KR102174278B1 - Resin composition - Google Patents

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Abstract

[과제] 경화하여 절연층으로 한 경우에 습식 조화 공정에서 절연층 표면의 산술 평균 거칠기의 값이 작을 뿐만 아니라, 제곱 평균 평방근 거칠기의 값도 작고, 게다가 충분한 필 강도를 갖는 도금 도체층을 형성할 수 있고, 선열팽창 계수도 작다.
[해결 수단] 에폭시 수지, 경화제 및 무기 충전재를 함유하는 수지 조성물로서, 상기 무기 충전재가 아미노알킬실란으로 표면 처리되어 있고, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, 상기 무기 충전재의 함유량이 55∼90 질량%인 것을 특징으로 하는 수지 조성물.
[Task] In the case of curing and forming an insulating layer, not only the arithmetic mean roughness of the surface of the insulating layer is small in the wet roughening process, but also the value of the root mean square roughness is small, and it is possible to form a plated conductor layer having sufficient peel strength. And the coefficient of linear thermal expansion is also small.
[Solution means] A resin composition containing an epoxy resin, a curing agent, and an inorganic filler, wherein the inorganic filler is surface-treated with an aminoalkylsilane, and the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass, the content of the inorganic filler The resin composition characterized in that it is 55-90 mass %.

Description

수지 조성물{RESIN COMPOSITION}Resin composition {RESIN COMPOSITION}

본 발명은 수지 조성물에 관한 것이다. 또한 상기 수지 조성물을 함유하는 시트형 적층 재료, 다층 프린트 배선판, 반도체 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a resin composition. It also relates to a sheet-like laminate material containing the resin composition, a multilayer printed wiring board, and a semiconductor device.

최근, 전자 기기의 소형화, 고성능화가 진행되고, 다층 프린트 배선판에서는 빌드업층이 복층화되어, 배선의 미세화 및 고밀도화가 요구되고 있다. In recent years, miniaturization and high performance of electronic devices have progressed, and build-up layers are multilayered in multilayer printed wiring boards, and miniaturization and high density of wiring are required.

이것에 대하여 여러가지 대처가 이루어져 왔다. 예컨대, 특허문헌 1에는, 에폭시 수지, 경화제, 충전재 및 실란 커플링제로 이루어진 에폭시 수지 조성물이 개시되어 있다. 그러나, 표면 거칠기나 필 강도에 관해서는 전혀 지향되는 것은 아니었다.Various actions have been taken against this. For example, Patent Document 1 discloses an epoxy resin composition comprising an epoxy resin, a curing agent, a filler, and a silane coupling agent. However, the surface roughness and peel strength were not directed at all.

특허문헌 1 : 일본 특허 공개 제2002-97258호 공보Patent Document 1: Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-97258

본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 습식 조화 공정에서 절연층 표면의 산술 평균 거칠기가 낮을 뿐만 아니라, 절연층 표면의 제곱 평균 평방근 거칠기도 낮고, 절연층 상에 충분한 필 강도를 갖는 도금 도체층을 형성할 수 있고, 선열팽창 계수도 낮은 수지 조성물을 제공하는 것이다.The problem to be solved by the present invention is that not only the arithmetic average roughness of the surface of the insulating layer is low in the wet roughening process, the surface of the insulating layer has a low root-average square roughness, and a plated conductor layer having sufficient peel strength is formed on the insulating layer. It is possible to provide a resin composition having a low coefficient of linear thermal expansion.

본 발명자들은, 상기 과제를 해결하기 위해 예의 검토한 결과, 에폭시 수지, 경화제 및 무기 충전재를 함유하는 수지 조성물로서, 상기 무기 충전재가 아미노알킬실란으로 표면 처리되어 있고, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, 무기 충전재의 함유량이 55∼90 질량%인 것을 특징으로 하는 수지 조성물에 의해 본 발명을 완성했다. The present inventors, as a result of earnest study in order to solve the above problems, as a result of a resin composition containing an epoxy resin, a curing agent, and an inorganic filler, wherein the inorganic filler is surface-treated with aminoalkylsilane, and the nonvolatile component in the resin composition is 100 In the case of mass%, the present invention was completed with a resin composition characterized in that the content of the inorganic filler is 55 to 90 mass%.

즉, 본 발명은 이하의 내용을 포함하는 것이다. That is, the present invention includes the following contents.

〔1〕에폭시 수지, 경화제 및 무기 충전재를 함유하는 수지 조성물로서, 상기 무기 충전재가 아미노알킬실란으로 표면 처리되어 있고, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, 상기 무기 충전재의 함유량이 55∼90 질량%인 것을 특징으로 하는 수지 조성물. (1) A resin composition containing an epoxy resin, a curing agent, and an inorganic filler, wherein the inorganic filler is surface-treated with an aminoalkylsilane, and when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass, the content of the inorganic filler is A resin composition comprising 55 to 90% by mass.

〔2〕상기 아미노알킬실란이, 아미노메틸기, 아미노에틸기, 아미노프로필기, 아미노이소프로필기 및 아미노시클로프로필기에서 선택되는 1종 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 〔1〕에 기재된 수지 조성물. [2] The resin composition according to [1], wherein the aminoalkylsilane contains at least one selected from an aminomethyl group, an aminoethyl group, an aminopropyl group, an aminoisopropyl group, and an aminocyclopropyl group.

〔3〕상기 아미노알킬실란이 3-아미노프로필실란인 것을 특징으로 하는 〔1〕 또는〔2〕에 기재된 수지 조성물. [3] The resin composition according to [1] or [2], wherein the aminoalkylsilane is 3-aminopropylsilane.

〔4〕상기 아미노알킬실란의 분자량이 100∼2000인 것을 특징으로 하는 〔1〕∼〔3〕 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물. [4] The resin composition according to any one of [1] to [3], wherein the aminoalkylsilane has a molecular weight of 100 to 2000.

〔5〕상기 무기 충전재의 평균 입경이 0.01∼5 ㎛인 것을 특징으로 하는 청구항〔1〕∼〔4〕 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물. [5] The resin composition according to any one of claims [1] to [4], wherein the inorganic filler has an average particle diameter of 0.01 to 5 µm.

〔6〕상기 무기 충전재가 실리카인 것을 특징으로 하는 〔1〕∼〔5〕 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물. [6] The resin composition according to any one of [1] to [5], wherein the inorganic filler is silica.

〔7〕수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, 상기 무기 충전재의 함유량이 60∼85 질량%인 것을 특징으로 하는 〔1〕∼〔6〕 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물. [7] The resin composition according to any one of [1] to [6], wherein when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass, the content of the inorganic filler is 60 to 85% by mass.

〔8〕상기 무기 충전재 100 질량부에 대하여, 상기 아미노알킬실란을 0.05∼5 질량부로 표면 처리하는 것을 특징으로 하는 〔1〕∼〔7〕 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물. [8] The resin composition according to any one of [1] to [7], wherein the aminoalkylsilane is surface-treated with 0.05 to 5 parts by mass per 100 parts by mass of the inorganic filler.

〔9〕상기 무기 충전재의 단위 표면적당 카본량이 0.05∼1 ㎎/㎡인 것을 특징으로 하는 〔1〕∼〔8〕 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물. [9] The resin composition according to any one of [1] to [8], wherein the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler is 0.05 to 1 mg/m 2.

〔10〕상기 에폭시 수지가, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지 및 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지에서 선택되는 1종 이상인 것을 특징으로 하는 〔1〕∼〔9〕 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물. (10) The epoxy resin is a bisphenol A type epoxy resin, a bisphenol F type epoxy resin, a naphthol type epoxy resin, a naphthalene type epoxy resin, a biphenyl type epoxy resin, a naphthylene ether type epoxy resin, a glycidyl ester type epoxy resin. The resin composition according to any one of [1] to [9], wherein the resin composition is at least one selected from an anthracene type epoxy resin and an epoxy resin having a butadiene structure.

〔11〕상기 경화제가, 페놀계 경화제, 활성 에스테르계 경화제 및 시아네이트에스테르계 경화제에서 선택되는 1종 이상인 것을 특징으로 하는 〔1〕∼〔10〕 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물. [11] The resin composition according to any one of [1] to [10], wherein the curing agent is at least one selected from a phenolic curing agent, an active ester curing agent, and a cyanate ester curing agent.

〔12〕상기 경화제가, 활성 에스테르계 경화제 및 시아네이트에스테르계 경화제에서 선택되는 1종 이상인 것을 특징으로 하는 〔1〕∼〔11〕 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물. [12] The resin composition according to any one of [1] to [11], wherein the curing agent is at least one selected from an active ester curing agent and a cyanate ester curing agent.

〔13〕수지 조성물을 경화하여 절연층을 형성하고, 그 절연층 표면을 조화 처리한 후의 산술 평균 거칠기가 10∼300 nm이고, 제곱 평균 평방근 거칠기가 20∼500 nm인 것을 특징으로 하는 〔1〕∼〔12〕 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물. [13] [1], wherein the resin composition is cured to form an insulating layer, and the arithmetic mean roughness after roughening the surface of the insulating layer is 10 to 300 nm, and the root mean square roughness is 20 to 500 nm. The resin composition according to any one of-[12].

〔14〕수지 조성물을 경화하여 얻어지는 절연층과, 상기 절연층 표면을 조화 처리하고 도금하여 얻어지는 도체층과의 필 강도가 0.35∼1.5 kgf/cm인 것을 특징으로 하는 〔1〕∼〔13〕 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물. [14] Among [1] to [13], characterized in that the peel strength between the insulating layer obtained by curing the resin composition and the conductor layer obtained by roughening and plating the surface of the insulating layer is 0.35 to 1.5 kgf/cm. The resin composition according to any one.

〔15〕다층 프린트 배선판의 절연층용 수지 조성물인 것을 특징으로 하는 〔1〕∼〔14〕 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물. [15] The resin composition according to any one of [1] to [14], which is a resin composition for insulating layers of a multilayer printed wiring board.

〔16〕도금에 의해 도체층을 형성하는 다층 프린트 배선판의 절연층용 수지 조성물인 것을 특징으로 하는 〔1〕∼〔15〕 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물. [16] The resin composition according to any one of [1] to [15], which is a resin composition for insulating layers of a multilayer printed wiring board in which a conductor layer is formed by plating.

〔17〕다층 프린트 배선판의 빌드업층용 수지 조성물인 것을 특징으로 하는 〔1〕∼〔16〕 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물. [17] The resin composition according to any one of [1] to [16], which is a resin composition for a build-up layer of a multilayer printed wiring board.

〔18〕〔1〕∼〔17〕 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물을 함유하는 것을 특징으로 하는 시트형 적층 재료. [18] A sheet-like laminate material comprising the resin composition according to any one of [1] to [17].

〔19〕〔1〕∼〔17〕 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물의 경화물에 의해 절연층이 형성된 다층 프린트 배선판. [19] A multilayer printed wiring board in which an insulating layer is formed from a cured product of the resin composition according to any one of [1] to [17].

〔20〕〔19〕에 기재된 다층 프린트 배선판을 이용하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치.[20] A semiconductor device comprising the multilayer printed wiring board according to [19].

에폭시 수지, 경화제 및 무기 충전재를 함유하는 수지 조성물로서, 상기 무기 충전재가 아미노알킬실란으로 표면 처리되어 있고, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, 상기 무기 충전재의 함유량이 55∼90 질량%인 것을 특징으로 하는 수지 조성물을 이용함으로써, 습식 조화 공정에서 절연층 표면의 산술 평균 거칠기가 낮을 뿐만 아니라, 절연층 표면의 제곱 평균 평방근 거칠기의 값도 작고, 절연층 상에 충분한 필 강도를 갖는 도금 도체층을 형성할 수 있고, 선열팽창 계수도 낮은 수지 조성물을 제공할 수 있게 되었다.A resin composition containing an epoxy resin, a curing agent, and an inorganic filler, wherein when the inorganic filler is surface-treated with aminoalkylsilane and the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass, the content of the inorganic filler is 55 to 90 By using the resin composition characterized by mass%, not only the arithmetic average roughness of the surface of the insulating layer in the wet roughening process is low, but also the value of the root-average square roughness of the surface of the insulating layer is small, and sufficient peel strength is obtained on the insulating layer. It has become possible to form a plated conductor layer, and to provide a resin composition having a low coefficient of linear thermal expansion.

본 발명은 에폭시 수지, 경화제 및 무기 충전재를 함유하는 수지 조성물로서, 상기 무기 충전재가 아미노알킬실란으로 표면 처리되어 있고, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, 상기 무기 충전재의 함유량이 55∼90 질량%인 것을 특징으로 하는 수지 조성물이다. 이하, 수지 조성물의 배합 성분에 관해 상세히 설명한다. The present invention is a resin composition containing an epoxy resin, a curing agent and an inorganic filler, wherein when the inorganic filler is surface-treated with aminoalkylsilane and the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass, the content of the inorganic filler is It is a resin composition characterized by being 55 to 90 mass %. Hereinafter, the blending components of the resin composition will be described in detail.

<에폭시 수지><Epoxy resin>

본 발명에 사용하는 에폭시 수지로서는, 특별히 한정되지 않지만, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 S형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 페놀노볼락형 에폭시 수지, tert-부틸-카테콜형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 크레졸노볼락형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 선형 지방족 에폭시 수지, 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지, 지환식 에폭시 수지, 복소환식 에폭시 수지, 스피로환 함유 에폭시 수지, 시클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 트리메틸올형 에폭시 수지, 할로겐화에폭시 수지 등을 들 수 있다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다. The epoxy resin used in the present invention is not particularly limited, but bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, tert-butyl-cate Cole type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, Anthracene type epoxy resin, linear aliphatic epoxy resin, butadiene structure epoxy resin, alicyclic epoxy resin, heterocyclic epoxy resin, spiro ring-containing epoxy resin, cyclohexanedimethanol type epoxy resin, trimethylol type epoxy resin, halogenated epoxy resin, etc. Can be mentioned. These may be used singly or in combination of two or more.

이들 중에서도, 내열성 향상, 절연 신뢰성 향상, 필 강도 향상의 관점에서, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지 및 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지에서 선택되는 1종 이상을 이용하는 것이 바람직하다. 구체적으로서는, 예컨대, 비스페놀 A형 에폭시 수지(미쯔비시화학(주) 제조 「에피코트 828EL」, 「YL980」), 비스페놀 F형 에폭시 수지(미쯔비시화학(주) 제조 「jER806H」, 「YL983U」), 나프탈렌형 2작용 에폭시 수지(DIC(주) 제조 「HP4032」, 「HP4032D」, 「HP4032SS」, 「EXA4032SS」), 나프탈렌형 4작용 에폭시 수지(DIC(주) 제조 「HP4700」, 「HP4710」), 나프톨형 에폭시 수지(신니테츠화학(주) 제조 「ESN-475V」), 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지(다이셀화학공업(주) 제조 「PB-3600」), 비페닐 구조를 갖는 에폭시 수지(니혼카야쿠(주) 제조 「NC3000H」, 「NC3000L」, 「NC3100」, 미쯔비시화학(주) 제조 「YX4000」, 「YX4000H」, 「YX4000HK」, 「YL6121」), 안트라센형 에폭시 수지(미쯔비시화학(주) 제조 「YX8800」), 나프틸렌에테르형 에폭시 수지(DIC(주) 제조 「EXA-7310」, 「EXA-7311」, 「EXA-7311L」, 「EXA7311-G3」), 글리시딜에스테르형 에폭시 수지(나가세켐텍스(주) 제조 「EX711」, 「EX721」, (주)프린텍 제조 「R540」) 등을 들 수 있다. Among these, from the viewpoint of improving heat resistance, improving insulation reliability, and improving peel strength, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy It is preferable to use at least one selected from resins, glycidyl ester type epoxy resins, anthracene type epoxy resins, and epoxy resins having a butadiene structure. Specifically, for example, bisphenol A type epoxy resin (Mitsubishi Chemical Co., Ltd. ``Epicoat 828EL'', ``YL980''), bisphenol F type epoxy resin (Mitsubishi Chemical Co., Ltd. ``jER806H'', ``YL983U''), naphthalene Type bifunctional epoxy resin ("HP4032", "HP4032D", "HP4032SS", "EXA4032SS" manufactured by DIC Corporation), naphthalene type tetrafunctional epoxy resin ("HP4700", "HP4710" manufactured by DIC Corporation), naphthol Type epoxy resin (``ESN-475V'' manufactured by Shinnitetsu Chemical Co., Ltd.), epoxy resin having a butadiene structure ("PB-3600" manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd.), and an epoxy resin having a biphenyl structure (Nihonkaya Co., Ltd. ``NC3000H'', ``NC3000L'', ``NC3100'', Mitsubishi Chemical Co., Ltd. ``YX4000'', ``YX4000H'', ``YX4000HK'', ``YL6121''), anthracene type epoxy resin (Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) Manufacture ``YX8800''), naphthylene ether type epoxy resin (DIC Co., Ltd. ``EXA-7310'', ``EXA-7311'', ``EXA-7311L'', ``EXA7311-G3''), glycidyl ester type epoxy resin (Nagase Chemtex Co., Ltd. "EX711", "EX721", Printtech Co., Ltd. "R540") etc. are mentioned.

