KR101408326B1 - Urethane-type probe block for checking lcd - Google Patents

Urethane-type probe block for checking lcd Download PDF

Info

Publication number
KR101408326B1
KR101408326B1 KR1020130046070A KR20130046070A KR101408326B1 KR 101408326 B1 KR101408326 B1 KR 101408326B1 KR 1020130046070 A KR1020130046070 A KR 1020130046070A KR 20130046070 A KR20130046070 A KR 20130046070A KR 101408326 B1 KR101408326 B1 KR 101408326B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
contactor
probe
block
urethane
block body
Prior art date
Application number
KR1020130046070A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
강철
권현수
Original Assignee
주식회사 케이엘티
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 케이엘티 filed Critical 주식회사 케이엘티
Priority to KR1020130046070A priority Critical patent/KR101408326B1/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101408326B1 publication Critical patent/KR101408326B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes
    • G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06733—Geometry aspects
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

The present invention relates to a urethane-type probe block for inspecting an LCD, the urethane-type probe block being characterized by including: a block body formed in the shape of a hexahedron, having a front top from which a first protrusion projects, and having a bottom on which an inclined surface is formed; a front cover formed in the shape of a plate and having a bottom on which a second protrusion is formed so as to engage with the first protrusion of the block body, thereby coupling the front cover to a front surface of the block body; a contactor made of urethane in the shape of reversed ″L″, having an upper end inserted and fixed between the front cover and the block body, and having a lower end tightly fixed to a lower end of the front cover; a stick bar bonded and fixed to one side of the bottom of the contactor; a probe contactor having a film type provided with a driving IC, the probe contactor being bonded and fixed to the bottom of the stick bar; and an FPC in which an input terminal and an output terminal of the probe contactor are bonded to each other. According to the present invention, the contactor is formed of urethane and is tightly fit to a stepped portion formed in the front surface of the block body using the front cover. Therefore, assembly is relatively easy and stable elasticity is provided by virtue of a large contact area. Furthermore, the bottom of the contactor is formed to have an inclination of 3 degrees so as to allow surface contact, thereby improving the contact and the inspection reliability.

Description

ＬＣＤ 검사용 우레탄 타입 프로브 블록{URETHANE-TYPE PROBE BLOCK FOR CHECKING LCD}Urethane type probe block for LCD inspection [0002] URETHANE-TYPE PROBE BLOCK FOR CHECKING LCD [0003]

본 발명은 LCD 검사용 우레탄 타입 프로브 블록에 관한 것으로서, 상세하게는 우레탄 재질로 컨텍터를 형성하고, 컨텍터를 블록 바디의 전면에 형성된 단차에 전면 커버를 이용하여 밀착 조립시킴으로써 상대적으로 조립이 용이하고, 접촉면적이 넓어 안정적인 탄성을 제공하며, 컨텍터의 저면의 경사를 3ㅀ로 형성하여 접촉시 면접촉이 이루어지도록 하여 접촉 및 검사 신뢰성을 향상시킬 수 있도록 하는 LCD 검사용 우레탄 타입 프로브 블록에 관한 것이다.The present invention relates to a urethane-type probe block for LCD inspection, and more particularly, to a Urethane-type probe block for LCD inspection, in which a contactor is formed of a urethane material and the contactor is closely assembled using a front cover to a step formed on the front surface of the block body, Type urethane type probe block for LCD inspection that provides stable elasticity by providing a wide contact area and 3 경 inclination of the bottom surface of the contactor to improve contact and inspection reliability by making surface contact during contact .

일반적으로, 영상 표시 장치는 패널 형태로 다양한 전기적인 신호를 수신받아 수신된 신호에 따라 각종 영상을 재생하여 패널에 표시하는 장치다. 영상 표시 장치는 액정 디스플레이 패널(liquid crystal display panel; 통상 LCD 패널이라 함), 플라즈마 디스플레이 패널(plasma display panel; 통상 PDP 패널이라 함), 능동형 유기발광 다이오드 디스플레이 패널(active matrix organic light emitting diode display panel; 통상 OLED 패널이라 함) 등과 같은 다양한 형태로 개발되어 사용되고 있다.2. Description of the Related Art Generally, an image display device is a device that receives various electrical signals in a panel form, reproduces various images according to a received signal, and displays the images on a panel. The image display device includes a liquid crystal display panel, a plasma display panel (PDP), an active matrix organic light emitting diode display panel ; Usually called an OLED panel).

최근에는, 영상 표시 뿐만 아니라 패널에 접촉이나 전기적인 신호에 따라 조작되는 신호를 송신하고, 송신된 신호에 따라 조작된 영상이 표시되는 정보 교환 장치가 개발되어 있다. 즉, 정보 교환 장치는 영상의 표시 뿐만 아니라 조작되는 신호를 송신하여 패널 상에서 조작 및 영상 표시가 동시에 이루어져 정보 교환이 가능하게 된다.In recent years, an information exchange apparatus has been developed in which not only image display but also a signal operated by touching or an electrical signal is transmitted to the panel, and the manipulated image is displayed according to the transmitted signal. That is, the information exchange apparatus transmits not only the image but also the operated signal, so that the operation and the image display are simultaneously performed on the panel so that information exchange is possible.

