KR20110137375A

KR20110137375A - 리플로우 가능한 온도 퓨즈

Info

Publication number: KR20110137375A
Application number: KR1020117024960A
Authority: KR
Inventors: 마르틴 에이. 마티센; 지안후아 첸; 안소니 브라니카르
Original assignee: 타이코 일렉트로닉스 코포레이션
Priority date: 2009-03-24
Filing date: 2010-03-23
Publication date: 2011-12-22
Also published as: EP2411994A4; JP5587971B2; JP2012521635A; US8289122B2; EP2411994A1; TW201106409A; US9343253B2; US20130047421A1; CN102362331A; CN102362331B; KR101737137B1; TWI590283B; EP2411994B1; US20100245027A1; WO2010110884A1

Abstract

리플로우 가능한 온도 퓨즈는, 제1 단부 및 제2 단부를 정의하는 PTC 장치, PTC 장치의 제2 단부와 전기적 통신하는 제1 단부 및 제2 단부를 정의하는 도전 요소, 그리고 PTC 장치의 제1 단부와 전기적 통신하는 제1 단부 및 도전 요소의 제2 단부와 전기적 통신하는 제2 단부를 정의하는 제약 요소를 포함한다. 제약 요소는, 도전 요소가 온도 퓨즈의 설치 상태에서 PTC 장치와의 전기적 통신에서 빠져나오는 것을 방지한다. 장애 조건 동안에, 온도 퓨즈에 가해지는 열은 PTC 장치의 제1 단부와 도전 요소의 제2 단부 사이에 흐르는 전류를 제약 요소에게 전환시켜서 제약 요소가 도전 요소를 릴리스하고 퓨즈를 활성화하도록 야기한다.

Description

리플로우 가능한 온도 퓨즈{REFLOWABLE THERMAL FUSE}

본 발명은 일반적으로 전자적 보호 회로(electronic protection circuit)에 관계한다. 더 구체적으로, 본 발명은 자기 활성화 표면 장착 온도 퓨즈(self-activating surface mount thermal fuse)에 관계한다.

보호 회로들은 주로 다른 회로들로부터 장애 회로(failed circuit)들을 분리(isolate)시키기 위해 활용된다. 예를 들어, 보호 회로가 전자적 자동차 엔진 제어기(electronic automotive engine controller)에서 회로 모듈들의 연쇄적 고장을 막기 위해서 활용될 수 있다. 보호 회로들은 또한, 예를 들어 전원 회로 고장으로 인한 화재와 같은 더 심각한 문제들을 예방하기 위해 활용될 수 있다.

보호 회로 중 한 가지 종류는 온도 퓨즈이다. 온도 퓨즈는 전형적인 유리관 퓨즈(glass fuse)의 기능과 유사한 기능을 한다. 즉, 정상적인 동작 조건들 하에서 퓨즈는 단락 회로와 유사하게 동작하고 장애 조건 동안에 퓨즈는 개회로와 유사하게 동작한다. 온도 퓨즈들은, 자신의 온도가 특정한 온도를 넘는 경우에 두 개의 동작 모드 사이에서 전이한다. 이러한 모드들을 구현하기 위해서, 온도 퓨즈들은 도전성에서 비도전성 상태로 스위칭할 수 있는, 가용성 와이어(fusible wire), 금속 콘택트들의 한 세트(a set of metal contacts), 또는 땜납된 금속 콘택트들(soldered metal contacts)과 같은 도전 요소를 포함한다. 감지 요소(sensing element)도 통합시킬 수 있다. 감지 요소의 물리적 상태는 감지 요소의 온도에 관하여 변한다. 예를 들어, 감지 요소는 활성 온도(activation temperature)에서 녹는 이산 용융 유기화합물(discrete melting organic compound) 또는 저융점 합금(low melting metal alloy)에 해당할 수 있다. 감지 요소가 상태를 변경하는 경우, 도전 요소는 전기 도전 경로를 물리적으로 차단(interrupt)함으로써 도전성에서 비도전성 상태로 스위칭한다.

동작 시에, 전류는 퓨즈 요소를 통하여 흐른다. 일단 감지 요소가 특정된 온도에 도달하면, 감지 요소는 상태를 변경하고 도전 요소는 도전성에서 비도전성 상태로 스위칭한다.