에폭시 수지는 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지를 함유하는 것이 바람직하고, 그 중에서도, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 병용하는 것이 보다 바람직하다. 액상 에폭시 수지로서는 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 가지며 온도 20℃에서 액상인 방향족계 에폭시 수지가 바람직하다. 고체상 에폭시 수지로서는 1분자 중에 3개 이상의 에폭시기를 가지며 온도 20℃에서 고체상인 방향족계 에폭시 수지가 바람직하다. 또한, 본 발명에서 말하는 방향족계 에폭시 수지란, 그 분자 내에 방향환 구조를 갖는 에폭시 수지를 의미한다. 에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 병용하는 경우, 수지 조성물이 접착 필름 형태로 사용되는 경우에 적당한 가요성을 가지며, 취급성이 향상되는 점이나 수지 조성물의 경화물의 표면 거칠기를 낮게 할 수 있는 점에서, 그 배합 비율(액상 에폭시 수지:고체상 에폭시 수지)은 질량비로 1:0.1∼1:3의 범위가 바람직하고, 1:0.3∼1:2의 범위가 보다 바람직하고, 1:0.6∼1:1.5의 범위가 더욱 바람직하다. It is preferable that the epoxy resin contains an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule, and among them, it is more preferable to use a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin in combination. As the liquid epoxy resin, an aromatic epoxy resin having two or more epoxy groups per molecule and being liquid at a temperature of 20°C is preferable. As the solid epoxy resin, an aromatic epoxy resin having three or more epoxy groups per molecule and which is solid at a temperature of 20°C is preferable. In addition, the aromatic epoxy resin in the present invention means an epoxy resin having an aromatic ring structure in its molecule. As an epoxy resin, when a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin are used together, it has adequate flexibility when the resin composition is used in the form of an adhesive film, improves handling properties, and reduces the surface roughness of the cured product of the resin composition. From the point of view, the blending ratio (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) is preferably in the range of 1:0.1 to 1:3, more preferably in the range of 1:0.3 to 1:2, and 1:0.6 The range of -1:1.5 is more preferable.

액상 에폭시 수지로서는, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 페놀노볼락형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 또는 나프탈렌형 에폭시 수지가 바람직하고, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 또는 나프탈렌형 에폭시 수지가 보다 바람직하다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다. 고체상 에폭시 수지로서는, 4작용 나프탈렌형 에폭시 수지, 크레졸노볼락형 에폭시 수지, 디시클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 또는 나프틸렌에테르형 에폭시 수지가 바람직하고, 나프톨형 에폭시 수지, 또는 비페닐형 에폭시 수지가 보다 바람직하다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다. As the liquid epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, or naphthalene type epoxy resin is preferable, and bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type Epoxy resin or naphthalene type epoxy resin is more preferable. These may be used singly or in combination of two or more. As a solid epoxy resin, a tetrafunctional naphthalene type epoxy resin, a cresol novolak type epoxy resin, a dicyclopentadiene type epoxy resin, a trisphenol epoxy resin, a naphthol type epoxy resin, an anthracene type epoxy resin, a biphenyl type epoxy resin, or a nap A styrene ether type epoxy resin is preferable, and a naphthol type epoxy resin or a biphenyl type epoxy resin is more preferable. These may be used singly or in combination of two or more.

본 발명의 수지 조성물에서, 수지 조성물의 경화물의 기계 강도나 내수성을 향상시킨다고 하는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, 에폭시 수지의 함유량은 3∼40 질량%가 바람직하고, 5∼30 질량%가 보다 바람직하고, 10∼20 질량%가 더욱 바람직하다. In the resin composition of the present invention, from the viewpoint of improving the mechanical strength and water resistance of the cured product of the resin composition, when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass, the content of the epoxy resin is preferably 3 to 40% by mass, , 5-30 mass% is more preferable, and 10-20 mass% is still more preferable.

<경화제> <hardener>

본 발명에 사용하는 경화제로서는, 특별히 한정되지 않지만, 페놀계 경화제, 활성 에스테르계 경화제, 시아네이트에스테르계 경화제, 벤조옥사진계 경화제, 산무수물계 경화제 등을 들 수 있고, 수지 조성물의 경화물의 산술 평균 거칠기(Ra값), 제곱 평균 평방근 거칠기(Rq값)를 보다 저하시킨다고 하는 관점에서, 페놀계 경화제, 활성 에스테르계 경화제 및 시아네이트에스테르계 경화제에서 선택되는 1종 이상을 이용하는 것이 바람직하고, 활성 에스테르계 경화제 및 시아네이트에스테르계 경화제에서 선택되는 1종 이상을 이용하는 것이 보다 바람직하다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다. The curing agent used in the present invention is not particularly limited, but includes a phenolic curing agent, an active ester curing agent, a cyanate ester curing agent, a benzoxazine curing agent, an acid anhydride curing agent, etc., and the arithmetic average of the cured product of the resin composition From the viewpoint of further reducing the roughness (Ra value) and the root mean square roughness (Rq value), it is preferable to use at least one selected from a phenolic curing agent, an active ester curing agent, and a cyanate ester curing agent, and active ester It is more preferable to use at least one selected from a curing agent and a cyanate ester curing agent. These may be used singly or in combination of two or more.

페놀계 경화제로서는, 특별히 제한은 없지만, 비페닐형 경화제, 나프탈렌형 경화제, 페놀노볼락형 경화제, 나프틸렌에테르형 경화제, 트리아진 골격 함유 페놀계 경화제가 바람직하다. 구체적으로서는, 비페닐형 경화제의 MEH-7700, MEH-7810, MEH-7851(메이와화성(주) 제조), 나프탈렌형 경화제의 NHN, CBN, GPH(니혼카야쿠(주) 제조), SN170, SN180, SN190, SN475, SN485, SN495, SN375, SN395(신니테츠화학(주) 제조), EXB9500(DIC(주) 제조), 페놀노볼락형 경화제의 TD2090(DIC(주) 제조), 나프틸렌에테르형 경화제의 EXB-6000(DIC(주) 제조), 트리아진 골격 함유 페놀계 경화제의 LA3018, LA7052, LA7054, LA1356(DIC(주) 제조) 등을 들 수 있다. 이들은 1종 또는 2종 이상을 병용해도 좋다. The phenolic curing agent is not particularly limited, but a biphenyl type curing agent, a naphthalene type curing agent, a phenol novolak type curing agent, a naphthylene ether type curing agent, and a triazine skeleton-containing phenol type curing agent are preferable. Specifically, the biphenyl type curing agent MEH-7700, MEH-7810, MEH-7851 (made by Meiwa Chemical Co., Ltd.), the naphthalene type curing agent NHN, CBN, GPH (manufactured by Nihon Kayaku Corporation), SN170, SN180, SN190, SN475, SN485, SN495, SN375, SN395 (manufactured by Shinitetsu Chemical Co., Ltd.), EXB9500 (manufactured by DIC Corporation), TD2090 of phenol novolak type hardener (manufactured by DIC Corporation), naphthylene ether EXB-6000 (manufactured by DIC Corporation) as a type curing agent, LA3018, LA7052, LA7054, and LA1356 (manufactured by DIC Corporation) of a phenolic curing agent containing a triazine skeleton. These may use 1 type or 2 or more types together.

활성 에스테르계 경화제로서는, 특별히 제한은 없지만, 일반적으로 페놀에스테르류, 티오페놀에스테르류, N-히드록시아민에스테르류, 복소환 히드록시 화합물의 에스테르류 등의 반응 활성이 높은 에스테르기를 1분자 중에 2개 이상 갖는 화합물이 바람직하게 이용된다. 상기 활성 에스테르계 경화제는, 카르복실산 화합물 및/또는 티오카르복실산 화합물과 히드록시 화합물 및/또는 티올 화합물의 축합 반응에 의해 얻어지는 것이 바람직하다. 특히 내열성 향상의 관점에서, 카르복실산 화합물과 히드록시 화합물로부터 얻어지는 활성 에스테르계 경화제가 바람직하고, 카르복실산 화합물과 페놀 화합물 및/또는 나프톨 화합물로부터 얻어지는 활성 에스테르계 경화제가 보다 바람직하다. 카르복실산 화합물로서는, 예컨대 벤조산, 아세트산, 숙신산, 말레산, 이타콘산, 프탈산, 이소프탈산, 테레프탈산, 피로멜리트산 등을 들 수 있다. 페놀 화합물 또는 나프톨 화합물로서는, 하이드로퀴논, 레조르신, 비스페놀 A, 비스페놀 F, 비스페놀 S, 페놀프탈린, 메틸화비스페놀 A, 메틸화비스페놀 F, 메틸화비스페놀 S, 페놀, o-크레졸, m-크레졸, p-크레졸, 카테콜, α-나프톨, β-나프톨, 1,5-디히드록시나프탈렌, 1,6-디히드록시나프탈렌, 2,6-디히드록시나프탈렌, 디히드록시벤조페논, 트리히드록시벤조페논, 테트라히드록시벤조페논, 플로로글루신, 벤젠트리올, 폴리시클로펜타디엔형의 디페놀 화합물(디시클로펜타디엔형의 디페놀 화합물, 트리시클로펜타디엔형의 디페놀 화합물), 페놀노볼락 등을 들 수 있다. 활성 에스테르계 경화제는 1종 또는 2종 이상을 사용해도 좋다. 활성 에스테르계 경화제로서, 구체적으로는 디시클로펜타디엔형 디페놀 축합 구조(디시클로펜타디엔과 페놀의 축합 구조)를 포함하는 활성 에스테르계 경화제, 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르계 경화제, 페놀노볼락의 아세틸화물인 활성 에스테르계 경화제, 페놀노볼락의 벤조일화물인 활성 에스테르계 경화제 등이 바람직하고, 그 중에서도 필 강도의 향상이 우수하다는 점에서, 디시클로펜타디엔형 디페놀 축합 구조를 포함하는 활성 에스테르계 경화제가 보다 바람직하다. 활성 에스테르계 경화제로서는, 일본 특허 공개 제2004-277460호 공보에 개시되어 있는 활성 에스테르계 경화제를 이용해도 좋고, 또 시판하는 것을 이용할 수도 있다. 시판품으로는 디시클로펜타디엔형 디페놀 축합 구조를 포함하는 것으로서 EXB9451, EXB9460, EXB9460S-65T, HPC-8000-65 T(DIC(주) 제조, 활성기 당량 약 223), 페놀노볼락의 아세틸화물인 활성 에스테르계 경화제로서 DC808(미쯔비시화학(주) 제조, 활성기 당량 약 149), 페놀노볼락의 벤조일화물인 활성 에스테르계 경화제로서 YLH1026(미쯔비시화학(주) 제조, 활성기 당량 약 200), YLH1030(미쯔비시화학(주) 제조, 활성기 당량 약 201), YLH1048(미쯔비시화학(주) 제조, 활성기 당량 약 245) 등을 들 수 있다. The active ester-based curing agent is not particularly limited, but generally, an ester group having high reaction activity such as phenol esters, thiophenol esters, N-hydroxyamine esters, and esters of heterocyclic hydroxy compounds is 2 per molecule. Compounds having two or more are preferably used. The active ester curing agent is preferably obtained by condensation reaction of a carboxylic acid compound and/or a thiocarboxylic acid compound and a hydroxy compound and/or a thiol compound. In particular, from the viewpoint of improving heat resistance, an active ester curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a hydroxy compound is preferable, and an active ester curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a phenol compound and/or a naphthol compound is more preferable. Examples of the carboxylic acid compound include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, and pyromellitic acid. As a phenol compound or a naphthol compound, hydroquinone, resorcin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenolphthalin, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o-cresol, m-cresol, p- Cresol, catechol, α-naphthol, β-naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone, trihydroxybenzo Phenone, tetrahydroxybenzophenone, fluoroglucine, benzenetriol, polycyclopentadiene type diphenol compound (dicyclopentadiene type diphenol compound, tricyclopentadiene type diphenol compound), phenolno And rockfish. One type or two or more types of active ester curing agents may be used. As an active ester curing agent, specifically, an active ester curing agent containing a dicyclopentadiene-type diphenol condensation structure (condensation structure of dicyclopentadiene and phenol), an active ester curing agent containing a naphthalene structure, phenol novolac Active ester-based curing agent, which is an acetylated product of phenol novolak, and an active ester-based curing agent, which is a benzoylated product of phenol novolac, is preferable. Ester curing agents are more preferred. As the active ester curing agent, an active ester curing agent disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2004-277460 may be used, or a commercially available curing agent may be used. Commercially available products include dicyclopentadiene-type diphenol condensation structures, EXB9451, EXB9460, EXB9460S-65T, HPC-8000-65T (manufactured by DIC Co., Ltd., active group equivalent of about 223), an acetylated product of phenol novolac. DC808 (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., active group equivalent of about 149) as active ester curing agent, YLH1026 (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., active group equivalent of about 200), YLH1030 (made by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. Chemical Co., Ltd. product, active group equivalent of about 201), YLH1048 (Mitsubishi Chemical Co., Ltd. product, active group equivalent of about 245), etc. are mentioned.

디시클로펜타디엔형(또는 트리시클로펜타디엔형)디페놀 축합 구조를 포함하는 활성 에스테르계 경화제로서, 보다 구체적으로는 하기 식(1)의 화합물을 들 수 있다. As an active ester curing agent containing a dicyclopentadiene type (or tricyclopentadiene type) diphenol condensed structure, more specifically, a compound represented by the following formula (1) can be mentioned.

Figure 112013065655476-pat00001
Figure 112013065655476-pat00001

(식 중, R은 페닐기, 나프틸기이고, k는 0 또는 1을 나타내고, n은 반복 단위의 평균으로 0.05∼2.5이다.)(In the formula, R is a phenyl group or a naphthyl group, k represents 0 or 1, and n is an average of 0.05 to 2.5 repeat units.)

수지 조성물의 경화물의 유전 정접을 저하시켜, 내열성을 향상시킨다고 하는 관점에서, R은 나프틸기가 바람직하고, 한편, k는 0이 바람직하고, 또, n은 0.25∼1.5가 바람직하다. From the viewpoint of reducing the dielectric loss tangent of the cured product of the resin composition and improving heat resistance, R is preferably a naphthyl group, while k is preferably 0, and n is preferably 0.25 to 1.5.

