KR20110055494A - Plating tank - Google Patents

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KR20110055494A
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히로키 오무라
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우에무라 고교 가부시키가이샤
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Abstract

PURPOSE: A plating bath is provided to achieve uniform plating quality and thickness and to enable a printed board to be transported or dipped without damage. CONSTITUTION: A plating bath comprises a bath, a board guide and a flow generator. The bath makes a plate-shape workpiece sink in solution. The board guide guides the plate-shape workpiece to the bath and comprises lower guide plates and an upper guide plate. The lower guide plates are arranged in parallel and the upper guide plate is arranged to be tapered and comprises a notch hole. The board guide enables the leading end of the upper guide board to be protruded from the surface of the solution and the notch hole to be sunken in the solution. The flow generator is arranged outside of the board guide.

Description

도금조{Plating Tank}Plating Tank

본 발명은 전기도금 장치 등의 표면처리장치에 있어서 프린트 기판 등의 판 모양 피가공물을 전기도금하는 기술에 관한 것이다.TECHNICAL FIELD This invention relates to the technique of electroplating plate-like workpieces, such as a printed board, in surface treatment apparatuses, such as an electroplating apparatus.

지금까지의 표면처리장치(프린트 기판의 전기도금 장치)에서는 판 모양 피가공물 W를 흔들림이 발생하지 않도록 랙에 고정적으로 부착하고 상기 랙을 반송하면서 표면처리를 실시하였다. 그러나, 랙에 대한 판 모양 피가공물 W의 부착이 번잡한 작업인 경우나 장치에 걸리는 부하가 커서 장치가 대형화하기 때문에 랙리스 타입의 표면처리장치가 제안되고 있다.In the conventional surface treatment apparatus (electroplating apparatus of a printed circuit board), the plate-shaped workpiece W was fixedly attached to the rack so that shaking did not occur, and the surface treatment was carried out while conveying the rack. However, a rackless type surface treatment apparatus has been proposed in the case where the attachment of the plate-shaped workpiece W to the rack is complicated work or the load on the apparatus is large, so that the apparatus is enlarged.

이러한 랙리스 타입의 표면처리장치로서, 일본국 공개특허공보 특개 2002-363796호(특허문헌 1) 등이 있다. 상기 표면처리장치의 구조에 대해서, 도 14, 도 15를 사용하여 이하에 설명한다. 도 14는 표면처리장치(300)를 상부에서 본 평면도이다. 도 15는 도 14에 도시하는 표면처리장치(300)를 α방향에서 본 측면도이다.As such a rackless type surface treatment apparatus, Unexamined-Japanese-Patent No. 2002-363796 (patent document 1) etc. are mentioned. The structure of the said surface treatment apparatus is demonstrated below using FIG. 14, FIG. 14 is a plan view of the surface treatment apparatus 300 viewed from above. FIG. 15 is a side view of the surface treatment apparatus 300 shown in FIG. 14 seen from the α direction.

도 14 및 도 15에 나타나 있는 바와 같이 표면처리장치(300)는 소위 푸셔 방식의 표면처리장치이며, 프린트 기판 등의 판 모양 피가공물 W를 지지한 반송용 행거(15)를 반송하기 위한 가이드 레일(10∼13)을 구비하고 있으며, 이들의 가이드 레일을 따라 도금 전처리 공정을 행하기 위한 전처리조(1), 전기도금 공정을 행하기 위한 도금조(2), 도금 후처리 공정을 행하기 위한 회수조(3)와 수세조(4), 판 모양 피가공물 W의 분리를 행하기 위한 언로드부(5), 박리공정(행거 복귀 공정)을 행하기 위한 박리조(6), 행거 박리 후처리 공정을 행하는 수세조(7), 판 모양 피가공물의 부착을 행하는 로드부(8)가 설치되어 있다.As shown in FIG. 14 and FIG. 15, the surface treatment apparatus 300 is what is called a pusher type surface treatment apparatus, The guide rail for conveying the conveyance hanger 15 which supported the plate-shaped workpiece W, such as a printed board. 10 to 13, the pretreatment tank 1 for carrying out the plating pretreatment process along these guide rails, the plating tank 2 for carrying out the electroplating process, and the plating post treatment process for carrying out Recovery tank 3, washing tank 4, unloading part 5 for separating plate-shaped workpiece W, stripping tank 6 for performing peeling step (hanger return step), hanger peeling post-treatment The washing tank 7 which performs a process and the rod part 8 which adheres a plate-shaped workpiece are provided.

도 14에 도시하는 승강 가이드 레일(10, 12)이 강하함으로써, 판 모양 피가공물 W가 각 처리조(도금조(2), 박리조(6), 수세조, 탕세조, 클리너조 등) 내에 침지된다. 또한, 도 15에 도시하는 승강 가이드 레일(10, 12)이 강하한 상태에 있어서 가이드 레일(10∼13)이 하나의 고리 형상 가이드 레일을 구성한다.As the elevating guide rails 10 and 12 shown in FIG. 14 descend, the plate-shaped workpiece W falls in each processing tank (plating tank 2, peeling tank 6, washing tank, washing tank, cleaner tank, etc.). Is immersed. In addition, the guide rails 10-13 comprise one annular guide rail in the state which the lifting guide rails 10 and 12 shown in FIG. 15 fell.

도 14 ,15에 도시하는 승강 가이드 레일(12)의 강하에 의해 판 모양 피가공물 W는 도금조(2)의 침지 위치(도 14의 (x)위치)에 있어서 처리액 안으로 안내되고, 처리액에 담긴 판 모양 피가공물 W은 도금조(2)를 이동시킨다.The plate-shaped workpiece W is guided into the processing liquid at the immersion position (the position in FIG. 14) of the plating bath 2 by the drop of the elevating guide rail 12 shown in FIGS. 14 and 15. The plate-like workpiece W contained therein moves the plating bath 2.

상기 랙리스 타입의 표면처리장치(300)에 이용되는 반송용 행거(15)는, 도 9에 나타나 있는 바와 같이, 판 모양 피가공물 W를 지지하는 클램프(48)를 복수 구비한 피처리물 지지 부재(47)와, 고정 가이드 레일(11)에 대하여 슬라이드 접촉하는 슬라이딩 부재(35)와, 이들을 연결하는 연결부재(44)를 가지고 있다. 반송용 행거(15)는 상기 클램프(48)에 의해 판 모양 피가공물 W의 상단부를 지지한다.As shown in FIG. 9, the conveyance hanger 15 used for the said rackless type surface treatment apparatus 300 supports to-be-processed object which was equipped with the clamp 48 which supports the plate-shaped workpiece W. As shown in FIG. It has the member 47, the sliding member 35 which slide-contacts with respect to the fixed guide rail 11, and the connection member 44 which connects these. The conveyance hanger 15 supports the upper end of the plate-shaped workpiece W by the clamp 48.

그런데, 상기와 같은 랙리스 타입의 표면처리 장치에서는 균일한 도금 품질과 균일한 도금 막두께를 실현하는 것을 목적으로 하여 도금조 내에 있어서 판 모양 피가공물 W의 양측에 배치된 분출 수단으로부터의 도금액 분류를 판 모양 피가공물 W에 대하여 닿도록 처리하고 있다. 그러나, 랙을 사용하지 않기 때문에 판 모양 피가공물 W가 반송 중에 흔들려 전극과의 거리가 일정하게 되지 않아서 도금 막두께가 불균일하게 되거나 판 모양 피가공물 W의 단부에 전류가 집중하여 판 모양 피가공물 W 단부의 도금 막두께가 이상으로 두꺼워 지는 경우가 있었다.By the way, in the rackless type surface treatment apparatus as described above, the plating liquid classification from the jetting means arranged on both sides of the plate-shaped workpiece W in the plating bath for the purpose of realizing uniform plating quality and uniform plating film thickness. Is processed so as to touch the plate-shaped workpiece W. However, since the plate-shaped workpiece W is shaken during transportation because the rack is not used, the distance from the electrode is not constant, resulting in uneven plating thickness or current concentrated at the end of the plate-shaped workpiece W. The plating film thickness of the edge part might become thick more than that.

이 때문에, 랙리스 타입의 표면처리 장치에서는 판 모양 피가공물 W의 흔들림을 억제하는 것과 판 모양 피가공물 W의 단부에 전류가 집중하지 않도록 하는 것이 큰 과제로 되어 있다.For this reason, in a rackless type surface treatment apparatus, it is a big problem to suppress shaking of the plate-shaped workpiece W and to prevent an electric current from concentrating on the end of the plate-shaped workpiece W.

그래서, 상기 특허문헌 1은 판 모양 피가공물 W 전후단부로의 전류집중을 방지하기 위하여, 도금조(2)안에 있어서 전후의 판 모양 피가공물 W의 거리를 소정거리(예를 들면 5mm)가 되는 위치까지 신속히 전송하여 간격조정을 행하고 있다. 또한 도금조 등의 표면처리조 내에 판 모양 피가공물 W의 흔들림을 방지하는 테프론(등록상표)제의 선상체 가이드를 설치하거나, 판 모양 피가공물 W의 단부로의 전류집중을 방지하는 차폐판을 설치하는 등의 방법이 실시되고 있다(일본국 공개특허공보 특개 2000-178784호 공보(특허문헌2), 일본국 공개특허공보 특개 2002-13000호 공보(특허문헌3)).Then, the said patent document 1 makes the distance of the plate-shaped workpiece W before and behind in the plating tank 2 into a predetermined distance (for example, 5 mm) in order to prevent the current concentration to the plate-shaped workpiece W front-and-back end part. The distance is quickly adjusted to the position. In addition, a linear plate made of Teflon (registered trademark) for preventing the shaking of the plate-shaped workpiece W in a surface treatment tank such as a plating bath, or a shielding plate for preventing current concentration to the end of the plate-shaped workpiece W A method such as a provision is carried out (Japanese Patent Laid-Open No. 2000-178784 (Patent Document 2) and Japanese Laid-Open Patent Publication No. 2002-13000 (Patent Document 3)).

또한, 두께가 0.1mm이하인 프린트 기판(이하, 박판 기판이라고 한다)을 판 모양 피가공물로 했을 경우에는 각 처리조 내로 판 모양 피가공물 W의 침지를 원활하게 행하는 것을 목적으로 하여, 도 16에 나타나 있는 바와 같은 안내 가이드 등이 조 내에 설치하는 것이 제안되고 있다(일본국 공개특허공보 특개 2004-346391호 공보(특허문헌4)).In the case where a printed substrate having a thickness of 0.1 mm or less (hereinafter referred to as a thin substrate) is used as a plate-shaped workpiece, it is shown in FIG. 16 for the purpose of smoothly immersing the plate-shaped workpiece W into each processing tank. It is proposed to arrange such a guide guide and the like in a tank (Japanese Patent Laid-Open No. 2004-346391 (Patent Document 4)).

특허문헌 4에 도시하는 안내 가이드는 박판 기판의 강하 위치에 한 쌍의 정류부재(131)(경사 하강류판(131a, 131b)으로 이루어진다)를 배치한 것이다. 도 16에 나타나 있는 바와 같이 경사 하강류판(131a, 131b)은 그 상부측을 대략 V자 모양으로 형성한 것이며, 경사 하강류판(131a, 131b)의 상단부 근방을 따라 분출관(132)이 설치된다. 또한, 경사 하강류판(131a, 131b)의 하부에는 흡액관(133)이 설치되고 있고, 흡액관(133)은 흡인한 도금액을 분출관(132)으로부터 분출시키는 것이다. 이에 따라 경사 하강류판(131a, 131b)으로부터 분출하여 아래쪽을 향하는 흐름과 함께 박판 기판을 신속하게 유도할 수 있다.The guide guide shown in patent document 4 arrange | positions a pair of rectifying member 131 (it consists of inclination falling flow plates 131a and 131b) in the fall position of a thin board | substrate. As shown in FIG. 16, the inclined downward flow plates 131a and 131b have an upper side formed in a substantially V-shape, and an ejection pipe 132 is provided along the upper end of the inclined downward flow plates 131a and 131b. . Further, a liquid absorbing tube 133 is provided below the inclined downward flow plates 131a and 131b, and the liquid absorbing tube 133 ejects the sucked plating liquid from the spray pipe 132. As a result, the thin plate substrate can be promptly guided along with the flow toward the bottom by ejecting from the inclined downward flow plates 131a and 131b.

특허문헌 1 일본국 공개특허공보 특개 2002-363796호 공보Patent Document 1: Japanese Unexamined Patent Publication No. 2002-363796

특허문헌 2 일본국 공개특허공보 특개 2000-178784호 공보Patent Document 2: Japanese Unexamined Patent Publication No. 2000-178784

특허문헌 3 일본국 공개특허공보 특개 2002-13000호 공보Patent Document 3: Japanese Unexamined Patent Publication No. 2002-13000

특허문헌 4 일본국 공개특허공보 특개 2002-363796호 공보Patent Document 4 Japanese Unexamined Patent Publication No. 2002-363796

그러나, 상기와 같은 종래의 기술에서는 판 모양 피가공물 W 전후단부의 전류집중을 방지할 수는 있지만, 도금액의 분류에 의해 균일한 품질을 달성하면서 판 모양 피가공물 W의 상하 양단부로의 전류집중을 방해하여 균일한 도금 막두께를 달성할 수 없는 경우가 있었다.However, in the conventional technique as described above, although the current concentration at the front and rear ends of the plate-shaped workpiece W can be prevented, the current concentration to the upper and lower ends of the plate-shaped workpiece W can be prevented while achieving uniform quality by the classification of the plating liquid. There was a case where it was possible to interfere and to achieve a uniform plating film thickness.

예를 들면, 특허문헌 2, 3은 루버에 의해 도금액 분류를 정류하여 균일한 도금 품질로 하는 것을 도모하고 있지만, 상기 루버에 의해 필요이상의 전류차폐 효과가 작용하는 경우가 있어서, 도금 효율이 나쁘거나 도금 품질이 나빠지는 경우가 있다. 또한, 판 모양 피가공물 W의 하단부에 차폐판을 구비하고 있지만, 전류의 유입이 발생하는 등으로 충분히 전류차폐 효과를 얻을 수 없는 경우가 있으며, 판 모양 피가공물 W의 상단부 및 하단부에 전류가 집중하여 도금 막두께가 변동할 우려가 있다.For example, Patent Documents 2 and 3 aim to achieve a uniform plating quality by rectifying the plating liquid classification with a louver. However, the louver may act as a current shielding effect more than necessary, resulting in poor plating efficiency or plating. The quality may deteriorate. In addition, although a shielding plate is provided at the lower end of the plate-shaped workpiece W, the current shielding effect may not be sufficiently obtained due to inflow of current, and the current is concentrated at the upper end and the lower end of the plate-shaped workpiece W. There is a possibility that the plating film thickness may fluctuate.

또한, 판 모양 피가공물 W의 흔들림 방지를 위해 테프론제 선조체를 가이드로 하여 이용하고 있지만, 테프론제 선조체는 판 모양 피가공물 W과 접촉하여 끊어지기 쉽고, 그 결과 판 모양 피가공물 W의 흔들림을 방지 할 수 없는 경우가 있었다. 또한, 끊어지지 않도록 상기 테프론제 선조체에 금속코어재료를 설치하는 경우도 있지만, 테프론 수지가 벗겨져서 금속코어재료가 노출하면 상기와 같이 노출한 금속코어재료에 판 모양 피가공물 W가 닿아 스크래치가 생기거나, 금속코어재료에 부착된 도금이 처리액 안에 혼입하여 도금 품질이 나빠지는 경우가 있었다. 특히, 판 모양 피가공물 W가 두께가 0.1mm이하의 박판 기판의 경우 상기 도금 분류에 의해 용이하게 흔들림이나 왜곡이 발생하기 쉬우며, 판 모양 피가공물 W과 미끄럼 접촉하면서 진행하므로 스크래치가 발생하기 쉽다.In addition, the Teflon filigree is used as a guide to prevent the shaking of the plate-shaped workpiece W, but the teflon filigree is easily broken in contact with the plate-shaped workpiece W, and as a result, the shake of the plate-shaped workpiece W is prevented. I could not do it. In addition, a metal core material may be provided on the teflon-like structure so as not to be cut off, but when the teflon resin is peeled off and the metal core material is exposed, the plate-shaped workpiece W may come into contact with the exposed metal core material and scratches may occur. In some cases, plating adhered to the metal core material was mixed in the treatment liquid, resulting in poor plating quality. Particularly, in the case of a thin plate substrate having a thickness of 0.1 mm or less, the plate-shaped workpiece W is easily shaken or distorted by the plating classification, and the plate-shaped workpiece W is in sliding contact with the plate-shaped workpiece W, so it is easy to cause scratches. .

