KR20120085647A - 돌기물 검출 장치 및 돌기물 검출 방법 - Google Patents

돌기물 검출 장치 및 돌기물 검출 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20120085647A
KR20120085647A KR1020117009018A KR20117009018A KR20120085647A KR 20120085647 A KR20120085647 A KR 20120085647A KR 1020117009018 A KR1020117009018 A KR 1020117009018A KR 20117009018 A KR20117009018 A KR 20117009018A KR 20120085647 A KR20120085647 A KR 20120085647A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
antenna
projection
reflected
electromagnetic waves
signal
Prior art date
Application number
KR1020117009018A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101493123B1 (ko
Inventor
마사히로 야마모토
미츠토시 겐모치
도시히로 사사키
Original Assignee
제이에프이 스틸 가부시키가이샤
가부시기가이샤니레꼬
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 제이에프이 스틸 가부시키가이샤, 가부시기가이샤니레꼬 filed Critical 제이에프이 스틸 가부시키가이샤
Publication of KR20120085647A publication Critical patent/KR20120085647A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101493123B1 publication Critical patent/KR101493123B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N22/00—Investigating or analysing materials by the use of microwaves or radio waves, i.e. electromagnetic waves with a wavelength of one millimetre or more
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/08—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S13/00—Systems using the reflection or reradiation of radio waves, e.g. radar systems; Analogous systems using reflection or reradiation of waves whose nature or wavelength is irrelevant or unspecified
    • G01S13/02—Systems using reflection of radio waves, e.g. primary radar systems; Analogous systems
    • G01S13/04—Systems determining presence of a target

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Radar Systems Or Details Thereof (AREA)

Abstract

본 발명에 따른 돌기물 검출 장치는, 주행하는 금속 물체의 면 상의 돌기물을 검출하는 돌기물 검출 장치로서, 전자파를 방사하는 송신용 안테나와, 반사된 전자파를 수신하는 수신용 안테나와, 송신 신호 및 수신 신호를 처리하는 송수신 신호 처리부를 구비한다. 상기 송신용 안테나 및 상기 수신용 안테나는 단방향 지향성을 가지며, 상기 수신용 안테나는, 상기 송신용 안테나로부터 방사되어 상기 금속면에 반사된 전자파를 취하지 않고, 상기 송신용 안테나로부터 방사되어 상기 금속면 상의 돌기물에 반사된 전자파만을 취하도록 설치되어 있다.

Description

돌기물 검출 장치 및 돌기물 검출 방법{APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING PROTRUSION}
본 발명은 금속면 상의 돌기물을 검출하는 돌기물 검출 장치 및 돌기물 검출 방법에 관한 것이다. 본 발명은, 특히 주행하는 금속의 금속면 상의 돌기물을 검출하는 돌기물 검출 장치 및 돌기물 검출 방법에 관한 것이다.
금속의 가공 프로세스, 예컨대 냉간 압연 라인이나 연속 소둔 라인 등에서, 강판(이하, 스트립이라고도 부름)의 형상이나 롤의 형상에 의해, 강판에 작용하는 장력이 불균일해지는 등, 여러 가지의 원인에 의해, 주행하는 강판이 폭 방향으로 좌굴하여, 우그러짐(또는 버클링)으로 지칭되는 돌기물이 생기는 경우가 있다.
강판에 우그러짐이 발생한 경우, 주행을 계속하면 우그러짐의 정도가 커져, 강판 파단에 이를 가능성이 있다. 가공 프로세스에서 강판이 파단되면, 생산이 현저히 저해되기 때문에, 우그러짐이 발생한 경우에 조기에 발견해야 한다.
우그러짐을 조기에 발견하는 방법으로서는, ITV로 육안으로 관찰하는 방법이나, 예컨대 특허문헌 1이나 특허문헌 2에 나타내는 바와 같이, 롤의 한쪽 측면측에 설치된 투광기로부터 레이저광 등의 평행광을 조사하여, 다른 한쪽의 측면측에 설치된 수광기에 의해 계측되는 수광량 등의 변화로부터 검출하는 방법이 있다.
그러나, ITV 카메라에 의해 육안으로 관찰하는 방법에서는, 인위적인 미스나 화상이 선명하지 않는 것 등에 의해 못 볼 가능성이 있고, 또한 항상 모니터를 관찰해야 하는 등의 문제점이 있다. 또, 특허문헌 1 및 2에 개시된 롤 측면으로부터 평행광을 조사하는 방법에서는, 주행하는 강판의 요동 영향을 받기 때문에, 설치 장소가 강판의 요동이 적은 롤 부근에 한정된다. 여기서, 강판의 요동이란, 강판의 면에 대한 수직 방향의 위치 변동을 말한다. 또한, 수광기와 투광기의 설치 위치 등의 사전 조정에 시간이 걸리거나, 온도나 분진 등 주위 환경의 영향에 의해 오검출이 생기는 등의 문제점이 있다.
이와 같이, 금속 스트립의 가공 프로세스에서, 스트립의 요동이 생기고, 주위 환경이 열악해도, 스트립의 우그러짐을 정확히 검출할 수 있는 돌기물(우그러짐) 검출 장치 및 돌기물 검출 방법은 개발되어 있지 않다. 보다 일반적으로, 주행중인 금속 물체의 주행 방향과 상이한 방향의 위치가 변화되고, 주위 환경이 열악해도, 주행중인 금속 물체 상에서 주행 방향으로 연속되어 존재하는 돌기물을 확실하게 검출할 수 있는 돌기물 검출 장치 및 돌기물 검출 방법은 개발되어 있지 않다.
일본 특허 공개 평6-294627호 일본 특허 공개 평9-257442호
따라서, 주행중인 금속 물체의 주행 방향과 상이한 방향의 위치가 변화되고, 주위 환경이 열악해도, 주행중인 금속 물체 상의 돌기물을 확실하게 검출할 수 있는 돌기물 검출 장치 및 돌기물 검출 방법에 대한 요구가 있다.
본 발명에 따른 돌기물 검출 장치는, 주행하는 금속 물체의 면 상의 돌기물을 검출하는 돌기물 검출 장치로서, 전자파를 방사하는 송신용 안테나와, 반사된 전자파를 수신하는 수신용 안테나와, 송신 신호 및 수신 신호를 처리하는 송수신 신호 처리부를 포함한다. 상기 송신용 안테나 및 상기 수신용 안테나는 단방향 지향성을 가지며, 상기 수신용 안테나는, 상기 송신용 안테나로부터 방사되어 금속면에 반사된 전자파를 취하지 않고, 상기 송신용 안테나로부터 방사되어 상기 금속면 상의 돌기물에 반사된 전자파만을 취하도록 설치되어 있다.
본 발명에 따른 돌기물 검출 장치에 있어서, 송신용 안테나 및 수신용 안테나는, 수신용 안테나가, 송신용 안테나로부터 방사되어 금속면에 반사된 전자파를 취하지 않고, 송신용 안테나로부터 방사되어 금속면 상의 돌기물에 반사된 전자파만을 취하도록 설치되어 있기 때문에, 돌기물을 높은 감도로 확실하게 검출할 수 있다. 또한, 전자파를 사용하기 때문에, 주위 환경의 영향을 잘 받지 않는다. 본 발명에 따른 돌기물 검출 장치에 있어서, 송신용 안테나 및 수신용 안테나는 단방향 지향성을 갖기 때문에, 그 단방향에 존재하는 돌기물을 효율적으로 검출할 수 있다. 또한, 검출 범위는, 상기 단방향으로 정해진 넓이를 갖고 있다. 따라서, 금속 스트립의 가공 프로세스에서의 스트립의 요등 등, 주행하는 금속 물체의 위치가 변화된 경우에도, 위치 변화의 영향을 받지 않고 돌기물을 검출할 수 있다.
본 발명의 실시형태에 있어서, 상기 송신용 안테나 및 상기 수신용 안테나가 취급하는 전자파의 전계면이 모두 상기 금속 물체의 주행 방향과 평행하게 되도록, 상기 송신용 안테나 및 상기 수신용 안테나가 설치되어 있다.
돌기물은 주로 금속 물체의 주행 방향을 따라 생성되기 때문에, 금속 물체의 주행 방향과 평행한 전계면을 갖는 전자파에 의해 보다 쉽게 검출된다.
본 발명의 실시형태에 있어서, 상기 송신용 안테나 및 상기 수신용 안테나는 지향성 이득이 15 dBi 내지 25 dBi이며, 인접해 설치되어 있고, 상기 송신용 안테나로부터 방사된 전자파가 상기 금속면에 대하여 40도 내지 60도의 각도로 입사하도록 구성되어 있다.
전자파가 금속면에 대하여 60도 이하의 각도로 입사하는 경우에는, 수신용 안테나는 돌기물이 없는 금속면에 반사된 전자파를 취할 수 없다. 또한, 전자파가 금속면에 대하여 40도 이상의 각도로 입사하는 경우에는, 수신용 안테나는 돌기물에 반사된 전자파를 취할 수 있다. 따라서, 본 실시형태에 따르면, 수신용 안테나는 돌기물에 반사된 전자파만을 취할 수 있다.
본 발명의 실시형태에 있어서, 상기 주행하는 금속 물체는 금속 스트립이다.
본 실시형태에 따르면, 스트립의 요동이 생기고, 주위 환경이 열악해도, 스트립의 우그러짐을 확실하게 검출할 수 있다.
본 발명의 실시형태에 있어서, 상기 신호 처리부는 전자파가 방사되고 나서 수신되기까지의 시간에 따라, 돌기물의 위치를 검출한다.
본 실시형태에 따르면, 돌기물의 위치에 관한 정보를 얻을 수 있다.
본 발명의 실시형태에 있어서, 상기 신호 처리부는 상기 돌기물이 존재할 수 있는 위치의 범위에 따라서, 시간축 상의 게이트를 정하고, 상기 게이트의 범위 내에서만 돌기물을 검출한다.
본 실시형태에 따르면, 돌기물이 존재할 수 없는 위치에서의 돌기물의 오검출을 방지할 수 있다.
본 발명의 실시형태에 있어서, 상기 신호 처리부는 상기 돌기물이 존재하지 않는 금속면에 전자파가 방사된 경우의 반사파 신호에 기초하여, 상기 돌기물 이외의 대상물에 의한 반사파 신호를 제거한다.
본 실시형태에 따르면, 돌기물 이외의 대상물에 의한 반사파 신호를 제거함으로써, 높은 정밀도로 돌기물을 검출할 수 있다.
본 발명에 따른 돌기물 검출 장치는 금속면 상에, 정해진 방향으로 연속으로 존재하는 돌기물을 검출하는 돌기물 검출 장치로서, 전자파를 방사하는 송신용 안테나와, 반사된 전자파를 수신하는 수신용 안테나와, 송신 신호 및 수신 신호를 처리하는 송수신 신호 처리부를 포함한다. 상기 송신용 안테나 및 상기 수신용 안테나의 지향성 이득이 15 dBi 내지 25 dBi이며, 상기 수신용 안테나는, 상기 송신용 안테나로부터 방사되어 상기 금속면에 반사된 전자파를 취하지 않고, 상기 송신용 안테나로부터 방사되어 상기 금속면 상의 돌기물에 반사된 전자파만을 취하도록 설치되어 있다.
본 발명에 따른 돌기물 검출 장치에 있어서, 송신용 안테나 및 수신용 안테나는, 수신용 안테나가, 송신용 안테나로부터 방사되어 금속면에 반사된 전자파를 취하지 않고, 송신용 안테나로부터 방사되어 금속면 상의 돌기물에 반사된 전자파만을 취하도록 설치되어 있기 때문에, 돌기물을 높은 감도로 확실하게 검출할 수 있다. 또한, 전자파를 사용하기 때문에, 주위 환경의 영향을 잘 받지 않는다. 본 발명에 따른 돌기물 검출 장치에 있어서, 송신용 안테나 및 수신용 안테나의 지향성 이득이 15 dBi 내지 25 dBi이기 때문에, 검출 범위가 정해진 넓이를 갖고 있다. 따라서, 돌기물의 위치가 변화된 경우에도, 위치 변화의 영향을 받지 않고 돌기물을 검출할 수 있다.
본 발명에 따른, 주행하는 금속 물체의 면 상의 돌기물을 검출하는 돌기물 검출 방법은, 신호 처리부에서 송신 신호를 생성하는 단계와, 송신용 안테나에 의해 상기 주행하는 금속 물체의 면에, 송신 신호로서 전자파를 방사하는 단계를 포함한다. 본 방법은, 상기 송신용 안테나로부터 방사되어 상기 금속면에 반사된 전자파를 취하지 않고, 상기 송신용 안테나로부터 방사되어 상기 금속면 상의 돌기물에 반사된 전자파만을 취하도록 설치된 수신용 안테나에 의해, 상기 주행하는 금속 물체의 면에 반사된 전자파를 수신하지 않고, 상기 주행하는 금속 물체의 면 상의 돌기물에 반사된 전자파를 수신하는 단계와, 상기 신호 처리부에서 수신된 전자파를 처리하여 수신 신호를 생성하는 단계와, 상기 송신 신호 및 상기 수신 신호를 사용하여, 상기 주행하는 금속 물체의 면 상의 돌기물을 검출하는 단계를 더 포함한다.
본 방법에 있어서, 수신용 안테나는 송신용 안테나로부터 방사되어 금속면에 반사된 전자파를 취하지 않고, 송신용 안테나로부터 방사되어 금속면 상의 돌기물에 반사된 전자파만을 취하도록 설치되어 있기 때문에, 돌기물을 높은 감도로 확실하게 검출할 수 있다. 또한, 전자파를 사용하기 때문에, 주위 환경의 영향을 잘 받지 않는다.
도 1은 본 발명의 일 실시형태에 따른 돌기물 검출 장치의 구성을 도시하는 도면이다.
도 2는 송수신 신호 처리부의 개요를 도시하는 도면이다.
도 3은 로우 패스 필터(10)에의 입력 신호(가), 로우 패스 필터(10)의 출력신호(나), 가산기(17)의 출력인 검출 신호(다) 및 기준 신호(라)를 나타내는 도면이다.
도 4는 본 실시형태에 사용되는 송신용 안테나 및 수신용 안테나의 구성의 일례를 도시하는 도면이다.
도 5는 안테나의 지향성 이득과 검출 능력과의 관계를 나타내는 도면이다.
도 6은 금속 스트립 상에 돌기물이 존재하지 않는 경우에, 안테나에 의해 방사된 전자파가 금속면과 이루는 각도(θ)와 전자파의 거동과의 관계를 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 금속 스트립 상에 돌기물이 존재하는 경우에, 안테나에 의해 방사된 전자파가 금속면과 이루는 각도(θ)와 전자파의 거동과의 관계를 설명하기 위한 도면이다.
도 8은 도 7의 경우에 있어서, 안테나와 돌기물 사이의 거리를 바꿨을 때의 각도(θ)와 돌기물 검출 장치의 출력과의 관계를 나타내는 도면이다.
도 9는 도 6의 경우에서의 각도(θ)와 돌기물 검출 장치의 출력과의 관계를 나타내는 도면이다.
도 10은 송신용 안테나 및 수신용 안테나에 의해 얻은 반사파 신호를 송수신 신호 처리부에서 처리하여 얻은 돌기물 신호를 나타내는 도면이다.
도 11은 불필요 신호 제거 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 12는 송수신 신호 처리부의 돌기물 신호 생성부의 동작을 나타내는 흐름도이다.
도 13은 주행중인 금속 스트립의 면에 대해 수직 방향의 위치 변화를 설명하기 위한 도면이다.
도 14는 송신 안테나로부터 방사되는 전자파의 전계면 및 자계면을 개념적으로 도시하는 도면이다.
도 15는 안테나의 개구면과 스트립의 주행 방향과의 관계를 나타내는 도면이다.
도 16은 안테나와 스트립의 주행 방향과의 관계를 나타내는 도면이다.
도 1은 본 발명의 일 실시형태에 따른 돌기물 검출 장치(100)의 구성을 도시하는 도면이다. 돌기물 검출 장치(100)는 송신용 안테나(23), 수신용 안테나(24), 송수신 신호 처리부(200) 및 신호 출력부(250)를 포함한다. 송수신 신호 처리부(200)는 송신될 신호를 생성하여, 송신용 안테나(23)에 보낸다. 송신용 안테나(23)는 전자파를 측정 대상물을 향해 방사한다. 여기서, 측정 대상물은 금속면 상의 돌기물(305)이다. 수신용 안테나(24)는 측정 대상물에 의해 반사된 전자파를 수신한다. 본 실시형태에서, 송신용 안테나(23) 및 수신용 안테나(24)는 인접해 배치되어 있다. 송수신 신호 처리부(200)는 송신된 신호 및 수신된 신호를 처리하여, 금속면 상의 돌기물의 정보를 나타내는 돌기물 신호를 생성한다. 신호 출력부(250)는 금속면 상의 돌기물의 정보를 나타내는 돌기물 신호를 원하는 형태로 변환하여 출력한다. 신호 출력부(250)는 일례로서, 돌기물의 위치 및 크기를 표시하는 디스플레이나 돌기물의 발생을 알리는 음성 알람 등이다.
다음에, 송수신 신호 처리부(200)에 대해서 설명한다. 송수신 신호 처리부(200)는, 예컨대 일본 특허 공개 제2009-98097호 공보에 개시된 것을 사용하여도 좋다. 이하에, 송수신 신호 처리부(200)의 동작 원리 및 구성의 개요에 대해서 설명하지만, 더 상세한 설명은 일본 특허 공개 제2009-98097호 공보에 개시되어 있다.
최초에, 송수신 신호 처리부(200)의 동작 원리에 대해서 설명한다. 송수신 신호 처리부(200)는 송신된 신호와, 측정 대상물에 의해 반사된 후, 수신된 신호와의 시간차에 따라, 측정 대상물의 유무, 형상 및 위치 등의 정보를 취득하도록 기능한다.
송수신 신호 처리부(200)는 제1 및 제2 의사 랜덤 신호를 사용한다. 제1 의사 랜덤 신호의 반복 주파수를 f1, 제2 의사 랜덤 신호의 반복 주파수를 f2로 하고, 각각 의사 랜덤 신호의 패턴은 동일하게 한다. 여기서 f1>f2로 한다.
송신되는 제1 의사 랜덤 신호와 제2 의사 랜덤 신호를 상관시켜 얻어지는 기준 신호가 최대치가 되는 주기를 TB로 하면, 이 TB 사이에 포함되는 제1 의사 랜덤 신호와 제2 의사 랜덤 신호의 파수(波數) 차가 딱 1주기의 파수(N)가 된다.