시아네이트에스테르계 경화제로서는, 특별히 제한은 없지만, 노볼락형(페놀노볼락형, 알킬페놀노볼락형 등) 시아네이트에스테르계 경화제, 디시클로펜타디엔형 시아네이트에스테르계 경화제, 비스페놀형(비스페놀 A형, 비스페놀 F형, 비스페놀 S형 등) 시아네이트에스테르계 경화제, 및 이들이 일부 트리아진화한 프리폴리머 등을 들 수 있다. 시아네이트에스테르계 경화제의 중량 평균 분자량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 500∼4500이 바람직하고, 600∼3000이 보다 바람직하다. 시아네이트에스테르계 경화제의 구체예로서는, 예컨대, 비스페놀 A 디시아네이트, 폴리페놀시아네이트(올리고(3-메틸렌-1,5-페닐렌시아네이트), 4,4'-메틸렌비스(2,6-디메틸페닐시아네이트), 4,4'-에틸리덴디페닐디시아네이트, 헥사플루오로비스페놀 A 디시아네이트, 2,2-비스(4-시아네이트)페닐프로판, 1,1-비스(4-시아네이트페닐메탄), 비스(4-시아네이트-3,5-디메틸페닐)메탄, 1,3-비스(4-시아네이트페닐-1-(메틸에틸리덴))벤젠, 비스(4-시아네이트페닐)티오에테르, 비스(4-시아네이트페닐)에테르 등의 2작용 시아네이트 수지, 페놀노볼락, 크레졸노볼락, 디시클로펜타디엔 구조 함유 페놀 수지 등으로부터 유도되는 다작용 시아네이트 수지, 이들 시아네이트 수지가 일부 트리아진화한 프리폴리머 등을 들 수 있다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다. 시판되고 있는 시아네이트에스테르 수지로서는, 하기 식(2)로 표시되는 페놀노볼락형 다작용 시아네이트에스테르 수지(론자재팬(주) 제조, PT30S, 시아네이트 당량 124), 하기 식(3)으로 표시되는 비스페놀 A 디시아네이트의 일부 또는 전부가 트리아진화되어 삼량체가 된 프리폴리머(론자재팬(주) 제조, BA230S, 시아네이트 당량 232), 하기 식(4)로 표시되는 디시클로펜타디엔 구조 함유 시아네이트에스테르 수지(론자재팬(주) 제조, DT-4000, DT-7000) 등을 들 수 있다. The cyanate ester curing agent is not particularly limited, but novolak type (phenol novolak type, alkylphenol novolak type, etc.) cyanate ester curing agent, dicyclopentadiene type cyanate ester curing agent, bisphenol type (bisphenol A Type, bisphenol F type, bisphenol S type, etc.) cyanate ester type curing agents, and prepolymers in which these are partially triazineized. Although the weight average molecular weight of a cyanate ester type hardening agent is not specifically limited, 500-4500 are preferable and 600-3000 are more preferable. Specific examples of the cyanate ester curing agent include, for example, bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate (oligo(3-methylene-1,5-phenylene cyanate), 4,4'-methylenebis(2,6- Dimethylphenylcyanate), 4,4′-ethylidenediphenyldicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis(4-cyanate)phenylpropane, 1,1-bis(4- Cyanatephenylmethane), bis(4-cyanate-3,5-dimethylphenyl)methane, 1,3-bis(4-cyanatephenyl-1-(methylethylidene))benzene, bis(4-cya Polyfunctional cyanate resins derived from bifunctional cyanate resins such as natephenyl)thioether and bis(4-cyanatephenyl)ether, phenol novolac, cresol novolac, dicyclopentadiene structure-containing phenol resin, etc. And prepolymers in which a cyanate resin is partially triazineized, etc. These may be used singly or in combination of two or more As a commercially available cyanate ester resin, a phenol novolak type polyvalent represented by the following formula (2) is given. Functional cyanate ester resin (manufactured by Ronza Japan, PT30S, cyanate equivalent 124), a prepolymer in which part or all of the bisphenol A dicyanate represented by the following formula (3) is triazineized to become a trimer (Lonza Japan ( Note) Manufacturing, BA230S, cyanate equivalent 232), cyanate ester resins containing a dicyclopentadiene structure represented by the following formula (4) (manufactured by Ronza Japan, DT-4000, DT-7000), etc. have.

Figure 112013065655476-pat00002
Figure 112013065655476-pat00002

[식 중, n은 평균치로서 임의의 수(바람직하게는 0∼20)를 나타낸다.][In the formula, n represents an arbitrary number (preferably 0 to 20) as an average value.]

Figure 112013065655476-pat00003
Figure 112013065655476-pat00003

Figure 112013065655476-pat00004
Figure 112013065655476-pat00004

(식 중, n은 평균치로서 0∼5의 수를 나타낸다.)(In the formula, n represents the number of 0 to 5 as an average value.)

벤조옥사진계 경화제로서는, 특별히 제한은 없지만, 구체예로서는, F-a, P-d(시코쿠화성(주) 제조), HFB2006M(쇼와고분자(주) 제조) 등을 들 수 있다. Although there is no restriction|limiting in particular as a benzoxazine type hardening agent, F-a, P-d (made by Shikoku Chemical Co., Ltd.), HFB2006M (made by Showa Polymer Co., Ltd.) etc. are mentioned as a specific example.

산무수물계 경화제로서는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 무수프탈산, 테트라히드로무수프탈산, 헥사히드로무수프탈산, 메틸테트라히드로무수프탈산, 메틸헥사히드로무수프탈산, 메틸나딕산무수물, 수소화메틸나딕산무수물, 트리알킬테트라히드로무수프탈산, 도데세닐무수숙신산, 5-(2,5-디옥소테트라히드로-3-푸라닐)-3-메틸-3-시클로헥센-1,2-디카르복실산무수물, 무수트리멜리트산, 무수피로멜리트산, 벤조페논테트라카르복실산이무수물, 비페닐테트라카르복실산이무수물, 나프탈렌테트라카르복실산이무수물, 옥시디프탈산이무수물, 3,3'-4,4'-디페닐술폰테트라카르복실산이무수물, 1,3,3a,4,5,9b-헥사히드로-5-(테트라히드로-2,5-디옥소-3-푸라닐)-나프토[1,2-C]푸란-1,3-디온, 에틸렌글리콜비스(안히드로트리멜리테이트), 스티렌과 말레산이 공중합한 스티렌ㆍ말레산 수지 등의 폴리머형의 산무수물 등을 들 수 있다. The acid anhydride-based curing agent is not particularly limited, but phthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, methyltetrahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, methylnadic anhydride, hydrogenated methylnadic anhydride, trialkyl Tetrahydrophthalic anhydride, dodecenyl anhydride succinic acid, 5-(2,5-dioxotetrahydro-3-furanyl)-3-methyl-3-cyclohexene-1,2-dicarboxylic anhydride, trimelli anhydride Tic acid, pyromellitic anhydride, benzophenone tetracarboxylic dianhydride, biphenyl tetracarboxylic dianhydride, naphthalene tetracarboxylic dianhydride, oxydiphthalic dianhydride, 3,3'-4,4'-diphenylsulfontetra Carboxylic acid dianhydride, 1,3,3a,4,5,9b-hexahydro-5-(tetrahydro-2,5-dioxo-3-furanyl)-naphtho[1,2-C]furan- And polymeric acid anhydrides such as 1,3-dione, ethylene glycol bis (anhydrotrimelitate), and styrene maleic resin in which styrene and maleic acid are copolymerized.

본 발명의 수지 조성물에서, 수지 조성물의 경화물의 기계 강도나 내수성을 향상시킨다고 하는 관점에서, 에폭시 수지의 에폭시기의 합계수와, 경화제의 반응기의 합계수의 비가, 1:0.2∼1:2가 바람직하고, 1:0.3∼1:1.5가 보다 바람직하고, 1:0.4∼1:1이 더욱 바람직하다. 또한 수지 조성물 중에 존재하는 에폭시 수지의 에폭시기의 합계수란, 각 에폭시 수지의 고형분 질량을 에폭시 당량으로 나눈 값을 모든 에폭시 수지에 관해 합계한 값이며, 경화제의 반응기의 합계수란, 각 경화제의 고형분 질량을 반응기 당량으로 나눈 값을 모든 경화제에 관해 합계한 값이다. In the resin composition of the present invention, from the viewpoint of improving the mechanical strength and water resistance of the cured product of the resin composition, the ratio of the total number of epoxy groups of the epoxy resin to the total number of reactive groups of the curing agent is preferably 1:0.2 to 1:2. And 1:0.3-1:1.5 are more preferable, and 1:0.4-1:1 are still more preferable. In addition, the total number of epoxy groups in the epoxy resin present in the resin composition is a value obtained by dividing the solid content mass of each epoxy resin by the epoxy equivalent weight for all epoxy resins, and the total number of reactors of the curing agent is the solid content of each curing agent. It is the sum of all the hardeners obtained by dividing the mass by the reactor equivalent.

<무기 충전재> <Inorganic filler>

본 발명에 사용되는 무기 충전재로서는, 특별히 한정되지 않지만, 예컨대, 실리카, 알루미나, 황산바륨, 탈크, 클레이, 운모분, 수산화알루미늄, 수산화마그네슘, 탄산칼슘, 탄산마그네슘, 산화마그네슘, 질화붕소, 붕산알루미늄, 티탄산바륨, 티탄산스트론튬, 티탄산칼슘, 티탄산마그네슘, 티탄산비스무트, 산화티탄, 지르콘산바륨, 지르콘산칼슘 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 무정형 실리카, 분쇄 실리카, 용융 실리카, 결정 실리카, 합성 실리카, 중공 실리카, 구형 실리카 등의 실리카가 바람직하고, 특히 절연층의 표면 거칠기를 저하시킨다고 하는 점에서 용융 실리카, 구형 실리카가 보다 바람직하고, 구형 용융 실리카가 더욱 바람직하다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다. The inorganic filler used in the present invention is not particularly limited, but for example, silica, alumina, barium sulfate, talc, clay, mica powder, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum borate , Barium titanate, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, barium zirconate, calcium zirconate, and the like. Among them, silica such as amorphous silica, pulverized silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, hollow silica, and spherical silica are preferred, and fused silica and spherical silica are more preferred in view of lowering the surface roughness of the insulating layer. And spherical fused silica is more preferable. These may be used singly or in combination of two or more.

무기 충전재의 평균 입경은, 특별히 한정되지 않지만, 절연층 표면이 저조도가 되어, 미세 배선 형성을 행하는 것을 가능하게 한다고 하는 관점에서, 5 ㎛ 이하가 바람직하고, 4 ㎛ 이하가 보다 바람직하고, 3 ㎛ 이하가 더욱 바람직하고, 2 ㎛ 이하가 더 바람직하고, 1 ㎛ 이하가 특히 바람직하고, 0.8 ㎛ 이하가 특히 바람직하고, 0.6 ㎛ 이하가 특히 바람직하다. 한편, 수지 조성물을 수지 와니스로 한 경우에, 와니스의 점도가 상승하여, 취급성이 저하되는 것을 방지한다고 하는 관점에서, 0.01 ㎛ 이상이 바람직하고, 0.03 ㎛ 이상이 보다 바람직하고, 0.05 ㎛ 이상이 더욱 바람직하고, 0.07 ㎛ 이상이 한층 더 바람직하고, 0.1 ㎛ 이상이 특히 바람직하다. 상기 무기 충전재의 평균 입경은 미(Mie)산란 이론에 기초하는 레이저 회절ㆍ산란법에 의해 측정할 수 있다. 구체적으로는 레이저 회절 산란식 입도 분포 측정 장치에 의해, 무기 충전재의 입도 분포를 체적 기준으로 작성하여, 그 메디안 직경을 평균 입경으로 함으로써 측정할 수 있다. 측정 샘플은, 무기 충전재를 초음파에 의해 수중에 분산시킨 것을 바람직하게 사용할 수 있다. 레이저 회절 산란식 입도 분포 측정 장치로서는, (주)호리바제작소 제조 LA-950 등을 사용할 수 있다. The average particle diameter of the inorganic filler is not particularly limited, but 5 µm or less is preferable, 4 µm or less is more preferable, and 3 µm or less from the viewpoint of the fact that the surface of the insulating layer becomes low in roughness and makes it possible to form fine wiring. The following are more preferable, 2 micrometers or less are more preferable, 1 micrometers or less are especially preferable, 0.8 micrometers or less are especially preferable, and 0.6 micrometers or less are especially preferable. On the other hand, in the case where the resin composition is a resin varnish, the viscosity of the varnish increases, and from the viewpoint of preventing a decrease in handling properties, 0.01 µm or more is preferable, 0.03 µm or more is more preferable, and 0.05 µm or more is More preferably, 0.07 µm or more is still more preferable, and 0.1 µm or more is particularly preferable. The average particle diameter of the inorganic filler can be measured by a laser diffraction/scattering method based on Mie scattering theory. Specifically, it can be measured by creating a particle size distribution of an inorganic filler on a volume basis with a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring device, and setting the median diameter to an average particle diameter. As a measurement sample, what made an inorganic filler disperse in water by ultrasonic wave can be used preferably. As a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring device, LA-950 manufactured by Horiba Co., Ltd. can be used.

무기 충전재의 함유량은, 선열팽창 계수를 저하시키는 점이나 다층 프린트 배선판의 크랙을 방지한다고 하는 점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, 55∼90 질량%가 된다. 수지 조성물의 경화물이 취약해지는 것을 방지하는 점이나 필 강도 저하를 방지하는 점에서, 85 질량% 이하가 보다 바람직하고, 80 질량% 이하가 더욱 바람직하고, 75 질량% 이하가 한층 더 바람직하다. 한편, 수지 조성물의 경화물의 선열팽창 계수를 더욱 저하시킨다고 하는 점에서, 60 질량% 이상이 보다 바람직하고, 65 질량% 이상이 더욱 바람직하다. The content of the inorganic filler is 55 to 90% by mass when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass, from the viewpoint of lowering the coefficient of linear thermal expansion and preventing cracking of the multilayer printed wiring board. From the point of preventing the cured product of the resin composition from becoming brittle or from preventing a decrease in peel strength, 85 mass% or less is more preferable, 80 mass% or less is still more preferable, and 75 mass% or less is even more preferable. On the other hand, from the viewpoint of further reducing the coefficient of linear thermal expansion of the cured product of the resin composition, 60 mass% or more is more preferable, and 65 mass% or more is still more preferable.

무기 충전재의 표면 처리에 사용되는 아미노알킬실란은, 특별히 한정되지 않고, 아미노알킬기와 알콕시실릴기를 포함하는 아미노알킬실란이면 되고, 보다 구체적으로는 아미노알킬알콕시실란이 바람직하다. 아미노알킬기는, 수지와의 상용성이 향상된다고 하는 점에서 우수하고, 또한 수지 조성물을 시트 형태로 했을 때의 라미네이트성 향상에 기여한다고 하는 점에서 우수하며, 본 발명에서의 저조도에 기여한다. 아미노알킬기로서는, 아미노메틸기, 아미노에틸기, 아미노프로필기, 아미노이소프로필기 및 아미노시클로프로필기에서 선택되는 1종 이상이 바람직하고, 아미노프로필기가 보다 바람직하다. The aminoalkylsilane used for the surface treatment of the inorganic filler is not particularly limited, and may be an aminoalkylsilane containing an aminoalkyl group and an alkoxysilyl group, and more specifically, an aminoalkylalkoxysilane is preferable. The aminoalkyl group is excellent in that the compatibility with the resin is improved, and it is excellent in that it contributes to the improvement of the lamination property when the resin composition is formed into a sheet, and contributes to the low illuminance in the present invention. As the aminoalkyl group, at least one selected from an aminomethyl group, an aminoethyl group, an aminopropyl group, an aminoisopropyl group and an aminocyclopropyl group is preferable, and an aminopropyl group is more preferable.

한편, 알콕시실릴기는 본 발명에서의 필 강도 향상에 기여한다. 알콕시실릴기로서는, 하나의 알콕시실릴기당, 2개∼3개의 알콕시기를 갖는 것이 바람직하고, 알콕시기로는 메톡시기, 에톡시기가 바람직하다. 또한, 알콕시실릴기는 수식되어 있어도 좋다. On the other hand, the alkoxysilyl group contributes to the improvement of the peel strength in the present invention. As the alkoxysilyl group, it is preferable to have two to three alkoxy groups per one alkoxysilyl group, and as the alkoxy group, a methoxy group and an ethoxy group are preferable. Further, the alkoxysilyl group may be modified.

따라서, 무기 충전재를 아미노알킬실란으로 표면 처리함으로써, 수지 조성물에 무기 충전재를 55∼90 질량%나 배합한 경우라 하더라도, 저조도이면서 필 강도를 향상시키는 것이 우수한 것이 된다. Therefore, by surface-treating the inorganic filler with aminoalkylsilane, even when 55 to 90% by mass of the inorganic filler is blended into the resin composition, it is excellent to improve the peel strength while having low roughness.

구체적인 아미노알킬실란으로서는, 3-아미노프로필실란이 바람직하고, 3-아미노프로필트리메톡시실란 및 3-아미노프로필트리에톡시실란에서 선택되는 1종 이상을 이용하는 것이 보다 바람직하다. As a specific aminoalkylsilane, 3-aminopropylsilane is preferable, and it is more preferable to use one or more types selected from 3-aminopropyltrimethoxysilane and 3-aminopropyltriethoxysilane.

아미노알킬실란의 분자량은, 표면 처리시나 건조시의 휘발 억지라는 점에서, 100 이상이 바람직하고, 150 이상이 보다 바람직하고, 200 이상이 더욱 바람직하다. 한편, 적절한 반응성이라는 점에서, 2000 이하가 바람직하고, 1500 이하가 보다 바람직하고, 1000 이하가 더욱 바람직하고, 500 이하가 특히 바람직하다. 시판품으로서는, 신에츠화학공업(주) 제조 「KBM903」(3-아미노프로필트리메톡시실란, 분자량 179), 신에츠화학공업(주) 제조 「KBE903」(3-아미노프로필트리에톡시실란, 분자량 221) 등을 들 수 있다. The molecular weight of the aminoalkylsilane is preferably 100 or more, more preferably 150 or more, and still more preferably 200 or more, from the viewpoint of inhibiting volatilization during surface treatment or drying. On the other hand, from the viewpoint of appropriate reactivity, 2000 or less is preferable, 1500 or less is more preferable, 1000 or less is still more preferable, and 500 or less is particularly preferable. As a commercial item, Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBM903" (3-aminopropyltrimethoxysilane, molecular weight 179), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBE903" (3-aminopropyltriethoxysilane, molecular weight 221) And the like.