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하고, 랙리스 타입의 전기도금 등의 표면처리장치(특히, 프린트 기판 등의 판 모양 피가공물을 수직상태로 지지하여 반송하는 전기도금 장치)에 있어서, 프린트 기판, 특히 두께 0.1mm이하의 얇은 프린트 기판 등의 판 모양 피가공물에 대하여 상처를 내거나 하지 않고 안전하게 반송이나 침지를 할 수 있고, 또한 균일한 도금 품질 및 도금 막두께를 달성할 수 있는 도금조를 제공하는 것을 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention solves the above problems, and in a surface treatment apparatus such as a rackless type electroplating (in particular, an electroplating apparatus for supporting and conveying a plate-like workpiece such as a printed circuit board in a vertical state), the printed board In particular, it provides a plating bath that can be safely transported or immersed without damaging plate-shaped workpieces such as thin printed boards having a thickness of 0.1 mm or less, and can achieve uniform plating quality and plating film thickness. It aims to do it.

본 발명의 복수의 독립한 측면을 이하에 나타낸다.Several independent aspects of the present invention are shown below.

(1)본 발명의 도금조는 판 모양 피가공물을 전기도금하기 위한 도금조이며,(1) The plating bath of the present invention is a plating bath for electroplating plate-like workpieces,

판 모양 피가공물의 이동 방향으로 연장하여 설치되고, 처리액을 유지한 처리조 본체와,A treatment tank main body which extends in the moving direction of the plate-shaped workpiece and holds the treatment liquid;

양극 수단과,With anode means,

처리조 본체의 측면에서 상기 판 모양 피가공물을 향해 처리액을 분출하는 분출 수단과,A jetting means for jetting the treatment liquid toward the plate-shaped workpiece from the side of the treatment tank main body;

처리조 본체의 내부에 있어서, 이동하는 상기 판 모양 피가공물을 양측에서 끼우도록, 처리조 본체의 상부로부터 하부에 걸쳐 또는 상기 판 모양 피가공물의 진행 방향에 연속하여, 회전가능하게 설치된 복수의 롤러를 가지는 규제 롤러 수단과,A plurality of rollers rotatably installed in the processing tank main body so as to sandwich the plate-shaped workpiece to be moved from both sides, from the top to the bottom of the processing tank main body or continuously in the advancing direction of the plate-shaped workpiece. Regulating roller means having,

상기 판 모양 피가공물의 단부에 전류가 집중하는 것을 방지하는 전류차폐 수단을 구비한 것을 특징으로 한다.And a current shielding means for preventing current from concentrating on the end of the plate-shaped workpiece.

따라서, 규제 롤러 수단에 의해 판 모양 피가공물의 직립성을 유지하고 있다. 또한, 롤러를 사용하고 있기 때문에 판 모양 피가공물에 스크래치가 생기지 않는다. 이에 따라 균일한 처리를 가능하게 하고 있다.Therefore, the uprightness of a plate-shaped workpiece is maintained by the regulation roller means. Moreover, since a roller is used, a scratch does not arise in a plate-shaped workpiece. This enables uniform processing.

(2)본 발명의 도금조에서, 상기 규제 롤러 수단은 상하 방향으로 복수의 롤러를 배치한 롤러 입설체를 상기 판 모양 피가공물의 진행 방향으로 복수개 설치한 것이며, 상기 분출 수단의 분출 위치에 있어서는 인접하는 롤러 입설체의 간격을 다른 부위보다도 넓게 한 것을 특징으로 한다.(2) In the plating bath of the present invention, the regulating roller means is provided with a plurality of roller fitting bodies in which a plurality of rollers are arranged in the vertical direction in the advancing direction of the plate-shaped workpiece, and at the ejection position of the jetting means. It characterized by making the space | interval of adjoining roller dents wider than another site | part.

따라서, 분출 수단에 의해 판 모양 피가공물(특히, 두께 0.1mm이하의 박판 모양 피가공물)에 대하여 처리액을 균일하게 공급함과 동시에, 규제 롤러 수단에 의해 판 모양 피가공물의 직립성을 유지하고 있다. 또한, 롤러를 사용하고 있기 때문에 판 모양 피가공물에 스크래치가 생기지 않는다. 이에 따라 균일한 처리를 가능하게 하고 있다.Therefore, the processing liquid is uniformly supplied to the plate-shaped workpiece (particularly, the thin workpiece having a thickness of 0.1 mm or less) by the jetting means, and the uprightness of the plate-shaped workpiece is maintained by the regulating roller means. Moreover, since a roller is used, a scratch does not arise in a plate-shaped workpiece. This enables uniform processing.

(3)본 발명의 도금조는 상기 분출 수단의 분출 위치에 있어서 상기 판 모양 피가공물의 하단부 부근에 이동하는 상기 판 모양 피가공물을 양측에서 끼우도록 기판단부 빠짐 방지부재를 설치한 것을 특징으로 한다.(3) The plating bath of the present invention is characterized in that a substrate end detachment preventing member is provided so as to sandwich the plate-like workpiece moving near the lower end of the plate-like workpiece at the ejection position of the jetting means from both sides.

따라서, 판 모양 피가공물(특히, 두께 0.1mm이하의 박판 모양 피가공물)의 하단부에 있어서의 구부러짐을 적절하게 방지할 수 있다.Therefore, the bending at the lower end of the plate-shaped workpiece (particularly, the plate-shaped workpiece of 0.1 mm or less in thickness) can be appropriately prevented.

(4)본 발명의 도금조는 상기 규제 롤러 수단이 배치되는 영역에 있어서, 상기 롤러를 소정 단위 면적당 적어도 1개 배치한 것을 특징으로 한다.(4) The plating bath of the present invention is characterized by arranging at least one roller per predetermined unit area in a region where the regulating roller means is arranged.

따라서, 판 모양 피가공물(특히, 두께 0.1mm이하의 박판 모양 피가공물)의 진행 방향 및 상하 방향의 흔들림이나 왜곡을 방지할 수 있고, 판 모양 피가공물과 양극간 거리를 일정하게 유지할 수 있다. 이에 따라 균일한 도금 막두께를 얻을 수 있다.Therefore, it is possible to prevent shaking and distortion in the advancing direction and the vertical direction of the plate-shaped workpiece (particularly, the thin-shaped workpiece of 0.1 mm or less in thickness), and to maintain a constant distance between the plate-shaped workpiece and the anode. Thereby, uniform plating film thickness can be obtained.

(5)본 발명의 도금조에서, 상기 규제 롤러 수단은 상하 방향으로 복수의 롤러를 배치한 롤러 입설체를 상기 판 모양 피가공물의 진행 방향으로 복수개 설치한 것이며, 상기 롤러 입설체에 있어서의 상기 롤러의 상하 간격을 50∼100mm으로 배치한 것을 특징으로 한다.(5) In the plating bath of the present invention, the regulating roller means is provided with a plurality of roller tongues in which a plurality of rollers are arranged in an up and down direction in the advancing direction of the plate-like workpiece, and in the roller tongues It is characterized by arrange | positioning the vertical space | interval of a roller at 50-100 mm.

따라서, 판 모양 피가공물(특히, 두께 0.1mm이하의 박판 모양 피가공물) 상하방향의 흔들림이나 왜곡을 방지할 수 있고 직립성을 유지할 수 있다. 이에 따라 판 모양 피가공물과 양극간 거리를 일정하게 유지 할 수 있고, 균일한 도금 막두께를 얻을 수 있다.Therefore, the shaking and distortion of the plate-shaped workpiece (particularly, the sheet-shaped workpiece of 0.1 mm or less in thickness) in the vertical direction can be prevented and the uprightness can be maintained. Thereby, the distance between a plate-shaped workpiece and an anode can be kept constant, and uniform plating film thickness can be obtained.

(6)본 발명의 도금조에서, 상기 규제 롤러 수단은 상하 방향으로 복수의 롤러를 배치한 롤러 입설체를 상기 판 모양 피가공물의 진행 방향으로 복수개 배치한 것이며, 상기 롤러 중 판 모양 피가공물의 하단으로부터 50mm를 넘는 높이에 배치되는 것은 롤러 입설체간 상호에 있어서 롤러의 상하 위치를 다르게 하도록 배치한 것을 특징으로 한다.(6) In the plating bath of the present invention, the regulating roller means is a plurality of roller fitting bodies having a plurality of rollers arranged in a vertical direction in a traveling direction of the plate-shaped workpiece, wherein the plate-shaped workpiece of the roller It is characterized in that arranged at a height of more than 50mm from the lower end to arrange the up and down positions of the roller in the roller standing body mutually different.

따라서, 롤러에 의해 일정 높이에서 전류차폐 효과가 작용하는 것을 방지 할 수 있다. 이에 따라 도금 얼룩이 발생하는 것을 방지할 수 있고, 균일한 도금이 가능하게 된다.Therefore, it is possible to prevent the current shielding effect from working at a certain height by the roller. As a result, plating unevenness can be prevented from occurring, and uniform plating is possible.

(7)본 발명의 도금조는, 상기 전류차폐 수단이 상기 판 모양 피가공물의 상단부에 전류가 집중하는 것을 방지하는 상부 차폐판 및 / 또는 하단부로 전류가 집중하는 것을 방지하는 하부 차폐판을 구비하는 것을 특징으로 한다.(7) The plating bath of the present invention includes an upper shielding plate for preventing current from concentrating on the upper end of the plate-shaped workpiece and / or a lower shielding plate for preventing current from concentrating on the lower end. It is characterized by.

따라서, 판 모양 피가공물의 상단부, 하단부 양쪽으로의 전류집중을 방지할 수 있다. 이에 따라 도금 막두께를 균일하게 하는 것이 가능하게 된다.Therefore, it is possible to prevent current concentration on both the upper end and the lower end of the plate-shaped workpiece. As a result, the plating film thickness can be made uniform.

(8)본 발명의 도금조는, 상기 상부 차폐판 및 / 또는 하부 차폐판이 상기 판 모양 피가공물과 상기 양극 수단 사이에 복수개 배치된 차폐판으로 구성되고, 상기 복수개 배치된 차폐판을 상기 판 모양 피가공물과의 겹침이 상기 판 모양 피가공물에 가까울 정도로 작게 되도록 배치한 것을 특징으로 한다.(8) The plating bath of the present invention is composed of a shielding plate in which a plurality of the upper shielding plate and / or a lower shielding plate is disposed between the plate-like workpiece and the anode means, and the plurality of shielding plates arranged in the plate-like It is arrange | positioned so that the overlap with a workpiece may become small enough to be close to the said plate-shaped workpiece.

따라서, 1개 만의 차폐판에서 발생하는 전류의 유입 현상을 방지할 수 있다. 이에 따라 전류차폐할 수 있는 영역(버리는 값)이 작은 판 모양 피가공물인 경우에도, 도금 막두께를 균일하게 할 수 있다. 또한, 전류값를 감소시키지 않고 전류차폐 효과를 충분히 얻을 수 있으므로 생산성을 높게 할 수 있다.Therefore, the inflow phenomenon of the electric current which arises in only one shielding board can be prevented. Thereby, even if it is a plate-shaped workpiece | work which has a small area | region (a discarding value) which can be current-blocked, plating film thickness can be made uniform. In addition, since the current shielding effect can be sufficiently obtained without reducing the current value, the productivity can be increased.

(9)본 발명의 도금조는, 상기 복수개 배치된 차폐판이 일체로 구성되어 승강 가능한 것을 특징으로 한다.(9) The plating bath of the present invention is characterized in that the plurality of shield plates arranged in a plurality thereof are integrally constituted and liftable.

이에 따라 판 모양 피가공물의 사이즈가 바뀌어도 도금 막두께를 균일하게 할 수 있다.As a result, even if the size of the plate-shaped workpiece is changed, the plating film thickness can be made uniform.

본 발명은 이하에 나타나 있는 바와 같은 독립된 측면도 가지고 있다.The present invention also has independent aspects as shown below.

(a) 본 발명에 따른 판 모양 피가공물 침지 장치는 판 모양 피가공물을 처리액에 침지시키기 위한 처리조와 상기 처리조로 강하하는 판 모양 피가공물을 안내하기 위한 기판 가이드이며, 소정의 간격을 두어 평행하게 배치한 하부 가이드판과, 연직 상부에 간격이 넓어지도록 테이퍼 모양으로 배치하고 홈 구멍을 배치한 상부 가이드판을 구비하고 있으며, 상부 기판 가이드의 선단을 액체 표면으로부터 돌출시키고 상기 홈 구멍을 처리액에 침지시켜서 배치한 기판 가이드와 상기 기판 가이드의 외측에 배치한 액류 발생기를 구비한 것을 특징으로 한다.(a) The plate-like workpiece immersion apparatus according to the present invention is a substrate guide for guiding a plate-like workpiece descending into the treatment tank and a treatment tank for immersing the plate-shaped workpiece in the treatment liquid, parallel to a predetermined interval And a lower guide plate, which is arranged in a vertical manner, and an upper guide plate, which is arranged in a tapered shape so as to have a wider gap in the vertical upper part, and has a groove hole, and protrudes the tip of the upper substrate guide from the surface of the liquid, And a liquid flow generator disposed outside of the substrate guide.

이에 따라 기판 가이드 외측으로부터의 액류를 홈 구멍을 통해 기판 가이드내의 아래쪽으로 이끄는 것이 가능하게 되고 기판 가이드를 따라 원활하게 판 모양 피가공물을 안내할 수 있다. 특히, 처리액이 계면활성제 등의 역발포성의 물질을 포함하는 산성 클리너의 경우에는 액체 표면에 생긴 기포에 의한 도금 처리의 품질 저하를 방지하면서 원활하게 판 모양 피가공물을 안내할 수 있다.As a result, the liquid flow from the outside of the substrate guide can be led downward in the substrate guide through the groove hole, and the plate-shaped workpiece can be smoothly guided along the substrate guide. In particular, in the case of the acidic cleaner in which the treatment liquid contains a reverse-foaming substance such as a surfactant, it is possible to smoothly guide the plate-shaped workpiece while preventing the deterioration of the plating treatment due to bubbles generated on the liquid surface.

(b) 본 발명에 따른 판 모양 피가공물 침지 장치는, 액류 발생기가, 분류를 상기 홈 구멍을 향해서 대략 수평방향으로 분사하는 스파저 또는 처리조 내의 대략 중간 높이에 설치된 기포 발생관인 것을 특징으로 한다.(b) The plate-like workpiece immersion apparatus according to the present invention is characterized in that the liquid flow generator is a bubble generating tube provided at a substantially middle height in a sparger or a treatment tank for spraying jets in a substantially horizontal direction toward the groove hole. .

이에 따라 기판 가이드내의 액체 표면에 기포를 발생시키지 않는 상태로 홈 구멍을 향해 대략 수평방향으로 분사된 스파저로부터의 액류를 홈 구멍을 통해 기판 가이드내의 아래쪽으로 이끄는 것이 가능하며, 기판 가이드를 따라 원활하게 판 모양 피가공물을 안내 할 수 있다.As a result, the liquid flow from the sparger injected in the substantially horizontal direction toward the groove hole can be led downward through the groove hole downward in the substrate guide without generating bubbles on the surface of the liquid in the substrate guide. It can guide the plate-shaped workpiece.

