되어 있다. 상세하게는, 본 발명의 표면 처리 전해 동박은, 도체 패턴으로서 파인 피치 회로를 형성한 후, 수지 기판과 조화면으로 접착시켰을 때, 260 ℃ 의 고온 욕조에 1 분간 침지한 후의 팽윤 발생수가 0 ∼ 1 개/㎡ 인 것이 바람직하다. As described above, the surface-treated electrolytic copper foil of the present invention is satisfactorily suppressed from swelling in hot and hot baths. Specifically, the surface-treated electrolytic copper foil of the present invention has a fine pitch circuit as a conductor pattern, and when the resin substrate is adhered with a roughened surface, the amount of occurrence of swelling after immersing in a high temperature bath at 260 占 폚 for 1 minute, 1 / m < 2 >.

본 발명의 표면 처리 전해 동박의 제조 방법으로는, 먼저, 전해 동박 (생박) 을 제조한다. 본 발명에서 사용하는 전해 동박은, 생박으로서의 유용한 특성인 핀홀이 억제된 높은 고온 연신을 갖는 전해 동박이다. In the method for producing a surface-treated electrolytic copper foil of the present invention, first, an electrolytic copper foil is produced. The electrolytic copper foil to be used in the present invention is an electrolytic copper foil having high high temperature elongation with pinholes inhibited, which is a useful property as a green.

본 발명에서 사용하는 전해 동박은, 황산 산성 황산구리 전해액을 사용한 전기 분해에 의해 제조된다. 당해 전해액 중의 아교 농도를 0.5 ppm 이하, 바람직하게는 0.01 ∼ 0.2 ppm 미만으로 조정함으로써, 또 바람직하게는 조정된 양의 염화물 이온을 첨가하고, 또 전해액 온도, 황산 농도와 같은 다른 전해 조건도 함께 조정함으로써, 핀홀의 발생이 없고, 높은 고온 연신을 갖는 전해 동박으로 할 수 있다. 당해 전해액을 사용하여 제조한 전해 동박 중으로의 아교의 혼입량을 저감시켜, 고온 처리시에 결정의 어닐 (재결정) 을 촉진시키고, 그 결과로서 고온에서의 연신율을 증대시킨다. The electrolytic copper foil used in the present invention is produced by electrolysis using a sulfuric acid-containing copper sulfate electrolytic solution. By adjusting the concentration of the glue in the electrolytic solution to 0.5 ppm or less, preferably 0.01 to less than 0.2 ppm, and more preferably by adding the adjusted amount of chloride ion and adjusting other electrolytic conditions such as the electrolyte temperature and sulfuric acid concentration Whereby an electrolytic copper foil having no pinholes and high elongation at high temperature can be obtained. The amount of the incorporation of the glue into the electrolytic copper foil produced by using the electrolytic solution is reduced and the annealing (recrystallization) of the crystal is promoted at the high temperature treatment, and as a result, the elongation at high temperature is increased.

염화물 이온을 첨가한 경우의 본 발명에서 사용하는 전해액의 조성 및 전해 조건은 이하와 같다. The composition and electrolysis conditions of the electrolytic solution used in the present invention in the case of adding chloride ion are as follows.

(A) 전해액 조성 : (A) Electrolyte composition:

Cu : 50 ∼ 120 g/ℓCu: 50 to 120 g / l

H2SO4 : 20 ∼ 200 g/ℓ, 바람직하게는 40 ∼ 120 g/ℓ H 2 SO 4 : 20-200 g / l, preferably 40-120 g / l

염화물 이온 (Cl-) : 20 ∼ 100 ppm (㎎/ℓ) Chloride ion (Cl - ): 20 to 100 ppm (mg / l)

아교 : 0.5 ppm (㎎/ℓ) 이하, 바람직하게는 0.01 ∼ 0.2 ppm (㎎/ℓ) 미만Glue: not more than 0.5 ppm (mg / l), preferably not more than 0.01 to 0.2 ppm (mg / l)

(B) 전해 조건 : (B) Electrolytic condition:

전해액 온도 : 20 ∼ 70 ℃, 바람직하게는 40 ∼ 60 ℃ Electrolyte temperature: 20 to 70 캜, preferably 40 to 60 캜

전류 밀도 : 20 ∼ 150 A/d㎡ Current density: 20 to 150 A / dm 2

애노드 : PbAnode: Pb

아교 농도가 0.5 ppm 을 초과하면 고온에서의 연신율의 향상은 거의 없다. 또, 핀홀 등의 방지를 위해 최소한량의 아교의 첨가는 필요하다. 0.01 ∼ 0.2 ppm (㎎/ℓ) 미만의 양의 아교 첨가가 바람직하다. If the glue concentration exceeds 0.5 ppm, the elongation at high temperature hardly increases. It is also necessary to add a minimum amount of glue to prevent pinholes and the like. Glue addition in an amount less than 0.01 to 0.2 ppm (mg / l) is preferred.