무기 충전재를 아미노알킬실란으로 표면 처리할 때의 상기 아미노알킬실란의 양은, 특별히 한정되지 않지만, 무기 충전재 100 질량부에 대하여, 아미노알킬실란을 0.05∼5 질량부로 표면 처리하는 것이 바람직하고, 0.1∼4 질량부로 표면 처리하는 것이 보다 바람직하고, 0.2∼3 질량부로 표면 처리하는 것이 더욱 바람직하고, 0.3∼2 질량부로 표면 처리하는 것이 한층 더 바람직하다. The amount of the aminoalkylsilane when the inorganic filler is surface-treated with aminoalkylsilane is not particularly limited, but it is preferable to surface-treat the aminoalkylsilane in 0.05 to 5 parts by mass per 100 parts by mass of the inorganic filler, and 0.1 to It is more preferable to surface-treat with 4 mass parts, it is still more preferable to surface-treat with 0.2-3 mass parts, and it is still more preferable to surface-treat with 0.3-2 mass parts.

또, 아미노알킬실란으로 표면 처리된 무기 충전재에서는, 상기 무기 충전재의 표면 조성을 분석함으로써, 탄소원자의 존재를 확인하여, 상기 무기 충전재의 단위 표면적당 카본량을 구할 수 있다. 구체적으로서는, 용제로서 충분한 양의 MEK를 아미노알킬실란으로 표면 처리된 무기 충전재에 첨가하고, 25℃에서 5분간 초음파 세정한다. 상청액을 제거하고, 고형분을 건조시킨 후, 카본 분석계를 이용하여 상기 무기 충전재의 단위 표면적당 카본량을 측정할 수 있다. 카본 분석계로서는, 호리바제작소 제조 「EMIA-320V」 등을 사용할 수 있다. In addition, in the inorganic filler surface-treated with aminoalkylsilane, the presence of carbon atoms can be confirmed by analyzing the surface composition of the inorganic filler, and the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be obtained. Specifically, a sufficient amount of MEK as a solvent is added to the inorganic filler surface-treated with aminoalkylsilane, followed by ultrasonic cleaning at 25°C for 5 minutes. After removing the supernatant and drying the solid, the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured using a carbon analyzer. As the carbon analyzer, "EMIA-320V" manufactured by Horiba Manufacturing Co., Ltd. can be used.

무기 충전재의 단위 표면적당 카본량은, 무기 충전재의 분산성 향상이나 경화물의 습식 조화 공정후의 산술 평균 거칠기, 제곱 평균 평방근 거칠기를 안정시킨다고 하는 점에서, 0.05 ㎎/㎡ 이상이 바람직하고, 0.1 ㎎/㎡ 이상이 보다 바람직하고, 0.15 ㎎/㎡ 이상이 더욱 바람직하고, 0.2 ㎎/㎡ 이상이 한층 더 바람직하다. 한편, 수지 와니스의 용융 점도나 접착 필름 형태에서의 용융 점도의 상승을 방지한다고 하는 점에서, 무기 충전재의 단위 표면적당 카본량은, 1 ㎎/㎡ 이하가 바람직하고, 0.75 ㎎/㎡ 이하가 보다 바람직하고, 0.5 ㎎/㎡ 이하가 더욱 바람직하다. The amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler is preferably 0.05 mg/m2 or more, preferably 0.1 mg/m2, from the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler and stabilizing the arithmetic mean roughness and root-average square roughness after the wet roughening process of the cured product. M2 or more is more preferable, 0.15 mg/m2 or more is still more preferable, and 0.2 mg/m2 or more is still more preferable. On the other hand, from the viewpoint of preventing an increase in the melt viscosity of the resin varnish or the melt viscosity in the form of an adhesive film, the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler is preferably 1 mg/m 2 or less, more preferably 0.75 mg/m 2 or less. It is preferable, and 0.5 mg/m 2 or less is more preferable.

아미노알킬실란으로 표면 처리된 무기 충전재는, 무기 충전재를 아미노알킬실란에 의해 표면 처리한 후, 수지 조성물에 첨가하는 것이 바람직하다. 이 경우에는, 무기 충전재의 분산성을 한층 더 높일 수 있다. The inorganic filler surface-treated with aminoalkylsilane is preferably added to the resin composition after the inorganic filler is surface-treated with aminoalkylsilane. In this case, the dispersibility of the inorganic filler can be further improved.

무기 충전재를 아미노알킬실란으로 표면 처리할 때의 표면 처리 방법은, 특별히 한정되지 않지만, 건식법이나 습식법을 들 수 있다. 건식법으로서는, 회전 믹서에 무기 충전재를 넣고, 교반하면서 아미노알킬실란의 알콜 용액 또는 수용액을 적하 또는 분무한 후 더 교반하고, 체에 의해 분급한다. 그 후, 가열하여 아미노알킬실란과 무기 충전재를 탈수 축합시킴으로써 표면 처리된 무기 충전재를 얻을 수 있다. 습식법으로서는, 무기 충전재와 유기 용매의 슬러리를 교반하면서 아미노알킬실란을 첨가하고, 교반한 후, 여과, 건조 및 체에 의한 분급을 행한다. 그 후, 가열에 의해 아미노알킬실란과 무기 충전재를 탈수 축합시킴으로써 얻을 수 있다. 또한, 수지 조성물 중에 아미노알킬실란을 첨가하는 인테그랄 블렌드법으로도 표면 처리를 행하는 것이 가능하다. The surface treatment method in the case of surface treatment of the inorganic filler with aminoalkylsilane is not particularly limited, and a dry method or a wet method may be mentioned. In the dry method, an inorganic filler is placed in a rotary mixer, and an alcohol solution or aqueous solution of an aminoalkylsilane is added dropwise or sprayed while stirring, followed by further stirring and classifying by a sieve. Thereafter, the surface-treated inorganic filler can be obtained by dehydrating and condensing the aminoalkylsilane and the inorganic filler by heating. As a wet method, an aminoalkylsilane is added while stirring the slurry of an inorganic filler and an organic solvent, and after stirring, filtration, drying and classification by sieve are performed. After that, it can be obtained by dehydrating and condensing an aminoalkylsilane and an inorganic filler by heating. In addition, it is possible to perform surface treatment by an integral blending method in which an aminoalkylsilane is added to the resin composition.

<경화 촉진제> <hardening accelerator>

본 발명의 수지 조성물에는, 경화 촉진제를 더 함유시킴으로써, 에폭시 수지와 경화제를 효율적으로 경화시킬 수 있다. 경화 촉진제로서는, 특별히 한정되지 않지만, 아민계 경화 촉진제, 구아니딘계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 포스포늄계 경화 촉진제, 금속계 경화 촉진제 등을 들 수 있다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다. By further containing a curing accelerator in the resin composition of the present invention, the epoxy resin and the curing agent can be efficiently cured. Although it does not specifically limit as a hardening accelerator, An amine-type hardening accelerator, a guanidine-type hardening accelerator, an imidazole-type hardening accelerator, a phosphonium-type hardening accelerator, a metal type hardening accelerator, etc. are mentioned. These may be used singly or in combination of two or more.

아민계 경화 촉진제로서는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 트리에틸아민, 트리부틸아민 등의 트리알킬아민, 4-디메틸아미노피리딘, 벤질디메틸아민, 2,4,6,-트리스(디메틸아미노메틸)페놀, 1,8-디아자비시클로(5,4,0)-운데센(이하, DBU로 약기함) 등의 아민 화합물 등을 들 수 있다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다. The amine-based curing accelerator is not particularly limited, but trialkylamine such as triethylamine and tributylamine, 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6,-tris(dimethylaminomethyl)phenol, And amine compounds such as 1,8-diazabicyclo(5,4,0)-undecene (hereinafter abbreviated as DBU), and the like. These may be used singly or in combination of two or more.

구아니딘계 경화 촉진제로서는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 디시안디아미드, 1-메틸구아니딘, 1-에틸구아니딘, 1-시클로헥실구아니딘, 1-페닐구아니딘, 1-(o-톨릴)구아니딘, 디메틸구아니딘, 디페닐구아니딘, 트리메틸구아니딘, 테트라메틸구아니딘, 펜타메틸구아니딘, 1,5,7-트리아자비시클로[4.4.0]데카-5-엔, 7-메틸-1,5,7-트리아자비시클로[4.4.0]데카-5-엔, 1-메틸비구아니드, 1-에틸비구아니드, 1-n-부틸비구아니드, 1-n-옥타데실비구아니드, 1,1-디메틸비구아니드, 1,1-디에틸비구아니드, 1-시클로헥실비구아니드, 1-알릴비구아니드, 1-페닐비구아니드, 1-(o-톨릴)비구아니드 등을 들 수 있다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다. Although it does not specifically limit as a guanidine-type hardening accelerator, Dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, 1-(o-tolyl)guanidine, dimethylguanidine, di Phenylguanidine, trimethylguanidine, tetramethylguanidine, pentamethylguanidine, 1,5,7-triazabicyclo[4.4.0]deca-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo[4.4. 0]deca-5-ene, 1-methyl biguanide, 1-ethyl biguanide, 1-n-butyl biguanide, 1-n-octadecyl biguanide, 1,1-dimethyl biguanide, 1,1-diethyl biguanide, 1-cyclohexyl biguanide, 1-allyl biguanide, 1-phenyl biguanide, 1-(o-tolyl) biguanide, etc. are mentioned. These may be used singly or in combination of two or more.

이미다졸계 경화 촉진제로서는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 2-메틸이미다졸, 2-운데실이미다졸, 2-헵타데실이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 2-페닐이미다졸, 2-페닐-4-메틸이미다졸, 1-벤질-2-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸, 1-시아노에틸-2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸륨트리멜리테이트, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸륨트리멜리테이트, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-운데실이미다졸릴(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-에틸-4'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진이소시아누르산 부가물, 2-페닐이미다졸이소시아누르산 부가물, 2-페닐-4,5-디히드록시메틸이미다졸, 2-페닐-4-메틸-5 히드록시메틸이미다졸, 2,3-디히드로-1H-피롤로[1,2-a]벤즈이미다졸, 1-도데실-2-메틸-3-벤질이미다졸륨클로라이드, 2-메틸이미다졸린, 2-페닐이미다졸린 등의 이미다졸 화합물 및 이미다졸 화합물과 에폭시 수지의 어덕트체(부가체)를 들 수 있다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다. Although it does not specifically limit as an imidazole-type hardening accelerator, 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4 -Methylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2- Methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2 -Ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenyli Midazolium trimellitate, 2,4-diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2'- Undecylimidazolyl (1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2'-ethyl-4'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s -Triazine, 2,4-diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine isocyanuric acid adduct, 2-phenylimidazole isocyanuric acid Adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5 hydroxymethylimidazole, 2,3-dihydro-1H-pyrrolo[1,2 -a] imidazole compounds such as benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl-3-benzylimidazolium chloride, 2-methylimidazoline, and 2-phenylimidazoline, and imidazole compounds and epoxy resin An adduct body (additional body) is mentioned. These may be used singly or in combination of two or more.

포스포늄계 경화 촉진제로서는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 트리페닐포스핀, 포스포늄보레이트 화합물, 테트라페닐포스포늄테트라페닐보레이트, n-부틸포스포늄테트라페닐보레이트, 테트라부틸포스포늄데칸산염, (4-메틸페닐)트리페닐포스포늄티오시아네이트, 테트라페닐포스포늄티오시아네이트, 부틸트리페닐포스포늄티오시아네이트 등을 들 수 있다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다. The phosphonium-based curing accelerator is not particularly limited, but triphenylphosphine, phosphonium borate compound, tetraphenylphosphonium tetraphenyl borate, n-butylphosphonium tetraphenylborate, tetrabutylphosphonium decanoate, (4- Methylphenyl) triphenylphosphonium thiocyanate, tetraphenylphosphonium thiocyanate, butyl triphenylphosphonium thiocyanate, and the like. These may be used singly or in combination of two or more.

본 발명의 수지 조성물에 경화 촉진제(금속계 경화 촉진제를 제외함)를 배합하는 경우에는, 에폭시 수지와 경화제의 합계를 100 질량부로 한 경우, 0.005∼1 질량부의 범위가 바람직하고, 0.01∼0.5 질량부의 범위가 보다 바람직하다. 경화 촉진제(금속계 경화 촉진제를 제외함)의 첨가량이 이 범위내에 있으면, 열경화를 보다 효율적으로 할 수 있고, 수지 와니스의 보존 안정성도 향상된다. In the case of blending a curing accelerator (excluding a metal curing accelerator) into the resin composition of the present invention, when the total of the epoxy resin and the curing agent is 100 parts by mass, the range is preferably 0.005 to 1 parts by mass, and 0.01 to 0.5 parts by mass. The range is more preferred. When the addition amount of the curing accelerator (excluding the metal curing accelerator) is within this range, thermal curing can be performed more efficiently, and the storage stability of the resin varnish is also improved.

금속계 경화 촉진제로서는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 코발트, 구리, 아연, 철, 니켈, 망간, 주석 등의 금속의, 유기 금속 착체 또는 유기 금속염을 들 수 있다. 유기 금속 착체의 구체예로서는, 코발트(II)아세틸아세토네이트, 코발트(III)아세틸아세토네이트 등의 유기 코발트 착체, 구리(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 구리 착체, 아연(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 아연 착체, 철(III)아세틸아세토네이트 등의 유기 철 착체, 니켈(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 니켈 착체, 망간(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 망간 착체 등을 들 수 있다. 유기 금속염으로서는, 옥틸산아연, 옥틸산주석, 나프텐산아연, 나프텐산코발트, 스테아르산주석, 스테아르산아연 등을 들 수 있다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다. Although it does not specifically limit as a metal-type hardening accelerator, An organometallic complex or organometallic salt of metals, such as cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese, and tin, is mentioned. Specific examples of the organometallic complex include organic cobalt complexes such as cobalt (II) acetylacetonate and cobalt (III) acetylacetonate, organic copper complexes such as copper (II) acetylacetonate, and zinc (II) acetylacetonate. Organic zinc complexes, organic iron complexes such as iron (III) acetylacetonate, organic nickel complexes such as nickel (II) acetylacetonate, and organic manganese complexes such as manganese (II) acetylacetonate. Examples of the organometallic salt include zinc octylate, tin octylate, zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin stearate, zinc stearate, and the like. These may be used singly or in combination of two or more.

본 발명의 수지 조성물에 금속계 경화 촉진제를 배합하는 경우에는, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, 금속계 경화 촉매에 기초하는 금속의 함유량이 25∼500 ppm의 범위가 바람직하고, 40∼200 ppm의 범위가 보다 바람직하다. 금속계 경화 촉진제의 첨가량이 이 범위내에 있으면, 절연층 표면에 대한 밀착성에 의해 우수한 도체층이 형성되고, 수지 와니스의 보존 안정성도 향상된다. In the case of blending a metal-based curing accelerator in the resin composition of the present invention, when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass, the content of the metal based on the metal-based curing catalyst is preferably in the range of 25 to 500 ppm, and 40 The range of -200 ppm is more preferable. When the amount of the metal-based curing accelerator added is within this range, an excellent conductor layer is formed due to adhesion to the surface of the insulating layer, and the storage stability of the resin varnish is also improved.

<열가소성 수지> <Thermoplastic resin>

본 발명의 수지 조성물에는, 열가소성 수지를 더 함유시킴으로써, 경화물의 기계 강도를 향상시킬 수 있고, 또한 접착 필름의 형태로 사용하는 경우의 필름 성형능을 향상시킬 수도 있다. 열가소성 수지로서는, 페녹시 수지, 폴리비닐아세탈 수지, 폴리이미드 수지, 폴리아미드이미드 수지, 폴리에테르이미드 수지, 폴리술폰 수지, 폴리에테르술폰 수지, 폴리페닐렌에테르 수지, 폴리카보네이트 수지, 폴리에테르에테르케톤 수지, 폴리에스테르 수지를 들 수 있고, 특히 페녹시 수지, 폴리비닐아세탈 수지가 바람직하다. 이들 열가소성 수지는 각각 단독으로 이용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다. 열가소성 수지의 중량 평균 분자량은 8000∼200000의 범위인 것이 바람직하고, 12000∼100000의 범위가 보다 바람직하다. 또한 본 발명에서의 중량 평균 분자량은, 겔퍼미에이션 크로마토그래피(GPC)법(폴리스티렌 환산)으로 측정된다. GPC법에 의한 중량 평균 분자량은, 구체적으로서는, 측정 장치로서 (주)시마즈제작소 제조 LC-9A/RID-6A를, 컬럼으로서 쇼와덴꼬(주)사 제조 Shodex K-800P/K-804L/K-804L을, 이동상으로서 클로로포름 등을 이용하여, 컬럼 온도 40℃에서 측정하고, 표준 폴리스티렌의 검량선을 이용하여 산출할 수 있다. By further containing a thermoplastic resin in the resin composition of the present invention, the mechanical strength of the cured product can be improved, and the film forming ability when used in the form of an adhesive film can also be improved. As thermoplastic resins, phenoxy resins, polyvinyl acetal resins, polyimide resins, polyamideimide resins, polyetherimide resins, polysulfone resins, polyethersulfone resins, polyphenylene ether resins, polycarbonate resins, polyether ether ketones Resins and polyester resins are mentioned, and phenoxy resins and polyvinyl acetal resins are particularly preferred. These thermoplastic resins may be used individually or in combination of two or more. The weight average molecular weight of the thermoplastic resin is preferably in the range of 8000 to 200000, more preferably in the range of 12000 to 100000. In addition, the weight average molecular weight in this invention is measured by gel permeation chromatography (GPC) method (polystyrene conversion). Specifically, the weight average molecular weight by the GPC method is LC-9A/RID-6A manufactured by Shimadzu Corporation as a measuring device, and Shodex K-800P/K-804L/K manufactured by Showa Denko Corporation as a column. -804L can be measured at a column temperature of 40°C using chloroform or the like as a mobile phase, and calculated using a calibration curve of standard polystyrene.

