KR20140067886A - The polishing apparatus and the polishing methdo for polishing the peripheral edge of the work, etc by the polishing tape - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은, 휴대 전화 표시창, 액정 패널, 유기 EL 패널, 플라스마 패널, 태양 전지 패널 등의 평면 표시 장치나 전자 부품용의 커버 유리, 광학 필터 등에 사용되는 판유리 등의 워크를 연마하는 장치 및 연마 방법에 관한 것이다. 특히, 판유리 등의 워크의 주연부를, 연마 테이프를 사용하여 고정밀도로 연마하는 연마 장치 및 연마 방법에 관한 것이다.INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can be applied to a flat display device such as a cellular phone display window, a liquid crystal panel, an organic EL panel, a plasma panel or a solar cell panel, a cover glass for an electronic part, . In particular, the present invention relates to a polishing apparatus and a polishing method for polishing the periphery of a work such as a plate glass with high precision using an abrasive tape.
최근, 스마트 폰, 태블릿형 단말기 등의 시장이 확대되고 있다. 이들의 전자 기기는, 디스플레이가 노출되어 있는 경우가 많아, 낙하나 충격 시에 흠집이 생기기 쉽다. 디스플레이의 크기는, 예를 들어 스마트 폰이 5인치 전후, 태블릿형 단말기가 6인치 내지 10인치 전후, 피처 폰은 3인치 전후(종횡비는, 통상은 4 : 3의 가로 : 세로 비율이며, 와이드의 경우 16 : 9)이다. 이러한 전자 기기용의 디스플레이를 보호하기 위한 커버 부재의 수요가 증대하고 있다.Recently, the market for smart phones and tablet-type handsets is expanding. In these electronic devices, the display is often exposed, and scratches are likely to occur at the time of drop or impact. The size of the display is, for example, about 5 inches for a smartphone, about 6 inches to about 10 inches for a tablet-type terminal, about 3 inches for a feature phone (aspect ratio is usually 4: 16: 9). A demand for a cover member for protecting a display for such electronic devices is increasing.
디스플레이(메인 디스플레이, 서브 디스플레이, 카메라의 디스플레이 등)의 커버 부재의 재료로서, 종래의 편면(또는 양면)에 하드 코트를 실시한 내손상성의 아크릴이나 폴리카르보네이트를 대신하여, 최근은 커버 유리의 채용이 증대되고 있으며, 이 커버 유리의 강도를 향상시키는 것이 과제가 되고 있다.As a material of a cover member of a display (a main display, a sub display, a camera display, or the like), instead of acrylic or polycarbonate having scratch resistance which is hard coated on a conventional one side (or both sides) The use of the cover glass has been increasing, and it has become a challenge to improve the strength of the cover glass.
유리는, 이론적으로는 강도가 높은 재료이지만(1000 내지 2000㎏/㎟), 실제 강도는 낮다(3 내지 20㎏/㎟). 이것은, 유리의 표면 등에 눈에는 보이지 않는 미세한 흠집, 균열, 치핑(chipping) 등(잠상)이 있어, 유리에 인장 응력이 작용했을 때에 응력 집중이 발생하여, 파손의 원인이 되는 경우가 많기 때문이다.The glass is theoretically a high strength material (1000 to 2000 kg / mm 2), but the actual strength is low (3 to 20 kg / mm 2). This is because there are minute scratches, cracks, chipping, etc. (latent images) that are not visible on the surface of the glass or the like, and stress concentration occurs when tensile stress acts on the glass, which often causes breakage .
유리의 강도를 향상시키기 위해서, 다양한 물리적인 방법(표면 급랭법 등)이나 화학적인 방법(화학 에칭 처리, 이온 교환법 등)이 고안되어 있지만, 이들의 강화 방법을 채용하는 경우도, 파손의 원인이 되는 유리의 미세한 흠집을 제거하는 것이 중요하다.In order to improve the strength of the glass, various physical methods (surface quenching method and the like) and chemical methods (chemical etching treatment, ion exchange method, etc.) have been devised. However, even when these strengthening methods are adopted, It is important to remove fine scratches on the glass.
커버 유리는, 대체로 재료인 유리 미가공판을 소정의 크기로 절단하고, 이에 다양한 가공을 실시함으로써 제조된다. 유리 미가공판의 절단면인 단부면에는, 미세한 흠집이나 균열 등이 형성되어 있다. 이러한 단부면에 형성되어 있는 미세한 흠집을 제거하기 위해서, 귀퉁이부나 코너부를 제거하는 모따기(실 모따기)가 행해진다.The cover glass is produced by cutting a glass-untreated sintered glass plate, which is generally a material, into a predetermined size, and performing various processing on the glass untreated sintered glass. Fine scratches, cracks, and the like are formed on the end surface which is the cut surface of the glass-unperturbed soda-lime. In order to remove fine scratches formed on the end face, a chamfer (a chamfer) for removing the corners and corners is performed.
모따기에서는, 소정 형상(직사각형 등)의 판유리의 변부(단부면과 상면 또는 하면과의 경계부)를 연마하는 소위 C 모따기, 또는 코너부(하나의 단부면과 인접하는 단부면과의 경계부)를 연마하는 소위 R 모따기 등이 행해진다.In the chamfer, a so-called C chamfer or a corner portion (a boundary portion between one end face and an adjacent end face) that polishes a side edge of the plate glass of a predetermined shape (such as a rectangular shape) Called " R chamfering "
종래, C 모따기나 R 모따기에는 지석 등의 연마 재료가 사용되고, 특히 R 모따기에서는 R 형상에 의해(예를 들어, R1, R10 등), 대응하는 형상의 연마 재료가 필요하며, 연마 재료의 형상을 고정밀도로 형성하는 것이 곤란하였다. 또한, 연마 프로그램의 작성이나 연마에 의해 형성되는 피연마면의 품질 유지, 향상이 곤란하였다.Conventionally, an abrasive material such as a grinding stone is used for the C chamfer or the R chamfer, and in particular, in the case of the R chamfer, an abrasive material having a corresponding shape is required by the R shape (for example, R1, R10 and the like) It has been difficult to form it with high precision. In addition, it is difficult to maintain and improve the quality of the surface to be polished formed by polishing program or polishing.
종래, 대략 원반 형상의 연삭 지석(숫돌)의 원반면을 기울여서 판유리의 귀퉁이부에 압박함으로써 귀퉁이부만을 제거하는 C 모따기 가공이 행해지고 있었다(일본 특허 공개 제2000-233351호 공보 : 특허 문헌 1). 또한, 연삭 지석의 단부면에 경사면을 마련하고, 상기 경사면을 판유리의 귀퉁이부에 압박하여 귀퉁이부만을 제거하는 C 모따기 가공이 행해지고 있었다(일본 특허 공개 제2003-231046호 공보 : 특허 문헌 2, 일본 특허 공개 제2011-51068호 공보 : 특허 문헌 3).Conventionally, a chamfering process for removing only a corner portion has been performed by tilting a circle-shaped grindstone of a substantially disk-shaped grindstone to the corner of the plate glass (Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-233351). Further, a C chamfering process has been performed in which an inclined surface is provided on the end face of the grinding stone, and the inclined face is pressed against the corner of the plate glass to remove only the corners (Japanese Patent Application Laid-Open No. 2003-231046 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2011-51068 (Patent Document 3).
또한, 연삭 지석의 단부면에 원호형의 오목부 또는 원하는 형상의 오목부를 형성하여, 판유리의 단부면을 연삭 지석의 단부면 형상을 따라서 제거하는, R 모따기 가공 또는 총형 가공이 행해지고 있었다(일본 특허 공개 제2002-59346호 공보 : 특허 문헌 4, 일본 특허 공개 제2001-85710호 공보 : 특허 문헌 5).In addition, an R-chamfering process or a total-type process has been performed in which an arc-shaped concave portion or a concave portion having a desired shape is formed on the end face of the grinding stone to remove the end face of the plate glass along the shape of the end face of the grinding stone Open Publication No. 2002-59346 Patent Document 4, Japanese Patent Laid-Open No. 2001-85710 Patent Document 5).
상기와 같은 종래의 모따기 가공에서는, 연삭 지석으로서, 금속 분말을 굳혀서 소결해 다이아몬드 지립을 고정한 메탈 본드의 다이아몬드 휠 등이 사용되고, 지립의 크기가 다른 휠(지석)을 사용하여, 1차 가공과 2차 가공이 행해졌다. 1차 가공에는, 메쉬 크기가 #325 내지 #600인 다이아몬드 입자를 사용한 휠이 사용되고, 가공한 판유리 단부 테두리부의 평균 표면 조도(Ra)는, 대략 0.5㎛ 내지 1.0㎛인 범위에 있었다. 이 표면 조도를 작게 하기 위해서, 2차 가공에는 1차 가공용의 휠과 동일한 단면 형상으로 성형된, 메쉬 크기가 #1000 내지 #2000인 다이아몬드 입자를 사용한 마무리 가공용의 휠이 사용되었다.In the conventional chamfering process as described above, a diamond wheel of a metal bond in which a metal powder is hardened and sintered to fix diamond abrasive grains is used as a grinding wheel, and a wheel (grinding wheel) having different abrasive grain sizes is used, Tea processing was done. In the first machining, a wheel using diamond particles having a mesh size of # 325 to # 600 was used, and the average surface roughness (Ra) of the machined portion of the end portion of the plate glass was in the range of about 0.5 μm to 1.0 μm. In order to reduce the surface roughness, in the secondary machining, a finishing wheel using diamond particles having mesh sizes of # 1000 to # 2000, which was formed into the same sectional shape as the wheel for primary machining, was used.
또한, 상기와 같은 메탈 본드의 다이아몬드 휠 대신에, 섬유 사이가 수지로 충전된 섬유 구성체의 모따기 휠, 또는 메쉬 크기가 #500 내지 #2000인 탄화규소, 알루미나 등의 연마 지립이 배치된 수지 구성체의 모따기 휠이 제안되었다(일본 특허 공개 제2002-160147호 공보 : 특허 문헌 6). 이 모따기 휠(지석)을 회전시키면서, 단면 오목 형상으로 형성된 휠의 주연부를 액정 디스플레이용 판유리 등의 단부면에 압박함으로써, 가공이 행해졌다. 가공 불균일을 없애 균일한 연마를 행하기 위해서, 모따기 휠은 회전축을 판유리의 표면에 세운 수선에 대하여 소정 각도 기울여서 사용되었다.In place of the diamond wheel of the metal bond as described above, a chamfered wheel of a fiber structure filled with a resin between the fibers or a resin structure having abrasive grains such as silicon carbide or alumina having mesh size of # 500 to # 2000 A chamfered wheel has been proposed (Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-160147: Patent Document 6). The chamfered wheel (grindstone) was rotated, and the peripheral edge of the wheel formed in a concave shape was pressed against the end face of a plate glass or the like for a liquid crystal display to perform machining. The chamfered wheel was used by tilting the rotation axis at a predetermined angle with respect to the water line formed on the surface of the plate glass in order to perform uniform polishing without the machining unevenness.
상기와 같은 지석(휠)을 판유리의 단부 테두리부에 압박하여 회전시키면서 모따기를 행하면, 지석의 막힘이나 지석의 마모가 서서히 진행된다고 하는 문제가 있었다. 막힘이나 마모에 의해 지석 가공부의 형상 등이 나빠지면, 판유리의 주연부에 연삭 흠집이 발생하게 되어, 지석이 판유리의 주연부의 일부에 접촉하지 않음으로써 미가공부(가공 불균일)를 발생하고, 또한 가공 압력의 불균일에 의해 소결 등을 발생하는 경우가 있었다.There has been a problem that the clogging of the grinding wheel and the wear of the grinding stone are gradually progressed when the grinding wheel is chamfered while pressing the grinding wheel to the edge of the end portion of the plate glass. If the shape or the like of the grindstone processing portion is deteriorated due to clogging or abrasion, grinding flaws are generated on the periphery of the plate glass, and the grindstone does not contact a part of the periphery of the plate glass, Sintering or the like may occur due to unevenness.
지석 가공부의 형상 등이 나빠진 경우, 드레싱이나 트루잉이 행해지지만, 다이아몬드 휠에는 고도의 성형 정밀도가 불가결하게 되어, 드레싱 등이나 지석의 위치 조정에 시간을 필요로 하므로, 작업 효율이 저하되었다. 또한, 지석의 미사용 영역이 많이 남은 상태에서 가공부의 드레싱 등을 행하거나, 수명이 다되어 지석의 교환을 행하거나 할 필요가 있으므로, 비용이 증대한다는 문제가 있었다.When the shape of the grinding wheel is poor, dressing or truing is performed. However, high precision of forming is essential for the diamond wheel, and it takes time to adjust the position of the dressing or the grinding wheel. In addition, there is a problem in that cost is increased because it is necessary to perform dressing of the machining portion in a state where a large amount of unused area of the grinding stones remains, or to replace the grinding stone after the life of the machining portion has expired.
또한, 지석을 사용하여 판유리의 주연부의 모따기를 행하면, 지석을 가공물에 접촉할 때에 기계적 충격이 가해져, 그 충격으로 판유리가 파손되어, 가공 수율이 나빠진다는 문제가 있었다.Further, when chamfering the periphery of the plate glass using the grinding wheel, mechanical impact is applied to the grinding wheel when the grinding wheel is brought into contact with the workpiece, and the plate glass is damaged by the impact.
메탈 본드의 다이아몬드 휠과 비교하여 강성이 낮은 수지 구성체 등의 모따기 휠(특허 문헌 6)에서는, 판유리의 단부 테두리부에의 충격이 감소되어, 절결이나 흠집의 발생은 감소하였다. 그러나 지석의 마모가 심하게 되어 가공부의 형상 변화가 빠르고, 막힘도 발생하므로, 지석의 드레싱(또는 트루잉)의 빈도가 높다는 문제가 있었다. 또한, 지석의 마모 찌꺼기가 판유리 등 워크에 부착되어 버려, 세정 장치나 세정 공정이 필요해지거나, 또는 장치 자체가 더러워지기 때문에, 장치 보수에 시간이 걸린다고 하는 문제가 있었다.In the chamfered wheel (Patent Document 6) such as a resin structure having a low rigidity as compared with the diamond wheel of metal bond, the impact on the edge of the end portion of the plate glass is reduced, and the occurrence of cut and scratches is reduced. However, there has been a problem in that dressing (or truing) of the grinding wheel is frequently incurred because the abrasion of the grinding stone becomes severe and the shape of the machining portion changes rapidly and clogging occurs. Further, there is a problem that it takes a long time to repair the apparatus because the abrasive debris of the grinding stone adheres to the work such as the plate glass, the cleaning device or the cleaning process becomes necessary, or the apparatus itself becomes dirty.
또한, 최근 수요가 확대되고 있는 디스플레이용의 커버 유리(판유리)는 두께가 얇아(예를 들어, 1㎜ 이하), 보다 고정밀도로 주연부(귀퉁이부나 코너부)가 모따기 가공되는 것이 요구되게 되었다. 종래의 연삭 지석을 사용하여 판유리의 주연부를 모따기한 경우, 얻을 수 있는 가공면의 정밀도가 불충분하여, 주연부에 미세한 흠집 또는 치핑이 남아 버려, 연마에 의해 판유리의 강도를 향상시킬 수 없었다.Further, it has been demanded that the cover glass (plate glass) for display, which has recently been in increasing demand, has a thin thickness (for example, 1 mm or less) and chamfering of the periphery (corners and corners) with higher precision. When the periphery of the plate glass is chamfered by using a conventional grinding stone, the precision of the obtainable machining surface is insufficient, and fine scratches or chipping remain on the periphery, so that the strength of the plate glass can not be improved by polishing.
상기한 문제를 감안하여, 본 발명은 판유리 등의 워크의 주연부(변부, 코너부 등)를 연마 테이프를 사용하여 연마하고, 고정밀도로 가공할 수 있는 연마 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다. 또한, 연마 장치와 연마 테이프를 사용하여, 다양한 형상을 갖는 워크의 주연부를 연마할 수 있는 연마 장치를 제공한다.SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above problems, it is an object of the present invention to provide a polishing apparatus capable of polishing a periphery of a work such as a plate glass by using an abrasive tape and processing it with high accuracy. Further, there is provided a polishing apparatus capable of polishing the periphery of a work having various shapes by using a polishing apparatus and a polishing tape.
또한, 판유리의 강도를 향상하도록, 판유리의 주연부를 고정밀도로 연마하는 연마 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. 상기 방법에 의해 연마되어, 강도가 향상된 판유리를 제공하는 것을 목적으로 한다.Another object of the present invention is to provide a polishing method for polishing the periphery of a plate glass with high precision so as to improve the strength of the plate glass. It is an object of the present invention to provide a plate glass which is polished by the above method and has improved strength.
