KR200191945Y1 - 핸들러를 이용한 테스트시 소자의 테스트온도 조절장치 - Google Patents

Abstract

본 고안은 소자의 리드를 소켓의 콘택트 핀에 접속시켜 테스트를 실시할 때 소자를 테스트 조건에 알맞는 온도로 유지할 수 있도록 하는 핸들러를 이용한 테스트시 소자의 테스트온도 조절장치에 관한 것으로 그 구조를 개선하여 테스트시 소자를 테스트 온도에 적절한 상태의 온도로 유지시킬 수 있도록 함과 동시에 테스트시 테스트부내에 위치된 각 캐리어 모듈상의 소자의 온도분포를 균일하게 유지시킬 수 있도록 한 것이다.

이를 위해, 테스트시 캐리어 모듈(3)과 접속되는 부위가 개방되게 원통형상으로 이루어진 복수개의 푸셔(11)와, 상기 푸셔가 고정되는 부위가 상호 통하여지도록 공기 유통공(12)이 형성된 푸싱판(10)과, 상기 푸싱판에 형성된 각 공기 유통공상에 설치되어 공기 유통공의 면적을 조절하는 개폐판(13)으로 구성되어 있어 테스트에 적절한 온도로 설정된 테스트부(5)내의 열을 테스트시 소자에 직접 전달함과 동시에 테스트부내의 온도분포가 불균일하더라도 테스트시 캐리어 모듈에 로딩된 소자에 열을 균일하게 전달시킬 수 있게 된다.

Description

핸들러를 이용한 테스트시 소자의 테스트온도 조절장치

본 고안은 소자의 성능을 테스트하기 위해 소자를 수평적으로 이송시키는 수평식 핸들러에 관한 것으로서, 좀 더 구체적으로는 소자의 리드를 소켓의 콘택트 핀에 접속시켜 테스트를 실시할 때 소자를 테스트 조건에 알맞는 온도로 유지할 수 있도록 하는 핸들러를 이용한 테스트시 소자의 테스트온도 조절장치에 관한 것이다.

도 1은 수평식 핸들러에 사용되는 테스트 트레이를 나타낸 정면도로서, 테스트 트레이(1)의 프레임(2)상에 캐비티(4)를 갖는 복수개의 캐리어 모듈(3)이 유동가능하게 장착되어 있어 상기 캐리어 모듈의 캐비티(4)내에 테스트할 소자를 로딩하면 소자의 일부가 캐비티를 통해 외부로 노출된다.

따라서 상기 캐리어 모듈의 캐비티(4)내에 테스트할 소자를 담거거나, 매달은 상태로 테스트 트레이(1)를 테스트 공정간에 이송시키면서 소자의 성능을 테스트하게 된다.

도 2는 종래의 장치가 구비된 수평식 핸들러를 나타낸 사시도이고 도 3은 도 2의 종단면도로서, 캐리어 모듈(3)의 캐비티(4)에 담겨지거나, 매달린 소자를 테스트하는 테스트부(5)가 수평방향으로 설치되어 있고 상기 테스트부에는 테스트 트레이(1)가 이송되어 옴에 따라 상기 테스트 트레이에 장착된 캐리어 모듈(3)을 눌러 로딩된 소자의 리드가 테스터 고정장치(6)에 장착된 소켓의 콘택트 핀(도시는 생략함)에 전기적으로 접속되도록 하는 드라이브(7)가 승강가능하게 설치되어 있다.

상기 테스트부(5)의 내부 온도는 소자의 테스트 조건에 따라 -50 ∼ 125℃범위로 설정된다.

따라서 제 1 챔버(8)에서 캐리어 모듈(3)에 로딩된 소자가 테스트에 적합한 온도로 냉각 또는 히팅된 상태에서 테스트 트레이(1)가 테스트부(5)로 이송되어 오면 테스트 트레이(1)를 하향구동시키는 드라이브(7)가 하강하여 소자가 로딩된 캐리어 모듈(3)를 눌러주게 되므로 상기 소자의 리드가 테스터 고정장치(6)에 설치된 소켓의 콘택트 핀에 전기적으로 접속되고, 이에 따라 각 소자의 테스트신호가 테스터(도시는 생략함)에 제공된다.

이와 같이 테스트신호가 테스터(도시는 생략함)에 전달되어 그 결과신호가 중앙처리장치(CPU)에 입력되므로 소자의 성능이 판단된다.

상기한 바와 같은 동작에 따라 소자의 성능을 테스트하고 나면 하강하였던 드라이브(7)가 상승함과 동시에 테스트 트레이(1)를 제 2 챔버(9)로 이송시켜 상온으로 히팅 또는 냉각시킨 다음 언로딩부로 이송시켜 테스트결과에 따라 소자를 분류적재부에 위치된 빈고객트레이내에 분류하여 담게 되므로 소자의 테스트작업이 완료된다.

그러나 이러한 종래의 장치는 판상의 푸싱판(10)에 테스트 트레이(1)에 장착된 캐리어 모듈(3)을 눌러주는 복수개의 푸셔(11)가 캐리어 모듈의 갯수와 동일한 갯수로 고정되어 있어 테스트시 푸셔(11)가 캐리어 모듈(3)을 눌러 줄 때 상기 캐리어 모듈(3)에 로딩된 소자가 푸셔(11)에 의해 폐쇄되므로 테스트부(5)내의 온도를 테스트 온도에 알맞게 설정하였다 하더라도 소자를 테스트 조건으로 테스트할 수 없게 된다.

즉, 테스트시 테스트 온도보다 높거나, 낮은 상태에서 테스트를 실시하게 된다.

더욱이 냉각수단 또는 히팅수단에 의해 테스트부(5)내의 온도를 테스트 조건에 알맞게 설정하더라도 테스트부(5)내의 기류 흐름 또는 장비의 설치장소에 따라 테스트부내의 온도분포가 균일하지 못하므로 이러한 현상은 더욱 심화되고, 이에 따라 소자의 테스트결과에 따른 신뢰도가 떨어지게 되는 결과를 초래하게 되었다.

본 고안은 종래의 이와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, 그 구조를 개선하여 테스트시 소자를 테스트 온도에 적절한 상태의 온도로 유지시킬 수 있도록 하는데 그 목적이 있다.

본 고안의 다른 목적은 테스트시 테스트부내에 위치된 각 캐리어 모듈상의 소자의 온도분포를 균일하게 유지시킬 수 있도록 하는데 있다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 고안의 형태에 따르면, 테스트시 캐리어 모듈과 접속되는 부위가 개방되게 원통형상으로 이루어진 복수개의 푸셔와, 상기 푸셔가 고정되는 부위가 상호 통하여지도록 공기 유통공이 형성된 푸싱판과, 상기 푸싱판에 형성된 각 공기 유통공상에 설치되어 공기 유통공의 면적을 조절하는 개폐판으로 구성된 핸들러를 이용한 테스트시 소자의 테스트온도 조절장치가 제공된다.

도 1은 수평식 핸들러에 사용되는 테스트 트레이를 나타낸 정면도

도 2는 종래의 장치가 구비된 수평식 핸들러를 나타낸 사시도

도 3은 도 2의 종단면도

도 4는 본 고안 장치의 요부를 나타낸 분해 사시도

도 5는 본 고안의 장치가 설치된 테스트부의 횡단면도

도 6은 도 5의 A - A선 단면도

도 7a 및 도 7b는 본 고안의 작동상태를 나타낸 확대도

도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

10 : 푸싱판 11 : 푸셔

12, 14 : 공기 유통공 13 : 개폐판

이하, 본 고안을 일 실시예로 도시한 도 4 내지 도 7을 참고하여 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.

도 4는 본 고안 장치의 요부를 나타낸 분해 사시도이고 도 5는 본 고안의 장치가 설치된 테스트부의 횡단면도이며 도 6은 도 5의 A - A선 단면도로서, 본 고안은 푸싱판(10)에 설치되어 테스트시 캐리어 모듈(3)을 소켓(도시는 생략함)측으로 밀어주는 복수개의 푸셔(11)는 캐리어 모듈(3)과 접속되는 부위가 개방되게 원통형상으로 이루어져 있고 상기 각 푸셔(11)가 고정 설치되는 푸싱판(10)에도 푸셔의 개방부와 상호 통하여 지도록 공기 유통공(12)이 형성되어 있으며 상기 푸싱판(10)에 형성된 공기 유통공(12)상에는 각 공기 유통공의 형성위치에 따라 공기 유통공의 개폐량을 조절하기 위한 개폐판(13)이 회전가능하게 설치되어 있다.

상기 푸싱판(10)에 푸셔(11)와 통하여지게 형성되는 공기 유통공(12)은 복수개로 분할 형성되어 있고 상기 공기 유통공(12)사이에는 푸싱판(10)에 형성된 공기 유통공(12)과 대응되는 공기 유통공(14)이 형성된 개폐판(13)이 축(15)을 중심으로 회동가능하게 설치되어 있다.

상기 푸싱판(10)과 개폐판(13)에 형성되는 공기 유통공(12)(14)은 원형, 다각형 등 여러 형상으로 형성하여도 되므로 특별히 한정할 필요는 없지만, 제작 등을 고려할 때 본 고안의 일 실시예와 같이 원형으로 하는 것이 보다 생산적이다.

이 때, 상기 개폐판(13)에는 공기 유통공(12)(14)의 개폐작업이 용이해지도록 손잡이(16)가 형성되어 있다.

이와 같이 구성된 본 고안의 작용을 설명하면 다음과 같다.

먼저, 테스트를 실시하기 전에 테스트부(5)내의 온도를 소자의 테스트조건에 알맞게 설정한 다음 테스트부(5)내의 온도분포를 체크한다.

이에 따라, 푸싱판(10)의 중심부과 외곽부분의 온도가 균일하게 분포되지 않고 각각 다를 경우, 예를 들어 내열성 테스트시 외곽부분의 온도가 중심부보다 낮을 경우에는 푸싱판(10)의 외곽부분에 회전가능하게 설치된 개폐판(13)의 손잡이(16)를 잡은 상태에서 상기 개폐판(13)을 시계 또는 반시계방향으로 회전시켜 개폐판(13)에 형성된 공기 유통공(14)을 도 7a와 같이 푸싱판(10)에 형성된 공기 유통공(12)과 상호 일치시킨다.

이에 따라, 테스트시 푸셔(11)가 캐리어 모듈(3)을 눌러 줄 때 공기 유통공(12)(14)을 통해 보다 많은 열이 캐리어 모듈에 로딩된 소자에 전달가능하게 된다.

한편, 푸싱판(10)의 외곽부분보다 높은 온도의 분포를 나타낸 푸싱판(10)의 중심부는 공기 유통공(12)(14)을 통해 외곽부분보다 적은 열이 통과되도록 조절하여야 된다.

이를 위해, 푸싱판(10)에 회전가능하게 설치된 개폐판(13)을 도 7b와 같이 회전시켜 개폐판(13)에 형성된 공기 유통공(14)과 푸싱판(10)에 형성된 공기 유통공(12)이 상호 어긋나도록 하면 테스트시 푸셔(11)가 캐리어 모듈(3)을 눌러 줄 때 공기 유통공(12)(14)을 통해 외곽부분보다 적은 열이 소자에 전달가능하게 되므로 결국 테스트 트레이(1)의 각 캐리어 모듈(3)에 매달린 소자에 전달되는 열을 균일하게 유지시킬 수 있게 되는 것이다.

이상에서와 같이 본 고안은 테스트에 적절한 온도로 설정된 테스트부내의 열을 테스트시 소자에 직접 전달함과 동시에 테스트부내의 온도분포가 불균일하더라도 테스트시 캐리어 모듈에 로딩된 소자에 열을 균일하게 전달 가능하므로 테스트에 따른 신뢰도를 향상시킬 수 있게 된다.

Claims (3)

1. 테스트시 캐리어 모듈과 접속되는 부위가 개방되게 원통형상으로 이루어진 복수개의 푸셔와, 상기 푸셔가 고정되는 부위가 상호 통하여지도록 공기 유통공이 형성된 푸싱판과, 상기 푸싱판에 형성된 각 공기 유통공상에 설치되어 공기 유통공의 면적을 조절하는 개폐판으로 구성된 핸들러를 이용한 테스트시 소자의 테스트온도 조절장치.
2. 제 1 항에 있어서,

   복수개의 푸셔가 고정된 푸싱판에 푸셔와 통하여지게 분할 형성된 공기 유통공이 형성되고, 상기 공기 유통공사이에는 푸싱판에 형성된 공기 유통공과 대응되는 공기 유통공이 형성된 개폐판이 축을 중심으로 회동되게 설치된 핸들러를 이용한 테스트시 소자의 테스트온도 조절장치.
3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,

   개폐판에 손잡이가 형성된 핸들러를 이용한 테스트시 소자의 테스트온도 조절장치.