본 발명의 수지 조성물에 열가소성 수지를 배합하는 경우에는, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, 0.1∼10 질량%가 바람직하고, 0.5∼5 질량%가 보다 바람직하다. 수지 조성물 중의 열가소성 수지의 함유량이 이 범위내에 있으면, 필름 성형능이나 기계 강도 향상의 효과가 발휘되고, 또한 용융 점도의 상승이나 습식 조화 공정후의 절연층 표면의 조도를 저하시킬 수 있다. When blending a thermoplastic resin to the resin composition of the present invention, when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass, 0.1 to 10% by mass is preferable, and 0.5 to 5% by mass is more preferable. When the content of the thermoplastic resin in the resin composition is within this range, the effect of improving the film formability and mechanical strength can be exhibited, and the melt viscosity can be increased and the roughness of the surface of the insulating layer after the wet roughening process can be reduced.

<고무 입자> <Rubber particle>

본 발명의 수지 조성물에는, 고무 입자를 더 함유시킴으로써, 필 강도를 향상시킬 수 있고, 수지 조성물의 경화물의 드릴 가공성의 향상, 유전 정접의 저하, 응력 완화 효과를 얻을 수도 있다. 본 발명에서 사용될 수 있는 고무 입자는, 예컨대, 상기 수지 조성물의 와니스를 조제할 때 사용하는 유기 용제에도 용해되지 않고, 에폭시 수지 등과도 상용되지 않는 것이다. 따라서, 상기 고무 입자는, 본 발명의 수지 조성물의 와니스 중에서는 분산 상태로 존재한다. 이러한 고무 입자는, 일반적으로서는, 고무 성분의 분자량을 유기 용제나 수지에 용해되지 않는 레벨까지 크게 하고, 입자형으로 함으로써 조제된다. By further containing rubber particles in the resin composition of the present invention, the peel strength can be improved, and the drill workability of the cured product of the resin composition can be improved, the dielectric loss tangent can be reduced, and the stress relaxation effect can also be obtained. The rubber particles that can be used in the present invention are, for example, those that are not soluble in an organic solvent used when preparing the varnish of the resin composition, and are not compatible with an epoxy resin or the like. Accordingly, the rubber particles are present in a dispersed state in the varnish of the resin composition of the present invention. In general, such rubber particles are prepared by increasing the molecular weight of the rubber component to a level in which it is not dissolved in an organic solvent or resin, and making it a particle shape.

고무 입자의 바람직한 예로서는, 코어셸형 고무 입자, 가교 아크릴로니트릴부타디엔 고무 입자, 가교 스티렌부타디엔 고무 입자, 아크릴고무 입자 등을 들 수 있다. 코어셸형 고무 입자로서는, 코어층과 셸층을 갖는 고무 입자이며, 예컨대, 외층의 셸층이 유리상 폴리머로 구성되고, 내층의 코어층이 고무상 폴리머로 구성되는 2층 구조, 또는 외층의 셸층이 유리상 폴리머로 구성되고, 중간층이 고무상 폴리머로 구성되고, 코어층이 유리상 폴리머로 구성되는 3층 구조인 것 등을 들 수 있다. 유리상 폴리머층은, 예컨대, 메타크릴산메틸의 중합물 등으로 구성되고, 고무상 폴리머층은, 예컨대, 부틸아크릴레이트 중합물(부틸고무) 등으로 구성된다. 고무 입자는 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다. 코어셸형 고무 입자의 구체예로서는, 스타필로이드 AC3832, AC3816N, AC3401N, IM-401개(改) 7-17(상품명, 간쯔화성(주) 제조), 메타브렌 KW-4426(상품명, 미쯔비시레이온(주) 제조)을 들 수 있다. 가교 아크릴로니트릴부타디엔 고무(NBR) 입자의 구체예로서는, XER-91(평균 입경 0.5 ㎛, JSR(주) 제조) 등을 들 수 있다. 가교 스티렌부타디엔 고무(SBR) 입자의 구체예로서는, XSK-500(평균 입경 0.5 ㎛, JSR(주) 제조) 등을 들 수 있다. 아크릴 고무 입자의 구체예로서는, 메타브렌 W300A(평균 입경 0.1 ㎛), W450A(평균 입경 0.2 ㎛)(미쯔비시레이온(주) 제조)를 들 수 있다. Preferable examples of the rubber particles include core-shell rubber particles, cross-linked acrylonitrile butadiene rubber particles, cross-linked styrene butadiene rubber particles, and acrylic rubber particles. The core-shell rubber particles are rubber particles having a core layer and a shell layer.For example, a two-layer structure in which the shell layer of the outer layer is composed of a glassy polymer, and the core layer of the inner layer is composed of a rubbery polymer, or the shell layer of the outer layer is glassy polymer. And a three-layer structure in which the intermediate layer is composed of a rubber-like polymer and the core layer is composed of a glass-like polymer. The glassy polymer layer is composed of, for example, a polymer of methyl methacrylate, and the rubbery polymer layer is composed of, for example, a butyl acrylate polymer (butyl rubber) or the like. The rubber particles may be used in combination of two or more. Specific examples of the core-shell rubber particles include Starphylloid AC3832, AC3816N, AC3401N, IM-401 7-17 (trade name, manufactured by Kantsu Chemical Co., Ltd.), Metabreen KW-4426 (trade name, Mitsubishi Rayon Co., Ltd. ) Manufacturing). As a specific example of the crosslinked acrylonitrile butadiene rubber (NBR) particle, XER-91 (average particle diameter 0.5 µm, manufactured by JSR Corporation), etc. are mentioned. As a specific example of the crosslinked styrene butadiene rubber (SBR) particle, XSK-500 (average particle diameter 0.5 µm, manufactured by JSR Corporation), etc. are mentioned. As a specific example of the acrylic rubber particle, metabrene W300A (average particle diameter 0.1 µm) and W450A (average particle diameter 0.2 µm) (manufactured by Mitsubishi Rayon Co., Ltd.) can be mentioned.

고무 입자의 평균 입경은, 바람직하게는 0.005∼1 ㎛의 범위이고, 보다 바람직하게는 0.2∼0.6 ㎛의 범위이다. 본 발명에서 사용되는 고무 입자의 평균 입경은, 동적 광산란법을 이용하여 측정할 수 있다. 예컨대, 적당한 유기 용제에 고무 입자를 초음파 등에 의해 균일하게 분산시키고, 농후계 입경 애널라이저(FPAR-1000; 오오츠카전자(주) 제조)를 이용하여, 고무 입자의 입도 분포를 질량 기준으로 작성하고, 그 메디안 직경을 평균 입경으로 함으로써 측정할 수 있다. The average particle diameter of the rubber particles is preferably in the range of 0.005 to 1 µm, more preferably in the range of 0.2 to 0.6 µm. The average particle diameter of the rubber particles used in the present invention can be measured using a dynamic light scattering method. For example, rubber particles are uniformly dispersed in a suitable organic solvent by ultrasonic or the like, and the particle size distribution of the rubber particles is prepared on a mass basis using a thick particle size analyzer (FPAR-1000; manufactured by Otsuka Electronics Co., Ltd.). It can be measured by making the median diameter an average particle diameter.

본 발명의 수지 조성물에 고무 입자를 배합하는 경우에는, 고무 입자의 함유량은, 수지 조성물 중의 불휘발 성분 100 질량%에 대하여, 바람직하게는 0.05∼10 질량%이고, 보다 바람직하게는 0.5∼5 질량%이다. In the case of blending rubber particles in the resin composition of the present invention, the content of the rubber particles is preferably 0.05 to 10% by mass, more preferably 0.5 to 5% by mass, based on 100% by mass of the nonvolatile component in the resin composition. %to be.

<난연제> <Flame retardant>

본 발명의 수지 조성물에는, 난연제를 더 함유시킴으로써, 난연성을 부여할 수 있다. 난연제로서는, 예컨대, 유기 인계 난연제, 유기계 질소 함유 인화합물, 질소 화합물, 실리콘계 난연제, 금속 수산화물 등을 들 수 있다. 유기 인계 난연제로서는, 산코(주) 제조의 HCA, HCA-HQ, HCA-NQ 등의 페난트렌형 인화합물, 쇼와고분자(주) 제조의 HFB-2006M 등의 인함유 벤조옥사진 화합물, 아지노모토파인테크노(주) 제조의 레오포스 30, 50, 65, 90, 110, TPP, RPD, BAPP, CPD, TCP, TXP, TBP, TOP, KP140, TIBP, 호코화학공업(주) 제조의 TPPO, PPQ, 클라리언트(주) 제조의 OP930, 오오하치화학(주) 제조의 PX200 등의 인산에스테르 화합물, 신니테츠화학(주) 제조의 FX289, FX305, TX0712 등의 인함유 에폭시 수지, 신니테츠화학(주) 제조의 ERF001 등의 인함유 페녹시 수지, 미쯔비시화학(주) 제조의 YL7613 등의 인함유 에폭시 수지 등을 들 수 있다. 유기계 질소 함유 인화합물로서는, 시코쿠화성공업(주) 제조의 SP670, SP703 등의 인산에스테르아미드 화합물, 오오츠카화학(주)사 제조의 SPB100, SPE100, (주)후시미제약소 제조 FP-series 등의 포스파젠 화합물 등을 들 수 있다. 금속 수산화물로서는, 우베마테리알즈(주) 제조의 UD65, UD650, UD653 등의 수산화마그네슘, 도모에공업(주)사 제조의 B-30, B-325, B-315, B-308, B-303, UFH-20 등의 수산화알루미늄 등을 들 수 있다. Flame retardance can be imparted to the resin composition of the present invention by further containing a flame retardant. Examples of the flame retardant include an organic phosphorus flame retardant, an organic nitrogen-containing phosphorus compound, a nitrogen compound, a silicon flame retardant, and a metal hydroxide. As organic phosphorus-based flame retardants, phenanthrene-type phosphorus compounds such as HCA, HCA-HQ, and HCA-NQ manufactured by Sanko Corporation, phosphorus-containing benzoxazine compounds such as HFB-2006M manufactured by Showa Polymer Co., Ltd., and ajinomotopine Reoforce 30, 50, 65, 90, 110, TPP, RPD, BAPP, CPD, TCP, TXP, TBP, TOP, KP140, TIBP, manufactured by Techno Co., Ltd., TPPO, PPQ, manufactured by Hoko Chemical Industries, Ltd. Phosphoric acid ester compounds such as OP930 manufactured by Clariant Co., Ltd., PX200 manufactured by Ohachi Chemical Co., Ltd., phosphorus-containing epoxy resin such as FX289, FX305, TX0712 manufactured by Shin Nitetsu Chemical Co., Ltd., manufactured by Shin Nitetsu Chemical Co., Ltd. Phosphorus-containing phenoxy resins such as ERF001 and phosphorus-containing epoxy resins such as YL7613 manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation. Examples of organic nitrogen-containing phosphorus compounds include phosphate esteramide compounds such as SP670 and SP703 manufactured by Shikoku Chemical Industries, Ltd., SPB100 and SPE100 manufactured by Otsuka Chemicals, and FP-series manufactured by Fushimi Pharmaceutical Co., Ltd. Phagen compounds, etc. are mentioned. Examples of metal hydroxides include magnesium hydroxide such as UD65, UD650, UD653 manufactured by Ube Mathereals Co., Ltd., B-30, B-325, B-315, B-308, B-303 manufactured by Tomoe Industrial Co., Ltd. And aluminum hydroxide such as UFH-20.

본 발명의 수지 조성물에 난연제를 배합하는 경우에는, 수지 조성물 중의 불휘발 성분 100 질량%에 대하여, 바람직하게는 0.5∼10 질량%이고, 보다 바람직하게는 1∼5 질량%이다. When a flame retardant is blended into the resin composition of the present invention, it is preferably 0.5 to 10% by mass, more preferably 1 to 5% by mass, based on 100% by mass of the nonvolatile component in the resin composition.

<다른 성분> <other ingredients>

본 발명의 수지 조성물에는, 본 발명의 효과를 저해하지 않는 범위에서, 필요에 따라서 다른 성분을 배합할 수 있다. 다른 성분으로서는, 비닐벤질 화합물, 아크릴 화합물, 말레이미드 화합물, 블록 이소시아네이트 화합물과 같은 열경화성 수지, 실리콘 파우더, 나일론 파우더, 불소 파우더 등의 유기 충전제, 오르벤, 벤톤 등의 증점제, 실리콘계, 불소계, 고분자계의 소포제 또는 레벨링제, 이미다졸계, 티아졸계, 트리아졸계, 실란 커플링제 등의 밀착성 부여제, 프탈로시아닌ㆍ블루, 프탈로시아닌ㆍ그린, 아이오딘ㆍ그린, 디스아조옐로우, 카본블랙 등의 착색제, 실란 커플링제, 티타네이트계 커플링제, 실라잔 화합물 등의 표면 처리제 등을 들 수 있다. 또한, 이 표면 처리제를 이용하는 경우에는, 아미노알킬실란은 상기 표면 처리제를 통해 무기 충전재의 표면에 공유 결합하고 있어도 좋다. In the resin composition of the present invention, other components can be blended as necessary within a range that does not impair the effects of the present invention. Other components include vinylbenzyl compounds, acrylic compounds, maleimide compounds, thermosetting resins such as block isocyanate compounds, organic fillers such as silicone powder, nylon powder, and fluorine powder, thickeners such as orbene and bentone, silicone-based, fluorine-based, and polymer-based Antifoaming agent or leveling agent, imidazole-based, thiazole-based, triazole-based, silane coupling agent, and other adhesion imparting agents, phthalocyanine-blue, phthalocyanine-green, iodine-green, disazo yellow, carbon black, and other coloring agents, silane couple And surface treatment agents such as ring agents, titanate coupling agents, and silazane compounds. In addition, when this surface treatment agent is used, the aminoalkylsilane may be covalently bonded to the surface of the inorganic filler through the surface treatment agent.

본 발명의 수지 조성물은, 상기 성분을 적절하게 혼합하고, 또, 필요에 따라서 3본롤, 볼밀, 비드밀, 샌드밀 등의 혼련 수단, 혹은 수퍼믹서, 플라네터리 믹서 등의 교반 수단에 의해 혼련 또는 혼합함으로써 조제할 수 있다. 또, 유기 용제를 더 첨가함으로써 수지 와니스로서도 조제할 수 있다. In the resin composition of the present invention, the above components are appropriately mixed, and, if necessary, kneaded by a kneading means such as three rolls, a ball mill, a bead mill, or a sand mill, or a stirring means such as a super mixer or a planetary mixer. Or it can be prepared by mixing. Moreover, it can also be prepared as a resin varnish by adding an organic solvent further.

본 발명의 수지 조성물에서는, 습식 조화 공정에서 절연층 표면의 산술 평균 거칠기가 낮을 뿐만 아니라, 절연층 표면의 제곱 평균 평방근 거칠기도 작고, 절연층 상에 충분한 필 강도를 갖는 도금 도체층을 형성할 수 있고, 선열팽창 계수도 낮게 할 수 있기 때문에, 본 발명의 수지 조성물은, 다층 프린트 배선판의 제조에서, 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물(다층 프린트 배선판의 절연층용 수지 조성물)로서 바람직하게 사용할 수 있고, 도금에 의해 도체층을 형성하기 위한 수지 조성물(도금에 의해 도체층을 형성하는 다층 프린트 배선판의 절연층용 수지 조성물)로서 보다 바람직하게 사용할 수 있고, 또한 다층 프린트 배선판의 빌드업층용 수지 조성물로서 바람직하다. In the resin composition of the present invention, not only the arithmetic mean roughness of the surface of the insulating layer is low in the wet roughening process, the surface of the insulating layer has a small root-average square roughness, and a plated conductor layer having sufficient peel strength can be formed on the insulating layer. In addition, since the coefficient of linear thermal expansion can also be lowered, the resin composition of the present invention can be preferably used as a resin composition for forming an insulating layer (a resin composition for an insulating layer of a multilayer printed wiring board) in the manufacture of a multilayer printed wiring board. , It can be more preferably used as a resin composition for forming a conductor layer by plating (a resin composition for an insulating layer of a multilayer printed wiring board forming a conductor layer by plating), and as a resin composition for a build-up layer of a multilayer printed wiring board Do.