(c) 본 발명에 따른 판 모양 피가공물 침지 장치는, 액류 발생기가 분류를 상기 홈 구멍의 상부를 향해서 수평방향보다도 상부에 분사하는 스파저인 것을 특징으로 한다.(c) The plate-like workpiece immersion apparatus according to the present invention is characterized in that the liquid flow generator is a sparger for jetting jets toward the upper portion of the groove hole above the horizontal direction.

이에 따라 기판 가이드내의 액체 표면에 기포를 발생시키지 않는 상태로 분류를 상기 홈 구멍의 상부를 향해 수평방향보다도 상부에 분사된 스파저로부터의 액류를 홈 구멍을 통해 기판 가이드내의 아래쪽으로 이끄는 것이 가능하게 되고, 기판 가이드를 따라 보다 원활하게 판 모양 피가공물을 안내할 수 있다.Thereby, it is possible to draw the liquid flow from the sparger sprayed on the upper part of the groove hole above the horizontal direction without causing air bubbles on the surface of the liquid in the substrate guide, through the groove hole, to guide the liquid flow downward in the substrate guide. As a result, the plate-like workpiece can be guided more smoothly along the substrate guide.

(d) 본 발명에 따른 판 모양 피가공물 침지 장치는, 액류 발생기가 기체를 상부로 토출 하는 기포발생관인 것을 특징으로 한다.(d) The plate-like workpiece immersion apparatus according to the present invention is characterized in that the liquid flow generator is a bubble generating tube for discharging gas upward.

이에 따라 기판 가이드내의 액체 표면에 기포를 발생시키지 않는 상태로, 기체를 상부로 토출하는 기포발생관으로부터의 액류를 홈 구멍을 통해 기판 가이드내의 아래쪽으로 이끄는 것이 가능하게 되고, 기판 가이드를 따라 원활하게 판 모양 피가공물을 안내하는 것을 간단한 구조로 실현할 수 있다.As a result, the liquid flow from the bubble generating tube for discharging gas to the upper side can be led downward through the groove hole in the liquid state in the substrate guide to the bottom of the substrate guide, and smoothly along the substrate guide. Guiding the plate-shaped workpiece can be realized with a simple structure.

(e) 본 발명에 따른 판 모양 피가공물 침지 방법은, 소정의 간격을 두고 평행하게 배치한 하부 가이드판과 연직 상부에 간격이 넓어지도록 테이퍼 모양으로 배치하고 홈 구멍을 배치한 상부 가이드판을 구비한 기판 가이드를 사용하여 처리조로 강하하는 판 모양 피가공물을 안내하는 판 모양 피가공물 침지 방법으로서, 기판 가이드를 구성하는 상부 기판 가이드의 선단을 액체 표면으로부터 돌출시키고, 상기 홈 구멍을 처리액에 침지시켜서 상기 기판 가이드를 배치하며, 상기 기판 가이드의 외측 또는 처리액의 액체 표면 아래에 배치한 액류 발생기에 의해 액류를 발생시키고, 상기 판 모양 피가공물을 처리조로 강하하여 처리액에 침지시키는 것을 특징으로 한다.(e) The plate-like workpiece immersion method according to the present invention includes a lower guide plate arranged in parallel at a predetermined interval and an upper guide plate arranged in a tapered shape so as to have a wider gap in the vertical upper part and a groove hole. A plate-shaped workpiece immersion method for guiding a plate-shaped workpiece descending to a treatment tank by using a substrate guide, wherein the tip of the upper substrate guide constituting the substrate guide is projected from the liquid surface, and the groove hole is immersed in the treatment liquid. And disposing the substrate guide, generating liquid flow by a liquid flow generator disposed outside the substrate guide or below the liquid surface of the processing liquid, and dripping the plate-shaped workpiece into the processing tank to immerse it in the processing liquid. do.

이에 따라 기판 가이드 외측에서의 액류를 홈 구멍을 통해 기판 가이드내의 아래쪽으로 이끄는 것이 가능하게 되고, 기판 가이드를 따라 원활하게 판 모양 피가공물을 안내할 수 있다. 특히, 처리액이 도금 처리액인 경우에는 액체 표면에 생긴 기포에 의한 도금 처리의 품질 저하를 방지하면서 원활하게 판 모양 피가공물을 안내할 수 있다.As a result, the liquid flow from the outside of the substrate guide can be led downward in the substrate guide through the groove hole, and the plate-shaped workpiece can be guided smoothly along the substrate guide. In particular, when the treatment liquid is a plating treatment liquid, it is possible to smoothly guide the plate-shaped workpiece while preventing the deterioration of the plating treatment due to bubbles generated on the liquid surface.

그 밖의 목적, 사용 및 효과는 이하의 도면이나 상세한 설명을 참조할 경우 당업자에 있어서 자명할 것이다.Other objects, uses and effects will be apparent to those skilled in the art upon reference to the following drawings or detailed description.

본 발명은 종래 기술에 의한 문제점을 해결하고, 랙리스 타입의 전기도금 등의 표면처리장치(특히, 프린트 기판 등의 판 모양 피가공물을 수직상태로 유지하여 반송하는 전기도금 장치)에 있어서, 프린트 기판, 특히 두께 0.1mm이하의 얇은 프린트 기판 등의 판 모양 피가공물에 대하여 상처를 내거나 하지 않고 안전하게 반송이나 침지를 할 수 있고, 또한 균일한 도금 품질 및 도금 막두께를 달성할 수 있는 효과가 있다.The present invention solves the problems caused by the prior art, and prints in a surface treatment apparatus such as rackless type electroplating (especially an electroplating apparatus for holding and conveying a plate-shaped workpiece such as a printed board in a vertical state). The substrate, in particular, plate-shaped workpieces such as thin printed substrates having a thickness of 0.1 mm or less can be safely transported or immersed without injuring them, and it is possible to achieve uniform plating quality and plated film thickness. .

도 1은 도금조(2)(도 14)의 α-α단면을 도시한 도면이다.
도 2는 도 1의 β방향에서 본 도금조(2)안의 구조를 도시한 도면이다.
도 3은 도 1의 γ방향에서 본 도금조(2)의 평면도를 도시한 도면이다.
도 4는 도 1의 β방향에서 본 롤러 입설체의 상세도이다
도 5는 빠짐 방지부재(122)(122a,122b)의 상세를 도시한 도면이다.
도 6은 기판침지 장치(600)의 구조를 도시하는 상세도이다.
도 7은 기판 가이드(62)의 구조를 도시하는 사시도이다.
도 8은 분류 노즐(64)의 상세를 도시한 도면이다.
도 9는 반송용 행거(15)의 구조를 도시한 도면이다.
도 10은 반송용 행거(15)의 중앙 단면도면이다.
도 11은 승강 가이드 레일(10)의 상부에 설치되는 평면 간헐 반송수단(17)의 구조를 도시하는 평면도이다.
도 12는 위치 결정 반송 수단(18)의 구조를 도시한 도면이다.
도 13은 기판침지 장치의 구조를 도시한 도면이다.
도 14는 표면처리장치(300)를 윗쪽에서 본 평면도이다.
도 15는 도 14에 도시하는 표면처리장치(300)를 α방향에서 본 측면도이다.
도 16은 종래의 안내 가이드의 구조를 도시한 도면이다.
도 17은 분출 수단(302)의 구조를 도시한 도면이다
도 18은 차폐 수단(303)을 도시한 도면이다.
도 19는 보강 연결부재(216)를 박판 기판 W 측에서 본 도면이다.
도 20은 양극(102)의 구조를 도시한 도면이다.
도 21은 박판 기판 W과 차폐판이 겹치는 길이를 나타내는 도면이다.
도 22는 롤러 입설체(120)의 하부에 있어서의 구조를 도시한 도면이다.
도 23은 흔들림을 일으킨 기판 W를 반송 방향에서 본 도면이다.
도 24는 흔들림을 일으킨 기판 W를 도금조의 윗쪽에서 본 도면이다.
도 25는 롤러 입설체(120)의 상단부의 구조를 도시한 도면이다.
도 26은 롤러(116)의 수와 반송되는 박판 기판 W의 소정면적과의 관계를 도시한 도면이다.
FIG. 1 is a view showing the α-α cross section of the plating bath 2 (FIG. 14).
FIG. 2 is a diagram showing the structure in the plating bath 2 seen in the β direction of FIG. 1.
3 is a plan view of the plating bath 2 seen in the γ direction of FIG. 1.
FIG. 4 is a detailed view of the roller standing body viewed in the β direction of FIG. 1. FIG.
5 is a view showing details of the fall prevention member 122 (122a, 122b).
6 is a detailed view showing the structure of the substrate immersion apparatus 600.
7 is a perspective view showing the structure of the substrate guide 62.
8 is a diagram showing details of the dividing nozzle 64.
9 is a diagram showing the structure of the transport hanger 15.
10 is a cross sectional view of the center of the transport hanger 15.
FIG. 11: is a top view which shows the structure of the planar intermittent conveying means 17 provided in the upper part of the lifting guide rail 10. As shown in FIG.
12 is a diagram illustrating the structure of the positioning conveying means 18.
Fig. 13 is a diagram showing the structure of the substrate immersion apparatus.
14 is a plan view of the surface treatment apparatus 300 viewed from above.
FIG. 15 is a side view of the surface treatment apparatus 300 shown in FIG. 14 seen from the α direction.
16 is a view showing the structure of a conventional guide guide.
17 shows the structure of the ejecting means 302.
18 shows the shielding means 303.
19 is a view of the reinforcing connection member 216 viewed from the thin substrate W side.
20 shows the structure of the anode 102.
It is a figure which shows the length in which the thin board | substrate W and the shielding plate overlap.
FIG. 22: is a figure which shows the structure in the lower part of the roller standing body 120. As shown in FIG.
It is a figure which looked at the board | substrate W which caused the shake from the conveyance direction.
Fig. 24 is a view of the substrate W causing the shaking seen from the upper side of the plating bath.
25 is a diagram illustrating a structure of an upper end portion of the roller placing body 120.
FIG. 26: is a figure which shows the relationship between the number of rollers 116, and the predetermined area of the thin board | substrate W conveyed.

1 .도금조1. Plating tank

표면처리장치의 기본적인 구조는 도 14, 도 15와 같다. 도 14는 표면처리장치(300)를 상부에서 본 평면도이다. 도 15는 도 14에 도시하는 표면처리장치(300)를 α방향에서 본 측면도이다.The basic structure of the surface treatment apparatus is shown in FIGS. 14 and 15. 14 is a plan view of the surface treatment apparatus 300 viewed from above. FIG. 15 is a side view of the surface treatment apparatus 300 shown in FIG. 14 seen from the α direction.

도 14 및 도 15에 나타나 있는 바와 같이, 표면처리장치(300)는 프린트 기판 등의 판 모양 피가공물 W를 지지한 반송용 행거(15)를 반송하기 위한 가이드 레일(10∼13)을 구비하고 있으며, 이들의 가이드 레일을 따라 도금 전처리 공정을 행하기 위한 전처리조(1), 전기도금 공정을 행하기 위한 도금조(2), 도금 후처리 공정을 행하기 위한 회수조(3)와 수세조(4), 판 모양 피가공물 W의 분리를 행하기 위한 언로드부(5), 반송용 행거(15)에 부착된 도금을 박리하여 떨어뜨리는 박리공정(행거 복귀 공정)을 행하기 위한 박리조(6), 행거 박리후 처리 공정을 행하는 수세조(7), 판 모양 피가공물의 부착을 행하는 로드부(8)가 설치된다.As shown in FIG. 14 and FIG. 15, the surface treatment apparatus 300 is provided with the guide rails 10-13 for conveying the conveyance hanger 15 which supported the plate-shaped workpiece W, such as a printed board. A pretreatment tank 1 for carrying out the plating pretreatment process along with these guide rails, a plating tank 2 for carrying out the electroplating process, a recovery tank 3 for carrying out the plating post-treatment process, and a water washing tank (4), the peeling tank for performing the peeling process (hanger return process) which peels and drops the plating attached to the unloading part 5 for separating the plate-shaped workpiece W, and the conveyance hanger 15 ( 6), the water washing tank 7 which performs a post-hanger treatment process, and the rod part 8 which adheres a plate-shaped workpiece are provided.

도 14에 도시하는 승강 가이드 레일(10, 12)이 강하함으로써, 판 모양 피가공물 W가 각 처리조(전처리조(1), 도금조(2), 수세조(3), 회수조(4)나 박리조(6)등)안에 침지된다. 또한, 도 15에 도시하는 승강 가이드 레일(10, 12)이 강하한 상태에 있어서, 가이드 레일(10∼13)이 하나의 고리 형상 가이드 레일을 구성한다.As the elevating guide rails 10 and 12 shown in FIG. 14 descend, the plate-shaped workpiece W falls into each treatment tank (pretreatment tank 1, plating tank 2, water washing tank 3, recovery tank 4). B) dipping tank (6). In addition, in the state which the lifting guide rails 10 and 12 shown in FIG. 15 fell, the guide rails 10-13 comprise one annular guide rail.

도 1에 본 발명의 일 실시예에 의한 도금조(2)(도 14)의 α-α단면을 나타낸다. 처리조 본체(100)(후술하는 오버플로조(202), 드레인(200)포함함)에는, 도금액이 충전되어 있다. 상기 도금액이 충전된 처리조 본체(100)내에서 처리되는 판 모양 피가공물인 박판 기판 W는 반송용 행거(15)의 클램프(48)에 그 상단부가 지지되어서 매달려 있다. 반송용 행거(15)가 이동함으로써, 박판 기판 W도 처리조 본체(100)안을 이동한다.Fig. 1 shows the α-α cross section of the plating bath 2 (Fig. 14) according to the embodiment of the present invention. The treatment tank main body 100 (including the overflow tank 202 and the drain 200 described later) is filled with a plating liquid. The thin plate W, which is a plate-like workpiece processed in the treatment tank main body 100 filled with the plating liquid, is suspended by the upper end thereof supported by the clamp 48 of the transfer hanger 15. As the conveyance hanger 15 moves, the thin board | substrate W also moves in the process tank main body 100. FIG.

처리조 본체(100)에는, 도금 하는 금속이온을 공급하기 위한 양극 수단(301), 박판 기판 W를 향해서 도금액을 분출하기 위한 분출 수단(302), 박판 기판 W의 단부에 전류가 집중하지 않도록 전류를 차폐하는 차폐 수단(303), 박판 기판 W를 끼우도록 배치되어, 박판 기판 W가 처리조 본체(100) 안을 진행할 때 직립한 상태를 유지하는 규제 롤러 수단(304)이 설치된다. 또한, 양극 수단(301), 분출 수단(302), 차폐 수단(303), 규제 롤러 수단(304)의 구체적인 구성에 대해서는 이하에 설명한다.The treatment tank main body 100 includes an anode means 301 for supplying metal ions to be plated, a ejection means 302 for ejecting a plating liquid toward the thin plate substrate W, and a current so as not to concentrate current at an end portion of the thin plate substrate W. The shielding means 303 which shields | blocks and the thin board | substrate W are arrange | positioned, and the regulation roller means 304 which keeps an upright state when the thin board | substrate W advances in the process tank main body 100 is provided. In addition, the specific structure of the anode means 301, the blowing means 302, the shielding means 303, and the regulation roller means 304 is demonstrated below.

양극 수단(301)은, 도 1에 도시하는 바와 같이, 박판 기판 W의 진행 방향을 따라 소정간격을 두고 다수 설치되는 한 쌍의 양극(102, 104)과, 처리조 본체(100)에 박판 기판 W의 진행 방향을 따라 설치되어 상기 양극(102,104)을 현가(懸架)하여 통전하는 급전 레일(224)로 구성되어 있다.As shown in FIG. 1, the anode means 301 includes a pair of anodes 102 and 104 provided in a plurality with a predetermined interval along the advancing direction of the thin plate substrate W, and the thin plate substrate on the treatment tank body 100. It is provided along the advancing direction of W, and is comprised by the feed rail 224 which suspends and energizes the said anode 102,104.