종래의 온도 퓨즈들이 갖는 한 단점은, 온도 퓨즈의 설치 동안에 감지 요소가 감지 요소 자신이 상태가 변경되는 온도에 도달하는 것을 방지하도록 주의를 기울여야만 한다는 점이다. 그 결과, 종래의 온도 퓨즈들이, 감지 요소를 너무 일찍 개방(open)시키는 온도들에서 동작하는 리플로우 오븐들을 사용해서는 회로 패널에 장착될 수 없다.

[발명의 요약]

일 국면에서, 리플로우 가능한 온도 퓨즈는, 제1 및 제2 단부들을 갖는 PTC 장치(positive-temperature-coefficient device), PTC 장치의 제2 단부와 전기적 통신하는 제1 단부를 갖는 도전 요소, 그리고 PTC 장치의 제1 단부와 전기적 통신하는 제1 단부 및 도전 요소의 제2 단부와 전기적 통신하는 제2 단부를 갖는 제약 요소를 포함한다. 제약 요소는, 도전 요소가 온도 퓨즈의 설치 상태에서 PTC 장치와의 전기적 통신에서 빠져나오는 것을 방지하도록 적응된다. 장애 조건 동안에, 온도 퓨즈에 가해지는 열은 PTC 장치의 제1 단부와 도전 요소의 제2 단부 사이에 흐르는 전류를 제약 요소에게 전환시켜서 제약 요소가 도전 요소를 릴리스(release)하고 퓨즈를 활성화하도록 야기한다.

다른 국면에서, 패널 상에 리플로우 가능한 온도 퓨즈를 배치하는 방법은 상기 기술된 대로 리플로우 가능한 온도 퓨즈를 제공하는 것을 포함한다. 그러면, 리플로우 가능한 온도 퓨즈는 표면 장착 가능한 퓨즈(surface mountable fuse)를 패널에 땜납하기 위한 패드들을 포함한 패널 상에 배치된다. 그러면, 표면 장착 가능한 퓨즈를 패널에 땜납하기 위해 리플로우 오븐(reflow oven)에 패널을 들인다(run).

도 1은 리플로우 가능한 온도 퓨즈의 개략도.
도 2는 리플로우 가능한 온도 퓨즈와 연계하여 활용될 수 있는 하우징(housing)의 실시예의 저면투시도.
도 3은 리플로우 가능한 온도 퓨즈와 연계하여 활용되는 PTC 장치의 저항과 온도 사이의 관계를 도시한 그래프.
도 4는 도 1의 리플로우 가능한 온도 퓨즈의 예시적인 기계적 구성도.
도 5는 도 1의 리플로우 가능한 온도 퓨즈의 동작들을 기술하는 흐름도.

상기 기술된 문제들을 극복하기 위해서, 리플로우 가능한 온도 퓨즈(reflowable thermal fuse)가 제공된다. 일반적으로, 리플로우 가능한 온도 퓨즈는 도전 요소, PTC(positive-temperature-coefficient) 장치, 및 제약 요소(restraining element)를 포함하는데, 부하 전류는 도전 요소를 통해 흐른다. 제약 요소는 도전 요소를 리플로우 공정 동안에 폐회로 상태(closed state)로 유지시키는 데에 활용된다.

정상적인 동작 조건들 하에서, 리플로우 가능한 온도 퓨즈 내로 흐르는 전류는 주로 PTC 장치 및 도전 요소를 통해 흐른다. 일부 전류는 제약 요소를 통해서도 흐른다. 고온 및/또는 고전류 장애 조건 동안에, PTC 장치의 저항은 증가한다. 이것은 다음으로, 제약 요소가 기계적(mechanically)으로 개방될 때까지 PTC 장치를 통해 흐르는 전류가 제약 요소 쪽으로 전환되도록 야기한다. 제약 요소가 개방되고 난 후에, 도전 요소가 개방 상태에 들어가도록 허용된다. 몇몇의 실시예들에서, 리플로우 가능한 온도 퓨즈 주위에서의 높은 주변 온도는, 센서로 하여금 복원성을 잃게 하거나 및/또는 녹게 야기한다. 이것은 다음으로, 도전 요소가 개방 상태에 들어가도록 한다. 다른 실시예들에서, 리플로우 가능한 온도 퓨즈 내로 그리고 PTC 장치를 통해 흐르는 전류는, PTC 장치가 센서가 복원력을 읽거나 및/또는 녹게 하고 그것에 의하여 도전 요소를 릴리스(release)하는 것을 야기하기에 충분한 열을 생성하게 한다.