본 발명의 수지 조성물을 경화하여 절연층을 형성하고, 그 절연층 표면을 조화 처리한 후의 절연층 표면의 산술 평균 거칠기(Ra값), 제곱 평균 평방근 거칠기(Rq값)는, 후술하는 〔조화 후의 산술 평균 거칠기(Ra값), 제곱 평균 평방근 거칠기(Rq값)의 측정〕에 기재된 측정 방법에 의해 파악할 수 있다. After curing the resin composition of the present invention to form an insulating layer, and roughening the surface of the insulating layer, the arithmetic mean roughness (Ra value) and the root mean square roughness (Rq value) of the surface of the insulating layer, which will be described later, are described below. It can be grasped by the measurement method described in [Measurement of arithmetic mean roughness (Ra value) and root mean square roughness (Rq value)].

산술 평균 거칠기(Ra값)의 상한치는, 미세 배선 형성의 관점에서, 300 nm 이하가 바람직하고, 250 nm 이하가 보다 바람직하고, 230 nm 이하가 더욱 바람직하다. 산술 평균 거칠기(Ra값)의 하한치는 특별히 제한은 없고, 10 nm 이상, 50 nm 이상, 100 nm 이상 등이 된다. The upper limit of the arithmetic mean roughness (Ra value) is preferably 300 nm or less, more preferably 250 nm or less, and still more preferably 230 nm or less from the viewpoint of fine wiring formation. The lower limit of the arithmetic mean roughness (Ra value) is not particularly limited, and may be 10 nm or more, 50 nm or more, 100 nm or more.

제곱 평균 평방근 거칠기(Rq값)는 절연층 표면의 국소적인 상태가 반영되기 때문에, Rq값의 파악에 의해, 절연층 표면이 치밀하고 평활해진 것을 확인할 수 있고, 필 강도가 안정화된 것을 발견했다. 제곱 평균 평방근 거칠기(Rq값)의 상한치는, 치밀하고 평활한 절연층 표면으로 하기 위해, 500 nm 이하가 바람직하고, 450 nm 이하가 보다 바람직하고, 400 nm 이하가 더욱 바람직하고, 350 nm 이하가 한층 더 바람직하다. 제곱 평균 평방근 거칠기(Rq값)의 하한치는, 필 강도를 안정화시킨다고 하는 관점에서, 20 nm 이상이 바람직하고, 100 nm 이상이 보다 바람직하고, 150 nm 이상이 더욱 바람직하다. Since the root mean square roughness (Rq value) reflects the local state of the surface of the insulating layer, it was confirmed that the surface of the insulating layer became dense and smooth by grasping the Rq value, and the peel strength was stabilized. The upper limit of the root mean square roughness (Rq value) is preferably 500 nm or less, more preferably 450 nm or less, even more preferably 400 nm or less, and 350 nm or less in order to obtain a dense and smooth insulating layer surface. It is even more preferable. From the viewpoint of stabilizing the peel strength, the lower limit of the root mean square roughness (Rq value) is preferably 20 nm or more, more preferably 100 nm or more, and even more preferably 150 nm or more.

본 발명의 수지 조성물을 경화하여 얻어지는 절연층과, 그 절연층 표면을 조화 처리하고, 도금하여 얻어지는 도체층의 필 강도는, 후술하는 〔도금 도체층의 박리 강도(필 강도)의 측정〕에 기재된 측정 방법에 의해 파악할 수 있다. The peel strength of the insulating layer obtained by curing the resin composition of the present invention and the conductor layer obtained by roughening the surface of the insulating layer and plating is described in [Measurement of the peel strength (peel strength) of the plated conductor layer] described later. It can be grasped by a measurement method.

필 강도는, 절연층과 도체층을 충분히 밀착시켜 놓기 위해 0.35 kgf/cm 이상이 바람직하고, 0.4 kgf/cm 이상이 보다 바람직하고, 0.45 kgf/cm 이상이 더욱 바람직하다. 필 강도의 상한치는 높을수록 좋고, 특별히 제한은 없지만, 일반적으로 1.5 kgf/cm 이하, 1.2 kgf/cm 이하, 1.0 kgf/cm 이하, 0.8 kgf/cm 이하 등이 된다. The peel strength is preferably 0.35 kgf/cm or more, more preferably 0.4 kgf/cm or more, and even more preferably 0.45 kgf/cm or more in order to sufficiently close the insulating layer and the conductor layer. The higher the upper limit of the peel strength, the better, and there is no particular limitation, but it is generally 1.5 kgf/cm or less, 1.2 kgf/cm or less, 1.0 kgf/cm or less, 0.8 kgf/cm or less.

본 발명의 수지 조성물의 경화물의 선열팽창 계수는, 후술하는 〔선열팽창 계수(CTE)의 측정〕에 기재된 측정 방법에 의해 파악할 수 있다. The coefficient of linear thermal expansion of the cured product of the resin composition of the present invention can be grasped by the measurement method described later in [Measurement of the coefficient of linear thermal expansion (CTE)].

선열팽창 계수는, 기판의 휘어짐을 저감시키는 점에서, 25 ppm 이하가 바람직하고, 23 ppm 이하가 보다 바람직하고, 21 ppm 이하가 더욱 바람직하고, 19 ppm 이하가 한층 더 바람직하다. 선열팽창 계수는 작을수록 좋고, 특별히 하한치는 없지만, 일반적으로 4 ppm 이상이고, 6 ppm 이상이고, 8 ppm 이상이다. From the viewpoint of reducing the warpage of the substrate, the coefficient of linear thermal expansion is preferably 25 ppm or less, more preferably 23 ppm or less, still more preferably 21 ppm or less, and even more preferably 19 ppm or less. The smaller the coefficient of linear thermal expansion is, the better, and there is no particular lower limit, but it is generally 4 ppm or more, 6 ppm or more, and 8 ppm or more.

본 발명의 수지 조성물의 용도는, 특별히 한정되지 않지만, 접착 필름, 프리프레그 등의 시트형 적층 재료, 회로 기판(적층판 용도, 다층 프린트 배선판 용도 등), 솔더레지스트, 언더필재, 다이본딩재, 반도체 밀봉재, 구멍 매립 수지, 부품 매립 수지 등, 수지 조성물이 필요한 용도에 광범위하게 사용할 수 있다. 본 발명의 수지 조성물은, 와니스 상태로 회로 기판에 도포하여 절연층을 형성할 수도 있지만, 공업적으로는 일반적으로, 접착 필름, 프리프레그 등의 시트형 적층 재료의 형태로 이용하는 것이 바람직하다. 수지 조성물의 연화점은, 시트형 적층 재료의 라미네이트성의 관점에서 40∼150℃가 바람직하다. The use of the resin composition of the present invention is not particularly limited, but sheet-like laminated materials such as adhesive films and prepregs, circuit boards (laminated boards, multilayer printed wiring boards, etc.), solder resists, underfill materials, die bonding materials, semiconductor sealing materials It can be widely used in applications requiring a resin composition, such as hole-filling resin and part-filling resin. Although the resin composition of the present invention may be applied to a circuit board in a varnish state to form an insulating layer, industrially, it is generally preferable to use it in the form of a sheet-like laminated material such as an adhesive film or a prepreg. The softening point of the resin composition is preferably 40 to 150°C from the viewpoint of the lamination property of the sheet-like laminated material.

<시트형 적층 재료><Sheet-type laminated material>

(접착 필름)(Adhesive film)

본 발명의 접착 필름은, 당업자에게 공지된 방법, 예컨대, 유기 용제에 수지 조성물을 용해한 수지 와니스를 조제하고, 이 수지 와니스를, 다이코터 등을 이용하여 지지체에 도포하고, 또한 가열, 혹은 열풍 분사 등에 의해 유기 용제를 건조시켜 수지 조성물층을 형성하는 방법에 의해 제조할 수 있다. In the adhesive film of the present invention, a method known to a person skilled in the art, for example, a resin varnish obtained by dissolving a resin composition in an organic solvent, is prepared, and the resin varnish is applied to a support using a die coater or the like, and further heated or sprayed with hot air. It can be manufactured by a method of forming a resin composition layer by drying an organic solvent by means of or the like.

유기 용제로서는, 예컨대, 아세톤, 메틸에틸케톤, 시클로헥사논 등의 케톤류, 아세트산에틸, 아세트산부틸, 셀로솔브아세테이트, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트, 카르비톨아세테이트 등의 아세트산에스테르류, 셀로솔브, 부틸카르비톨 등의 카르비톨류, 톨루엔, 크실렌 등의 방향족 탄화수소류, 디메틸포름아미드, 디메틸아세트아미드, N-메틸피롤리돈 등의 아미드계 용매 등을 들 수 있다. 유기 용제로서 이들의 2종 이상을 조합하여 이용해도 좋다. Examples of the organic solvent include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, and cyclohexanone, ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate, and acetic acid esters such as carbitol acetate, cellosolve, and butylcar Carbitols such as bitol, aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene, and amide solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide, and N-methylpyrrolidone. As an organic solvent, you may use them in combination of 2 or more types of these.

건조 조건은 특별히 한정되지 않는다. 예컨대, 수지 조성물층에 대한 유기 용제의 함유량이 10 질량% 이하, 바람직하게는 5 질량% 이하가 되도록 건조시킨다. 와니스 중의 유기 용제량, 유기 용제의 비점에 따라서도 상이하지만, 예컨대 30∼60 질량%의 유기 용제를 포함하는 와니스를 50∼150℃에서 3∼10분 정도 건조시킴으로써, 수지 조성물층을 형성할 수 있다. Drying conditions are not particularly limited. For example, it is dried so that the content of the organic solvent in the resin composition layer is 10% by mass or less, preferably 5% by mass or less. Although it also differs depending on the amount of organic solvent in the varnish and the boiling point of the organic solvent, for example, a resin composition layer can be formed by drying a varnish containing 30 to 60 mass% of an organic solvent at 50 to 150°C for about 3 to 10 minutes. have.

접착 필름에서 형성되는 수지 조성물층의 두께는, 도체층의 두께 이상으로 하는 것이 바람직하다. 회로 기판이 갖는 도체층의 두께는 통상 5∼70 ㎛의 범위이기 때문에, 수지 조성물층은 10∼100 ㎛의 두께를 갖는 것이 바람직하다. 박막화의 관점에서 수지 조성물층의 두께는, 15∼80 ㎛가 보다 바람직하다. It is preferable that the thickness of the resin composition layer formed in the adhesive film is not less than the thickness of the conductor layer. Since the thickness of the conductor layer of the circuit board is usually in the range of 5 to 70 µm, the resin composition layer preferably has a thickness of 10 to 100 µm. From the viewpoint of thinning, the thickness of the resin composition layer is more preferably 15 to 80 µm.

지지체로서는, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 폴리염화비닐 등의 폴리올레핀의 필름, 폴리에틸렌테레프탈레이트(이하 「PET」로 약칭하는 경우가 있음), 폴리에틸렌나프탈레이트 등의 폴리에스테르의 필름, 폴리카보네이트 필름, 폴리이미드 필름 등의 각종 플라스틱 필름을 들 수 있다. 또 지지체로서, 이형지나 동박, 알루미늄박 등의 금속박 등을 사용해도 좋다. 그 중에서도, 지지체는, 범용성의 점에서, 플라스틱 필름이 바람직하고, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름이 보다 바람직하다. 지지체 및 후술하는 보호 필름에는, 매드 처리, 코로나 처리 등의 표면 처리가 실시되어 있어도 좋다. 또, 지지체 및 후술하는 보호 필름에, 실리콘 수지계 이형제, 알키드 수지계 이형제, 불소 수지계 이형제 등의 이형제로 이형 처리가 실시되어 있어도 좋다. As a support, a film of polyolefin such as polyethylene, polypropylene, and polyvinyl chloride, polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as ``PET''), polyester film such as polyethylene naphthalate, polycarbonate film, polyimide film Various plastic films, such as are mentioned. Further, as a support, a release paper, a metal foil such as copper foil or aluminum foil may be used. Among these, the support is preferably a plastic film, and a polyethylene terephthalate film is more preferable from the viewpoint of versatility. Surface treatments such as mad treatment and corona treatment may be applied to the support and the protective film described later. Further, the support and the protective film described later may be subjected to a release treatment with a release agent such as a silicone resin release agent, an alkyd resin release agent, and a fluororesin release agent.

지지체의 두께는 특별히 한정되지 않지만, 10∼150 ㎛가 바람직하고, 25∼50 ㎛가 보다 바람직하다. The thickness of the support is not particularly limited, but is preferably 10 to 150 µm and more preferably 25 to 50 µm.

수지 조성물층의 지지체가 밀착되지 않은 면에는, 지지체에 준한 보호 필름을 더 적층할 수 있다. 보호 필름의 두께는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예컨대 1∼40 ㎛이다. 보호 필름을 수지 조성물층에 적층함으로써, 수지 조성물층의 표면에 먼지 등의 부착이나 손상을 방지할 수 있다. On the surface of the resin composition layer to which the support is not in close contact, a protective film according to the support can be further laminated. The thickness of the protective film is not particularly limited, but is, for example, 1 to 40 µm. By laminating the protective film on the resin composition layer, it is possible to prevent adhesion or damage of dust or the like on the surface of the resin composition layer.

이상과 같이 형성된 접착 필름은, 롤형으로 감아 저장할 수도 있다. The adhesive film formed as described above can also be wound and stored in a roll shape.

(프리프레그)(Prepreg)

본 발명의 프리프레그는, 본 발명의 수지 조성물을 시트형 보강 기재에 핫멜트법 또는 솔벤트법에 의해 함침시키고, 가열하여 반경화시킴으로써 제조할 수 있다. 즉, 본 발명의 수지 조성물이 시트형 보강 기재에 함침된 상태인 프리프레그로 할 수 있다. 시트형 보강 기재로서는, 예컨대, 유리 클로스, 아라미드 섬유 등의 프리프레그용 섬유로서 상용되고 있는 섬유로 이루어진 것을 이용할 수 있다. 이 프리프레그가 지지체 상에 마련되는 구성이 바람직하다. The prepreg of the present invention can be produced by impregnating a sheet-like reinforcing substrate with the resin composition of the present invention by a hot-melt method or a solvent method, followed by heating and semi-curing. That is, a prepreg in which the resin composition of the present invention is impregnated in a sheet-like reinforcing substrate can be obtained. As the sheet-like reinforcing base material, for example, a glass cloth, aramid fiber, or other fiber made of a fiber commonly used as a prepreg fiber can be used. A configuration in which this prepreg is provided on a support is preferable.

핫멜트법은, 수지 조성물을 유기 용제에 용해하지 않고, 지지체 상에 일단 코팅하고, 그것을 시트형 보강 기재에 라미네이트하거나, 혹은 다이코터에 의해 시트형 보강 기재에 수지 조성물을 직접적으로 도공하거나 하여, 프리프레그를 제조하는 방법이다. 솔벤트법은, 접착 필름과 동일하게 하여 수지를 유기 용제에 용해하여 수지 와니스를 조제하고, 이 와니스에 시트형 보강 기재를 침지하고, 수지 와니스를 시트형 보강 기재에 함침시키고, 그 후 건조시키는 방법이다. 또, 프리프레그는, 가열, 가압 조건하에서 접착 필름을 시트형 보강 기재의 양면에 연속적으로 열라미네이트함으로써 조제할 수도 있다. 지지체나 보호 필름 등도 접착 필름과 마찬가지로 이용할 수 있다. In the hot-melt method, the resin composition is not dissolved in an organic solvent, and the resin composition is coated on a support once and laminated on a sheet-shaped reinforcing substrate, or a resin composition is directly coated on a sheet-shaped reinforcing substrate with a die coater to form a prepreg. It is a method of manufacturing. The solvent method is a method of dissolving a resin in an organic solvent in the same manner as an adhesive film to prepare a resin varnish, immersing the sheet-shaped reinforcing substrate in the varnish, impregnating the sheet-shaped reinforcing substrate with the resin varnish, and then drying it. Further, the prepreg can also be prepared by continuously thermally laminating an adhesive film on both surfaces of a sheet-like reinforcing substrate under heating and pressing conditions. A support body, a protective film, etc. can also be used like an adhesive film.

<시트형 적층 재료를 이용한 다층 프린트 배선판><Multilayer printed wiring board using sheet-type laminated material>

다음으로, 상기와 같이 하여 제조한 시트형 적층 재료를 이용하여 다층 프린트 배선판을 제조하는 방법의 일례를 설명한다. Next, an example of a method of manufacturing a multilayer printed wiring board using the sheet-like laminate material manufactured as described above will be described.

우선, 시트형 적층 재료를, 진공 라미네이터를 이용하여 회로 기판의 한면 또는 양면에 라미네이트(적층)한다(라미네이트 공정). 회로 기판에 이용되는 기판으로서는, 예컨대, 유리 에폭시 기판, 금속 기판, 폴리에스테르 기판, 폴리이미드 기판, BT 레진 기판, 열경화형 폴리페닐렌에테르 기판 등을 들 수 있다. 또한, 여기서 회로 기판이란, 상기와 같은 기판의 한면 또는 양면에 패턴 가공된 도체층(회로)이 형성된 것을 말한다. 또 도체층과 절연층을 교대로 적층하여 이루어진 다층 프린트 배선판에서, 상기 다층 프린트 배선판의 최외층의 한면 또는 양면이 패턴 가공된 도체층(회로)으로 되어 있는 것도, 여기서 말하는 회로 기판에 포함된다. 또한 도체층 표면에는, 흑화 처리, 구리 에칭 등의 조화 처리가 미리 실시되어 있어도 좋다. First, a sheet-like laminated material is laminated (laminated) on one or both sides of a circuit board using a vacuum laminator (laminating step). Examples of the substrate used for the circuit board include a glass epoxy substrate, a metal substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a BT resin substrate, a thermosetting polyphenylene ether substrate, and the like. In addition, the circuit board here refers to a patterned conductor layer (circuit) formed on one or both sides of the above-described substrate. Further, in a multilayer printed wiring board formed by alternately stacking a conductor layer and an insulating layer, the circuit board referred to herein includes a conductor layer (circuit) in which one or both surfaces of the outermost layer of the multilayer printed wiring board are patterned. Further, the surface of the conductor layer may be previously subjected to roughening treatment such as blackening treatment and copper etching.

상기 라미네이트 공정에서, 시트형 적층 재료가 보호 필름을 갖고 있는 경우에는 상기 보호 필름을 제거한 후, 필요에 따라서 시트형 적층 재료 및 회로 기판을 프리히팅하고, 시트형 적층 재료를 가압 및 가열하면서 회로 기판에 라미네이트한다. 본 발명의 시트형 적층 재료에서는, 진공 라미네이트법에 의해 감압하에서 회로 기판에 라미네이트하는 방법이 바람직하게 이용된다. 라미네이트의 조건은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예컨대, 압착 온도(라미네이트 온도)를 바람직하게는 70∼140℃, 압착 압력(라미네이트 압력)을 바람직하게는 1∼11 kgf/㎠(9.8×104∼107.9×104 N/㎡)로 하고, 압착 시간(라미네이트 시간)을 바람직하게는 5∼180초로 하고, 공기압 20 mmHg(26.7 hPa) 이하의 감압하에서 라미네이트하는 것이 바람직하다. 또, 라미네이트의 방법은, 배치식이어도 좋고 롤을 이용하는 연속식이어도 좋다. 진공 라미네이트는, 시판하는 진공 라미네이터를 사용하여 행할 수 있다. 시판하는 진공 라미네이터로서는, 예컨대, 니치고ㆍ모톤(주) 제조 진공 어플리케이터, (주)메이키제작소 제조 진공 가압식 라미네이터, (주)히타치인더스트리즈 제조 롤식 드라이코터, 히타치에이아이시(주) 제조 진공 라미네이터 등을 들 수 있다. In the laminating process, when the sheet-like laminate material has a protective film, after removing the protective film, the sheet-like laminate material and the circuit board are preheated as needed, and the sheet-like laminate material is laminated on the circuit board while pressing and heating. . In the sheet-like laminated material of the present invention, a method of laminating a circuit board under reduced pressure by a vacuum lamination method is preferably used. The conditions of the lamination are not particularly limited, for example, the pressing temperature (lamination temperature) is preferably 70 to 140°C, and the pressing pressure (lamination pressure) is preferably 1 to 11 kgf/cm 2 (9.8×10 4 to). 107.9×10 4 N/m 2 ), the pressing time (lamination time) is preferably 5 to 180 seconds, and the lamination is preferably performed under reduced pressure of 20 mmHg (26.7 hPa) or less in air pressure. Further, the method of laminating may be a batch type or a continuous type using a roll. Vacuum lamination can be performed using a commercially available vacuum laminator. Commercially available vacuum laminators include, for example, a vacuum applicator manufactured by Nichigo Morton, a vacuum pressurized laminator manufactured by Meiki Manufacturing, a roll-type dry coater manufactured by Hitachi Industries, and a vacuum laminator manufactured by Hitachi Aishi Inc. And the like.

시트형 적층 재료를 회로 기판에 라미네이트한 후, 실온 부근으로 냉각시키고 나서 지지체를 박리하는 경우에는, 지지체를 박리하고, 수지 조성물을 열경화하여 경화물을 형성함으로써, 회로 기판 상에 절연층을 형성할 수 있다. 열경화의 조건은, 수지 조성물 중의 수지 성분의 종류, 함유량 등에 따라서 적절하게 선택하면 되지만, 바람직하게는 150℃∼220℃에서 20분∼180분, 보다 바람직하게는 160℃∼210℃에서 30∼120분의 범위에서 선택된다. 절연층을 형성한 후, 경화전에 지지체를 박리하지 않은 경우에는, 필요에 따라 경화후에 박리할 수도 있다. In the case of peeling the support after laminating the sheet-like laminated material on the circuit board, cooling to around room temperature, and then peeling the support, the support is peeled off, and the resin composition is thermally cured to form a cured product, thereby forming an insulating layer on the circuit board. I can. The conditions for thermal curing may be appropriately selected depending on the type and content of the resin component in the resin composition, but preferably at 150°C to 220°C for 20 to 180 minutes, more preferably at 160°C to 210°C for 30 to Choose from a range of 120 minutes. In the case where the support is not peeled before curing after forming the insulating layer, it may be peeled after curing, if necessary.

또, 시트형 적층 재료를, 진공 프레스기를 이용하여 회로 기판의 한면 또는 양면에 적층할 수도 있다. 감압하, 가열 및 가압을 행하는 적층 공정은, 일반의 진공 핫프레스기를 이용하여 행하는 것이 가능하다. 예컨대, 적층 공정은, 가열된 SUS판 등의 금속판을 지지체층측으로부터 프레스함으로써 행할 수 있다. 프레스 조건은, 감압도를 통상 1×10-2 MPa 이하, 바람직하게는 1×10-3 MPa 이하의 감압하로 한다. 가열 및 가압은, 1단계로 행할 수도 있지만, 수지가 배어나오는 것을 제어하는 관점에서 2단계 이상으로 조건을 나눠 행하는 것이 바람직하다. 예컨대, 1단계째의 프레스를, 온도를 70∼150℃로 하고, 압력을 1∼15 kgf/㎠의 범위로 하여 행하고, 이어서 2단계째의 프레스를, 온도를 150∼200℃로 하고, 압력을 1∼40 kgf/㎠의 범위로 하여 행하는 것이 바람직하다. 각 단계의 시간은 30∼120분으로 행하는 것이 바람직하다. 이와 같이 수지 조성물층을 열경화함으로써 회로 기판 상에 절연층을 형성할 수 있다. 시판되고 있는 진공 핫프레스기로서는, 예컨대, MNPC-V-750-5-200 (주)메이키제작소 제조), VH1-1603(키타가와정기(주) 제조) 등을 들 수 있다. In addition, the sheet-like laminated material may be laminated on one or both sides of a circuit board using a vacuum press. The lamination process of heating and pressurizing under reduced pressure can be performed using a general vacuum hot press. For example, the lamination process can be performed by pressing a metal plate such as a heated SUS plate from the side of the support layer. Pressing conditions are the pressure reduction degree of usually 1 × 10 -2 MPa or less, preferably 1 × 10 -3 MPa or less. The heating and pressurization may be performed in one step, but from the viewpoint of controlling the bleeding of the resin, it is preferable to divide the conditions into two or more steps. For example, the first step press is performed at a temperature of 70 to 150°C and a pressure in the range of 1 to 15 kgf/cm 2, and then the second press is performed at a temperature of 150 to 200°C, and pressure Is preferably carried out in the range of 1 to 40 kgf/cm 2. The time for each step is preferably 30 to 120 minutes. By thermosetting the resin composition layer in this way, an insulating layer can be formed on a circuit board. As a commercially available vacuum hot press machine, MNPC-V-750-5-200 (made by Meiki Co., Ltd.), VH1-1603 (made by Kitagawa Seiki Co., Ltd.), etc. are mentioned, for example.

이어서, 회로 기판 상에 형성된 절연층에 천공 가공을 행하여 비아홀, 스루홀을 형성한다. 천공 가공은, 예컨대, 드릴, 레이저, 플라즈마 등의 공지의 수단에 의해, 또 필요에 따라 이들을 조합하여 행할 수 있지만, 탄산가스 레이저, YAG 레이저 등의 레이저에 의한 천공 가공이 가장 일반적인 방법이다. 천공 가공전에 지지체를 박리하지 않은 경우는, 천공 가공 후에 박리할 수 있다. Subsequently, the insulating layer formed on the circuit board is drilled to form via holes and through holes. The drilling process can be performed by known means such as a drill, laser, plasma, or a combination of them as necessary, but the drilling process using a laser such as a carbon dioxide laser or a YAG laser is the most common method. When the support is not peeled before drilling, it can be peeled after drilling.

이어서, 절연층 표면에 대하여 조화 처리를 행한다. 건식의 조화 처리 방법으로서는 플라즈마 처리 등을 들 수 있고, 습식의 조화 처리 방법으로서는 팽윤액에 의한 팽윤 처리, 산화제에 의한 조화 처리 및 중화액에 의한 중화 처리를 이 순으로 행하는 방법을 들 수 있다. 습식의 조화 처리가, 절연층 표면에 요철의 앵커를 형성하면서, 비아홀 내의 스미어를 제거할 수 있는 점에서 바람직하다. 팽윤액에 의한 팽윤 처리는, 절연층을 50∼80℃에서 5∼20분간(바람직하게는 55∼70℃에서 8∼15분간), 팽윤액에 침지시킴으로써 행해진다. 팽윤액으로서는 알칼리 용액, 계면활성제 용액 등을 들 수 있고, 바람직하게는 알칼리 용액이며, 상기 알칼리 용액으로서는, 예컨대, 수산화나트륨 용액, 수산화칼륨 용액 등을 들 수 있다. 시판되고 있는 팽윤액으로서는, 예컨대, 아토테크재팬(주) 제조의 스웰링ㆍ딥ㆍ시큐리건스 P(Swelling Dip Securiganth P), 스웰링ㆍ딥ㆍ시큐리건스 SBU(Swelling Dip Securiganth SBU) 등을 들 수 있다. 산화제에 의한 조화 처리는, 절연층을 60∼80℃에서 10∼30분간(바람직하게는 70∼80℃에서 15∼25분간), 산화제 용액에 침지시킴으로써 행해진다. 산화제로서는, 예컨대, 수산화나트륨의 수용액에 과망간산칼륨이나 과망간산나트륨을 용해한 알칼리성 과망간산 용액, 중크롬산염, 오존, 과산화수소/황산, 질산 등을 들 수 있다. 또, 알칼리성 과망간산 용액에서의 과망간산염의 농도는 5∼10 중량%로 하는 것이 바람직하다. 시판되고 있는 산화제로서는, 예컨대, 아토테크재팬(주) 제조의 콘센트레이트ㆍ컴팩트 CP, 도징 솔루션 시큐리건스 P 등의 알칼리성 과망간산 용액을 들 수 있다. 중화액에 의한 중화 처리는, 30∼50℃에서 3∼10분간(바람직하게는 35∼45℃에서 3∼8분간), 중화액에 침지시킴으로써 행해진다. 중화액으로서는, 산성의 수용액이 바람직하고, 시판품으로서는, 아토테크재팬(주) 제조의 리덕션솔루션ㆍ시큐리건스 P를 들 수 있다. Next, roughening treatment is performed on the surface of the insulating layer. Plasma treatment etc. are mentioned as a dry roughening treatment method, and a method of performing a swelling treatment with a swelling liquid, a roughening treatment with an oxidizing agent, and a neutralization treatment with a neutralizing liquid in this order is mentioned as a wet roughening treatment method. The wet roughening treatment is preferable in that smear in the via hole can be removed while forming an uneven anchor on the surface of the insulating layer. The swelling treatment with the swelling liquid is performed by immersing the insulating layer in the swelling liquid for 5 to 20 minutes at 50 to 80°C (preferably at 55 to 70°C for 8 to 15 minutes). Examples of the swelling liquid include an alkali solution, a surfactant solution, and the like, preferably an alkali solution, and examples of the alkali solution include sodium hydroxide solution and potassium hydroxide solution. Examples of commercially available swelling liquids include Swelling Dip Securiganth P (Swelling Dip Securiganth P), Swelling Dip Securiganth SBU (Swelling Dip Securiganth SBU) manufactured by Atotech Japan, etc. have. The roughening treatment with an oxidizing agent is performed by immersing the insulating layer at 60 to 80°C for 10 to 30 minutes (preferably at 70 to 80°C for 15 to 25 minutes) in an oxidizing agent solution. Examples of the oxidizing agent include an alkaline permanganate solution in which potassium permanganate or sodium permanganate is dissolved in an aqueous solution of sodium hydroxide, dichromate, ozone, hydrogen peroxide/sulfuric acid, nitric acid, and the like. Further, the concentration of permanganate in the alkaline permanganic acid solution is preferably 5 to 10% by weight. Examples of commercially available oxidizing agents include alkaline permanganic acid solutions such as Concentrated Compact CP manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., and Dosing Solution Security P. The neutralization treatment with the neutralizing liquid is performed by immersing in the neutralizing liquid for 3 to 10 minutes at 30 to 50°C (preferably 3 to 8 minutes at 35 to 45°C). As the neutralizing solution, an acidic aqueous solution is preferable, and as a commercial item, Atotech Japan Co., Ltd. Reduction Solution Securities P is mentioned.

이어서, 건식 도금 또는 습식 도금에 의해 절연층 상에 도체층을 형성한다. 건식 도금으로서는, 증착, 스퍼터링, 이온 플레이팅 등의 공지의 방법을 사용할 수 있다. 습식 도금으로서는, 무전해 도금과 전해 도금을 조합하여 도체층을 형성하는 방법, 도체층과는 역패턴의 도금 레지스트를 형성하여, 무전해 도금만으로 도체층을 형성하는 방법 등을 들 수 있다. 그 후의 패턴 형성의 방법으로서, 예컨대, 당업자에게 공지된 서브트랙티브법, 세미애디티브법 등을 이용할 수 있고, 전술한 일련의 공정을 복수회 반복함으로써, 빌드업층을 다단으로 적층한 다층 프린트 배선판을 형성할 수 있다. 본 발명의 수지 조성물은, 경화시켜 조화 처리한 후에 조도가 낮고, 필 강도가 높으므로, 다층 프린트 배선판의 빌드업층으로서 바람직하게 사용할 수 있다. Subsequently, a conductor layer is formed on the insulating layer by dry plating or wet plating. As the dry plating, known methods such as vapor deposition, sputtering, and ion plating can be used. Examples of the wet plating include a method of forming a conductor layer by combining electroless plating and electrolytic plating, a method of forming a plating resist having an inverse pattern from the conductor layer, and forming a conductor layer only by electroless plating. As a method of subsequent pattern formation, for example, a subtractive method, a semi-additive method, etc. known to those skilled in the art can be used, and a multilayer printed wiring board in which the build-up layers are stacked in multiple stages by repeating the above series of steps a plurality of times Can be formed. The resin composition of the present invention can be preferably used as a build-up layer of a multilayer printed wiring board since the roughness is low and the peel strength is high after curing and roughening treatment.