분출 수단(302)은, 도 1에 도시하는 바와 같이, 도금액의 압력을 균등화하는 에덕터 박스(204)와, 양극(102, 104)보다도 박판 기판 W에 가까운 위치에서 박판 기판 W의 양측으로부터 도금액을 박판 기판 W를 향해 분출하기 위한 한 쌍의 스파저(106)와, 드레인(200) 또는 오버플로조(202)로부터 배출된 도금액을 여과 필터로 여과 처리한 후, 파이프(210)를 통해서 에덕터 박스(204)로 되돌리는 파이프(210) 및 순환 펌프(208)로 구성되어 있다.As shown in FIG. 1, the ejection means 302 has the induction box 204 which equalizes the pressure of a plating liquid, and the plating liquid from both sides of the thin board W at a position closer to the thin board W than the anodes 102 and 104. As shown in FIG. After filtering the pair of sparger 106 and the plating liquid discharged from the drain 200 or the overflow tank 202 with a filtration filter to blow out toward the thin board | substrate W, it passes through the pipe 210. The pipe 210 and the circulation pump 208 which return to the duct box 204 are comprised.

차폐 수단(303)은, 도 1에 도시하는 바와 같이, 다음 4개의 차폐판을 구비하고 있다. 박판 기판 W의 하단부에는, 박판 기판 W의 진행 방향을 따라 박판 기판 W와 근접하여 대향한 하부 기판 차폐판(108)이 설치된다. 한편, 박판 기판 W의 상단부 부근에는 마찬가지로 박판 기판 W의 진행 방향을 따라 박판 기판 W와 근접하여 대향한 상부 기판 차폐판(109)이 설치된다. 또한 양극(102)과 스파저(106) 사이와 양극(104)과 스파저(106)사이에는, 양극(102, 104)의 하단부 부근에 하부 전극 차폐판(112)이, 양극(102, 104)의 상단부 부근에 상부 전극 차폐판(113)이, 각각 박판 기판 W의 진행 방향을 따라 양극(102, 104)에 근접하여 설치된다. 또한, 차폐 수단(303)은 박판 기판 W의 사이즈에 따라 하부 기판 차폐판(108)과 하부 전극 차폐판(112)의 높이를 조정하는 높이 조정 수단(220)을 가지고 있으며, 도 1에 있어서 박판 기판 W의 좌측은 사이즈가 큰 박판 기판 W에 맞추어 높이를 낮게 한 상태를 나타내고, 우측은 사이즈가 작은 박판 기판 W에 맞추어 높이를 높게 조절한 상태를 나타낸다.As shown in FIG. 1, the shielding means 303 includes the following four shielding plates. The lower substrate shielding plate 108 is provided at the lower end of the thin substrate W in close proximity to the thin substrate W along the advancing direction of the thin substrate W. As shown in FIG. On the other hand, in the vicinity of the upper end of the thin substrate W, an upper substrate shielding plate 109 is provided similarly adjacent to the thin substrate W along the traveling direction of the thin substrate W. In addition, between the anode 102 and the sparger 106 and between the anode 104 and the sparger 106, a lower electrode shielding plate 112 is provided near the lower ends of the anodes 102 and 104, and the anodes 102 and 104. The upper electrode shielding plate 113 is provided in proximity to the anodes 102 and 104 in the advancing direction of the thin plate substrate W, respectively, near the upper end of the uppermost portion. In addition, the shielding means 303 has height adjusting means 220 for adjusting the heights of the lower substrate shielding plate 108 and the lower electrode shielding plate 112 according to the size of the thin plate substrate W. In FIG. The left side of the board | substrate W shows the state which made height low according to the big thin board | substrate W, and the right side shows the state where the height was adjusted high according to the thin board | substrate W which is small in size.

규제 롤러 수단(304)은, 도 1에 도시하는 바와 같이, 거의 박판 기판 W의 상부 부근까지 이르는 높이로 하부 기판 차폐판(108)의 윗면에 세워져 설치된 롤러 입설체(120)와, 빠짐 방지부재(122)로 구성되어 있다. 규제 롤러 수단(304)은, 상기 높이 조절 수단(220)에 의해, 하부 기판 차폐판(108) 및 하부 전극 차폐판(112)과 함께 박판 기판 W의 사이즈에 따라 높이가 조절되도록 되어 있다.As shown in FIG. 1, the regulating roller means 304 is provided with the roller standing body 120 standing up on the upper surface of the lower board | substrate shielding plate 108 at the height which reaches to the upper vicinity of the thin board | substrate W, and a fall prevention member. It consists of 122. The height regulation means 220 adjusts the height according to the size of the thin substrate W together with the lower substrate shielding plate 108 and the lower electrode shielding plate 112 by the height adjusting means 220.

롤러 입설체(120)는, 하부 기판 차폐판(108)에 세워져 설치된 샤프트(114)와, 샤프트(114) 상하방향에 걸쳐 회전가능하도록 부착된 롤러(116)를 구비하고 있다. 또한, 롤러(116)를 샤프트(114)에 고정하고, 샤프트(114)자체를 회전가능하게 해도 된다.The roller placing body 120 includes a shaft 114 that is mounted on the lower substrate shielding plate 108 and a roller 116 that is rotatably attached to the shaft 114 in the vertical direction. In addition, the roller 116 may be fixed to the shaft 114, and the shaft 114 itself may be rotatable.

구체적으로는, 도 1의 β방향에서 본 롤러 입설체의 상세도인 도 4에 나타나 있는 바와 같이, 롤러 입설체(120)는, PP등의 수지로 성형된 롤러(116)와, 상하의 롤러(116)사이에 개재시켜 상하의 롤러(116) 끼리의 거리를 조절하는 조절부재(116e)를, 각각 구비한 삽입구멍에 샤프트(114)를 삽입하여 부착하고 있으며, 샤프트(114)의 상단부근에 있어서 상기 롤러(116) 및 조절부재(116e)가 빠지지 않도록 고정부재(116g)가 부착되어 있다.Specifically, as shown in FIG. 4, which is a detailed view of the roller tongue body as viewed in the β direction of FIG. 1, the roller tongue body 120 includes a roller 116 formed of a resin such as a Pp, and an upper and lower roller ( An adjustment member 116e for adjusting the distance between the upper and lower rollers 116 is interposed between the 116 and the shaft 114 is inserted into each of the insertion holes. The shaft 114 is attached to the upper end of the shaft 114. The fixing member 116g is attached so that the roller 116 and the adjusting member 116e do not fall out.

여기에서, 고정부재(116g)는, 도 25에 나타나 있는 바와 같이, 최상단의 롤러(116)의 상단에 간격(L70)을 두고 부착되어 있다. 이에 따라 롤러(116)는 전기 도금액 안에서 부유하고, 각 롤러(116)와 조절부재(116e)가 스치는 등으로 회전 불량을 일으키는 것을 방지하며, 박판 기판 W에 롤러(116)와의 접촉으로 스크래치가 생기는 것을 방지하고 있다.Here, as shown in FIG. 25, the fixing member 116g is attached to the upper end of the roller 116 of the upper end at intervals L70. As a result, the roller 116 floats in the electroplating liquid, and prevents rotation failure due to rubbing between the rollers 116 and the adjusting member 116e, and scratches are caused by the contact with the roller 116 on the thin substrate W. It is preventing.

도 2에 도 1의 β방향에서 본 도금조(2) 내의 구조를 나타낸다. 박판 기판 W의 진행 방향C에 걸쳐 롤러 입설체(120)가 다수 설치되어 있는 것을 알 수 있다.2 shows the structure in the plating bath 2 seen in the β direction of FIG. 1. It can be seen that a large number of roller tongues 120 are provided over the traveling direction C of the thin substrate W. FIG.

도 3에 도 1의 γ방향에서 본 도금조(2)의 평면도를 나타낸다. 대향하는 롤러 입설체(120)의 사이를 박판 기판 W가 반송된다. 즉, 박판 기판 W, 롤러 입설체(120)의 롤러(116)에 규제되면서 직선상태(직립상태를 유지한 채)로 반송된다. 그런데, 상기 규제 롤러 수단(304)은 박판 기판 W가 직선상태(직립상태)를 유지하므로, 이하에 설명한 바와 같이 롤러 입설체(120) 및 롤러(116)를 배치하고 있다.3 is a plan view of the plating bath 2 seen in the γ direction of FIG. 1. The thin substrate W is conveyed between the opposing roller placing bodies 120. That is, while being regulated by the roller 116 of the thin board | substrate W and the roller fitting body 120, it is conveyed in a linear state (while maintaining an upright state). By the way, in the said regulation roller means 304, since the thin board | substrate W maintains a linear state (upright state), the roller standing body 120 and the roller 116 are arrange | positioned as demonstrated below.

우선, 롤러 입설체(120)의 배치에 관하여 설명한다. 대향하는 롤러 입설체(120)는, 도 22에 나타나 있는 바와 같이, 롤러(116)와 박판 기판 W와의 거리 L40가 1∼5mm가 되도록 배치된다(여기에서는 4mm). 1mm미만이면 박판 기판 W에 대하여 롤러(116)가 항상 접촉하는 상태가 되고, 박판 기판 W의 표면에 스크래치가 발생할 우려가 있다. 또한, 5mm를 초월하면 박판 기판 W가 상하 방향에 있어서 왜곡을 일으켜(도 23) 균일한 도금 막두께를 얻을 수 없을 우려가 있다.First, the arrangement of the roller placing body 120 will be described. As shown in FIG. 22, the opposing roller mounting body 120 is arrange | positioned so that the distance L40 of the roller 116 and the thin board | substrate W may be 1-5 mm (here 4 mm). If it is less than 1 mm, the roller 116 will always be in contact with the thin board | substrate W, and there exists a possibility that a scratch may arise on the surface of the thin board | substrate W. FIG. If the thickness exceeds 5 mm, the thin substrate W may be distorted in the vertical direction (FIG. 23), so that a uniform plating film thickness may not be obtained.

또한, 상기 실시예에서는 스파저(106)의 위치(도 4에 있어서 N으로 나타냈다)에 있어서는 롤러 입설체(120)의 간격 L3을 다른 부분의 간격 L2보다 넓게 하고 있다. 상기 실시예에서는 스파저(106)의 위치 N에서는 롤러(116)의 직경보다 큰 간격 L3을 설치하고 있다. 그 이외의 위치에서는 롤러(116)의 직경보다 작은 간격 L2로 하고 있다. 이에 따라 스파저(106)로부터 분출된 도금액의 분류에 대하여 롤러 입설체(120)가 방해되는 것을 적게 하고, 유효하게 도금액의 분류를 박판 기판 W의 표면으로 퍼지게 할 수 있다.In addition, in the said Example, in the position of the sparger 106 (shown as N in FIG. 4), the space | interval L3 of the roller standing body 120 is made wider than the space | interval L2 of another part. In the said embodiment, the space | interval L3 larger than the diameter of the roller 116 is provided in the position N of the sparger 106. As shown in FIG. At other positions, the interval L2 is smaller than the diameter of the roller 116. As a result, it is possible to reduce the disturbance of the roller placing body 120 with respect to the classification of the plating liquid ejected from the sparger 106, and to effectively spread the classification of the plating liquid onto the surface of the thin substrate W.

단, 상기한 바와 같이 큰 간격 L3으로 하면, 그 부위에 있어서 스파저(106)로부터의 분류에 의해 박판 기판 W가 구부러지게 되고, 롤러 입설체(120)사이에 절곡된 부분이 들어오게 되어 반송 불량을 일으킬 우려가 있다. 따라서, 상기 실시예에서는 롤러 입설체(120)의 하단부에 빠짐 방지부재(122a)를 중간높이로 빠짐 방지부재(122b)를 설치하도록 하고 있다. 특히, 박판 기판 W의 하단이 절곡되지 않도록 하는 빠짐 방지부재(122a)를 하단부에 설치하는 것이 중요하다.However, as mentioned above, when it is set as large space | interval L3, the thin board | substrate W will be bent by the sorting from the sparger 106 in the site | part, and the part bent between the roller standing bodies 120 will enter, and it conveys It may cause a defect. Therefore, in the above embodiment, the fall prevention member 122a is provided at the lower end of the roller placing body 120 at an intermediate height. In particular, it is important to provide a fall prevention member 122a at the lower end such that the lower end of the thin plate W is not bent.

도 5에 빠짐 방지부재(122)(122a,122b)의 상세를 나타낸다. 도 5A는 상부로부터 본 도면이며, 도 5B는 측면에서 본 도면이다. 도 5B에서 알 수 있는 바와 같이, 샤프트(114)의 하단부(하부 기판 차폐판(108)의 윗면으로부터 0∼50mm, 특히 0∼20mm의 범위: 여기에서는 5mm)에 빠짐 방지부재(122a)가 고정되어 있다. 롤러(116)가 회전가능한 데 대해 상기 빠짐 방지부재(122a)는 회전하지 않는다. 또한, 도 5A에 나타나 있는 바와 같이, 한 쌍의 빠짐 방지부재(122a) 사이에는 박판 기판 W의 반송 공간(124)이 설치된다. 이와 같이 하여, 스파저(106)의 근방에 있어서 박판 기판 W의 단부가 구부러지고, 롤러 입설체(120)사이로 들어가거나, 하부 기판 차폐판(108)로부터 벗어나게 되는 것을 방지하고 있다. 또한, 빠짐 방지부재(122b)도 빠짐 방지부재(122a)와 동일한 구조이다.5 shows details of the fall prevention members 122 (122a and 122b). 5A is a view from above, and FIG. 5B is a view from the side. As can be seen in FIG. 5B, the fall prevention member 122a is fixed to the lower end of the shaft 114 (0 to 50 mm from the top surface of the lower substrate shielding plate 108, in particular in the range of 0 to 20 mm: here 5 mm). It is. The release preventing member 122a does not rotate while the roller 116 is rotatable. 5A, the conveyance space 124 of the thin board | substrate W is provided between a pair of fall prevention member 122a. In this way, the edge part of the thin-plate board | substrate W is bent in the vicinity of the sparger 106, and is prevented from entering between the roller standing bodies 120, or coming out of the lower board | substrate shielding plate 108. As shown in FIG. In addition, the fall prevention member 122b also has the same structure as the fall prevention member 122a.

다음에 롤러(116)의 배치에 관하여 설명한다. 도 26에 나타나 있는 바와 같이, 10∼12개의 롤러 입설체(120)가 배치되는 영역에 있어서 소정면적(예를 들면 100mm×100mm)당 적어도 1개의 롤러(116)가 배치되어 있다. 여기에서, 롤러 입설체(120)가 배치되는 영역이라 함은, 도 26에 나타나 있는 바와 같이, 박판 기판 W의 진행 방향을 따라 배치된 롤러 입설체(120)를 상기 진행 방향에 대하여 직행하는 방향에서 보았을 경우의 배치 영역을 말한다. 상기 영역에 있어서, 박판 기판 W의 흔들림을 규제하는 롤러(116)가 박판 기판 W에 대하여 소정면적에 있어서 적어도 1개 접촉하도록 배치하는 것으로, 박판 기판 W에 발생하는 흔들림을 효과적으로 억제하고 있다. 소정 면적을 단위로서 롤러(116)를 배치하는 것은, 박판 기판 W의 흔들림에는 진행 방향을 향한 흔들림과 상하 방향의 흔들림이 있으므로, 상기 양쪽의 흔들림을 규제하기 위함이다. 또한, 소정면적은 최대로 100mm× 100mm으로 하는 것이 바람직하다.Next, the arrangement of the roller 116 will be described. As shown in FIG. 26, at least 1 roller 116 is arrange | positioned per predetermined area (for example, 100 mm x 100 mm) in the area | region where 10-12 roller tongues 120 are arrange | positioned. Here, the region in which the roller placing body 120 is disposed is a direction in which the roller placing body 120 disposed along the traveling direction of the thin plate substrate W goes straight with respect to the traveling direction, as shown in FIG. 26. When we look at, we say placement area. In the above region, the roller 116 that regulates the shaking of the thin substrate W is disposed so as to be in contact with the thin substrate W at least in a predetermined area, thereby effectively suppressing the shaking occurring in the thin substrate W. FIG. The roller 116 is arranged in units of a predetermined area because the shaking of the thin substrate W has a shake in the advancing direction and a shake in the up and down direction, so as to regulate both shakes. In addition, the predetermined area is preferably 100 mm x 100 mm at the maximum.

이에 따라 박판 기판 W가 도금액 분류에 의해 직립성을 잃어, 도 23이나 도 24에 나타나 있는 바와 같이 양극(102,104)으로부터의 거리가 바뀌어, 그 결과 도금 막두께가 변동하는 것을 방지하는 외에 박판 기판 W의 선단부(진행 방향을 향한 선단)가 흔들려 구부러짐으로써, 롤러 입설체(120)의 간격으로 들어가서 반송 불량을 일으키는 것을 방지할 수 있다. 또한, 도 24는 흔들림을 일으킨 박판 기판 W를 도금조의 상부에서 본 도면이다.As a result, the thin substrate W loses its uprightness due to the plating liquid classification, and the distance from the anodes 102 and 104 is changed as shown in FIG. 23 and FIG. 2-4. As a result, the thickness of the thin plate substrate W is prevented from changing. When the tip portion (the tip in the advancing direction) is shaken and bent, it can be prevented from entering the gap between the roller placing bodies 120 and causing a conveyance defect. 24 is the figure which looked at the thin board | substrate W which caused the shaking from the upper part of a plating bath.

또한, 롤러 입설체(120)에 있어서의 롤러(116) 끼리의 상하 설치 간격은 50∼100mm으로 배치하고 있다. 여기에서, 상단 설치 간격이라 함은 롤러(116)의 원판부의 상하 간격(도 4에 도시하는 L30)을 말한다. 50mm미만이면, 롤러(116)가 박판 기판 W에 대하여 전기적인 차폐 작용이 작용하여 도금 막두께가 변동되는 경우가 있다. 한편, 100mm을 넘게 되면, 롤러(116)사이에서 박판 기판 W가 절곡하여 직립성이 잃게 되어, 도 23에 나타나 있는 바와 같이 박판 기판 W가 세로방향에 있어서 양극(102, 104)과의 거리가 국부적으로 변화되어 도금 막두께가 변동하는 경우가 있다. 또한, 도 23은 흔들림을 일으킨 박판 기판 W를 반송 방향에서 본 도면이다.In addition, the vertical space | interval of the roller 116 comrades in the roller mounting body 120 is arrange | positioned at 50-100 mm. Here, the upper installation interval means the upper and lower intervals (L30 shown in FIG. 4) of the disc portion of the roller 116. If the thickness is less than 50 mm, the roller 116 may have an electric shielding action with respect to the thin substrate W, so that the plating film thickness may vary. On the other hand, when the thickness exceeds 100 mm, the thin substrate W is bent between the rollers 116, and the uprightness is lost. As shown in FIG. 23, the distance between the thin substrates W and the anodes 102 and 104 in the longitudinal direction is local. May change and plating thickness may fluctuate. 23 is the figure which looked at the thin board | substrate W which caused the shake from the conveyance direction.

또한, 도 4에 롤러 입설체(120)의 배치 상태를 나타낸다. 복수 설치된 롤러 입설체(120)의 배치에 있어서, 박판 기판 W의 진행 방향을 향해 10∼12개의 롤러 입설체(120)를 1개의 유닛으로 하고, 각 롤러(116)의 높이 방향의 위치가 서로 다르게 배치되어 있다. 예를 들면, 중앙부근의 롤러(116a)와 같은 높이 H에 위치하는 롤러는 없도록 배치되어 있다. 다른 롤러에 관해서도, 같은 높이의 것이 2개 이상 존재하지 않도록 하고 있다. 이것은, 같은 높이로 롤러(116)에 접촉함으로써, 박판 기판 W의 도금에 선모양의 「얼룩」이 생기는 것을 방지하거나, 롤러(116)에 의해 생기는 박판 기판 W표면에서의 전기적 차폐가 일정 높이로 만들어져, 그 차폐가 된 부분의 도금 막두께가 얇아지는 것을 방지하기 위함이다.In addition, the arrangement state of the roller standing body 120 is shown in FIG. In arrangement | positioning of the roller tongue body 120 provided in multiple numbers, 10 to 12 roller tongue bodies 120 are made into one unit toward the advancing direction of the thin board | substrate W, and the position of the height direction of each roller 116 mutually It is arranged differently. For example, it arrange | positions so that there may be no roller located in height H like roller 116a of the center part. Regarding the other rollers, two or more of the same height are not present. This prevents linear "stains" from occurring in the plating of the thin substrate W by contacting the roller 116 at the same height, or the electrical shielding on the surface of the thin substrate W generated by the roller 116 is at a constant height. This is to prevent the plating film thickness of the shielded portion from being thinned.

단, 하부 기판 차폐판(108)의 윗면으로부터 50mm이하인 롤러 입설체(120)의 하부에서는, 롤러(116)가 같은 높이에 위치하는 것을 허용하고 있다. 롤러 입설체(120)의 최하단의 롤러(116b)는 하부 기판 차폐판(108)의 윗면으로부터 50mm이하, 특히 20mm이하로 설치하고 있다. 이것은 도 23에 나타나 있는 바와 같이 도금액 분류에 의해 박판 기판 W의 직립성을 잃을 경우, 박판 기판 W의 하단이 높아지게 되므로, 최하단에서는 가능한 한 박판 기판 W의 하단부에 근접하여 롤러(116)를 설치하고, 박판 기판 W의 하단부가 하부 기판 차폐판(108)이 형성하는 간격으로부터 벗어나는 것을 방지하고 있다.However, in the lower part of the roller standing body 120 which is 50 mm or less from the upper surface of the lower board | substrate shielding plate 108, the roller 116 is allowed to be located in the same height. The lowest roller 116b of the roller placing body 120 is 50 mm or less, especially 20 mm or less from the upper surface of the lower substrate shielding plate 108. As shown in FIG. 23, when the uprightness of the thin substrate W is lost due to the plating liquid classification, the lower end of the thin substrate W becomes high. Therefore, at the bottom end, the roller 116 is provided as close to the lower end of the thin substrate W as possible. The lower end of the thin substrate W is prevented from deviating from the gap formed by the lower substrate shielding plate 108.

상기에서도 설명한 바와 같이, 롤러 입설체(120)는 하부 기판 차폐판(108)위에 세워져 설치되고 있으며, 하부 기판 차폐판(108)과 일체로 승강한다. 이에 따라 박판 기판 W의 사이즈에 따라 하부 기판 차폐판(108)의 높이를 조절해도 하부 기판 차폐판(108)과 롤러 입설체(120)의 최하단의 롤러(116b)나 빠짐 방지부재(122a)의 위치 관계는 변화되지 않으므로, 간단한 구조로 각종 사이즈의 박판 기판 W에 대하여 마찬가지로 기능하도록 할 수 있다.As described above, the roller standing body 120 is installed on the lower substrate shielding plate 108 and lifts up and down integrally with the lower substrate shielding plate 108. Accordingly, even if the height of the lower substrate shielding plate 108 is adjusted according to the size of the thin substrate W, the lowermost roller 116b of the lower substrate shielding plate 108 and the roller standing body 120 or the fall prevention member 122a are formed. Since the positional relationship does not change, it can be made to function similarly to the thin board | substrates W of various sizes with a simple structure.

이와 같이, 상기 실시예에 있어서의 규제 롤러 수단(304)은 전기도금의 품질향상을 위해 5개의 요소를 규제하여, 상기 롤러(116)의 배치가 결정되고 있다. 즉, i)박판 기판 W의 직립자세의 유지, ii)롤러(116)에 의한 전류차폐 효과의 억제, iii)분출 수단에 의한 도금류 분류의 효과의 유지, iv)박판 기판 W가 롤러 입설체(120)의 간격으로 들어가는 등의 반송 불량의 방지, v)롤러(116)에 의한 스크래치의 발생 방지를 달성하기 위해 롤러(116) 등의 배치가 결정되고 있다.In this way, the regulating roller means 304 in the above embodiment restricts five elements to improve the quality of electroplating, and the arrangement of the roller 116 is determined. That is, i) maintenance of the upright posture of the thin plate substrate W, ii) suppression of the current shielding effect by the roller 116, iii) maintenance of the effect of plating flow classification by the ejection means, iv) the thin substrate W Arrangement of the roller 116 etc. is decided in order to achieve the prevention of the conveyance defect, such as entering into the space | interval of 120, and the prevention of the occurrence of the scratch by the roller 116.

구체적으로는, 상기 i)를 달성하기 위하여, 롤러(116)를 소정 단위 면적(예를 들면 100mm×100mm)에 적어도 1개 배치하는 것을 기본으로 하고, 또한 보다 효과적으로 박판 기판 W의 세로방향의 휘어짐을 억제하기 위해 롤러(116)와 박판 기판 W의 간격을 1∼5m(5mm보다도 넓게 하지 않는다)로, 상하의 롤러(116)의 간격을 50∼100mm(100mm보다도 넓게 하지 않는다)로 하도록 하고 있다. 상기 ii)를 달성하기 위해서는, 상하의 롤러(116)의 간격을 50∼100mm(50mm보다도 좁게 하지 않는다)로 하고, 10∼12개의 롤러 입설체(120)상호간에 있어서 롤러(116)를 같은 상하 위치에 설치하지 않도록 하고 있다. 상기 iii)을 달성하기 위하여, 스파저(106)의 배치 위치에 있어서는 롤러 입설체(120)의 간격을 다른 부위보다도 넓게 L3으로 배치하고 있다. 상기 iv)를 달성하기 위하여, 롤러 입설체(120)의 하부에서는 같은 높이 위치에 롤러(116)가 배치되는 것을 허용하고, 상기 간격 L3으로 롤러 입설체(120)가 배치되는 위치에 빠짐 방지부재(122)를 배치하며, 롤러 입설체(120)는 스파저(106)가 배치되지 않는 위치에 있어서는 롤러(116)의 직경보다도 좁은 L2의 간격으로 배치하고 있다. 마지막으로 상기 v)를 달성하기 위하여, 최상단의 롤러(116)상단으로부터 간격을 두어 고정부재(116g)로 고정하고, 도금액 안에서 원활하게 회전할 수 있도록 하며, 또 롤러(116)와 박판 기판 W사이의 거리가 1∼5mm(1mm보다 좁게 하지 않는다)로 하고 있다.Specifically, in order to achieve the above i), at least one roller 116 is arranged in a predetermined unit area (for example, 100 mm x 100 mm), and the warpage in the longitudinal direction of the thin plate substrate W is more effective. In order to suppress this, the distance between the roller 116 and the thin plate substrate W is 1 to 5 m (not wider than 5 mm), and the distance between the upper and lower rollers 116 is 50 to 100 mm (not wider than 100 mm). In order to achieve said ii), the space | interval of the upper and lower rollers 116 shall be 50-100 mm (not narrower than 50 mm), and the rollers 116 may be the same vertical position between 10-12 roller placing bodies 120 mutually. Do not install it on. In order to achieve said iii), in the arrangement | positioning position of the sparger 106, the space | interval of the roller standing body 120 is arrange | positioned in L3 wider than another site | part. In order to achieve the above iv), the roller 116 is allowed to be disposed at the same height position in the lower portion of the roller standing body 120, and the prevention member falls into the position where the roller standing body 120 is arranged at the interval L3. 122 is arrange | positioned, and the roller standing body 120 is arrange | positioned at the space | interval of L2 narrower than the diameter of the roller 116 in the position where the sparger 106 is not arrange | positioned. Finally, in order to achieve the above v), the fixing member 116g is spaced apart from the upper end of the roller 116 at the upper end, so that it can rotate smoothly in the plating liquid, and between the roller 116 and the thin plate W Is set to 1 to 5 mm (not narrower than 1 mm).

이들의 각 조합은 규제하고자 하는 요소에 의해 적절히 선택할 수 있지만, 전부를 구비하는 것이 바람직하다.Although each combination of these can be suitably selected according to the element to be regulated, it is preferable to provide all.

도 17은 분출 수단(302)을 도시하는 도면이고, 양극 수단(301), 규제 롤러 수단(304) 및 차폐 수단(303)은 생략되고 있다. 도 17에 있어서, 분출 수단(302)은, 박판 기판 W에 대하여 스파저(106)로부터 도금액 분류를 뿜고 있다. 스파저(106)로부터 분출된 도금액은 드레인(200) 또는 오버플로조(202)로부터 처리조 본체(100)에서 배출되고, 여과 필터(209)에 의해 여과 처리가 실시된 후 순환 펌프(208)에 의해 파이프(210)를 통해서 에덕터 박스(204)로 복귀되며, 에덕터 박스(204)로 도금액의 압력이 균등화된 후 다시 스파저(106)로 복귀되어 순환하고 있다.17 is a view showing the ejecting means 302, and the anode means 301, the regulating roller means 304, and the shielding means 303 are omitted. In FIG. 17, the ejecting means 302 sprays the plating liquid classification from the sparger 106 on the thin substrate W. As shown in FIG. The plating liquid ejected from the sparger 106 is discharged from the treatment tank body 100 from the drain 200 or the overflow tank 202, and is subjected to the filtration treatment by the filtration filter 209, followed by the circulation pump 208. By the pipe 210 is returned to the duct box 204, the pressure of the plating liquid is equalized by the duct box 204 and then returned to the sparger 106 to circulate.

에덕터 박스(204)는 처리조 본체(100)의 저면에 박판 기판 W의 진행 방향을 따라 복수개 연장하여 설치되고 있으며, 도 17에 나타나 있는 바와 같이 처리조 본체(100)의 저면에 대하여 높이 조절이 가능하도록 볼트로 체결하고 있다. 에덕터 박스(204)의 측벽에는 연통 구멍이 설치되고 있고, 상기 연통 구멍을 통해 액 유통 가능하도록 파이프(210)가 접속되고 있다. 또한 에덕터 박스(204)에는 보강부재(204a)가 부착되고 있으며, 순환 펌프(208)로부터 보내져 오는 도금액의 압력에 의해 에덕터 박스(204)가 변형하여 도금액 압력을 균등화할 수 없게 되는 것을 방지하고 있다.The duct box 204 is provided in the bottom surface of the processing tank main body 100 in multiple numbers along the advancing direction of the thin-plate board | substrate W, and height adjustment with respect to the bottom surface of the processing tank main body 100 as shown in FIG. This is bolted to make it possible. A communication hole is provided in the side wall of the conductor box 204, and the pipe 210 is connected so that a liquid can flow through the said communication hole. In addition, a reinforcing member 204a is attached to the inductor box 204, and the inductor box 204 is deformed due to the pressure of the plating liquid sent from the circulation pump 208, thereby preventing the plating liquid from being equalized. Doing.

스파저(106)는, 도 17에 나타나 있는 바와 같이, 도금액을 분출하는 분류 노즐(106a)이 노즐관(106b)에 소정 간격을 두고 복수개 부착되어 구성되어 있다. 노즐관(106b)이 에덕터 박스(204)위에 세워져 설치되고, 에덕터 박스(204)와 노즐관(106b)하단은 액 유통이 가능하도록 연통 구멍에 의해 연결되고 있다. 한편, 노즐관(106b)의 상단은 박판 기판 W의 진행 방향을 따라 부착된 노즐 고정부재(212)에 설치된 구멍에 끼워지고 있으며, 도금액을 분출할 때 분출 압력에 의해 스파저(106)가 박판 기판 W와 반대 방향으로 경사지거나(쓰러지거나) 흔들리는 것을 방지하여 박판 기판 W에 대한 도금액 분류가 일정하게 되도록 하고 있다.As shown in FIG. 17, the sparger 106 is comprised so that the jet nozzle 106a which sprays a plating liquid may be attached to the nozzle pipe 106b at predetermined intervals. The nozzle tube 106b is installed on the duct box 204, and the duct box 204 and the lower end of the nozzle tube 106b are connected by a communication hole so that the liquid can flow. On the other hand, the upper end of the nozzle tube 106b is fitted into a hole provided in the nozzle fixing member 212 attached along the advancing direction of the thin plate substrate W, and the sparger 106 is thinned by the ejection pressure when ejecting the plating liquid. It is prevented from inclining (falling) or shaking in the opposite direction to the substrate W so that the plating liquid classification with respect to the thin substrate W is made constant.