황산 농도는 20 ∼ 200 g/ℓ, 바람직하게는 40 ∼ 120 g/ℓ 로 하는 것이 바람직하다. 20 g/ℓ 미만에서는, 전해액의 전도도가 저하되고, 전해조 전압이 상승한다. 200 g/ℓ 를 초과하면, 높은 고온 연신 동박의 제조가 점차 곤란해져, 설비의 부식이 발생하기 쉬워진다. The sulfuric acid concentration is preferably 20 to 200 g / l, preferably 40 to 120 g / l. If it is less than 20 g / l, the conductivity of the electrolytic solution decreases and the electrolytic cell voltage increases. If it exceeds 200 g / L, the production of a high-temperature-elongated copper foil becomes increasingly difficult, and corrosion of the equipment tends to occur.

바람직하게는 염화물 이온이 20 ∼ 100 ppm (㎎/ℓ) 의 양에 있어서 첨가된다. 이 범위 밖에서는, 전해 동박의 기본적 특성 (항장력, 조도 등) 이 일정해지지 않는다. 염화물 이온은, 염산, 식염, 염화칼륨 등의 형태로 첨가된다. Preferably, the chloride ion is added in an amount of 20 to 100 ppm (mg / l). Outside this range, the basic properties (electrostatic force, roughness, etc.) of the electrolytic copper foil are not fixed. Chloride ions are added in the form of hydrochloric acid, salt, potassium chloride and the like.

전해액 온도는 20 ∼ 70 ℃, 바람직하게는 40 ∼ 60 ℃ 로 하는 것이 바람직하다. 전해액 온도를 내리면, 아교 농도가 높아도 높은 고온 연신 동박을 제조할 수 있다. 20 ℃ 미만에서는, 전해액의 전도도가 저하되고, 전해조 전압이 상승한다. 70 ℃ 를 초과하면 높은 고온 연신 동박의 제조가 점차 곤란해지고, 에너지 비용도 증대한다. The temperature of the electrolytic solution is preferably 20 to 70 캜, preferably 40 to 60 캜. When the electrolytic solution temperature is lowered, a high-temperature-elongated copper foil can be produced even if the glue concentration is high. Below 20 캜, the conductivity of the electrolytic solution decreases, and the electrolytic cell voltage increases. When it exceeds 70 캜, the production of high-temperature-elongated copper foil becomes increasingly difficult, and the energy cost also increases.

전류 밀도 범위는, 안정적이고 또한 실용상 허용되는 시간에 전해 동박을 제조하기 위해서는 20 ∼ 150 A/d㎡ 이다. The current density range is from 20 to 150 A / dm 2 in order to produce an electrolytic copper foil in a stable and practically acceptable time.

이하에 생박 제박에 있어서의 쿨토시스수 (Sku) 의 제어 방법의 예를 나타낸다 : Hereinafter, an example of a method of controlling the number of culosis (Sku) in green bean leaves is shown:

<생박 제박 조건>≪

생박 제박시의 전해액에 있어서, 아교 농도를 1 ∼ 10 ppm 로 하고, SPS [비스(3-술포프로필)디술파이드2나트륨] 을 1 ∼ 50 ppm 으로 하고, 아민계 화합물 [3 급 아민 화합물] 을 1 ∼ 50 ppm 으로 함으로써, 생박 표면을 평활하게 한다 (요철이 뾰족해지지 않게 된다). 이로써, 그 후의 조화 처리, 피복 구리 도금 후의 표면의 조화 입자의 형상이 둥글어진다. 이와 같이 하여, 쿨토시스수 (Sku) 를 일반적인 전해 동박 (예를 들어 생박이 구리, 황산, Cl, 아교를 첨가한 전해액으로 제조된 경우) 보다 작게 할 수 있다. The amine compound [tertiary amine compound] is added in an amount of 1 to 10 ppm and the SPS [bis (3-sulfopropyl) disulfide disodium] is 1 to 50 ppm, 1 to 50 ppm, so that the rough surface is smoothened (the irregularities do not become sharp). Thereby, the shape of the coarsened particles on the surface after the subsequent coarsening treatment and coated copper plating is rounded. In this manner, the cul tosyl water (Sku) can be made smaller than a general electrolytic copper foil (for example, when the fresh foil is made of copper, sulfuric acid, Cl, or an electrolyte in which glue is added).

또한, 3 급 아민 화합물로서 이하의 화합물을 사용한다. Further, the following compounds are used as tertiary amine compounds.

[화학식 1][Chemical Formula 1]

Figure pct00001
Figure pct00001

(상기 화학식 중, R1 및 R2 는 하이드록시알킬기, 에테르기, 아릴기, 방향족 치환 알킬기, 불포화 탄화수소기, 알킬기로 이루어지는 일군에서 선택되는 것이다. 후술하는 실시예에서는, R1 및 R2 는 모두 메틸기로 하였다.)(Will be In the formula, R 1 and R 2 are selected from the group consisting of a hydroxyl group, an ether group, an aryl group, an aromatic-substituted alkyl group, unsaturated hydrocarbon group, an alkyl group. In the embodiment to be described later for example, R 1 and R 2 are All were methyl groups.)

또한, 후술하는 실시예에서 사용한 상기 화합물은 예를 들어 나가세 켐텍스 주식회사 제조 데코나르 Ex-314 와 디메틸아민을 소정량 혼합시켜, 60 ℃ 에서 3 시간 반응을 실시함으로써 얻을 수 있다. The compound used in Examples described later can be obtained, for example, by mixing a predetermined amount of Deconar Ex-314 manufactured by Nagase ChemteX Corporation with dimethylamine and conducting a reaction at 60 ° C for 3 hours.

다음으로, 전해 동박의 표면에 조화 처리를 실시한다. 조화 처리로는, 예를 들어 다음에 나타내는 조건을 채용할 수 있다. 본 발명에서는 전해 동박의 조화 처리된 측의 면을 조면으로 한다. Next, the surface of the electrolytic copper foil is roughened. As the harmonization processing, for example, the following conditions may be employed. In the present invention, the roughened surface of the electrolytic copper foil is roughened.

·생박이 일반적인 전해 동박인 경우 (예를 들어 생박이 구리, 황산, Cl, 아교를 첨가한 전해액으로 제조된 경우)· When the bark is a common electrolytic copper foil (eg when the bark is made of copper, sulfuric acid, Cl, glue-added electrolyte)

[구리 조화 처리 조건][Copper conditioning treatment conditions]

Cu : 5 ∼ 50 g/ℓCu: 5 to 50 g / l

H2SO4 : 10 ∼ 100 g/ℓH 2 SO 4 : 10 to 100 g / l

·그 밖의 첨가 원소 (조건 1 ∼ 4 중 어느 것)· Additional elements (any of conditions 1 to 4)

(조건 1)(Condition 1)

As : 0.01 ∼ 20 ㎎/ℓ (ppm) 또한 As: 0.01 to 20 mg / l (ppm)

W : 0.01 ∼ 10 ㎎/ℓ (ppm)W: 0.01 to 10 mg / l (ppm)

(조건 2) (Condition 2)

Mo : 0.01 ∼ 5 ㎎/ℓ (ppm)Mo: 0.01 to 5 mg / l (ppm)

(조건 3) (Condition 3)

Mo : 0.01 ∼ 5 ㎎/ℓ (ppm) 또한 Mo: 0.01 to 5 mg / l (ppm)

As : 0.01 ∼ 5 ㎎/ℓ (ppm) 및/또는 W : 0.01 ∼ 5 ㎎/ℓ (ppm) 및/또는 Co : 0.01 ∼ 0.5 ㎎/ℓ (ppm)As: 0.01 to 5 mg / l (ppm) and / or W: 0.01 to 5 mg / l (ppm) and / or Co: 0.01 to 0.5 mg /

(조건 4) (Condition 4)

As : 0.01 ∼ 20 ㎎/ℓ (ppm) 또한 As: 0.01 to 20 mg / l (ppm)

W : 0.01 ∼ 10 ㎎/ℓ (ppm) 또한 W: 0.01 to 10 mg / l (ppm)

Co : 0.01 ∼ 0.5 ㎎/ℓ (ppm) Co: 0.01 to 0.5 mg / l (ppm)

액온 : 실온 (20 ℃) ∼ 50 ℃ Liquid temperature: room temperature (20 ° C) to 50 ° C

전류 밀도 : 5 ∼ 120 A/d㎡ Current density: 5 ~ 120 A / dm2

시간 : 1 ∼ 30 초Time: 1 to 30 seconds

·생박이 양면 평활 (플랫) 박 (레벨링제가 전해액에 첨가되어 있기 때문에, 구리의 석출면이 일반적인 전해 동박보다 평활한 박) 인 경우 (예를 들어 생박이 구리, 황산, Cl, 아교, SPS, 아민 화합물을 첨가한 전해액으로 제조된 경우)· When the fresh leaves are double-sided flat foil (eg, copper foil, sulfuric acid, Cl, glue, SPS, copper foil, etc.) When the electrolyte solution is prepared by adding an amine compound)

[구리 조화 처리 조건][Copper conditioning treatment conditions]

Cu : 5 ∼ 50 g/ℓCu: 5 to 50 g / l

H2SO4 : 10 ∼ 100 g/ℓH 2 SO 4 : 10 to 100 g / l

·그 밖의 첨가 원소 (조건 1 ∼ 4 중 어느 것)· Additional elements (any of conditions 1 to 4)

(조건 1)(Condition 1)

As : 0.01 ∼ 5 ㎎/ℓ (ppm) 또한 As: 0.01 to 5 mg / l (ppm)

W : 0.01 ∼ 5 ㎎/ℓ (ppm)W: 0.01 to 5 mg / l (ppm)

(조건 2) (Condition 2)

Mo : 0.01 ∼ 3 ㎎/ℓ (ppm)Mo: 0.01 to 3 mg / l (ppm)

(조건 3) (Condition 3)

Mo : 0.01 ∼ 3 ㎎/ℓ (ppm) 또한 Mo: 0.01 to 3 mg / l (ppm)

As : 0.01 ∼ 5 ㎎/ℓ (ppm) 및/또는 W : 0.01 ∼ 5 ㎎/ℓ (ppm) 및/또는 Co : 0.01 ∼ 1 ㎎/ℓ (ppm)As: 0.01 to 5 mg / l (ppm) and / or W: 0.01 to 5 mg / l (ppm) and / or Co: 0.01 to 1 mg /

(조건 4) (Condition 4)

W : 0.01 ∼ 5 ㎎/ℓ (ppm) 및/또는 Co : 0.01 ∼ 1 ㎎/ℓ (ppm) W: 0.01 to 5 mg / l (ppm) and / or Co: 0.01 to 1 mg / l (ppm)

액온 : 실온 (20 ℃) ∼ 50 ℃ Liquid temperature: room temperature (20 ° C) to 50 ° C

전류 밀도 : 5 ∼ 130 A/d㎡ Current density: 5 ~ 130 A / dm2

시간 : 1 ∼ 30 초Time: 1 to 30 seconds

이하에, 구리 조화 처리에 있어서의 쿨토시스수 (Sku) 의 제어 방법의 예를 나타낸다 : Hereinafter, an example of a control method of the Coulos number (Sku) in the copper roughening treatment is shown:

<구리 조화 처리 조건>≪ Copper conditioning treatment condition >

구리 조화 처리액에 있어서, As 및 W 의 양방을 첨가하거나, 또는 Mo 를 첨가함으로써, 조화 입자의 형상을 둥글게 한다. 이와 같이 하여, 쿨토시스수 (Sku) 를 작게 할 수 있다. In the copper-coining solution, both the As and the W are added, or Mo is added to round the shape of the coarsely grained particles. In this way, the culosis number Sku can be reduced.

또, 구리 조화 처리액에 있어서, Co 를 첨가하거나, 또는 W 를 단독으로 첨가함 (As 없음) 으로써, 조화 입자의 형상을 뾰족하게 할 수 있다 (입자의 끝이 뾰족하다). 이와 같이 하여, 쿨토시스수 (Sku) 를 크게 할 수 있다. In addition, in the copper roughening treatment liquid, the shape of the coarsened particles can be sharpened (the ends of the particles are sharp) by adding Co or by adding W alone (without As). In this way, the culosis number Sku can be increased.