상기 과제를 해결하는 본 발명의 하나의 형태에 관한 워크의 주연부를 연마 테이프를 사용하여 연마하기 위한 연마 장치는, 워크의 주연부의 직선적인 피연마 부분을 연마하는, 수평인 제1 연마 축선을 갖는 제1 연마부와, 워크의 주연부의 비직선적인 피연마 부분을 연마하는, 수평인 제2 연마 축선을 갖는 제2 연마부를 포함하고, 제1 연마부가 워크를 보유 지지하기 위한 제1 워크 유닛과, 제1 연마 축선을 사이에 두고, 제1 워크 유닛에 대향하여 제1 연마 테이프 중 적어도 일부의 표면을 배치하기 위한 제1 연마 테이프 유닛을 포함하고, 제2 연마부가 워크를 보유 지지하기 위한 제2 워크 유닛과, 제2 연마 축선을 사이에 두고, 제2 워크 유닛에 대향하여 제2 연마 테이프 중 적어도 일부의 표면을 배치하기 위한 제2 연마 테이프 유닛을 포함하고, 제1 연마부에 있어서, 배치된 제1 연마 테이프의 표면이 제1 연마면을 구획 형성하고, 직선적인 피연마 부분과 제1 연마면이 접하여 제1 연마 축선에 있어서 상대 이동함으로써 연마가 행해지고, 제2 연마부에 있어서, 배치된 제2 연마 테이프의 표면이 제2 연마면을 구획 형성하고, 비직선적인 피연마 부분과 제2 연마면이 접하여 제2 연마 축선에 있어서 상대 이동함으로써 연마가 행해지는 것을 특징으로 한다.According to one aspect of the present invention for solving the above problems, there is provided a polishing apparatus for polishing a periphery of a work with a polishing tape, the polishing apparatus having a first horizontal polishing axis for polishing a linearly polished portion of the periphery of the work A first polishing unit including a first polishing unit and a second polishing unit having a horizontal second polishing axis for polishing a non-linearly polished portion of the periphery of the work, wherein the first polishing unit includes a first work unit for holding a workpiece And a first abrasive tape unit for disposing a surface of at least a part of the first abrasive tape so as to face the first work unit with a first abrasive axis interposed therebetween, And a second polishing tape unit for placing the surface of at least part of the second polishing tape opposite to the second work unit with the second polishing axis interposed therebetween, , The surface of the first abrasive tape is divided to form a first abrasive surface and the abrasive is performed by relatively moving the first abrasive surface in contact with the linearly polished portion and the first abrasive surface, , The surface of the second abrasive tape is divided and the second abrasive surface is formed, and the non-linear abrasive portion and the second abrasive surface are brought into contact with each other so as to move relative to each other on the second abrasive axis, do.
이렇게 구성함으로써, 연마 테이프를 사용하여, 워크의 주연부의 직선적인 피연마 부분, 예를 들어 직사각형의 판유리의 변부(귀퉁이부)와, 워크의 주연부의 비직선적인 피연마 부분, 예를 들어 직사각형의 판유리의 코너부를 연마 장치로 연마할 수 있다. 또한, 상기와 같이 구성함으로써, 예를 들어 제1 연마 테이프와 제2 연마 테이프(동일한 것이라도 좋음)를 연마 장치에 배치함으로써, 다양한 형상(예를 들어, 직선적인 형상이나 소정의 곡률을 갖는 형상)의 피연마 부분을 연마할 수 있다. 본 발명에 따른 연마 장치는, 두께가 1㎜ 이하인 박판 워크의 주연부를 고정밀도로 연마할 수 있다. 워크는 판유리이든, 실리콘 등의 결정 재료를 포함하여 이루어지는 판이든 상관없다. 본 발명은 특히, 벽개성을 갖는 결정 재료를 포함하여 이루어지는 판의 강도를 향상하도록, 주연부를 연마하기 위하여 유효하다. 워크는, 벽개성을 갖지 않는 결정 재료를 포함하여 이루어지는 판이든, 스테인리스나 알루미늄 등의 금속 재료를 포함하여 이루어지는 판이든 상관없다.With this configuration, by using the abrasive tape, the linearly polished portion of the periphery of the work, for example, the edge portion (corner portion) of the rectangular plate glass and the non-linearly polished portion of the periphery of the work, The corners of the plate glass can be polished by a polishing apparatus. Further, by arranging the first polishing tape and the second polishing tape (which may be the same) on the polishing apparatus, it is possible to obtain various shapes (for example, a linear shape or a shape having a predetermined curvature ) Can be polished. The polishing apparatus according to the present invention can polish the periphery of a thin plate workpiece having a thickness of 1 mm or less with high precision. The work may be a plate glass or a plate including a crystal material such as silicon. The present invention is particularly effective for polishing the periphery so as to improve the strength of a plate comprising a crystal material having wall characteristics. The work may be a plate including a crystal material having no wall characteristics, or a plate including a metallic material such as stainless steel or aluminum.
본 발명에 따른 연마 장치는, 적절하게, 제1 연마부로부터 제2 연마부에 걸쳐 자동적인 연속 연마를 행하기 위해, 워크 반송 유닛을 포함해도 좋다. 워크 반송 유닛은, 적절하게 워크의 상면을 흡착하여 반송하기 위한 아암 수단을 갖는다. 워크 반송 유닛의 아암 수단은, 또한 워크 유닛 위에서 워크를 회전하여 배치한다. 예를 들어, 도 15에 도시되어 있는 바와 같이, 직사각형의 워크(W)에 대하여, 워크의 대각선의 교점인 중심 C1 또는 워크의 짧은 변을 포함하는 정사각형의 대각선의 교점인 중심 C2를 중심으로 하여, 워크를 회전(90도씩, 또는 180도씩) 한다. 워크 반송 유닛을 가짐으로써, 예를 들어 직사각형 워크의 4개의 단부면(또는 상면, 하면에 따른 8변)이나 4개의 코너부를 포함하는 워크의 주연부 전체를, 연속하여 자동으로 연마할 수 있다.The polishing apparatus according to the present invention may suitably include a work carrying unit for performing automatic continuous polishing from the first polishing section to the second polishing section. The work carrying unit has arm means for suitably sucking and conveying the upper surface of the work. The arm means of the work carrying unit also rotates and places the work on the work unit. For example, as shown in Fig. 15, with respect to a rectangular work W, a center C1, which is an intersection of diagonal lines of the work, or a center C2, which is an intersection of a diagonal line of a square including a short side of the work, , Rotate the work (90 degrees or 180 degrees). By having the work carrying unit, for example, the entire periphery of the work including the four end faces of the rectangular work (or eight sides along the upper and lower faces) or the four corners can be continuously and automatically polished.
본 발명에 따른 연마 장치는, 적절하게, 판유리를 포함하여 이루어지는 워크의 주연부를 연마한다. 판유리를 포함하여 이루어지는 워크의 주연부를 연마할 때, 연마 장치의 제1 연마부에 있어서, 직선적인 피연마 부분과 제1 연마면이, 판유리의 주연부의 직선적인 피연마 부분을, 평균 표면 조도(Ra)가 20㎚ 이하, 또한 최대 골 깊이(Rv)가 200㎚ 이하로 형성되도록 상대 이동하고, 연마 장치의 제2 연마부에 있어서, 비직선적인 피연마 부분과 제2 연마면이, 판유리의 주연부의 비직선적인 피연마 부분을, 평균 표면 조도(Ra)가 20㎚ 이하, 또한 최대 골 깊이(Rv)가 200㎚ 이하로 형성되도록 상대 이동한다.The polishing apparatus according to the present invention appropriately polishes the periphery of the work including the plate glass. The linearly polished portion and the first polished surface in the first polished portion of the polishing apparatus when polishing the peripheral portion of the work including the plate glass are formed so that the linearly polished portion of the periphery of the plate glass is polished by the average surface roughness Ra) of 20 nm or less and a maximum bone depth (Rv) of 200 nm or less, and in the second polishing section of the polishing apparatus, the non-linearly polished portion and the second polishing surface The non-linearly polished portion of the peripheral portion is relatively moved such that the average surface roughness Ra is 20 nm or less and the maximum bone depth Rv is 200 nm or less.
본 발명에 따른 연마 장치는, 판유리의 주연부를 연마하여, 판유리의 기계적 강도를 향상하도록 구성된 것이다. 도 16에 도시되어 있는 바와 같이, 피연마물인 판유리(W)는, 주표면(상면, 하면)이나 단부면의 주연부(귀퉁이부, 코너부)에, 미가공판을 나누었을 때에 형성된 (A) 오목부나 볼록부 및 (B) 균열 등을 갖는다. 귀퉁이부에 형성된 예리한 볼록부는 치핑의 기점이 되고, 균열은 판유리의 파괴의 기점이 된다. 본 발명에 따른 연마 장치는, 판유리의 제조 시에 발생한 균열 등이 전반되지 않고 소멸하도록 주연부를 고정밀도로 연마하여, 판유리의 강도를 향상시키는 것이다. 판유리의 강도를 향상시킬 수 있는 고정밀도의 표면 성상을 형성하기 위해서, 연마면이 연마 테이프에 의해 구성되어, 피연마 부분에 흠집이나 치핑을 형성하지 않도록 연마면과 피연마 부분이 상대 이동한다.The polishing apparatus according to the present invention is configured to polish the periphery of the plate glass to improve the mechanical strength of the plate glass. As shown in Fig. 16, the plate glass W as the object to be polished has (A) a concave (convex) concave portion formed when the untreated plate is divided on the main surface (upper surface, lower surface) (B) cracks, and the like. The sharp convex portion formed at the corner portion becomes a starting point of chipping, and the crack becomes a starting point of destruction of the plate glass. The polishing apparatus according to the present invention improves the strength of the plate glass by polishing the periphery of the plate glass with high precision so that cracks or the like generated during the manufacture of the plate glass do not propagate and disappear. The polishing surface is made of the polishing tape so that the polishing surface and the portion to be polished move relative to each other so as not to form scratches or chipping on the polishing portion to be polished in order to form a highly precise surface feature capable of improving the strength of the plate glass.
구체적으로, 제1 워크 유닛이, 워크를 보유 지지하기 위한 제1 워크 보유 지지대와, 제1 워크 보유 지지대를 상기 제1 연마 축선을 따라 요동시키기 위한 요동 수단을 포함한다.Specifically, the first work unit includes a first workpiece holding base for holding the workpiece and a swinging means for swinging the first workpiece holding base along the first axis of abrasion.
본 발명에 따른 연마 장치에 있어서는, 정지한 연마면에 대하여 직선적인 피연마 부분이 수평하게, 소정의 스트로크로 왕복 이동(요동)함으로써 연마가 행해진다. 워크 유닛은 소형화, 경량화되고, 또한 밸런서 등을 배치함으로써, 요동 시의 진동을 저감할 수 있다. 이에 의해, 진동에 기인하는 피연마면의 흠집 발생이 저감되어, 고정밀도로 평활한 피연마면으로 마무리할 수 있다. 연마면의 위치는 정지되고, 연마면을 형성하는 연마 테이프는 주행하고 있어도 된다.In the polishing apparatus according to the present invention, polishing is performed by linearly reciprocating (swinging) the portion to be polished linearly with respect to the stopped polishing surface horizontally at a predetermined stroke. The work unit is downsized and lightweight, and by arranging a balancer or the like, it is possible to reduce vibration during rocking. As a result, the generation of scratches on the polished surface due to the vibration is reduced, and the polished surface can be finished with high precision and smoothness. The position of the polishing surface is stopped, and the polishing tape forming the polishing surface may be running.
본 발명에 따른 연마 장치에 있어서, 워크 보유 지지 유닛에 의해 보유 지지된 판유리와, 연마 테이프 유닛의 연마면이 (상대적으로) 요동하는 범위(스트로크)는 적절하게 플러스 마이너스 1 내지 200㎜인 범위에 있다. 이렇게 함으로써, 연마량의 편차(늘어짐)가 발생하기 어려워진다.In the polishing apparatus according to the present invention, the range (stroke) of the plate glass held by the work holding unit and the polishing surface of the polishing tape unit (relative) swinging is appropriately set within a range of 1 to 200 mm plus or minus have. By doing so, deviation (sagging) of the amount of polishing becomes less likely to occur.
또한, 제2 워크 유닛이, 수평인 베이스 위에, 수평 방향 또한 제2 연마 축선에 수직인 방향(X 방향)으로 이동 가능하게 설치된 X 방향 가동 스테이지와, 제2 연마 축선에 평행한 방향(Y 방향)으로 이동 가능하게 설치된 Y 방향 가동 스테이지이며, X 방향으로 신장하는 홈부를 일체적으로 갖는 Y 방향 가동 스테이지와, X 방향 가동 스테이지에 일체적으로 설치된 제1 연직축에 의해 회전 가능하게 수평 지지된 제2 워크 보유 지지대를 포함하고, 제2 워크 보유 지지대가 상기 제2 워크 보유 지지대의 표면으로부터 수직으로 신장하는 제2 연직축이며, 상기 Y 방향 가동 스테이지의 상기 홈부 내에 미끄럼 이동 가능하게 위치하는 제2 연직축을 갖고, 워크가 상기 제2 워크 보유 지지대에 보유 지지되어, 비직선적인 피연마부가 제1 연직축 및 상기 제2 연직축의 이동에 의해, 요동 운동하면서 상기 제2 연마 축선을 따라 요동하는 것을 특징으로 한다.Further, the second work unit includes an X-direction movable stage provided on a horizontal base so as to be movable in a horizontal direction and in a direction (X-direction) perpendicular to the second polishing axis, and an X-direction movable stage in a direction parallel to the second polishing axis Direction movable stage and a Y-direction movable stage integrally provided with a groove portion extending in the X-direction, and a Y-direction movable stage rotatably supported horizontally by a first vertical shaft integrally provided on the X- And a second vertical support shaft extending from the surface of the second workpiece support base, the second vertical support shaft having a second vertical axis extending in the Y-directional movable stage, And the workpiece is held on the second workpiece holding base so that a non-linearly polished portion to be polished moves along the first vertical axis and the second vertical axis By this, while the swing movement is characterized in that the swing along the second grinding axis.
제2 연마부에 있어서도, 정지된 연마면에 대하여 비직선적인 피연마 부분이, 수평면 내에서 요동 운동하면서 소정의 스트로크로 왕복 이동함으로써 연마가 행해진다. 이때, 요동 운동은 피연마 부분의 곡률 등을 따라서(또는, 형성하고자 하는 곡률을 따라) 결정할 수 있고, 수평인 왕복 운동의 궤적은 연마 축선에 일치하므로, 비직선적인 피연마 부분이 평탄한 연마면에 순차적으로 접촉하면서 연마가 행해진다.Also in the second polishing section, the non-linearly polished portion to be polished against the stopped polishing surface is reciprocated in the horizontal plane and reciprocates in a predetermined stroke to perform polishing. At this time, the swinging motion can be determined according to the curvature or the like of the portion to be polished (or along the curvature to be formed), and the locus of the horizontal reciprocating motion coincides with the axis of abrasion, Polishing is performed in succession.
2개의 연직축 위치는, 서보 모터 등에 의해 동기 제어되는 것이 바람직하다. 제1 연직축의 X 방향의 위치 x 및 제2 연직축의 X 방향의 위치 x', Y 방향의 위치 y가 동기하여 제어됨으로써, 판유리의 코너부 등의 비직선적인 피연마 부분을, 원하는 R 형상(예를 들어, R1, R10 등)으로 형성할 수 있다.The two vertical axis positions are preferably synchronously controlled by a servo motor or the like. The position x in the X direction of the first vertical axis and the position x 'in the X direction and the position y in the Y direction of the second vertical axis are synchronously controlled so that the non-linearly polished portion such as the corner portion of the plate glass is made into the desired R shape For example, R1, R10, etc.).
적절하게, 1종류의 연마 테이프라도, 다양한 곡률을 갖는 피연마 부분을 연마할 수 있다. R 형상에 맞춰서 연마 재료(지석 등)를 제작할 필요가 없어, 비용을 삭감하면서 워크의 코너부에 고정밀도의 마무리면을 형성할 수 있다.Accordingly, even a single type of abrasive tape can polish a portion to be polished having various curvatures. It is not necessary to produce an abrasive material (such as a grinding wheel) in conformity with the R shape, and a highly accurate finished surface can be formed at the corner of the work while reducing the cost.
또한, 제1 연마 테이프 유닛이 제1 연마면을 수평 방향 또한 제1 연마 축선에 수직인 방향으로 이동시키기 위한 제1 연마 테이프 이동 수단을 갖고, 그에 의해, 직선적인 피연마 부분과 제1 연마면이 상기 제1 연마 축선에 있어서 접촉할 수 있고, 제2 연마 테이프 유닛이, 제2 연마면을 수평 방향 또한 제2 연마 축선에 수직인 방향으로 이동하기 위한 제2 연마 테이프 이동 수단을 갖고, 그에 의해, 비직선적인 피연마 부분의 적어도 일부와 제2 연마면이 제2 연마 축선에 있어서 접촉할 수 있는 것을 특징으로 한다.The first abrasive tape unit has first abrasive tape moving means for moving the first abrasive face in the horizontal direction and in the direction perpendicular to the first abrasive axis, And the second abrasive tape unit has second abrasive tape moving means for moving the second abrasive face in the horizontal direction and in the direction perpendicular to the second abrasive axis, At least a part of the non-linearly polished portion and the second polishing surface can contact with each other on the second polishing axis.