즉, TB?f1=TB?f2+N이며, 이것을 정리하면 TB는 다음의 식 (1)로 주어진다.
TB=N/(f1-f2)……(1)
즉, 2개의 클록 주파수의 차가 작을수록, 기준 신호가 최대치가 되는 주기 TB는 커진다.
송수신 신호 처리부(200)는 반송파를 제1 의사 랜덤 신호로 위상 변조하여, 송신용 안테나(23)에 보낸다. 송신용 안테나(23)에 의해 송신된 전자파는 대상물에서 반사되어 수신용 안테나(24)에 의해 수신된다. 송신된 후 수신되기까지의 전파 시간을 τ로 한다. 송수신 신호 처리부(200)가 이 수신 신호를 제2 의사 랜덤 신호로 복조하고, 코히런트 검파하여 얻어지는 대상물 검출 신호의 펄스형 신호가 발생하는 시각을 기준 신호의 펄스형 신호 발생 시각으로부터 계측한 시간차를 TD로 한다. 그렇게 하면, TD 사이에 발생하는 제2 의사 랜덤 신호의 파수는 TD 사이에 발생하는 제1 의사 랜덤 신호의 파수보다, τ시간에 발생하는 제1 의사 랜덤 신호의 파수만큼 적기 때문에, 다음식이 성립한다.
TD?f2=TD?f1-τ?f1
상기 식을 정리하면 TD는 다음의 식 (2)로 주어진다.
TD=τ?f1/(f1-f2)……(2)
즉, 전파 시간 τ은 f1/(f1-f2)배만큼 시간적으로 확대되고, 또는 저속화된 TD로서 계측된다.
여기서, 전파 시간 τ는 전파 속도를 v, 대상물까지의 거리를 x로 하면 τ=2 x/v이기 때문에 식 (2)에 의해 다음의 식 (3)을 얻는다.
x=(f1-f2)?v?TD/(2f1)……(3)
식 (3)에 의해 시간차 TD는 거리 x에 대응한다.
도 2는 송수신 신호 처리부(200)의 개요를 도시하는 도면이다. 송수신 신호 처리부(200)는 마이크로파 처리부(210) 및 디지털 신호 처리부로 구성된다. 도 2에서, 도면부호 1, 2는 클록 발생기, 3, 4는 의사 랜덤 신호(PN 부호) 발생기, 5 내지 9는 각각 승산기(믹서)이며, 예컨대 더블 밸런스 믹서에 의해 구성된다. 여기서, 승산기(6)는 반송파의 위상 변조 수단으로서 사용된다.
도면부호 10 내지 12는 각각 로우 패스 필터다. 제1 의사 랜덤 신호와 제2 의사 랜덤 신호를 상관 연산하는 제1 상관 연산 수단은 승산기(5) 및 로우 패스 필터(10)에 의해 구성된다. 제2 의사 랜덤 신호와 수신 신호를 상관 연산하는 제2 상관 연산 수단은 승산기(7) 및 로우 패스 필터(11 및 12)에 의해 구성된다. 도면부호 13, 14는 분배기, 15, 16은 제곱기, 17은 가산기이다. 직교 검파 수단은 승산기(8 및 9), 제곱기(15 및 16), 및 가산기(17)에 의해 구성된다.
돌기물 신호 생성부(27)는 로우 패스 필터(10)의 출력인 기준 신호, 가산기(17)의 출력 및 위상 검출부(31)의 출력으로부터 돌기물 신호를 생성한다. 위상 검출부(31)의 출력은 대상물까지의 거리의 정밀도를 향상시키기 위해 사용된다.
도 3은 로우 패스 필터(10)에의 입력 신호(가), 로우 패스 필터(10)의 출력신호(나), 가산기(17)의 출력인 검출 신호(다) 및 기준 신호(라)를 나타내는 도면이다. 기준 신호는 로우 패스 필터(10)의 출력 신호이다. 이들 신호는 상기한 부호로 도 2에 표시되어 있다.
상기한 바와 같이 취득한 검출 신호에 의해 측정 대상물의 유무, 형상 및 위치 등의 정보를 취득할 수 있다.
상기한 실시형태에서는, 돌기물 검출에 의사 랜덤 신호 방식을 사용하였다. 그 외에, 레이더 기술에서, 잘 알려진 펄스 압축 방식이나 FM-CW 방식을 사용하여도 좋다.
본 실시형태에 따른 돌기물 검출 장치에는, 단방향 지향성을 갖는 안테나를 사용한다. 단방향 지향성을 갖는 안테나란, 정해진 한 방향으로만 전파를 방사하는 안테나이다. 구체적으로는, 혼 안테나나 파라볼라 안테나 등이다. 단방향 지향성을 갖는 안테나를 사용함으로써, 그 단방향에 존재하는 돌기물을 효율적으로 검출할 수 있다.
도 4는 본 실시형태에 사용되는 송신용 안테나(23) 및 수신용 안테나(24)의 구성의 일례를 도시하는 도면이다. 본 실시형태에서 안테나는 각뿔형 혼 안테나이다. 안테나의 성능을 나타내는 중요한 파라미터로서 지향성 이득이 있다. 지향성 이득은 방사가 최대가 되는 방사각에서의 에너지 강도를, 모든 방향으로 균등하게 전파를 방사하는 가상적인 등방향성(아이소트로픽) 안테나를 기준으로 하는 안테나의 이득으로서 나타낸 것이고, 단위는 dBi이다. 지향성 이득이 클수록 안테나의 지향성은 예리해진다. 예컨대, 도 4의 A, B 및 C를 크게 하면 지향성 이득은 증가한다. 또한 지향성 이득은 전자파의 주파수, 즉 파장의 영향을 받는다. 전자파는 도 4의 (b)에 도시하는 개구면으로부터 송신 또는 수신된다.
도 14는 송신 안테나(23)로부터 방사되는 전자파의 전계면(510) 및 자계면(610)을 개념적으로 도시하는 도면이다. 전계면(510)은 개구면에 수직이며, 개구면의 길이(A)의 짧은 변에 평행하게 형성된다. 자계면(610)은 개구면에 수직이며,개구면의 길이(B)의 긴 변에 평행하게 형성된다. 즉, 전계면(510)과 자계면(610)은 서로 직교한다.
도 15는 안테나의 개구면과 스트립(300)의 주행 방향(330)의 관계를 나타내는 도면이다. 도 15는 스트립의 면에 수직인 단면도이다. 도 15에서, 스트립(300)은 지면에 수직인 방향으로 주행한다. 도 15에서 스트립 중앙에 붙여진 기호는 스트립이 지면의 앞쪽 방향으로 주행하는 것을 나타낸다. 송신용 안테나(23)가 취급하는 전자파의 전계면(510) 및 수신용 안테나(24)가 취급하는 전자파의 전계면(520)이 모두 스트립(300)의 주행 방향과 평행이 되도록 송신용 안테나(23) 및 수신용 안테나(24)를 설치한다. 도 15에서, 스트립의 주행 방향(330)은 지면에 수직인 방향이기 때문에, 개구면의 길이(A)의 짧은 변이 지면과 수직이 되도록 송신 안테나(23) 및 수신 안테나(24)를 설치하면, 송신용 안테나(23)가 취급하는 전자파의 전계면(510) 및 수신용 안테나(24)가 취급하는 전자파의 전계면(520)은 스트립의 주행 방향(330)과 평행하게 된다. 돌기물(우그러짐)은 스트립(300)의 주행 방향을 따라 생성되기 때문에, 스트립(300)의 주행 방향과 평행한 전계면을 갖는 전자파에 의해 돌기물이 보다 쉽게 검출된다. 여기서, 전자파는 안테나의 개구면과 수직인 방향으로 진행한다. 전자파의 진행 방향과 스트립의 면과의 각도를 θ로 나타낸다. θ에 대해서는, 뒤에서 설명한다.
