KR20100090652A - Resin composition - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A resin composition is provided to secure the lamination property of the composition, and to improve the adhesion property with an insulating layer and a conductive layer. CONSTITUTION: A resin composition for a multi-layer printed circuit board contains a cyanate ester resin, an epoxy resin, a thermoplastic resin, talcum, and silica. The thermoplastic resin is a polymer resin selected from the group consisting of a phenoxy resin, a polyimide resin, a polyamideimide resin, a polyetherimide resin, a polysulfone resin, a polyethersulfone resin, a polyphenylene ether resin, a polycarbonate resin, a polyetheretherketone resin, a polyester resin, a polyacetal resin, and a polybutyral resin.

Description

수지 조성물{Resin composition}Resin composition

본 발명은, 다층 프린트 배선판 등의 절연층 형성에 적합한 수지 조성물에 관한 것이다.
This invention relates to the resin composition suitable for formation of insulating layers, such as a multilayer printed wiring board.

최근, 전자 기기의 소형화, 고성능화가 진행되어 다층 프린트 배선판은, 전자 부품의 실장 밀도를 향상시키기 위해서, 도체 배선의 미세화가 진행되고 있다. 다층 프린트 배선판의 절연층에 사용하는 수지 조성물로서는, 예를 들면, 에폭시 수지와 그 경화제로서 기능하는 시아네이트에스테르 수지를 함유하는 수지 조성물이 유전 특성이 우수한 절연층을 형성할 수 있는 것이 알려져 있다. 또한, 배선이 고밀도화된 다층 프린트 배선판에서는, 도체층과 절연층의 열팽창계수의 차이에 의한 균열 발생 등의 문제가 발생하기 쉬워지기 때문에, 절연층의 열팽창율을 낮게 억제하는 것이 요구된다. 수지 조성물로의 무기 충전재의 첨가는 열팽창율을 낮추는 수단으로서 범용되고 있으며, 무기 충전재로서는, 특히 물리 강도가 강하고, 경도가 높고, 또 내열수성의 점에서 우수한 실리카가 일반적으로 널리 사용되고 있다. 예를 들면, 특허 문헌 1, 2에는, 에폭시 수지, 시아네이트에스테르 수지, 실리카 등을 함유하는 수지 조성물이 개시되어 있다.
In recent years, miniaturization and high performance of electronic devices have progressed, and in order to improve the mounting density of an electronic component of a multilayer printed wiring board, refinement | miniaturization of conductor wiring is advanced. As a resin composition used for the insulating layer of a multilayer printed wiring board, it is known that the resin composition containing an epoxy resin and the cyanate ester resin which functions as its hardening | curing agent can form the insulating layer excellent in dielectric properties, for example. In addition, in a multilayer printed wiring board having a high density of wirings, problems such as occurrence of cracking due to a difference in the thermal expansion coefficient of the conductor layer and the insulating layer tend to occur, and therefore, it is required to reduce the thermal expansion rate of the insulating layer low. Addition of the inorganic filler to the resin composition is widely used as a means for lowering the coefficient of thermal expansion, and as an inorganic filler, silica, which is particularly strong in physical strength, high in hardness, and excellent in hot water resistance, is generally widely used. For example, Patent Documents 1 and 2 disclose resin compositions containing epoxy resins, cyanate ester resins, silicas, and the like.

[선행기술문헌][Prior Art Literature]

[특허문헌][Patent Documents]

[특허 문헌 1]국제공개 2003/099952호 팜플렛 [Patent Document 1] International Publication 2003/099952 Pamphlet

[특허 문헌 2]국제공개 2008/044766호 팜플렛
[Patent Document 2] International Publication 2008/044766 pamphlet

한편, 본 발명자들은, 에폭시 수지, 시아네이트에스테르 수지, 실리카를 함유하는 수지 조성물을 회로 기판에 적층하고, 당해 수지 조성물을 경화하여 형성된 절연층에 대해서, 고온 고습하에서의 환경 시험을 실시하면, 도체층과 절연층간의 박리 강도가 현저하게 저하된다고 하는 지견을 수득하였다. On the other hand, when the present inventors carry out the environmental test under high temperature, high humidity with respect to the insulating layer formed by laminating | stacking the resin composition containing an epoxy resin, a cyanate ester resin, and a silica to a circuit board, and hardening the said resin composition, a conductor layer is carried out. The knowledge that the peeling strength between a material and an insulating layer falls remarkably was acquired.

본 발명은, 프린트 배선판의 절연층 형성에 적합한 수지 조성물로서, 당해 수지 조성물을 사용하여 회로 기판을 제조함으로써, 도체층과 절연층의 밀착성을 보다 안정적으로 유지할 수 있는, 수지 조성물을 제공하는 것을 목적으로 한다.
An object of the present invention is to provide a resin composition suitable for forming an insulating layer of a printed wiring board, by which a circuit board can be manufactured using the resin composition so that the adhesion between the conductor layer and the insulating layer can be more stably maintained. It is done.

본 발명자들은, 에폭시 수지 및 시아네이트에스테르 수지를 포함하는 수지 조성물 중에 활석을 배합한 경우에는, 가속 환경 시험후의 도체층과 절연층의 밀착성을 안정적으로 유지할 수 있는 것을 밝혀내었다. 한편, 충분한 밀착성을 유지하고, 또한 절연층의 열팽창율을 저하시키기 위해서 활석의 배합량을 많게 하면, 수지 조성물의 용융 점도가 지나치게 높아져 라미네이트에 적합하지 않는 것을 밝혀내었다. 본 발명자들은, 더욱 검토한 결과, 에폭시 수지, 시아네이트에스테르 수지, 열가소성 수지를 포함하는 수지 조성물에 있어서, 무기 충전재로서 활석과 실리카를 일정 비율로 병용함으로써, 도체층과의 밀착성, 저열팽창율, 라미네이트성이 균형적인 양호한 절연층이 형성되는 것을 밝혀내고, 본 발명을 완성시켰다.MEANS TO SOLVE THE PROBLEM The present inventors discovered that when talc was mix | blended with the resin composition containing an epoxy resin and a cyanate ester resin, adhesiveness of the conductor layer and an insulating layer after an accelerated environmental test can be stably maintained. On the other hand, when the compounding quantity of talc was made large in order to maintain sufficient adhesiveness and to reduce the thermal expansion rate of an insulating layer, it turned out that the melt viscosity of a resin composition becomes high too much and is not suitable for a laminate. MEANS TO SOLVE THE PROBLEM As a result of further investigation, in the resin composition containing an epoxy resin, a cyanate ester resin, and a thermoplastic resin, adhesiveness with a conductor layer, a low thermal expansion coefficient, and a laminate are used by using a talc and a silica together as an inorganic filler in a fixed ratio. It was found that a good insulating layer having balanced properties was formed and completed the present invention.

즉, 본 발명은 이하의 내용을 포함하는 것이다. That is, this invention includes the following content.

[1] (A) 시아네이트에스테르 수지, (B) 에폭시 수지, (C) 열가소성 수지, (D) 활석 및 (E) 실리카를 함유하는 프린트 배선판용 수지 조성물로서, 수지 조성물 중의 불휘발분을 100질량%로 한 경우, (1) 성분 (D) 활석과 성분 (E) 실리카의 함유량의 합계가 35 내지 60질량%이며, (2) 성분 (D) 활석의 함유량이 5 내지 20질량%인 수지 조성물.[1] A resin composition for a printed wiring board containing (A) cyanate ester resin, (B) epoxy resin, (C) thermoplastic resin, (D) talc and (E) silica, wherein the nonvolatile content in the resin composition is 100 mass. When it is set as%, the sum total of content of (1) component (D) talc and a component (E) silica is 35-60 mass%, and (2) resin composition whose content of component (D) talc is 5-20 mass%. .

[2] (A) 시아네이트에스테르 수지, (B) 에폭시 수지, (C) 열가소성 수지, (D) 활석 및 (E) 실리카를 함유하는 프린트 배선판용 수지 조성물로서, 수지 조성물 중의 불휘발분을 100질량%로 한 경우, (1) 성분 (D) 활석과 성분 (E) 실리카의 함유량의 합계가 45 내지 60질량%이며, (2) 성분 (D) 활석의 함유량이 5 내지 20질량%인 수지 조성물.[2] A resin composition for a printed wiring board containing (A) cyanate ester resin, (B) epoxy resin, (C) thermoplastic resin, (D) talc and (E) silica, wherein the nonvolatile content in the resin composition is 100 mass. When it is set as%, the sum total of content of (1) component (D) talc and component (E) silica is 45-60 mass%, and (2) resin composition whose content of component (D) talc is 5-20 mass%. .

[3] 상기 항목 [1] 또는 [2]에 있어서, 성분 (D) 활석의 평균 입자 직경이 1.3㎛ 이하인, 수지 조성물.[3] The resin composition according to the item [1] or [2], wherein the average particle diameter of the component (D) talc is 1.3 µm or less.

[4] 상기 항목 [1] 또는 [2]에 있어서, 성분 (C) 열가소성 수지가, 페녹시 수지, 폴리이미드 수지, 폴리아미드이미드 수지, 폴리에테르이미드 수지, 폴리설폰 수지, 폴리에테르설폰 수지, 폴리페닐렌에테르 수지, 폴리카보네이트 수지, 폴리에테르에테르케톤 수지, 폴리에스테르 수지, 폴리아세탈 수지 및 폴리부티랄 수지로부터 선택되는 1종 이상의 수지인, 수지 조성물.[4] The item (1) or [2], wherein the component (C) thermoplastic resin is a phenoxy resin, a polyimide resin, a polyamideimide resin, a polyetherimide resin, a polysulfone resin, a polyether sulfone resin, The resin composition which is at least 1 sort (s) of resin chosen from polyphenylene ether resin, polycarbonate resin, polyether ether ketone resin, polyester resin, polyacetal resin, and polybutyral resin.

[5] 상기 항목 [1] 또는 [2]에 있어서, 성분 (C) 열가소성 수지가 페녹시 수지인, 수지 조성물.[5] The resin composition according to the item [1] or [2], wherein the component (C) thermoplastic resin is a phenoxy resin.

[6] 상기 항목 [1] 내지 [3] 중의 어느 한 항에 있어서, 성분 (D) 활석 및 성분 (E) 실리카가 미리 표면 처리되어 있는, 수지 조성물.[6] The resin composition according to any one of the above items [1] to [3], wherein the component (D) talc and the component (E) silica are surface treated in advance.

[7] 상기 항목 [1] 내지 [6] 중의 어느 한 항에 있어서, 열팽창율이 44ppm 이하이며, 환경 시험 전후의 밀착 유지율이 40% 이상인, 수지 조성물.[7] The resin composition according to any one of the above items [1] to [6], wherein the thermal expansion rate is 44 ppm or less, and the adhesion retention rate before and after the environmental test is 40% or more.

[8] 상기 항목 [1] 내지 [7] 중의 어느 한 항에 있어서, 다층 프린트 배선판의 층간 절연용인, 수지 조성물.[8] The resin composition according to any one of the above items [1] to [7], which is for interlayer insulation of a multilayer printed wiring board.

[9] 상기 항목 [1] 내지 [8] 중의 어느 한 항에 따르는 수지 조성물이 지지 필름 위에 층 형성되어 이루어지는 접착 필름.[9] An adhesive film, wherein the resin composition according to any one of [1] to [8] is layered on a support film.

[10] 상기 항목 [1] 내지 [8] 중의 어느 한 항에 따르는 수지 조성물이 섬유로 이루어지는 시트상 보강 기재 중에 함침되어 이루어지는 프리프레그.[10] A prepreg in which the resin composition according to any one of the above items [1] to [8] is impregnated into a sheet-like reinforcing base material made of fibers.

[11] 상기 항목 [1] 내지 [8] 중의 어느 한 항에 따르는 수지 조성물의 경화물을 포함하는 절연층과, 당해 절연층 위에 형성되는 도체층을 구비하는 프린트 배선판.
[11] A printed wiring board comprising an insulating layer containing a cured product of the resin composition according to any one of the above items [1] to [8], and a conductor layer formed on the insulating layer.

본 발명에 의하면, 다층 프린트 배선판 등의 회로 기판의 절연층 형성에 적합한 수지 조성물로서, 라미네이트성이 우수하고, 경화하여 절연층을 형성한 경우에, 고온 고습하의 환경 시험후에도, 도체층과 절연층의 밀착성이 충분하여 저열팽창율성도 우수한 수지 조성물이 제공된다.
According to the present invention, a resin composition suitable for forming an insulating layer of a circuit board such as a multilayer printed wiring board, which has excellent lamination properties and is cured to form an insulating layer, the conductor layer and the insulating layer even after an environmental test under high temperature and high humidity. The resin composition which has sufficient adhesiveness and is excellent also in low thermal expansion coefficient is provided.

이하, 본 발명을 그 적합한 실시 형태에 입각하여 상세하게 설명한다. EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, this invention is demonstrated in detail based on the suitable embodiment.

[활석, 실리카][Talc, Silica]

본 발명에 있어서 사용되는 활석은, 특별히 한정되는 것은 아니며, 각종 활석을 사용할 수 있고, 소성 활석을 사용해도 양호하다. 활석의 평균 입자 직경의 상한치는, 미세 배선화, 절연 신뢰성의 관점에서, 5㎛가 바람직하고, 4㎛가 보다 바람직하고, 3㎛가 더욱 바람직하고, 2.5㎛가 더욱 한층 바람직하고, 1.8㎛가 특히 바람직하고, 1.3㎛가 특히 바람직하다. 한편 활석의 평균 입자 직경의 하한치는, 수지의 점도가 지나치게 높아져 미세 배선간에 수지가 매립되기 어려워지는 것을 방지한다는 관점에서, 0.1㎛가 바람직하고, 0.2㎛가 보다 바람직하고, 0.3㎛가 더욱 바람직하고, 0.4㎛가 더욱 한층 바람직하고, 0.5㎛가 특히 바람직하다. The talc used in the present invention is not particularly limited, various talc may be used, and calcined talc may be used. 5 micrometers is preferable, 4 micrometers is more preferable, 3 micrometers is still more preferable, 2.5 micrometers is still more preferable, 1.8 micrometers is especially the upper limit of the average particle diameter of a talc from a viewpoint of microwiring and insulation reliability. It is preferable and 1.3 micrometer is especially preferable. On the other hand, 0.1 micrometer is preferable, 0.2 micrometer is more preferable, 0.3 micrometer is still more preferable from a viewpoint that the lower limit of the average particle diameter of talc prevents resin becoming too high and it becomes difficult to embed resin between fine wiring. 0.4 micrometer is further more preferable, and 0.5 micrometer is especially preferable.

시판되고 있는 활석으로서는, 니혼타르크 가부시키가이샤 제조의 D-600(평균 입자 직경 0.6㎛), D-800(평균 입자 직경 0.8㎛), D-1000(평균 입자 직경 1.0㎛), SG-95S(평균 입자 직경 1.2㎛), SG-95(평균 입자 직경 2.5㎛), P-8(평균 입자 직경 3.3㎛), P-6(평균 입자 직경 4.0㎛), P-4(평균 입자 직경 4.5㎛), P-3(평균 입자 직경 5.0㎛), P-2(평균 입자 직경 7.0㎛), L-1(평균 입자 직경 5.0㎛), K-1(평균 입자 직경 8.0㎛), L-G(평균 입자 직경 5.0㎛) 등을 들 수 있다. 상기 활석의 평균 입자 직경은 미(Mie) 산란 이론에 기초하는 레이저 회절·산란법에 의해 측정할 수 있다. 구체적으로는 레이저 회절식 입도 분포 측정 장치에 의해, 무기 충전재의 입도 분포를 부피 기준으로 작성하고, 그 메디안 직경을 평균 입자 직경으로 함으로써 측정할 수 있다. 측정 샘플은, 활석을 초음파에 의해 수중에 분산시킨 것을 바람직하게 사용할 수 있다. 레이저 회절식 입도 분포 측정 장치로서는, 가부시키가이샤 호리바세사쿠쇼 제조의 LA-500 등을 사용할 수 있다. As commercially available talc, D-600 (average particle diameter: 0.6 µm), D-800 (average particle diameter: 0.8 µm), D-1000 (average particle diameter: 1.0 µm) manufactured by Nippon Tark Co., Ltd., SG-95S (Average particle diameter 1.2 µm), SG-95 (average particle diameter 2.5 µm), P-8 (average particle diameter 3.3 µm), P-6 (average particle diameter 4.0 µm), P-4 (average particle diameter 4.5 µm) ), P-3 (average particle diameter 5.0 µm), P-2 (average particle diameter 7.0 µm), L-1 (average particle diameter 5.0 µm), K-1 (average particle diameter 8.0 µm), LG (average particle diameter 5.0 micrometers in diameter), etc. are mentioned. The average particle diameter of the talc can be measured by a laser diffraction scattering method based on the Mie scattering theory. Specifically, the laser diffraction particle size distribution measuring device can measure the particle size distribution of the inorganic filler on the basis of volume and make the median diameter the average particle diameter. The measurement sample can use preferably the thing which disperse | distributed talc in the water by the ultrasonic wave. As the laser diffraction particle size distribution measuring apparatus, LA-500 manufactured by Horiba Sesaku Sho, etc. may be used.

활석의 배합량으로서는, 특별히 한정되지 않지만, 활석의 배합량의 상한치는, 수지 조성물 중의 불휘발분을 100질량%로 한 경우, 회로 기판으로의 라미네이트성이 악화되는 것을 방지한다는 관점에서, 20질량%가 바람직하고, 19질량%가 보다 바람직하고, 18질량%가 더욱 바람직하고, 17질량%가 더욱 한층 바람직하고, 16질량%가 특히 바람직하고, 15질량%가 특히 바람직하다. 한편, 활석의 배합량의 하한치는, 수지 조성물 중의 불휘발분을 100질량%로 한 경우, 환경 시험후의 도체층과 절연층의 밀착 강도가 저하되는 것을 방지한다는 관점에서, 5질량%가 바람직하고, 6질량%가 보다 바람직하고, 7질량%가 더욱 바람직하고, 8질량%가 더욱 한층 바람직하고, 9질량%가 특히 바람직하고, 10질량%가 특히 바람직하다.Although it does not specifically limit as a compounding quantity of talc, The upper limit of the compounding quantity of talc is 20 mass% from a viewpoint of preventing the lamination property to a circuit board from deteriorating, when the non volatile matter in a resin composition is 100 mass%. 19 mass% is more preferable, 18 mass% is more preferable, 17 mass% is further more preferable, 16 mass% is especially preferable, and 15 mass% is especially preferable. On the other hand, when the non-volatile content in the resin composition is 100% by mass, the lower limit of the blending amount of talc is preferably 5% by mass, from the viewpoint of preventing the adhesion strength between the conductor layer and the insulating layer from deteriorating, and 6 Mass% is more preferable, 7 mass% is more preferable, 8 mass% is further more preferable, 9 mass% is especially preferable, and 10 mass% is especially preferable.

활석과 실리카의 합계 배합량은, 특별히 한정되지 않지만, 활석과 실리카의 합계 배합량의 상한치는, 수지 조성물 중의 불휘발분을 100질량%로 한 경우, 회로 기판으로의 라미네이트성이 악화되는 것을 방지한다는 관점에서, 70질량%가 바람직하고, 65질량%가 보다 바람직하고, 62질량%가 더욱 바람직하고, 60질량%가 더욱 한층 바람직하고, 58질량%가 특히 바람직하고, 56질량%가 특히 바람직하다. 한편, 활석과 실리카의 합계 배합량의 하한치는, 수지 조성물 중의 불휘발분을 100질량%로 한 경우, 절연층의 열팽창율을 낮게 한다는 관점에서, 35중량%가 바람직하고, 40질량%가 보다 바람직하고, 42질량%가 더욱 바람직하고, 45질량%가 더욱 한층 바람직하고, 47질량%가 특히 바람직하고, 49질량%가 특히 바람직하다. Although the total compounding quantity of talc and silica is not specifically limited, The upper limit of the total compounding quantity of talc and silica is the point which prevents the lamination property to a circuit board from deteriorating, when the non volatile matter in a resin composition is 100 mass%. , 70 mass% is preferable, 65 mass% is more preferable, 62 mass% is more preferable, 60 mass% is further more preferable, 58 mass% is especially preferable, 56 mass% is especially preferable. On the other hand, when the non-volatile content in the resin composition is 100 mass%, the lower limit of the total amount of talc and silica is preferably 35% by weight, more preferably 40% by weight from the viewpoint of lowering the thermal expansion coefficient of the insulating layer. , 42 mass% is more preferable, 45 mass% is further more preferable, 47 mass% is especially preferable, and 49 mass% is especially preferable.

본 발명의 수지 조성물에 배합하는 실리카는, 특별히 한정되지는 않으며, 무정형 실리카, 용융 실리카, 결정 실리카, 합성 실리카 등의 각종 실리카가 사용되며, 특히 구상의 용융 실리카가 바람직하다. 실리카의 평균 입자 직경은 특별히 한정되지 않지만, 미세 배선 형성의 관점에서, 평균 입자 직경 5㎛ 이하가 바람직하고, 특히 0.1 내지 1.0㎛인 것이 바람직하다. 평균 입자 직경이 지나치게 작으면, 수지의 점도가 지나치게 높아져 미세 배선간에 수지가 플로우하기 어려워지며, 5.0㎛을 초과하면, 미세 배선간, 도체층간의 절연 신뢰성이 저하되는 경향이 있다. The silica to be blended with the resin composition of the present invention is not particularly limited, and various silicas such as amorphous silica, fused silica, crystalline silica, and synthetic silica are used, and spherical fused silica is particularly preferable. Although the average particle diameter of silica is not specifically limited, From an viewpoint of fine wiring formation, an average particle diameter of 5 micrometers or less is preferable, and it is especially preferable that it is 0.1-1.0 micrometer. When the average particle diameter is too small, the viscosity of the resin becomes too high, making it difficult for the resin to flow between fine wirings, and when it exceeds 5.0 µm, the insulation reliability between fine wirings and conductor layers tends to be lowered.

본 발명에 사용하는 활석 및 실리카는, 표면 처리제로 표면 처리하여 그 내습성이나 분산성을 향상시킨 것이 바람직하다. 표면 처리제로서는, 아미노실란계 커플링제, 에폭시실란계 커플링제, 머캅토실란계 커플링제, 실란계 커플링제, 오르가노실라잔 화합물, 티타네이트계 커플링제 등을 들 수 있다. 아미노실란계 커플링제로서는, 아미노프로필트리메톡시실란, 아미노프로필트리에톡시실란, 우레이드프로필트리에톡시실란, N-페닐아미노프로필트리메톡시실란, N-2-(아미노에틸)아미노프로필트리메톡시실란이 바람직하다. 에폭시실란계 커플링제로서는, 글리시독시프로필트리메톡시실란, 글리시독시프로필트리에톡시실란, 글리시독시프로필메틸디에톡시실란, 글리시딜부틸트리메톡시실란, (3,4-에폭시사이클로헥실)에틸트리메톡시실란이 바람직하다. 머캅토실란계 커플링제로서는, 머캅토프로필트리메톡시실란, 머캅토프로필트리에톡시실란이 바람직하다. 실란계 커플링제로서는, 메틸트리메톡시실란, 옥타데실트리메톡시실란, 페닐트리메톡시실란, 메타크록시프로필트리메톡시실란, 이미다졸실란, 트리아진실란이 바람직하다. 오르가노실라잔 화합물로서는, 헥사메틸디실라잔, 헥사페닐디실라잔, 트리실라잔, 사이클로트리실라잔, 1,1,3,3,5,5-헥사메틸사이클로트리실라잔이 바람직하다. 티타네이트계 커플링제로서는, 부틸티타네이트다이머, 티탄옥틸렌글리콜레이트, 디이소프로폭시티탄비스(트리에탄올아미네이트), 디하이드록시티탄비스락테이트, 디하이드록시비스(암모늄락테이트)티타늄, 비스(디옥틸파이로포스페이트)에틸렌티타네이트, 비스(디옥틸파이로포스페이트)옥시아세테이트티타네이트, 트리-n-부톡시티탄모노스테아레이트, 테트라-n-부틸티타네이트, 테트라(2-에틸헥실)티타네이트, 테토라이소프로필비스(디옥틸포스파이트)티타네이트, 테트라옥틸비스(디트리데실포스파이트)티타네이트, 테트라(2,2-디알릴옥시메틸-1-부틸)비스(디트리데실)포스파이트티타네이트, 이소프로필트리옥타노일티타네이트, 이소프로필트리쿠밀페닐티타네이트, 이소프로필트리이소스테아로일티타네이트, 이소프로필이소스테아로일디아크릴티타네이트, 이소프로필디메타크릴이소스테아로일티타네이트, 이소프로필트리(디옥틸포스페이트)티타네이트, 이소프로필트리도데실벤젠설포닐티타네이트, 이소프로필트리스(디옥틸파이로포스페이트)티타네이트, 이소프로필트리(N-아미드에틸·아미노에틸)티타네이트가 바람직하다.
It is preferable that the talc and silica used for this invention surface-treat with a surface treating agent, and the moisture resistance and dispersibility were improved. Examples of the surface treatment agent include an aminosilane coupling agent, an epoxysilane coupling agent, a mercaptosilane coupling agent, a silane coupling agent, an organosilazane compound, and a titanate coupling agent. As an aminosilane-type coupling agent, aminopropyl trimethoxysilane, aminopropyl triethoxysilane, fluoride propyl triethoxysilane, N-phenylaminopropyl trimethoxysilane, N-2- (aminoethyl) aminopropyl tri Methoxysilanes are preferred. As an epoxy silane coupling agent, glycidoxy propyl trimethoxysilane, glycidoxy propyl triethoxy silane, glycidoxy propyl methyl diethoxy silane, glycidyl butyl trimethoxy silane, (3, 4- epoxy cyclo Hexyl) ethyltrimethoxysilane is preferred. As a mercaptosilane type coupling agent, mercaptopropyl trimethoxysilane and mercaptopropyl triethoxysilane are preferable. As the silane coupling agent, methyltrimethoxysilane, octadecyltrimethoxysilane, phenyltrimethoxysilane, methoxypropyltrimethoxysilane, imidazolesilane and triazine silane are preferable. As the organosilazane compound, hexamethyldisilazane, hexaphenyldisilazane, trisilazane, cyclotrisilazane, 1,1,3,3,5,5-hexamethylcyclotrisilazane are preferable. As a titanate coupling agent, butyl titanate dimer, titanium octylene glycolate, diisopropoxy citabis bis (triethanol aluminate), dihydroxy titanium bis lactate, dihydroxy bis (ammonium lactate) titanium, bis (Dioctylpyrophosphate) ethylene titanate, bis (dioctyl pyrophosphate) oxyacetate titanate, tri-n-butoxy titanium monostearate, tetra-n-butyl titanate, tetra (2-ethylhexyl) Titanate, Tetraisopropylbis (dioctylphosphite) titanate, tetraoctylbis (ditridecylphosphite) titanate, tetra (2,2-diallyloxymethyl-1-butyl) bis (ditridecyl Phosphite titanate, isopropyl trioctanoyl titanate, isopropyl tricumylphenyl titanate, isopropyl triisostearoyl titanate, isopropyl isostaroyl diac Titanate, Isopropyldimethacrylisostearoyl titanate, Isopropyl tri (dioctylphosphate) titanate, Isopropyl tridodecylbenzenesulfonyl titanate, Isopropyl tris (dioctyl pyrophosphate) titanate And isopropyl tri (N-amide ethyl aminoethyl) titanate is preferable.

[시아네이트에스테르 수지][Cyanate Ester Resin]

본 발명에 있어서 사용되는 시아네이트에스테르 수지는, 특별히 한정되는 것이 아니며, 예를 들면, 노볼락형(페놀노볼락형, 알킬페놀노볼락형 등) 시아네이트에스테르 수지, 비스페놀형(비스페놀 A형, 비스페놀 F형, 비스페놀 S형 등) 시아네이트에스테르 수지 및 이들이 일부 트리아진화된 프레폴리머 등을 들 수 있다. 이들은 단독으로 사용해도 양호하며, 2종 이상을 조합하여 사용해도 양호하다. 시아네이트에스테르 수지의 중량 평균 분자량은, 특별히 한정되는 것이 아니지만, 바람직하게는 500 내지 4,500이며, 보다 바람직하게는 600 내지 3,000이다. The cyanate ester resin used in the present invention is not particularly limited, and examples thereof include novolak type (phenol novolak type and alkylphenol novolak type) cyanate ester resins and bisphenol type (bisphenol A type, Bisphenol F type, bisphenol S type, etc.) cyanate ester resins, and some triazine-ized prepolymers thereof. These may be used independently and may be used in combination of 2 or more type. Although the weight average molecular weight of cyanate ester resin is not specifically limited, Preferably it is 500-4,500, More preferably, it is 600-3,000.

시아네이트에스테르 수지의 구체예로서는, 예를 들면, 비스페놀 A 디시아네이트, 폴리페놀시아네이트(올리고(3-메틸렌-1,5-페닐렌시아네이트), 4,4'-메틸렌비스(2,6-디메틸페닐시아네이트), 4,4'-에틸리덴디페닐디시아네이트, 헥사플루오로비스페놀 A 디시아네이트, 2,2-비스(4-시아네이트)페닐프로판, 1,1-비스(4-시아네이트페닐)메탄, 비스(4-시아네이트-3,5-디메틸페닐)메탄, 1,3-비스(4-시아네이트페닐-1-(메틸에틸리덴))벤젠, 비스(4-시아네이트페닐)티오에테르, 비스(4-시아네이트페닐)에테르 등의 2관능 시아네이트 수지; 페놀노볼락, 크레졸노볼락, 디사이클로펜타디엔 구조 함유 페놀 수지 등으로부터 유도되는 다관능 시아네이트 수지; 이들 시아네이트 수지가 일부 트리아진화된 프레폴리머 등을 들 수 있다. As a specific example of cyanate ester resin, bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate (oligo (3-methylene-1,5-phenylene cyanate), 4,4'-methylene bis (2,6, for example) -Dimethylphenylcyanate), 4,4'-ethylidenediphenyldicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis (4-cyanate) phenylpropane, 1,1-bis (4 -Cyanatephenyl) methane, bis (4-cyanate-3,5-dimethylphenyl) methane, 1,3-bis (4-cyanatephenyl-1- (methylethylidene)) benzene, bis (4- Bifunctional cyanate resins such as cyanatephenyl) thioether, bis (4-cyanatephenyl) ether, etc. polyfunctional cyanate resins derived from phenol novolak, cresol novolak, dicyclopentadiene structure-containing phenol resin and the like; Prepolymer etc. which these cyanate resin was partially triazineized are mentioned.

시판되고 있는 시아네이트에스테르 수지로서는, 하기 화학식 1의 페놀노볼락형 다관능 시아네이트에스테르 수지(론자재팬 가부시키가이샤 제조, PT30, 시아네이트 당량 124), 하기 화학식 2의 비스페놀 A 디시아네이트의 일부 또는 전부가 트리아진화되어 3량체가 된 프레폴리머(론자재팬 가부시키가이샤 제조, BA230, 시아네이트 당량 232), 디사이클로펜타디엔 구조 함유 시아네이트에스테르 수지(론자재팬 가부시키가이샤 제조, DT-4000) 등을 들 수 있다. As a commercially available cyanate ester resin, a part of phenol novolak-type polyfunctional cyanate ester resin of following formula (1) (Lonza Japan Co., Ltd. product, PT30, cyanate equivalent 124), and a part of bisphenol A dicyanate of following formula (2) Or a prepolymer (trione-ized by Ronza Japan Co., Ltd., BA230, cyanate equivalent weight 232) which triazine-ized and trimerized, and the dicyclopentadiene structure containing cyanate ester resin (Lonza Japan Co., Ltd. make, DT-4000) Etc. can be mentioned.

Figure pat00001
Figure pat00001

상기 화학식 1에서,In Chemical Formula 1,

n은 평균치로서 임의의 수이다.n is any number as an average value.

Figure pat00002
Figure pat00002

수지 조성물 중의 시아네이트에스테르 수지의 함유량은, 특별히 한정되는 것이 아니지만, 시아네이트에스테르 수지의 함유량의 상한치는, 도체층과 절연층의 밀착 강도가 저하되는 것을 방지하는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발분 100질량%에 대해, 50질량%가 바람직하고, 40질량%가 보다 바람직하고, 30질량%가 더욱 바람직하다. 한편, 시아네이트에스테르 수지의 함유량의 하한치는, 수지 조성물의 내열성이 저하되는 것을 방지하고, 절연층의 열팽창율이 증가하는 것을 방지한다는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발분 100질량%에 대해, 5질량%가 바람직하고, 10질량%가 보다 바람직하고, 15질량%가 더욱 바람직하다.
Although content of cyanate ester resin in a resin composition is not specifically limited, The upper limit of content of cyanate ester resin is a non-volatile content 100 in a resin composition from a viewpoint of preventing the adhesive strength of a conductor layer and an insulating layer from falling. 50 mass% is preferable with respect to mass%, 40 mass% is more preferable, and 30 mass% is further more preferable. On the other hand, the lower limit of content of cyanate ester resin is 5 mass with respect to 100 mass% of non volatile matters in a resin composition from a viewpoint of preventing the heat resistance of a resin composition from falling and preventing the thermal expansion coefficient of an insulating layer from increasing. % Is preferable, 10 mass% is more preferable, and 15 mass% is more preferable.

[에폭시 수지][Epoxy resin]

본 발명에 있어서 사용되는 에폭시 수지는, 특별히 한정되는 것이 아니며, 예를 들면, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 S형 에폭시 수지, 페놀노볼락형 에폭시 수지, 알킬페놀노볼락형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 아르알킬형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 페놀류와 페놀성 하이드록실기를 갖는 방향족 알데히드와의 축합물의 에폭시화물, 비페닐아르알킬형 에폭시 수지, 플루오렌형 에폭시 수지, 크산텐형 에폭시 수지, 트리글리시딜이소시아눌레이트 등을 들 수 있다. 이들 에폭시 수지는 각각 단독으로 사용해도 양호하며, 2종 이상을 조합하여 사용해도 양호하다. 시판되고 있는 에폭시 수지로서는, 예를 들면, 재팬에폭시레진 가부시키가이샤 제조의 「jER828EL」(액상 비스페놀 A형 에폭시 수지), 다이닛폰잉크가가쿠고교 가부시키가이샤 제조의 「HP4032」 및 「HP4032D](나프탈렌형 2관능 에폭시 수지), 다이닛폰잉크가가쿠고교 가부시키가이샤 제조의 「HP4700」(나프탈렌형 4관능 에폭시 수지), 도토카세이 가부시키가이샤 제조의 「ESN-475V」 및 「ESN-185V」(나프톨형 에폭시 수지), 다이셀가가쿠고교 가부시키가이샤 제조의 「PB-3600」(부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지), 니혼카야쿠 가부시키가이샤 제조의 「NC3000H」, 「NC3000L」, 「NC3100」 및 「NC3000」(비페닐형 에폭시 수지), 재팬에폭시레진 가부시키가이샤 제조의 「YX4000」(비페닐형 에폭시 수지), 도토카세이 가부시키가이샤 제조의 GK3207(비페닐형 에폭시 수지), 재팬에폭시레진 가부시키가이샤 제조의 「YX8800」(안트라센 골격 함유형 에폭시 수지) 등을 들 수 있다. The epoxy resin used in this invention is not specifically limited, For example, bisphenol-A epoxy resin, bisphenol F-type epoxy resin, bisphenol S-type epoxy resin, phenol novolak-type epoxy resin, alkylphenol novolak-type Epoxy resins, biphenyl type epoxy resins, aralkyl type epoxy resins, naphthol type epoxy resins, anthracene type epoxy resins, dicyclopentadiene type epoxy resins, naphthalene type epoxy resins, aromatic aldehydes having phenols and phenolic hydroxyl groups; Epoxides of the condensates, biphenyl aralkyl type epoxy resins, fluorene type epoxy resins, xanthene type epoxy resins, triglycidyl isocyanurates, and the like. These epoxy resins may be used independently, respectively and may be used in combination of 2 or more type. Examples of commercially available epoxy resins include "jER828EL" (liquid bisphenol A type epoxy resin) manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., "HP4032" and "HP4032D" manufactured by Dainippon Ink & Chemicals Co., Ltd. Naphthalene type bifunctional epoxy resin), "HP4700" by Dainippon Ink & Chemicals Co., Ltd. (naphthalene type tetrafunctional epoxy resin), "ESN-475V" and "ESN-185V" by Totokasei Co., Ltd. ( Naphthol type epoxy resin), "PB-3600" (the epoxy resin which has butadiene structure) by Daicel Chemical Industries, Ltd., "NC3000H", "NC3000L", "NC3100" and "NC3100" by Nihon Kayaku Co., Ltd. NC3000 "(biphenyl type epoxy resin)," YX4000 "(biphenyl type epoxy resin) by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., GK3207 (biphenyl type epoxy resin) by Totokasei Co., Ltd., ash Manufactured by whether or epoxy resins, and the like "YX8800" (hereinafter anthracene skeleton type epoxy resin) of the preparation.

수지 조성물 중의 에폭시 수지의 함유량은, 특별히 한정되는 것이 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발분 100질량%에 대해, 바람직하게는 5 내지 60질량%이며, 보다 바람직하게는 10 내지 50질량%이며, 더욱 바람직하게는 15 내지 40질량%이다. 에폭시 수지의 함유량이 지나치게 적으면, 후술하는 경화된 조성물 표면의 조화 처리시에 조화 얼룩이 발생하기 쉬워지는 경향이 있다. 에폭시 수지의 함유량이 지나치게 많으면, 상대적으로 시아네이트에스테르 수지의 함유량이 감소되기 때문에, 절연층의 열팽창율이 증대되는 경향이 있다. Although content of the epoxy resin in a resin composition is not specifically limited, Preferably it is 5-60 mass%, More preferably, it is 10-50 mass%, More preferably, with respect to 100 mass% of non volatile matters in a resin composition. Is 15-40 mass%. When there is too little content of an epoxy resin, there exists a tendency for roughening unevenness to arise easily at the time of the roughening process of the hardened composition surface mentioned later. When there is too much content of an epoxy resin, since content of cyanate ester resin will decrease relatively, there exists a tendency for the thermal expansion rate of an insulating layer to increase.

시아네이트에스테르 수지의 시아네이트 당량과, 에폭시 수지의 에폭시 당량의 비는, 바람직하게는 1:0.4 내지 1:2이며, 보다 바람직하게는 1:0.5 내지 1:1.5이다. 당량비가 상기 범위외이면, 후술하는 습식 조화 공정에 있어서 절연층 표면의 저조도화와 도금에 의해 형성한 도체층과 절연층의 밀착 강도의 양립이 곤란해지는 경향이 있다.
The ratio of cyanate equivalent of cyanate ester resin and epoxy equivalent of epoxy resin becomes like this. Preferably it is 1: 0.4-1: 2, More preferably, it is 1: 0.5-1: 1.5. If the equivalence ratio is out of the above range, in the wet roughening step described later, there is a tendency that compatibility between the adhesion strength of the conductor layer and the insulating layer formed by lowering roughness of the insulating layer surface and plating is difficult.

[열가소성 수지][Thermoplastic resin]

본 발명에 사용되는 열가소성 수지로서는, 페녹시 수지, 폴리이미드 수지, 폴리아미드이미드 수지, 폴리에테르이미드 수지, 폴리설폰 수지, 폴리에테르설폰 수지, 폴리페닐렌에테르 수지, 폴리카보네이트 수지, 폴리에테르에테르케톤 수지, 폴리에스테르 수지, 폴리비닐아세탈 수지, 폴리비닐부티랄 수지 등을 들 수 있다. 이러한 열가소성 수지는 각각 단독으로 사용해도 양호하며, 2종 이상을 조합하여 사용해도 양호하다. Examples of the thermoplastic resin used in the present invention include phenoxy resins, polyimide resins, polyamideimide resins, polyetherimide resins, polysulfone resins, polyethersulfone resins, polyphenylene ether resins, polycarbonate resins, and polyether ether ketones. Resin, polyester resin, polyvinyl acetal resin, polyvinyl butyral resin and the like. These thermoplastic resins may be used independently, respectively and may be used in combination of 2 or more type.

열가소성 수지로서는, 회로 기판으로의 라미네이트성이 악화되는 것을 방지한다는 관점에서, 페녹시 수지, 폴리비닐아세탈 수지가 바람직하다. 폴리비닐아세탈 수지로서는, 특히 폴리비닐부티랄 수지가 바람직하다. 폴리비닐아세탈 수지의 구체예로서는, 덴키가가쿠고교 가부시키가이샤 제조의 덴카부티랄 4000-2, 5000-A, 6000-C 및 6000-EP, 세키스이가가쿠고교 가부시키가이샤 제조의 에스렉 BH시리즈, BX시리즈, KS시리즈, BL시리즈 및 BM시리즈 등을 들 수 있다. 페녹시 수지의 구체예로서는, 도토카세이 가부시키가이샤 제조의 FX280 및 FX293, 재팬에폭시레진 가부시키가이샤 제조의 YX8100, YX6954, YL6974, YL7482, YL7553, YL6794, YL7213 및 YL7290 등을 들 수 있다. 폴리비닐아세탈 수지는 유리 전이 온도가 80℃ 이상인 것이 특히 바람직하다. 여기에서 말하는 「유리 전이 온도」는 JIS K 7197에 기재된 방법에 따라서 결정된다. 또한, 유리 전이 온도가 분해 온도보다도 높고, 실제로는 유리 전이 온도가 관측되지 않는 경우에는, 분해 온도를 본 발명에 있어서의 유리 전이 온도라고 간주할 수 있다. 또한, 분해 온도란, JIS K 7120에 기재된 방법에 따라서 측정했을 때의 질량 감소율이 5%가 되는 온도로 정의된다. As a thermoplastic resin, a phenoxy resin and a polyvinyl acetal resin are preferable from a viewpoint of preventing the lamination property to a circuit board from deteriorating. As polyvinyl acetal resin, polyvinyl butyral resin is especially preferable. As a specific example of polyvinyl acetal resin, Denkabutyral 4000-2, 5000-A, 6000-C and 6000-EP by Seiki Sugigaku Kogyo Co., Ltd. Esrek BH series by Sekisui Kagaku Kogyo Co., Ltd. make , BX series, KS series, BL series and BM series. As a specific example of a phenoxy resin, FX280 and FX293 by Totokasei Co., Ltd., YX8100, YX6954, YL6974, YL7482, YL7553, YL6794, YL7213, YL7290, etc. by Japan Epoxy Resin Co., Ltd. are mentioned. It is especially preferable that polyvinyl acetal resin is 80 degreeC or more in glass transition temperature. "Glass transition temperature" here is determined according to the method of JISK7197. In addition, when a glass transition temperature is higher than a decomposition temperature and a glass transition temperature is not observed actually, a decomposition temperature can be regarded as a glass transition temperature in this invention. In addition, a decomposition temperature is defined as the temperature at which a mass reduction rate when it measures by the method of JISK7120 becomes 5%.

열가소성 수지의 중량 평균 분자량은, 5,000 내지 200,000의 범위인 것이 바람직하고, 10,000 내지 150,000의 범위인 것이 보다 바람직하고, 15,000 내지 100,000의 범위인 것이 더욱 바람직하고, 20,000 내지 80,000의 범위인 것이 더욱 한층 바람직하다. 이 범위보다도 작으면 필름 성형능이나 기계 강도 향상의 효과가 충분히 발휘되지 않는 경향이 있으며, 이 범위보다도 크면 시아네이트에스테르 수지 및 에폭시 수지와의 상용성이 저하되고, 절연층 표면의 조화 처리후의 조도가 증대되는 경향이 있다. The weight average molecular weight of the thermoplastic resin is preferably in the range of 5,000 to 200,000, more preferably in the range of 10,000 to 150,000, still more preferably in the range of 15,000 to 100,000, still more preferably in the range of 20,000 to 80,000. Do. When smaller than this range, there exists a tendency for the effect of film forming ability and mechanical strength improvement not to fully be exhibited, and when larger than this range, compatibility with cyanate ester resin and an epoxy resin will fall, and the roughness after roughening of the surface of an insulating layer will be reduced. Tends to be increased.

또한 본 발명에 있어서의 중량 평균 분자량은, 겔 침투 크로마토그래피(GPC)법(폴리스티렌 환산)으로 측정된다. GPC법에 의한 중량 평균 분자량은, 구체적으로는, 측정 장치로서 가부시키가이샤 시마즈세사쿠쇼 제조의 LC-9A/RID-6A를, 칼럼으로서 쇼와덴코 가부시키가이샤 제조의 Shodex K-800P/K-804L/K-804L을, 이동상으로서 클로로포름 등을 사용하여, 칼럼 온도 40℃에서 측정하여, 표준 폴리스티렌의 검량선을 사용하여 산출할 수 있다. In addition, the weight average molecular weight in this invention is measured by the gel permeation chromatography (GPC) method (polystyrene conversion). As for the weight average molecular weight by GPC method, Shodex K-800P / K by Showa Denko Co., Ltd. was made as the column of LC-9A / RID-6A by Shimadzu Corporation, Ltd. as a measuring device specifically ,. -804L / K-804L can be measured at the column temperature of 40 degreeC using chloroform etc. as a mobile phase, and can be computed using the analytical curve of standard polystyrene.

수지 조성물 중의 열가소성 수지의 함유량은, 특별히 한정되는 것이 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발분 100질량%에 대해, 바람직하게는 1 내지 20질량%이며, 보다 바람직하게는 2 내지 15질량%이며, 더욱 바람직하게는 3 내지 10질량%이다. 열가소성 수지의 함유량이 지나치게 적으면 필름 성형능이나 기계 강도 향상의 효과가 발휘되지 않는 경향으로 되고, 또한 환경 시험후의 밀착 유지의 효과가 발휘되지 않는 경향으로 되고, 지나치게 많으면 후술하는 습식 조화 공정후의 절연층 표면의 조도가 증대되는 경향이 있다. Although content of the thermoplastic resin in a resin composition is not specifically limited, It is 1-20 mass% with respect to 100 mass% of non volatile matters in a resin composition, More preferably, it is 2-15 mass%, More preferably, Is 3-10 mass%. When the content of the thermoplastic resin is too small, the film forming ability and the effect of improving mechanical strength are not tended to be exhibited, and the effect of adhesion retention after environmental testing is not tended to be exhibited. The roughness of the layer surface tends to be increased.

본 발명의 수지 조성물은 (A) 성분, (B) 성분, (C) 성분, (D) 성분 및 (E) 성분을 포함하고, 라미네이트성이 우수하고, 경화되어 절연층을 형성한 경우에, 고온 고습하의 환경 시험후에도, 도체층과 절연층의 밀착성이 충분하고, 저열팽창율성도 우수한 수지 조성물을 제공할 수 있다. When the resin composition of this invention contains (A) component, (B) component, (C) component, (D) component, and (E) component, is excellent in lamination property, and hardens and forms the insulating layer, Even after the environmental test under high temperature, high humidity, the adhesiveness of a conductor layer and an insulating layer is enough, and the resin composition excellent also in low thermal expansion coefficient can be provided.

본 발명의 수지 조성물의 경화물의 열팽창율은, 후술하는 <열팽창율CTE(coefficient of thermal expansion)의 측정 및 평가>에 기재된 측정 방법에 의해 파악할 수 있다. The thermal expansion rate of the hardened | cured material of the resin composition of this invention can be grasped | ascertained by the measuring method as described in <measurement and evaluation of a coefficient of thermal expansion (coefficient of thermal expansion) mentioned later.

본 발명의 수지 조성물의 경화물의 열팽창율은, 44ppm 이하가 바람직하고, 42ppm 이하가 보다 바람직하고, 40ppm 이하가 더욱 바람직하고, 38ppm 이하가 더욱 한층 바람직하고, 36ppm 이하가 특히 바람직하고, 34ppm 이하가 특히 바람직하다. 또한, 당해 열팽창율의 하한치에 관해서도 가능한 한 낮은 쪽이 양호하며, 30ppm이 바람직하고, 25ppm이 보다 바람직하고, 20ppm이 더욱 바람직하고, 10ppm이 더욱 한층 바람직하고, 4ppm이 특히 바람직하다. The thermal expansion coefficient of the cured product of the resin composition of the present invention is preferably 44 ppm or less, more preferably 42 ppm or less, still more preferably 40 ppm or less, still more preferably 38 ppm or less, particularly preferably 36 ppm or less, and 34 ppm or less. Particularly preferred. The lower limit of the thermal expansion coefficient is also preferably as low as possible, preferably 30 ppm, more preferably 25 ppm, further preferably 20 ppm, even more preferably 10 ppm, and particularly preferably 4 ppm.

본 발명의 수지 조성물로 형성되는 절연층과 도체층의 환경 시험 전후의 밀착 유지율은, 후술하는 <도체층의 밀착 강도(필 강도)의 측정 및 평가>에 기재된 측정 방법에 의해 파악할 수 있다. The adhesion retention rate before and after the environmental test of the insulation layer and conductor layer formed from the resin composition of this invention can be grasped | ascertained by the measuring method as described in <measurement and evaluation of the adhesion strength (fill strength) of a conductor layer mentioned later.

본 발명의 수지 조성물로 형성되는 절연층과 도체층의 환경 시험 전후의 밀착 유지율은, 40% 이상이 바람직하고, 45% 이상이 보다 바람직하고, 50% 이상이 더욱 바람직하고, 55% 이상이 더욱 한층 바람직하고, 60% 이상이 특히 바람직하고, 65% 이상이 특히 바람직하고, 70% 이상이 특히 바람직하다. 또한, 당해 밀착 유지율의 상한치에 관해서도 가능한 한 높은 쪽이 양호하며, 80%가 바람직하고, 82%가 보다 바람직하고, 84%가 더욱 바람직하고, 86%가 더욱 한층 바람직하고, 90%가 특히 바람직하고, 100%가 특히 바람직하다.
40% or more is preferable, 45% or more is more preferable, 50% or more is more preferable, and 55% or more of the adhesion retention factor before and after the environmental test of the insulating layer and conductor layer which are formed from the resin composition of this invention is more preferable. It is still more preferable, 60% or more is particularly preferable, 65% or more is particularly preferable, and 70% or more is particularly preferable. The higher limit of the adhesion retention ratio is also as high as possible, preferably 80%, more preferably 82%, still more preferably 84%, still more preferably 90%, and particularly preferably 90%. 100% is particularly preferred.

[유기 금속 화합물][Organic Metal Compounds]

본 발명의 수지 조성물에는, 경화 촉진의 관점에서, 추가로 유기 금속 화합물을 첨가할 수 있다. 유기 금속 화합물로서는, 구리(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 구리 화합물; 아연(II)아세틸아세토네이트, 나프텐산아연(II) 등의 유기 아연 화합물; 코발트(II)아세틸아세토네이트, 코발트(III)아세틸아세토네이트 등의 유기 코발트 화합물; 니켈(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 니켈 화합물; 철(III)아세틸아세토네이트 등의 유기 철 화합물 등을 들 수 있다. 유기 금속 화합물의 첨가량은, 수지 조성물 중의 불휘발분 100질량%에 대해, 유기 금속 화합물의 금속 함유량으로서, 25 내지 500ppm, 보다 바람직하게는 40 내지 200ppm의 범위인 것이 바람직하다. 25ppm 미만이면, 조도가 낮고, 높은 필 강도의 도체층의 형성이 곤란해지고, 500ppm을 초과하면, 수지 조성물의 보존 안정성, 절연성에 문제가 발생하는 경향으로 된다.
An organometallic compound can be further added to the resin composition of the present invention from the viewpoint of curing acceleration. As an organometallic compound, Organic copper compounds, such as copper (II) acetylacetonate; Organic zinc compounds such as zinc (II) acetylacetonate and zinc naphthenate (II); Organic cobalt compounds such as cobalt (II) acetylacetonate and cobalt (III) acetylacetonate; Organic nickel compounds such as nickel (II) acetylacetonate; Organic iron compounds, such as iron (III) acetylacetonate, etc. are mentioned. The addition amount of the organometallic compound is preferably 25 to 500 ppm, more preferably 40 to 200 ppm, as the metal content of the organometallic compound, relative to 100% by mass of the nonvolatile matter in the resin composition. If it is less than 25 ppm, roughness will be low and formation of a conductor layer of high peeling strength will become difficult, and when it exceeds 500 ppm, it will become a tendency to generate | occur | produce a problem in the storage stability and insulation of a resin composition.

[고무 입자][Rubber particles]

본 발명의 수지 조성물에는, 밀착성 향상의 관점에서, 고무 입자를 추가로 첨가할 수 있다. 본 발명에 있어서 사용될 수 있는 고무 입자는, 예를 들면, 당해 수지 조성물의 바니쉬를 조제할 때에 사용하는 유기 용제에도 용해되지 않고, 필수 성분인 시아네이트에스테르 수지나 에폭시 수지 등과도 상용하지 않는 것이다. 따라서, 당해 고무 입자는, 본 발명의 수지 조성물의 바니쉬 중에서는 분산 상태로 존재한다. 이러한 고무 입자는, 일반적으로는, 고무 성분의 분자량을 유기 용제나 수지에 용해되지 않는 레벨로까지 크게 하여 입자상으로 함으로써 조제된다. From the viewpoint of improving the adhesiveness, rubber particles can be further added to the resin composition of the present invention. The rubber particles that can be used in the present invention are, for example, insoluble in organic solvents used when preparing varnishes of the resin composition, and incompatible with cyanate ester resins, epoxy resins, and the like, which are essential components. Therefore, the said rubber particle exists in a dispersion state in the varnish of the resin composition of this invention. Such rubber particles are generally prepared by increasing the molecular weight of the rubber component to a level that does not dissolve in an organic solvent or a resin to form a particulate.

본 발명에서 사용될 수 있는 고무 입자의 바람직한 예로서는, 코어쉘형 고무 입자, 가교 아크릴로니트릴부타디엔 고무 입자, 가교 스티렌부타디엔 고무 입자, 아크릴 고무 입자 등을 들 수 있다. Preferred examples of the rubber particles that can be used in the present invention include core-shell rubber particles, crosslinked acrylonitrile butadiene rubber particles, crosslinked styrenebutadiene rubber particles, acrylic rubber particles and the like.

코어쉘형 고무 입자는, 코어층과 쉘층을 갖는 고무 입자이며, 예를 들면, 외층의 쉘층이 유리상 중합체로 구성되고, 내층의 코어층이 고무상 중합체로 구성되는 2층 구조, 또는 외층의 쉘층이 유리상 중합체로 구성되고, 중간층이 고무상 중합체로 구성되며, 코어층이 유리상 중합체로 구성되는 3층 구조의 것 등을 들 수 있다. 유리상 중합체층은, 예를 들면, 메타크릴산메틸의 중합물 등으로 구성되고, 고무상 중합체층은, 예를 들면, 부틸아크릴레이트 중합물(부틸 고무) 등으로 구성된다. 코어쉘형 고무 입자의 구체예로서는, 스타필로이드 AC3832, AC3816N(상품명, 간츠카세이 가부시키가이샤 제조), 메타블렌 KW-4426(상품명, 미쓰비시레이온 가부시키가이샤 제조)을 들 수 있다. The core-shell rubber particles are rubber particles having a core layer and a shell layer. For example, the shell layer of the outer layer is made of a glassy polymer, and the inner layer core layer is made of a rubber polymer, or the shell layer of the outer layer is The three layer structure etc. which consist of a glassy polymer, an intermediate | middle layer consist of a rubbery polymer, and a core layer consist of a glassy polymer are mentioned. A glassy polymer layer is comprised, for example from the polymer of methyl methacrylate, etc., and a rubbery polymer layer is comprised from a butylacrylate polymer (butyl rubber) etc., for example. Specific examples of the core-shell rubber particles include Staphyloid AC3832 and AC3816N (trade name, manufactured by Gansukasei Co., Ltd.) and Metablen KW-4426 (trade name, manufactured by Mitsubishi Rayon Co., Ltd.).

가교 아크릴로니트릴부타디엔 고무 (NBR) 입자의 구체예로서는, XER-91(평균 입자 직경 0.5㎛, JSR 가부시키가이샤 제조) 등을 들 수 있다. As an example of crosslinked acrylonitrile butadiene rubber (NBR) particle | grains, XER-91 (an average particle diameter of 0.5 micrometer, the JSR Corporation make), etc. are mentioned.

가교 스티렌부타디엔 고무 (SBR) 입자의 구체예로서는, XSK-500(평균 입자 직경 0.5㎛, JSR 가부시키가이샤 제조) 등을 들 수 있다. As an example of crosslinked styrene-butadiene rubber (SBR) particle | grains, XSK-500 (an average particle diameter of 0.5 micrometer, the JSR Corporation make), etc. are mentioned.

아크릴 고무 입자의 구체예로서는, 메타블렌 W300A(평균 입자 직경 0.1㎛), W450A(평균 입자 직경 0.2㎛)(미쓰비시레이온 가부시키가이샤 제조) 등을 들 수 있다. As a specific example of acrylic rubber particle, metablene W300A (average particle diameter 0.1 micrometer), W450A (average particle diameter 0.2 micrometer) (made by Mitsubishi Rayon Corporation) etc. are mentioned.

배합하는 고무 입자의 평균 입자 직경은, 바람직하게는 0.005 내지 1㎛의 범위이며, 보다 바람직하게는 0.2 내지 0.6㎛의 범위이다. 본 발명에서 사용되는 고무 입자의 평균 입자 직경은, 동적광산란법을 사용하여 측정할 수 있다. 예를 들면, 적당한 유기 용제에 고무 입자를 초음파 등에 의해 균일하게 분산시켜 농후계 입자 직경 애널라이저(FPAR-1000; 오츠카덴시 가부시키가이샤 제조)를 사용하여, 고무 입자의 입도 분포를 질량 기준으로 작성하여, 그 메디안 직경을 평균 입자 직경으로 함으로써 측정할 수 있다. The average particle diameter of the rubber particle to mix | blend becomes like this. Preferably it is the range of 0.005-1 micrometer, More preferably, it is the range of 0.2-0.6 micrometer. The average particle diameter of the rubber particle used by this invention can be measured using a dynamic light scattering method. For example, the rubber particles are uniformly dispersed in a suitable organic solvent by ultrasonic waves or the like, and a particle size distribution of the rubber particles is prepared based on mass by using a thick particle diameter analyzer (FPAR-1000; manufactured by Otsuka Denshi Co., Ltd.). In addition, it can measure by making the median diameter into an average particle diameter.

고무 입자의 함유량은, 수지 조성물 중의 불휘발분 100질량%에 대해, 바람직하게는 1 내지 10질량%이며, 보다 바람직하게는 2 내지 5질량%이다.
Content of rubber particle | grains becomes like this. Preferably it is 1-10 mass% with respect to 100 mass% of non volatile matters in a resin composition, More preferably, it is 2-5 mass%.

[난연제][Flame retardant]

본 발명의 수지 조성물은, 본 발명의 효과를 손상시키지 않는 범위에서 난연제를 함유해도 양호하다. 난연제로서는, 예를 들면, 유기 인계 난연제, 유기계 질소 함유 인 화합물, 질소 화합물, 실리콘계 난연제, 금속 수산화물 등을 들 수 있다. The resin composition of this invention may contain a flame retardant in the range which does not impair the effect of this invention. As a flame retardant, an organophosphorus flame retardant, an organic nitrogen containing phosphorus compound, a nitrogen compound, a silicone flame retardant, a metal hydroxide, etc. are mentioned, for example.

유기 인계 난연제로서는, 산코 가부시키가이샤 제조의 HCA, HCA-HQ, HCA-NQ 등의 포스핀 화합물, 쇼와코훈시 가부시키가이샤 제조의 HFB-2006M 등의 인 함유 벤조옥사진 화합물, 아지노모토파인테크노 가부시키가이샤 제조의 레오포스30, 50, 65, 90, 110, TPP, RPD, BAPP, CPD, TCP, TXP, TBP, TOP, KP140 및 TIBP, 홋코 가가쿠고교 가부시키가이샤 제조의 PPQ, 클라리언트 가부시키가이샤 제조의 OP930, 다이하치가가쿠 가부시키가이샤 제조의 PX200 등의 인산 에스테르 화합물, 도토카세이 가부시키가이샤 제조의 FX289, FX310 등의 인 함유 에폭시 수지, 도토카세이 가부시키가이샤 제조의 ERF001 등의 인 함유 페녹시 수지 등을 들 수 있다. Examples of the organophosphorus flame retardant include phosphorus-containing benzoxazine compounds such as HCA, HCA-HQ and HCA-NQ manufactured by Sanko Corp., HFB-2006M manufactured by Showa Kohunshi Co., Ltd., and Ajinomoto Fine Techno Co., Ltd. Leopards 30, 50, 65, 90, 110, TPP, RPD, BAPP, CPD, TCP, TXP, TBP, TOP, KP140 and TIBP, PPQ, Clariton Corporation, Hokkaido, Ltd. Phosphoric acid ester compounds, such as OP930 by Kaisha, PX200 by Daihachi Chemical Co., Ltd., phosphorus containing epoxy resins, such as FX289 and FX310 by Totokasei Co., Ltd., ERF001 by Totokasei Co., Ltd. Phenoxy resin etc. are mentioned.

유기계 질소 함유 인 화합물로서는, 시코쿠카세이고교 가부시키가이샤 제조의 SP670, SP703 등의 인산에스테르미드 화합물, 오츠카가가쿠 가부시키가이샤 제조의 SPB100 및 SPE100, 가부시키가이샤 후시미세사쿠쇼 제조의 FP-series 등의 포스파젠 화합물 등을 들 수 있다. Examples of the organic nitrogen-containing phosphorus compound include phosphate ester mid compounds such as SP670 and SP703 manufactured by Shikoku Chemical Co., Ltd., SPB100 and SPE100 manufactured by Otsuka Chemical Co., Ltd., and FP-series manufactured by Fushimi Seisakusho Co., Ltd. The phosphazene compound etc. are mentioned.

금속 수산화물로서는, 우베마테리알즈 가부시키가이샤 제조의 UD65, UD650, UD653 등의 수산화마그네슘, 토모에고교 가부시키가이샤 제조의 B-30, B-325, B-315, B-308, B-303 및 UFH-20 등의 수산화알루미늄 등을 들 수 있다.
Examples of the metal hydroxides include magnesium hydroxides such as UD65, UD650, and UD653 manufactured by Ube Materials Co., Ltd., B-30, B-325, B-315, B-308, B-308, manufactured by Tomoe Kogyo Co., Ltd., and the like. Aluminum hydroxide, such as UFH-20, etc. are mentioned.

[기타 성분][Other Ingredients]

본 발명의 수지 조성물에는, 본 발명의 효과를 저해하지 않는 범위에서, 필요에 따라 다른 성분을 배합할 수 있다. 다른 성분으로서는, 예를 들면, 실리콘 파우더, 나일론 파우더, 불소 파우더 등의 유기 충전제; 오르벤, 벤톤 등의 증점제; 실리콘계, 불소계, 고분자계의 소포제 또는 레벨링제; 이미다졸계, 티아졸계, 트리아졸계, 실란계 커플링제 등의 밀착성 부여제; 이미다졸계, 아민계 등의 경화 촉진제; 프탈로시아닌·블루, 프탈로시아닌·그린, 아이오딘·그린, 디스아조옐로우, 카본블랙 등의 착색제 등을 들 수 있다. Another component can be mix | blended with the resin composition of this invention as needed in the range which does not impair the effect of this invention. As another component, For example, organic fillers, such as a silicone powder, nylon powder, a fluorine powder; Thickeners such as orbene and benton; Antifoaming agents or leveling agents based on silicon, fluorine and polymers; Adhesion imparting agents such as imidazole series, thiazole series, triazole series, and silane coupling agents; Curing accelerators such as imidazole series and amine series; And coloring agents such as phthalocyanine blue, phthalocyanine green, iodine green, disazo yellow, and carbon black.

본 발명의 수지 조성물의 조제 방법은, 특별히 한정되는 것이 아니며, 예를 들면, 필수 성분인 시아네이트에스테르 수지, 에폭시 수지, 열가소성 수지, 활석, 실리카, 필요에 따라 경화 촉진제, 경화 촉매, 고무 입자나 그 밖의 성분을, 회전 믹서 등을 사용하여 혼합하는 방법 등을 들 수 있다. The preparation method of the resin composition of this invention is not specifically limited, For example, a cyanate ester resin, an epoxy resin, a thermoplastic resin, talc, a silica which is an essential component, a hardening accelerator, a hardening catalyst, a rubber particle, The method of mixing other components using a rotary mixer etc. are mentioned.

본 발명의 수지 조성물의 용도는, 특별히 한정되지 않지만, 접착 필름, 프리프레그 등의 절연 수지 시트, 회로 기판, 솔더레지스트, 언더-필재, 다이본딩재, 반도체 봉지재, 구멍 메움 수지, 부품 매립 수지 등, 수지 조성물이 필요해지는 용도로 광범위하게 사용할 수 있다. 이 중에서도, 다층 프린트 배선판의 제조에 있어서 절연층을 형성하기 위해서 적합하게 사용할 수 있다. 본 발명의 수지 조성물은, 바니쉬 상태로 회로 기판에 도포후, 경화시켜서 절연층을 형성할 수도 있지만, 공업적으로는 일반적으로, 접착 필름, 프리프레그 등의 시트상 적층 재료의 형태로 사용하는 것이 바람직하다. 수지 조성물의 연화점은, 시트상 적층 재료의 라미네이트성의 관점에서 40 내지 150℃가 바람직하다.
Although the use of the resin composition of this invention is not specifically limited, Insulation resin sheets, such as an adhesive film and a prepreg, a circuit board, a soldering resist, an under-fill material, a die bonding material, a semiconductor sealing material, a hole filling resin, and a part embedding resin Etc., it can use widely for the use which requires a resin composition. Among these, it can use suitably in order to form an insulation layer in manufacture of a multilayer printed wiring board. Although the resin composition of this invention can also be hardened | cured after apply | coating to a circuit board in a varnish state, and can form an insulating layer, industrially, it is generally used in the form of sheet-like laminated materials, such as an adhesive film and a prepreg. desirable. As for the softening point of a resin composition, 40-150 degreeC is preferable from a lamination property of a sheet-like laminated material.

[접착 필름][Adhesive Film]

본 발명의 접착 필름은, 당업자에게 공지된 방법, 예를 들면, 유기 용제에 수지 조성물을 용해한 수지 바니쉬를 조제하고, 당해 수지 바니쉬를, 다이코터 등을 사용하여, 지지체인 지지 필름에 도포하고, 더욱 가열, 또는 열풍 불어 넣기 등에 의해 유기 용제를 건조시켜 수지 조성물층을 형성시킴으로써 제조할 수 있다. The adhesive film of this invention prepares the resin varnish which melt | dissolved the resin composition in the organic solvent by the method known to those skilled in the art, for example, apply | coats the resin varnish to the support film which is a support body using a die coater, etc. Furthermore, it can manufacture by drying an organic solvent by heating, or blowing with hot air, and forming a resin composition layer.

당해 유기 용제로서는, 예를 들면, 아세톤, 메틸에틸케톤, 사이클로헥사논 등의 케톤류; 아세트산에틸, 아세트산부틸, 셀로솔브아세테이트, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트, 카르비톨아세테이트 등의 아세트산에스테르류; 셀로솔브류; 부틸카르비톨 등의 카르비톨류; 톨루엔, 크실렌 등의 방향족 탄화수소류; 디메틸포름아미드, 디메틸아세트아미드, N-메틸피롤리돈 등을 들 수 있다. 유기 용제는 2종 이상을 조합하여 사용해도 양호하다. As said organic solvent, For example, ketones, such as acetone, methyl ethyl ketone, cyclohexanone; Acetate esters, such as ethyl acetate, butyl acetate, a cellosolve acetate, a propylene glycol monomethyl ether acetate, and carbitol acetate; Cellosolves; Carbitols such as butyl carbitol; Aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene; Dimethyl formamide, dimethyl acetamide, N-methylpyrrolidone, etc. are mentioned. You may use the organic solvent in combination of 2 or more type.

유기 용제를 건조 제거하는 조건은 특별히 한정되지 않지만, 수지 조성물층 중의 유기 용제의 함유량은 10질량% 이하가 바람직하고, 보다 바람직하게는 5질량% 이하가 되도록 건조시키는 것이 바람직하다. 바니쉬 중의 유기 용제량, 유기 용제의 비점에 따라서도 다르지만, 예를 들면 30 내지 60질량%의 유기 용제를 포함하는 바니쉬를 50 내지 150℃에서 3 내지 10분 정도 건조시킴으로써, 유기 용제의 함유량이 10질량% 이하인 수지 조성물층이 형성된다. 당업자라면, 간단한 실험에 의해 적절하게 적합한 건조 조건을 설정할 수 있다. Although the conditions which dry-dry an organic solvent are not specifically limited, It is preferable to dry so that content of the organic solvent in a resin composition layer may be 10 mass% or less, More preferably, it is 5 mass% or less. Although the amount of the organic solvent in the varnish and the boiling point of the organic solvent vary, for example, the content of the organic solvent is 10 by drying the varnish containing 30 to 60 mass% of the organic solvent at 50 to 150 ° C. for about 3 to 10 minutes. The resin composition layer which is the mass% or less is formed. Those skilled in the art can appropriately set suitable drying conditions by simple experiments.

접착 필름에 있어서 형성되는 수지 조성물층의 두께는, 통상적으로 도체층의 두께 이상으로 한다. 회로 기판이 갖는 도체층의 두께는 통상적으로 5 내지 70㎛의 범위이기 때문에, 수지 조성물층은 10 내지 100㎛의 두께를 갖는 것이 바람직하다. The thickness of the resin composition layer formed in an adhesive film is made into the thickness of a conductor layer normally. Since the thickness of the conductor layer which a circuit board has normally is in the range of 5-70 micrometers, it is preferable that a resin composition layer has a thickness of 10-100 micrometers.

본 발명에 있어서의 지지 필름은, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 폴리염화비닐 등의 폴리올레핀; 폴리에틸렌테레프탈레이트(이하 「PET」라고 약칭하는 경우가 있다.), 폴리에틸렌나프탈레이트 등의 폴리에스테르; 폴리카보네이트; 폴리이미드 등으로 이루어지는 필름, 또한 이형지나 구리박, 알루미늄박 등의 금속박 등을 들 수 있다. 또한, 지지 필름 및 후술하는 보호 필름에는, 매트 처리, 코로나 처리 외에, 이형 처리가 되어 있어도 양호하다. The support film in this invention is polyolefin, such as polyethylene, a polypropylene, and polyvinyl chloride; Polyesters such as polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as "PET") and polyethylene naphthalate; Polycarbonate; The film which consists of polyimide etc., metal foil, such as a release paper, copper foil, aluminum foil, etc. are mentioned. In addition, in addition to a mat process and a corona treatment, the mold release process may be sufficient for the support film and the protective film mentioned later.

지지 필름의 두께는 특별히 한정되지 않지만, 10 내지 150㎛가 바람직하고, 25 내지 50㎛가 보다 바람직하다. Although the thickness of a support film is not specifically limited, 10-150 micrometers is preferable and 25-50 micrometers is more preferable.

수지 조성물층의 지지 필름이 밀착되지 않은 면에는, 지지 필름에 준한 보호 필름을 더욱 적층할 수 있다. 보호 필름의 두께는, 특별히 한정되는 것이 아니지만 1 내지 40㎛가 바람직하다. 보호 필름을 적층함으로써, 수지 조성물층의 표면으로의 먼지 등의 부착이나 흠집을 방지할 수 있다. 접착 필름은, 롤상으로 감아서 저장할 수도 있다.
The protective film based on a support film can be further laminated | stacked on the surface in which the support film of a resin composition layer is not in close contact. Although the thickness of a protective film is not specifically limited, 1-40 micrometers is preferable. By laminating | stacking a protective film, adhesion | attachment and a scratch of dust etc. to the surface of a resin composition layer can be prevented. An adhesive film can also be wound and stored in roll shape.

[접착 필름을 사용한 다층 프린트 배선판] [Multilayer printed wiring board using adhesive film]

다음에, 상기와 같이 하여 제조한 접착 필름을 사용하여 다층 프린트 배선판을 제조하는 방법의 일례를 설명한다. Next, an example of the method of manufacturing a multilayer printed wiring board using the adhesive film manufactured as mentioned above is demonstrated.

우선, 접착 필름을, 진공 라미네이터를 사용하여 회로 기판의 한쪽 면 또는 양면에 라미네이트한다. 회로 기판으로 사용되는 기판으로서는, 예를 들면, 유리 에폭시 기판, 금속 기판, 폴리에스테르 기판, 폴리이미드 기판, BT 레진 기판, 열경화형 폴리페닐렌에테르 기판 등을 들 수 있다. 또한, 여기에서 회로 기판이란, 상기와 같은 기판의 한쪽 면 또는 양면에 패턴 가공된 도체층(회로)이 형성된 것을 말한다. 또한 도체층과 절연층을 교대로 적층하여 이루어지는 다층 프린트 배선판에 있어서, 당해 다층 프린트 배선판의 최외층의 한쪽 면 또는 양면이 패턴 가공된 도체층(회로)으로 되어 있는 것도, 여기에서 말하는 회로 기판에 포함된다. 또한 도체층 표면에는, 흑화 처리, 구리마이크로에칭 등에 의해 미리 조화 처리가 되어 있어도 양호하다. First, an adhesive film is laminated on one side or both sides of a circuit board using a vacuum laminator. As a board | substrate used for a circuit board, a glass epoxy board | substrate, a metal board | substrate, a polyester board | substrate, a polyimide board | substrate, a BT resin board | substrate, a thermosetting polyphenylene ether board | substrate, etc. are mentioned, for example. In addition, a circuit board means here that the conductor layer (circuit) pattern-processed was formed in one side or both surfaces of the above board | substrates. In the multilayer printed wiring board formed by alternately laminating the conductor layer and the insulating layer, it is also possible to form a conductor layer (circuit) on which one side or both sides of the outermost layer of the multilayer printed wiring board is patterned. Included. Moreover, the roughening process may be previously performed by the blackening process, copper micro etching, etc. on the conductor layer surface.

상기 라미네이트에 있어서, 접착 필름이 보호 필름을 가지고 있는 경우에는 당해 보호 필름을 제거한 후, 필요에 따라서 접착 필름 및 회로 기판을 프리히트하고, 접착 필름을 가압 및 가열하면서 회로 기판에 압착한다. 본 발명의 접착 필름에 있어서는, 진공 라미네이트법에 의해 감압하에서 회로 기판에 라미네이트하는 방법이 적합하게 사용된다. 라미네이트의 조건은, 특별히 한정되는 것이 아니지만, 예를 들면, 압착 온도(라미네이트 온도)를 바람직하게는 70 내지 140℃, 압착 압력을 바람직하게는 1 내지 11kgf/㎠(9.8×104 내지 107.9×104N/㎡)으로 하고 공기압 20mmHg(26.7hPa) 이하의 감압하에서 라미네이트하는 것이 바람직하다. 또한, 라미네이트의 방법은, 배치식이라도 롤에서의 연속식이라도 양호하다. In the said laminate, when an adhesive film has a protective film, after removing the said protective film, an adhesive film and a circuit board are preheated as needed, and it crimp | bonds to a circuit board, pressing and heating an adhesive film. In the adhesive film of this invention, the method of laminating to a circuit board under reduced pressure by the vacuum lamination method is used suitably. The conditions of the laminate are not particularly limited, but for example, the crimping temperature (laminate temperature) is preferably 70 to 140 ° C, and the crimping pressure is preferably 1 to 11 kgf / cm 2 (9.8 × 10 4 to 107.9 × 10). 4 N / m 2), and is laminated under a reduced pressure of 20 mmHg (26.7 hPa) or less. In addition, the laminating method may be a batch type or a continuous type in a roll.

진공 라미네이트는, 시판중인 진공 라미네이터를 사용하여 실시할 수 있다. 시판중인 진공 라미네이터로서는, 예를 들면, 니치고·모튼 가부시키가이샤 제조의 버큠 어플리케이터, 가부시키가이샤 메이키세사쿠쇼 제조의 진공 가압식 라미네이터, 가부시키가이샤 히타치인더스트리즈 제조의 롤식 드라이코터, 히타치AIC 가부시키가이샤 제조의 진공 라미네이터 등을 들 수 있다. Vacuum lamination can be performed using a commercially available vacuum laminator. Commercially available vacuum laminators include, for example, a vacuum applicator manufactured by Nichigo Morton Co., Ltd., a vacuum pressurized laminator manufactured by Meiki Seisakusho, a roll-type dry coater manufactured by Hitachi Industries, and Hitachi AIC Co., Ltd. The vacuum laminator made by Shikisha-shi etc. is mentioned.

또한, 감압하, 가열 및 가압을 실시하는 적층 공정은, 일반적인 진공 핫 프레스기를 사용하여 실시하는 것도 가능하다. 예를 들면, 가열된 SUS판 등의 금속판을 지지체층측으로부터 프레스함으로써 실시할 수 있다. In addition, the lamination | stacking process which heats and pressurizes under reduced pressure can also be performed using a general vacuum hot press machine. For example, it can carry out by pressing metal plates, such as a heated SUS board, from the support body layer side.

프레스 조건은, 감압도를 통상적으로 1×10-2MPa 이하, 바람직하게는 1×10-3MPa 이하의 감압하로 한다. 가열 및 가압은, 1단계에서 실시할 수도 있지만, 수지가 새어 나오는 것을 제어하는 관점에서 2단계 이상으로 조건을 나누어 실시하는 것이 바람직하다. 예를 들면, 1단계째의 프레스를, 온도가 70 내지 150℃, 압력이 1 내지 15kgf/㎠인 범위, 2단계째의 프레스를, 온도가 150 내지 200℃, 압력이 1 내지 40kgf/㎠인 범위에서 실시하는 것이 바람직하다. 각 단계의 시간은 30 내지 120분으로 실시하는 것이 바람직하다. 시판되고 있는 진공 핫 프레스기로서는, 예를 들면, MNPC-V-750-5-200[가부시키가이샤 메이키세사쿠쇼 제조], VH1-1603[키타가와세이키 가부시키가이샤 제조] 등을 들 수 있다. Press conditions make the pressure reduction degree below 1x10 <-2> MPa normally, Preferably it is 1x10 <-3> MPa or less. Although heating and pressurization may be performed in one step, it is preferable to divide and perform conditions in two or more steps from a viewpoint of controlling that a resin leaks out. For example, the press of the 1st stage is a range whose temperature is 70-150 degreeC, the pressure is 1-15 kgf / cm <2>, and the press of the 2nd stage has a temperature of 150-200 degreeC and a pressure of 1-40 kgf / cm <2>. It is preferable to carry out in the range. The time of each step is preferably carried out in 30 to 120 minutes. Examples of commercially available vacuum hot press machines include MNPC-V-750-5-200 (manufactured by Meiki Sesaku Sho), VH1-1603 (manufactured by Kitagawa Seiki Co., Ltd.), and the like.

접착 필름을 회로 기판에 라미네이트한 후, 실온 부근으로 냉각시킨 후, 지지 필름을 박리하는 경우는 박리하고, 열경화함으로써 회로 기판에 절연층을 형성할 수 있다. 열경화의 조건은, 수지 조성물 중의 수지 성분의 종류, 함유량 등에 따라서 적당히 선택하면 양호하지만, 바람직하게는 150 내지 220℃에서 20 내지 180분, 보다 바람직하게는 160 내지 200℃에서 30 내지 120분의 범위에서 선택된다. After laminating an adhesive film to a circuit board, after cooling to around room temperature, when peeling a support film, an insulating layer can be formed in a circuit board by peeling and thermosetting. Although the conditions of thermosetting may be selected suitably according to the kind, content, etc. of the resin component in a resin composition, Preferably it is 20 to 180 minutes at 150-220 degreeC, More preferably, it is 30 to 120 minutes at 160-200 degreeC. Is selected from the range.

경화전에 지지 필름을 박리하지 않은 경우는, 절연층을 형성한 후에 박리한다. 이어서 필요에 따라, 회로 기판 위에 형성된 절연층에 구멍을 뚫어 비아홀, 스루홀을 형성한다. 구멍 뚫기는, 예를 들면, 드릴, 레이저, 플라즈마 등의 공지의 방법에 의해, 또한 필요에 따라 이들의 방법을 조합하여 실시할 수 있지만, 탄산 가스 레이저, YAG 레이저 등의 레이저에 의한 구멍 뚫기가 가장 일반적인 방법이다. When a support film is not peeled off before hardening, it peels after forming an insulating layer. Subsequently, as necessary, holes are formed in the insulating layer formed on the circuit board to form via holes and through holes. The punching can be carried out by a known method such as a drill, a laser, a plasma, or the like, or a combination of these methods as necessary, but the punching by a laser such as a carbon dioxide laser or a YAG laser can be performed. This is the most common way.

이어서, 건식 도금 또는 습식 도금에 의해 절연층 위에 도체층을 형성한다. 건식 도금으로서는, 증착, 스퍼터링, 이온플레이팅 등의 공지의 방법을 사용할 수 있다. 또한, 습식 도금의 경우는, 미리, 경화된 수지 조성물층(절연층)의 표면을 습식 조화 처리한다. 습식 조화 처리란, 과망간산염(과망간산칼륨, 과망간산나트륨 등), 중크롬산염, 오존, 과산화수소/황산, 질산 등의 산화제로 조화 처리하여 돌출된 앵커를 형성하는 처리이다. 산화제로서는, 특히 과망간산칼륨, 과망간산나트륨 등의 수산화나트륨 수용액(알칼리성 과망간산 수용액)이 바람직하게 사용된다. 조화 처리에 이어서, 무전해 도금과 전해 도금을 조합한 방법으로 도체층을 형성한다. 또한 도체층과는 역패턴의 도금 레지스트를 형성하고, 무전해 도금만으로 도체층을 형성할 수도 있다. 그 후의 패턴 형성의 방법으로서, 예를 들면, 당업자에게 공지된 서브트랙티브법, 세미어디티브법 등을 사용할 수 있다.Subsequently, a conductor layer is formed on an insulating layer by dry plating or wet plating. As dry plating, well-known methods, such as vapor deposition, sputtering, and ion plating, can be used. In addition, in the case of wet plating, the surface of the hardened resin composition layer (insulation layer) is previously subjected to wet roughening. The wet roughening treatment is a treatment which forms a protruding anchor by roughening with an oxidizing agent such as permanganate (potassium permanganate, sodium permanganate, etc.), dichromate, ozone, hydrogen peroxide / sulfuric acid, and nitric acid. Especially as an oxidizing agent, aqueous sodium hydroxide solution (alkaline permanganate aqueous solution), such as potassium permanganate and sodium permanganate, is used preferably. Following the roughening treatment, the conductor layer is formed by a combination of electroless plating and electrolytic plating. In addition, a plating resist having an inverse pattern can be formed with the conductor layer, and the conductor layer can be formed only by electroless plating. As a method of pattern formation after that, the subtractive method, the semiadditive method, etc. which are known to a person skilled in the art can be used, for example.

이렇게 하여 제작된 도체층 표면을 조화한다. 도체층 표면의 조화는, 도체층에 접하는 수지와의 밀착성을 향상시키는 효과를 가진다. 도체층을 조화하기 위해서는, 유기산계 마이크로에칭제 CZ-8100, CZ-8101, CZ-5480 등을 사용하는 것이 바람직하다. 또한, 본 발명의 프린트 배선판용 수지 조성물을 사용함으로써, 도체층 표면의 조화의 정도에 관계없이, 종래의 수지 조성물보다도 밀착성이 향상되기 때문에, 저열팽창율, 라미네이트성 및 환경 시험후의 도체층과의 밀착 강도 등의 성능이 균형적인 절연층이 형성된다.
The surface of the conductor layer thus produced is roughened. The roughness of the conductor layer surface has the effect of improving the adhesiveness with the resin in contact with the conductor layer. In order to match a conductor layer, it is preferable to use organic acid type microetching agents CZ-8100, CZ-8101, CZ-5480, etc. Moreover, since adhesiveness improves compared with the conventional resin composition irrespective of the grade of the roughening of the conductor layer surface by using the resin composition for printed wiring boards of this invention, it is a low thermal expansion rate, lamination property, and adhesiveness with the conductor layer after environmental tests. An insulating layer having a balanced performance such as strength is formed.

[프리프레그][Prepreg]

본 발명의 프리프레그는, 본 발명의 수지 조성물을 섬유로 이루어지는 시트상 보강 기재에 핫멜트법 또는 솔벤트법에 의해 함침시키고, 가열하여 반경화시킴으로써 제조할 수 있다. 즉, 본 발명의 수지 조성물이 섬유로 이루어지는 시트상 보강 기재에 함침된 상태가 되는 프리프레그로 할 수 있다. 섬유로 이루어지는 시트상 보강 기재로서는, 예를 들면, 유리 크로스나 아라미드 섬유 등의 프리프레그용 섬유로서 상용되고 있는 섬유로 이루어지는 것을 사용할 수 있다. The prepreg of this invention can be manufactured by impregnating the resin composition of this invention with the sheet-like reinforcement base material which consists of fibers by a hot melt method or the solvent method, and heating and semi-hardening. That is, it can be set as the prepreg which becomes the state in which the resin composition of this invention is impregnated into the sheet-like reinforcement base material which consists of fibers. As a sheet-like reinforcement base material which consists of a fiber, what consists of fibers commonly used as prepreg fiber, such as glass cross and aramid fiber, can be used, for example.

핫멜트법은, 수지를 유기 용제에 용해하지 않고, 당해 수지와의 박리성이 양호한 도포지에 일단 코팅하고, 이를 시트상 보강 기재에 라미네이트하거나 또는 수지를 유기 용제에 용해하지 않고, 다이코터에 의해 시트상 보강 기재에 직접 도포하는 등 하여, 프리프레그를 제조하는 방법이다. 또한 솔벤트법은, 접착 필름과 동일하게 하여 수지를 유기 용제에 용해하여 수지 바니쉬를 조제하고, 당해 바니쉬에 시트상 보강 기재를 침지시키고, 수지 바니쉬를 시트상 보강 기재에 함침시키고, 그 후 건조시키는 방법이다.
The hot-melt method does not dissolve the resin in an organic solvent and coats it on a coated paper having good peelability with the resin, and then laminates it on a sheet-like reinforcing base material or does not dissolve the resin in an organic solvent and forms the sheet by a die coater. It is a method of manufacturing a prepreg by apply | coating directly to a phase reinforcement base material. In the solvent method, the resin is dissolved in an organic solvent in the same manner as in the adhesive film to prepare a resin varnish, the sheet-like reinforcement base material is immersed in the varnish, the resin varnish is impregnated into the sheet-like reinforcement base material, and then dried. It is a way.

[프리프레그를 사용한 다층 프린트 배선판] [Multilayer Printed Wiring Board Using Prepreg]

다음에, 상기와 같이 하여 제조한 프리프레그를 사용하여 다층 프린트 배선판을 제조하는 방법의 일례를 설명한다. 회로 기판에 본 발명의 프리프레그를 1장 또는 필요에 따라 복수장 포개어 이형 필름을 개재하여 금속 플레이트에 끼우고, 가압·가열 조건하에서 프레스 적층한다. 가압·가열 조건은, 바람직하게는, 압력이 5 내지 40kgf/㎠(49×104 내지 392×104N/㎡), 온도가 120 내지 200℃에서 20 내지 100분이다. 또한 접착 필름과 동일하게, 프리프레그를 진공 라미네이트법에 의해 회로 기판에 라미네이트한 후, 가열 경화하는 것도 가능하다. 그 후, 상기에서 기재한 방법과 동일하게 하여, 경화된 프리프레그 표면을 상기와 같이 조화한 후, 도체층을 도금에 의해 형성하여 다층 프린트 배선판을 제조할 수 있다. Next, an example of the method of manufacturing a multilayer printed wiring board using the prepreg manufactured as mentioned above is demonstrated. One or more plural prepregs of the present invention are stacked on a circuit board and sandwiched on a metal plate via a release film, and press laminated under pressure and heating conditions. The pressurization and heating conditions are preferably 5 to 40 kgf / cm 2 (49 × 10 4 to 392 × 10 4 N / m 2), and the temperature is 20 to 100 minutes at 120 to 200 ° C. In the same manner as in the adhesive film, the prepreg may be laminated on a circuit board by a vacuum lamination method, and then heat cured. Thereafter, in the same manner as described above, the cured prepreg surface is roughened as described above, and then a conductor layer is formed by plating to manufacture a multilayer printed wiring board.

이하, 본 발명을 실시예에 의해 구체적으로 설명하지만, 본 발명은 이들 실시예에 한정되는 것이 아니다.
Hereinafter, although an Example demonstrates this invention concretely, this invention is not limited to these Examples.

실시예Example

실시예 1Example 1

비스페놀 A 디시아네이트의 프레폴리머(론자재팬 가부시키가이샤 제조 「BA230S75」, 시아네이트 당량 약 232, 불휘발분 75질량%의 메틸에틸케톤(이하, MEK라고 약칭한다) 용액) 30질량부, 페놀노볼락형 다관능 시아네이트에스테르 수지(론자재팬 가부시키가이샤 제조 「PT30」, 시아네이트 당량 약 124)을 10질량부, MEK 10질량부와 함께 교반 혼합하고, 나프톨형 에폭시 수지로서 도토카세이 가부시키가이샤 제조의 「ESN-475V」(하기 화학식 3으로 나타낸다. 에폭시 당량 약 340의 불휘발분 65질량%의 MEK 용액) 40질량부, 또한 액상 비스페놀 A형 에폭시 수지(재팬에폭시레진 가부시키가이샤 제조 「jER828EL」, 에폭시 당량 약 185) 8질량부, 페녹시 수지 용액(재팬에폭시레진 가부시키가이샤 제조 「YX6954」, 중량 평균 분자량 40000, 불휘발분 30질량%의 MEK와 사이클로헥사논의 혼합 용액) 20질량부, 코발트(II)아세틸아세토네이트(Co(acac)2, 도쿄카세이 가부시키가이샤 제조)의 1질량%의 N,N-디메틸포름아미드(DMF) 용액 4질량부, 활석(니혼타르크 가부시키가이샤 제조 「D-800」을 아미노실란으로 표면 처리한 것, 평균 입자 직경 0.8㎛) 6질량부, 및 구형 실리카(가부시키가이샤 아도마텍스 제조 「SO-C2」를 아미노실란으로 표면 처리한 것, 평균 입자 직경 0.5㎛) 42질량부를 혼합후, MEK 20질량부를 첨가하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산시켜 열경화성 수지 조성물 바니쉬를 제작하였다. 30 mass parts of prepolymers of bisphenol A dicyanate (Lonza Japan Co., Ltd. product "BA230S75", cyanate equivalent-approximately 232, methyl ethyl ketone (it abbreviates as MEK) solution of 75 mass% of non volatile matters hereafter), phenol no 10 mass parts and MEK 10 mass parts of volak-type polyfunctional cyanate ester resin ("PT30" by Ronza Japan Co., Ltd., cyanate equivalent weight) are stirred and mixed with 10 mass parts of MEK, and Totokasei Co., Ltd. is a naphthol type epoxy resin. 40 mass parts of "ESN-475V" of manufacture (it is represented by following formula 3. MEK solution of 65 mass% of non volatile matters of epoxy equivalent about 340), and liquid bisphenol A type epoxy resin ("jER828EL" made by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) 8 parts by mass of epoxy equivalent approximately 185), phenoxy resin solution ("YX6954" manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.), MEK and cyclohexanone having a weight average molecular weight of 40000 and a nonvolatile content of 30% by mass Mixed solution) 20 parts by mass of cobalt (II) acetylacetonate (Co (acac) 2, Tokyo Kasei Kaisha manufacture, Ltd.) 4 parts by weight of N, N- dimethylformamide (DMF) solution of 1% by mass of talc ( The surface treatment of Nihontar Co., Ltd. product "D-800" with aminosilane, 6 mass parts of average particle diameters of 0.8 micrometer, and spherical silica ("SO-C2" made by Adomatex Corporation) are aminosilane. After surface-treating and 42 mass parts of average particle diameters (0.5 micrometer) were mixed, 20 mass parts of MEKs were added, it was disperse | distributed uniformly by the high speed rotary mixer, and the thermosetting resin composition varnish was produced.

다음에, 이러한 수지 조성물 바니쉬를 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름(두께 38㎛, 이하 PET 필름이라고 약칭한다) 위에, 건조후의 수지 조성물층의 두께가 40㎛가 되도록 다이코터로 균일하게 도포하고, 80 내지 120℃(평균 100℃)에서 6분 동안 건조시켰다(수지 조성물층 중의 잔류 용매량: 약 1.5질량%). 이어서, 수지 조성물층의 표면에 두께 15㎛의 폴리프로필렌 필름을 접합하면서 롤상으로 감았다. 롤상의 접착 필름을 폭 507mm으로 슬릿하여 507×336mm 사이즈의 시트상의 접착 필름을 수득하였다. Next, such a resin composition varnish is uniformly coated on a polyethylene terephthalate film (thickness 38 mu m, hereinafter referred to as PET film) with a die coater so that the thickness of the resin composition layer after drying is 40 mu m, and 80 to 120 ° C. It dried at (average 100 degreeC) for 6 minutes (amount of residual solvent in resin composition layer: about 1.5 mass%). Next, it wound up in roll shape, bonding a 15-micrometer-thick polypropylene film to the surface of a resin composition layer. The roll-like adhesive film was slit to a width of 507 mm to obtain a sheet-shaped adhesive film of 507 x 336 mm size.

Figure pat00003
Figure pat00003

상기 화학식 3에서,In Chemical Formula 3,

n은 평균치로서 1 내지 6의 수이고,n is an average of 1 to 6,

X는 글리시딜기 또는 탄소수 1 내지 8의 탄화수소기이고, 탄화수소기/글리시딜기의 비율은 0.05 내지 2.0이다.
X is a glycidyl group or a C1-C8 hydrocarbon group, and the ratio of a hydrocarbon group / glycidyl group is 0.05-2.0.

실시예 2Example 2

실시예 1의 D800을 10질량부, SO-C2를 38질량부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 수득하였다.
An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1 except that 10 parts by mass of D800 of Example 1 and 38 parts by mass of SO-C2 were used.

실시예 3Example 3

실시예 1의 D800을 12질량부, SO-C2를 36질량부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 수득하였다.
An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1 except that 12 parts by mass of D800 of Example 1 and 36 parts by mass of SO-C2 were used.

실시예 4Example 4

실시예 1의 D800을 16질량부, SO-C2를 32질량부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 수득하였다.
An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1, except that 16 parts by mass of D800 of Example 1 and 32 parts by mass of SO-C2 were used.

실시예 5Example 5

실시예 1의 D800을 18질량부, SO-C2를 30질량부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 수득하였다.
An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1 except that 18 parts by mass of D800 of Example 1 and 30 parts by mass of SO-C2 were used.

실시예 6Example 6

실시예 1의 D800을 22질량부, SO-C2를 26질량부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 수득하였다.
An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1 except that 22 parts by mass of D800 of Example 1 and 26 parts by mass of SO-C2 were used.

실시예 7Example 7

실시예 1의 D800을 24질량부, SO-C2를 24질량부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 수득하였다.
An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1 except that 24 parts by mass of D800 of Example 1 and 24 parts by mass of SO-C2 were used.

실시예 8Example 8

실시예 1의 D800을 11질량부, SO-C2를 28질량부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 수득하였다.
An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1 except that 11 parts by mass of D800 of Example 1 and 28 parts by mass of SO-C2 were used.

실시예 9Example 9

실시예 1의 D800을 15질량부, SO-C2를 57질량부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 수득하였다.
An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1 except that 15 parts by mass of D800 of Example 1 and 57 parts by mass of SO-C2 were used.

실시예 10Example 10

실시예 1의 D800을 18질량부, SO-C2를 90질량부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 수득하였다.
An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1, except that 18 parts by mass of D800 of Example 1 and 90 parts by mass of SO-C2 were used.

실시예 11Example 11

실시예 1의 D800을 8질량부, SO-C2를 66질량부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 수득하였다.
An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1 except that 8 parts by mass of D800 of Example 1 and 66 parts by mass of SO-C2 were used.

실시예 12Example 12

실시예 1의 D800을 22질량부, SO-C2를 50질량부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 수득하였다.
An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1 except that 22 parts by mass of D800 of Example 1 and 50 parts by mass of SO-C2 were used.

실시예 13Example 13

실시예 1의 D800 대신에 SG-95(아미노실란으로 표면 처리한 것, 평균 입자 직경 2.5㎛)를 15질량부, SO-C2를 57질량부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 수득하였다.
Adhesive film in the same manner as in Example 1, except that 15 parts by mass of SG-95 (surface-treated with aminosilane, 2.5 µm in average particle diameter) and 57 parts by mass of SO-C2 were used instead of D800 of Example 1. Obtained.

비교예 1Comparative Example 1

실시예 1의 D800을 사용하지 않고, SO-C2를 48질량부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 수득하였다.
An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1 except that SO-C2 was set to 48 parts by mass without using D800 of Example 1.

비교예 2Comparative Example 2

실시예 1의 D800을 4질량부, SO-C2를 45질량부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 수득하였다.
An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1 except that 4 parts by mass of D800 of Example 1 and 45 parts by mass of SO-C2 were used.

비교예 3Comparative Example 3

실시예 1의 D800을 30질량부, SO-C2를 18질량부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 수득하였다.
An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1 except that 30 parts by mass of D800 of Example 1 and 18 parts by mass of SO-C2 were used.

비교예 4Comparative Example 4

실시예 1의 D800을 48질량부, SO-C2를 사용하지 않는 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 수득하였다.
An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1 except that 48 parts by mass of D800 of Example 1 and SO-C2 were not used.

비교예 5Comparative Example 5

실시예 1의 D800을 10질량부, SO-C2를 21부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 수득하였다.
An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1 except that 10 parts by mass of D800 of Example 1 and 21 parts of SO-C2 were used.

비교예 6Comparative Example 6

실시예 1의 D800을 21질량부, SO-C2를 115질량부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 수득하였다.
An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1 except that 21 parts by mass of D800 of Example 1 and 115 parts by mass of SO-C2 were used.

비교예 7Comparative Example 7

실시예 1의 D800을 13질량부, SO-C2를 54질량부로 하고 YX6954를 배합하지 않는 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 수득하였다.
An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1 except that 13 parts by mass of D800 of Example 1 and 54 parts by mass of SO-C2 were not used and YX6954 was not blended.

<밀착 강도 측정 샘플의 조제><Preparation of adhesive strength measurement sample>

(1) 적층판의 하지 처리 (1) base treatment of laminate

도체층과 절연층의 밀착 강도를 평가하기 위해서, 내층 회로를 형성한 양면동장 적층판[구리박의 두께 18㎛, 기판 두께 0.3mm, 마쓰시타덴코 가부시키가이샤 제조 R5715ES]의 양면을 맥 가부시키가이샤 제조의 맥에치본드 CZ-8100에 침지하여 회로 표면에 조화 처리(Ra값=1㎛)를 실시하였다.
In order to evaluate the adhesion strength between the conductor layer and the insulating layer, both sides of the double-sided copper clad laminate (18 μm thick copper foil, 0.3 mm thick substrate, R5715ES manufactured by Matsushita Denko Co., Ltd.) on which an inner layer circuit was formed were manufactured by Mac. It was immersed in Mac etch bond CZ-8100 of, and the roughening process (Ra value = 1 micrometer) was performed to the circuit surface.

(2) 접착 필름의 라미네이트 (2) Lamination of Adhesive Film

실시예 1 내지 10 및 비교예 1 내지 6에서 작성한 접착 필름을, 배치식 진공 가압 라미네이터 MVLP-500[메이키 가부시키가이샤 제조 상품명]을 사용하여, 적층판의 양면에 라미네이트하였다. 라미네이트는, 30초 동안 감압하여 기압을 13hPa 이하로 하고, 그 후 30초 동안 100℃에서 압력 0.74MPa로 프레스함으로써 실시하였다.
The adhesive films produced in Examples 1 to 10 and Comparative Examples 1 to 6 were laminated on both sides of the laminate using a batch vacuum pressurizer laminator MVLP-500 (trade name manufactured by MEI KK). Lamination was performed by depressurizing for 30 second and making atmospheric pressure 13 hPa or less, and then pressurizing at 100 degreeC at 0.74 Mpa for 30 second.

(3) 구리박의 하지 처리 (3) base treatment of copper foil

미츠이킨조쿠코잔 가부시키가이샤 제조의 3EC-III(전계 구리박, 35㎛)의 광택면을 맥 가부시키가이샤 제조의 맥에치본드 CZ-8100에 침지하여 구리박 표면에 조화 처리(Ra값=1㎛)를 실시하였다.
Glossy surface of 3EC-III (electric copper foil, 35 µm) manufactured by Mitsui Kinzoku Kozan Co., Ltd. was immersed in Mac Etch Bond CZ-8100 manufactured by Mac Corporation and roughened on the surface of copper foil (Ra value = 1 μm).

(4) 구리박의 라미네이트와 절연층 형성 (4) Lamination and insulation layer formation of copper foil

상기 (2)에 있어서 라미네이트된 접착 필름으로부터 PET 필름을 박리하고, (3)에서 처리한 구리박의 처리면을 수지 조성물층측으로 하고, (2)와 동일한 조건으로, 구리박을 회로 기판 양면에 형성된 수지 조성물층 위에 라미네이트를 실시하였다. 190℃, 90분의 경화 조건으로 수지 조성물을 경화하여 절연층을 형성함으로써, 샘플을 제작하였다.
Peeling a PET film from the adhesive film laminated in said (2), making the process surface of the copper foil processed by (3) into the resin composition layer side, and copper foil on both surfaces of a circuit board on the conditions similar to (2). Lamination was performed on the formed resin composition layer. The sample was produced by hardening a resin composition on 190 degreeC and 90 minutes of curing conditions, and forming an insulating layer.

<열팽창율 CTE(coefficient of thermal expansion)의 측정 및 평가><Measurement and evaluation of coefficient of thermal expansion (CTE)>

실시예 및 비교예에 있어서, 지지체에 불소 수지계 이형제(ETFE) 처리한 PET(미쓰비시쥬시 가부시키가이샤 제조의 「플루오로쥬 RL50KSE」를 사용한 것 이외에는 동일하게 하여 각 실시예, 비교예와 동일한 수지 조성물층을 갖는 접착 필름을 수득하였다. 수득된 접착 필름을 190℃에서 90분 동안 가열함으로써 열경화시켜 지지체를 박리함으로써 시트상의 경화물을 수득하였다. 그 경화물을, 폭 약5mm, 길이 약 15mm의 시험편으로 절단하고, 열기계 분석 장치 Thermo Plus TMA8310[가부시키가이샤 리가쿠 제조]을 사용하여, 인장 가중법으로 열기계 분석을 실시하였다. 시험편을 상기 장치에 장착후, 하중 1g, 승온 속도 5℃/분의 측정 조건으로 연속하여 2회 측정하였다. 2회째의 측정에 있어서의 25℃에서 150℃까지의 평균 선열 팽창율(ppm)을 산출하였다. CTE의 값이 35ppm 미만인 경우를 「◎」로 하고, 35ppm 이상 40ppm 미만인 경우를 「○」로 하고, 40ppm 이상 45ppm 미만인 경우를 「△」로 하고, 45ppm 이상인 경우를 「×」로 평가하였다. 수득된 결과를 표 1, 2에 기재한다.
In Examples and Comparative Examples, the same resin composition as in Examples and Comparative Examples was performed in the same manner except that PET ("Fluorojushi RL50KSE" manufactured by Mitsubishi Jushi Co., Ltd.) treated with a fluororesin-releasing agent (ETFE) was used for the support. An adhesive film having a layer was obtained, and the obtained adhesive film was thermally cured by heating at 190 ° C. for 90 minutes to peel off the support, thereby obtaining a cured product in the form of a sheet having a width of about 5 mm and a length of about 15 mm. The specimen was cut into pieces and subjected to thermomechanical analysis using a tensile weighting method using a thermomechanical analyzer Thermo Plus TMA8310 (manufactured by Rigaku Co., Ltd.). The measurement was performed twice in succession under the measurement conditions of /min.The average linear thermal expansion rate (ppm) from 25 ° C to 150 ° C in the second measurement was calculated. The case where it was only "◎", the case where 35 ppm or more and less than 40 ppm was made into "(circle)", the case where 40 ppm or more and less than 45 ppm was made into "△", and the case where 45 ppm or more was evaluated by "x". 2 is described.

<라미네이트성의 평가><Evaluation of Lamination>

실시예 및 비교예의 필름을 상기 (3)에 기재한 라미네이트 조건으로, 회로 기판에 라미네이트를 실시하고, 외관 검사에 의해, 이하와 같이 판정을 실시하였다. 결과를 표 1, 2에 기재한다.The film of an Example and a comparative example was laminated on the circuit board on the lamination conditions as described in said (3), and it judged as follows by external appearance inspection. The results are shown in Tables 1 and 2.

○: 회로 기판의 회로 부분에 보이드가 없고, 수지가 충분히 플로우하고 있다. (Circle): There is no void in the circuit part of a circuit board, and resin flows sufficiently.

×: 회로 기판의 회로 기판에 보이드가 발생하고 있으며, 수지의 플로우가 부족하다.
X: A void generate | occur | produces in the circuit board of a circuit board, and resin flow is insufficient.

<도체층과의 밀착 강도(필 강도)의 측정 및 평가><Measurement and Evaluation of Adhesion Strength (Peel Strength) with Conductor Layer>

상기 (4) 기재의 샘플 510×340mm을 150×30mm의 작은 조각으로 절단하였다. 작은 조각의 구리박 부분에, 폭 10mm, 길이 100mm의 부분에 노치를 넣고, 구리박의 한쪽 말단을 벗겨서 집게로 쥐고, 인스트론 만능시험기를 사용하여 실온 중에서, 50mm/분의 속도로 수직 방향으로 35mm을 박리했을 때의 하중을 측정하여 환경 시험전의 필 강도로 하였다. The sample 510 × 340 mm described in (4) above was cut into small pieces of 150 × 30 mm. A notch is placed in a small piece of copper foil at a width of 10 mm and a length of 100 mm, and one end of the copper foil is peeled off and grasped with tongs. The load at the time of peeling 35 mm was measured and it was set as the peeling strength before an environmental test.

또한, 동일 샘플을 고도 가속 수명 시험 장치 PM422[쿠쓰모토카세이 가부시키가이샤 제조]로, 130℃, 85%RH의 조건으로 100시간의 가속 환경 시험후에, 동일한 방법으로 박리 강도를 측정하여, 환경 시험후의 필 강도로 하였다. 「환경 시험후의 필 강도÷환경 시험전의 필 강도×100」의 값을 밀착 유지율(%)로 하고, 가속 환경 시험 전후의 필 강도의 비교를 실시하였다. 밀착 유지율이 75% 이상인 경우를 「◎」으로 하고, 75% 미만 50% 이상인 경우를 「○」으로 하고, 50% 미만40% 이상인 경우를 「△」로 하고, 40% 미만인 경우를 「×」로 평가하였다. 결과를 표 1, 2에 기재한다. In addition, the same sample was subjected to a highly accelerated life test device PM422 (manufactured by Kutsumoto Kasei Co., Ltd.), and then subjected to an accelerated environmental test for 100 hours at 130 ° C. and 85% RH, and then the peel strength was measured in the same manner. It was set as the post peel strength. The value of "filling strength after environmental test / peeling strength * 100 before an environmental test" was made into the adhesion retention ratio (%), and the peeling strength before and after an accelerated environmental test was compared. The case where the adhesion retention rate is 75% or more is referred to as "◎", the case where less than 75% is 50% or more as "○", the case where less than 50% is 40% or more as "△", and the case where it is less than 40% is "x". Evaluated as. The results are shown in Tables 1 and 2.

Figure pat00004
Figure pat00004

Figure pat00005
Figure pat00005

표 1, 2의 결과로부터, 실시예에 있어서는, 저열팽창율, 라미네이트성 및 환경 시험후의 밀착 강도가 모두 우수하고, 이들 성능이 균형적인 것으로 되고 있다. 한편, 비교예 1, 2는 활석 함량이 적기 때문에, 환경 시험후의 밀착 강도의 저하가 현저해졌다. 또한 비교예 3, 4는 활석의 함량이 지나치게 많기 때문에, 라미네이트성이 악화되고 있다. 또한, 비교예 5는 활석과 실리카의 총함유량이 적기 때문에, 열팽창율이 증대되는 결과로 되고 있다. 또한 비교예 6은 활석과 실리카의 총 합계량이 지나치게 많기 때문에, 라미네이트성이 악화되고 있다. 비교예 7은, 무기 필러 비율 및 활석 비율이 동일한 실시예 9, 13과 비교하면, 필수 성분인 열가소성 수지가 배합되어 있지 않기 때문에, 환경 시험 전후의 필 강도의 밀착 유지율이 저하되어 버리고 있다. 또한, 페녹시 수지가 배합되어 있지 않음으로써, 점도가 지나치게 낮아져 라미네이트성도 악화되고 있다.
From the results of Tables 1 and 2, in Examples, all of the low thermal expansion coefficient, the lamination properties, and the adhesive strength after the environmental test were excellent, and these performances were balanced. On the other hand, since Comparative Examples 1 and 2 had little talc content, the fall of the adhesive strength after an environmental test became remarkable. Moreover, since the comparative examples 3 and 4 have too much content of talc, lamination property is deteriorating. In addition, in Comparative Example 5, since the total content of talc and silica is small, the coefficient of thermal expansion is increased. In Comparative Example 6, since the total amount of talc and silica is too large, lamination properties are deteriorated. Compared with Examples 9 and 13, in which the inorganic filler ratio and the talc ratio are the same, in Comparative Example 7, since the thermoplastic resin which is an essential component is not blended, the adhesion retention rate of the peel strength before and after the environmental test is reduced. Moreover, since a phenoxy resin is not mix | blended, viscosity becomes too low and lamination property is also worsening.

[산업상 이용가능성][Industry availability]

본 발명의 수지 조성물은, 도체층과 절연층의 밀착이 양호하고, 환경 시험후의 밀착의 저하가 적은, 접착 필름, 프리프레그, 다층 프린트 배선판을 제공할 수 있게 되었다. 또한 이들을 탑재한 컴퓨터, 휴대전화, 디지털 카메라, 텔레비전, 등의 전기 제품이나, 자동 이륜차, 자동차, 전차, 선박, 항공기, 등의 탈것도 제공할 수 있게 되었다. The resin composition of this invention was able to provide the adhesive film, the prepreg, and the multilayer printed wiring board which the adhesiveness of a conductor layer and an insulating layer is favorable, and there is little fall of the adhesiveness after an environmental test. In addition, electric appliances such as computers, cellular phones, digital cameras, televisions, and the like, and vehicles such as motorcycles, automobiles, trams, ships, aircrafts, etc. can be provided.

Claims (11)

(A) 시아네이트에스테르 수지, (B) 에폭시 수지, (C) 열가소성 수지, (D) 활석 및 (E) 실리카를 함유하는 프린트 배선판용 수지 조성물로서,
수지 조성물 중의 불휘발분을 100질량%로 한 경우,
(1) 성분 (D) 활석과 성분 (E) 실리카의 함유량의 합계가 35 내지 60질량%이며, (2) 성분 (D) 활석의 함유량이 5 내지 20질량%인 수지 조성물.
As a resin composition for printed wiring boards containing (A) cyanate ester resin, (B) epoxy resin, (C) thermoplastic resin, (D) talc, and (E) silica,
When the non volatile matter in a resin composition is 100 mass%,
The resin composition whose content of (1) component (D) talc and component (E) silica is 35-60 mass%, and (2) content of component (D) talc is 5-20 mass%.
(A) 시아네이트에스테르 수지, (B) 에폭시 수지, (C) 열가소성 수지, (D) 활석 및 (E) 실리카를 함유하는 프린트 배선판용 수지 조성물로서,
수지 조성물 중의 불휘발분을 100질량%로 한 경우,
(1) 성분 (D) 활석과 성분 (E) 실리카의 함유량의 합계가 45 내지 60질량%이며, (2) 성분 (D) 활석의 함유량이 5 내지 20질량%인 수지 조성물.
As a resin composition for printed wiring boards containing (A) cyanate ester resin, (B) epoxy resin, (C) thermoplastic resin, (D) talc, and (E) silica,
When the non volatile matter in a resin composition is 100 mass%,
The resin composition whose content of (1) component (D) talc and component (E) silica is 45-60 mass%, and (2) content of component (D) talc is 5-20 mass%.
제1항 또는 제2항에 있어서, 성분 (D) 활석의 평균 입자 직경이 1.3㎛ 이하인, 수지 조성물.The resin composition of Claim 1 or 2 whose average particle diameter of a component (D) talc is 1.3 micrometers or less. 제1항 또는 제2항에 있어서, 성분 (C) 열가소성 수지가, 페녹시 수지, 폴리이미드 수지, 폴리아미드이미드 수지, 폴리에테르이미드 수지, 폴리설폰 수지, 폴리에테르설폰 수지, 폴리페닐렌에테르 수지, 폴리카보네이트 수지, 폴리에테르에테르케톤 수지, 폴리에스테르 수지, 폴리아세탈 수지, 폴리부티랄 수지로부터 선택되는 1종 이상의 고분자 수지인, 수지 조성물.The component (C) thermoplastic resin is a phenoxy resin, a polyimide resin, a polyamideimide resin, a polyetherimide resin, a polysulfone resin, a polyethersulfone resin, or a polyphenylene ether resin. The resin composition which is at least 1 sort (s) of polymeric resin chosen from polycarbonate resin, polyether ether ketone resin, polyester resin, polyacetal resin, and polybutyral resin. 제1항 또는 제2항에 있어서, 성분 (C) 열가소성 수지가 페녹시 수지인, 수지 조성물.The resin composition of Claim 1 or 2 whose component (C) thermoplastic resin is a phenoxy resin. 제1항 내지 제3항 중의 어느 한 항에 있어서, 성분 (D) 활석 및 성분 (E) 실리카가, 미리 표면 처리되어 있는, 수지 조성물.The resin composition according to any one of claims 1 to 3, wherein component (D) talc and component (E) silica are surface treated in advance. 제1항 내지 제6항 중의 어느 한 항에 있어서, 열팽창율이 44ppm 이하이며, 환경 시험 전후의 밀착 유지율이 40% 이상인, 수지 조성물.The resin composition according to any one of claims 1 to 6, wherein the thermal expansion ratio is 44 ppm or less, and the adhesion retention rate before and after the environmental test is 40% or more. 제1항 내지 제7항 중의 어느 한 항에 있어서, 다층 프린트 배선판의 층간 절연용인, 수지 조성물.The resin composition of any one of Claims 1-7 for interlayer insulation of a multilayer printed wiring board. 제1항 내지 제8항 중의 어느 한 항에 따르는 수지 조성물이 지지 필름 위에 층 형성되어 이루어지는 접착 필름.The adhesive film in which the resin composition of any one of Claims 1-8 is layered on a support film. 제1항 내지 제8항 중의 어느 한 항에 따르는 수지 조성물이 섬유로 이루어지는 시트상 보강 기재 중에 함침되어 이루어지는 프리프레그.The prepreg in which the resin composition of any one of Claims 1-8 is impregnated in the sheet-like reinforcement base material which consists of fibers. 제1항 내지 제8항 중의 어느 한 항에 따르는 수지 조성물의 경화물을 포함하는 절연층과, 당해 절연층 위에 형성되는 도체층을 구비하는 프린트 배선판.The printed wiring board provided with the insulating layer containing the hardened | cured material of the resin composition of any one of Claims 1-8, and the conductor layer formed on the said insulating layer.
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