상기와 같은 위치 결정 기구를 가짐으로써, 예를 들어 직사각형 워크의 변부 전체가 연마 축선에 있어서 평탄한 연마면에 접촉할 수 있어, 치우침이 없는 균일한 연마를 행할 수 있다. 또한, 워크의 1점에의 기계적 충격이 억제되므로, 치핑의 발생과 워크에 존재하고 있던 균열의 전반도 억제되어, 워크의 파괴 강도를 향상시키는 고정밀도의 연마를 행할 수 있다. 또한, 워크마다 강도의 편차가 없어, 품질을 안정시킬 수 있다.By having such a positioning mechanism as described above, for example, the entire edge of the rectangular workpiece can be brought into contact with the flat polishing surface on the polishing axis, and uniform polishing without bias can be performed. Further, since the mechanical impact on one point of the work is suppressed, generation of chipping and the propagation of the cracks existing in the work are suppressed, so that highly accurate polishing can be performed to improve the breaking strength of the work. In addition, there is no variation in strength for each work, and the quality can be stabilized.
또한, 제1 연마 테이프 유닛이 제1 연마면의 길이 축선을, 제1 연마 축선에 대하여 경사지게 하기 위한 제1 경사 수단을 포함하고, 제2 연마 테이프 유닛이 제2 연마면의 길이 축선을, 제2 연마 축선에 대하여 경사지게 하기 위한 제2 경사 수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.The first abrasive tape unit includes a first abrasive tape unit for inclining the longitudinal axis of the first abrasive surface with respect to the first abrasive axis, And second inclining means for inclining the second abrasive axis with respect to the second abrasive axis.
본 발명에 따른 연마 테이프 유닛은, 적절하게 워크 유닛에 대향하여 위치하는, 연마 축선에 평행한 연마 패드를 갖고, 상기 연마 패드에(주행 가능하게) 배치된 연마 테이프의 표면이, 워크의 피연마 부분을 연마하기 위한 연마면을 구획 형성한다. 연마 패드에 배치된 연마 테이프는 소정의 폭과 길이를 갖고, 길이 방향의 축선(길이 축선)을 갖는다. 상기 길이 축선은, 연마 테이프가 주행될 경우, 주행 방향과 같다. 상기 길이 축선은 연마 축선과 일치해도 되고, 연마 축선에 대하여 경사져 있어도 된다.The polishing tape unit according to the present invention has a polishing pad parallel to the polishing axis, which is positioned so as to face the work unit as appropriate, and the surface of the polishing tape disposed on the polishing pad (so as to be drivable) Thereby forming a polishing surface for polishing the portion. The polishing tape arranged on the polishing pad has a predetermined width and length and has an axis (longitudinal axis) in the longitudinal direction. The length axis is the same as the running direction when the polishing tape runs. The longitudinal axis may coincide with the polishing axis, or may be inclined with respect to the polishing axis.
연마면의 길이 축선을, 예를 들어 θ도만큼 기울어지게 할 수 있다. 연마면이 연직인 면일 경우, θ도는 수평면에 관한 경사 각도가 된다.The longitudinal axis of the polishing surface can be inclined by, for example,? Degrees. When the polishing surface is a vertical surface,? Degrees is an inclination angle with respect to the horizontal surface.
연마면을 구획 형성하는 연마 테이프는, 소정의 폭을 갖는다. 또한 소정의 속도로 연속 주행되는 경우가 있다. 연마 테이프의 길이 축선을 수평하게 하면, 예를 들어 수평인 워크의 직선 형상의 변부에 접촉하는 연마면(연마 테이프)은 근소해져, 연마를 행하지 않고 사용 완료가 되어 권취되는 연마 테이프의 양이 많아진다. 본 발명에 따른 연마 장치는, 연마면의 길이 축선을 경사지게 하는 수단을 가지므로, 비용면에서도 이익이 많다. 즉, 연마면의 길이 축선(주행되는 경우는, 주행 방향)을 연마 축선에 대하여 기울어지게 함으로써, 연마 테이프의 넓은 범위(적절하게, 전체면)를 유효하게 사용할 수 있어, 유지 비용(연마 테이프의 비용)을 저감할 수 있다. 판유리 등의 워크 변부의 길이에 따라서, 경사지는 각도 θ를, 예를 들어 0도<θ≤90도의 범위에 있어서 결정할 수 있다. 일정한 폭의 연마 테이프로 크기가 다른 판유리 등 워크에 대응할 수 있어, 연마 테이프 유닛의 구조를 간소화할 수 있다. 복수의 테이프 유닛을 사용할 때도, 사양이 균일해져, 연마 테이프 유닛의 제조 비용을 저감할 수 있다. 또한, 1종류의 연마 테이프로 많은 종류의 워크(판유리 등)에 대응할 수 있으므로, 워크마다 테이프를 교환할 필요가 없어, 사이클 타임을 저감할 수 있다. 연마 테이프의 종류가 적어지므로, 재고 관리도 용이해진다(불량 재고의 저감, 동일한 종류의 테이프를 통합하여 구입하는 것에 의한 볼륨 디스카운트 등). 폭이 좁은 연마 테이프를 사용하여, 연마 테이프를 경량화할 수 있고, 테이프의 교환 작업이 간편해진다. 또한, 일정한 폭의 연마 테이프를 사용하여, 복수의 판유리를 동시에 연마할 수 있어, 사이클 타임의 저감을 한층 더 도모할 수 있다.The polishing tape defining the polishing surface has a predetermined width. There is also a case where the vehicle runs continuously at a predetermined speed. If the longitudinal axis of the abrasive tape is made horizontal, for example, the abrasive surface (abrasive tape) that comes into contact with the straight-line edge of the workpiece becomes small, and the amount of abrasive tape Loses. Since the polishing apparatus according to the present invention has a means for tilting the longitudinal axis of the polishing surface, the polishing apparatus has a great cost advantage. That is, the inclination of the abrasive tape with respect to the axis of abscissas of the abrasive surface (the running direction in the case where the abrasive surface is run) can effectively use a wide range of the abrasive tape (appropriately the entire surface) Cost) can be reduced. It is possible to determine the inclination angle? In the range of 0 degree <? &Amp;le; 90 degrees, for example, according to the length of the work piece portion of the plate glass or the like. It is possible to cope with a work such as a plate glass having a different size with a polishing tape having a constant width, and the structure of the polishing tape unit can be simplified. Even when a plurality of tape units are used, the specifications become uniform, and the manufacturing cost of the polishing tape unit can be reduced. Further, since one type of abrasive tape can cope with many types of work (plate glass, etc.), there is no need to exchange tapes for each work, and the cycle time can be reduced. Since the kinds of abrasive tapes are reduced, inventory management is facilitated (reduction of defective stocks, volume discount by purchasing the same type of tape integrally, etc.). It is possible to reduce the weight of the abrasive tape by using the abrasive tape having a narrow width, and it becomes easy to replace the tape. Further, it is possible to simultaneously polish a plurality of plate glasses using a polishing tape having a constant width, thereby further reducing the cycle time.
또한, 제1 연마 테이프 유닛이 제1 연마면을, 제1 연마 축선을 중심으로 회동시키기 위한 제1 회동 수단을 포함하고, 제2 연마 테이프 유닛이 제2 연마면을, 제2 연마 축선을 중심으로 회동시키기 위한 제2 회동 수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.The first polishing tape unit may include a first rotating means for rotating the first polishing surface about the first polishing axis, and the second polishing tape unit may include a second polishing surface for rotating the second polishing surface about the center of the second polishing axis And a second rotating means for rotating the first rotating means.
본 발명에 따른 연마 장치는, 연마면을 연직으로 배치할 수 있고, 또한 연마면을, 연마 축선(또는, 연마 축선에 평행한 회동 축선)을 중심으로 회동시켜, 연직면에 대하여 경사지게 할 수 있다. 이렇게 함으로써, 워크의 직선적인 변부를 C면 연마할 수 있다. 연마 테이프 유닛이 회동하므로, 워크 유닛에 수평하게 고정된 워크의 상면 및 하면에 따른 변부에, 원하는 C면 연마를 행할 수 있다. 워크 유닛은 워크를 경사지게 할 필요가 없어, 구성을 간소화할 수 있다. 연마 테이프 유닛의 연마면이 연마 축선을 중심으로 회동하는 각도 α의 범위는, 적절하게 연직면에 평행한 연마면을 0도로 하여 상하 방향으로 최대 90도(이때, 연마면은 수평)이다.The polishing apparatus according to the present invention can arrange the polishing surface vertically and further rotate the polishing surface about the polishing axis (or the rotation axis parallel to the polishing axis) to be inclined with respect to the vertical plane. By doing this, the straight side edge of the work can be polished on the C side. Since the polishing tape unit is rotated, desired C-side polishing can be performed on the edge portions along the upper and lower surfaces of the work fixed horizontally to the work unit. The work unit does not need to tilt the work, and the configuration can be simplified. The range of the angle? At which the polishing surface of the polishing tape unit pivots around the polishing axis is at most 90 degrees (in this case, the polishing surface is horizontal) in the vertical direction, with the polishing surface parallel to the vertical surface as appropriate.
또는, 연마 테이프 유닛은 회동 기구를 가지고 있지 않아도 된다. 이 경우, 수평하게 놓인 판유리 등 워크의 상면(또는 하면)에 따른 하나의 변부(귀퉁이부)를 C면 연마하기 위해서, 연마 테이프 유닛의 연마면을, 연직면(또는 수평면)에 대하여, 예를 들어 45도 경사진 상태로 고정하여, 연마 테이프 유닛을 구성해도 된다.Alternatively, the polishing tape unit may not have a rotating mechanism. In this case, in order to polish one side edge (corner portion) along the upper surface (or the lower surface) of the work such as a horizontally placed plate glass, the polishing surface of the polishing tape unit may be polished with respect to the vertical surface It may be fixed at a 45-degree inclined state to constitute a polishing tape unit.
또한, 제1 워크 유닛이, 워크를 수평 방향 또한 제1 연마 축선에 수직인 방향으로 이동시키기 위한 워크 이동 수단을 포함하는 것을 특징으로 한다. 이렇게 함으로써, 직선적인 피연마 부분과 연마면이, 연마 축선에 있어서 확실하게 접촉할 수 있다.Further, the first work unit includes a work moving means for moving the work in the horizontal direction and in the direction perpendicular to the first abrasive axis. By doing so, the linearly polished portion and the polished surface can be surely brought into contact with each other on the polishing axis.
또한, 본 발명에 따른 연마 장치는, 제1 워크 유닛이 워크를 가압하여 고정하거나 및/또는 흡착하여 고정하기 위한 제1 워크 고정 수단을 포함하고, 제2 워크 유닛이 워크를, 가압하여 고정하거나 및/또는 흡착하여 고정하기 위한 제2 워크 고정 수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.The polishing apparatus according to the present invention may further comprise a first workpiece fixing means for pressing and fixing and / or attracting and fixing the workpiece, wherein the second workpiece unit presses and fixes the workpiece And / or second work fixing means for fixing by suction.
워크 유닛(제1, 제2)에 놓인 판유리 등의 워크는, 실제 연마 처리 전에 워크 유닛의 워크 보유 지지대에 고정된다. 고정 수단으로서, 적절하게 흡인력과 압박력이 사용된다. 판유리 등의 워크는, 고정판 등에 의해 상방으로부터 가압되어 고정되어도 되고, 진공 흡착법 등에 의해 보유 지지대에 고정되어도 된다. 보유 지지대의 표면 및 고정판의 이면에는, 판유리 등 워크의 상면 및 하면에 흠집이 발생하지 않도록, 천류나 고무 등의 탄성 시트가 부착되어도 좋다.A work such as a plate glass placed on a work unit (first and second) is fixed to a work holding base of the work unit before actual polishing processing. As a fixing means, a sucking force and a pressing force are appropriately used. The work such as a plate glass may be pressed and fixed from above by a fixing plate or the like, or may be fixed to a holding support by a vacuum adsorption method or the like. The surface of the holding support and the back surface of the fixing plate may be provided with an elastic sheet such as a cloth or rubber to prevent scratches on the upper and lower surfaces of the work such as a plate glass.
상면을 가압하고, 아울러 하면을 흡착함으로써, 워크 보유 지지대에 워크가 높은 보유 지지력으로 보유 지지된다. 연마 처리 중, 연마 테이프 유닛의 연마면에 의해 가압되었을 때에도 판유리의 이동이 없어, 효율적으로 연마를 행할 수 있다.The upper surface is pressed and the lower surface is attracted to the work holding base, whereby the work is held with a high holding force. Even when pressed by the polishing surface of the polishing tape unit during the polishing process, the plate glass does not move and polishing can be performed efficiently.
또한, 제1 연마 테이프 유닛이 제1 연마 테이프를 주행시키기 위한 제1 연마 테이프 주행 수단을 포함하고, 제2 연마 테이프 유닛이 제2 연마 테이프를 주행시키기 위한 제2 연마 테이프 주행 수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.It is preferable that the first abrasive tape unit includes a first abrasive tape running means for running the first abrasive tape and the second abrasive tape unit includes a second abrasive tape running means for running the second abrasive tape .
본 발명의 다른 형태에 관한 연마 장치는, 워크의 주연부의 직선적인 피연마 부분을 연마 테이프를 사용하여 연마하기 위한, 수평인 연마 축선을 갖는 연마 장치이며, 워크를 보유 지지하기 위한 워크 유닛과, 연마 축선을 사이에 두고, 워크 유닛에 대향하여 연마 테이프 중 적어도 일부의 표면을 배치하기 위한 연마 테이프 유닛을 포함하고, 배치된 연마 테이프의 표면이 연마면을 구획 형성하고, 직선적인 피연마 부분과 연마면이 접하여 연마 축선에 있어서 상대 이동함으로써 연마가 행해지는 것을 특징으로 한다.A polishing apparatus according to another aspect of the present invention is a polishing apparatus having a horizontal polishing axis for polishing a linearly polished portion of a periphery of a work using an abrasive tape and includes a work unit for holding a work, And a polishing tape unit for placing at least a part of the surface of the abrasive tape opposite to the work unit with the abrasive axis interposed therebetween, wherein the surface of the abrasive tape arranged forms a polishing surface, The polishing surface is brought into contact with the polishing surface of the polishing pad, and polishing is performed by relatively moving the polishing surface.
또한, 워크가 판유리를 포함하여 이루어지고, 워크 유닛이 워크를 보유 지지하기 위한 워크 보유 지지대와, 워크 보유 지지대를 연마 축선을 따라 요동시키기 위한 요동 수단을 포함하고, 직선적인 피연마 부분과 연마면이 판유리의 주연부의 직선적인 피연마 부분을, 평균 표면 조도(Ra)가 20㎚ 이하, 또한 최대 골 깊이(Rv)가 200㎚ 이하로 형성되도록 상대 이동하는 것을 특징으로 한다.In addition, it is preferable that the work includes a plate glass, and the work unit includes a workpiece holding base for holding the workpiece and a swinging means for oscillating the workpiece holding base along the axis of the polishing, And the linearly polished portion of the periphery of the plate glass is relatively moved such that the average surface roughness Ra is 20 nm or less and the maximum bone depth Rv is 200 nm or less.
또한, 연마 테이프 유닛이 연마면을 수평 방향 또한 연마 축선에 수직인 방향으로 이동시키기 위한 연마 테이프 이동 수단이며, 그에 의해, 직선적인 피연마 부분과 상기 연마면이 연마 축선에 있어서 접촉할 수 있는, 연마 테이프 이동 수단과, 연마면의 길이 축선을, 연마 축선에 대하여 경사지게 하기 위한 경사 수단과, 연마면을, 연마 축선을 중심으로 회동시키기 위한 회동 수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.The polishing tape unit is a polishing tape moving means for moving the polishing surface in the horizontal direction and in the direction perpendicular to the polishing axis, whereby the linearly polished portion and the polishing surface can contact each other on the polishing axis, A polishing tape moving means, a tilting means for tilting the longitudinal axis of the polishing surface with respect to the polishing axis, and a turning means for rotating the polishing surface around the polishing axis.
또한, 워크 유닛이 워크를 수평 방향 또한 연마 축선에 수직인 방향으로 이동시키기 위한 워크 이동 수단을 포함한다.Further, the work unit includes work moving means for moving the work in the horizontal direction and in the direction perpendicular to the abrasive axis.
이렇게 구성함으로써, 연마 테이프를 사용하여, 직사각형의 판유리의 변부 등, 워크의 직선적인 피연마 부분을, 연마 테이프를 사용하여, 원하는 C면 연마를 행할 수 있는 연마 장치로 할 수 있다. 또한, 판유리의 변부 또는 단부면을, 판유리의 강도를 향상시키도록, 고정밀도로 연마할 수 있는 연마 장치로 할 수 있다.By such a constitution, it is possible to use a polishing tape to make a polishing apparatus capable of performing a desired C-side polishing using a polishing tape by linearly polishing a portion to be polished of a work, such as the edge of a rectangular plate glass. Further, the edge portion or the end face of the plate glass can be polished with high precision so as to improve the strength of the plate glass.
본 발명에 따른 또 따른 형태의 연마 장치는, 워크의 주연부의 비직선적인 피연마 부분을 연마 테이프를 사용하여 연마하기 위한, 수평인 연마 축선을 갖는 연마 장치이며, 워크를 보유 지지하기 위한 워크 유닛과, 연마 축선을 사이에 두고, 워크 유닛에 대향하여 연마 테이프 중 적어도 일부의 표면을 배치하기 위한 연마 테이프 유닛을 포함하고, 배치된 연마 테이프의 표면이 연마면을 구획 형성하고, 비직선적인 피연마 부분과 연마면이 접하여 연마 축선에 있어서 상대 이동함으로써 연마가 행해지는 것을 특징으로 한다.A polishing apparatus according to still another aspect of the present invention is a polishing apparatus having a horizontal polishing axis for polishing a non-linearly polished portion of a periphery of a work using an abrasive tape, And a polishing tape unit for placing at least a part of the surface of the abrasive tape so as to face the work unit with the abrasive axis interposed therebetween, the surface of the abrasive tape being arranged forms a polishing surface, and non- And the polishing part is brought into contact with the polishing surface so as to move relative to the polishing axis, thereby performing polishing.
또한, 워크가 판유리를 포함하여 이루어지고, 워크 유닛이 수평인 베이스 위에 수평 방향 또한 연마 축선에 수직인 방향(X 방향)으로 이동 가능하게 설치된 X 방향 가동 스테이지와, 연마 축선에 평행한 방향(Y 방향)으로 이동 가능하게 설치된 Y 방향 가동 스테이지이며, X 방향으로 신장하는 홈부를 일체적으로 갖는 Y 방향 가동 스테이지와, X 방향 가동 스테이지에 일체적으로 설치된 제1 연직축에 의해 회전 가능하게 수평 지지된 워크 보유 지지대를 포함하고, 워크 보유 지지대가 상기 워크 보유 지지대의 표면으로부터 수직으로 신장하는 제2 연직축이며, Y 방향 가동 스테이지의 홈부 내에 미끄럼 이동 가능하게 위치하는 제2 연직축을 갖고, 워크가 워크 보유 지지대에 보유 지지되어, 비직선적인 피연마부가 제1 연직축 및 제2 연직축의 이동에 의해, 요동 운동하면서 상기 연마 축선을 따라 요동하고, 비직선적인 피연마 부분과 연마면이, 판유리의 주연부의 비직선적인 피연마 부분을, 평균 표면 조도(Ra)가 20㎚ 이하, 또한 최대 골 깊이(Rv)가 200㎚ 이하로 형성되도록 상대 이동하는 것을 특징으로 한다.Further, the X-direction moving stage provided with the work piece including the plate glass and provided so as to be movable in the horizontal direction and the direction (X direction) perpendicular to the polishing axis on the horizontal base, and the X- Direction) and a Y-direction moving stage integrally having a groove portion extending in the X-direction, and a Y-direction moving stage which is horizontally supported and rotatable by a first vertical axis integrally provided on the X- And a second vertical axis extending vertically from the surface of the workpiece support base and slidably disposed in the groove of the Y direction movable stage, wherein the workpiece support base includes a workpiece holding support base, And the non-linearly polished portion to be polished is held by the support, and by the movement of the first vertical axis and the second vertical axis, And the non-linearly polished portion and the polished surface swing along the non-linearly polished portion of the periphery of the plate glass with an average surface roughness Ra of 20 nm or less and a maximum score depth Rv) is 200 nm or less.
이렇게 구성함으로써, 연마 테이프를 사용하여, 판유리 등 워크의 비직선적인 피연마 부분의 연마(예를 들어, 코너부의 R면 연마)를 행하는 연마 장치라 할 수 있다. 곡률이 다른 R 형상을 갖는 피연마 부분을 연마할 때(예를 들어, R1, R10 등), 워크 유닛이 상기 형상에 따라서 요동 운동하면서 연마 축선 위를 요동하므로, R 형상에 대응하여 연마 재료(지석 등)를 변경하는 것을 필요로 하지 않고, 고정밀도의 연마를 행할 수 있다.By such a constitution, the polishing apparatus can be a polishing apparatus that polishes a non-linearly polished portion of a work such as a plate glass (for example, R surface polishing of a corner portion) using a polishing tape. (For example, R1, R10, and the like) when polishing a portion to be polished having an R shape having a different curvature, the work unit rocks on the polishing axis while oscillating according to the shape, Grindstone, etc.), it is possible to perform polishing with high accuracy.
상기의 본 발명에 따른 연마 장치에 사용되는 연마 테이프는, 플라스틱으로 된 기재 필름의 표면에 수지 바인더에 지립을 분산시킨 용액을 도포하고, 건조, 경화시킨 시트를 필요한 폭으로 슬릿하여, 릴에 감긴 것이다.The abrasive tape used in the polishing apparatus according to the present invention is obtained by applying a solution in which abrasive grains are dispersed in a resin binder on the surface of a plastic base film and drying and curing the sheet by slitting to a required width, will be.
기재 필름으로서, 유연성을 갖는 합성 수지로 된 플라스틱 필름이 사용된다. 구체적으로는, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리부틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트, 폴리부틸렌나프탈레이트 등의 폴리에스테르계 수지, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌 등의 폴리올레핀계 수지, 폴리비닐알코올 또는 메타크릴알코올을 주성분으로 하는 아크릴계 수지 등을 포함하여 이루어지는 필름이 기재 필름으로서 사용된다.As the base film, a plastic film made of a synthetic resin having flexibility is used. Specific examples of the resin include polyester resins such as polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, polyethylene naphthalate and polybutylene naphthalate; polyolefin resins such as polyethylene and polypropylene; and polyolefin resins such as polyvinyl alcohol or methacryl alcohol Acrylic resin or the like is used as a base film.
지립(연마 입자)으로서는, 알루미나(Al2O3), 산화세륨(CeO2), 실리카(SiO2), 다이아몬드, 탄화규소(SiC), 산화크롬(Cr2O3), 지르코니아(ZrO2), 입방정 질화붕소(cBN) 등 및 그의 혼합물을 사용할 수 있다.As abrasive grains, alumina (Al 2 O 3 ), cerium oxide (CeO 2 ), silica (SiO 2 ), diamond, silicon carbide (SiC), chromium oxide (Cr 2 O 3 ), zirconia (ZrO 2 ) , Cubic boron nitride (cBN), and the like, and mixtures thereof.
지립의 평균 입경은, 적절하게 0.2㎛ 이상(#20000), 3㎛ 이하(#4000)의 범위에 있다. 평균 입경이 3㎛를 초과하면, 연마 전의 단부면의 비교적 큰 흠집이나 절결은 제거할 수 있지만, 마무리면에 새롭게 미세한 흠집이나 절결이 발생하여, 판유리에 충분한 강도를 부여할 수 없어 바람직하지 않다. 평균 입경이 0.2㎛ 미만이면, 연마 효율이 극단적으로 내려가 생산성이 나빠지므로, 공업상 실용적이지 않다.The average grain size of the abrasive grains is appropriately in the range of 0.2 μm or more (# 20000) and 3 μm or less (# 4000). If the average particle diameter exceeds 3 탆, relatively large scratches and cuts on the end face before polishing can be removed, but new minute scratches and cuts are generated on the finished surface, and sufficient strength can not be imparted to the plate glass. If the average particle diameter is less than 0.2 탆, the polishing efficiency is extremely lowered and the productivity is poor, which is not industrially practical.
또한, 본 발명은 앞에서 설명한 연마 장치를 사용하여, 판유리를 포함하여 이루어지는 워크의 강도를 향상시키도록 상기 워크의 주연부를 연마하는 방법을 제공한다. 상기 방법은, 워크의 주연부의 직선적인 피연마 부분, 또는 비직선적인 피연마 부분을 연마 테이프를 사용하여 연마하고, 피연마 부분을, 평균 표면 조도(Ra)가 20㎚ 이하, 또한 최대 골 깊이(Rv)가 200㎚ 이하로 형성되는 연마 공정을 포함하여 이루어지고, 연마 테이프가 기재 필름에 수지 바인더에 의해 소정의 입경을 갖는 지립이 고정 부착되어 이루어진다.Further, the present invention provides a method of polishing the periphery of the work so as to improve the strength of the work including the glass plate by using the above-described polishing apparatus. In the above method, the linearly polished portion or the non-linearly polished portion of the periphery of the work is polished using an abrasive tape, and the polished portion is polished to have an average surface roughness Ra of 20 nm or less, (Rv) of 200 nm or less, and the abrasive tape is fixed to the substrate film by abrasive grains having a predetermined particle diameter by a resin binder.
판유리에 충분한 기계적 강도를 부여하기 위해서, 판유리의 주연부에, 상기한 표면 조도(Ra) 및 최대 골 깊이(Rv)의 마무리면을 형성하는 것이 유효하다. 주연부가 상기 표면 성상을 갖도록, 연마된 판유리는 주연부가 미세한 흠집이나 절결을 기점으로 한 균열의 발생을 방지하여, 기계적 응력이나 열 쇼크에 의한 파손을 방지할 수 있다. 또한, 후속 공정의 가공 수율을 개선하여, 판유리가 내장된 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.In order to impart sufficient mechanical strength to the plate glass, it is effective to form a finished surface having the above-described surface roughness Ra and the maximum groove depth Rv on the periphery of the plate glass. The polished plate glass can prevent the generation of cracks on the basis of minute scratches or cuts in the periphery of the plate glass so that the periphery has the above-described surface property, thereby preventing breakage due to mechanical stress or heat shock. In addition, the processing yield of the subsequent process is improved, and the reliability of the product in which the glass plate is built can be improved.
본 발명의 연마 장치 또는 연마 방법을 실시함으로써, 스마트 폰이나 태블릿형 단말기의 패널, 액정 패널, 유기 EL 패널, 플라스마 패널, 태양 전지 패널 등의 평면 표시 장치용의 커버 유리, 그 밖의 전자 부품용의 커버 유리 등의 제조에 사용되는 판유리의 변부 및/또는 코너부의 잠상을 제거해 고정밀도의 표면 성상을 형성하여, 판유리에 높은 기계적 강도를 부여할 수 있다. 본 발명에 따른 판유리를 사용하여 커버 유리를 제조하고, 휴대 단말기 등에 채용함으로써, 각종 제품의 제조 공정에서의 제조 수율을 개선할 수 있어, 상기 판유리가 내장된 제품의 품질을 향상시킬 수 있다.By carrying out the polishing apparatus or the polishing method of the present invention, it is possible to provide a cover glass for a flat display device such as a panel of a smart phone or a tablet type terminal, a liquid crystal panel, an organic EL panel, a plasma panel or a solar cell panel, It is possible to remove the latent image at the edge portion and / or the corner portion of the plate glass used for manufacturing the cover glass and the like to form a highly precise surface profile and to give the plate glass high mechanical strength. By manufacturing the cover glass using the plate glass according to the present invention and employing it in a portable terminal or the like, it is possible to improve the production yield in the manufacturing process of various products and improve the quality of the product with the plate glass.
또한, 본 발명에 따른 연마 장치, 연마 방법에 의하면, 판유리 등 워크의 변부, 단부면, 코너부, 코너부의 귀퉁이부 등을 연마할 수 있어, 피연마물에 형상에 맞추어 연마 재료를 제작할 필요가 없다. 또한, 연마 테이프를 효율적으로 사용할 수 있으므로, 비용을 저감하면서, 품질을 향상할 수 있다.Further, according to the polishing apparatus and the polishing method of the present invention, edge portions, end faces, corner portions, corners of corners, etc. of a work such as a plate glass can be polished and there is no need to prepare a polishing material in conformity with the shape of the object to be polished . Further, since the polishing tape can be efficiently used, the cost can be reduced and the quality can be improved.
도 1은 하나의 형태의 워크를 모식적으로 도시하는 도면이다.
도 2의 (A)는 워크의 부분 단면도이며, 도 2의 (B)는 워크의 평면도이다.
도 3은 본 발명에 따른 하나의 형태의 연마 장치(1)를 모식적으로 도시하는 생략된 정면도이다.
도 4a는 본 발명에 따른 하나의 형태의 연마부를 모식적으로 도시하는 평면도이다.
도 4b는 본 발명에 따른 하나의 형태의 연마 테이프 유닛의 위치 결정 기구를 모식적으로 도시하는 평면도이다.
도 5는 본 발명에 따른 하나의 형태의 연마 테이프 유닛의 회동 기구를 모식적으로 도시하는, 도 4a의 X-X' 선을 따른 일부를 생략한 대략적인 측면도이다.
도 6은 본 발명에 따른 하나의 형태의 연마 테이프 유닛의 경사 기구를 모식적으로 도시하는 일부를 생략한 정면도이다.
도 7은 본 발명에 따른 하나의 형태의 워크 유닛의 요동 기구를 모식적으로 도시하는 평면도이다.
도 8은 본 발명에 따른 하나의 형태의 워크 유닛의 워크 이동 기구를 모식적으로 도시하는 평면도이다.
도 9는 본 발명에 따른 다른 형태의 연마부를 모식적으로 도시하는 평면도이다.
도 10a는 본 발명에 따른 다른 형태의 워크 유닛을 모식적으로 도시하는 평면도이다.
도 10b는 본 발명에 따른 다른 형태의 워크 유닛을 모식적으로 도시하는 측면도이다.
도 11은 지석을 사용한 워크 변부(귀퉁이부)의 연마 방법을 모식적으로 도시하는 도면이다.
도 12는 실시예 및 비교예의 피연마면의 확대 사진이다.
도 13은 다른 비교예의 피연마면의 확대 사진이다.
도 14는 엣지 강도 시험의 방법을 모식적으로 도시하는 도면이다.
도 15는 직사각형의 판유리 등 워크의 중심 C1, C2를 도시하는 도면이다.
도 16은 워크인 판유리의 (A) 측면 관찰상 및 (B) 상면 관찰상이다.1 is a view schematically showing one type of work.
Fig. 2 (A) is a partial cross-sectional view of the work, and Fig. 2 (B) is a plan view of the work.
Fig. 3 is an omitted front view schematically showing one type of polishing
4A is a plan view schematically showing one type of polishing section according to the present invention.
4B is a plan view schematically showing a positioning mechanism of one type of polishing tape unit according to the present invention.
Fig. 5 is a schematic side view schematically showing a rotating mechanism of one type of polishing tape unit according to the present invention, omitting a portion along line XX 'in Fig. 4A. Fig.
6 is a front view schematically showing a tilting mechanism of one type of abrasive tape unit according to the present invention, partially omitted.
7 is a plan view schematically showing a rocking mechanism of one type of work unit according to the present invention.
8 is a plan view schematically showing a work moving mechanism of one type of work unit according to the present invention.
9 is a plan view schematically showing another type of polishing section according to the present invention.
10A is a plan view schematically showing another type of work unit according to the present invention.
10B is a side view schematically showing another type of work unit according to the present invention.
11 is a diagram schematically showing a polishing method of a work edge (corner portion) using a grindstone.
12 is an enlarged photograph of the polished surface of the example and the comparative example.
13 is an enlarged photograph of the surface to be polished of another comparative example.
14 is a diagram schematically showing a method of an edge strength test.
Fig. 15 is a view showing the centers C1 and C2 of a work such as a rectangular plate glass.
Fig. 16 is a side view (A) and a top view (B) of a sheet glass as a work.
이하, 도면을 참조하면서, 본 발명의 다양한 특징이, 본 발명의 한정을 의도하는 것이 아닌 적합한 실시예와 함께 설명된다. 도면은 설명의 목적에 의해 단순화되고, 척도도 반드시 일치하지 않는다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Reference will now be made, by way of example, to the accompanying drawings, in which various features of the invention are illustrated, without intending to limit the invention. The drawings are simplified for the purposes of the description, and the scale does not necessarily match.
도 1에, 피연마물인 워크(W)가 모식적으로 도시되어 있다. 워크(W)는 유리판, 스테인리스판, 알루미늄판, 태양 전지 기판으로서 사용되는 실리콘판 등이라도 좋다. 워크는 직사각형이라도 좋고, 그 밖의 형상이라도 좋다. 워크(W)는, 상면 또는 하면(주표면)과 단부면과의 경계부에 변부(귀퉁이부)를 가지고, 또한 하나의 단부면과 인접하는 단부면과의 경계부에 코너부(코너부)를 갖는다. 단부면이나 코너부는, 미가공판으로부터 잘라낸 상태(아즈 슬라이스)라도 좋고, 조연마가 실시되어 있어도 좋다.Fig. 1 schematically shows a workpiece W to be polished. The work W may be a glass plate, a stainless steel plate, an aluminum plate, or a silicon plate used as a solar cell substrate. The work may have a rectangular shape or other shapes. The workpiece W has a corner portion (corner portion) at a boundary portion between an upper surface or a lower surface (main surface) and an end surface, and a corner portion (corner portion) at a boundary portion between one end surface and an adjacent end surface . The end face or the corner portion may be cut off from the untreated plate (Az slice), or may be subjected to air freshening.
도 2의 (A)에, 적어도 2개의 변부가 소위 C 모따기된 워크(W1)의 부분 단면이 도시되고, 도 2에, 4개의 코너부가 소위 R 모따기된 워크(W2)가 도시되고 있다. 변부 또는 코너부를 연마함으로써, 마무리면(S1, S1', 또는 S2, S2', S2'', S2''')을 갖는 워크(W1, W2)를 얻을 수 있다.2 (A) shows a partial cross-section of a so-called C chamfered work W1 of at least two sides, and Fig. 2 shows a work W2 in which four corner portions are so-called R chamfered. It is possible to obtain the workpieces W1 and W2 having the finished surfaces S1 and S1 'or S2, S2', S2 '' and S2 '' 'by polishing the edges or the corner portions.
워크(W)는, 판유리를 포함하여 이루어져도 좋다. 판유리의 강도를 향상시키기 위해서, 주연부를 연마하여 흠집이나 치핑을 제거하여, 마무리면(S1 또는 S2)의 표면 조도나 최대 골 깊이를 작게 하는 것이 중요하다. 판유리(W)에 높은 기계적 강도를 부여하기 위해서, 마무리면(S1 또는 S2)은 평균 표면 조도(Ra)가 20㎚ 이하, 조도 곡선의 최대 골 깊이(Rv)가 200㎚ 이하로 형성되는 것이 바람직하다.The work W may include a plate glass. In order to improve the strength of the plate glass, it is important to remove the scratches and chipping by polishing the peripheral edge to reduce the surface roughness of the finished surface S1 or S2 and the maximum valley depth. The finished surface S1 or S2 preferably has an average surface roughness Ra of 20 nm or less and a maximum trough depth Rv of the roughness curve of 200 nm or less in order to give the plate glass W a high mechanical strength Do.
도 3에, 본 발명에 따른 하나의 형태의 연마 장치(1)가 모식적으로 도시되어 있다. 연마 장치(1)는 베이스(2) 위에 배치된 워크(W)의 적재대(10), 워크(W)의 흐름 방향(Wf)을 따라서 워크(W)를 반송하는 워크 반송 유닛(20), 제1 연마부(30), 제2 연마부(40) 및 연마 처리가 종료된 워크(W12)가 놓이는 적재대(50)를 포함하여 구성된다. 제1 연마부(30)는 직선적인 피연마 부분을 연마하도록 구성되고, 제2 연마부(40)는 비직선적인 피연마 부분을 연마하도록 구성되어 있다. 이들 연마부의 수나 조합은 이에 한정되지 않아도 된다.Fig. 3 schematically shows one type of polishing
도 4a에, 제1 연마부(30)가 모식적으로 도시되어 있다. 제1 연마부(30)는 수평인 베이스(2) 위에 수평인 연마 축선(A)을 사이에 두고 대향하여 배치된 연마 테이프 유닛(300) 및 워크 유닛(350)을 포함하여 이루어진다.In Fig. 4A, the
연마 테이프 유닛(300)은, 수평 방향 또한 연마 축선(A)에 수직인 방향인 A1 방향으로 이동 가능하게 베이스(2) 위에 설치된 연마 테이프 유닛 스테이지(301)를 포함한다. 스테이지(301)는 스테이지(301)와 베이스(2) 사이에 설치된, 압출 제어를 위한 모터(302), LM 가이드(303, 304)에 의해, A1 방향으로 왕복 이동할 수 있다. 스테이지(301) 위에 지주(305, 306, 307)가 연직 방향으로 신장되어 있다. 연결 블록(311)은 지주(305)에 평행하게 설치된 LM 가이드(309) 및 단축 로봇(310)에 의해 지주(305)를 따라 연직 방향으로 이동 가능하다. 연결 블록(311)을, 적절하게 2개의 샤프트(312, 312')(도 5)가 수평 방향으로 미끄럼 이동 가능하게 관통하고 있다. 샤프트(312, 312')의 선단부에 연결 부재(313)가 부착되어 있다. 연결 부재(313)는 회동 아암(314)과 일체적인 연장 아암(314')에, 축지지 핀(316)에 의해 회전 가능하게 연결되어 있다. 회동 아암(314)[및 연장 아암(314')]과 회동 아암(315)은, 대략 좌우 대칭의 형상을 갖고, 접속 지그(330, 331), 플레이트(317) 및 경사 플레이트(318)를 거쳐, 연마 테이프(T)를 수용·배치하는 하우징인 연마 헤드(319)를 좌우로부터 보유 지지하고 있다. 회동 아암[314(314'), 315]은, 축 A2를 중심으로 회동 가능하게 지주(306, 307)에 부착되어 있다. 축 A2는 연마 축선(A)에 평행하다.The polishing
연마 헤드(319)는 저면과 측면을 갖는 하우징 중에 연마 테이프(T)를 배치하기 위한 롤이 회전 가능하게 배치되어 이루어진다. 적절하게 연마 헤드(319)의 정상면은 개폐 가능한 덮개를 포함하여 이루어진다. 연마 헤드(319)는 패드 부재(연마 패드)(324)를 구비하고, 롤에 의해 공급되는 연마 테이프가 패드 부재(324)에 배치된다. 연마 테이프(T)는, 공급 롤(321)로부터 공급되어, 권취 롤(322)에 의해 권취된다. 공급 롤(321)은 연마 테이프(T)에 적절한 장력을 부여하기 위해서, 토크 모터(도시하지 않음)에 접속되어 있다. 권취 롤(322)은 스테핑 모터(도시하지 않음)에 접속되어, 공급 롤(321)로부터 공급된 연마 테이프(T)를 권취한다. 연마 테이프(T)에 적절한 장력을 부여하기 위한 스토퍼 롤러, 연마 테이프(T)를 패드 부재(324)에 적절하게 배치하기 위한 보조 롤러 등이 더 배치되어 있어도 된다. 연마 패드(324)에 배치된 연마 테이프(T)는, 연마 패드(324)의 표면 형상(예를 들어, 평탄한 직사각형)을 따라, 소정의 길이와 폭을 갖는 연마면(320)을 구획 형성한다.The polishing
패드 부재(324)는 워크(W)의 피연마 부분에 고정밀도의 표면 성상을 형성하기 위해서, 적절하게 선택되는 것이 바람직하다. 패드 부재(324)의 탄성이 지나치게 크면(예를 들어, 쇼어 A 경도가 20 미만), 워크(W)의 피연마 부분(예를 들어, 변부)의 마무리면이 늘어져 버려, 엣지부의 직선성이 상실되기 쉬워진다. 또한, 연마 테이프(T)의 표면에 포함되는 지립의 평균 입경이 1㎛ 이하(#8000)인 경우에는, 탄성이 큰 발포 수지판 등의 패드 부재에서는 연마 속도가 급격하게 느려져서 실용적이지 않다. 탄성이 작은 경우(예를 들어, 쇼어 A 경도가 90)을 초과함), 마무리면의 엣지부의 직선성은 충분하지만, 기계적 충격에 의해 워크에 발생하는 흠집이나 절결의 제거가 불충분해지기 쉽다.It is preferable that the
예를 들어, 패드 부재(324)로서, 기계적 충격을 완화하기 위해서, 쇼어 A 경도가 20 내지 50인 범위의 발포 수지판을 사용할 수 있다. 탄성을 갖는 패드 부재(324)를 거쳐, 연마 테이프(T)에 의해 형성되는 연마면(320)을 워크에 접촉함으로써, 기계적 충격을 완화할 수 있어, 연마와 함께 피연마부의 형상이 변화되어도 추종하기 쉽다.For example, as the
또는, 패드 부재(324)로서, 상기와 같은 발포 수지판과, 쇼어 A 경도가 80 내지 90의 범위에 있는 고무판을 조합한 것을 사용할 수도 있다. 이렇게 함으로써, 평균 입경이 매우 미세한(예를 들어, 1㎛ 이하) 지립의 연마 테이프를 사용해도, 연마 속도를 지나치게 느리게 하지 않고, 고정밀도의 표면 성상(Ra, Rv)을 갖는 엣지부의 직선성이 우수한 마무리면을 형성할 수 있다.Alternatively, as the
패드 부재(324)는 MC 나일론 등의 탄성을 갖지 않는 것이라도 된다. 패드 부재(324)가 탄성을 갖지 않을 경우, 기계적 충격이 발생하지 않도록, 가압 제어를 행하는 것이 바람직하다.The
패드 부재(324)의 표면은, 평탄하지 않은 볼록 형상의 곡면이라도 된다. 피연마 부분의 단부(예를 들어, 변부의 양단부 등)의 연마 테이프(T)(연마면)에 대한 접촉을 제한하여, 연마 테이프(T)를 보호하면서 연마할 수 있기 때문이다.The surface of the
유연성이 있는 연마 테이프와 탄성이 있는 패드 부재를 사용하여 워크(W)의 주연부의 C면 연마를 행함으로써, 마무리면(S1, 도 2)에 있어서, 대략 엣지부[상면 또는 하면과 마무리면(S1)의 경계부]가 단면 R 형상의 곡면으로 형성되어, 새로운 엣지부에 새로운 흠집이나 절결이 형성되는 일이 없다.The surface C of the work W is polished by using the flexible polishing tape and the elastic pad member so that the roughness of the roughness of the workpiece W in the finished surface S1 S1) is formed into a curved surface having an end R shape, and new scratches and cuts are not formed in the new edge portion.
연마 처리 중, 연마 테이프(T)는 정지된 상태라도 되고, 연속적 또는 단속적으로 주행되어도 된다. 단시간에 연마가 종료될 경우에는 연마 테이프(T)를 주행시키지 않고 정지된 상태에서 사용하고, 연마 후에 다음 연마를 위하여 새로운 연마 테이프(T)의 표면을 연마면으로서 패드 부재에 공급하도록 해도 된다. 이와 같이 하면, 비용을 저감할 수 있기 때문이다. 연마가 장시간에 이를 경우에는, 계속하여 안정된 연마면, 즉 지립을 포함하는 연마 테이프의 표면을 공급하기 위해서, 연속적 또는 단속적으로 연마 테이프를 주행시키는 것이 바람직하다. 이와 같이 하면, 연마 효율을 높일 수 있기 때문이다.During the polishing process, the polishing tape T may be in a stopped state or continuously or intermittently. The polishing tape T may be used in a stopped state when the polishing is finished in a short time and the surface of the new polishing tape T may be supplied to the pad member as a polishing surface for the next polishing after polishing. This is because the cost can be reduced. In the case where polishing takes a long time, it is preferable to continuously or intermittently run the polishing tape so as to continuously supply the surface of the abrasive tape including the abrasive surface, that is, the abrasive grains. This is because the polishing efficiency can be increased.
패드 부재(324)에 배치된 연마 테이프(T)에 의해 구획 형성되는 연마면(320)을 판유리 등 워크(W)의 변부나 단부면에 가압하기 위한 가압력은, 워크(W)의 상태에 따라, 연마 초기는 작고, 연마의 진행과 함께 점차 크게 해도 좋다. 예를 들어, 판유리의 경우, 아즈슬라이스의 코너부나 단부면에 예각인 부분이 있고, 연마 초기로부터 강한 가압력을 가하면, 예각인 부분에 의해 연마면(320)의 연마 테이프(T)에 흠집이 생기거나, 연마 테이프(T)가 파손되거나 하는 경우가 있다. 가압력을 조절함으로써, 연마 테이프 표면을 보호하면서 연마를 행할 수 있다.The pressing force for pressing the polishing
워크 유닛(350)은, 워크(W)를 수평하게 보유 지지하기 위한 수평인 워크 보유 지지대(351)를 갖는다. 연마 처리 전에, 워크(W)는 적절하게[워크 반송 유닛(20)에 의해] 연마 축선(A)을 걸쳐서 워크 보유 지지대(351)에 배치된다.The
도 4b에, 본 발명의 연마 장치의 제1 연마부에 있어서의 위치 결정 기구가 도시되어 있다. 연마 테이프 유닛 스테이지(301)가 모터(302)(도 4a)와 LM 가이드(303, 304)(동일)에 의해 A1 방향으로 이동하고, 워크 보유 지지대(351)에 놓인 워크(W)의 하나의 단부면(또는 변부) 중 적어도 일부가 연마면(320)에 접촉한다. 또한 연마면(320)에 눌림으로써, 하나의 단부면(변부) 전체가, 연마 축선(A)에 있어서 연마면(320)에 접촉한다. 이때 연마 축선(A)은 회동 축선(A2)에 일치해도 된다.Fig. 4B shows a positioning mechanism in the first polishing section of the polishing apparatus of the present invention. The polishing
이렇게 위치 결정된 워크(W)가 워크 보유 지지대(351)에 고정되어, 연마 처리가 행해지므로, 직사각형 워크의 하나의 단부면(변부)에 대하여 치우침이 없는 균일한 연마를 행할 수 있다.Since the thus positioned workpiece W is fixed to the
도 5에, 도 4a의 일부가 생략된 X-X'선 측면도가 도시되어 있다. 회동 아암(314)과 연장 아암(314')은 간략화를 위해 일체로 도시되고, 연마 헤드(319)는 파선으로 도시되어 있다. 연마 헤드(319)를 접속 지그(330), 플레이트(317), 경사 플레이트(318)를 거쳐 보유 지지하는 회동 아암(314)(314')이 회동 축선(A2)[바람직하게, 연마면(320) 위에 위치함]을 중심으로 회동 가능하게, 지주(306)에 부착되어 있다. 연마 헤드(319)를 사이에 두고 반대측에, 아암(315)이 지주(307)에 부착되어 있다(도 4a). 회동 아암이나 접속 지그의 형상은 특별히 한정되는 것은 아니며, 연마 헤드(319) 및 연마 헤드(319)와 일체적인 부재(플레이트, 모터 등)를 보유 지지하도록 적절하게 선택할 수 있다.Fig. 5 is a side view taken along the line X-X 'in which a part of Fig. 4A is omitted. The
상기한 바와 같이, 회동 아암(314)(314')은 연결 부재(313)에 축지지 핀(316)에 의해 피봇 부착되고, 연결 부재(313)의 후단부에, 연결 블록(311)을 관통하는 샤프트(312, 312')가 고정 부착되고, 연결 블록(311)은 LM 가이드(309) 및 단축 로봇(310)에 의해, 지주(305)를 따라 연직 방향으로 이동 가능하다.As described above, the pivoting
연결 블록(311)이 지주(305)를 따라 상방으로 이동하는 것에 따라서, 연결 부재(313)와 일체적인 샤프트(312, 312')가 도면의 우측 방향으로 인출되어, 회동 아암(314)(314')이 회동 축선(A2)의 주위를 회동하고, 회동 아암에 보유 지지되는 연마 헤드(319)가 회동 축선(A2)의 주위를 회동하여, 연마면(320)이 연직면에 대하여 α도 기울어지게 할 수 있다. 각도 α의 범위는, 도시한 예에 한정되지 않고, 연결 블록(311)의 연직 방향의 이동 거리나 샤프트(312, 312')의 길이 등에 의해 임의로 결정할 수 있다. 적절하게, 각도 α의 범위는 회동 축선(A2)을 포함하는 연직면에 대하여 -90도 ≤α≤90도이다.As the connecting
이와 같이, 연마 헤드(319)의 연마면(320)이 연직면에 대하여 각도 α만큼 경사짐으로써, 워크 유닛에 수평하게 보유 지지된 워크(W)(도시하지 않음)의 상면의 하나의 변부(귀퉁이부)에 원하는 C면 연마를 행할 수 있다.Thus, the polishing
마찬가지로, 연결 블록(311)이 지주(305)를 따라 하방으로 이동함으로써, 연마면(320)은 워크 유닛에 수평하게 보유 지지된 워크(W)(도시하지 않음)의 하면의 변부(귀퉁이부)에 접촉하여 원하는 C면 연마를 행할 수 있다.Similarly, the connection block 311 moves downward along the
도 6에, 본 발명에 따른 연마 테이프 유닛(300)의 경사 기구가 도시되어 있다. 상기한 바와 같이, 회동 아암(314, 314')(도 4a, 도 5)과 일체적인 접속 지그(330, 331)가 플레이트(317)를 일체적으로 보유 지지하고 있다. 경사 플레이트(318)가 축지지 핀(325)에 의해, 축지지 핀(325)을 관통하는 축선(A7)(도 5)의 주위를 회동 가능하게 플레이트(317)에 부착되어 있다. 연마 헤드(319)의 하면이, 경사 플레이트(318)의 평탄한 상단부(도 4a)에 일체적으로 연결되어 있다. 플레이트(317)에, 축지지 핀(325)[축선(A7)]을 중심으로 하는 원의 원호를 형성하는 안내 홈(326a, 326b, 326c, 326d)이 마련되어 있다. 경사 플레이트(318)에 일체적으로 설치된 고정 지그(327a, 327b, 327c, 327d)가 경사 플레이트(318)의 회동에 따라서, 각각 안내 홈(326a, 326b, 326c, 326d) 내를 미끄럼 이동하고, 임의의 위치에서 경사 플레이트(318)를 플레이트(317)에 대하여 고정할 수 있다.6, the tilting mechanism of the polishing
경사 플레이트가 회동하지 않을 때, 연마 테이프(T)의 표면에 의해 형성된 연마면(320)의 길이 축선(A3)은, 연마 축선(A)(워크의 피연마 부분과 연마면이 접하여 연마를 위하여 상대 이동하는 궤적)과 일치한다. 경사 플레이트(318)가 회동하면, 연마면(320)의 길이 축선(A3)이, 예를 들어 길이 축선(A3')으로, θ만큼 경사진다. 각도 θ의 범위는, 적절하게 0도<θ≤90도이다.The longitudinal axis A3 of the polishing
도 7에, 본 발명에 따른 워크 유닛(350)에 있어서의, 워크(W)를 보유 지지하는 워크 보유 지지대(351)의 요동 기구가 도시되어 있다.7 shows a swing mechanism of a
워크 보유 지지 유닛(350)은 베이스(2) 위에 연직 방향으로 신장하는 지주(도시하지 않음)의 정상부에 수평하게 적재된, 상면에 연마 축선(A)에 평행한 LM 레일(360a, 360b)을 갖는 고정 플레이트(359)를 갖는다. 고정 플레이트(359)의 하방에, 모터(352)와 타이밍 벨트(355)에 의해 연동하여 구동되는 타이밍 풀리(354a, 354b, 354c 및 353a, 353b, 353c, 353d)가 설치되어 있다. 고정 플레이트(359)의 상방에, LM 레일(360a, 360b) 위를 요동 가능한 LM 블록(361a, 361b, 361c, 361d)과 일체적으로 워크 보유 지지대(351)가 수평하게 적재되어 있다. 마찬가지로, 고정 플레이트(359)의 상방에, LM 레일(360a, 360b) 위를 요동 가능한 LM 블록(362a, 362b)과 일체적으로 밸런서(추)(358b)가 적재되고, LM 블록(363a, 363b)과 일체적으로 밸런서(추)(358c)가 적재되어 있다.The work holding and holding
워크 보유 지지대(351)의 하면에 마련된 홈(357a)에, 타이밍 풀리(354a)의 상면으로부터 연직으로 신장하는 로드(356a)가 삽입되어 있다. 또한, 밸런서(358b)의 하면에 마련된 홈(357b)에, 타이밍 풀리(354b)의 상면으로부터 연직으로 신장하는 로드(356b)가 삽입되고, 밸런서(358c)의 하면에 마련된 홈(357c)에, 타이밍 풀리(354c)의 상면으로부터 연직으로 신장하는 로드(356c)가 삽입되어 있다.A
모터(352)의 구동에 의해, 타이밍 풀리(354a, 354b, 354c)가 회전하고, 로드(356a, 356b, 356c)가 동기하여 회전함으로써, 워크 보유 지지대(351), 밸런서(358b, 358c)가 각각, 연마 축선(A)을 따라 요동한다.The timing pulleys 354a, 354b and 354c rotate and the
여기서, 워크 보유 지지대(351)는 고정 수단(도시하지 않음)에 의해 수평하게 보유 지지한 워크(W)의 진동을 충분히 억제하도록 구성되어 있다. 워크 보유 지지대(351)가 도면의 좌측 방향으로 이동하면, 밸런서(358b, 358c)는 각각 우측 방향으로 이동한다. 워크 보유 지지대(351)가 도면의 우측 방향으로 이동하면, 밸런서(358b, 358c)는 각각 좌측 방향으로 이동한다. 이렇게 함으로써, 워크 보유 지지대(351)가 요동할 때의 진동이 상쇄되어, 고정밀도의 연마를 행할 수 있다.Here, the
요동 기구는, 진동을 억제하기 위해, 워크 보유 지지대(351)를 복수대(예를 들어, 2대) 인접하여 설치하고, 연마 축선(A)을 따라, 동기하여 반대 방향으로 요동하도록 구성되어도 된다. 이 경우, 복수대의 워크 보유 지지대에 의해 진동이 상쇄되므로, 밸런서는 불필요해진다.The swing mechanism may be configured to be provided adjacent to a plurality of (for example, two) workpiece holding supports 351 for suppressing the vibration and swing in the opposite direction synchronously along the polishing axis A . In this case, since the vibrations are canceled by the plurality of work holding supports, the balancer becomes unnecessary.
연마면[연마 테이프(T)]을 가압하는 힘, 패드 부재의 유연성, 탄력성 및 판유리의 강도에 의해, 연마체(연마면)에 대하여 피연마체(판유리)를 이동시켜서 연마 처리를 행해도, 연마 중에 피연마체가 파손되는 일은 없다. 연마 시의 피연마 부분과 연마면(연마 테이프의 표면)과의 상대 이동이, 진동을 억제하여 연마 축선을 따라 행해지므로, 판유리의 강도를 향상하도록 고정밀도인 표면 성상을 피연마면(마무리면 S1 등, 도 2)에 제공할 수 있다.Even when polishing is performed by moving the object to be polished (plate glass) with respect to the polishing object (polishing surface) by the force of pressing the polishing surface (polishing tape T), the flexibility, the elasticity of the pad member and the strength of the plate glass, The object to be polished is not broken. Since the relative movement between the polished portion and the polished surface (the surface of the polishing tape) at the time of polishing is performed along the polishing axis by suppressing the vibration, a highly accurate surface property is formed on the polished surface S1, etc., Fig. 2).
도 8에, 본 발명의 연마 장치에 따른 다른 형태의 위치 결정 기구가 도시되어 있다. 워크 유닛(350)의 워크 보유 지지대(351')는, 상면에 홈(334)을 갖고, 상기 홈 내에, 모터(332)의 구동축 A1' 방향으로 이동 가능한 로드(333)가 위치하고 있다.Fig. 8 shows another type of positioning mechanism according to the polishing apparatus of the present invention. The workpiece support base 351 'of the
도 8의 (A)와 같이, 워크(W)가 연마 축선(A)을 걸치지 않고 놓인 경우, 모터(332)에 의해 구동된 로드(333)가 워크(W)를 A1 방향으로, 연마 축선(A)을 향해 압출한다. 이렇게 함으로써, 연마 테이프 유닛의 연마면과 워크(W)의 피연마 부분이, 연마 축선(A)에 있어서 확실하게 접촉할 수 있다.8 (A), when the work W is placed without grinding the grinding axis A, the
도 9에, 본 발명의 연마 장치(1)(도 3)에 관한 제2 연마부(40)가 도시되어 있다. 제2 연마부(40)는 연마 테이프 유닛(300')과, 연마 축선(A)을 사이에 두고 상기 연마 테이프 유닛(300')에 대향하여 배치되는, 워크(W)가 배치되는 워크 보유 지지대(401)를 갖는 워크 유닛(400)을 포함하여 이루어진다. 연마 테이프 유닛(300')은, 적절하게 연마 테이프 유닛(300)과 마찬가지인 구성을 갖는다. 연마 축선(A)은 제1 연마부와 일치하고 있어도 된다. 또한, 제1 연마 축선(A)과 일치하지 않는 수평인 연마 축선(A')을 가져도 된다.Fig. 9 shows a
도 10a, 도 10b에, 워크 유닛(400)이 도시되어 있다. 도 10a에 있어서, 워크(W) 및 워크 보유 지지대(401)는 파선으로 도시되어 있다.10A and 10B, a
워크 유닛(400)은, 수평인 베이스(2) 위로부터 연직 상방으로 신장하는 지주(402, 402') 위에 수평하게 적재된 고정 플레이트(403), 고정 플레이트(403)의 상면으로부터 연직 상방으로 신장하는 지주(404) 위에 수평하게 적재된 고정 플레이트(405)를 갖는다.The
고정 플레이트(405) 위에, X 방향 가동 스테이지(413)가 서보 모터(414) 및 1축 가동 유닛(408)에 의해 X 방향으로 왕복 이동 가능하게 부착되어 있다. X 방향 가동 스테이지(413) 위에 X 방향 가동 플레이트(406)가 일체적으로 부착되어 있다. X 방향 가동 플레이트(406)의 상면으로부터 연직으로 축 부재를 포함하여 이루어지는 축(A4)이 신장하고, 워크 보유 지지대(401)를 회전 가능하게, 수평하게 지지하고 있다.An
또한, 고정 플레이트(405) 위에 구멍(429)을 갖는 Y 방향 가동 스테이지(407)가 리니어 가이드(409)에 의해 Y 방향으로 왕복 이동 가능하게 부착되어 있다. Y 방향 가동 스테이지(407) 위에, Y 방향 가동 플레이트(410)가 일체적으로 설치되어 있고, 그 위에 안내 홈(412)을 갖는 가이드 부재(411)가 일체적으로 부착되어 있다. 워크 보유 지지대(401)의 하면으로부터 연직으로 신장하는 로드(또는 핀)를 포함하여 이루어지는 축(A5)이, X 방향으로 형성된 안내 홈(412) 내에 미끄럼 이동 가능하게 위치하고 있다.A Y-direction
플레이트(403)와 플레이트(405) 사이에, 모터(420) 및 타이밍 벨트(423)에 의해 연동하여 구동되는 타이밍 풀리(422, 424)가 설치되어 있고, 타이밍 풀리(422)와 Y 방향 가동 스테이지(407) 사이에, 타이밍 풀리(422)와 동기하여 회전 가능한 회전 부재(425)가 설치되어 있다. 회전 부재(425)의 상면으로부터 연직 상방으로 신장하는 로드(427)가 Y 방향 가동 스테이지(407)의 구멍(429) 내에 삽입되어 있다.Timing
모터(420)의 구동에 의해, 타이밍 벨트(423)를 거쳐 타이밍 풀리(422)가 회전하면, 풀리(422)에 동기하여 회전 부재(425)가 회전한다. 회전 부재(425)가 회전하면, 일체적인 로드(427)가 회전하여 Y 방향 가동 스테이지(407)에 마련된 구멍(429) 내를 이동하면서, 가동 스테이지(407)를 Y 방향으로 일정한 스트로크로 왕복 이동시킨다. Y 방향 가동 스테이지(407)의 왕복 이동을 따라, 일체적인 플레이트(410) 및 가이드 부재(411)가 Y 방향으로 왕복 이동하고, 안내 홈(412) 내의 연직축(A5)이 Y 방향으로 이동한다. 연직축(A5)의 Y 방향으로의 이동에 대응하여, 연직축(A5)의 Y 방향의 위치 y가 시퀀서를 거쳐 서보 모터(414)로 전달되고, 서보 모터(414)에 의해, 연직축(A4)이 동기하여 워크(W)의 비직선적인 피연마 부분(소정의 곡률을 갖는 코너부)이 연마 축선(A) 위에 위치하는 연직축(A4)의 X 방향의 위치 x로 이동된다. 연직축(A4)의 X 방향으로의 이동에 의해, 상기 연직축(A4)에 회전 가능하게 수평 보유 지지된 워크 보유 지지대(401)가 X 방향으로 이동하고, 워크 보유 지지대(401)와 일체적인 연직축(A5)이 홈(412) 내를 미끄럼 이동하여 X 방향으로 이동한다. 연직축(A5)의 움직임은, X 방향과 Y 방향의 움직임을 조합한 것이 되어, 연직축(A4)의 주위를 회동하는 움직임이 된다. 예를 들어, 연직축(A5)은 요동 스트로크의 중심(C)을 중심으로 하여, 긴 지름을 2d로 하는 타원의 원주 위를 이동해도 된다.When the timing
이와 같이, 연직축(A4)이 X 방향으로 이동하고, 연직축(A5)이 X 방향 및 Y 방향으로 이동함으로써, 워크 보유 지지대(401)가 요동 운동하면서 연마 축선(A)을 따라 요동하고, 직사각형 워크의 코너부 등의 비직선적인 피연마 부분을 순차적으로 연마면에 접촉시키면서 연마할 수 있다.As the vertical axis A4 moves in the X direction and the vertical axis A5 moves in the X direction and the Y direction as described above, the
서보 모터를 사용하여 위치 제어를 행함으로써, 연마 축선(A) 위의 비직선적인 피연마 부분의 요동, 요동의 스트로크를 쉽게 제어할 수 있어, 원하는 곡률의 R면 연마를 행할 수 있다. 워크의 피연마 부분의 형상을 따라서 워크가 요동하여 연마를 행할 수 있으므로, 워크의 피연마 부분의 형상에 따라서 연마물(지석 등)을 제작할 필요가 없다.By performing the position control using the servo motor, it is possible to easily control the swinging and swinging strokes of the non-linearly polished portion on the polishing axis A, and the R surface polishing with a desired curvature can be performed. It is not necessary to produce a polishing material (such as a grinding wheel) according to the shape of the portion to be polished of the work, because the work can swing and polish according to the shape of the portion to be polished of the work.
상기한 구성 대신에, X축과 Y축의 2축 제어를 서보 모터에 의해 행해도 된다. 또는, 서보 모터에 의한 제어 대신에, 캠 제어에 의해, 상기 2개의 연직축의 위치가 제어되어도 된다. 그 경우에는, 서보 모터 대신에 연직축(A4)을 X 방향으로 이동시키기 위한 타이밍 풀리 및 연직축(A5)의 Y 방향의 이동과 동기하는 캠을 사용하여, 장치를 구성할 수 있다.Instead of the above configuration, two axes control of the X axis and the Y axis may be performed by the servo motor. Alternatively, the position of the two vertical axes may be controlled by the cam control instead of the control by the servo motor. In this case, a timing pulley for moving the vertical axis A4 in the X direction and a cam for synchronizing the vertical movement of the vertical axis A5 in the Y direction can be used instead of the servomotor.
연마 테이프 유닛(300')의 연마면(320')이, 연직면에 대하여 α도 기욺으로써, 워크(W)의 코너부의 상면(또는 하면)에 따른 귀퉁이부의 연마를 행할 수도 있다.The polishing surface 320 'of the polishing tape unit 300' may also be subjected to polishing of the corners along the upper surface (or lower surface) of the corner portion of the work W,
본 발명에 따른 연마 장치는, 적절하게 각 유닛을 제어하기 위한 제어 장치(도시하지 않음)를 포함한다.The polishing apparatus according to the present invention includes a control device (not shown) for appropriately controlling each unit.
본 발명에 따른 연마 장치는, 건식 또는 습식 모두 연마를 행할 수 있다. 적절하게, 습식으로 연마를 행하기 위해, 물이나 계면 활성제를 첨가한 수용액을 공급하기 위한 물 공급기나 물 파이프(도시하지 않음)를 갖는다. 연마면 또는 워크에 물 등을 공급함으로써, 연마 효율을 향상할 수 있거나, 또는 연마 찌꺼기를 씻어낼 수 있다. 연마 장치는, 에어를 분사하기 위한 에어 노즐을 구비하고 있어도 된다. 워크 유닛 등에 물이나 연마 먼지가 부착되는 것을 방지할 수 있기 때문이다. 또한, 적절하게 금속 재료를 포함하여 이루어지는 워크의 소결을 방지하기 위해, 가공유를 공급하는 공급기나 파이프(도시하지 않음)를 갖는다.The polishing apparatus according to the present invention can perform both dry and wet polishing. To suitably carry out the wet polishing, it has a water supplier or a water pipe (not shown) for supplying an aqueous solution containing water or a surfactant. By supplying water or the like to the polished surface or the work, the polishing efficiency can be improved, or the polishing residue can be washed away. The polishing apparatus may be provided with an air nozzle for jetting air. This is because water or abrasive dust can be prevented from adhering to the work unit. Further, in order to prevent sintering of the workpiece suitably comprising the metal material, it has a feeder or a pipe (not shown) for supplying the machining oil.
본 발명에 따른 연마 장치는, 상기한 워크의 직선적인 피연마 부분을 연마하는 제1 연마부 및 워크의 비직선적인 피연마 부분을 연마하는 제2 연마부를 포함하여 이루어져도 좋다. 이렇게 함으로써, 판유리의 주연부 전체를 1대의 연마 장치로 연마할 수 있다. 또한, 연마 테이프를 사용하여 연마하므로, 마무리면에 고정밀도의 표면 성상을 형성할 수 있어, 피연마물의 품질을 향상할 수 있다. 연마 테이프를 사용하여 다양한 형상의 워크를 연마할 수 있으므로, 비용을 저감할 수 있고, 연마 시의 연마 먼지의 발생도 적어, 장치의 유지 보수도 용이하다.The polishing apparatus according to the present invention may include a first polishing section for polishing a linearly polished portion of the work and a second polishing section for polishing a non-linearly polished portion of the work. By doing so, the entire periphery of the plate glass can be polished by one polishing apparatus. Further, since the abrasive tape is used for polishing, it is possible to form highly precise surface features on the finished surface, thereby improving the quality of the abrasive to be polished. Since various shapes of workpieces can be polished using an abrasive tape, costs can be reduced, generation of abrasive dust during polishing is reduced, and maintenance of the apparatus is also easy.
또한, 본 발명에 따른 연마 장치는, 상기한 제1 연마부 및 제2 연마부 중 어느 하나로 이루어져도 된다.Further, the polishing apparatus according to the present invention may be composed of any one of the first polishing section and the second polishing section.
제1 1st 실시예Example
본 발명에 따른 연마 장치를 사용하여, 워크의 변부(귀퉁이부)가 연마되었다. 워크로서, 길이 70㎜, 폭 40㎜, 두께 0.8㎜인 직사각형의 소다석회 유리가 사용되었다. 이 판유리의 상면 및 하면에 따른 8변이 연마되어 마무리면(S1 등, 도 2)으로 형성되었다. 연마에 있어서, 연마 테이프 유닛의 연마면의 길이 축선은, 연마 축선에 대하여 10도 기울어지게 되었다(θ=10°). 또한, 연마면은 연직면에 대하여 45도 기울어지게 되었다(α=45°). 이와 같이 하여 판유리의 하나의 변부와 연마면이 접촉하고, 워크 유닛이 연마 축선을 따라 요동하여 판유리와 연마면이 상대 이동함으로써 연마가 행해졌다. C면 연마의 연마량은 50㎛로 하고, 일정한 연마량으로 하기 위해, 연마 테이프의 표면에 포함되는 지립 지름에 의해, 판유리의 왕복 횟수(1 왕복=1 패스)가 조절되었다. 연마면은 연마 축선에 평행하며, 연마 테이프는 주행되지 않았다. 또한, 연마면에 소량의 물을 공급하면서 연마가 행해졌다.Using the polishing apparatus according to the present invention, the edges (corners) of the work were polished. As the work, rectangular soda lime glass having a length of 70 mm, a width of 40 mm and a thickness of 0.8 mm was used. 8 sides along the upper and lower surfaces of the plate glass were polished to form a finished surface (S1, etc., Fig. 2). In polishing, the longitudinal axis of the polishing surface of the polishing tape unit was inclined by 10 degrees with respect to the polishing axis (? = 10). In addition, the polishing surface was inclined at 45 degrees relative to the vertical plane (alpha = 45 [deg.]). In this manner, one edge of the plate glass and the polished surface are in contact with each other, and the work unit is oscillated along the polished axis so that the polished surface and the polished surface move relative to each other. The number of reciprocations (1 reciprocation = 1 pass) of the plate glass was controlled by the abrasive grain diameter included in the surface of the abrasive tape so that the abrasion amount of the C surface abrasion was 50 탆 and the abrasion amount was constant. The abrasive surface was parallel to the abrasive axis, and the abrasive tape did not run. Further, polishing was performed while supplying a small amount of water to the polished surface.
그 밖의 제1 실시예의 연마 조건은, 이하와 같다.The other polishing conditions of the first embodiment are as follows.
연마 조건(Polishing condition ( 1변One side ))
판유리의 왕복 운동의 스트로크 길이(L) : 150㎜Stroke length (L) of reciprocating motion of plate glass: 150 mm
연마 테이프의 폭 : 30㎜Width of abrasive tape: 30 mm
연마 테이프의 가압력(추력) : 15NPressing force (thrust) of the polishing tape: 15N
연마 테이프로서, GC(그린 카보런덤) #4000(SiC : 평균 지립 지름 3㎛)이 사용되고, 패드 부재로서 쇼어 A 경도 30의 발포 수지 패드가 사용되었다. 판유리의 왕복 횟수는 21 패스였다.As the polishing tape, GC (Green Carborundum) # 4000 (SiC: average diameter of 3 mu m) was used, and a foam resin pad having a Shore A hardness of 30 was used as the pad member. The number of round trips of the plate glass was 21 passes.
제2 Second 실시예Example
제2 실시예의 제조 방법에 있어서, 연마 테이프로서 GC#6000(평균 지립 지름 2㎛)이 사용되었다. 판유리의 왕복 횟수는 24 패스였다. 그 밖의 조건은 제1 실시예와 마찬가지였다.In the manufacturing method of the second embodiment, GC # 6000 (average particle diameter of 2 mu m) was used as the abrasive tape. The number of round trips of the plate glass was 24 passes. Other conditions were the same as in the first embodiment.
제3 Third 실시예Example
제3 실시예의 제조 방법에 있어서, 연마 테이프로서 GC#10000(평균 지립 지름 0.5㎛)이 사용되었다. 패드 부재로서, 쇼어 A 경도 80의 고무판 및 쇼어 A 경도 30의 발포 수지판이 사용되었다. 판유리의 왕복 횟수는 31 패스였다. 그 밖의 조건은 제1 실시예와 마찬가지였다.In the manufacturing method of the third embodiment, GC # 10000 (average particle diameter 0.5 mu m) was used as the abrasive tape. As the pad member, a rubber plate of Shore A hardness 80 and a foamed resin plate of
제1 1st 비교예Comparative Example
제1 비교예의 제조 방법에 있어서, 연마 테이프로서 GC#1000(평균 지립 지름 16㎛)이 사용되었다. 판유리의 왕복 횟수는 7 패스였다. 그 밖의 조건은 제1 실시예와 마찬가지였다.In the manufacturing method of the first comparative example, GC # 1000 (average particle diameter of 16 mu m) was used as the abrasive tape. The number of round trips of the plate glass was 7 passes. Other conditions were the same as in the first embodiment.
제2 Second 비교예Comparative Example
제2 비교예의 제조 방법에 있어서, 연마 테이프로서 GC#2000(평균 지립 지름 9㎛)이 사용되었다. 판유리의 왕복 횟수는 11 패스였다. 그 밖의 조건은 제1 실시예와 마찬가지였다.In the manufacturing method of the second comparative example, GC # 2000 (average particle diameter of 9 mu m) was used as the abrasive tape. The number of round trips of the plate glass was 11 passes. Other conditions were the same as in the first embodiment.
제3 Third 비교예Comparative Example
제3 비교예의 제조 방법에 있어서, 연마 테이프로서 GC#3000(평균 지립 지름 5㎛)이 사용되었다. 판유리의 왕복 횟수는 17 패스였다. 그 밖의 조건은 제1 실시예와 마찬가지였다.In the manufacturing method of the third comparative example, GC # 3000 (average particle diameter of 5 mu m) was used as the abrasive tape. The number of round trips of the plate glass was 17 passes. Other conditions were the same as in the first embodiment.
제4 Fourth 비교예Comparative Example
제4 비교예의 제조 방법에 있어서, 메쉬 크기 #1000의 다이아몬드 지립(평균 입경 14 내지 22㎛)을 메탈 본드한 지석 500이 사용되었다. 도 11에 도시한 바와 같이, 지석과 판유리의 주표면(상면 및 하면)의 귀퉁이부를 배치하고, 지석을 회전시킴으로써 귀퉁이부의 모따기 연마가 행해졌다.In the manufacturing method of the fourth comparative example, a grinding
상기한 바와 같이 마무리 연마된 실시예, 비교예의 평균 표면 조도(Ra) 및 조도 곡선의 최대 골 깊이(Rv)가, 이하의 표 1에 나타내어져 있다. 평균 표면 조도(Ra) 및 최대 골 깊이(Rv)는 표면 조도계(제품명 NewView 5000 : Zygo사 제조)에 의해 측정되었다.The average surface roughness (Ra) of the finish-polished embodiment and the comparative example and the maximum depth (Rv) of the roughness curve are shown in Table 1 below. The average surface roughness (Ra) and the maximum bone depth (Rv) were measured by a surface roughness meter (product name: NewView 5000: Zygo).
제1 내지 제3 실시예의 제조 방법에 의해, 피연마 부분이 고정밀도의 마무리면[평균 표면 조도(Ra) : 1.7㎚ 내지 11.5㎚, 최대 골 깊이(Rv) : 32㎚ 내지 162㎚]으로 형성된 판유리가 얻어졌다. 왕복 패스 횟수는 20회에서 30회 정도로, 연마 속도도 충분하였다. 비교예의 제조 방법에 의한 판유리의 마무리면은, 최대 골 깊이가 1000㎚를 초과한 것이 많았다.By the manufacturing method of the first to third embodiments, the portions to be polished are formed with high-precision finished surfaces (average surface roughness (Ra): 1.7 nm to 11.5 nm, maximum bone depth (Rv): 32 nm to 162 nm) Plate glass was obtained. The number of reciprocating passes was about 20 to 30, and the polishing rate was sufficient. In the finished surface of the plate glass according to the production method of the comparative example, the maximum bone depth often exceeded 1000 nm.
실시예, 비교예의 마무리면의 확대 사진이 도 12에 도시되어 있다. 좌측은 디지털 현미경(제품명 VHX 500 : KEYENCE사 제조)에 의한 광학 사진이며, 우측은 표면 조도계(제품명 NewView 5000 : Zygo사 제조)에 의한 것이다. (A)는 제1 비교예, (B)는 제2 비교예, (C)는 제1 실시예, (D)는 제3 실시예에 의한 마무리면이다.An enlarged photograph of the finished surface of Examples and Comparative Examples is shown in Fig. The left side is an optical photograph by a digital microscope (product name VHX 500: manufactured by KEYENCE), and the right side is by a surface roughness meter (product name: NewView 5000: manufactured by Zygo Corporation). (A) is a first comparative example, (B) is a second comparative example, (C) is a first embodiment, and (D) is a finished surface according to the third embodiment.
비교예에 따른 (A), (B)는 표면의 요철이 많아 마무리면의 표면 성상으로서 불충분하였다. 실시예에 따른 (C), (D)는 요철이나 흠집이 없는 고정밀도의 마무리면으로 되어 있어, 엣지부의 직선성도 우수하였다. 연마 테이프를 사용함으로써, 마무리면이 곡면을 가지고 있었다.(A) and (B) according to the comparative examples had a large number of irregularities on the surface, which was insufficient as the surface properties of the finished surface. (C) and (D) according to the embodiment have high-precision finished surfaces without irregularities or scratches, and the linearity of the edge portions is also excellent. By using the abrasive tape, the finished surface had a curved surface.
도 13은, 제4 비교예의 제조 방법에서 얻게 된 판유리의 마무리면의 확대 사진이다. 표면에 연마 자국(휠 마크)이 있어, 흠집이 많이 보였다. 지석으로 연마함으로써, 마무리면은 곡면으로 형성되어 있지 않았다.13 is an enlarged photograph of the finished surface of the plate glass obtained in the manufacturing method of the fourth comparative example. There was a grinding mark (wheel mark) on the surface, and a lot of scratches were seen. By polishing with a grinding stone, the finished surface was not formed into a curved surface.
실시예, 비교예의 각 판유리의 엣지 강도(MPa)가 측정되었다. 엣지 강도라 함은 유리의 단부 테두리부의 강도를 가리키는 것이다. 엣지 강도는, 실온 굽힘 강도 시험 방법(JISR1601)을 기초로 하여, 시판되고 있는 4점 굽힘 시험기를 사용하여 측정되었다. 엣지 강도 시험(4점 굽힘)의 방법이 도 14에 모식적으로 도시되어 있다. 부하 지그 간격이 10㎜, 지지 지그 간격이 30㎜, 부하 속도가 5㎜/분인 조건으로 시험이 행해졌다.The edge strength (MPa) of each of the plate glasses of Examples and Comparative Examples was measured. The edge strength refers to the strength of the edge portion of the glass. The edge strength was measured using a commercially available four-point bending tester based on the room temperature bending strength test method (JIS R 1601). A method of an edge strength test (four-point bending) is schematically shown in Fig. The test was performed under the condition that the load jig spacing was 10 mm, the support jig spacing was 30 mm, and the load speed was 5 mm / min.
표 1에, 실시예, 비교예의 판유리를 각 10장 시험하고, 얻게 된 엣지 강도를 평균한 값이 기재되어 있다. 본 발명에 따른 연마 장치에 의해, 미세한 지립을 표면에 포함하는 연마 테이프를 사용하여 단부 테두리부가 연마되어 마무리면으로 형성된 판유리는, 마무리면의 평균 표면 조도(Ra) 및 최대 골 깊이(Rv) 값을 대폭으로 저감할 수 있는 결과, 종래의 지석에 의한 가공과 비교하여, 엣지 강도가 3배 이상으로 향상되었다. 이와 같이, 본 발명에 따른 판유리는, 엣지 강도가 현저하게 향상되고 있으므로, 해당 판유리를 사용하는 제품의 제조 공정에 의해, 판유리가 기계적 응력이나 열 쇼크에 의해 파손되는 것을 방지할 수 있는 것이다. 또한, 판유리가 제품에 내장된 후도 파손되기 어려워, 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 것이다.Table 1 shows values obtained by averaging the edge intensities obtained by testing ten sheets of the plate glasses of the examples and the comparative examples. With the polishing apparatus according to the present invention, the plate glass formed by polishing the end edge portion using the abrasive tape including the fine abrasive grains on the surface and having the finished surface has the average surface roughness Ra of the finished surface and the maximum bone depth Rv As a result, the edge strength was improved to three times or more as compared with the conventional grinding. As described above, the plate glass according to the present invention has remarkably improved edge strength, so that the plate glass can be prevented from being damaged by mechanical stress or thermal shock by the manufacturing process of the product using the plate glass. Further, even after the plate glass is embedded in the product, it is hardly damaged, and the reliability of the product can be improved.
제4 Fourth 실시예Example
본 발명에 따른 연마 장치를 사용하여, 판유리의 코너부가 연마되었다. 상기 판유리는, 미리 지석에 의해 소정의 R 형상 가공(초벌 연마)을 실시한 것을 사용하였다. 제1 실시예와 동일한 연마 테이프가 사용되었다. 압력은 1N, 왕복 횟수는 5 패스였다.Using the polishing apparatus according to the present invention, the corner portions of the plate glass were polished. The plate glass was subjected to predetermined R-shaped machining (primer polishing) by a grinder in advance. The same abrasive tape as the first embodiment was used. The pressure was 1N and the number of reciprocations was 5 passes.
제5 Fifth 실시예Example
초벌 연마가 실시되고 있지 않은(아즈 슬라이스) 판유리의 코너부가 연마되었다. 연마 테이프는, D#600(30㎛)으로 R 형상 가공(초벌 연마)을 실시한 후, 제1 실시예와 동일한 연마 테이프가 사용되었다.The corners of the plate glass on which no primer polishing was carried out (Az slice) were polished. The abrasive tape was subjected to R shape machining (rough grinding) with D # 600 (30 mu m), and then the same abrasive tape as that of the first embodiment was used.
제4, 제5 실시예에 있어서도, 고정밀도의 마무리면[평균 표면 조도(Ra) : 약 1.5㎚ 내지 12㎚, 최대 골 깊이(Rv) : 약 30㎚ 내지 165㎚]이 얻어졌다.(Average surface roughness (Ra): about 1.5 nm to 12 nm, maximum bone depth (Rv): about 30 nm to 165 nm) was obtained even in the fourth and fifth embodiments.
본 발명의 사상 및 형태로부터 벗어나는 일없이 다양한 수정이 가능한 것은 당업자가 알고 있는 바이다. 따라서, 어디까지나 본 발명의 형태는 예시에 지나지 않고, 본 발명의 범위를 한정하는 것은 아니다.Those skilled in the art are aware that various modifications can be made without departing from the spirit and form of the present invention. Therefore, the embodiments of the present invention are merely illustrative and do not limit the scope of the present invention.
W : 워크
T : 연마 테이프
A : 연마 축선
1 : 연마 장치
2 : 베이스
10 : 워크 적재대 1
20 : 워크 반송 유닛
30 : 제1 연마부
40 : 제2 연마부
50 : 워크 적재대 2
300 : 연마 테이프 유닛 1
300' : 연마 테이프 유닛 2
350 : 워크 유닛 1
400 : 워크 유닛 2W: Walk
T: abrasive tape
A: Polishing axis
1: Polishing apparatus
2: Base
10:
20: Work transfer unit
30: First polishing part
40: second polishing portion
50:
300:
300 ':
350:
400:
Claims (21)
상기 워크의 주연부의 직선적인 피연마 부분을 연마하는, 수평인 제1 연마 축선을 갖는 제1 연마부와,
상기 워크의 주연부의 비직선적인 피연마 부분을 연마하는, 수평인 제2 연마 축선을 갖는 제2 연마부를 포함하고,
상기 제1 연마부가 상기 워크를 보유 지지하기 위한 제1 워크 유닛과 상기 제1 연마 축선을 사이에 두고, 상기 제1 워크 유닛에 대향하여 제1 연마 테이프 중 적어도 일부의 표면을 배치하기 위한 제1 연마 테이프 유닛을 포함하고,
상기 제2 연마부가 상기 워크를 보유 지지하기 위한 제2 워크 유닛과 상기 제2 연마 축선을 사이에 두고, 상기 제2 워크 유닛에 대향하여 제2 연마 테이프 중 적어도 일부의 표면을 배치하기 위한 제2 연마 테이프 유닛을 포함하고,
상기 제1 연마부에 있어서, 상기 배치된 제1 연마 테이프의 표면이 제1 연마면을 구획 형성하고, 상기 직선적인 피연마 부분과 상기 제1 연마면이 접하여 상기 제1 연마 축선에 있어서 상대 이동함으로써 연마가 행해지고,
상기 제2 연마부에 있어서, 상기 배치된 제2 연마 테이프의 표면이 제2 연마면을 구획 형성하고, 상기 비직선적인 피연마 부분과 상기 제2 연마면이 접하여 상기 제2 연마 축선에 있어서 상대 이동함으로써 연마가 행해지는 것을 특징으로 하는, 연마 장치.A polishing apparatus for polishing a periphery of a work using an abrasive tape,
A first polishing section having a horizontal first polishing axis for polishing a linearly polished portion of a periphery of the work;
And a second polishing section having a horizontal second polishing axis for polishing a non-linearly polished portion of the periphery of the work,
Wherein the first polishing unit includes a first work unit for holding the workpiece and a first workpiece unit for holding a surface of at least a part of the first abrasive tape opposite to the first workpiece unit with the first abrasive axis interposed therebetween, Comprising an abrasive tape unit,
Wherein the second polishing unit includes a second work unit for holding the work and a second polishing unit for placing the surface of at least a part of the second abrasive tape opposite to the second work unit, Comprising an abrasive tape unit,
The surface of the first abrasive tape in the first abrasive section forms a first abrasive surface, and the linear abrasive portion and the first abrasive surface are in contact with each other, Polishing is carried out,
The surface of the second abrasive tape in the second polishing section defines a second abrasive surface, and the non-linearly-polished portion and the second abrasive surface are in contact with each other to form a relative Wherein polishing is carried out by moving.
상기 제1 연마부에 있어서, 상기 직선적인 피연마 부분과 상기 제1 연마면이 상기 판유리의 주연부의 직선적인 피연마 부분을, 평균 표면 조도(Ra)가 200㎚ 이하, 또한 최대 골 깊이(Rv)가 20㎚ 이하로 형성되도록 상대 이동하고,
상기 제2 연마부에 있어서, 상기 비직선적인 피연마 부분과 상기 제2 연마면이, 상기 판유리의 주연부의 비직선적인 피연마 부분을, 평균 표면 조도(Ra)가 20㎚ 이하, 또한 최대 골 깊이(Rv)가 200㎚ 이하로 형성되도록 상대 이동하는 것을 특징으로 하는, 연마 장치.The apparatus of claim 1, wherein the workpiece comprises a plate glass,
Wherein the linearly polished portion and the first polished surface of the first polished portion are formed so that the linear polished portion of the periphery of the plate glass has a mean surface roughness Ra of 200 nm or less and a maximum score depth Rv ) Is formed so as to be 20 nm or less,
Wherein the non-linearly polished portion and the second polished surface of the second polishing portion are formed such that the non-linearly polished portion of the periphery of the plate glass has an average surface roughness Ra of 20 nm or less, So that the depth (Rv) is relatively shifted to be 200 nm or less.
상기 워크를 보유 지지하기 위한 제1 워크 보유 지지대와,
상기 제1 워크 보유 지지대를 상기 제1 연마 축선을 따라 요동시키기 위한 요동 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는, 연마 장치.The apparatus according to claim 1 or 2, wherein the first work unit
A first work holding base for holding the work,
And swinging means for swinging the first work holding support base along the first polishing axis.
수평 방향 또한 상기 제2 연마 축선에 수직인 방향(X 방향)으로 이동 가능하게 설치된 X 방향 가동 스테이지와,
상기 제2 연마 축선에 평행한 방향(Y 방향)으로 이동 가능하게 설치된 Y 방향 가동 스테이지이며, X 방향으로 신장하는 홈부를 일체적으로 갖는 Y 방향 가동 스테이지와,
상기 X 방향 가동 스테이지에 일체적으로 설치된 제1 연직축에 의해 회전 가능하게 수평 지지된 제2 워크 보유 지지대를 포함하고,
상기 제2 워크 보유 지지대가 상기 제2 워크 보유 지지대의 표면으로부터 수직으로 신장하는 제2 연직축이며, 상기 Y 방향 가동 스테이지의 상기 홈부 내에 미끄럼 이동 가능하게 위치하는 제2 연직축을 갖고,
상기 워크가 상기 제2 워크 보유 지지대에 보유 지지되고,
상기 비직선적인 피연마부가 상기 제1 연직축 및 상기 제2 연직축의 이동에 의해, 요동 운동하면서 상기 제2 연마 축선을 따라 요동하는 것을 특징으로 하는, 연마 장치.3. The apparatus according to claim 1 or 2, wherein the second work unit is placed on a horizontal base,
An X-direction movable stage provided movably in a horizontal direction and in a direction perpendicular to the second polishing axis (X direction)
A Y direction movable stage provided movably in a direction parallel to the second polishing axis (Y direction) and having a groove portion integrally extending in the X direction,
And a second workpiece holding base rotatably supported horizontally by a first vertical axis integrally provided in the X direction movable stage,
The second workpiece holding support base has a second vertical axis extending vertically from the surface of the second workpiece support base and a second vertical axis slidably positioned in the groove of the Y directional movement stage,
The workpiece is held on the second workpiece holding base,
Wherein the non-linearly-polished polishing unit rocks along the second polishing axis while swinging by the movement of the first vertical axis and the second vertical axis.
상기 제2 연마 테이프 유닛이 상기 제2 연마면을 수평 방향 또한 상기 제2 연마 축선에 수직인 방향으로 이동하기 위한 제2 연마 테이프 이동 수단을 갖고, 그에 의해, 상기 비직선적인 피연마 부분 중 적어도 일부와 상기 제2 연마면이 상기 제2 연마 축선에 있어서 접촉할 수 있는 것을 특징으로 하는, 연마 장치.The polishing apparatus according to claim 1 or 2, wherein the first polishing tape unit has first polishing tape moving means for moving the first polishing surface in a horizontal direction and in a direction perpendicular to the first polishing axis, , The linearly polished portion and the first polishing surface can contact with each other on the first polishing axis,
And the second abrasive tape unit has second abrasive tape moving means for moving the second abrasive face in a horizontal direction and in a direction perpendicular to the second abrasive axis, whereby at least one of the non-linearly-polished portions And the second polishing surface can come into contact with the second polishing axis.
상기 제2 연마 테이프 유닛이 상기 제2 연마면의 길이 축선을, 상기 제2 연마 축선에 대하여 경사지게 하기 위한 제2 경사 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는, 연마 장치.The polishing apparatus according to claim 1 or 2, wherein the first abrasive tape unit includes first inclining means for inclining the longitudinal axis of the first abrasive surface with respect to the first abrasive axis,
And the second abrasive tape unit includes second inclining means for inclining the longitudinal axis of the second abrasive surface with respect to the second abrasive axis.
상기 제2 연마 테이프 유닛이 상기 제2 연마면을, 상기 제2 연마 축선을 중심으로 회동시키기 위한 제2 회동 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는, 연마 장치.The polishing apparatus according to claim 1 or 2, wherein the first polishing tape unit includes first rotating means for rotating the first polishing surface about the first polishing axis,
And the second abrasive tape unit includes second rotating means for rotating the second abrasive surface about the second abrasive axis.
상기 제2 워크 유닛이 상기 워크를, 가압하여 고정하거나 및/또는 흡착하여 고정하기 위한 제2 워크 고정 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는, 연마 장치.3. The workpiece clamping apparatus according to claim 1 or 2, wherein the first workpiece unit includes first workpiece fixing means for pressing and fixing and / or attracting and fixing the workpiece,
And second work fixing means for pressing and fixing and / or attracting and fixing the work by the second work unit.
상기 제2 연마 테이프 유닛이 상기 제2 연마 테이프를 주행시키기 위한 제2 연마 테이프 주행 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는, 연마 장치.The polishing apparatus according to claim 1 or 2, wherein the first abrasive tape unit includes first abrasive tape running means for running the first abrasive tape,
And the second abrasive tape unit includes a second abrasive tape running means for running the second abrasive tape.
상기 워크를 보유 지지하기 위한 워크 유닛과,
상기 연마 축선을 사이에 두고, 상기 워크 유닛에 대향하여 연마 테이프 중 적어도 일부의 표면을 배치하기 위한 연마 테이프 유닛을 포함하고,
상기 배치된 연마 테이프의 표면이 연마면을 구획 형성하고, 상기 직선적인 피연마 부분과 상기 연마면이 접하여 상기 연마 축선에 있어서 상대 이동함으로써 연마가 행해지는 것을 특징으로 하는, 연마 장치.A polishing apparatus having a horizontal polishing axis for polishing a linearly polished portion of a periphery of a work using an abrasive tape,
A work unit for holding the work,
And an abrasive tape unit for disposing at least a part of the surface of the abrasive tape opposite to the work unit with the abrasive axis interposed therebetween,
Wherein the surface of the disposed abrasive tape forms a polishing surface, and the abrasive is performed by causing the linearly polished portion and the abrasive surface to be in contact with each other and to move relative to each other along the abrasive axis.
상기 워크 유닛이,
상기 워크를 보유 지지하기 위한 워크 보유 지지대와,
상기 워크 보유 지지대를 상기 연마 축선을 따라 요동시키기 위한 요동 수단을 포함하고,
상기 직선적인 피연마 부분과 상기 연마면이, 상기 판유리의 주연부의 직선적인 피연마 부분을, 평균 표면 조도(Ra)가 20㎚ 이하, 또한 최대 골 깊이(Rv)가 200㎚ 이하로 형성되도록 상대 이동하는 것을 특징으로 하는, 연마 장치.12. The apparatus of claim 11, wherein the workpiece comprises a plate glass,
Wherein the work unit comprises:
A work holding support for holding the work,
And swinging means for swinging the work holding support along the polishing axis,
Wherein the linearly polished portion and the polished surface are formed so that the linearly polished portion of the periphery of the plate glass has a relative surface roughness Ra of not more than 20 nm and a maximum bone depth Rv of not more than 200 nm Wherein the polishing surface is a polishing surface.
상기 연마면을 수평 방향 또한 상기 연마 축선에 수직인 방향으로 이동시키기 위한 연마 테이프 이동 수단이며, 그에 의해, 상기 직선적인 피연마 부분과 상기 연마면이 상기 연마 축선에 있어서 접촉할 수 있는 연마 테이프 이동 수단과,
상기 연마면의 길이 축선을, 상기 연마 축선에 대하여 경사지게 하기 위한 경사 수단과,
상기 연마면을, 상기 연마 축선을 중심으로 회동시키기 위한 회동 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는, 연마 장치.The polishing apparatus according to claim 11 or 12,
And a polishing tape moving means for moving the polishing surface in a horizontal direction and in a direction perpendicular to the polishing axis so that the linearly polished portion and the polishing surface move in contact with the polishing axis, Sudan,
An inclination means for inclining the longitudinal axis of the polishing surface with respect to the polishing axis,
And a rotating means for rotating the polishing surface about the polishing axis.
상기 워크를 보유 지지하기 위한 워크 유닛과,
상기 연마 축선을 사이에 두고, 상기 워크 유닛에 대향하여 연마 테이프 중 적어도 일부의 표면을 배치하기 위한 연마 테이프 유닛을 포함하고,
상기 배치된 연마 테이프의 표면이 연마면을 구획 형성하고, 상기 비직선적인 피연마 부분과 상기 연마면이 접하여 상기 연마 축선에 있어서 상대 이동함으로써 연마가 행해지는 것을 특징으로 하는, 연마 장치.A polishing apparatus having a horizontal polishing axis for polishing a non-linearly polished portion of a periphery of a work using an abrasive tape,
A work unit for holding the work,
And an abrasive tape unit for disposing at least a part of the surface of the abrasive tape opposite to the work unit with the abrasive axis interposed therebetween,
Wherein the surface of the disposed abrasive tape defines a polishing surface and the non-linearly polished portion and the polishing surface are in contact with each other and are moved relative to each other along the abrasive axis so that polishing is performed.
상기 워크 유닛이, 수평인 베이스 위에
수평 방향 또한 상기 연마 축선에 수직인 방향(X 방향)으로 이동 가능하게 설치된 X 방향 가동 스테이지와,
상기 연마 축선에 평행한 방향(Y 방향)으로 이동 가능하게 설치된 Y 방향 가동 스테이지이며, X 방향으로 신장하는 홈부를 일체적으로 갖는 Y 방향 가동 스테이지와,
상기 X 방향 가동 스테이지에 일체적으로 설치된 제1 연직축에 의해 회전 가능하게 수평 지지된 워크 보유 지지대를 포함하고,
상기 워크 보유 지지대가 상기 워크 보유 지지대의 표면으로부터 수직으로 신장하는 제2 연직축이며, 상기 Y 방향 가동 스테이지의 상기 홈부 내에 미끄럼 이동 가능하게 위치하는 제2 연직축을 갖고,
상기 워크가 상기 워크 보유 지지대에 보유 지지되고,
상기 비직선적인 피연마부가 상기 제1 연직축 및 상기 제2 연직축의 이동에 의해, 요동 운동하면서 상기 연마 축선을 따라 요동하고,
상기 비직선적인 피연마 부분과 상기 연마면이, 상기 판유리의 주연부의 비직선적인 피연마 부분을, 평균 표면 조도(Ra)가 20㎚ 이하, 또한 최대 골 깊이(Rv)가 200㎚ 이하로 형성되도록 상대 이동하는 것을 특징으로 하는, 연마 장치.17. The apparatus of claim 16, wherein the workpiece comprises a plate glass,
The work unit is mounted on a horizontal base
An X-direction movable stage provided movably in a horizontal direction and in a direction (X direction) perpendicular to the polishing axis,
A Y direction moving stage provided movably in a direction parallel to the polishing axis (Y direction) and having a groove portion integrally extending in the X direction,
And a work holding base rotatably supported horizontally by a first vertical axis provided integrally with the X direction movable stage,
And a second vertical axis extending vertically from the surface of the workpiece support base and having a second vertical axis slidably positioned in the groove of the Y direction movable stage,
The workpiece is held on the workpiece holder,
Wherein the non-linearly polished portion is swung along the polishing axis while swinging by the movement of the first vertical axis and the second vertical axis,
The non-linearly polished portion and the polished surface are formed such that the non-linearly polished portion of the periphery of the plate glass has an average surface roughness Ra of 20 nm or less and a maximum score depth Rv of 200 nm or less So as to move relative to each other.
상기 워크의 주연부의 직선적인 피연마 부분을 연마 테이프를 사용하여 연마하고, 상기 피연마 부분을, 평균 표면 조도(Ra)가 20㎚ 이하, 또한 최대 골 깊이(Rv)가 200㎚ 이하로 형성되는 연마 공정을 포함하여 이루어지고,
상기 연마 테이프가 기재 필름에 수지 바인더에 의해 지립이 고정 부착되어서 이루어지며,
상기 지립의 입경이 0.2㎛ 이상, 3㎛ 이하의 범위에 있는, 연마 방법.11. A method for polishing a peripheral portion of a work to improve the strength of the work including the glass plate by using the apparatus according to claim 11,
Wherein the portion to be polished linearly on the periphery of the work is polished by using an abrasive tape and the portion to be polished is formed so as to have an average surface roughness Ra of 20 nm or less and a maximum bone depth Rv of 200 nm or less Comprising a polishing step,
Wherein the abrasive tape is formed by attaching abrasive grains to a base film by a resin binder,
And the grain size of the abrasive grains is in the range of 0.2 탆 or more and 3 탆 or less.
상기 워크의 주연부의 비직선적인 피연마 부분을 연마 테이프를 사용하여 연마하고, 상기 피연마 부분을, 평균 표면 조도(Ra)가 20㎚ 이하, 또한 최대 골 깊이(Rv)가 200㎚ 이하로 형성되는 연마 공정을 포함하여 이루어지고,
상기 연마 테이프가 기재 및 상기 기재에 결합제 수지에 의해 고정 부착된 지립을 포함하여 이루어지고,
상기 지립의 입경이 0.2㎛ 이상, 3㎛ 이하의 범위에 있는, 연마 방법.A method for polishing a peripheral portion of a work for improving the strength of a work including a plate glass by using the apparatus according to claim 16,
The non-linearly polished portion of the periphery of the work is polished by using an abrasive tape and the polished portion is formed so as to have an average surface roughness Ra of 20 nm or less and a maximum bone depth Rv of 200 nm or less Wherein the polishing step comprises:
Wherein the abrasive tape comprises a base material and abrasive grains fixedly attached to the base material by a binder resin,
And the grain size of the abrasive grains is in the range of 0.2 탆 or more and 3 탆 or less.
20. A plate glass in which at least a part of the periphery is polished by the polishing method according to claim 19 or 20.
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