리플로우 가능한 온도 퓨즈에 대한 상세한 사항들이 아래에 더 자세히 제시된다. 첨부된 도면들은 심도있는 이해를 위해 포함되고 또한 명세서에 통합되고 그 일부를 구성한다.

도 1은 리플로우 가능한 온도 퓨즈(100)의 개략도이다. 리플로우 가능한 온도 퓨즈(100)는 PTC 장치(105), 도전 요소(110), 및 제약 요소(115)를 포함한다. PTC 장치(105), 도전 요소(110), 및 제약 요소(115)는 하우징, 예를 들어 도 2에서 도시된 하우징(200)에 배치된다.

도 2에 도시된 바와 같이, 하우징(200)은 제1 및 제2 장착 패드들(210 및 205)을 포함할 수 있다. 제1 및 제2 장착 패드들(210 및 205)은, 회로 패널 상에 배치된 회로를, 하우징(200) 내에 배치된 PTC 장치(105), 도전 요소(110), 및/또는 제약 요소(115)와 전기적 통신 상태를 갖도록 하는 데에 활용될 수 있다. 대안적 실시예들에서, PTC 장치(105), 도전 요소(110), 및 제약 요소(115)는 기판(substrate), 회로 보드(circuit board), 또는 기판, 회로 보드 및/또는 하우징의 조합 상에 배치될 수 있다.

다시 도 1을 참조하면, PTC 장치(105)는 제1 및 제2 단부들을 갖는 전기적 장치에 대응한다. PTC 장치(105)는 PTC 장치(105)의 온도와 관련하여 변화하는 저항을 갖는 비선형 장치에 대응할 수 있다. PTC 장치(105)의 저항과 온도 간의 관계가 도 3의 그래프에 도시된다.

도 3을 참조하면, 그래프의 수평축은 PTC 장치(105)의 온도를 나타낸다. 그래프의 수직축은 PTC 장치(105)의 저항(305)과 PTC 장치(105)를 통해 흐르는 전류(310) 모두를 나타낸다. 도시된 바와 같이, 더 낮아진 온도들에서, PTC 장치(105)의 저항(305)은 상대적으로 낮다. 예를 들어, 저항(305)은 약 10mΩ보다 작을 수 있다. 온도가 상승함에 따라, 영역 1(315)에 표시된 바와 같이 저항(305)은 가파르게 증가한다. 온도 상승이 계속됨에 따라, 저항(305)은 선형 영역 2(320)에 진입한다. 결국, 추가 온도 상승은 PTC 장치(105)를 제3 영역(325)에 위치시키는데, 여기서 저항(305)의 또 다른 가파른 증가가 일어난다.

PTC 장치(105)를 통한 전류(310)는 PTC 장치(105)에 걸친 전압과 PTC 장치(105)의 저항(305)의 비에 대응한다. 전류(310)는 PTC 장치(105)의 저항(305)에 반비례할 수 있다. 도시된 바와 같이, 저항(305)이 증가함에 따라 전류가 PTC 장치(105)를 통해 거의 흐르지 않을 때까지 전류(310)는 감소한다.

다시 도 1을 참조하면, 도전 요소(110)는, 어느 한 단부가 PTC 장치(105)와 전기적 통신하는 제1 및 제2 단부들을 포함한다. 몇몇 실시예에서, 도전 요소(110)는, 자신이 PTC 장치(105) 퓨즈의 제2 단부와 전기적 통신하도록 릴리스 가능하게 보장해주는(releasably secure) 센서를 포함한다. 센서는 온도 퓨즈의 활성 온도에서 녹는 임의의 물질에 해당할 수 있다. 예를 들어, 물질은 약 200°C에서 녹는 땜납에 해당할 수 있다. 더 높거나 더 낮은 온도들에서 녹는 다른 물질들 또한 사용될 수 있다. 도전 요소는 용수철에 의한 장력 하에 놓인 부분을 또한 포함하여, 센서가 녹는 경우 도전 요소가 기계적으로 개방하여 전류가 도전 요소(110)를 통해 흐르는 것을 차단하도록 할 수 있다.

제약 요소(115)는, PTC 장치(105)의 제1 단부와 전기적 통신하는 제1 단부 및 도전 요소(110)의 제2 단부와 전기적 통신하는 제2 단부를 포함할 수 있다. 제약 요소(115)는 리플로우 가능한 온도 퓨즈(100)의 설치 상태 동안 도전 요소(110)가 PTC 장치(105)와의 전기적 통신으로부터 빠져나오는 것을 막도록 적응된다. 예를 들어, 제약 요소(115)의 한 단부는 도전 요소(110)에 물리적으로 부착될 수 있고 다른 단부는 하우징 및/또는 기판에 물리적으로 부착될 수 있다.

제약 요소(115)는 전기 도전 가능한 임의의 물질에 해당할 수 있다. 예를 들어, 제약 요소(115)는 구리, 스테인리스 스틸, 또는 합금으로 이루어질 수 있다. 제약 요소(115)의 지름은 장애 조건 동안에 제약 요소(115)를 날려버리거나(blowing), 또는 개방하기를 가능하도록 하기 위해 크기가 정해질 수 있다. 일 실시예에서, 제약 요소(115)는 약 1 암페어의 전류가 자신을 통해 흐르는 경우에 개방한다. 출원인들은 제약 요소(115)가 그 지름 및/또는 다른 치수에 있어서 증가 또는 감소될 수 있어서 더 높은 또는 더 낮은 전류들을 허용하는 것을 상정하였다.

도 4는 도 1의 리플로우 가능한 온도 퓨즈(100)의 예시적인 기계적 표현(400)이다. 예시적 실시예에서, 도전 요소(110)는 센서(110a)와 스프링(spring portion)(110b)을 포함한다. 도전 요소(110)의 제1 단부는 제1 패드(205)와 전기적 통신할 수 있고 도전 요소(110)의 제2 단부는 PTC 장치(105)의 제1 단부와 전기적 통신할 수 있다. 도전 요소(110)의 센서(110a)는 활성화 온도, 예를 들어 200°C에서 녹거나 그것의 지지력(holding strength)을 잃는 물질로 이루어질 수 있다. 스프링(110b)은 장력을 받을 수 있어서, 센서(110a)가 지지력을 잃는 경우에 도전 요소가 PTC 장치(105)로부터 분리하도록 할 수 있다.

PTC 장치(105)는 도시된 바와 같이 도전 요소(110)의 아래에 배치될 수 있다. PTC 장치(105)의 제1 단부는 제2 패드(210)와 전기적 통신할 수 있다.

도시된 바와 같이 제약 요소(115)는 도전 요소(110)의 부분 위에 걸쳐 있을 수 있고 또한 제1 및 제2 패드들(205 및 210)에 고정될 수 있다.

도 5는 도 1의 리플로우 가능한 온도 퓨즈(100)의 동작들을 기술하는 흐름도이다. 블록 300에서, 리플로우 가능한 온도 퓨즈(100)는 패널 상에 놓여진다. 땜납 반죽(solder paste)은 마스크 공정(masking process)을 통해 리플로우 가능한 온도 퓨즈(100)와 연결된 패널 상의 패드 위치들에 사전에 가해질 수 있다. 이후 패널은 리플로우 가능한 온도 퓨즈와 함께 리플로우 오븐 내에 놓여지는데, 이는 패드들 상의 땜납들이 녹는 것을 야기한다.

리플로우 프로세스 동안에, 도전 요소의 센서는 자신의 지지력을 잃을 수 있다. 예를 들어, 땜납으로 이루어진 센서에서 땜납은 녹을 수 있다. 그러나, 땜납은 자신의 표면 장력을 통해 제 위치에 유지될 수 있다. 제약 요소는, 도전 요소가 리플로우 공정 동안에 기계적으로 개방하는 것을 방지한다. 리플로우 후에, 패널을 냉각하는 것이 허용되고, 이때 센서가 자신의 지지력을 다시 한번 획득한다.

블록 505에서, 리플로우 가능한 온도 퓨즈(100)는 장애가 아닌 조건에서 활용될 수 있다. 도 1을 참조하면, 이런 동작의 모드 동안, 소스(source)(120)로부터 리플로우 가능한 온도 퓨즈(100)를 통해 부하(125)로 흐르는 전류는 PTC 장치(105)와 도전 요소(110) 사이에 형성된 직렬 회로를 통해 흐를 수 있고, 또한 제약 요소(115)를 통해 병렬로 흐를 수 있다. 제약 요소(115)를 통해 흐르는 전류의 양은 제약 요소(115)를 기계적으로 개방하는 데에 필요한 전류의 양보다 적을 수 있다.

블록 510에서, 장애 조건이 일어날 수 있다. 예를 들어, 리플로우 가능한 온도 퓨즈(100)의 주변에서의 주위 온도는 위험한 레벨, 예를 들어 200°C로 상승할 수 있다.

블록 515에서, 도 2에 도시된 바와 같이, PTC 장치(105)의 저항은 주위 온도에서의 상승들에 따라 증가하기를 시작할 수 있다. PTC 장치(105)의 저항이 증가함에 따라, PTC 장치(105) 내로 흐르는 전류는 제약 요소(115)에게 전환(divert)될 수 있다.

블록 520에서, 제약 요소(115)를 통해 흐르는 전류는 제약 요소(115)가 기계적으로 개방하는 것을 야기하는 포인트에 도달하고, 그에 따라 도전 요소(110)를 릴리스한다.

블록 525에서, 도전 요소(110)는 기계적으로 개방할 수 있다. 도전 요소(110)는 제약 요소(115)가 도전 요소(110)를 릴리스한 후 즉시 개방할 수 있다. 예를 들어, 도전 요소(110)의 센서는 자신의 지지력을 이미 잃었을 수 있다. 대안적으로, 리플로우 가능한 온도 퓨즈(100) 주변의 주위 온도는 계속 상승할 수 있고 또한 센서는 상승된 온도에서 부러질(give way) 수 있다. 또 다른 대안에서, 리플로우 가능한 온도 퓨즈(100) 내로 그리고 PTC 장치(105)를 통해 흐르는 전류는 PTC 장치(105)가 도전 요소(110)의 센서가 자신의 지지력을 잃게 하는 데에 충분한 온도까지 스스로를 가열하도록 야기할 수 있다.

상기의 기술로부터 알 수 있듯이 리플로우 가능한 온도 퓨즈는, 리플로우 오븐들을 통하여 패널들 상에 온도 퓨즈들을 위치시키는 것에 관련된 문제들을 극복한다. 제약 요소는 리플로우 공정 동안에 도전 요소를 보장하는 것을 이루어준다. 그러면, 장애 조건 동안에, PTC 장치는 리플로우 가능한 온도 퓨즈를 통해 흐르는 전류를 제약 요소로 효과적으로 인도하고(direct), 다음으로 제약 요소를 개방하게끔 야기한다. 이것은 다음으로 도전 요소를 릴리스한다.

리플로우 가능한 온도 퓨즈와 리플로우 가능한 온도 퓨즈를 사용하는 것에 대한 방법이 특정 실시예들을 참조하여 기술되었지만, 본 출원의 청구항들의 범위에서 벗어나지 않는 다양한 변경들이 이뤄질 수 있고, 균등물들로 대체될 수 있다는 것을 당업자들은 이해할 것이다. 더욱이, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않고도 특정 상황 또는 물질들에 적응시키도록 본 개시에 대한 많은 수정들이 이뤄질 수 있다. 따라서, 리플로우 가능한 온도 퓨즈와 리플로우 가능한 온도 퓨즈를 사용하는 것에 대한 방법은 개시된 특정 실시예들만 제한되지 않고, 청구항들의 권리 범위에 들 수 있는 임의의 실시예들에 제한되도록 의도된다.

Claims

온도 퓨즈로서,
제1 단부 및 제2 단부를 정의하는 PTC 장치(positive-temperature-coefficient device);
제1 단부 및 제2 단부를 정의하는 도전 요소 - 상기 도전 요소의 제1 단부는 상기 PTC 장치의 제2 단부와 전기적 통신함 -; 및
제1 단부 및 제2 단부를 정의하는 제약 요소(restraining element) - 상기 제약 요소의 제1 단부는 상기 PTC 장치의 제1 단부와 전기적 통신하고, 상기 제약 요소의 제2 단부는 상기 도전 요소의 제2 단부와 전기적 통신하고, 상기 제약 요소는, 상기 온도 퓨즈의 설치 상태에서 상기 도전 요소가 상기 PTC 장치와의 전기적 통신에서 빠져나오는 것을 방지하도록 적응됨 -;
를 포함하는 온도 퓨즈.
제1항에 있어서,
고온 장애 조건 동안에,
상기 온도 퓨즈에 가해지는 열은 상기 PTC 장치의 제1 단부와 상기 도전 요소의 제2 단부 사이에 흐르는 전류가 상기 제약 요소에게 전환(divert)되도록 야기하여, 상기 제약 요소가 상기 도전 요소를 릴리스(release)하도록 하고,
바람직하게는 상기 제약 요소가 상기 도전 요소를 릴리스한 후에 상기 가해진 열이 상기 도전 요소를 전기적으로 개방하도록 야기하는
온도 퓨즈.
제1항에 있어서,
고전류 장애 조건 동안에,
상기 온도 퓨즈 내로 흐르는 장애 전류(fault current)는 상기 PTC 장치의 제1 단부와 상기 도전 요소의 제2 단부 사이에 흐르는 전류가 상기 제약 요소에게 전환되도록 야기하여 상기 제약 요소가 상기 도전 요소를 릴리스하도록 하고, 상기 장애 전류가 상기 PTC 장치로 하여금 상기 도전 요소가 전기적으로 개방하도록 야기하는 열을 생성하도록 하는
온도 퓨즈.
제1항에 있어서,
상기 도전 요소는 자신이 상기 PTC 장치의 제2 단부와 전기적 통신하는 것을 릴리스 가능하게 보장(releasably secure)하는 센서를 포함하는
온도 퓨즈.
제4항에 있어서,
상기 센서는 약 200°C에서 녹고,
바람직하게는, 상기 도전 요소는 장력을 받는 스프링을 포함하는
온도 퓨즈.
제1항에 있어서,
상기 PTC 장치, 상기 도전 요소, 및 상기 제약 요소를 포함하는 하우징
을 더 포함하는 온도 퓨즈.
제6항에 있어서,
패널에 상기 온도 퓨즈를 표면 장착하는 것을 이루어주는, 상기 하우징의 외부에 적어도 부분적으로 배치된 복수의 장착 패드 - 바람직하게는 상기 PTC 장치의 제1 단부와 상기 제약 요소의 제1 단부는 상기 복수의 패드 중의 제1 패드와 전기적 통신하고, 상기 도전 요소의 제2 단부와 상기 제약 요소의 제2 단부는 상기 복수의 장착 패드 중의 제2 패드와 전기적 통신함 -
를 더 포함하는 온도 퓨즈.
제1항에 있어서,
상기 PTC 장치, 상기 도전 요소, 상기 제약 요소는 기판 상에 장착되는
온도 퓨즈.
패널 상에 온도 퓨즈를 배치하는 방법으로서,
리플로우 가능한 온도 퓨즈를 제공하는 단계 - 상기 리플로우 가능한 온도 퓨즈는,
제1 단부 및 제2 단부를 정의하는 PTC 장치;
제1 단부 및 제2 단부를 정의하는 도전 요소 - 상기 도전 요소의 제1 단부는 상기 PTC 장치의 제2 단부와 전기적 통신함 -; 및
제1 단부 및 제2 단부를 정의하는 제약 요소 - 상기 제약 요소의 제1 단부는 상기 PTC 장치의 제1 단부와 전기적 통신하고, 상기 제약 요소의 제2 단부는 상기 도전 요소의 제2 단부와 전기적 통신하고, 상기 제약 요소는, 상기 온도 퓨즈의 설치 상태에서 상기 도전 요소가 상기 PTC 장치와의 전기적 통신에서 빠져나오는 것을 방지하도록 적응됨 -
를 포함함 -;
상기 패널에 상기 표면 장착 가능한 퓨즈를 땜납하기 위한 패드들을 포함하는 패널 상에 상기 리플로우 가능한 온도 퓨즈를 배치하는 단계; 및
상기 표면 장착 가능한 퓨즈를 상기 패널에 땜납하기 위해 리플로우 오븐에 상기 패널을 들이는(run) 단계
를 포함하는 온도 퓨즈 배치 방법.
제9항에 있어서,
장애 조건 동안에 상기 PTC 장치의 제1 단부와 상기 도전 요소의 제2 단부 사이에 흐르는 전류를 상기 제약 요소에게 전환시켜서 상기 제약 요소가 상기 도전 요소를 릴리스하도록 야기하는 단계
를 더 포함하는 온도 퓨즈 배치 방법.