상술된 바와 같이, 패널 상에서 다양한 정보가 교환됨에 따라 패널 상의 회로 구조가 복잡해지고, 휴대폰과 같은 휴대 기기의 발달로 인해 소형화되면서 신호가 교환되는 전극 패드 들이 직접화 되면서 간극이 좁아져 생산이 어렵고, 불량이 발생할 가능성이 높아졌다. 이런, 불량을 점검하지 못하고, 이후 공정이 진행된 후에 불량이 발생되면 불량에 따른 처리 비용이 증대되는 문제점이 있었다.As described above, since various information is exchanged on the panel, the circuit structure on the panel is complicated, and due to the development of portable devices such as mobile phones, miniaturization and electrode pads through which signals are exchanged are directly converted to narrow the gap, The probability of failure is increased. If such defects can not be checked and defects are generated after the subsequent process, there is a problem that the processing cost due to defects is increased.

이에, 패널의 신호가 교환되는 전극 패드들에 접촉되어 불량을 테스트하는 프로브 장치가 사용되고 있다. 이런, 통상적인 프로브 장치는 신호가 교환되는 각 위치마다 신호의 교환을 점검할 수 있는 니들(needle)이나 블레이드(blade) 형태의 탐침 수단으로 전극 패드에 접촉되어 테스트하는 신호를 송수신 하면서 불량 여부를 테스트한다. 그러나, 통상적인 프로브 장치는 날카로운 첨단 형태의 탐침 수단이 직접 접촉되어 각종 신호를 교환하여 테스트하는 것으로 탐침 수단이 접촉되는 전극 패드에 손상이 발생되어 이차적인 불량이 발생되는 문제점이 있었다.Therefore, a probe device is used which tests for defects by contacting electrode pads on which signals of the panel are exchanged. Such a conventional probe apparatus is contacted with an electrode pad by a needle or a blade type probe capable of checking the exchange of signals at each position where signals are exchanged, Test. However, a conventional probe device has a problem in that a sharp tip-type probe means is directly contacted to exchange various signals, thereby causing damage to the electrode pad to which the probe means comes in contact, resulting in secondary failure.

또한, 전극 패드의 신호가 교환되는 위치 별로 각각 탐침 수단을 구비하여 전극 패드에 접촉되도록 설치되는 것으로, 소형화로 인해 좁은 공간에 집적되어 있는 전극 패드의 신호 교환 위치 마다 탐침 수단을 구비하도록 설치됨으로써, 좁은 공간에 많은 수량의 탐침 수단을 구동하면서 테스트를 실시하여야 함에 따라 장치가 복잡하고, 많은 신호를 종합 판단하기 어려워 테스트에 따른 시간이 많이 걸리는 문제점이 있었다.Each of the electrode pads is provided with probe means for each of the positions where the signals of the electrode pads are exchanged and is provided so as to be in contact with the electrode pads. By providing the probing means for each signal exchange position of the electrode pads integrated in the narrow space due to miniaturization, It is necessary to perform a test while driving a large number of probe means in a narrow space. Therefore, the apparatus is complicated and it is difficult to determine a large number of signals.

이에, 최근에는 필름 형태로 내부에 테스트하는 회로 패턴을 구비하고, 회로 패턴에서 발생되는 신호를 결합된 인쇄 회로 기판과 구동 회로 소자를 통해서 테스트를 실시하는 필름형 테스트 프로브 장치가 개발되어 사용되고 있다.In recent years, a film type test probe device having a circuit pattern to be internally tested in the form of a film and testing the signal generated in the circuit pattern through a printed circuit board and a driving circuit element has been developed and used.

이런, 종래 기술의 필름형 테스트 프로브 장치는 패널의 전극 패드 부분으로 테스트 필름의 입력 부분을 연결하도록 이동 가압한 상태로 테스트되는 신호를 교환하면서 불량을 테스트하도록 구비된다.Such a film-type test probe apparatus of the prior art is equipped to test for defects while exchanging a signal to be tested while being movably pressed to connect the input portion of the test film to the electrode pad portion of the panel.

그러나, 종래 기술의 필름형 테스트 프로브 장치는 필름의 입력 부분과 패널의 전극 패드의 연결 상태를 유지하기 위해서 가압되는 수단은 전극 패드의 손상을 방지하면서 연결 상태를 해제하면 원위치로 복귀되는 단일 형태의 탄성 수단이 구비되어 있으나, 복수회 사용으로 탄성력이 저하되면 원상태로 복귀되지 않고 연결된 상태를 유지하기 어려운 문제점이 있었다.However, in the film type test probe apparatus of the related art, in order to maintain the connection state between the input portion of the film and the electrode pad of the panel, the means to be pressed is a single type However, if the elastic force is reduced by a plurality of times of use, there is a problem that it is difficult to maintain the connected state without returning to the original state.

또한, 종래 기술의 필름형 테스트 프로브 장치는 몸체의 하부에 지지된 상태로 필름을 경사지게 구비한 상태에서 테스트 시 마다 필름의 입력 부분을 가압함에 따라 지속적인 가압 작동에 의해 테스트 필름의 위치가 변위되어 가압 시에도 필름의 입력 부분과 전극 패드가 정확하게 연결되지 않는 문제점이 있었다.The film-type test probe device of the prior art is supported by the lower part of the body and is inclined with respect to the film. As the input part of the film is pressed during each test, the position of the test film is displaced by the continuous pressing operation, The input portion of the film and the electrode pad are not correctly connected to each other.

또한, 프로브와 LCD의 접촉시 압력에 의해 프로브의 변형이 손쉽게 발생하고, 변형으로 인해 검사 반복 신뢰성이 낮아지는 문제점이 있다.Further, the probe is easily deformed by the pressure when the probe and the LCD are in contact with each other, and the repeated reliability of the probe is lowered due to deformation.

또, 프로브가 니들 또는 블레이드 타입으로 형성되어 있기 때문에 배열 자유도가 낮아지는 문제점이 있다.Further, since the probe is formed as a needle or a blade type, there is a problem that the degree of freedom of arrangement is lowered.

이러한 문제점을 해결하기 위하여 본 출원인에 의해 출원되어 등록된 국내 특허 등록 10-0967161호(필름 타입 프로브 컨텍터를 구비한 프로브 블록)이 게시되어 있다.In order to solve such a problem, Korean Patent Registration No. 10-0967161 (a probe block having a film type probe contactor) filed and registered by the present applicant has been published.

도 1 내지 도 4를 참조하면, 상기 필름 타입 프로브 컨텍터를 구비한 프로브 블록(100)은 메인 블록(110)과, 얼라인 블록(120)과, 압착 플레이트(130)와, 커버(140)와, 프로브 컨텍터(150)로 이루어진다.1 to 4, a probe block 100 having the film type probe contactor includes a main block 110, an alignment block 120, a compression plate 130, a cover 140, And a probe contactor 150.

먼저, 메인 블록(110)은 금속 재질로 사각형으로 형성되고, 상면 중앙부에 고정 포켓(111)이 함몰 형성되며, 고정 포켓(111)과 양측면과 연통되는 얼라인 조정 볼트홀(113)이 형성되며, 하기에서 설명할 프로브 컨텍터(150)를 육안으로 확인할 수 있도록 전단부에 경사를 가지며 돌출 형성되는 결합 플레이트(115)를 구비한다. 여기에서, 메인 블록(110)의 고정 포켓(111)의 저면에는 하기에서 설명할 얼라인 블록(120)을 고정키(160)로 고정시켜 일체화시키도록 제 1키홈(117)이 형성된다. 이때, 제 1키홈(117)은 고정키(160)가 압입되는 정도의 길이와 폭을 갖는 것이 바람직하다.First, the main block 110 is formed in a square shape with a metal material, and a fixing pocket 111 is formed at the center of the upper surface. An aligning bolt hole 113 communicating with both sides of the fixing pocket 111 is formed And a coupling plate 115 protruding from the front end of the probe contactor 150 so that the probe contactor 150 can be visually recognized. The first key groove 117 is formed on the bottom surface of the fixing pocket 111 of the main block 110 so that the alignment block 120 to be described below is fixed by the fixing key 160 and integrated therewith. At this time, it is preferable that the first key groove 117 has a length and width enough to press the fixed key 160.

그리고, 얼라인 블록(120)은 금속 재질의 사각형으로 메인 블록(110)의 고정 포켓(111)에 수납되어 볼트(101)로 고정되고, 얼라인 조정 볼트홀(113)에 삽입된 무두 볼트(103)에 의해 좌우로 얼라인이 조정된다. 여기에서, 얼라인 블록(120)의 저면에 제 1키홈(117)과 대응되는 제 2키홈(121)이 형성된다. 이때, 얼라인 블록(120)의 길이는 메인 블록(110)의 고정 포켓(111)의 길이에 압입될 수 있는 길이를 가지며, 얼라인 블록(120)의 폭은 메인 블록(110)의 고정 포켓(111) 내에서 좌우로 이동 가능한 길이를 갖는 것이 바람직하다.The alignment block 120 is fixed to the fixing pocket 111 of the main block 110 by a metal square and is fixed to the bolt 101 and inserted into the alignment bolt hole 113 103 to adjust the alignment right and left. Here, a second key groove 121 corresponding to the first key groove 117 is formed on the bottom surface of the alignment block 120. The length of the alignment block 120 has a length that can be pushed into the length of the fixing pocket 111 of the main block 110 and the width of the alignment block 120 is larger than the width of the fixing pocket 110 of the main block 110. [ It is preferable to have a length that can be moved laterally in the housing 111.

또한, 압착 플레이트(130)는 프로브 컨텍터(150)를 압착하도록 탄성을 갖는 재질로 직사각의 판형태로 형성되어 메인 블록(110)의 결합 플레이트(115) 저면에 볼트(101)에 의해 결합된다. 여기에서, 압착 플레이트(130)는 전단이 상, 하방향으로 경사면(131, 133)을 구비하는 데, 상방향의 경사면(131)은 프로브 컨텍터(150)를 육안으로 확인할 수 있도록 메인 블록(110)의 결합 플레이트(115)의 경사도와 동일하게 형성되는 것이 바람직하고, 하방향의 경사면(133)은 프로브 컨텍터(150)가 접합시 수평을 유지할 수 있는 경사도를 갖는 것이 바람직하다. 여기에서 또한, 압착 플레이트(130)는 압착력을 극대화시키도록 서로 다른 경도를 갖는 재질로 상호 접합하여 2층으로 형성되되, 상층이 실리콘, 우레탄과 같은 연질로 형성되고, 하층이 폴리이미드, 아셀탈 수지와 같은 경질 재질로 형성된다.The pressing plate 130 is formed in a rectangular plate shape having elasticity to press the probe contactor 150 and is coupled to the bottom surface of the coupling plate 115 of the main block 110 by a bolt 101 . The upper surface of the compression plate 130 is inclined in the upward and downward direction and the inclined surfaces 131 and 133 are inclined in the upward direction so that the upper surface of the upper surface of the main block 110 and the lower inclined surface 133 preferably has an inclination that allows the probe contactor 150 to keep horizontal when joined. Here, the compression plate 130 is formed of two layers of mutually bonded materials having different hardnesses in order to maximize the pressing force, and the upper layer is formed of a soft material such as silicone or urethane, and the lower layer is made of polyimide, And is made of a hard material such as resin.

또, 커버(140)는 금속 또는 합성 수지 재질로 메인 블록(110)의 결합 플레이트(115)와 메인 블록(110)의 저면에 각각 볼트(101)로 결합되어 압착 플레이트(130)를 메인 블록(110)의 결합 플레이트(115)에 고정시키도록 삼각형태로 형성되되, 저면 중앙부에 탄성을 갖도록 폭방향으로 절개홈(141)이 형성된다.The cover 140 is made of a metal or a synthetic resin and is coupled to the bottom surface of the coupling block 115 of the main block 110 and the main block 110 by bolts 101 to connect the compression block 130 to the main block 110. [ And a cutout groove 141 is formed in the width direction to have elasticity at the center of the bottom face.

한편, 프로브 컨텍터(150)는 시중에 시판되는 TCP 패키지 또는 COF 패키지를 이용하여 출력단에 금속 단자를 형성한 것이다.Meanwhile, the probe contactor 150 is formed with a metal terminal at an output terminal using a commercially available TCP package or a COF package.

그러나, 이러한 상기 프로브 블록은 압착 플레이트를 경사지도록 조립 체결하기 때문에 조립이 어렵고, 컨텍면이 좁아 안정적으로 탄성을 제공하지 못하는 문제점이 있다.However, such a probe block is difficult to assemble because the compression plate is assembled so as to be inclined, and there is a problem that the contact surface is narrow and the elasticity can not be stably provided.

또한, 이러한 상기 프로브 블록의 압착 플레이트는 저면의 경사가 9ㅀ이상으로 형성되어 있고, 접촉 면적시 좁아 접촉시 점접촉이 이루어져 접촉 불량 및 검사 신뢰성이 저하되는 문제점이 있다.In addition, such a compression block of the probe block is formed with a slope of 9 저 or more on the bottom surface, and when the contact area is narrow, it makes point contact at the time of contact to deteriorate contact failure and inspection reliability.

국내 특허 등록 10-0967161호Domestic patent registration 10-0967161 국내 특허 등록 10-1070332호Domestic patent registration 10-1070332

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 우레탄 재질로 컨텍터를 형성하고, 컨텍터를 블록 바디의 전면에 형성된 단차에 전면 커버를 이용하여 밀착 조립시킴으로써 상대적으로 조립이 용이하고, 접촉면적이 넓어 안정적인 탄성을 제공하며, 컨텍터의 저면의 경사를 3ㅀ로 형성하여 접촉시 면접촉이 이루어지도록 하여 접촉 및 검사 신뢰성을 향상시킬 수 있도록 하는 LCD 검사용 우레탄 타입 프로브 블록을 제공하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide a contactor which is relatively easy to assemble by forming a contactor with a urethane material, The present invention provides a urethane-type probe block for LCD inspection, which provides a stable elasticity and has a slope of 3 저 on the bottom surface of a contactor so that surface contact can be made during contact to improve contact and inspection reliability. .

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징은,According to an aspect of the present invention,

육면체 형태로 형성되되, 전면 상단에 제 1돌기가 돌출 형성되고, 저면에 경사면이 형성되는 블록 바디와; 평판 형태로 형성되되, 저면에 상기 블록 바디의 제 1돌기와 치합되도록 제 2돌기가 돌출 형성되어 상기 블록 바디의 전면에 결합되는 전면 커버와; 우레탄 재질로 "역 니은자"형태로 형성되고, 상단이 상기 전면 커버와 블록 바디 사이에 삽입되어 고정되고, 하단이 상기 전면 커버의 하단과 밀착 고정되는 컨텍터와; 상기 컨텍터의 저면 일측에 접착 고정되는 스틱 바와; 드라이브 IC를 구비하는 필름 타입이고, 상기 스틱 바의 저면에 접착 고정되는 프로브 컨텍터; 및 상기 프로브 컨텍터의 입력 단자와 이의 출력 단자가 상호 접합되는 FPC로 이루어지는 것을 특징으로 한다.A block body formed in a hexahedron shape, having a first projection protruding from an upper end of a front surface thereof and having an inclined surface formed on a bottom surface thereof; A front cover formed on the bottom surface of the block body and having a second protrusion protruding from the front surface of the block body so as to engage with the first protrusion of the block body; And a lower end of the contactor is closely fitted to the lower end of the front cover; A stick bar adhesively fixed to one side of the bottom surface of the contactor; A probe contactor which is a film type having a drive IC and is adhered and fixed to the bottom surface of the stick bar; And an FPC in which an input terminal of the probe contactor and an output terminal of the probe contactor are bonded to each other.

여기에서, 상기 컨텍터는 상기 프로브 컨텍터가 LCD와 접촉시 형상의 변형을 방지하고, 안정적인 쿠션을 형성하여 상기 프로브 컨텍터의 안정화 및 검사 포인트를 안정화시키도록 하단의 높이를 2.5~3㎜로 형성하고, 하단 전면에 경사를 형성하여 돌출시킨다.Here, the contactor is formed to have a bottom height of 2.5 to 3 mm so as to stabilize the probe contactor and to stabilize the inspection point by preventing the deformation of the shape of the probe contactor when contacting the LCD and forming a stable cushion And an inclined surface is formed on the entire lower surface to protrude.

여기에서 또한, 상기 컨텍터는 상기 프로브 컨텍터가 LCD와 접촉시 간섭을 차단하도록 하단 저면 일측에 상기 스틱 바가 삽입되는 단차를 형성한다.Here, the contactor also forms a step for inserting the stick bar on one side of the lower bottom surface so that the probe contactor interferes with interference with the LCD.

여기에서 또, 상기 컨텍터는 상기 프로브 컨텍터가 LCD와 접촉시 안정적인 접촉 및 수명을 연장시키도록 상기 단차가 미형성된 부위에 경사를 주어 컨텍터면을 형성한다.Here, the contactor also forms a contact surface by tilting a portion where the stepped portion is not formed, so that the contact protector contacts the LCD with a stable contact and prolongs its service life.

여기에서 또, 상기 컨텍터면은 3°의 경사로 형성된다.Here, the contact surface is formed at an angle of 3 DEG.

상기와 같이 구성되는 본 발명인 LCD 검사용 우레탄 타입 프로브 블록에 따르면, 우레탄 재질로 컨텍터를 형성하고, 컨텍터를 블록 바디의 전면에 형성된 단차에 전면 커버를 이용하여 밀착 조립시킴으로써 상대적으로 조립이 용이하고, 접촉면적이 넓어 안정적인 탄성을 제공하며, 컨텍터의 저면의 경사를 3ㅀ로 형성하여 접촉시 면접촉이 이루어지도록 하여 접촉 및 검사 신뢰성을 향상시킬 수 있다.According to the urethane-type probe block for LCD inspection according to the present invention constituted as described above, a contactor is formed of a urethane material, and the contactor is closely assembled by using a front cover to a step formed on the front surface of the block body, The contact area is wide to provide stable elasticity, and the inclination of the bottom surface of the contactor is formed to be 3 ㅀ, so that the contact with the contact surface is achieved, thereby improving the contact and inspection reliability.

도 1 내지 도 4는 종래의 프로브 블록의 구성을 나타낸 도면이다.
도 5는 본 발명에 따른 LCD 검사용 우레탄 타입 프로브 블록의 구성을 나타낸 사시도이다.
도 5는 본 발명에 따른 LCD 검사용 우레탄 타입 프로브 블록의 구성을 나타낸 사시도이다.
도 6은 도 5의 분해 사시도이다.
도 7은 도 5의 측면도이다.
도 8은 도 5의 측단면도이다.
도 9는 본 발명에 따른 LCD 검사용 우레탄 타입 프로브 블록이 결합된 프로브 유니트의 구성을 나타낸 사시도이다.
도 10 및 도 11은 본 발명에 따른 LCD 검사용 우레탄 타입 프로브 블록과 LCD의 검사 패드와 접촉되는 모습을 나타낸 측면도이다.1 to 4 are diagrams showing a configuration of a conventional probe block.
5 is a perspective view showing a configuration of a urethane type probe block for LCD inspection according to the present invention.
5 is a perspective view showing a configuration of a urethane type probe block for LCD inspection according to the present invention.
FIG. 6 is an exploded perspective view of FIG. 5. FIG.
Figure 7 is a side view of Figure 5;
Fig. 8 is a side sectional view of Fig. 5. Fig.
9 is a perspective view showing the configuration of a probe unit to which a urethane type probe block for LCD inspection according to the present invention is coupled.
FIGS. 10 and 11 are side views showing a state in which the urethane-type probe block for LCD inspection according to the present invention is in contact with the test pad of the LCD.

이하, 본 발명에 따른 LCD 검사용 우레탄 타입 프로브 블록의 구성을 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the structure of a urethane type probe block for LCD inspection according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

하기에서 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 것이다. 그리고 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.In the following description of the present invention, detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear. The following terms are defined in consideration of the functions of the present invention, and may be changed according to the intentions or customs of the user, the operator, and the like. Therefore, the definition should be based on the contents throughout this specification.

도 5는 본 발명에 따른 LCD 검사용 우레탄 타입 프로브 블록의 구성을 나타낸 사시도이고, 도 6은 도 5의 분해 사시도이며, 도 7은 도 5의 측면도이고, 도 8은 도 5의 측단면도이며, 도 9는 본 발명에 따른 LCD 검사용 우레탄 타입 프로브 블록이 결합된 프로브 유니트의 구성을 나타낸 사시도이다.5 is a perspective view showing the construction of a urethane type probe block for LCD inspection according to the present invention, FIG. 6 is an exploded perspective view of FIG. 5, FIG. 7 is a side view of FIG. 5, 9 is a perspective view showing the configuration of a probe unit to which a urethane type probe block for LCD inspection according to the present invention is coupled.

도 5 내지 도 9를 참조하면, 본 발명에 따른 LCD 검사용 우레탄 타입 프로브 블록(1)은 블록 바디(10), 전면 커버(20), 컨텍터(30), 스틱 바(40), 프로브 컨텍터(50) 및 FPC(60)를 포함한다.5 to 9, the urethane type probe block 1 for LCD inspection according to the present invention includes a block body 10, a front cover 20, a contactor 30, a stick bar 40, (50) and an FPC (60).

먼저 블록 바디(10)는 금속 재질로 육면체 형태로 형성되되, 전면 상단에 제 1돌기(11)가 돌출 형성되고, 저면에 경사면(13)이 형성된다.
First, the block body 10 is formed in a hexahedron shape. The first protrusion 11 protrudes from the top of the front surface, and the inclined surface 13 is formed on the bottom surface of the block body.

그리고 전면 커버(20)는 금속 재질로 평판 형태로 형성되되, 저면에 블록 바디(10)의 제 1돌기(11)와 치합되도록 제 2돌기(21)가 돌출 형성되어 블록 바디(10)의 전면에 볼트 결합된다.
A second projection 21 is protruded from the bottom surface of the block body 10 so as to engage with the first projection 11 of the block body 10, Lt; / RTI >

또한 컨텍터(30)는 우레탄 재질로 "역 니은자"형태로 형성되고, 상단이 전면 커버(20)와 블록 바디(10) 사이에 삽입되어 볼트 결합되고, 하단이 전면 커버(20)의 하단과 밀착 고정된다. 여기에서, 컨텍터(30)는 하단의 높이를 2.5~3㎜로 형성하고, 하단 전면에 경사를 형성하여 돌출시킨다. 여기에서 또한, 컨텍터(30)는 하단 저면 일측에 하기에서 설명할 스틱 바(40)가 삽입되는 단차(31)를 형성한다. 여기에서 또, 컨텍터(30)는 단차(31)가 미형성된 부위에 경사를 주어 컨텍터면(33)을 형성한다. 이때, 컨텍터면(33)은 3°의 경사로 형성되는 것이 바람직하다.
The upper end of the contactor 30 is inserted and bolted between the front cover 20 and the block body 10 and the lower end of the contactor 30 is connected to the lower end of the front cover 20 Respectively. Here, the height of the lower end of the contactor 30 is set to 2.5 to 3 mm, and the lower end of the contactor 30 is inclined and protruded. Here, the contactor 30 also forms a step 31 into which the stick bar 40 to be described later is inserted, on one side of the lower bottom face. Here, the contactor 30 also forms a contact surface 33 by tilting a portion where the step 31 is not formed. At this time, it is preferable that the contactor surface 33 is formed to be inclined at 3 degrees.

또 스틱 바(40)(Stick bar)는 금속 또는 합성수지 재질로 직사각형태의 판 형태로 형성되고, 컨텍터(30)의 저면 일측에서 양면 테이프에 의해 접착 고정된다.
The stick bar 40 is formed of metal or synthetic resin in the form of a rectangular plate, and is adhered and fixed by a double-sided tape at one side of the bottom surface of the contactor 30.

한편 프로브 컨텍터(50)는 통상의 구조로 일단에 출력 단자가 구비되고, 타단에 입력 단자가 구비되며, 중앙부에 입력 단자 및 출력 단자와 전기적으로 결합되는 드라이브 IC를 구비하는 필름 타입이고, 스틱 바(40)의 저면에 접착제에 의해 접착 고정된다.
On the other hand, the probe contactor 50 is a film type having a conventional structure and having an output terminal at one end, an input terminal at the other end, and a drive IC electrically coupled to the input terminal and the output terminal at the center, And adhered and fixed to the bottom surface of the bar 40 with an adhesive.

그리고 FPC(60)는 통상의 구조로서 프로브 컨텍터(50)의 입력 단자와 이의 출력 단자가 접착제에 의해 상호 접합된다.
The FPC 60 has a conventional structure in which an input terminal of the probe contactor 50 and an output terminal thereof are bonded to each other with an adhesive.

한편, 본 발명에 따른 LCD 검사용 우레탄 타입 프로브 블록(1)은 도 9에 도시된 바와 같이 프로브 유니트(3)에 복수개가 결합된다.
Meanwhile, a plurality of urethane-type probe blocks 1 for LCD inspection according to the present invention are coupled to the probe unit 3 as shown in FIG.

이하, 본 발명에 따른 LCD 검사용 우레탄 타입 프로브 블록의 동작을 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the operation of the urethane type probe block for LCD inspection according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 10 및 도 11은 본 발명에 따른 LCD 검사용 우레탄 타입 프로브 블록과 LCD의 검사 패드와 접촉되는 모습을 나타낸 측면도이다.FIGS. 10 and 11 are side views showing a state in which the urethane-type probe block for LCD inspection according to the present invention is in contact with the test pad of the LCD.

본 발명에 따른 LCD 검사용 우레탄 타입 프로브 블록(1)을 조립한 상태에서 도 9에 도시된 바와 같이 프로브 유니트(3)에 장착한다.The urethane type probe block 1 for LCD inspection according to the present invention is assembled to the probe unit 3 as shown in Fig.

이러한 상태에서 LCD(5)의 검사 패드(7)와 프로브 컨텍터(50)가 접촉되면, 컨텍터(30)가 우레탄 재질로 형성되어 있기 때문에 쿠션을 제공한다.In this state, when the probe pad 7 of the LCD 5 and the probe contactor 50 come into contact with each other, the contactor 30 is formed of a urethane material, thereby providing a cushion.

즉, 컨텍터(30)의 하단의 높이가 2.5~3㎜로 형성되어 있어 형상의 변형이 방지된 상태에서 안정적인 쿠션을 형성하여 프로브 컨텍터(50)의 안정화 및 검사 포인트를 안정화시킨다.In other words, the height of the lower end of the contactor 30 is formed to be 2.5 to 3 mm, thereby stabilizing the probe contactor 50 and stabilizing the inspection point.

또한, 컨텍터(30)의 하단에 형성된 컨텍터면(33)이 3°의 경사를 갖기 때문에 LCD(5)의 검사 패드(7)와 프로브 컨텍터(50)가 접촉되면, 압력에 의해 컨텍터면(33)이 평면을 이루면서 면접촉을 이루게 되고, 이로 인해 접촉 및 검사 신뢰성을 향상시킬 수 있고, 프로브 컨텍터(50)의 수명을 연장시킬 수 있다.Since the contact surface 33 formed at the lower end of the contactor 30 has an inclination of 3 degrees and thus the inspection pad 7 of the LCD 5 and the probe contactor 50 are in contact with each other, So that the contact and inspection reliability can be improved and the life of the probe contactor 50 can be prolonged.

본 발명은 다양하게 변형될 수 있고 여러 가지 형태를 취할 수 있으며 상기 발명의 상세한 설명에서는 그에 따른 특별한 실시 예에 대해서만 기술하였다. 하지만 본 발명은 상세한 설명에서 언급되는 특별한 형태로 한정되는 것이 아닌 것으로 이해되어야 하며, 오히려 첨부된 청구범위에 의해 정의되는 본 발명의 정신과 범위 내에 있는 모든 변형물과 균등물 및 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments. It is to be understood, however, that the invention is not to be limited to the specific forms thereof, which are to be considered as being limited to the specific embodiments, but on the contrary, the intention is to cover all modifications, equivalents, and alternatives falling within the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. .

10 : 블록 바디 20 : 전면 커버
30 : 컨텍터 40 : 스틱 바
50 : 프로브 컨텍터 60 : FPC10: block body 20: front cover
30: contactor 40: stick bar
50: probe contactor 60: FPC

Claims (5)

육면체 형태로 형성되되, 전면 상단에 제 1돌기가 돌출 형성되고, 저면에 경사면이 형성되는 블록 바디와;
평판 형태로 형성되되, 저면에 상기 블록 바디의 제 1돌기와 치합되도록 제 2돌기가 돌출 형성되어 상기 블록 바디의 전면에 결합되는 전면 커버와;
우레탄 재질로 "역 니은자"형태로 형성되고, 상단이 상기 전면 커버와 블록 바디 사이에 삽입되어 고정되고, 하단이 상기 전면 커버의 하단과 밀착 고정되는 컨텍터와;
상기 컨텍터의 저면 일측에 접착 고정되는 스틱 바와;
드라이브 IC를 구비하는 필름 타입이고, 상기 스틱 바의 저면에 접착 고정되는 프로브 컨텍터; 및
상기 프로브 컨텍터의 입력 단자와 이의 출력 단자가 상호 접합되는 FPC로 이루어지는 것을 특징으로 하는 LCD 검사용 우레탄 타입 프로브 블록.A block body formed in a hexahedron shape, having a first projection protruding from an upper end of a front surface thereof and having an inclined surface formed on a bottom surface thereof;
A front cover formed on the bottom surface of the block body and having a second protrusion protruding from the front surface of the block body so as to engage with the first protrusion of the block body;
And a lower end of the contactor is closely fitted to the lower end of the front cover;
A stick bar adhesively fixed to one side of the bottom surface of the contactor;
A probe contactor which is a film type having a drive IC and is adhered and fixed to the bottom surface of the stick bar; And
And an FPC having an input terminal of the probe contactor and an output terminal thereof bonded to each other. 제 1 항에 있어서,
상기 컨텍터는,
상기 프로브 컨텍터가 LCD와 접촉시 형상의 변형을 방지하고, 안정적인 쿠션을 형성하여 상기 프로브 컨텍터의 안정화 및 검사 포인트를 안정화시키도록 하단의 높이를 2.5~3㎜로 형성하고, 하단 전면에 경사를 형성하여 돌출시키는 것을 특징으로 하는 LCD 검사용 우레탄 타입 프로브 블록.The method according to claim 1,
The contactor includes:
The height of the lower end is formed to be 2.5 to 3 mm so as to stabilize the probe contactor and to stabilize the inspection point by preventing the deformation of the shape when the probe contactor is in contact with the LCD and forming a stable cushion, And a protruding portion is formed on the protruding portion of the urethane-type probe block. 제 1 항에 있어서,
상기 컨텍터는,
상기 프로브 컨텍터가 LCD와 접촉시 간섭을 차단하도록 하단 저면 일측에 상기 스틱 바가 삽입되는 단차를 형성하는 것을 특징으로 하는 LCD 검사용 우레탄 타입 프로브 블록.The method according to claim 1,
The contactor includes:
And a step for inserting the stick bar is formed on one side of the lower bottom surface so as to block the interference when the probe contactor contacts the LCD. 제 3 항에 있어서,
상기 컨텍터는,
상기 프로브 컨텍터가 LCD와 접촉시 안정적인 접촉 및 수명을 연장시키도록 상기 단차가 미형성된 부위에 경사를 주어 컨텍터면을 형성하는 것을 특징으로 하는 LCD 검사용 우레탄 타입 프로브 블록.The method of claim 3,
The contactor includes:
Wherein a contact surface is formed by inclining a portion where the step is not formed so as to extend stable contact and lifetime when the probe contactor is in contact with an LCD. 제 4 항에 있어서,
상기 컨텍터면은,
3°의 경사로 형성되는 것을 특징으로 하는 LCD 검사용 우레탄 타입 프로브 블록.5. The method of claim 4,
In this case,
Type probe block for LCD inspection. ≪ RTI ID = 0.0 > 11. < / RTI >
KR1020130046070A 2013-04-25 2013-04-25 Urethane-type probe block for checking lcd KR101408326B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130046070A KR101408326B1 (en) 2013-04-25 2013-04-25 Urethane-type probe block for checking lcd

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130046070A KR101408326B1 (en) 2013-04-25 2013-04-25 Urethane-type probe block for checking lcd

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101408326B1 true KR101408326B1 (en) 2014-06-17

Family

ID=51133142

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020130046070A KR101408326B1 (en) 2013-04-25 2013-04-25 Urethane-type probe block for checking lcd

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101408326B1 (en)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20100083087A (en) * 2009-01-12 2010-07-21 주식회사 디엠엔티 Probe unit for inspecting display panel
KR20120085197A (en) * 2011-01-21 2012-07-31 주식회사 프로이천 Probe block
KR20130004808A (en) * 2011-07-04 2013-01-14 주식회사 디에스케이 Probe unit for inspecting display panel
KR101249467B1 (en) 2013-01-04 2013-04-03 (주)유비프리시젼 Film-type probe block for checking lcd

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20100083087A (en) * 2009-01-12 2010-07-21 주식회사 디엠엔티 Probe unit for inspecting display panel
KR20120085197A (en) * 2011-01-21 2012-07-31 주식회사 프로이천 Probe block
KR20130004808A (en) * 2011-07-04 2013-01-14 주식회사 디에스케이 Probe unit for inspecting display panel
KR101249467B1 (en) 2013-01-04 2013-04-03 (주)유비프리시젼 Film-type probe block for checking lcd

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100793699B1 (en) Test jig of fpd modual
JP3976276B2 (en) Inspection device
KR101249467B1 (en) Film-type probe block for checking lcd
JP2017021568A (en) Input device and electronic device
US10546702B2 (en) Key structure with display module
TW200704935A (en) Inspection device for display panel and interface used therein
KR20130004808A (en) Probe unit for inspecting display panel
KR101143441B1 (en) Apparatus of film type test probe
TW200710415A (en) Probe for testing flat display panel
KR100767191B1 (en) Unit for connecting circuit board and apparatus for testing plat display panel having the unit
KR101189666B1 (en) unit for probing flat panel display
KR101408326B1 (en) Urethane-type probe block for checking lcd
KR20120085197A (en) Probe block
KR20150045180A (en) Mobile terminal
KR101257226B1 (en) Apparatus of film type test probe
KR101529265B1 (en) Inspecting apparatus for electronic device
KR20120085196A (en) Probe block
KR101000456B1 (en) Probe unit with easy maintenance
KR102186192B1 (en) Side contact gripper device for testing electronic components
KR101242372B1 (en) Bump-type probe, glass block panels for testing
KR101929929B1 (en) Probe block and probe unit comprising the same
TWI310996B (en)
KR101598604B1 (en) Film type prove unit
KR101004889B1 (en) Probe block for testing liquid crystal display
JP2014074668A (en) Load detector and electronic apparatus using the same

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee