KR20120085197A - Probe block - Google Patents

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조준수
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Abstract

PURPOSE: A probe block is provided to easily replace an elastic body forcedly inserted into a body block and prevent electrode lines of a sheet or pads of a panel from being damaged. CONSTITUTION: A probe block(100) includes a body block(110), a pressing block(120), and a sheet(130). The body block is combined with the bottom of a manipulator and vertically moves with elasticity. The pressing block is combined with the bottom of the body block and a pressing unit is protruded from the bottom of the body block. The sheet is combined with the bottom of the pressing unit. Electrode lines are formed in contact with the pads to test the panel on an insulation film.

Description

프로브블록{probe block}Probe block

본 발명은 프로브블록에 관한 것으로서, 특히 하나 이상의 열의 패드들을 포함하는 패널을 테스트할 수 있는 프로브블록에 관한 것이다.The present invention relates to probe blocks, and more particularly, to probe blocks capable of testing a panel comprising one or more rows of pads.

전형적으로 평판디스플레이패널이란 LCD, PDP 등의 표시장치를 말하는 것으로서, 액정디스플레이(LCD: Liquid Crystal Display)는 TFT(Thin Film Transistor), TN(Twisted Nematic), STN(Super Twisted Nematic), CSTN(Color Super Twisted Nematic), DSTN(Double Super Twisted Nematic) 타입 및 유기EL(Electro Luminescence) 타입이 있으며, 이러한 패널은 대형 가전 이외에도 소형의 예컨대, 휴대폰과 같은 통신 기기의 액정 표시 패널에 채택된다.Typically, a flat panel display panel refers to a display device such as an LCD or a PDP. A liquid crystal display (LCD) is a thin film transistor (TFT), a twisted nematic (TN), a super twisted nematic (STN), and a color (CSTN). There are Super Twisted Nematic (DSTN), Double Super Twisted Nematic (DSTN) types, and Organic Luminescence (EL) types. These panels are employed in liquid crystal display panels of small communication devices such as mobile phones, in addition to large home appliances.

이러한 소형의 액정 표시 패널에 대하여 픽셀에러(Pixel error) 없이 정상 작동 하는지를 검사하는데 프로브블록이 사용된다.The probe block is used to check whether the small liquid crystal display panel operates normally without pixel error.

최근들어 액정 표시 패널이 고화질화 되어감에 따라 화소의 밀도가 증가하고 있으며 사이즈의 축소로 인하여 이로 인해 협소한 피치의 프로브블록의 필요성이 증가하고 있다. 현재까지 개발된 프로브는 텅스텐 또는 레늄텅스텐와이어를 재료로 제작된 니들형(Needle Type), 니켈 또는 베릴륨동을 재료로 제작된 블레이드형(Blade Type), 폴리마이드필름(Ploymide Film)에 동판 또는 기타 도전체를 올려 에칭가공하여 제작한 필름형(Film Type), 필름형에 반도체공정기술을 이용하여 도전성 매체를 주입한 하이브리드형(Hybride Type), 스프링 장력을 이용한 포고핀(Pogo Pin)을 소재로 제작한 포고형(Pogo Type), 반도체 MEMS 공정기술을 이용한 MEMS 형(MEMS Type) 등이 있다.Recently, as the liquid crystal display panel becomes higher quality, the density of pixels increases, and as a result, the need for a narrow pitch probe block increases due to the reduction in size. Probes developed so far are needle type made of tungsten or rhenium tungsten wire, blade type made of nickel or beryllium copper, copper plate or other polyimide film. Film type produced by etching the conductors, hybrid type in which conductive media is injected by using semiconductor process technology, and pogo pin using spring tension. Pogo type manufactured, MEMS type using semiconductor MEMS process technology, and the like.

이와 같이 액정 표시 패널을 검사하기 위한 종래의 프로브블록은 일반적으로 니들이 와이어 형태로 구비되고, 니들을 에폭지 수지에 의해 접합 고정시키는 구성으로 니들의 외경축소에 한계가 있어 최근에 고집적화되는 패턴 추세에 대응하지 못하는 문제가 있다. As described above, a conventional probe block for inspecting a liquid crystal display panel is generally provided in the form of a needle and bonded to the needle by an epoxy resin to limit the outer diameter of the needle. There is a problem that can not respond.

즉, 니들이 장착되는 니들 홀더의 장착면은 한정되어 있는데 평판디스플레이장치가 고집적화 되어 단자의 수가 대단히 많아지면서 와이어 타입의 니들로서는 그에 적절한 수만큼을 배열시키기가 어려운 문제점이 있다.That is, the mounting surface of the needle holder on which the needle is mounted is limited, but the flat panel display device is highly integrated, so that the number of terminals is very large, so that it is difficult to arrange an appropriate number thereof with the wire type needle.

또한, 검사시 충격으로 인하여 액정 표시 패널에서의 접점들과의 정확한 물리적 접촉을 불가능하게 이루며, 접촉 시에 발생 되는 충격을 다중으로 흡수하여 프로브 핀들의 휨 또는 변형이 발생되어 검사의 결과 오류를 발생시키는 문제점이 있다.In addition, accurate physical contact with the contacts in the liquid crystal display panel is impossible due to the impact during the inspection, and bending or deformation of the probe pins occurs by absorbing the impact generated at the contact multiple times, thereby causing an error as a result of the inspection. There is a problem.

또한, 평판 디스플레이 패널의 콘택부와 다수의 측정단 포인트를 이루지 못함으로 인하여, 측정 부분에서 측정 오류가 발생되는 경우에 검사의 신뢰성을 확보할 수 없는 문제점이 있다.In addition, since a plurality of measuring end points are not formed with the contact portion of the flat panel display panel, when a measurement error occurs in the measurement portion, there is a problem that reliability of inspection cannot be secured.

또한, 블레이드 타입에 있어서의 전기적 신호 노이즈 문제가 발생되고, 평판 디스플레이 패널의 콘택부와의 직접 접촉이 이루어지지 않기 때문에, 오버 드라이브 증가에 따른 물리적인 힘에 의하여 안정적인 전기적 검사를 수행할 수 없는 문제점도 있다.In addition, there is a problem of electrical signal noise in the blade type, and since there is no direct contact with the contact portion of the flat panel display panel, it is not possible to perform a stable electrical test due to physical force due to the increase of overdrive. There is also.

본 발명이 해결하고자 하는 과제는 탄성체 대신 가압블록의 저면에 형성된 적어도 하나의 가압부를 이용하여 적어도 하나의 열의 패드들을 포함하는 패널을 테스트하는 프로브블록을 제공하는데 있다.An object of the present invention is to provide a probe block for testing a panel including at least one row of pads using at least one pressing portion formed on the bottom of the pressing block instead of the elastic body.

상기 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 적어도 하나의 열의 패드들을 포함하는 패널을 테스트하는 프로브블록은, 머니퓰레이터의 저면에 결합되어 탄성을 가지고 수직 이동하는 바디블록, 상기 바디블록의 저면에 결합되고, 적어도 하나의 가압부가 저면에 돌출 형성되는 가압블록 및 상기 적어도 하나의 가압부의 저면에 결합되고, 절연필름 상에 상기 패널을 테스트하기 위하여 상기 패드들과 접촉하는 전극라인들이 형성되어 있는 시트를 포함하고, 상기 적어도 하나의 가압부 각각은 상기 패널의 적어도 하나의 열 중 대응하는 열의 패드들과 상기 시트의 전극라인들의 접촉 부위에 대응하는 위치에 형성될 수 있다.A probe block for testing a panel including at least one row of pads according to an embodiment of the present invention for achieving the above object is a body block coupled to the bottom of the manipulator and vertically moved elastically, the bottom of the body block A pressure block coupled to the at least one pressing portion and a bottom surface of the at least one pressing portion, and electrode lines contacting the pads to test the panel on an insulating film. The sheet may include a sheet, and each of the at least one pressing unit may be formed at a position corresponding to a contact portion of pads of a corresponding row among at least one row of the panel and electrode lines of the sheet.

상기 가압블록 및 상기 가압부는, 세라믹 재질 또는 합성수지 재질이고 일체로 형성될 수 있다.The pressing block and the pressing portion may be formed of a ceramic material or a synthetic resin and integrally formed with each other.

상기 가압블록 및 상기 가압부는, 지르코니아 재질이고 일체로 형성될 수 있다.The pressing block and the pressing portion may be made of zirconia and formed integrally.

상기 가압부는 상기 가압블록의 저면에 수직 방향으로 돌출 형성된 막대형 돌기일 수 있다.The pressing portion may be a rod-shaped protrusion protruding in the vertical direction on the bottom surface of the pressing block.

상기 바디블록은, 상기 패널과 접촉하는 방향의 끝단에 상기 가압블록이 결합되는 결합홈이 형성될 수 있다.The body block may be formed with a coupling groove to which the pressure block is coupled at the end of the direction in contact with the panel.

상기 시트는, 상기 가압블록과 상기 바디블록 사이에 결합되고 끝단이 상기 가압블록의 저면에 결합되어 상기 적어도 하나의 가압부를 감싸거나, 상기 가압블록의 저면에 결합되고 끝단이 상기 가압블록과 상기 바디블록 사이에 결합되어 상기 적어도 하나의 가압부를 감싸도록 형성될 수 있다.The seat is coupled between the pressure block and the body block and the end is coupled to the bottom surface of the pressure block to wrap the at least one pressing portion, or is coupled to the bottom surface of the pressure block and the end is the pressure block and the body Coupled between the blocks may be formed to surround the at least one pressing portion.

상기 시트는, 상기 전극라인들과 연결되고 구동 신호를 상기 패널로 전달하는 구동아이씨를 구비하는 탭아이씨일 수 있다.The sheet may be a tab IC connected to the electrode lines and having a driving IC for transmitting a driving signal to the panel.

상기 프로브블록은, 상기 시트의 전극라인들 사이의 피치가 상기 패널의 패드들 사이의 피치가 상이한 경우, 상기 전극라인들 사이의 피치와 상기 패드들 사이의 피치가 동일하도록 피치 보정된 상기 시트를 접착 고정하여 상기 가압블록의 저면에 결합하는 플레이트를 더 구비할 수 있다.When the pitch between the electrode lines of the sheet is different from the pitch between the pads of the panel, the probe block may include the sheet whose pitch is corrected such that the pitch between the electrode lines and the pitch between the pads are the same. It may be further provided with a plate for bonding to the bottom surface of the pressing block by fixing.

상기 플레이트는, 상기 가압블록의 저면 중 상기 적어도 하나의 가압부가 형성되지 않은 부분에 결합될 수 있다.The plate may be coupled to a portion of the bottom of the pressing block in which the at least one pressing portion is not formed.

상기 시트는 연성회로기판과 전기적으로 연결되어 테스트신호를 전달하고, 상기 프로브블록은 상기 시트 및 상기 연성회로기판을 보호하도록 상기 바디블록의 저면에 결합하는 커버블록을 더 구비할 수 있다.The sheet may be electrically connected to the flexible printed circuit board to transmit a test signal, and the probe block may further include a cover block coupled to a bottom surface of the body block to protect the sheet and the flexible printed circuit board.

본 발명에 기술적 사상에 의한 일 실시예에 따른 프로브블록은 종래 바디블록에 삽입되어 접점에 탄성력을 제공하는 탄성체를 제거하고 가압블록의 저면에 형성된 적어도 하나의 가압부를 수직 이동시켜 가압하므로, 바디블록에 압박끼움된 탄성체 교체 시 발생하는 어려움이 발생하지 않으며 패널의 패드들 또는 시트의 전극라인들의 손상을 방지할 수 있는 장점이 있다. 또한, 가압블록의 저면에 복수의 가압부들을 형성하는 경우, 복수 열의 패드들을 포함하는 패널의 테스트도 용이하게 수행할 수 있는 장점이 있다.According to an embodiment of the present invention, a probe block is inserted into a conventional body block, thereby removing an elastic body providing elastic force to a contact point and pressing the at least one pressing part formed on the bottom of the pressure block by vertically moving the body block. There is an advantage that does not occur in the replacement of the pressure-fitted elastic body and prevent damage to the electrode lines of the pads or sheets of the panel. In addition, when a plurality of pressing parts are formed on the bottom surface of the pressing block, there is an advantage that a test of a panel including a plurality of rows of pads may be easily performed.

본 발명의 상세한 설명에서 인용되는 도면을 보다 충분히 이해하기 위하여 각 도면의 간단한 설명이 제공된다.
도 1은 본 발명의 기술적 사상에 의한 일 실시예에 따른 프로브블록의 분해 사시도이다.
도 2는 도 1의 프로브블록의 결합 단면도이다.
도 3은 도 1의 프로브블록이 패널을 테스트하는 경우를 설명하기 위한 단면도이다.
도 4는 본 발명의 기술적 사상에 의한 다른 일 실시예에 따른 프로브블록의 분해 사시도이다.
도 5는 도 4의 프로브블록의 결합 단면도이다.
도 6은 도 4의 프로브블록이 패널을 테스트하는 경우를 설명하기 위한 단면도이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS In order to better understand the drawings cited in the detailed description of the invention, a brief description of each drawing is provided.
1 is an exploded perspective view of a probe block according to an embodiment of the inventive concept.
2 is a cross-sectional view of the probe block of FIG.
3 is a cross-sectional view illustrating a case in which the probe block of FIG. 1 tests a panel.
4 is an exploded perspective view of a probe block according to another exemplary embodiment of the inventive concept.
FIG. 5 is a cross-sectional view of the probe block shown in FIG. 4.
6 is a cross-sectional view illustrating a case in which the probe block of FIG. 4 tests a panel.

본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부 도면 및 도면에 기재된 내용을 참조하여야 한다. In order to fully understand the present invention, operational advantages of the present invention, and objects achieved by the practice of the present invention, reference should be made to the accompanying drawings and the accompanying drawings which illustrate preferred embodiments of the present invention.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다.BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the preferred embodiments of the present invention with reference to the accompanying drawings. Like reference symbols in the drawings denote like elements.

도 1은 본 발명의 기술적 사상에 의한 일 실시예에 따른 프로브블록(100)의 분해 사시도이고, 도 2는 도 1의 프로브블록(100)의 결합 단면도이며, 도 3은 도 1의 프로브블록(100)이 패널(150)을 테스트하는 경우를 설명하기 위한 단면도이다.1 is an exploded perspective view of a probe block 100 according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view of the probe block 100 of FIG. 1, and FIG. 3 is a probe block of FIG. 100 is a cross-sectional view for explaining the case where the panel 150 is tested.

도 1 내지 도 3을 참조하면, 복수열의 패드들(PAD1, PAD2)을 포함하는 패널(150)을 테스트하는 프로브블록(100)은 바디블록(110), 가압블록(120) 및 시트(130)를 구비할 수 있다.1 to 3, the probe block 100 for testing a panel 150 including a plurality of rows of pads PAD1 and PAD2 includes a body block 110, a pressure block 120, and a seat 130. It may be provided.

바디블록(110)은 상부면이 머니퓰레이터(미도시)의 저면에 결합되어 탄성을 가지고 수직이동할 수 있다. 바디블록(110)의 저면에는 가압블록(120)의 삽입되는 삽입홈(115)이 형성될 수 있다. 삽입홈(115)은 도 1에 도시된 것과 같이 바디블록(110)의 양 측면에 형성될 수 있으나, 본 발명이 이 경우에 한정되는 것은 아니며 다른 다양한 형상의 삽입홈이 형성될 수도 있고 삽입홈없이 바디블록(110)의 저면에 가압블록(120)이 결합될 수도 있다.The body block 110 may have an upper surface coupled to a bottom surface of a manipulator (not shown) and move vertically with elasticity. An insertion groove 115 into which the pressure block 120 is inserted may be formed at the bottom of the body block 110. Insertion groove 115 may be formed on both sides of the body block 110, as shown in Figure 1, the present invention is not limited to this case, the insertion grooves of other various shapes may be formed or the insertion groove The pressure block 120 may be coupled to the bottom of the body block 110 without.

가압블록(120)은 바디블록(110)의 저면에 결합되고, 가압블록(120)의 저면에는 적어도 하나의 가압부(125)가 돌출 형성될 수 있다. 도 1 내지 도3 의 실시예는 2 열의 패드들(PAD1, PAD2)을 포함하는 패널(150)을 테스트하는 경우에 대하여 도시하고 있으므로, 가압블록(120)의 저면에는 두 개의 가압부(125)가 형성될 수 있다. 그러나, 본 발명이 이 경우에 한정되는 것은 아니고 다른 개수의 열의 패드들을 포함하는 패널을 테스트하는 경우 가압블록(120)의 저면에는 다른 개수의 가압부(125)가 돌출 형성될 수 있다. 예를 들어, 3 열의 패드들을 포함하는 패널을 테스트하는 경우, 가압블록의 저면에는 세 개의 가압부들이 형성될 수 있다.The pressing block 120 may be coupled to the bottom of the body block 110, and at least one pressing part 125 may protrude from the bottom of the pressing block 120. 1 to 3 illustrate a case in which a panel 150 including two rows of pads PAD1 and PAD2 is tested, two pressing portions 125 are formed on the bottom of the pressing block 120. Can be formed. However, the present invention is not limited to this case, and when testing a panel including pads having different numbers of rows, different numbers of pressing portions 125 may protrude from the bottom of the pressing block 120. For example, when testing a panel including three rows of pads, three pressing parts may be formed on the bottom of the pressing block.

각각의 가압부(125)는 패널의 복수열 중 대응하는 열의 패드들과 시트(130)의 전극라인들의 접촉 부위에 대응하는 위치에 형성되어, 대응하는 열의 패드들과 시트(130)의 전극라인들의 접촉 부위를 가압할 수 있다. 상기 접촉 부위를 가압하는 경우, 바디블록(110)이 탄성을 가지고 수직이동 하므로 바디블록(110)에 결합된 가압블록(120)의 저면에 형성된 가압부(125)도 탄성을 가지고 상기 접촉부위를 가압할 수 있다.Each pressing unit 125 is formed at a position corresponding to a contact portion of the pads of the corresponding row among the plurality of rows of the panel and the electrode lines of the sheet 130, and thus the electrode lines of the pads of the corresponding row and the sheet 130. Can pressurize the contact area. When pressing the contact portion, since the body block 110 is moved vertically with elasticity, the pressing portion 125 formed on the bottom surface of the pressing block 120 coupled to the body block 110 also has elasticity to contact the contact portion. Can be pressurized.

가압부(125)는 가압블록(120)의 저면에 수직 방향으로 돌출 형성된 막대형 돌기일 수 있다. 즉, 가압부(125)는 대응하는 열의 패드들 전체를 포함하는 길이를 가지는 막대형 돌기일 수 있다. 가압부(125)의 형상은 직육면체, 원기둥 등 다양한 형상을 가질 수 있다.The pressing unit 125 may be a bar-shaped protrusion protruding in a vertical direction on the bottom of the pressing block 120. That is, the pressing unit 125 may be a bar-shaped protrusion having a length including all of the pads of the corresponding row. The shape of the pressing unit 125 may have various shapes such as a rectangular parallelepiped and a cylinder.

가압블록(120)과 가압부(125)들은 세라믹 재질 또는 합성수지 재질일 수 있고, 일체로 형성될 수 있다. 예를 들어, 가압블록(120)과 가압부(125)들은 지르코니아(zirconia) 재질일 수 있고, 일체로 형성될 수 있다.The pressing block 120 and the pressing unit 125 may be a ceramic material or a synthetic resin material, it may be formed integrally. For example, the pressing block 120 and the pressing unit 125 may be made of zirconia, and may be formed integrally.

가압블록(120) 중 가압부(125)들이 형성된 부분은 바디블록(110)의 끝단보다 외측으로 돌출되어 있을 수 있다. 다만, 본 발명이 이 경우에 한정되는 것은 아니며, 가압블록(120) 중 가압부(125)들이 형성된 부분이 바디블록(110)의 끝단보다 외측으로 돌출되어 있지 않을 수도 있다.A portion in which the pressing portions 125 are formed in the pressing block 120 may protrude outward from an end of the body block 110. However, the present invention is not limited to this case, and the portion in which the pressing portions 125 are formed in the pressing block 120 may not protrude outward from the end of the body block 110.

시트(130)는 가압블록(120)의 상면과 저면에 결합되어 가압부(125)들을 감싸도록 결합될 수 있다.The sheet 130 may be coupled to the top and bottom surfaces of the pressing block 120 to surround the pressing portions 125.

예를 들어, 도 1 내지 도 3에 도시된 것과 같이, 시트(130)는 가압블록(120)의 상면과 바디블록(110)의 저면 사이에 결합되고 가압블록(120)의 측면과 가압부(125)들을 감싸는 방향의 끝단은 가압블록(120)의 저면에 결합될 수 있다. 이 경우, 시트(130)의 전극라인들은 패널(150)의 패드들과 접촉하여야 하므로, 시트(130)의 표면들 중 외부로 노출되는 면에 전극라인들이 형성될 수 있다.For example, as shown in Figures 1 to 3, the seat 130 is coupled between the upper surface of the pressing block 120 and the bottom of the body block 110, the side of the pressing block 120 and the pressing portion ( The ends of the wrapping directions 125 may be coupled to the bottom of the pressing block 120. In this case, since the electrode lines of the sheet 130 must contact the pads of the panel 150, the electrode lines may be formed on surfaces exposed to the outside of the surfaces of the sheet 130.

시트(130)는 상기 전극라인들과 전기적으로 연결되고 바디블록(110)의 저면에 대향하는 시트(130)의 표면에 결합되어 구동신호를 패널(150)로 전달하는 상기 구동아이씨가 결합된 탭아이씨(TAB IC)일 수 있다. 상기 탭아이씨는 패널에 이용되는 탭아이씨일 수도 있고, 또는 탭(TAB) 공정을 이용하여 상기 구동아이씨가 결합된 시트일 수도 있다. 이 경우, 도 1 내지 도 3에 도시된 것과 같이 시트(130)는 연성회로기판(140)과 전기적으로 연결되어 테스트 신호를 전송할 수 있다. 또는, 시트(130)는 상기 구동아이씨가 결합되지 않은 시트(예를 들어, 연성회로기판 등)일 수 있으며, 이 경우 시트(130)와 연성회로기판(140)의 사이에는 상기 탭아이씨가 전기적으로 연결될 수 있다.The sheet 130 is electrically connected to the electrode lines and coupled to the surface of the sheet 130 opposite to the bottom surface of the body block 110 so as to transfer the driving signal to the panel 150. It may be a TAB IC. The tab IC may be a tab IC used in a panel, or may be a sheet in which the driving IC is coupled using a tab (TAB) process. In this case, as shown in FIGS. 1 to 3, the sheet 130 may be electrically connected to the flexible circuit board 140 to transmit a test signal. Alternatively, the sheet 130 may be a sheet (for example, a flexible printed circuit board) to which the driving IC is not coupled. In this case, the tab IC is electrically connected between the sheet 130 and the flexible printed circuit board 140. Can be connected.

도 1 내지 도 3에서는 시트(130)의 끝단이 가압블록(120)의 저면에 결합되는 경우를 도시하고 있으나, 본 발명이 이 경우에 한정되는 것은 아니며 시트(130)의 끝단이 가압블록(120)의 상면에 결합될 수도 있다. 예를 들어, 시트(130)는 가압블록(120)의 저면에 결합되고 가압블록(120)의 측면과 가압부(125)들을 감싸는 방향의 시트(130)의 끝단은 가압블록(120)의 상면과 바디블록(110)의 저면 사이에 결합될 수 있다. 즉, 도 1 내지 도 3의 실시예는 시트(130)가 가압블록(120)의 측면과 가압부(125)들을 위에서 아래로 감싸서 시트(130)의 끝단이 가압블록(120)의 저면에 결합되지만, 시트(130)가 가압블록(120)의 측면과 가압부(125)들을 아래에서 위로 감싸서 시트(130)의 끝단이 가압블록(120)의 상면에 결합될 수도 있다. 이 경우, 시트(130)의 전극라인들은 패널(150)의 패드들과 접촉하여야 하므로, 시트(130)의 표면들 중 외부로 노출되는 면에 전극라인들이 형성될 수 있다.1 to 3 illustrate the case where the end of the sheet 130 is coupled to the bottom of the pressure block 120, but the present invention is not limited to this case, and the end of the sheet 130 is the pressure block 120. It may be coupled to the upper surface of the). For example, the seat 130 is coupled to the bottom surface of the pressure block 120 and the end of the sheet 130 in the direction surrounding the side and the pressing portion 125 of the pressure block 120 is the top surface of the pressure block 120 And a bottom surface of the body block 110. That is, the embodiment of Figures 1 to 3 is the seat 130 is wrapped around the side and the pressing portion 125 of the pressing block 120 from the top to the end of the sheet 130 is coupled to the bottom surface of the pressing block 120 However, the sheet 130 may wrap the side of the pressing block 120 and the pressing portion 125 from the bottom up to the end of the sheet 130 may be coupled to the upper surface of the pressing block 120. In this case, since the electrode lines of the sheet 130 must contact the pads of the panel 150, the electrode lines may be formed on surfaces exposed to the outside of the surfaces of the sheet 130.

이 경우에도, 시트(130)는 상기 구동아이씨가 결합된 탭아이씨(TAB IC)일 수 있으며, 상기 탭아이씨는 가압블록(120)의 저면에 대향하는 시트(130)의 표면의 반대면에 결합될 수 있다. 시트(130)가 상기 탭아이씨인 경우, 시트(130)는 연성회로기판(140)과 전기적으로 연결되어 테스트 신호를 전송할 수 있다. 시트(130)는 앞서 설명한 것과 같이 상기 구동아이씨가 결합되지 않은 시트(예를 들어, 연성회로기판 등)일 수 있으며, 이 경우 시트(130)와 연성회로기판(140)의 사이에는 상기 탭아이씨가 전기적으로 연결될 수 있다.Even in this case, the sheet 130 may be a tab IC (TAB IC) to which the driving IC is coupled, and the tab IC is coupled to an opposite surface of the surface of the sheet 130 opposite to the bottom of the pressing block 120. Can be. When the sheet 130 is the tab IC, the sheet 130 may be electrically connected to the flexible circuit board 140 to transmit a test signal. As described above, the sheet 130 may be a sheet (eg, a flexible printed circuit board) to which the driving IC is not coupled. In this case, the tab IC may be disposed between the sheet 130 and the flexible printed circuit board 140. Can be electrically connected.

시트(130)가 패널에 이용되는 탭아이씨인 경우 등과 같이 시트(130)의 전극라인들의 피치와 패널(150)의 패드들 사이의 피치가 동일하지 않은 경우, 프로브블록(100)은 시트(130)의 전극라인들의 피치와 패널(150)의 패드들 사이의 피치가 동일하도록 시트(130)의 피치를 보정하여 접착 고정되는 플레이트(210)를 더 구비할 수 있다. 예를 들어, 시트(130)의 전극라인들 사이의 피치가 패널(150)의 패드들 사이의 피치와 동일하도록 피치 보정된 시트(130)를 플레이트(210)에 접착 고정하여 시트(130)의 피치 보정상태를 유지시킬 수 있다. 그리고, 피치 보정된 시트(130)가 결합된 플레이트(210)를 가압블록(120)에 결합시켜서 시트(130)를 가압블록(120)의 저면에 결합시킬 수 있다. 플레이트(210)는 가압블록(120)의 저면 중 가압부(125)가 형성되지 않은 부분에 결합될 수 있다. When the pitch of the electrode lines of the sheet 130 and the pitch of the pads of the panel 150 are not the same as in the case where the sheet 130 is a tab IC used in the panel, the probe block 100 may be the sheet 130. The substrate 210 may further include a plate 210 that is adhesively fixed by correcting the pitch of the sheet 130 so that the pitch of the electrode lines of the panel and the pads of the panel 150 are the same. For example, the pitch-adjusted sheet 130 is adhesively fixed to the plate 210 so that the pitch between the electrode lines of the sheet 130 is the same as the pitch between the pads of the panel 150. Pitch correction can be maintained. In addition, the sheet 130 may be coupled to the pressure block 120 by coupling the plate 210 to which the pitch-corrected sheet 130 is coupled to the bottom surface of the pressure block 120. The plate 210 may be coupled to a portion of the bottom of the pressing block 120 in which the pressing unit 125 is not formed.

프로브블록(100)은 시트(130)와 연성회로기판(140)을 보호하기 위하여 바디블록(110)의 저면에 고정되는 커버블록(220)을 더 구비할 수 있다. 즉, 커버블록(220)은 시트(130)와 연성회로기판(140)을 외부로부터 보호하면서 바디블록(110)의 저면에 결합될 수 있다.The probe block 100 may further include a cover block 220 fixed to the bottom of the body block 110 to protect the sheet 130 and the flexible circuit board 140. That is, the cover block 220 may be coupled to the bottom surface of the body block 110 while protecting the sheet 130 and the flexible circuit board 140 from the outside.

도 4는 본 발명의 기술적 사상에 의한 다른 일 실시예에 따른 프로브블록(400)의 분해 사시도이고, 도 5는 도 4의 프로브블록(400)의 결합 단면도이며, 도 6은 도 4의 프로브블록(400)이 패널(450)을 테스트하는 경우를 설명하기 위한 단면도이다.4 is an exploded perspective view of a probe block 400 according to another embodiment of the inventive concept, FIG. 5 is a cross-sectional view of the probe block 400 of FIG. 4, and FIG. 6 is a probe block of FIG. 4. It is sectional drawing for demonstrating the case 400 test | inspects the panel 450. FIG.

도 4 내지 도 6을 참조하면, 프로브블록(400)은 하나의 열의 패드들(PAD)을 포함하는 패널(450)을 테스트하는 것이라는 점에서 도 1 내지 도 3의 실시예와 상이하다. 즉, 도 1 내지 도 3의 실시예의 프로브블록(100)은 패널(150)의 복수열의 패드들에 시트(130)의 전극라인들을 접촉하여 테스트하는 경우에 관한 것이지만, 도 4 내지 도 6의 실시예의 프로브블록(400)은 패널(450)의 하나의 열의 패드들에 시트(130)의 전극라인들을 접촉하여 테스트하는 경우에 관한 것이다.4 to 6, the probe block 400 is different from the embodiment of FIGS. 1 to 3 in that the probe block 400 tests the panel 450 including the pads PAD in one row. That is, the probe block 100 of the embodiment of FIGS. 1 to 3 relates to a case in which the electrode lines of the sheet 130 are tested by contacting the pads of the plurality of rows of the panel 150, but the implementation of FIGS. 4 to 6 is performed. The example probe block 400 relates to a case where the electrode lines of the sheet 130 are tested by contacting pads of one row of the panel 450.

도 4 내지 도 6의 실시예는, 가압블록(120)의 저면에 하나의 가압부(125)가 형성된다는 점을 제외하고는 도 1 내지 도 3의 실시예와 동일하다. 즉, 하나의 열의 패드들(PAD)을 포함하는 패널(450)을 테스트하기 위하여 도 1 내지 도 3의 실시예에서 가압부(125)가 하나 제거된 상태이고 나머지 구성 및 동작은 도 1 내지 도 3의 실시예와 동일하므로, 도 4 내지 도 6의 실시예에 대하여는 도 1 내지 도 3의 실시예에 대한 설명으로 대체한다.4 to 6 are the same as the embodiment of FIGS. 1 to 3 except that one pressing unit 125 is formed on the bottom of the pressing block 120. That is, in order to test the panel 450 including the pads PAD in one row, in the embodiment of FIGS. 1 to 3, one pressing unit 125 is removed and the rest of the configuration and operation are illustrated in FIGS. Since it is the same as the embodiment of FIG. 3, the embodiment of FIGS. 4 to 6 will be replaced with the description of the embodiment of FIGS. 1 to 3.

이상에서 설명한 것과 같은 본 발명의 기술적 사상의 일 실시예에 의한 프로브블록(100 또는 400)은, 시트(130)와 패널(150 또는 450)이 접촉하는 부위에 탄성과 압력을 가하기 위하여 종래에 사용되던 탄성체를 제거하고 가압블록의 저면에 형성된 적어도 하나의 가압부를 수직 이동시켜 테스트를 수행함으로써, 상기 탄성체의 교체에 따른 문제점이 발생하지 않고, 패널의 패드들 또는 시트의 전극라인들의 손상을 방지할 수 있으며, 하나의 열의 패드들을 가지는 패널뿐 아니라 복수의 열의 패드들을 가지는 패널도 용이하게 테스트할 수 있다.As described above, the probe block 100 or 400 according to an embodiment of the inventive concept is used in the related art to apply elasticity and pressure to a portion where the sheet 130 and the panel 150 or 450 contact each other. By removing the elastic body and performing a test by vertically moving at least one pressing unit formed on the bottom of the pressing block, the problem caused by the replacement of the elastic body does not occur, and the pads of the panel or the electrode lines of the sheet can be prevented from being damaged. It is also possible to easily test a panel having pads in a row as well as a panel having pads in a row.

이상에서와 같이 도면과 명세서에서 최적 실시예가 개시되었다. 여기서 특정한 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.As described above, optimal embodiments have been disclosed in the drawings and the specification. Although specific terms have been used herein, they are used only for the purpose of describing the present invention and are not intended to limit the scope of the invention as defined in the claims or the claims. Therefore, those skilled in the art will appreciate that various modifications and equivalent embodiments are possible without departing from the scope of the present invention. Accordingly, the true scope of the present invention should be determined by the technical idea of the appended claims.

Claims (11)

적어도 하나의 열의 패드들을 포함하는 패널을 테스트하는 프로브블록에 있어서,
머니퓰레이터의 저면에 결합되어 탄성을 가지고 수직 이동하는 바디블록;
상기 바디블록의 저면에 결합되고, 적어도 하나의 가압부가 저면에 돌출 형성되는 가압블록; 및
상기 적어도 하나의 가압부의 저면에 결합되고, 절연필름 상에 상기 패널을 테스트하기 위하여 상기 패드들과 접촉하는 전극라인들이 형성되어 있는 시트를 포함하고,
상기 적어도 하나의 가압부 각각은,
상기 패널의 적어도 하나의 열 중 대응하는 열의 패드들과 상기 시트의 전극라인들의 접촉 부위에 대응하는 위치에 형성되는 것을 특징으로 하는 프로브블록.A probe block for testing a panel comprising at least one row of pads, the probe block comprising:
A body block coupled to the bottom of the manipulator and vertically moving with elasticity;
A pressure block coupled to a bottom surface of the body block and having at least one pressing portion protruding from the bottom surface; And
A sheet coupled to a bottom surface of the at least one pressing unit and having electrode lines formed on the insulating film to contact the pads to test the panel,
Each of the at least one pressing unit,
And a probe block formed at a position corresponding to a contact portion of pads of a corresponding row of the at least one row of the panel and electrode lines of the sheet. 제1항에 있어서, 상기 가압블록 및 상기 가압부는,
세라믹 재질 또는 합성수지 재질이고 일체로 형성되는 것을 특징으로 하는 프로브블록.According to claim 1, wherein the pressing block and the pressing unit,
Probe block, characterized in that the ceramic material or synthetic resin material formed integrally. 제1항에 있어서, 상기 가압블록 및 상기 가압부는,
지르코니아 재질이고 일체로 형성되는 것을 특징으로 하는 프로브블록.According to claim 1, wherein the pressing block and the pressing unit,
Probe block, characterized in that the zirconia is formed integrally. 제1항에 있어서, 상기 가압부는,
상기 가압블록의 저면에 수직 방향으로 돌출 형성된 막대형 돌기인 것을 특징으로 하는 프로브블록.The method of claim 1, wherein the pressing unit,
Probe block, characterized in that the protrusion protruding in the vertical direction on the bottom of the pressing block. 제1항에 있어서, 상기 가압블록은,
상기 가압부가 형성된 부분이 상기 바디블록의 끝단보다 외측으로 돌출되어 있는 것을 특징으로 하는 프로브블록.According to claim 1, wherein the pressure block,
Probe block, characterized in that the portion formed with the pressing portion protrudes outward from the end of the body block. 제1항에 있어서, 상기 바디블록은,
상기 패널과 접촉하는 방향의 끝단에 상기 가압블록이 결합되는 결합홈이 형성되는 것을 특징으로 하는 프로브블록.The method of claim 1, wherein the body block,
Probe block, characterized in that the coupling groove is coupled to the pressure block is formed in the end of the direction in contact with the panel. 제1항에 있어서, 상기 시트는,
상기 가압블록과 상기 바디블록 사이에 결합되고 끝단이 상기 가압블록의 저면에 결합되어 상기 적어도 하나의 가압부를 감싸거나, 상기 가압블록의 저면에 결합되고 끝단이 상기 가압블록과 상기 바디블록 사이에 결합되어 상기 적어도 하나의 가압부를 감싸는 것을 특징으로 하는 프로브블록.The method of claim 1, wherein the sheet,
It is coupled between the pressure block and the body block and the end is coupled to the bottom surface of the pressure block to wrap the at least one pressing portion, or is coupled to the bottom surface of the pressure block and the end is coupled between the pressure block and the body block The probe block, characterized in that for wrapping the at least one pressing portion. 제1항에 있어서, 상기 시트는,
상기 전극라인들과 연결되고 구동 신호를 상기 패널로 전달하는 구동아이씨를 구비하는 탭아이씨인 것을 특징으로 하는 프로브블록.The method of claim 1, wherein the sheet,
And a tab IC connected to the electrode lines and having a driving IC for transmitting a driving signal to the panel. 제1항에 있어서, 상기 프로브블록은,
상기 시트의 전극라인들 사이의 피치가 상기 패널의 패드들 사이의 피치가 상이한 경우, 상기 전극라인들 사이의 피치와 상기 패드들 사이의 피치가 동일하도록 피치 보정된 상기 시트를 접착 고정하여 상기 가압블록의 저면에 결합하는 플레이트를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 프로브블록.The method of claim 1, wherein the probe block,
When the pitch between the electrode lines of the sheet is different from the pitch between the pads of the panel, the pressure-adjusted sheet is fixed by adhesive fixing and fixing the sheet so that the pitch between the electrode lines and the pitch between the pads are the same. Probe block further comprises a plate coupled to the bottom of the block. 제9항에 있어서, 상기 플레이트는,
상기 가압블록의 저면 중 상기 적어도 하나의 가압부가 형성되지 않은 부분에 결합되는 것을 특징으로 하는 프로브블록.The method of claim 9, wherein the plate,
Probe block, characterized in that coupled to the portion of the bottom of the pressing block is not formed with the at least one pressing portion. 제1항에 있어서, 상기 시트는,
연성회로기판과 전기적으로 연결되어 테스트신호를 전달하고,
상기 프로브블록은,
상기 시트 및 상기 연성회로기판을 보호하도록 상기 바디블록의 저면에 결합하는 커버블록을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 프로브블록.The method of claim 1, wherein the sheet,
It is electrically connected to the flexible circuit board to transmit the test signal,
The probe block,
And a cover block coupled to a bottom surface of the body block to protect the sheet and the flexible circuit board.
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