KR20100105971A - 접촉 가압장치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (6)
- 매치 플레이트(102)와 연결된 매치 플레이트 베이스(100)와;상기 매치 플레이트 베이스(100)에 연결된 복수개의 접촉 가이드 샤프트(110)와;상기 접촉 가이드 샤프트(110)들과 각기 연결되는 복수개의 제1 싱크 바아(120)와, 상기 제1 싱크 바아(120)에 연결되는 제2 싱크 바아(130)로 이루어진 연결부재(150)와;그 내측에 볼스크류(160)와, 상기 볼스크류(160)에 연결된 이송부재(170)를 가지며, 원통 형태로 이루어진 볼스크류 하우징(200)과;구동모터(210)와, 그 일측이 상기 볼스크류 하우징(200)의 볼스크류(160)와 연결되며 그 타측이 구동모터(210)와 연결되는 복수개의 구동풀리(220)로 이루어진 구동원(250)으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 접촉 가압장치.
- 제1항에 있어서, 상기 복수개의 접촉 가이드 샤프트(110)의 일측에는 컨택 축 하우징(114)가 각기 설치되는 것을 특징으로 하는 접촉 가압장치.
- 제1항에 있어서, 상기 볼스크류 하우징(200)의 이송부재는 연결부재의 제2 싱크 바아와 연결되는 것을 특징으로 하는 접촉 가압장치.
- 제1항에 있어서, 상기 볼스크류 하우징(200)은 도전성 재질로 이루어지고, 그 하부에 설치된 지지 유니트(190)상에 안착되는 것을 특징으로 하는 접촉 가압장치.
- 제1항에 있어서, 상기 볼스크류 하우징(200)은 그 일측에 소정 간격을 두고 홈 센서(262)와 리미트 센서(264)가 설치되며, 상기 홈 센서(262) 및 리미트 센서(264)는 볼스크류(160)에 끼워진 이송부재(170)의 이동 위치를 검지하도록 되어 있는 것을 특징으로 하는 수술기구.
- 제1항에 있어서, 상기 구동원(250)은 구동모터(210)와 구동풀리(220)의 사이에 구동모터의 속도를 조절하기 위한 감속기(230)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 접촉 가압장치.
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KR20150129916A (ko) * | 2014-05-12 | 2015-11-23 | 주식회사 제우스 | 기판의 열처리 장치 |
KR20170011198A (ko) * | 2015-07-22 | 2017-02-02 | 주식회사 아테코 | 테스트 핸들러의 가압 장치 및 전자부품 테스트 장치 |
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KR100714754B1 (ko) * | 2005-01-28 | 2007-05-07 | 가부시키가이샤 아드반테스트 | 전자부품 시험장치 |
KR200443874Y1 (ko) * | 2007-05-31 | 2009-03-23 | 주식회사 아이에스시테크놀러지 | 반도체 소자의 온도측정장치 |
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- 2009-03-23 KR KR1020090024357A patent/KR101032420B1/ko active IP Right Grant
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101104413B1 (ko) * | 2009-09-25 | 2012-01-16 | 세크론 주식회사 | 반도체 소자 테스트용 접속 장치 및 이를 포함하는 테스트 핸들러 |
KR20150129916A (ko) * | 2014-05-12 | 2015-11-23 | 주식회사 제우스 | 기판의 열처리 장치 |
KR20170011198A (ko) * | 2015-07-22 | 2017-02-02 | 주식회사 아테코 | 테스트 핸들러의 가압 장치 및 전자부품 테스트 장치 |
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