KR102656740B1 - Resin sheet with support - Google Patents

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Abstract

[과제] 삽입 손실을 저감시키고, 또한 삽입 손실의 편차를 억제하는 지지체 부착 수지 시트, 프린트 배선판, 및 반도체 장치의 제공.
[해결수단] 지지체와, 지지체 위에 마련된 수지 시트를 구비하고, 수지 시트는, 지지체측에 마련된 제1 수지 조성물에 의해 형성되는 제1 수지 조성물층과, 지지체측과는 반대측에 마련된 제2 수지 조성물에 의해 형성되는 제2 수지 조성물층을 갖고, 제1 수지 조성물 및 제2 수지 조성물의 조성은 각각 상이하고, 제1 수지 조성물의 열 경화물, 및 제2 수지 조성물의 열 경화물의 유전율이 모두 3.6 이하이고, 제1 및 제2 수지 조성물의 열 경화물의 유전 정접이 모두 0.01 이하이고, 유전 정접의 차가 0.005 이하인 지지체 부착 수지 시트.
[Project] Provision of a resin sheet with a support, a printed wiring board, and a semiconductor device that reduces insertion loss and suppresses variation in insertion loss.
[Solution] Equipped with a support and a resin sheet provided on the support, wherein the resin sheet includes a first resin composition layer formed by a first resin composition provided on the support side, and a second resin composition provided on the side opposite to the support side. It has a second resin composition layer formed by, the compositions of the first resin composition and the second resin composition are each different, and the dielectric constants of the heat-cured product of the first resin composition and the heat-cured product of the second resin composition are both 3.6. A resin sheet with a support body wherein the dielectric loss tangents of the heat-cured products of the first and second resin compositions are both 0.01 or less, and the difference in dielectric loss tangents is 0.005 or less.

Description

지지체 부착 수지 시트{RESIN SHEET WITH SUPPORT}Resin sheet with support body {RESIN SHEET WITH SUPPORT}

본 발명은 지지체 부착 수지 시트에 관한 것이다. 또한, 프린트 배선판 및 반도체 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a resin sheet with a support. It also relates to printed wiring boards and semiconductor devices.

프린트 배선판(이하 「배선판」이라고도 함)의 제조 방법으로서는, 회로 형성된 도체층과 절연층을 교대로 적층해 가는 빌드업 방식이 널리 사용되고 있고, 절연층은 2층으로 이루어진 수지 조성물층을 경화시켜 형성되는 것이 알려져 있다(예를 들면, 특허문헌 1 참조).As a manufacturing method for printed wiring boards (hereinafter also referred to as “wiring boards”), the build-up method of alternately laminating circuit-formed conductor layers and insulating layers is widely used, and the insulating layer is formed by curing a two-layer resin composition layer. It is known that this happens (for example, see Patent Document 1).

특허문헌 1: 일본 공개특허공보 특개2014-17301호Patent Document 1: Japanese Patent Application Laid-Open No. 2014-17301

그런데, 최근 정보 통신량이 증대하고 있어서 고주파 대역에 대응한 배선판이 요구되게 되었는데, 고주파 영역에서는 도체층 및 절연층의 두께 등의 영향을 받기 쉬워, 보다 정밀한 설계가 필요하다.However, as the amount of information communication has recently increased, wiring boards corresponding to high frequency bands have been required. However, in the high frequency region, it is easy to be influenced by the thickness of the conductor layer and insulating layer, and more precise design is required.

고주파 대역에 대응한 배선판에 있어서, 2층으로 이루어진 절연층의 계면의 삽입 손실(insertion loss)이 크면, 전기 신호가 열 및/또는 노이즈로 바뀌어, 신호 및 정보를 정확하게 전달할 수 없게 된다는 문제가 있다. 또한, 삽입 손실이 작아도, 삽입 손실의 편차가 크면 고속 신호의 안정성이 결여되어, 장치가 설계대로 작동하지 않고, 오작동을 일으키기 쉬워진다는 문제도 있다.In wiring boards corresponding to high frequency bands, if the insertion loss at the interface of the two-layer insulating layer is large, there is a problem in that the electrical signal is converted into heat and/or noise, making it impossible to accurately transmit signals and information. . In addition, even if the insertion loss is small, if the insertion loss variation is large, the stability of the high-speed signal is lacking, and there is a problem that the device does not operate as designed and is prone to malfunction.

본 발명의 과제는, 삽입 손실을 저감하고, 또한 삽입 손실의 편차를 억제하는 지지체 부착 수지 시트, 프린트 배선판, 및 반도체 장치를 제공하는 것을 과제로 한다.The object of the present invention is to provide a resin sheet with a support, a printed wiring board, and a semiconductor device that reduce insertion loss and suppress variation in insertion loss.

본 발명자들은, 상기 과제에 대해 예의 검토한 결과, 조성이 상이한 제1 수지 조성물층 및 제2 수지 조성물층을 구비하는 지지체 부착 수지 시트에 있어서, 제1 수지 조성물층을 구성하는 제1 수지 조성물의 열 경화물 및 제2 수지 조성물층을 구성하는 제2 수지 조성물의 열 경화물의 23℃에서의 5.8GHz에서의 유전율이 3.6 이하, 23℃에서의 5.8GHz에서의 유전 정접이 0.01 이하이고, 각각의 열 경화물의 유전 정접의 차를 0.005 이하로 함으로써, 상기 과제를 해결할 수 있음을 발견하여, 본 발명을 완성하기에 이르렀다.As a result of careful study of the above problem, the present inventors have found that, in a resin sheet with a support body provided with a first resin composition layer and a second resin composition layer having different compositions, the first resin composition constituting the first resin composition layer The heat-cured product of the second resin composition constituting the heat-cured product and the second resin composition layer has a dielectric constant of 3.6 or less at 5.8 GHz at 23°C, a dielectric loss tangent of 0.01 or less at 5.8 GHz at 23°C, and each It was discovered that the above problem could be solved by setting the difference in dielectric loss tangent of the thermosetting product to 0.005 or less, and the present invention was completed.

즉, 본 발명은 이하의 내용을 포함한다.That is, the present invention includes the following contents.

[1] 지지체와, 지지체 위에 마련된 수지 시트를 구비하는 지지체 부착 수지 시트로서,[1] A resin sheet attached to a support comprising a support and a resin sheet provided on the support,

수지 시트는, 지지체측에 마련된, 제1 수지 조성물에 의해 형성되는 제1 수지 조성물층과,The resin sheet includes a first resin composition layer provided on the support side and formed of the first resin composition,

지지체측과는 반대측에 마련된, 제2 수지 조성물에 의해 형성되는 제2 수지 조성물층을 갖고,It has a second resin composition layer formed of a second resin composition provided on the side opposite to the support side,

제1 수지 조성물 및 제2 수지 조성물의 조성은 각각 상이하고,The compositions of the first resin composition and the second resin composition are different, respectively,

제1 수지 조성물을 200℃에서 90분간 열 경화시켜서 수득되는 제1 열 경화물, 및 제2 수지 조성물을 200℃에서 90분간 열 경화시켜서 수득되는 제2 열 경화물의, 23℃에서의 5.8GHz에서의 유전율이 모두 3.6 이하이고,A first heat-cured product obtained by heat-curing a first resin composition at 200°C for 90 minutes, and a second heat-cured product obtained by heat-curing a second resin composition at 200°C for 90 minutes, at 5.8 GHz at 23°C. The dielectric constants are all less than 3.6,

제1 및 제2 열 경화물의 23℃에서의 5.8GHz에서의 유전 정접이 모두 0.01 이하이고,The dielectric loss tangents at 5.8 GHz at 23°C of the first and second heat-cured products are both 0.01 or less,

제1 및 제2 열 경화물의 유전 정접의 차가 0.005 이하인 것을 특징으로 하는, 지지체 부착 수지 시트.A resin sheet with a support, characterized in that the difference in dielectric loss tangent of the first and second heat cured products is 0.005 or less.

[2] [1]에 있어서, 제1 수지 조성물 및 제2 수지 조성물은 (a) 에폭시 수지를 포함하고, (a) 성분은 방향족 구조를 갖는 에폭시 수지인, 지지체 부착 수지 시트.[2] The resin sheet with a support according to [1], wherein the first resin composition and the second resin composition include (a) an epoxy resin, and component (a) is an epoxy resin having an aromatic structure.

[3] [1] 또는 [2]에 있어서, 제1 수지 조성물 및 제2 수지 조성물은 (b) 경화제를 포함하고, (b) 성분의 적어도 1종은 활성 에스테르 경화제인, 지지체 부착 수지 시트.[3] The resin sheet with a support according to [1] or [2], wherein the first resin composition and the second resin composition contain (b) a curing agent, and at least one type of component (b) is an active ester curing agent.

[4] [1] 내지 [3] 중 어느 한 항에 있어서, 제1 수지 조성물 및 제2 수지 조성물은 (c) 무기 충전재를 포함하고, 제1 수지 조성물 중의 (c) 성분의 함유량을 A1, 제2 수지 조성물 중의 (c) 성분의 함유량을 A2로 했을 때, A1<A2의 관계를 충족하는, 지지체 부착 수지 시트.[4] The first resin composition and the second resin composition according to any one of [1] to [3], wherein the first resin composition and the second resin composition contain (c) an inorganic filler, and the content of component (c) in the first resin composition is A1, A resin sheet with a support that satisfies the relationship of A1 < A2 when the content of component (c) in the second resin composition is set to A2.

[5] [1] 내지 [4] 중 어느 한 항에 있어서, 제1 및 제2 열 경화물의 23℃에서의 5.8GHz에서의 유전율이 모두 3.5 이하인, 지지체 부착 수지 시트.[5] The resin sheet with a support according to any one of [1] to [4], wherein the first and second heat-cured products both have dielectric constants of 5.8 GHz at 23°C of 3.5 or less.

[6] [1] 내지 [5] 중 어느 한 항에 있어서, 제1 및 제2 열 경화물의 23℃에서의 5.8GHz에서의 유전 정접이 모두 0.0095 이하인, 지지체 부착 수지 시트.[6] The resin sheet with a support according to any one of [1] to [5], wherein both the first and second heat-cured products have dielectric loss tangents at 5.8 GHz at 23°C of 0.0095 or less.

[7] [1] 내지 [6] 중 어느 한 항에 있어서, 1GHz 이상의 고주파 대역에서 사용되는, 지지체 부착 수지 시트.[7] The resin sheet with a support according to any one of [1] to [6], which is used in a high frequency band of 1 GHz or more.

[8] [1] 내지 [7] 중 어느 한 항에 기재된 지지체 부착 수지 시트에서의 수지 시트의 경화물에 의해 형성된 절연층을 포함하는, 프린트 배선판.[8] A printed wiring board comprising an insulating layer formed from a cured product of the resin sheet with a support body according to any one of [1] to [7].

[9] [8]에 있어서, 스트립 라인 구조를 구비하는, 프린트 배선판.[9] The printed wiring board according to [8], comprising a strip line structure.

[10] [8] 또는 [9]에 기재된 프린트 배선판을 포함하는, 반도체 장치.[10] A semiconductor device comprising the printed wiring board according to [8] or [9].

본 발명에 의하면, 삽입 손실을 저감하고, 또한 삽입 손실의 편차를 억제하는 지지체 부착 수지 시트, 프린트 배선판, 및 반도체 장치를 제공할 수 있게 되었다.According to the present invention, it is possible to provide a resin sheet with a support, a printed wiring board, and a semiconductor device that reduce insertion loss and suppress variation in insertion loss.

도 1은, 본 발명의 지지체 부착 수지 시트의 일 형태를 나타내는 모식도이다.
도 2는, 배선판의 제조 공정을 설명하기 위한 모식적인 단면도이다.
도 3은, 배선판의 제조 공정을 설명하기 위한 모식적인 단면도이다.
도 4는, 배선판의 제조 공정을 설명하기 위한 모식적인 단면도이다.
도 5는, 배선판의 제조 공정을 설명하기 위한 모식적인 단면도이다.
도 6은, 배선판의 제조 공정을 설명하기 위한 모식적인 단면도이다.
도 7은, 배선판의 제조 공정을 설명하기 위한 모식적인 단면도이다.
도 8은, 배선판의 제조 공정을 설명하기 위한 모식적인 단면도이다.
도 9는, 배선판의 제조 공정을 설명하기 위한 모식적인 단면도이다.
도 10은, 배선판의 제조 공정을 설명하기 위한 모식적인 단면도이다.
도 11은, 배선판의 제조 공정을 설명하기 위한 모식적인 단면도이다.
도 12는, 배선판의 제조 공정을 설명하기 위한 모식적인 단면도이다.
도 13은, 배선판의 제조 공정을 설명하기 위한 모식적인 단면도이다.
도 14는, 도 12의 단면에 직교하는 방향의 모식적인 단면도이다.
도 15는, 실시예에서 제작한 스트립 라인 전송 선로 평가 기판의 모식적인 단면도이다.
1 is a schematic diagram showing one form of a resin sheet with a support of the present invention.
Figure 2 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing process of the wiring board.
Figure 3 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing process of the wiring board.
Figure 4 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing process of the wiring board.
Figure 5 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing process of the wiring board.
Figure 6 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing process of the wiring board.
Figure 7 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing process of the wiring board.
Figure 8 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing process of the wiring board.
Figure 9 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing process of the wiring board.
Fig. 10 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing process of the wiring board.
Fig. 11 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing process of the wiring board.
Fig. 12 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing process of the wiring board.
Figure 13 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing process of the wiring board.
FIG. 14 is a schematic cross-sectional view in a direction perpendicular to the cross-section in FIG. 12.
Fig. 15 is a schematic cross-sectional view of the strip line transmission line evaluation board manufactured in the example.

이하, 본 발명의 지지체 부착 수지 시트, 프린트 배선판 및 반도체 장치에 대해 상세히 설명한다.Hereinafter, the resin sheet with a support body, the printed wiring board, and the semiconductor device of the present invention will be described in detail.

본 발명의 지지체 부착 수지 시트에 대해 상세하게 설명하기 전에, 본 발명의 지지체 부착 수지 시트에 있어서, 수지 시트에 포함되는 제1 수지 조성물층 및 제2 수지 조성물층을 형성할 때에 사용하는, 제1 수지 조성물 및 제2 수지 조성물에 대해 설명한다.Before explaining the resin sheet with a support of the present invention in detail, in the resin sheet with a support of the present invention, the first resin sheet used when forming the first resin composition layer and the second resin composition layer contained in the resin sheet. The resin composition and the second resin composition will be described.

(제1 수지 조성물)(First resin composition)

제1 수지 조성물층을 형성하는 제1 수지 조성물은 특별히 한정되지 않고, 이의 경화물이 충분한 절연성을 갖는 것이면 좋다. 제1 수지 조성물로서는, 예를 들면, 경화성 수지와 경화제를 포함하는 조성물이 열거된다. 경화성 수지로서는, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 사용되는 종래 공지의 경화성 수지를 사용할 수 있고, 그 중에서도 에폭시 수지가 바람직하다. 따라서, 일 실시형태에 있어서, 제1 수지 조성물은, (a) 에폭시 수지, (b) 경화제 및 (c) 무기 충전재를 포함한다. 제1 수지 조성물은 필요에 따라 추가로 열가소성 수지, 경화 촉진제, 난연제 및 유기 충전제를 포함하고 있어도 좋다.The first resin composition forming the first resin composition layer is not particularly limited, as long as its cured product has sufficient insulating properties. Examples of the first resin composition include compositions containing a curable resin and a curing agent. As the curable resin, conventionally known curable resins used when forming the insulating layer of a printed wiring board can be used, and among these, epoxy resin is preferable. Accordingly, in one embodiment, the first resin composition includes (a) an epoxy resin, (b) a curing agent, and (c) an inorganic filler. The first resin composition may further contain a thermoplastic resin, a curing accelerator, a flame retardant, and an organic filler as needed.

이하, 제1 수지 조성물의 재료로서 사용할 수 있는 각 성분에 대해 상세하게 설명한다.Hereinafter, each component that can be used as a material for the first resin composition will be described in detail.

-(a) 에폭시 수지--(a) Epoxy resin-

에폭시 수지로서는 예를 들면, 비크실레놀형 에폭시 수지, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 S형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀형 에폭시 수지, 나프톨 노볼락형 에폭시 수지, 페놀 노볼락형 에폭시 수지, tert-부틸-카테콜형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 글리시딜 아민형 에폭시 수지, 글리시딜 에스테르형 에폭시 수지, 크레졸 노볼락형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 선형 지방족 에폭시 수지, 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지, 지환식 에폭시 수지, 복소환식 에폭시 수지, 스피로환 함유 에폭시 수지, 사이클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 나프틸렌 에테르형 에폭시 수지, 트리메틸롤형 에폭시 수지, 테트라페닐에탄형 에폭시 수지 등이 열거된다. 에폭시 수지는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다. (a) 성분은, 방향족 구조를 갖는 에폭시 수지인 것이 바람직하고, 비크실레놀형 에폭시 수지, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 및 나프탈렌형 에폭시 수지로부터 선택되는 1종 이상인 것이 보다 바람직하다. 방향족 구조란, 일반적으로 방향족이라고 정의되는 화학 구조이며, 다환 방향족 및 방향족 복소환도 포함한다.Examples of epoxy resins include bixylenol type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, and trisphenol type epoxy resin. , naphthol novolac type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, tert-butyl-catechol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, glycidyl amine type epoxy resin, glycidyl Ester-type epoxy resin, cresol novolac-type epoxy resin, biphenyl-type epoxy resin, linear aliphatic epoxy resin, epoxy resin with butadiene structure, alicyclic epoxy resin, heterocyclic epoxy resin, spiro ring-containing epoxy resin, cyclohexanedimethanol type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, trimethylol type epoxy resin, tetraphenylethane type epoxy resin, etc. are listed. Epoxy resins may be used individually, or two or more types may be used in combination. The component (a) is preferably an epoxy resin having an aromatic structure, and is selected from bixylenol type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, and naphthalene type epoxy resin. It is more preferable that there are more than one species. An aromatic structure is a chemical structure generally defined as aromatic, and also includes polycyclic aromatics and aromatic heterocycles.

에폭시 수지는 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지를 포함하는 것이 바람직하다. 에폭시 수지의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우에, 적어도 50질량% 이상은 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지인 것이 바람직하다. 그 중에서도, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖고, 온도 20℃에서 액상의 에폭시 수지(이하 「액상 에폭시 수지」라고 함.)와, 1분자 중에 3개 이상의 에폭시기를 갖고, 온도 20℃에서 고체상의 에폭시 수지(이하 「고체상 에폭시 수지」라고 함)를 포함하는 것이 바람직하다. 에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 병용함으로써, 우수한 가소성을 갖는 수지 조성물이 수득된다. 또한, 수지 조성물의 경화물의 파단 강도도 향상된다.It is preferable that the epoxy resin contains an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule. When the non-volatile component of the epoxy resin is 100% by mass, it is preferable that at least 50% by mass or more is an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule. Among them, an epoxy resin that has two or more epoxy groups in one molecule and is in a liquid state at a temperature of 20°C (hereinafter referred to as “liquid epoxy resin”), and an epoxy resin that has three or more epoxy groups in one molecule and is in a solid state at a temperature of 20°C. It is preferable to include an epoxy resin (hereinafter referred to as “solid epoxy resin”). As an epoxy resin, a resin composition with excellent plasticity is obtained by using a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin in combination. Additionally, the breaking strength of the cured product of the resin composition is also improved.

액상 에폭시 수지로서는, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 글리시딜 에스테르형 에폭시 수지, 글리시딜 아민형 에폭시 수지, 페놀 노볼락형 에폭시 수지, 에스테르 골격을 갖는 지환식 에폭시 수지, 사이클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 글리시딜 아민형 에폭시 수지, 및 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지가 바람직하고, 글리시딜 아민형 에폭시 수지, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지 및 나프탈렌형 에폭시 수지가 보다 바람직하다. 액상 에폭시 수지의 구체예로서는, DIC (주) 제조의 「HP4032」, 「HP4032D」, 「HP4032SS」(나프탈렌형 에폭시 수지), 미츠비시 카가쿠 (주) 제조의 「828US」, 「jER828EL」,「825」(비스페놀 A형 에폭시 수지), 「jER807」,「1750」(비스페놀 F형 에폭시 수지), 「jER152」(페놀 노볼락형 에폭시 수지), 「630」, 「630LSD」(글리시딜 아민형 에폭시 수지), 신닛테츠 스미킨 카가쿠 (주) 제조의 「ZX1059」(비스페놀 A형 에폭시 수지와 비스페놀 F형 에폭시 수지의 혼합품), 나가세 켐텍스 (주) 제조의 「EX-721」(글리시딜 에스테르형 에폭시 수지), (주) 다이셀 제조의 「셀록사이드 2021P」(에스테르 골격을 갖는 지환식 에폭시 수지), 「PB-3600」(부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지), 신닛테츠 카가쿠 (주) 제조의「ZX1658」,「ZX1658GS」(액상 1,4-글리시딜사이클로헥산), 미츠비시 카가쿠 (주) 제조의「630LSD」(글리시딜 아민형 에폭시 수지) 등이 열거된다. 이들은 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다.Liquid epoxy resins include bisphenol A-type epoxy resin, bisphenol F-type epoxy resin, bisphenol AF-type epoxy resin, naphthalene-type epoxy resin, glycidyl ester-type epoxy resin, glycidyl amine-type epoxy resin, and phenol novolak-type epoxy resin. , alicyclic epoxy resins having an ester skeleton, cyclohexanedimethanol type epoxy resins, glycidyl amine type epoxy resins, and epoxy resins having a butadiene structure are preferred, and glycidyl amine type epoxy resins and bisphenol A type epoxy resins. , bisphenol F type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, and naphthalene type epoxy resin are more preferable. Specific examples of liquid epoxy resins include "HP4032", "HP4032D", and "HP4032SS" (naphthalene-type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation, and "828US", "jER828EL", and "825" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation. (bisphenol A type epoxy resin), “jER807”, “1750” (bisphenol F type epoxy resin), “jER152” (phenol novolac type epoxy resin), “630”, “630LSD” (glycidyl amine type epoxy resin) ), “ZX1059” (mixture of bisphenol A-type epoxy resin and bisphenol F-type epoxy resin) manufactured by Shinnittetsu Sumikin Chemical Co., Ltd., “EX-721” (glycidyl) manufactured by Nagase Chemtex Co., Ltd. Ester type epoxy resin), “Celoxide 2021P” (alicyclic epoxy resin with an ester skeleton) manufactured by Daicel Co., Ltd., “PB-3600” (epoxy resin with a butadiene structure), Nippon Chemical Co., Ltd. “ZX1658” and “ZX1658GS” (liquid 1,4-glycidylcyclohexane) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, and “630LSD” (glycidyl amine type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation. These may be used individually, or two or more types may be used in combination.

고체상 에폭시 수지로서는, 나프탈렌형 4관능 에폭시 수지, 크레졸 노볼락형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 나프틸렌 에테르형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 테트라페닐에탄형 에폭시 수지가 바람직하고, 나프탈렌형 4관능 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 및 비페닐형 에폭시 수지가 보다 바람직하다. 고체상 에폭시 수지의 구체예로서는, DIC (주) 제조의 「HP4032H」(나프탈렌형 에폭시 수지), 「HP-4700」, 「HP-4710」(나프탈렌형 4관능 에폭시 수지), 「N-690」(크레졸 노볼락형 에폭시 수지), 「N-695」(크레졸 노볼락형 에폭시 수지), 「HP-7200」(디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지), 「HP-7200HH」, 「HP-7200H」, 「EXA-7311」, 「EXA-7311-G3」, 「EXA-7311-G4」, 「EXA-7311-G4S」, 「HP6000」(나프틸렌 에테르형 에폭시 수지), 니혼 카야쿠 (주) 제조의 「EPPN-502H」(트리스페놀형 에폭시 수지), 「NC7000L」(나프톨 노볼락형 에폭시 수지), 「NC3000H」, 「NC3000」, 「NC3000L」, 「NC3100」(비페닐형 에폭시 수지), 신닛테츠 스미킨 카가쿠 (주) 제조의 「ESN475V」(나프탈렌형 에폭시 수지), 「ESN485」(나프톨 노볼락형 에폭시 수지), 미츠비시 카가쿠 (주) 제조의 「YX4000H」, 「YL6121」(비페닐형 에폭시 수지), 「YX4000HK」(비크실레놀형 에폭시 수지), 「YX8800」(안트라센형 에폭시 수지), 오사카 가스 케미컬 (주) 제조의 「PG-100」, 「CG-500」, 미츠비시 카가쿠 (주) 제조의 「YL7760」(비스페놀 AF형 에폭시 수지), 「YL7800」(플루오렌형 에폭시 수지), 미츠비시 카가쿠 (주) 제조의 「jER1010」(고체상 비스페놀 A형 에폭시 수지), 「jER1031S」(테트라페닐에탄형 에폭시 수지) 등이 열거된다. 이들은 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다.As solid epoxy resins, naphthalene type tetrafunctional epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, trisphenol type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, and naphthylene ether type epoxy resin. , anthracene-type epoxy resin, bisphenol A-type epoxy resin, and tetraphenylethane-type epoxy resin are preferable, and naphthalene-type tetrafunctional epoxy resin, naphthol-type epoxy resin, and biphenyl-type epoxy resin are more preferable. Specific examples of solid epoxy resins include "HP4032H" (naphthalene type epoxy resin), "HP-4700", "HP-4710" (naphthalene type tetrafunctional epoxy resin), and "N-690" (cresol) manufactured by DIC Co., Ltd. novolak type epoxy resin), “N-695” (cresol novolac type epoxy resin), “HP-7200” (dicyclopentadiene type epoxy resin), “HP-7200HH”, “HP-7200H”, “EXA -7311", "EXA-7311-G3", "EXA-7311-G4", "EXA-7311-G4S", "HP6000" (naphthylene ether type epoxy resin), "EPPN" manufactured by Nihon Kayaku Co., Ltd. -502H” (trisphenol-type epoxy resin), “NC7000L” (naphthol novolak-type epoxy resin), “NC3000H”, “NC3000”, “NC3000L”, “NC3100” (biphenyl-type epoxy resin), Shinnittetsu Sumikin “ESN475V” (naphthalene-type epoxy resin), “ESN485” (naphthol novolak-type epoxy resin) manufactured by Kagaku Co., Ltd., “YX4000H” and “YL6121” (biphenyl-type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. ), “YX4000HK” (bixylenol-type epoxy resin), “YX8800” (anthracene-type epoxy resin), “PG-100” and “CG-500” manufactured by Osaka Gas Chemical Co., Ltd., manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. "YL7760" (bisphenol AF type epoxy resin), "YL7800" (fluorene type epoxy resin), "jER1010" (solid bisphenol A type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, and "jER1031S" (tetraphenylethane) type epoxy resin), etc. are listed. These may be used individually, or two or more types may be used in combination.

에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 병용할 경우, 이들의 양 비(액상 에폭시 수지:고체상 에폭시 수지)는 질량비로 1:0.1 내지 1:15의 범위가 바람직하다. 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지의 양 비를 이러한 범위로 함으로써, ⅰ) 수지 시트의 형태로 사용하는 경우에 적당한 점착성을 형성할 수 있고, ⅱ) 수지 시트의 형태로 사용할 경우에 충분한 가요성이 얻어지고, 취급성이 향상되며, ⅲ) 충분한 파단 강도를 갖는 경화물을 수득할 수 있는 등의 효과가 얻어진다. 상기 ⅰ) 내지 ⅲ)의 효과의 관점에서, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지의 양 비(액상 에폭시 수지:고체상 에폭시 수지)는 질량비로 1:0.3 내지 1:10의 범위가 보다 바람직하고, 1:0.6 내지 1:8의 범위가 더욱 바람직하다.As an epoxy resin, when a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin are used together, their quantity ratio (liquid epoxy resin:solid epoxy resin) is preferably in the range of 1:0.1 to 1:15 in mass ratio. By keeping the ratio of the liquid epoxy resin and the solid epoxy resin within this range, i) appropriate adhesion can be formed when used in the form of a resin sheet, and ii) sufficient flexibility can be obtained when used in the form of a resin sheet. , handling is improved, and iii) a cured product with sufficient breaking strength can be obtained. From the viewpoint of the effects of i) to iii) above, the amount ratio of liquid epoxy resin and solid epoxy resin (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) is more preferably in the range of 1:0.3 to 1:10 in mass ratio, and 1: A range of 0.6 to 1:8 is more preferred.

제1 수지 조성물 중의 에폭시 수지의 함유량은, 양호한 기계 강도, 절연 신뢰성을 나타내는 절연층을 수득하는 관점에서, 바람직하게는 1질량% 이상, 보다 바람직하게는 2질량% 이상, 더욱 바람직하게는 3질량% 이상이다. 에폭시 수지의 함유량의 상한은, 본 발명의 효과가 나타나는 한에서 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 50질량% 이하, 보다 바람직하게는 40질량% 이하, 더욱 바람직하게는 30질량% 이하이다.The content of the epoxy resin in the first resin composition is preferably 1% by mass or more, more preferably 2% by mass or more, and even more preferably 3% by mass, from the viewpoint of obtaining an insulating layer showing good mechanical strength and insulation reliability. It is more than %. The upper limit of the content of the epoxy resin is not particularly limited as long as the effect of the present invention is achieved, but is preferably 50 mass% or less, more preferably 40 mass% or less, and still more preferably 30 mass% or less.