또한, 액온을 낮게 함 (예를 들어 20 ℃ 이상 25 ℃ 보다 낮게 한다) 으로써, 조화 입자의 형상을 뾰족하게 할 수 있다 (입자의 끝이 뾰족하다). 이와 같이 하여, 쿨토시스수 (Sku) 를 크게 할 수 있다. Further, by lowering the liquid temperature (for example, lower than 20 ° C and lower than 25 ° C), the shape of the coarsened particles can be sharpened (the ends of the particles are sharp). In this way, the culosis number Sku can be increased.

조화 처리 후에, 입자의 탈락을 방지하기 위한 피복층으로서 얇은 구리 도금이 실시된다. 예를 들어 다음의 조건을 채용할 수 있다. After the roughening treatment, thin copper plating is performed as a coating layer for preventing the particles from falling off. For example, the following conditions can be adopted.

[피복 동박층 도금 조건][Coating condition of coated copper foil layer]

Cu : 30 ∼ 100 g/ℓCu: 30 to 100 g / l

H2SO4 : 10 ∼ 200 g/ℓ H 2 SO 4 : 10-200 g / l

액온 : 실온 ∼ 75 ℃ Temperature: Room temperature ~ 75 ℃

전류 밀도 : 5 ∼ 65 A/d㎡Current density: 5 to 65 A / dm 2

시간 : 1 ∼ 30 초Time: 1 to 30 seconds

이하에, 피복 구리 도금 처리에 있어서의 쿨토시스수 (Sku) 의 제어 방법의 예를 나타낸다 : Hereinafter, an example of a method of controlling the culosis number (Sku) in the coated copper plating process is shown:

<피복 구리 도금 조건>≪ Coated copper plating conditions >

전류 밀도를 높게 함 (예를 들어 60 A/d㎡ 보다 크게 함) 으로써, 조화 입자의 형상을 뾰족하게 할 수 있다 (입자의 끝이 뾰족하다). 이와 같이 하여, 쿨토시스수 (Sku) 를 크게 할 수 있다. By making the current density higher (for example, larger than 60 A / dm 2), the shape of the coarsened particles can be sharpened (the ends of the particles are sharp). In this way, the culosis number Sku can be increased.

조화면에 Cu, Cr, Ni, Fe, Co 및 Zn 에서 선택되는 1 종 내지 2 종 이상의 단일 금속층 또는 합금층을 형성하는 트리트 처리를 실시하는 것이 바람직하다. 합금 도금의 예로는, Cu-Ni, Cu-Co, Cu-Ni-Co, Cu-Zn 과 그 밖의 것을 들 수 있다. 이러한 트리트 처리는, 동박의 최종 성상을 결정하는 것으로서 또한 장벽으로서의 역할을 한다. It is preferable to carry out a treat treatment in which at least one single metal layer or alloy layer selected from Cu, Cr, Ni, Fe, Co and Zn is formed on the roughened surface. Examples of the alloy plating include Cu-Ni, Cu-Co, Cu-Ni-Co, Cu-Zn and others. This treat treatment determines the final property of the copper foil and also acts as a barrier.

또, 조화면에 니켈, 코발트, 구리, 아연의 단체 또는 합금 등으로 내열층 또는 방청층을 형성해도 되고, 추가로 그 표면에 크로메이트 처리, 실란 커플링 처리 등의 처리를 실시해도 된다. 또는 조화 처리를 실시하지 않고, 니켈, 코발트, 구리, 아연의 단체 또는 합금 등으로 내열층 또는 방청층을 형성하고, 추가로 그 표면에 크로메이트 처리, 실란 커플링 처리 등의 처리를 실시해도 된다. 즉, 조화 처리층의 표면 (조화면) 에, 내열층, 방청층, 크로메이트 처리층 및 실란 커플링 처리층으로 이루어지는 군에서 선택된 1 종 이상의 층을 형성해도 되고, 전해 동박의 표면에, 내열층, 방청층, 크로메이트 처리층 및 실란 커플링 처리층으로 이루어지는 군에서 선택된 1 종 이상의 층을 형성해도 된다. 또한, 상기 서술한 내열층, 방청층, 크로메이트 처리층, 실란 커플링 처리층은 각각 복수의 층으로 형성되어도 된다 (예를 들어 2 층 이상, 3 층 이상 등). Further, the heat-resistant layer or rust-preventive layer may be formed on the roughened surface by a single body of nickel, cobalt, copper, zinc, or an alloy, or the surface may further be subjected to chromate treatment, silane coupling treatment or the like. A heat resistant layer or a rust preventive layer may be formed of a single body of nickel, cobalt, copper, zinc or an alloy, and the surface thereof may be subjected to a treatment such as a chromate treatment or a silane coupling treatment. That is, at least one layer selected from the group consisting of a heat resistant layer, a rust prevention layer, a chromate treatment layer and a silane coupling treatment layer may be formed on the surface (roughened surface) of the roughened treatment layer, , A rust-preventive layer, a chromate treatment layer, and a silane coupling treatment layer may be formed. The heat resistant layer, rust preventive layer, chromate treatment layer and silane coupling treatment layer described above may be formed of a plurality of layers (for example, two or more layers, three or more layers, etc.).

본 발명의 표면 처리 전해 동박을 조화 처리면측으로부터 수지 기판에 첩합 (貼合) 하여 적층체를 제조할 수 있다. 수지 기판은 프린트 배선판 등에 적용할 수 있는 특성을 갖는 것이면 특별히 제한을 받지 않지만, 예를 들어, 리지드 PWB 용으로 종이 기재 페놀 수지, 종이 기재 에폭시 수지, 합성 섬유포 기재 에폭시 수지, 유리포·종이 복합 기재 에폭시 수지, 유리포·유리 부직포 복합 기재 에폭시 수지 및 유리포 기재 에폭시 수지 등을 사용하고, FPC 용으로 폴리에스테르 필름이나 폴리이미드 필름, 액정 폴리머 (LCP) 필름 등을 사용할 수 있다. The surface treated electrolytic copper foil of the present invention can be bonded to the resin substrate from the roughened surface side to produce a laminate. The resin substrate is not particularly limited as long as it has properties that can be applied to a printed wiring board and the like. For example, for a rigid PWB, a paper base phenol resin, a paper base epoxy resin, a synthetic fiber base epoxy resin, An epoxy resin, a glass / glass nonwoven fabric composite base material epoxy resin, a glass cloth base epoxy resin and the like can be used, and a polyester film, a polyimide film, a liquid crystal polymer (LCP) film and the like can be used for FPC.

첩합 방법은, 리지드 PWB 용의 경우, 유리포 등의 기재에 수지를 함침시켜, 수지를 반경화 상태까지 경화시킨 프리프레그를 준비한다. 동박을 피복층의 반대측의 면으로부터 프리프레그에 중첩하여 가열 가압시킴으로써 실시할 수 있다. FPC 의 경우, 폴리이미드 필름 등의 기재에 접착제를 개재하거나, 또는 접착제를 사용하지 않고 고온 고압하에서 동박에 적층 접착하거나, 또는 폴리이미드 전구체를 도포·건조·경화 등을 실시함으로써 적층판을 제조할 수 있다. In the case of the rigid PWB, the prepreg is prepared by impregnating a base material such as a glass cloth with resin and curing the resin to a semi-hardened state. The copper foil may be superimposed on the prepreg from the opposite side of the coating layer and heated and pressed. In the case of FPC, a laminate can be manufactured by laminating the laminate to a copper foil under a high temperature and high pressure without using an adhesive on a base material such as a polyimide film or by applying a polyimide precursor, drying and curing have.

본 발명의 적층체는 각종 프린트 배선판 (PWB) 에 사용할 수 있고, 특별히 제한되는 것은 아니지만, 예를 들어, 도체 패턴의 층 수의 관점에서는 편면 PWB, 양면 PWB, 다층 PWB (3 층 이상) 에 적용할 수 있으며, 절연 기판 재료의 종류의 관점에서는 리지드 PWB, 플렉시블 PWB (FPC), 리지드·플렉스 PWB 에 적용할 수 있다.The laminate of the present invention can be used for various printed wiring boards (PWB), and is not particularly limited. For example, from the viewpoint of the number of layers of the conductor pattern, it is applied to one side PWB, double side PWB, And can be applied to the rigid PWB, the flexible PWB (FPC), and the rigid flex PWB from the viewpoint of the kind of the insulating substrate material.

실시예Example

실시예 1 ∼ 6 및 비교예 1 ∼ 5 로서, 표 1 에 나타내는 제조 조건에 따라 생박을 제조하고, 계속해서, 표 2 에 나타내는 제조 조건에 따라 조화 처리를 실시하고, 또한 표 3 에 나타내는 제조 조건에 따라 조화 처리면에 피복 구리 도금을 실시하여, 각각 조면을 형성하였다. 표 1 ∼ 3 에 있어서, 처리면 M 은 매트면 (구리의 석출면) 을 나타내고, 처리면 S 는 샤인면을 나타낸다. As examples 1 to 6 and comparative examples 1 to 5, green beans were produced according to the production conditions shown in Table 1, followed by roughening treatment according to the production conditions shown in Table 2, , Copper plating was performed on the roughened surface to form a roughened surface, respectively. In Tables 1 to 3, the treatment surface M represents a mat surface (precipitation surface of copper), and the treatment surface S represents a shiny surface.

Figure pct00002
Figure pct00002

Figure pct00003
Figure pct00003

상기 서술한 바와 같이 하여 제조한 실시예 및 비교예의 각 샘플에 대하여, 각종 평가를 하기와 같이 실시하였다. Various evaluations were carried out for each of the samples prepared as described above and the comparative example as follows.

촉침 조도 ;Stylus illumination;

주식회사 코사카 연구소 제조 접촉 조도계 Surfcorder SE-3C 촉침식 조도계를 사용하여 측정하였다. The measurement was made using a Surfcorder SE-3C contact-type illuminometer manufactured by Kosaka Laboratory Co., Ltd.

표면적비 (A/B) ; Surface area ratio (A / B);

조면의 표면적은 레이저 현미경에 의한 측정법을 사용하였다. Olympus 제조 LEXT OLS 4000 을 사용하여 조화 처리면의 257.9 × 257.9 ㎛ 상당 면적 B (실제 데이터에서는 66524 μ㎡) 에 있어서의 3 차원 표면적 A 를 측정하여, 3 차원 표면적 A ÷ 2 차원 표면적 B = 면적비 (A/B) 로 하는 수법에 의해 설정을 실시하였다. 측정 환경 온도는 23 ∼ 25 ℃ 로 하였다. The surface area of the rough surface was measured by a laser microscope. Using the Olympus LEXT OLS 4000, the three-dimensional surface area A in the area B (equivalent to 66524 mu m in actual data) corresponding to 257.9x257.9 mu m of the harmoniously processed surface was measured to obtain the three-dimensional surface area A / the two- A / B). ≪ tb > < TABLE > The measurement environment temperature was 23 to 25 ° C.

쿨토시스수 (Sku) ; Coulosis water (Sku);

Olympus 제조 LEXT OLS 4000 3 차원 표면 형상 측정 장치를 사용하여, 시험재의 조화 처리면의 257.9 × 257.9 ㎛ 의 에어리어를 평면 0.12 ㎛, 높이 0.01 ㎛ 의 분해능으로 측정하였다. 측정 환경 온도는 23 ∼ 25 ℃ 로 하였다. Using a LEXT OLS 4000 three-dimensional surface profile measuring apparatus manufactured by Olympus, an area of 257.9x257.9 占 퐉 on the roughened surface of the test material was measured with a resolution of 0.12 占 퐉 in plane and 0.01 占 퐉 in height. The measurement environment temperature was 23 to 25 ° C.

상태 필 강도 ; State peel strength;

JIS C 5016 (8.1.6 측정 (1) 방법 A (90°방향 박리 방법)) 에 준거하여, 인장 시험기 오토그래프 100 으로 상태 필 강도를 측정하였다.According to JIS C 5016 (8.1.6 Measurement (1) Method A (90 占 peeling method)), the state peel strength was measured with an Autograph 100 of a tensile tester.

