JP5929220B2 - Printed wiring board and printed wiring board manufacturing method - Google Patents

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Description

本発明は、プリント配線板およびプリント配線板の製造方法に関する。   The present invention relates to a printed wiring board and a method for manufacturing a printed wiring board.

電子機器の高機能化等の要求に伴い、電子部品の高密度集積化、さらには高密度実装化等が進んでおり、これらに使用される高密度実装対応のプリント配線板等は、従来にも増して、小型薄型化、高密度化、及び多層化が進んでいる。   With the demand for higher functionality of electronic equipment, etc., high-density integration of electronic parts, and further high-density mounting, etc. are progressing. In addition, miniaturization, thinning, high density, and multilayering are progressing.

こうしたプリント配線板の基板上に導体回路パターンを形成する方法は、たとえば、特許文献1に記載されている。
特許文献1に記載の方法では、まず、両面銅張積層板上に絶縁樹脂層を形成し、この絶縁樹脂層の表面を粗化した後、この表面上に導電体層を形成し、引き続き、エッチングレジストをマスクとしてエッチングを行うことにより、導電体層のパターン(導体回路パターン)を形成することが記載されている。この特許文献1においては、この導体回路パターンの下地層である絶縁樹脂層の表面の粗さを小さくすることにより、エッチングレジストの残渣残りを防止して、導電回路パターンの配線精度の低下を抑制できることが記載されている。
また、特許文献1に記載の絶縁樹脂層の表面の粗さは、その表面の凹凸を示すチャート図の山側の中心粗さに対する平均粗さを示すRa、及び同図の山側の粗さが大きいものの5点と谷側の粗さが大きいものの5点の計10点の平均粗さを示すRzで規定されている(以下、表面の凹凸を示すチャート図において、凹部に相当する部分を谷、凸部に相当する部分を山と呼称することがある)。
A method for forming a conductor circuit pattern on the substrate of such a printed wiring board is described in Patent Document 1, for example.
In the method described in Patent Document 1, first, an insulating resin layer is formed on a double-sided copper-clad laminate, and after the surface of the insulating resin layer is roughened, a conductor layer is formed on the surface, It is described that a pattern of a conductor layer (conductor circuit pattern) is formed by performing etching using an etching resist as a mask. In this Patent Document 1, by reducing the roughness of the surface of the insulating resin layer, which is the underlying layer of this conductor circuit pattern, residual etching resist residue is prevented, and deterioration in wiring accuracy of the conductive circuit pattern is suppressed. It describes what you can do.
Moreover, the roughness of the surface of the insulating resin layer described in Patent Document 1 is Ra indicating the average roughness with respect to the central roughness on the peak side of the chart showing the irregularities on the surface, and the roughness on the peak side in the figure is large. It is defined by Rz indicating the average roughness of a total of 10 points of 5 points and 5 points although the roughness on the valley side is large (hereinafter, in the chart showing surface irregularities, the portion corresponding to the concave portion is the valley, The part corresponding to the convex part is sometimes called a mountain).

特開2005−5458号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2005-5458

しかしながら、従来の微細な導電回路パターンを形成する工程においては、絶縁樹脂層上の導電体層のエッチング特性のバラツキを抑制する点には限界があった。たとえば、導電体層のエッチング特性を向上させるには、導電体層の表面粗さを小さくすることが求められる。
しかし、本発明者らが検討した結果、プリント配線板の技術分野において通常使用されている表面粗さを示すRaおよびRzは、表面の形状を正確に規定してはいないため、これらのRaおよびRzを指標として採用し、絶縁樹脂層の表面におけるRaおよびRzを小さく制御したとしても、製品間において、その上に形成される導電体層の表面粗さにバラツキが生じることが判明した。たとえば、RaおよびRzは山の幅を示さない指標であるので、これらの指標を制御するのみでは、下地の絶縁樹脂層の表面における山の間隔が広くなることがあり、それによって導電体層にくぼみが生じることがあり得る。
したがって、従来技術においては、こうした導電体層のエッチング特性にバラツキが生じることがあり、改善の余地を有していた。
However, in the conventional process of forming a fine conductive circuit pattern, there is a limit in suppressing variation in etching characteristics of the conductor layer on the insulating resin layer. For example, in order to improve the etching characteristics of the conductor layer, it is required to reduce the surface roughness of the conductor layer.
However, as a result of investigations by the present inventors, Ra and Rz indicating surface roughness usually used in the technical field of printed wiring boards do not accurately define the shape of the surface. Even when Rz is adopted as an index and Ra and Rz on the surface of the insulating resin layer are controlled to be small, it has been found that the surface roughness of the conductor layer formed thereon varies among products. For example, Ra and Rz are indices that do not indicate the width of the peaks, and therefore, by controlling these indices, the spacing between the peaks on the surface of the underlying insulating resin layer may be widened. Indentations can occur.
Therefore, in the prior art, the etching characteristics of the conductor layer may vary, and there is room for improvement.

本発明によれば、
少なくとも絶縁層の一面上にキャリア基材付き銅箔が積層された積層板から前記キャリア基材を分離する工程と、
前記銅箔上に、前記銅箔よりも厚い金属層を全面にまたは選択的に形成する工程と、
少なくとも前記銅箔をエッチングすることにより、前記銅箔および前記金属層から構成される導電回路パターンを得る工程と、を含み、
前記導電回路パターンを得る前記工程において、JIS B0601で測定したときに、前記絶縁層の前記一面におけるRpが4.5μm以下であり、かつ、Rkuが2.1以上である、プリント配線板の製造方法が提供される。
According to the present invention,
Separating the carrier substrate from a laminate in which a copper foil with a carrier substrate is laminated on at least one surface of the insulating layer;
Forming a metal layer thicker than the copper foil on the entire surface or selectively on the copper foil;
Obtaining a conductive circuit pattern composed of the copper foil and the metal layer by etching at least the copper foil, and
In the step of obtaining the conductive circuit pattern, when measured according to JIS B0601, the Rp on the one surface of the insulating layer is 4.5 μm or less and the Rku is 2.1 or more. A method is provided.

本発明者は、検討した結果、下地の絶縁層の一面に、山高さが小さく、山の間隔が狭くかつ鋭角の山が存在する表面形状パターンが存在するとき、絶縁層の一面上に形成される銅箔のエッチング特性のバラツキが低減すると考えた。
本発明者は、山の高さが小さいことを指し示す指標、及び山の間隔が狭くかつ鋭角であることを指し示す指標の両者の適切な値に制御したところ、下地上に形成された銅箔のエッチング特性のバラツキが低減したことから、こうした指標として、山の最大高さを示すRp、および山の尖り度(山の間隔が狭いこと)を示すRkuを採用し、Rpを4.5μm以下、Rkuを2.1以上に制御することで、絶縁層の一面の表面形状パターンを適切に制御することが可能となり、銅箔のエッチング特性のバラツキの抑制を実現できることを見出し、本発明の完成に至ったものである。
As a result of the study, the inventor has formed a surface shape pattern on one surface of the insulating layer when a surface shape pattern having a small peak height, a narrow peak interval, and an acute angle peak exists on one surface of the underlying insulating layer. It was thought that the variation in the etching characteristics of the copper foil was reduced.
The present inventor has controlled the appropriate value of both the index indicating that the height of the peak is small and the index indicating that the interval between the peaks is narrow and acute, the copper foil formed on the base Since variation in etching characteristics has been reduced, Rp indicating the maximum height of the mountain and Rku indicating the sharpness of the mountain (the interval between the peaks is narrow) are adopted as such indices, and Rp is 4.5 μm or less. By controlling Rku to 2.1 or more, it becomes possible to appropriately control the surface shape pattern on one surface of the insulating layer, and it can be found that variation in etching characteristics of the copper foil can be suppressed. It has come.

また、本発明によれば、
絶縁層と、
前記絶縁層の一面上に設けられており、銅箔および金属層から構成される導電回路パターンと、を備え、
JIS B0601で測定したときに、前記絶縁層の前記一面におけるRpが4.5μm以下であり、かつ、Rkuが2.1以上である、プリント配線板が提供される。
Moreover, according to the present invention,
An insulating layer;
Provided on one surface of the insulating layer, comprising a conductive circuit pattern composed of a copper foil and a metal layer,
Provided is a printed wiring board in which Rp on the one surface of the insulating layer is 4.5 μm or less and Rku is 2.1 or more as measured by JIS B0601.

絶縁層の一面におけるRpが4.5μm以下であり、かつ、Rkuが2.1以上に制御されているので、前述のとおり、銅箔のエッチング特性のバラツキが抑制されており、歩留まりに優れた構造が実現される。   Since Rp on one surface of the insulating layer is 4.5 μm or less and Rku is controlled to 2.1 or more, as described above, variation in etching characteristics of the copper foil is suppressed, and the yield is excellent. A structure is realized.

本発明により、歩留まりに優れたプリント配線板を提供することができる。   According to the present invention, a printed wiring board excellent in yield can be provided.

上述した目的、およびその他の目的、特徴および利点は、以下に述べる好適な実施の形態、およびそれに付随する以下の図面によってさらに明らかになる。   The above-described object and other objects, features, and advantages will become more apparent from the preferred embodiments described below and the accompanying drawings.

第1の実施の形態のプリント配線板の製造方法の一例を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically an example of the manufacturing method of the printed wiring board of 1st Embodiment. 本実施の形態のプリント配線板の一部を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically a part of printed wiring board of this Embodiment. 裾残りを説明するためのプリント配線板を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically the printed wiring board for demonstrating the skirt remainder. 第1の実施の形態の効果を説明するためのプリント配線板を模式的に示す平面図である。It is a top view which shows typically the printed wiring board for demonstrating the effect of 1st Embodiment. 第1の実施の形態の配線形状を説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating the wiring shape of 1st Embodiment. 第1の実施の形態の配線形状の変形例を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically the modification of the wiring shape of 1st Embodiment. 第2の実施の形態のプリント配線板の製造方法の一例を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically an example of the manufacturing method of the printed wiring board of 2nd Embodiment. 第2の実施の形態のプリント配線板の製造方法の一例を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically an example of the manufacturing method of the printed wiring board of 2nd Embodiment. 第2の実施の形態の配線形状の変形例を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically the modification of the wiring shape of 2nd Embodiment. 第3の実施の形態のプリント配線板の製造方法の一例を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically an example of the manufacturing method of the printed wiring board of 3rd Embodiment. 第3の実施の形態のプリント配線板の製造方法の一例を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically an example of the manufacturing method of the printed wiring board of 3rd Embodiment. 第3の実施の形態のプリント配線板の製造方法の一例を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically an example of the manufacturing method of the printed wiring board of 3rd Embodiment. 本実施の形態のプリント配線板の製造方法の変形例を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically the modification of the manufacturing method of the printed wiring board of this Embodiment. 表面粗さを示すパラメータの一つであるRpを説明する模式図である。It is a schematic diagram explaining Rp which is one of the parameters which show surface roughness. 表面粗さを示すパラメータの一つであるRkuを説明する模式図である。It is a schematic diagram explaining Rku which is one of the parameters which show surface roughness. 実施例および比較例のSEM画像を示す図である。It is a figure which shows the SEM image of an Example and a comparative example. 実施例および比較例のSEM画像を示す図である。It is a figure which shows the SEM image of an Example and a comparative example.

以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。尚、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In all the drawings, the same reference numerals are given to the same components, and the description will be omitted as appropriate.

(第1の実施の形態)
図1は、第1の実施の形態のプリント配線板の製造方法の工程手順を示す断面図である。以下、第1の実施の形態のプリント配線板の製造方法の概略について説明した後に、この製造方法の作用効果を説明する。なお、第1の実施の形態の詳細な製法条件や材料等については、第2の実施の形態の欄にて後述する。
(First embodiment)
FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a process procedure of a method for manufacturing a printed wiring board according to the first embodiment. Hereinafter, after describing the outline of the manufacturing method of the printed wiring board of 1st Embodiment, the effect of this manufacturing method is demonstrated. Detailed manufacturing conditions, materials, and the like of the first embodiment will be described later in the column of the second embodiment.

第1の実施の形態のプリント配線板の製造方法の工程は、少なくとも絶縁層102の一面30の上にキャリア基材付き銅箔(銅箔層104)が積層された積層板(キャリア箔付き銅張積層板10)からキャリア基材(キャリア箔層106)を分離する工程と、銅箔層104上に、銅箔層104よりも厚い金属層115を全面にまたは選択的に形成する工程と、少なくとも銅箔層104をエッチングすることにより、銅箔層104および金属層115から構成される導電回路119のパターンを得る工程と、を含む。本製造工程の導電回路119のパターンを得る工程後において、JIS B0601で測定したときに、絶縁層102の一面30におけるRpが4.5μm以下であり、かつ、Rkuが2.1以上である。   The printed wiring board manufacturing method according to the first embodiment includes a laminated board (copper with carrier foil) in which a copper foil with a carrier base material (copper foil layer 104) is laminated on at least one surface 30 of the insulating layer 102. A step of separating the carrier substrate (carrier foil layer 106) from the tension laminate 10), a step of selectively or selectively forming a metal layer 115 thicker than the copper foil layer 104 on the copper foil layer 104, Etching at least the copper foil layer 104 to obtain a pattern of the conductive circuit 119 composed of the copper foil layer 104 and the metal layer 115. After the process of obtaining the pattern of the conductive circuit 119 in this manufacturing process, when measured according to JIS B0601, Rp on the one surface 30 of the insulating layer 102 is 4.5 μm or less and Rku is 2.1 or more.

すなわち、第1の実施の形態のプリント配線板の製造方法の工程は以下の工程を含む。まず、図1(a)に示すように、キャリア箔付き銅張積層板10を準備する。このキャリア箔付き銅張積層板10においては、絶縁層102の両面に銅箔層104とともにキャリア箔層106が貼り付けられている。続いて、図1(b)に示すように、キャリア箔付き銅張積層板10からキャリア箔層106を引きはがす等して除去する。続いて、図1(c)に示すように、残された銅箔層104上に所定の開口パターンを有するレジスト層112を形成する。このレジスト層112の開口パターン内および銅箔層104上に、めっき処理によりめっき層(金属層115)を形成する(図1(d))。引き続き、図1(e)に示すように、レジスト層112を除去する。これにより、銅箔層104上に所定の金属層115のパターンを選択に形成できる。この後、図1(f)に示すように、金属層115に覆われていない領域において、絶縁層102の一面30上に形成された銅箔層104を、例えば、ソフトエッチングにより除去する。ソフトエッチングする工程において、絶縁層102の一面30におけるRpが4.5μm以下であり、かつ、Rkuが2.1以上である。このような銅箔層104の除去工程の後、残された銅箔層104と金属層115とにより、導電回路119のパターンを形成することができる。以上の工程により、本実施の形態のプリント配線板101が得られる(図1)。   That is, the process of the printed wiring board manufacturing method of the first embodiment includes the following processes. First, as shown to Fig.1 (a), the copper clad laminated board 10 with carrier foil is prepared. In this copper clad laminate 10 with carrier foil, a carrier foil layer 106 is attached to both surfaces of the insulating layer 102 together with the copper foil layer 104. Subsequently, as shown in FIG. 1 (b), the carrier foil layer 106 is removed from the copper clad laminate 10 with the carrier foil by peeling off. Subsequently, as shown in FIG. 1C, a resist layer 112 having a predetermined opening pattern is formed on the remaining copper foil layer 104. A plating layer (metal layer 115) is formed by plating in the opening pattern of the resist layer 112 and on the copper foil layer 104 (FIG. 1D). Subsequently, as shown in FIG. 1E, the resist layer 112 is removed. Thereby, the pattern of the predetermined metal layer 115 can be selectively formed on the copper foil layer 104. Thereafter, as shown in FIG. 1F, the copper foil layer 104 formed on the one surface 30 of the insulating layer 102 is removed by, for example, soft etching in a region not covered with the metal layer 115. In the soft etching step, Rp on the one surface 30 of the insulating layer 102 is 4.5 μm or less, and Rku is 2.1 or more. After such a step of removing the copper foil layer 104, the pattern of the conductive circuit 119 can be formed by the remaining copper foil layer 104 and the metal layer 115. The printed wiring board 101 of this Embodiment is obtained by the above process (FIG. 1).

また、図2は、第1の実施の形態のプリント配線板101における導電回路119の拡大断面図である。図2に示すように、本実施の形態のプリント配線板101は、絶縁層102と、絶縁層102の一面30上に設けられており、銅箔層104および金属層115から構成される導電回路119のパターンと、を備えている。このプリント配線板101は、JIS B0601で測定したときに、絶縁層102の一面30におけるRpが4.5μm以下であり、かつ、Rkuが2.1以上であることにより特定される。   FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view of the conductive circuit 119 in the printed wiring board 101 according to the first embodiment. As shown in FIG. 2, printed wiring board 101 of the present embodiment is provided on insulating layer 102 and one surface 30 of insulating layer 102, and is a conductive circuit composed of copper foil layer 104 and metal layer 115. 119 patterns. The printed wiring board 101 is specified by Rp on the one surface 30 of the insulating layer 102 being 4.5 μm or less and Rku being 2.1 or more when measured according to JIS B0601.

以下、粗さ曲線の最大山高さを示すRp、粗さ曲線のクルトシス(尖り度)を示すRkuについて、図14及び図15を用いて説明する。これらのRp、及びRkuは、絶縁層102の一面30の表面粗さについて、JIS B0601(2001年)に準じ、カットオフ値を無しとして測定することにより得られる。本実施の形態では、粗さ曲線とは、表面粗さを指し示す凹凸曲線を意味する。この粗さ曲線は、市販の装置により得られる。本実施の形態では、絶縁層102の表面(一面30)の凹凸を示す図において、凹部に相当する部分を谷、及び凸部に相当する部分を山と意味する。   Hereinafter, Rp indicating the maximum peak height of the roughness curve and Rku indicating the kurtosis (sharpness) of the roughness curve will be described with reference to FIGS. 14 and 15. These Rp and Rku are obtained by measuring the surface roughness of the one surface 30 of the insulating layer 102 according to JIS B0601 (2001) with no cut-off value. In the present embodiment, the roughness curve means a concavo-convex curve indicating the surface roughness. This roughness curve is obtained by a commercially available apparatus. In the present embodiment, in the drawing showing the unevenness of the surface (one surface 30) of the insulating layer 102, a portion corresponding to the concave portion means a trough and a portion corresponding to the convex portion means a mountain.

最大山高さRpとは、図14に示すように、基準長さlrにおける輪郭曲線の凸部(Zpi)の最大値を指す。このため、Rpを小さくすることは、絶縁層102の一面30において、山の最大高さを小さくすることを意味する。したがって、Rpを小さくすることにより、山の最小高さと最大高さの差を小さくすることができる。   The maximum peak height Rp refers to the maximum value of the convex portion (Zpi) of the contour curve at the reference length lr, as shown in FIG. For this reason, reducing Rp means reducing the maximum height of the mountain on one surface 30 of the insulating layer 102. Therefore, by reducing Rp, the difference between the minimum height and the maximum height of the mountain can be reduced.

また、粗さ曲線のクルトシスRkuとは、図15に示すように、絶縁層102の一面30における山の尖り具合を示す。このため、Rkuを大きくすることは、絶縁層102の一面30において、山を鋭角にすることを意味する。したがって、Rkuを大きくすることにより、山の幅を小さくして、山間の間隔を狭くすることができる。なお、Rkuは、下記式により算出される。   Moreover, the kurtosis Rku of the roughness curve indicates the sharpness of a mountain on the one surface 30 of the insulating layer 102 as shown in FIG. For this reason, increasing Rku means making the mountain a sharp angle on one surface 30 of the insulating layer 102. Therefore, by increasing Rku, the width of the mountain can be reduced and the interval between the peaks can be reduced. Rku is calculated by the following equation.

ここで、lr:基準長、Z(x):転がり円うねり曲線、Rq:粗さ曲線の二乗平方根を示す。 Here, lr: reference length, Z (x): rolling circle waviness curve, Rq: square root of roughness curve.

従来、本発明の属する技術分野においては、通常、表面粗さをRaまたはRzという指標で規定している(たとえば、特許文献1参照)。
しかしながら、本発明者らが検討した結果、これらの指標は、下地の表面形状パターンを充分に反映しているとは言えないことが判明した。たとえば、Raは山の高さの最大値を直接指し示す指標ではないので、Raという指標を小さく制御したとしても、山の高さの最大値が大きくなり得る。そして、下地の表面パターンは、山の最大値と最小値との差が大きくなり、その上に形成される銅箔の表面において高低差が生じることがあり得る。一方で、Raは山の幅を示さない指標であるので、これらの指標を制御するのみでは、下地の絶縁樹脂層の表面における山の間隔が広くなることがあり、それによって導電体層にくぼみが生じることがあり得る。
このように、従来の技術においては、こうした指標を制御したとしても、下地の表面形状パターンを充分にコントロールすることが困難であった。
したがって、従来の下地の表面形状パターンは、山の高さが高く、かつ山の間隔が広くなることがあり、このような表面形状を有する下地の表面上に形成された銅箔の表面には、表面形状にバラツキが生じるため、従来技術においては、銅箔のエッチング特性を安定化することが困難であった。
Conventionally, in the technical field to which the present invention belongs, the surface roughness is usually defined by an index called Ra or Rz (see, for example, Patent Document 1).
However, as a result of investigations by the present inventors, it has been found that these indexes do not sufficiently reflect the surface shape pattern of the base. For example, Ra is not an index that directly points to the maximum value of the height of the mountain, so even if the index Ra is controlled to be small, the maximum value of the height of the mountain can be increased. In the surface pattern of the base, the difference between the maximum value and the minimum value of the peak becomes large, and the height difference may occur on the surface of the copper foil formed thereon. On the other hand, Ra is an index that does not indicate the width of the peaks, and therefore, by controlling these indexes, the spacing between the peaks on the surface of the underlying insulating resin layer may be widened, thereby causing depressions in the conductor layer. Can occur.
As described above, in the conventional technology, even if such an index is controlled, it is difficult to sufficiently control the surface shape pattern of the base.
Therefore, the surface shape pattern of the conventional base may have a high crest and a wide crest interval, and the surface of the copper foil formed on the surface of the base having such a surface shape Since the surface shape varies, it has been difficult to stabilize the etching characteristics of the copper foil in the prior art.

本発明者は、さらに検討した結果、下地の絶縁層102における山の最大高さを示すRpというパラメータを小さく、かつ山の尖り度(山の間隔が狭いこと)を示すRkuというパラメータを大きくすることにより、銅箔層104(下地上に設けられた銅箔)のエッチング特性が向上し、良好な配線形状である導電回路119のパターンが形成されることを見出した。   As a result of further study, the present inventor has reduced the parameter Rp indicating the maximum height of the mountain in the underlying insulating layer 102 and increasing the parameter Rku indicating the sharpness of the mountain (the interval between the peaks is narrow). As a result, it has been found that the etching characteristics of the copper foil layer 104 (copper foil provided on the base) are improved, and the pattern of the conductive circuit 119 having a favorable wiring shape is formed.

上記実験事実に基づき、本発明者は以下の仮定を立てた。すなわち、下地の絶縁層102の表面に、山高さが小さく、山の間隔が狭くかつ鋭角の山が存在する表面形状パターンが存在するとき、絶縁層102上に形成される銅箔層104のエッチング特性のバラツキが低減すると考えた。   Based on the above experimental facts, the present inventor made the following assumptions. That is, when there is a surface shape pattern on the surface of the underlying insulating layer 102 having a small crest height, a narrow crest interval, and an acute crest, etching of the copper foil layer 104 formed on the insulating layer 102 We thought that the variation in characteristics would be reduced.

そこで、各種の実験を行った結果、山の高さが小さいことを指し示す指標、及び山の間隔が狭くかつ鋭角であることを指し示す示す指標の両者の適切な値に制御したところ、下地上に形成された銅箔のエッチング特性のバラツキが低減したことから、本発明者は、こうした指標として、山の最大高さを示すRp、および山の尖り度(山の間隔が狭いこと)を示すRkuを採用し、Rpを4.5μm以下、Rkuを2.1以上に制御することで、絶縁層102の一面30の表面形状パターンを適切に制御することが可能となり、銅箔のエッチング特性のバラツキの抑制を実現できることを見出し、本発明の完成に至ったものである。   Therefore, as a result of various experiments, when an index indicating that the height of the mountain is small and an index indicating that the interval between the peaks is narrow and an acute angle are controlled to appropriate values, Since the variation in etching characteristics of the formed copper foil has been reduced, the present inventor has determined, as such indexes, Rp indicating the maximum height of the mountain and Rku indicating the sharpness of the mountain (the interval between the peaks is narrow). And by controlling Rp to 4.5 μm or less and Rku to 2.1 or more, it becomes possible to appropriately control the surface shape pattern of one surface 30 of the insulating layer 102, and variation in etching characteristics of the copper foil As a result, the present invention has been completed.

本実施の形態においては、上記表面形状パターンとして、間隔が狭くかつ鋭角の山が存在するパターンを形成することにより、たとえば、山の個数を増加させることができる。これにより、絶縁層102の一面30の面積が増加するので、絶縁層102と銅箔層104との接触面積も増加する。これにより、絶縁層102と銅箔層104を含む導電回路119との密着性に優れたプリント配線板101を実現することが可能となる。   In the present embodiment, for example, the number of peaks can be increased by forming a pattern having a narrow interval and acute peaks as the surface shape pattern. Thereby, since the area of the one surface 30 of the insulating layer 102 increases, the contact area of the insulating layer 102 and the copper foil layer 104 also increases. Thereby, it is possible to realize the printed wiring board 101 having excellent adhesion between the insulating layer 102 and the conductive circuit 119 including the copper foil layer 104.

また、本実施の形態のプリント配線板の製造方法によれば、絶縁層102の一面30にスジが発生することを抑制することができる。このメカニズムは明確ではないが、上記表面形状パターンとして、絶縁層102の一面30には、山高さおよび山の間隔が均一な表面形状パターンを形成できるので、絶縁層102が銅箔層104から受ける水平方向における応力のバラツキが少なくなるので、絶縁層102にスジが発生することを抑制することができる、と推察される。
ここで、絶縁層102にスジが発生すると、スジ中の残渣(例えば、エッチング残渣)を除去するためにエッチングが過剰となり、配線形状が不良になることがあり、一方、エッチング量が不足するとスジ中の残渣を除去できず、接続不良が生じるおそれがある。また、絶縁層102にスジが発生すると、多層配線構造において、ボイドが発生して接続信頼性が低下することがあり得る。
しかし、本実施の形態では、前述の通りスジの発生を抑制できるので、こうしたスジに起因する配線形状の不良、接続不良、又は接続信頼性の低下を防止することができる。
Moreover, according to the printed wiring board manufacturing method of the present embodiment, it is possible to suppress the generation of streaks on one surface 30 of the insulating layer 102. Although this mechanism is not clear, a surface shape pattern with uniform crest height and crest spacing can be formed on one surface 30 of the insulating layer 102 as the surface shape pattern, so that the insulating layer 102 receives from the copper foil layer 104. It is presumed that the occurrence of streaks in the insulating layer 102 can be suppressed because the variation in stress in the horizontal direction is reduced.
Here, when streaks occur in the insulating layer 102, etching is excessive in order to remove residues (for example, etching residues) in the streaks, and the wiring shape may be deteriorated. On the other hand, when the etching amount is insufficient, streaks are generated. Residues inside cannot be removed, resulting in poor connection. Further, when streaks occur in the insulating layer 102, voids may occur in the multilayer wiring structure, and connection reliability may be reduced.
However, in the present embodiment, the generation of streaks can be suppressed as described above, so that it is possible to prevent a wiring shape defect, a connection defect, or a decrease in connection reliability due to such a streak.

本実施の形態では、絶縁層102の一面30におけるRpの上限値は、4.5μm以下であり、より好ましくは3.5μm以下であり、さらに好ましくは2.5μm以下である。一方、Rpの下限値は、特に限定されないが、例えば、好ましくは0.5μm以上であり、より好ましくは1.0μm以上であり、更に好ましくは1.5μm以上である。Rpを上記範囲内とすることにより、微細配線形成時における、エッチング残渣等の不良が低減して、歩留まりよくプリント配線板を得ることができる。さらに、微細配線回路間の絶縁信頼性に優れる。   In the present embodiment, the upper limit value of Rp on one surface 30 of the insulating layer 102 is 4.5 μm or less, more preferably 3.5 μm or less, and further preferably 2.5 μm or less. On the other hand, the lower limit of Rp is not particularly limited, but for example, is preferably 0.5 μm or more, more preferably 1.0 μm or more, and further preferably 1.5 μm or more. By setting Rp within the above range, defects such as etching residues at the time of fine wiring formation can be reduced, and a printed wiring board can be obtained with high yield. Furthermore, the insulation reliability between fine wiring circuits is excellent.

また、本実施の形態では、絶縁層102の一面30におけるRkuの上限値は、特に限定されないが、例えば、好ましくは10以下であり、より好ましくは8以下であり、さらに好ましくは6以下である。一方、Rkuの下限値は2.1以上であり、より好ましくは3.0以上であり、さらに好ましくは3.5以上である。Rkuを上記範囲内とすることにより、下地の表面が微細な凹凸となるため、その上に形成される銅箔層104のエッチング特性が均一となる。そのため、銅箔層104等の導体層のサイドエッチング特性も均一にすることができる。また、接触面積が増大するので、導体層との密着性が向上する。従って、本実施の形態のプリント配線板101は耐熱性、および微細配線間の絶縁信頼性に優れる。   In the present embodiment, the upper limit value of Rku on one surface 30 of the insulating layer 102 is not particularly limited. For example, it is preferably 10 or less, more preferably 8 or less, and further preferably 6 or less. . On the other hand, the lower limit value of Rku is 2.1 or more, more preferably 3.0 or more, and further preferably 3.5 or more. By setting Rku within the above range, the surface of the base becomes fine irregularities, and the etching characteristics of the copper foil layer 104 formed thereon are uniform. Therefore, the side etching characteristics of the conductor layer such as the copper foil layer 104 can be made uniform. Moreover, since a contact area increases, adhesiveness with a conductor layer improves. Therefore, the printed wiring board 101 of this embodiment is excellent in heat resistance and insulation reliability between fine wirings.

ここで、良好な配線形状について、図2〜図4を用いて説明する。図4において、銅張積層板1は、絶縁層2、銅箔層4、金属層14を有する。良好な配線形状とは、第1に、従来と比較して裾残りが少ないという特性で特定されている形状を指す。この裾残りとは、図4に示すように、平面視において、金属層14の延在方向と直交する幅方向において、金属層14の外側の領域に銅箔層4がはみ出て形成されている部分をいう。この裾残りが発生しているか否かの判断について、図2、図3を用いて説明する。これらの図に示すように、たとえば、断面視において、上記幅方向における銅箔層104(4)の最大幅をL1とし、上記幅方向における金属層115(14)の最小幅をL2としたとき、L2−L1=ΔLが0より大きい場合には、裾残りが発生していると判断する。こうした場合において、本実施の形態における導電回路119においては、ΔLが従来のものより小さければよく、より好ましくは、L1とL2とが同一であり(図2(a))、さらに好ましくはL1がL2より小さいものである。L1がL2より小さい場合に、断面視における銅箔層104が、銅箔層104の平面方向の幅が金属層115の平面方向の幅よりも小さくなる領域を有する(図2(b))。このようなL1およびL2で特定される導電回路119の形状は、良好な配線形状ということができる。   Here, a favorable wiring shape will be described with reference to FIGS. In FIG. 4, the copper clad laminate 1 has an insulating layer 2, a copper foil layer 4, and a metal layer 14. First, a good wiring shape refers to a shape that is specified by the characteristic that there is less skirt residue compared to the conventional case. As shown in FIG. 4, the skirt remainder is formed by protruding the copper foil layer 4 in a region outside the metal layer 14 in the width direction orthogonal to the extending direction of the metal layer 14 in plan view. Say part. The determination as to whether or not the tail remains has been described with reference to FIGS. As shown in these drawings, for example, when viewed in cross section, the maximum width of the copper foil layer 104 (4) in the width direction is L1, and the minimum width of the metal layer 115 (14) in the width direction is L2. , L2−L1 = ΔL is larger than 0, it is determined that the tail remains. In such a case, in the conductive circuit 119 in this embodiment, ΔL only needs to be smaller than that of the conventional circuit, more preferably, L1 and L2 are the same (FIG. 2A), and more preferably L1 is It is smaller than L2. When L1 is smaller than L2, the copper foil layer 104 in a cross-sectional view has a region in which the width in the planar direction of the copper foil layer 104 is smaller than the width in the planar direction of the metal layer 115 (FIG. 2B). Such a shape of the conductive circuit 119 specified by L1 and L2 can be said to be a good wiring shape.

また、本実施の形態における良好な配線形状とは、第2に、金属層115の形状が、所望の形状を維持しているという特性で特定されているものを指す(図2(a)および(b))。ここでいう、所望の形状とは、設計通りの形状を意味しており、例えば、四角形状などを指す。L1がL2と同一、さらにはL1がL2より小さい場合であっても、銅箔層104のエッチング特性を向上させているので、このような形状が実現できる。   Moreover, the favorable wiring shape in this Embodiment refers to what the shape of the metal layer 115 is specified by the characteristic that the desired shape is maintained (FIG. 2A and FIG. 2). (B)). The desired shape here means a shape as designed, for example, a square shape or the like. Even when L1 is the same as L2, and L1 is smaller than L2, the etching characteristics of the copper foil layer 104 are improved, and thus such a shape can be realized.

また、銅箔層104の断面形状としては、図2(a)に示すように、金属層115と同じ幅を有する矩形形状でもよいし、図2(b)に示すように、逆テーパ形状でもよい。この逆テーパ形状の銅箔層104は、平面視において、第1面(上面20)から第2面(下面22)に向かって、その面積が小さくなるものでもよい(ただし、製造工程におけるバラツキにより、側面24の一部において凹凸が形成されていてもよい)。また、図5に示すように、幅方向の断面視において、絶縁層102に対する垂線と側面24との成す角θ(左回りの角度)が、たとえば、好ましくは0度以上20度以下であり、より好ましくは1度以上10度以下である。   Further, the cross-sectional shape of the copper foil layer 104 may be a rectangular shape having the same width as the metal layer 115 as shown in FIG. 2A, or may be an inversely tapered shape as shown in FIG. Good. The reverse taper-shaped copper foil layer 104 may have a surface area that decreases from the first surface (upper surface 20) to the second surface (lower surface 22) in plan view (however, due to variations in the manufacturing process). , Irregularities may be formed on a part of the side surface 24). Further, as shown in FIG. 5, in a cross-sectional view in the width direction, an angle θ (a counterclockwise angle) formed between a perpendicular to the insulating layer 102 and the side surface 24 is, for example, preferably 0 degrees or more and 20 degrees or less, More preferably, it is 1 degree or more and 10 degrees or less.

また、その他の銅箔層104の形状としては、図6(a)に示す、かまぼこ形状でもよいし、図6(b)に示す、くびれ形状でもよい。このような形状の銅箔層104を用いることで、導電回路119においてL1をL2より小さくすることができ、さらには、逆テーパ形状と比較して絶縁層102との接触面積を一定以上確保することも可能となる。   Further, the shape of the other copper foil layer 104 may be a kamaboko shape shown in FIG. 6A or a constricted shape shown in FIG. By using the copper foil layer 104 having such a shape, L1 can be made smaller than L2 in the conductive circuit 119, and more than a certain contact area with the insulating layer 102 is ensured as compared with the reverse tapered shape. It is also possible.

また、本実施の形態のプリント配線板においては、ラインアンドスペース(以下、L/Sと呼称する)制御性が優れることについて、図4を用いて説明する。
図4に示す、スペースS2およびスペースS1は、導電回路19、119が延在する方向に対して、直交する方向の幅方向における、最も隣接している導電回路19、119の間の距離を示す。
従来のプリント配線板の製造方法においては、銅箔層4のエッチング特性にバラツキが生じて、銅箔層4の裾残りや、エッチング残りが発生することがあった。こうした銅箔層4を常に離間して電気的に分離するために、図4(b)に示すように、スペースS2を充分確保する必要があった。言い換えると、スペースS2は、L1の変動に合わせて、調整する必要がある。従来のプリント配線板の製造方法においては、こうしたL1/S2の制御性は低いために、微細な配線を形成することが難しかった。
In the printed wiring board of the present embodiment, it will be described with reference to FIG. 4 that the line and space (hereinafter referred to as L / S) controllability is excellent.
The space S2 and the space S1 illustrated in FIG. 4 indicate the distance between the adjacent conductive circuits 19 and 119 in the width direction perpendicular to the direction in which the conductive circuits 19 and 119 extend. .
In the conventional method for manufacturing a printed wiring board, the etching characteristics of the copper foil layer 4 vary, and the bottom of the copper foil layer 4 and the etching residue may occur. In order to always separate and electrically separate the copper foil layer 4, it is necessary to secure a sufficient space S2 as shown in FIG. In other words, the space S2 needs to be adjusted according to the variation of L1. In the conventional printed wiring board manufacturing method, since the controllability of L1 / S2 is low, it is difficult to form fine wiring.

これに対して、本実施の形態のプリント配線板の製造方法においては、銅箔層104のエッチング特性を向上させることができるので、金属層115の形状を所望の形状に維持したまま、幅方向における銅箔層104の幅を制御することが可能となる。このため、L1をL2以下とすることができるので(すなわち、裾残りがなくなるので)、スペースS1を、金属層115の最小幅L2により決定することができる。このL2は、前述のとおり、設計通りの値とすることができる。したがって、本実施の形態のプリント配線板の製造方法においては、こうしたL2/S1の制御性に優れている。したがって、L/S制御性に優れているので、接続不良を抑制しつつも、微細配線加工が可能なプリント配線板の製造方法が得られる。   On the other hand, in the method for manufacturing a printed wiring board according to the present embodiment, the etching characteristics of the copper foil layer 104 can be improved, so that the width of the metal layer 115 is maintained while maintaining the desired shape. The width of the copper foil layer 104 can be controlled. For this reason, L1 can be made equal to or less than L2 (that is, since there is no remaining skirt), the space S1 can be determined by the minimum width L2 of the metal layer 115. As described above, L2 can be a value as designed. Therefore, in the method for manufacturing a printed wiring board according to the present embodiment, the controllability of L2 / S1 is excellent. Therefore, since the L / S controllability is excellent, it is possible to obtain a method for manufacturing a printed wiring board capable of fine wiring processing while suppressing connection failure.

また、本実施の形態において、銅箔層104における側面24に対するエッチングを、サイドエッチングという。このサイドエッチングにおいては、絶縁層102の上面に対して水平方向にエッチングが進行する。
一方、銅箔層104の上面20に対するエッチングを、縦エッチングという。この縦エッチングにおいては、絶縁層102の上面に対して垂直方向にエッチングが進行する。
In the present embodiment, the etching on the side surface 24 in the copper foil layer 104 is referred to as side etching. In this side etching, etching proceeds in the horizontal direction with respect to the upper surface of the insulating layer 102.
On the other hand, etching on the upper surface 20 of the copper foil layer 104 is referred to as vertical etching. In this vertical etching, etching proceeds in a direction perpendicular to the upper surface of the insulating layer 102.

(第2の実施の形態)
以下、第2の実施の形態のプリント配線板の製造方法について説明する。第2の実施の形態では、第1の実施の形態で省略した、詳細な製法条件や材料等について例示する。
(Second Embodiment)
Hereinafter, a method for manufacturing a printed wiring board according to the second embodiment will be described. In the second embodiment, detailed manufacturing conditions, materials, and the like omitted in the first embodiment will be exemplified.

第2の実施の形態のプリント配線板の製造方法は、金属層116を全面にまたは選択的に形成する工程が、銅箔層104および絶縁層102から構成される銅張積層板100を貫通する貫通孔108を形成する工程と、少なくとも貫通孔108の内壁に薬液を接触させる工程と、無電解めっきにより、絶縁層102の上面上と裏面上との銅箔層104を電気的に接続する無電解めっき層110を形成する工程と、をさらに含む点が、第1の実施の形態と異なる。
図7および図8は、第2の実施の形態のプリント配線板の製造方法の工程手順を示す断面図である。
In the method of manufacturing a printed wiring board according to the second embodiment, the step of forming the metal layer 116 on the entire surface or selectively penetrates the copper clad laminate 100 composed of the copper foil layer 104 and the insulating layer 102. The step of forming the through-hole 108, the step of bringing the chemical solution into contact with at least the inner wall of the through-hole 108, and the non-electrolytic plating are used to electrically connect the copper foil layer 104 on the upper surface and the back surface of the insulating layer 102. The point which further includes the process of forming the electroplating layer 110 differs from 1st Embodiment.
7 and 8 are cross-sectional views showing process steps of the method for manufacturing a printed wiring board according to the second embodiment.

まず、図7(a)に示すように、絶縁層102の両面にキャリア箔層106とともに銅箔層104を張り合わせたキャリア箔付き銅張積層板10を準備する。   First, as shown in FIG. 7A, a copper clad laminate 10 with a carrier foil in which a copper foil layer 104 is bonded to both sides of an insulating layer 102 together with a carrier foil layer 106 is prepared.

キャリア箔付き銅張積層板10としては、たとえば、銅張積層板100の少なくとも一面に剥離可能なキャリア箔層106が積層されている、この銅張積層板100は(以下、積層板と呼称することもある)、特に限定されないが、例えば、基材入りの絶縁樹脂層を有する絶縁層102の少なくとも一面に銅箔層104が積層されたものを用いることができる(図では、繊維基材を省略)。この積層板は、単層でもよいが多層構造を有していてもよい。すなわち、積層板としては、コア層のみで構成されていてもよいが、コア層上にビルドアップ層が形成されているものを用いてもよい。このような積層板は、公知のものを適用することができ、例えば、プリプレグを複数枚重ね合わせたもの等を用いることができる。このプリプレグは、特に限定されないが、例えば、ガラスクロス等の基材に、熱硬化性樹脂、硬化剤、及び充填剤等を含有した樹脂組成物を含浸させる等の方法によって得られる。そして、積層板としては、少なくとも片面にキャリア箔付き極薄金属箔を重ね合わせて加熱加圧成形したもの等を用いることができる。また、ビルドアップ層の層間絶縁層には、コア層と同じ材料のものを用いてもよいが、基材または樹脂組成物が異なっていてもよい。本実施の形態では、絶縁層102は、コア層またはビルドアップ層を構成する絶縁樹脂層に相当する。ビルドアップ層を備える積層板を用いる例については、第3の実施の形態にて後述する。   As the copper clad laminate 10 with carrier foil, for example, a peelable carrier foil layer 106 is laminated on at least one surface of the copper clad laminate 100. This copper clad laminate 100 is hereinafter referred to as a laminate. Although not particularly limited, for example, a laminate in which a copper foil layer 104 is laminated on at least one surface of an insulating layer 102 having an insulating resin layer containing a substrate can be used (in the figure, a fiber substrate is used). (Omitted). The laminated plate may be a single layer or may have a multilayer structure. That is, as a laminated board, you may be comprised only by the core layer, However, You may use what has the buildup layer formed on the core layer. As such a laminated plate, a known one can be applied, for example, a laminate of a plurality of prepregs can be used. Although this prepreg is not specifically limited, For example, it obtains by methods, such as impregnating base materials, such as glass cloth, with the resin composition containing a thermosetting resin, a hardening | curing agent, a filler, etc. And as a laminated board, what superposed | stacked the ultra-thin metal foil with a carrier foil on at least one surface and heat-press-molded etc. can be used. Moreover, the same material as that of the core layer may be used for the interlayer insulating layer of the buildup layer, but the base material or the resin composition may be different. In the present embodiment, the insulating layer 102 corresponds to an insulating resin layer that constitutes a core layer or a buildup layer. An example of using a laminate having a buildup layer will be described later in the third embodiment.

本実施の形態に用いられる積層板、および層間絶縁層を構成する樹脂組成物は、プリント配線板の絶縁材料として用いられる公知の樹脂(以下、絶縁樹脂組成物とも称する)を用いることができ、通常、耐熱性、耐薬品性の良好な熱硬化性樹脂が主に用いられる。上記樹脂組成物は、特に限定されず、少なくとも熱硬化性樹脂が含まれる樹脂組成物であることが好ましい。   As the resin composition constituting the laminate and the interlayer insulating layer used in the present embodiment, a known resin used as an insulating material of a printed wiring board (hereinafter also referred to as an insulating resin composition) can be used. Usually, thermosetting resins having good heat resistance and chemical resistance are mainly used. The resin composition is not particularly limited, and is preferably a resin composition containing at least a thermosetting resin.

熱硬化性樹脂としては、例えば、ユリア(尿素)樹脂、メラミン樹脂、マレイミド樹脂、ポリウレタン樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、ベンゾオキサジン環を有する樹脂、ビスアリルナジイミド化合物、ビニルベンジル樹脂、ビニルベンジルエーテル樹脂、ベンゾシクロブテン樹脂、シアネート樹脂、エポキシ樹脂等が挙げられる。これらの中でも、硬化性樹脂は、ガラス転移温度が200℃以上になる組合せが好ましい。例えば、スピロ環含有、複素環式、トリメチロール型、ビフェニル型、ナフタレン型、アントラン型、ノボラック型の2または3官能以上のエポキシ樹脂、シアネート樹脂(シアネート樹脂のプレポリマーを含む)、マレイミド樹脂、ベンゾシクロブテン樹脂、ベンゾオキサジン環を有する樹脂を用いるのが好ましい。エポキシ樹脂および/またはシアネート樹脂を用いる場合には、線膨張が小さくなり、耐熱性が著しく向上する。また、エポキシ樹脂および/またはシアネート樹脂を高充填量の充填材と組み合わせると、難燃性、耐熱性、耐衝撃性、高剛性、および電気特性(低誘電率、低誘電正接)に優れるというメリットがある。ここで、耐熱性の向上は、上記熱硬化性樹脂の硬化反応後にガラス転移温度が200℃以上になること、硬化後の樹脂組成物の熱分解温度が高くなること、250℃以上での反応残渣などの低分子量が低減することに起因すると考えられる。更に、また、難燃性の向上は、芳香族系の熱硬化性樹脂のためその構造上ベンゼン環の割合が高いため、このベンゼン環が炭化(グラファイト化)し易く、炭化部分が生じることに起因すると考えられる。   Examples of thermosetting resins include urea (urea) resins, melamine resins, maleimide resins, polyurethane resins, unsaturated polyester resins, resins having a benzoxazine ring, bisallyl nadiimide compounds, vinyl benzyl resins, vinyl benzyl ether resins. Benzocyclobutene resin, cyanate resin, epoxy resin and the like. Among these, the curable resin is preferably a combination having a glass transition temperature of 200 ° C. or higher. For example, spiro ring-containing, heterocyclic, trimethylol type, biphenyl type, naphthalene type, anthran type, novolak type bifunctional or trifunctional epoxy resin, cyanate resin (including cyanate resin prepolymer), maleimide resin, It is preferable to use a benzocyclobutene resin or a resin having a benzoxazine ring. When using an epoxy resin and / or a cyanate resin, the linear expansion is reduced and the heat resistance is remarkably improved. In addition, combining epoxy resin and / or cyanate resin with a high amount of fillers has the advantage of excellent flame retardancy, heat resistance, impact resistance, high rigidity, and electrical properties (low dielectric constant, low dielectric loss tangent) There is. Here, the improvement in heat resistance is that the glass transition temperature becomes 200 ° C. or higher after the curing reaction of the thermosetting resin, the thermal decomposition temperature of the cured resin composition increases, and the reaction at 250 ° C. or higher. This is considered to result from the reduction of low molecular weight such as residues. Furthermore, the improvement in flame retardancy is due to the fact that the benzene ring is easily carbonized (graphitized) and a carbonized portion is generated because of the high proportion of the benzene ring due to its structure due to the aromatic thermosetting resin. It is thought to be caused.

上記樹脂組成物は、さらに、本発明の効果を損なわない範囲で難燃剤を含有しても良いが、環境の側面から非ハロゲン系難燃剤が好ましい。難燃剤としては、例えば、有機リン系難燃剤、有機系窒素含有リン化合物、窒素化合物、シリコーン系難燃剤、金属水酸化物等が挙げられる。有機リン系難燃剤としては、三光(株)製のHCA、HCA−HQ、HCA−NQ等のホスフィン化合物、昭和高分子(株)製のHFB−2006M等のリン含有ベンゾオキサジン化合物、北興化学工業(株)製のPPQ、クラリアント(株)製のOP930、大八化学(株)製のPX200等のリン酸エステル化合物、東都化成(株)製のFX289、FX310等のリン含有エポキシ樹脂、東都化成(株)製のERF001等のリン含有フェノキシ樹脂等が挙げられる。有機系窒素含有リン化合物としては、四国化成工業(株)製のSP670、SP703等のリン酸エステルアミド化合物、大塚化学(株)社製のSPB100、SPE100、(株)伏見製作所製FP−series等のホスファゼン化合物等が挙げられる。金属水酸化物としては、宇部マテリアルズ(株)製のUD650、UD653等の水酸化マグネシウム、住友化学(株)製CL310、昭和電工(株)製、HP−350等の水酸化アルミニウム等が挙げられる。   The resin composition may further contain a flame retardant as long as the effects of the present invention are not impaired, but a non-halogen flame retardant is preferable from the viewpoint of the environment. Examples of the flame retardant include an organic phosphorus flame retardant, an organic nitrogen-containing phosphorus compound, a nitrogen compound, a silicone flame retardant, and a metal hydroxide. Examples of organophosphorus flame retardants include phosphine compounds such as HCA, HCA-HQ, and HCA-NQ manufactured by Sanko Co., Ltd., and phosphorus-containing benzoxazine compounds such as HFB-2006M manufactured by Showa Polymer Co., Ltd. Phosphoric acid ester compounds such as PPQ manufactured by Clariant Co., Ltd., OP930 manufactured by Clariant Co., Ltd., PX200 manufactured by Daihachi Chemical Co., Ltd., phosphorus-containing epoxy resins such as FX289 and FX310 manufactured by Toto Kasei Co., Ltd. Examples thereof include phosphorus-containing phenoxy resins such as ERF001 manufactured by Co., Ltd. Examples of the organic nitrogen-containing phosphorus compound include phosphoric ester amide compounds such as SP670 and SP703 manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd., SPB100 and SPE100 manufactured by Otsuka Chemical Co., Ltd., and FP-series manufactured by Fushimi Seisakusho Co., Ltd. And phosphazene compounds. Examples of the metal hydroxide include magnesium hydroxide such as UD650 and UD653 manufactured by Ube Materials Co., Ltd., CL310 manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd., Showa Denko Co., Ltd., and aluminum hydroxide such as HP-350. It is done.

上記樹脂組成物に用いるエポキシ樹脂としては、例えばビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールE型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビスフェノールM型エポキシ樹脂、ビスフェノールP型エポキシ樹脂、ビスフェノールZ型エポキシ樹脂などのビスフェノール型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂などのノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、キシリレン型エポキシ樹脂、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂などのアリールアルキレン型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフタレンジオール型エポキシ樹脂、2官能ないし4官能エポキシ型ナフタレン樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、ビナフチル型エポキシ樹脂、ナフタレンアラルキル型エポキシ樹脂などのナフタレン型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、フェノキシ型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、ノルボルネン型エポキシ樹脂、アダマンタン型エポキシ樹脂、フルオレン型エポキシ樹脂などが挙げられる。   Examples of the epoxy resin used in the resin composition include bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol E type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol M type epoxy resin, bisphenol P type epoxy resin, and bisphenol Z. Type epoxy resin, bisphenol type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin, etc. novolac type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, xylylene type epoxy resin, biphenyl aralkyl type epoxy resin, etc. aryl alkylene type epoxy resin , Naphthol type epoxy resin, naphthalene diol type epoxy resin, bifunctional to tetrafunctional epoxy type naphthalene resin, naphthylene ether type epoxy Resin, binaphthyl type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin such as naphthalene aralkyl type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, phenoxy type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, norbornene type epoxy resin, adamantane type epoxy resin, fluorene type epoxy resin Etc.

エポキシ樹脂として、これらの中の1種類を単独で用いてもよいし、異なる重量平均分子量を有する2種類以上を併用してもよい。また、これらの中の1種類または2種類以上と、それらのプレポリマーとを併用してもよい。   As the epoxy resin, one of these may be used alone, or two or more having different weight average molecular weights may be used in combination. Moreover, you may use together 1 type, or 2 or more types of these, and those prepolymers.

これらエポキシ樹脂の中でもとくにアリールアルキレン型エポキシ樹脂が好ましい。これにより、吸湿半田耐熱性および難燃性をさらに向上させることができる。   Among these epoxy resins, aryl alkylene type epoxy resins are particularly preferable. Thereby, moisture-absorbing solder heat resistance and flame retardance can be further improved.

アリールアルキレン型エポキシ樹脂とは、繰り返し単位中に一つ以上のアリールアルキレン基を有するエポキシ樹脂をいう。例えばキシリレン型エポキシ樹脂、ビフェニルジメチレン型エポキシ樹脂などが挙げられる。これらの中でもビフェニルジメチレン型エポキシ樹脂が好ましい。ビフェニルジメチレン型エポキシ樹脂は、例えば下記一般式(1)で示すことができる。また、ビフェニルジメチレン型エポキシ樹脂としては、例えば日本化薬(株)製のNC−3000、NC−3000L、NC−3000−FHが挙げられる。   The aryl alkylene type epoxy resin refers to an epoxy resin having one or more aryl alkylene groups in a repeating unit. For example, a xylylene type epoxy resin, a biphenyl dimethylene type epoxy resin, etc. are mentioned. Among these, a biphenyl dimethylene type epoxy resin is preferable. A biphenyl dimethylene type | mold epoxy resin can be shown, for example by following General formula (1). Examples of the biphenyl dimethylene type epoxy resin include NC-3000, NC-3000L, and NC-3000-FH manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.

上記一般式(1)で示されるビフェニルジメチレン型エポキシ樹脂の平均繰り返し単位nは任意の整数である。nの下限は、とくに限定されないが、1以上が好ましく、とくに2以上が好ましい。nが小さすぎると、ビフェニルジメチレン型エポキシ樹脂が結晶化しやすくなり、汎用溶媒に対する溶解性が比較的低下するため、取り扱いが困難となる場合がある。nの上限は、とくに限定されないが、10以下が好ましく、とくに5以下が好ましい。nが大きすぎると樹脂の流動性が低下し、成形不良などの原因となる場合がある。   The average repeating unit n of the biphenyl dimethylene type epoxy resin represented by the general formula (1) is an arbitrary integer. The lower limit of n is not particularly limited, but is preferably 1 or more, and particularly preferably 2 or more. When n is too small, the biphenyl dimethylene type epoxy resin is easily crystallized, and the solubility in a general-purpose solvent is relatively lowered, which may make handling difficult. The upper limit of n is not particularly limited, but is preferably 10 or less, and particularly preferably 5 or less. If n is too large, the fluidity of the resin is lowered, which may cause molding defects.

上記以外のエポキシ樹脂としては、縮合環芳香族炭化水素構造を有するノボラック型エポキシ樹脂が好ましい。これにより、耐熱性、低熱膨張性をさらに向上させることができる。   As an epoxy resin other than the above, a novolac type epoxy resin having a condensed ring aromatic hydrocarbon structure is preferable. Thereby, heat resistance and low thermal expansibility can further be improved.

縮合環芳香族炭化水素構造を有するノボラック型エポキシ樹脂は、ナフタレン、アントラセン、フェナントレン、テトラセン、クリセン、ピレン、トリフェニレン、およびテトラフェン、その他の縮合環芳香族炭化水素構造を有するノボラック型エポキシ樹脂である。縮合環芳香族炭化水素構造を有するノボラック型エポキシ樹脂は、複数の芳香環が規則的に配列することができるため低熱膨張性に優れる。また、ガラス転移温度も高いため耐熱性に優れる。さらに、繰返し構造の分子量が大きいため従来のノボラック型エポキシ樹脂に比べ難燃性に優れ、シアネート樹脂と組合せることでシアネート樹脂の弱点の脆弱性を改善することができる。したがって、シアネート樹脂と併用して用いることで、さらにガラス転移温度が高くなるため鉛フリー対応の実装信頼性に優れる。   The novolak type epoxy resin having a condensed ring aromatic hydrocarbon structure is a novolak type epoxy resin having a naphthalene, anthracene, phenanthrene, tetracene, chrysene, pyrene, triphenylene, and tetraphen or other condensed ring aromatic hydrocarbon structure. . The novolac type epoxy resin having a condensed ring aromatic hydrocarbon structure is excellent in low thermal expansion because a plurality of aromatic rings can be regularly arranged. Moreover, since the glass transition temperature is also high, it is excellent in heat resistance. Furthermore, since the molecular weight of the repeating structure is large, it is superior in flame retardancy as compared with conventional novolac type epoxy resins, and the weakness of the weakness of the cyanate resin can be improved by combining with the cyanate resin. Therefore, when used in combination with a cyanate resin, the glass transition temperature is further increased, so that the lead-free compatible mounting reliability is excellent.