분류 노즐(106a)은, 도 17에 나타나 있는 바와 같이, 박판 기판 W의 우측과 좌측의 스파저(106)에 설치하는 높이가 교대로 되어있다. 이것은 박판 기판 W 표면에 있어서 도금액 분류압에 차이를 일으켜서 박판 기판 W에 설치된 통공(쓰루홀)) 내의 액 유통을 효과적 실현하기 위함이다.As shown in FIG. 17, the jet nozzle 106a has the height provided in the sparger 106 of the right side and the left side of the thin board | substrate W by turns. This is to make a difference in plating liquid flow dividing pressure on the thin board | substrate W surface, and to implement | achieve liquid distribution effectively in the through-hole (through hole) provided in the thin board | substrate W.

도 18은 차폐 수단(303)을 도시하는 도면이며, 양극 수단(301) 및 분출 수단(302)의 일부를 생략하고 있다. 도 18에 나타나 있는 바와 같이 차폐 수단(303)은, 상부 기판 차폐판(109), 상부 전극 차폐판(113), 하부 기판 차폐판(108), 회전 기구(150)를 가지는 하부 전극 차폐수단(112), 하부 기판 차폐판(108)과 하부 전극 차폐판(112)을 일체가 되도록 접속하는 플레이트(110) 및 보강 연결부재(216), 하부 기판 차폐판(108)과 하부 전극 차폐판(112)을 일체를 승강시키는 높이 조절 수단(220) 및 높이 조절시에 하부 기판 차폐판(108)과 하부 전극 차폐판(112)을 가이드 하는 안내대(214) 및 지지기둥(155)으로 구성되어 있다.18 is a view showing the shielding means 303, and a part of the anode means 301 and the ejecting means 302 is omitted. As shown in FIG. 18, the shielding means 303 includes a lower electrode shielding means having an upper substrate shielding plate 109, an upper electrode shielding plate 113, a lower substrate shielding plate 108, and a rotation mechanism 150 ( 112, the plate 110 and the reinforcing connecting member 216, the lower substrate shielding plate 108 and the lower electrode shielding plate 112 connecting the lower substrate shielding plate 108 and the lower electrode shielding plate 112 to be integrated. ) Is composed of a height adjusting means 220 for raising and lowering the unit, and a guide 214 and a support column 155 for guiding the lower substrate shielding plate 108 and the lower electrode shielding plate 112 at the time of height adjustment. .

상부 기판 차폐판(109)과 상부 전극 차폐판(113)은, 도 18에 나타나 있는 바와 같이, 노즐 고정부재(212)에 부착되어 있다. 상부 기판 차폐판(109)과 상부 전극 차폐판(113)은 모두 도면 상하방향의 장공을 가지고, 상기 장공을 통해 노즐 고정부재(212)에 볼트로 체결되고 있으며, 각각 도면 상하방향으로 높이가 조절 가능하게 되고 있다.The upper substrate shielding plate 109 and the upper electrode shielding plate 113 are attached to the nozzle fixing member 212 as shown in FIG. 18. Both the upper substrate shielding plate 109 and the upper electrode shielding plate 113 have a long hole in the up and down direction of the drawing, and are fastened to the nozzle fixing member 212 by bolts through the long hole, and the height is adjusted in the up and down direction of the drawing, respectively. It becomes possible.

이와 같이 상부 기판 차폐판(109)과 상부 전극 차폐판(113)을 병용하는 것은 박판 기판 W의 기판단으로부터 1∼5mm라는 미소 영역에 대하여 효과적으로 전류차폐를 행하기 위함이다. 상부 기판 차폐판(109)에 의해 박판 기판 W의 상단부로의 전류집중을 국소적으로 제어하는 동시에, 상부 기판 차폐판(109)에 의해 전부 제어할 수 없는 전류가 박판 기판 W의 상단 부근으로 유입되지 않도록 상부 전극 차폐판(113)에 의해 제어하고 있다.The use of the upper substrate shielding plate 109 and the upper electrode shielding plate 113 in this manner is for effectively shielding the current in a minute region of 1 to 5 mm from the substrate end of the thin substrate W. The upper substrate shielding plate 109 locally controls the current concentration to the upper end of the thin substrate W, while a current that cannot be fully controlled by the upper substrate shielding plate 109 flows near the upper end of the thin substrate W. It is controlled by the upper electrode shielding plate 113 so as not to be prevented.

또한, 상기 실시예에서는 도 18에 나타나 있는 바와 같이, 박판 기판 W의 하단부로의 전류집중을 효과적으로 방지하기 위해 기판 하단부의 차폐판으로서 하부 기판 차폐판(108) 및 하부 전극 차폐판(112)을 가지고 있다. 하부 기판 차폐판(108)과 하부 전극 차폐판(112)을 병용하는 것은 상기 상부 기판 차폐판(109)과 상부 전극 차폐판(113)을 설치한 이유와 같다.In addition, in the above embodiment, as shown in FIG. 18, the lower substrate shielding plate 108 and the lower electrode shielding plate 112 are used as the shielding plate at the lower end of the substrate in order to effectively prevent current concentration to the lower end of the thin substrate W. As shown in FIG. Have. Using the lower substrate shielding plate 108 and the lower electrode shielding plate 112 together is the same as the reason why the upper substrate shielding plate 109 and the upper electrode shielding plate 113 are provided.

여기에서, 상기 차폐판 108과 112 및 109,113은 박판 기판 W와의 거리가 짧아지는 만큼 박판 기판 W의 단에서의 겹침(도 2 1에 도시하는 박판 기판 W와 차폐판이 겹치는 길이 : 이하, 「머리 값」이라고 한다) L60이 작아지도록 설정된다. 예를 들면, 도 21에 나타나 있는 바와 같이 박판 기판 W와의 거리가 짧은 하부 기판 차폐판(108) 쪽이 하부 전극 차폐판(112)보다도 머리 값은 크게 설정된다.Here, the shield plates 108, 112, and 109, 113 are overlapped at the ends of the thin substrate W as the distance from the thin substrate W becomes shorter (the length at which the thin substrate W and the shield plate overlap in FIG. 2 1 overlap: L60 is set to be small. For example, as shown in FIG. 21, the lower substrate shielding plate 108 having a shorter distance from the thin substrate W is set larger than the lower electrode shielding plate 112.

또한 기판 차폐판(108,109)은 박판 기판 W로부터의 거리 L50(도 22)가 1∼50mm의 범위로 설치되는 것이 바람직하다. 이에 따라 도금에 필요한 통전량을 저하시키지 않고(도금 효율이 저하한다), 박판 기판 W단부로의 전류집중을 효과적으로 방지할 수 있다.The substrate shielding plates 108 and 109 are preferably provided with a distance L50 (FIG. 22) from the thin substrate W in a range of 1 to 50 mm. As a result, current concentration to the thin-walled substrate W end can be effectively prevented without lowering the amount of current required for plating (the plating efficiency decreases).

구체적으로는, 상부 기판 차폐판(109)은 박판 기판 W의 상단부에 대하여 1∼15mm(여기에서는 10mm)로 겹치도록 설치되고, 상부 전극 차폐판(113)은 박판 기판 W의 상단부에 대하여 10∼60mm(여기에서는, 50mm)로 겹치도록 설치되어 있다. 또한 상부 기판 차폐판(109)(L자 모양의 바닥변 선단)은 박판 기판 W로부터 25mm의 거리에 설치되어 있다.Specifically, the upper substrate shielding plate 109 is provided so as to overlap 1 to 15 mm (herein, 10 mm) with respect to the upper end of the thin substrate W, and the upper electrode shielding plate 113 is 10 to 10 with respect to the upper end of the thin substrate W; It is provided so that it may overlap by 60 mm (here, 50 mm). The upper substrate shielding plate 109 (L-shaped bottom edge end) is provided at a distance of 25 mm from the thin substrate W.

한편, 하부 기판 차폐판(108)은 박판 기판 W의 하단부에 대하여 1∼10mm(여기에서는 5mm)로 겹치도록 높이가 설정되어 있다. 또한 하부 전극 차폐판(112)은, 박판 기판의 하단부에 대하여 50∼75mm(여기에서는 65mm)로 겹치도록 높이가 설정되어 있다. 또한, 하부 기판 차폐판(108)은 박판 기판 W로부터 4mm의 거리에 설치되어 있다.On the other hand, the height of the lower substrate shielding plate 108 is set so as to overlap 1-10 mm (here 5 mm) with respect to the lower end part of the thin board | substrate W. FIG. In addition, the height of the lower electrode shielding plate 112 is set so as to overlap 50-75 mm (here, 65 mm) with respect to the lower end part of a thin board | substrate. The lower substrate shielding plate 108 is provided at a distance of 4 mm from the thin substrate W.

그런데, 상기 기판 차폐판과 전극 차폐판의 머리 값의 설정이 바뀌면 전류차폐 효과도 바뀌게 된다. 그 때문에 박판 기판 W의 사이즈가 변경되어도 기판 차폐판과 전극 차폐판의 머리 값이 바뀌지 않도록, 전술한 바와 같이 하부 기판 차폐판(108) 및 하부 전극 차폐판(112)은 높이 조절 수단(220)에 의해 높이가 일체로 조정 가능하게 되어 있다.However, when the setting of the head values of the substrate shielding plate and the electrode shielding plate is changed, the current shielding effect is also changed. Therefore, as described above, the lower substrate shielding plate 108 and the lower electrode shielding plate 112 have height adjustment means 220 so that the head values of the substrate shielding plate and the electrode shielding plate do not change even when the size of the thin substrate W is changed. The height can be adjusted integrally.

도 18에 있어서, 하부 기판 차폐판(108)은 플레이트(110)위에 부착되고 있으며, 상기 플레이트(110)는 보강 연결재(216)를 통해 하부 전극 차폐판(112)과 접속되고, 하부 전극 차폐판(112)과 하부 기판 차폐판(108)이 일체화되어 있다. 또한, 보강 연결재(216)는 하부 기판 차폐판(108)의 윗면에도 고정되고 있으며, 플레이트(110)의 왜곡(휘어짐)발생을 방지하고 있다.In FIG. 18, the lower substrate shielding plate 108 is attached onto the plate 110, and the plate 110 is connected to the lower electrode shielding plate 112 through the reinforcing connecting member 216 and the lower electrode shielding plate. 112 and the lower substrate shielding plate 108 are integrated. In addition, the reinforcing connector 216 is also fixed to the upper surface of the lower substrate shielding plate 108, and prevents distortion (bending) of the plate 110.

처리조 본체(100)의 바닥판에는, 도 18에 나타나 있는 바와 같이, 상기 하부 전극 차폐판(112)을 안내하는 안내대(214)가 그 아래쪽에 상기 에덕터 박스(204)를 수용하도록 부착되어 있다. 안내대(214)의 윗면에는 지지기둥(155)이 세워져 설치되고 있으며, 상기 지지기둥(155)의 상단은 노즐 고정부재(212)에 볼트로 체결되어 있다. 상기 안내대(214)의 측면에 대하여 상기 하부 전극 차폐판(112)이 세로방향의 장공을 통해 상하 이동할 수 있도록 볼트로 체결되는 동시에(도시 생략), 상기 지지기둥(155)에 대하여 하부 전극 차폐판(112)에 설치된 회전 기구(150)가 롤러(150a)를 통해 상하 이동할 수 있도록 결합하고 있다. 이와 같이, 하부 전극 차폐판(112)이 안내대(214) 및 지지기둥(155)에 의해 가이드 됨으로써, 높이 조절 수단(220)에 의한 높이 조절시에 하부 기판 차폐판(108), 하부 전극 차폐판(112) 및 롤러 입설체(120)가 일체로 되어 가이드되도록 되어 있다.As shown in FIG. 18, a guide 214 for guiding the lower electrode shielding plate 112 is attached to the bottom plate of the treatment tank main body 100 so as to receive the inductor box 204 thereunder. It is. The support pillar 155 is installed on the upper surface of the guide 214, the upper end of the support pillar 155 is fastened to the nozzle fixing member 212 by a bolt. The lower electrode shielding plate 112 is fastened with a bolt to move up and down through the longitudinal hole in the vertical direction with respect to the side of the guide 214 (not shown), and shields the lower electrode with respect to the support pillar 155. The rotating mechanism 150 provided in the plate 112 is coupled so that it can move up and down through the roller 150a. As described above, the lower electrode shielding plate 112 is guided by the guide 214 and the support pillar 155 to shield the lower substrate shielding plate 108 and the lower electrode when the height is adjusted by the height adjusting means 220. The plate 112 and the roller placing body 120 are integrally guided.

도 18에 있어서, 높이 조절 수단(220)은 구동 모터(220a), 풀리(220b), 연결 와이어(220c), 구동 벨트(220d)로 구성 되고 있고, 연결 와이어(220c)의 일단은 풀리(220b)에 고정되고 있으며, 타단은 보강 연결부재에 접속되어 있다. 구동 모터(220a)의 구동에 의해, 와이어(220c)가 풀리(220b)에 감김으로써 하부 기판 차폐판(108), 하부 전극 차폐판(112) 및 롤러 입설체(120)가 일체로 되어 상승한다.In FIG. 18, the height adjusting means 220 is comprised by the drive motor 220a, the pulley 220b, the connection wire 220c, and the drive belt 220d, and one end of the connection wire 220c is pulley 220b. The other end is connected to the reinforcing connecting member. By driving of the drive motor 220a, the wire 220c is wound around the pulley 220b so that the lower substrate shielding plate 108, the lower electrode shielding plate 112, and the roller placing body 120 are integrated and rise. .

도 19는 보강 연결부재(216)를 박판 기판 W의 측에서 본 도면이다. 연결 와이어(220c)는, 도 19에 나타나 있는 바와 같이, 와이어 조인트(218)를 통해 보강 연결부재(216)윗면에 접속되어 있다.19 is a view of the reinforcing connection member 216 viewed from the side of the thin substrate W. FIG. As shown in FIG. 19, the connecting wire 220c is connected to the upper surface of the reinforcing connecting member 216 through the wire joint 218.

도 20은 양극(102)의 구조를 도시한 도면이다. 양극 수단(301)을 구성하는 양극(102)은 동 볼 등의 도금 금속재료를 수용하는 애노드 케이스(102a)를 가지고, 애노드 케이스(102a)의 측면에는 손잡이(102d)가 부착되고 있으며, 손잡이(102d)의 하단부에 애노드 케이스(102a)를 도 1에 도시하는 급전 레일(224)에 부착하기 위한 갈고리(102e)가 설치된다. 손잡이(102d)의 상단은 거의 개구부(102b)에 이르는 높이로 되어있다. 또한 애노드 케이스(102a)의 상부 개구부(102b)에는 막대 가이드(102c)가 4개 (2개는 도면 중 지면 안쪽 방향으로 겹쳐 보이지 않는다) 등간격으로 부착되어 있다. 막대 가이드(102c)의 상단은 처리조 본체(100)의 뚜껑(100a)에 설치된 도금 금속재료를 투입하기 위한 투입 구멍(100b)근방까지 연장하고 있다. 또한, 100c는 투입 구멍(100b)의 캡이다.20 shows the structure of the anode 102. The anode 102 constituting the anode means 301 has an anode case 102a for receiving a plated metal material such as a copper ball, and a handle 102d is attached to a side of the anode case 102a. A hook 102e for attaching the anode case 102a to the feed rail 224 shown in FIG. 1 is provided at the lower end of 102d). The upper end of the handle 102d is almost at a height reaching the opening 102b. In addition, four rod guides 102c are attached to the upper opening 102b of the anode case 102a (the two do not overlap the paper inward direction in the drawing) at equal intervals. The upper end of the bar guide 102c extends to the vicinity of the injection hole 100b for injecting the plating metal material installed in the lid 100a of the treatment tank main body 100. In addition, 100c is a cap of the injection hole 100b.