도 16은 안테나와 스트립의 주행 방향(330)의 관계를 나타내는 도면이다. 도 16에서, 스트립(300)의 면 및 안테나의 개구면은 지면과 평행하다. 즉, 도 16은 도 15의 θ가 90도인 경우를 도시하고 있다. 실제로는, 후술하는 바와 같이, θ는 40도 내지 60도인 것이 바람직하다. θ를 40도 내지 60도로 하는 경우에도, 개구면의 길이(A)의 짧은 변이 스트립의 중심축(340)[즉 스트립의 주행 방향(330)]과 평행하게 되도록 안테나를 설치하면, 송신용 안테나(23)가 취급하는 전자파의 전계면(510) 및 수신용 안테나(24)가 취급하는 전자파의 전계면(520)은 스트립의 주행 방향(330)과 평행하게 된다.
본 실시형태에 따른 돌기물 검출 장치에 사용하는 전자파의 주파수 범위는 3-30 GHz(센티미터대) 및 30-300 GHz(밀리미터대)이다. 주파수를 높이면 분해능이 향상하고, 검출 정밀도도 향상한다. 그러나, 안테나의 개구 면적이 동일할 때에 주파수를 높이면 지향성이 좁아지기 때문에, 넓은 범위에서의 타겟을 취하는 것이 어려워진다. 그래서, 전자파의 주파수 범위에는, 상기의 범위로 하였다. 구체적으로, 본 실시형태에서는 10 GHz 및 24 GHz의 전자파를 사용하였다.
도 5는 안테나의 지향성과 검출 능력과의 관계를 나타내는 도면이다. 도 5의 (a)는 지향성 이득이 높은 경우를 나타내고, 도 5의 (b)는 지향성 이득이 낮은 경우를 나타낸다. 도 5의 (a)에서, 금속 스트립(300)을 향해 송신용 안테나(23)로부터 전자파가 도면부호 405로 표시하는 범위에 방사된다. 여기서, 금속 스트립의 폭 방향의 중앙 위치를 도면부호 310으로 표시한다. 도면부호 405로 표시하는 범위는 지향성 이득이 높기 때문에 좁혀져 있다. 이 때문에 검출 범위는 좁아진다. 한편, 검출의 분해능은 높아진다. 도 5의 (b)에서, 금속 스트립(300)을 향해 송신용 안테나(23)로부터 전자파가 도면부호 410으로 표시하는 범위에 방사된다. 도면부호 410으로 표시하는 범위는 지향성 이득이 낮기 때문에 넓어져 있다. 이 때문에 검출 범위는 넓어진다. 한편 검출의 분해능은 낮아진다.
또한, 본 실시형태에서, 송신 안테나(23) 및 수신 안테나(24)는 금속 스트립의 폭 방향의 중앙 위치가 도면부호 310으로부터 어느 하나의 단부에 치우친 위치에 거의 인접해 배치되어 있다. 전술한 바와 같이, 송신 안테나(23) 및 수신 안테나(24)의 개구면은 스트립의 주행 방향, 즉 도 5의 지면에 수직인 방향과 평행하다. 또한, 송신 안테나(23) 및 수신 안테나(24)의 위치는 치환하여도 좋다.
본 실시형태에서는, 도 5에 표시한 거리(L)가 500 ㎜ 내지 1200 ㎜로서, 금속 스트립 상의 직경 3 ㎜의 금속 막대에 상당하는 돌기물을 검출하는 것을 상정하고, 지향성 이득의 범위를 15 dBi 이상 25 dBi 이하로 하였다. 지향성 이득이 상기 하한치보다 작은 경우는, 상기한 크기의 돌기물을 검출하기 위한 분해능을 얻는 것이 어렵다. 또한, 지향성 이득이 상기 상한치보다 큰 경우는, 폭 방향의 충분한 검출 범위가 얻어지지 않는다.
도 6 및 도 7은 안테나(23)에 의해 방사된 전자파가 금속면과 이루는 각도(θ)와 전자파의 거동과의 관계를 설명하기 위한 도면이다. 도 6은 금속 스트립(300) 상에 돌기물이 존재하지 않는 경우를 도시하고, 도 7은 금속 스트립(300) 상에 돌기물(305)이 존재하는 경우를 도시한다. 도 6에 도시하는 경우에 있어서, 각도(θ)가 정해진 범위인 경우에는, 안테나(23)에 의해 방사된 전자파(415)는 금속 스트립(300) 면에서 반사되어 반사파(420)가 되고, 수신용 안테나(24)에 수신되지 않는다. 도 7에 도시하는 경우에 있어서, 각도(θ)가 정해진 범위인 경우에는 안테나(23)에 의해 방사된 전자파의 일부(425)는 도 6에 도시한 경우와 마찬가지로, 금속 스트립(300) 면에서 반사되어 반사파(430)가 되고, 수신용 안테나(24)에 수신되지 않는다. 그러나, 안테나(23)에 의해 방사된 전자파의 다른 부분(435)은 돌기물(305)에 의해 반사되어, 반사파(440)가 되고, 수신용 안테나(24)에 수신된다. 본원의 발명자는 각도(θ)가 40도 내지 60도이면, 수신용 안테나(24)가 도 6의 경우에 반사파를 검출하지 않고, 도 7의 경우에 돌기물(305)로부터의 반사파를 확실하게 검출할 수 있다는 지견을 얻었다. 각도(θ)가 하한치보다 작으면, 도 7의 경우에, 돌기물(305)로부터의 반사파의 성분이 작아져, 수신용 안테나(24)가 상기 반사파의 성분을 검출할 수 없는 경우가 생긴다. 각도(θ)가 상한치보다 크면, 도 6의 경우에, 수신용 안테나(24)가 금속 스트립(300) 면으로부터의 반사를 검출하는 경우가 생긴다. 각도(θ)와 돌기물 검출 성능과의 관계에 대해서 이하에 상세히 설명한다.
도 8은 도 7의 경우에 있어서, 안테나와 돌기물 사이의 거리를 바꿨을 때의 각도(θ)와 돌기물 검출 장치의 출력과의 관계를 나타내는 도면이다. 도 8의 각 도면의 횡축은 각도(θ)를 나타내고, 종축은 돌기물 검출 장치의 출력(검출 레벨)을 나타낸다.
전자파의 주파수는 24 GHz이다. 안테나의 지향성 이득은 20 dBi이다. 측정 대상물은 이하와 같다.
Figure pct00001
도 8의 (a) 내지 (d)는 거리(L)가 500 ㎜, 750 ㎜, 1000 ㎜, 1200 ㎜인 경우이다. 도 8의 (a) 내지 (d)에 따르면, N1, N2 및 J1은 검출 레벨의 임계치를, 일례로서, 0.2 V로부터 0.5 V의 범위의 임의의 값으로서 충분히 검출이 가능하다. 단, N1에 대해서는, 각도(θ)가 작아짐에 따라 출력이 작아지기 때문에, 각도(θ)가 40도 이상인 것이 바람직하다. 또한, 각도(θ)가 60도인 경우도, 40도 내지 55도의 데이터로부터 추정하여 충분히 검출이 가능하다고 생각된다.
도 9는 도 6의 경우에서의 각도(θ)와 돌기물 검출 장치의 출력(검출 레벨)과의 관계를 나타내는 도면이다. 도 9의 횡축은 각도(θ)를 나타내고, 종축은 돌기물 검출 장치의 출력을 나타낸다. 전자파의 주파수는 24 GHz이다. 전술한 바와 같이, 돌기물 검출을 위한 출력의 임계치는, 일례로서 0.2 V로부터 0.5 V의 범위의 임의의 값이다. 도 9는 거리(L)가 500 ㎜, 750 ㎜, 1000 ㎜, 1200 ㎜의 데이터를 나타내고 있다. 어느 거리의 경우에도, 각도(θ)가 60도를 초과하면, 출력이 커진다. 이것은 전술한 바와 같이, 금속 스트립(300)으로부터의 반사가 수신용 안테나(24)에 의해 검출되기 때문이다. 따라서, 전술한 바와 같이, 각도(θ)는 60도 이하인 것이 바람직하다.
도 8의 (a) 내지 (d) 및 도 9에 나타낸 데이터로부터, 전술한 바와 같이, 각도(θ)는 40도 이상 60도 이하인 것이 바람직하다.
상기한 결과에 기초한 돌기물 검출 장치의 사양의 일례를 이하의 표 2에 나타낸다.
Figure pct00002
여기서, 송신용 안테나(23) 및 수신용 안테나(24)의 방향에 대해서 설명한다. 우그러짐은, 주로 금속 스트립의 폭 방향 중앙부 부근에 스트립의 진행 방향에 생긴다. 따라서, 송신용 안테나(23) 및 수신용 안테나(24)의 개구면이 금속 스트립의 주행 방향에 평행하게 되도록, 송신용 안테나(23) 및 수신용 안테나(24)를 설치하면, 송신 안테나(23)로부터의 전자파는 개구면에 수직으로 진행하여, 우그러짐의 방향, 즉 스트립의 진행 방향에 수직으로 입사하고, 반사되어 수신용 안테나의 개구면에 이른다. 여기서, 「수직」이란, 엄밀한 수직뿐만 아니라, 돌기물(우그러짐)로부터의 충분한 크기의 반사가 얻어지는, 90도를 포함하는 각도 범위를 포함하는 것으로 한다. 송신용 안테나(23) 및 수신용 안테나(24)를 이와 같이 설치함으로써, 금속 스트립의 폭 방향의 중앙부 부근에 생기는 우그러짐으로부터의 반사를 확실하게 취할 수 있다.
도 10은 상기한 바와 같이 설정한 송신용 안테나(23) 및 수신용 안테나(24)에 의해 얻은 반사파 신호를 송수신 신호 처리부(200)에서 처리하여 얻은 돌기물 신호를 나타내는 도면이다. 도 10의 횡축은 데이터의 샘플링 수를 나타낸다. 데이터의 샘플링 수는 시간에 대응한다. 도 10의 종축은 신호의 크기를 나타낸다. 돌기물 신호는 도면부호 401로 표시된다. 도 10에는 돌기물 신호(401) 외에, 돌기물(305) 이외의 물체로부터의 반사 신호(403 및 405)가 표시되어 있다. 이들 신호는, 예컨대 금속 스트립(300) 주위에 설치된 장치 등에 반사된 신호이다. 돌기물인 우그러짐(305)은 금속 스트립(300)의 폭 방향 중앙부 부근에 생기는 경우가 많다. 도 10에서, 금속 스트립(300)의 폭 방향의 중앙부를 도면부호 310으로 나타낸다. 이 때문에, 시간축 상에서, 금속 스트립(300)의 폭 방향의 중앙부(310)를 포함하는 정해진 영역에 게이트 범위를 설정하고, 게이트 범위 내의 신호만을 돌기물 신호로서 취급하여도 좋다. 게이트 범위는 일례로서, 금속 스트립(300) 폭의 30% 내지 70%의 값으로 하여도 좋다. 도 10과 같이 게이트 범위를 정하면, 신호(403) 및 신호(405)를 제거할 수 있다.
도 11은 불필요 신호 제거 방법을 설명하기 위한 도면이다. 도 11의 상측 도면은 돌기물이 없는 상태 즉, 도 6에 도시한 상태이며, 송신용 안테나(23) 및 수신용 안테나(24)에 의해 얻은 반사파 신호를 송수신 신호 처리부(200)에서 처리하여 얻은 신호를 나타내는 도면이다. 도 11의 횡축은 데이터의 샘플링 수를 나타낸다. 데이터의 샘플링 수는 시간에 대응한다. 도 11의 종축은 신호의 크기를 나타낸다. 도 11의 상측 도면에는 돌기물(305) 이외의 물체로부터의 반사 신호(407 및 409)가 표시되어 있다. 이들 신호를 불필요 신호로 호칭한다. 또한 알기 쉽게 하기 위해, 도 11에서 불필요 신호의 크기는 확대되어 있다. 도 11의 하측 도면은 불필요 신호의 부호를 역으로 한 신호를 나타낸다. 이들 신호를 마이너스의 불필요 신호로 호칭한다. 즉 불필요 신호(407) 및 대응하는 마이너스의 불필요 신호(411)를 가산하면 제로가 되고, 불필요 신호(409) 및 대응하는 마이너스의 불필요 신호(413)를 가산하면 제로가 된다.
송수신 신호 처리부(200)의 돌기물 신호 생성부(27)는 돌기물이 없는 상태에서 얻어진, 마이너스의 불필요 신호(411 및 413)를 미리 기억해 두고, 검출 신호[도 2의 (다)]에, 이들 기억된 마이너스의 불필요 신호를 가산하여 돌기물 신호를 생성한다. 상기한 방법에 따르면, 시간축 상의 위치가 돌기물 신호와 중복되어, 게이트에 의해 제거할 수 없는 불필요 신호도 제거할 수 있다.
도 12는 송수신 신호 처리부(200)의 돌기물 신호 생성부(27)의 동작을 나타내는 흐름도이다.
도 12의 단계 S010에서, 기준 신호[도 3의 신호(라)]가 수신되었는지를 판단한다. 수신되었으면, 단계 S030에 진행한다. 수신되지 않았으면, 단계 S020에 진행한다.
도 12의 단계 S020에서, 정해진 시간 지연한 후, 단계 S010에 되돌아간다.
도 12의 단계 S030에서, 기준 신호 수신으로부터의 시간을 기억한다
도 12의 단계 S040에서, 시간이 게이트 범위 내인지를 판단한다. 시간이 게이트 범위 내이면 단계 S050에 진행한다. 시간이 게이트 범위 내가 아니면 단계 S060에 진행한다.
도 12의 단계 S050에서, 상기 시간에서의 검출 신호[도 3의 신호(다)]의 값을 출력으로 한다.
도 12의 단계 S060에서, 출력을 0으로 하여 단계 S080에 진행한다.
도 12의 단계 S070에서, 불필요 신호 제거 처리를 실행한다. 구체적으로, 단계 S050에서 얻은 출력에 마이너스의 불필요 신호를 가산하여 출력으로 한다.
도 12의 단계 S080에서, 시간이 검출 범위 내인지 판단한다. 시간이 검출 범위 내이면, 단계 S030에 되돌아간다. 시간이 검출 범위 내가 아니면 처리를 종료한다.
도 13은 주행중인 금속 스트립의 면에 대해 수직 방향의 위치 변화(요동)를 설명하기 위한 도면이다. 요동의 크기는, 금속 스트립(300)의 폭 방향 단부에 최대 약 20 ㎜(도 13의 도면부호 320 및 325)에 달한다. 금속 스트립의 폭 방향 중앙 위치(310) 부근에서는, 최대 약 10 ㎜(도 13의 도면부호 315)이다. 도 13에서, 송신용 안테나(23)의 전자파의 방사 범위를 도면부호 360으로 표시하고, 수신용 안테나(24)의 수신 범위를 370으로 표시한다. 또한, 돌기물 검출 범위를 도면부호 365로 표시한다. 돌기물 검출 범위(365) 내에서, 스트립(300)이 면의 수직 방향으로 10 ㎜ 위치를 바꾼 경우라도, 돌기물 검출 장치의 출력은 요동이 없는 경우와 거의 같다고 확인되었다. 그 이유는 요동에 의해서도 금속 스트립(300)의 면의 각도는 거의 일정하게 유지되기 때문에, 면으로부터의 반사의 상태 및 돌기물로부터의 반사의 상태가 변화되지 않기 때문이라고 생각된다. 본 발명의 돌기물 검출 장치는 전술한 바와 같이 어느 정도의 넓이를 갖은 검출 범위(365) 내에서의 반사를 사용하기 때문에, 정해진 위치의 정보를 사용하는 레이저 방식 등에 비해, 판의 요동에 대하여 강하다.
상기한 실시형태에 있어서, 돌기물이 생기는 금속이 주행하는 금속 스트립인 경우에 대해서 설명하였다. 다른 실시형태에 있어서, 금속은, 예컨대 전자파를 반사하는 면을 구비한 형상이면, 관 형상 또는 막대 형상 등 다른 형상이어도 좋다. 또한, 본 발명은 측정 대상물의 위치 변동 및 주위 환경에 대하여 강하기 때문에, 주행중인 측정 대상물에 대하여 특히 유리하게 적용할 수 있지만, 정지되어 있는 측정 대상물에 적용할 수도 있다.
23: 송신용 안테나 24: 수신용 안테나
200: 송수신 신호 처리부 250: 출력부

Claims (9)

  1. 주행하는 금속 물체의 면 상의 돌기물을 검출하는 돌기물 검출 장치에 있어서,
    전자파를 방사하는 송신용 안테나와,
    반사된 전자파를 수신하는 수신용 안테나와,
    송신 신호 및 수신 신호를 처리하는 송수신 신호 처리부
    를 포함하고,
    상기 송신용 안테나 및 상기 수신용 안테나는 단방향 지향성을 가지며, 상기 수신용 안테나는, 상기 송신용 안테나로부터 방사되어 금속면에 반사된 전자파를 취하지 않고, 상기 송신용 안테나로부터 방사되어 상기 금속면 상의 돌기물에 반사된 전자파만을 취하도록 설치된 것인 돌기물 검출 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 송신용 안테나 및 상기 수신용 안테나가 취급하는 전자파의 전계면이 모두 상기 금속 물체의 주행 방향과 평행하게 되도록, 상기 송신용 안테나 및 상기 수신용 안테나가 설치된 것인 돌기물 검출 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 송신용 안테나 및 상기 수신용 안테나는 지향성 이득이 15 dBi 내지 25 dBi이며, 인접해 설치되어 있고, 상기 송신용 안테나로부터 방사된 전자파가 상기 금속면에 대하여 40도 내지 60도의 각도로 입사하도록 구성된 것인 돌기물 검출 장치.
  4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 주행하는 금속 물체는 금속 스트립인 것인 돌기물 검출 장치.
  5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 신호 처리부는 전자파가 방사되고 나서 수신되기까지의 시간에 따라, 돌기물의 위치를 검출하는 것인 돌기물 검출 장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 신호 처리부는 상기 돌기물이 존재할 수 있는 위치의 범위에 따라, 시간축 상의 게이트를 정하고, 상기 게이트의 범위 내에서만 돌기물을 검출하는 것인 돌기물 검출 장치.
  7. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 신호 처리부는 상기 돌기물이 존재하지 않는 금속면에 전자파가 방사된 경우의 반사파 신호에 기초하여, 상기 돌기물 이외의 대상물에 의한 반사파 신호를 제거하는 것인 돌기물 검출 장치.
  8. 금속면 상에, 정해진 방향으로 연속되는 돌기물을 검출하는 돌기물 검출 장치에 있어서,
    전자파를 방사하는 송신용 안테나와,
    반사된 전자파를 수신하는 수신용 안테나와,
    송신 신호 및 수신 신호를 처리하는 송수신 신호 처리부
    를 포함하고,
    상기 송신용 안테나 및 상기 수신용 안테나는 안테나 지향성 이득이 15 dBi 내지 25 dBi이며, 상기 수신용 안테나는, 상기 송신용 안테나로부터 방사되어 상기 금속면에 반사된 전자파를 취하지 않고, 상기 송신용 안테나로부터 방사되어 상기 금속면 상의 돌기물에 반사된 전자파만을 취하도록 설치된 것인 돌기물 검출 장치.
  9. 주행하는 금속 물체의 면 상의 돌기물을 검출하는 돌기물 검출 방법에 있어서,
    신호 처리부에서 송신 신호를 생성하는 단계와,
    송신용 안테나에 의해 상기 주행하는 금속 물체의 면에, 송신 신호로서 전자파를 방사하는 단계와,
    상기 송신용 안테나로부터 방사되어 금속면에 반사된 전자파를 취하지 않고, 상기 송신용 안테나로부터 방사되어 상기 금속면 상의 돌기물에 반사된 전자파만을 취하도록 설치된, 수신용 안테나에 의해, 상기 주행하는 금속 물체의 면에 반사된 전자파를 수신하지 않고, 상기 주행하는 금속 물체의 면 상의 돌기물에 반사된 전자파를 수신하는 단계와,
    상기 신호 처리부에서 수신된 전자파를 처리하여 수신 신호를 생성하는 단계와,
    상기 송신 신호 및 상기 수신 신호를 사용하여, 상기 주행하는 금속 물체의 면 상의 돌기물을 검출하는 단계
    를 포함하는 돌기물 검출 방법.
KR1020117009018A 2009-10-28 2010-09-15 돌기물 검출 장치 및 돌기물 검출 방법 KR101493123B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009247919A JP5566078B2 (ja) 2009-10-28 2009-10-28 突起物検出装置及び突起物検出方法
JPJP-P-2009-247919 2009-10-28
PCT/JP2010/005630 WO2011052130A1 (ja) 2009-10-28 2010-09-15 突起物検出装置及び突起物検出方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20120085647A true KR20120085647A (ko) 2012-08-01
KR101493123B1 KR101493123B1 (ko) 2015-02-12

Family

ID=43921568

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020117009018A KR101493123B1 (ko) 2009-10-28 2010-09-15 돌기물 검출 장치 및 돌기물 검출 방법

Country Status (7)

Country Link
US (1) US8878717B2 (ko)
EP (1) EP2495526A4 (ko)
JP (1) JP5566078B2 (ko)
KR (1) KR101493123B1 (ko)
CN (1) CN102197275B (ko)
TW (1) TWI480509B (ko)
WO (1) WO2011052130A1 (ko)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4865933B1 (ja) * 2011-04-27 2012-02-01 株式会社ニレコ 異常形状検出装置及び異常形状検出方法
JP5760698B2 (ja) * 2011-05-27 2015-08-12 Ｊｆｅスチール株式会社 バックリング検査装置の評価装置及びバックリング検査装置の評価方法
JP5899678B2 (ja) * 2011-06-28 2016-04-06 日産自動車株式会社 路面凹凸検出装置及び路面凹凸検出方法
CN103940833B (zh) * 2014-04-30 2016-01-20 嘉兴市特种设备检测院 一种聚乙烯管道焊接接头缺陷的检测方法
CN104101611A (zh) * 2014-06-06 2014-10-15 华南理工大学 一种类镜面物体表面光学成像装置及其成像方法
US9715010B2 (en) * 2014-11-28 2017-07-25 Htc Corporation Apparatus and method for detection
EP3978633A4 (en) * 2019-05-31 2023-06-28 Wadeco Co., Ltd. Surface profile detection device for blast furnace charge and operation method

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5828525B2 (ja) * 1976-02-04 1983-06-16 隆彦 大谷 連続波動による表面欠陥検知方法
JPS5832669B2 (ja) * 1978-04-14 1983-07-14 日本電信電話株式会社 エコ−検出方式
US4598997A (en) * 1982-02-15 1986-07-08 Rca Corporation Apparatus and method for detecting defects and dust on a patterned surface
JPS6027347A (ja) * 1983-07-22 1985-02-12 Ehimeken Seika Nogyo Kyodo Kumiai Rengokai 果汁等含有球形ゼリ−食品の製造方法
JPS6027347U (ja) * 1983-07-29 1985-02-23 タツタ電線株式会社 線条体の外観試験装置
JPS6083990U (ja) * 1983-11-14 1985-06-10 川崎製鉄株式会社 マイクロ波を用いた冷材料検出装置
JPS61100932A (ja) * 1984-10-24 1986-05-19 Hitachi Ltd 露光装置
JPS61266907A (ja) * 1985-05-22 1986-11-26 Canon Inc 表面状態検出装置
JPH0795039B2 (ja) * 1986-11-13 1995-10-11 株式会社東芝 欠陥検査装置
JPH0787208B2 (ja) * 1986-12-08 1995-09-20 日立電子エンジニアリング株式会社 面板欠陥検出光学装置
US4794265A (en) * 1987-05-08 1988-12-27 Qc Optics, Inc. Surface pit detection system and method
JPH06294627A (ja) 1992-02-14 1994-10-21 Sumitomo Metal Ind Ltd 連続熱処理炉内のバックリング検出方法
JPH082617A (ja) 1994-06-14 1996-01-09 Toyo Kanetsu Kk スタッカクレーン
JP3551610B2 (ja) 1996-03-22 2004-08-11 Ｊｆｅスチール株式会社 鋼板の絞り検出装置
CA2255111C (en) * 1997-12-05 2004-11-23 Grove U.S. L.L.C. Aerial work platform with pothole and/or obstacle detection and avoidance system
ITTO20010035A1 (it) * 2001-01-19 2002-07-19 Comau Systems Spa Procedimento e sistema per misurare la distanza di un corpo mobile dauna parte fissa.
JP3940336B2 (ja) * 2002-08-08 2007-07-04 新日本製鐵株式会社 表面検査装置
EP1634036A4 (en) * 2003-06-13 2007-08-01 Ebara Corp MEASURING DEVICE
JP2005331439A (ja) * 2004-05-21 2005-12-02 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 探傷信号の分析方法及び分析装置
US7937229B2 (en) * 2007-05-29 2011-05-03 Massachusetts Institute Of Technology System and method for detecting damage, defect, and reinforcement in fiber reinforced polymer bonded concrete systems using far-field radar
JP4438825B2 (ja) * 2007-05-29 2010-03-24 ソニー株式会社 到来角推定システム、通信装置、並びに通信システム
JP2009098097A (ja) 2007-10-19 2009-05-07 Nireco Corp 距離測定装置及び距離測定方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN102197275B (zh) 2015-05-06
KR101493123B1 (ko) 2015-02-12
JP5566078B2 (ja) 2014-08-06
JP2011095051A (ja) 2011-05-12
TWI480509B (zh) 2015-04-11
US20110241924A1 (en) 2011-10-06
TW201115108A (en) 2011-05-01
CN102197275A (zh) 2011-09-21
US8878717B2 (en) 2014-11-04
EP2495526A1 (en) 2012-09-05
WO2011052130A1 (ja) 2011-05-05
EP2495526A4 (en) 2015-09-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20120085647A (ko) 돌기물 검출 장치 및 돌기물 검출 방법
US11619718B2 (en) Integrated optical structures for LiDAR and other applications employing multiple detectors
JP6498931B2 (ja) レーダ装置、及びカバー部材
JP6487208B2 (ja) レーダ装置、及びカバー部材
JP5197023B2 (ja) レーザレーダ装置
US11914021B2 (en) Velocity measurement device, velocity measurement program, recording medium, and velocity measurement method
CN108981623A (zh) 一种基于微波信号的远距离微小位移探测方法
JP2011116325A (ja) レーダークロスセクション（ｒｃｓ）画像化システム
US20180074180A1 (en) Ultrafast target detection based on microwave metamaterials
EP3260880B1 (en) Signal-processing device and processing method, recording medium, and target detection device and detection method
JPWO2012176243A1 (ja) 溶融金属レベル測定装置及び溶融金属レベル測定方法
EP4040271A1 (en) A pointing device for detecting motion relative to a surface and a method for detecting motion of a pointing device relative to a surface
Kim et al. Theoretical minimum detection range for a rapidly moving target and an experimental evaluation
JP2008304329A (ja) 測定装置
JPWO2012104921A1 (ja) 帯状体の幅方向端部位置測定装置、帯状体の幅方向中心位置測定装置及びマイクロ波散乱板
RU2362182C1 (ru) Способ измерения радиальной скорости объекта и радиолокационная станция для его реализации
JP2007256009A (ja) レーダシステム
US6707488B1 (en) Method of detecting a moving target using background radiation
JP2006337327A (ja) 測距装置、測距方法、および測距装置用プログラム
JP3047139B2 (ja) 移動体検出装置
RU2530808C1 (ru) Способ определения координат целей и комплекс для его реализации
Chen et al. A simple method for image autofocusing in through-wall radar imaging
JPH0394185A (ja) レーダシステム
JP5884157B2 (ja) 遠隔ガス流速計測方法及び遠隔ガス流速計測装置
RU2564659C1 (ru) Радиолокационный измерительный комплекс

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee