KR20150106352A - Adhesive film - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to an adhesive film capable of improving magnetic permeability, reducing a loss of magnetic forces, and forming an insulation layer with excellent reliability on an insulating property. The adhesive film has a supporter and a resin composition layer installed on the supporter. The resin composition layer contains components of (A) a thermosetting resin, (B) a magnetic filler, and (C) an inorganic filler. A content of the component (B) is 10 volume% or more, based on 100 volume% of a nonvolatile component in a resin composition forming the resin composition layer. Moreover, a value obtained by dividing the content of the component (C) by the content of the component (B) is 0.3-3.0.

Description

접착 필름{ADHESIVE FILM}Adhesive film {ADHESIVE FILM}

본 발명은, 접착 필름, 배선판 및 배선판의 제조 방법에 관한 것이다. The present invention relates to an adhesive film, a wiring board and a manufacturing method of the wiring board.

파워 인덕터, 고주파대역용 인덕터, 코몬 모드 초크 코일이라고 불리는 인덕터 소자가, 휴대 전화기, 스마트폰 등의 정보 단말에 많이 탑재되어 있다. 현재, 동작 신호의 주파수가 1GHz 이상, 특히 1GHz 내지 3GHz인 범위인 고주파대역용 인덕터 소자로서는, 예를 들면, 코어 부재에 코일을 감은 권선 구조, 코어 부재에 코일 도체를 적층한 적층 구조, 복수의 층상의 절연층 각각에 코일의 일부를 구성하는 배선층을 형성하고, 배선층이 형성된 절연층끼리를 각 배선층끼리가 전기적으로 접속되도록 적층하여 절연부의 두께 내로 코일이 만들어 넣어진 필름 구조가 알려져 있다. A power inductor, an inductor for a high frequency band, and an inductor element called a common mode choke coil are mounted on many information terminals such as a cellular phone and a smart phone. At present, as a high frequency band inductor element having a frequency of 1 GHz or more, in particular 1 GHz to 3 GHz, of an operation signal, for example, there are a winding structure in which a coil is wound around a core member, a lamination structure in which a coil conductor is laminated on a core member, There is known a film structure in which a wiring layer constituting a part of a coil is formed in each of the layered insulating layers and an insulating layer in which wiring layers are formed is laminated so that the respective wiring layers are electrically connected to each other to form a coil within the thickness of the insulating portion.

고주파대역용 인덕터 소자에 있어서는, 특성으로서 높은 Q값이 요구되는 점에서 공심(空芯) 코일, 즉 심부(芯部)가 중공인, 또는 비자성체가 충전된 구조가 일반적으로 채용되고 있다. 그러나, 이러한 구조의 고주파대역용 인덕터 소자는 심부가 비자성이며 심부의 투자율(透磁率)(비(比)투자율)을 올리는 것이 불가능하기 때문에, 인덕터 소자를 보다 소형화하려고 하면, 고주파대역에서 동작시킨 경우에 인덕턴스(L값)가 저하되어 버린다는 결점이 있다. In the inductor element for a high frequency band, a structure in which an air core coil, that is, a hollow core or a non-magnetic body is filled is generally adopted because a high Q value is required as a characteristic. However, since the inductor element for a high frequency band having such a structure is non-magnetic in the deep portion and it is impossible to increase the permeability (relative permeability) of the deep portion, if the inductor element is to be made more compact, There is a drawback that the inductance (L value) is lowered.

특허문헌 1에는, (A) 카복실기를 갖는 지환식 올레핀 중합체, (B) 열경화제, (C) 자성체, 및 (D) 용제를 함유하는 열경화성 자성 슬러리를 사용하면, (C) 자성체의 분산성이 우수하고, 각 성분을 고농도로 함유할 수 있고, 전기 절연성, 고주파 특성, 투자율 등의 특성이 우수한 전기 절연층을 형성할 수 있는 것이 개시되어 있다. Patent Document 1 discloses that the use of a thermosetting magnetic slurry containing (A) an alicyclic olefin polymer having a carboxyl group, (B) a thermosetting agent, (C) a magnetic substance and (D) And an electric insulating layer excellent in characteristics such as electric insulation property, high frequency property and magnetic permeability can be formed.

국제공개 제2004/29153호International Publication No. 2004/29153

최근의 정보 단말의 가일층의 박형화, 소형화의 요구에 의해, 고주파대역용 인덕터 소자에도 박형화, 소형화가 요구되고 있다. In recent years, in response to demands for further thinning and miniaturization of information terminals, thinner and smaller inductors for high frequency bands are also required.

고주파대역용 인덕터 소자의 가일층의 박형화, 소형화를 위해서는, 코일의 권회 수를 감소시켜, 코일을 구성하는 배선의 단면적을 작게 할 필요가 있다. 코일의 권회 수를 감소시키고, 코일을 구성하는 배선의 단면적을 작게 하기 위해서는 상기 필름 구조의 고주파대역용 인덕터 소자가 유리하다. 그러나, 필름 구조의 고주파대역용 인덕터 소자에서는, 단순하게 코일의 권회 수를 감소시켜, 코일을 구성하는 배선의 단면적을 작게 하면 인덕턴스가 저하되어 버린다. 필름 구조의 고주파대역용 인덕터 소자에서는, 절연층의 투자율(μ')을 높일 수 있으면, 고주파대역용 인덕터 소자의 L값 및 Q값을 향상시킬 수 있다. 따라서, 절연층의 투자율을 보다 높게 할 수 있고, 또한 자성 손실(磁性 損失)을 저감시킬 수 있는 재료가 요구되고 있다. It is necessary to reduce the number of turns of the coil and reduce the cross-sectional area of the wiring constituting the coil in order to make the inductor element for the high frequency band thinner and smaller. In order to reduce the number of turns of the coil and reduce the cross-sectional area of the wiring constituting the coil, the inductor element for the high frequency band of the film structure is advantageous. However, in the inductor element for a high frequency band of a film structure, the inductance is lowered simply by reducing the number of turns of the coil and reducing the cross-sectional area of the wiring constituting the coil. In the inductor device for a high frequency band of a film structure, if the magnetic permeability (μ ') of the insulating layer can be increased, the L value and the Q value of the inductor device for the high frequency band can be improved. Therefore, there is a demand for a material capable of increasing the magnetic permeability of the insulating layer and reducing the magnetic loss (magnetic loss).

그러나, 상기 특허문헌 1에 따르는 열경화성 자성 슬러리를 사용하여 필름 구조의 인덕터 소자를 형성한 경우에는, 특히 주파수가 1GHz 내지 3GHz인 범위에서는 자성 손실(μ'')이 커져 버릴 우려가 있다. 따라서, 특허문헌 1이 개시하는 재료는, 고주파대역용 인덕터 소자의 절연층(절연부)의 재료로서 유용하다고 하기 어렵다. However, when the inductor element of the film structure is formed by using the thermosetting magnetic slurry according to Patent Document 1, there is a possibility that the magnetic loss (μ '') becomes large particularly in the range of the frequency of 1 GHz to 3 GHz. Therefore, it is difficult to say that the material disclosed in Patent Document 1 is useful as a material for an insulating layer (insulating portion) of an inductor element for a high-frequency band.

본 발명자들은 상기와 같은 요구에 부응하기 위해 자성 필러를 함유하는 수지 조성물에 관해서 예의 검토를 진행한 결과, 수지 조성물이 자성 필러를 함유하고, 이러한 수지 조성물을 사용하여 절연층을 형성한 경우, 주파수가 1GHz 내지 3GHz인 범위에서 자성 손실이 커져 버리고, Q값이 저하되어 버리고, 또한 절연성의 신뢰성이 저하되어 버리는 문제점이 있다고 하는 지견을 수득하였다. DISCLOSURE OF THE INVENTION As a result of intensive investigations on a resin composition containing a magnetic filler in order to meet such a demand, the present inventors have found that when a resin composition contains a magnetic filler and an insulating layer is formed using such a resin composition, The magnetic loss is increased in the range of 1 GHz to 3 GHz, the Q value is lowered, and the reliability of the insulation is lowered.

본 발명은 상기 문제점을 감안하여 이루어진 것이다. 본 발명은, 주파수가 1GHz 내지 3GHz인 범위에서 투자율을 향상시킬 수 있고, 자성 손실을 저감시킬 수 있고, 또한 절연성의 신뢰성이 우수한 절연층을 형성할 수 있는 수지 조성물을 사용하는 접착 필름, 이러한 접착 필름을 사용하는 배선판 및 배선판의 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. The present invention has been made in view of the above problems. The present invention relates to an adhesive film using a resin composition capable of improving magnetic permeability in a frequency range of 1 GHz to 3 GHz and capable of reducing magnetic loss and capable of forming an insulating layer excellent in insulation reliability, And a method for manufacturing a wiring board and a wiring board using a film.

본 발명은, 하기〔1〕내지〔20〕을 제공한다. The present invention provides the following [1] to [20].

〔1〕지지체와, 당해 지지체에 설치된 수지 조성물 층을 갖는 접착 필름으로서, [1] An adhesive film having a support and a resin composition layer provided on the support,

상기 수지 조성물 층이, 성분 (A) 열경화성 수지, 성분 (B) 자성 필러, 및 성분 (C) 무기 충전재를 함유하고, Wherein the resin composition layer contains a thermosetting resin of component (A), a magnetic filler of component (B), and an inorganic filler of component (C)

상기 수지 조성물 층을 구성하는 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100체적%로 하는 경우에, 성분 (B)의 함유량이 10체적% 이상이며, 또한 성분 (C)의 함유량을 성분 (B)의 함유량으로 나눈 값이 0.3 내지 3.0의 범위인, 접착 필름.Wherein the content of the component (B) is 10% by volume or more and the content of the component (C) is the content of the component (B) when the nonvolatile component in the resin composition constituting the resin composition layer is 100% And the value divided by the range of 0.3 to 3.0.

〔2〕성분 (A)가 에폭시 수지이며, 상기 수지 조성물이 페놀계 경화제 및 나프톨계 경화제로부터 선택되는 에폭시 수지 경화제를 추가로 함유하는,〔1〕에 기재된 접착 필름.[2] The adhesive film according to [1], wherein the component (A) is an epoxy resin, and the resin composition further contains an epoxy resin curing agent selected from a phenol series curing agent and a naphthol series curing agent.

〔3〕에폭시 수지 경화제가 트리아진 골격 함유 크레졸계 경화제 및 트리아진 골격 함유 페놀계 경화제로부터 선택되는,〔2〕에 기재된 접착 필름.[3] The adhesive film according to [2], wherein the epoxy resin curing agent is selected from a triazine skeleton-containing cresol-based curing agent and a triazine skeleton-containing phenol-based curing agent.

〔4〕상기 수지 조성물이 열가소성 수지를 추가로 함유하는,〔1〕내지〔3〕중의 어느 하나에 기재된 접착 필름.[4] The adhesive film according to any one of [1] to [3], wherein the resin composition further contains a thermoplastic resin.

〔5〕상기 수지 조성물 중, 성분 (B)의 함유량이 10체적% 내지 40체적%이며, 또한 성분 (C)의 함유량이 10체적% 내지 50체적%인,〔1〕내지〔4〕중의 어느 하나에 기재된 접착 필름.[5] The resin composition according to any one of [1] to [4], wherein the content of the component (B) is 10% by volume to 40% by volume and the content of the component (C) is 10% The adhesive film described in one.

〔6〕상기 수지 조성물 중, 성분 (B)와 성분 (C)의 함유량의 합계가 20체적% 내지 75체적%인,〔1〕내지〔5〕중의 어느 하나에 기재된 접착 필름.[6] The adhesive film according to any one of [1] to [5], wherein the total content of the components (B) and (C) in the resin composition is 20% by volume to 75% by volume.

〔7〕상기 수지 조성물 중, 성분 (B)의 함유량이 10체적% 내지 25체적%인,〔1〕내지〔6〕중의 어느 하나에 기재된 접착 필름.[7] The adhesive film according to any one of [1] to [6], wherein the content of the component (B) in the resin composition is 10% by volume to 25% by volume.

〔8〕상기 수지 조성물 중, 성분 (B)의 함유량이 20체적% 내지 25체적%이며, 성분 (C)의 함유량이 10체적% 내지 25체적%이며, 또한 성분 (B)와 성분 (C)의 함유량의 합계가 30체적% 내지 50체적%인,〔1〕내지〔7〕중의 어느 하나에 기재된 접착 필름.(8) The resin composition according to any one of (1) to (7), wherein the content of the component (B) is 20 to 25% by volume, the content of the component (C) is 10 to 25% by volume, Is 30 to 50% by volume based on the total amount of the thermoplastic resin (A) and the thermoplastic resin (B).

〔9〕상기 수지 조성물 중, 성분 (B)의 평균 입자 직경이 0.3㎛ 내지 10㎛인,〔1〕내지〔8〕중의 어느 하나에 기재된 접착 필름.[9] The adhesive film according to any one of [1] to [8], wherein the average particle diameter of the component (B) in the resin composition is 0.3 μm to 10 μm.

〔10〕성분 (C)의 평균 입자 직경이 0.01㎛ 내지 5㎛인,〔1〕내지〔9〕중의 어느 하나에 기재된 접착 필름.[10] The adhesive film according to any one of [1] to [9], wherein the component (C) has an average particle diameter of 0.01 탆 to 5 탆.

〔11〕성분 (B)의 평균 입자 직경이 성분 (C)의 평균 입자 직경보다도 큰,〔1〕내지〔10〕중의 어느 하나에 기재된 접착 필름.[11] The adhesive film according to any one of [1] to [10], wherein an average particle diameter of the component (B) is larger than an average particle diameter of the component (C).

〔12〕성분 (C)가 실리카인,〔1〕내지〔11〕중의 어느 하나에 기재된 접착 필름.[12] The adhesive film according to any one of [1] to [11], wherein the component (C) is silica.

〔13〕성분 (C)가 표면처리제로 처리되어 있는 실리카인,〔1〕내지〔12〕중의 어느 하나에 기재된 접착 필름.[13] The adhesive film according to any one of [1] to [12], wherein the component (C) is silica treated with a surface treatment agent.

〔14〕표면처리제가 아미노실란계 커플링제인,〔13〕에 기재된 접착 필름.[14] The adhesive film according to [13], wherein the surface treating agent is an aminosilane-based coupling agent.

〔15〕경화체로 했을 때에, 주파수가 1GHz 내지 3GHz일 때의 투자율이 1.1이상이며, 또한 주파수가 1GHz 내지 3GHz일 때의 자성 손실이 0.5 이하인,〔1〕내지〔14〕중의 어느 하나에 기재된 접착 필름.[15] An adhesive according to any one of [1] to [14], wherein the magnetic loss when the frequency is 1 GHz to 3 GHz is 1.1 or more and the frequency is 1 GHz to 3 GHz is 0.5 or less, film.

〔16〕경화체로 했을 때에, 주파수가 1GHz 내지 3GHz일 때의 투자율이 1.2이상이며, 또한 주파수가 1GHz 내지 3GHz일 때의 자성 손실이 0.3 이하인,〔1〕내지〔15〕중의 어느 하나에 기재된 접착 필름.[16] The adhesive according to any one of [1] to [15], wherein the magnetic loss when the frequency is 1 GHz to 3 GHz is 1.2 or more and the frequency is 1 GHz to 3 GHz is 0.3 or less, film.

〔17〕인덕터 소자를 구비하는 배선판의 절연층의 형성에 사용되는,〔1〕내지〔16〕중의 어느 하나에 기재된 접착 필름.[17] The adhesive film according to any one of [1] to [16], which is used for forming an insulating layer of a wiring board having an inductor element.

〔18〕〔1〕내지〔16〕중의 어느 하나에 기재된 접착 필름의 수지 조성물 층의 경화체인 절연층과, 당해 절연층에 적어도 일부분이 매립된 코일상 도전성 구조체를 가지고 있으며, [18] An adhesive film according to any one of [1] to [16], which has an insulating layer which is a cured product of a resin composition layer and a coil-shaped conductive structure in which at least a part of the insulating layer is embedded,

상기 코일상 도전성 구조체와, 상기 절연층의 두께 방향으로 연장되고, 또한 상기 코일상 도전성 구조체로 둘러싸인 상기 절연층 중의 일부분에 의해 구성되는 인덕터 소자를 포함하는, 배선판.And an inductor element extending in the thickness direction of the insulating layer and constituted by a part of the insulating layer surrounded by the coil-shaped electrically conductive structure.

〔19〕상기 인덕터 소자가 기능하는 주파수가 1GHz 이상인,〔18〕에 기재된 배선판.[19] A wiring board according to [18], wherein the frequency at which the inductor element functions is 1 GHz or more.

〔20〕제1 절연층 및 제2 절연층을 포함하는 절연부와, 당해 절연부에 적어도 일부분이 매립된 코일상 도전성 구조체를 가지고 있으며, 당해 코일상 도전성 구조체와 상기 절연부 중의 일부분에 의해 구성되는 인덕터 소자를 포함하는 배선판의 제조 방법으로서,[20] An insulating member comprising a first insulating layer and a second insulating layer, and a coil-shaped electroconductive structure in which at least a part of the insulating portion is embedded. The coil-shaped electroconductive structure is constituted by a part of the insulating portion The method comprising the steps of:

〔1〕내지〔16〕중의 어느 하나에 기재된 접착 필름, 및 제1 배선층이 설치된 코어 기재를 준비하는 공정과, A step of preparing an adhesive film according to any one of [1] to [16] and a core substrate provided with a first wiring layer;

상기 코어 기재에 상기 접착 필름의 수지 조성물 층을 라미네이트하는 공정과, A step of laminating the resin composition layer of the adhesive film on the core substrate,

상기 수지 조성물 층을 열경화하여 제1 절연층을 형성하는 공정과, A step of thermally curing the resin composition layer to form a first insulating layer,

상기 제1 절연층에 비아 홀을 형성하는 공정과, Forming a via hole in the first insulating layer;

상기 비아 홀이 형성된 상기 제1 절연층에 대해 조화(粗化) 처리하는 공정과,A step of roughening the first insulating layer on which the via hole is formed,

상기 제1 절연층에 제2 배선층을 형성하고, 상기 제1 배선층과 상기 제2 배선층을 전기적으로 접속하는 비아 홀 내 배선을 형성하는 공정과, A step of forming a second wiring layer in the first insulating layer and forming wiring in a via hole for electrically connecting the first wiring layer and the second wiring layer;

상기 제2 배선층 및 상기 비아 홀 내 배선이 형성된 상기 제1 절연층에 추가로 상기 접착 필름을 라미네이트하고, 열경화하여 상기 제2 절연층을 형성하는 공정과, Laminating the adhesive film to the first insulating layer in which the second wiring layer and the wiring in the via hole are formed, and thermally curing the second insulating layer to form the second insulating layer;

상기 제1 배선층의 일부분과 상기 제2 배선층의 일부분과 상기 비아 홀 내 배선을 포함하는 코일상 도전성 구조체, 및 상기 절연부의 두께 방향으로 연장되고, 또한 상기 코일상 도전성 구조체로 둘러싸인 상기 절연부의 일부분을 포함하는 상기 인덕터 소자를 형성하는 공정을A coil-shaped conductive structure including a portion of the first wiring layer, a portion of the second wiring layer, and the wiring in the via-hole; and a portion of the insulation portion extending in the thickness direction of the insulation portion and surrounded by the coil- The step of forming the inductor element including

포함하는, 배선판의 제조 방법.Wherein the method comprises the steps of:

본 발명의 접착 필름을 사용하면, 특히 주파수가 1GHz 내지 3GHz인 범위에서의 투자율을 향상시킬 수 있고, 자성 손실을 저감시킬 수 있고, 또한 절연성의 신뢰성이 우수한 절연층을 제공할 수 있고, 나아가서는 이러한 절연층을 포함하는 고성능의 고주파대역용 인덕터 소자가 만들어 넣어진 배선판을, 간편한 공정에 의해 제공할 수 있다. The use of the adhesive film of the present invention can provide an insulating layer that can improve the magnetic permeability particularly in the range of frequencies from 1 GHz to 3 GHz and can reduce the magnetic loss and is excellent in insulation reliability, A wiring board on which a high-performance inductor element for high frequency band including such an insulating layer is formed can be provided by a simple process.

[도 1] 도 1은 배선판을 이의 두께 방향의 한쪽에서 본 모식적인 평면도이다.
[도 2] 도 2는 II-II 일점 쇄선(一點 鎖線)으로 나타낸 위치에서 절단한 배선판의 절단 단면을 도시하는 모식적인 도면이다.
[도 3] 도 3은 배선판 중 제1 배선층의 구성을 설명하기 위한 모식적인 평면도이다.
[Figure 1] Figure 1 is a schematic plan view of the wiring board from one side of the thickness direction thereof.
[Figure 2] Figure 2 is a schematic diagram showing a cut end face of the wiring cut in the position shown by a chain line II-II (一點鎖線).
[ Fig. 3 ] Fig. 3 is a schematic plan view for explaining a configuration of a first wiring layer in a wiring board.

이하, 도면을 참조하여, 본 발명의 실시형태에 관해서 설명한다. 또한, 각 도면은 발명을 이해할 수 있을 정도로, 구성 요소의 형상, 크기 및 배치가 개략적으로 도시되어 있는 것에 지나지 않는다. 본 발명은 이하의 기술에 의해 한정되는 것은 아니며, 각 구성 요소는 본 발명의 요지를 벗어나지 않는 범위에 있어서 적절히 변경 가능하다. 이하의 설명에서 사용하는 도면에 있어서, 같은 구성 요소에 관해서는 동일한 부호를 붙여 나타내고, 중복되는 설명에 관해서는 생략하는 경우가 있다. 또한, 본 발명의 실시형태에 따르는 구성은, 반드시 도시예의 배치에 의해, 제조되거나, 사용되거나 한다고는 한정하지 않는다. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In addition, each figure is merely a schematic representation of the shape, size, and arrangement of components so that the invention can be understood. The present invention is not limited by the following description, and each component can be appropriately changed within a range not departing from the gist of the present invention. In the drawings used in the following description, the same constituent elements are denoted by the same reference numerals, and redundant explanations may be omitted. Further, the configuration according to the embodiment of the present invention is not limited to being manufactured or used by the arrangement of the example shown in the drawings.

우선 본 실시형태의 접착 필름에 사용되는 수지 조성물에 관해서 설명한다. First, the resin composition used in the adhesive film of this embodiment will be described.

수지 조성물은, 성분 (A) 열경화성 수지, 성분 (B) 자성 필러, 및 성분 (C) 무기 충전재를 함유하는 수지 조성물이며, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100체적%로 하는 경우에, 성분 (B)의 함유량이 10체적% 이상이며, 또한 성분 (C)의 함유량을 성분 (B)의 함유량으로 나눈 값이 0.3 내지 3.0의 범위이다. The resin composition is a resin composition containing a thermosetting resin (A), a magnetic filler (B), and an inorganic filler (C) as the component (A). When the nonvolatile component in the resin composition is 100 volume% ) Is 10 volume% or more, and the value obtained by dividing the content of the component (C) by the content of the component (B) is in the range of 0.3 to 3.0.

이하, 수지 조성물이 함유할 수 있는 성분에 관해서 구체적으로 설명한다. Hereinafter, the components that the resin composition can contain will be described in detail.

(성분 (A))(Component (A))

수지 조성물은, 성분 (A)로서 열경화성 수지를 함유한다. 열경화성 수지의 예로서는 에폭시 수지를 들 수 있다. The resin composition contains a thermosetting resin as the component (A). An example of the thermosetting resin is an epoxy resin.

-에폭시 수지-- Epoxy resin -

에폭시 수지로서는, 예를 들면, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 S형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀 에폭시 수지, 나프톨노볼락 에폭시 수지, 페놀노볼락형 에폭시 수지, tert-부틸-카테콜형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 크레졸노볼락형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 선상 지방족 에폭시 수지, 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지, 지환식 에폭시 수지, 복소환식 에폭시 수지, 스피로환 함유 에폭시 수지, 사이클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지 및 트리메틸올형 에폭시 수지 등을 들 수 있다. 에폭시 수지는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다. Examples of the epoxy resin include bisphenol A epoxy resin, bisphenol F epoxy resin, bisphenol S epoxy resin, bisphenol AF epoxy resin, dicyclopentadiene epoxy resin, trisphenol epoxy resin, naphthol novolac epoxy resin , Phenol novolak type epoxy resin, tert-butyl-catechol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, An epoxy resin having a butadiene structure, an alicyclic epoxy resin, a heterocyclic epoxy resin, a spirocyclic epoxy resin, a cyclohexanedimethanol type epoxy resin, a naphthylene ether Type epoxy resin and trimethylol-type epoxy resin. The epoxy resin may be used singly or in combination of two or more kinds.

에폭시 수지는 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지를 함유하는 것이 바람직하다. 에폭시 수지의 불휘발 성분을 100질량%로 하는 경우에, 적어도 50질량% 이상은 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지인 것이 바람직하다. 이 중에서도, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 가지며, 온도 20℃에서 액상인 에폭시 수지(이하, 「액상 에폭시 수지」라고 한다.)와, 1분자 중에 3개 이상의 에폭시기를 가지며, 온도 20℃에서 고체상인 에폭시 수지(이하, 「고체상 에폭시 수지」라고 한다.)를 함유하는 것이 바람직하다. 에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 병용함으로써, 우수한 가요성을 부여할 수 있다. The epoxy resin preferably contains an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule. When the nonvolatile component of the epoxy resin is 100 mass%, it is preferable that at least 50 mass% or more is an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule. Among them, epoxy resins having two or more epoxy groups in one molecule and having a liquid phase at 20 占 폚 (hereinafter referred to as " liquid epoxy resin ") and three or more epoxy groups in one molecule, (Hereinafter referred to as " solid epoxy resin "). By using the epoxy resin in combination with the liquid epoxy resin and the solid epoxy resin, excellent flexibility can be given.

액상 에폭시 수지로서는, 예를 들면, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 페놀노볼락형 에폭시 수지, 2관능 지방족 에폭시 수지, 또는 나프탈렌형 에폭시 수지를 들 수 있고, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 또는 나프탈렌형 에폭시 수지가 바람직하다. 액상 에폭시 수지의 구체예로서는, DIC(주) 제조의 「HP4032」, 「HP4032D」, 「HP4032SS」(나프탈렌형 에폭시 수지), 미쯔비시가가쿠(주) 제조 「jER828EL」, 「jER1007」(비스페놀 A형 에폭시 수지), 「jER807」(비스페놀 F형 에폭시 수지), 「jER152」(페놀노볼락형 에폭시 수지), 신닛테츠가가쿠(주) 제조 「ZX1059」(비스페놀 A형 에폭시 수지와 비스페놀 F형 에폭시 수지의 혼합품), 「YL7410」(2관능 지방족 에폭시 수지) 등을 들 수 있다. 이들은 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다. Examples of the liquid epoxy resin include a bisphenol A type epoxy resin, a bisphenol F type epoxy resin, a phenol novolak type epoxy resin, a bifunctional aliphatic epoxy resin and a naphthalene type epoxy resin. Examples of the liquid epoxy resin include a bisphenol A type epoxy resin, Bisphenol F type epoxy resin, or naphthalene type epoxy resin are preferable. Specific examples of the liquid epoxy resin include "HP4032", "HP4032D", "HP4032SS" (naphthalene type epoxy resin), "jER828EL" and "jER1007" (bisphenol A type epoxy resin manufactured by Mitsubishi Kagaku KK) (Phenol novolak type epoxy resin), "ZX1059" (manufactured by Shinnitetsu Kagaku Co., Ltd.) (bisphenol A type epoxy resin and bisphenol F type epoxy resin), "jER807" (bisphenol F type epoxy resin), "jER152" , And "YL7410" (bifunctional aliphatic epoxy resin). These may be used singly or in combination of two or more.

고체상 에폭시 수지로서는, 예를 들면, 결정성 2관능 에폭시 수지, 4관능 나프탈렌형 에폭시 수지, 크레졸노볼락형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀에폭시 수지, 나프톨노볼락형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지를 들 수 있다. 고체상 에폭시 수지의 구체예로서는, DIC(주) 제조 「HP-4700」, 「HP-4710」(4관능 나프탈렌형 에폭시 수지), 「N-690」(크레졸노볼락형 에폭시 수지), 「N-695」(크레졸노볼락형 에폭시 수지), 「HP-7200」(디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지), 「EXA7311」, 「EXA7311-G3」, 「HP-6000」(나프틸렌에테르형 에폭시 수지), 니혼가야쿠(주) 제조「EPPN-502H」(트리스페놀에폭시 수지), 「NC7000L」(나프톨노볼락에폭시 수지), 「NC3000」, 「NC3000H」, 「NC3000L」, 「NC3100」(비페닐형 에폭시 수지), 신닛테츠가가쿠(주) 제조 「ESN475」(나프톨노볼락형 에폭시 수지), 「ESN485」(나프톨노볼락형 에폭시 수지), 미쯔비시가가쿠(주) 제조 「YX4000H」, 「YL6121」(비페닐형 에폭시 수지), 결정성 2관능 에폭시 수지인 「YX4000HK」(비크실레놀형 에폭시 수지) 등을 들 수 있다. Examples of the solid epoxy resin include crystalline bifunctional epoxy resins, tetrafunctional naphthalene type epoxy resins, cresol novolak type epoxy resins, dicyclopentadiene type epoxy resins, trisphenol epoxy resins, naphthol novolak type epoxy resins, Biphenyl type epoxy resins, and naphthylene ether type epoxy resins. Specific examples of the solid epoxy resin include "HP-4700", "HP-4710" (tetrafunctional naphthalene type epoxy resin), "N-690" (cresol novolak type epoxy resin) EXA7311-G3 ", " HP-6000 " (naphthylene ether-type epoxy resin), Nippon Kosei Kogyo Co., NC3000H "," NC3000L "," NC3100 "(biphenyl type epoxy resin (trade name) manufactured by KAYAKU CO., LTD.)," EPPN-502H "(trisphenol epoxy resin)," NC7000L "(naphthol novolac epoxy resin) ESN475 "(naphthol novolak type epoxy resin)," ESN485 "(naphthol novolak type epoxy resin)," YX4000H "and" YL6121 "manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., Phenyl type epoxy resin), and "YX4000HK" (biquilene type epoxy resin) which is a crystalline bifunctional epoxy resin.

에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 병용하는 경우, 이들의 양비(量比)(액상 에폭시 수지:고체상 에폭시 수지)는, 질량비로, 1:0.1 내지 1:4의 범위인 것이 바람직하다. 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지의 양비를 이러한 범위로 함으로써, 충분한 파단 강도를 갖는 경화체를 수득할 수 있는 등의 효과가 수득된다. 이러한 효과의 관점에서, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지의 양비(액상 에폭시 수지:고체상 에폭시 수지)는, 질량비로, 1:0.3 내지 1:3.5의 범위인 것이 보다 바람직하며, 1:0.6 내지 1:3의 범위인 것이 더욱 바람직하고, 1:0.8 내지 1:2.5의 범위인 것이 특히 바람직하다. When a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin are used in combination as the epoxy resin, the amount ratio (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) thereof is preferably in the range of 1: 0.1 to 1: 4 by mass ratio . By setting the ratio of the liquid epoxy resin and the solid epoxy resin within this range, it is possible to obtain a cured body having sufficient breaking strength and the like. (Liquid epoxy resin: solid epoxy resin) in a ratio of 1: 0.3 to 1: 3.5, more preferably in a range of 1: 0.6 to 1: 3.5, in terms of the weight ratio of the liquid epoxy resin and the solid epoxy resin, 3, more preferably in the range of 1: 0.8 to 1: 2.5.

수지 조성물 중의 에폭시 수지의 불휘발 성분 환산에서의 함유량은, 20체적% 내지 60체적%인 것이 바람직하며, 22체적% 내지 55체적%인 것이 보다 바람직하며, 24체적% 내지 53체적%인 것이 더욱 바람직하고, 26체적% 내지 49체적%인 것이 특히 바람직하다. The content of the epoxy resin in the resin composition in terms of the non-volatile component is preferably 20 vol.% To 60 vol.%, More preferably 22 vol.% To 55 vol.%, Further preferably 24 vol.% To 53 vol.% , And particularly preferably from 26 vol% to 49 vol%.

에폭시 수지의 에폭시 당량은, 바람직하게는 50 내지 3000의 범위이며, 보다 바람직하게는 80 내지 2000의 범위이며, 더욱 바람직하게는 110 내지 1000의 범위이다. 이러한 범위로 함으로써, 가교 밀도가 충분한 경화체를 수득할 수 있다. 또한, 에폭시 당량은 JIS K7236으로서 규격화된 방법에 따라 측정할 수 있다. 여기에서 에폭시 당량이란 1당량의 에폭시기를 함유하는 에폭시 수지의 질량이다. The epoxy equivalent of the epoxy resin is preferably in the range of 50 to 3,000, more preferably 80 to 2,000, and still more preferably 110 to 1,000. By setting this range, a cured product having sufficient crosslinking density can be obtained. The epoxy equivalent can be measured according to a method standardized as JIS K7236. Here, the epoxy equivalent is the mass of the epoxy resin containing one equivalent of an epoxy group.

(성분 (B))(Component (B))

-자성 필러-- Magnetic filler -

수지 조성물은, 성분 (B)로서 자성 필러를 함유한다. 사용될 수 있는 자성 필러의 재료는 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면, 순철 분말, Fe-Si계 합금 분말, Fe-Si-Al계 합금 분말, Fe-Ni계 합금 분말, Fe-Ni-Mo계 합금 분말, Fe-Ni-Mo-Cu계 합금 분말, Fe-Co계 합금 분말, Fe-Ni-Co계 합금 분말, Fe-Cr계 합금 분말, Fe-Cr-Si계 합금 분말, Fe-Ni-Cr계 합금 분말, 또는 Fe-Cr-Al계 합금 분말 등의 Fe 합금류, Fe기 비정질, Co기 비정질 등의 비정질 합금류, Mg-Zn계 페라이트, Mn-Zn계 페라이트, Mn-Mg계 페라이트, Cu-Zn계 페라이트, Mg-Mn-Sr계 페라이트, Ni-Zn계 페라이트 등의 스피넬형 페라이트류, Ba-Zn계 페라이트, Ba-Mg계 페라이트, Ba-Ni계 페라이트, Ba-Co계 페라이트, Ba-Ni-Co계 페라이트 등의 육방정형 페라이트류, Y계 페라이트 등의 가닛형 페라이트류를 들 수 있다. The resin composition contains a magnetic filler as the component (B). The material of the magnetic filler that can be used is not particularly limited and includes, for example, pure iron powder, Fe-Si alloy powder, Fe-Si-Al alloy powder, Fe-Ni alloy powder, Fe- Fe-Ni-Co alloy powder, Fe-Ni-Mo alloy powder, Fe-Ni-Co alloy powder, Fe-Ni-Co alloy powder, Fe- Based ferrite, Mn-Zn ferrite, Mn-Mg ferrite, Fe-based ferrite, Fe-based ferrite, Ba ferrite, Ba-Ni ferrite, Ba-Ni ferrite, Ba-Co ferrite, Ba-Zn ferrite, Ba-Zn ferrite, Hexagonal ferrite such as Ba-Ni-Co ferrite, and garnet type ferrite such as Y ferrite.

자성 필러로서는, 시판 자성 필러를 사용할 수 있다. 사용될 수 있는 시판 자성 필러의 구체예로서는, 산요토쿠슈세코(주) 제조 「PST-S」, 엡손아토믹스(주) 제조 「AW2-08PF20F」, 「AW2-08PF10F」, 「AW2-08PF3F」, 「Fe-3.5Si-4.5CrPF20F」, 「Fe-50NiPF20F」, 「Fe-80Ni-4MoPF20F」, JFE케미칼(주) 제조 「LD-M」, 「LD-MH」, 「KNI-106」, 「KNI-106GSM」, 「KNI-106GS」, 「KNI-109」, 「KNI-109GSM」, 「KNI-109GS」, 토다고교(주) 제조 「KNS-415」, 「BSF-547」, 「BSF-029」, 「BSN-125」, 「BSN-714」, 「BSN-828」, 「S-1281」, 「S-1641」, 「S-1651」, 「S-1470」, 「S-1511」, 「S-2430」, 니혼쥬가가쿠고교(주) 제조 「JR09P2」, CIK나노텍(주) 제조 「Nanotek」, 킨세이마텍(주) 제조 「JEMK-S」, 「JEMK-H」, ALDRICH사 제조 「Yttrium iron oxide」를 들 수 있다. 자성 필러는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다. As the magnetic filler, commercially available magnetic fillers can be used. Specific examples of commercially available magnetic fillers that can be used include "PST-S" manufactured by Sanyo Electric Industries, Ltd., "AW2-08PF20F", "AW2-08PF10F", "AW2-08PF3F" LD-M "," LD-MH "," KNI-106 ", and" KNI-4MoPF20F "manufactured by JFE Kikuchi K.K.," Fe-3.5Si-4.5CrPF20F " KNS-415 "," BSF-547 ", and" BSF-029 "manufactured by TODA KOGYO Co., Ltd.," KNI-106GSM "," KNI-106GS "," KNI- BSN-714, BSN-828, S-1281, S-1641, S-1651, S-1470, S-1511, S-2430 manufactured by Nippon Denshi Kogyo Kogyo Co., Ltd., JR09P2 manufactured by Nippon Kogaku Kogyo Co., Ltd., Nanotek manufactured by CIK Nanotech Co., Ltd., JEMK-S manufactured by Kinesei Tech Co., Ltd., JEMK-H manufactured by ALDRICH Yttrium iron oxide. The magnetic filler may be used singly or in combination of two or more kinds.

자성 필러의 평균 입자 직경은 0.3㎛ 내지 10㎛ 이하이며, 바람직하게는 0.3㎛ 내지 7㎛의 범위이며, 보다 바람직하게는 0.5㎛ 내지 5㎛의 범위이다. The average particle diameter of the magnetic filler is 0.3 mu m to 10 mu m or less, preferably 0.3 mu m to 7 mu m, and more preferably 0.5 mu m to 5 mu m.

자성 필러의 함유량은, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100체적%로 하는 경우에, 10체적% 이상이며, 10체적% 내지 40체적%가 바람직하며, 10체적% 내지 35체적%인 것이 보다 바람직하며, 15체적% 내지 30체적%인 것이 더욱 바람직하고, 15체적% 내지 25체적%인 것이 특히 바람직하다. The content of the magnetic filler is preferably 10% by volume or more, more preferably 10% by volume to 40% by volume, more preferably 10% by volume to 35% by volume, based on 100% by volume of the nonvolatile component in the resin composition , Still more preferably from 15 volume% to 30 volume%, still more preferably from 15 volume% to 25 volume%.

(성분 (C)) (Component (C))

-무기 충전재-- inorganic filler -

수지 조성물은, 성분 (C)로서 무기 충전재를 함유한다. 무기 충전재는 통상 수지 조성물을 경화했을 때의 열팽창율을 저하시켜 열팽창율의 차이에 의한 크랙, 회로 변형 등의 불량의 발생을 억제하고, 용융 점도의 과도한 저하를 억제하기 위해서 사용된다. 또한 자성 필러를 사용하는 경우에는, 투자율 등의 특성의 향상을 우선시키는 관점에서 무기 충전재를 공존시키지는 않는 것이 통상적이다. 그러나, 수지 조성물 중, 또는 이러한 수지 조성물을 경화함으로써 형성되는 경화체(절연층) 중에 있어서 자성 필러의 응집을 방지하고, 수지 조성물을 경화체로 했을 때의 절연성의 신뢰성을 높이는 것을 목적으로 하여 무기 충전재가 사용될 수 있다. The resin composition contains an inorganic filler as the component (C). The inorganic filler is usually used to reduce the thermal expansion rate when the resin composition is cured, to suppress the occurrence of defects such as cracks and circuit deformation due to the difference in thermal expansion rate, and to suppress excessive decrease in melt viscosity. In the case of using a magnetic filler, it is customary not to coexist with inorganic fillers from the viewpoint of giving priority to improvement of properties such as magnetic permeability. However, for the purpose of preventing aggregation of the magnetic filler in the resin composition or the cured product (insulating layer) formed by curing such a resin composition, and for improving the reliability of insulation when the resin composition is a cured product, Can be used.

무기 충전재로서는, 예를 들면, 실리카, 알루미나, 황산바륨, 활석, 점토, 운모 분말, 수산화알루미늄, 수산화마그네슘, 탄산칼슘, 탄산마그네슘, 산화마그네슘, 질화붕소, 붕산알루미늄, 티탄산바륨, 티탄산스트론튬, 티탄산칼슘, 티탄산마그네슘, 티탄산비스무스, 산화티탄, 지르콘산바륨, 및 지르콘산칼슘 등을 들 수 있다. 이들 중에서도 무정형 실리카, 용융 실리카, 결정 실리카, 합성 실리카, 중공 실리카 등의 실리카가 특히 적합하다. 또한 실리카로서는 구상 실리카가 바람직하다. 무기 충전재는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다. 시판되고 있는 구상(용융) 실리카로서는, 예를 들면, 아도마텍스(주) 제조「SO-C1」, 「SO-C2」, 「SO-C4」, 「SO-C5」, 「SO-C6」을 들 수 있다. Examples of the inorganic filler include inorganic fillers such as silica, alumina, barium sulfate, talc, clay, mica powder, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum borate, strontium titanate, Calcium, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, barium zirconate, and calcium zirconate. Of these, silica such as amorphous silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, hollow silica and the like is particularly suitable. As the silica, spherical silica is preferable. The inorganic fillers may be used singly or in combination of two or more kinds. Examples of commercially available spherical (fused) silica include SO-C1, SO-C2, SO-C4, SO-C5 and SO- .

무기 충전재의 평균 입자 직경은, 6㎛ 이상이면 수지 조성물의 유동성 및 성형성이 악화되고, 경화체로 했을 때의 고주파에서의 투자율 및 자성 손실, 및 초기 저항 값이 악화되어 버릴 우려가 있기 때문에, 수지 조성물의 유동성을 높이는 관점에서, 0.01㎛ 내지 5㎛의 범위인 것이 바람직하며, 0.05㎛ 내지 5㎛인 것이 보다 바람직하며, 0.05㎛ 내지 2.5㎛의 범위인 것이 더욱 바람직하고, 0.1㎛ 내지 1.5㎛의 범위인 것이 더욱 보다 바람직하며, 0.3㎛ 내지 1.0㎛의 범위인 것이 특히 바람직하다. When the average particle diameter of the inorganic filler is 6 m or more, the flowability and moldability of the resin composition deteriorate, and the magnetic permeability and the magnetic loss at the high frequency and the initial resistance value may be deteriorated when the cured product is used. From the viewpoint of enhancing the fluidity of the composition, it is preferably in the range of 0.01 탆 to 5 탆, more preferably in the range of 0.05 탆 to 5 탆, more preferably in the range of 0.05 탆 to 2.5 탆, more preferably in the range of 0.1 탆 to 1.5 탆 Still more preferably in the range of 0.3 탆 to 1.0 탆.

무기 충전재의 평균 입자 직경은 미(Mie) 산란 이론에 기초하는 레이저 회절·산란법에 의해 측정할 수 있다. 구체적으로는 레이저 회절 산란식 입도 분포 측정 장치에 의해, 무기 충전재의 입도 분포를 체적 기준으로 작성하고, 이의 메디안 직경을 평균 입자 직경으로 함으로써 측정할 수 있다. 이 경우에는 무기 충전재를 초음파에 의해 수중에 분산시킨 측정 샘플을 바람직하게 사용할 수 있다. 레이저 회절 산란식 입도 분포 측정 장치로서는, 호리바세사쿠쇼(주) 제조 「LA-500」등을 사용할 수 있다. The average particle diameter of the inorganic filler can be measured by a laser diffraction / scattering method based on the Mie scattering theory. Specifically, the particle size distribution of the inorganic filler can be measured by using a laser diffraction scattering particle size distribution measuring apparatus, and the median diameter of the inorganic filler is determined as the average particle diameter. In this case, a measurement sample in which an inorganic filler is dispersed in water by ultrasonic waves can be preferably used. As the laser diffraction scattering type particle size distribution measuring device, "LA-500" manufactured by Horiba Seisakusho Co., Ltd. and the like can be used.

무기 충전재는, 내습성 및 분산성을 높이는 관점에서, 아미노실란계 커플링제, 에폭시실란계 커플링제, 머캅토실란계 커플링제, 실란계 커플링제, 오가노실라잔 화합물, 티타네이트계 커플링제 등의 1종 이상의 표면처리제로 처리되어 있는 것이 바람직하다. 이러한 표면처리제의 시판품으로서는, 예를 들면, 신에츠가가쿠고교(주) 제조 「KBM403」(3-글리시독시프로필트리메톡시실란), 신에츠가가쿠고교(주) 제조 「KBM803」(3-머캅토프로필트리메톡시실란), 신에츠가가쿠고교(주) 제조 「KBE903」(3-아미노프로필트리에톡시실란), 신에츠가가쿠고교(주) 제조「KBM573」(N-페닐-3-아미노프로필트리메톡시실란), 신에츠가가쿠고교(주) 제조「SZ-31」(헥사메틸디실라잔) 등을 들 수 있다. From the viewpoint of enhancing moisture resistance and dispersibility, the inorganic filler is preferably selected from the group consisting of amino silane coupling agents, epoxy silane coupling agents, mercaptosilane coupling agents, silane coupling agents, organosilazane compounds and titanate coupling agents It is preferable that the surface treatment agent is treated with at least one kind of surface treatment agent. As commercially available products of such a surface treatment agent, for example, KBM403 (3-glycidoxypropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., KBM803 (3-mercaptopropyltrimethoxysilane manufactured by Shin- (3-aminopropyltriethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., KBE903 (3-aminopropyltriethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., KBM573 Trimethoxysilane), "SZ-31" (hexamethyldisilazane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., and the like.

표면처리제로 표면 처리된 무기 충전재는, 용제(예를 들면, 메틸에틸케톤(MEK))에 의해 세정 처리한 후에, 무기 충전재의 단위 표면적당 카본량을 측정할 수 있다. 구체적으로는, 용제로서 충분한 양의 MEK를 표면처리제로 표면 처리된 무기 충전재에 가하고, 25℃에서 5분간 초음파 세정한다. 이어서, 상청액을 제거하고, 불휘발 성분(고형분)을 건조시킨 후, 카본 분석계를 사용하여 무기 충전재의 단위 표면적당 카본량을 측정할 수 있다. 카본 분석계로서는, 호리바세사쿠쇼(주) 제조 「EMIA-320V」등을 사용할 수 있다. The inorganic filler surface-treated with the surface treatment agent can be subjected to cleaning treatment with a solvent (for example, methyl ethyl ketone (MEK)), and then the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured. Specifically, a sufficient amount of MEK as a solvent is added to the inorganic filler surface-treated with a surface treatment agent and ultrasonically cleaned at 25 占 폚 for 5 minutes. Subsequently, the supernatant liquid is removed and the nonvolatile component (solid content) is dried, and then the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured using a carbon analyzer. As the carbon analyzer, "EMIA-320V" manufactured by Horiba Seisakusho Co., Ltd. and the like can be used.

무기 충전재의 단위 표면적당 카본량은, 무기 충전재의 분산성 향상의 관점에서, 0.02mg/㎡ 이상인 것이 바람직하며, 0.1mg/㎡ 이상인 것이 보다 바람직하며, 0.2mg/㎡ 이상인 것이 더욱 바람직하다. 한편, 용융 점도의 상승을 억제하는 관점에서, 무기 충전재의 단위 표면적당 카본량은, 1mg/㎡ 이하인 것이 바람직하며, 0.8mg/㎡ 이하인 것이 보다 바람직하며, 0.5mg/㎡ 이하인 것이 더욱 바람직하다. The amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler is preferably 0.02 mg / m 2 or more, more preferably 0.1 mg / m 2 or more, and further preferably 0.2 mg / m 2 or more from the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler. On the other hand, from the viewpoint of suppressing an increase in melt viscosity, the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler is preferably 1 mg / m 2 or less, more preferably 0.8 mg / m 2 or less, and further preferably 0.5 mg / m 2 or less.

수지 조성물 중, 자성 필러인 성분 (B)와 무기 충전재인 성분 (C)의 함유량에 관해서는, 무기 충전재의 함유량을 자성 필러의 함유량으로 나눈 값(이하, 「무기 충전재(성분 (C))/자성 필러(성분 (B))」라고 표기하는 경우가 있다.)이, 0.3 내지 3.0의 범위가 된다. 무기 충전재/자성 필러는, 0.4 내지 2.7의 범위인 것이 바람직하며, 0.5 내지 2.5의 범위인 것이 보다 바람직하다. The content of the inorganic filler (component (C)) / the content of the inorganic filler (hereinafter referred to as " inorganic filler (component (C)) / Magnetic filler (component (B)) ") is in the range of 0.3 to 3.0. The inorganic filler / magnetic filler is preferably in the range of 0.4 to 2.7, more preferably in the range of 0.5 to 2.5.

수지 조성물 중, 자성 필러인 성분 (B)와 무기 충전재인 성분 (C)의 함유량의 합계가 20체적% 내지 75체적%인 것이 바람직하며, 20체적% 내지 65체적%인 것이 보다 바람직하며, 22체적% 내지 60체적%인 것이 더욱 바람직하고, 24체적% 내지 57체적%인 것이 더욱 보다 바람직하다. The total content of the component (B) as the magnetic filler and the component (C) as the inorganic filler in the resin composition is preferably 20% by volume to 75% by volume, more preferably 20% by volume to 65% , More preferably from 60 vol% to 60 vol%, still more preferably from 24 vol% to 57 vol%.

수지 조성물 중, 경화체로 했을 때의 투자율 및 자성 손실을 양호한 범위에서 양립시키는 관점에서, 성분 (B)의 함유량이 20체적% 내지 25체적%이며, 성분 (C)의 함유량이 10체적% 내지 25체적%이며, 또한 성분 (B)와 성분 (C)의 함유량의 합계가 30체적% 내지 50체적%인 것이 바람직하다. The content of the component (B) is 20% by volume to 25% by volume, the content of the component (C) is 10% by volume to 25% by volume, and the content of the component By volume, and the total content of the components (B) and (C) is preferably 30% by volume to 50% by volume.

자성 필러의 평균 입자 직경은 무기 충전재의 평균 입자 직경보다도 큰 것이 바람직하다. The average particle diameter of the magnetic filler is preferably larger than the average particle diameter of the inorganic filler.

자성 필러 및 무기 충전재의 함유량의 비율을 상기와 같이 하고, 자성 필러의 평균 입자 직경을 무기 충전재의 평균 입자 직경보다도 크게 하면, 자성 필러 입자의 주위를 둘러싸도록 무기 충전재를 효과적으로 배치할 수 있다. 이것에 의해, 자성 필러 입자끼리가 응집되어 서로 접촉해 버리는 것을 방지하고, 자성 필러 입자끼리를 서로 이간시킬 수 있기 때문에, 배합된 자성 필러에 의해 투자율을 높이면서 양호한 절연성을 실현할 수 있다. When the ratio of the content of the magnetic filler and the content of the inorganic filler is as described above and the average particle diameter of the magnetic filler is larger than the average particle diameter of the inorganic filler, the inorganic filler can be effectively arranged so as to surround the periphery of the magnetic filler particles. This prevents the magnetic filler particles from aggregating and coming into contact with each other, and allows the magnetic filler particles to be separated from each other, so that the magnetic filler can realize good insulation while increasing the magnetic permeability.

결과적으로, 본 실시형태의 수지 조성물을 경화체로 했을 때에, 주파수가 1GHz 내지 3GHz일 때의 투자율을 1.1 이상으로 할 수 있고, 또한 1.2 이상으로 할 수 있고, 또한 주파수가 1GHz 내지 3GHz일 때의 자성 손실을 0.5 이하로 할 수 있고, 또한 0.3 이하로 할 수 있다. As a result, when the resin composition of the present embodiment is used as a cured product, the magnetic permeability at a frequency of 1 GHz to 3 GHz can be made to be 1.1 or more and 1.2 or more, and when the frequency is 1 GHz to 3 GHz, The loss can be 0.5 or less, and the loss can be made 0.3 or less.

(기타 성분)(Other components)

수지 조성물은, 기타 성분으로서 수지 조성물을 경화시키기 위한 경화제를 함유하고, 또한 필요에 따라, 수지 조성물 또는 이의 경화체의 특성을 조정하는 것을 목적으로 하는 성분을 함유하고 있어도 좋다. 기타 성분으로서는, 예를 들면, 열가소성 수지, 경화 촉진제, 난연제, 유기 충전재를 들 수 있고, 또한 유기 구리 화합물, 유기 아연 화합물 및 유기 코발트 화합물 등의 유기 금속 화합물, 및 증점제, 소포제, 레벨링제, 밀착성 부여제, 및 착색제 등의 수지 첨가제 등을 들 수 있다. 이하, 이들 중 경화제, 열가소성 수지, 경화 촉진제, 난연제, 유기 충전재에 관해서 설명한다. The resin composition may contain a curing agent for curing the resin composition as other components and, if necessary, a component intended to adjust the properties of the resin composition or its cured body. Examples of the other components include thermoplastic resins, curing accelerators, flame retardants, and organic fillers. Organic metal compounds such as organic copper compounds, organic zinc compounds and organic cobalt compounds, and thickeners, defoaming agents, leveling agents, And a resin additive such as a coloring agent. Hereinafter, the curing agent, the thermoplastic resin, the curing accelerator, the flame retardant, and the organic filler will be described.

-경화제-- hardener -

경화제로서는, 열경화성 수지인 성분 (A)를 경화하는 기능을 갖는 한 특별히 한정되지 않는다. 성분 (A)가 에폭시 수지인 경우에는, 경화제는 에폭시 수지 경화제이다. 에폭시 수지 경화제로서는, 예를 들면, 페놀계 경화제, 나프톨계 경화제, 활성 에스테르계 경화제, 벤조옥사진계 경화제, 및 시아네이트에스테르계 경화제를 들 수 있다. 에폭시 수지 경화제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다. 절연성의 신뢰성 및 내열성의 관점에서, 경화제로서는, 페놀계 경화제 및 나프톨계 경화제가 바람직하며, 페놀계 경화제가 보다 바람직하다. The curing agent is not particularly limited as long as it has a function of curing the component (A) which is a thermosetting resin. When the component (A) is an epoxy resin, the curing agent is an epoxy resin curing agent. Examples of the epoxy resin curing agent include phenol-based curing agents, naphthol-based curing agents, active ester-based curing agents, benzoxazine-based curing agents, and cyanate ester-based curing agents. The epoxy resin curing agent may be used singly or in combination of two or more kinds. From the viewpoint of reliability of insulation and heat resistance, the curing agent is preferably a phenol-based curing agent and a naphthol-based curing agent, more preferably a phenol-based curing agent.

페놀계 경화제 및 나프톨계 경화제로서는, 예를 들면, 노볼락 구조를 갖는 페놀계 경화제, 노볼락 구조를 갖는 나프톨계 경화제, 질소 함유 페놀계 경화제, 트리아진 골격 함유 크레졸계 경화제, 트리아진 골격 함유 페놀계 경화제를 들 수 있다. 난연성 및 반응성의 관점에서, 페놀계 경화제 및 나프톨계 경화제로서는, 트리아진 골격 함유 크레졸계 경화제 및 트리아진 골격 함유 페놀계 경화제가 바람직하며, 트리아진 골격 함유 페놀계 경화제가 바람직하다. Examples of the phenol-based curing agent and naphthol-based curing agent include phenol-based curing agents having a novolac structure, naphthol-based curing agents having a novolac structure, nitrogen-containing phenol-based curing agents, cresol-based curing agents containing a triazine skeleton, Based curing agent. From the viewpoints of the flame retardancy and the reactivity, as the phenol-based curing agent and the naphthol-based curing agent, a triazine skeleton-containing cresol-based curing agent and a triazine skeleton-containing phenol-based curing agent are preferable, and a triazine skeleton-containing phenol-based curing agent is preferable.

페놀계 경화제 및 나프톨계 경화제의 구체예로서는, 예를 들면, 메이와가세이(주) 제조 「MEH-7700」, 「MEH-7810」, 「MEH-7851」, 니혼가야쿠(주) 제조「NHN」, 「CBN」, 「GPH」, 토토가세이(주) 제조 「SN170」, 「SN180」, 「SN190」, 「SN475」, 「SN485」, 「SN495」, 「SN375」, 「SN395」, DIC(주) 제조 「LA7052」, 「LA7054」, 「LA3018」등을 들 수 있다. Specific examples of the phenol-based curing agent and naphthol-based curing agent include "MEH-7700", "MEH-7810", "MEH-7851" manufactured by Meiwa Chemical Industries, Ltd., "NHN "SN170", "SN180", "SN190", "SN475", "SN485", "SN495", "SN375", "SN395", "DIC", "CBN", "GPH", manufactured by Totogasayi LA7052 ", " LA7054 ", " LA3018 ", and the like.

활성 에스테르계 경화제로서는, 특별히 제한은 없지만, 일반적으로 페놀에스테르류, 티오페놀에스테르류, N-하이드록시아민에스테르류, 복소환 하이드록시 화합물의 에스테르류 등의 반응 활성이 높은 에스테르기를 1분자 중에 2개 이상 갖는 화합물이 바람직하게 사용된다. 당해 활성 에스테르계 경화제로서는, 카복실산 화합물 및/또는 티오카복실산 화합물과 하이드록시 화합물 및/또는 티올 화합물의 축합 반응에 의해 수득되는 경화제가 바람직하다. 특히 내열성 향상의 관점에서, 카복실산 화합물과 하이드록시 화합물로부터 수득되는 활성 에스테르계 경화제가 바람직하며, 카복실산 화합물과 페놀 화합물 및/또는 나프톨 화합물로부터 수득되는 활성 에스테르계 경화제가 보다 바람직하다. 카복실산 화합물로서는, 예를 들면, 벤조산, 아세트산, 석신산, 말레산, 이타콘산, 프탈산, 이소프탈산, 테레프탈산, 피로멜리트산 등을 들 수 있다. 페놀 화합물 또는 나프톨 화합물로서는, 예를 들면, 하이드로퀴논, 레조르신, 비스페놀 A, 비스페놀 F, 비스페놀 S, 페놀프탈린, 메틸화 비스페놀 A, 메틸화 비스페놀 F, 메틸화 비스페놀 S, 페놀, o-크레졸, m-크레졸, p-크레졸, 카테콜, α-나프톨, β-나프톨, 1,5-디하이드록시나프탈렌, 1,6-디하이드록시나프탈렌, 2,6-디하이드록시나프탈렌, 디하이드록시벤조페논, 트리하이드록시벤조페논, 테트라하이드록시벤조페논, 플루오로글루신, 벤젠트리올, 디사이클로펜타디엔형의 디페놀 화합물, 페놀노볼락 등을 들 수 있다. The active ester-based curing agent is not particularly limited, but generally includes ester groups having high reactivity such as phenol esters, thiophenol esters, N-hydroxyamine esters, and esters of heterocyclic hydroxy compounds, Are preferably used. As the active ester-based curing agent, a curing agent obtained by a condensation reaction of a carboxylic acid compound and / or a thiocarboxylic acid compound with a hydroxy compound and / or a thiol compound is preferable. From the viewpoint of heat resistance improvement, an active ester type curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a hydroxy compound is preferable, and an active ester type curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a phenol compound and / or a naphthol compound is more preferable. Examples of the carboxylic acid compound include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid and pyromellitic acid. Examples of the phenol compound or naphthol compound include hydroquinone, resorcin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenolphthalein, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o- Cresol, catechol, alpha -naphthol, beta -naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone, Trihydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, fluoroglucine, benzene triol, dicyclopentadiene-type diphenol compounds, and phenol novolak.

활성 에스테르계 경화제로서는, 구체적으로는, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 축합 구조를 함유하는 활성 에스테르 화합물, 나프탈렌 구조를 함유하는 활성 에스테르 화합물, 페놀노볼락의 아세틸화물을 함유하는 활성 에스테르 화합물, 페놀노볼락의 벤조일화물을 함유하는 활성 에스테르 화합물을 들 수 있다. Specific examples of the active ester curing agent include active ester compounds containing a dicyclopentadiene type diphenol condensation structure, active ester compounds containing a naphthalene structure, active ester compounds containing an acetylated phenol novolac, And an active ester compound containing a benzoyl moiety of boric acid.

활성 에스테르계 경화제의 시판품으로서는, 예를 들면, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 축합 구조를 함유하는 활성 에스테르 화합물로서, DIC(주) 제조 「EXB9451」, 「EXB9460」, 「EXB9460S」, 「HPC-8000-65T」, 나프탈렌 구조를 함유하는 활성 에스테르 화합물로서 DIC(주) 제조 「EXB9416-70BK」, 페놀노볼락의 아세틸화물을 함유하는 활성 에스테르 화합물로서 미쯔비시가가쿠(주) 제조 「DC808」, 페놀노볼락의 벤조일화물을 함유하는 활성 에스테르 화합물로서 미쯔비시가가쿠(주) 제조 「YLH1026」등을 들 수 있다. EXB9451 "," EXB9460 "," EXB9460S "," HPC-8000 "(trade name, manufactured by DIC Corporation) as the active ester compound containing a dicyclopentadiene type diphenol condensation structure as a commercially available product of the active ester type curing agent, -65T "," EXB9416-70BK "manufactured by DIC Corporation as an active ester compound containing a naphthalene structure," DC808 "manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation as an active ester compound containing acetolide of phenol novolak, And YLH1026 manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., Ltd. as an active ester compound containing a benzoyl moiety of boric acid.

벤조옥사진계 경화제의 구체예로서는, 예를 들면, 쇼와코훈시(주) 제조「HFB2006M」, 시코쿠가세이고교(주) 제조 「P-d」, 「F-a」를 들 수 있다. Specific examples of the benzoxazine-based curing agent include, for example, "HFB2006M" manufactured by Showa Kogyo Co., Ltd., "P-d" and "F-a" manufactured by Shikoku Kasei Corporation.

시아네이트에스테르계 경화제로서는, 예를 들면, 비스페놀 A 디시아네이트, 폴리페놀시아네이트(올리고(3-메틸렌-1,5-페닐렌시아네이트), 4,4'-메틸렌비스(2,6-디메틸페닐시아네이트), 4,4'-에틸리덴디페닐디시아네이트, 헥사플루오로비스페놀 A 디시아네이트, 2,2-비스(4-시아네이트)페닐프로판, 1,1-비스(4-시아네이트페닐메탄), 비스(4-시아네이트-3,5-디메틸페닐)메탄, 1,3-비스(4-시아네이트페닐-1-(메틸에틸리덴))벤젠, 비스(4-시아네이트페닐)티오에테르, 및 비스(4-시아네이트페닐)에테르 등의 2관능 시아네이트 수지, 페놀노볼락 및 크레졸노볼락 등으로부터 유도되는 다관능 시아네이트 수지, 이들 시아네이트 수지가 일부 트리아진화된 프리폴리머 등을 들 수 있다. 시아네이트에스테르계 경화제의 구체예로서는, 론자재팬(주) 제조「PT30」및 「PT60」(모두 페놀노볼락형 다관능 시아네이트에스테르 수지), 「BA230」(비스페놀 A 디시아네이트의 일부 또는 전부가 트리아진화되어 3량체가 된 프리폴리머) 등을 들 수 있다. Examples of the cyanate ester curing agent include bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate (oligo (3-methylene-1,5-phenylene cyanate), 4,4'-methylene bis (2,6- Dimethylphenyl cyanate), 4,4'-ethylidenediphenyl dicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis (4-cyanate) phenylpropane, 1,1- Cyanate phenylmethane), bis (4-cyanate-3,5-dimethylphenyl) methane, 1,3-bis Bifunctional cyanate resins derived from phenolic novolacs and cresol novolacs such as bis (4-cyanophenyl) thioether and bis (4-cyanate phenyl) ether, and polyfunctional cyanate resins derived from these cyanate resins, Specific examples of the cyanate ester-based curing agent include " PT30 " and " PT60 " (all manufactured by Lone Japan Co., Phenol novolak type polyfunctional cyanate ester resin), "BA 230" (a prepolymer obtained by trimerization of a part or all of bisphenol A dicyanate to form a trimer), and the like.

에폭시 수지와 에폭시 수지 경화제의 양비는, [에폭시 수지의 에폭시기의 합계수]:[에폭시 수지 경화제의 반응기의 합계수]의 비율로, 1:0.2 내지 1:2의 범위인 것이 바람직하며, 1:0.3 내지 1:1.5의 범위인 것이 보다 바람직하며, 1:0.4 내지 1:1의 범위인 것이 더욱 바람직하다. 여기에서, 에폭시 수지 경화제의 반응기란, 활성 수산기, 활성 에스테르기 등이며, 경화제의 종류에 따라 상이하다. 또한, 에폭시 수지의 에폭시기의 합계수란, 각 에폭시 수지의 불휘발 성분의 질량을 에폭시 당량으로 나눈 값을 모든 에폭시 수지에 관해서 합계한 값이며, 에폭시 수지 경화제의 반응기의 합계수란, 각 에폭시 수지 경화제의 불휘발 성분의 질량을 반응기 당량으로 나눈 값을 모든 에폭시 수지 경화제에 관해서 합계한 값이다. 에폭시 수지와 에폭시 수지 경화제의 양비를 이러한 범위 내로 함으로써, 경화체로 했을 때의 내열성이 보다 향상된다. The ratio of the amount of the epoxy resin to the epoxy resin curing agent is preferably in the range of 1: 0.2 to 1: 2, more preferably in the range of 1: 0.2 to 1: 2, 0.3 to 1: 1.5, more preferably in the range of 1: 0.4 to 1: 1. Here, the reactive group of the epoxy resin curing agent is an active hydroxyl group, an active ester group or the like, and it differs depending on the kind of the curing agent. The total number of epoxy groups in the epoxy resin refers to a value obtained by dividing the mass of the non-volatile component of each epoxy resin by the epoxy equivalent, in terms of all epoxy resins. The total number of reactors of the epoxy resin curing agent means, The value obtained by dividing the mass of the nonvolatile component of the curing agent by the equivalent of the reactor is the sum of all the epoxy resin curing agents. By setting the ratio of the epoxy resin and the epoxy resin curing agent within this range, the heat resistance when the cured product is formed is further improved.

에폭시 수지 경화제의 함유량에 관해서는, 에폭시 수지의 에폭시기의 합계수와, 에폭시 수지 경화제의 반응기의 합계수의 비가, 바람직하게는 1:0.2 내지 1:2의 범위이며, 보다 바람직하게는 1:0.3 내지 1:1.5의 범위이며, 더욱 바람직하게는 1:0.4 내지 1:1의 범위이다. Regarding the content of the epoxy resin curing agent, the ratio of the total number of epoxy groups of the epoxy resin to the total number of reactors of the epoxy resin curing agent is preferably in the range of 1: 0.2 to 1: 2, more preferably 1: 0.3 To 1: 1.5, and more preferably in the range of 1: 0.4 to 1: 1.

수지 조성물은, 에폭시 수지로서 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지의 혼합물(액상 에폭시 수지:고체상 에폭시 수지의 질량비는 1:0.1 내지 1:4의 범위인 것이 바람직하며, 1:0.3 내지 1:3.5의 범위인 것이 보다 바람직하며, 1:0.6 내지 1:3의 범위인 것이 더욱 바람직하고, 1:0.8 내지 1:2.5의 범위가 특히 바람직하다)을, 에폭시 수지 경화제로서 페놀계 경화제, 나프톨계 경화제, 활성 에스테르계 경화제 및 시아네이트에스테르계 경화제로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 이상(바람직하게는 페놀계 경화제, 나프톨계 경화제로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 이상, 보다 바람직하게는 트리아진 골격 함유 페놀노볼락 수지, 나프톨계 경화제로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 이상, 더욱 바람직하게는 트리아진 골격 함유 페놀노볼락 수지를 함유하는 에폭시 수지 경화제)을, 각각 함유하는 것이 바람직하다. The resin composition preferably contains a mixture of a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin (the mass ratio of the liquid epoxy resin to the solid epoxy resin is preferably in the range of 1: 0.1 to 1: 4, more preferably in the range of 1: 0.3 to 1: 3.5 More preferably in the range of 1: 0.6 to 1: 3, and particularly preferably in the range of 1: 0.8 to 1: 2.5) as the epoxy resin curing agent, a phenol type curing agent, a naphthol type curing agent, An ester-based curing agent and a cyanate ester-based curing agent (preferably at least one selected from the group consisting of a phenol-based curing agent and a naphthol-based curing agent, more preferably at least one selected from the group consisting of a phenol novolak containing a triazine skeleton, Resin, naphthol-based curing agent, and more preferably at least one selected from the group consisting of phenol novolak containing triazine skeleton The epoxy resin curing agent containing a) preferably contains, respectively.

-열가소성 수지-- Thermoplastic resin -

열가소성 수지로서는, 예를 들면, 페녹시 수지, 아크릴 수지, 폴리비닐아세탈 수지, 폴리이미드 수지, 폴리아미드이미드 수지, 폴리에테르설폰 수지, 및 폴리설폰 수지 등을 들 수 있다. 열가소성 수지는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다. Examples of the thermoplastic resin include a phenoxy resin, an acrylic resin, a polyvinyl acetal resin, a polyimide resin, a polyamideimide resin, a polyether sulfone resin, and a polysulfone resin. The thermoplastic resin may be used singly or in combination of two or more.

열가소성 수지의 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량은 8000 내지 70000의 범위인 것이 바람직하며, 10000 내지 60000의 범위인 것이 보다 바람직하며, 20000 내지 60000의 범위인 것이 더욱 바람직하다. 열가소성 수지의 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량은, 겔 침투 크로마토그래피(GPC)법으로 측정된다. 구체적으로는, 열가소성 수지의 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량은, 측정 장치로서 시마즈세사쿠쇼(주) 제조「LC-9A/RID-6A」를, 칼럼으로서 쇼와덴코(주) 제조「Shodex K-800P/K-804L/K-804L」을, 이동상으로서 클로로포름 등을 사용하고, 칼럼 온도를 40℃에서 측정하고, 표준 폴리스티렌의 검량선을 사용하여 산출할 수 있다. The weight average molecular weight of the thermoplastic resin in terms of polystyrene is preferably in the range of 8000 to 70000, more preferably in the range of 10,000 to 60,000, and still more preferably in the range of 20,000 to 60,000. The weight average molecular weight of the thermoplastic resin in terms of polystyrene is measured by a gel permeation chromatography (GPC) method. Specifically, the weight average molecular weight of the thermoplastic resin in terms of polystyrene was measured using "LC-9A / RID-6A" manufactured by Shimadzu Corporation as a measuring device and "Shodex K- 800P / K-804L / K-804L ", chloroform or the like is used as the mobile phase, the column temperature is measured at 40 ° C, and calibration curve of standard polystyrene is used.

페녹시 수지로서는, 예를 들면, 비스페놀 A 골격, 비스페놀 F 골격, 비스페놀 S 골격, 비스페놀아세트페논 골격, 노볼락 골격, 비페닐 골격, 플루오렌 골격, 디사이클로펜타디엔 골격, 노르보르넨 골격, 나프탈렌 골격, 안트라센 골격, 아다만탄 골격, 테르펜 골격, 및 트리메틸사이클로헥산 골격으로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 골격을 갖는 페녹시 수지를 들 수 있다. 페녹시 수지의 말단은, 페놀성 수산기, 에폭시기 등의 어느 관능기라도 좋다. 페녹시 수지는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다. 페녹시 수지의 구체예로서는, 미쯔비시가가쿠(주) 제조 「1256」 및 「4250」(모두 비스페놀 A 골격 함유 페녹시 수지), 「YX8100」(비스페놀 S 골격 함유 페녹시 수지), 및 「YX6954」(비스페놀아세트페논 골격 함유 페녹시 수지)를 들 수 있고, 그 밖에도, 토토가세이(주) 제조 「FX280」 및 「FX293」, 미쯔비시가가쿠(주) 제조 「YL7553」, 「YL6794」, 「YL7213」, 「YL7290」 및 「YL7482」등을 들 수 있다. Examples of the phenoxy resin include bisphenol A skeleton, bisphenol F skeleton, bisphenol S skeleton, bisphenol acetophenone skeleton, novolac skeleton, biphenyl skeleton, fluorene skeleton, dicyclopentadiene skeleton, norbornene skeleton, A phenoxy resin having at least one skeleton selected from the group consisting of a skeleton, an anthracene skeleton, an adamantane skeleton, a terpene skeleton, and a trimethyl cyclohexane skeleton. The terminal of the phenoxy resin may be any functional group such as a phenolic hydroxyl group or an epoxy group. The phenoxy resin may be used singly or in combination of two or more. Specific examples of the phenoxy resin include "1256" and "4250" (both phenol resins containing a bisphenol A skeleton), "YX8100" (phenoxy resin containing a bisphenol S skeleton), and "YX6954" (Phenoxy resin containing bisphenol acetophenone skeleton), and "FX280" and "FX293" manufactured by Totogassei Co., Ltd., "YL7553", "YL6794", "YL7213" manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., , &Quot; YL7290 ", and " YL7482 ".

아크릴 수지로서는, 열팽창율 및 탄성율을 보다 저하시키는 관점에서, 관능기 함유 아크릴 수지가 바람직하며, 유리 전이 온도가 25℃ 이하인 에폭시기 함유 아크릴 수지가 보다 바람직하다. The acrylic resin is preferably a functional group-containing acrylic resin and more preferably an epoxy group-containing acrylic resin having a glass transition temperature of 25 占 폚 or less from the viewpoint of further lowering the coefficient of thermal expansion and the modulus of elasticity.

관능기 함유 아크릴 수지의 수 평균 분자량(Mn)은, 바람직하게는 10000 내지 1000000이며, 보다 바람직하게는 30000 내지 900000이다. The number average molecular weight (Mn) of the functional group-containing acrylic resin is preferably 10,000 to 1,000,000, more preferably 30,000 to 900,000.

관능기 함유 아크릴 수지의 관능기 당량은, 바람직하게는 1000 내지 50000이며, 보다 바람직하게는 2500 내지 30000이다. The functional group equivalent of the functional group-containing acrylic resin is preferably 1000 to 50000, more preferably 2500 to 30000.

유리 전이 온도가 25℃ 이하인 에폭시기 함유 아크릴 수지로서는, 유리 전이 온도가 25℃ 이하인 에폭시기 함유 아크릴산에스테르 공중합체 수지가 바람직하며, 이의 구체예로서는, 나가세켐텍스(주) 제조 「SG-80H」(에폭시기 함유 아크릴산에스테르 공중합체 수지(수 평균 분자량(Mn): 350000g/mol, 에폭시값 0.07eq/kg, 유리 전이 온도 11℃)), 나가세켐텍스(주) 제조 「SG-P3」(에폭시기 함유 아크릴산에스테르 공중합체 수지(수 평균 분자량(Mn): 850000g/mol, 에폭시값 0.21eq/kg, 유리 전이 온도 12℃))를 들 수 있다. The epoxy group-containing acrylic resin having a glass transition temperature of 25 占 폚 or less is preferably an epoxy group-containing acrylic ester copolymer resin having a glass transition temperature of 25 占 폚 or less. Specific examples thereof include "SG-80H" Acrylic acid ester copolymer resin (number average molecular weight (Mn): 350000 g / mol, epoxy value: 0.07 eq / kg, glass transition temperature: 11 占 폚); "SG-P3" (epoxy group- (Number average molecular weight (Mn): 850000 g / mol, epoxy value: 0.21 eq / kg, glass transition temperature: 12 占 폚).

폴리비닐아세탈 수지의 구체예로서는, 덴키가가쿠고교(주) 제조의 덴카부티랄「4000-2」, 「5000-A」, 「6000-C」, 「6000-EP」, 세키스이가가쿠고교(주) 제조의 에스렉 BH 시리즈, BX 시리즈, 「KS-1」등의 KS 시리즈, BL 시리즈, BM 시리즈 등을 들 수 있다. Specific examples of the polyvinyl acetal resin include DENKA BUTYRAL 4000-2, 5000-A, 6000-C, 6000-EP manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., KS series, BL series, BM series, such as S-LEC BH series, BX series, and KS-1 manufactured by K.K.

폴리이미드 수지의 구체예로서는, 신니혼리카(주) 제조「리카코트 SN20」 및 「리카코트 PN20」을 들 수 있다. 폴리이미드 수지의 구체예로서는 또한, 2관능성 하이드록실기 말단 폴리부타디엔, 디이소시아네이트 화합물 및 4염기산 무수물을 반응시켜 수득되는 선상 폴리이미드(일본 공개특허공보 특개2006-37083호에 기재되어 있는 폴리이미드 수지), 폴리실록산 골격 함유 폴리이미드(일본 공개특허공보 특개2002-12667호 및 일본 공개특허공보 특개2000-319386호 등에 기재되어 있는 폴리이미드 수지) 등의 변성 폴리이미드를 들 수 있다. Specific examples of the polyimide resin include "Rika Coat SN20" and "Rika Coat PN20" manufactured by Shin-Nihon Rika K.K. Specific examples of the polyimide resin include a linear polyimide obtained by reacting a bifunctional hydroxyl-terminated polybutadiene, a diisocyanate compound and a tetrabasic acid anhydride (a polyimide described in JP-A-2006-37083 Resins), polysiloxane skeleton-containing polyimides (polyimide resins described in JP-A-2002-12667 and JP-A-2000-319386), and the like.

폴리아미드이미드 수지의 구체예로서는, 토요호세키(주) 제조「바이로맥스 HR11NN」 및 「바이로맥스 HR16NN」을 들 수 있다. 폴리아미드이미드 수지의 구체예로서는 또한, 폴리실록산 골격 함유 폴리아미드이미드인 히타치가세이고교(주) 제조 「KS9100」, 「KS9300」등의 변성 폴리아미드이미드를 들 수 있다. Specific examples of the polyamide-imide resin include "Viromax HR11NN" and "Viromax HR16NN" manufactured by Toyobo Co., Ltd. Specific examples of the polyamideimide resin include modified polyamideimides such as "KS9100" and "KS9300" manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., which is a polysiloxane skeleton-containing polyamideimide.

폴리에테르설폰 수지의 구체예로서는, 스미토모가가쿠(주) 제조 「PES5003P」등을 들 수 있다. Specific examples of the polyether sulfone resin include "PES 5003P" manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd., and the like.

폴리설폰 수지의 구체예로서는, 솔베이어드밴스트폴리머즈(주) 제조 「P1700」, 「P3500」등을 들 수 있다. Specific examples of the polysulfone resin include "P1700" and "P3500" manufactured by Solvay Advanced Polymers Co., Ltd.

수지 조성물 중의 열가소성 수지의 함유량은, 0.1질량% 내지 20질량%인 것이 바람직하다. 열가소성 수지의 함유량을 이러한 범위 내로 함으로써, 수지 조성물의 점도가 적당해져, 두께나 벌크 성상이 균일한 수지 조성물 층을 형성할 수 있다.The content of the thermoplastic resin in the resin composition is preferably 0.1% by mass to 20% by mass. When the content of the thermoplastic resin is within this range, the viscosity of the resin composition becomes appropriate, and a resin composition layer having uniform thickness and bulk property can be formed.

-경화 촉진제-- Curing accelerator -

경화 촉진제로서는, 예를 들면, 인계 경화 촉진제, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 구아니딘계 경화 촉진제 등을 들 수 있다. Examples of the curing accelerator include phosphorus hardening accelerator, amine hardening accelerator, imidazole hardening accelerator, guanidine hardening accelerator and the like.

인계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 트리페닐포스핀, 포스포늄보레이트 화합물, 테트라페닐포스포늄테트라페닐보레이트, n-부틸포스포늄테트라페닐보레이트, 테트라부틸포스포늄데칸산염, (4-메틸페닐)트리페닐포스포늄티오시아네이트, 테트라페닐포스포늄티오시아네이트, 부틸트리페닐포스포늄티오시아네이트 등을 들 수 있다. Examples of phosphorus hardening accelerators include triphenylphosphine, phosphonium borate compounds, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, n-butylphosphonium tetraphenylborate, tetrabutylphosphonium decanoate, (4-methylphenyl) triphenyl Phosphonium thiocyanate, tetraphenylphosphonium thiocyanate, butyltriphenylphosphonium thiocyanate, and the like.

아민계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 트리에틸아민, 트리부틸아민 등의 트리알킬아민, 4-디메틸아미노피리딘(DMAP), 벤질디메틸아민, 2,4,6-트리스(디메틸아미노메틸)페놀, 1,8-디아자비사이클로(5,4,0)-운데센 등을 들 수 있다. Examples of the amine curing accelerator include trialkylamines such as triethylamine and tributylamine, 4-dimethylaminopyridine (DMAP), benzyldimethylamine, 2,4,6-tris (dimethylaminomethyl) 1,8-diazabicyclo (5,4,0) undecene, and the like.

이미다졸계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 2-메틸이미다졸, 2-운데실이미다졸, 2-헵타데실이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸(2E4MZ), 2-페닐이미다졸, 2-페닐-4-메틸이미다졸, 1-벤질-2-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸, 1-시아노에틸-2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸륨트리메리테이트, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸륨트리메리테이트, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-운데실이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-에틸-4'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진이소시아누르산 부가물, 2-페닐이미다졸이소시아누르산 부가물, 2-페닐-4,5-디하이드록시메틸이미다졸, 2-페닐-4-메틸-5-하이드록시메틸이미다졸, 2,3-디하이드로-1H-피롤로[1,2-a]벤즈이미다졸, 1-도데실-2-메틸-3-벤질이미다졸륨클로라이드, 2-메틸이미다졸린, 2-페닐이미다졸린 등의 이미다졸 화합물 및 이미다졸 화합물과 에폭시 수지의 어덕트체를 들 수 있다. Examples of the imidazole-based curing accelerator include 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, Imidazole (2E4MZ), 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole, 2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl- Imidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimellitate, 2,4-diamino-6- [ Methylimidazolyl- (1 ')] - ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'- undecylimidazolyl- (1')] (2 ') - ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-methyl Imidazolyl- (1 ')] - ethyl-s-triazine, isocyanuric acid adduct, 2-phenylimidazole isocyanuric acid 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2,3-dihydro-1H-pyrrolo [1,2 -a] benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl-3-benzylimidazolium chloride, 2-methylimidazoline and 2-phenylimidazoline, and imidazole compounds such as imidazole compounds and epoxy resins And the duct body.

구아니딘계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 디시안디아미드, 1-메틸구아니딘, 1-에틸구아니딘, 1-사이클로헥실구아니딘, 1-페닐구아니딘, 1-(o-톨릴)구아니딘, 디메틸구아니딘, 디페닐구아니딘, 트리메틸구아니딘, 테트라메틸구아니딘, 펜타메틸구아니딘, 1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 7-메틸-1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 1-메틸비구아니드, 1-에틸비구아니드, 1-n-부틸비구아니드, 1-n-옥타데실비구아니드, 1,1-디메틸비구아니드, 1,1-디에틸비구아니드, 1-사이클로헥실비구아니드, 1-알릴비구아니드, 1-페닐비구아니드, 1-(o-톨릴)비구아니드 등을 들 수 있다. Examples of the guanidine curing accelerator include dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, 1- (o-tolyl) guanidine, dimethylguanidine, , Trimethylguanidine, tetramethylguanidine, pentamethylguanidine, 1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] deca-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo [ 1-n-butylbiguanide, 1-n-octadecylbiguanide, 1,1-dimethylbiguanide, 1, Cyclohexylbiguanide, 1-allylbiguanide, 1-phenylbiguanide, 1- (o-tolyl) biguanide, and the like.

경화 촉진제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다. 수지 조성물 중의 경화 촉진제의 함유량은, 에폭시 수지와 에폭시 수지 경화제의 불휘발 성분의 합계량을 100질량%로 했을 때, 0.05질량% 내지 3질량%의 범위 내에서 사용하는 것이 바람직하다. The curing accelerator may be used singly or in combination of two or more kinds. The content of the curing accelerator in the resin composition is preferably within a range of 0.05 mass% to 3 mass% when the total amount of the non-volatile component of the epoxy resin and the epoxy resin curing agent is 100 mass%.

-난연제-- Flame retardant -

난연제로서는, 예를 들면, 유기 인계 난연제, 유기계 질소 함유 인 화합물, 질소 화합물, 실리콘계 난연제, 금속 수산화물 등을 들 수 있다. 사용할 수 있는 난연제의 예로서는 산코(주) 제조 「HCA-HQ-HST」를 들 수 있다. 난연제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다. 수지 조성물 층 중의 난연제의 함유량은 특별히 한정되지 않지만, 0.5질량% 내지 10질량%의 범위인 것이 바람직하며, 1질량% 내지 9질량%의 범위인 것이 보다 바람직하며, 1.5질량% 내지 8질량%의 범위인 것이 더욱 바람직하다. Examples of the flame retardant include an organic phosphorus flame retardant, an organic nitrogen-containing phosphorus compound, a nitrogen compound, a silicon-based flame retardant, a metal hydroxide, and the like. An example of the flame retardant which can be used is "HCA-HQ-HST" manufactured by Sanko Corporation. The flame retardant may be used alone, or two or more flame retardants may be used in combination. The content of the flame retardant in the resin composition layer is not particularly limited, but is preferably in the range of 0.5 to 10 mass%, more preferably in the range of 1 to 9 mass%, more preferably 1.5 to 8 mass% Is more preferable.

-유기 충전재-- Organic filler -

수지 조성물은, 도금 공정에 의해 형성되는 층과의 밀착성을 향상시키는 관점에서 유기 충전재를 함유하는 것이 바람직하다. 유기 충전재의 예로서는, 고무 입자를 들 수 있다. 유기 충전재인 고무 입자로서는, 예를 들면, 후술하는 유기 용제에 용해되지 않고, 후술하는 에폭시 수지, 경화제, 및 열가소성 수지 등과도 상용되지 않는 고무 입자가 사용된다. 이러한 고무 입자는, 일반적으로는, 고무 입자의 성분의 분자량을 유기 용제, 수지에 용해되지 않을 정도까지 크게 하여, 입자상으로 함으로써 조제된다. The resin composition preferably contains an organic filler from the viewpoint of improving the adhesion with the layer formed by the plating process. Examples of the organic filler include rubber particles. As the rubber particles as the organic filler, for example, rubber particles which are not dissolved in an organic solvent to be described later and which are not compatible with epoxy resins, curing agents and thermoplastic resins described later are used. These rubber particles are generally prepared by increasing the molecular weight of the components of the rubber particles to such an extent that they are insoluble in an organic solvent or a resin, thereby forming granules.

유기 충전재인 고무 입자로서는, 예를 들면, 코어 쉘형 고무 입자, 가교 아크릴로니트릴부타디엔 고무 입자, 가교 스티렌부타디엔 고무 입자, 아크릴 고무 입자 등을 들 수 있다. 코어 쉘형 고무 입자는, 코어층과 쉘층을 갖는 고무 입자이며, 예를 들면, 외층의 쉘층이 유리상 중합체로 구성되고, 내층의 코어층이 고무상 중합체로 구성되는 2층 구조, 또는 외층의 쉘층이 유리상 중합체로 구성되고, 중간층이 고무상 중합체로 구성되고, 내층의 코어층이 유리상 중합체로 구성되는 3층 구조의 고무 입자 등을 들 수 있다. 유리상 중합체층은, 예를 들면, 메틸메타크릴레이트 중합물 등으로 구성되고, 고무상 중합체층은, 예를 들면, 부틸아크릴레이트 중합물(부틸 고무) 등으로 구성된다. 사용할 수 있는 고무 입자의 예로서는 간츠(주) 제조 「스타필로이드 AC3816N」을 들 수 있다. 고무 입자는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다. Examples of the rubber particles as the organic filler include core-shell type rubber particles, crosslinked acrylonitrile butadiene rubber particles, crosslinked styrene butadiene rubber particles, acrylic rubber particles and the like. The core-shell-type rubber particle is a rubber particle having a core layer and a shell layer, for example, a two-layer structure in which the shell layer of the outer layer is composed of a glassy polymer and the core layer of the inner layer is composed of a rubber- A three-layered rubber particle composed of a glassy polymer, an intermediate layer composed of a rubbery polymer and a core layer of an inner layer composed of a glassy polymer, and the like. The glass-like polymer layer is composed of, for example, a methyl methacrylate polymer and the like, and the rubber-like polymer layer is composed of, for example, a butyl acrylate polymer (butyl rubber). An example of the rubber particles that can be used is "STAPHYLLOID AC3816N" manufactured by GANZ CO., LTD. The rubber particles may be used singly or in combination of two or more kinds.

유기 충전재인 고무 입자의 평균 입자 직경은, 바람직하게는 0.005㎛ 내지 1㎛의 범위이며, 보다 바람직하게는 0.2㎛ 내지 0.6㎛의 범위이다. 고무 입자의 평균 입자 직경은, 동적 광산란법을 사용하여 측정할 수 있다. 예를 들면, 적당한 유기 용제에 고무 입자를 초음파 등에 의해 균일하게 분산시켜, 농후계 입자 직경 애널라이저(오츠카덴시(주) 제조 「FPAR-1000」)를 사용하여, 고무 입자의 입도 분포를 질량 기준으로 작성하고, 이의 메디안 직경을 평균 입자 직경으로 함으로써 측정할 수 있다. The average particle diameter of the rubber particles as the organic filler is preferably in the range of 0.005 탆 to 1 탆, more preferably in the range of 0.2 탆 to 0.6 탆. The average particle diameter of the rubber particles can be measured using a dynamic light scattering method. For example, rubber particles are uniformly dispersed in an appropriate organic solvent by ultrasonic waves or the like, and the particle size distribution of the rubber particles is measured on the basis of mass, using a dense particle diameter analyzer (FPAR-1000 manufactured by Otsuka Denshi Co., Ltd.) , And measuring the median diameter of the particles as the average particle diameter.

본 실시형태의 수지 조성물은, 절연층 형성시의 유동성이 우수하고, 절연층(경화체)으로 했을 때의 배선층의 봉지성(封止性)이 우수하다. 또한 본 발명의 수지 조성물을 사용하여 형성된 절연층을 형성하면, 주파수가 1GHz 이상인 고주파대(기가헤르츠대), 특히 1GHz 내지 3GHz인 범위에 있어서의 투자율을 향상시키고, 또한 자성 손실을 억제할 수 있다. The resin composition of the present embodiment is excellent in fluidity at the time of forming the insulating layer, and is excellent in the sealing property of the wiring layer when the insulating layer (cured product) is used. Further, when the insulating layer formed by using the resin composition of the present invention is formed, the magnetic permeability can be suppressed while improving the magnetic permeability in the range of the high frequency band (gigahertz band), particularly 1 GHz to 3 GHz, where the frequency is 1 GHz or more .

본 실시형태의 수지 조성물을 사용하여 형성된 절연층은, 절연성의 신뢰성이 우수하다. 절연성의 신뢰성은, 예를 들면 130℃, 상대 습도 85%의 조건의 분위기 중에 100시간 방치 후(HAST 100시간 후)의 절연 저항 값의 저하를 지표로 하여 평가할 수 있다. 구체적으로는 HAST 100시간 후의 절연층의 절연 저항 값이 1.0×106Ω을 초과하는 값인 경우에 절연성의 신뢰성이 우수하다고 평가할 수 있다. The insulating layer formed using the resin composition of the present embodiment has excellent insulation reliability. The reliability of the insulating property can be evaluated with the lowering of the insulation resistance value after 100 hours of storage in the atmosphere of 130 DEG C and 85% relative humidity (after 100 hours of HAST) as an index. Specifically, when the insulation resistance value of the insulating layer after 100 hours of HAST exceeds 1.0 占06 ?, It can be evaluated that the insulation reliability is excellent.

따라서, 본 실시형태의 수지 조성물은, 절연층(복수층의 절연층이 적층된 절연부)의 두께 내에 코일이 만들어 넣어진 소위 필름 구조의 인덕터 소자를 구비하는 배선판의 절연층 재료로서 적합하게 사용할 수 있다. Therefore, the resin composition of the present embodiment can be suitably used as an insulating layer material of a wiring board having an inductor element of a so-called film structure in which a coil is formed within an insulating layer (an insulating portion in which a plurality of insulating layers are laminated) .

다음에 본 실시형태의 수지 조성물을 사용한 접착 필름 및 이의 제조 공정에 관해서 설명한다. Next, an adhesive film using the resin composition of the present embodiment and a manufacturing process thereof will be described.

(접착 필름)(Adhesive film)

접착 필름은, 유기 지지체와, 이러한 유기 지지체의 한쪽 주면(主面)에 설치된 수지 조성물 층을 포함하고 있다. The adhesive film includes an organic support and a resin composition layer provided on one main surface of the organic support.

(유기 지지체)(Organic support)

유기 지지체의 재료로서는, 예를 들면, 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET), 폴리에틸렌나프탈레이트(PEN) 등의 폴리에스테르, 폴리카보네이트(PC), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA) 등의 아크릴, 환상 폴리올레핀, 트리아세틸셀룰로스(TAC), 폴리에테르설파이드(PES), 폴리에테르케톤, 폴리이미드 등을 들 수 있다. Examples of the material of the organic support include polyesters such as polyethylene terephthalate (PET) and polyethylene naphthalate (PEN), acrylics such as polycarbonate (PC) and polymethylmethacrylate (PMMA), cyclic polyolefins, Acetylcellulose (TAC), polyether sulfide (PES), polyether ketone, polyimide, and the like.

유기 지지체로서는, 유리 전이 온도(Tg)가 높은 유기 지지체를 사용하는 것이 적합하다. 유기 지지체의 유리 전이 온도는, 100℃ 이상인 것이 바람직하다. As the organic support, it is preferable to use an organic support having a high glass transition temperature (Tg). The glass transition temperature of the organic support is preferably 100 DEG C or higher.

유리 전이 온도가 100℃ 이상인 유기 지지체의 재료로서는, 예를 들면, 폴리에틸렌나프탈레이트(PEN) 등의 폴리에스테르, 폴리카보네이트(PC), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA) 등의 아크릴, 환상 폴리올레핀, 트리아세틸셀룰로스(TAC), 폴리에테르설파이드(PES), 폴리에테르케톤, 폴리에테르에테르케톤, 폴리이미드 등을 들 수 있다. 이 중에서도, 내열성의 관점에서 폴리에틸렌나프탈레이트, 폴리이미드가 바람직하다. Examples of the material of the organic support having a glass transition temperature of 100 deg. C or higher include polyesters such as polyethylene naphthalate (PEN), acrylics such as polycarbonate (PC) and polymethylmethacrylate (PMMA), cyclic polyolefins, Acetyl cellulose (TAC), polyether sulfide (PES), polyether ketone, polyether ether ketone, polyimide and the like. Of these, polyethylene naphthalate and polyimide are preferable from the viewpoint of heat resistance.

상기의 재료를 함유하는 유기 지지체에는, 후술하는 수지 조성물 층과 접합하는 면에 매트 처리, 코로나 처리가 가해져 있어도 좋다. The organic support containing the above-mentioned materials may be subjected to a mat treatment or a corona treatment on the surface to be bonded to the resin composition layer described later.

또한, 유기 지지체로서는, 수지 조성물 층이 접합하는 측, 즉 수지 조성물이 도포되는 측에 이형층을 갖는 「이형층 부착 유기 지지체」를 사용해도 좋다(이하, 이형층 부착 유기 지지체를 단순히 유기 지지체라고 하는 경우가 있다.). 이형층 부착 유기 지지체의 이형층의 형성에 사용되는 이형제로서는, 예를 들면, 알키드 수지, 폴리올레핀 수지, 우레탄 수지, 및 실리콘 수지로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 이형제를 들 수 있다. 이형층은, 예를 들면, 이형제를 함유하는 용액을 유기 지지체의 표면에 도포하고 건조시킴으로써 형성할 수 있다. As the organic support, a " organic support with a release layer " having a release layer on the side to which the resin composition layer is bonded, that is, the side to which the resin composition is applied (hereinafter, the organic support with a release layer is simply referred to as an organic support . As the release agent used for forming the release layer of the organic support having a release layer, there may be mentioned, for example, at least one release agent selected from the group consisting of an alkyd resin, a polyolefin resin, a urethane resin, and a silicone resin. The release layer can be formed, for example, by applying a solution containing a release agent to the surface of the organic support and drying the solution.

이형층 부착 유기 지지체로서는, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들면, 알키드 수지계 이형제를 주성분으로 하는 이형층을 갖는 PET 필름인, 린텍(주) 제조「SK-1」, 「AL-5」, 「AL-7」등을 들 수 있다. As the organic support having a release layer, a commercially available product may be used. For example, "SK-1", "AL-5", and "L-5", which are PET films having a release layer composed mainly of an alkyd resin- AL-7 " and the like.

유기 지지체의 두께는, 특별히 한정되지 않지만, 5㎛ 내지 75㎛의 범위가 바람직하며, 10㎛ 내지 60㎛의 범위가 보다 바람직하며, 12.5㎛ 내지 55㎛의 범위가 더욱 바람직하다. 또한, 이형층 부착 유기 지지체를 사용하는 경우, 이형층 부착 유기 지지체의 전체 두께가 상기의 범위 내인 것이 바람직하다. The thickness of the organic support is not particularly limited, but is preferably in the range of 5 탆 to 75 탆, more preferably in the range of 10 탆 to 60 탆, and further preferably in the range of 12.5 탆 to 55 탆. When the organic support having a release layer is used, the total thickness of the organic support having the release layer preferably falls within the above range.

(수지 조성물 층)(Resin composition layer)

수지 조성물 층의 두께는 특별히 한정되지 않는다. 수지 조성물 층은, 두께가 0.5㎛ 내지 80㎛인 것이 바람직하며, 10㎛ 내지 60㎛인 것이 보다 바람직하다. The thickness of the resin composition layer is not particularly limited. The resin composition layer preferably has a thickness of 0.5 탆 to 80 탆, more preferably 10 탆 to 60 탆.

(접착 필름의 형성 공정)(Process of forming an adhesive film)

수지 조성물 층에 사용되는 수지 조성물은, 이미 설명한 상기 성분을 적절히 혼합하고, 또한, 필요에 따라 혼련 수단(3개 롤, 볼 밀, 비드 밀, 샌드 밀 등) 또는 교반 수단(수퍼 믹서, 플라네터리 믹서 등)에 의해 혼련 또는 혼합함으로써 조제할 수 있다. The resin composition to be used for the resin composition layer may be prepared by appropriately mixing the above-described components and further mixing the components as necessary with a kneading means (three rolls, a ball mill, a bead mill, a sand mill or the like) A kneader, a stirrer, a stirrer, or the like).

수지 조성물 층을 갖는 접착 필름의 제조 방법은, 특별히 제한되지 않으며, 예를 들면, 유기 용제에 수지 조성물을 용해한 수지 바니쉬를 조제하고, 이러한 수지 바니쉬를, 다이코터 등을 사용하여 유기 지지체에 도포하고, 도포된 수지 바니쉬의 도포막을 건조시킴으로써 제작할 수 있다. A method for producing an adhesive film having a resin composition layer is not particularly limited and includes, for example, preparing a resin varnish in which a resin composition is dissolved in an organic solvent, applying the resin varnish to an organic support using a die coater or the like , And drying the coated film of the applied resin varnish.

수지 바니쉬를 조제할 때에 사용되는 유기 용제로서는, 예를 들면, 아세톤, 메틸에틸케톤 및 사이클로헥산온 등의 케톤류, 아세트산에틸, 아세트산부틸, 셀로솔브아세테이트, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트 및 카르비톨아세테이트 등의 아세트산에스테르류, 셀로솔브 및 부틸카르비톨 등의 카르비톨류, 톨루엔 및 크실렌 등의 방향족 탄화수소류, 디메틸포름아미드, 디메틸아세트아미드 및 N-메틸피롤리돈 등의 아미드계 용매 등을 들 수 있다. 유기 용제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다. Examples of the organic solvent used for preparing the resin varnish include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone and cyclohexanone, ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate and carbitol acetate Carbohydrates such as acetic acid esters, cellosolve and butyl carbitol, aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene, amide solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide and N-methylpyrrolidone, and the like . The organic solvent may be used singly or in combination of two or more kinds.

수지 조성물 층의 형성에 있어서의 수지 바니쉬로 이루어지는 도포막의 건조 처리는, 가열, 열풍 분사 등의 공지의 임의 적합한 건조 방법에 의해 실시할 수 있다. 이러한 건조 처리에 의해 도포막은 수지 조성물 층이 된다. The drying treatment of the coating film composed of the resin varnish in the formation of the resin composition layer can be carried out by any suitable known drying method such as heating, hot air blowing and the like. By this drying treatment, the coating film becomes a resin composition layer.

이 건조 처리의 건조 조건은, 수지 조성물, 수지 바니쉬가 함유하는 유기 용제의 비점 등을 감안하여 임의 적합한 조건으로 하면 좋다. 건조 조건은, 예를 들면, 80℃ 내지 150℃에서 3분간 내지 15분간 정도로 하면 좋다. The drying conditions for the drying treatment may be any suitable conditions in view of the boiling point of the organic solvent contained in the resin composition and the resin varnish. The drying conditions may be, for example, 80 to 150 占 폚 for 3 minutes to 15 minutes.

접착 필름의 형성 공정은, 유기 지지체인 장척(長尺)의 지지체를 사용하여, 롤 투 롤 방식으로 실시하는 것이 바람직하며, 배치 방식으로 실시해도 좋다. The step of forming the adhesive film is preferably carried out in a roll-to-roll manner using an elongated support, which is an organic support, and may be carried out in a batch mode.

롤 투 롤 방식에 의한 접착 필름의 형성 공정은, 구체적으로는 권출 롤 및 권취 롤을 포함하는 적어도 2개의 롤 사이에 걸쳐진 장척의 유기 지지체를 연속적으로 반송하면서, 권출 롤 및 권취 롤 사이에 노출되는 지지체의 한쪽 주면에 수지 조성물을 도포하여 도포막을 형성하고, 수득된 도포막을 연속적으로 건조 처리하여 수지 조성물 층으로 함으로써 실시할 수 있다. The step of forming the adhesive film by the roll-to-roll method is carried out in such a manner that the adhesive film is exposed between the take-up roll and the take-up roll while continuously conveying the elongated organic support spanning at least two rolls including the take- A resin composition is applied to one main surface of a support to form a coating film, and the obtained coating film is successively subjected to a drying treatment to form a resin composition layer.

이와 같이 하여, 유기 지지체에 수지 조성물 층이 설치된 접착 필름을 준비할 수 있다. Thus, an adhesive film provided with a resin composition layer on the organic support can be prepared.

준비된 접착 필름을 일단 저장하는 경우에는, 수지 조성물 층의 유기 지지체와 접합하고 있지 않은 측의 노출면(즉, 유기 지지체와는 반대측의 면)에 접합하는 보호 필름을 추가로 설치하는 것이 바람직하다. 이러한 보호 필름은, 수지 조성물 층으로의 먼지 등의 부착이나 흠집의 방지에 기여한다. 보호 필름으로서는, 예를 들면, 폴리프로필렌 필름, 폴리에틸렌 필름 등을 사용할 수 있다. 또한 유기 지지체의 재료와 동일한 재료로 이루어지는 필름을 사용할 수 있다. 보호 필름의 두께는, 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면, 1㎛ 내지 40㎛이다. 보호 필름의 두께는 유기 지지체의 두께보다도 얇은 것이 바람직하다. When the prepared adhesive film is once stored, it is preferable to additionally provide a protective film to be bonded to the exposed surface of the resin composition layer on the side not bonded to the organic support (that is, the surface opposite to the organic support). Such a protective film contributes to prevention of adhesion and scratches of dust or the like to the resin composition layer. As the protective film, for example, a polypropylene film, a polyethylene film, or the like can be used. Further, a film made of the same material as the material of the organic support may be used. The thickness of the protective film is not particularly limited, and is, for example, 1 占 퐉 to 40 占 퐉. The thickness of the protective film is preferably thinner than the thickness of the organic support.

접착 필름으로의 보호 필름의 첩합(貼合)은, 종래 공지의 라미네이터 장치를 사용하여 실시할 수 있다. The laminating of the protective film to the adhesive film can be carried out using a conventionally known laminator apparatus.

이미 설명한 접착 필름을 사용하여 제조되는 본 실시형태에 따르는 배선판 및 이의 제조 방법에 관해서 설명한다. A wiring board according to the present embodiment, which is manufactured by using the above-described adhesive film, and a manufacturing method thereof will be described.

〔배선판〕[Wiring board]

배선판의 구성예에 관해서, 도 1, 도 2 및 도 3을 참조하여 설명한다. 도 1은, 배선판을 이의 두께 방향의 한쪽에서부터 본 모식적인 평면도이다. 도 2는, II-II 일점 쇄선으로 나타낸 위치에서 절단한 배선판의 절단 단면을 도시하는 모식적인 도면이다. 도 3은, 배선판 중의 제1 배선층의 구성을 설명하기 위한 모식적인 평면도이다. A configuration example of the wiring board will be described with reference to Figs. 1, 2, and 3. Fig. 1 is a schematic plan view of a wiring board viewed from one side in the thickness direction thereof. 2 is a schematic view showing a cut section of a wiring board cut at a position indicated by a II-II one-dot chain line. 3 is a schematic plan view for explaining the configuration of the first wiring layer in the wiring board.

배선판은, 수지 조성물(수지 조성물 층)의 경화체인 절연층과, 이러한 절연층에 적어도 일부분이 매립된 코일상 도전성 구조체를 가지며 있으며, 이러한 코일상 도전성 구조체와, 절연층의 두께 방향으로 연장되고, 또한 코일상 도전성 구조체로 둘러싸인 절연층 중의 일부분에 의해 구성되는 인덕터 소자를 함유하고 있다. The wiring board has an insulating layer which is a cured body of the resin composition (resin composition layer) and a coil-shaped conductive structure in which at least a part of the insulating layer is embedded. The coiled conductive structure, And an inductor element constituted by a part of the insulating layer surrounded by the coil-shaped conductive structure.

본 실시형태의 배선판이 구비하는 인덕터 소자가 기능할 수 있는 주파수는 1GHz 이상인 것이 상정(想定)되어 있다. 이러한 인덕터 소자가 기능할 수 있는 주파수는 1GHz 내지 3GHz인 것이 바람직하다. The frequency at which the inductor element included in the wiring board of this embodiment can function is assumed to be 1 GHz or more. The frequency at which such an inductor element can function is preferably 1 GHz to 3 GHz.

도 1 및 도 2에 도시되는 바와 같이, 배선판(10)은 소위 빌드업 절연층을 갖는 빌드업 배선판이다. 배선판(10)은 코어 기재(20)를 구비하고 있다. 코어 기재(20)는 서로 대향(對向)하는 제1 주표면(主表面)(20a) 및 제2 주표면(20b)을 가지고 있다. 코어 기재(20)는 절연성의 기판이다. 코어 기재(20)는, 이의 두께 내에 배선 등이 만들어 넣어진 소위 내층 회로 기판이라도 좋다. As shown in Figs. 1 and 2, the wiring board 10 is a build-up wiring board having a so-called build-up insulation layer. The wiring board 10 is provided with a core substrate 20. The core substrate 20 has a first major surface 20a and a second major surface 20b facing each other. The core substrate 20 is an insulating substrate. The core substrate 20 may be a so-called inner layer circuit board in which wiring or the like is formed in the thickness thereof.

코어 기재(20)의 재료의 예로서는, 유리 에폭시 기판, 금속 기판, 폴리에스테르 기판, 폴리이미드 기판, BT 레진 기판, 열경화형 폴리페닐렌에테르 기판 등의 절연성 기재를 들 수 있다. Examples of the material of the core substrate 20 include insulating substrates such as a glass epoxy substrate, a metal substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a BT resin substrate, and a thermosetting polyphenylene ether substrate.

코어 기재(20)는, 제1 주표면(20a)에 설치되는 제1 배선층(42)과, 제2 주표면(20b)에 설치되는 외부 단자(24)를 가지고 있다. 제1 배선층(42) 및 제2 배선층(44)은, 복수의 배선을 포함하고 있다. 도시예에서는 인덕터 소자의 코일상 도전성 구조체(40)를 구성하는 배선만이 도시되어 있다. 외부 단자(24)는 도시되어 있지 않은 외부의 장치 등과 전기적으로 접속하기 위한 단자이다. 외부 단자(24)는 제2 주표면(20b)에 설치되는 배선층의 일부로서 구성할 수 있다. The core substrate 20 has a first wiring layer 42 provided on the first main surface 20a and an external terminal 24 provided on the second main surface 20b. The first wiring layer 42 and the second wiring layer 44 include a plurality of wirings. In the illustrated example, only the wiring constituting the coil-shaped conductive structure 40 of the inductor element is shown. The external terminal 24 is a terminal for electrically connecting to an external device or the like not shown. The external terminal 24 can be formed as a part of a wiring layer provided on the second main surface 20b.

제1 배선층(42), 제2 배선층(44), 외부 단자(24), 그 밖의 배선을 구성할 수 있는 도체 재료로서는, 예를 들면, 금, 백금, 팔라듐, 은, 구리, 알루미늄, 코발트, 크롬, 아연, 니켈, 티탄, 텅스텐, 철, 주석 및 인듐으로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 금속을 들 수 있다. 제1 배선층(42), 제2 배선층(44), 외부 단자(24), 그 밖의 배선은, 단금속에 의해 구성되어 있어도 합금에 의해 구성되어 있어도 좋고, 합금으로서는, 예를 들면, 상기의 그룹으로부터 선택되는 2종 이상의 금속의 합금(예를 들면, 니켈크롬 합금, 구리니켈 합금 및 구리티탄 합금)을 들 수 있다. 이 중에서도, 범용성, 비용, 패터닝의 용이성 등의 관점에서, 크롬, 니켈, 티탄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 또는 구리, 또는 니켈크롬 합금, 구리니켈 합금, 구리티탄 합금을 사용하는 것이 바람직하며, 크롬, 니켈, 티탄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 또는 구리, 또는 니켈크롬 합금을 사용하는 것이 보다 바람직하며, 구리를 사용하는 것이 더욱 바람직하다. Examples of the conductor material that can form the first wiring layer 42, the second wiring layer 44, the external terminal 24 and other wirings include gold, platinum, palladium, silver, copper, aluminum, cobalt, And at least one metal selected from the group consisting of chromium, zinc, nickel, titanium, tungsten, iron, tin and indium. The first wiring layer 42, the second wiring layer 44, the external terminal 24 and other wirings may be constituted by a single metal or an alloy. Examples of the alloy include the above- (For example, a nickel chromium alloy, a copper-nickel alloy, and a copper-titanium alloy). Among these, it is preferable to use chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or a nickel chromium alloy, a copper nickel alloy or a copper titanium alloy from the viewpoints of versatility, cost and ease of patterning And it is more preferable to use chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or nickel chromium alloy, more preferably copper.

제1 배선층(42), 제2 배선층(44), 외부 단자(24), 그 밖의 배선은, 단층 구조라도, 상이한 종류의 금속 또는 합금으로 이루어지는 단금속층 또는 합금층이 2층 이상 적층된 복층 구조라도 좋다. 제1 배선층(42), 제2 배선층(44), 외부 단자(24), 그 밖의 배선이 복층 구조인 경우, 절연층과 접하는 층은, 크롬, 아연 또는 티탄의 단금속층, 또는 니켈크롬 합금의 합금층인 것이 바람직하다. The first wiring layer 42, the second wiring layer 44, the external terminal 24, and other wirings may have a single-layer structure or a multi-layer structure in which two or more single metal layers or alloy layers of different types of metals or alloys are stacked . In the case where the first wiring layer 42, the second wiring layer 44, the external terminal 24 and other wirings have a multi-layer structure, the layer in contact with the insulating layer may be a single metal layer of chromium, zinc or titanium, Alloy layer.

제1 배선층(42), 제2 배선층(44), 외부 단자(24), 그 밖의 배선의 두께는, 원하는 다층 프린트 배선판의 디자인에 따라 다르지만, 일반적으로 3㎛ 내지 35㎛, 바람직하게는 5㎛ 내지 30㎛이다. The thickness of the first wiring layer 42, the second wiring layer 44, the external terminals 24 and other wirings varies depending on the design of the desired multilayer printed wiring board, but is generally 3 탆 to 35 탆, preferably 5 탆 To 30 mu m.

코어 기재(20)가 갖는 제1 배선층(42) 및 외부 단자(24)의 두께는 특별히 한정되지 않는다. 제1 배선층(42) 및 외부 단자(24)의 두께는, 박형화의 관점에서, 바람직하게는 70㎛ 이하이며, 보다 바람직하게는 60㎛ 이하이며, 더욱 바람직하게는 50㎛ 이하, 더욱 보다 바람직하게는 40㎛ 이하, 특히 바람직하게는 30㎛ 이하, 20㎛ 이하, 15㎛ 이하 또는 10㎛ 이하이다. 외부 단자(24)의 두께의 하한은 특별히 제한되지 않지만, 바람직하게는 1㎛ 이상, 보다 바람직하게는 3㎛ 이상, 더욱 바람직하게는 5㎛ 이상이다. The thickness of the first wiring layer 42 and the external terminal 24 of the core substrate 20 is not particularly limited. The thickness of the first wiring layer 42 and the external terminal 24 is preferably 70 占 퐉 or less, more preferably 60 占 퐉 or less, further preferably 50 占 퐉 or less, still more preferably 50 占 퐉 or less Is not more than 40 mu m, particularly preferably not more than 30 mu m, not more than 20 mu m, not more than 15 mu m, or not more than 10 mu m. The lower limit of the thickness of the external terminal 24 is not particularly limited, but is preferably 1 占 퐉 or more, more preferably 3 占 퐉 or more, and further preferably 5 占 퐉 or more.

제1 배선층(42) 및 외부 단자(24)의 라인(L)/스페이스(S) 비는 특별히 제한되지 않지만, 표면의 요철(凹凸)을 감소시켜 평활성이 우수한 절연층을 수득하는 관점에서, 통상, 900/900㎛ 이하, 바람직하게는 700/700㎛ 이하, 보다 바람직하게는 500/500㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 300/300㎛ 이하, 더욱 보다 바람직하게는 200/200㎛ 이하이다. 라인/스페이스 비의 하한은 특별히 제한되지 않지만, 스페이스로의 수지 조성물의 매립을 양호하게 하는 관점에서, 바람직하게는 1/1㎛ 이상이다. The ratio of line (L) / space (S) of the first wiring layer 42 and the external terminal 24 is not particularly limited. However, from the viewpoint of obtaining an insulating layer excellent in smoothness by reducing surface irregularities, , It is 900/900 μm or smaller, preferably 700/700 μm or smaller, more preferably 500/500 μm or smaller, still more preferably 300/300 μm or smaller, still more preferably 200/200 μm or smaller. The lower limit of the line / space ratio is not particularly limited, but is preferably 1/1 占 퐉 or more from the viewpoint of improving the filling of the resin composition into the space.

코어 기재(20)로서는, 예를 들면, 유리포 기재 에폭시 수지 양면 동장(銅張) 적층판인 파나소닉(주) 제조「R1515A」를 사용하고, 구리층을 패터닝함으로써 배선층으로 한 배선판을 들 수 있다. As the core substrate 20, for example, a wiring board in which a copper foil epoxy resin double-sided copper clad laminate "R1515A" manufactured by Panasonic Corporation is used and a copper layer is patterned is used as a wiring layer.

코어 기재(20)는 제1 주표면(20a)으로부터 제2 주표면(20b)에 이르도록 코어 기재(20)를 관통하는 복수의 스루홀(22)을 가지고 있다. 스루홀(22)에는 스루홀 내 배선(22a)이 설치되어 있다. 스루홀 내 배선(22a)은 제1 배선층(42)과 외부 단자(24)를 전기적으로 접속하고 있다. The core substrate 20 has a plurality of through holes 22 penetrating the core substrate 20 so as to reach the second main surface 20b from the first main surface 20a. The through-hole wiring 22a is provided in the through-hole 22. The wiring 22a in the through hole electrically connects the first wiring layer 42 and the external terminal 24. [

도 3에 도시되는 바와 같이, 제1 배선층(42)은 코일상 도전성 구조체(40)를 구성하기 위한 소용돌이상의 배선부와, 스루홀 내 배선(22a)과 전기적으로 접속되는 직사각 형상의 랜드(42a)를 포함하고 있다. 도시예에서는 소용돌이상의 배선부는 직선상부와 직각으로 굴곡되는 굴곡부와 랜드(42a)를 우회하는 우회부를 포함하고 있다. 도시예에서는 제1 배선층(42)의 소용돌이상의 배선부는 전체의 윤곽이 대략 직사각 형상이며, 중심측에서 이의 외측을 향함에 있어서 반시계 방향으로 감고 있는 형상을 가지고 있다. 3, the first wiring layer 42 has a spiral-shaped wiring portion for constituting the coil-shaped conductive structure 40, and a rectangular land 42a electrically connected to the wiring 22a in the through- ). In the illustrated example, the wiring portion on the spiral includes a bent portion bent at a right angle to the upper portion of the straight line and a detour portion bypassing the land 42a. In the illustrated example, the spiral wiring portion of the first wiring layer 42 has a substantially rectangular shape as a whole, and has a shape that is wound in a counterclockwise direction from the center toward the outside thereof.

제1 배선층(42)이 설치된 코어 기재(20)의 제1 주표면(20a) 측에는 제1 배선층(42) 및 제1 배선층(42)으로부터 노출되는 제1 주표면(20a)을 피복하도록 제1 절연층(32)이 설치되어 있다. The first main surface 20a of the core substrate 20 on which the first wiring layer 42 is provided is provided with a first main surface 20a covering the first main surface 20a exposed from the first wiring layer 42 and the first wiring layer 42, An insulating layer 32 is provided.

제1 절연층(32)은, 이미 설명한 접착 필름에 유래하는 층이기 때문에, 제1 배선층(42)의 봉지성이 우수하다. 또한 제1 절연층(32)은, 상기 접착 필름을 사용하여 형성되기 때문에, 주파수가 1GHz 이상인 고주파대(기가헤르츠대), 특히 1GHz 내지 3GHz인 범위에 있어서의 투자율이 향상되고 있고, 또한 자성 손실이 억제되어 있다. Since the first insulating layer 32 is a layer derived from the above-described adhesive film, the sealing property of the first wiring layer 42 is excellent. Further, since the first insulating layer 32 is formed by using the adhesive film, the magnetic permeability in the range of the high frequency band (gigahertz band), particularly 1 GHz to 3 GHz in which the frequency is 1 GHz or more is improved, Is suppressed.

제1 절연층(32)에는, 제1 절연층(32)을 이의 두께 방향으로 관통하는 비아 홀(36)이 형성되어 있다. A via hole 36 is formed in the first insulating layer 32 to penetrate the first insulating layer 32 in the thickness direction thereof.

제1 절연층(32)에는 제2 배선층(44)이 설치되어 있다. 제2 배선층(44)은 코일상 도전성 구조체(40)를 구성하기 위한 소용돌이상의 배선부를 포함하고 있다. 도시예에서는 소용돌이상의 배선부는 직선상부와 직각으로 굴곡되는 굴곡부를 포함하고 있다. 도시예에서는 제2 배선층(44)의 소용돌이상의 배선부는 전체의 윤곽이 대략 직사각 형상이며, 중심측에서 이의 외측을 향함에 있어서 시계 방향으로 감고 있는 형상을 가지고 있다. The first insulating layer 32 is provided with a second wiring layer 44. The second wiring layer 44 includes a spiral wiring portion for constituting the coil-shaped conductive structure 40. In the illustrated example, the wiring portion on the spiral includes a bent portion bent at a right angle with the upper portion of the straight line. In the illustrated example, the spiral wiring portion of the second wiring layer 44 has a substantially rectangular outline as a whole, and has a shape that is wound clockwise as viewed from the center toward the outside thereof.

비아 홀(36) 내에는 비아 홀 내 배선(36a)이 설치되어 있다. 제2 배선층(44)의 소용돌이상의 배선부 중의 중심측의 일단은 비아 홀 내 배선(36a)에 의해 제1 배선층(42)의 소용돌이상의 배선부 중의 중심측의 일단에 전기적으로 접속되어 있다. 제2 배선층(44)의 소용돌이상의 배선부 중 외주측의 타단(他端)은 비아 홀 내 배선(36a)에 의해 제1 배선층(42)의 랜드(42a)에 전기적으로 접속되어 있다. 따라서 제2 배선층(44)의 소용돌이상의 배선부 중 외주측의 타단은 비아 홀 내 배선(36a), 랜드(42a), 스루홀 내 배선(22a)을 거쳐 외부 단자(24)에 전기적으로 접속되어 있다. A wiring 36a in the via-hole is provided in the via-hole 36. One end on the center side of the spiral-shaped wiring portion of the second wiring layer 44 is electrically connected to one end of the central portion of the spiral-shaped wiring portion of the first wiring layer 42 by the via-hole wiring 36a. The other end of the outer peripheral side of the spiral wirings of the second wiring layer 44 is electrically connected to the land 42a of the first wiring layer 42 by the wiring 36a in the via hole. The other end of the outer peripheral side of the spiral wirings of the second wiring layer 44 is electrically connected to the external terminal 24 via the wiring 36a in the via hole, the land 42a, and the wiring 22a in the through hole have.

코일상 도전성 구조체(40)는, 제1 배선층(42)의 일부분인 소용돌이상의 배선부, 제2 배선층(44)의 일부분인 소용돌이상의 배선부, 제1 배선층(42)의 소용돌이상의 배선부와 제2 배선층(44)의 소용돌이상의 배선부를 전기적으로 접속하고 있는 비아 홀 내 배선(36a)에 의해 구성되어 있다. The coil-shaped conductive structure 40 includes a spiral wiring portion which is a part of the first wiring layer 42, a spiral wiring portion which is a part of the second wiring layer 44, a spiral wiring portion of the first wiring layer 42, Hole wiring 36a that electrically connects the wiring portion on the spiral of the first wiring layer 44 to the second wiring portion 36a.

제2 배선층(44)이 설치된 제1 절연층(32)에는 제2 배선층(44) 및 제2 배선층(44)으로부터 노출되는 제1 절연층(32)을 피복하도록 제2 절연층(34)이 설치되어 있다. A second insulating layer 34 is formed on the first insulating layer 32 provided with the second wiring layer 44 so as to cover the first insulating layer 32 exposed from the second wiring layer 44 and the second wiring layer 44 Is installed.

제2 절연층(34)은 제1 절연층(32)과 같이 이미 설명한 접착 필름에 유래하는 층이며, 접착 필름의 수지 조성물 층은 절연층 형성시의 유동성이 우수하기 때문에, 제2 배선층(44)의 봉지성이 우수하다. 또한 제2 절연층(34)은 상기 접착 필름을 사용하여 형성되기 때문에, 주파수가 1GHz 이상인 고주파대, 특히 1GHz 내지 3GHz인 범위에 있어서의 투자율이 향상되고 있고, 또한 자성 손실이 억제되어 있다. The second insulating layer 34 is a layer derived from the adhesive film as described above, such as the first insulating layer 32. Since the resin composition layer of the adhesive film has excellent fluidity at the time of forming the insulating layer, the second wiring layer 44 ) Is excellent. Further, since the second insulating layer 34 is formed using the above adhesive film, the magnetic permeability is improved and the magnetic permeability is suppressed in a high-frequency band having a frequency of 1 GHz or more, particularly in the range of 1 GHz to 3 GHz.

제1 절연층(32) 및 제2 절연층(34)은 일체적인 절연층으로서 볼 수 있는 절연부(30)를 구성하고 있다. 따라서 코일상 도전성 구조체(40)는, 절연부(30)에 적어도 일부분이 매립되도록 설치되어 있다. 즉, 본 실시형태의 배선판(10)에 있어서, 인덕터 소자는 코일상 도전성 구조체(40)와, 절연부(30)의 두께 방향으로 연장되고, 또한 코일상 도전성 구조체(40)로 둘러싸인 절연부(30) 중 일부분인 심부에 의해 구성되어 있다. The first insulating layer 32 and the second insulating layer 34 constitute an insulating portion 30 that can be viewed as an integral insulating layer. Therefore, the coil-shaped conductive structure 40 is provided so that at least a portion thereof is embedded in the insulating portion 30. [ That is, in the wiring board 10 of the present embodiment, the inductor element has the coil-shaped conductive structure 40, the insulating portion 30 extending in the thickness direction of the insulating portion 30 and surrounded by the coil-shaped conductive structure 40 30).

본 실시형태에서는, 코일상 도전성 구조체(40)가, 제1 배선층(42) 및 제2 배선층(44)의 2층의 배선층을 포함하는 예를 설명했지만, 3층 이상의 배선층(및 3층 이상의 빌드업 절연층)에 의해 코일상 도전성 구조체(40)를 구성할 수도 있다. 이 경우에는, 최상층의 배선층과 최하층의 배선층 사이에 개재되도록 배치되는 도시하지 않는 배선층의 소용돌이상의 배선부는, 이의 일단이 최상층측이며 바로 근처에 배치되는 배선층의 소용돌이상의 배선부 중의 어느 한쪽의 단부에 전기적 접속되고, 이의 타단이 최하층측이며 바로 근처에 배치되는 배선층의 소용돌이상의 배선부의 어느 한쪽의 단부에 전기적 접속된다. Although the present embodiment has described an example in which the coil-shaped conductive structural body 40 includes two wiring layers of the first wiring layer 42 and the second wiring layer 44, the wiring layer of three or more layers Up insulating layer) may be used to constitute the coin-cell conductive structure 40. In this case, the spiral-shaped wiring portion of the wiring layer (not shown) interposed between the wiring layer of the uppermost layer and the wiring layer of the lowermost layer is formed on one of the spiral- And the other end thereof is electrically connected to either end of the wiring portion on the spiral of the wiring layer disposed immediately adjacent to the lowermost layer side.

본 실시형태에 따르는 회로 기판에 의하면, 절연층을 상기 접착 필름에 의해 형성하기 때문에, 형성되는 절연층의 투자율을 높일 수 있고, 결과적으로 회로 기판에 만들어 넣어지는 인덕터 소자의 L값 및 Q값을 향상시킬 수 있다. According to the circuit board of the present embodiment, since the insulating layer is formed by the adhesive film, the magnetic permeability of the insulating layer to be formed can be increased, and as a result, the L value and the Q value of the inductor element, Can be improved.

〔배선판의 제조 방법〕[Manufacturing method of wiring board]

이하, 본 실시형태에 따르는 배선판의 제조 방법에 관해서 도 2를 참조하여 설명한다. Hereinafter, a method of manufacturing a wiring board according to the present embodiment will be described with reference to FIG.

본 실시형태에 따르는 배선판의 제조 방법은, 제1 절연층 및 제2 절연층을 포함하는 절연부와, 절연부에 적어도 일부분이 매립된 코일상 도전성 구조체를 가지고 있으며, 코일상 도전성 구조체와 절연부 중의 일부분에 의해 구성되는 인덕터 소자를 포함하는 배선판의 제조 방법으로서, 본 실시형태에 따르는 접착 필름, 및 제1 배선층이 설치된 코어 기재를 준비하는 공정과, 코어 기재에 접착 필름의 수지 조성물 층을 라미네이트하는 공정과, 수지 조성물 층을 열경화하여 제1 절연층을 형성하는 공정과, 제1 절연층에 비아 홀을 형성하는 공정과, 비아 홀이 형성된 제1 절연층에 대해 조화 처리하는 공정과, 제1 절연층에 제2 배선층을 형성하고, 제1 배선층과 제2 배선층을 전기적으로 접속하는 비아 홀 내 배선을 형성하는 공정과, 제2 배선층 및 비아 홀 내 배선이 형성된 제1 절연층에 추가로 본 실시형태에 따르는 접착 필름을 라미네이트하고, 열경화하여 제2 절연층을 형성하는 공정과, 제1 배선층의 일부분과 제2 배선층의 일부분과 비아 홀 내 배선을 포함하는 코일상 도전성 구조체, 및 절연부의 두께 방향으로 연장되고, 또한 코일상 도전성 구조체로 둘러싸인 절연부의 일부분을 포함하는 인덕터 소자를 형성하는 공정을 포함한다. The method for manufacturing a wiring board according to the present embodiment includes an insulating portion including a first insulating layer and a second insulating layer and a coil-shaped conductive structure in which at least a part of the insulating portion is buried, A step of preparing a core substrate provided with an adhesive film and a first wiring layer according to the present embodiment; a step of laminating a resin composition layer of an adhesive film on the core substrate; A step of thermally curing the resin composition layer to form a first insulating layer; a step of forming a via hole in the first insulating layer; a step of roughening the first insulating layer in which the via hole is formed; A step of forming a second wiring layer in the first insulating layer and forming a wiring in a via hole for electrically connecting the first wiring layer and the second wiring layer; A step of laminating an adhesive film according to the present embodiment and thermally curing the second insulating layer to the first insulating layer on which the wirings are formed and a step of forming a part of the first wiring layer and a part of the second wiring layer, And a step of forming an inductor element extending in the thickness direction of the insulating portion and including a portion of the insulating portion surrounded by the coil-shaped conductive structure.

우선 이미 설명한 바와 같이, 제1 주표면(20a)에 설치되는 제1 배선층(42)과, 제2 주표면(20b)에 설치되는 외부 단자(24)와, 스루홀(22)과, 스루홀 내 배선(22a)이 설치되어 있는 코어 기재(내층 회로 기판)(20) 및 접착 필름을 준비한다. The first wiring layer 42 provided on the first main surface 20a, the external terminal 24 provided on the second main surface 20b, the through hole 22, the through- A core substrate (inner layer circuit board) 20 provided with the inner wiring 22a and an adhesive film are prepared.

(제1 절연층의 형성 공정) (Step of forming first insulation layer)

다음에 제1 절연층(32)을 형성한다. 우선 코어 기재의 제1 배선층(42)에 접촉하도록 접착 필름의 수지 조성물 층을 라미네이트하는 라미네이트 공정을 실시한다. Next, a first insulating layer 32 is formed. A lamination step of laminating the resin composition layer of the adhesive film so as to be in contact with the first wiring layer 42 of the core base is performed.

라미네이트 공정의 조건은 특별히 한정되지 않으며, 접착 필름을 사용하여 절연층(빌드업 절연층)을 형성함에 있어서 사용되는 공지의 조건을 채용할 수 있다. 예를 들면, 가열된 스테인리스 경판 등의 금속판을 접착 필름의 유기 지지체 측에서부터 프레스함으로써 실시할 수 있다. 이 경우, 금속판을 직접적으로 프레스하지 않고, 코어 기재(20)의 표면의 요철에 접착 필름이 충분히 추종(追隨)하도록, 내열 고무 등으로 이루어지는 탄성 부재를 개재하여 프레스를 실시하는 것이 바람직하다. 프레스 온도는, 바람직하게는 70℃ 내지 140℃의 범위이며, 프레스 압력은 바람직하게는 1kgf/㎠ 내지 11kgf/㎠(0.098MPa 내지 1.079MPa)의 범위이며, 프레스 시간은 바람직하게는 5초간 내지 3분간의 범위이다. The conditions of the lamination process are not particularly limited, and known conditions used in forming an insulating layer (build-up insulating layer) using an adhesive film can be adopted. For example, it can be carried out by pressing a metal plate such as a heated stainless steel plate from the side of the organic support of the adhesive film. In this case, it is preferable that the pressing is carried out through an elastic member made of heat-resistant rubber or the like so that the adhesive film sufficiently follows the unevenness of the surface of the core substrate 20 without directly pressing the metal plate. The press temperature is preferably in the range of 70 占 폚 to 140 占 폚, the press pressure is preferably in the range of 1 kgf / cm2 to 11 kgf / cm2 (0.098 MPa to 1.079 MPa), the press time is preferably 5 seconds to 3 Minute.

또한, 라미네이트 공정은, 바람직하게는 20mmHg(26.7hPa) 이하의 감압하에서 실시된다. 라미네이트 공정은, 시판되고 있는 진공 라미네이터를 사용하여 실시할 수 있다. 시판되고 있는 진공 라미네이터로서는, 예를 들면, 메이키세사쿠쇼(주) 제조의 진공 가압식 라미네이터, 니치고·모튼(주) 제조의 배큠 어플리케이터 등을 들 수 있다. Further, the lamination process is preferably carried out under a reduced pressure of 20 mmHg (26.7 hPa) or less. The lamination process can be carried out using a commercially available vacuum laminator. As a commercially available vacuum laminator, for example, a vacuum pressure laminator manufactured by Meikishesakusho Co., Ltd., a vacuum applicator manufactured by Nichigo Morton Co., Ltd., and the like can be given.

라미네이트 공정의 종료 후, 코어 기재(20)에 라미네이트된 접착 필름을, 가열 및 가압 처리하는 평활화 공정을 실시해도 좋다. After completion of the lamination process, a smoothing process may be performed in which the adhesive film laminated on the core substrate 20 is heated and pressurized.

평활화 공정은, 일반적으로, 상압(대기압)하, 가열된 금속판 또는 금속롤에 의해, 코어 기재(20)에 라미네이트되어 있는 접착 필름을 가열 및 가압 처리함으로써 실시된다. 가열 및 가압 처리의 조건은, 상기 라미네이트 공정의 조건과 같은 조건을 사용할 수 있다. The smoothing step is generally performed by heating and pressing the adhesive film laminated on the core substrate 20 by a heated metal plate or metal roll under atmospheric pressure (atmospheric pressure). Conditions for the heating and pressurizing treatment may be the same as those for the lamination step.

라미네이트 공정 및 평활화 공정은, 동일한 진공 라미네이터를 사용하여 연속적으로 실시할 수도 있다. The lamination process and smoothing process may be continuously performed using the same vacuum laminator.

또한, 상기 라미네이트 공정 또는 상기 평활화 공정 실시 후의 임의의 타이밍에 접착 필름에 유래하는 유기 지지체를 박리하는 공정을 실시한다. 유기 지지체를 박리하는 공정은, 예를 들면, 시판 자동 박리 장치에 의해 기계적으로 실시할 수 있다. Further, a step of peeling off the organic support derived from the adhesive film is performed at an arbitrary timing after the laminating process or the smoothing process. The step of peeling the organic support can be performed mechanically, for example, by a commercially available automatic peeling apparatus.

이어서, 코어 기재(20)에 라미네이트된 수지 조성물 층을 열경화하여 절연층(빌드업 절연층)을 형성하는 열경화 공정을 실시한다. Then, the thermosetting step of thermally curing the resin composition layer laminated on the core substrate 20 to form an insulating layer (build-up insulating layer) is performed.

열경화 공정의 조건은 특별히 한정되지 않으며, 다층 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 통상 채용되는 조건을 적용할 수 있다. The conditions of the thermosetting step are not particularly limited, and conditions that are generally employed when forming the insulating layer of the multilayer printed wiring board can be applied.

열경화 공정의 조건은, 수지 조성물 층에 사용되는 수지 조성물의 조성 등에 의해 임의 적합한 조건으로 할 수 있다. 열경화 공정의 조건은, 예를 들면 경화 온도를 120℃ 내지 240℃의 범위(바람직하게는 150℃ 내지 210℃의 범위, 보다 바람직하게는 170℃ 내지 190℃의 범위)로 하고, 경화 시간을 5분간 내지 90분간의 범위(바람직하게는 10분간 내지 75분간, 보다 바람직하게는 15분간 내지 60분간)로 할 수 있다. The conditions of the thermosetting step may be any suitable condition depending on the composition of the resin composition used in the resin composition layer and the like. The conditions of the heat curing process are set, for example, at a curing temperature in the range of 120 占 폚 to 240 占 폚 (preferably in the range of 150 占 폚 to 210 占 폚, more preferably in the range of 170 占 폚 to 190 占 폚) For 5 minutes to 90 minutes (preferably 10 minutes to 75 minutes, more preferably 15 minutes to 60 minutes).

열경화 공정을 실시하기 전에, 수지 조성물 층을 경화 온도보다도 낮은 온도에서 예비 가열하는 공정을 실시해도 좋다. 열경화 공정의 실시에 앞서, 예를 들면 50℃ 이상 120℃ 미만(바람직하게는 60℃ 이상 110℃ 이하, 보다 바람직하게는 70℃ 이상 100℃ 이하)의 온도에서, 수지 조성물 층을 5분간 이상(바람직하게는 5분간 내지 150분간, 보다 바람직하게는 15분간 내지 120분간) 예비 가열해도 좋다. 예비 가열은, 대기압하(상압 상태)에서 실시하는 것이 바람직하다. The step of preheating the resin composition layer at a temperature lower than the curing temperature may be performed before the thermosetting step. Prior to the execution of the heat curing step, the resin composition layer is cured for at least 5 minutes or more at a temperature of, for example, 50 ° C or more and less than 120 ° C (preferably 60 ° C or more and 110 ° C or less, more preferably 70 ° C or more and 100 ° C or less) (Preferably for 5 minutes to 150 minutes, more preferably for 15 minutes to 120 minutes). Preheating is preferably carried out under atmospheric pressure (atmospheric pressure).

이상의 공정에 의해 코어 기재(20)에 설치되는 제1 절연층(32)을 형성할 수 있다. 또한, 절연층이 형성된 코어 기재(20)에 대해 상기 라미네이트 공정 및 상기 열경화 공정 및 후술하는 배선층의 형성 공정을 추가로 1회 이상 반복함으로써, 제1 절연층(32)에 설치되는 제2 절연층(34), 추가로 적층되는 절연층을 포함하는 절연부(30)를 형성할 수 있다. The first insulating layer 32 provided on the core substrate 20 can be formed by the above process. The lamination process, the thermosetting process, and the wiring layer forming process, which will be described later, are further repeated one or more times with respect to the core substrate 20 on which the insulating layer is formed, A layer 34, and an insulating portion 30 including an insulating layer that is further laminated.

또한, 코어 기재(20)에 제1 절연층(32)을 형성하는 공정은, 일반의 진공 핫 프레스기를 사용하여 실시하는 것도 가능하다. 예를 들면, 가열된 SUS판 등의 금속판을 사용하여 유기 지지체 측에서부터 프레스함으로써 실시할 수 있다. 프레스 조건은, 감압도를 통상 1×10-2MPa 이하, 바람직하게는 1×10-3MPa 이하의 감압하로 한다. 가열 및 가압은, 1단계로 실시할 수도 있지만, 수지가 스며나오는 것을 제어하는 관점에서 2단계 이상의 공정으로 하여 각각 프레스 조건을 변경하여 실시하는 것이 바람직하다. 예를 들면, 1단계째의 프레스 조건을, 온도를 70℃ 내지 150℃로 하고, 압력을 1kgf/㎠ 내지 15kgf/㎠의 범위로 하고, 2단계째의 프레스 조건을, 온도를 150℃ 내지 200℃로 하고, 압력을 1 내지 40kgf/㎠의 범위로 하여 실시하는 것이 바람직하다. 각 단계의 시간은 30분간 내지 120분간으로 하여 실시하는 것이 바람직하다. 시판되고 있는 진공 핫 프레스기로서는, 예를 들면, 메이키세사쿠쇼(주) 제조 「MNPC-V-750-5-200」, 키타가와세이키(주) 제조「VH1-1603」등을 들 수 있다. The step of forming the first insulating layer 32 on the core substrate 20 can also be carried out using a general vacuum hot press. For example, it can be carried out by pressing from a side of an organic support using a metal plate such as a heated SUS plate. The pressing condition is such that the reduced pressure is usually 1 x 10-2 MPa or less, preferably 1 x 10-3 MPa or less. The heating and pressurization can be carried out in one step, but it is preferable to carry out two or more steps from the viewpoint of controlling the exudation of the resin and changing the pressing conditions respectively. For example, the first-stage press condition is set at a temperature of 70 to 150 ° C, a pressure of 1 kgf / cm 2 to 15 kgf / cm 2, a second-stage press condition at a temperature of 150 to 200 Deg.] C and a pressure in the range of 1 to 40 kgf / cm < 2 >. The time for each step is preferably 30 minutes to 120 minutes. As a commercially available vacuum hot press, for example, "MNPC-V-750-5-200" manufactured by Meikishesakusho Co., Ltd., "VH1-1603" manufactured by Kitagawa Seiki Co., Ltd. and the like can be mentioned.

(비아 홀의 형성 공정)(Via hole forming process)

형성된 제1 절연층(32)에 비아 홀(36)을 형성한다. 비아 홀(36)은 제1 배선층(42)과 제2 배선층(44)을 전기적으로 접속하기 위한 경로가 된다. 비아 홀(36)은 제1 절연층(32)의 특성을 고려하여, 드릴, 레이저, 플라즈마 등을 사용하는 공지의 방법에 의해 형성할 수 있다. 예를 들면, 이 시점에서 보호 필름이 잔존하고 있는 경우에는, 보호 필름을 개재하여 레이저 광을 제1 절연층(32)에 조사함으로써, 비아 홀(36)을 형성할 수도 있다. A via hole 36 is formed in the first insulation layer 32 formed. The via hole 36 serves as a path for electrically connecting the first wiring layer 42 and the second wiring layer 44. The via hole 36 can be formed by a known method using a drill, laser, plasma or the like in consideration of the characteristics of the first insulating layer 32. For example, when the protective film remains at this point, the via hole 36 may be formed by irradiating the first insulating layer 32 with a laser beam via a protective film.

비아 홀(36)의 형성에 사용되는 레이저 광원으로서는, 예를 들면, 탄산 가스 레이저, YAG 레이저, 엑시머 레이저 등을 들 수 있다. 이 중에서도, 가공속도, 비용의 관점에서, 탄산 가스 레이저가 바람직하다. Examples of the laser light source used for forming the via-hole 36 include a carbon dioxide gas laser, a YAG laser, and an excimer laser. Of these, a carbon dioxide gas laser is preferable from the viewpoints of processing speed and cost.

비아 홀(36)의 형성은, 시판되고 있는 레이저 장치를 사용하여 실시할 수 있다. 시판되고 있는 탄산 가스 레이저 장치로서는, 예를 들면, 히타치비아메카닉스(주) 제조「LC-2E21B/1C」, 미쯔비시덴키(주) 제조 「ML605GTWII」, 마츠시타요세츠시스템(주) 제조의 기판 천공 레이저 가공기를 들 수 있다. The via holes 36 can be formed using commercially available laser devices. Examples of commercially available carbon dioxide gas laser devices include "LC-2E21B / 1C" manufactured by Hitachi Biomechanics Co., Ltd., "ML605GTWII" manufactured by Mitsubishi Denki K.K., a substrate drilling manufactured by Matsushita Yotsetsu System Co., And a laser processing machine.

(조화 공정) (Blending process)

다음에 비아 홀(36)이 형성된 제1 절연층(32)에 대해 조화 처리하는 조화 공정을 실시한다. 조화 공정의 순서, 조건은 특별히 한정되지 않으며, 다층 프린트 배선판의 제조 방법에 있어서 통상 사용되는 공지의 순서, 조건을 채용할 수 있다. 조화 공정으로서, 예를 들면, 팽윤액에 의한 팽윤 처리, 산화제에 의한 조화 처리, 중화액에 의한 중화 처리를 이러한 순서로 실시함으로써 제1 절연층(32)을 조화 처리할 수 있다. Next, a coarsening process is performed to the first insulation layer 32 on which the via-hole 36 is formed. The order and conditions of the roughening process are not particularly limited, and well-known procedures and conditions commonly used in the method for producing a multilayer printed wiring board can be adopted. As the roughening process, for example, the first insulating layer 32 can be roughened by performing swelling treatment with a swelling liquid, roughening treatment with an oxidizing agent, and neutralizing treatment with a neutralizing liquid in this order.

조화 공정에 사용될 수 있는 팽윤액으로서는 특별히 한정되지 않지만, 알칼리 용액, 계면활성제 용액 등을 들 수 있고, 바람직하게는 알칼리 용액이다. 팽윤액인 알칼리 용액으로서는, 수산화나트륨 용액, 수산화칼륨 용액이 보다 바람직하다. 시판되고 있는 팽윤액으로서는, 예를 들면, 아토텍재팬(주)제 「스웰링·딥·세큐리간스 P」, 「스웰링·딥·세큐리간스 SBU」등을 들 수 있다. The swelling liquid that can be used in the coarsening process is not particularly limited, but examples thereof include an alkali solution and a surfactant solution, and preferably an alkali solution. As the alkaline solution which is a swelling liquid, sodium hydroxide solution and potassium hydroxide solution are more preferable. Examples of commercially available swelling liquids include Swelling Dip Sicergans P, Swelling Dip Sicureganus SBU, etc., manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., and the like.

팽윤액에 의한 팽윤 처리는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 30℃ 내지 90℃의 팽윤액에 제1 절연층(32)이 설치된 코어 기재(20)를 1분간 내지 20분간 침지함으로써 실시할 수 있다. 제1 절연층(32)을 구성하는 수지의 팽윤을 적당한 레벨로 억제하는 관점에서, 40℃ 내지 80℃의 팽윤액에 제1 절연층(32)을 5분간 내지 15분간 침지시키는 것이 바람직하다. The swelling treatment by the swelling liquid is not particularly limited, and is carried out, for example, by immersing the core substrate 20 provided with the first insulating layer 32 in a swelling liquid at 30 캜 to 90 캜 for 1 minute to 20 minutes . It is preferable to immerse the first insulating layer 32 in the swelling liquid at 40 占 폚 to 80 占 폚 for 5 minutes to 15 minutes from the viewpoint of suppressing the swelling of the resin constituting the first insulating layer 32 to an appropriate level.

산화제에 의한 조화 처리에 사용되는 산화제로서는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 수산화나트륨의 수용액에 과망간산칼륨이나 과망간산나트륨을 용해한 알카리성 과망간산 용액을 들 수 있다. 알카리성 과망간산 용액 등의 산화제에 의한 조화 처리는, 60℃ 내지 80℃로 가열한 산화제의 용액에 제1 절연층(32)을 10분간 내지 30분간 침지시킴으로써 실시하는 것이 바람직하다. 또한, 알칼리성 과망간산용액에 있어서의 과망간산염의 농도는 5질량% 내지 10질량%로 하는 것이 바람직하다. 시판되고 있는 산화제로서는, 예를 들면, 아토텍재팬(주) 제조 「콘센트레이트·콤팩트 P」, 「도징솔루션·세큐리간스 P」등의 알카리성 과망간산 용액을 들 수 있다. The oxidizing agent used in the coarsening treatment with an oxidizing agent is not particularly limited, and for example, an alkaline permanganic acid solution obtained by dissolving potassium permanganate or sodium permanganate in an aqueous solution of sodium hydroxide can be mentioned. The roughening treatment with an oxidizing agent such as an alkaline permanganic acid solution is preferably carried out by immersing the first insulating layer 32 in a solution of an oxidizing agent heated to 60 占 폚 to 80 占 폚 for 10 minutes to 30 minutes. The concentration of the permanganate in the alkaline permanganic acid solution is preferably 5% by mass to 10% by mass. Examples of commercially available oxidizing agents include alkaline permanganic acid solutions such as Concentrate Compact P manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., and Dozing Solution · Sucuregan P, and the like.

중화 처리에 사용되는 중화액으로서는, 산성의 수용액이 바람직하며, 시판품으로서는, 예를 들면, 아토텍재팬(주) 제조 「리덕션솔루션·세큐리간스 P」를 들 수 있다. 중화액에 의한 중화 처리는, 산화제 용액에 의한 조화 처리가 이루어진 처리면을 30℃ 내지 80℃의 중화액에 5분간 내지 30분간 침지시킴으로써 실시할 수 있다. 작업성 등의 점에서, 산화제 용액에 의한 조화 처리가 이루어진 제1 절연층(32)을, 40℃ 내지 70℃의 중화액에 5분간 내지 20분간 침지하는 방법이 바람직하다. As a neutralizing solution used for the neutralization treatment, an acidic aqueous solution is preferable, and commercially available products include, for example, " Reduction Solution · Sucuregan P " manufactured by Atotech Japan Co., The neutralization treatment by the neutralization liquid can be carried out by immersing the treated surface subjected to the roughening treatment with the oxidizing agent solution in a neutralizing solution at 30 ° C to 80 ° C for 5 minutes to 30 minutes. It is preferable to immerse the first insulating layer 32 subjected to the roughening treatment with the oxidizing agent solution in a neutralizing solution at 40 캜 to 70 캜 for 5 minutes to 20 minutes in terms of workability and the like.

상기한 바와 같이 설명한 조화 공정은, 제1 절연층(32)에 형성된 비아 홀(36)의 스미어 제거를 실시하기 위한 소위 디스미어 공정을 겸하고 있어도 좋다. The above-described coarsening step may also serve as a so-called desmearing step for removing the smear of the via-hole 36 formed in the first insulating layer 32.

또한, 상기 조화 공정과는 별도로, 비아 홀(36)에 대해 디스미어 공정을 실시해도 좋다. 또한, 이러한 디스미어 공정은, 습식의 디스미어 공정이라도, 건식의 디스미어 공정이라도 좋다. Further, the via hole 36 may be subjected to a desmear process separately from the above-described roughening process. The desmearing step may be a wet desmearing step or a dry desmearing step.

디스미어 공정의 구체적인 공정은 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면, 다층 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 통상 사용되는 공지의 공정, 조건을 채용할 수 있다. 건식의 디스미어 공정의 예로서는 플라즈마 처리 등을 들 수 있고, 습식의 디스미어 공정의 예로서는, 상기 조화 공정과 같은 팽윤액에 의한 팽윤 처리, 산화제에 의한 처리 및 중화액에 의한 처리를 이러한 순서로 실시하는 방법을 들 수 있다. The specific process of the desmear process is not particularly limited, and for example, known processes and conditions commonly used in forming the insulating layer of the multilayered printed circuit board can be employed. Examples of the dry desmear process include a plasma process. Examples of the wet desmear process include a swelling process using a swelling solution, a treatment with an oxidizing agent, and a treatment with a neutralizing solution in the same manner as the above-mentioned coarsening step .

(제2 배선층의 형성) (Formation of second wiring layer)

다음에 조화 공정(및 디스미어 공정)이 실시된 제1 절연층(32)에 제2 배선층(44)을 형성한다. Next, the second wiring layer 44 is formed on the first insulation layer 32 subjected to the coarsening process (and the demi-mering process).

제2 배선층(44)은 도금에 의해 형성할 수 있다. 제2 배선층(44)은, 예를 들면, 무전해 도금 공정, 마스크 패턴 형성 공정, 전해 도금 공정, 플래쉬 에칭 공정을 포함하는 세미어디티브법, 풀어디티브법 등의 종래 공지의 기술에 의해 형성함으로써, 원하는 배선 패턴을 포함하는 배선층으로서 형성할 수 있다. 또한, 이러한 제2 배선층(44)의 형성 공정에 의해, 비아 홀(36) 내에 비아 홀 내 배선(36a)이 함께 형성된다. The second wiring layer 44 can be formed by plating. The second wiring layer 44 is formed by a conventionally known technique such as an electroless plating process, a mask pattern forming process, an electrolytic plating process, a semi-stationary process including a flash etching process, a pull- So that it can be formed as a wiring layer containing a desired wiring pattern. In addition, via-hole wiring 36a is formed in the via hole 36 by the step of forming the second wiring layer 44 as well.

제1 절연층(32)이 빌드업 절연층이며, 제2 배선층(44)이 빌드업 배선층인 빌드업층으로서 본 경우, 본 실시형태의 배선판에 있어서 빌드업층이 추가로 1층 이상 필요한 경우에는, 상기 제1 절연층(32)의 형성 공정에서부터 상기 제2 배선층(44)의 형성 공정까지의 이미 설명한 일련의 공정을 추가로 1회 이상 반복하여 실시하면 좋다. In the case where the first insulation layer 32 is a build-up insulation layer and the second wiring layer 44 is a build-up wiring layer, in the case of the wiring board according to the present embodiment, The series of steps from the step of forming the first insulating layer 32 to the step of forming the second wiring layer 44 may be repeated one or more times.

(제2 절연층의 형성)(Formation of Second Insulating Layer)

다음에, 제2 배선층(44) 및 비아 홀 내 배선(36a)이 형성된 제1 절연층(32)에 제2 절연층(34)을 형성한다. 제2 절연층(34)은 이미 설명한 접착 필름의 라미네이트 공정, 평활화 공정, 열경화 공정을 포함하는 제1 절연층(32)의 형성 공정과 같은 재료를 사용하여 같은 공정에 의해 형성하면 좋다. Next, the second insulating layer 34 is formed on the first insulating layer 32 in which the second wiring layer 44 and the via-hole wiring 36a are formed. The second insulating layer 34 may be formed by the same process using the same material as the process of forming the first insulating layer 32 including the lamination process, the smoothing process, and the heat curing process of the adhesive film already described.

이상의 공정에 의해, 절연부(30)에 적어도 일부분이 매립된 코일상 도전성 구조체(40)를 가지고 있으며, 제1 배선층(42)의 일부분과 제2 배선층(44)의 일부분과 비아 홀 내 배선(36a)을 포함하는 코일상 도전성 구조체(40)와 절연부(30)의 두께 방향으로 연장되고, 또한 코일상 도전성 구조체(40)로 둘러싸인 절연부(30) 중 일부분을 포함하는 인덕터 소자를 포함하는 배선판(10)을 제조할 수 있다. The above-described process has a coil-shaped conductive structure 40 in which at least a part is embedded in the insulating portion 30 and a portion of the first wiring layer 42, a portion of the second wiring layer 44, 36a and an inductor element extending in the thickness direction of the insulating portion 30 and including a portion of the insulating portion 30 surrounded by the coil-shaped conductive structure 40. The coil- The wiring board 10 can be manufactured.

본 발명의 접착 필름을 사용하면, 특히 주파수가 1GHz 내지 3GHz인 범위에서의 투자율을 향상시킬 수 있고, 자성 손실을 저감시킬 수 있고, 또한 절연성의 신뢰성이 우수한 절연층을 형성할 수 있기 때문에, 공심 구조로 하지 않고 절연층의 일부분에 의해 구성되는 심부를 포함하는, 보다 고성능의 고주파대역용 인덕터 소자가 만들어 넣어진 배선판을, 보다 간편한 공정으로 제공할 수 있다. By using the adhesive film of the present invention, it is possible to improve the magnetic permeability particularly in the range of 1 GHz to 3 GHz frequency, to reduce the magnetic loss, and to form the insulating layer excellent in insulation reliability, It is possible to provide a wiring board in which a higher performance high-frequency band inductor element including a core portion constituted by a part of the insulating layer is not formed, in a simpler process.

〔배선판의 사용 형태〕[Usage of wiring board]

본 실시형태에 따르는 배선판은, 반도체칩 등의 전자 부품을 탑재하기 위한 배선판으로서 사용할 수 있다. 또한 이러한 배선판을 사용하여, 다양한 형태의 반도체 장치를 제조할 수 있다. 이러한 배선판을 포함하는 반도체 장치는, 전기 제품(예를 들면, 컴퓨터, 휴대 전화, 디지털 카메라 및 텔레비젼 등) 및 탈것(예를 들면, 자동이륜차, 자동차, 전차, 선박 및 항공기 등) 등에 적합하게 사용할 수 있다. The wiring board according to the present embodiment can be used as a wiring board for mounting electronic components such as semiconductor chips. In addition, various types of semiconductor devices can be manufactured by using such a wiring board. The semiconductor device including such a wiring board can be suitably used for electrical products (such as a computer, a mobile phone, a digital camera and a television) and a vehicle (for example, a motorcycle, an automobile, a tanker, .

[실시예][Example]

이하, 실시예 및 비교예에 기초하여 본 발명을 보다 구체적으로 설명하지만, 본 발명은 이하의 실시예로 한정되는 것은 아니다. 또한, 이하의 기재에 있어서의 「부」란 「질량부」를 의미한다. Hereinafter, the present invention will be described more specifically based on examples and comparative examples, but the present invention is not limited to the following examples. In the following description, " part " means " part by mass ".

<실시예 1>&Lt; Example 1 >

액상 비스페놀 A형 에폭시 수지(에폭시 당량 190, 비중 1.2g/㎤, 미쯔비시가가쿠(주) 제조 「jER828EL」) 20부와, 비페닐형 에폭시 수지(에폭시 당량 291, 비중 1.2g/㎤, 니혼가야쿠(주) 제조「NC3000H) 65부, 페녹시 수지(중량 평균 분자량 38000, 비중 1.2g/㎤, 미쯔비시가가쿠(주) 제조 「YX6954」, 불휘발 성분 30질량%의 메틸에틸케톤(이하 「MEK」이라고 칭한다.)과 사이클로헥산온의 1:1 용액) 30부를 MEK 22.5부, 사이클로헥산온 22.5부에 교반하면서 가열 용해시켰다. 거기에, 페놀노볼락계 경화제(DIC(주) 제조 「LA-7054」(트리아진 골격 함유 페놀계 경화제)의 불휘발 성분 60%의 MEK 용액, 페놀성 수산기 당량 124, 비중 1.2g/㎤) 40부, 경화 촉진제(시코쿠가세이고교(주) 제조 「2E4MZ」, 비중 1.1g/㎤) 0.1부, 무기 충전재(평균 입자 직경 0.5㎛, 비중 2.2g/㎤, 아도마텍스(주) 제조 「SO-C2」를 아미노실란계 커플링제(신에츠가가쿠고교(주) 제조 「KBM573」)로 처리한 실리카) 50부, 자성 필러(엡손아토믹스(주) 제조 「AW2-08PF3F」, Fe-Cr-Si계 합금(비정질), 평균 입자 직경 3.0㎛, 비중 7.0g/㎤) 440부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산시켜, 수지 바니쉬를 조제하였다. 다음에, 이러한 수지 바니쉬를 지지체인 폴리에틸렌테레프탈레이트(이하 「PET」라고 한다.) 필름(두께 38㎛) 위에, 건조 후의 수지 조성물 층의 두께가 50㎛이 되도록 다이코터로 도포하고, 75℃ 내지 120℃(평균 100℃)에서 7분간, 수지 조성물 층 중의 잔류 용매량이 약 0.4질량%가 되도록 건조시켰다. 이어서 수지 조성물 층의 표면에 두께 15㎛의 폴리프로필렌 필름을 첩합하면서 롤상으로 감아 롤상의 접착 필름으로 하였다. 수득된 롤상의 접착 필름의 장척 방향에 있어서의 길이가 507mm이 되도록 재단하고, 이것으로부터 507mm×336mm 각의 시트상의 접착 필름을 수득하였다. 20 parts of liquid bisphenol A type epoxy resin (epoxy equivalent 190, specific gravity 1.2 g / cm3, "jER828EL" manufactured by Mitsubishi Kagaku KK), 20 parts of biphenyl type epoxy resin (epoxy equivalent 291, specific gravity 1.2 g / , 65 parts of a phenoxy resin (weight average molecular weight of 38000, specific gravity of 1.2 g / cm3, "YX6954" manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., Ltd. and methyl ethyl ketone of 30 mass% MEK &quot;) and cyclohexanone (1: 1 solution)) was dissolved by heating in 22.5 parts of MEK and 22.5 parts of cyclohexanone with stirring. A MEK solution of 60% of a non-volatile component of phenol novolak type curing agent ("LA-7054" (phenol type curing agent containing triazine skeleton) manufactured by DIC Corporation, phenolic hydroxyl equivalent 124, specific gravity 1.2 g / (Average particle diameter: 0.5 mu m, specific gravity: 2.2 g / cm &lt; 3 &gt;, manufactured by Adomex Co., Ltd.), 0.1 part of a curing accelerator (&quot; 2E4MZ &quot;, manufactured by Shikoku Chemical Industry Co., 50 parts of a magnetic filler ("AW2-08PF3F" manufactured by Epson Atomics Co., Ltd., Fe-Cr (trade name, manufactured by Epson Corp.) -Si-based alloy (amorphous), an average particle diameter of 3.0 mu m, and a specific gravity of 7.0 g / cm &lt; 3 &gt;) were mixed and uniformly dispersed by a high-speed rotary mixer to prepare a resin varnish. Next, this resin varnish was coated on a polyethylene terephthalate (hereinafter referred to as &quot; PET &quot;) film (thickness 38 mu m) as a support by a die coater so that the thickness of the resin composition layer after drying became 50 mu m, And dried at 120 캜 (average 100 캜) for 7 minutes so that the residual solvent amount in the resin composition layer was about 0.4% by mass. Then, a polypropylene film having a thickness of 15 mu m was stuck on the surface of the resin composition layer and rolled up into a rolled film to form an adhesive film on the roll. The obtained roll-like adhesive film was cut so that its length in the longitudinal direction was 507 mm, and a 507 mm x 336 mm sheet-like adhesive film was obtained.

<실시예 2>&Lt; Example 2 >

실시예 1에 있어서, 무기 충전재(평균 입자 직경 0.5㎛, 비중 2.2g/㎤, 아도마텍스(주) 제조 「SO-C2」를 아미노실란계 커플링제(신에츠가가쿠고교(주) 제조 「KBM573」)로 처리한 실리카)의 양을 160부로 하고, 자성 필러(엡손아토믹스(주) 제조 「AW2-08PF3F」, 평균 입자 직경 3.0㎛, 비중 7.0g/㎤)의 양을 350부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 같이 하여 접착 필름을 수득하였다. In the same manner as in Example 1 except that an inorganic filler (average particle diameter 0.5 탆, specific gravity 2.2 g / cm 3, "SO-C2" manufactured by Adomatex KK was replaced with an amino silane coupling agent "KBM573 (Shinetsu Kagaku Kogyo Co., Except that the amount of the magnetic filler ("AW2-08PF3F" manufactured by Epson Atomics Co., Ltd., average particle size 3.0 μm, specific gravity 7.0 g / cm 3) was changed to 350 parts, , An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1.

<실시예 3>&Lt; Example 3 >

실시예 1에 있어서, 무기 충전재(평균 입자 직경 0.5㎛, 비중 2.2g/㎤, 아도마텍스(주) 제조 「SO-C2」를 아미노실란계 커플링제(신에츠가가쿠고교(주) 제조 「KBM573」)로 처리한 실리카)의 양을 90부로 하고, 자성 필러(엡손아토믹스(주) 제조 「AW2-08PF3F」, 평균 입자 직경 3.0㎛, 비중 7.0g/㎤)를 290부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 같이 하여 접착 필름을 수득하였다. In the same manner as in Example 1 except that an inorganic filler (average particle diameter 0.5 탆, specific gravity 2.2 g / cm 3, "SO-C2" manufactured by Adomatex KK was replaced with an amino silane coupling agent "KBM573 (Shinetsu Kagaku Kogyo Co., ) Was changed to 90 parts, and 290 parts of a magnetic filler ("AW2-08PF3F" manufactured by Epson Atomics Co., Ltd., average particle diameter 3.0 탆, specific gravity 7.0 g / cm 3) An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1.

<실시예 4><Example 4>

실시예 1에 있어서, 무기 충전재(평균 입자 직경 0.5㎛, 비중 2.2g/㎤, 아도마텍스(주) 제조 「SO-C2」를 아미노실란계 커플링제(신에츠가가쿠고교(주) 제조 「KBM573」)로 처리한 실리카)의 양을 40부로 하고, 자성 필러(엡손아토믹스(주) 제조 「AW2-08PF3F」, 평균 입자 직경 3.0㎛, 비중 7.0g/㎤)의 양을 240부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 같이 하여 접착 필름을 수득하였다. In the same manner as in Example 1 except that an inorganic filler (average particle diameter 0.5 탆, specific gravity 2.2 g / cm 3, "SO-C2" manufactured by Adomatex KK was replaced with an amino silane coupling agent "KBM573 (Shinetsu Kagaku Kogyo Co., Except that the amount of the magnetic filler ("AW2-08PF3F" manufactured by Epson Atomics Co., Ltd., average particle diameter: 3.0 μm, specific gravity: 7.0 g / cm 3) was changed to 240 parts , An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1.

<실시예 5>&Lt; Example 5 >

실시예 1에 있어서, 무기 충전재(평균 입자 직경 0.5㎛, 비중 2.2g/㎤, 아도마텍스(주) 제조 「SO-C2」를 아미노실란계 커플링제(신에츠가가쿠고교(주) 제조 「KBM573」)로 처리한 실리카)의 양을 140부로 하고, 자성 필러(엡손아토믹스(주) 제조 「AW2-08PF3F」, 평균 입자 직경 3.0㎛, 비중 7.0g/㎤)의 양을 150부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 같이 하여 접착 필름을 수득하였다. In the same manner as in Example 1 except that an inorganic filler (average particle diameter 0.5 탆, specific gravity 2.2 g / cm 3, "SO-C2" manufactured by Adomatex KK was replaced with an amino silane coupling agent "KBM573 (Shinetsu Kagaku Kogyo Co., Except that the amount of the magnetic filler ("AW2-08PF3F" manufactured by Epson Atomics, average particle diameter: 3.0 μm, specific gravity: 7.0 g / cm 3) was changed to 150 parts , An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1.

<실시예 6>&Lt; Example 6 >

실시예 1에 있어서, 무기 충전재(평균 입자 직경 0.5㎛, 비중 2.2g/㎤, 아도마텍스(주) 제조 「SO-C2」를 아미노실란계 커플링제(신에츠가가쿠고교(주) 제조 「KBM573」)로 처리한 실리카)의 양을 80부로 하고, 자성 필러(평균 입자 직경 3.0㎛, 엡손아토믹스(주) 제조 「AW2-08PF3F」, 비중 7.0g/㎤)의 양을 130부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 같이 하여 접착 필름을 수득하였다. In the same manner as in Example 1 except that an inorganic filler (average particle diameter 0.5 탆, specific gravity 2.2 g / cm 3, "SO-C2" manufactured by Adomatex KK was replaced with an amino silane coupling agent "KBM573 (Shinetsu Kagaku Kogyo Co., Except that the amount of the magnetic filler (average particle diameter 3.0 占 퐉, "AW2-08PF3F" manufactured by Epson Atomics Co., Ltd., specific gravity 7.0 g / cm3) was changed to 130 parts, , An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1.

<실시예 7>&Lt; Example 7 >

실시예 1에 있어서, 무기 충전재(평균 입자 직경 0.5㎛, 비중 2.2g/㎤, 아도마텍스(주) 제조 「SO-C2」를 아미노실란계 커플링제(신에츠가가쿠고교(주) 제조 「KBM573」)로 처리한 실리카)의 양을 35부, 자성 필러(엡손아토믹스(주) 제조 「AW2-08PF3F」, 평균 입자 직경 3.0㎛, 비중 7.0g/㎤)의 양을 110부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 같이 하여 접착 필름을 수득하였다. In the same manner as in Example 1 except that an inorganic filler (average particle diameter 0.5 탆, specific gravity 2.2 g / cm 3, "SO-C2" manufactured by Adomatex KK was replaced with an amino silane coupling agent "KBM573 (Shinetsu Kagaku Kogyo Co., 35 parts, and the amount of the magnetic filler ("AW2-08PF3F" manufactured by Epson Atomics, average particle diameter 3.0 탆, specific gravity 7.0 g / cm 3) was changed to 110 parts. An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1.

<실시예 8>&Lt; Example 8 >

액상 비스페놀 A형 에폭시 수지(에폭시 당량 190, 비중 1.2g/㎤, 미쯔비시가가쿠(주) 제조 「jER828EL」) 14부와, 비페닐형 에폭시 수지(에폭시 당량 291, 비중 1.2g/㎤, 니혼가야쿠(주) 제조「NC3000H) 14부, 페녹시 수지(중량 평균 분자량 38000, 비중 1.2g/㎤, 미쯔비시가가쿠(주) 제조 「YX6954」, 불휘발 성분 30질량%의 MEK와 사이클로헥산온의 1:1 용액) 40부를 MEK 5부, 사이클로헥산온 5부에 교반하면서 가열 용해시켰다. 거기에, 페놀노볼락계 경화제(DIC(주) 제조 「LA-7054」(트리아진 골격 함유 페놀계 경화제)의 불휘발 성분 60%의 MEK 용액, 페놀성 수산기 당량 124, 비중 1.2g/㎤) 30부, 경화 촉진제(시코쿠가세이고교(주) 제조 「2E4MZ」, 비중 1.1g/㎤) 0.1부, 무기 충전재(평균 입자 직경 0.5㎛, 비중 2.2g/㎤, 아도마텍스(주) 제조 「SO-C2」를 아미노실란계 커플링제(신에츠가가쿠고교(주) 제조 「KBM573」)로 처리한 실리카) 150부, 자성 필러(엡손아토믹스(주) 제조 「AW2-08PF3F」, Fe-Cr-Si계 합금(비정질), 평균 입자 직경 3.0㎛, 비중 7.0g/㎤) 360부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산시켜, 수지 바니쉬를 조제하고, 실시예 1과 같이 하여 접착 필름을 수득하였다. (Epoxy equivalent: 190, specific gravity: 1.2 g / cm 3, &quot; jER828EL &quot;, manufactured by Mitsubishi Kagaku K.K.) and 14 parts of a biphenyl type epoxy resin (epoxy equivalent: 291, specific gravity: 1.2 g / 14 parts of a phenoxy resin (weight average molecular weight: 38000, specific gravity: 1.2 g / cm3, "YX6954" manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., Ltd., MEK having a nonvolatile component of 30 mass% and cyclohexanone 1: 1 solution) were dissolved by heating in 5 parts of MEK and 5 parts of cyclohexanone with stirring. A MEK solution of 60% of a non-volatile component of phenol novolak type curing agent ("LA-7054" (phenol type curing agent containing triazine skeleton) manufactured by DIC Corporation, phenolic hydroxyl equivalent 124, specific gravity 1.2 g / (Average particle diameter: 0.5 mu m, specific gravity: 2.2 g / cm &lt; 3 &gt;, manufactured by Adomex Co., Ltd.), 30 parts of a curing accelerator (&quot; 2E4MZ &quot;, manufactured by Shikoku Chemical Industry Co., Ltd., specific gravity: 1.1 g / 150 parts of a magnetic filler ("AW2-08PF3F" manufactured by Epson Atomics Co., Ltd., Fe-Cr (trade name, manufactured by Epson Corp.) , 360 parts of an amorphous silicon-based alloy (amorphous), an average particle diameter of 3.0 탆, and a specific gravity of 7.0 g / cm 3) were mixed and uniformly dispersed with a high-speed rotary mixer to prepare a resin varnish. Respectively.

<실시예 9>&Lt; Example 9 >

실시예 8에 있어서, 무기 충전재를, 평균 입자 직경 1㎛, 비중 2.2g/㎤, 아도마텍스(주) 제조 「SO-C4」를 아미노실란계 커플링제(신에츠가가쿠고교(주) 제조 「KBM573」)로 처리한 실리카) 150부로 한 것 이외에는, 실시예 8과 같이 하여 접착 필름을 수득하였다. The inorganic filler was obtained in the same manner as in Example 8, except that the inorganic filler was changed to an aminosilane-based coupling agent (manufactured by Shinetsu Kagaku Kogyo Co., Ltd.) with an average particle diameter of 1 탆, a specific gravity of 2.2 g / Quot; KBM573 &quot;)) was used in place of 150 parts of the polyimide resin.

<실시예 10>&Lt; Example 10 >

실시예 8에 있어서, 무기 충전재를, 평균 입자 직경 2㎛, 비중 2.2g/㎤, 아도마텍스(주) 제조 「SO-C6」을 아미노실란계 커플링제(신에츠가가쿠고교(주) 제조 「KBM573」)로 처리한 실리카) 150부로 한 것 이외에는, 실시예 8과 같이 하여 접착 필름을 수득하였다. The inorganic filler was obtained in the same manner as in Example 8, except that the inorganic filler was changed to an aminosilane-based coupling agent (manufactured by Shinetsu Kagaku Kogyo Co., Ltd., &quot;Quot; KBM573 &quot;)) was used in place of 150 parts of the polyimide resin.

<비교예 1>&Lt; Comparative Example 1 &

실시예 1에 있어서, 자성 필러(엡손아토믹스(주) 제조 「AW2-08PF3F」, 평균 입자 직경 3.0㎛, 비중 7.0g/㎤)를 사용하지 않고, 무기 충전재(평균 입자 직경 0.5㎛, 비중 2.2g/㎤, 아도마텍스(주) 제조 「SO-C2」를 아미노실란계 커플링제(신에츠가가쿠고교(주) 제조 「KBM573」)로 처리한 실리카)의 양을 70부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 같이 하여 접착 필름을 수득하였다. (Having an average particle diameter of 0.5 탆 and a specific gravity of 2.2) was obtained in the same manner as in Example 1, except that a magnetic filler ("AW2-08PF3F" manufactured by Epson Atomics, average particle diameter of 3.0 탆, specific gravity of 7.0 g / (silica treated with an amino silane coupling agent "KBM573" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) ("SO-C2" manufactured by Adomex Co., Ltd.) was changed to 70 parts An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1.

<비교예 2>&Lt; Comparative Example 2 &

실시예 1에 있어서, 자성 필러(평균 입자 직경 3.0㎛, 엡손아토믹스(주) 제조 「AW2-08PF3F」, 비중 7.0g/㎤)의 양을 700부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 같이 하여 접착 필름을 수득하였다. Except that the amount of the magnetic filler (average particle diameter 3.0 탆, "AW2-08PF3F" manufactured by Epson Atomics Co., Ltd., specific gravity: 7.0 g / cm 3) was changed to 700 parts in Example 1, A film was obtained.

<비교예 3>&Lt; Comparative Example 3 &

실시예 1에 있어서, 무기 충전재를 사용하지 않고, 자성 필러(평균 입자 직경 3.0㎛, 엡손아토믹스(주) 제조 「AW2-08PF3F」, 비중 7.0g/㎤)를 210부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 같이 하여 접착 필름을 수득하였다. Except that the inorganic filler was not used and 210 parts of the magnetic filler (average particle diameter 3.0 탆, "AW2-08PF3F" manufactured by Epson Atomics Co., Ltd., specific gravity 7.0 g / ㎤) was used in Example 1 1, an adhesive film was obtained.

<비교예 4>&Lt; Comparative Example 4 &

실시예 1에 있어서, 무기 충전재(평균 입자 직경 0.5㎛, 비중 2.2g/㎤, 아도마텍스(주) 제조 「SO-C2」를 아미노실란계 커플링제(신에츠가가쿠고교(주) 제조 「KBM573」)로 처리한 실리카)의 양을 600부로 하고, 자성 필러(평균 입자 직경 3.0㎛, 엡손아토믹스(주) 제조 「AW2-08PF3F」, 비중 7.0g/㎤)의 양을 290부로 한 것 이외에는, 실시예 1과 같이 하여 접착 필름을 수득하였다. In the same manner as in Example 1 except that an inorganic filler (average particle diameter 0.5 탆, specific gravity 2.2 g / cm 3, "SO-C2" manufactured by Adomatex KK was replaced with an amino silane coupling agent "KBM573 (Shinetsu Kagaku Kogyo Co., Except that the amount of the magnetic filler (average particle diameter 3.0 占 퐉, "AW2-08PF3F" manufactured by Epson Atomics Co., Ltd., specific gravity 7.0 g / cm3) was changed to 290 parts , An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1.

실시예 1 내지 7 및 비교예 1 내지 4 각각에 이러한 수지 바니쉬의 불휘발 성분 양 환산에서의 조성을 하기 표 1에 기재한다. 실시예 8 내지 10 각각에 이러한 수지 바니쉬의 불휘발 성분 양 환산에서의 조성을 하기 표 2에 기재한다. In each of Examples 1 to 7 and Comparative Examples 1 to 4, the composition in terms of the amount of the nonvolatile component of such a resin varnish is shown in Table 1 below. The compositions of these resin varnishes in terms of the nonvolatile component amounts in Examples 8 to 10 are shown in Table 2 below.

Figure pat00001
Figure pat00001

Figure pat00002
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<투자율의 측정 방법>&Lt; Measurement method of permeability >

실시예 1 내지 8 및 비교예 1 내지 4 각각에 있어서, 지지체로서, 불소 수지계 이형제(ETFE) 처리를 실시한 PET 필름(미쯔비시쥬시(주) 제조 「플루오로주 RL50KSE」)을 사용한 것 이외에는 같이 하여, 각 실시예 및 각 비교예와 동일한 수지 조성물 층을 갖는 접착 필름을 수득하였다. 수득된 접착 필름을 180℃에서 90분간 가열함으로써 수지 조성물 층을 열경화하고, 지지체를 박리함으로써 시트상의 경화체를 수득하였다. 수득된 경화체를, 폭 5mm, 길이 18mm의 시험편으로 절단하고, 평가 샘플로 하였다. 이러한 평가 샘플을, 아질렌트테크놀로지즈(Agilent Technologies)사 제조 「HP8362B」(상품명)을 사용하고, 단락 스트립 라인법으로 측정 주파수를 100MHz 내지 10GHz인 범위로 하고, 실온 23℃에서 투자율(μ') 및 투자 손실(μ'')을 측정하였다. 측정 주파수가 1GHz 및 3GHz인 경우의 투자율, 측정 주파수가 1GHz 및 3GHz인 경우의 투자 손실을 하기 표 3 및 4에 기재한다. Except that a PET film (&quot; Fluoro RL50KSE &quot;, manufactured by Mitsubishi Jushi Co., Ltd.) subjected to a fluororesin-based releasing agent (ETFE) treatment was used as a support in each of Examples 1 to 8 and Comparative Examples 1 to 4, An adhesive film having the same resin composition layers as in each of the Examples and Comparative Examples was obtained. The obtained adhesive film was heated at 180 캜 for 90 minutes to thermally cure the resin composition layer, and the support was peeled off to obtain a sheet-form cured body. The obtained cured product was cut into test pieces having a width of 5 mm and a length of 18 mm to obtain evaluation samples. Using this evaluation sample, "HP8362B" (trade name) manufactured by Agilent Technologies was used, and the measurement frequency was set in the range of 100 MHz to 10 GHz by short-circuit strip line method, and the permeability (μ ' And investment loss (μ ''). The investment loss when the measurement frequencies are 1 GHz and 3 GHz and the investment loss when the measurement frequencies are 1 GHz and 3 GHz are shown in Tables 3 and 4 below.

<절연성의 평가>&Lt; Evaluation of insulation property &

실시예 1 내지 8 및 비교예 1 내지 4에서 수득된 접착 필름 각각을, 메이키세사쿠쇼(주) 제조의 배치식 진공 가압 라미네이터「MVLP-500」(상품명)을 사용하여, 라인 및 스페이스의 폭을 L(라인)/S(스페이스)=15㎛/15㎛로 하고, 회로(배선 패턴)의 두께가 8㎛인 빗형 배선 패턴이 형성된 두께가 38㎛인 폴리이미드 필름의 배선 패턴측에 라미네이트하였다. 이러한 라미네이트에 의해 형성된 접착 필름으로부터 PET 필름을 박리하고, 180℃, 90분간의 가열 처리를 실시함으로써 열경화시켜 절연층을 형성하였다. 수득된 적층 구조체를 평가용 샘플로 하였다. Each of the adhesive films obtained in Examples 1 to 8 and Comparative Examples 1 to 4 was laminated by using a batch vacuum pressure laminator "MVLP-500" (trade name) manufactured by Meikisha Sakusho Co., Ltd., Was laminated on the side of the wiring pattern of a polyimide film having a thickness of 38 mu m and a comb-shaped wiring pattern having a thickness of 8 mu m was formed, with L (line) / S (space) = 15 mu m / 15 mu m . The PET film was peeled off from the adhesive film formed by the laminate and heat-cured by heating at 180 DEG C for 90 minutes to form an insulating layer. The obtained laminated structure was used as an evaluation sample.

우선 수득된 평가용 샘플에 3.3V의 전압을 인가함으로써, 초기 저항 값을 측정하였다. 또한 평가용 샘플에 3.3V의 전압을 인가하면서, 130℃, 상대습도 85%의 조건의 분위기 중에 100시간 방치하였다. 100시간 방치 후(HAST 100시간 후)에 절연 저항 값의 저하가 관찰되지 않은 샘플을 생존으로 하는, 시험편 생존율을 산출하였다. 또한 시험편 생존율의 산출시에는, 100시간 방치 후의 절연층의 절연 저항 값이 1.0×106Ω을 초과하고 있는 경우를 「생존」이라고 평가하고, 100시간 방치 후의 절연층의 절연 저항 값이 1.0×106Ω 이하인 경우를 「비생존」이라고 평가하였다. 결과를 하기 표 3 및 4 에 기재한다. 또한 비교예 4에 따르는 접착 필름은, 성형성에 문제가 있었기 때문에 시험편 생존율이 시험 불가능하며, 비교예 4에 관해서는 초기 저항 값에 관해서도 시험 불가능하였다. First, a voltage of 3.3 V was applied to the obtained evaluation sample to measure the initial resistance value. Further, while a voltage of 3.3 V was applied to the sample for evaluation, the sample was allowed to stand in an atmosphere at 130 캜 and a relative humidity of 85% for 100 hours. The survival rate of the test piece was calculated by letting the survival of the sample not lowering the insulation resistance value after 100 hours of storage (after 100 hours of HAST). In the calculation of the specimen survival rate, the case where the insulation resistance value of the insulation layer after 100 hours of operation exceeds 1.0 x 10 &lt; 6 &gt; is evaluated as &quot; 10 6 Ω or less was evaluated as "non-viable". The results are shown in Tables 3 and 4 below. Also, the adhesive film according to Comparative Example 4 had a problem in moldability, so that the test piece survival rate could not be tested, and in Comparative Example 4, the initial resistance value was also impossible to test.

<라미네이트성의 평가>&Lt; Evaluation of lamination property &

실시예 1 내지 8 및 비교예 1 내지 4에서 수득된 접착 필름 각각을 메이키세사쿠쇼(주) 제조의 배치식 진공 가압 라미네이터「MVLP-500」(상품명)을 사용하고, 배선판의 양면에 라미네이트하였다. 라미네이트는 30초간 감압하여 기압을 13hPa 이하로 하고, 그 후 100℃, 가압력을 0.74MPa로 하여 30초간 프레스함으로써 실시하였다. 평가는, 하기의 평가 기준에 따라, 수득된 적층 구조체의 외관을 검사함으로써 실시하였다. 결과를 하기 표 3 및 표 4에 기재한다. Each of the adhesive films obtained in Examples 1 to 8 and Comparative Examples 1 to 4 was laminated on both sides of a wiring board using a batch vacuum pressure laminator &quot; MVLP-500 &quot; (trade name) manufactured by Meikisha Sakusho Co., . The laminate was decompressed for 30 seconds to set the atmospheric pressure to 13 hPa or less, and then press at 100 DEG C for 30 seconds with a pressing force of 0.74 MPa. The evaluation was carried out by examining the appearance of the obtained laminated structure according to the following evaluation criteria. The results are shown in Tables 3 and 4 below.

평가 기준Evaluation standard

○: 배선판의 회로 부분에 보이드가 없고, 접착 필름에 유래하는 수지 조성물이 충분히 플로우하고 있다. ?: There is no void in the circuit portion of the wiring board, and the resin composition derived from the adhesive film sufficiently flows.

×: 배선판의 회로 부분에 보이드가 발생하고 있고, 접착 필름에 유래하는 수지 조성물의 라미네이트시의 유동성이 부족하다. X: voids are generated in the circuit part of the wiring board, and the fluidity of the resin composition derived from the adhesive film during lamination is insufficient.

Figure pat00003
Figure pat00003

Figure pat00004
Figure pat00004

본 발명의 실시예에 따르는 상기 조성을 갖는 수지 조성물은 절연층 형성시의 유동성이 우수하고, 절연층(경화체)으로 했을 때의 배선층의 봉지성이 우수한 것을 알 수 있었다. 또한 이러한 수지 조성물을 함유하는 수지 조성물 층을 구비하는 접착 필름을 사용하여 형성된 절연층은, 주파수가 1GHz 이상인 고주파대역(기가헤르츠대), 특히 1GHz 내지 3GHz인 범위에 있어서의 투자율이 향상되고 있고, 또한 자성 손실이 억제되어 있는 것을 알 수 있었다. 또한, 시험편 생존율의 결과로부터 명확한 바와 같이, 상기 조성을 갖는 수지 조성물로 형성된 절연층은, 절연성의 신뢰성이 우수한 것을 알 수 있었다. 따라서, 본 발명의 접착 필름을 사용하면, 보다 고성능의 고주파대역용 인덕터 소자가 만들어 넣어진 배선판을, 간편한 공정으로 제공할 수 있다. It was found that the resin composition having the above composition according to the embodiment of the present invention is excellent in fluidity at the time of forming the insulating layer and excellent in the sealing property of the wiring layer when the insulating layer (cured body) is used. In addition, the insulating layer formed by using the adhesive film having the resin composition layer containing such a resin composition has improved magnetic permeability in a high frequency band (gigahertz band) with a frequency of 1 GHz or more, particularly 1 GHz to 3 GHz, It was also found that the magnetic loss was suppressed. Further, as is clear from the results of the test piece survival rate, it was found that the insulating layer formed of the resin composition having the above composition had excellent insulation reliability. Therefore, by using the adhesive film of the present invention, it is possible to provide a wiring board on which a higher-performance inductor element for a high-frequency band is formed by a simple process.

10 배선판
20 코어 기재(내층 회로 기판)
20a 제1 주표면
20b 제2 주표면
22 스루홀
22a 스루홀 내 배선
24 외부 단자
30 절연부
32 제1 절연층
34 제2 절연층
36 비아 홀
36a 비아 홀 내 배선
40 코일상 도전성 구조체
42 제1 배선층
42a 랜드
44 제2 배선층
10 wiring board
20 core substrate (inner layer circuit board)
20a first main surface
20b Second main surface
22 Through Hole
22a Through-hole wiring
24 external terminal
30 insulation part
32 first insulation layer
34 second insulating layer
36 via hole
36a wiring in via hole
40 Coil-type conductive structure
42 First wiring layer
42a land
44 Second wiring layer

Claims (20)

지지체와, 당해 지지체에 설치된 수지 조성물 층을 갖는 접착 필름으로서,
상기 수지 조성물 층이, 성분 (A) 열경화성 수지, 성분 (B) 자성 필러, 및 성분 (C) 무기 충전재를 함유하고,
상기 수지 조성물 층을 구성하는 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100체적%로 하는 경우에, 성분 (B)의 함유량이 10체적% 이상이며, 또한 성분 (C)의 함유량을 성분 (B)의 함유량으로 나눈 값이 0.3 내지 3.0의 범위인, 접착 필름.
As an adhesive film having a support and a resin composition layer provided on the support,
Wherein the resin composition layer contains a thermosetting resin of component (A), a magnetic filler of component (B), and an inorganic filler of component (C)
Wherein the content of the component (B) is 10% by volume or more and the content of the component (C) is the content of the component (B) when the nonvolatile component in the resin composition constituting the resin composition layer is 100% And the value divided by the range of 0.3 to 3.0.
제1항에 있어서, 성분 (A)가 에폭시 수지이며, 상기 수지 조성물이 페놀계 경화제 및 나프톨계 경화제로부터 선택되는 에폭시 수지 경화제를 추가로 함유하는, 접착 필름.The adhesive film according to claim 1, wherein the component (A) is an epoxy resin, and the resin composition further comprises an epoxy resin curing agent selected from a phenol-based curing agent and a naphthol-based curing agent. 제2항에 있어서, 에폭시 수지 경화제가 트리아진 골격 함유 크레졸계 경화제 및 트리아진 골격 함유 페놀계 경화제로부터 선택되는, 접착 필름.The adhesive film according to claim 2, wherein the epoxy resin curing agent is selected from triazine skeleton-containing cresol-based curing agents and triazine skeleton-containing phenol-based curing agents. 제1항에 있어서, 상기 수지 조성물이 열가소성 수지를 추가로 함유하는, 접착 필름.The adhesive film according to claim 1, wherein the resin composition further contains a thermoplastic resin. 제1항에 있어서, 상기 수지 조성물 중, 성분 (B)의 함유량이 10체적% 내지 40체적%이며, 또한 성분 (C)의 함유량이 10체적% 내지 50체적%인, 접착 필름.The adhesive film according to claim 1, wherein the content of the component (B) in the resin composition is 10% by volume to 40% by volume and the content of the component (C) is 10% by volume to 50% by volume. 제1항에 있어서, 상기 수지 조성물 중, 성분 (B)와 성분 (C)의 함유량의 합계가 20체적% 내지 75체적%인, 접착 필름.The adhesive film according to claim 1, wherein the total content of the component (B) and the component (C) in the resin composition is 20% by volume to 75% by volume. 제1항에 있어서, 상기 수지 조성물 중, 성분 (B)의 함유량이 10체적% 내지 25체적%인, 접착 필름.The adhesive film according to claim 1, wherein the content of the component (B) in the resin composition is 10% by volume to 25% by volume. 제1항에 있어서, 상기 수지 조성물 중, 성분 (B)의 함유량이 20체적% 내지 25체적%이며, 성분 (C)의 함유량이 10체적% 내지 25체적%이며, 또한 성분 (B)와 성분 (C)의 함유량의 합계가 30체적% 내지 50체적%인, 접착 필름.The resin composition according to claim 1, wherein the content of the component (B) in the resin composition is 20 to 25% by volume, the content of the component (C) is 10 to 25% by volume, (C) is 30% by volume to 50% by volume. 제1항에 있어서, 상기 수지 조성물 중, 성분 (B)의 평균 입자 직경이 0.3㎛ 내지 10㎛인, 접착 필름.The adhesive film according to claim 1, wherein an average particle diameter of the component (B) in the resin composition is from 0.3 탆 to 10 탆. 제1항에 있어서, 성분 (C)의 평균 입자 직경이 0.01㎛ 내지 5㎛인, 접착 필름.The adhesive film according to claim 1, wherein the component (C) has an average particle diameter of 0.01 탆 to 5 탆. 제1항에 있어서, 성분 (B)의 평균 입자 직경이 성분 (C)의 평균 입자 직경보다도 큰, 접착 필름.The adhesive film according to claim 1, wherein an average particle diameter of the component (B) is larger than an average particle diameter of the component (C). 제1항에 있어서, 성분 (C)가 실리카인, 접착 필름.The adhesive film according to claim 1, wherein component (C) is silica. 제1항에 있어서, 성분 (C)가 표면처리제로 처리되어 있는 실리카인, 접착 필름.The adhesive film according to claim 1, wherein the component (C) is silica treated with a surface treatment agent. 제13항에 있어서, 표면처리제가 아미노실란계 커플링제인, 접착 필름.14. The adhesive film according to claim 13, wherein the surface treating agent is an aminosilane-based coupling agent. 제1항에 있어서, 경화체로 했을 때에, 주파수가 1GHz 내지 3GHz일 때의 투자율(透磁率)이 1.1 이상이며, 또한 주파수가 1GHz 내지 3GHz일 때의 자성 손실(磁性 損失)이 0.5 이하인, 접착 필름.The magnetic recording medium according to claim 1, which has a magnetic permeability (magnetic permeability) of 1.1 or more when the frequency is 1 GHz to 3 GHz and a magnetic loss (magnetic loss) of 0.5 or less when the frequency is 1 GHz to 3 GHz, . 제1항에 있어서, 경화체로 했을 때에, 주파수가 1GHz 내지 3GHz일 때의 투자율이 1.2 이상이며, 또한 주파수가 1GHz 내지 3GHz일 때의 자성 손실이 0.3 이하인, 접착 필름.The adhesive film according to claim 1, wherein the cured product has a magnetic permeability of 1.2 or more at a frequency of 1 GHz to 3 GHz and a magnetic loss of 0.3 or less at a frequency of 1 GHz to 3 GHz. 제1항에 있어서, 인덕터 소자를 구비하는 배선판의 절연층 형성에 사용되는, 접착 필름.The adhesive film according to claim 1, which is used for forming an insulating layer of a wiring board having an inductor element. 제1항 내지 제16항 중의 어느 한 항에 기재된 접착 필름의 수지 조성물 층의 경화체인 절연층과, 당해 절연층에 적어도 일부분이 매립된 코일상 도전성 구조체를 가지고 있으며,
상기 코일상 도전성 구조체와, 상기 절연층의 두께 방향으로 연장되고, 또한 상기 코일상 도전성 구조체로 둘러싸인 상기 절연층 중의 일부분에 의해 구성되는 인덕터 소자를 포함하는, 배선판.
An insulating layer which is a cured body of the resin composition layer of the adhesive film according to any one of claims 1 to 16 and a coil-shaped conductive structure in which at least a part of the insulating layer is embedded,
And an inductor element extending in the thickness direction of the insulating layer and constituted by a part of the insulating layer surrounded by the coil-shaped electrically conductive structure.
제18항에 있어서, 상기 인덕터 소자가 기능하는 주파수가 1GHz 이상인, 배선판.19. The circuit board according to claim 18, wherein a frequency at which the inductor element functions is 1 GHz or more. 제1 절연층 및 제2 절연층을 포함하는 절연부와, 당해 절연부에 적어도 일부분이 매립된 코일상 도전성 구조체를 가지고 있으며, 당해 코일상 도전성 구조체와 상기 절연부 중의 일부분에 의해 구성되는 인덕터 소자를 포함하는 배선판의 제조 방법으로서,
제1항 내지 제16항 중의 어느 한 항에 기재된 접착 필름, 및 제1 배선층이 설치된 코어 기재를 준비하는 공정과,
상기 코어 기재에 상기 접착 필름의 수지 조성물 층을 라미네이트하는 공정과,
상기 수지 조성물 층을 열경화하여 제1 절연층을 형성하는 공정과,
상기 제1 절연층에 비아 홀을 형성하는 공정과,
상기 비아 홀이 형성된 상기 제1 절연층에 대해 조화(粗化) 처리하는 공정과,
상기 제1 절연층에 제2 배선층을 형성하고, 상기 제1 배선층과 상기 제2 배선층을 전기적으로 접속하는 비아 홀 내 배선을 형성하는 공정과,
상기 제2 배선층 및 상기 비아 홀 내 배선이 형성된 상기 제1 절연층에 추가로 상기 접착 필름을 라미네이트하고, 열경화하여 상기 제2 절연층을 형성하는 공정과,
상기 제1 배선층의 일부분과 상기 제2 배선층의 일부분과 상기 비아 홀 내 배선을 포함하는 코일상 도전성 구조체, 및 상기 절연부의 두께 방향으로 연장되고, 또한 상기 코일상 도전성 구조체로 둘러싸인 상기 절연부의 일부분을 포함하는 상기 인덕터 소자를 형성하는 공정
을 포함하는, 배선판의 제조 방법.
An insulating portion including a first insulating layer and a second insulating layer, and a coil-shaped conductive structure in which at least a part of the insulating portion is embedded, wherein the coil-shaped conductive structure and an inductor element A method for manufacturing a wiring board,
A method for manufacturing a semiconductor device, comprising the steps of: preparing the adhesive film according to any one of claims 1 to 16 and a core substrate provided with a first wiring layer;
A step of laminating the resin composition layer of the adhesive film on the core substrate,
A step of thermally curing the resin composition layer to form a first insulating layer,
Forming a via hole in the first insulating layer;
A step of roughening the first insulating layer on which the via hole is formed,
A step of forming a second wiring layer in the first insulating layer and forming wiring in a via hole for electrically connecting the first wiring layer and the second wiring layer;
Laminating the adhesive film to the first insulating layer in which the second wiring layer and the wiring in the via hole are formed, and thermally curing the second insulating layer to form the second insulating layer;
A coil-shaped conductive structure including a portion of the first wiring layer, a portion of the second wiring layer, and the wiring in the via-hole; and a portion of the insulation portion extending in the thickness direction of the insulation portion and surrounded by the coil- Forming the inductor element including the step
And a step of forming the wiring board.
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