도금 작업을 계속하고 있으면, 애노드 케이스(102a)에 도금 금속재료를 보급할 필요가 생긴다. 막대 가이드(102c)의 존재에 의해 도금 금속재료가 투입 구멍(100b)으로부터 투입될 때 애노드 케이스(102a) 안에 수용되지 않고 처리조 본체(100)로 떨어지는 것이 방지된다.If the plating operation is continued, it is necessary to supply the plating metal material to the anode case 102a. The presence of the rod guide 102c prevents the plating metal material from falling into the treatment tank body 100 without being accommodated in the anode case 102a when it is introduced from the injection hole 100b.

또한 도금 작업을 계속하고 있으면 애노드 케이스(102a)를 분리하여 메인터넌스(세정)를 행할 필요가 생긴다. 그런데, 도금 금속재료의 부족을 회피하기 위해서 과잉으로 도금 금속재료를 투입해 두는(개구부(102b)로부터 넘칠 만큼 도금 금속재료를 투입해 둔다) 경우가 있으며, 종래는 투입 구멍(100b)에 통 모양 가이드를 끼워두고 처리조 본체(100)안으로 도금 금속재료가 낙하하는 것을 방지하고 있었다. 그러나, 통 모양 가이드를 사용했을 경우 과잉으로 투입하고 있었던 도금 금속재료를 제거하는 것이 곤란하여 메인터넌스 시에 애노드 케이스(102a)를 분리하는 작업이 번거로웠다. 막대 가이드(102c)로 함으로써 과잉으로 투입하고 있었던 도금 금속재료를 투입 구멍(100b)으로부터 용이하게 제거할 수 있기 때문에, 메인터넌스 시에 애노드 케이스(102a)를 용이하게 분리할 수 있다.If the plating operation is continued, it is necessary to remove the anode case 102a and perform maintenance (cleaning). By the way, in order to avoid the shortage of plated metal material, an excessive amount of plated metal material may be put in (the plated metal material is thrown in as much as overflowing from opening 102b). The guide metal was sandwiched and the plating metal material was prevented from falling into the treatment tank main body 100. However, when the cylindrical guide is used, it is difficult to remove the plated metal material that has been excessively added, and it is cumbersome to separate the anode case 102a during maintenance. By using the rod guide 102c, the excessively plated metal material can be easily removed from the injection hole 100b, so that the anode case 102a can be easily separated at the time of maintenance.

2. 기판침지 장치2. Substrate Immersion Device

상기 실시예의 도금조(2)에 있어서, 박판 기판 W를 침지시키는 기판 침지부(2a) (도 15를 참조)에는 기판침지 장치가 설치된다. 기판침지 장치의 구조에 대해서 도 13을 사용하여 설명한다. 또한, 도 13A는 도 14의 (x)위치에 있어서 기판이 강하한 상태를 도시하는 기판침지 장치(600)의 단면도이며, 도 13B는 도 13A에 도시하는 기판침지 장치(600)를 상부에서 본 도면이다.In the plating bath 2 of the said embodiment, the board | substrate immersion apparatus is provided in the board | substrate immersion part 2a (refer FIG. 15) which immerses the thin board | substrate W. FIG. The structure of the substrate immersion apparatus will be described with reference to FIG. 13A is sectional drawing of the substrate immersion apparatus 600 which shows the state which the board | substrate dropped in the position of FIG. 14, FIG. 13B is the board | substrate immersion apparatus 600 shown in FIG. 13A seen from the top. Drawing.

도 13A에 나타나 있는 바와 같이, 기판침지 장치(600)는 박판 기판 W를 침지시키는 도금액을 모은 처리조 본체(60)와, 상기 처리조 본체(60)로 강하하는 박판 기판 W를 안내하기 위한 기판 가이드(62), 상기 기판 가이드(62)의 외측에 배치한 액류 발생기인 기포발생관(68)을 구비하고 있다.As shown in FIG. 13A, the substrate immersion apparatus 600 includes a treatment tank main body 60 that collects a plating liquid for immersing the thin substrate W and a substrate for guiding the thin plate W that descends to the treatment tank main body 60. The guide 62 and the bubble generating tube 68 which is the liquid flow generator arrange | positioned outside the said board | substrate guide 62 are provided.

기판 가이드(62)는, 도 13A에 나타나 있는 바와 같이, 소정의 간격 t을 두어 평행하게 배치한 하부 가이드판(62a), 연직 상부에 간격이 넓어지도록 테이퍼 모양으로 배치하고, 홈 구멍인 슬릿(62c)을 설치한 상부 가이드판(62b), 에어 교반에 의해 발생하는 액류가 확산하여 약해지지 않도록 하는 정류판(62d)을 구비하고 있다. 또한 기판 가이드(62)는, 도 13A에 나타나 있는 바와 같이, 상부 가이드판(62b)의 선단(62e)을 액체 표면으로부터 돌출시키고, 상기 홈 구멍(62c)을 도금액에 침지시켜서 배치되고 있다. 도 7은 기판 가이드(62)의 구조를 도시하는 사시도이다.As shown in Fig. 13A, the substrate guide 62 has a lower guide plate 62a arranged in parallel at a predetermined interval t, and a tapered shape so as to have a wider space in the vertical upper portion, and a slit (which is a groove hole). The upper guide plate 62b provided with 62c and the rectifying plate 62d which prevent the liquid flow which arises from air stirring from spreading and weakening are provided. 13A, the board | substrate guide 62 is arrange | positioned by making the front-end | tip 62e of the upper guide plate 62b protrude from the liquid surface, and immersing the said groove hole 62c in plating liquid. 7 is a perspective view showing the structure of the substrate guide 62.

액류 발생기인 기포발생관(68)은 도 13A에 도시하는 파이프(66)로부터 에어의 공급을 받아 에어를 위쪽으로 뿜어낸다. 이에 따라 에어가 상승하는데 따라 그 주위의 도금액이 상승해 감으로써, 정류판(62d)으로 단락 지어진 외측의 도금액이 정류판(62d)하단부로부터 유입됨으로써 도금액의 상승류가 발생하고, 상승한 도금액은 슬릿(62c)을 거쳐 계속해서 하부 가이드(62a) 사이를 아래쪽으로 액류가 되어 정류판(62d)의 하단부에서 다시 유입하여 순환 액류가 발생하고 있다고 생각할 수 있다. 그 때문에 기판 가이드(62)를 따라 원활하게 박판 기판 W를 안내하여 침지시킬 수 있다. 또한, 실험 결과에서는, 슬릿(62c)과 같은 높이나 정류판(62d)의 하단부 부근에 기포발생관(68)을 배치하는 것보다도, 처리조 본체(60)의 깊이 방향에 있어서 중앙부근에 기포발생관(68)을 설치했을 때에 보다 더 원활하게 안내할 수 있었다. 또한 마찬가지로, 실험 결과에서는, 하부 가이드(62a)에 슬릿(62c)을 설치하는 것보다도, 상부 가이드(62b)에 슬릿(62c)을 설치한 쪽이 보다 원활하게 박판 기판 W를 안내할 수 있었다.The bubble generator tube 68, which is a liquid flow generator, receives air from the pipe 66 shown in FIG. 13A and blows the air upward. Accordingly, as the air rises, the plating liquid around it rises, so that the plating liquid on the outside short-circuited by the rectifying plate 62d flows in from the lower end of the rectifying plate 62d, causing an upward flow of the plating liquid, and the rising plating liquid is slit. It can be considered that the liquid flows downward through the lower guide 62a continuously through 62c and flows again from the lower end of the rectifying plate 62d to generate a circulating liquid flow. Therefore, the thin substrate W can be smoothly guided and immersed along the substrate guide 62. In addition, in the experimental result, rather than arrange | positioning the bubble generating tube 68 to the height similar to the slit 62c and the lower end part of the rectifying plate 62d, a bubble generate | occur | produces near the center in the depth direction of the processing tank main body 60. When the pipe 68 was installed, it was able to guide more smoothly. In addition, similarly, in the experimental result, the side which provided the slit 62c in the upper guide 62b was able to guide the thin board | substrate W more smoothly than the slit 62c in the lower guide 62a.

이상과 같은 구성에 의해, 기판 가이드(62)를 상부 가이드(62b)의 선단(62e)을 액체 표면으로부터 돌출시키고, 슬릿(62c)을 하부 가이드(62a)에 도금액에 침지하는 위치에 배치한 상태에서 기판 가이드(62)의 외측에 배치한 액류 발생기에 의해 액류를 발생시키고 박판 기판 W를 도금액에 원활하게 침지시킬 수 있다.With the above structure, the board | substrate guide 62 is the state which arrange | positioned the front-end | tip 62e of the upper guide 62b from the liquid surface, and arrange | positioned the slit 62c in the position which is immersed in plating solution in the lower guide 62a. In this way, liquid flow is generated by the liquid flow generator disposed outside the substrate guide 62, and the thin substrate W can be smoothly immersed in the plating liquid.

또한, 상기 도 13에서는 도금조(2)의 기판을 침지하는 곳에 기판침지 장치를 배치하고 액류 발생기로서 기포발생관(68)을 사용했지만, 박판 기판 W의 통공이나 비어 홀 내의 처리 효과를 높일 경우 또는 발포를 피하고자 하는 전처리조(1)에 있어서의 산세 클리너 처리를 행할 경우에는, 예를 들면 도 6A에 나타나 있는 바와 같이 액류 발생기로서 분류 노즐(64)을 사용할 수 있다. 이 경우, 분류 노즐(64)로부터는 분류를 슬릿(62c)을 향해 거의 수평방향으로 분사한다. 이에 따라 슬릿(62c)을 통과하고, 이어서 하부 가이드(62b) 사이에 아래로 향하는 액류가 발생하여, 기판 가이드(62)를 따라 원활하게 박판 기판 W를 안내하여 침지시킬 수 있다.In addition, in FIG. 13, although the substrate immersion apparatus was arrange | positioned in the place where the board | substrate of the plating tank 2 is immersed, and the bubble generating tube 68 was used as a liquid flow generator, when the processing effect in the through-hole of a thin board | substrate W and a via hole is improved, Alternatively, when performing the pickling cleaner treatment in the pretreatment tank 1 to avoid foaming, for example, as shown in Fig. 6A, the jet nozzle 64 can be used as the liquid generator. In this case, the jet is sprayed from the jet nozzle 64 toward the slit 62c in a substantially horizontal direction. Accordingly, liquid flows downward through the slit 62c, and then downwards between the lower guides 62 ', so that the thin substrate W can be guided and immersed smoothly along the substrate guides 62.

또한, 실험 결과로서는, 직접 슬릿을 향해서 분류를 분사하는 것보다도 도 8에 나타나 있는 바와 같이 슬릿의 상부 R를 향해 분사했을 때에 보다 더 원활하게 박판 기판 W를 안내할 수 있었다. 도 8에서는 분류를 수평면에 대하여 위쪽으로 분사하고 있다.In addition, as a result of the experiment, it was possible to guide the thin substrate W more smoothly when sprayed toward the upper R of the slit, as shown in FIG. 8, rather than spraying the jet directly toward the slit. In FIG. 8, the jet is sprayed upward with respect to the horizontal plane.

분류 노즐(64a)은, 도 6B에 나타나 있는 바와 같이, 반송용 행거(15)의 진행 방향(D방향)으로 등간격으로 복수 배치되고, 또한 도 6A에 나타나 있는 바와 같이 기판 가이드(62)의 홈 구멍(62b)과 같은 높이에 고정하여 설치된다.As shown in FIG. 6B, the dividing nozzle 64a is arranged in multiple numbers at equal intervals in the advancing direction (D direction) of the conveyance hanger 15, and as shown in FIG. 6A of the board | substrate guide 62 It is fixed and installed at the same height as the groove hole 62b.

또한, 액체 표면상에 있어서, 기판 가이드(62)의 외측근방에 에어의 분출 방향이 기판 가이드와 반대측을 향하도록 에어 블로를 설치하고, 기포 발생관(68)에 토출된 에어가 액체 표면상에서 거품이 되기 전에 날려버리도록 해도 된다. 이에 의해 박판 기판 W표면에 거품이 부착되는 것을 방지하고, 처리액에 의한 처리 효과를 충분히 얻을 수 있다.Further, on the liquid surface, an air blow is provided near the outside of the substrate guide 62 so that the air blowing direction is opposite to the substrate guide, and the air discharged to the bubble generating tube 68 bubbles on the liquid surface. You can blow it out before it happens. As a result, bubbles are prevented from adhering to the thin substrate W surface, and the effect of treatment with the treatment liquid can be sufficiently obtained.

상기 실시예에서는 도금조에 적용했을 경우에 관하여 설명했지만, 그 밖의 세정 처리 등을 행하는 처리조에 관해서도 적용할 수 있다.In the said Example, although the case where it applied to the plating tank was demonstrated, it is applicable also to the processing tank which performs another washing process.

3 .표면처리장치 및 반송용 행거의 구조3. Structure of surface treatment device and conveying hanger

도 14 및 도 15에 나타나 있는 바와 같이 표면처리장치(300)는 프린트 기판 등의 박판 기판 W를 지지한 반송용 행거(15)를 반송하기 위한 가이드 레일(10∼13)을 구비하고 있고, 이들의 가이드 레일을 따라 도금 전처리 공정을 행하기 위한 전처리조(1), 전기도금 공정을 행하기 위한 도금조(2), 도금 후처리 공정을 행하기 위한 회수조(3)와 수세조(4), 판 모양 피가공물(박판 기판)W의 분리를 행하기 위한 언로드부(5), 반송용 행거(15)에 부착된 도금을 박리제거하는 박리공정(행거 복귀 공정)을 행하기 위한 박리조(6), 행거 박리후 처리 공정을 행하는 수세조(7), 판 모양 피가공물(박판 기판)W를 부착하는 로드부(8)가 설치된다.As shown in FIG. 14 and FIG. 15, the surface treatment apparatus 300 is equipped with the guide rails 10-13 for conveying the conveyance hanger 15 which supported the thin board | substrate W, such as a printed board, These Pretreatment tank (1) for carrying out the plating pretreatment process along the guide rails, plating vessel (2) for carrying out the electroplating process, recovery tank (3) and washing tank (4) for carrying out the plating post-treatment process Separation tank for performing peeling process (hanger return process) which peels and removes the plating attached to the unloading part 5 for separating plate-shaped workpiece (thin board | substrate) W, and the conveyance hanger 15 ( 6), the rod part 8 which attaches the water washing tank 7 which performs a process after a hanger peeling off, and the plate-shaped workpiece (thin board substrate) W is provided.

도 5에 도시하는 승강 가이드 레일(10, 12)은 반송용 행거(15)에 판 모양 피가공물(박판 기판)W의 부착, 분리를 행하거나, 판 모양 피가공물(박판 기판)W를 조(전처리조(1), 도금조(2), 수세조(4)나 회수조(4)등) 내에 침지 등을 할 때 승강하는 가이드 레일이다. 고정 가이드 레일(11, 13)은 각각 도금조(2), 박리조(6)로 강하한 반송용 행거(15)를 반송하기 위해서 고정된 가이드 레일이다.The lifting guide rails 10 and 12 shown in FIG. 5 attach or separate the plate-shaped workpiece (thin substrate) W to the transport hanger 15, or tighten the plate-shaped workpiece (thin substrate) W ( It is a guide rail which moves up and down when immersing in the pretreatment tank 1, the plating tank 2, the water washing tank 4, the recovery tank 4, etc.). The fixed guide rails 11 and 13 are guide rails fixed in order to convey the conveyance hanger 15 which dropped to the plating tank 2 and the peeling tank 6, respectively.

도 9 등을 사용하여 본 발명의 반송용 행거(15)의 구조에 관하여 설명한다.The structure of the conveyance hanger 15 of this invention is demonstrated using FIG.

도 9에 나타나 있는 바와 같이 반송용 행거(15)는 판 모양 피가공물(박판 기판 W)을 지지하는 클램프(48)를 복수 구비한 피처리물 지지 부재(47)와, 고정 가이드 레일(11)에 대하여 슬라이드 접촉하는 슬라이딩 부재(35)와, 이들을 연결하는 연결부재(44)를 가지고 있다. 슬라이딩 부재(35) 및 연결부재(44)의 재질로서는 동, 놋쇠 등이 이용된다.As shown in FIG. 9, the conveyance hanger 15 has the to-be-processed object support member 47 provided with the clamp 48 which supports the plate-shaped workpiece | work (thin board | substrate W), and the fixed guide rail 11 It has a sliding member 35 which slide-contacts with respect to, and the connection member 44 which connects these. Copper, brass, etc. are used as a material of the sliding member 35 and the connection member 44. As shown in FIG.

도 9에 도시하는 피처리물 지지 부재(47)의 폭 길이 L0는 판 모양 피가공물 W (박판 기판 W)의 폭 길이 W0와 끼우는 부분 W1에 의거하여 산출한다. 예를 들면, 도 9에 나타나 있는 바와 같이, 판 모양 피가공물 W(폭장지 W0)의 양단에 끼우는 부분 W1을 설치할 경우 피처리물 지지 부재(47)의 폭 길이 L0는 L0=W0-2×W1로 산출한다.The width | variety length L0 of the to-be-processed object support member 47 shown in FIG. 9 is computed based on the width W0 of the plate-shaped workpiece W (thin board | substrate W), and the part W1 which fits. For example, as shown in FIG. 9, when providing the part W1 which pinches at the both ends of plate-shaped workpiece W (expansion paper W0), the width length L0 of the to-be-processed member support member 47 is L0 = W0-2 *. Calculate as W1.

또한, 도 10에 나타나 있는 바와 같이, 슬라이딩 부재(35)의 상부에는 체인 벨트(39)(도 14에 도시하는 고정 가이드 레일 반송 수단(19)을 구성)에 맞물리는 원웨이 클러치 방식의 기어(40)를 가지는 베어링(36)이 고정되어 있다. 이 때문에, 고정 가이드 레일(11, 13) 위에서 체인 벨트(39)에 맞물리는 기어(40)는 앞 이송시 등에 있어서 도 9에 도시하는 B방향으로만 회전할 수 있다.In addition, as shown in FIG. 10, the one-way clutch type gear which meshes with the chain belt 39 (constituting the fixed guide rail conveying means 19 shown in FIG. 14) in the upper part of the sliding member 35 ( A bearing 36 having 40 is fixed. For this reason, the gear 40 which meshes with the chain belt 39 on the fixed guide rails 11 and 13 can only rotate in the X direction shown in FIG. 9 at the time of front conveyance.

도 9에 도시하는 푸셔 접촉면(37)은 반송용 행거(15)의 반송 수단인 간헐반송 수단(17, 22)의 푸셔(16, 21)(도 11)가 접촉하는 부분이다.The pusher contact surface 37 shown in FIG. 9 is a part which the pushers 16 and 21 (FIG. 11) of the intermittent conveying means 17 and 22 which are the conveying means of the conveyance hanger 15 contact.

도 10의 갈고리 접촉부(32)는 반송용 행거(15)의 반송 수단인 위치 결정 반송 수단(18)의 반송 갈고리(27)(도 14)가 접촉하는 부분이다. 이들 반송용 행거(15)의 각 반송 수단에 대해서 이하에 설명한다.The hook contact part 32 of FIG. 10 is a part which the conveyance hook 27 (FIG. 14) of the positioning conveying means 18 which is a conveying means of the conveying hanger 15 contacts. Each conveying means of these conveying hangers 15 is demonstrated below.

4 .반송용 행거(15)의 각 반송 수단4. Each conveyance means of the transport hanger 15

도 9에 도시하는 반송용 행거(15)는 표면처리장치(300)에 있어서 이하의 간헐반송 수단(17, 22), 위치 결정 반송 수단(18, 23), 고정 가이드 레일 반송 수단(19, 24), 및 송출 반송수단(20,25)에 의해 반송된다.The conveyance hanger 15 shown in FIG. 9 is the following intermittent conveying means 17 and 22, the positioning conveying means 18 and 23, and the fixed guide rail conveying means 19 and 24 in the surface treatment apparatus 300. As shown in FIG. And the delivery conveying means 20, 25.

우선, 도 15에 도시하는 승강 가이드 레일(10, 12)의 상부에 설치된 간헐반송 수단(17, 22)은 각각 승강 가이드 레일(19)의 (c)∼ (f), (h)∼ (k)의 위치에 있는 반송용 행거(15)를 푸셔16a∼16d, 21a∼21d에 의해 (도 11)에서 1피치씩 간헐적으로 반송한다. 도 11은 승강 가이드 레일(10)의 상부에 배치되는 간헐반송 수단(17)의 구조를 도시하는 평면도이다.First, the intermittent conveying means 17 and 22 provided in the upper part of the elevating guide rails 10 and 12 shown in FIG. 15 are (c)-(f), (h)-(k) of the elevating guide rail 19, respectively. 11 is conveyed intermittently by one pitcher (FIG. 11) by pushers 16a-16d and 21a-21d. FIG. 11: is a top view which shows the structure of the intermittent conveying means 17 arrange | positioned at the upper part of the lifting guide rail 10. As shown in FIG.

도 15에 도시하는 위치 결정 반송 수단(18)은 고정 가이드 레일(11)에 따라 설치되고, 도금조(2)의 상부의 (x)위치에서 피처리물 침지부(기판 침지부)(2a) 내로 하강한 반송용 행거(15)(도 15을 참조)를 고정 가이드 레일(11)로 옮겨 (b)의 위치까지 앞 이송함과 동시에, 도금조(2)안에서의 판 모양 피가공물 W (박판 기판 W)와 그 앞(도 6의 좌측)의 (a)위치의 판 모양 피가공물 W (박판 기판 W)와의 간격을 소정의 폭 L1(예를 들면L1=5mm)로 조정한다.The positioning conveying means 18 shown in FIG. 15 is provided along the fixed guide rail 11, and the to-be-processed object immersion part (substrate immersion part) 2a is located at the upper position of the plating bath 2. The conveyance hanger 15 (refer FIG. 15) lowered inward is moved to the fixed guide rail 11, and is moved forward to the position of (b), and the plate-shaped workpiece W (plating) in the plating tank 2 is carried out. The distance between the substrate W) and the plate-shaped workpiece W (thin substrate W) at the position (a) in front of it (left side in FIG. 6) is adjusted to a predetermined width L1 (for example, L1 = 5 mm).

도 12에 위치 결정 반송 수단(18)의 구조를 나타낸다. 도 12에 도시하는 위치 결정 반송 수단(18)은 고정 가이드 레일(11)을 따라 별도 설치된 레일을 따라 X, Y방향으로 전후 이동이 가능하고, 도 12A에 도시하는 상태에서 용수철에 의해 Z방향으로 가압되는 반송 갈고리(31)를 가진다. 이에 따라 반송용 행거(15)를 반송할 때에는, 우선 X방향으로 이동할 때에는 용수철이 줄어들어 도 10에 도시하는 갈고리 접촉부(32)위(도 12B의 상태)를 통과한 후, 역방향(도 12C의 Y방향)으로 이동하여 반송 갈고리(31)가 반송용 행거(15)의 갈고리 접촉부(32)를 걸어, 반송용 행거(14)를 도 14에 도시하는 C방향으로 반송한다. 이때, 위치 결정 반송 수단(18)의 이동 속도는 고정 가이드 레일 반송 수단(19)으로 반송되기 전의 반송용 행거(15)에 따라 붙도록 고정 가이드 레일 반송 수단(19)의 이동 속도(즉, 체인 벨트(39)의 이동 속도)보다도 빨라야 한다. 또한, 박리조(6) 측의 위치 결정 반송 수단(23)도 도 12에 도시하는 상기 도금조(2) 측의 위치 결정 반송 수단(13)과 동일 구조 및 동작을 행한다.The structure of the positioning conveying means 18 is shown in FIG. The positioning conveying means 18 shown in FIG. 12 can move back and forth in the X, Y direction along the rail provided separately along the fixed guide rail 11, and is moved to Z direction by a spring in the state shown in FIG. 12A. It has a conveyance hook 31 which is pressurized. Accordingly, when conveying the transport hanger 15, first, the spring decreases when moving in the X direction, and after passing through the hook contact portion 32 (state of FIG. 12B) shown in FIG. Direction), and the conveyance hook 31 hangs the hook contact portion 32 of the conveyance hanger 15 and conveys the conveyance hanger 14 in the C direction shown in FIG. At this time, the moving speed of the positioning conveying means 18 moves with the conveying hanger 15 before being conveyed by the fixed guide rail conveying means 19 (that is, the chain Speed of the belt 39). Moreover, the positioning conveying means 23 on the peeling tank 6 side also performs the same structure and operation as the positioning conveying means 13 on the said plating tank 2 side shown in FIG.

고정 가이드 레일 반송 수단(19, 24)은 위치 결정 반송 수단(18, 23)으로 앞 이송된 반송용 행거(15)를 소정의 간격(도 6의 L1)을 유지하면서 도 14의 화살표 C의 방향으로 반송한다.The fixed guide rail conveying means 19 and 24 hold | maintain the conveyance hanger 15 previously conveyed by the positioning conveying means 18 and 23, maintaining the predetermined | prescribed space | interval (L1 of FIG. 6), the direction of arrow C of FIG. Return to

송출 반송수단(20,25)은 고정 가이드 레일 반송 수단(19, 24)으로 각각(g), (o)위치까지 반송된 반송용 행거(15)를 각각 승강 가이드 레일(12, 10)의 (h), (f)위치로 송출하여 옮긴다(도 14). 또한, 송출 반송수단(20,25)의 구조 및 동작은 도 12에 도시하는 위치 결정 반송 수단(18)과 동일하다.The conveyance conveying means 20, 25 carries the conveyance hanger 15 conveyed to the position (g) and (o) by the fixed guide rail conveying means 19 and 24, respectively, of the elevating guide rails 12 and 10, respectively. h) and (f) to be transferred to the position (Fig. 14). In addition, the structure and operation | movement of the delivery conveyance means 20 and 25 are the same as the positioning conveyance means 18 shown in FIG.

5. 그 외 실시예5. Other Examples

또한, 상기 실시예에서는 박판 기판 W에 대한 차폐판으로서 상부(하부)기판차폐판과 상부(하부) 전극 차폐판의 2개의 차폐판을 구비하고 있었지만, 기판 차폐판과 전극 차폐판 사이에 차폐판을 더 추가해도 된다.Further, in the above embodiment, two shielding plates of an upper (lower) substrate shielding plate and an upper (lower) electrode shielding plate were provided as a shielding plate for the thin substrate W. However, the shielding plate is provided between the substrate shielding plate and the electrode shielding plate. You may add more.

또한, 상기 실시예에서는 상부 기판 차폐판과 상부 전극 차폐판을 별개 독립하여 승강시키도록 했지만, 이들을 일체로 승강시키는 기구로 해도 된다.In addition, in the above embodiment, the upper substrate shielding plate and the upper electrode shielding plate are lifted independently, but may be a mechanism for raising and lowering them integrally.

Claims (7)

판상 워크를 처리액에 침지시키기 위한 처리조와;
상기 처리조로 하강하는 판상 워크를 안내하기 위한 기판 가이드로서, 소정의 간격을 두어 평행하게 배치한 하부 가이드판과, 연직 상측에 간격이 넓어지도록 테이퍼 형상으로 배치하고, 노치 구멍을 형성한 상부 가이드판을 구비하고 있으며, 상부 가이드판의 선단을 액면으로부터 돌출시키고, 아울러 상기 노치 구멍을 처리액에 침지시켜서 배치한 기판 가이드와;
상기 기판 가이드의 외측에 배치한 액류 발생기;를
구비한 것을 특징으로 하는 판상 워크 침지 장치.
A treatment tank for immersing the plate-shaped work in the treatment liquid;
A substrate guide for guiding a plate-shaped work descending to the treatment tank, the lower guide plate arranged in parallel at a predetermined interval, and the upper guide plate disposed in a tapered shape so as to have a wider gap on the vertical upper side, and forming a notch hole. A substrate guide provided with a protruding end of the upper guide plate from a liquid level and immersing the notch hole in a processing liquid;
A liquid flow generator disposed outside the substrate guide;
Plate-shaped workpiece immersion apparatus characterized by the above-mentioned.
제1항에 있어서,
상기 액류 발생기가, 분류를 상기 노치 구멍을 향하여 수평 방향으로 분사하는 것을 특징으로 하는 판상 워크 침지 장치.
The method of claim 1,
And the liquid flow generator sprays the jet in the horizontal direction toward the notch hole.
제1항에 있어서,
상기 액류 발생기가, 분류를 상기 노치 구멍의 상부를 향하여 수평 방향보다 상측으로 분사하는 것을 특징으로 하는 판상 워크 침지 장치.
The method of claim 1,
And the liquid flow generator sprays jets upwards from the horizontal direction toward the upper portion of the notch hole.
제1항에 있어서,
상기 액류 발생기가, 처리조 내의 소정 높이에 배치되어 있으며 기체를 상측으로 토출하는 것을 특징으로 하는 판상 워크 침지 장치.
The method of claim 1,
And the liquid flow generator is arranged at a predetermined height in the processing tank and discharges gas upwards.
제4항에 있어서,
상기 액류 발생기가, 처리조 내의 중간 높이에 배치된 것을 특징으로 하는 판상 워크 침지 장치.
The method of claim 4, wherein
The said liquid-flow generator is arrange | positioned at the intermediate height in a process tank, The plate-shaped workpiece immersion apparatus characterized by the above-mentioned.
소정의 간격을 두어 평행하게 배치한 하부 가이드판과; 연직 상측에 간격이 넓어지도록 테이퍼 형상으로 배치하고, 노치 구멍을 형성한 상부 가이드판;을 구비한 기판 가이드를 사용하여, 처리조로 하강하는 판상 워크를 안내하는 판상 워크 침지 방법으로서,
기판 가이드를 구성하는 상부 가이드판의 선단을 액면으로부터 돌출시키고, 아울러 상기 노치 구멍을 처리액에 침지시켜서 상기 기판 가이드를 배치하고,
상기 기판 가이드의 외측 아울러 처리액의 액면 아래에 배치한 액류 발생기에 의해 액류를 발생시키고, 상기 판상 워크를 처리조로 하강하여 처리액에 침지시킨 것을 특징으로 하는 판상 워크 침지 방법.
A lower guide plate arranged in parallel at a predetermined interval; A plate-shaped workpiece immersion method for guiding a plate-shaped workpiece descending to a treatment tank using a substrate guide provided with a tapered shape disposed so as to widen the gap vertically and forming a notch hole.
The tip of the upper guide plate constituting the substrate guide protrudes from the liquid level, and the substrate guide is disposed by immersing the notch hole in the processing liquid.
A liquid flow generator is generated by a liquid flow generator disposed at the outer side of the substrate guide and under the liquid surface of the processing liquid, and the plate-shaped workpiece is immersed in the processing liquid by lowering the plate-shaped workpiece into the processing tank.
처리조로 하강하는 판상 워크를 안내하기 위한 기판 가이드로서,
소정의 간격을 두어 평행하게 배치한 하부 가이드판과;
연직 상측에 간격이 넓어지도록 테이퍼 형상으로 배치하고, 노치 구멍을 형성한 상부 가이드판;을 구비한 것을 특징으로 하는 기판 가이드.
As a board | substrate guide for guiding the plate-shaped workpiece | work descending to a processing tank,
A lower guide plate arranged in parallel at a predetermined interval;
And an upper guide plate disposed in a tapered shape so as to have a wider gap on the vertical upper side, and forming a notch hole.
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