또한, 본 발명에 있어서, 수지 조성물 중의 각 성분의 함유량은, 별도 명시가 없는 한, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 했을 때의 값이다.In addition, in the present invention, unless otherwise specified, the content of each component in the resin composition is a value assuming that the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass.

에폭시 수지의 에폭시 당량은, 바람직하게는 50 내지 5000, 보다 바람직하게는 50 내지 3000, 더욱 바람직하게는 80 내지 2000, 보다 더 바람직하게는 110 내지 1000이다. 이 범위가 됨으로써, 경화물의 가교 밀도가 충분해져서 표면 거칠기가 작은 절연층을 형성할 수 있다. 또한, 에폭시 당량은, JIS K7236에 따라 측정 할 수 있고, 1당량의 에폭시기를 포함하는 수지의 질량이다.The epoxy equivalent of the epoxy resin is preferably 50 to 5000, more preferably 50 to 3000, further preferably 80 to 2000, and even more preferably 110 to 1000. By falling within this range, the crosslinking density of the cured product becomes sufficient and an insulating layer with small surface roughness can be formed. In addition, epoxy equivalent can be measured according to JIS K7236 and is the mass of resin containing 1 equivalent of epoxy group.

에폭시 수지의 중량 평균 분자량은, 바람직하게는 100 내지 5000, 보다 바람직하게는 250 내지 3000, 더욱 바람직하게는 400 내지 1500이다. 여기서, 에폭시 수지의 중량 평균 분자량은, 겔 침투 크로마토그래피(GPC)법에 의해 측정되는 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량이다.The weight average molecular weight of the epoxy resin is preferably 100 to 5000, more preferably 250 to 3000, and still more preferably 400 to 1500. Here, the weight average molecular weight of the epoxy resin is the weight average molecular weight in terms of polystyrene measured by gel permeation chromatography (GPC).

-(b) 경화제--(b) Hardener-

경화제로서는, 에폭시 수지를 경화시키는 기능을 갖는 한 특별히 한정되지 않고, 예를 들면, 페놀계 경화제, 나프톨계 경화제, 활성 에스테르계 경화제, 벤조 옥사진계 경화제, 시아네이트 에스테르계 경화제, 및 카르보디이미드계 경화제 등이 열거된다. 경화제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다. (b) 성분은, 페놀계 경화제, 나프톨계 경화제, 활성 에스테르계 경화제, 카르보디이미드계 경화제 및 시아네이트 에스테르계 경화제로부터 선택되는 1종 이상인 것이 바람직하고, 페놀계 경화제, 활성 에스테르계 경화제 및 카르보디이미드계 경화제로부터 선택되는 1종 이상인 것이 보다 바람직하고, 유전율 및 유전 정접을 낮게 하는 관점에서 활성 에스테르계 경화제인 것이 더욱 바람직하다.The curing agent is not particularly limited as long as it has the function of curing the epoxy resin, and examples include phenol-based curing agents, naphthol-based curing agents, activated ester-based curing agents, benzooxazine-based curing agents, cyanate ester-based curing agents, and carbodiimide-based curing agents. Hardeners, etc. are listed. One type of hardening agent may be used individually, or two or more types may be used together. (b) The component is preferably at least one selected from phenol-based curing agents, naphthol-based curing agents, activated ester-based curing agents, carbodiimide-based curing agents, and cyanate ester-based curing agents, and includes phenol-based curing agents, active ester-based curing agents, and carboxylate-based curing agents. It is more preferable that it is at least one type selected from bodyimide-based curing agents, and it is more preferable that it is an active ester-based curing agent from the viewpoint of lowering the dielectric constant and dielectric loss tangent.

페놀계 경화제 및 나프톨계 경화제로서는, 내열성 및 내수성의 관점에서, 노 볼락 구조를 갖는 페놀계 경화제, 또는 노볼락 구조를 갖는 나프톨계 경화제가 바람직하다. 또한, 도체층과의 밀착성의 관점에서, 함질소 페놀계 경화제가 바람직하고, 트리아진 골격 함유 페놀계 경화제가 보다 바람직하다. 그 중에서도, 내열성, 내수성 및 도체층과의 밀착성을 고도로 만족시키는 관점에서, 트리아진 골격 함유 페놀 노볼락 경화제가 바람직하다.As the phenol-based curing agent and the naphthol-based curing agent, a phenol-based curing agent having a novolak structure or a naphthol-based curing agent having a novolak structure is preferable from the viewpoint of heat resistance and water resistance. Furthermore, from the viewpoint of adhesion to the conductor layer, a nitrogen-containing phenol-based curing agent is preferable, and a triazine skeleton-containing phenol-based curing agent is more preferable. Among them, a phenol novolak curing agent containing a triazine skeleton is preferable from the viewpoint of highly satisfying heat resistance, water resistance, and adhesion to the conductor layer.

페놀계 경화제 및 나프톨계 경화제의 구체예로서는, 예를 들면 메이와 카세이 (주) 제조의 「MEH-7700」, 「MEH-7810」, 「MEH-7851」, 니혼 카야쿠 (주) 제조의 「NHN」, 「CBN」, 「GPH」, 신닛테츠 스미킨 카가쿠 (주) 제조의 「SN170」, 「SN180」, 「SN190」, 「SN475」, 「SN485」, 「SN495」, 「SN375」, 「SN395」, DIC (주) 제조의 「TD-2090」, 「LA-7052」, 「LA-7054」, 「LA-1356」, 「LA-3018-50P」, 「EXB-9500」 등이 열거된다.Specific examples of phenol-based curing agents and naphthol-based curing agents include, for example, “MEH-7700,” “MEH-7810,” and “MEH-7851” manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd. and “NHN” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. 」, 「CBN」, 「GPH」, 「SN170」, 「SN180」, 「SN190」, 「SN475」, 「SN485」, 「SN495」, 「SN375」, manufactured by Shin-Niptetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd. SN395", "TD-2090", "LA-7052", "LA-7054", "LA-1356", "LA-3018-50P", and "EXB-9500" manufactured by DIC Co., Ltd. are listed. .

도체층과의 밀착성이 우수한 절연층을 수득하는 관점에서, 활성 에스테르계 경화제도 바람직하다. 활성 에스테르계 경화제로서는 특별히 제한은 없지만, 일반적으로 페놀 에스테르류, 티오페놀 에스테르류, N-하이드록시아민 에스테르류, 복소환 하이드록시 화합물의 에스테르류 등의 반응 활성이 높은 에스테르기를 1분자 중에 2개 이상 갖는 화합물이 바람직하게 사용된다. 당해 활성 에스테르계 경화제는, 카복실산 화합물 및/또는 티오카복실산 화합물과 하이드록시 화합물 및/또는 티올 화합물과의 축합 반응에 의해 수득되는 것이 바람직하다. 특히 내열성 향상의 관점에서, 카복실산 화합물과 하이드록시 화합물로부터 수득되는 활성 에스테르계 경화제가 바람직하고, 카복실산 화합물과 페놀 화합물 및/또는 나프톨 화합물로부터 수득되는 활성 에스테르계 경화제가 보다 바람직하다. 카복실산 화합물로서는, 예를 들면, 벤조산, 아세트산, 석신산, 말레산, 이타콘산, 프탈산, 이소프탈산, 테레프탈산, 피로멜리트산 등이 열거된다. 페놀 화합물 또는 나프톨 화합물로서는 예를 들면, 하이드로퀴논, 레조르신, 비스페놀 A, 비스페놀 F, 비스페놀 S, 페놀프탈린, 메틸화 비스페놀 A, 메틸화 비스페놀 F, 메틸화 비스페놀 S, 페놀, o-크레졸, m-크레졸, p-크레졸, 카테콜, α-나프톨, β-나프톨, 1,5-디하이드록시나프탈렌, 1,6-디하이드록시나프탈렌, 2,6-디하이드록시나프탈렌, 디하이드록시벤조페논, 트리하이드록시벤조페논, 테트라하이드록시벤조페논, 플로로글루신, 벤젠트리올, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 화합물, 페놀 노볼락 등이 열거된다. 여기에서, 「디사이클로펜타디엔형 디페놀 화합물」이란, 디사이클로펜타디엔 1분자에 페놀 2분자가 축합하여 수득되는 디페놀 화합물을 말한다.From the viewpoint of obtaining an insulating layer with excellent adhesion to the conductor layer, an active ester-based curing agent is also preferable. There are no particular restrictions on the active ester-based curing agent, but generally it contains two highly reactive ester groups per molecule, such as phenol esters, thiophenol esters, N-hydroxyamine esters, and esters of heterocyclic hydroxy compounds. Compounds having the above are preferably used. The active ester-based curing agent is preferably obtained by condensation reaction of a carboxylic acid compound and/or a thiocarboxylic acid compound with a hydroxy compound and/or a thiol compound. Particularly from the viewpoint of improving heat resistance, active ester-based curing agents obtained from carboxylic acid compounds and hydroxy compounds are preferable, and active ester-based curing agents obtained from carboxylic acid compounds, phenol compounds, and/or naphthol compounds are more preferable. Examples of carboxylic acid compounds include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, and pyromellitic acid. Examples of phenol compounds or naphthol compounds include hydroquinone, resorcin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenolphthaline, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o-cresol, and m-cresol. , p-cresol, catechol, α-naphthol, β-naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone, tri. Hydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, phloroglucine, benzenetriol, dicyclopentadiene type diphenol compound, phenol novolac, etc. are listed. Here, “dicyclopentadiene-type diphenol compound” refers to a diphenol compound obtained by condensing two molecules of phenol with one molecule of dicyclopentadiene.

구체적으로는, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물, 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물, 페놀 노볼락의 아세틸화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물, 페놀 노볼락의 벤조일화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물이 바람직하고, 그 중에서도 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물이 보다 바람직하다. 「디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조」란, 페닐렌-디사이클로펜틸렌-페닐렌으로 이루어진 2가의 구조 단위를 나타낸다.Specifically, an active ester compound containing a dicyclopentadiene-type diphenol structure, an active ester compound containing a naphthalene structure, an active ester compound containing an acetylate of phenol novolac, and a benzoylate of phenol novolak. Active ester compounds are preferable, and among these, active ester compounds containing a naphthalene structure and active ester compounds containing a dicyclopentadiene type diphenol structure are more preferable. “Dicyclopentadiene-type diphenol structure” refers to a divalent structural unit consisting of phenylene-dicyclopentylene-phenylene.

활성 에스테르계 경화제의 시판품으로서는, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물로서, 「EXB9451」, 「EXB9460」, 「EXB9460S」, 「HPC-8000-65T」, 「HPC-8000H-65TM」, 「EXB-8000L-65TM」(DIC (주) 제조), 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물로서 「EXB9416-70BK」(DIC (주) 제조), 페놀 노볼락의 아세틸화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물로서 「DC808」(미츠비시 카가쿠 (주) 제조), 페놀 노볼락의 벤조일화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물로서 「YLH1026」(미츠비시 카가쿠 (주) 제조), 페놀 노볼락의 아세틸화물인 활성 에스테르계 경화제로서 「DC808」(미츠비시 카가쿠 (주) 제조), 페놀 노볼락의 벤조일화물인 활성 에스테르계 경화제로서 「YLH1026」(미츠비시 카가쿠 (주) 제조), 「YLH1030」(미츠비시 카가쿠 (주) 제조), 「YLH1048」(미츠비시 카가쿠 (주) 제조) 등이 열거된다.Commercially available active ester curing agents include active ester compounds containing a dicyclopentadiene type diphenol structure, such as "EXB9451", "EXB9460", "EXB9460S", "HPC-8000-65T", and "HPC-8000H-65TM" ", "EXB-8000L-65TM" (manufactured by DIC Corporation), as an active ester compound containing a naphthalene structure, "EXB9416-70BK" (manufactured by DIC Corporation), an active ester containing an acetylate of phenol novolac “DC808” (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) as a compound, “YLH1026” (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) as an active ester compound containing a benzoylate of phenol novolak, an active ester that is an acetylate of phenol novolac As a curing agent, "DC808" (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.), and as an active ester-based curing agent, which is a benzoylate of phenol novolak, "YLH1026" (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.), "YLH1030" (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. ), “YLH1048” (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.), etc. are listed.

벤조옥사진계 경화제의 구체예로서는 쇼와 코분시 (주) 제조의 「HFB2006M」, 시코쿠 카세이 코교 (주) 제조의 「P-d」, 「F-a」가 열거된다.Specific examples of the benzoxazine-based curing agent include "HFB2006M" manufactured by Showa Kobunshi Co., Ltd., and "P-d" and "F-a" manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.

시아네이트 에스테르계 경화제로서는, 예를 들면, 비스페놀 A 디시아네이트, 폴리페놀시아네이트, 올리고(3-메틸렌-1,5-페닐렌시아네이트), 4,4'-메틸렌비스(2,6-디메틸페닐시아네이트), 4,4'-에틸리덴디페닐디시아네이트, 헥사플루오로비스페놀 A 디시아네이트, 2,2-비스(4-시아네이트)페닐프로판, 1,1-비스(4-시아네이트페닐메탄), 비스(4-시아네이트-3,5-디메틸페닐)메탄, 1,3-비스(4-시아네이트페닐-1-(메틸에틸리덴))벤젠, 비스(4-시아네이트페닐)티오에테르, 및 비스(4-시아네이트페닐)에테르 등의 2관능 시아네이트 수지, 페놀 노볼락 및 크레졸 노볼락 등으로부터 유도되는 다관능 시아네이트 수지, 이들 시아네이트 수지가 일부 트리아진화된 프레폴리머 등이 열거된다. 시아네이트 에스테르계 경화제의 구체예로서는, 론자 재팬 (주) 제조의 「PT30」 및 「PT60」(모두 페놀 노볼락형 다관능 시아네이트 에스테르 수지), 「BA230」, 「BA230S75」(비스페놀 A 디시아네이트의 일부 또는 전부가 트리아진화되어 삼량체가 된 프레폴리머) 등이 열거된다.Examples of cyanate ester curing agents include bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate, oligo(3-methylene-1,5-phenylenecyanate), and 4,4'-methylenebis(2,6- dimethylphenylcyanate), 4,4'-ethylidenediphenyldicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis(4-cyanate)phenylpropane, 1,1-bis(4- Cyanatephenylmethane), bis(4-cyanate-3,5-dimethylphenyl)methane, 1,3-bis(4-cyanatephenyl-1-(methylethylidene))benzene, bis(4-cyanate) Bifunctional cyanate resins such as natephenyl)thioether and bis(4-cyanatephenyl)ether, polyfunctional cyanate resins derived from phenol novolak and cresol novolac, etc., and some of these cyanate resins are triazinated. Prepolymers, etc. are listed. Specific examples of cyanate ester-based curing agents include "PT30" and "PT60" (both phenol novolak-type polyfunctional cyanate ester resins), "BA230", and "BA230S75" (bisphenol A dicyanate) manufactured by Lonza Japan Co., Ltd. Prepolymers in which part or all of the polymer is triazylated to form a trimer) are listed.

카르보디이미드계 경화제의 구체예로서는, 닛신보 케미칼 (주) 제조의 「V-03」, 「V-07」 등이 열거된다.Specific examples of the carbodiimide-based curing agent include “V-03” and “V-07” manufactured by Nisshinbo Chemical Co., Ltd.

에폭시 수지와 경화제의 양 비는, [에폭시 수지의 에폭시기의 합계 수]:[경화제의 반응기의 합계 수]의 비율로, 1:0.01 내지 1:2의 범위가 바람직하고, 1:0.015 내지 1:1.5가 보다 바람직하고, 1:0.02 내지 1:1이 더욱 바람직하다. 여기에서, 경화제의 반응기란, 활성 수산기, 활성 에스테르기 등이며, 경화제의 종류에 따라 다르다. 또한, 에폭시 수지의 에폭시기의 합계 수란, 각 에폭시 수지의 고형분 질량을 에폭시 당량으로 나눈 값을 전체 에폭시 수지에 대하여 합계한 값이며, 경화제의 반응기의 합계 수란, 각 경화제의 고형분 질량을 반응기 당량으로 나눈 값을 모든 경화제에 대하여 합계한 값이다. 에폭시 수지와 경화제의 양 비를 이러한 범위로 함으로써, 수지 조성물의 경화물의 내열성이 보다 향상된다.The amount ratio of the epoxy resin and the curing agent is a ratio of [total number of epoxy groups of the epoxy resin]:[total number of reactive groups of the curing agent], preferably in the range of 1:0.01 to 1:2, and 1:0.015 to 1:2. 1.5 is more preferable, and 1:0.02 to 1:1 is more preferable. Here, the reactive group of the curing agent is an active hydroxyl group, an active ester group, etc., and varies depending on the type of the curing agent. In addition, the total number of epoxy groups of an epoxy resin is the solid mass of each epoxy resin divided by the epoxy equivalent, which is the sum of all epoxy resins, and the total number of reactive groups of the curing agent is the solid mass of each curing agent divided by the reactor equivalent. The value is the sum of all hardeners. By keeping the amount ratio of the epoxy resin and the curing agent within this range, the heat resistance of the cured product of the resin composition is further improved.

일 실시형태에 있어서, 제1 수지 조성물은, 앞서 기술한 (a) 에폭시 수지 및 (b) 경화제를 포함한다. 수지 조성물은, (a) 에폭시 수지로서 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지의 혼합물(액상 에폭시 수지:고체상 에폭시 수지의 질량비는 바람직하게는 1:0.1 내지 1:15, 보다 바람직하게는 1:0.3 내지 1:12, 더욱 바람직하게는 1:0.6 내지 1:10)을, (b) 경화제로서 페놀계 경화제, 나프톨계 경화제, 활성 에스테르계 경화제, 카르보디이미드계 경화제 및 시아네이트 에스테르계 경화제로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 1종 이상(바람직하게는 활성 에스테르계 경화제)을 각각 포함하는 것이 바람직하다.In one embodiment, the first resin composition includes (a) the epoxy resin and (b) the curing agent described above. The resin composition is (a) an epoxy resin, which is a mixture of a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin (the mass ratio of liquid epoxy resin:solid epoxy resin is preferably 1:0.1 to 1:15, more preferably 1:0.3 to 1). :12, more preferably 1:0.6 to 1:10), (b) as a curing agent, from the group consisting of phenol-based curing agents, naphthol-based curing agents, activated ester-based curing agents, carbodiimide-based curing agents and cyanate ester-based curing agents. It is preferable to each include at least one selected type (preferably an active ester-based curing agent).

제1 수지 조성물 중의 경화제의 함유량은 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 30질량% 이하, 보다 바람직하게는 25질량% 이하, 더욱 바람직하게는 20질량% 이하이다. 또한, 하한은 특별히 제한은 없지만 2질량% 이상이 바람직하다.The content of the curing agent in the first resin composition is not particularly limited, but is preferably 30% by mass or less, more preferably 25% by mass or less, and even more preferably 20% by mass or less. Additionally, the lower limit is not particularly limited, but is preferably 2% by mass or more.

-(c) 무기 충전재--(c) Inorganic filler-

무기 충전재의 재료는 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 실리카, 알루미나, 유리, 코디에라이트, 실리콘 산화물, 황산 바륨, 탄산 바륨, 활석, 클레이, 운모분, 산화 아연, 하이드로탈사이트, 베마이트, 수산화 알루미늄, 수산화 마그네슘, 탄산 칼슘, 탄산 마그네슘, 산화 마그네슘, 질화 붕소, 질화 알루미늄, 질화 망간, 붕산 알루미늄, 탄산 스트론튬, 티타늄산 스트론튬, 티타늄산 칼슘, 티타늄산 마그네슘, 티타늄산 비스무트, 산화 티타늄, 산화 지르코늄, 티타늄산 바륨, 티타늄산 지르콘산 바륨, 지르콘산 바륨, 지르콘산 칼슘, 인산 지르코늄, 및 인산 텅스텐산 지르코늄 등이 열거된다. 이들 중에서도 실리카가 특히 바람직하다. 또한 실리카로서는 구형 실리카가 바람직하다. 무기 충전재는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다.The material of the inorganic filler is not particularly limited, but examples include silica, alumina, glass, cordierite, silicon oxide, barium sulfate, barium carbonate, talc, clay, mica powder, zinc oxide, hydrotalcite, boehmite, Aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum nitride, manganese nitride, aluminum borate, strontium carbonate, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, oxide Zirconium, barium titanate, barium zirconate titanate, barium zirconate, calcium zirconate, zirconium phosphate, and zirconium tungstate phosphate are listed. Among these, silica is particularly preferable. Additionally, spherical silica is preferred as the silica. One type of inorganic filler may be used alone, or two or more types may be used in combination.

무기 충전재의 평균 입자 직경은 특별히 한정되지 않지만, 표면 거칠기가 작은 절연층을 수득하는 관점이나 미세 배선 형성성 향상의 관점에서, 바람직하게는 2㎛ 이하, 보다 바람직하게는 1.5㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 1㎛ 이하이다. 상기 평균 입자 직경의 하한은 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 0.01㎛ 이상, 보다 바람직하게는 0.1㎛ 이상, 더욱 바람직하게는 0.3㎛ 이상이다. 이러한 평균 입자 직경을 갖는 무기 충전재의 시판품으로서는 예를 들면, (주) 아도마텍스 제조 「YC100C」, 「YA050C」, 「YA050C-MJE」, 「YA010C」, 덴키 카가쿠 코교 (주) 제조 「UFP-30」, (주) 토쿠야마 제조 「실필 NSS-3N」, 「실필 NSS-4N」, 「실필 NSS-5N」, (주) 아도마텍스 제조 「SC2500SQ」, 「SO-C4」, 「SO-C2」, 「SO-C1」 등이 열거된다.The average particle diameter of the inorganic filler is not particularly limited, but is preferably 2 μm or less, more preferably 1.5 μm or less, and still more preferably from the viewpoint of obtaining an insulating layer with small surface roughness and improving fine wiring formability. is 1㎛ or less. The lower limit of the average particle diameter is not particularly limited, but is preferably 0.01 μm or more, more preferably 0.1 μm or more, and even more preferably 0.3 μm or more. Commercially available inorganic fillers having such an average particle diameter include, for example, "YC100C", "YA050C", "YA050C-MJE", and "YA010C" manufactured by Adomatex Co., Ltd., and "UFP" manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd. -30”, “Silpen NSS-3N”, “Silpen NSS-4N”, “Silpen NSS-5N” manufactured by Tokuyama Co., Ltd., “SC2500SQ”, “SO-C4”, “SO” manufactured by Adomatex Co., Ltd. -C2”, “SO-C1”, etc. are listed.

무기 충전재의 평균 입자 직경은 미(Mie) 산란 이론에 기초하는 레이저 회절·산란법에 의해 측정할 수 있다. 구체적으로는 레이저 회절 산란식 입도 분포 측정 장치에 의해, 무기 충전재의 입도 분포를 체적 기준으로 작성하고, 이의 중간 직경을 평균 입자 직경으로 함으로써 측정할 수 있다. 측정 샘플은, 무기 충전재를 초음파에 의해 메틸에틸케톤 중에 분산시킨 것을 바람직하게 사용할 수 있다. 레이저 회절 산란식 입도 분포 측정 장치로서는 (주) 시마즈 세사쿠쇼 제조 「SALD-2200」 등을 사용할 수 있다.The average particle diameter of the inorganic filler can be measured by a laser diffraction/scattering method based on Mie scattering theory. Specifically, the particle size distribution of the inorganic filler can be prepared on a volume basis using a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring device, and the median diameter thereof can be measured as the average particle diameter. The measurement sample can preferably be one in which an inorganic filler is dispersed in methyl ethyl ketone by ultrasonic waves. As a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring device, "SALD-2200" manufactured by Shimadzu Sesakusho Co., Ltd., etc. can be used.

무기 충전재는, 내습성 및 분산성을 높이는 관점에서, 실란 커플링제, 알콕시실란 화합물, 및 오가노실라잔 화합물의 적어도 1종의 표면 처리제로 표면 처리되어 있는 것이 바람직하다. 이들은 올리고머라도 좋다. 표면 처리제의 예로서는, 아미노실란계 커플링제, 에폭시실란계 커플링제, 머캅토실란계 커플링제, 실란계 커플링제, 알콕시실란 화합물, 오가노실라잔 화합물, 티타네이트계 커플링제 등이 열거된다. 표면 처리제의 시판품으로서는 예를 들면, 신에츠 카가쿠 코교 (주) 제조 「KBM403」(3-글리시독시프로필트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠 코교 (주) 제조 「KBM803」(3-머캅토프로필트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠 코교 (주) 제조 「KBE903」(3-아미노프로필트리에톡시실란), 신에츠 카가쿠 코교 (주) 제조 「KBM573」(N-페닐-3-아미노프로필트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠 코교 (주) 제조 「SZ-31」(헥사메틸디실라잔), 신에츠 카가쿠 코교 (주) 제조 「KBM103」(페닐트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠 코교 (주) 제조 「KBM-4803」(장쇄 에폭시형 실란 커플링제) 등이 열거된다. 표면 처리제는 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.From the viewpoint of improving moisture resistance and dispersibility, the inorganic filler is preferably surface treated with at least one surface treatment agent selected from a silane coupling agent, an alkoxysilane compound, and an organosilazane compound. These may be oligomers. Examples of surface treatment agents include aminosilane coupling agents, epoxysilane coupling agents, mercaptosilane coupling agents, silane coupling agents, alkoxysilane compounds, organosilazane compounds, and titanate coupling agents. Commercially available surface treatment agents include, for example, “KBM403” (3-glycidoxypropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. and “KBM803” (3-mercaptopropyl) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Trimethoxysilane), “KBE903” (3-aminopropyltriethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Kogyo Co., Ltd., “KBM573” (N-phenyl-3-aminopropyltrimethane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Kogyo Co., Ltd. Toxysilane), “SZ-31” (hexamethyldisilazane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Kogyo Co., Ltd., “KBM103” (phenyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Kogyo Co., Ltd. ) manufactured by “KBM-4803” (long chain epoxy type silane coupling agent), etc. are listed. One type of surface treatment agent may be used individually, or two or more types may be used in combination.

표면 처리제에 의한 표면 처리의 정도는, 무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량에 따라 평가할 수 있다. 무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량은, 무기 충전재의 분산성 향상의 관점에서, 0.02mg/㎡ 이상이 바람직하고, 0.1mg/㎡ 이상이 보다 바람직하고, 0.2mg/㎡ 이상이 더욱 바람직하다. 한편, 수지 바니시의 용융 점도 및 시트 형태에서의 용융 점도의 상승을 억제하는 관점에서, 1mg/㎡ 이하가 바람직하고, 0.8mg/㎡ 이하가 보다 바람직하고, 0.5mg/㎡ 이하가 더욱 바람직하다.The degree of surface treatment by a surface treatment agent can be evaluated based on the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler. From the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler, the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler is preferably 0.02 mg/m 2 or more, more preferably 0.1 mg/m 2 or more, and still more preferably 0.2 mg/m 2 or more. On the other hand, from the viewpoint of suppressing an increase in the melt viscosity of the resin varnish and the melt viscosity in sheet form, 1 mg/m 2 or less is preferable, 0.8 mg/m 2 or less is more preferable, and 0.5 mg/m 2 or less is still more preferable.

무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량은, 표면 처리 후의 무기 충전재를 용제(예를 들면, 메틸에틸케톤(MEK))에 의해 세정 처리한 후에 측정할 수 있다. 구체적으로는, 용제로서 충분한 양의 MEK를 표면 처리제로 표면 처리된 무기 충전재에 추가하여, 25℃에서 5분간 초음파 세정한다. 상청액을 제거하고, 고형분을 건조시킨 후, 카본 분석계를 사용하여 무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량을 측정할 수 있다. 카본 분석계로서는 (주) 호리바 세사쿠쇼 제조 「EMIA-320V」 등을 사용할 수 있다.The amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured after the surface-treated inorganic filler is washed with a solvent (for example, methyl ethyl ketone (MEK)). Specifically, a sufficient amount of MEK as a solvent is added to the inorganic filler surface-treated with a surface treatment agent, and ultrasonic cleaning is performed at 25°C for 5 minutes. After removing the supernatant and drying the solid content, the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured using a carbon analyzer. As a carbon analyzer, “EMIA-320V” manufactured by Horiba Sesakusho Co., Ltd., etc. can be used.

제1 수지 조성물 중의 무기 충전재의 함유량은, 도금 필(peel)성을 향상시키는 관점에서, 제1 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 했을 때, 바람직하게는 70질량% 이하, 보다 바람직하게는 60질량% 이하, 50질량% 이하, 또는 40질량% 이하이다. 제1 수지 조성물 중의 (c) 성분의 함유량의 하한은 특별히 한정되지 않고, 0질량%라도 좋지만, 유전 정접을 저하시킨다는 관점에서, 5질량% 이상, 10질량% 이상, 20질량% 이상 등으로 할 수 있다.The content of the inorganic filler in the first resin composition is preferably 70% by mass or less, more preferably 70% by mass or less, when the non-volatile component in the first resin composition is 100% by mass, from the viewpoint of improving plating peel properties. is 60 mass% or less, 50 mass% or less, or 40 mass% or less. The lower limit of the content of component (c) in the first resin composition is not particularly limited and may be 0 mass%, but from the viewpoint of reducing the dielectric loss tangent, it may be 5 mass% or more, 10 mass% or more, 20 mass% or more, etc. You can.

-(d) 열가소성 수지--(d) Thermoplastic resin-

제1 수지 조성물은 (a) 내지 (c) 성분 외에 (d) 열가소성 수지를 함유하고 있다.The first resin composition contains (d) a thermoplastic resin in addition to components (a) to (c).

열가소성 수지로서는, 예를 들면, 페녹시 수지, 폴리비닐 아세탈 수지, 폴리올레핀 수지, 폴리부타디엔 수지, 폴리이미드 수지, 폴리아미드이미드 수지, 폴리 에테르 이미드 수지, 폴리설폰 수지, 폴리에테르 설폰 수지, 폴리페닐렌 에테르 수지, 폴리카보네이트 수지, 폴리에테르 에테르 케톤 수지, 폴리에스테르 수지가 열거되고, 페녹시 수지가 바람직하다. 열가소성 수지는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다.Thermoplastic resins include, for example, phenoxy resin, polyvinyl acetal resin, polyolefin resin, polybutadiene resin, polyimide resin, polyamidoimide resin, polyether imide resin, polysulfone resin, polyether sulfone resin, and polyphenyl. Ren ether resin, polycarbonate resin, polyether ether ketone resin, and polyester resin are listed, and phenoxy resin is preferred. Thermoplastic resins may be used individually, or two or more types may be used in combination.

열가소성 수지의 폴리스티렌 환산 중량 평균 분자량은 8,000 내지 70,000의 범위가 바람직하고, 10,000 내지 60,000의 범위가 보다 바람직하고, 20,000 내지 60,000의 범위가 더욱 바람직하다. 열가소성 수지의 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량은 겔 침투 크로마토그래피(GPC)법으로 측정된다. 구체적으로는, 열가소성 수지의 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량은, 측정 장치로서 (주) 시마즈 세사쿠쇼 제조 LC-9A/RID-6A를, 컬럼으로서 쇼와 덴코 (주) 제조 Shodex K-800P/K-804L/K-804L을, 이동상으로서 클로로포름 등을 사용하고, 컬럼 온도를 40℃에서 측정하고, 표준 폴리스티렌의 검량선을 이용하여 산출할 수 있다.The polystyrene conversion weight average molecular weight of the thermoplastic resin is preferably in the range of 8,000 to 70,000, more preferably in the range of 10,000 to 60,000, and even more preferably in the range of 20,000 to 60,000. The weight average molecular weight of the thermoplastic resin in terms of polystyrene is measured by gel permeation chromatography (GPC). Specifically, the weight average molecular weight of the thermoplastic resin in terms of polystyrene was measured using LC-9A/RID-6A manufactured by Shimadzu Sesakusho Co., Ltd. as a measuring device and Shodex K-800P/K manufactured by Showa Denko Co., Ltd. as a column. -804L/K-804L can be calculated using chloroform or the like as a mobile phase, measuring the column temperature at 40°C, and using a standard polystyrene calibration curve.

페녹시 수지로서는, 예를 들면, 비스페놀 A 골격, 비스페놀 F 골격, 비스페놀 S 골격, 비스페놀 아세토페논 골격, 노볼락 골격, 비페닐 골격, 플루오렌 골격, 디사이클로펜타디엔 골격, 노르보르넨 골격, 나프탈렌 골격, 안트라센 골격, 아다만탄 골격, 테르펜 골격, 및 트리메틸사이클로헥산 골격으로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 골격을 갖는 페녹시 수지가 열거된다. 페녹시 수지의 말단은, 페놀성 수산기, 에폭시기 등의 어느 관능기라도 좋다. 페녹시 수지는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다. 페녹시 수지의 구체예로서는 미츠비시 카가쿠 (주) 제조의 「1256」 및 「4250」(모두 비스페놀 A 골격 함유 페녹시 수지), 「YX8100」(비스페놀 S 골격 함유 페녹시 수지) 및 「YX6954」( 비스페놀 아세토페논 골격 함유 페녹시 수지)가 열거되고, 이 외에도 신닛테츠 스미킨 카가쿠 (주) 제조의 「FX280」 및 「FX293」, 미츠비시 카가쿠 (주) 제조의 「YX6954BH30」, 「YX7553BH30」, 「YX7553BH30」, 「YL7769BH30」, 「YL6794」, 「YL7213」, 「YL7290」, 「YL7891BH30」 및 「YL7482」 등이 열거된다.Examples of the phenoxy resin include bisphenol A skeleton, bisphenol F skeleton, bisphenol S skeleton, bisphenol acetophenone skeleton, novolak skeleton, biphenyl skeleton, fluorene skeleton, dicyclopentadiene skeleton, norbornene skeleton, and naphthalene. Phenoxy resins having one or more skeletons selected from the group consisting of anthracene skeleton, adamantane skeleton, terpene skeleton, and trimethylcyclohexane skeleton are listed. The terminal of the phenoxy resin may be any functional group such as a phenolic hydroxyl group or an epoxy group. One type of phenoxy resin may be used alone, or two or more types may be used in combination. Specific examples of phenoxy resins include "1256" and "4250" (both phenoxy resins containing a bisphenol A skeleton), "YX8100" (phenoxy resins containing a bisphenol S skeleton), and "YX6954" (both bisphenol A skeleton-containing phenoxy resins) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation. acetophenone skeleton-containing phenoxy resins) are listed, and in addition, "FX280" and "FX293" manufactured by Shin-Niptetsu Sumikin Chemical Co., Ltd., "YX6954BH30", "YX7553BH30", and "YX7553BH30" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. “YX7553BH30”, “YL7769BH30”, “YL6794”, “YL7213”, “YL7290”, “YL7891BH30” and “YL7482”, etc. are listed.

폴리비닐 아세탈 수지로서는 예를 들면, 폴리비닐 포르말 수지, 폴리비닐 부티랄 수지가 열거되고, 폴리비닐 부티랄 수지가 바람직하다. 폴리비닐 아세탈 수지의 구체예로서는 예를 들면, 덴키 카가쿠 코교 (주) 제조의 「전화(電化) 부티랄 4000-2」, 「전화 부티랄 5000-A」, 「전화 부티랄 6000-C」, 「전화 부티랄 6000-EP」, 세키스이 카가쿠 코교 (주) 제조의 에스렉 BH 시리즈, BX 시리즈(예를 들면, BX-5Z), KS 시리즈(예를 들면, KS-1), BL 시리즈, BM 시리즈 등이 열거된다.Examples of the polyvinyl acetal resin include polyvinyl formal resin and polyvinyl butyral resin, and polyvinyl butyral resin is preferable. Specific examples of the polyvinyl acetal resin include, for example, “Electrical Butyral 4000-2”, “Electrical Butyral 5000-A”, and “Electrical Butyral 6000-C” manufactured by Denki Chemical Co., Ltd. “Telephone Butyral 6000-EP”, S-Lec BH series, BX series (e.g. BX-5Z), KS series (e.g. KS-1), BL series manufactured by Sekisui Kagaku Kogyo Co., Ltd. , BM series, etc. are listed.

폴리이미드 수지의 구체예로서는 신닛폰 리카 (주) 제조의 「리카코트 SN20」 및 「리카코트 PN20」이 열거된다. 폴리이미드 수지의 구체예로서는 또한, 2관능성 하이드록실기 말단 폴리부타디엔, 디이소시아네이트 화합물 및 4염기산 무수물을 반응시켜 수득되는 선형 폴리이미드(일본 공개특허공보 특개2006-37083호에 기재된 폴리이미드), 폴리실록산 골격 함유 폴리이미드(일본 공개특허공보 특개2002-12667호 및 일본 공개특허공보 특개2000-319386호 등에 기재된 폴리이미드) 등의 변성 폴리이미드가 열거된다.Specific examples of the polyimide resin include “Rica Coat SN20” and “Rica Coat PN20” manufactured by Nippon Rika Co., Ltd. Specific examples of polyimide resins include linear polyimides obtained by reacting bifunctional hydroxyl group-terminated polybutadiene, diisocyanate compounds, and tetrabasic acid anhydrides (polyimides described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2006-37083); Modified polyimides such as polysiloxane skeleton-containing polyimides (polyimides described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-12667 and Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-319386, etc.) are listed.

폴리아미드이미드 수지의 구체예로서는, 토요보세키 (주) 제조의 「바이로막스 HR11NN」및 「바이로막스 HR16NN」이 열거된다. 폴리아미드이미드 수지의 구체예로서는 또한, 히타치 카세이 코교 (주) 제조의 「KS9100」, 「KS9300」(폴리실록산 골격 함유 폴리아미드이미드) 등의 변성 폴리아미드이미드가 열거된다.Specific examples of polyamidoimide resin include “Viromax HR11NN” and “Viromax HR16NN” manufactured by Toyobo Seki Co., Ltd. Specific examples of polyamideimide resins include modified polyamideimides such as “KS9100” and “KS9300” (polyamideimide containing a polysiloxane skeleton) manufactured by Hitachi Kasei Kogyo Co., Ltd.

폴리에테르 설폰 수지의 구체예로서는 스미토모 카가쿠 (주) 제조의 「PES5003P」 등이 열거된다.Specific examples of the polyether sulfone resin include “PES5003P” manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.

폴리설폰 수지의 구체예로서는 솔베이 어드밴스트 폴리머즈 (주) 제조의 폴리설폰 「P1700」, 「P3500」 등이 열거된다.Specific examples of polysulfone resins include polysulfone “P1700” and “P3500” manufactured by Solvay Advanced Polymers Co., Ltd.

폴리페닐렌 에테르 수지의 구체예로서는 미츠비시 가스 카가쿠 (주) 제조의 올리고페닐렌에테르·스티렌 수지 「OPE-2St1200」, 「OPE-2St2200」, SABIC 제조 「NORYL SA90」 등이 열거된다.Specific examples of the polyphenylene ether resin include the oligophenylene ether-styrene resins “OPE-2St1200” and “OPE-2St2200” manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd. and “NORYL SA90” manufactured by SABIC.

그 중에서도, 열가소성 수지로서는 페녹시 수지, 폴리비닐 아세탈 수지가 바람직하다. 따라서 적합한 일 실시형태에 있어서, 열가소성 수지는, 페녹시 수지 및 폴리비닐 아세탈 수지로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 1종 이상을 포함한다.Among them, phenoxy resin and polyvinyl acetal resin are preferable as thermoplastic resins. Accordingly, in one suitable embodiment, the thermoplastic resin includes at least one selected from the group consisting of phenoxy resin and polyvinyl acetal resin.

제1 수지 조성물이 열가소성 수지를 함유하는 경우, 열가소성 수지의 함유량은, 바람직하게는 0.5질량% 내지 10질량%, 보다 바람직하게는 0.6질량% 내지 6질량%, 더욱 바람직하게는 0.7질량% 내지 5질량%이다.When the first resin composition contains a thermoplastic resin, the content of the thermoplastic resin is preferably 0.5% by mass to 10% by mass, more preferably 0.6% by mass to 6% by mass, and still more preferably 0.7% by mass to 5% by mass. It is mass%.

-(e) 경화 촉진제--(e) Curing accelerator-

제1 수지 조성물은 (a) 내지 (c) 성분 외에 (e) 경화 촉진제를 함유하고 있어도 좋다.The first resin composition may contain (e) a curing accelerator in addition to components (a) to (c).

경화 촉진제로서는 예를 들면, 인계 경화 촉진제, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 구아니딘계 경화 촉진제, 금속계 경화 촉진제, 유기 과산화물계 경화 촉진제 등이 열거되고, 인계 경화 촉진제, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 금속계 경화 촉진제가 바람직하고, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 금속계 경화 촉진제가 보다 바람직하다. 경화 촉진제는, 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다.Examples of the curing accelerator include phosphorus-based curing accelerators, amine-based curing accelerators, imidazole-based curing accelerators, guanidine-based curing accelerators, metal-based curing accelerators, and organic peroxide-based curing accelerators. Phosphorus-based curing accelerators, amine-based curing accelerators, Imidazole-based curing accelerators and metal-based curing accelerators are preferable, and amine-based curing accelerators, imidazole-based curing accelerators, and metal-based curing accelerators are more preferable. A hardening accelerator may be used individually by 1 type, or may be used in combination of 2 or more types.

인계 경화 촉진제로서는 예를 들면, 트리페닐포스핀, 포스포늄보레이트 화합물, 테트라페닐포스포늄테트라페닐보레이트, n-부틸포스포늄테트라페닐보레이트, 테트라부틸포스포늄데칸산염, (4-메틸페닐)트리페닐포스포늄티오시아네이트, 테트라페닐포스포늄티오시아네이트, 부틸트리페닐포스포늄티오시아네이트 등이 열거되고, 트리페닐포스핀, 테트라부틸포스포늄데칸산염이 바람직하다.Examples of phosphorus-based curing accelerators include triphenylphosphine, phosphonium borate compounds, tetraphenylphosphonium tetraphenyl borate, n-butylphosphonium tetraphenyl borate, tetrabutylphosphonium decanoate, and (4-methylphenyl)triphenylphosph. Phonium thiocyanate, tetraphenylphosphonium thiocyanate, butyltriphenylphosphonium thiocyanate, etc. are listed, and triphenylphosphine and tetrabutylphosphonium decanoate are preferred.

아민계 경화 촉진제로서는 예를 들면, 트리에틸아민, 트리부틸아민 등의 트리알킬아민, 4-디메틸아미노피리딘, 벤질디메틸아민, 2,4,6,-트리스(디메틸아미노메틸)페놀, 1,8-디아자비사이클로(5,4,0)-운데센 등이 열거되고, 4-디메틸아미노피리딘, 1,8-지아자비사이클로(5,4,0)-운데센이 바람직하다.Examples of amine-based curing accelerators include trialkylamines such as triethylamine and tributylamine, 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6,-tris(dimethylaminomethyl)phenol, and 1,8. -Diazabicyclo(5,4,0)-undecene, etc. are listed, and 4-dimethylaminopyridine and 1,8-diazabicyclo(5,4,0)-undecene are preferred.

이미다졸계 경화 촉진제로서는 예를 들면, 2-메틸이미다졸, 2-운데실이미다졸, 2-헵타데실이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 2-페닐이미다졸, 2-페닐-4-메틸이미다졸, 1-벤질-2-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸, 1-시아노에틸-2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸륨트리멜리테이트, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸륨트리멜리테이트, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-운데실이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-에틸-4'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진이소시아눌산 부가물, 2-페닐이미다졸 이소시아눌산 부가물, 2-페닐-4,5-디하이드록시메틸이미다졸, 2-페닐-4-메틸-5-하이드록시메틸이미다졸, 2,3-디하이드로-1H-피롤로[1,2-a]벤즈이미다졸, 1-도데실-2-메틸-3-벤질이미다졸륨클로라이드, 2-메틸이미다졸린, 2-페닐이미다졸린 등의 이미다졸 화합물 및 이미다졸 화합물과 에폭시 수지의 어덕트(adduct)체가 열거되고, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸이 바람직하다.Examples of imidazole-based curing accelerators include 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, and 2-ethyl-4-methyl. Midazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole Sol, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl- 4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium tri. Melitate, 2,4-diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2'-undecyl Midazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2'-ethyl-4'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-tri Azine, 2,4-diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine isocyanuric acid adduct, 2-phenylimidazole isocyanuric acid adduct, 2 -Phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2,3-dihydro-1H-pyrrolo[1,2-a] Imidazole compounds such as benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl-3-benzylimidazolium chloride, 2-methylimidazoline, and 2-phenylimidazoline, and adducts of imidazole compounds and epoxy resins ( adduct) are listed, and 2-ethyl-4-methylimidazole and 1-benzyl-2-phenylimidazole are preferred.

이미다졸계 경화 촉진제로서는, 시판품을 사용하여도 좋고, 예를 들면, 미츠비시 카가쿠 (주) 제조의 「P200-H50」 등이 열거된다.As the imidazole-based curing accelerator, commercial products may be used, for example, “P200-H50” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation.

구아니딘계 경화 촉진제로서는 예를 들면, 디시안디아미드, 1-메틸구아니딘, 1-에틸구아니딘, 1-사이클로헥실구아니딘, 1-페닐구아니딘, 1-(o-톨릴)구아니딘, 디메틸구아니딘, 디페닐구아니딘, 트리메틸구아니딘, 테트라메틸구아니딘, 펜타메틸구아니딘, 1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 7-메틸-1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 1-메틸비구아니드, 1-에틸비구아니드, 1-n-부틸비구아니드, 1-n-옥타데실비구아니드, 1,1-디메틸비구아니드, 1,1-디에틸비구아니드, 1-사이클로헥실비구아니드, 1-알릴비구아니드, 1-페닐비구아니드, 1-(o-톨릴)비구아니드 등이 열거되고, 디시안디아미드, 1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔이 바람직하다.Examples of guanidine-based curing accelerators include dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, 1-(o-tolyl)guanidine, dimethylguanidine, diphenylguanidine, Trimethylguanidine, tetramethylguanidine, pentamethylguanidine, 1,5,7-triazabicyclo[4.4.0]deca-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo[4.4.0]deca -5-N, 1-methyl biguanide, 1-ethyl biguanide, 1-n-butyl biguanide, 1-n-octadecyl biguanide, 1,1-dimethyl biguanide, 1,1 -diethyl biguanide, 1-cyclohexyl biguanide, 1-allyl biguanide, 1-phenyl biguanide, 1-(o-tolyl) biguanide, etc. are listed, dicyandiamide, 1, 5,7-triazabicyclo[4.4.0]deca-5-ene is preferred.

금속계 경화 촉진제로서는 예를 들면, 코발트, 구리, 아연, 철, 니켈, 망간, 주석 등의 금속의 유기 금속 착체 또는 유기 금속염이 열거된다. 유기 금속 착체의 구체예로서는 코발트(Ⅱ)아세틸아세토네이트, 코발트(Ⅲ)아세틸아세토 네이트 등의 유기 코발트 착체, 구리(Ⅱ)아세틸아세토네이트 등의 유기 구리 착체, 아연(II) 아세틸아세토네이트 등의 유기 아연 착체, 철(Ⅲ)아세틸아세토네이트 등의 유기 철 착체, 니켈(Ⅱ)아세틸아세토네이트 등의 유기 니켈 착체, 망간(Ⅱ)아세틸아세토네이트 등의 유기 망간 착체 등이 열거된다. 유기 금속염으로서는 예를 들면, 옥틸산 아연, 옥틸산 주석, 나프텐산 아연, 나프텐산 코발트, 스테아르산 주석, 스테아르산 아연 등이 열거된다.Examples of the metal-based curing accelerator include organometallic complexes or organometallic salts of metals such as cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese, and tin. Specific examples of organic metal complexes include organic cobalt complexes such as cobalt (II) acetylacetonate and cobalt (III) acetylacetonate, organic copper complexes such as copper (II) acetylacetonate, and organic metal complexes such as zinc (II) acetylacetonate. Examples include zinc complexes, organic iron complexes such as iron (III) acetylacetonate, organic nickel complexes such as nickel (II) acetylacetonate, and organic manganese complexes such as manganese (II) acetylacetonate. Examples of organometallic salts include zinc octylate, tin octylate, zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin stearate, and zinc stearate.

유기 과산화물계 경화 촉진제로서는 예를 들면, 디쿠밀퍼옥사이드, 사이클로헥사논퍼옥사이드, tert-부틸퍼옥시벤조에이트, 메틸에틸케톤퍼옥사이드, 디쿠밀퍼 옥사이드, tert-부틸쿠밀퍼옥사이드, 디-tert-부틸퍼옥사이드, 디이소프로필벤젠하이드로퍼옥사이드, 쿠멘하이드로퍼옥사이드, tert-부틸하이드로퍼옥사이드 등이 열거된다. 유기 과산화물계 경화 촉진제로서는 시판품을 사용하여도 좋고, 예를 들면, 니치유사 제조의 「퍼쿠밀 D」 등이 열거된다.Examples of organic peroxide-based curing accelerators include dicumyl peroxide, cyclohexanone peroxide, tert-butyl peroxybenzoate, methyl ethyl ketone peroxide, dicumyl peroxide, tert-butyl cumyl peroxide, and di-tert-butyl peroxide. oxide, diisopropylbenzene hydroperoxide, cumene hydroperoxide, tert-butyl hydroperoxide, etc. are listed. As an organic peroxide-based curing accelerator, a commercial product may be used, for example, "Percumil D" manufactured by Nichiyu Corporation.

제1 수지 조성물 중의 경화 촉진제의 함유량은 특별히 한정되지 않지만, 에폭시 수지와 경화제의 불휘발 성분을 100질량%로 했을 때, 0.01질량% 내지 3질량%가 바람직하다.The content of the curing accelerator in the first resin composition is not particularly limited, but is preferably 0.01% by mass to 3% by mass when the nonvolatile components of the epoxy resin and the curing agent are 100% by mass.

-(f) 난연제--(f) Flame retardant-

제1 수지 조성물은 (f) 난연제를 포함하여도 좋다. 난연제로서는 예를 들면, 유기 인계 난연제, 유기계 질소 함유 인 화합물, 질소 화합물, 실리콘계 난연제, 금속 수산화물 등이 열거된다. 난연제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다.The first resin composition may contain (f) a flame retardant. Examples of flame retardants include organophosphorus flame retardants, organic nitrogen-containing phosphorus compounds, nitrogen compounds, silicone flame retardants, and metal hydroxides. Flame retardants may be used individually, or two or more types may be used in combination.

난연제로서는 시판품을 사용하여도 좋고, 예를 들면, 산코 (주) 제조의 「HCA-HQ」, 다이하치 카가쿠 코교 (주) 제조의 「PX-200」 등이 열거된다.As the flame retardant, a commercially available product may be used, for example, “HCA-HQ” manufactured by Sanko Co., Ltd., “PX-200” manufactured by Daihachi Chemical Co., Ltd., etc. are listed.

제1 수지 조성물이 난연제를 함유하는 경우, 난연제의 함유량은 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 0.5질량% 내지 20질량%, 보다 바람직하게는 0.5질량% 내지 15질량%, 더욱 바람직하게는 0.5질량% 내지 10질량%가 더욱 바람직하다.When the first resin composition contains a flame retardant, the content of the flame retardant is not particularly limited, but is preferably 0.5% by mass to 20% by mass, more preferably 0.5% by mass to 15% by mass, and still more preferably 0.5% by mass. to 10% by mass is more preferable.

-(g) 유기 충전재--(g) Organic filler-

수지 조성물은, 연신을 향상시키는 관점에서, (g) 유기 충전재를 포함하여도 좋다. 유기 충전재로서는, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 사용할 수 있는 임의의 유기 충전재를 사용하여도 좋고, 예를 들면, 고무 입자, 폴리아미드 미립자, 실리콘 입자 등이 열거된다.The resin composition may contain (g) an organic filler from the viewpoint of improving stretching. As the organic filler, any organic filler that can be used when forming the insulating layer of a printed wiring board may be used. Examples include rubber particles, polyamide fine particles, and silicon particles.

고무 입자로서는 시판품을 사용하여도 좋고, 예를 들면, 다우·케미컬 닛폰 (주) 제조의 「EXL2655」, 간츠 카세이 (주) 제조의 「AC3816N」 등이 열거된다.As the rubber particles, commercially available products may be used, for example, “EXL2655” manufactured by Dow Chemical Nippon Co., Ltd., “AC3816N” manufactured by Gantz Kasei Co., Ltd., etc.

제1 수지 조성물이 유기 충전재를 함유하는 경우, 유기 충전재의 함유량은, 바람직하게는 0.1질량% 내지 20질량%, 보다 바람직하게는 0.2질량% 내지 10질량%, 더욱 바람직하게는 0.3질량% 내지 5질량%, 또는 0.5질량% 내지 3질량%이다.When the first resin composition contains an organic filler, the content of the organic filler is preferably 0.1% by mass to 20% by mass, more preferably 0.2% by mass to 10% by mass, and still more preferably 0.3% by mass to 5% by mass. mass%, or 0.5 mass% to 3 mass%.

-(h) 임의의 첨가제--(h) Optional additives-

제1 수지 조성물은, 추가로 필요에 따라 다른 첨가제를 포함하고 있어도 좋고, 이러한 다른 첨가제로서는 예를 들면, 유기 구리 화합물, 유기 아연 화합물 및 유기 코발트 화합물 등의 유기 금속 화합물, 및 증점제, 소포제, 레벨링제, 밀착성 부여제 및 착색제 등의 수지 첨가제 등이 열거된다.The first resin composition may further contain other additives as needed. Examples of such other additives include organometallic compounds such as organic copper compounds, organic zinc compounds, and organic cobalt compounds, and thickeners, antifoaming agents, and leveling agents. Resin additives such as agents, adhesion imparting agents, and colorants are listed.

(제2 수지 조성물)(Second resin composition)

제2 수지 조성물층을 형성하는 제2 수지 조성물은, 제1 수지 조성물과 조성이 상이하면 좋고, 특별히 한정되지 않지만, 제2 수지 조성물로서는 무기 충전재를 포함하는 것이 바람직하고, 무기 충전재와 에폭시 수지를 포함하는 것이 보다 바람직하다.The second resin composition forming the second resin composition layer may have a different composition from the first resin composition and is not particularly limited, but the second resin composition preferably contains an inorganic filler, and the inorganic filler and the epoxy resin are It is more desirable to include it.

제2 수지 조성물로서는, 휨을 억제하는 관점이나 유전 정접을 저하시키는 관점에서, 제2 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우의 무기 충전재의 함유량이 60질량% 이상인 것이 바람직하고, 70질량% 이상인 것이 보다 바람직하고, 72질량% 이상, 74질량% 이상, 또는 76질량% 이상인 것이 더욱 바람직하다. 제2 수지 조성물 중의 무기 충전재의 함유량의 상한은 바람직하게는 95질량% 이하, 보다 바람직하게는 90질량% 이하이다.As for the second resin composition, from the viewpoint of suppressing warping and reducing the dielectric loss tangent, the content of the inorganic filler when the non-volatile component in the second resin composition is 100% by mass is preferably 60% by mass or more, and is 70% by mass. It is more preferable that it is % or more, and it is still more preferable that it is 72 mass % or more, 74 mass % or more, or 76 mass % or more. The upper limit of the content of the inorganic filler in the second resin composition is preferably 95 mass% or less, more preferably 90 mass% or less.

제2 수지 조성물 중의 무기 충전재로서는 (제1 수지 조성물)란에서 설명한 무기 충전재와 동일한 것이 열거된다. 제1 수지 조성물 중의 무기 충전재의 함유량을 A1(질량%), 제2 수지 조성물 중의 무기 충전재의 함유량을 A2(질량%)로 했을 때, A1<A2의 관계를 충족하는 것이 바람직하다. 또한, A1과 A2의 차(A2-A1)는 바람직하게는 5질량% 이상, 보다 바람직하게는 8질량% 이상, 더욱 바람직하게는 10질량% 이상이다. 차(A2-A1)의 상한은 특별히 한정되지 않지만, 통상 90질량% 이하, 80질량% 이하 등으로 할 수 있다.Examples of the inorganic filler in the second resin composition include those similar to the inorganic filler described in the (first resin composition) column. When the content of the inorganic filler in the first resin composition is A1 (mass %) and the content of the inorganic filler in the second resin composition is A2 (mass %), it is preferable to satisfy the relationship of A1 < A2. Additionally, the difference between A1 and A2 (A2-A1) is preferably 5 mass% or more, more preferably 8 mass% or more, and even more preferably 10 mass% or more. The upper limit of the difference (A2-A1) is not particularly limited, but can usually be 90% by mass or less, 80% by mass or less, etc.

일 실시형태에서, 제2 수지 조성물은 무기 충전재와 함께 에폭시 수지 및 경화제를 포함한다. 제2 수지 조성물은, 필요에 따라, 추가로 열가소성 수지, 경화 촉진제, 난연제 및 유기 충전재 등의 첨가제를 포함하고 있어도 좋다.In one embodiment, the second resin composition includes an epoxy resin and a curing agent along with an inorganic filler. The second resin composition may further contain additives such as a thermoplastic resin, a curing accelerator, a flame retardant, and an organic filler, as needed.

제2 수지 조성물에 포함되는 에폭시 수지, 경화제 및 첨가제로서는 (제1 수지 조성물)란에서 설명한 (a) 에폭시 수지, (b) 경화제, 및 첨가제와 동일한 것이 열거된다.The epoxy resin, curing agent, and additives contained in the second resin composition include the same ones as (a) the epoxy resin, (b) curing agent, and additives described in the (first resin composition) column.

제2 수지 조성물 중의 에폭시 수지의 함유량은, 양호한 기계 강도, 절연 신뢰성을 나타내는 절연층을 수득하는 관점에서, 바람직하게는 0.1질량% 이상, 보다 바람직하게는 5질량% 이상, 더욱 바람직하게는 10질량% 이상이다. 에폭시 수지의 함유량의 상한은, 본 발명의 효과가 나타나는 한에서 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 30질량% 이하, 보다 바람직하게는 25질량% 이하, 더욱 바람직하게는 22질량% 이하이다. 따라서 제2 수지 조성물 중의 (a) 에폭시 수지의 함유량은 바람직하게는 0.1 내지 30질량%, 보다 바람직하게는 5 내지 25질량%, 더욱 바람직하게는 10 내지 22질량%이다.The content of the epoxy resin in the second resin composition is preferably 0.1% by mass or more, more preferably 5% by mass or more, and even more preferably 10% by mass, from the viewpoint of obtaining an insulating layer showing good mechanical strength and insulation reliability. It is more than %. The upper limit of the content of the epoxy resin is not particularly limited as long as the effect of the present invention is achieved, but is preferably 30 mass% or less, more preferably 25 mass% or less, and still more preferably 22 mass% or less. Therefore, the content of (a) epoxy resin in the second resin composition is preferably 0.1 to 30% by mass, more preferably 5 to 25% by mass, and even more preferably 10 to 22% by mass.

제2 수지 조성물 중의 에폭시 수지가 고형 에폭시 수지와 액상 에폭시 수지를 포함하고 있는 경우, 액상 에폭시 수지의 질량 ML에 대한 고형 에폭시 수지의 질량 MS의 비(MS/ML)는 1 내지 10의 범위가 바람직하다. MS/ML을 이러한 범위로 함으로써, ⅰ) 수지 시트의 형태로 사용하는 경우에 적당한 점성이 형성되고, ⅱ) 수지 시트의 형태로 사용하는 경우에 충분한 가요성이 얻어지고, 취급성이 향상되며, ⅲ) 충분한 파단 강도를 갖는 경화물을 수득할 수 있는 등의 효과가 얻어진다. 또한, 용융 점도를 저하시키기 위해, 무기 충전재를 100질량부로 한 경우, 액상 에폭시 수지를 2질량부 이상 포함하는 것이 바람직하다.When the epoxy resin in the second resin composition contains a solid epoxy resin and a liquid epoxy resin, the ratio of the mass M S of the solid epoxy resin to the mass M L of the liquid epoxy resin (M S /M L ) is 1 to 10. A range of is desirable. By setting M S / M L to this range, i) appropriate viscosity is formed when used in the form of a resin sheet, ii) sufficient flexibility is obtained when used in the form of a resin sheet, and handling is improved. and iii) effects such as obtaining a cured product with sufficient breaking strength are obtained. In addition, in order to reduce the melt viscosity, it is preferable to include 2 parts by mass or more of the liquid epoxy resin when the inorganic filler is 100 parts by mass.

또한, 제2 수지 조성물 중의 에폭시 수지의 에폭시 당량 및 에폭시 수지의 중량 평균 분자량의 적합한 범위는 제1 수지 조성물 중에 포함되는 에폭시 수지와 동일하다.In addition, the appropriate ranges of the epoxy equivalent weight of the epoxy resin in the second resin composition and the weight average molecular weight of the epoxy resin are the same as those of the epoxy resin contained in the first resin composition.

제2 수지 조성물 중의 경화제의 함유량은 특별히 한정되지 않지만, 저유전 정접의 절연층을 수득하는 관점에서, 바람직하게는 0.1질량% 이상, 보다 바람직하게는 1질량% 이상, 더욱 바람직하게는 5질량% 이상이다. 경화제의 함유량의 상한은, 본 발명의 효과가 나타나는 한에서 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 20질량% 이하, 보다 바람직하게는 15질량% 이하, 더욱 바람직하게는 12질량% 이하이다. 따라서, 제2 수지 조성물 중의 경화제의 함유량은 바람직하게는 0.1 내지 20질량%, 보다 바람직하게는 1 내지 15질량%, 더욱 바람직하게는 5 내지 12질량%이다.The content of the curing agent in the second resin composition is not particularly limited, but from the viewpoint of obtaining an insulating layer with a low dielectric loss tangent, it is preferably 0.1% by mass or more, more preferably 1% by mass or more, and even more preferably 5% by mass. That's it. The upper limit of the content of the curing agent is not particularly limited as long as the effect of the present invention is achieved, but is preferably 20% by mass or less, more preferably 15% by mass or less, and even more preferably 12% by mass or less. Therefore, the content of the curing agent in the second resin composition is preferably 0.1 to 20% by mass, more preferably 1 to 15% by mass, and even more preferably 5 to 12% by mass.

제2 수지 조성물 중의, 에폭시 수지와 경화제의 양 비는, [에폭시 수지의 에폭시기의 합계 수]:[경화제의 반응기의 합계 수]의 비율로 1:0.2 내지 1:2의 범위가 바람직하고, 1:0.3 내지 1:1.5가 보다 바람직하고, 1:0.4 내지 1:1이 더욱 바람직하다. 에폭시 수지와 경화제의 양 비를 이러한 범위로 함으로써, 제2 수지 조성물의 경화물의 내열성이 보다 향상된다.The amount ratio of the epoxy resin and the curing agent in the second resin composition is preferably in the range of 1:0.2 to 1:2 in the ratio of [total number of epoxy groups of the epoxy resin]:[total number of reactive groups of the curing agent], 1 :0.3 to 1:1.5 is more preferable, and 1:0.4 to 1:1 is still more preferable. By keeping the amount ratio of the epoxy resin and the curing agent within this range, the heat resistance of the cured product of the second resin composition is further improved.

제2 수지 조성물 중의 열가소성 수지의 함유량은 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 0질량% 내지 10질량%, 보다 바람직하게는 0.2질량% 내지 8질량%, 더욱 바람직하게는 0.5질량% 내지 5질량%이다.The content of the thermoplastic resin in the second resin composition is not particularly limited, but is preferably 0% by mass to 10% by mass, more preferably 0.2% by mass to 8% by mass, and still more preferably 0.5% by mass to 5% by mass. .

제2 수지 조성물 중의 경화 촉진제의 함유량은 특별히 한정되지 않지만, 0.001질량% 내지 3질량%의 범위에서 사용하는 것이 바람직하다.The content of the curing accelerator in the second resin composition is not particularly limited, but is preferably used in the range of 0.001% by mass to 3% by mass.

제2 수지 조성물 중의 난연제의 함유량은 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 0.2질량% 내지 20질량%, 보다 바람직하게는 0.5질량% 내지 15질량%, 더욱 바람직하게는 0.8질량% 내지 10질량%가 더욱 바람직하다.The content of the flame retardant in the second resin composition is not particularly limited, but is preferably 0.2% by mass to 20% by mass, more preferably 0.5% by mass to 15% by mass, and even more preferably 0.8% by mass to 10% by mass. desirable.

제2 수지 조성물 중의 유기 충전재의 함유량은 바람직하게는 0.1질량% 내지 20질량%, 보다 바람직하게는 0.2질량% 내지 10질량%이다.The content of the organic filler in the second resin composition is preferably 0.1% by mass to 20% by mass, more preferably 0.2% by mass to 10% by mass.

제2 수지 조성물은, 제1 수지 조성물과 마찬가지로, 필요에 따라 임의의 첨가제, 예를 들면, 유기 구리 화합물, 유기 아연 화합물 및 유기 코발트 화합물 등의 유기 금속 화합물, 및 유기 필러, 증점제, 소포제, 레벨링제, 밀착성 부여제, 및 착색제 등의 수지 첨가제 등을 포함하고 있어도 좋다.The second resin composition, like the first resin composition, optionally contains optional additives, for example, organometallic compounds such as organic copper compounds, organic zinc compounds, and organic cobalt compounds, and organic fillers, thickeners, antifoaming agents, and leveling agents. It may also contain resin additives such as adhesives, adhesion imparting agents, and colorants.

[지지체 부착 수지 시트][Resin sheet with support]

본 발명의 지지체 부착 수지 시트는, 지지체와, 지지체 위에 마련된 수지 시트를 구비하는 지지체 부착 수지 시트로서, 수지 시트는 지지체측에 마련된 제1 수지 조성물에 의해 형성되는 제1 수지 조성물층과, 지지체측과는 반대측에 마련된 제2 수지 조성물에 의해 형성되는 제2 수지 조성물층을 갖고, 제1 수지 조성물 및 제2 수지 조성물의 조성은 각각 상이하고, 제1 수지 조성물을 200℃에서 90분간 열 경화시켜서 수득되는 제1 열 경화물, 및 제2 수지 조성물을 200℃에서 90분간 열 경화시켜서 수득되는 제2 열 경화물의 23℃에서의 5.8GHz에서의 유전율이 모두 3.6 이하이고, 제1 및 제2 열 경화물의 23℃에서의 5.8GHz에서의 유전 정접이 모두 0.01 이하이고, 제1 및 제2 열 경화물의 유전 정접의 차가 0.005 이하이다.The resin sheet with a support of the present invention is a resin sheet with a support, comprising a support and a resin sheet provided on the support, wherein the resin sheet includes a first resin composition layer formed of a first resin composition provided on the support side, and a resin sheet on the support side. It has a second resin composition layer formed by a second resin composition provided on the opposite side, the compositions of the first resin composition and the second resin composition are different, and the first resin composition is heat-cured at 200 ° C. for 90 minutes. The dielectric constants of the first heat-cured product obtained and the second heat-cured product obtained by heat-curing the second resin composition at 200°C for 90 minutes are both 3.6 or less at 5.8 GHz at 23°C, and the first and second heat cured materials are Both dielectric loss tangents at 5.8 GHz at 23°C of the cured product are 0.01 or less, and the difference between the dielectric loss tangent of the first and second heat cured products is 0.005 or less.

본 발명의 지지체 부착 수지 시트의 일례를 도 1에 나타낸다. 도 1에서, 지지체 부착 수지 시트(10)는, 지지체(11)와, 지지체(11) 위에 마련된 수지 시트(12)를 구비한다. 도 1에서, 수지 시트(12)는 지지체측에 마련된 제1 수지 조성물층(13)과, 지지체와는 반대측에 마련된 제2 수지 조성물층(14)으로 이루어진다. 또한, 후술하는 바와 같이, 본 발명의 지지체 부착 수지 시트에서, 수지 시트는 제1 수지 조성물층과 제2 수지 조성물층 사이에 추가의 수지 조성물층을 포함하고 있어도 좋다.An example of the resin sheet with a support body of the present invention is shown in Fig. 1. In Fig. 1, the resin sheet 10 with a support body includes a support body 11 and a resin sheet 12 provided on the support body 11. In Fig. 1, the resin sheet 12 consists of a first resin composition layer 13 provided on the side of the support and a second resin composition layer 14 provided on the side opposite to the support. In addition, as will be described later, in the resin sheet with a support body of the present invention, the resin sheet may include an additional resin composition layer between the first resin composition layer and the second resin composition layer.

이하, 본 발명의 지지체 부착 수지 시트의 지지체 및 수지 시트에 대해 상세하게 설명한다.Hereinafter, the support and the resin sheet of the resin sheet with a support of the present invention will be described in detail.

<지지체><Support>

지지체로서는 예를 들면, 플라스틱 재료로 이루어진 필름, 금속박, 이형지가 열거되고, 플라스틱 재료로 이루어진 필름, 금속박이 바람직하다.Examples of the support include films made of plastic materials, metal foils, and release papers, and films and metal foils made of plastic materials are preferred.

지지체로서 플라스틱 재료로 이루어진 필름을 사용하는 경우, 플라스틱 재료로서는 예를 들면, 폴리에틸렌 테레프탈레이트(이하 「PET」라고 약칭하는 경우가 있음.), 폴리에틸렌 나프탈레이트(이하 「PEN」라고 약칭하는 경우가 있음.) 등의 폴리에스테르, 폴리카보네이트(이하 「PC」라고 약칭하는 경우가 있음.), 폴리메틸 메타크릴레이트(PMMA) 등의 아크릴, 환상 폴리올레핀, 트리아세틸 셀룰로스(TAC), 폴리에테르 설파이드(PES), 폴리에테르 케톤, 폴리이미드 등이 열거된다. 그 중에서도, 폴리에틸렌 테레프탈레이트, 폴리에틸렌 나프탈레이트가 바람직하고, 저렴한 폴리에틸렌 테레프탈레이트가 특히 바람직하다.When using a film made of a plastic material as a support, examples of the plastic material include polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as “PET”), polyethylene naphthalate (hereinafter sometimes abbreviated as “PEN”) .), polyester, polycarbonate (hereinafter sometimes abbreviated as “PC”), acrylic, polymethyl methacrylate (PMMA), cyclic polyolefin, triacetyl cellulose (TAC), and polyether sulfide (PES). ), polyether ketone, polyimide, etc. are listed. Among them, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate are preferable, and inexpensive polyethylene terephthalate is especially preferable.

지지체로서 금속박을 사용하는 경우, 금속박으로서는 예를 들면, 구리박, 알루미늄박 등이 열거되고, 구리박이 바람직하다. 구리박으로서는 구리의 단금속으로 이루어진 박을 사용해도 좋고, 구리와 다른 금속(예를 들면, 주석, 크로뮴, 은, 마그네슘, 니켈, 지르코늄, 규소, 티타늄 등)과의 합금으로 이루어진 박을 사용해도 좋다.When using a metal foil as a support, examples of the metal foil include copper foil, aluminum foil, etc., and copper foil is preferable. As the copper foil, a foil made of the simple metal of copper may be used, or a foil made of an alloy of copper and other metals (e.g., tin, chromium, silver, magnesium, nickel, zirconium, silicon, titanium, etc.) may be used. good night.

지지체는, 제1 수지 조성물층과 접합하는 면에 매트 처리, 코로나 처리를 실시하여도 좋다.The support may be subjected to mat treatment or corona treatment on the surface joined to the first resin composition layer.

또한, 지지체로서는 제1 수지 조성물층과 접합하는 면에 이형층을 갖는 이형층 부착 지지체를 사용하여도 좋다. 이형층 부착 지지체의 이형층에 사용하는 이형제로서는, 예를 들면, 알키드 수지, 폴리올레핀 수지, 우레탄 수지 및 실리콘 수지로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 이형제가 열거된다. 이형층 부착 지지체는 시판품을 사용하여도 좋고, 예를 들면, 알키드 수지계 이형제를 주성분으로 하는 이형층을 갖는 PET 필름인 린텍 (주) 제조의 「SK-1」, 「AL-5」, 「AL-7」 등이 열거된다.Additionally, as the support, a support with a release layer having a release layer on the surface bonded to the first resin composition layer may be used. Examples of the release agent used in the release layer of the support with a release layer include at least one release agent selected from the group consisting of alkyd resin, polyolefin resin, urethane resin, and silicone resin. The support with the release layer may be a commercially available product, for example, "SK-1", "AL-5", and "AL" manufactured by Lintech Co., Ltd., which are PET films having a release layer containing an alkyd resin-based release agent as a main component. -7”, etc. are listed.

지지체의 두께로서는 특별히 한정되지 않지만, 5㎛ 내지 75㎛의 범위가 바람직하고, 10㎛ 내지 60㎛의 범위가 보다 바람직하다. 또한, 이형층 부착 지지체를 사용할 경우, 이형층 부착 지지체 전체의 두께가 상기 범위인 것이 바람직하다.The thickness of the support is not particularly limited, but is preferably in the range of 5 μm to 75 μm, and more preferably in the range of 10 μm to 60 μm. In addition, when using a support body with a release layer, it is preferable that the entire thickness of the support body with a release layer is within the above range.

<수지 시트><Resin sheet>

수지 시트는, 지지체측에 마련된 제1 수지 조성물층과, 지지체와는 반대측에 마련되고, 제1 수지 조성물층을 형성하는 제1 수지 조성물과는 상이한 조성의 제2 수지 조성물에 의해 형성되는 제2 수지 조성물층을 갖는다.The resin sheet is formed of a first resin composition layer provided on the support side and a second resin composition provided on the side opposite to the support and having a different composition from the first resin composition forming the first resin composition layer. It has a resin composition layer.

본 발명의 지지체 부착 수지 시트에 있어서, 수지 시트의 두께는 바람직하게는 3㎛ 이상, 보다 바람직하게는 5㎛ 이상이다. 수지 시트의 두께의 상한은, 도체 위의 수지층의 두께 설정의 관점에서 고려되는데, 바람직하게는 70㎛ 이하, 보다 바람직하게는 50㎛ 이하이다.In the resin sheet with a support of the present invention, the thickness of the resin sheet is preferably 3 μm or more, more preferably 5 μm or more. The upper limit of the thickness of the resin sheet is considered from the viewpoint of setting the thickness of the resin layer on the conductor, and is preferably 70 μm or less, more preferably 50 μm or less.

제1 수지 조성물로 이루어진 제1 수지 조성물층의 두께는 바람직하게는 6㎛ 이하이고, 더욱 바람직하게는 5㎛ 이하이다. 제1 수지 조성물층의 두께의 하한은 특별히 한정되지 않지만, 조화 처리 후에 도체층에 대해 우수한 박리 강도를 나타내는 절연층을 수득하는 관점, 지지체 부착 수지 시트의 제조 용이성의 관점에서, 통상 0.05㎛ 이상, 0.1㎛ 이상 등으로 할 수 있다. 제1 수지 조성물층이 존재함으로써, 도금 필 강도를 향상시킬 수 있다.The thickness of the first resin composition layer made of the first resin composition is preferably 6 μm or less, and more preferably 5 μm or less. The lower limit of the thickness of the first resin composition layer is not particularly limited, but is usually 0.05 ㎛ or more from the viewpoint of obtaining an insulating layer showing excellent peel strength to the conductor layer after roughening treatment and from the viewpoint of ease of manufacturing the resin sheet with the support. It can be 0.1㎛ or more. By the presence of the first resin composition layer, the plating peeling strength can be improved.

제2 수지 조성물로 이루어진 제2 수지 조성물층의 두께는 특별히 한정되지 않고, 제1 수지 조성물층 및 후술하는 추가의 수지 조성물층(존재한다면)의 두께를 고려하면서, 수득되는 수지 시트의 두께가 원하는 범위가 되도록 결정하면 좋다. 일 실시형태에서, 제2 수지 조성물층의 두께는 바람직하게는 3㎛ 이상, 보다 바람직하게는 5㎛ 이상, 더욱 바람직하게는 7㎛ 이상, 8㎛ 이상, 9㎛ 이상 또는 10㎛ 이상이다. 제2 수지 조성물층의 두께의 상한은 바람직하게는 100㎛ 이하, 보다 바람직하게는 80㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 60㎛ 이하, 50㎛ 이하, 또는 40㎛ 이하이다. 제2 수지 조성물층이 존재함으로써 휨이 억제된다.The thickness of the second resin composition layer made of the second resin composition is not particularly limited, and the thickness of the resulting resin sheet is desired, taking into account the thickness of the first resin composition layer and the additional resin composition layer (if any) described later. It would be good to decide on a range. In one embodiment, the thickness of the second resin composition layer is preferably 3 μm or more, more preferably 5 μm or more, even more preferably 7 μm or more, 8 μm or more, 9 μm or more, or 10 μm or more. The upper limit of the thickness of the second resin composition layer is preferably 100 μm or less, more preferably 80 μm or less, and still more preferably 60 μm or less, 50 μm or less, or 40 μm or less. Warping is suppressed by the presence of the second resin composition layer.

본 발명에 있어서, 수지 시트는, 제1 수지 조성물층(지지체측)과 제2 수지 조성물층(지지체와는 반대측) 사이에, 제1 및 제2 수지 조성물층과는 상이한 조성의 수지 조성물층(도시하지 않음)을 포함하고 있어도 좋다. 이러한 추가의 수지 조성물층은 (제1 수지 조성물)란에서 설명한 성분과 동일한 재료를 사용하여 형성해도 좋다.In the present invention, the resin sheet is provided between the first resin composition layer (support side) and the second resin composition layer (opposite side to the support), a resin composition layer ( (not shown) may be included. This additional resin composition layer may be formed using the same materials as those described in the (first resin composition) column.

본 발명의 지지체 부착 수지 시트는, 수지 시트의 지지체와 접합하고 있지 않은 면(즉, 지지체와는 반대측의 면)에 보호 필름을 추가로 포함하여도 좋다. 보호 필름은, 수지 시트의 표면으로의 먼지 등의 부착이나 흠집의 방지에 기여한다. 보호 필름의 재료로서는, 지지체에 대하여 설명한 재료와 동일한 것을 사용해도 좋다. 보호 필름의 두께는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들면, 1㎛ 내지 40㎛이다. 지지체 부착 수지 시트는 프린트 배선판을 제조할 때에는 보호 필름을 벗김으로써 사용 가능해진다.The resin sheet with a support of the present invention may further include a protective film on the side of the resin sheet that is not bonded to the support (that is, the side opposite to the support). The protective film contributes to preventing adhesion of dust or the like to the surface of the resin sheet and prevention of scratches. As the material for the protective film, you may use the same material as the material described for the support. The thickness of the protective film is not particularly limited, but is, for example, 1 μm to 40 μm. The resin sheet with the support can be used by peeling off the protective film when manufacturing a printed wiring board.

제1 수지 조성물을 200℃에서 90분간 열 경화시켜서 수득되는 제1 열 경화물, 및 제2 수지 조성물을 200℃에서 90분간 열 경화시켜서 수득되는 제2 열 경화물은 23℃에서의 5.8GHz에서의 유전율이 낮으므로, 삽입 손실을 낮게 억제하는 것이 가능한 절연층을 형성한다. 제1 및 제2 열 경화물의 23℃에서의 5.8GHz에서의 유전율은 3.6 이하이고, 3.5 이하가 바람직하고, 3.4 이하, 3.3 이하, 또는 3.2 이하가 더욱 바람직하다. 하한치는 특별히 한정되지 않지만, 0 이상, 1.0 이상 등으로 할 수 있다. 유전율은 후술하는 (각 경화물의 유전율 및 유전 정접의 측정)의 수순에 따라 측정할 수 있다.The first heat-cured product obtained by heat-curing the first resin composition at 200°C for 90 minutes, and the second heat-cured product obtained by heat-curing the second resin composition at 200°C for 90 minutes were 5.8GHz at 23°C. Since the dielectric constant is low, an insulating layer is formed that can suppress insertion loss to a low level. The dielectric constant at 5.8 GHz at 23°C of the first and second heat-cured products is 3.6 or less, preferably 3.5 or less, and more preferably 3.4 or less, 3.3 or less, or 3.2 or less. The lower limit is not particularly limited, but can be set to 0 or more, 1.0 or more, etc. The dielectric constant can be measured according to the procedure described later (measurement of dielectric constant and dielectric loss tangent of each cured product).

제1 및 제2 열 경화물은 23℃에서의 5.8GHz에서의 유전 정접이 낮으므로, 삽입 손실을 낮게 억제하는 것이 가능한 절연층을 형성한다. 제1 및 제2 열 경화물의 23℃에서의 5.8GHz에서의 유전 정접은 모두 0.01 이하이고, 0.0095 이하가 바람직하고, 0.009 이하가 보다 바람직하고, 0.008 이하, 또는 0.007 이하가 더욱 바람직하다. 하한치는 특별히 한정되지 않지만, 0 이상 0.001 이상 등으로 할 수 있다. 유전 정접은 후술하는 (각 경화물의 유전율 및 유전 정접의 측정)의 수순에 따라 측정할 수 있다.Since the first and second heat-cured materials have a low dielectric loss tangent at 5.8 GHz at 23° C., they form an insulating layer capable of suppressing insertion loss to a low level. The dielectric loss tangent at 5.8GHz at 23°C of the first and second heat-cured products is both 0.01 or less, preferably 0.0095 or less, more preferably 0.009 or less, and even more preferably 0.008 or less, or 0.007 or less. The lower limit is not particularly limited, but can be 0 or more, 0.001 or more, etc. The dielectric loss tangent can be measured according to the procedure described later (measurement of dielectric constant and dielectric loss tangent of each cured product).

본 발명에서는 제1 및 제2 열 경화물의 유전 정접의 차가 작으므로, 삽입 손실의 편차를 억제하는 것이 가능한 절연층을 형성한다. 제1 및 제2 열 경화물의 유전 정접의 차는 0.005 이하이고, 0.0045 이하가 바람직하고, 0.004 이하, 0.003 이하, 0.002 이하, 또는 0.0015 이하가 더욱 바람직하다. 하한치는 특별히 한정되지 않지만, 0 이상 등으로 할 수 있다. 유전 정접의 차는 후술하는 (각 경화물의 유전율 및 유전 정접의 측정)의 수순에 따라 측정할 수 있다.In the present invention, since the difference in dielectric loss tangent between the first and second heat cured materials is small, an insulating layer capable of suppressing variation in insertion loss is formed. The difference in dielectric loss tangent of the first and second heat cured products is 0.005 or less, preferably 0.0045 or less, and more preferably 0.004 or less, 0.003 or less, 0.002 or less, or 0.0015 or less. The lower limit is not particularly limited, but can be set to 0 or more. The difference in dielectric loss tangent can be measured according to the procedure (measurement of dielectric constant and dielectric loss tangent of each cured material) described later.

본 발명의 지지체 부착 수지 시트는 삽입 손실을 저감하고, 또한 삽입 손실의 편차를 억제하는 것이 가능하므로, 고주파 대역에서 사용되는 프린트 배선판의 절연층용으로 사용할 수 있다. 또한, 본 발명의 지지체 부착 수지 시트는, 그 위에 미세한 배선을 형성할 수 있는 절연층을 형성할 수 있으므로, 고주파 용도에서의 빌드업 방식에 의한 프린트 배선판의 제조에 있어서, 절연층을 형성하기 위해 (프린트 배선판의 빌드업 절연층용)으로 적합하게 사용할 수 있고, 도금에 의해 도체층을 형성하기 위해 (도금에 의해 도체층을 형성하는 프린트 배선판의 빌드업 절연층용)에 보다 적합하게 사용할 수 있다. 또한, 고주파 대역이란, 1GHz 이상(바람직하게는 1.5GHz 이상, 보다 바람직하게는 3GHz 이상)의 고주파 대역을 의미한다.Since the resin sheet with a support body of the present invention can reduce insertion loss and suppress variation in insertion loss, it can be used as an insulating layer of a printed wiring board used in a high frequency band. In addition, since the resin sheet with a support of the present invention can form an insulating layer capable of forming fine wiring thereon, it can be used to form an insulating layer in the manufacture of printed wiring boards by the build-up method for high frequency applications. It can be suitably used (for a build-up insulating layer of a printed wiring board), and can be more suitably used for forming a conductor layer by plating (for a build-up insulating layer of a printed wiring board that forms a conductor layer by plating). Additionally, the high frequency band means a high frequency band of 1 GHz or more (preferably 1.5 GHz or more, more preferably 3 GHz or more).

[지지체 부착 수지 시트의 제조 방법][Method for manufacturing resin sheet with support]

이하, 본 발명의 지지체 부착 수지 시트의 제조 방법의 일례를 설명한다.Hereinafter, an example of a method for producing a resin sheet with a support body of the present invention will be described.

먼저, 지지체 위에 제1 수지 조성물로 이루어진 제1 수지 조성물층과, 제2 수지 조성물로 이루어진 제2 수지 조성물층을 형성한다.First, a first resin composition layer made of the first resin composition and a second resin composition layer made of the second resin composition are formed on the support.

제1 수지 조성물층 및 제2 수지 조성물층을 형성하는 방법으로서는 예를 들면, 제1 수지 조성물층과 제2 수지 조성물층을 서로 접합하도록 적층하는 방법이 열거된다. 제1 수지 조성물층과 제2 수지 조성물층을 서로 접합하도록 적층하는 방법으로서는 예를 들면, 지지체에 제1 수지 조성물을 도포하고 도포막을 건조하여 제1 수지 조성물층을 형성한 후, 제1 수지 조성물층 위에 제2 수지 조성물을 도포하고, 도포막을 건조하여 제2 수지 조성물층을 형성하는 방법이 열거된다.Examples of methods for forming the first resin composition layer and the second resin composition layer include a method of laminating the first resin composition layer and the second resin composition layer so that they are bonded to each other. A method of laminating the first resin composition layer and the second resin composition layer so as to bond them to each other includes, for example, applying the first resin composition to a support, drying the coating film to form the first resin composition layer, and then forming the first resin composition layer. A method of applying a second resin composition on the layer and drying the coating film to form a second resin composition layer is listed.

이 방법에서, 제1 수지 조성물층은, 유기 용제에 제1 수지 조성물을 용해한 수지 바니시를 조제하고, 이 수지 바니시를 다이 코터 등을 사용하여 지지체 위에 도포하고, 수지 바니시를 건조시킴으로써 제작할 수 있다.In this method, the first resin composition layer can be produced by preparing a resin varnish in which the first resin composition is dissolved in an organic solvent, applying this resin varnish on a support using a die coater or the like, and drying the resin varnish.

유기 용제로서는 예를 들면, 아세톤, 메틸에틸케톤 및 사이클로헥사논 등의 케톤류, 아세트산 에틸, 아세트산 부틸, 셀로솔브 아세테이트, 프로필렌 글리콜 모노메틸 에테르 아세테이트 및 카르비톨 아세테이트 등의 아세트산 에스테르류, 셀로솔브 및 부틸카르비톨 등의 카르비톨류, 톨루엔 및 크실렌 등의 방향족 탄화수소류, 디메틸포름아미드, 디메틸아세트아미드 및 N-메틸피롤리돈 등의 아미드계 용매 등을 들 수 있다. 유기 용제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다.Organic solvents include, for example, ketones such as acetone, methyl ethyl ketone and cyclohexanone, acetic acid esters such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate and carbitol acetate, cellosolve and butyl. Examples include carbitols such as carbitol, aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene, and amide-based solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide, and N-methylpyrrolidone. Organic solvents may be used individually, or two or more types may be used in combination.

수지 바니시의 건조는, 가열, 열풍 분사 등의 공지의 건조 방법으로 실시해도 좋다. 수지 바니시 중의 유기 용제의 비점에 따라 다르지만, 예를 들면, 30질량% 내지 60질량%의 유기 용제를 포함하는 수지 바니시를 사용하는 경우, 50℃ 내지 150℃에서 3분간 내지 10분간 건조시킴으로써, 지지체 위에 제1 수지 조성물층을 형성할 수 있다.Drying of the resin varnish may be performed by known drying methods such as heating or hot air spraying. Although it varies depending on the boiling point of the organic solvent in the resin varnish, for example, when using a resin varnish containing 30% by mass to 60% by mass of an organic solvent, the support is dried at 50°C to 150°C for 3 to 10 minutes. A first resin composition layer can be formed on top.

상기 방법에 있어서, 제2 수지 조성물층은 유기 용제에 제2 수지 조성물을 용해한 수지 바니시를 조제하고, 이 수지 바니시를, 다이 코터 등을 사용하여 지지체 위에 형성한 제1 수지 조성물층 위에 도포하고, 수지 바니시를 건조시킴으로써 제작할 수 있다. 건조 조건을 약하게 함으로써, 용융 점도를 저하시킬 수도 있다.In the above method, the second resin composition layer is prepared by preparing a resin varnish in which the second resin composition is dissolved in an organic solvent, and this resin varnish is applied on the first resin composition layer formed on a support using a die coater or the like, It can be produced by drying the resin varnish. By weakening the drying conditions, the melt viscosity can also be reduced.

제2 수지 조성물을 용해한 수지 바니시의 조제에 사용하는 유기 용제로서는 제1 수지 조성물을 용해한 수지 바니시의 조제에 사용한 것과 같은 것을 사용할 수 있고, 제2 수지 조성물을 용해한 수지 바니시는, 제1 수지 조성물을 용해한 수지 바니시의 건조 방법과 동일한 방법으로 건조할 수 있다.The organic solvent used in preparing the resin varnish in which the second resin composition is dissolved may be the same as that used in the preparation of the resin varnish in which the first resin composition is dissolved, and the resin varnish in which the second resin composition is dissolved may be prepared by dissolving the first resin composition. It can be dried using the same method as drying the dissolved resin varnish.

또한, 수지 시트는, 상기의 도공법 이외에, 하나의 도공 라인 위에서 2종류의 수지 바니시를 순차 도공하는 랜덤 도공법에 의해 형성해도 좋다. 또한, 수지 시트는, 제2 수지 조성물층 위에 제1 수지 조성물을 도포하고, 도포막을 건조하여 제1 수지 조성물층을 형성하는 방법, 및 별개로 준비한 제1 수지 조성물층과 제2 수지 조성물층을 서로 접합하도록 적층하는 방법 등에 의해 형성할 수도 있다.In addition to the above coating method, the resin sheet may be formed by a random coating method in which two types of resin varnishes are sequentially applied on one coating line. In addition, the resin sheet includes a method of applying a first resin composition on a second resin composition layer and drying the coating film to form a first resin composition layer, and a method of forming a first resin composition layer and a separately prepared first resin composition layer and a second resin composition layer. It can also be formed by a method of stacking so as to be joined to each other.

또한, 본 발명에서는 예를 들면, 보호 필름 위에 제2 수지 조성물층 및 제1 수지 조성물층을 차례로 형성한 후에 제1 수지 조성물층 위에 지지체를 적층하여 지지체 부착 수지 시트를 제작하여도 좋다.In addition, in the present invention, for example, after forming the second resin composition layer and the first resin composition layer sequentially on the protective film, a support may be laminated on the first resin composition layer to produce a resin sheet with a support.

제2 수지 조성물층은 프리프레그여도 좋다. 프리프레그는 시트상 섬유 기재에 제2 수지 조성물을 함침시켜 형성된다.The second resin composition layer may be a prepreg. The prepreg is formed by impregnating a sheet-like fiber base material with the second resin composition.

프리프레그에 사용하는 시트상 섬유 기재는 특별히 한정되지 않고, 글라스 클로스, 아라미드 부직포, 액정 폴리머 부직포 등의 프리프레그용 기재로서 상용되고 있는 것을 사용할 수 있다.The sheet-like fiber substrate used for the prepreg is not particularly limited, and commonly used prepreg substrates such as glass cloth, aramid nonwoven fabric, and liquid crystal polymer nonwoven fabric can be used.

프리프레그는 핫 멜트법, 솔벤트법 등의 공지의 방법으로 제조할 수 있다.Prepreg can be manufactured by known methods such as hot melt method and solvent method.

프리프레그의 두께는, 상술한 수지 시트에서의 제2 수지 조성물층과 동일한 범위로 할 수 있다.The thickness of the prepreg can be within the same range as that of the second resin composition layer in the above-mentioned resin sheet.

[프린트 배선판][Printed wiring board]

본 발명의 프린트 배선판은, 본 발명의 지지체 부착 수지 시트에서의 수지 시트의 경화물에 의해 형성된 절연층을 포함한다. 또한, 본 발명의 프린트 배선판에서 사용하는 지지체 부착 수지 시트는, 삽입 손실을 저감시키고, 또한 삽입 손실의 편차를 억제할 수 있으므로, 고주파 대역에서 동작하는 스트립 라인 구조의 도체층을 구비하는 것이 바람직하다.The printed wiring board of the present invention includes an insulating layer formed from a cured product of the resin sheet with a support body of the present invention. In addition, the resin sheet with a support used in the printed wiring board of the present invention is preferably provided with a conductor layer of a strip line structure that operates in a high frequency band because it can reduce insertion loss and suppress variation in insertion loss. .

본 발명의 프린트 배선판은 예를 들면, 상술한 지지체 부착 수지 시트를 사용하여 하기 (1) 내지 (4)의 공정을 포함하는 방법에 의해 제조할 수 있다.The printed wiring board of the present invention can be manufactured, for example, by a method including the steps (1) to (4) below using the resin sheet with the support described above.

(1) 기재와, 당해 기재의 적어도 한쪽의 면에 형성된 배선층을 갖는 배선층 부착 기재(내층 회로 기판)를 준비하는 공정,(1) A process of preparing a base material with a wiring layer (inner layer circuit board) having a base material and a wiring layer formed on at least one side of the base material,

(2) 본 발명의 지지체 부착 수지 시트를, 배선층이 제2 수지 조성물층이 배선층 부착 기재와 접합하도록 배선층 부착 기재 위에 적층시키고, 열 경화시켜서 절연층을 형성하는 공정,(2) A step of laminating the resin sheet with a support of the present invention on a substrate with a wiring layer so that the second resin composition layer is bonded to the substrate with a wiring layer, and heat curing to form an insulating layer,

(3) 절연층을 조화 처리하는 공정, 및(3) a process of roughening the insulating layer, and

(4) 도체층을 형성하는 공정을 포함한다.(4) It includes a process of forming a conductor layer.

<공정 (1)><Process (1)>

공정 (1)은, 기재와, 당해 기재의 적어도 한쪽의 면에 형성된 배선층을 갖는 배선층 부착 기재를 준비하는 공정이다. 도 2에 일례를 나타낸 바와 같이, 배선층 부착 기재(20)는, 기재(21)의 적어도 한쪽의 면에 기재(21)의 일부인 배선층(22)을 갖는다.Step (1) is a step of preparing a substrate with a wiring layer having a substrate and a wiring layer formed on at least one side of the substrate. As an example is shown in FIG. 2 , the substrate 20 with a wiring layer has a wiring layer 22 that is a part of the substrate 21 on at least one side of the substrate 21 .

공정 (1)의 상세는, 도 3에 일례를 나타낸 바와 같이, 배선층 부착 기재의 배선층에 패터닝(patterning)을 행한다. 패터닝된 배선층(22')은, 기판(21)의 특성을 고려하여 예를 들면, 드라이 필름을 사용한 포토리소그래피, 드릴, 레이저, 플라즈마, 에칭 매체 등을 사용하는 공지의 방법에 의해 형성할 수 있다.As an example of step (1) is shown in FIG. 3, patterning is performed on the wiring layer of the substrate with a wiring layer. The patterned wiring layer 22' can be formed by a known method using, for example, photolithography using a dry film, a drill, a laser, a plasma, an etching medium, etc., taking into account the characteristics of the substrate 21. .

배선층에 사용하는 재료는 특별히 한정되지 않는다. 적합한 실시형태에서는 배선층은 금, 백금, 팔라듐, 은, 구리, 알루미늄, 코발트, 크로뮴, 아연, 니켈, 티타늄, 텅스텐, 철, 주석 및 인듐으로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 금속을 포함한다. 배선층은 단금속층이라도 합금층이라도 좋고, 합금층으로서는 예를 들면, 상기의 그룹으로부터 선택되는 2종 이상의 금속의 합금(예를 들면, 니켈·크로뮴 합금, 구리·니켈 합금 및 구리·티타늄 합금)으로 형성된 것이 열거되고, 구리가 바람직하다.The material used for the wiring layer is not particularly limited. In a suitable embodiment, the wiring layer includes one or more metals selected from the group consisting of gold, platinum, palladium, silver, copper, aluminum, cobalt, chromium, zinc, nickel, titanium, tungsten, iron, tin and indium. The wiring layer may be a single metal layer or an alloy layer, and the alloy layer may be, for example, an alloy of two or more metals selected from the above group (e.g., nickel/chromium alloy, copper/nickel alloy, and copper/titanium alloy). Those formed are listed, copper being preferred.

기재로서는, 공정 (1) 내지 (4)를 실시할 수 있는 한 특별히 한정되지 않는다. 기재로서는, 예를 들면, 유리 에폭시 기판, 금속 기판, 폴리에스테르 기판, 폴리이미드 기판, BT 레진 기판, 열 경화형 폴리페닐렌 에테르 기판 등의 기판이 열거되고, 기판 표면에 구리박 등의 금속층이 형성되어 있어도 좋다.The base material is not particularly limited as long as steps (1) to (4) can be performed. Examples of substrates include glass epoxy substrates, metal substrates, polyester substrates, polyimide substrates, BT resin substrates, and thermosetting polyphenylene ether substrates. A metal layer such as copper foil is formed on the surface of the substrate. It's okay if it's done.

기재의 두께는 박형화의 관점에서 얇은 편이 바람직하며, 바람직하게는 1000㎛ 미만, 보다 바람직하게는 800㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 700㎛ 이하, 보다 더 바람직하게는 600㎛ 이하이다. 기판의 두께의 하한은 특별히 제한되지 않지만, 반송시의 취급성 향상의 관점에서, 바람직하게는 30㎛ 이상, 보다 바람직하게는 50㎛ 이상, 더욱 바람직하게는 100㎛ 이상이다.The thickness of the base material is preferably thinner from the viewpoint of thinning, and is preferably less than 1000 μm, more preferably 800 μm or less, further preferably 700 μm or less, and even more preferably 600 μm or less. The lower limit of the thickness of the substrate is not particularly limited, but from the viewpoint of improving handling during transportation, it is preferably 30 μm or more, more preferably 50 μm or more, and even more preferably 100 μm or more.

배선층의 두께는 박형화의 관점에서, 바람직하게는 40㎛ 이하, 보다 바람직하게는 35㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 30㎛ 이하, 보다 더 바람직하게는 25㎛ 이하, 특히 바람직하게는 20㎛ 이하, 19㎛ 이하, 또는 18㎛ 이하이다. 표면 배선의 두께의 하한은 특별히 제한되지 않지만, 통상 1㎛ 이상, 3㎛ 이상, 5㎛ 이상 등이다.From the viewpoint of thinning, the thickness of the wiring layer is preferably 40 μm or less, more preferably 35 μm or less, further preferably 30 μm or less, even more preferably 25 μm or less, particularly preferably 20 μm or less, 19 It is ㎛ or less, or 18 ㎛ or less. The lower limit of the thickness of the surface wiring is not particularly limited, but is usually 1 μm or more, 3 μm or more, or 5 μm or more.

배선층의 라인(회로 폭)/스페이스(회로 사이의 폭) 비는 특별히 제한되지 않지만, 바람직하게는 100/100㎛ 이하(즉 피치가 200㎛ 이하), 바람직하게는 25/25㎛ 이하(피치 50㎛ 이하), 바람직하게는 20/20㎛ 이하(즉 피치가 40㎛ 이하), 보다 바람직하게는 18/18㎛ 이하(피치 36㎛ 이하), 더욱 바람직하게는 15/15㎛ 이하(피치 30㎛ 이하)이다. 배선층의 라인/스페이스 비의 하한은 특별히 제한되지 않지만, 바람직하게는 0.5/0.5㎛ 이상, 보다 바람직하게는 1/1㎛ 이상이다. 피치는 배선층의 전체에 걸쳐 동일할 필요는 없다.The line (circuit width)/space (width between circuits) ratio of the wiring layer is not particularly limited, but is preferably 100/100 μm or less (i.e., pitch 200 μm or less), preferably 25/25 μm or less (pitch 50 μm or less). ㎛ or less), preferably 20/20 ㎛ or less (i.e., pitch 40 ㎛ or less), more preferably 18/18 ㎛ or less (pitch 36 ㎛ or less), even more preferably 15/15 ㎛ or less (pitch 30 ㎛ or less) below). The lower limit of the line/space ratio of the wiring layer is not particularly limited, but is preferably 0.5/0.5 μm or more, and more preferably 1/1 μm or more. The pitch need not be the same throughout the wiring layer.

배선층 부착 기재는 필요에 따라 소정의 크기로 절단하고 나서, 다음의 공정을 행하여도 좋다.The substrate with the wiring layer may be cut into a predetermined size as needed and then subjected to the following process.

<공정 (2)><Process (2)>

공정 (2)는, 본 발명의 지지체 부착 수지 시트를, 배선층이 제2 수지 조성물층이 배선층 부착 기재와 접합하도록 배선층 부착 기재 위에 적층시키고, 열 경화시켜서 절연층을 형성하는 공정이다. 상세하게는, 도 4에 일례를 나타낸 바와 같이, 전술한 공정 (1)에서 수득된 배선층 부착 기재의 배선층(22')을 매립하도록, 지지체 부착 수지 시트(10)의 제2 수지 조성물층(14)을 적층시키고, 지지체 부착 수지 시트(10)의 수지 시트(12)를 열 경화시킨다.Step (2) is a step of laminating the resin sheet with a support of the present invention on a substrate with a wiring layer so that the second resin composition layer is bonded to the substrate with a wiring layer, and thermally curing it to form an insulating layer. In detail, as an example shown in FIG. 4, the second resin composition layer 14 of the resin sheet 10 with a support body is embedded so as to bury the wiring layer 22' of the substrate with a wiring layer obtained in the above-described step (1). ) are laminated, and the resin sheet 12 of the support-attached resin sheet 10 is heat-cured.

배선층과 지지체 부착 수지 시트의 적층은, 지지체 부착 수지 시트의 보호 필름을 제거 후, 예를 들면, 지지체측부터 지지체 부착 수지 시트를 배선층에 가열 압착함으로써 행할 수 있다. 지지체 부착 수지 시트를 배선층에 가열 압착하는 부재(이하, 「가열 압착 부재」라고도 함.)로서는 예를 들면, 가열된 금속판(SUS 경판 등) 또는 금속 롤(SUS 롤) 등이 열거된다. 또한, 가열 압착 부재를 지지체 부착 수지 시트에 직접 프레스하는 것이 아니라, 배선층의 표면 요철에 지지체 부착 수지 시트가 충분히 추종하도록, 내열 고무 등의 탄성재를 개재하여 프레스하는 것이 바람직하다.Lamination of the wiring layer and the resin sheet with a support can be performed by, for example, heat-pressing the resin sheet with a support on the wiring layer from the support side after removing the protective film of the resin sheet with a support. Examples of members for heat-pressing the support-attached resin sheet to the wiring layer (hereinafter also referred to as “heat-pressing member”) include heated metal plates (SUS head plates, etc.) or metal rolls (SUS rolls). In addition, it is preferable not to press the heat-pressed member directly onto the support-attached resin sheet, but to press it through an elastic material such as heat-resistant rubber so that the support-attached resin sheet sufficiently follows the surface irregularities of the wiring layer.

배선층과 지지체 부착 수지 시트의 적층은, 지지체 부착 수지 시트의 보호 필름을 제거 후, 진공 라미네이트법에 의해 실시해도 좋다. 진공 라미네이트법에 있어서, 가열 압착 온도는 바람직하게는 60℃ 내지 160℃, 보다 바람직하게는 80℃ 내지 140℃의 범위이고, 가열 압착 압력은 바람직하게는 0.098MPa 내지 1.77MPa, 보다 바람직하게는 0.29MPa 내지 1.47MPa의 범위이고, 가열 압착 시간은 바람직하게는 20초간 내지 400초간, 보다 바람직하게는 30초간 내지 300초간의 범위이다. 적층은 바람직하게는 압력 13hPa 이하의 감압 조건 하에서 실시한다.Lamination of the wiring layer and the resin sheet with a support may be performed by a vacuum lamination method after removing the protective film of the resin sheet with a support. In the vacuum lamination method, the heat-compression temperature is preferably in the range of 60°C to 160°C, more preferably 80°C to 140°C, and the heat-compression pressure is preferably 0.098 MPa to 1.77 MPa, more preferably 0.29 MPa. It ranges from MPa to 1.47 MPa, and the heat compression time is preferably from 20 seconds to 400 seconds, more preferably from 30 seconds to 300 seconds. Lamination is preferably carried out under reduced pressure conditions of 13 hPa or less.

적층은 시판의 진공 라미네이터에 의해 행할 수 있다. 시판의 진공 라미네이터로서는 예를 들면, 닛코·머터리얼즈 (주) 제조의 진공 가압식 라미네이터, (주) 메이키 세사쿠쇼 제조의 진공 가압식 라미네이터, 닛코·머터리얼즈 (주) 제조의 배큠 어플리케이터 등이 열거된다.Lamination can be performed using a commercially available vacuum laminator. Commercially available vacuum laminators include, for example, a vacuum pressurized laminator manufactured by Nikko Materials Co., Ltd., a vacuum pressurized laminator manufactured by Meiki Sesakusho Co., Ltd., a vacuum applicator manufactured by Nikko Materials Co., Ltd., etc. These are listed.

적층 후에, 상압 하(대기압 하), 예를 들면, 가열 압착 부재를 지지체측부터 프레스함으로써, 적층된 지지체 부착 수지 시트의 평활화 처리를 행하여도 좋다. 평활화 처리의 프레스 조건은, 상기 적층의 가열 압착 조건과 동일한 조건으로 할 수 있다. 평활화 처리는 시판의 라미네이터에 의해 행할 수 있다. 또한, 적층과 평활화 처리는 상기의 시판의 진공 라미네이터를 사용하여 연속적으로 행하여도 좋다.After lamination, the laminated resin sheet with the support may be smoothed under normal pressure (under atmospheric pressure), for example, by pressing a heat-pressing member from the support side. The press conditions for the smoothing treatment can be the same as the heat-pressing conditions for the above-described lamination. Smoothing treatment can be performed using a commercially available laminator. Additionally, the lamination and smoothing treatment may be performed continuously using the commercially available vacuum laminator described above.

제2 수지 조성물층을, 배선층이 매립되도록 배선층 부착 기재 위에 적층한 후, 수지 시트를 열 경화시켜 절연층을 형성한다. 수지 시트의 열 경화 조건은 특별히 한정되지 않고, 배선판의 절연층을 형성할 때에 통상 채용되는 조건을 사용해도 좋다.After the second resin composition layer is laminated on the substrate with a wiring layer so that the wiring layer is embedded, the resin sheet is heat-cured to form an insulating layer. The heat curing conditions for the resin sheet are not particularly limited, and conditions normally employed when forming the insulating layer of a wiring board may be used.

예를 들면, 수지 시트의 열 경화 조건은, 제1 및 제2 수지 조성물의 종류 등에 따라서도 다르지만, 경화 온도는 120℃ 내지 240℃의 범위(바람직하게는 150℃ 내지 220℃의 범위, 보다 바람직하게 170℃ 내지 200℃의 범위), 경화 시간은 5분간 내지 120분간의 범위(바람직하게는 10분간 내지 100분간, 보다 바람직하게는 15분간 내지 90분간)로 할 수 있다.For example, the heat curing conditions of the resin sheet vary depending on the types of the first and second resin compositions, etc., but the curing temperature is in the range of 120°C to 240°C (preferably in the range of 150°C to 220°C, more preferably (eg, 170°C to 200°C), and the curing time can be in the range of 5 minutes to 120 minutes (preferably 10 minutes to 100 minutes, more preferably 15 minutes to 90 minutes).

수지 시트를 열 경화시키기 전에, 수지 시트를 경화 온도보다도 낮은 온도에서 예비 가열해도 좋다. 예를 들면, 수지 시트를 열 경화시키기에 앞서, 50℃ 이상 120℃ 미만(바람직하게는 60℃ 이상 110℃ 이하, 보다 바람직하게는 70℃ 이상 100℃ 이하)의 온도에서, 수지 시트를 5분간 이상(바람직하게는 5분간 내지 150분간, 보다 바람직하게는 15분간 내지 120분간) 예비 가열해도 좋다.Before thermally curing the resin sheet, the resin sheet may be preheated at a temperature lower than the curing temperature. For example, prior to heat curing the resin sheet, the resin sheet is cured for 5 minutes at a temperature of 50°C to 120°C (preferably 60°C to 110°C, more preferably 70°C to 100°C). You may preheat it for more than 5 minutes (preferably 5 minutes to 150 minutes, more preferably 15 minutes to 120 minutes).

지지체 부착 수지 시트의 지지체는, 배선층 부착 기재 위에 지지체 부착 수지 시트를 적층하고 열 경화한 후에 박리하여도 좋고, 배선층 부착 기재 위에 지지체 부착 수지 시트를 적층하기 전에 지지체를 박리하여도 좋다. 또한, 후술하는 조화 처리 공정 전에 지지체를 박리하여도 좋다.The support of the resin sheet with a support body may be peeled off after laminating the resin sheet with a support body on a substrate with a wiring layer and heat curing, or the support may be peeled before laminating the resin sheet with a support body on a substrate with a wiring layer. Additionally, the support may be peeled off before the roughening treatment process described later.

절연층의 두께는 수지 시트의 두께와 동일하며, 바람직한 범위도 동일하다.The thickness of the insulating layer is the same as that of the resin sheet, and the preferred range is also the same.

<공정 (3)><Process (3)>

공정 (3)은 절연층을 조화 처리하는 공정이다. 조화 처리의 수순, 조건은 특별히 한정되지 않고, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 통상 사용되는 공지 의 수순, 조건을 채용할 수 있다. 예를 들면, 팽윤액에 의한 팽윤 처리, 산화제에 의한 조화 처리, 중화액에 의한 중화 처리를 이 순으로 실시하여 절연층을 조화 처리할 수 있다. 팽윤액으로서는 특별히 한정되지 않지만, 알칼리 용액. 계면 활성제 용액 등이 열거되고, 바람직하게는 알칼리 용액이며, 당해 알칼리 용액으로서는 수산화 나트륨 용액, 수산화 칼륨 용액이 보다 바람직하다. 시판되고 있는 팽윤액으로서는 예를 들면, 아토텍 재팬 (주) 제조의 「스웰링·딥·시큐리간트(swelling dip securiganth) P」, 「스웰링 딥 시큐리간트 SBU」 등이 열거된다. 팽윤액에 의한 팽윤 처리는 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 30℃ 내지 90℃의 팽윤액에 절연층을 1분간 내지 20 분간 침지함으로써 행할 수 있다. 절연층의 수지의 팽윤을 적당한 레벨로 억제하는 관점에서, 40℃ 내지 80℃의 팽윤액에 경화체를 5분간 내지 15분간 침지시키는 것이 바람직하다. 산화제로서는 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 수산화 나트륨의 수용액에 과망간산 칼륨이나 과망간산 나트륨을 용해시킨 알칼리성 과망간산 용액이 열거된다. 알칼리성 과망간산 용액 등의 산화제에 의한 조화 처리는 60℃ 내지 80℃로 가열한 산화제 용액에 절연층을 10분간 내지 30분간 침지시켜 행하는 것이 바람직하다. 또한, 알칼리성 과망간산 용액에서의 과망간산염의 농도는 5질량% 내지 10질량%가 바람직하다. 시판되고 있는 산화제로서는, 예를 들면, 아토텍 재팬 (주) 제조의 「컨센트레이트·컴팩트 CP」, 「도징 솔루션·시큐리간트 P」 등의 알칼리성 과망간산 용액이 열거된다. 또한, 중화액으로서는 산성의 수용액이 바람직하고, 시판품으로서는 예를 들면, 아토텍 재팬 (주) 제조의 「리덕션 솔루션·시큐리간트 P」가 열거된다. 중화액에 의한 처리는 산화제에 의한 조화 처리가 이루어진 처리면을 30℃ 내지 80℃의 중화액에 5분간 내지 30분간 침지시킴으로써 행할 수 있다. 작업성 등의 점에서, 산화제에 의한 조화 처리가 이루어진 대상물을, 40℃ 내지 70℃의 중화액에 5분간 내지 20분간 침지하는 방법이 바람직하다.Process (3) is a process of roughening the insulating layer. The procedures and conditions of the roughening treatment are not particularly limited, and known procedures and conditions normally used when forming the insulating layer of a printed wiring board can be adopted. For example, the insulating layer can be roughened by performing swelling treatment with a swelling liquid, roughening treatment with an oxidizing agent, and neutralization treatment with a neutralizing liquid in this order. The swelling liquid is not particularly limited, but is an alkaline solution. Surfactant solutions and the like are listed, and alkaline solutions are preferable. Sodium hydroxide solution and potassium hydroxide solution are more preferable as the alkaline solution. Examples of commercially available swelling liquids include “Swelling Deep Securiganth P” and “Swelling Deep Securiganth SBU” manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. The swelling treatment using the swelling liquid is not particularly limited, but can be performed, for example, by immersing the insulating layer in a swelling liquid at 30°C to 90°C for 1 minute to 20 minutes. From the viewpoint of suppressing swelling of the resin of the insulating layer to an appropriate level, it is preferable to immerse the cured body in a swelling liquid of 40°C to 80°C for 5 to 15 minutes. The oxidizing agent is not particularly limited, but examples include an alkaline permanganate solution obtained by dissolving potassium permanganate or sodium permanganate in an aqueous solution of sodium hydroxide. The roughening treatment with an oxidizing agent such as an alkaline permanganic acid solution is preferably performed by immersing the insulating layer in an oxidizing agent solution heated to 60°C to 80°C for 10 to 30 minutes. Additionally, the concentration of permanganate in the alkaline permanganate solution is preferably 5% by mass to 10% by mass. Examples of commercially available oxidizing agents include alkaline permanganate solutions such as “Concentrate Compact CP” and “Dosing Solution Securigant P” manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. Additionally, an acidic aqueous solution is preferable as the neutralizing liquid, and examples of commercially available products include "Reduction Solution/Securigant P" manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. Treatment with a neutralizing liquid can be performed by immersing the treated surface, which has undergone roughening treatment with an oxidizing agent, in a neutralizing liquid at 30°C to 80°C for 5 to 30 minutes. In terms of workability, etc., a method of immersing the object that has been roughened with an oxidizing agent in a neutralizing liquid at 40°C to 70°C for 5 to 20 minutes is preferable.

일 실시형태에서, 조화 처리 후의 절연층 표면의 산술 평균 거칠기 Ra는 바람직하게는 400nm 이하, 보다 바람직하게는 350nm 이하, 더욱 바람직하게는 300nm 이하, 250nm 이하, 200nm 이하, 150nm 이하, 또는 100nm 이하이다. 절연층 표면의 산술 평균 거칠기(Ra)는, 비접촉형 표면 조도계를 사용하여 측정할 수 있다. 비접촉형 표면 조도계의 구체예로서는 비코 인스트루먼츠사의 「WYKO NT3300」이 열거된다.In one embodiment, the arithmetic mean roughness Ra of the surface of the insulating layer after roughening is preferably 400 nm or less, more preferably 350 nm or less, even more preferably 300 nm or less, 250 nm or less, 200 nm or less, 150 nm or less, or 100 nm or less. . The arithmetic mean roughness (Ra) of the surface of the insulating layer can be measured using a non-contact surface roughness meter. Specific examples of non-contact surface roughness meters include “WYKO NT3300” from Vico Instruments.

공정 (3)의 조화 처리를 행하기 전에, 예를 들면, 절연층에 비아홀을 형성하는 공정을 행하여도 좋다. 이로써 절연층에 비아홀, 스루홀 등의 홀을 형성할 수 있다.Before performing the roughening treatment in step (3), for example, a step of forming a via hole in the insulating layer may be performed. As a result, holes such as via holes and through holes can be formed in the insulating layer.

비아홀의 형성은 특별히 한정되지 않지만, 절연층의 형성에 사용한 제1 및 제2 수지 조성물의 조성 등에 따라, 예를 들면, 드릴, 레이저, 플라즈마 등을 사용하여 실시해도 좋다. 홀의 치수나 형상은, 프린트 배선판의 디자인에 따라 적절하게 결정해도 좋다.The formation of the via hole is not particularly limited, but may be performed using, for example, a drill, laser, plasma, etc., depending on the composition of the first and second resin compositions used to form the insulating layer. The size and shape of the hole may be determined appropriately according to the design of the printed wiring board.

<공정 (4)><Process (4)>

공정 (4)는 도체층을 형성하는 공정이다. 도체층에 사용하는 도체 재료는 특별히 한정되지 않는다. 적합한 실시형태에서는, 도체층은, 금, 백금, 팔라듐,은, 구리, 알루미늄, 코발트, 크로뮴, 아연, 니켈, 티타늄, 텅스텐, 철, 주석 및 인듐으로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 금속을 포함한다. 도체층은, 단금속층이라도 합금층이라도 좋고, 합금층으로서는 예를 들면, 상기의 그룹으로부터 선택되는 2종 이상의 금속의 합금(예를 들면, 니켈·크로뮴 합금, 구리·니켈 합금 및 구리·티타늄 합금)으로 형성된 층이 열거된다. 그 중에서도, 도체층 형성의 범용성, 비용, 패터닝의 용이성 등의 관점에서, 크로뮴, 니켈, 티타늄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 또는 구리의 단금속층, 또는 니켈·크로뮴 합금, 구리·니켈 합금, 구리·티타늄 합금의 합금층이 바람직하고, 크로뮴, 니켈, 티타늄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 또는 구리의 단금속층, 또는 니켈·크로뮴 합금의 합금층이 보다 바람직하고, 구리의 단금속층이 더욱 바람직하다.Step (4) is a step of forming a conductor layer. The conductor material used for the conductor layer is not particularly limited. In a suitable embodiment, the conductor layer comprises one or more metals selected from the group consisting of gold, platinum, palladium, silver, copper, aluminum, cobalt, chromium, zinc, nickel, titanium, tungsten, iron, tin and indium. do. The conductor layer may be a single metal layer or an alloy layer, and the alloy layer may be, for example, an alloy of two or more metals selected from the above group (e.g., nickel/chromium alloy, copper/nickel alloy, and copper/titanium alloy) ) are listed. Among them, from the viewpoint of versatility of forming the conductor layer, cost, ease of patterning, etc., a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or a nickel-chromium alloy, a copper-nickel alloy , an alloy layer of a copper-titanium alloy is preferable, and a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or an alloy layer of a nickel-chromium alloy is more preferable, and a single metal layer of copper is more preferable. This is more preferable.

도체층은, 단층 구조라도, 다른 종류의 금속 또는 합금으로 이루어진 단금속층 또는 합금층이 2층 이상 적층된 복층 구조라도 좋다. 도체층이 복층 구조인 경우, 절연층과 접하는 층은, 크로뮴, 아연 또는 티타늄의 단금속층, 또는 니켈·크로뮴 합금의 합금층인 것이 바람직하다.The conductor layer may have a single-layer structure or a multi-layer structure in which two or more single metal layers or alloy layers made of different types of metals or alloys are laminated. When the conductor layer has a multi-layer structure, the layer in contact with the insulating layer is preferably a single metal layer of chromium, zinc, or titanium, or an alloy layer of nickel-chromium alloy.

도체층의 두께는 원하는 프린트 배선판의 디자인에 의하지만, 일반적으로 3㎛ 내지 35㎛, 바람직하게는 5㎛ 내지 30㎛이다.The thickness of the conductor layer depends on the desired design of the printed wiring board, but is generally 3 μm to 35 μm, preferably 5 μm to 30 μm.

도체층은 도금, 스퍼터, 증착 등 종래 공지의 임의 적합한 방법에 의해 형성할 수 있고, 도금에 의해 형성하는 것이 바람직하다. 적합한 일 실시형태는 예를 들면, 세미 어디티브법, 풀 어디티브법 등의 종래 공지의 기술에 의해 절연층의 표면에 도금하여, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있다. 또한. 지지체 부착 수지 시트에서의 지지체가 금속박인 경우, 서브트랙티브법 등의 종래 공지의 기술에 의해, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있다.The conductor layer can be formed by any suitable conventionally known method such as plating, sputtering, or vapor deposition, and is preferably formed by plating. In one suitable embodiment, for example, a conductor layer having a desired wiring pattern can be formed by plating the surface of the insulating layer using a conventionally known technique such as a semi-additive method or a full additive method. also. When the support in the resin sheet with a support is a metal foil, a conductor layer having a desired wiring pattern can be formed by conventionally known techniques such as the subtractive method.

상세는, 수지 시트를 열 경화시켜서 형성한 절연층의 표면에, 무전해 도금에 의해 도금 시드층을 형성한다. 이어서, 형성된 도금 시드층 위에, 원하는 배선 패턴에 대응하여 도금 시드층의 일부를 노출시키는 마스크 패턴을 형성한다. 노출된 도금 시드층 위에 전해 도금에 의해 전계 도금층을 형성한 후, 마스크 패턴을 제거한다. 그 후, 불필요한 도금 시드층을 에칭 등에 의해 제거하여, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있다.In detail, a plating seed layer is formed on the surface of an insulating layer formed by heat curing a resin sheet by electroless plating. Next, on the formed plating seed layer, a mask pattern is formed to expose a portion of the plating seed layer corresponding to the desired wiring pattern. After forming an electric field plating layer by electrolytic plating on the exposed plating seed layer, the mask pattern is removed. Thereafter, the unnecessary plating seed layer can be removed by etching or the like to form a conductor layer with a desired wiring pattern.

도 5에 일례를 나타낸 바와 같이, 노출된, 열 경화된 제1 수지 조성물층 (13') 및 열 경화된 제2 수지 조성물층(14')으로 이루어진 절연층(12')의 표면에 접합하는 도금 시드층(31)을 형성한다. 우선, 절연층(12')의 표면의 세정과 전하 조정을 위한 알칼리 클리닝을 행한다. 이어서, 소프트 에칭 공정을 행한다(비아홀이 있는 경우에는 비아홀 내의 세정을 위해 소프트 에칭 공정을 행한다). 구체적으로는, 황산 산성 퍼옥소 이황산 나트륨 수용액 등의 에천트를 사용하여, 임의 적합한 조건으로 처리하면 좋다. 이어서, Pd(팔라듐)을 절연층(12')의 표면에 부여하기 위한, 절연층(12')의 표면의 전하를 조정하는 프리딥(pre-dip) 공정을 행한다. 이어서, 당해 표면에 액티베이터인 Pd를 부여하고, 절연층(12')에 부여된 Pd를 환원시킨다. 이어서, 구리(Cu)를 절연층(12')의 표면에 석출시켜 도금 시드층(31)을 형성한다. 비아홀이 형성되어 있는 경우, 도금 시드층(31)은 비아홀 내, 즉 측벽 및 비아홀로부터 노출된 배선층을 덮도록 형성된다.As an example shown in Figure 5, bonded to the surface of the exposed insulating layer 12' consisting of the heat-cured first resin composition layer 13' and the heat-cured second resin composition layer 14'. A plating seed layer 31 is formed. First, alkaline cleaning is performed to clean the surface of the insulating layer 12' and adjust the charge. Next, a soft etching process is performed (if there is a via hole, a soft etching process is performed to clean the inside of the via hole). Specifically, the treatment may be performed under any suitable conditions using an etchant such as an aqueous sulfuric acid acidic sodium peroxodisulfate solution. Next, a pre-dip process is performed to adjust the electric charge on the surface of the insulating layer 12' in order to apply Pd (palladium) to the surface of the insulating layer 12'. Next, Pd, which is an activator, is applied to the surface, and the Pd applied to the insulating layer 12' is reduced. Next, copper (Cu) is deposited on the surface of the insulating layer 12' to form a plating seed layer 31. When a via hole is formed, the plating seed layer 31 is formed within the via hole, that is, to cover the side wall and the wiring layer exposed from the via hole.

도 6에 일례를 나타낸 바와 같이, 도금 시드층(31)을 형성 후, 도금 시드층(31)의 일부를 노출시키는 마스크 패턴(40)을 형성한다. 마스크 패턴(40)의 형성은 예를 들면, 드라이 필름을 도금 시드층(31)에 접합시켜서 소정의 조건으로 노광, 현상 및 세정을 행함으로써 형성할 수 있다.As an example shown in FIG. 6, after forming the plating seed layer 31, a mask pattern 40 is formed to expose a portion of the plating seed layer 31. The mask pattern 40 can be formed, for example, by bonding a dry film to the plating seed layer 31 and performing exposure, development, and cleaning under predetermined conditions.

공정 (4)에서 사용할 수 있는 드라이 필름으로서는, 포토 레지스트 조성물로 이루어진 감광성의 드라이 필름인 한 특별히 한정되지 않고, 예를 들면, 노볼락 수지, 아크릴 수지 등의 드라이 필름을 사용할 수 있다. 드라이 필름은 시판품을 사용하여도 좋고, 예를 들면, PET 필름 부착 드라이 필름인 닛코·머터리얼즈 (주) 제조 「ALPHO 20A263」, 히타치 카세이 (주) 제조 「RD1225」 등을 사용할 수 있다.The dry film that can be used in step (4) is not particularly limited as long as it is a photosensitive dry film made of a photoresist composition. For example, dry films made of novolac resin, acrylic resin, etc. can be used. The dry film may be a commercially available product. For example, dry films with PET film such as “ALPHO 20A263” manufactured by Nikko Materials Co., Ltd. and “RD1225” manufactured by Hitachi Kasei Co., Ltd. can be used.

도 7에 일례를 나타낸 바와 같이, 노출된 도금 시드층(31) 위에 전해 도금 처리에 의해 전계 도금층(32)을 형성한다. 비아홀이 형성되어 있는 경우, 함께 비아홀을 전계 도금 처리에 의해 매립하여 필드 비아(filled via)를 형성한다.As an example shown in FIG. 7, the electroplating layer 32 is formed on the exposed plating seed layer 31 by electrolytic plating. If via holes are formed, the via holes are buried together through electroplating to form filled vias.

도 8에 일례를 나타낸 바와 같이, 이어서, 마스크 패턴을 박리하여 제거하고, 노출된 도금 시드층(31)만을 제거하는 임의 적합한 조건에서의 플래시 에칭을 행하여 도체층(30)을 형성한다.As an example is shown in FIG. 8, the mask pattern is then peeled and removed, and flash etching is performed under any suitable conditions to remove only the exposed plating seed layer 31 to form the conductor layer 30.

본 발명에서는, 공정 (2) 내지 (4)의 절연층 및 도체층의 형성을 반복 실시하고, 복수의 절연층 및 복수의 도체층을 구비하는 다층 배선판을 형성해도 좋다. 이하, 다층 배선판의 제조 방법에 대하여 설명하지만, 상기한 내용과 중복되는 개소의 설명은 적절히 생략한다.In the present invention, the formation of the insulating layer and the conductor layer in steps (2) to (4) may be repeated to form a multilayer wiring board having a plurality of insulating layers and a plurality of conductor layers. Hereinafter, a method for manufacturing a multilayer wiring board will be described, but descriptions of parts that overlap with the above will be omitted as appropriate.

도 9에 일례를 나타낸 바와 같이, 지지체 부착 수지 시트의 제2 수지 조성물층이, 제작한 도체층(30)과 접합하도록 도체층(30) 위에 적층시키고, 열 경화시켜서 제2 절연층(12")을 형성한다. 즉 공정 (2)를 실시한다. 이 공정에서 사용하는 본 발명의 지지체 부착 수지 시트는, 배선층 부착 기재 위에 적층시킨 본 발명의 지지체 부착 수지 시트와 동일한 것을 사용하여도 좋고, 다른 것을 사용하여도 좋다.As an example is shown in Figure 9, the second resin composition layer of the resin sheet with a support is laminated on the conductor layer 30 so as to be bonded to the produced conductor layer 30, and is heat-cured to form a second insulating layer 12". ) is formed. That is, step (2) is carried out. The resin sheet with a support body of the present invention used in this step may be the same as the resin sheet with a support body of the present invention laminated on a substrate with a wiring layer. You may also use

도 10에 일례를 나타낸 바와 같이, 제2 절연층(12")에 비아홀(50)을 형성한 후에 조화 처리를 행하고, 도 11에 일례를 나타낸 바와 같이, 도금 시드층(31)을 형성한다. 도금 시드층(31)을 형성 후, 도 12에 일례를 나타낸 바와 같이, 도금 시드층(31)의 일부를 노출시키는 마스크 패턴(도시하지 않음)을 형성하고, 노출된 도금 시드층(31) 위에 전계 도금층(32)을 형성하고, 아울러 비아홀을 전계 도금 처리에 의해 매립하여 필드 비아(51)를 형성함으로써 도체층(30')을 형성한다.As an example shown in FIG. 10, a roughening process is performed after forming the via hole 50 in the second insulating layer 12", and as an example shown in FIG. 11, a plating seed layer 31 is formed. After forming the plating seed layer 31, as an example shown in FIG. 12, a mask pattern (not shown) exposing a part of the plating seed layer 31 is formed, and a mask pattern (not shown) is formed on the exposed plating seed layer 31. The electroplating layer 32 is formed, and the via hole is filled by electroplating to form a filled via 51, thereby forming the conductor layer 30'.

또한, 도 13에 일례를 나타낸 바와 같이, 본 발명의 프린트 배선판의 최외면 위에 솔더 레지스트막(60)을 형성하고, 솔더 레지스트막(60)으로부터 노출된 도체층에 니켈, 도금 처리, 및 납땜 처리 등의 필요한 표면 처리를 실시해도 좋다.In addition, as an example shown in FIG. 13, a solder resist film 60 is formed on the outermost surface of the printed wiring board of the present invention, and the conductor layer exposed from the solder resist film 60 is subjected to nickel, plating, and soldering treatment. Necessary surface treatment such as the like may be performed.

이렇게 제조한 다층 배선판은, 도 14에 일례를 나타낸 바와 같이, 도체층이 절연층(12')에 매설되어 있고, 소정의 패턴에 따라 배치되는 스트립 라인 구조로 되어 있다. 즉 절연층의 내부에 도체층이 배치되어 있다. 이러한 구성으로 함으로써, 고주파 대역에서의 사용이라도, 특성 임피던스의 변동을 억제할 수 있고, 삽입 손실을 저감시킬 수 있다. 또한, 도 14는, 도 12에 나타낸 단면에 직교하는 방향의 일부를 나타낸 모식 단면도이다.As an example is shown in FIG. 14, the multilayer wiring board manufactured in this way has a strip line structure in which the conductor layer is embedded in the insulating layer 12' and is arranged according to a predetermined pattern. That is, a conductor layer is disposed inside the insulating layer. With this configuration, even when used in a high frequency band, fluctuations in characteristic impedance can be suppressed and insertion loss can be reduced. Additionally, FIG. 14 is a schematic cross-sectional view showing a portion of a direction perpendicular to the cross-section shown in FIG. 12.

이상, 기재의 한쪽의 면에 배선층, 절연층 및 도체층을 갖는 프린트 배선판에 대해 설명했지만, 기재의 양면에 각각 배선층, 절연층 및 도체층을 갖는 프린트 배선판이라도 좋다. 또한, 기재의 양면에 복수의 절연층 및 도체층을 갖는 다층의 배선판이라도 좋다.Above, a printed wiring board having a wiring layer, an insulating layer, and a conductor layer on one side of the base material has been described, but a printed wiring board having a wiring layer, an insulating layer, and a conductor layer on both sides of the base material may also be used. Additionally, a multilayer wiring board having a plurality of insulating layers and conductor layers on both sides of the substrate may be used.

[반도체 장치][Semiconductor device]

본 발명의 반도체 장치는 본 발명의 프린트 배선판을 포함한다. 본 발명의 반도체 장치는 본 발명의 프린트 배선판을 사용하여 제조할 수 있다.The semiconductor device of the present invention includes the printed wiring board of the present invention. The semiconductor device of the present invention can be manufactured using the printed wiring board of the present invention.

반도체 장치로서는, 전기 제품(예를 들면, 컴퓨터, 휴대폰, 디지털 카메라 및 텔레비전 등) 및 탈 것(예를 들면, 자동 이륜차, 자동차, 기차, 선박 및 항공기 등) 등에 제공되는 각종 반도체 장치가 열거된다.As semiconductor devices, various semiconductor devices provided in electrical appliances (e.g., computers, mobile phones, digital cameras, televisions, etc.) and vehicles (e.g., motorcycles, automobiles, trains, ships, aircraft, etc.) are listed. .

본 발명의 반도체 장치는, 프린트 배선판의 도통 개소에 부품(반도체 칩)을 실장함으로써 제조할 수 있다. 「도통 개소」란, 「프린트 배선판에서의 전기 신호를 전달하는 개소」로서, 그 장소는 표면이라도, 매립된 개소라도 어느 곳이라도 상관 없다. 또한, 반도체 칩은 반도체를 재료로 하는 전기 회로 소자이면 특별히 한정되지 않는다.The semiconductor device of the present invention can be manufactured by mounting components (semiconductor chips) in conductive locations of a printed wiring board. A “continuity point” is a “point that transmits an electric signal on a printed wiring board,” and the location may be on the surface or buried. Additionally, the semiconductor chip is not particularly limited as long as it is an electric circuit element made of a semiconductor.

본 발명의 반도체 장치를 제조할 때의 반도체 칩의 실장 방법은, 반도체 칩이 유효하게 기능하기만 하면 특별히 한정되지 않지만, 구체적으로는, 와이어 본딩 실장 방법, 플립칩 실장 방법, 범플리스 빌드업(bumpless build-up)층(BBUL)에 의한 실장 방법, 이방성 도전 필름(ACF)에 의한 실장 방법, 비도전성 필름(NCF)에 의한 실장 방법 등이 열거된다. 여기에서, 「범플리스 빌드업층(BBUL)에 의한 실장 방법」이란, 「반도체 칩을 프린트 배선판의 오목부에 직접 매립하고, 반도체 칩과 프린트 배선판 위의 배선을 접속시키는 실장 방법」을 말한다.The semiconductor chip mounting method when manufacturing the semiconductor device of the present invention is not particularly limited as long as the semiconductor chip functions effectively, but specifically includes a wire bonding mounting method, a flip chip mounting method, and a bumpless build-up ( A mounting method using a bumpless build-up layer (BBUL), a mounting method using an anisotropic conductive film (ACF), a mounting method using a non-conductive film (NCF), etc. are listed. Here, the “mounting method using a bumpless build-up layer (BBUL)” refers to a “mounting method in which a semiconductor chip is directly embedded in a recessed portion of a printed wiring board and the semiconductor chip is connected to the wiring on the printed wiring board.”

[실시예][Example]

이하, 본 발명을 실시예에 의해 구체적으로 설명하지만, 본 발명은 이들 실시예에 한정되는 것은 아니다. 또한, 이하의 설명에서 「부」 및 「%」는 별도 명시가 없는 한, 각각 「질량부」 및 「질량%」를 의미한다.Hereinafter, the present invention will be specifically described by way of examples, but the present invention is not limited to these examples. In addition, in the following description, “part” and “%” mean “part by mass” and “% by mass”, respectively, unless otherwise specified.

[지지체 부착 수지 시트의 제작][Production of resin sheet with support]

이하의 수순에 따라 조제한 수지 바니시(수지 조성물)를 사용하여, 실시예 및 비교예의 지지체 부착 수지 시트를 제작했다.Resin sheets with supports of examples and comparative examples were produced using a resin varnish (resin composition) prepared according to the following procedures.

(수지 바니시 1의 조제)(Preparation of Resin Varnish 1)

비크실레놀형 에폭시 수지(미츠비시 카가쿠 (주) 제조 「YX4000HK」, 에폭시 당량 약 185) 10부, 비페닐형 에폭시 수지(닛폰 카야쿠 (주) 제조 「NC3000L」, 에폭시 당량 288) 25부, 및 페녹시 수지(미츠비시 카가쿠 (주) 제조 「YX7553BH30」, 고형분 30질량%의 사이클로헥사논:메틸에틸케톤(MEK)의 1:1 용액) 15부, 솔벤트 나프타 12부 및 사이클로헥사논 5부의 혼합 용매에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온으로까지 냉각한 후, 거기에, 트리아진 골격 함유 페놀 노볼락계 경화제(수산기 당량 125, DIC (주) 제조 「LA-7054」, 고형분 60%의 MEK 용액) 6부, 활성 에스테르 화합물(DIC (주) 제조 「HPC-8000-65T」, 중량 평균 분자량이 약 2700, 활성기 당량 약 223의 불휘발분 65질량%의 톨루엔 용액) 20부, 아민계 경화 촉진제(4-디메틸아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK 용액) 2부, 이미다졸계 경화 촉진제(미츠비시 카가쿠 (주) 제조 「P200-H50」, 고형분 50질량%의 프로필렌 글리콜 모노메틸 에테르 용액) 1부, 아미노실란계 커플링제(신에츠 카가쿠 코교 (주) 제조 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카((주) 아도마텍스 제조 「SO-C2」, 평균 입자 직경 0.5㎛, 단위 표면적당의 카본량 0.38mg/㎡) 60부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산한 후에, 카트리지 필터(ROKITECHNO 제조 「SHP050」)로 여과하여 수지 바니시 1을 조제하였다.10 parts of bixylenol-type epoxy resin (“YX4000HK” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy equivalent of about 185), 25 parts of biphenyl-type epoxy resin (“NC3000L” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent of 288), and A mixture of 15 parts of phenoxy resin (“YX7553BH30” manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., a 1:1 solution of cyclohexanone:methyl ethyl ketone (MEK) with a solid content of 30% by mass), 12 parts of solvent naphtha, and 5 parts of cyclohexanone. It was dissolved in a solvent by heating while stirring. After cooling to room temperature, 6 parts of a phenol novolak-based curing agent containing a triazine skeleton (hydroxyl equivalent 125, “LA-7054” manufactured by DIC Co., Ltd., MEK solution with a solid content of 60%) and an active ester compound (DIC 20 parts of “HPC-8000-65T” manufactured by Co., Ltd., a toluene solution containing 65% by mass of non-volatile content with a weight average molecular weight of about 2700 and an active group equivalent of about 223), an amine-based curing accelerator (4-dimethylaminopyridine (DMAP), 2 parts of MEK solution with a solid content of 5% by mass), 1 part of imidazole-based curing accelerator (“P200-H50” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, propylene glycol monomethyl ether solution with a solid content of 50% by mass), 1 part of aminosilane-based coupling agent (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) Surface-treated spherical silica (“SO-C2” manufactured by Adomatex Co., Ltd., average particle diameter 0.5 μm, carbon content per unit surface area: 0.38 mg/m2) 60 parts were mixed and uniformly dispersed with a high-speed rotating mixer, and then filtered with a cartridge filter (“SHP050” manufactured by ROKITECHNO) to prepare Resin Varnish 1.

(수지 바니시 2의 조제)(Preparation of Resin Varnish 2)

비스페놀형 에폭시 수지(신닛테츠 스미킨 카가쿠 (주) 제조 「ZX1059」, 에폭시 당량 약 169, 비스페놀 A형과 비스페놀 F형의 1:1 혼합품) 5부, 비크실레놀형 에폭시 수지(미츠비시 카가쿠 (주) 제조 「YX4000HK」, 에폭시 당량 약 185) 5부, 비스페놀 AF형 에폭시 수지(미츠비시 카가쿠 (주) 제조 「YL7760」, 에폭시 당량 238) 5부, 나프탈렌형 에폭시 수지(신닛테츠 스미킨 카가쿠 (주) 제조 「ESN475V」, 에폭시 당량 330) 20부, 및 페녹시 수지(미츠비시 카가쿠 (주) 제조 「YX7553BH30」, 고형분 30질량%의 사이클로헥사논:메틸에틸케톤(MEK)의 1:1 용액) 5부를, 솔벤트 나프타 25부 및 사이클로헥사논 5부의 혼합 용매에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온으로까지 냉각한 후, 거기에, 트리아진 골격 함유 크레졸 노볼락계 경화제(수산기 당량 151, DIC (주) 제조 「LA-3018-50P」, 고형분 50%의 2-메톡시프로판올 용액) 5부, 활성 에스테르 화합물(DIC (주) 제조 「HPC-8000-65T」, 중량 평균 분자량이 약 2700, 활성기 당량 약 223의 불휘발분 65질량%의 톨루엔 용액) 20부, 카르보디이미드 수지(닛신보 케미컬 (주) 제조 「V-03」, 불휘발 성분 50질량%의 톨루엔 용액) 10부, 아민계 경화 촉진제(4-디메틸아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK 용액) 2부, 난연제(산코 (주) 제조 「HCA-HQ」, 10-(2,5-디하이드록시페닐)-10-하이드로-9-옥사-10-포스파페난트렌-10-옥사이드, 평균 입자 직경 2㎛) 2부, 아미노실란계 커플링제(신에츠 카가쿠 코교 (주) 제조 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카((주) 아도마텍스 제조 「SO-C2」, 평균 입자 직경 0.5㎛, 단위 표면적당의 카본량 0.38mg/㎡) 170부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산시킨 후에, 카트리지 필터(ROKITECHNO 제조 「SHP050」)로 여과하여 수지 바니시 2를 조제하였다.5 parts of bisphenol type epoxy resin (“ZX1059” manufactured by Nippon Tetsu Sumikin Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent weight approximately 169, 1:1 mixture of bisphenol A type and bisphenol F type), bixylenol type epoxy resin (Mitsubishi Chemical Co., Ltd. “YX4000HK” manufactured by Co., Ltd., epoxy equivalent approximately 185) 5 parts, bisphenol AF type epoxy resin (“YL7760” manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent 238) 5 parts, naphthalene type epoxy resin (Shinnittetsu Sumikin Car) 20 parts of “ESN475V” manufactured by Kagaku Co., Ltd., epoxy equivalent 330), and 1 part of phenoxy resin (“YX7553BH30” manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., cyclohexanone:methyl ethyl ketone (MEK) with a solid content of 30% by mass. 1 solution) 5 parts were dissolved by heating while stirring in a mixed solvent of 25 parts solvent naphtha and 5 parts cyclohexanone. After cooling to room temperature, 5 parts of a cresol novolak-based curing agent containing a triazine skeleton (hydroxyl equivalent weight 151, “LA-3018-50P” manufactured by DIC Co., Ltd., 2-methoxypropanol solution with a solid content of 50%) , 20 parts of an active ester compound (“HPC-8000-65T” manufactured by DIC Co., Ltd., a toluene solution containing 65% by mass of non-volatile matter with a weight average molecular weight of about 2700 and an active group equivalent of about 223), carbodiimide resin (Nisshinbo Chemical) 10 parts of “V-03” manufactured by Co., Ltd., toluene solution with 50% by mass of non-volatile components), 2 parts of amine-based curing accelerator (4-dimethylaminopyridine (DMAP), MEK solution with 5% by mass of solids), flame retardant ( “HCA-HQ” manufactured by Sanko Co., Ltd., 10-(2,5-dihydroxyphenyl)-10-hydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide, average particle diameter 2 μm) 2 Part, spherical silica (“SO-C2” manufactured by Adomatex Co., Ltd.) surface-treated with an aminosilane-based coupling agent (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.), average particle diameter 0.5 ㎛, per unit surface area. 170 parts (carbon amount: 0.38 mg/m2) were mixed and uniformly dispersed with a high-speed rotating mixer, and then filtered with a cartridge filter (“SHP050” manufactured by ROKITECHNO) to prepare Resin Varnish 2.

(수지 바니시 3의 조제)(Preparation of Resin Varnish 3)

액상 나프탈렌형 에폭시 수지(에폭시 당량 144, DIC (주) 제조 「HP4032SS」) 5부, 비크실레놀형 에폭시 수지(미츠비시 카가쿠 (주) 제조 「YX4000HK」, 에폭시 당량 약 185) 5부, 나프탈렌형 에폭시 수지(신닛테츠 스미킨 카가쿠 (주) 제조 「ESN475V」, 에폭시 당량 330) 15부, 및 페녹시 수지(미츠비시 카가쿠 (주) 제조 「YX7553BH30」, 고형분 30질량%의 사이클로헥사논:메틸에틸케톤(MEK)의 1:1 용액) 7부를, 솔벤트 나프타 20부 및 사이클로헥사논 5부의 혼합 용매에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온으로까지 냉각한 후, 활성 에스테르 화합물(DIC (주) 제조 「HPC-8000-65T」, 질량 평균 분자량이 약 2700, 활성기 당량 약 223의 불휘발분 65질량%의 톨루엔 용액) 10부, 카르보디이미드 수지(닛신보 케미컬 (주) 제조 「V-03」, 불휘발 성분 50질량%의 톨루엔 용액) 5부, 비스페놀 A 디시아네이트의 프레폴리머(론자 재팬 (주) 제조 「BA230S75」, 시아네이트 당량 약 232, 불휘발분 75질량%의 MEK 용액) 20부, 경화 촉진제(4-디메틸아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK 용액) 1.2부, 경화 촉진제(도쿄 카세이 (주) 제조, 코발트(Ⅲ) 아세틸아세토네이트[Co (Ⅲ) Ac, 고형분 1질량%의 MEK 용액]) 3.5부, 고무 입자(다우·케미컬 닛폰 (주) 제조, PARALOID EXL2655) 3부, 페닐아미노실란계 커플링제(신에츠 카가쿠 코교 (주) 제조, 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.24㎛, (주) 아도마텍스 제조 「SO-C1」, 단위 면적당의 카본량 0.36mg/㎡) 80부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산한 후에, 카트리지 필터(ROKITECHNO 제조 「SHP030」)로 여과하여 수지 바니시 3을 조제하였다.5 parts of liquid naphthalene-type epoxy resin (epoxy equivalent 144, “HP4032SS” manufactured by DIC Co., Ltd.), 5 parts of xylenol-type epoxy resin (“YX4000HK” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy equivalent approximately 185), 5 parts naphthalene-type epoxy 15 parts of resin (“ESN475V” manufactured by Shinnittetsu Sumikin Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent 330), and phenoxy resin (“YX7553BH30” manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., cyclohexanone:methylethyl with a solid content of 30% by mass) 7 parts of a 1:1 solution of ketone (MEK) were dissolved by heating while stirring in a mixed solvent of 20 parts of solvent naphtha and 5 parts of cyclohexanone. After cooling to room temperature, 10 parts of an active ester compound (“HPC-8000-65T” manufactured by DIC Co., Ltd., a toluene solution with a mass average molecular weight of about 2700, an active group equivalent of about 223, and a non-volatile content of 65% by mass), Carbodi. 5 parts of mid resin (“V-03” manufactured by Nisshinbo Chemical Co., Ltd., toluene solution with 50% by mass of non-volatile components), prepolymer of bisphenol A dicyanate (“BA230S75” manufactured by Lonza Japan Co., Ltd., cyanate) Equivalent weight: about 232, MEK solution with 75% by mass of non-volatile matter) 20 parts, curing accelerator (4-dimethylaminopyridine (DMAP), MEK solution with 5% by mass of solid content) 1.2 parts, curing accelerator (manufactured by Tokyo Kasei Co., Ltd., cobalt) (Ⅲ) 3.5 parts of acetylacetonate [Co (Ⅲ) Ac, MEK solution with a solid content of 1% by mass]), 3.5 parts of rubber particles (PARALOID EXL2655 manufactured by Dow Chemical Nippon Co., Ltd.), 3 parts of phenylaminosilane-based coupling agent ( Spherical silica surface-treated with “KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. (average particle diameter: 0.24 μm, “SO-C1” manufactured by Adomatex Co., Ltd., carbon content per unit area: 0.36 mg/m2) 80 The parts were mixed and uniformly dispersed with a high-speed rotating mixer, and then filtered with a cartridge filter (“SHP030” manufactured by ROKITECHNO) to prepare Resin Varnish 3.

(수지 바니시 4의 조제)(Preparation of Resin Varnish 4)

비크실레놀형 에폭시 수지(미츠비시 카가쿠 (주) 제조 「YX4000HK」, 에폭시 당량 약 185) 5부, 비스페놀 AF형 에폭시 수지(미츠비시 카가쿠 (주) 제조 「YL7760」, 에폭시 당량 238) 5부, 나프탈렌형 에폭시 수지(신닛테츠 스미킨 카가쿠 (주) 제조 「ESN475V」, 에폭시 당량 330) 15부, 및 페녹시 수지(미츠비시 카가쿠 (주) 제조 「YX7553BH30」, 고형분 30질량%의 사이클로헥사논:메틸에틸케톤(MEK)의 1:1 용액) 5부를, 솔벤트 나프타 20부 및 사이클로헥사논 5부의 혼합 용매에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온으로까지 냉각한 후, 활성 에스테르 화합물(DIC (주) 제조 「HPC-8000-65T」, 중량 평균 분자량이 약 2700, 활성기 당량 약 223의 불휘발분 65질량%의 톨루엔 용액) 10부, 비스페놀 A 디시아네이트의 프레폴리머(론자 재팬 (주) 제조 「BA230S75」, 시아네이트 당량 약 232, 불휘발분 75질량%의 MEK 용액) 20부, 경화 촉진제(4-디메틸아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK 용액) 0.5부, 경화 촉진제(도쿄 카세이 (주) 제조, 코발트(Ⅲ) 아세틸아세토네이트[Co(Ⅲ) Ac, 고형분 1질량%의 MEK 용액]) 3부, 난연제(산코 (주) 제조 「HCA-HQ」, 10-(2,5-디하이드록시페닐)-10-하이드로-9-옥사-10-포스파페난트렌-10-옥사이드, 평균 입자 직경 2㎛) 2부, 아미노실란계 커플링제(신에츠 카가쿠 코교 (주) 제조 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카((주) 아도마텍스 제조 「SO-C2」, 평균 입자 직경 0.5㎛, 단위 표면적당의 카본량 0.38mg/㎡) 120부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산시킨 후에, 카트리지 필터(ROKITECHNO 제조 「SHP050」)로 여과하여 수지 바니시 4를 조제하였다.5 parts of bixylenol-type epoxy resin (“YX4000HK” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy equivalent of about 185), 5 parts of bisphenol AF-type epoxy resin (“YL7760” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy equivalent of 238), naphthalene 15 parts of a type epoxy resin (“ESN475V” manufactured by Nippon Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent 330), and phenoxy resin (“YX7553BH30” manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., cyclohexanone with a solid content of 30% by mass: 5 parts of methyl ethyl ketone (MEK) (1:1 solution) were dissolved by heating while stirring in a mixed solvent of 20 parts of solvent naphtha and 5 parts of cyclohexanone. After cooling to room temperature, 10 parts of an active ester compound (“HPC-8000-65T” manufactured by DIC Co., Ltd., a toluene solution with a weight average molecular weight of about 2700, an active group equivalent of about 223, and a non-volatile content of 65% by mass), bisphenol A 20 parts of dicyanate prepolymer (“BA230S75” manufactured by Lonza Japan Co., Ltd., cyanate equivalent weight of about 232, MEK solution with 75% by mass of non-volatile matter), curing accelerator (4-dimethylaminopyridine (DMAP), solid content of 5% by mass) % MEK solution) 0.5 part, curing accelerator (manufactured by Tokyo Kasei Co., Ltd., cobalt (Ⅲ) acetylacetonate [Co (Ⅲ) Ac, MEK solution with a solid content of 1% by mass]) 3 parts, flame retardant (Sanko Co., Ltd.) Manufactured as “HCA-HQ”, 10-(2,5-dihydroxyphenyl)-10-hydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide, average particle diameter 2㎛) 2 parts, aminosilane Spherical silica (“SO-C2” manufactured by Adomatex Co., Ltd.) surface-treated with a coupling agent (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.), average particle diameter 0.5 μm, carbon content per unit surface area: 0.38 mg /m2) 120 parts were mixed and uniformly dispersed with a high-speed rotating mixer, and then filtered with a cartridge filter (“SHP050” manufactured by ROKITECHNO) to prepare Resin Varnish 4.

(수지 바니시 5의 조제)(Preparation of Resin Varnish 5)

비페닐형 에폭시 수지(닛폰 카야쿠 (주) 제조 「NC3000L」, 에폭시 당량 288) 12부, 나프탈렌형 에폭시 수지(신닛테츠 스미킨 카가쿠 (주) 제조 「ESN475V」, 에폭시 당량 330) 8부, 및 페녹시 수지(미츠비시 카가쿠 (주) 제조 「YX7553BH30」, 고형분 30질량%의 사이클로헥사논:메틸에틸케톤(MEK)의 1:1 용액) 6부, 솔벤트 나프타 25부 및 사이클로헥사논 5부의 혼합 용매에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온으로까지 냉각한 후, 거기에, 활성 에스테르계 경화제(DIC (주) 제조 「HPC-8000-65T」, 활성기 당량 약 223, 불휘발 성분 65질량%의 톨루엔 용액) 22부, 아민계 경화 촉진제(4-디메틸아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK 용액) 1부, 인계 경화 촉진제(홋코 카가쿠 코교 (주) 제조 「TBP-DA」 테트라부틸포스포늄데칸산염) 0.3부, 고무 입자(다우·케미컬 닛폰 (주) 제조, PARALOID EXL2655) 2부, 페닐아미노실란계 커플링제(신에츠 카가쿠 코교 (주) 제조 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.24㎛, (주) 아도마텍스 제조 「SO-C1」, 단위 면적당의 카본량 0.36mg/㎡) 30부, 및 페닐트리메톡시실란(신에츠 카가쿠 코교 (주) 「KBM103」으로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.1㎛, 덴키 카가쿠 코교 (주) 제조 「UFP-30」, 단위 표면적당의 카본량 0.19mg/㎡) 40부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산시킨 후에, 카트리지 필터(ROKITECHNO 제조 「SHP020」)로 여과하여 수지 바니시 5를 조제하였다.12 parts of biphenyl-type epoxy resin (“NC3000L” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent 288), 8 parts of naphthalene-type epoxy resin (“ESN475V” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent 330), and 6 parts of phenoxy resin (“YX7553BH30” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, 1:1 solution of cyclohexanone:methyl ethyl ketone (MEK) with a solid content of 30% by mass), 25 parts of solvent naphtha, and 5 parts of cyclohexanone. It was dissolved in a mixed solvent by heating while stirring. After cooling to room temperature, 22 parts of an activated ester-based curing agent (“HPC-8000-65T” manufactured by DIC Co., Ltd., an active group equivalent of about 223, a toluene solution containing 65% by mass of non-volatile components), and an amine-based curing accelerator. (4-dimethylaminopyridine (DMAP), MEK solution with a solid content of 5% by mass) 1 part, phosphorus-based curing accelerator (“TBP-DA” tetrabutylphosphonium decanoate manufactured by Hokko Kagaku Kogyo Co., Ltd.) 0.3 parts, rubber particles (PARALOID EXL2655, manufactured by Dow Chemical Nippon Co., Ltd.) 2 parts, spherical silica (average particle diameter 0.24 ㎛, Co., Ltd.) surface-treated with a phenylaminosilane-based coupling agent (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) ) 30 parts of “SO-C1” manufactured by Adomatex, carbon content per unit area of 0.36 mg/m2), and spherical silica (average particle) surface-treated with phenyltrimethoxysilane (“KBM103” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. 40 parts of diameter 0.1㎛, "UFP-30" manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd., carbon amount per unit surface area 0.19mg/㎡) were mixed and uniformly dispersed with a high-speed rotating mixer, and then filtered using a cartridge filter (ROKITECHNO manufactured by "UFP-30"). Resin varnish 5 was prepared by filtration through "SHP020").

(수지 바니시 6의 조제)(Preparation of Resin Varnish 6)

비스페놀형 에폭시 수지(신닛테츠 스미킨 카가쿠 (주) 제조 「ZX1059」, 에폭시 당량 약 169, 비스페놀 A형과 비스페놀 F형의 1:1 혼합품) 4부, 비스페놀 AF형 에폭시 수지(미츠비시 카가쿠 (주) 제조 「YL7760」, 에폭시 당량 238) 12부, 나프탈렌형 에폭시 수지(신닛테츠 스미킨 카가쿠 (주) 제조 「ESN475V」, 에폭시 당량 330) 4부, 및 페녹시 수지(미츠비시 카가쿠 (주) 제조 「YL7891BH30」, 고형분 30질량%의 사이클로헥사논:메틸에틸케톤(MEK)의 1:1 용액) 6부, 솔벤트 나프타 20부 및 사이클로헥사논 5부의 혼합 용매에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온으로까지 냉각한 후, 거기에 활성 에스테르계 경화제(DIC (주) 제조 「HPC-8000-65T」, 활성기 당량 약 223, 불휘발 성분 65질량%의 톨루엔 용액) 24부, 올리고페닐렌 에테르·스티렌 수지(미츠비시 가스 카가쿠 (주) 제조 「OPE-2St 1200」, 고형분 72질량%의 톨루엔 용액) 10부, 아민계 경화 촉진제(4-디메틸아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK 용액) 2부, 이미다졸계 경화 촉진제(시코쿠 카세이 코교 (주) 제조 「1B2PZ」 1-벤질-2-페닐이미다졸, 고형분 5%의 MEK 용액) 0.5부, 아미노실란계 커플링제 (신에츠 카가쿠 코교 (주) 제조 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카((주) 아도마텍스 제조 「SO-C4」, 평균 입자 직경 1㎛, 단위 표면적당의 카본량 0.31mg/㎡) 150부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산시킨 후에, 카트리지 필터(ROKITECHNO 제조 「SHP050」)로 여과하여 수지 바니시 6을 조제하였다.4 parts bisphenol type epoxy resin (“ZX1059” manufactured by Nippon Tetsu Sumikin Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent weight approximately 169, 1:1 mixture of bisphenol A type and bisphenol F type), bisphenol AF type epoxy resin (Mitsubishi Chemical Co., Ltd. “YL7760” manufactured by Co., Ltd., epoxy equivalent 238) 12 parts, naphthalene type epoxy resin (“ESN475V” manufactured by Nippon-Steel Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent 330) 4 parts, and phenoxy resin (Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) Note) 6 parts of the manufactured “YL7891BH30” (1:1 solution of cyclohexanone:methyl ethyl ketone (MEK) with a solid content of 30% by mass), 20 parts of solvent naphtha, and 5 parts of cyclohexanone were heated and dissolved while stirring. After cooling to room temperature, 24 parts of an active ester-based curing agent (“HPC-8000-65T” manufactured by DIC Co., Ltd., an active group equivalent of about 223, a toluene solution containing 65% by mass of non-volatile components), oligophenylene ether, 10 parts of styrene resin (“OPE-2St 1200” manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd., toluene solution with 72% by mass of solids), amine-based curing accelerator (4-dimethylaminopyridine (DMAP), MEK solution with 5% by mass of solids) ) 2 parts, imidazole-based curing accelerator (“1B2PZ” 1-benzyl-2-phenylimidazole, manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd., MEK solution with 5% solid content) 0.5 part, aminosilane-based coupling agent (Shinetsu Chemical) Mix 150 parts of spherical silica (“SO-C4” manufactured by Adomatex Co., Ltd., average particle diameter of 1 μm, carbon content per unit surface area of 0.31 mg/m2) surface-treated with “KBM573” manufactured by Kogyo Co., Ltd. After uniformly dispersing with a high-speed rotating mixer, it was filtered with a cartridge filter (“SHP050” manufactured by ROKITECHNO) to prepare Resin Varnish 6.

(수지 바니시 7의 조제)(Preparation of Resin Varnish 7)

비스페놀형 에폭시 수지(신닛테츠 스미킨 카가쿠 (주) 제조 「ZX1059」, 에폭시 당량 약 169, 비스페놀 A형과 비스페놀 F형의 1:1 혼합품) 5부, 비크실레놀형 에폭시 수지(미츠비시 카가쿠 (주) 제조 「YX4000HK」, 에폭시 당량 약 185) 10부, 비페닐형 에폭시 수지(닛폰 카야쿠 (주) 제조 「NC3000L」, 에폭시 당량 288) 25부, 및 페녹시 수지(미츠비시 카가쿠 (주) 제조 「YX7553BH30」, 고형분 30질량%의 사이클로헥사논:메틸에틸케톤(MEK)의 1:1 용액) 20부를, 솔벤트 나프타 15부 및 사이클로헥사논 5부의 혼합 용매에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온으로까지 냉각한 후, 거기에 트리아진 골격 함유 페놀 노볼락계 경화제(수산기 당량 125, DIC (주) 제조 「LA-7054」, 고형분 60% MEK 용액) 12부, 나프톨계 경화제(신닛테츠 스미킨 카가쿠 (주) 제조 「SN-485」, 수산기 당량 215, 고형분 60% MEK 용액) 15부, 폴리비닐부티랄 수지(유리 전이 온도 105℃, 세키스이 카가쿠 코교 (주) 제조 「KS-1」)의 고형분 15%의 에탄올과 톨루엔의 1:1의 혼합 용액 10부, 아민계 경화 촉진제(4-디메틸아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK 용액) 1부, 이미다졸계 경화 촉진제(미츠비시 카가쿠 (주) 제조 「P200-H50」, 고형분 50질량%의 프로필렌 글리콜 모노메틸 에테르 용액) 2부, 고무 입자(다우·케미컬 닛폰 (주) 제조, PARALOID EXL2655) 2부, 아미노실란계 커플링제(신에츠 카가쿠 코교 (주) 제조 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카((주) 아도마텍스 제조 「SO-C2」, 평균 입자 직경 0.5㎛, 단위 표면적당의 카본량 0.38mg/㎡) 90부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산한 후에, 카트리지 필터(ROKITECHNO 제조 「SHP050」)로 여과하여 수지 바니시 7을 조제하였다.5 parts of bisphenol type epoxy resin (“ZX1059” manufactured by Nippon Tetsu Sumikin Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent weight approximately 169, 1:1 mixture of bisphenol A type and bisphenol F type), bixylenol type epoxy resin (Mitsubishi Chemical Co., Ltd. “YX4000HK” manufactured by Co., Ltd., epoxy equivalent weight approximately 185) 10 parts, biphenyl type epoxy resin (“NC3000L” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent weight 288) 25 parts, and phenoxy resin (Mitsubishi Chemical Co., Ltd. ) 20 parts of the product "YX7553BH30", a 1:1 solution of cyclohexanone:methyl ethyl ketone (MEK) with a solid content of 30% by mass) were dissolved by heating while stirring in a mixed solvent of 15 parts of solvent naphtha and 5 parts of cyclohexanone. After cooling to room temperature, 12 parts of a phenol novolak-based curing agent containing a triazine skeleton (hydroxyl equivalent weight 125, “LA-7054” manufactured by DIC Co., Ltd., 60% solid content MEK solution), and a naphthol-based curing agent (Shinnittetsu Sumi) were added. “SN-485” manufactured by Kin Kagaku Co., Ltd., hydroxyl equivalent weight 215, solid content 60% MEK solution) 15 parts, polyvinyl butyral resin (glass transition temperature 105°C, “KS-” manufactured by Sekisui Kagaku Kogyo Co., Ltd. 1"), 10 parts of a 1:1 mixed solution of ethanol and toluene with a solid content of 15%, 1 part of an amine-based curing accelerator (4-dimethylaminopyridine (DMAP), MEK solution with a solid content of 5% by mass), and imidazole-based curing. 2 parts of accelerator (“P200-H50” manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., propylene glycol monomethyl ether solution with a solid content of 50% by mass), 2 parts of rubber particles (PARALOID EXL2655 manufactured by Dow Chemical Nippon Co., Ltd.), aminosilane Spherical silica (“SO-C2” manufactured by Adomatex Co., Ltd.) surface-treated with a coupling agent (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.), average particle diameter 0.5 μm, carbon content per unit surface area: 0.38 mg /㎡) 90 parts were mixed and uniformly dispersed with a high-speed rotating mixer, and then filtered with a cartridge filter (“SHP050” manufactured by ROKITECHNO) to prepare Resin Varnish 7.

(수지 바니시 8의 조제)(Preparation of Resin Varnish 8)

비스페놀형 에폭시 수지(신닛테츠 스미킨 카가쿠 (주) 제조 「ZX1059」, 에폭시 당량 약 169, 비스페놀 A형과 비스페놀 F형의 1:1 혼합품) 5부, 비크실레놀형 에폭시 수지(미츠비시 카가쿠 (주) 제조 「YX4000HK」, 에폭시 당량 약 185) 5부, 비페닐형 에폭시 수지(닛폰 카야쿠 (주) 제조 「NC3000L」, 에폭시 당량 288) 12부, 나프탈렌형 에폭시 수지(DIC (주) 제조 「HP-4710」, 에폭시 당량 170) 5부, 및 페녹시 수지(미츠비시 카가쿠 (주) 제조 「YX7553BH30」, 고형분 30질량%의 사이클로헥사논:메틸에틸케톤(MEK)의 1:1 용액) 10부를, 솔벤트 나프타 20부 및 사이클로헥사논 10부의 혼합 용매에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온으로까지 냉각한 후, 거기에 트리아진 골격 함유 페놀 노볼락계 경화제(수산기 당량 125, DIC (주) 제조 「LA-7054」, 고형분 60%의 MEK 용액) 10부, 나프톨계 경화제(신닛테츠 스미킨 카가쿠 (주) 제조 「SN-485」, 수산기 당량 215, 고형분 60%의 MEK 용액) 10부, 이미다졸계 경화 촉진제(시코쿠 카세이 코교 (주) 제조 「1B2PZ」 1-벤질-2-페닐이미다졸, 고형분 5%의 MEK 용액) 0.5부, 난연제(산코 (주) 제조 「HCA-HQ」, 10-(2,5-디하이드록시페닐)-10-하이드로-9-옥사-10-포스파페난트렌-10-옥사이드, 평균 입자 직경 2㎛) 3부, 아미노실란계 커플링제(신에츠 카가쿠 코교 (주) 제조 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카((주) 아도마텍스 제조 「SO-C4」, 평균 입자 직경 1㎛, 단위 표면적당의 카본량 0.31mg/㎡) 120부, 및 페닐아미노실란계 커플링제(신에츠 카가쿠 코교 (주) 제조 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 알루미나(덴키 카가쿠 코교 (주) 제조 「DAW-01」, 평균 입자 직경 1.5㎛, 단위 표면적당의 카본량 0.1mg/㎡) 60부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산시킨 후에, 카트리지 필터 (ROKITECHNO 제조 「SHP050」)로 여과하여 수지 바니시 8을 조제하였다.5 parts of bisphenol type epoxy resin (“ZX1059” manufactured by Nippon Tetsu Sumikin Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent weight approximately 169, 1:1 mixture of bisphenol A type and bisphenol F type), bixylenol type epoxy resin (Mitsubishi Chemical Co., Ltd. “YX4000HK” manufactured by Co., Ltd., epoxy equivalent weight approx. 185) 5 parts, biphenyl type epoxy resin (“NC3000L” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent weight 288) 12 parts, naphthalene type epoxy resin (manufactured by DIC Co., Ltd.) “HP-4710”, epoxy equivalent 170) 5 parts, and phenoxy resin (“YX7553BH30” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, 1:1 solution of cyclohexanone:methyl ethyl ketone (MEK) with a solid content of 30% by mass) 10 parts were dissolved by heating while stirring in a mixed solvent of 20 parts of solvent naphtha and 10 parts of cyclohexanone. After cooling to room temperature, 10 parts of a phenol novolak-based curing agent containing a triazine skeleton (hydroxyl equivalent weight 125, “LA-7054” manufactured by DIC Co., Ltd., MEK solution with a solid content of 60%) was added thereto, and a naphthol-based curing agent (Shinnittetsu). 10 parts of imidazole-based curing accelerator (“SN-485” manufactured by Sumikin Chemical Co., Ltd., hydroxyl equivalent weight 215, MEK solution of 60% solid content), 1-benzyl-2- Phenylimidazole, MEK solution with 5% solid content) 0.5 part, flame retardant (“HCA-HQ” manufactured by Sanko Co., Ltd., 10-(2,5-dihydroxyphenyl)-10-hydro-9-oxa-10 -Phosphaphenanthrene-10-oxide, average particle diameter 2㎛) 3 parts, spherical silica (Adomatex Co., Ltd.) surface-treated with an aminosilane-based coupling agent (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) 120 parts of manufactured “SO-C4”, average particle diameter 1㎛, carbon amount per unit surface area 0.31mg/m2), and surface treatment with phenylaminosilane coupling agent (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) 60 parts of spherical alumina (“DAW-01” manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd., average particle diameter 1.5 μm, carbon amount per unit surface area 0.1 mg/m2) were mixed and uniformly dispersed with a high-speed rotating mixer. Resin varnish 8 was prepared by filtration with a cartridge filter (“SHP050” manufactured by ROKITECHNO).

각 수지 바니시의 제작에 사용한 재료와 이의 배합량(불휘발분의 질량부)을 하기 표에 기재하였다.The materials used in the production of each resin varnish and their mixing amounts (parts by mass of non-volatile matter) are listed in the table below.

Figure 112017018508633-pat00001
Figure 112017018508633-pat00001

<실시예 1: 지지체 부착 수지 시트 1의 제작><Example 1: Production of resin sheet 1 with support>

지지체로서, 알키드 수지계 이형제(린텍 (주) 제조 「AL-5」)로 이형 처리한 PET 필름(토레 (주) 제조 「루미러 R80」, 두께 38㎛, 연화점 130℃, 「이형 PET」)을 준비하였다.As a support, a PET film (“Lumiror R80” manufactured by Toray Co., Ltd., thickness 38 μm, softening point 130°C, “release PET”) was treated with an alkyd resin-based release agent (“AL-5” manufactured by Lintech Co., Ltd.). Ready.

수지 바니시 1을 이형 PET 위에, 건조 후의 제1 수지 조성물층의 두께가 3㎛가 되도록 다이 코터로 균일하게 도포하고, 80℃ 내지 160℃에서 5분간 건조함으로써, 이형 PET 위에 제1 수지 조성물층을 수득하였다. 이어서, 제1 수지 조성물층 위에 수지 바니시 2를, 건조 후에 제1 수지 조성물층과 합한 두께가 40㎛가 되도록 도포하고, 70℃ 내지 110℃(평균 95℃)에서 5분간 건조시켜, 2층의 수지 조성물층(수지 시트)을 형성하였다. 이어서, 수지 시트의 지지체와 접합하고 있지 않은 면(즉 제2 수지 조성물층의 제1 수지 조성물층과 접합하고 있지 않은 면)에, 보호 필름으로서 폴리프로필렌 필름(오지 에프텍스 (주) 제조 「알판 MA-411」, 두께 15㎛)의 조면(粗面)을, 제2 수지 조성물층과 접합하도록 적층하였다. 이에 의해, 지지체, 제1 수지 조성물층(수지 바니시 1 유래), 제2 수지 조성물층(수지 바니시 2 유래), 및 보호 필름의 순으로 이루어진 지지체 부착 수지 시트 1을 수득하였다.Resin varnish 1 was uniformly applied with a die coater on release PET so that the thickness of the first resin composition layer after drying was 3 μm, and dried at 80°C to 160°C for 5 minutes to form a first resin composition layer on release PET. Obtained. Next, resin varnish 2 was applied on the first resin composition layer so that the combined thickness of the first resin composition layer after drying was 40㎛, dried at 70°C to 110°C (average 95°C) for 5 minutes, and the second layer was formed. A resin composition layer (resin sheet) was formed. Next, on the side of the resin sheet that is not bonded to the support (i.e., the side that is not bonded to the first resin composition layer of the second resin composition layer), a polypropylene film (manufactured by Oji Ftex Co., Ltd., “Alpan”) is applied as a protective film. MA-411”, a rough surface with a thickness of 15 μm was laminated so as to be bonded to the second resin composition layer. As a result, resin sheet 1 with a support body was obtained, which consists of the support body, the first resin composition layer (derived from the resin varnish 1), the second resin composition layer (derived from the resin varnish 2), and the protective film.

<실시예 2: 지지체 부착 수지 시트 2의 제작><Example 2: Production of resin sheet 2 with support>

실시예 1에서, 수지 바니시 1 대신에 수지 바니시 3을, 수지 바니시 2 대신에 수지 바니시 4를 사용한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 지지체 부착 수지 시트 2를 수득하였다.Resin sheet 2 with a support was obtained in the same manner as in Example 1, except that Resin Varnish 3 was used instead of Resin Varnish 1, and Resin Varnish 4 was used instead of Resin Varnish 2.

<실시예 3: 지지체 부착 수지 시트 3의 제작><Example 3: Production of resin sheet 3 with support>

실시예 1에서, 수지 바니시 1 대신에 수지 바니시 5를, 수지 바니시 2 대신에 수지 바니시 6을 사용한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 지지체 부착 수지 시트 3을 수득하였다.Resin sheet 3 with a support was obtained in the same manner as in Example 1, except that Resin Varnish 5 was used instead of Resin Varnish 1, and Resin Varnish 6 was used instead of Resin Varnish 2.

<비교예 1: 지지체 부착 수지 시트 4의 제작><Comparative Example 1: Production of resin sheet 4 with support>

실시예 1에서, 수지 바니시 1 대신에 수지 바니시 7을 사용한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 지지체 부착 수지 시트 4를 수득하였다.Resin sheet 4 with a support was obtained in the same manner as in Example 1, except that Resin Varnish 7 was used instead of Resin Varnish 1.

<비교예 2: 지지체 부착 수지 시트 5의 제작><Comparative Example 2: Production of resin sheet 5 with support>

실시예 1에서, 수지 바니시 2 대신에 수지 바니시 6을 사용한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 지지체 부착 수지 시트 5를 수득하였다.Resin sheet 5 with a support was obtained in the same manner as in Example 1, except that Resin Varnish 6 was used instead of Resin Varnish 2.

<비교예 3: 지지체 부착 수지 시트 6의 제작><Comparative Example 3: Production of resin sheet 6 with support>

실시예 1에서, 수지 바니시 1 대신에 수지 바니시 7을, 수지 바니시 2 대신에 수지 바니시 8을 사용한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 지지체 부착 수지 시트 6을 수득하였다.Resin sheet 6 with a support was obtained in the same manner as in Example 1, except that Resin Varnish 7 was used instead of Resin Varnish 1, and Resin Varnish 8 was used instead of Resin Varnish 2.

<비교예 4: 지지체 부착 수지 시트 7의 제작><Comparative Example 4: Production of resin sheet 7 with support>

실시예 1에서, 수지 바니시 2 대신에 수지 바니시 8을 사용한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 지지체 부착 수지 시트 7을 수득하였다.Resin sheet 7 with a support was obtained in the same manner as in Example 1, except that Resin Varnish 8 was used instead of Resin Varnish 2.

<각 수지 조성물의 경화물의 제작><Production of cured products of each resin composition>

지지체로서, 경화물의 제작용의 이형 PET 필름(린텍 (주) 제조 「501010」, 두께 38㎛, 240mm각)을 준비하였다.As a support, a release PET film (“501010” manufactured by Lintech Co., Ltd., thickness 38 μm, 240 mm square) for production of the cured product was prepared.

각 수지 바니시 1 내지 8을 당해 이형 PET 필름 위에, 건조 후의 수지 조성물층의 두께가 35㎛가 되도록, 다이 코터로 균일하게 도포하고, 70℃ 내지 110℃에서 5분간 건조함으로써, 이형 PET 필름 위에 수지 조성물층을 수득하였다.Each resin varnish 1 to 8 is uniformly applied with a die coater on the release PET film so that the thickness of the resin composition layer after drying is 35 μm, and dried at 70°C to 110°C for 5 minutes to form a resin on the release PET film. A composition layer was obtained.

이의 수지 조성물층 부착 이형 PET 필름을, 수지 조성물층/이형 PET 필름/유리포 기재 에폭시 수지 양면 동장 적층판(마츠시타 덴코 (주) 제조 「R5715ES」, 두께 0.7mm, 255mm각)의 구성이 되도록, 유리포 기재 에폭시 수지 양면 동장 적층판 위에 설치하고, 당해 필름의 4변을 폴리이미드 접착 테이프(폭 10mm)로 고정하였다.This release PET film with a resin composition layer is made of glass so that it has the structure of a resin composition layer/release PET film/glass cloth base epoxy resin double-sided copper-clad laminate (“R5715ES” manufactured by Matsushita Denko Co., Ltd., thickness 0.7 mm, 255 mm square). It was installed on a fabric-based epoxy resin double-sided copper-clad laminate, and four sides of the film were fixed with polyimide adhesive tape (width 10 mm).

이어서, 200℃에서 90분간의 경화 조건으로 열 경화시켰다. 열 경화 후, 폴리이미드 접착 테이프를 벗기고, 수지 조성물층 부착 이형 PET 필름을 유리포 기재 에폭시 수지 양면 동장 적층판에서 떼내었다. 또한 수지 시트가 적층되어 있었던 이형 PET 필름(린텍 (주) 제조 「501010」)을 박리하여 시트상의 경화물을 수득하였다.Subsequently, it was heat cured at 200°C for 90 minutes. After heat curing, the polyimide adhesive tape was peeled off, and the release PET film with the resin composition layer was peeled off from the glass cloth-based epoxy resin double-sided copper-clad laminate. Additionally, the release PET film (“501010” manufactured by Lintech Co., Ltd.) on which the resin sheet had been laminated was peeled to obtain a sheet-like cured product.

(각 경화물의 유전율 및 유전 정접의 측정)(Measurement of dielectric constant and dielectric loss tangent of each hardened material)

각 경화물을, 폭 2mm, 길이 80mm의 시험편으로 절단하고, 당해 시험편에 대하여, 아질렌트 테크놀로지스사 제조 「HP8362B」를 사용하여 공동 공진 섭동법에 의해 측정 주파수 5.8GHz, 측정 온도 23℃에서 유전율(Dk) 및 유전 정접(Df)을 측정하였다. 3개의 시험편에 대하여 측정하여 평균치를 산출하여, 결과를 하기 표에 기재하였다. 또한, 이와 같이 산출한 유전 정접을 바탕으로, 실시예 및 비교예의 지지체 부착 수지 시트에서의 제1 및 제2 열 경화물의 유전 정접의 차를 산출하여, 결과를 하기 표에 기재하였다.Each cured product was cut into test pieces with a width of 2 mm and a length of 80 mm, and the test pieces were measured for dielectric constant ( Dk) and dielectric loss tangent (Df) were measured. Three test pieces were measured, the average value was calculated, and the results are listed in the table below. Furthermore, based on the dielectric loss tangent calculated in this way, the difference in dielectric loss tangent of the first and second heat-cured products in the resin sheets with a support body of Examples and Comparative Examples was calculated, and the results are shown in the table below.

<평가 시험><Evaluation test>

1. 고주파 전송 손실 측정의 평가1. Evaluation of high-frequency transmission loss measurements

도 15는, 스트립 라인 전송 선로 평가 기판의 모식적인 단면도이다. 실시예 및 비교예에서 제작한 지지체 부착 수지 시트를 사용하여, 이하의 수순을 따라, 도 15의 구성의 스트립 라인 전송 선로 평가 기판을 제작하여, 고주파 전송 손실 측정을 평가하였다.Fig. 15 is a schematic cross-sectional view of a strip line transmission line evaluation board. Using the resin sheets with supports produced in Examples and Comparative Examples, a strip line transmission line evaluation board with the configuration shown in Fig. 15 was produced following the following procedure, and high-frequency transmission loss measurement was evaluated.

(1) 내층 회로 기판의 하지 처리(1) Base processing of inner layer circuit board

내층 회로 기판으로서, 스루홀이 형성된 회로 도체(구리)를 양면에 갖는 유리포 기재 에폭시 수지 양면 동장 적층판(구리박의 두께 18㎛, 기판의 두께 0.6mm, 히타치 카세이 (주) 제조 「MCL-M-679FGS」)을 준비하였다.As an inner layer circuit board, a glass cloth-based epoxy resin double-sided copper-clad laminate having circuit conductors (copper) with through holes formed on both sides (copper foil thickness 18 μm, substrate thickness 0.6 mm, “MCL-M” manufactured by Hitachi Kasei Co., Ltd. -679FGS”) was prepared.

(2) 지지체 부착 수지 시트의 라미네이트(2) Laminate of resin sheet with support

실시예 및 비교예에서 제작한 각 지지체 부착 수지 시트를, 배치식 진공 가압 라미네이터(닛코·머터리얼즈 (주) 제조, 2스테이지 빌드업 라미네이터, CVP700)를 사용하여, 제2 수지 조성물층이 내층 회로 기판과 접합하도록, 내층 회로 기판의 양면에 라미네이트하였다. 라미네이트는, 30초간 감압하여 기압을 13hPa 이하로 하고, 100℃, 압력 0.74MPa에서 30초간 압착시킴으로써 실시하였다. 이어서, 100℃, 압력 0.5MPa에서 60초간 열 프레스를 행하였다.Each support-attached resin sheet produced in the Examples and Comparative Examples was formed using a batch vacuum pressurization laminator (Nikko Materials Co., Ltd., two-stage build-up laminator, CVP700), and the second resin composition layer was formed as an inner layer. To bond it to the circuit board, it was laminated on both sides of the inner layer circuit board. The lamination was performed by reducing the pressure for 30 seconds to bring the atmospheric pressure to 13 hPa or less, and pressing it at 100°C and a pressure of 0.74 MPa for 30 seconds. Next, heat pressing was performed at 100°C and a pressure of 0.5 MPa for 60 seconds.

(3) 수지 조성물층의 열 경화(3) Thermal curing of the resin composition layer

지지체 부착 수지 시트가 라미네이트된 내층 회로 기판을, 100℃의 온도 조건에서 100℃의 오븐에 투입 후 30분간, 이어서 175℃의 온도 조건에서, 175℃의 오븐에 옮겨 바꾼 후 30분간 열 경화시켜 절연층을 형성하였다.The inner layer circuit board laminated with the resin sheet attached to the support is insulated by placing it in an oven at 100°C for 30 minutes at a temperature of 100°C, then transferring it to an oven at 175°C at a temperature of 175°C, and heat curing for 30 minutes. A layer was formed.

(4) 디스미어 처리를 행하는 공정(4) Process of performing desmear treatment

절연층이 형성된 회로 기판으로부터 지지체를 박리하고, 디스미어 처리를 행하였다. 또한, 디스미어 처리로서는 하기의 습식 디스미어 처리를 실시하였다.The support was peeled from the circuit board on which the insulating layer was formed, and desmear treatment was performed. In addition, as the desmear treatment, the following wet desmear treatment was performed.

습식 디스미어 처리:Wet Desmear Processing:

팽윤액(아토텍 재팬 (주) 제조 「스웰링 딥·시큐리간트 P」, 디에틸렌 글리콜 모노부틸 에테르 및 수산화 나트륨의 수용액)에 60℃에서 5분간, 이어서 산화제 용액(아토텍 재팬 (주) 제조 「콘센트레이트·컴팩트 CP」, 과망간산 칼륨 농도 약 6%, 수산화 나트륨 농도 약 4%의 수용액)에 80℃에서 20분간, 마지막으로 중화액(아토 텍 재팬 (주) 제조 「리덕션 솔루션·시큐리간트 P」, 황산 수용액)에 40℃에서 5분간 침지한 후, 80℃에서 15분간 건조했다.Swelling liquid (“Swelling Deep Securigant P” manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., an aqueous solution of diethylene glycol monobutyl ether and sodium hydroxide) at 60°C for 5 minutes, followed by an oxidizing agent solution (manufactured by Atotech Japan Co., Ltd.) “Concentrate Compact CP”, an aqueous solution with a potassium permanganate concentration of about 6% and a sodium hydroxide concentration of about 4%) at 80°C for 20 minutes, and finally, a neutralizing solution (“Reduction Solution Securigant P” manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. 」, sulfuric acid aqueous solution) at 40°C for 5 minutes, and then dried at 80°C for 15 minutes.

(5) 도체층을 형성하는 공정(5) Process of forming a conductor layer

(5-1) 무전해 도금 공정(5-1) Electroless plating process

상기 회로 기판의 표면에 도체층을 형성하기 위해, 하기 1 내지 6의 공정을 포함하는 도금 공정(아토텍 재팬 (주) 제조의 약액을 사용한 구리 도금 공정)을 행하여, 목표 두께가 18㎛인 도체층을 형성하였다.In order to form a conductor layer on the surface of the circuit board, a plating process including the following steps 1 to 6 (copper plating process using a chemical solution manufactured by Atotech Japan Co., Ltd.) is performed to produce a conductor with a target thickness of 18 ㎛. A layer was formed.

1. 알칼리 클리닝(절연층의 표면의 세정과 전하 조정)1. Alkaline cleaning (cleaning and charge adjustment of the surface of the insulating layer)

Cleaning Cleaner Securiganth 902(상품명)을 사용하여 60℃에서 5분간 세정하였다.Cleaning was performed at 60°C for 5 minutes using Cleaning Cleaner Securiganth 902 (brand name).

2. 소프트 에칭2. Soft etching

황산 산성 퍼옥소 이황산 나트륨 수용액을 사용하여 30℃에서 1분간 처리하였다.It was treated at 30°C for 1 minute using sulfuric acidic sodium peroxodisulfate aqueous solution.

3. 프리딥(Pd 부여를 위한 절연층의 표면 전하의 조정)3. Pre-dip (adjustment of surface charge of insulating layer to impart Pd)

Pre. Dip Neoganth B(상품명)을 사용하여 실온에서 1분간 처리하였다.Pre. It was treated for 1 minute at room temperature using Dip Neoganth B (brand name).

4. 액티베이터 부여(절연층의 표면으로의 Pd의 부여)4. Provision of activator (provision of Pd to the surface of the insulating layer)

Activator Neoganth 834(상품명)를 사용하여 35℃에서 5분간 처리하였다.It was treated at 35°C for 5 minutes using Activator Neoganth 834 (brand name).

5. 환원(절연층에 부여된 Pd를 환원)5. Reduction (reduces Pd given to the insulating layer)

Reducer Neoganth WA(상품명)와 Reducer Acceralator 810 mod.(상품명)의 혼합액을 사용하여 30℃에서 5분간 처리하였다.A mixture of Reducer Neoganth WA (brand name) and Reducer Acceralator 810 mod. (brand name) was used and treated at 30°C for 5 minutes.

6. 무전해 구리 도금 공정(Cu를 절연층의 표면(Pd 표면)에 석출)6. Electroless copper plating process (Cu is deposited on the surface of the insulating layer (Pd surface))

Basic Solution Printganth MSK-DK(상품명)와, Copper solution Printganth MSK(상품명)와, Stabilizer Printganth MSK-DK(상품명)와, Reducer Cu(상품명)의 혼합액을 사용하여 35℃에서 20분간 처리하였다. 형성된 무전해 구리 도금층의 두께는 0.8㎛이었다.A mixture of Basic Solution Printganth MSK-DK (brand name), Copper solution Printganth MSK (brand name), Stabilizer Printganth MSK-DK (brand name), and Reducer Cu (brand name) was used to treat at 35°C for 20 minutes. The thickness of the formed electroless copper plating layer was 0.8 μm.

(5-2) 드라이 필름 패턴의 형성(5-2) Formation of dry film pattern

이어서, 형성된 무전해 구리 도금층에, 드라이 필름(히타치 카세이 (주) 제조, 「RD1225」를 적층하고, 다이닛폰 스크린 세조 (주) 제조의 노광기 「LI9500」에 의한 노광(노광량 15mJ/c㎡), 현상(1% Na2CO3 수용액, 30℃, 40s, 스프레이압 0.15MPa)에 의해 드라이 필름 패턴을 형성하였다.Next, a dry film (“RD1225” manufactured by Hitachi Kasei Co., Ltd.) was laminated on the formed electroless copper plating layer, followed by exposure using an exposure machine “LI9500” manufactured by Dainippon Screen Sezo Co., Ltd. (exposure amount: 15 mJ/c㎡), A dry film pattern was formed by development (1% Na 2 CO 3 aqueous solution, 30°C, 40 s, spray pressure 0.15 MPa).

(5-3) 전해 도금 공정(5-3) Electrolytic plating process

이어서, 오쿠노 세야쿠 코교 (주) 제조의 약액 「토플티나α」를 사용하여, 전해 구리 도금 공정을 행하였다. 그 후, 드라이 필름 패턴을 1% NaOH 수용액으로 박리하고, 오쿠노 세야쿠 코교 (주) 제조의 에칭액 「OPC-HR 소프트에치 P」에 의한 불필요한 무전해 구리 도금층을 제거하였다. 이어서, 어닐 처리를 190℃에서 90분간 실시하여, 도체층을 절연층 위에 형성하였다.Next, an electrolytic copper plating process was performed using the chemical solution “Topletina α” manufactured by Okuno Seiyaku Kogyo Co., Ltd. Thereafter, the dry film pattern was peeled off with a 1% NaOH aqueous solution, and the unnecessary electroless copper plating layer was removed using the etchant “OPC-HR Soft Etch P” manufactured by Okuno Seiyaku Kogyo Co., Ltd. Next, annealing was performed at 190°C for 90 minutes to form a conductor layer on the insulating layer.

(6) 지지체 부착 수지 시트의 라미네이트(6) Laminate of resin sheet with support

상기 기판을 10% 황산 수용액에 30초 침지시키고, 130℃에서 15분 건조시킨 후에, 실시예 및 비교예에서 제작한 각 지지체 부착 수지 시트를, (2)의 지지체 부착 수지 시트의 라미네이트와 동일한 방법으로 적층하였다.The substrate was immersed in a 10% aqueous sulfuric acid solution for 30 seconds and dried at 130°C for 15 minutes, and then each support-attached resin sheet produced in the examples and comparative examples was laminated by the same method as the support-attached resin sheet in (2). It was laminated.

(7) 수지 조성물층의 열 경화(7) Thermal curing of the resin composition layer

지지체 부착 수지 시트가 라미네이트된 내층 회로 기판을, 100℃의 온도 조건으로, 100℃의 오븐에 투입 후 30분간, 이어서 175℃의 온도 조건으로, 175℃의 오븐에 옮겨 바꾼 후 30분간 열 경화시켜 절연층을 형성하였다.The inner layer circuit board on which the resin sheet with the support is laminated is placed in an oven at 100°C for 30 minutes under a temperature condition of 100°C, and then transferred to an oven at 175°C under a temperature condition of 175°C and heat cured for 30 minutes. An insulating layer was formed.

(8) 비아홀의 형성(8) Formation of via hole

절연층 및 지지체의 위쪽부터, 미츠비시 덴키 (주) 제조의 CO2 레이저 가공기 「605GTWIII(-P)」를 사용하여, 지지체의 위쪽부터 레이저를 조사하고, 격자 패턴의 도체 위의 절연층에 탑 직경(70㎛)의 비아홀을 형성하였다. 레이저의 조사 조건은, 마스크 지름이 2.5mm이고, 펄스 폭이 16μs이며, 에너지가 0.39mJ/쇼트이고, 쇼트수가 2이고, 버스트 모드(10kHz)로 행하였다.The laser is irradiated from the top of the insulating layer and the support using a CO 2 laser processing machine "605GTWIII(-P)" manufactured by Mitsubishi Denki Co., Ltd., and the insulating layer on the conductor in a grid pattern has a top diameter. A via hole of (70㎛) was formed. The laser irradiation conditions were a mask diameter of 2.5 mm, a pulse width of 16 μs, an energy of 0.39 mJ/shot, a number of shots of 2, and burst mode (10 kHz).

(9) 디스미어 처리를 행하는 공정(9) Process of performing desmear treatment

비아홀이 형성된 회로 기판에서 지지체를 박리하여, (4)와 동일한 방법으로 디스미어 처리를 행하였다.The support was peeled off from the circuit board on which the via hole was formed, and desmear treatment was performed in the same manner as (4).

(10) 도체층을 형성하는 공정(10) Process of forming a conductor layer

(5) 도체층을 형성하는 공정과 동일한 방법으로, 목표 두께가 18㎛인 도체층을 형성하였다. 또한, 소프트 에칭은 비아홀 내의 세정을 위해 행하였다.(5) Using the same method as the process for forming the conductor layer, a conductor layer with a target thickness of 18 μm was formed. Additionally, soft etching was performed to clean the via hole.

(11) 솔더 레지스트를 형성하는 공정(11) Process of forming solder resist

타이요 잉키 세조 (주) 제조의 솔더 레지스트 「PFR-800 AUS410」를 적층하고, 다이닛폰 스크린 세조 (주) 제조의 노광기 「LI9500」에 의한 노광(노광량 150mJ/c㎡), 현상(1% Na2CO3 수용액, 30℃, 80s, 스프레이압 0.15MPa)에 의해 솔더 레지스트를 형성하였다.Solder resist "PFR-800 AUS410" manufactured by Taiyo Inky Sezo Co., Ltd. was laminated, exposed (exposure amount 150 mJ/cm2) using an exposure machine "LI9500" manufactured by Dainippon Screen Sezo Co., Ltd., and developed (1% Na 2 A solder resist was formed using CO 3 aqueous solution, 30°C, 80 s, spray pressure 0.15 MPa).

(도체층 간의 절연층의 두께의 측정)(Measurement of the thickness of the insulating layer between conductor layers)

스트립 라인 전송 선로 평가 기판(이하, 평가용 기판이라고도 함)을 FIB-SEM 복합 장치(SII 나노 테크놀로지 (주) 제조 「SMI3050SE」)를 사용하여 단면 관찰을 행하였다. 상세하게는, 도체층의 표면에 수직인 방향에서의 단면을 FIB(집속 이온 빔)에 의해 깎아내고, 단면 SEM 화상으로부터 도체층 간의 절연층의 두께를 측정하였다. 각 샘플에 대하여, 무작위로 고른 5개소의 단면 SEM 화상을 관찰하여, 이의 평균값을 도체층 간의 절연층의 두께로 하였다.A strip line transmission line evaluation board (hereinafter also referred to as an evaluation board) was subjected to cross-sectional observation using a FIB-SEM combination device (“SMI3050SE” manufactured by SII Nano Technology Co., Ltd.). In detail, a cross-section in the direction perpendicular to the surface of the conductor layer was cut using FIB (focused ion beam), and the thickness of the insulating layer between the conductor layers was measured from the cross-sectional SEM image. For each sample, cross-sectional SEM images of five randomly selected locations were observed, and the average value thereof was taken as the thickness of the insulating layer between conductor layers.

(고주파 전송 손실 측정)(High-frequency transmission loss measurement)

제작된 3개의 평가용 기판을 사용하여, 임피던스 50Ω 설정, 34mm의 배선 길이에 대해 VNA(Agilent technology PNA-X): 10MHz 내지 50GHz, TDR/TDT system(Tektronix DSA8200): Characteristic impedance/eye-pattern을 사용하여 고주파 전송 손실 측정을 행하였다.Using three manufactured evaluation boards, VNA (Agilent technology PNA-X): 10 MHz to 50 GHz, TDR/TDT system (Tektronix DSA8200): Characteristic impedance/eye-pattern for an impedance setting of 50Ω and a wiring length of 34 mm. High-frequency transmission loss was measured using .

하기 표에는, 30GHz에서의 삽입 손실값(dB) 3점을 기재하고, 이의 평균값, 표준 편차, 및 삽입 손실의 cv값을 기재하였다. 삽입 손실의 cv값이란, (삽입 손실의 표준 편차/삽입 손실의 평균값)×100에 의해 구한 것을 말한다.In the table below, three insertion loss values (dB) at 30 GHz are described, and their average value, standard deviation, and cv value of insertion loss are described. The cv value of insertion loss refers to the value obtained by (standard deviation of insertion loss/average value of insertion loss) x 100.

Figure 112017018508633-pat00002
Figure 112017018508633-pat00002

10: 지지체 부착 수지 시트
11: 지지체
12: 수지 시트
12': 절연층
12": 제2 절연층
13: 제1 수지 조성물층
13': 열 경화한 제1 수지 조성물층
14: 제2 수지 조성물층
14': 열 경화한 제2 수지 조성물층
20: 배선층 부착 기재
21: 기재
22: 배선층
22': 패터닝된 배선층
30: 도체층
30': 도체층
31: 도금 시드층
32: 전계 도금층
40: 마스크 패턴
50: 비아홀
51: 필드 비아
60: 솔더 레지스트막
10: Resin sheet with support body
11: support
12: Resin sheet
12': insulation layer
12": second insulating layer
13: First resin composition layer
13': Heat-cured first resin composition layer
14: Second resin composition layer
14': heat-cured second resin composition layer
20: Wiring layer attachment substrate
21: Description
22: wiring layer
22': patterned wiring layer
30: conductor layer
30': conductor layer
31: Plating seed layer
32: Electroplating layer
40: Mask pattern
50: Via hole
51: field via
60: Solder resist film

Claims (10)

지지체와, 지지체 위에 마련된 수지 시트를 구비하는 지지체 부착 수지 시트로서,
수지 시트는, 지지체측에 마련된, 제1 수지 조성물에 의해 형성되는 제1 수지 조성물층과,
지지체측과는 반대측에 마련된, 제2 수지 조성물에 의해 형성되는 제2 수지 조성물층을 갖고,
제1 수지 조성물 및 제2 수지 조성물의 조성은 각각 상이하고,
제1 수지 조성물을 200℃에서 90분간 열 경화시켜서 수득되는 제1 열 경화물, 및 제2 수지 조성물을 200℃에서 90분간 열 경화시켜서 수득되는 제2 열 경화물의, 23℃에서의 5.8GHz에서의 유전율이 모두 3.6 이하이고,
제1 수지 조성물 및 제2 수지 조성물은 (c) 무기 충전재를 포함하고, 제1 수지 조성물 중의 무기 충전재의 함유량을 A1(질량%), 제2 수지 조성물 중의 무기 충전재의 함유량을 A2(질량%)로 했을 때, A1 및 A2의 차(A2-A1)가 5질량% 이상 90질량% 이하이고,
제1 및 제2 열 경화물의 23℃에서의 5.8GHz에서의 유전 정접이 모두 0.01 이하이고,
제1 및 제2 열 경화물의 유전 정접의 차가 0.005 이하인 것을 특징으로 하는, 지지체 부착 수지 시트.
A resin sheet attached to a support, comprising a support and a resin sheet provided on the support,
The resin sheet includes a first resin composition layer provided on the support side and formed of the first resin composition,
It has a second resin composition layer formed of a second resin composition provided on the side opposite to the support side,
The compositions of the first resin composition and the second resin composition are different, respectively,
A first heat-cured product obtained by heat-curing a first resin composition at 200°C for 90 minutes, and a second heat-cured product obtained by heat-curing a second resin composition at 200°C for 90 minutes, at 5.8 GHz at 23°C. The dielectric constants are all less than 3.6,
The first resin composition and the second resin composition include (c) an inorganic filler, and the content of the inorganic filler in the first resin composition is A1 (mass %), and the content of the inorganic filler in the second resin composition is A2 (mass %). When , the difference (A2-A1) between A1 and A2 is 5 mass% or more and 90 mass% or less,
The dielectric loss tangents at 5.8 GHz at 23°C of the first and second heat-cured products are both 0.01 or less,
A resin sheet with a support, characterized in that the difference in dielectric loss tangent of the first and second heat cured products is 0.005 or less.
제1항에 있어서, 제1 수지 조성물 및 제2 수지 조성물은 (a) 에폭시 수지를 포함하고, (a) 성분은 방향족 구조를 갖는 에폭시 수지인, 지지체 부착 수지 시트.The resin sheet with a support according to claim 1, wherein the first resin composition and the second resin composition include (a) an epoxy resin, and component (a) is an epoxy resin having an aromatic structure. 제1항에 있어서, 제1 수지 조성물 및 제2 수지 조성물은 (b) 경화제를 포함하고, (b) 성분의 적어도 1종은 활성 에스테르 경화제인, 지지체 부착 수지 시트.The resin sheet with a support according to claim 1, wherein the first resin composition and the second resin composition contain (b) a curing agent, and at least one type of component (b) is an active ester curing agent. 제1항에 있어서, 제1 및 제2 열 경화물의 23℃에서의 5.8GHz에서의 유전율이 모두 3.5 이하인, 지지체 부착 수지 시트.The resin sheet with a support according to claim 1, wherein the first and second heat-cured products both have dielectric constants at 5.8 GHz at 23°C of 3.5 or less. 제1항에 있어서, 제1 및 제2 열 경화물의 23℃에서의 5.8GHz에서의 유전 정접이 모두 0.0095 이하인, 지지체 부착 수지 시트.The resin sheet with a support according to claim 1, wherein both the first and second heat-cured products have dielectric loss tangents at 5.8 GHz at 23°C of 0.0095 or less. 제1항에 있어서, 1GHz 이상의 고주파 대역에서 사용되는, 지지체 부착 수지 시트.The resin sheet with a support according to claim 1, which is used in a high frequency band of 1 GHz or more. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 기재된 지지체 부착 수지 시트에서의 수지 시트의 경화물에 의해 형성된 절연층을 포함하는, 프린트 배선판.A printed wiring board comprising an insulating layer formed from a cured product of the resin sheet with a support body according to any one of claims 1 to 6. 제7항에 있어서, 스트립 라인 구조를 구비하는, 프린트 배선판.8. The printed wiring board of claim 7, comprising a strip line structure. 제7항에 기재된 프린트 배선판을 포함하는, 반도체 장치.A semiconductor device comprising the printed wiring board according to claim 7. 삭제delete
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