縮合環芳香族炭化水素構造を有するノボラック型エポキシ樹脂は、フェノール類化合物とホルムアルデヒド類化合物、および縮合環芳香族炭化水素化合物から合成された、ノボラック型フェノール樹脂をエポキシ化したものである。   The novolak-type epoxy resin having a condensed ring aromatic hydrocarbon structure is obtained by epoxidizing a novolak-type phenol resin synthesized from a phenol compound, a formaldehyde compound, and a condensed ring aromatic hydrocarbon compound.

フェノール類化合物は、とくに限定されないが、例えば、フェノール、o−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾールなどのクレゾール類、2,3−キシレノール、2,4−キシレノール、2,5−キシレノール、2,6−キシレノール、3,4−キシレノール、3,5−キシレノールなどのキシレノール類、2,3,5トリメチルフェノールなどのトリメチルフェノール類、o−エチルフェノール、m−エチルフェノール、p−エチルフェノールなどのエチルフェノール類、イソプロピルフェノール、ブチルフェノール、t−ブチルフェノールなどのアルキルフェノール類、o−フェニルフェノール、m−フェニルフェノール、p−フェニルフェノール、カテコール、1,5−ジヒドロキシナフタレン、1,6−ジヒドロキシナフタレン、2,7−ジヒドロキシナフタレンなどのナフタレンジオール類、レゾルシン、カテコール、ハイドロキノン、ピロガロール、フルオログルシンなどの多価フェノール類、アルキルレゾルシン、アルキルカテコール、アルキルハイドロキノンなどのアルキル多価フェノール類が挙げられる。これらのうち、コスト面および分解反応に与える効果から、フェノールが好ましい。   The phenol compound is not particularly limited, but examples thereof include cresols such as phenol, o-cresol, m-cresol, and p-cresol, 2,3-xylenol, 2,4-xylenol, 2,5-xylenol, 2, 6-xylenol, 3,4-xylenol, xylenols such as 3,5-xylenol, trimethylphenols such as 2,3,5 trimethylphenol, ethyl such as o-ethylphenol, m-ethylphenol, p-ethylphenol Phenols, alkylphenols such as isopropylphenol, butylphenol, t-butylphenol, o-phenylphenol, m-phenylphenol, p-phenylphenol, catechol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene , 2,7-naphthalene diols such as dihydroxynaphthalene, resorcinol, catechol, hydroquinone, pyrogallol, polyhydric phenols such as fluoro Guru Singh, alkyl resorcinol, alkyl catechol, alkyl polyhydric phenols such as alkyl hydroquinone. Of these, phenol is preferable from the viewpoint of cost and the effect on the decomposition reaction.

アルデヒド類化合物は、とくに限定されないが、例えば、ホルムアルデヒド、パラホルムアルデヒド、トリオキサン、アセトアルデヒド、プロピオンアルデヒド、ポリオキシメチレン、クロラール、ヘキサメチレンテトラミン、フルフラール、グリオキザール、n-ブチルアルデヒド、カプロアルデヒド、アリルアルデヒド、ベンズアルデヒド、クロトンアルデヒド、アクロレイン、テトラオキシメチレン、フェニルアセトアルデヒド、o-トルアルデヒド、サリチルアルデヒド、ジヒドロキシベンズアルデヒド、トリヒドロキシベンズアルデヒド、4−ヒドロキシ−3−メトキシアルデヒドパラホルムアルデヒドなどが挙げられる。   The aldehyde compound is not particularly limited, and examples thereof include formaldehyde, paraformaldehyde, trioxane, acetaldehyde, propionaldehyde, polyoxymethylene, chloral, hexamethylenetetramine, furfural, glyoxal, n-butyraldehyde, caproaldehyde, allylaldehyde, Examples include benzaldehyde, crotonaldehyde, acrolein, tetraoxymethylene, phenylacetaldehyde, o-tolualdehyde, salicylaldehyde, dihydroxybenzaldehyde, trihydroxybenzaldehyde, 4-hydroxy-3-methoxyaldehyde paraformaldehyde and the like.

縮合環芳香族炭化水素化合物は、とくに限定されないが、例えば、メトキシナフタレン、ブトキシナフタレンなどのナフタレン誘導体、メトキシアントラセンなどのアントラセン誘導体、メトキシフェナントレンなどのフェナントレン誘導体、その他テトラセン誘導体、クリセン誘導体、ピレン誘導体、誘導体トリフェニレン、およびテトラフェン誘導体などが挙げられる。   Although the condensed ring aromatic hydrocarbon compound is not particularly limited, for example, naphthalene derivatives such as methoxynaphthalene and butoxynaphthalene, anthracene derivatives such as methoxyanthracene, phenanthrene derivatives such as methoxyphenanthrene, other tetracene derivatives, chrysene derivatives, pyrene derivatives, Derivatives such as triphenylene and tetraphen derivatives are mentioned.

縮合環芳香族炭化水素構造を有するノボラック型エポキシ樹脂は、とくに限定されないが、例えば、メトキシナフタレン変性オルトクレゾールノボラックエポキシ樹脂、ブトキシナフタレン変性メタ(パラ)クレゾールノボラックエポキシ樹脂、およびメトキシナフタレン変性ノボラックエポキシ樹脂などが挙げられる。これらの中でも、下記式(2)で表される縮合環芳香族炭化水素構造を有するノボラック型エポキシ樹脂が好ましい。また、縮合環芳香族炭化水素構造を有するノボラック型エポキシ樹脂としては、例えばDIC(株)製のHP−5000が挙げられる。   The novolak type epoxy resin having a condensed ring aromatic hydrocarbon structure is not particularly limited. For example, methoxynaphthalene-modified ortho-cresol novolak epoxy resin, butoxynaphthalene-modified meta (para) cresol novolak epoxy resin, and methoxynaphthalene-modified novolak epoxy resin Etc. Among these, a novolac type epoxy resin having a condensed ring aromatic hydrocarbon structure represented by the following formula (2) is preferable. Moreover, as a novolak-type epoxy resin having a condensed ring aromatic hydrocarbon structure, for example, HP-5000 manufactured by DIC Corporation is exemplified.

(式中、Arは縮合環芳香族炭化水素基であり、Rは互いに同一であっても異なっていてもよく、水素原子、炭素数1以上10以下の炭化水素基またはハロゲン元素、フェニル基、ベンジル基などのアリール基、およびグリシジルエーテルを含む有機基から選ばれる基であり、n、p、およびqは1以上の整数であり、またp、qの値は、繰り返し単位毎に同一でも、異なっていてもよい。) (In the formula, Ar is a condensed ring aromatic hydrocarbon group, R may be the same or different from each other, and is a hydrogen atom, a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms, a halogen element, a phenyl group, It is a group selected from an aryl group such as a benzyl group and an organic group containing glycidyl ether, n, p and q are integers of 1 or more, and the values of p and q may be the same for each repeating unit, May be different.)

(式(2)中のArは、式(3)中の(Ar1)〜(Ar4)で表される構造であり、式(3)中のRは、互いに同一であっても異なっていてもよく、水素原子、炭素数1以上10以下の炭化水素基またはハロゲン元素、フェニル基、ベンジル基などのアリール基、およびグリシジルエーテルを含む有機基から選ばれる基である。) (Ar in Formula (2) is a structure represented by (Ar1) to (Ar4) in Formula (3), and R in Formula (3) may be the same or different from each other. It is often a group selected from a hydrogen atom, a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms or a halogen element, an aryl group such as a phenyl group and a benzyl group, and an organic group including glycidyl ether.)

さらに上記以外のエポキシ樹脂としてはナフトール型エポキシ樹脂、ナフタレンジオール型エポキシ樹脂、2官能ないし4官能エポキシ型ナフタレン樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂などのナフタレン型エポキシ樹脂が好ましい。これにより、耐熱性、低熱膨張性をさらに向上させることができる。また、ベンゼン環に比べナフタレン環のπ−πスタッキン効果が高いため、特に、低熱膨張性、低熱収縮性に優れる。更に、多環構造のため剛直効果が高く、ガラス転移温度が特に高いため、リフロー前後の熱収縮変化が小さい。
ナフトール型エポキシ樹脂は、例えば下記一般式(4−1)で示すことができる。また、ナフトール型エポキシ樹脂としては、例えば新日鐵化学(株)製のESN−375が挙げられる。
ナフタレンジオール型エポキシ樹脂は、例えば下記式(4−2)で示すことができる。ナフタレンジオール型エポキシ樹脂としては、例えばDIC(株)製のHP−4032Dが挙げられる。
2官能ないし4官能エポキシ型ナフタレン樹脂は、例えば下記式(4−3)(4−4)(4−5)で示すことができる。2官能ないし4官能エポキシ型ナフタレン樹脂としては、例えばDIC(株)製のHP−4700、HP−4770が挙げられる。
ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂は、例えば下記一般式(4−6)で示すことができる。ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂としては、例えばDIC(株)製のHP−6000が挙げられる。
Further, as the epoxy resin other than the above, naphthalene type epoxy resins such as naphthol type epoxy resin, naphthalene diol type epoxy resin, bifunctional or tetrafunctional epoxy type naphthalene resin, naphthylene ether type epoxy resin and the like are preferable. Thereby, heat resistance and low thermal expansibility can further be improved. In addition, since the naphthalene ring has a higher π-π stacking effect than a benzene ring, it is particularly excellent in low thermal expansion and low thermal shrinkage. Furthermore, since the polycyclic structure has a high rigidity effect and the glass transition temperature is particularly high, the change in heat shrinkage before and after reflow is small.
A naphthol type epoxy resin can be shown, for example with the following general formula (4-1). Examples of the naphthol type epoxy resin include ESN-375 manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd.
A naphthalene diol type epoxy resin can be represented, for example, by the following formula (4-2). Examples of the naphthalene diol type epoxy resin include HP-4032D manufactured by DIC Corporation.
The bifunctional or tetrafunctional epoxy naphthalene resin can be represented by, for example, the following formulas (4-3), (4-4), and (4-5). Examples of the bifunctional to tetrafunctional epoxy type naphthalene resins include HP-4700 and HP-4770 manufactured by DIC Corporation.
The naphthylene ether type epoxy resin can be represented by the following general formula (4-6), for example. Examples of the naphthylene ether type epoxy resin include HP-6000 manufactured by DIC Corporation.

(nは平均1以上6以下の数を示し、Rはグリシジル基または炭素数1以上10以下の炭化水素基を示す。) (N represents an average number of 1 to 6, and R represents a glycidyl group or a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms.)

(式中、Rは水素原子又はメチル基を表し、Rはそれぞれ独立的に水素原子、炭素原子数1〜4のアルキル基、アラルキル基、ナフタレン基、又はグリシジルエーテル基含有ナフタレン基を表し、o及びmはそれぞれ0〜2の整数であって、かつo又はmの少なくとも何れか一方は1以上である。) (In the formula, R 1 represents a hydrogen atom or a methyl group, and R 2 each independently represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, an aralkyl group, a naphthalene group, or a glycidyl ether group-containing naphthalene group. , O and m are each an integer of 0 to 2, and at least one of o and m is 1 or more.)

上記樹脂組成物に用いるシアネート樹脂は、例えばハロゲン化シアン化合物とフェノール類とを反応させることにより得ることができる。シアネート樹脂の具体例としては、例えばフェノールノボラック型シアネート樹脂、クレゾールノボラック型シアネート樹脂等のノボラック型シアネート樹脂、ナフトールアラルキル型シアネート樹脂、ジシクロペンタジエン型シアネート樹脂、ビフェニル型シアネート樹脂、ビスフェノールA型シアネート樹脂、ビスフェノールAD型シアネート樹脂、テトラメチルビスフェノールF型シアネート樹脂等のビスフェノール型シアネート樹脂等を挙げることができる。   The cyanate resin used in the resin composition can be obtained, for example, by reacting a cyanogen halide compound with phenols. Specific examples of the cyanate resin include novolak-type cyanate resins such as phenol novolak-type cyanate resins and cresol novolak-type cyanate resins, naphthol aralkyl-type cyanate resins, dicyclopentadiene-type cyanate resins, biphenyl-type cyanate resins, and bisphenol A-type cyanate resins. And bisphenol type cyanate resins such as bisphenol AD type cyanate resin and tetramethyl bisphenol F type cyanate resin.

これらの中でも特にノボラック型シアネート樹脂、ナフトールアラルキル型シアネート樹脂、ジシクロペンタジエン型シアネート樹脂、ビフェニル型シアネート樹脂を含むことが好ましい。さらに、樹脂組成物は、このシアネート樹脂を樹脂組成物の全固形分中に10重量%以上含むことが好ましい。これにより、プリプレグの耐熱性(ガラス転移温度、熱分解温度)を向上できる。またプリプレグの熱膨張係数(特に、プリプレグの厚さ方向の熱膨張係数)を低下することができる。プリプレグの厚さ方向の熱膨張係数が低下すると、多層プリント配線の応力歪みを軽減できる。更に、微細な層間接続部を有する多層プリント配線板においては、その接続信頼性を大幅に向上することができる。   Among these, it is particularly preferable to include a novolac type cyanate resin, a naphthol aralkyl type cyanate resin, a dicyclopentadiene type cyanate resin, and a biphenyl type cyanate resin. Furthermore, the resin composition preferably contains 10% by weight or more of this cyanate resin in the total solid content of the resin composition. Thereby, the heat resistance (glass transition temperature, thermal decomposition temperature) of a prepreg can be improved. Further, the thermal expansion coefficient of the prepreg (particularly, the thermal expansion coefficient in the thickness direction of the prepreg) can be reduced. When the thermal expansion coefficient in the thickness direction of the prepreg is lowered, the stress strain of the multilayer printed wiring can be reduced. Furthermore, in a multilayer printed wiring board having fine interlayer connection portions, the connection reliability can be greatly improved.

上記樹脂組成物に用いるノボラック型シアネート樹脂の中でも好適なものとしては、下記式(5)で表わされるノボラック型シアネート樹脂が挙げられる。重量平均分子量が2000以上、より好ましくは2,000〜10,000、更に好ましくは2,200〜3,500の式(5)で表わされるノボラック型シアネート樹脂と、重量平均分子量が1500以下、より好ましくは200〜1,300の式(5)で表わされるノボラック型シアネート樹脂とを組み合わせて用いることが好ましい(以下、「〜」は、特に明示しない限り、上限値と下限値を含むことを表す)。なお、本実施の形態において重量平均分子量は、ポリスチレン換算のゲルパーミエーションクロマトグラフィー法で測定した値である。   Among the novolak type cyanate resins used in the resin composition, a novolak type cyanate resin represented by the following formula (5) is preferable. A novolak type cyanate resin represented by the formula (5) having a weight average molecular weight of 2,000 or more, more preferably 2,000 to 10,000, still more preferably 2,200 to 3,500, and a weight average molecular weight of 1500 or less, more Preferably, it is preferably used in combination with a novolak-type cyanate resin represented by formula (5) of 200 to 1,300 (hereinafter, “to” represents that it includes an upper limit value and a lower limit value unless otherwise specified. ). In the present embodiment, the weight average molecular weight is a value measured by a gel-permeation chromatography method in terms of polystyrene.

式(5)中、nは0以上の整数を示す。 In formula (5), n represents an integer of 0 or more.

また、シアネート樹脂としては、下記一般式(6)で表わされるシアネート樹脂も好適に用いられる。下記一般式(6)で表わされるシアネート樹脂は、α−ナフトールあるいはβ−ナフトール等のナフトール類とp−キシリレングリコール、α,α'−ジメトキシ−p−キシレン、1,4−ジ(2−ヒドロキシ−2−プロピル)ベンゼン等との反応により得られるナフトールアラルキル樹脂とシアン酸とを縮合させて得られるものである。一般式(6)のnは1以上であるが、10以下であることがさらに望ましい。nが10以下の場合、樹脂粘度が高くならず、基材への含浸性が良好で、積層板としての性能の低下を抑制できる。また、合成時に分子内重合が起こりにくく、水洗時の分液性が向上し、収量の低下を防止できる。   Moreover, as cyanate resin, the cyanate resin represented by following General formula (6) is also used suitably. The cyanate resin represented by the following general formula (6) includes naphthols such as α-naphthol and β-naphthol, p-xylylene glycol, α, α'-dimethoxy-p-xylene, 1,4-di (2- It is obtained by condensing naphthol aralkyl resin obtained by reaction with hydroxy-2-propyl) benzene or the like and cyanic acid. In the general formula (6), n is 1 or more, but is more preferably 10 or less. When n is 10 or less, the resin viscosity is not high, the impregnation property to the base material is good, and the deterioration of the performance as a laminate can be suppressed. In addition, intramolecular polymerization is unlikely to occur at the time of synthesis, and the liquid separation property at the time of washing with water is improved, so that a decrease in yield can be prevented.

式(6)中、Rは水素原子またはメチル基を示し、Rは同一でも異なっていてもよく、nは1以上の整数を示す。 In formula (6), R represents a hydrogen atom or a methyl group, R may be the same or different, and n represents an integer of 1 or more.

また、シアネート樹脂としては、下記一般式(7)で表わされるジシクロペンタジエン型シアネート樹脂も好適に用いられる。下記一般式(7)で表わされジシクロペンタジエン型シアネート樹脂は、下記一般式(7)のnは0以上8以下であることがさらに望ましい。nが8以下の場合、樹脂粘度が高くならず、基材への含浸性が良好で、積層板としての性能の低下を抑制できる。また、ジシクロペンタジエン型シアネート樹脂を用いることで、低吸湿性、および耐薬品に優れる。   Further, as the cyanate resin, a dicyclopentadiene type cyanate resin represented by the following general formula (7) is also preferably used. In the dicyclopentadiene type cyanate resin represented by the following general formula (7), n in the following general formula (7) is more preferably 0 or more and 8 or less. When n is 8 or less, the resin viscosity is not high, the impregnation property to the base material is good, and the deterioration of the performance as a laminate can be suppressed. Moreover, by using a dicyclopentadiene type cyanate resin, it is excellent in low hygroscopicity and chemical resistance.

nは0〜8の整数を示す。 n represents an integer of 0 to 8.

また、樹脂組成物はさらに硬化促進剤を含有しても良い。例えば、熱硬化性樹脂がエポキシ樹脂やシアネート樹脂であれば、フェノール樹脂やエポキシ樹脂やシアネート樹脂の硬化促進剤を用いることができる。フェノール樹脂は、特に限定されないが、例えば、フェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック樹脂、ビスフェノールAノボラック樹脂、アリールアルキレン型ノボラック樹脂等のノボラック型フェノール樹脂、未変性のレゾールフェノール樹脂、桐油、アマニ油、クルミ油等で変性した油変性レゾールフェノール樹脂等のレゾール型フェノール樹脂等が挙げられる。上記フェノール樹脂としては、フェノールノボラック又はクレゾールノボラック樹脂が好ましい。中でも、ビフェニルアラルキル変性フェノールノボラック樹脂が、吸湿半田耐熱性の点から好ましい。
これらの中の1種類を単独で用いることもできるし、異なる重量平均分子量を有する2種類以上を併用したり、1種類または2種類以上と、それらのプレポリマーを併用したりすることもできる。
Moreover, the resin composition may further contain a curing accelerator. For example, if the thermosetting resin is an epoxy resin or a cyanate resin, a curing accelerator for phenol resin, epoxy resin, or cyanate resin can be used. The phenol resin is not particularly limited. For example, a phenol novolak resin, a cresol novolak resin, a bisphenol A novolak resin, an arylalkylene type novolak resin or the like novolak type phenol resin, an unmodified resole phenol resin, tung oil, linseed oil, walnut oil Examples thereof include resol type phenol resins such as oil-modified resol phenol resins modified with the above. As said phenol resin, a phenol novolak or a cresol novolak resin is preferable. Among these, biphenyl aralkyl-modified phenol novolac resin is preferable from the viewpoint of moisture absorption solder heat resistance.
One of these can be used alone, or two or more having different weight average molecular weights can be used in combination, or one or two or more of these prepolymers can be used in combination.

上記硬化促進剤は、特に限定されないが、例えば、ナフテン酸亜鉛、ナフテン酸コバルト、オクチル酸スズ、オクチル酸コバルト、ビスアセチルアセトナートコバルト(II)、トリスアセチルアセトナートコバルト(III)等の有機金属塩、トリエチルアミン、トリブチルアミン、ジアザビシクロ[2,2,2]オクタン等の3級アミン類、2−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、2−エチル−4−エチルイミダゾール、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾール、1−シアノエチルー2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチルー2−ウンデシルイミダゾール、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシイミダゾール、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシイミダゾール、2,3−ジヒドロ−1H−ピロロ(1,2−a)ベンズイミダゾール等のイミダゾール類、フェノール、ビスフェノールA、ノニルフェノール等のフェノール化合物、酢酸、安息香酸、サリチル酸、パラトルエンスルホン酸等の有機酸、オニウム塩化合物等またはこの混合物が挙げられる。これらの中の誘導体も含めて1種類を単独で用いることもできるし、これらの誘導体も含めて2種類以上を併用したりすることもできる。   The curing accelerator is not particularly limited. For example, organic metals such as zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin octylate, cobalt octylate, bisacetylacetonate cobalt (II), and trisacetylacetonate cobalt (III) Salt, triethylamine, tributylamine, tertiary amines such as diazabicyclo [2,2,2] octane, 2-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 2-ethyl-4-ethylimidazole 1-benzyl-2-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 2-phenyl- 4-methyl- -Imidazoles such as hydroxyimidazole, 2-phenyl-4,5-dihydroxyimidazole, 2,3-dihydro-1H-pyrrolo (1,2-a) benzimidazole, phenolic compounds such as phenol, bisphenol A and nonylphenol, acetic acid , Benzoic acid, salicylic acid, organic acids such as p-toluenesulfonic acid, onium salt compounds and the like, or mixtures thereof. One of these can be used alone, including derivatives thereof, or two or more of these can be used in combination.

また、上記熱硬化性樹脂中には、耐熱性の点から、マレイミド化合物が含まれていてもよい。マレイミド化合物は1分子中に1個以上のマレイミド基を有する化合物であれば、特に限定されるものではない。その具体例としては、N−フェニルマレイミド、N−ヒドロキシフェニルマレイミド、ビス(4−マレイミドフェニル)メタン、2,2−ビス{4−(4−マレイミドフェノキシ)−フェニル}プロパン、ビス(3,5−ジメチル−4−マレイミドフェニル)メタン、ビス(3−エチル−5−メチル−4−マレイミドフェニル)メタン、ビス(3,5−ジエチル−4−マレイミドフェニル)メタン、ポリフェニルメタンマレイミド、これらマレイミド化合物のプレポリマー、もしくはマレイミド化合物とアミン化合物のプレポリマーなどが挙げられる。   Further, the thermosetting resin may contain a maleimide compound from the viewpoint of heat resistance. The maleimide compound is not particularly limited as long as it is a compound having one or more maleimide groups in one molecule. Specific examples thereof include N-phenylmaleimide, N-hydroxyphenylmaleimide, bis (4-maleimidophenyl) methane, 2,2-bis {4- (4-maleimidophenoxy) -phenyl} propane, bis (3,5 -Dimethyl-4-maleimidophenyl) methane, bis (3-ethyl-5-methyl-4-maleimidophenyl) methane, bis (3,5-diethyl-4-maleimidophenyl) methane, polyphenylmethanemaleimide, these maleimide compounds Or a prepolymer of a maleimide compound and an amine compound.

また、上記熱硬化性樹脂中には、金属箔との密着性の点から、フェノキシ樹脂、ポリビニルアルコール系樹脂、ポリイミド、ポリアミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂が含まれていてもよい。   The thermosetting resin may contain a phenoxy resin, a polyvinyl alcohol resin, a polyimide, a polyamide, a polyamideimide, a polyethersulfone resin, or a polyphenylene ether resin from the viewpoint of adhesion to the metal foil. Good.

フェノキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノール骨格を有するフェノキシ樹脂、ナフタレン骨格を有するフェノキシ樹脂、ビフェニル骨格を有するフェノキシ樹脂等が挙げられる。また、これらの骨格を複数種有した構造のフェノキシ樹脂を用いることもできる。
これらの中でも、フェノキシ樹脂には、ビフェニル骨格およびビスフェノールS骨格を有するフェノキシ樹脂を用いるのが好ましい。これにより、ビフェニル骨格が有する剛直性により、フェノキシ樹脂のガラス転移温度を高くすることができるとともに、ビスフェノールS骨格の存在により、フェノキシ樹脂と金属との密着性を向上させることができる。その結果、絶縁層102の耐熱性の向上を図ることができるとともに、多層基板を製造する際に、絶縁層102に対する配線部(導電回路118)の密着性を向上させることができる。また、フェノキシ樹脂には、ビスフェノールA骨格およびビスフェノールF骨格を有するフェノキシ樹脂を用いるのも好ましい。これにより、多層基板の製造時に、配線部の絶縁層102への密着性をさらに向上させることができる。
フェノキシ樹脂の市販品としては、東都化成(株)製FX280およびFX293、ジャパンエポキシレジン(株)製YX8100、YX6954、YL6974、YL7482、YL7553、YL6794、YL7213およびYL7290等が挙げられる。フェノキシ樹脂の分子量は、特に限定されないが、重量平均分子量が5,000〜70,000であるのが好ましく、10,000〜60,000であるのがより好ましい。
フェノキシ樹脂を用いる場合、その含有量は、特に限定されないが、樹脂組成物全体の1〜40重量%であるのが好ましく、5〜30重量%であるのがより好ましい。
Examples of the phenoxy resin include a phenoxy resin having a bisphenol skeleton, a phenoxy resin having a naphthalene skeleton, and a phenoxy resin having a biphenyl skeleton. A phenoxy resin having a structure having a plurality of these skeletons can also be used.
Among these, it is preferable to use a phenoxy resin having a biphenyl skeleton and a bisphenol S skeleton as the phenoxy resin. Thereby, the glass transition temperature of the phenoxy resin can be increased due to the rigidity of the biphenyl skeleton, and the adhesion between the phenoxy resin and the metal can be improved due to the presence of the bisphenol S skeleton. As a result, the heat resistance of the insulating layer 102 can be improved, and the adhesion of the wiring portion (conductive circuit 118) to the insulating layer 102 can be improved when a multilayer substrate is manufactured. It is also preferable to use a phenoxy resin having a bisphenol A skeleton and a bisphenol F skeleton as the phenoxy resin. Thereby, the adhesiveness to the insulating layer 102 of a wiring part can further be improved at the time of manufacture of a multilayer substrate.
Examples of commercially available phenoxy resins include FX280 and FX293 manufactured by Toto Kasei Co., Ltd., YX8100, YX6954, YL6974, YL7482, YL7553, YL6794, YL7213, and YL7290 manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd. The molecular weight of the phenoxy resin is not particularly limited, but the weight average molecular weight is preferably 5,000 to 70,000, and more preferably 10,000 to 60,000.
When using a phenoxy resin, the content is not particularly limited, but it is preferably 1 to 40% by weight, more preferably 5 to 30% by weight based on the entire resin composition.

ポリビニルアルコール系樹脂の市販品としては、電気化学工業(株)製電化ブチラール4000−2、5000−A、6000−Cおよび6000−EP、積水化学工業(株)製エスレックBHシリーズ、BXシリーズ、KSシリーズ、BLシリーズおよびBMシリーズ等が挙げられる。特に、ガラス転移温度が80℃以上のものが特に好ましい。   Examples of commercially available polyvinyl alcohol resins include Denka Butyral 4000-2, 5000-A, 6000-C and 6000-EP manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd., S-Rec BH Series, BX Series, and KS manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd. Series, BL series, BM series and the like. Particularly preferred are those having a glass transition temperature of 80 ° C. or higher.