고온 욕조 팽윤 ; High temperature bath swelling;

동박을 유리 크로스 기재 에폭시 수지판에 적층 접착하고, 에칭 (염화 제2철 수용액) 에 의해 동박에 파인 피치 회로를 형성하여 적층체를 제조하였다. 계속해서, 260 ℃ 의 고온욕에 당해 적층체를 1 분간 침지시켜, 표면에 발생하는 팽윤의 수를 측정하고, 1 ㎡ 당의 개수로 환산하였다. The copper foil was laminated and bonded to a glass cloth base epoxy resin plate, and a fine pitch circuit was formed on the copper foil by etching (ferric chloride aqueous solution) to produce a laminate. Subsequently, the laminate was immersed for 1 minute in a hot bath at 260 占 폚, and the number of swellings occurred on the surface was measured and converted into the number per 1 m2.

평가 결과를 표 4 에 나타낸다. The evaluation results are shown in Table 4.

Figure pct00005
Figure pct00005

(평가 결과)(Evaluation results)

실시예 1 ∼ 6 은, 모두 양호한 밀착 신뢰성을 가지며, 고온 욕조에 침지시켜도 팽윤의 발생이 없었다. Examples 1 to 6 all had good adhesion reliability, and no swelling occurred even when they were immersed in a high temperature bath.

비교예 1 ∼ 4 는, 모두 조도 (Rz) 가 2.0 ㎛ 이하이지만, 조면의 조도 곡선의 쿨토시스수 (Sku) 가 2 ∼ 4 의 범위 밖이기 때문에, 밀착 신뢰성이 불량하거나, 혹은 고온 욕조에 침지시켰을 때 팽윤이 다수 발생하였다. In Comparative Examples 1 to 4, the roughness Rz was not more than 2.0 占 퐉. However, since the crothosis number Sku of the roughness curve of the roughened surface was outside the range of 2 to 4, the adhesion reliability was poor, There was a lot of swelling.

도 1 에 실시예 1 의 시료의 조화 처리면의 SEM 관찰 사진을 나타낸다. 도 2 에 비교예 1 의 시료의 조화 처리면의 SEM 관찰 사진을 나타낸다. Fig. 1 shows SEM observation photographs of the roughened surface of the sample of Example 1. Fig. Fig. 2 shows SEM observation photographs of the roughened surface of the sample of Comparative Example 1. Fig.

Claims (8)

촉침식 조도계를 사용하여 측정되는 동박의 조면의 조도 (Rz) 가 2.0 ㎛ 이하이고, 상기 조면의 조도 곡선의 쿨토시스수 (Sku) 가 2 ∼ 4 인 표면 처리 전해 동박. A surface treated electrolytic copper foil having a roughened surface roughness (Rz) of a copper foil measured using a contact type roughness meter of not more than 2.0 mu m and a coefficient of condensation (Sku) of an roughness curve of the roughened surface of 2 to 4. 제 1 항에 있어서,
상기 조도 (Rz) 가 0.8 ∼ 1.8 ㎛ 인 표면 처리 전해 동박.
The method according to claim 1,
Wherein the roughness (Rz) is 0.8 to 1.8 占 퐉.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 쿨토시스수 (Sku) 가 2.5 ∼ 3.5 인 표면 처리 전해 동박.
3. The method according to claim 1 or 2,
The surface-treated electrolytic copper foil according to any one of claims 1 to 3, wherein the cu ttoosyl water (Sku) is 2.5 to 3.5.
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 조면의 표면적 A 와, 상기 조면을 평면에서 보았을 때 얻어지는 면적 B 의 비 A/B 가 1.2 ∼ 2.0 인 표면 처리 전해 동박.
4. The method according to any one of claims 1 to 3,
A surface treated electrolytic copper foil having a ratio A / B of the surface area A of the rough surface to an area B obtained when the rough surface is viewed from a plane is 1.2 to 2.0.
제 4 항에 있어서,
상기 비 A/B 가 1.3 ∼ 1.9 인 표면 처리 전해 동박.
5. The method of claim 4,
Wherein the ratio A / B is 1.3 to 1.9.
제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
상태 필 강도가 0.8 ㎏/㎝ 이상인 표면 처리 전해 동박.
6. The method according to any one of claims 1 to 5,
A state - treated electrolytic copper foil having a state peel strength of 0.8 kg / cm or more.
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 기재된 표면 처리 전해 동박과 수지 기판을 적층하여 구성한 적층판. A laminated board comprising the surface treated electrolytic copper foil according to any one of claims 1 to 6 and a resin substrate laminated. 제 7 항에 기재된 적층판을 재료로 한 프린트 배선판. A printed wiring board comprising the laminate according to claim 7 as a material.
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