ポリイミド、ポリアミド、ポリアミドイミド、の市販品としては、東洋紡績(株)製「バイロマックスHR11NN(登録商標)」及び「HR−16NN」「HR15ET」、日立化成工業(株)製ポリアミドイミド「KS−9300」などが挙げられる。三菱ガス化学(株)製「ネオプリムC−1210(登録商標)」、新日本理化(株)製の可溶性ポリイミド「リカコートSN20(登録商標)」及び「リカコートPN20(登録商標)」、日本GEプラスチックス(株)社製のポリエーテルイミド「ウルテム(登録商標)」、DIC(株)製「V8000」及び「V8002」及び「V8005」、日本化薬(株)製「BPAM155」等が挙げられる。   Commercially available products of polyimide, polyamide and polyamideimide include “Viromax HR11NN (registered trademark)” and “HR-16NN” and “HR15ET” manufactured by Toyobo Co., Ltd., and polyamide imide “KS-” manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd. 9300 "and the like. “Neoprim C-1210 (registered trademark)” manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Inc., soluble polyimide “Rika Coat SN20 (registered trademark)” and “Rika Coat PN20 (registered trademark)” manufactured by Shin Nippon Chemical Co., Ltd., GE Plastics Examples include polyetherimide “Ultem (registered trademark)” manufactured by Co., Ltd., “V8000” and “V8002” and “V8005” manufactured by DIC Corporation, “BPAM155” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., and the like.

ポリエーテルスルホン樹脂の市販品としては、公知のものを用いることができ、例えば、住友化学社製のPES4100P、PES4800P、PES5003P、およびPES5200Pなどを挙げることができる。   As a commercial item of polyethersulfone resin, a well-known thing can be used, for example, PES4100P, PES4800P, PES5003P, and PES5200P by Sumitomo Chemical Co., Ltd. can be mentioned.

ポリフェニレンエーテル樹脂としては、例えば、ポリ(2,6−ジメチル−1,4−フェニレン)オキサイド、ポリ(2,6−ジエチル−1,4−フェニレン)オキサイド、ポリ(2−メチル−6−エチル−1,4−フェニレン)オキサイド、ポリ(2−メチル−6−プロピル−1,4−フェニレン)オキサイド、ポリ(2、6−ジプロピル−1,4−フェニレン)オキサイド、ポリ(2−エチル−6−プロピル−1,4−フェニレン)オキサイド等が挙げられる。市販品としては、例えば、日本G.E.プラスチック社製「ノリルPX9701(登録商標)」(数平均分子量Mn=14,000)、「ノリル640−111(登録商標)」(数平均分子量Mn=25,000)、及び旭化成社製「SA202」(数平均分子量Mn=20,000)などがあり、これらを公知の方法で低分子量化して用いることができる。   Examples of the polyphenylene ether resin include poly (2,6-dimethyl-1,4-phenylene) oxide, poly (2,6-diethyl-1,4-phenylene) oxide, and poly (2-methyl-6-ethyl-). 1,4-phenylene) oxide, poly (2-methyl-6-propyl-1,4-phenylene) oxide, poly (2,6-dipropyl-1,4-phenylene) oxide, poly (2-ethyl-6-) And propyl-1,4-phenylene) oxide. Examples of commercially available products include Japanese G.P. E. “Noryl PX9701 (registered trademark)” (number average molecular weight Mn = 14,000), “Noryl 640-111 (registered trademark)” (number average molecular weight Mn = 25,000) manufactured by Plastic, and “SA202” manufactured by Asahi Kasei Corporation (Number average molecular weight Mn = 20,000) and the like, and these can be used by reducing the molecular weight by a known method.

これらの中でも、末端を官能基で変性した反応性オリゴフェニレンオキサイドが好ましい。これにより、熱硬化性樹脂との相溶性が向上し、ポリマー間の3次元架橋構造を形成することできるため機械強度に優れる。例えば、特開2006−28111号公報に記載されている2,2′,3,3′,5,5′−ヘキサメチルビフェニル‐4,4′−ジオール−2,6−ジメチルフェノール重縮合物とクロロメチルスチレンとの反応生成物が挙げられる。
このような反応性オリゴフェニレンオキサイドは、公知の方法により製造することができる。また、市販品を用いることもできる。例えば、OPE−2st 2200(三菱瓦斯化学社製)を好適に使用することができる。
反応性オリゴフェニレンオキサイドの重量平均分子量は、2,000〜20,000であることが好ましく、4、000〜15、000であることがより好ましい。反応性オリゴフェニレンオキサイドの重量平均分子量が20,000を超えると、揮発性溶剤に溶解し難くなる。一方、重量平均分子量が2,000未満であると、架橋密度が高くなりすぎるため、硬化物の弾性率や可撓性に悪影響がでる。
Among these, reactive oligophenylene oxide having a terminal modified with a functional group is preferable. Thereby, compatibility with a thermosetting resin improves, and since the three-dimensional crosslinked structure between polymers can be formed, it is excellent in mechanical strength. For example, 2,2 ', 3,3', 5,5'-hexamethylbiphenyl-4,4'-diol-2,6-dimethylphenol polycondensate described in JP-A-2006-28111 and A reaction product with chloromethylstyrene is mentioned.
Such reactive oligophenylene oxide can be produced by a known method. Commercial products can also be used. For example, OPE-2st 2200 (manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc.) can be suitably used.
The weight average molecular weight of the reactive oligophenylene oxide is preferably 2,000 to 20,000, and more preferably 4,000 to 15,000. When the weight average molecular weight of reactive oligophenylene oxide exceeds 20,000, it becomes difficult to dissolve in a volatile solvent. On the other hand, when the weight average molecular weight is less than 2,000, the crosslink density becomes too high, which adversely affects the elastic modulus and flexibility of the cured product.

本実施の形態に用いる樹脂組成物中の熱硬化性樹脂の量は、その目的に応じて適宜調整されれば良く特に限定されないが、樹脂組成物の全固形分中に、熱硬化性樹脂は10〜90重量%であることが好ましく、更に20〜70重量%、より更に25〜50重量%であることが好ましい(以下、「〜」は、特に明示しない限り、上限値と下限値を含むことを表す)。   The amount of the thermosetting resin in the resin composition used in the present embodiment is not particularly limited as long as it is appropriately adjusted according to the purpose, but in the total solid content of the resin composition, the thermosetting resin is It is preferably 10 to 90% by weight, more preferably 20 to 70% by weight, and even more preferably 25 to 50% by weight (hereinafter, “to” includes an upper limit value and a lower limit value unless otherwise specified). Represents that).

また、熱硬化性樹脂として、エポキシ樹脂及び/又はシアネート樹脂を用いる場合には、上記樹脂組成物の全固形分中に、エポキシ樹脂は5〜50重量%であることが好ましく、更にエポキシ樹脂は5〜25重量%であることが好ましい。また、樹脂組成物の全固形分中に、シアネート樹脂は5〜50重量%であることが好ましく、更にシアネート樹脂は10〜25重量%であることが好ましい。   Moreover, when using an epoxy resin and / or cyanate resin as a thermosetting resin, it is preferable that an epoxy resin is 5 to 50 weight% in the total solid of the said resin composition, and also an epoxy resin is It is preferably 5 to 25% by weight. Moreover, it is preferable that cyanate resin is 5 to 50 weight% in the total solid of a resin composition, Furthermore, it is preferable that cyanate resin is 10 to 25 weight%.

上記樹脂組成物中には、無機充填材を含有することが、低熱膨張と機械強度の点から好ましい。無機充填材は、特に限定されないが、例えばタルク、焼成クレー、未焼成クレー、マイカ、ガラス等のケイ酸塩、酸化チタン、アルミナ、シリカ、溶融シリカ等の酸化物、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、ハイドロタルサイト等の炭酸塩、水酸化アルミニウム、ベーマイト(AlO(OH))、「擬」ベーマイトと通常呼ばれるベーマイト(すなわち、Al・xHO、ここで、x=1から2)、水酸化マグネシウム、水酸化カルシウム等の金属水酸化物、硫酸バリウム、硫酸カルシウム、亜硫酸カルシウム等の硫酸塩または亜硫酸塩、ホウ酸亜鉛、メタホウ酸バリウム、ホウ酸アルミニウム、ホウ酸カルシウム、ホウ酸ナトリウム等のホウ酸塩、窒化アルミニウム、窒化ホウ素、窒化ケイ素、窒化炭素等の窒化物、チタン酸ストロンチウム、チタン酸バリウム等のチタン酸塩等を挙げることができる。これらの中の1種類を単独で用いることもできるし、2種類以上を併用することもできる。 It is preferable from the viewpoint of low thermal expansion and mechanical strength that the resin composition contains an inorganic filler. The inorganic filler is not particularly limited, but for example, silicates such as talc, fired clay, unfired clay, mica, glass, oxides such as titanium oxide, alumina, silica, fused silica, calcium carbonate, magnesium carbonate, hydrous Carbonates such as talcite, aluminum hydroxide, boehmite (AlO (OH)), boehmite commonly referred to as “pseudo” boehmite (ie, Al 2 O 3 .xH 2 O, where x = 1 to 2), water Metal hydroxides such as magnesium oxide and calcium hydroxide, sulfates or sulfites such as barium sulfate, calcium sulfate, calcium sulfite, zinc borate, barium metaborate, aluminum borate, calcium borate, sodium borate, etc. Borate, aluminum nitride, boron nitride, silicon nitride, carbon nitride and other nitrides, titanic acid Strontium, and titanium salt such as barium titanate. One of these can be used alone, or two or more can be used in combination.

これらの中でも水酸化マグネシウム、水酸化アルミニウム、ベーマイト、シリカ、溶融シリカ、タルク、焼成タルク、アルミナが好ましい。低熱膨張性、および絶縁信頼性の点で特にシリカが好しく、更に好ましくは、球状の溶融シリカである。また、耐燃性の点で、水酸化アルミニウムが好ましい。また、本実施の形態では、無機充填材であっても含浸しやすい基材を用いるため、上記樹脂組成物中に無機充填材の量を多くすることができる。樹脂組成物中に無機充填材が高濃度の場合、ドリル摩耗性が悪化するが、無機充填材がベーマイトの場合にはドリル摩耗性が良好になる点から好ましい。   Among these, magnesium hydroxide, aluminum hydroxide, boehmite, silica, fused silica, talc, calcined talc, and alumina are preferable. Silica is particularly preferable in terms of low thermal expansion and insulation reliability, and spherical fused silica is more preferable. Moreover, aluminum hydroxide is preferable in terms of flame resistance. Moreover, in this Embodiment, since it is a base material which is easy to impregnate even if it is an inorganic filler, the quantity of an inorganic filler can be increased in the said resin composition. When the inorganic filler has a high concentration in the resin composition, the drill wearability is deteriorated, but when the inorganic filler is boehmite, the drill wearability is preferable.

無機充填材の粒径は、特に限定されないが、平均粒径が単分散の無機充填材を用いることもできるし、平均粒径が多分散の無機充填材を用いることができる。さらに平均粒径が単分散及び/または、多分散の無機充填材を1種類または2種類以上併用したりすることもできる。前記無機充填材の平均粒径は、特に限定されないが、0.1μm〜5.0μmが好ましく、特に0.1μm〜3.0μmが好ましい。無機充填材の粒径が前記下限値未満であると樹脂組成物の粘度が高くなるため、プリプレグ作製時の作業性に影響を与える場合がある。また、前記上限値を超えると、樹脂組成物中で無機充填材の沈降等の現象が起こる場合がある。尚、平均粒径は、レーザー回折/散乱式粒度分布測定装置(島津製作所製、SALD−7000等の一般的な機器)を用いて測定することができる。   The particle diameter of the inorganic filler is not particularly limited, but an inorganic filler having a monodispersed average particle diameter can be used, and an inorganic filler having a polydispersed average particle diameter can be used. Furthermore, one or two or more inorganic fillers having an average particle size of monodisperse and / or polydisperse may be used in combination. The average particle size of the inorganic filler is not particularly limited, but is preferably 0.1 μm to 5.0 μm, particularly preferably 0.1 μm to 3.0 μm. If the particle size of the inorganic filler is less than the lower limit, the viscosity of the resin composition becomes high, which may affect workability during prepreg production. When the upper limit is exceeded, phenomena such as sedimentation of the inorganic filler may occur in the resin composition. The average particle diameter can be measured using a laser diffraction / scattering particle size distribution measuring device (manufactured by Shimadzu Corporation, general equipment such as SALD-7000).

無機充填材の含有量は、特に限定されないが、上記樹脂組成物の全固形分中に10重量%〜90重量%であることが好ましく、更に30重量%〜80重量%、より更に50重量%〜75重量%であることが好ましい。上記樹脂組成物中にシアネート樹脂及び/又はそのプレポリマーを含有する場合には、上記無機充填材の含有量は、樹脂組成物の全固形分中に50〜75重量%であることが好ましい。無機充填材含有量が上記上限値を超えると樹脂組成物の流動性が極めて悪くなるため好ましくない場合があり、上記下限値未満であると樹脂組成物からなる絶縁層の強度が十分でなく、好ましくない場合がある。   The content of the inorganic filler is not particularly limited, but it is preferably 10% by weight to 90% by weight, more preferably 30% by weight to 80% by weight, and further 50% by weight in the total solid content of the resin composition. It is preferable that it is -75 weight%. When the resin composition contains a cyanate resin and / or a prepolymer thereof, the content of the inorganic filler is preferably 50 to 75% by weight in the total solid content of the resin composition. If the inorganic filler content exceeds the above upper limit, the fluidity of the resin composition may be extremely poor, which may be undesirable, and if it is less than the lower limit, the strength of the insulating layer made of the resin composition is not sufficient, It may not be preferable.

また、本実施の形態に用いる樹脂組成物は、ゴム成分も配合することができ、例えば、本実施の形態で使用され得るゴム粒子の好ましい例としては、コアシェル型ゴム粒子、架橋アクリロニトリルブタジエンゴム粒子、架橋スチレンブタジエンゴム粒子、アクリルゴム粒子、シリコーン粒子等が挙げられる。   The resin composition used in the present embodiment can also contain a rubber component. For example, preferable examples of the rubber particles that can be used in the present embodiment include core-shell type rubber particles and crosslinked acrylonitrile butadiene rubber particles. Cross-linked styrene butadiene rubber particles, acrylic rubber particles, silicone particles and the like.

コアシェル型ゴム粒子は、コア層とシェル層とを有するゴム粒子であり、例えば、外層のシェル層がガラス状ポリマーで構成され、内層のコア層がゴム状ポリマーで構成される2層構造、または外層のシェル層がガラス状ポリマーで構成され、中間層がゴム状ポリマーで構成され、コア層がガラス状ポリマーで構成される3層構造のもの等が挙げられる。ガラス状ポリマー層は、例えば、メタクリル酸メチルの重合物等で構成され、ゴム状ポリマー層は、例えば、ブチルアクリレート重合物(ブチルゴム)等で構成される。コアシェル型ゴム粒子の具体例としては、スタフィロイドAC3832、AC3816N(商品名、ガンツ化成(株)製)、メタブレンKW−4426(商品名、三菱レイヨン(株)製)が挙げられる。架橋アクリロニトリルブタジエンゴム(NBR)粒子の具体例としては、XER−91(平均粒子径0.5μm、JSR(株)製)等が挙げられる。   The core-shell type rubber particles are rubber particles having a core layer and a shell layer. For example, a two-layer structure in which an outer shell layer is formed of a glassy polymer and an inner core layer is formed of a rubbery polymer, or Examples include a three-layer structure in which the outer shell layer is made of a glassy polymer, the intermediate layer is made of a rubbery polymer, and the core layer is made of a glassy polymer. The glassy polymer layer is made of, for example, a polymer of methyl methacrylate, and the rubbery polymer layer is made of, for example, a butyl acrylate polymer (butyl rubber). Specific examples of the core-shell type rubber particles include Staphyloid AC3832, AC3816N (trade name, manufactured by Ganz Kasei Co., Ltd.), and Metabrene KW-4426 (trade name, manufactured by Mitsubishi Rayon Co., Ltd.). Specific examples of the crosslinked acrylonitrile butadiene rubber (NBR) particles include XER-91 (average particle size: 0.5 μm, manufactured by JSR Corporation).

架橋スチレンブタジエンゴム(SBR)粒子の具体例としては、XSK−500(平均粒子径0.5μm、JSR(株)製)等が挙げられる。アクリルゴム粒子の具体例としては、メタブレンW300A(平均粒子径0.1μm)、W450A(平均粒子径0.2μm)(三菱レイヨン(株)製)等が挙げられる。   Specific examples of the crosslinked styrene butadiene rubber (SBR) particles include XSK-500 (average particle size 0.5 μm, manufactured by JSR Corporation). Specific examples of the acrylic rubber particles include methabrene W300A (average particle size 0.1 μm), W450A (average particle size 0.2 μm) (manufactured by Mitsubishi Rayon Co., Ltd.), and the like.

シリコーン粒子は、オルガノポリシロキサンで形成されたゴム弾性微粒子であれば特に限定されず、例えば、シリコーンゴム(オルガノポリシロキサン架橋エラストマー)そのものからなる微粒子、及び二次元架橋主体のシリコーンからなるコア部を三次元架橋型主体のシリコーンで被覆したコアシェル構造粒子等が挙げられる。シリコーンゴム微粒子としては、KMP−605、KMP−600、KMP−597、KMP−594(信越化学(株)製)、トレフィルE−500、トレフィルE−600(東レ・ダウコーニング(株)製)等の市販品を用いることができる。   The silicone particles are not particularly limited as long as they are rubber elastic fine particles formed of organopolysiloxane. For example, fine particles made of silicone rubber (organopolysiloxane crosslinked elastomer) itself, and a core portion made of silicone mainly composed of two-dimensional crosslinking. Examples thereof include core-shell structured particles coated with silicone mainly composed of a three-dimensional crosslinking type. Examples of the silicone rubber fine particles include KMP-605, KMP-600, KMP-597, KMP-594 (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.), Trefill E-500, Trefil E-600 (manufactured by Toray Dow Corning Co., Ltd.), etc. Commercial products can be used.

上記樹脂組成物には、更にカップリング剤を含有しても良い。カップリング剤は、熱硬化性樹脂と無機充填材との界面の濡れ性を向上させることにより、基材に対して樹脂および無機充填材を均一に定着させ、耐熱性、特に吸湿後の半田耐熱性を改良するために配合する。   The resin composition may further contain a coupling agent. The coupling agent improves the wettability of the interface between the thermosetting resin and the inorganic filler, thereby uniformly fixing the resin and the inorganic filler to the base material, and heat resistance, particularly solder heat resistance after moisture absorption. In order to improve the properties.

上記カップリング剤は、特に限定されないが、例えば、エポキシシランカップリング剤、カチオニックシランカップリング剤、アミノシランカップリング剤、チタネート系カップリング剤、シリコーンオイル型カップリング剤等が挙げられる。これにより、無機充填材の界面との濡れ性を高くすることができ、それによって耐熱性をより向上させることできる。
上記カップリング剤の添加量は、特に限定されないが、無機充填材100重量%に対して0.05〜3重量%が好ましく、特に0.1〜2重量%が好ましい。含有量が前記下限値未満であると無機充填材を十分に被覆できないため耐熱性を向上する効果が低下する場合があり、前記上限値を超えると反応に影響を与え、曲げ強度等が低下する場合がある。
Although the said coupling agent is not specifically limited, For example, an epoxy silane coupling agent, a cationic silane coupling agent, an aminosilane coupling agent, a titanate coupling agent, a silicone oil type coupling agent etc. are mentioned. Thereby, the wettability with the interface of an inorganic filler can be made high, and thereby heat resistance can be improved more.
The addition amount of the coupling agent is not particularly limited, but is preferably 0.05 to 3% by weight, particularly preferably 0.1 to 2% by weight, based on 100% by weight of the inorganic filler. If the content is less than the lower limit, the inorganic filler cannot be sufficiently coated, and thus the effect of improving the heat resistance may be reduced. If the content exceeds the upper limit, the reaction is affected, and the bending strength is reduced. There is a case.

本実施の形態に用いる樹脂組成物には、必要に応じて、消泡剤、レベリング剤、紫外線吸収剤、発泡剤、酸化防止剤、難燃剤、シリコーンパウダー等の難燃助剤、イオン捕捉剤等の上記成分以外の添加物を添加しても良い。   The resin composition used in the present embodiment includes an antifoaming agent, a leveling agent, an ultraviolet absorber, a foaming agent, an antioxidant, a flame retardant, a flame retardant aid such as silicone powder, and an ion scavenger as necessary. You may add additives other than the said components, such as.

上記樹脂組成物は、プリプレグの低線膨張化、高剛性化、及び高耐熱化を実現しやすい点から、少なくともエポキシ樹脂、シアネート樹脂、及び無機充填材を含むことが好ましい。中でも、樹脂組成物の固形分中に、エポキシ樹脂を5〜50重量%、シアネート樹脂を5〜50重量%、及び無機充填材を10〜90重量%含むことが好ましく、更に、エポキシ樹脂を5〜25重量%、シアネート樹脂を10〜25重量%、及び無機充填材を30〜80重量%含むことが好ましい。   The resin composition preferably includes at least an epoxy resin, a cyanate resin, and an inorganic filler from the viewpoint of easily realizing low linear expansion, high rigidity, and high heat resistance of the prepreg. Especially, it is preferable that 5-50 weight% of epoxy resins, 5-50 weight% of cyanate resins, and 10-90 weight% of inorganic fillers are contained in the solid content of the resin composition, It is preferable to contain -25 weight%, 10-25 weight% of cyanate resin, and 30-80 weight% of inorganic fillers.

本実施の形態に用いるプリプレグは、基材に樹脂組成物のワニスを含浸又は塗工してなるものであり、基材としては各種の電気絶縁材料用積層板に用いられている周知のものが使用できる。基材の材質の例としては、Eガラス、Dガラス、Tガラス、Sガラス又はQガラス等の無機物繊維、ポリイミド、ポリエステル又はテトラフルオロエチレン等の有機繊維、及びそれらの混合物等が挙げられる。これらの基材は、例えば織布、不織布、ロービンク、チョップドストランドマット、サーフェシングマット等の形状を有するが、材質及び形状は、目的とする成形物の用途や性能により選択され必要により単独もしくは2種類以上の材質及び形状からの使用が可能である。基材の厚みには特に制限はないが、通常0.01〜0.5mm程度のものを使用し、シランカップリング剤等で表面処理したものや機械的に開繊処理、および扁平化を施したものは耐熱性や耐湿性、加工性の面から好適である。また、プリプレグは、通常、その樹脂含有率が乾燥後で20〜90重量%となるように基材に樹脂を含浸又は塗工し、120〜220℃の温度で1〜20分加熱乾燥し、半硬化状態(Bステージ状態)とすることで得ることができる。さらに、このプリプレグを通常1〜20枚重ね、さらにその両面にキャリア箔付き極薄銅箔を配置した構成で加熱加圧して積層することで、積層板を得ることができる。複数枚のプリプレグ層の厚みは用途によって異なるが、通常0.03〜2mmの厚みのものが良い。積層方法としては通常の積層板の手法が適用でき、例えば多段プレス、多段真空プレス、連続成形、オートクレーブ成形機等を使用し、通常、温度100〜250℃、圧力0.2〜10MPa、加熱時間0.1〜5時間の条件で積層したり、真空ラミネート装置などを用いてラミネート条件50〜150℃、0.1〜5MPa、真空圧1.0〜760mmHgの条件でラミネートすることができる。   The prepreg used in the present embodiment is obtained by impregnating or coating a base material with a varnish of a resin composition. As the base material, well-known ones used for various types of laminates for electrical insulating materials are used. Can be used. Examples of the material of the substrate include inorganic fibers such as E glass, D glass, T glass, S glass, and Q glass, organic fibers such as polyimide, polyester, and tetrafluoroethylene, and mixtures thereof. These base materials have shapes such as woven fabric, non-woven fabric, low-ink, chopped strand mat, surfacing mat, etc., and the material and shape are selected depending on the intended use and performance of the molded product, and can be used alone or as required. It can be used from more than a variety of materials and shapes. The thickness of the substrate is not particularly limited, but usually about 0.01 to 0.5 mm is used, and the surface is treated with a silane coupling agent or the like, or mechanically opened and flattened. These are suitable in terms of heat resistance, moisture resistance and processability. The prepreg is usually impregnated or coated with a resin so that the resin content is 20 to 90% by weight after drying, and heated and dried at a temperature of 120 to 220 ° C. for 1 to 20 minutes. A semi-cured state (B stage state) can be obtained. Furthermore, a laminated board can be obtained by laminating | stacking by heating-pressing by the structure which has piled 1-20 sheets of this prepreg normally, and also arrange | positioned the ultrathin copper foil with a carrier foil on the both surfaces. The thickness of the plurality of prepreg layers varies depending on the application, but a thickness of 0.03 to 2 mm is usually preferable. As a laminating method, a normal laminating method can be applied, for example, using a multistage press, a multistage vacuum press, continuous molding, an autoclave molding machine, etc., usually at a temperature of 100 to 250 ° C., a pressure of 0.2 to 10 MPa, and a heating time. It can laminate | stack on the conditions for 0.1 to 5 hours, or can laminate | stack on the conditions of lamination conditions 50-150 degreeC, 0.1-5 MPa, and vacuum pressure 1.0-760 mmHg using a vacuum laminating apparatus.

また、本実施の形態に用いる、キャリア箔付き極薄銅箔(銅箔層104)は、その極薄箔の粗化面にこぶ状の電着物層(ヤケめっきといわれる。たとえば、特開平5−029740号参照)の形成や酸化処理、還元処理、エッチングなどにより粗化面処理がされている。したがって、本実施の形態に用いる極薄銅箔の粗化面の表面粗さはJIS B0601に示す10点平均粗さ(Rz)の上限値が、5.0μm以下であることが好ましく、2.0μm以下であることがより好ましく、一方、下限値は特に限定されないが、0.1μm以上が好ましい。さらに、算術平均粗さ(Ra)1.0μm以下であることが好ましく、0.5μm以下であることがより好ましい。   Also, the ultrathin copper foil with a carrier foil (copper foil layer 104) used in the present embodiment is said to be a bumpy electrodeposit layer (yake plating) on the roughened surface of the ultrathin foil. Roughening surface treatment is performed by formation, oxidation treatment, reduction treatment, etching, or the like. Therefore, the surface roughness of the roughened surface of the ultrathin copper foil used in the present embodiment preferably has an upper limit of 10-point average roughness (Rz) shown in JIS B0601 of 5.0 μm or less. The lower limit is not particularly limited, but is preferably 0.1 μm or more. Furthermore, the arithmetic average roughness (Ra) is preferably 1.0 μm or less, and more preferably 0.5 μm or less.

また、本実施の形態においては、銅箔層104としては、銅からなる銅箔(製造工程上に不可避に混入する混入物を除く)の他に、ニッケルやアルミなどの添加金属成分を含む銅箔でもよい(この場合、銅の含有量は、特に限定されないが、銅箔層104を構成する全金属成分の重量の合計値に対して、90重量%以上が好ましく、95重量%以上がより好ましく、99重量%以上がさらに好ましい。また、添加金属成分としては、単独でもよいし、複数種併用しても良い)。また、銅箔層104に代えて、ニッケル箔、アルミ箔などの金属箔を用いてもよい。   Further, in the present embodiment, as the copper foil layer 104, copper containing an additive metal component such as nickel or aluminum in addition to copper foil made of copper (excluding contaminants inevitably mixed in the manufacturing process) is used. Foil may be used (in this case, the copper content is not particularly limited, but is preferably 90% by weight or more, more preferably 95% by weight or more based on the total weight of all metal components constituting the copper foil layer 104). It is preferably 99% by weight or more, and the additive metal component may be used alone or in combination of two or more. Further, instead of the copper foil layer 104, a metal foil such as a nickel foil or an aluminum foil may be used.

従来の銅箔の形成方法としては、通常、電極上に30μm程度の膜厚の銅箔をめっき処理により形成していた。しかしながら、この形成方法では、銅箔が下層の金属層(たとえば、電極)の配向性を引き継ぐことがあり、所望の結晶面を有する銅箔を作成することが難しかった。また、銅箔の膜厚が厚いと、たとえば30μm以上であると、厚み方向に向かって結晶粒が粗大化する傾向がある。   As a conventional method for forming a copper foil, a copper foil having a thickness of about 30 μm is usually formed on an electrode by plating. However, in this formation method, the copper foil sometimes takes over the orientation of the lower metal layer (for example, electrode), and it is difficult to produce a copper foil having a desired crystal plane. Moreover, when the film thickness of the copper foil is thick, for example, when it is 30 μm or more, the crystal grains tend to be coarsened in the thickness direction.

これに対して、本実施の形態の銅箔層104の形成方法では、電極上に剥離層を形成し、この剥離層上に銅箔層104を形成している。このため、銅箔層104が下層の電極の配向性を引き継ぐことを抑制できる。言い換えると、剥離層と接する銅箔層104の一面における配向性を適切に制御することにより、銅箔層104の結晶面がレイヤーを構成するので、一面における配向性を他面まで引き継がせることが可能となる。これにより、所望の配向性を有する銅箔層104を形成できる。   In contrast, in the method for forming copper foil layer 104 of the present embodiment, a release layer is formed on the electrode, and copper foil layer 104 is formed on the release layer. For this reason, it can suppress that the copper foil layer 104 takes over the orientation of the lower layer electrode. In other words, by appropriately controlling the orientation on one surface of the copper foil layer 104 in contact with the release layer, the crystal plane of the copper foil layer 104 constitutes a layer, so that the orientation on one surface can be inherited to the other surface. It becomes possible. Thereby, the copper foil layer 104 having a desired orientation can be formed.

銅箔層104の膜厚は、とくに限定されないが、好ましくは0.1μm以上5μm以下であり、より好ましくは0.5μm以上3μm以下である。銅箔層104の膜厚を、こうした範囲内とすることにより、銅箔層104の結晶粒の粒径を揃えることができる。これにより、銅箔層104の膜厚方向において、その配向性が変動することを抑制できる。   The film thickness of the copper foil layer 104 is not particularly limited, but is preferably 0.1 μm or more and 5 μm or less, and more preferably 0.5 μm or more and 3 μm or less. By setting the film thickness of the copper foil layer 104 within such a range, the grain sizes of the crystal grains of the copper foil layer 104 can be made uniform. Thereby, it can suppress that the orientation changes in the film thickness direction of the copper foil layer 104.

以上により、銅箔層104の上面20における配向性を制御することができ、たとえば、銅箔層104の下面22から上面20にかけて、結晶面の比率(すなわち、配向性)を同一、たとえば、XRD薄膜法に測定された面方位(200)の比率、又は面方位(200)および面方位(220)の比率を同一とすることができる。ここでいう同一とは、製造工程上の微差を許容し、例えば、銅箔層104の下面22における面方位(200)の比率が、その上面20における面方位(200)の比率の±5%以内であることを意味する。したがって、XRD薄膜法に測定された銅箔層104の下面22の面方位の比率は、銅箔層104の上面の比率と同等であると言うことができる。   Thus, the orientation on the upper surface 20 of the copper foil layer 104 can be controlled. For example, the ratio of crystal planes (ie, the orientation) is the same from the lower surface 22 to the upper surface 20 of the copper foil layer 104, for example, XRD. The ratio of the plane orientation (200) measured by the thin film method, or the ratio of the plane orientation (200) and the plane orientation (220) can be made the same. Here, the same means that a slight difference in the manufacturing process is allowed. For example, the ratio of the plane orientation (200) on the lower surface 22 of the copper foil layer 104 is ± 5 of the ratio of the plane orientation (200) on the upper surface 20. Means within%. Therefore, it can be said that the ratio of the plane orientation of the lower surface 22 of the copper foil layer 104 measured by the XRD thin film method is equivalent to the ratio of the upper surface of the copper foil layer 104.

また、加熱加圧成形により銅張積層板100を形成した後の銅箔層104の上面20においても、配向性は、加熱加圧成形前の銅箔層(ピーラブルタイプのキャリア箔付き銅箔)の値が維持されている。ここでの加熱加圧成形の条件としては、たとえば、200℃で1h、圧力3MPaとする。このように比率が維持される理由は明確ではないが、銅箔層104の中の結晶粒の平均粒径が小さいこと、この平均粒径が一定程度そろっていること等が推察される。
したがって、後述の銅箔層104のエッチング工程の前後においても、銅箔層104の上面20(すなわち、金属層116(たとえば無電解めっき層110)との接触面)における面方位(200)の比率や、面方位(200)および面方位(220)の比率は同一であるといえる。
In addition, also on the upper surface 20 of the copper foil layer 104 after the copper-clad laminate 100 is formed by heat and pressure molding, the orientation is determined by the copper foil layer (copper foil with peelable carrier foil) before heat and pressure molding. ) Value is maintained. The conditions for the heat and pressure molding here are, for example, 1 hour at 200 ° C. and a pressure of 3 MPa. The reason why the ratio is maintained in this way is not clear, but it is presumed that the average grain size of the crystal grains in the copper foil layer 104 is small and that the average grain size is uniform to a certain extent.
Therefore, the ratio of the plane orientation (200) on the upper surface 20 of the copper foil layer 104 (that is, the contact surface with the metal layer 116 (for example, the electroless plating layer 110)) also before and after the etching process of the copper foil layer 104 described later. Alternatively, it can be said that the ratio of the plane orientation (200) and the plane orientation (220) is the same.

本実施の形態の銅箔層104は、長辺の平均長さが2μm以下の結晶粒を有していることが好ましい。銅箔層104中の結晶粒の形状としては、例えば、柱状、三角錐形状となる。このため、断面視において、銅箔層104の結晶粒の最大の長さを長辺とする。この長辺の平均長さは、FIB−SIM(Focused Ion Beam Scanning Ion Microscope)、またはFIB−SEM(Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope)を用いて約1万〜1万2千倍の間で、縦10μm、横10μmの断面画像から平均を算出し、合計3つの視野画像の平均値として算出する。これにより、銅箔層104のエッチング特性が向上する。   The copper foil layer 104 of the present embodiment preferably has crystal grains having an average long side length of 2 μm or less. The shape of the crystal grains in the copper foil layer 104 is, for example, a columnar shape or a triangular pyramid shape. For this reason, the maximum length of the crystal grains of the copper foil layer 104 is a long side in a cross-sectional view. The average length of this long side is about 10,000 to 10,000 times using FIB-SIM (Focused Ion Beam Scanning Ion Microscope) or FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope). An average is calculated from cross-sectional images of 10 μm and 10 μm in width, and is calculated as an average value of a total of three visual field images. Thereby, the etching characteristics of the copper foil layer 104 are improved.

また、本実施の形態の銅箔層104においては、断面視において、長辺の平均長さが2μm以下の結晶粒が占める面積率が、好ましくは80%以上であり、より好ましくは85%以上であり、さらに好ましくは90%以上である。この面積率は、前記と同様の断面画像の視野を画像処理して、合計3つの視野の平均値として算出する。これにより、銅箔層104のエッチング特性が向上する。   In the copper foil layer 104 of the present embodiment, the area ratio occupied by crystal grains having an average long side length of 2 μm or less in a cross-sectional view is preferably 80% or more, more preferably 85% or more. More preferably, it is 90% or more. This area ratio is calculated as an average value of a total of three fields of view by performing image processing on the field of view of the cross-sectional image as described above. Thereby, the etching characteristics of the copper foil layer 104 are improved.

ここで、銅箔層104に用いるピーラブルタイプの銅箔の詳細な形成方法を説明する。
本実施の形態に用いる銅箔の製造方法としては、特に限定されず、例えば、キャリアを有するピーラブルタイプの銅箔を製造する場合、厚み10〜50μmのキャリア箔上に剥離層となる金属等の無機化合物或いは有機化合物層を形成し、その剥離層上に銅箔をめっき処理により形成する。めっき処理の条件としては、例えば、硫酸銅浴を用いた場合には、硫酸50〜100g/L、銅30〜100g/L、液温20℃〜80℃、電流密度0.5〜100A/dmの条件であり、ピロリン酸銅浴を用いた場合には、ピロリン酸カリウム100〜700g/L、銅10〜50g/L、液温30℃〜60℃、pH8〜12、電流密度1〜10A/dmの条件とすることができる。また、銅箔の物性や平滑性を考慮して、上記浴中に各種添加剤を添加してもよい。なお、ピーラブルタイプの金属箔とは、キャリアを有する金属箔であり、キャリアが引き剥がし可能な金属箔である。
Here, a detailed method of forming a peelable type copper foil used for the copper foil layer 104 will be described.
The method for producing the copper foil used in the present embodiment is not particularly limited. For example, when producing a peelable type copper foil having a carrier, a metal or the like that becomes a release layer on a carrier foil having a thickness of 10 to 50 μm An inorganic compound or organic compound layer is formed, and a copper foil is formed on the release layer by plating. As the conditions for the plating treatment, for example, when a copper sulfate bath is used, sulfuric acid 50 to 100 g / L, copper 30 to 100 g / L, liquid temperature 20 ° C. to 80 ° C., current density 0.5 to 100 A / dm. 2 and when a copper pyrophosphate bath is used, potassium pyrophosphate 100 to 700 g / L, copper 10 to 50 g / L, liquid temperature 30 ° C. to 60 ° C., pH 8 to 12, current density 1 to 10 A / Dm 2 condition. Further, various additives may be added to the bath in consideration of the physical properties and smoothness of the copper foil. Note that the peelable type metal foil is a metal foil having a carrier and is a metal foil that can be peeled off by the carrier.

上記剥離層は、金属物等の無機化合物或いは有機化合物層であり、積層時の100〜300℃の間の熱処理を受けても剥離可能であれば公知のものを用いることができる。金属酸化物としては、例えば、亜鉛、クロム、ニッケル、銅、モリブデン、合金系、金属と金属化合物との混合物が用いられる。有機化合物としては、窒素含有有機化合物、硫黄含有有機化合物及びカルボン酸の中から選択される1種又は2種以上からなるものを用いることが好ましい。   The release layer is an inorganic compound or organic compound layer such as a metal material, and a known layer can be used as long as it can be peeled off even when subjected to heat treatment at 100 to 300 ° C. during lamination. As the metal oxide, for example, zinc, chromium, nickel, copper, molybdenum, an alloy system, or a mixture of a metal and a metal compound is used. As an organic compound, it is preferable to use what consists of 1 type, or 2 or more types selected from a nitrogen-containing organic compound, a sulfur-containing organic compound, and carboxylic acid.

上記窒素含有有機化合物は、置換基を有する窒素含有有機化合物であることが好ましい。具体的には、置換基を有するトリアゾール化合物である1,2,3−ベンゾトリアゾール(以下、「BTA」と称する。)、カルボキシベンゾトリアゾール(以下、「CBTA」と称する。)、N',N'−ビス(ベンゾトリアゾリルメチル)ユリア(以下、「BTD−U」と称する。)、1H−1,2,4−トリアゾール(以下、「TA」と称する。)及び3−アミノ−1H−1,2,4−トリアゾール(以下、「ATA」と称する。)等を用いることが好ましい。   The nitrogen-containing organic compound is preferably a nitrogen-containing organic compound having a substituent. Specifically, 1,2,3-benzotriazole (hereinafter referred to as “BTA”), carboxybenzotriazole (hereinafter referred to as “CBTA”), which is a triazole compound having a substituent, N ′, N '-Bis (benzotriazolylmethyl) urea (hereinafter referred to as “BTD-U”), 1H-1,2,4-triazole (hereinafter referred to as “TA”) and 3-amino-1H— It is preferable to use 1,2,4-triazole (hereinafter referred to as “ATA”) or the like.

硫黄含有有機化合物としては、メルカプトベンゾチアゾール(以下、「MBT」と称する。)、チオシアヌル酸(以下、「TCA」と称する。)及び2−ベンズイミダゾールチオール(以下、「BIT」と称する)等を用いることが好ましい。   Examples of the sulfur-containing organic compound include mercaptobenzothiazole (hereinafter referred to as “MBT”), thiocyanuric acid (hereinafter referred to as “TCA”), 2-benzimidazolethiol (hereinafter referred to as “BIT”), and the like. It is preferable to use it.

カルボン酸としては、特にモノカルボン酸を用いることが好ましく、中でもオレイン酸、リノール酸及びリノレイン酸等を用いることが好ましい。   As the carboxylic acid, it is particularly preferable to use a monocarboxylic acid, and it is particularly preferable to use oleic acid, linoleic acid, linolenic acid, or the like.

以上のように、電解密度を高くしたり、膜厚を薄くしたりする等、製法を適切に制御することにより、本実施の形態の銅箔層104の上面20において、所望の配向性を実現することができる。   As described above, a desired orientation is realized on the upper surface 20 of the copper foil layer 104 of the present embodiment by appropriately controlling the manufacturing method such as increasing the electrolytic density or reducing the film thickness. can do.

また、本実施の形態に用いる銅箔層104の少なくとも下面22(絶縁層102の一面と接する面)には、銅箔層104と絶縁層102との密着性を実用レベルもしくはそれ以上とするために表面処理が施されていてもよい。銅箔層104に用いる金属箔に対する粗し処理としては、例えば、防錆処理、クロメート処理、シランカップリング処理のいずれか、もしくはこれらの組み合わせなどが挙げられる。絶縁層102を構成する樹脂材料に合わせて、適切にいずれの表面処理手段を選択することができる。   Further, at least the lower surface 22 (the surface in contact with one surface of the insulating layer 102) of the copper foil layer 104 used in this embodiment is used to make the adhesion between the copper foil layer 104 and the insulating layer 102 at a practical level or higher. The surface treatment may be performed. Examples of the roughening treatment for the metal foil used for the copper foil layer 104 include rust prevention treatment, chromate treatment, silane coupling treatment, or a combination thereof. Any surface treatment means can be appropriately selected in accordance with the resin material constituting the insulating layer 102.

上記防錆処理は、例えば、ニッケル、錫、亜鉛、クロム、モリブデン、コバルトなどの金属のいずれか、若しくはそれらの合金を、スパッタや電気めっき、無電解めっきにより金属箔上に薄膜形成することで施すことができる。コストの面からは電気めっきが好ましい。金属イオンの析出を容易にするためにクエン酸塩、酒石酸塩、スルファミン酸等の錯化剤を必要量添加することも出来る。めっき液は、通常酸性領域で用い、室温(たとえば、25℃)〜80℃の温度で行う。めっき条件は、電流密度0.1〜10A/dm、通電時間1〜60秒、好ましくは1〜30秒の範囲から適宜選択する。防錆処理金属の量は、金属の種類によって異なるが、合計で10〜2000μg/dmが好適である。防錆処理が厚すぎるとエッチング阻害と電気特性の低下を引き起こし、薄すぎると樹脂とのピール強度低下の要因となりうる。 The rust prevention treatment is performed by forming a thin film on a metal foil by sputtering, electroplating, or electroless plating, for example, any one of metals such as nickel, tin, zinc, chromium, molybdenum, and cobalt, or an alloy thereof. Can be applied. From the viewpoint of cost, electroplating is preferable. In order to facilitate the precipitation of metal ions, a complexing agent such as citrate, tartrate or sulfamic acid can be added in the required amount. The plating solution is usually used in an acidic region and is performed at a temperature of room temperature (for example, 25 ° C.) to 80 ° C. The plating conditions are appropriately selected from the range of current density of 0.1 to 10 A / dm 2 , energization time of 1 to 60 seconds, preferably 1 to 30 seconds. The amount of the rust-proofing metal varies depending on the type of metal, but is preferably 10 to 2000 μg / dm 2 in total. If the rust preventive treatment is too thick, it may cause etching inhibition and deterioration of electrical characteristics, and if it is too thin, it may cause a reduction in peel strength with the resin.

また、絶縁層102を構成する樹脂組成物中にシアネート樹脂を含む場合には、防錆処理がニッケルを含む金属により行われていることが好ましい。この組み合わせにおいては、耐熱劣化試験や耐湿劣化試験におけるピール強度の低下が少なく有用である。   Moreover, when cyanate resin is contained in the resin composition which comprises the insulating layer 102, it is preferable that the antirust process is performed with the metal containing nickel. This combination is useful in that there is little reduction in peel strength in the heat resistance deterioration test and moisture resistance deterioration test.

上記クロメート処理として、好ましくは六価クロムイオンを含む水溶液を用いる。クロメート処理は単純な浸漬処理でも可能であるが、好ましくは陰極処理で行う。重クロム酸ナトリウム0.1〜50g/L、pH1〜13、浴温0〜60℃、電流密度0.1〜5A/dm、電解時間0.1〜100秒の条件で行うことが好ましい。重クロム酸ナトリウムの代わりにクロム酸或いは重クロム酸カリウムを用いて行うことも出来る。また、上記クロメート処理は上記防錆処理上に重ねて施すことが好ましい。これにより、絶縁樹脂組成物層(絶縁層102)と金属箔(銅箔層104)との密着性をより向上させることができる。 As the chromate treatment, an aqueous solution containing hexavalent chromium ions is preferably used. The chromate treatment can be performed by a simple immersion treatment, but is preferably performed by a cathode treatment. It is preferable to carry out under the conditions of sodium dichromate 0.1-50 g / L, pH 1-13, bath temperature 0-60 ° C., current density 0.1-5 A / dm 2 , and electrolysis time 0.1-100 seconds. It can also carry out using chromic acid or potassium dichromate instead of sodium dichromate. Further, the chromate treatment is preferably performed on the rust preventive treatment. Thereby, the adhesiveness of an insulating resin composition layer (insulating layer 102) and metal foil (copper foil layer 104) can be improved more.

上記シランカップリング処理に用いるシランカップリング剤としては、例えば、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン等のエポキシ官能性シラン、3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン等のアミノ官能性シラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルフェニルトリメトキシシラン、ビニルトリス(2−メトキシエトキシ)シラン等のオレフィン官能性シラン、3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン等のアクリル官能性シラン、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン等のメタクリル官能性シラン、3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン等のメルカプト官能性シランなどが用いられる。これらは単独で用いても良いし、複数を混合して用いても良い。これらのカップリング剤は水などの溶媒に0.1〜15g/Lの濃度で溶解させて用い、得られた溶液を室温〜50℃の温度で金属箔に塗布または電着させることで、金属箔にシランカップリング剤を吸着させる。これらのシランカップリング剤が金属箔表面の防錆処理金属の水酸基と縮合結合することで、金属箔上に被膜が形成される。シランカップリング処理後は、加熱、紫外線照射等によって、かかる結合を安定的にさせる。加熱処理においては、たとえば、100〜200℃の温度、2〜60秒の乾燥を行うことが好ましい。紫外線照射は、例えば、波長200〜400nm、200〜2500mJ/cmの範囲で行うことが好ましい。また、シランカップリング処理は金属箔の最外層に行うことが好ましい。絶縁層102を構成する絶縁樹脂組成物中にシアネート樹脂を含む場合には、アミノシラン系のカップリング剤で処理されていることが好ましい。この組み合わせは、耐熱劣化試験や耐湿劣化試験におけるピール強度の低下が少なく有用である。 Examples of the silane coupling agent used for the silane coupling treatment include epoxy-functional silanes such as 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane and 2- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, and 3-amino. Amino-functional silanes such as propyltrimethoxysilane, N-2- (aminoethyl) 3-aminopropyltrimethoxysilane, N-2- (aminoethyl) 3-aminopropylmethyldimethoxysilane, vinyltrimethoxysilane, vinylphenyl Olefin-functional silanes such as trimethoxysilane and vinyltris (2-methoxyethoxy) silane, acrylic-functional silanes such as 3-acryloxypropyltrimethoxysilane, and methacryl-functional silanes such as 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 3 − And mercapto-functional silanes such as Le mercaptopropyl trimethoxysilane is used. These may be used alone or in combination. These coupling agents are used by dissolving in a solvent such as water at a concentration of 0.1 to 15 g / L, and applying the obtained solution to a metal foil at a temperature of room temperature to 50 ° C. Adsorb the silane coupling agent on the foil. A coating film is formed on the metal foil by these silane coupling agents being condensed and bonded to the hydroxyl group of the rust-preventing metal on the surface of the metal foil. After the silane coupling treatment, such bonding is stabilized by heating, ultraviolet irradiation or the like. In the heat treatment, for example, it is preferable to perform drying at a temperature of 100 to 200 ° C. for 2 to 60 seconds. The ultraviolet irradiation is preferably performed, for example, in a wavelength range of 200 to 400 nm and 200 to 2500 mJ / cm 2 . The silane coupling treatment is preferably performed on the outermost layer of the metal foil. When the insulating resin composition constituting the insulating layer 102 contains a cyanate resin, it is preferably treated with an aminosilane-based coupling agent. This combination is useful with little reduction in peel strength in heat and moisture resistance tests.

また、シランカップリング処理に用いるシランカップリング剤としては、好ましくは60〜200℃、より好ましくは80〜150℃の加熱により、絶縁層102を構成する絶縁樹脂組成物と化学反応するものであることが好ましい。これによれば、上記絶縁樹脂組成物中の官能基とシランカップリング剤の官能基が化学反応し、より優れた密着性を得ることが可能となる。例えば、エポキシ基が含まれる絶縁樹脂組成物に対しては、アミノ官能性シランを含むシランカップリング剤を用いることが好ましい。これは、熱によりエポキシ基とアミノ基が容易に強固な化学結合を形成し、この結合が熱や水分に対して極めて安定であることに起因する。このように化学結合を形成する組み合わせとして、エポキシ基−アミノ基、エポキシ基−エポキシ基、エポキシ基−メルカプト基、エポキシ基−水酸基、エポキシ基−カルボキシル基、エポキシ基−シアナト基、アミノ基−水酸基、アミノ基−カルボキシル基、アミノ基−シアナト基などが例示される。   Moreover, as a silane coupling agent used for a silane coupling process, Preferably it reacts with the insulating resin composition which comprises the insulating layer 102 by heating at 60-200 degreeC, More preferably, 80-150 degreeC. It is preferable. According to this, the functional group in the said insulating resin composition and the functional group of a silane coupling agent react chemically, and it becomes possible to obtain the more excellent adhesiveness. For example, it is preferable to use a silane coupling agent containing an amino-functional silane for an insulating resin composition containing an epoxy group. This is because the epoxy group and amino group easily form a strong chemical bond by heat, and this bond is extremely stable against heat and moisture. As a combination for forming a chemical bond in this manner, epoxy group-amino group, epoxy group-epoxy group, epoxy group-mercapto group, epoxy group-hydroxyl group, epoxy group-carboxyl group, epoxy group-cyanato group, amino group-hydroxyl group , Amino group-carboxyl group, amino group-cyanato group and the like.

また、本実施の形態に用いる絶縁樹脂組成物の絶縁樹脂として、常温で液状のエポキシ樹脂を用いることが好ましく、この場合、溶融時の粘度が大幅に低下するため、接着界面における濡れ性が向上し、エポキシ樹脂とシランカップリング剤の化学反応が起こりやすくなり、その結果、強固なピール強度が得られる。具体的にはエポキシ当量200程度のビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂が好ましい。   In addition, it is preferable to use an epoxy resin that is liquid at room temperature as the insulating resin of the insulating resin composition used in this embodiment, and in this case, the viscosity at the time of melting is greatly reduced, so that the wettability at the adhesive interface is improved. In addition, a chemical reaction between the epoxy resin and the silane coupling agent is likely to occur, and as a result, a strong peel strength can be obtained. Specifically, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, and phenol novolac type epoxy resin having an epoxy equivalent of about 200 are preferable.

また、絶縁樹脂組成物が硬化剤を含む場合、硬化剤としては、特に加熱硬化型潜在性硬化剤を用いることが好ましい。すなわち、絶縁樹脂組成物中の官能基とシランカップリング剤の官能基が化学反応する場合は、絶縁樹脂組成物中の官能基とシランカップリング剤の官能基の反応温度が絶縁樹脂組成物の硬化反応が開始される温度より低くなるように硬化剤を選択することが好ましい。これにより、絶縁樹脂組成物中の官能基とシランカップリング剤の官能基の反応が優先的、選択的に行われ、金属箔(銅箔層104)と絶縁樹脂組成物層(絶縁層102)の密着性がより高くなる。エポキシ樹脂を含む絶縁樹脂組成物に対する熱硬化型潜在性硬化剤としては、例えば、ジシアンジアミド、ジヒドラジド化合物、イミダゾール化合物、アミン−エポキシアダクトなどの固体分散−加熱溶解型硬化剤や尿素化合物、オニウム塩類、ボロントリクロライド・アミン塩類、ブロックカルボン酸化合物などの反応性基ブロック型硬化剤が挙げられる。   Moreover, when the insulating resin composition contains a curing agent, it is particularly preferable to use a thermosetting latent curing agent as the curing agent. That is, when the functional group in the insulating resin composition and the functional group of the silane coupling agent chemically react, the reaction temperature of the functional group in the insulating resin composition and the functional group of the silane coupling agent is the same as that of the insulating resin composition. It is preferable to select the curing agent so that it is lower than the temperature at which the curing reaction is initiated. Thereby, the reaction between the functional group in the insulating resin composition and the functional group of the silane coupling agent is preferentially and selectively performed, and the metal foil (copper foil layer 104) and the insulating resin composition layer (insulating layer 102) The adhesion of becomes higher. As the thermosetting latent curing agent for the insulating resin composition containing an epoxy resin, for example, dicyandiamide, dihydrazide compound, imidazole compound, amine-epoxy adduct and other solid dispersion-heat dissolution type curing agent, urea compound, onium salts, Examples thereof include reactive group block type curing agents such as boron trichloride / amine salts and block carboxylic acid compounds.

以上のような絶縁樹脂組成物を含有するプリプレグと、粗化面が微細で均一な粗し処理され、なおかつ上記表面処理が施されたキャリア箔付き極薄銅箔とを前述の方法により積層一体化することで、図7(a)に示すような、キャリア箔付き銅張積層板10を得ることができる。続いて、図7(b)に示すように、このキャリア箔層106を引きはがすことにより、銅箔層104を絶縁層102の両面に有する銅張積層板100が得られる。このとき、キャリア箔層106の銅箔の表面と対向する面(すなわち、銅箔と接触する表面)のRaの上限値は、1.0μm以下であることが好ましく、0.4μm以下であることがより好ましく、0.2μm以下であることが特に好ましい。Raの下限値は特に限定されないが、0.05以上が好ましい。一方、その表面におけるRzの上限値は、4.0μm以下であることが好ましく、2.0μm以下であることがより好ましく、1.0μm以下であることが特に好ましい。Rzの下限値は特に限定されないが、0.1μm以上が好ましい。なお、この態様に限定されず、銅箔層104は、絶縁層102の少なくとも一面に形成されていればよく、また、絶縁層102の全面または一部に形成されていてもよい。   The prepreg containing the insulating resin composition as described above and the ultrathin copper foil with carrier foil that has been subjected to the roughening treatment with a fine and uniform roughened surface and the above-mentioned surface treatment are laminated and integrated by the above-described method. By making it, the copper clad laminated board 10 with carrier foil as shown to Fig.7 (a) can be obtained. Subsequently, as shown in FIG. 7 (b), the carrier-clad laminate 106 having the copper foil layer 104 on both surfaces of the insulating layer 102 is obtained by peeling off the carrier foil layer 106. At this time, the upper limit value of Ra of the surface of the carrier foil layer 106 facing the surface of the copper foil (that is, the surface in contact with the copper foil) is preferably 1.0 μm or less, and is 0.4 μm or less. Is more preferable and 0.2 μm or less is particularly preferable. The lower limit of Ra is not particularly limited, but is preferably 0.05 or more. On the other hand, the upper limit value of Rz on the surface is preferably 4.0 μm or less, more preferably 2.0 μm or less, and particularly preferably 1.0 μm or less. The lower limit value of Rz is not particularly limited, but is preferably 0.1 μm or more. Note that the present invention is not limited thereto, and the copper foil layer 104 may be formed on at least one surface of the insulating layer 102 or may be formed on the entire surface or a part of the insulating layer 102.

本実施の形態では、こうしたキャリア箔表面の粗さを小さくすること、及び又はバルク銅の結晶粒も小さくかつ均一にすること、及び又はこぶも小さくかつ均一にすることなど製法を適切に制御することにより、本実施の形態の絶縁層102の一面30におけるRpおよびRkuを上記範囲内とすることができる。   In the present embodiment, the manufacturing method is appropriately controlled such as reducing the roughness of the surface of the carrier foil and / or making the bulk copper crystal grains small and uniform and / or making the bumps small and uniform. Thus, Rp and Rku on one surface 30 of the insulating layer 102 of the present embodiment can be within the above range.

次いで、図7(c)に示すように、銅張積層板100に層間接続用の貫通孔108を形成する。貫通孔108を形成する方法は、各種の公知の手段を用いることができるが、たとえば、孔径が100μm以上の貫通孔108を形成する場合には、生産性の観点から、ドリル等を用いる手段が適しており、100μm以下の貫通孔108を形成する場合には、炭酸ガスやエキシマ等の気体レーザーやYAG等の固体レーザーを用いる手段が適している。   Next, as shown in FIG. 7C, a through hole 108 for interlayer connection is formed in the copper clad laminate 100. Various known means can be used as a method of forming the through hole 108. For example, when forming the through hole 108 having a hole diameter of 100 μm or more, means using a drill or the like is used from the viewpoint of productivity. In order to form the through-hole 108 of 100 μm or less, means using a gas laser such as carbon dioxide or excimer, or a solid laser such as YAG is suitable.

次いで、少なくとも銅箔層104上に触媒核を付与することもできるが、本実施の形態では、銅箔層104の全面上および貫通孔108の内壁面上に触媒核を付与する。この触媒核としては、特に限定されないが、例えば、貴金属イオンやパラジウムコロイドを用いることができる。引き続き、この触媒核を核として無電解めっき層を形成するが、この無電解めっき処理前に、銅箔層104や貫通孔108の表面上に対して、例えば薬液によるスミア除去等を行っても良い。デスミア処理としては、特に限定されず、有機物分解作用を有する酸化剤溶液等を使用した湿式法、及び対象物となるものに直接酸化作用の強い活性種(プラズマ、ラジカル等)を照射して有機物残渣を除去するプラズマ法等の乾式法等の公知の方法を用いることができる。湿式法のデスミア処理としては、具体的には、樹脂表面の膨潤処理を施した後、アルカリ処理によりエッチングを行い、続いて中和処理を行う方法等が挙げられる。   Next, at least catalyst nuclei can be provided on the copper foil layer 104, but in this embodiment, catalyst nuclei are provided on the entire surface of the copper foil layer 104 and on the inner wall surface of the through hole 108. The catalyst nucleus is not particularly limited. For example, a noble metal ion or palladium colloid can be used. Subsequently, an electroless plating layer is formed using this catalyst nucleus as a nucleus. Before the electroless plating treatment, for example, smear removal with a chemical solution or the like may be performed on the surface of the copper foil layer 104 or the through hole 108. good. The desmear treatment is not particularly limited, and is a wet method using an oxidant solution having an organic substance decomposing action, and an organic substance by irradiating a target object with an active species (plasma, radical, etc.) having a strong oxidizing action directly. A known method such as a dry method such as a plasma method for removing the residue can be used. Specific examples of the wet desmear treatment include a method in which the resin surface is subjected to a swelling treatment, etched by an alkali treatment, and then subjected to a neutralization treatment.

次いで、図7(d)に示すように、触媒核を付与した銅箔層104上および貫通孔108の内壁上に、無電解めっき処理により薄層の無電解めっき層110を形成する。この無電解めっき層110は、絶縁層102の上面上の銅箔層104とその下面上の銅箔層104とを電気的に接続している。無電解めっきには、例えば、硫酸銅、ホルマリン、錯化剤、水酸化ナトリウム等を含むものを用いる事ができる。なお、無電解めっき後に、100〜250℃の加熱処理を施し、めっき被膜を安定化させることが好ましい。120〜180℃の加熱処理が酸化を抑制できる被膜を形成できる点で、特に好ましい。また、無電解めっき層110の平均厚さは、次の電気めっきが行うことができる厚さであればよく、例えば、0.1〜1μm程度で十分である。また、貫通孔108の内部は、導電ペースト、又は絶縁ペーストを充填してもよいし、電気パターンめっきで充填してもよい。   Next, as shown in FIG. 7D, a thin electroless plating layer 110 is formed on the copper foil layer 104 provided with catalyst nuclei and on the inner wall of the through hole 108 by electroless plating. The electroless plating layer 110 electrically connects the copper foil layer 104 on the upper surface of the insulating layer 102 and the copper foil layer 104 on the lower surface thereof. For electroless plating, for example, one containing copper sulfate, formalin, complexing agent, sodium hydroxide or the like can be used. In addition, it is preferable to heat-process 100-250 degreeC after electroless plating, and to stabilize a plating film. A heat treatment at 120 to 180 ° C. is particularly preferable in that a film capable of suppressing oxidation can be formed. Moreover, the average thickness of the electroless plating layer 110 should just be the thickness which can perform the following electroplating, for example, about 0.1-1 micrometer is enough. Further, the inside of the through hole 108 may be filled with a conductive paste or an insulating paste, or may be filled with electric pattern plating.

次いで、図7(e)に示すように、銅箔層104上に設けられた無電解めっき層110上に所定の開口パターンを有するレジスト層112を形成する。この開口パターンは、後述の導電回路パターンに相当する。このため、レジスト層112は銅箔層104上の非回路形成領域を覆うように設けられている。言い換えると、レジスト層112は、貫通孔108上と銅箔層104上の導体回路形成領域には形成されていない。レジスト層112としては、特に限定されず、公知の材料を用いることができるが、液状およびドライフィルムを用いることができる。微細配線形成の場合には、レジスト層112としては、感光性ドライフィルム等を用いることが好ましい。レジスト層112を形成するには、例えば、無電解めっき層110上に感光性ドライフィルムを積層し、非回路形成領域を露光して光硬化させ、未露光部を現像液で溶解、除去する。なお、残存する硬化した感光性ドライフィルムが、レジスト層112となる。レジスト層112の厚さは、その後めっきする導体(めっき層114)の厚さと同程度かより厚い膜厚にするのが好適である。   Next, as shown in FIG. 7E, a resist layer 112 having a predetermined opening pattern is formed on the electroless plating layer 110 provided on the copper foil layer 104. This opening pattern corresponds to a conductive circuit pattern described later. Therefore, the resist layer 112 is provided so as to cover the non-circuit formation region on the copper foil layer 104. In other words, the resist layer 112 is not formed in the conductive circuit formation region on the through hole 108 and the copper foil layer 104. The resist layer 112 is not particularly limited, and a known material can be used, but liquid and dry films can be used. In the case of forming fine wiring, it is preferable to use a photosensitive dry film or the like as the resist layer 112. In order to form the resist layer 112, for example, a photosensitive dry film is laminated on the electroless plating layer 110, the non-circuit formation region is exposed and photocured, and the unexposed portion is dissolved and removed with a developer. The remaining cured photosensitive dry film becomes the resist layer 112. It is preferable that the thickness of the resist layer 112 be equal to or greater than the thickness of the conductor (plating layer 114) to be subsequently plated.

次いで、図8(a)に示すように、少なくともレジスト層112の開口パターン内部かつ無電解めっき層110上に、電気めっき処理によりめっき層114を形成する。このとき銅箔層104は給電層として働く。本実施の形態では、絶縁層102の上面、貫通孔108の内壁及びその下面に亘って、連続してめっき層114が設けられていてもよい。こうした電気めっきとしては、特に限定されないが、通常のプリント配線板で用いられる公知の方法を使用することができ、例えば、硫酸銅等のめっき液中に浸漬させた状態で、かかるめっき液に電流を流す等の方法を使用することができる。めっき層114の厚さは、特に限定されないが、回路導体として使用できればよく、例えば、1〜100μmの範囲であることが好ましく、5〜50μmの範囲であることがより好ましい。めっき層114は単層でもよく多層構造を有していてもよい。めっき層114の材料としては、特に限定されないが、例えば、銅、銅合金、42合金、ニッケル、鉄、クロム、タングステン、金、半田などを用いることができる、   Next, as shown in FIG. 8A, a plating layer 114 is formed by electroplating at least inside the opening pattern of the resist layer 112 and on the electroless plating layer 110. At this time, the copper foil layer 104 serves as a power feeding layer. In the present embodiment, the plating layer 114 may be provided continuously over the upper surface of the insulating layer 102, the inner wall of the through hole 108, and the lower surface thereof. Such electroplating is not particularly limited, but a known method used in ordinary printed wiring boards can be used. For example, in a state where the plating solution is immersed in a plating solution such as copper sulfate, an electric current is supplied to the plating solution. A method such as flowing a stream can be used. The thickness of the plating layer 114 is not particularly limited as long as it can be used as a circuit conductor. For example, it is preferably in the range of 1 to 100 μm, and more preferably in the range of 5 to 50 μm. The plating layer 114 may be a single layer or may have a multilayer structure. The material of the plating layer 114 is not particularly limited, and for example, copper, copper alloy, 42 alloy, nickel, iron, chromium, tungsten, gold, solder, and the like can be used.

次いで、図8(b)に示すように、アルカリ性剥離液や硫酸又は市販のレジスト剥離液等を用いてレジスト層112を除去する。   Next, as shown in FIG. 8B, the resist layer 112 is removed using an alkaline stripping solution, sulfuric acid, a commercially available resist stripping solution, or the like.

次いで、図8(c)に示すように、めっき層114が形成されている領域以外の無電解めっき層110および銅箔層104を除去する。この銅箔層104を除去する手法は、例えば、ソフトエッチング(フラッシュエッチング)等を用いる。これにより、銅箔層104及び金属層116(無電解めっき層110及びめっき層114)が積層して構成される導電回路118のパターンを形成することができる。   Next, as shown in FIG. 8C, the electroless plating layer 110 and the copper foil layer 104 other than the region where the plating layer 114 is formed are removed. As a technique for removing the copper foil layer 104, for example, soft etching (flash etching) or the like is used. Thereby, the pattern of the conductive circuit 118 comprised by laminating | stacking the copper foil layer 104 and the metal layer 116 (the electroless-plating layer 110 and the plating layer 114) can be formed.

第2の実施の形態のプリント配線板200の導電回路118の断面形状としては、図9に示すように、通常の矩形形状の他にも、図9(a)に示す逆テーパ形状、図9(b)に示すかまぼこ形状、又は図9(c)に示すくびれ形状のいずれでもよい。   As the cross-sectional shape of the conductive circuit 118 of the printed wiring board 200 of the second embodiment, as shown in FIG. 9, in addition to the normal rectangular shape, the reverse tapered shape shown in FIG. Either the kamaboko shape shown in (b) or the constricted shape shown in FIG.

ここで、本実施の形態のソフトエッチングに用いるエッチング液について以下説明する。エッチング液としては、特に限定されないが、従来の拡散律速タイプのエッチング液を用いた場合、配線の微細な部分はどうしても液の交換が悪くなるため回路形成性が悪化してしまう傾向がある。このため、エッチング液は、銅とエッチング液の反応が拡散律速ではなく、反応律速で進行するタイプを用いることが望ましい。銅とエッチング液の反応が反応律速であれば、拡散をそれ以上強めたとしてもエッチング速度は変わらない。即ち液交換の良い場所と悪い場所でのエッチング速度差が生じない。このような反応律速エッチング液としては、例えば、過酸化水素とハロゲン元素を含まない酸とを主成分とするものが挙げられる。酸化剤として過酸化水素を用いるので、その濃度を管理することで厳密なエッチング速度制御が可能になる。尚、エッチング液にハロゲン元素が混入すると、溶解反応が拡散律速になりやすい。ハロゲンを含まない酸としては、硝酸、硫酸、有機酸等が使用できるが、硫酸であることが安価で好ましい。更に硫酸と過酸化水素が主成分である場合には、それぞれの濃度を5〜300g/L,5〜200g/Lとする事がエッチング速度、液の安定性の面から好ましい。例えば、過硫酸アンモニウム、過硫酸ナトリウム、過硫酸ソーダ系などが挙げられる。   Here, the etching solution used for the soft etching of this embodiment will be described below. The etching solution is not particularly limited. However, when a conventional diffusion-controlled etching solution is used, circuit formation tends to be deteriorated because the exchange of the solution is inevitably worsened for fine portions of the wiring. For this reason, it is desirable to use an etching solution in which the reaction between copper and the etching solution proceeds not at a diffusion rate but at a reaction rate. If the reaction between copper and the etchant is reaction-controlled, the etching rate does not change even if diffusion is further increased. That is, there is no difference in etching rate between a place where the liquid exchange is good and a place where the liquid exchange is bad. As such a reaction-limited etching solution, for example, one containing hydrogen peroxide and an acid not containing a halogen element as main components can be mentioned. Since hydrogen peroxide is used as the oxidizing agent, strict etching rate control becomes possible by managing the concentration. If a halogen element is mixed in the etching solution, the dissolution reaction tends to be diffusion-limited. As the acid not containing halogen, nitric acid, sulfuric acid, organic acid, and the like can be used, but sulfuric acid is preferable because it is inexpensive. Furthermore, when sulfuric acid and hydrogen peroxide are the main components, the respective concentrations are preferably 5 to 300 g / L and 5 to 200 g / L from the viewpoints of etching rate and liquid stability. Examples thereof include ammonium persulfate, sodium persulfate, and sodium persulfate.

このように、銅箔層104のエッチング特性やエッチング条件を適切に選択することにより、所望の形状の導電回路118が得られる。以上により、絶縁層102の両面に導電回路118が形成されたプリント配線板200が得られる。また、第2の実施の形態のプリント配線板200の製造方法においても、第1の実施の形態と同様の作用効果が得られる。   Thus, the conductive circuit 118 having a desired shape can be obtained by appropriately selecting the etching characteristics and etching conditions of the copper foil layer 104. As described above, the printed wiring board 200 in which the conductive circuit 118 is formed on both surfaces of the insulating layer 102 is obtained. In addition, in the method for manufacturing the printed wiring board 200 of the second embodiment, the same effects as those of the first embodiment can be obtained.

なお、図8(d−1)に示すように、絶縁層102上および導電回路118の一部を覆うようにソルダーレジスト層120を形成してもよい。ソルダーレジスト層120としては、例えば、絶縁性に優れた、フィラー、または基材を含んでも良く、感光性樹脂、熱硬化性樹脂、及び熱可塑性樹脂等の耐熱性樹脂組成物を用いる。次いで、ソルダーレジスト層120の開口部が設けられている導電回路118上に、第1のめっき層122および第2のめっき層124を更に形成してもよい。これにより、金属層116を2以上の多層構造としてもよい。これらの第1のめっき層122および第2のめっき層124としては、金めっき層を採用することができる。金めっきの方法としては、従来公知の方法でよく、特に限定されないが、例えば、めっき層114上に、無電解ニッケルめっきを0.1〜10μm程度行い、置換金めっきを0.01〜0.5μm程度行った後に無電解金めっきを0.1〜2μm程度行うなどの方法がある。以上により、図8(d−1)に示すプリント配線板202が得られる。
また、図8(d−2)に示すように、ソルダーレジスト層120を形成せずに、導電回路118の周囲に、第1のめっき層122および第2のめっき層124を形成してもよい。これらの第1のめっき層122および第2のめっき層124としては、例えば、ニッケルめっき層および金めっき層の積層体を採用してもよい。以上により、図8(d−2)に示すプリント配線板204が得られる。
As shown in FIG. 8D-1, a solder resist layer 120 may be formed so as to cover the insulating layer 102 and part of the conductive circuit 118. As the solder resist layer 120, for example, a filler or a substrate excellent in insulating properties may be included, and a heat resistant resin composition such as a photosensitive resin, a thermosetting resin, and a thermoplastic resin is used. Next, the first plating layer 122 and the second plating layer 124 may be further formed on the conductive circuit 118 provided with the opening of the solder resist layer 120. Thereby, the metal layer 116 may have a multilayer structure of two or more. As the first plating layer 122 and the second plating layer 124, a gold plating layer can be adopted. The gold plating method may be a conventionally known method, and is not particularly limited. For example, electroless nickel plating is performed on the plating layer 114 at about 0.1 to 10 μm, and displacement gold plating is performed at 0.01 to 0.00 mm. There is a method of performing electroless gold plating about 0.1 to 2 μm after about 5 μm. Thus, the printed wiring board 202 shown in FIG. 8D-1 is obtained.
Further, as shown in FIG. 8D-2, the first plating layer 122 and the second plating layer 124 may be formed around the conductive circuit 118 without forming the solder resist layer 120. . As these 1st plating layer 122 and 2nd plating layer 124, you may employ | adopt the laminated body of a nickel plating layer and a gold plating layer, for example. Thus, the printed wiring board 204 shown in FIG. 8D-2 is obtained.

また、これらのプリント配線板200、202、及び204上に不図示の半導体チップを実装して、半導体装置を得ることができる。   Also, a semiconductor device (not shown) can be mounted on these printed wiring boards 200, 202, and 204 to obtain a semiconductor device.

(第3の実施の形態)
次に、第3の実施の形態のプリント配線板の製造方法について説明する。
図10〜図12は、第3の実施の形態のプリント配線板の製造方法の製造工程の手順を示す断面図である。第3の実施の形態のプリント配線板の製造方法は、たとえば、第2の実施の形態で得られたプリント配線板200、202、及び204を内層回路基板として用い、この内層回路基板上にビルドアップ層をさらに形成するものである。
(Third embodiment)
Next, the manufacturing method of the printed wiring board of 3rd Embodiment is demonstrated.
FIGS. 10-12 is sectional drawing which shows the procedure of the manufacturing process of the manufacturing method of the printed wiring board of 3rd Embodiment. The printed wiring board manufacturing method of the third embodiment uses, for example, the printed wiring boards 200, 202, and 204 obtained in the second embodiment as inner layer circuit boards, and builds on the inner layer circuit boards. An up layer is further formed.

まず、内層回路基板として、図8(c)で得たプリント配線板200を採用する。このプリント配線板200の内層回路(導電回路118)に対して、粗化処理を施す。ここで、粗化処理とは、導体回路表面に薬液処理、およびプラズマ処理等を実施することを意味する。粗化処理としては、例えば、酸化還元を利用した黒化処理、または、硫酸−過酸化水素系の公知の粗化液を利用した薬液処理等を用いることができる。これにより、絶縁層130を構成する層間絶縁材料とプリント配線板200の導電回路118との密着性を向上させることができる。また、内層回路基板は、第2の実施の形態で得られたプリント配線板200に代えて、特に限定されないが、メッキスルーホール法やビルドアップ法等により、プリプレグ又は基材を含まない樹脂組成物層等が積層された通常の多層プリント配線板を用いることもできる。内層回路となる導体回路層は、従来公知の回路形成方法によって形成しても良い。また、多層プリント配線板においては、そのコア層となる積層体(プリプレグを複数積層させて得られた積層体)及び金属張積層板に、ドリル加工、レーザー加工等を行うことによりスルーホールを形成し、次いで、めっき等で両面の内層回路を電気的接続することもできる。   First, the printed wiring board 200 obtained in FIG. 8C is adopted as the inner layer circuit board. The inner layer circuit (conductive circuit 118) of the printed wiring board 200 is subjected to a roughening process. Here, the roughening treatment means performing a chemical treatment, a plasma treatment, or the like on the surface of the conductor circuit. As the roughening treatment, for example, a blackening treatment using redox or a chemical solution treatment using a known roughening solution of sulfuric acid-hydrogen peroxide system can be used. Thereby, the adhesiveness of the interlayer insulation material which comprises the insulating layer 130, and the conductive circuit 118 of the printed wiring board 200 can be improved. In addition, the inner layer circuit board is not particularly limited in place of the printed wiring board 200 obtained in the second embodiment, but the resin composition does not include a prepreg or a base material by a plated through hole method, a build-up method, or the like. A normal multilayer printed wiring board in which physical layers and the like are laminated can also be used. The conductor circuit layer serving as the inner layer circuit may be formed by a conventionally known circuit forming method. In multilayer printed wiring boards, through-holes are formed by drilling, laser processing, etc. on the laminate (a laminate obtained by laminating multiple prepregs) and metal-clad laminate as the core layer. Then, the inner circuit on both sides can be electrically connected by plating or the like.

次いで、図10(a)に示すように、導体回路表面が粗化されたプリント配線板200の両側に、それぞれ、絶縁層130(プリプレグ)、及びキャリア箔層107付き銅箔層105(キャリア箔付き極薄銅箔)を配置する。次いで、図10(b)に示すように、これらを重ねた積層体を加熱加圧処理することにより、多層積層板を形成する。続いて、図10(c)に示すように、キャリア箔層107を剥離除去する。   Next, as shown in FIG. 10 (a), an insulating layer 130 (prepreg) and a copper foil layer 105 with a carrier foil layer 107 (carrier foil) are formed on both sides of a printed wiring board 200 having a roughened conductor circuit surface, respectively. With ultra-thin copper foil). Next, as shown in FIG. 10 (b), a multilayer laminate is formed by subjecting the laminate in which these layers are stacked to heat and pressure. Subsequently, as shown in FIG. 10C, the carrier foil layer 107 is peeled and removed.

次いで、図10(d)に示すように、絶縁層130および銅箔層105の一部を除去して孔109を形成する。孔109の底面においては、導電回路118の表面の一部が露出している。この孔109を形成する手法としては、特に限定されないが、例えば、炭酸ガスやエキシマ等の気体レーザーやYAG等の固体レーザーを用いて、孔径100μm以下のブラインドビアホールを形成する手法などを用いることができる。なお、孔109は図10(d)では、非貫通孔で表しているが、貫通孔でもよい。また、貫通孔の場合は、レーザー照射でも、ドリル加工機を用いて形成してもよい。   Next, as shown in FIG. 10D, a part of the insulating layer 130 and the copper foil layer 105 is removed to form a hole 109. A part of the surface of the conductive circuit 118 is exposed on the bottom surface of the hole 109. The method for forming the hole 109 is not particularly limited. For example, a method of forming a blind via hole having a hole diameter of 100 μm or less using a gas laser such as carbon dioxide gas or excimer or a solid laser such as YAG is used. it can. In addition, although the hole 109 is represented by a non-through hole in FIG. 10D, it may be a through hole. In the case of a through hole, it may be formed by laser irradiation or using a drilling machine.

次いで、図11(a)に示すように、前述の触媒核を付与した導電回路118上、孔109の内壁上、及び銅箔層105上に、薄層の無電解めっき層111を形成する。無電解めっき層111は、前述の無電解めっき層110と同様にして形成する。この無電解めっき前には、前述の通り、薬液によるスミア除去等のデスミア処理を行ってもよい。また、無電解めっき層110の厚さは、次の電気めっきが行うことができる厚さであればよく、0.1〜1μm程度で十分である。また、孔109(ブラインドビアホール)の内部は、導電ペースト、あるいは、絶縁ペーストを充填することもでき、電気パターンめっきで充填しておいてもよい。   Next, as shown in FIG. 11A, a thin electroless plating layer 111 is formed on the conductive circuit 118 provided with the above-described catalyst nucleus, the inner wall of the hole 109, and the copper foil layer 105. The electroless plating layer 111 is formed in the same manner as the electroless plating layer 110 described above. Before this electroless plating, as described above, desmear treatment such as smear removal with a chemical solution may be performed. Moreover, the thickness of the electroless plating layer 110 should just be the thickness which can perform the following electroplating, and about 0.1-1 micrometer is enough. Further, the inside of the hole 109 (blind via hole) can be filled with a conductive paste or an insulating paste, or may be filled with electric pattern plating.

次いで、図11(b)に示すように、無電解めっき層110上に、導体回路パターンに相当する開口パターンを有するレジスト層113を形成する。言い換えると、レジスト層113を形成することにより、非回路形成部をマスクする。このレジスト層113としては、前述のレジスト層112と同様のものを用いることができる。レジスト層113の厚さは、その後めっきする導体回路の厚さと同程度かより厚い膜厚にするのが好適である。   Next, as illustrated in FIG. 11B, a resist layer 113 having an opening pattern corresponding to the conductor circuit pattern is formed on the electroless plating layer 110. In other words, the non-circuit forming portion is masked by forming the resist layer 113. As this resist layer 113, the thing similar to the above-mentioned resist layer 112 can be used. The thickness of the resist layer 113 is preferably set to be approximately the same as or thicker than that of the conductor circuit to be subsequently plated.

次いで、図11(c)に示すように、レジスト層113の開口パターン内部にめっき層132を形成する。このめっき層132は、孔109内部の導電回路118上に形成してもよいし、上記開口パターン内部の無電解めっき層111上に形成してもよい。めっき層132を形成する電気めっきは、前述のめっき層114と同様の手法を用いることができる。このめっき層132の厚さは、回路導体として使用できればよく、例えば、1〜100μmの範囲である事が好ましく、5〜50μmの範囲である事がより好ましい。   Next, as shown in FIG. 11C, a plating layer 132 is formed inside the opening pattern of the resist layer 113. The plating layer 132 may be formed on the conductive circuit 118 inside the hole 109 or may be formed on the electroless plating layer 111 inside the opening pattern. The electroplating for forming the plating layer 132 can use the same technique as that for the plating layer 114 described above. The thickness of this plating layer 132 should just be used as a circuit conductor, for example, it is preferable that it is the range of 1-100 micrometers, and it is more preferable that it is the range of 5-50 micrometers.

次いで、図12(a)に示すように、前述のレジスト層112と同様にして、レジスト層113の剥離を行う。次いで、図12(b)に示すように、前述の銅箔層104と同様にして、銅箔層105及び無電解めっき層111をソフトエッチング(フラッシュエッチング)により除去する。これにより、銅箔層105、無電解めっき層111及びめっき層132から構成される導電回路パターンを形成することができる。また、導電回路118上には、それと電気的に接続するビア及びパッドをめっき層132により形成することができる。以上により、プリント配線板201が得られる。   Next, as shown in FIG. 12A, the resist layer 113 is removed in the same manner as the resist layer 112 described above. Next, as shown in FIG. 12B, the copper foil layer 105 and the electroless plating layer 111 are removed by soft etching (flash etching) in the same manner as the copper foil layer 104 described above. Thereby, the conductive circuit pattern comprised from the copper foil layer 105, the electroless-plating layer 111, and the plating layer 132 can be formed. In addition, vias and pads that are electrically connected to the conductive circuit 118 can be formed using the plating layer 132. The printed wiring board 201 is obtained as described above.

なお、図12(c−1)に示すように、絶縁層130上、導電回路パターンのめっき層132上および、パッドのめっき層132の一部上にソルダーレジスト層121を形成してもよい。ソルダーレジスト層121としては、前述のソルダーレジスト層120と同様のものを用いることができる。次いで、ソルダーレジスト層121の開口部が設けられているめっき層132上に、例えば、ニッケルめっき層および金めっき層から構成される第1のめっき層123および第2のめっき層125を更に形成してもよい。以上により、図12(c−1)に示すプリント配線板203が得られる。
また、図12(c−2)に示すように、ソルダーレジスト層121を形成せずに、導電回路パターンの周囲およびパッドの周囲に、前述の第1のめっき層123および第2のめっき層125を形成してもよい。以上により、図12(c−2)に示すプリント配線板205が得られる。第3の実施の形態においても、第1および第2の実施の形態と同様の効果が得られる。
As shown in FIG. 12 (c-1), a solder resist layer 121 may be formed on the insulating layer 130, the plating layer 132 of the conductive circuit pattern, and a part of the plating layer 132 of the pad. As the solder resist layer 121, the same thing as the above-mentioned solder resist layer 120 can be used. Next, a first plating layer 123 and a second plating layer 125 made of, for example, a nickel plating layer and a gold plating layer are further formed on the plating layer 132 in which the opening of the solder resist layer 121 is provided. May be. Thus, the printed wiring board 203 shown in FIG. 12 (c-1) is obtained.
Further, as shown in FIG. 12C-2, the first plating layer 123 and the second plating layer 125 described above are formed around the conductive circuit pattern and around the pad without forming the solder resist layer 121. May be formed. As a result, the printed wiring board 205 shown in FIG. 12C-2 is obtained. In the third embodiment, the same effect as in the first and second embodiments can be obtained.

また、本実施の形態のプリント配線板の製造方法の変形例を図13を用いて説明する。
前述の第1から第3の実施の形態においては、銅箔上に金属層を選択的に形成していたが、本変形例では、銅箔上に金属層を全面に形成する点が異なるものである。
以下、本変形例のプリント配線板の製造方法を説明する。
まず、図13(a)に示すように、キャリア箔付き銅張積層板10を準備する。このキャリア箔付き銅張積層板10においては、絶縁層102の両面に銅箔層104とともにキャリア箔層106が貼り付けられている。続いて、図13(b)に示すように、キャリア箔付き銅張積層板10からキャリア箔層106を引きはがす。続いて、図13(c)に示すように、銅箔層104の全面上に金属層115(めっき層)をめっき処理により形成する。続いて、図13(d)に示すように、プレーン形状の金属層115上に所定の開口パターンを有するレジスト層112を形成する。引き続き、図13(e)に示すように、このレジスト層112の開口パターン内の金属層115および銅箔層104を、例えば、エッチングにより除去する。この後、図13(f)に示すように、レジスト層112を除去する。これにより、銅箔層104および金属層115から構成される導電回路119のパターンを形成することができる。以上の工程により、本変形例のプリント配線板101が得られる。
A modification of the method for manufacturing a printed wiring board according to the present embodiment will be described with reference to FIG.
In the first to third embodiments described above, the metal layer is selectively formed on the copper foil, but the present modification is different in that the metal layer is formed on the entire surface of the copper foil. It is.
Hereinafter, a method for manufacturing the printed wiring board of the present modification will be described.
First, as shown to Fig.13 (a), the copper clad laminated board 10 with carrier foil is prepared. In this copper clad laminate 10 with carrier foil, a carrier foil layer 106 is attached to both surfaces of the insulating layer 102 together with the copper foil layer 104. Then, as shown in FIG.13 (b), the carrier foil layer 106 is peeled from the copper clad laminated board 10 with carrier foil. Subsequently, as shown in FIG. 13C, a metal layer 115 (plating layer) is formed on the entire surface of the copper foil layer 104 by plating. Subsequently, as shown in FIG. 13D, a resist layer 112 having a predetermined opening pattern is formed on the plane-shaped metal layer 115. Subsequently, as shown in FIG. 13E, the metal layer 115 and the copper foil layer 104 in the opening pattern of the resist layer 112 are removed by, for example, etching. Thereafter, as shown in FIG. 13F, the resist layer 112 is removed. Thereby, the pattern of the conductive circuit 119 comprised from the copper foil layer 104 and the metal layer 115 can be formed. The printed wiring board 101 of this modification is obtained by the above process.

以上のように、本実施の形態によれば、キャリア箔付き極薄銅箔の微細回路加工、微細回路の形状、および絶縁信頼性に優れたプリント配線板の製造方法、およびそのプリント配線板を提供することが可能となる。   As described above, according to the present embodiment, a fine circuit processing of an ultrathin copper foil with a carrier foil, a fine circuit shape, a method of manufacturing a printed wiring board excellent in insulation reliability, and the printed wiring board It becomes possible to provide.

本実施の形態のプリント配線板の製造方法は、プリント配線板用基板の両面に導体回路層を形成する場合だけでなく、プリント配線板用基板の片面のみに導体回路層を形成する場合にも適用することができる。また、図8(c)に示すような両面プリント配線板を内層回路板として、第3の実施の形態の多層プリント配線板の場合にも適用することができる。従って、本実施の形態のプリント配線板の製造方法によって、片面プリント配線板、両面プリント配線板、及び多層プリント配線板のいずれも製造することができる。   The printed wiring board manufacturing method of the present embodiment is not only for forming a conductor circuit layer on both sides of a printed wiring board substrate, but also for forming a conductor circuit layer only on one side of the printed wiring board substrate. Can be applied. Further, the double-sided printed wiring board as shown in FIG. 8C can be applied to the multilayer printed wiring board of the third embodiment using the inner layer circuit board. Therefore, any of a single-sided printed wiring board, a double-sided printed wiring board, and a multilayer printed wiring board can be produced by the method for producing a printed wiring board of the present embodiment.

以下、本発明に係るキャリア箔付電解銅箔、およびその銅箔を用いた銅張積層板を製造し、本発明のプリント配線板の製造方法の実施の形態について説明する。ここではキャリア箔に電解銅箔を用いた場合を中心に説明するものとする。本発明を実施例及び比較例に基づいて詳細に説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。   Hereinafter, an electrolytic copper foil with a carrier foil according to the present invention and a copper-clad laminate using the copper foil are manufactured, and an embodiment of a method for manufacturing a printed wiring board according to the present invention will be described. Here, the case where an electrolytic copper foil is used as the carrier foil will be mainly described. The present invention will be described in detail based on examples and comparative examples, but the present invention is not limited thereto.

(金属箔1の製造)
キャリア箔に、18μm厚の電解銅箔(三井金属工業社製、3EC−VLP、光沢面の表面粗さはRa=0.2μm、Rz=1.5μm)の光沢面に接合界面層および極薄銅箔層を順次形成した。製造条件として、まずキャリア箔を酸洗浄槽(希硫酸溶液、150g/L、液温30℃)に20秒浸漬し表面の油分、酸化被膜等の除去を行った。次に、接合界面形成槽(カルボキシベンゾトリアゾール溶液、5g/L、液温40℃、pH5)に浸漬し、キャリア箔の光沢表面に接合界面層を形成した。次に、バルク銅の形成槽(硫酸銅溶液;硫酸濃度150g/L、銅濃度65g/L、ゼラチン濃度10ppm、塩化物イオン20ppm、液温45℃)に浸漬しながら、キャリア箔の片面に対し、平板のアノード電極(鉛)を平行配置し、電流密度15A/dmの平滑めっき条件で電解し1.5μmのバルク銅層を形成した。次に、バルク銅層の表面に微細銅粒形成槽(硫酸銅溶液;硫酸濃度100g/L、銅濃度18g/Lの硫酸溶液、液温25℃)に浸漬しながら、キャリア箔の片面に対し、平板のアノード電極(鉛)を平行配置し、電流密度10A/dmのヤケめっき条件で電解した。次に、微細銅粒の脱落を防止するための被せめっき槽(硫酸銅溶液;硫酸濃度150g/L、銅濃度65g/L、液温45℃)に浸漬しながら、電流密度20A/dmの平滑めっき条件で電解し0.5μmの微細粗化を形成し、総厚2.0μmの極薄銅箔を製造した。次に、防錆処理槽(硫酸亜鉛溶液;硫酸濃度70g/L、亜鉛濃度20g/L、液温40℃)に浸漬し、電流密度15A/dmで電解し亜鉛を用いて防錆処理を行った。ここでは、アノード電極として亜鉛板を用いた溶解性アノードとした。次に、クロメート処理槽(クロム酸溶液;クロム酸濃度5g/L、pH11.5、液温55℃)に4秒浸漬した。最終的に、乾燥処理槽で電熱器により雰囲気温度110℃に加熱された炉内を60秒かけて通過することでキャリア箔付き銅箔を得た。尚、各槽毎の工程間には、約30秒間の水洗可能な水洗槽に浸漬洗浄している。
(Manufacture of metal foil 1)
18 μm thick electrolytic copper foil (manufactured by Mitsui Kinzoku Kogyo Co., Ltd., 3EC-VLP, glossy surface roughness Ra = 0.2 μm, Rz = 1.5 μm) on the carrier foil and the bonding interface layer and ultrathin Copper foil layers were sequentially formed. As manufacturing conditions, first, the carrier foil was immersed in an acid cleaning tank (dilute sulfuric acid solution, 150 g / L, liquid temperature 30 ° C.) for 20 seconds to remove oil and oxide film on the surface. Next, it was immersed in a bonding interface forming tank (carboxybenzotriazole solution, 5 g / L, liquid temperature 40 ° C., pH 5) to form a bonding interface layer on the glossy surface of the carrier foil. Next, while dipping in a bulk copper formation tank (copper sulfate solution; sulfuric acid concentration 150 g / L, copper concentration 65 g / L, gelatin concentration 10 ppm, chloride ion 20 ppm, liquid temperature 45 ° C.) A flat anode electrode (lead) was placed in parallel and electrolyzed under smooth plating conditions with a current density of 15 A / dm 2 to form a 1.5 μm bulk copper layer. Next, while immersing in the surface of the bulk copper layer in a fine copper grain formation tank (copper sulfate solution; sulfuric acid concentration 100 g / L, sulfuric acid solution with copper concentration 18 g / L, liquid temperature 25 ° C.) A flat anode electrode (lead) was arranged in parallel, and electrolysis was performed under the condition of burnt plating with a current density of 10 A / dm 2 . Next, a current density of 20 A / dm 2 is applied while being immersed in a coating bath (copper sulfate solution; sulfuric acid concentration 150 g / L, copper concentration 65 g / L, liquid temperature 45 ° C.) for preventing fine copper particles from falling off. Electrolysis was performed under smooth plating conditions to form 0.5 μm fine roughening, and an ultrathin copper foil having a total thickness of 2.0 μm was produced. Next, it is immersed in a rust prevention treatment tank (zinc sulfate solution; sulfuric acid concentration 70 g / L, zinc concentration 20 g / L, liquid temperature 40 ° C.), electrolyzed at a current density of 15 A / dm 2 and subjected to rust prevention treatment using zinc. went. Here, a soluble anode using a zinc plate as the anode electrode was used. Next, it was immersed in a chromate treatment tank (chromic acid solution; chromic acid concentration 5 g / L, pH 11.5, liquid temperature 55 ° C.) for 4 seconds. Finally, a copper foil with a carrier foil was obtained by passing through a furnace heated to an atmospheric temperature of 110 ° C. by an electric heater in a drying treatment tank over 60 seconds. In addition, it is immersed and washed in the water washing tank which can be washed for about 30 seconds between the processes for each tank.

(金属箔2の製造)
キャリア箔に、12μm厚の電解銅箔(古河電気工業社製、F2−WS、光沢面の表面粗さはRa=0.2μm、Rz=1.2μm)の光沢面に接合界面層および極薄銅箔層を順次形成した。製造条件として、まずキャリア箔を酸洗浄槽(希硫酸溶液、150g/L、液温30℃)に20秒浸漬し表面の油分、酸化被膜等の除去を行った。次に、接合界面形成槽(カルボキシベンゾトリアゾール溶液、5g/L、液温40℃、pH5)に浸漬し、キャリア箔の光沢表面に接合界面層を形成した。次に、バルク銅の形成槽(硫酸銅溶液;硫酸濃度150g/L、銅濃度65g/L、ゼラチン濃度10ppm、塩化物イオン20ppm、液温45℃)に浸漬しながら、キャリア箔の片面に対し、平板のアノード電極(鉛)を平行配置し、電流密度20A/dmの平滑めっき条件で電解し1.5μmのバルク銅層を形成した。次に、バルク銅層の表面に微細銅粒形成槽(硫酸銅溶液;硫酸濃度100g/L、銅濃度18g/Lの硫酸溶液、液温25℃)に浸漬しながら、キャリア箔の片面に対し、平板のアノード電極(鉛)を平行配置し、電流密度10A/dmのヤケめっき条件で電解した。次に、微細銅粒の脱落を防止するための被せめっき槽(硫酸銅溶液;硫酸濃度150g/L、銅濃度65g/L、液温45℃)に浸漬しながら、電流密度20A/dmの平滑めっき条件で電解し0.5μmの微細粗化を形成し、総厚2.0μmの極薄銅箔を製造した。次に、防錆処理槽(硫酸亜鉛溶液;硫酸濃度70g/L、亜鉛濃度20g/L、液温40℃)に浸漬し、電流密度15A/dmで電解し亜鉛を用いて防錆処理を行った。ここでは、アノード電極として亜鉛板を用いた溶解性アノードとした。次に、クロメート処理槽(クロム酸溶液;クロム酸濃度5g/L、pH11.5、液温55℃)に4秒浸漬した。最終的に、乾燥処理槽で電熱器により雰囲気温度110℃に加熱された炉内を60秒かけて通過することでキャリア箔付き銅箔を得た。尚、各槽毎の工程間には、約30秒間の水洗可能な水洗槽に浸漬洗浄している。
(Manufacture of metal foil 2)
12 μm thick electrolytic copper foil (F2-WS, glossy surface roughness Ra = 0.2 μm, Rz = 1.2 μm) on the glossy surface of the carrier foil and the bonding interface layer and ultrathin Copper foil layers were sequentially formed. As manufacturing conditions, first, the carrier foil was immersed in an acid cleaning tank (dilute sulfuric acid solution, 150 g / L, liquid temperature 30 ° C.) for 20 seconds to remove oil and oxide film on the surface. Next, it was immersed in a bonding interface forming tank (carboxybenzotriazole solution, 5 g / L, liquid temperature 40 ° C., pH 5) to form a bonding interface layer on the glossy surface of the carrier foil. Next, while dipping in a bulk copper formation tank (copper sulfate solution; sulfuric acid concentration 150 g / L, copper concentration 65 g / L, gelatin concentration 10 ppm, chloride ion 20 ppm, liquid temperature 45 ° C.) A flat anode electrode (lead) was placed in parallel and electrolyzed under smooth plating conditions with a current density of 20 A / dm 2 to form a bulk copper layer of 1.5 μm. Next, while immersing in the surface of the bulk copper layer in a fine copper grain formation tank (copper sulfate solution; sulfuric acid concentration 100 g / L, sulfuric acid solution with copper concentration 18 g / L, liquid temperature 25 ° C.) A flat anode electrode (lead) was arranged in parallel, and electrolysis was performed under the condition of burnt plating with a current density of 10 A / dm 2 . Next, a current density of 20 A / dm 2 is applied while being immersed in a coating bath (copper sulfate solution; sulfuric acid concentration 150 g / L, copper concentration 65 g / L, liquid temperature 45 ° C.) for preventing fine copper particles from falling off. Electrolysis was performed under smooth plating conditions to form 0.5 μm fine roughening, and an ultrathin copper foil having a total thickness of 2.0 μm was produced. Next, it is immersed in a rust prevention treatment tank (zinc sulfate solution; sulfuric acid concentration 70 g / L, zinc concentration 20 g / L, liquid temperature 40 ° C.), electrolyzed at a current density of 15 A / dm 2 and subjected to rust prevention treatment using zinc. went. Here, a soluble anode using a zinc plate as the anode electrode was used. Next, it was immersed in a chromate treatment tank (chromic acid solution; chromic acid concentration 5 g / L, pH 11.5, liquid temperature 55 ° C.) for 4 seconds. Finally, a copper foil with a carrier foil was obtained by passing through a furnace heated to an atmospheric temperature of 110 ° C. by an electric heater in a drying treatment tank over 60 seconds. In addition, it is immersed and washed in the water washing tank which can be washed for about 30 seconds between the processes for each tank.

(金属箔3の製造)
キャリア箔に、12μm厚の電解銅箔(古河電気工業社製、F2−WS、光沢面の表面粗さはRa=0.2μm、Rz=1.2μm)の光沢面に接合界面層および極薄銅箔層を順次形成した。製造条件として、まずキャリア箔を酸洗浄槽(希硫酸溶液;150g/L、液温30℃)に20秒浸漬し表面の油分、酸化被膜等の除去を行った。次に、接合界面形成槽(カルボキシベンゾトリアゾール溶液;5g/L、液温40℃、pH5)に浸漬し、キャリア箔の光沢表面に接合界面層を形成した。次に、バルク銅の形成槽1(ピロリン酸銅溶液;ピロリン酸カリウム濃度320g/L、銅濃度80g/L、ゼラチン濃度10ppm、塩化物イオン10ppm、25%アンモニア水2ml/L、pH8.5、液温40℃)に浸漬しながら、キャリア箔の片面に対し、平板のアノード電極(鉛)を平行配置し、電流密度7A/dmの平滑めっき条件で電解し、続いてバルク銅の形成槽2(硫酸銅溶液;硫酸濃度100g/L、銅濃度200g/L、ゼラチン濃度10ppm、塩化物イオン20ppm、液温45℃)に浸漬しながら、キャリア箔の片面に対し、平板のアノード電極(鉛)を平行配置し、電流密度10A/dmの平滑めっき条件で電解し1.5μmのバルク銅層を形成した。次に、バルク銅層の表面に微細銅粒形成槽(硫酸銅溶液;硫酸濃度100g/L、銅濃度18g/Lの硫酸溶液、液温25℃)に浸漬しながら、キャリア箔の片面に対し、平板のアノード電極(鉛)を平行配置し、電流密度10A/dmのヤケめっき条件で電解した。次に、微細銅粒の脱落を防止するための被せめっき槽(硫酸銅溶液;硫酸濃度150g/L、銅濃度65g/L、液温45℃)に浸漬しながら、電流密度20A/dmの平滑めっき条件で電解し0.5μmの微細粗化を形成し、総厚2.0μmの極薄銅箔を製造した。次に、防錆処理槽(硫酸亜鉛溶液;硫酸濃度70g/L、亜鉛濃度20g/L、液温40℃)に浸漬し、電流密度15A/dmで電解し亜鉛を用いて防錆処理を行った。ここでは、アノード電極として亜鉛板を用いた溶解性アノードとした。次に、クロメート処理槽(クロム酸溶液;クロム酸濃度5g/L、pH11.5、液温55℃)に4秒浸漬した。最終的に、乾燥処理槽で電熱器により雰囲気温度110℃に加熱された炉内を60秒かけて通過することでキャリア箔付き銅箔を得た。尚、各槽毎の工程間には、約30秒間の水洗可能な水洗槽に浸漬洗浄している。
(Manufacture of metal foil 3)
12 μm thick electrolytic copper foil (F2-WS, glossy surface roughness Ra = 0.2 μm, Rz = 1.2 μm) on the glossy surface of the carrier foil and the bonding interface layer and ultrathin Copper foil layers were sequentially formed. As manufacturing conditions, first, the carrier foil was immersed in an acid cleaning tank (dilute sulfuric acid solution; 150 g / L, liquid temperature 30 ° C.) for 20 seconds to remove oil and oxide film on the surface. Next, it was immersed in a bonding interface formation tank (carboxybenzotriazole solution; 5 g / L, liquid temperature 40 ° C., pH 5) to form a bonding interface layer on the glossy surface of the carrier foil. Next, bulk copper formation tank 1 (copper pyrophosphate solution; potassium pyrophosphate concentration 320 g / L, copper concentration 80 g / L, gelatin concentration 10 ppm, chloride ion 10 ppm, 25% aqueous ammonia 2 ml / L, pH 8.5, While being immersed in a liquid temperature of 40 ° C., a flat anode electrode (lead) is placed in parallel on one side of the carrier foil, electrolyzed under smooth plating conditions with a current density of 7 A / dm 2 , and then a bulk copper forming tank 2 (copper sulfate solution; sulfuric acid concentration: 100 g / L, copper concentration: 200 g / L, gelatin concentration: 10 ppm, chloride ion: 20 ppm, liquid temperature: 45 ° C.) ) In parallel and electrolyzed under smooth plating conditions with a current density of 10 A / dm 2 to form a bulk copper layer of 1.5 μm. Next, while immersing in the surface of the bulk copper layer in a fine copper grain formation tank (copper sulfate solution; sulfuric acid concentration 100 g / L, sulfuric acid solution with copper concentration 18 g / L, liquid temperature 25 ° C.) A flat anode electrode (lead) was arranged in parallel, and electrolysis was performed under the condition of burnt plating with a current density of 10 A / dm 2 . Next, a current density of 20 A / dm 2 is applied while being immersed in a coating bath (copper sulfate solution; sulfuric acid concentration 150 g / L, copper concentration 65 g / L, liquid temperature 45 ° C.) for preventing fine copper particles from falling off. Electrolysis was performed under smooth plating conditions to form 0.5 μm fine roughening, and an ultrathin copper foil having a total thickness of 2.0 μm was produced. Next, it is immersed in a rust prevention treatment tank (zinc sulfate solution; sulfuric acid concentration 70 g / L, zinc concentration 20 g / L, liquid temperature 40 ° C.), electrolyzed at a current density of 15 A / dm 2 and subjected to rust prevention treatment using zinc. went. Here, a soluble anode using a zinc plate as the anode electrode was used. Next, it was immersed in a chromate treatment tank (chromic acid solution; chromic acid concentration 5 g / L, pH 11.5, liquid temperature 55 ° C.) for 4 seconds. Finally, a copper foil with a carrier foil was obtained by passing through a furnace heated to an atmospheric temperature of 110 ° C. by an electric heater in a drying treatment tank over 60 seconds. In addition, it is immersed and washed in the water washing tank which can be washed for about 30 seconds between the processes for each tank.

(実施例1)
エポキシ樹脂として、ナフタレン変性クレゾールノボラックエポキシ樹脂(DIC社製、HP−5000)8.5重量部、フェノール硬化剤として、ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂(明和化成株式会社、MEH7851−4H)8.5重量部、フェノールノボラック型シアネート樹脂(LONZA社製、Primaset PT−30)17重量部、球状溶融シリカ(アドマテックス社製、SO−25R、平均粒径0.5μm)65.5重量部、エポキシシラン(信越化学工業社製、KBM−403)0.5重量部を、メチルエチルケトンに混合溶解させた。次いで、高速撹拌装置を用い撹拌して不揮発分70重量%となるように調整し、樹脂ワニスを調製した。
前記樹脂ワニスをガラス織布(坪量104g、厚さ87μm、日東紡社製Eガラス織布、WEA−116E)に含浸し、150℃の加熱炉で2分間乾燥して、プリプレグ中のワニス固形分が約50重量%のプリプレグを得た。
前記プリプレグ2枚重ね、キャリア箔付き極薄銅箔(金属箔1)を重ねて、圧力3MPa、温度220℃で2時間加熱加圧成形し、絶縁層が厚さ0.20mmの両面に銅箔を有する積層板を得た。
Example 1
As an epoxy resin, 8.5 parts by weight of a naphthalene-modified cresol novolak epoxy resin (manufactured by DIC, HP-5000), and as a phenol curing agent, 8.5 parts by weight of a biphenylaralkyl type phenol resin (Maywa Kasei Co., Ltd., MEH7851-4H). , 17 parts by weight of a phenol novolac type cyanate resin (manufactured by LONZA, Primaset PT-30), 65.5 parts by weight of spherical fused silica (manufactured by Admatechs, SO-25R, average particle size 0.5 μm), epoxy silane (Shin-Etsu) 0.5 part by weight of Chemical Industry Co., Ltd., KBM-403) was mixed and dissolved in methyl ethyl ketone. Subsequently, it stirred using the high-speed stirring apparatus and adjusted so that it might become 70 weight% of non volatile matters, and the resin varnish was prepared.
The resin varnish is impregnated into a glass woven fabric (basis weight 104 g, thickness 87 μm, N glass fiber woven fabric manufactured by Nittobo Co., Ltd., WEA-116E), dried in a heating furnace at 150 ° C. for 2 minutes, and varnish solid in the prepreg A prepreg of about 50% by weight was obtained.
Two prepregs are stacked, and an ultra-thin copper foil (metal foil 1) with a carrier foil is stacked and heat-pressed for 2 hours at a pressure of 3 MPa and a temperature of 220 ° C., and an insulating layer is formed on both sides with a thickness of 0.20 mm. A laminated board having was obtained.

(プリント配線板)
実施例で得られた、積層板のキャリア箔は剥離除去し(図7(b))、図7(c)に示すように、極薄金属箔上から炭酸ガスレーザー(三菱電機社製、ML605GTX3−5100U2)により、直径75μmの貫通スルーホールを開け、過マンガン酸カリウム60g/Lと水酸化ナトリウム45g/Lの水溶液に、液温80℃で2分間浸漬し、デスミア処理した。
その後、パラジウム溶液(上村工業社製、MAT−2B/MAT−2A)に液温55℃で5分間浸漬し、触媒付与し、上村工業社製、スルカップPEA−6Aを使用し、液温36℃で15分間浸漬し、無電解めっき層を0.7μm形成した(図7(d))。
この無電解めっき層の表面に、厚さ25μmの紫外線感光性ドライフィルム(旭化成社製、サンフォートUFG−255)をホットロールラミネーターにより貼り合わせ、最小線幅/線間が20/20μmのパターンが描画されたガラスマスク(トピック社製)を使用して、位置を合わせ、露光装置(小野測器EV−0800)にて露光、炭酸ソーダ水溶液にて現像し、レジストマスクを形成した(図7(e))。次に、無電解めっき層を給電層電極として、電解銅めっき(奥野製薬社製81−HL)を3A/dm、25分間行って、厚さ約20μmの銅配線のパターンを形成した(図8(a))。次に、剥離機を用いて、モノエタノールアミン溶液(三菱ガス化学社製R−100)により、前記レジストマスクを剥離した(図8(b))。そして給電層である無電解めっき層及び下地銅箔(2μm)をフラッシュエッチング(三菱ガス化学社製 CPE−800、液温:30℃、スプレー圧0.23MPa)で180秒間処理することにより除去して、L/S=20/20μmのパターンを形成し(パターン状エッチング)、プリント配線板を得た(図8(c))。
最後に、図8(d−1)に示すように、回路表面にソルダーレジスト(太陽インキ社製、PSR4000/AUS308)を形成し、ニッケルめっき層(奥野製薬工業社製、ICPニコロンGM)を、液温80℃で12分間浸漬し2.5μm、ついで金めっき層(奥野製薬工業社製、フラッシュゴールド330)を、液温80℃で9分間浸漬し0.05μmを形成し、プリント配線板を得た。尚、図8(d−2)に示すように、回路表面にソルダーレジストを形成しない場合もある。
(Printed wiring board)
The carrier foil of the laminate obtained in the example was peeled and removed (FIG. 7 (b)), and as shown in FIG. 7 (c), a carbon dioxide laser (ML605GTX3 manufactured by Mitsubishi Electric Corporation) was applied from above the ultrathin metal foil. -5100U2), through-holes with a diameter of 75 μm were opened, and they were immersed in an aqueous solution of potassium permanganate 60 g / L and sodium hydroxide 45 g / L at a liquid temperature of 80 ° C. for 2 minutes for desmear treatment.
Then, it was immersed in a palladium solution (manufactured by Uemura Kogyo Co., Ltd., MAT-2B / MAT-2A) at a liquid temperature of 55 ° C. for 5 minutes to give a catalyst, and Urumura Kogyo Co., Ltd., Sulcup PEA-6A was used. Was immersed for 15 minutes to form an electroless plating layer of 0.7 μm (FIG. 7D).
On the surface of this electroless plating layer, a 25 μm thick UV-sensitive dry film (manufactured by Asahi Kasei Co., Ltd., Sunfort UFG-255) is bonded with a hot roll laminator, and a pattern with a minimum line width / line spacing of 20/20 μm is formed. Using the drawn glass mask (manufactured by Topic Co., Ltd.), the position is adjusted, exposure is performed with an exposure apparatus (Ono Sokki EV-0800), and development is performed with a sodium carbonate aqueous solution to form a resist mask (FIG. 7 ( e)). Next, electrolytic copper plating (81-HL manufactured by Okuno Pharmaceutical Co., Ltd.) was performed at 3 A / dm 2 for 25 minutes using the electroless plating layer as a power feeding layer electrode to form a copper wiring pattern having a thickness of about 20 μm (FIG. 8 (a)). Next, the said resist mask was peeled with the monoethanolamine solution (Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd. R-100) using the peeling machine (FIG.8 (b)). Then, the electroless plating layer and the underlying copper foil (2 μm), which are power feeding layers, are removed by treating for 180 seconds with flash etching (CPE-800 manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Company, liquid temperature: 30 ° C., spray pressure 0.23 MPa). Then, a pattern of L / S = 20/20 μm was formed (patterned etching) to obtain a printed wiring board (FIG. 8C).
Finally, as shown in FIG. 8 (d-1), a solder resist (manufactured by Taiyo Ink, PSR4000 / AUS308) is formed on the circuit surface, and a nickel plating layer (Okuno Pharmaceutical Co., Ltd., ICP Nicolon GM) is formed. Immerse it for 12 minutes at a liquid temperature of 80 ° C. for 2.5 μm, then immerse the gold plating layer (Okuno Pharmaceutical Co., Ltd., Flash Gold 330) for 9 minutes at a liquid temperature of 80 ° C. to form 0.05 μm. Obtained. In addition, as shown in FIG. 8D-2, a solder resist may not be formed on the circuit surface.

(実施例2)
キャリア箔付き極薄銅箔を金属箔2に変えた以外は、実施例1と同じにした。
(Example 2)
Example 1 was the same as Example 1 except that the ultrathin copper foil with carrier foil was changed to metal foil 2.

(実施例3)
キャリア箔付き極薄銅箔を金属箔3に変えた以外は、実施例1と同じにした。
(Example 3)
Example 1 was the same as Example 1 except that the ultrathin copper foil with carrier foil was changed to metal foil 3.

(実施例4)
給電層である無電解めっき層及び下地銅箔(2μm)のフラッシュエッチングの条件を下記の通り変更した以外は、実施例1と同じにした。
給電層である無電解めっき層及び下地銅箔(2μm)をフラッシュエッチング(三菱ガス化学社製 CPE−800、液温:30℃、スプレー圧0.23MPa)で240秒間処理することにより除去して、L/S=20/20μmのパターンを形成し(パターン状エッチング)、プリント配線板を得た。
Example 4
Example 1 was the same as Example 1 except that the conditions for flash etching of the electroless plating layer as the power feeding layer and the underlying copper foil (2 μm) were changed as follows.
The electroless plating layer and the underlying copper foil (2 μm) as the power feeding layer were removed by treating for 240 seconds with flash etching (CPE-800, manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Company, liquid temperature: 30 ° C., spray pressure 0.23 MPa). A pattern of L / S = 20/20 μm was formed (patterned etching) to obtain a printed wiring board.

(実施例5)
積層板に用いる樹脂組成物を変えた以外は、実施例1と同じにした。
エポキシ樹脂として、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(日本化薬社製、NC−3000)11重量部、ビスマレイミド化合物(ケイアイ化成工業社製、BMI−70)20重量部、4,4'−ジアミノジフェニルメタン3.5重量部、水酸化アルミニウム(昭和電工製HP−360)65重量部、エポキシシラン(信越化学工業社製、KBM−403)0.5重量部を、メチルエチルケトンに混合溶解させた。次いで、高速撹拌装置を用い撹拌して不揮発分70重量%となるように調整し、樹脂ワニスを調製した。
前記樹脂ワニスをガラス織布(坪量104g、厚さ87μm、日東紡製Eガラス織布、WEA−116E)に含浸し、150℃の加熱炉で2分間乾燥して、プリプレグ中のワニス固形分が約50重量%のプリプレグを得た。前記プリプレグ2枚重ね、キャリア箔付き極薄銅箔(金属箔1)を重ねて、圧力3MPa、温度200℃で1時間加熱加圧成形し、絶縁層が厚さ0.20mmの両面に銅箔を有する積層板を得た。
(Example 5)
It was the same as Example 1 except having changed the resin composition used for a laminated board.
As an epoxy resin, biphenyl aralkyl type epoxy resin (Nippon Kayaku Co., Ltd., NC-3000) 11 parts by weight, bismaleimide compound (Kai Kasei Kogyo Co., Ltd., BMI-70) 20 parts by weight, 4,4′-diaminodiphenylmethane 3 0.5 parts by weight, 65 parts by weight of aluminum hydroxide (HP-360 manufactured by Showa Denko) and 0.5 parts by weight of epoxy silane (KBE-403, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) were mixed and dissolved in methyl ethyl ketone. Subsequently, it stirred using the high-speed stirring apparatus and adjusted so that it might become 70 weight% of non volatile matters, and the resin varnish was prepared.
The resin varnish was impregnated into a glass woven fabric (basis weight 104 g, thickness 87 μm, Nittobo E glass woven fabric, WEA-116E), dried in a heating furnace at 150 ° C. for 2 minutes, and varnish solid content in the prepreg About 50% by weight of prepreg was obtained. Two prepregs are stacked, and an ultra-thin copper foil (metal foil 1) with a carrier foil is stacked and heat-pressed for 1 hour at a pressure of 3 MPa and a temperature of 200 ° C., and an insulating layer is formed on both sides with a thickness of 0.20 mm. A laminated board having was obtained.

(比較例1)
(金属箔4の製造)
キャリア箔に、35μm厚の電解銅箔(古河電気工業社製、F2−WS、光沢面の表面粗さはRa=0.2μm、Rz=1.2μm)の光沢面に接合界面層および極薄銅箔層を順次形成した。製造条件として、まずキャリア箔を酸洗浄槽(希硫酸溶液、150g/L、液温30℃)に20秒浸漬し表面の油分、酸化被膜等の除去を行った。次に、接合界面形成槽(カルボキシベンゾトリアゾール溶液、5g/L、液温40℃、pH5)に浸漬し、キャリア箔の光沢表面に接合界面層を形成した。次に、バルク銅の形成槽(硫酸銅溶液;硫酸濃度150g/L、銅濃度65g/L、液温45℃)に浸漬しながら、キャリア箔の片面に対し、平板のアノード電極(鉛)を平行配置し、電流密度2A/dmの平滑めっき条件で電解し1.5μmのバルク銅層を形成した。次に、バルク銅層の表面に微細銅粒形成槽(硫酸銅溶液;硫酸濃度100g/L、銅濃度18g/Lの硫酸溶液、液温25℃)に浸漬しながら、キャリア箔の片面に対し、平板のアノード電極(鉛)を平行配置し、電流密度5A/dmのヤケめっき条件で電解した。次に、微細銅粒の脱落を防止するための被せめっき槽(硫酸銅溶液;硫酸濃度150g/L、銅濃度65g/L、液温45℃)に浸漬しながら、電流密度10A/dmの平滑めっき条件で電解し0.5μmの微細粗化を形成し、総厚2.0μmの極薄銅箔を製造した。次に、防錆処理槽(硫酸亜鉛溶液;硫酸濃度70g/L、亜鉛濃度20g/L、液温40℃)に浸漬し、電流密度10A/dmで電解し亜鉛を用いて防錆処理を行った。ここでは、アノード電極として亜鉛板を用いた溶解性アノードとした。次に、クロメート処理槽(クロム酸溶液;クロム酸濃度5g/L、pH11.5、液温55℃)に4秒浸漬した。最終的に、乾燥処理槽で電熱器により雰囲気温度110℃に加熱された炉内を60秒かけて通過することでキャリア箔付き銅箔を得た。尚、各槽毎の工程間には、約30秒間の水洗可能な水洗槽に浸漬洗浄している。
キャリア箔付き極薄銅箔を金属箔4に変えた以外は、実施例1と同じにしてプリント配線板を得た。
(Comparative Example 1)
(Manufacture of metal foil 4)
35 μm thick electrolytic copper foil (F2-WS, glossy surface roughness Ra = 0.2 μm, Rz = 1.2 μm) on the glossy surface of the carrier foil and the bonding interface layer and ultrathin Copper foil layers were sequentially formed. As manufacturing conditions, first, the carrier foil was immersed in an acid cleaning tank (dilute sulfuric acid solution, 150 g / L, liquid temperature 30 ° C.) for 20 seconds to remove oil and oxide film on the surface. Next, it was immersed in a bonding interface forming tank (carboxybenzotriazole solution, 5 g / L, liquid temperature 40 ° C., pH 5) to form a bonding interface layer on the glossy surface of the carrier foil. Next, while immersing in a bulk copper formation tank (copper sulfate solution; sulfuric acid concentration 150 g / L, copper concentration 65 g / L, liquid temperature 45 ° C.), a flat plate anode electrode (lead) is applied to one side of the carrier foil. A 1.5-μm bulk copper layer was formed by parallel placement and electrolysis under smooth plating conditions with a current density of 2 A / dm 2 . Next, while immersing in the surface of the bulk copper layer in a fine copper grain formation tank (copper sulfate solution; sulfuric acid concentration 100 g / L, sulfuric acid solution with copper concentration 18 g / L, liquid temperature 25 ° C.) A flat anode electrode (lead) was arranged in parallel, and electrolysis was performed under the condition of burnt plating with a current density of 5 A / dm 2 . Next, a current density of 10 A / dm 2 is applied while being immersed in a covering plating tank (copper sulfate solution; sulfuric acid concentration 150 g / L, copper concentration 65 g / L, liquid temperature 45 ° C.) for preventing fine copper particles from falling off. Electrolysis was performed under smooth plating conditions to form 0.5 μm fine roughening, and an ultrathin copper foil having a total thickness of 2.0 μm was produced. Next, it is immersed in a rust prevention treatment tank (zinc sulfate solution; sulfuric acid concentration 70 g / L, zinc concentration 20 g / L, liquid temperature 40 ° C.), electrolyzed at a current density of 10 A / dm 2 and subjected to rust prevention treatment using zinc. went. Here, a soluble anode using a zinc plate as the anode electrode was used. Next, it was immersed in a chromate treatment tank (chromic acid solution; chromic acid concentration 5 g / L, pH 11.5, liquid temperature 55 ° C.) for 4 seconds. Finally, a copper foil with a carrier foil was obtained by passing through a furnace heated to an atmospheric temperature of 110 ° C. by an electric heater in a drying treatment tank over 60 seconds. In addition, it is immersed and washed in the water washing tank which can be washed for about 30 seconds between the processes for each tank.
A printed wiring board was obtained in the same manner as in Example 1 except that the ultrathin copper foil with carrier foil was changed to metal foil 4.

(比較例2)
(金属箔5の製造)
キャリア箔に、35μm厚の電解銅箔(古河電気工業社製、F2−WS、光沢面の表面粗さはRa=0.2μm、Rz=1.2μm)の光沢面に接合界面層および極薄銅箔層を順次形成した。製造条件として、まずキャリア箔を酸洗浄槽(希硫酸溶液;150g/L、液温30℃)に20秒浸漬し表面の油分、酸化被膜等の除去を行った。次に、接合界面形成槽(カルボキシベンゾトリアゾール溶液;5g/L、液温40℃、pH5)に浸漬し、キャリア箔の光沢表面に接合界面層を形成した。次に、バルク銅の形成槽1(ピロリン酸銅溶液;ピロリン酸カリウム濃度320g/L、銅濃度80g/L、25%アンモニア水2ml/L、pH8.5、液温40℃)に浸漬しながら、キャリア箔の片面に対し、平板のアノード電極(鉛)を平行配置し、電流密度1.5A/dmの平滑めっき条件で電解し、続いてバルク銅の形成槽2(硫酸銅溶液;硫酸濃度100g/L、銅濃度200g/L、液温45℃)に浸漬しながら、キャリア箔の片面に対し、平板のアノード電極(鉛)を平行配置し、電流密度3A/dmの平滑めっき条件で電解し1.5μmのバルク銅層を形成した。次に、バルク銅層の表面に微細銅粒形成槽(硫酸銅溶液;硫酸濃度100g/L、銅濃度18g/Lの硫酸溶液、液温25℃)に浸漬しながら、キャリア箔の片面に対し、平板のアノード電極(鉛)を平行配置し、電流密度5A/dmのヤケめっき条件で電解した。次に、微細銅粒の脱落を防止するための被せめっき槽(硫酸銅溶液;硫酸濃度150g/L、銅濃度65g/L、液温45℃)に浸漬しながら、電流密度10A/dmの平滑めっき条件で電解し0.5μmの微細粗化を形成し、総厚2.0μmの極薄銅箔を製造した。次に、防錆処理槽(硫酸亜鉛溶液;硫酸濃度70g/L、亜鉛濃度20g/L、液温40℃)に浸漬し、電流密度15A/dmで電解し亜鉛を用いて防錆処理を行った。ここでは、アノード電極として亜鉛板を用いた溶解性アノードとした。次に、クロメート処理槽(クロム酸溶液;クロム酸濃度5g/L、pH11.5、液温55℃)に4秒浸漬した。最終的に、乾燥処理槽で電熱器により雰囲気温度110℃に加熱された炉内を60秒かけて通過することでキャリア箔付き銅箔を得た。尚、各槽毎の工程間には、約30秒間の水洗可能な水洗槽に浸漬洗浄している。
キャリア箔付き極薄銅箔を金属箔5に変えた以外は、実施例1と同じにしてプリント配線板を得た。
(Comparative Example 2)
(Manufacture of metal foil 5)
35 μm thick electrolytic copper foil (F2-WS, glossy surface roughness Ra = 0.2 μm, Rz = 1.2 μm) on the glossy surface of the carrier foil and the bonding interface layer and ultrathin Copper foil layers were sequentially formed. As manufacturing conditions, first, the carrier foil was immersed in an acid cleaning tank (dilute sulfuric acid solution; 150 g / L, liquid temperature 30 ° C.) for 20 seconds to remove oil and oxide film on the surface. Next, it was immersed in a bonding interface formation tank (carboxybenzotriazole solution; 5 g / L, liquid temperature 40 ° C., pH 5) to form a bonding interface layer on the glossy surface of the carrier foil. Next, while immersed in a bulk copper formation tank 1 (copper pyrophosphate solution; potassium pyrophosphate concentration 320 g / L, copper concentration 80 g / L, 25% aqueous ammonia 2 ml / L, pH 8.5, liquid temperature 40 ° C.) A flat anode electrode (lead) is arranged in parallel to one side of the carrier foil, electrolyzed under smooth plating conditions with a current density of 1.5 A / dm 2 , and then a bulk copper forming tank 2 (copper sulfate solution; sulfuric acid) A flat plate anode electrode (lead) is placed in parallel to one side of the carrier foil while being immersed in a concentration of 100 g / L, a copper concentration of 200 g / L, and a liquid temperature of 45 ° C., and smooth plating conditions with a current density of 3 A / dm 2 Was used to form a 1.5 μm bulk copper layer. Next, while immersing in the surface of the bulk copper layer in a fine copper grain formation tank (copper sulfate solution; sulfuric acid concentration 100 g / L, sulfuric acid solution with copper concentration 18 g / L, liquid temperature 25 ° C.) A flat anode electrode (lead) was arranged in parallel, and electrolysis was performed under the condition of burnt plating with a current density of 5 A / dm 2 . Next, a current density of 10 A / dm 2 is applied while being immersed in a covering plating tank (copper sulfate solution; sulfuric acid concentration 150 g / L, copper concentration 65 g / L, liquid temperature 45 ° C.) for preventing fine copper particles from falling off. Electrolysis was performed under smooth plating conditions to form 0.5 μm fine roughening, and an ultrathin copper foil having a total thickness of 2.0 μm was produced. Next, it is immersed in a rust prevention treatment tank (zinc sulfate solution; sulfuric acid concentration 70 g / L, zinc concentration 20 g / L, liquid temperature 40 ° C.), electrolyzed at a current density of 15 A / dm 2 and subjected to rust prevention treatment using zinc. went. Here, a soluble anode using a zinc plate as the anode electrode was used. Next, it was immersed in a chromate treatment tank (chromic acid solution; chromic acid concentration 5 g / L, pH 11.5, liquid temperature 55 ° C.) for 4 seconds. Finally, a copper foil with a carrier foil was obtained by passing through a furnace heated to an atmospheric temperature of 110 ° C. by an electric heater in a drying treatment tank over 60 seconds. In addition, it is immersed and washed in the water washing tank which can be washed for about 30 seconds between the processes for each tank.
A printed wiring board was obtained in the same manner as in Example 1 except that the ultrathin copper foil with carrier foil was changed to the metal foil 5.

(評価)
各実施例および比較例で得られたプリント配線板を用いて、以下の評価を行った。評価項目を内容と共に示し、得られた結果を表1に示す。
(Evaluation)
The following evaluation was performed using the printed wiring board obtained in each Example and Comparative Example. The evaluation items are shown together with the contents, and the obtained results are shown in Table 1.

(評価)
各実施例および比較例で得られたプリント配線板を用いて、以下の評価を行った。評価項目を内容と共に示し、得られた結果を表1に示す。また、実施例1および比較例1のSEM画像を、図16及び図17に示す。
(Evaluation)
The following evaluation was performed using the printed wiring board obtained in each Example and Comparative Example. The evaluation items are shown together with the contents, and the obtained results are shown in Table 1. Further, SEM images of Example 1 and Comparative Example 1 are shown in FIGS. 16 and 17.

(1)絶縁層の表面粗さ(Rp、Rku)
カラー3Dレーザー顕微鏡(キーエンス社製、装置名VK−9710)を用いて、粗さ曲線の最大山高さRp、および粗さ曲線のクルトシス(尖り度)Rkuを、JIS B0601:2001(カットオフ値なし)に準じて測定した。測定は、測定片の任意の20点(20箇所)について観察視野面を100μm×100μmで行い平均値とした。尚、上記得られた積層板(図7(a))のキャリア箔を剥離除去、および極薄銅箔を塩化銅エッチング液で全面エッチングしたものをサンプルとした。
(1) Surface roughness of insulating layer (Rp, Rku)
Using a color 3D laser microscope (manufactured by Keyence Corporation, apparatus name VK-9710), the maximum peak height Rp of the roughness curve and the kurtosis (kurtosis) Rku of the roughness curve were measured according to JIS B0601: 2001 (no cut-off value). ). The measurement was performed by setting the observation visual field surface at 100 μm × 100 μm at an arbitrary 20 points (20 places) on the measurement piece, and setting the average value. In addition, the sample obtained by peeling and removing the carrier foil of the obtained laminate (FIG. 7A) and etching the entire surface of the ultrathin copper foil with a copper chloride etchant was used as a sample.

(2)フラッシュエッチング後の絶縁層表面の様子、および銅残りの有無
走査型電子顕微鏡(日本電子社製、装置名:JSM−6060LV)を用いて、真上から、観察したSEM画像から判定する。尚、上記プリント配線板の製造過程で配線加工直後のもの(図8(c))をサンプルとした。
各符号は、以下の通りである。
○:絶縁層表面にスジ状の模様、クレータ、および銅残りなし
×:絶縁層表面にスジ状の模様、またはクレータあり、または銅残りあり
(2) State of insulating layer surface after flash etching and presence / absence of copper residue Using a scanning electron microscope (manufactured by JEOL Ltd., apparatus name: JSM-6060LV), judgment is made from the observed SEM image from directly above. . A sample immediately after wiring processing in the manufacturing process of the printed wiring board (FIG. 8C) was used as a sample.
Each code is as follows.
○: No streak-like pattern, crater, or copper residue on the insulating layer surface ×: Streaky pattern, crater, or copper residue on the insulating layer surface

(3)LSの細線加工時の薄銅箔の形状
走査型電子顕微鏡(日本電子社製、装置名:JSM−6060LV)を用いて、真上から、観察したSEM画像から判定する。尚、上記プリント配線板の製造過程で配線加工直後のもの(図8(c))をサンプルとした。
各符号は、以下の通りである。
○:配線回路の絶縁層近傍に裾残りなし
×:配線回路の絶縁層近傍に裾残りあり
(3) Shape of thin copper foil at the time of thin line processing of LS Using a scanning electron microscope (manufactured by JEOL Ltd., apparatus name: JSM-6060LV), determination is made from an observed SEM image from directly above. A sample immediately after wiring processing in the manufacturing process of the printed wiring board (FIG. 8C) was used as a sample.
Each code is as follows.
○: There is no skirt residue near the insulation layer of the wiring circuit ×: There is a skirt residue near the insulation layer of the wiring circuit

(4)ΔL=L1−L2
走査型電子顕微鏡(日本電子社製、装置名:JSM−6060LV)用いて、配線の断面形状を観察し、薄銅箔の最大幅をL1、電気パターンめっきの最小幅をL2を算出して計算した。尚、サンプルは、プリント配線板(図8(c))を用いた。
(4) ΔL = L1−L2
Using a scanning electron microscope (manufactured by JEOL Ltd., device name: JSM-6060LV), observe the cross-sectional shape of the wiring, calculate the maximum width of thin copper foil L1, and calculate the minimum width of electric pattern plating L2 did. As a sample, a printed wiring board (FIG. 8C) was used.

(5)LS20(L/S=20μm/20μm)の線間BHAST
微細配線間の電気絶縁信頼性は、印加電圧10V、温度130℃湿度85%の条件で、連続測定で評価した。尚、サンプルは、上記実施例にて得られたプリント配線板(図12(b))を用いた。尚、絶縁抵抗値が10Ω未満となる時点で終了とした。
各符号は以下の通りである。
○:100時間以上
×:100時間未満であった。
(5) LS20 (L / S = 20 μm / 20 μm) line-to-line BHAST
The electrical insulation reliability between the fine wirings was evaluated by continuous measurement under the conditions of an applied voltage of 10 V and a temperature of 130 ° C. and a humidity of 85%. In addition, the printed wiring board (FIG.12 (b)) obtained in the said Example was used for the sample. The process was terminated when the insulation resistance value was less than 10 8 Ω.
Each code is as follows.
○: 100 hours or more ×: Less than 100 hours.

1 銅張積層板
2 絶縁層
4 銅箔層
10 キャリア箔付き銅張積層板
14 金属層
19 導電回路
20 上面
22 下面
24 側面
30 一面
100 銅張積層板
101 プリント配線板
102 絶縁層
104 銅箔層
105 銅箔層
106 キャリア箔層
107 キャリア箔層
108 貫通孔
109 孔
110 無電解めっき層
111 無電解めっき層
112 レジスト層
113 レジスト層
114 めっき層
115 金属層
116 金属層
118 導電回路
119 導電回路
120 ソルダーレジスト層
121 ソルダーレジスト層
122 第1のめっき層
123 第1のめっき層
124 第2のめっき層
125 第2のめっき層
130 絶縁層
132 めっき層
200 プリント配線板
201 プリント配線板
202 プリント配線板
203 プリント配線板
204 プリント配線板
205 プリント配線
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Copper clad laminated board 2 Insulating layer 4 Copper foil layer 10 Copper clad laminated board 14 with carrier foil Metal layer 19 Conductive circuit 20 Upper surface 22 Lower surface 24 Side 30 One side 100 Copper clad laminated board 101 Printed wiring board 102 Insulating layer 104 Copper foil layer 105 Copper foil layer 106 Carrier foil layer 107 Carrier foil layer 108 Through hole 109 Hole 110 Electroless plating layer 111 Electroless plating layer 112 Resist layer 113 Resist layer 114 Plating layer 115 Metal layer 116 Metal layer 118 Conductive circuit 119 Conductive circuit 120 Solder Resist layer 121 Solder resist layer 122 First plating layer 123 First plating layer 124 Second plating layer 125 Second plating layer 130 Insulating layer 132 Plating layer 200 Printed wiring board 201 Printed wiring board 202 Printed wiring board 203 Print Wiring board 204 Printed wiring board 205 Cement wiring

Claims (13)

少なくとも絶縁層の一面上にキャリア基材付き銅箔が積層された積層板から前記キャリア基材を分離する工程と、
前記銅箔上に、前記銅箔よりも厚い金属層を全面にまたは選択的に形成する工程と、
少なくとも前記銅箔をエッチングすることにより、前記銅箔および前記金属層から構成される導電回路パターンを得る工程と、を含み、
前記導電回路パターンを得る前記工程において、JIS B0601で測定したときに、前記絶縁層の前記一面におけるRpが4.5μm以下であり、かつ、Rkuが2.1以上である、プリント配線板の製造方法。
Separating the carrier substrate from a laminate in which a copper foil with a carrier substrate is laminated on at least one surface of the insulating layer;
Forming a metal layer thicker than the copper foil on the entire surface or selectively on the copper foil;
Obtaining a conductive circuit pattern composed of the copper foil and the metal layer by etching at least the copper foil, and
In the step of obtaining the conductive circuit pattern, when measured according to JIS B0601, the Rp on the one surface of the insulating layer is 4.5 μm or less and the Rku is 2.1 or more. Method.
請求項1に記載のプリント配線板の製造方法であって、  It is a manufacturing method of the printed wiring board according to claim 1,
前記絶縁層は、熱硬化性樹脂を含む樹脂組成物により構成される、プリント配線板の製造方法。  The said insulating layer is a manufacturing method of a printed wiring board comprised with the resin composition containing a thermosetting resin.
請求項1または2に記載のプリント配線板の製造方法であって、
前記絶縁層の前記一面と対向する前記銅箔の表面におけるRaが、1.0μm以下である、プリント配線板の製造方法。
It is a manufacturing method of the printed wiring board according to claim 1 or 2 ,
Ra of the surface of the said copper foil facing the said one surface of the said insulating layer is a manufacturing method of a printed wiring board which is 1.0 micrometer or less.
請求項1から3のいずれか1項に記載のプリント配線板の製造方法であって、
前記銅箔は、長辺の平均長さが2μm以下の結晶粒を有している、プリント配線板の製造方法。
It is a manufacturing method of a printed wiring board given in any 1 paragraph of Claims 1-3,
The said copper foil is a manufacturing method of a printed wiring board which has a crystal grain whose average length of a long side is 2 micrometers or less.
請求項に記載のプリント配線板の製造方法であって、
断面視において、前記長辺の平均長さが2μm以下の前記結晶粒が占める面積率が80%以上である、プリント配線板の製造方法。
It is a manufacturing method of the printed wiring board according to claim 4 ,
The method for manufacturing a printed wiring board, wherein an area ratio occupied by the crystal grains having an average length of the long side of 2 μm or less is 80% or more in a cross-sectional view.
請求項1からのいずれか1項に記載のプリント配線板の製造方法であって、
前記銅箔の表面と対向する前記キャリア基材の表面の10点平均粗さ(Rz)が0.1μm以上5.0μm以下である、プリント配線板の製造方法。
A method for manufacturing a printed wiring board according to any one of claims 1 to 5 ,
The manufacturing method of a printed wiring board whose 10-point average roughness (Rz) of the surface of the said carrier base material facing the surface of the said copper foil is 0.1 micrometer or more and 5.0 micrometers or less.
請求項1からのいずれか1項に記載のプリント配線板の製造方法であって、
前記金属層を全面にまたは選択的に形成する前記工程は、
前記銅箔上に開口パターンを有するレジストを形成する工程と、
前記開口パターン内かつ前記銅箔上に、めっき処理により前記金属層となるめっき層を形成する工程と、
前記レジストを除去する工程と、を含み、
前記導電回路パターンを得る前記工程は、前記銅箔をソフトエッチングする工程を含む、プリント配線板の製造方法。
A method for producing a printed wiring board according to any one of claims 1 to 6 ,
The step of forming the metal layer on the entire surface or selectively,
Forming a resist having an opening pattern on the copper foil;
Forming a plating layer to be the metal layer by plating in the opening pattern and on the copper foil;
Removing the resist, and
The said process of obtaining the said conductive circuit pattern is a manufacturing method of a printed wiring board including the process of carrying out the soft etching of the said copper foil.
請求項1からのいずれか1項に記載のプリント配線板の製造方法であって、
前記金属層を全面にまたは選択的に形成する前記工程の前に、
前記積層板に貫通孔又は非貫通孔を形成する工程と、
少なくとも前記貫通孔又は非貫通孔の内壁に薬液を接触させる工程と、
無電解めっきにより、少なくとも前記銅箔上及び、前記貫通孔の内壁上又は前記非貫通孔の内壁上に無電解めっき層を形成する工程と、をさらに含む、プリント配線板の製造方法。
A method for manufacturing a printed wiring board according to any one of claims 1 to 7 ,
Before the step of forming the metal layer on the entire surface or selectively,
Forming a through hole or a non-through hole in the laminate; and
A step of bringing a chemical solution into contact with at least the inner wall of the through hole or the non-through hole;
And a step of forming an electroless plating layer on at least the copper foil and the inner wall of the through hole or the inner wall of the non-through hole by electroless plating.
絶縁層と、
前記絶縁層の一面上に設けられており、銅箔および金属層から構成される導電回路パターンと、を備え、
JIS B0601で測定したときに、前記絶縁層の前記一面におけるRpが4.5μm以下であり、かつ、Rkuが2.1以上である、プリント配線板。
An insulating layer;
Provided on one surface of the insulating layer, comprising a conductive circuit pattern composed of a copper foil and a metal layer,
A printed wiring board having an Rp of 4.5 μm or less and an Rku of 2.1 or more when measured according to JIS B0601.
請求項9に記載のプリント配線板であって、  The printed wiring board according to claim 9,
前記絶縁層は、熱硬化性樹脂を含む樹脂組成物により構成される、プリント配線板。  The said insulating layer is a printed wiring board comprised with the resin composition containing a thermosetting resin.
請求項9または10に記載のプリント配線板であって、
前記金属層が2層以上のめっき膜を含む、プリント配線板。
The printed wiring board according to claim 9 or 10 ,
The printed wiring board in which the metal layer includes two or more plating films.
請求項9から11のいずれか1項に記載のプリント配線板であって、
平面視において、前記導電回路パターンの延在方向と直交する幅方向における前記銅箔の最大幅をL1とし、前記金属層の最小幅をL2としたとき、
前記L1は、前記L2と同一、又は前記L2より小さい、プリント配線板。
The printed wiring board according to any one of claims 9 to 11 ,
In plan view, when the maximum width of the copper foil in the width direction orthogonal to the extending direction of the conductive circuit pattern is L1, and the minimum width of the metal layer is L2,
Wherein L1 is equal to the L2, or the L2 smaller than the printed wiring board.
請求項12に記載のプリント配線板であって、
平面視において、前記銅箔の第1面から第2面に向かって、前記銅箔の面積が小さくなる、プリント配線板。
The printed wiring board according to claim 12 ,
A printed wiring board in which the area of the copper foil decreases from the first surface to the second surface of the copper foil in plan view.
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