<반도체 장치> <Semiconductor device>

본 발명의 다층 프린트 배선판을 이용함으로써 반도체 장치를 제조할 수 있다. 본 발명의 다층 프린트 배선판의 도통 개소에, 반도체칩을 실장함으로써 반도체 장치를 제조할 수 있다. 「도통 개소」란, 「다층 프린트 배선판에서의 전기 신호를 전하는 개소」이며, 그 장소는 표면이어도, 또는 매립된 개소이어도 상관없다. 또, 반도체칩은 반도체를 재료로 하는 전기 회로 소자라면 특별히 한정되지 않는다. A semiconductor device can be manufactured by using the multilayer printed wiring board of the present invention. A semiconductor device can be manufactured by mounting a semiconductor chip at a conductive location of the multilayer printed wiring board of the present invention. The "conducting point" is "a place that transmits an electric signal in a multilayer printed wiring board", and the place may be a surface or a buried place. Further, the semiconductor chip is not particularly limited as long as it is an electric circuit element made of a semiconductor.

본 발명의 반도체 장치를 제조할 때의 반도체칩의 실장 방법은, 반도체칩이 유효하게 기능하기만 한다면 특별히 한정되지 않지만, 구체적으로서는, 와이어본딩 실장 방법, 플립칩 실장 방법, 범프리스 빌드업층(BBUL)에 의한 실장 방법, 이방성 도전 필름(ACF)에 의한 실장 방법, 비도전성 필름(NCF)에 의한 실장 방법 등을 들 수 있다. The semiconductor chip mounting method for manufacturing the semiconductor device of the present invention is not particularly limited as long as the semiconductor chip functions effectively, but specifically, a wire bonding mounting method, a flip chip mounting method, and a bumpless build-up layer (BBUL ), a mounting method using an anisotropic conductive film (ACF), and a mounting method using a non-conductive film (NCF).

실시예Example

이하, 본 발명을 실시예에 의해 구체적으로 설명하지만, 본 발명은 이들 실시예에 한정되는 것은 아니다. 또한, 「부」는 질량부를 의미한다. Hereinafter, the present invention will be specifically described by way of examples, but the present invention is not limited to these examples. In addition, "part" means a mass part.

<측정 방법ㆍ평가 방법> <Measurement method and evaluation method>

우선은 측정 방법ㆍ평가 방법에 관해 설명한다. First, a measurement method and an evaluation method will be described.

〔필 강도, 산술 평균 거칠기(Ra값), 제곱 평균 평방근 거칠기(Rq값) 측정용 샘플의 조제〕(Preparation of samples for measuring peel strength, arithmetic mean roughness (Ra value), root mean square roughness (Rq value))

(1) 내층 회로 기판의 하지 처리(1) substrate treatment of inner circuit board

내층 회로를 형성한 유리 클로스 기재 에폭시 수지 양면 동장 적층판(동박의 두께 18 ㎛, 기판 두께 0.3 mm, 마쯔시타전공(주) 제조 R5715ES)의 양면을 맥(주) 제조 CZ8100으로 1 um 에칭하여 동박 표면의 조화 처리를 행했다. Epoxy resin double-sided copper-clad laminate (copper foil thickness 18 µm, substrate thickness 0.3 mm, Matsushita Electric Co., Ltd. R5715ES) on which the inner layer circuit was formed was etched by 1 um with CZ8100 manufactured by MAC Co., Ltd. Harmonization treatment was performed.

(2) 접착 필름의 라미네이트 공정(2) Laminating process of adhesive film

실시예 및 비교예에서 작성한 접착 필름을, 배치식 진공 가압 라미네이터 MVLP-500(메이키(주) 제조 상품명)을 이용하여, 내층 회로 기판의 양면에 라미네이트했다. 라미네이트 공정은, 30초간 감압하여 기압을 13 hPa 이하로 하고, 그 후 30초간, 100℃, 압력 0.74 MPa로 압착함으로써 행했다. The adhesive films prepared in Examples and Comparative Examples were laminated on both sides of an inner circuit board using a batch-type vacuum pressurized laminator MVLP-500 (trade name manufactured by Meiki Co., Ltd.). The lamination process was performed by reducing the pressure for 30 seconds to reduce the atmospheric pressure to 13 hPa or less, followed by compression bonding at 100°C and pressure of 0.74 MPa for 30 seconds.

(3) 수지 조성물의 경화(3) curing of resin composition

라미네이트된 접착 필름을, 100℃, 30분 계속하여 180℃, 30분의 경화 조건으로 수지 조성물을 경화하여 절연층을 형성하고, 그 후 PET 필름을 박리했다. The laminated adhesive film was continuously cured at 100° C. for 30 minutes and the resin composition was cured under curing conditions at 180° C. for 30 minutes to form an insulating layer, and then the PET film was peeled off.

(4) 조화 처리(4) Harmonization treatment

절연층을 형성한 내층 회로 기판을, 팽윤액인 아토테크재팬(주)의 디에틸렌글리콜모노부틸에테르 함유의 스웰링딥ㆍ시큐리건스 P(글리콜에테르류, 수산화나트륨의 수용액)에, 80℃에서 10분간 침지했다. 다음으로 조화액으로서, 아토테크재팬(주)의 콘센트레이트ㆍ컴팩트 P(KMnO4 : 60 g/L, NaOH : 40 g/L의 수용액)에, 80℃에서 20분간 침지했다. 마지막으로 중화액으로서, 아토테크재팬(주)의 리덕션솔루션ㆍ시큐리건스 P(황산의 수용액)에 40℃에서 5분간 침지했다. 80℃에서 30분 건조 후, 이 조화 처리 후의 절연층 표면에 관해, 산술 평균 거칠기(Ra값), 제곱 평균 평방근 거칠기(Rq값)의 측정을 행했다. The inner circuit board on which the insulating layer was formed was placed in a swelling solution of Atotech Japan Co., Ltd. diethylene glycol monobutyl ether containing Swelling Dip Securigans P (glycol ethers, aqueous solution of sodium hydroxide) at 80°C for 10 Soaked for a minute. Next, as a roughening liquid, it was immersed in Atotech Japan Co., Ltd. concentrate compact P (KMnO 4 : 60 g/L, NaOH: 40 g/L aqueous solution) at 80 degreeC for 20 minutes. Finally, as a neutralizing liquid, it was immersed in Reduction Solutions Security P (aqueous solution of sulfuric acid) of Atotech Japan Co., Ltd. at 40 degreeC for 5 minutes. After drying at 80°C for 30 minutes, about the surface of the insulating layer after the roughening treatment, the arithmetic mean roughness (Ra value) and the root mean square roughness (Rq value) were measured.

(5) 세미애디티브 공법에 의한 도금 공정(5) Plating process by semi-additive method

절연층 표면에 회로를 형성하기 위해, 내층 회로 기판을, PdCl2를 포함하는 무전해 도금용 용액에 40℃에서 5분간 침지하고, 다음으로 무전해 구리 도금액에 25℃에서 20분간 침지했다. 150℃에서 30분간 가열하여 어닐링 처리를 행한 후에, 에칭 레지스트를 형성하고, 에칭에 의한 패턴 형성 후에, 황산구리 전해 도금을 행하여, 30 ㎛의 두께로 도체층을 형성했다. 다음으로, 어닐링 처리를 200℃에서 60분간 행했다. 이 회로 기판에 관해 도금 도체층의 박리 강도(필 강도)의 측정을 행했다. In order to form a circuit on the surface of the insulating layer, the inner circuit board was immersed in an electroless plating solution containing PdCl 2 at 40° C. for 5 minutes, and then immersed in an electroless copper plating solution at 25° C. for 20 minutes. After performing an annealing treatment by heating at 150° C. for 30 minutes, an etching resist was formed, and after pattern formation by etching, copper sulfate electroplating was performed to form a conductor layer with a thickness of 30 μm. Next, an annealing treatment was performed at 200°C for 60 minutes. With respect to this circuit board, the peel strength (peel strength) of the plated conductor layer was measured.

〔조화 후의 산술 평균 거칠기(Ra값), 제곱 평균 평방근 거칠기(Rq값)의 측정〕(Measurement of arithmetic mean roughness (Ra value) and root square mean square roughness (Rq value) after harmonization)

비접촉형 표면 거칠기계(비코인스트루먼트사 제조 WYKO NT3300)를 이용하여, VSI 컨택트 모드, 50배 렌즈에 의해 측정 범위를 121 ㎛×92 ㎛로 하여 얻어지는 수치에 의해 Ra치, Rq값을 구했다. 그리고, 각각 10점의 평균치를 구함으로써 측정했다. Using a non-contact type surface roughness machine (WYKO NT3300 manufactured by Bcoin Instruments), the Ra value and Rq value were determined by numerical values obtained by using a VSI contact mode and a 50-fold lens with a measurement range of 121 µm×92 µm. And it measured by obtaining the average value of each 10 points.

〔도금 도체층의 박리 강도(필 강도)의 측정〕[Measurement of peel strength (peel strength) of the plated conductor layer]

회로 기판의 도체층에, 폭 10 mm, 길이 100 mm의 부분 커팅을 하고, 이 일단을 박리하여 집게(주식회사 티ㆍ에스ㆍ이, 오토콤형 시험기 AC-50C-SL)로 집어, 실온 중에서 50 mm/분의 속도로 수직 방향으로 35 mm를 박리했을 때의 하중(kgf/cm)을 측정했다. The conductor layer of the circuit board is partially cut with a width of 10 mm and a length of 100 mm, and this end is peeled off and picked up with tongs (T.S.E. Co., Ltd., Autocom type tester AC-50C-SL), and 50 mm at room temperature. The load (kgf/cm) when 35 mm was peeled off in the vertical direction at a speed of /min was measured.

〔선열팽창 계수(CTE)의 측정〕[Measurement of Coefficient of Linear Thermal Expansion (CTE)]

실시예 및 비교예에서 작성한 접착 필름을 190℃, 60분간 열경화시키고, 지지체를 박리함으로써 시트형의 경화체를 얻었다. 그 경화체를, 폭 5 mm, 길이 15 mm의 시험편으로 절단하고, 열기계 분석 장치 Thermo Plus TMA8310((주)리가쿠 제조)을 사용하여, 인장 가중법으로 열기계 분석을 행했다. 시험편을 상기 장치에 장착후, 하중 1 g, 승온 속도 5℃/분의 측정 조건으로 연속하여 2회 측정했다. 2회째의 측정에서의 25℃부터 150℃까지의 평균 선열팽창 계수(ppm/℃)를 산출했다. The adhesive films prepared in Examples and Comparative Examples were heat-cured at 190° C. for 60 minutes, and the support was peeled to obtain a sheet-shaped cured product. The cured body was cut into a test piece having a width of 5 mm and a length of 15 mm, and a thermomechanical analysis was performed by a tensile weighting method using a thermomechanical analyzer Thermo Plus TMA8310 (manufactured by Rigaku Corporation). After attaching the test piece to the apparatus, it was continuously measured twice under the conditions of a load of 1 g and a temperature increase rate of 5°C/min. The average coefficient of linear thermal expansion (ppm/°C) from 25°C to 150°C in the second measurement was calculated.

〔사용한 무기 충전재〕〔Used inorganic filler〕

무기 충전재 1 : 구형 실리카(덴키화학공업(주) 제조 「SFP-130MC」, 평균 입경 0.6 ㎛, 비표면적 6.2 ㎡/g) 100부에 대하여, 3-아미노프로필실란(신에츠화학공업(주) 제조, 「KBM903」, 분자량 179) 0.3부로 표면 처리한 것, 단위 표면적당 카본량 0.13 ㎎/㎡. Inorganic filler 1: For 100 parts of spherical silica ("SFP-130MC" manufactured by Denki Chemical Industries, Ltd., average particle diameter 0.6 µm, specific surface area 6.2 ㎡/g), 3-aminopropylsilane (manufactured by Shin-Etsu Chemical Industries, Ltd.) , "KBM903", molecular weight 179) surface-treated with 0.3 parts, carbon amount per unit surface area 0.13 mg/m 2.

무기 충전재 2 : 구형 실리카(아도마텍스(주) 제조 「SO-C2」, 평균 입경 0.5 ㎛, 비표면적 5.5 ㎡/g) 100부에 대하여, 3-아미노프로필실란(신에츠화학공업(주) 제조, 「KBE903」, 분자량 221) 0.4부로 표면 처리한 것, 단위 표면적당 카본량 0.15 ㎎/㎡. Inorganic filler 2: 3-aminopropylsilane (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) per 100 parts of spherical silica ("SO-C2" manufactured by Adomatex Co., Ltd., average particle diameter 0.5 µm, specific surface area 5.5 ㎡/g) , "KBE903", molecular weight 221) surface-treated with 0.4 parts, and the amount of carbon per unit surface area is 0.15 mg/m 2.

무기 충전재 3 : 구형 실리카(덴키화학공업(주) 제조 「SFP-130MC」, 평균 입경 0.6 ㎛, 비표면적 6.2 ㎡/g)의 표면 처리하지 않은 것. Inorganic filler 3: Spherical silica ("SFP-130MC" manufactured by Denki Chemical Industries, Ltd., average particle diameter 0.6 µm, specific surface area 6.2 m 2 /g) without surface treatment.

무기 충전재 4 : 구형 실리카(덴키화학공업(주) 제조 「SFP-130MC」, 평균 입경 0.6 ㎛, 비표면적 6.2 ㎡/g) 100부에 대하여, 페닐아미노실란(신에츠화학공업(주) 제조, 「KBM573」, 분자량 255) 0.5부로 표면 처리한 것, 단위 표면적당 카본량 0.30 ㎎/㎡. Inorganic filler 4: For 100 parts of spherical silica ("SFP-130MC" manufactured by Denki Chemical Industries, Ltd., average particle diameter 0.6 µm, specific surface area 6.2 m 2 /g), phenylaminosilane (manufactured by Shin-Etsu Chemical Industries, Ltd.), " KBM573", molecular weight 255) surface-treated with 0.5 part, carbon amount per unit surface area 0.30 mg/m 2.

무기 충전재 5 : 구형 실리카(덴키화학공업(주) 제조 「SFP-130MC」, 평균 입경 0.6 ㎛, 비표면적 6.2 ㎡/g) 100부에 대하여, 에폭시실란(신에츠화학공업(주) 제조, 「KBM403」, 분자량 236) 0.5부로 표면 처리한 것, 단위 표면적당 카본량 0.19 ㎎/㎡. Inorganic filler 5: For 100 parts of spherical silica ("SFP-130MC" manufactured by Denki Chemical Industries, Ltd., average particle diameter 0.6 µm, specific surface area 6.2 m 2 /g), epoxysilane (manufactured by Shin-Etsu Chemical Industries, Ltd.), "KBM403 ", molecular weight 236) surface-treated with 0.5 part, carbon amount per unit surface area 0.19 mg/m 2.

<실시예 1> <Example 1>

나프탈렌형 에폭시 수지(DIC(주) 제조 「HP4032SS」) 10부, 액상 비스페놀형 에폭시 수지(신니테츠화학(주) 제조 「ZX1059」, 비스페놀 A형과 비스페놀 F형의 1:1 혼합품) 5부, 나프톨형 에폭시 수지(신니테츠화학(주) 제조 「ESN-475V」) 20부, 페녹시 수지(중량 평균 분자량 35000, 미쯔비시화학(주) 제조 「YL7553BH30」, 불휘발 성분 30 질량%의 MEK와 시클로헥사논의 1:1 용액) 5부를 솔벤트 나프타 50부에 교반하면서 가열 용해시키고, 그 후 실온까지 냉각시켰다. 이어서, 활성 에스테르 화합물(DIC(주) 제조 「HPC8000-65T」, 활성 에스테르 당량 223, 고형분 65%의 톨루엔 용액) 10부, 비스페놀 A 디시아네이트의 프리폴리머(론자재팬(주) 제조 「BA230S75」, 시아네이트 당량 약 232, 불휘발분 75 질량%의 MEK 용액) 20부, 페놀노볼락형 다작용 시아네이트에스테르 수지(론자재팬(주) 제조 「PT30S」, 시아네이트 당량 약 133, 불휘발분 85 질량%의 MEK 용액) 10부, 고무 입자(간쯔화성(주) 제조, 스타필로이드 AC3816N) 4부를 솔벤트 나프타 16부에 실온에서 12시간 팽윤시켜 놓은 것, 난연제(산코(주) 제조 「HCA-HQ」, 10-(2,5-디히드록시페닐)-10-히드로-9-옥사-10-포스파페난트렌-10-옥사이드, 평균 입경 1 ㎛) 3부, 경화 촉진제(4-디메틸아미노피리딘, 고형분 4 질량%의 MEK 용액) 0.5부, 경화 촉진제(도쿄화성(주) 제조, 코발트(Ⅲ)아세틸아세토네이트, 고형분 1 질량%의 MEK 용액) 4.5부를 첨가하고, 무기 충전재 1을 150부 더 혼합하고, 회전 믹서로 균일하게 분산하여 수지 와니스를 제작했다. 다음으로, 이러한 수지 와니스를 알키드계 이형 처리한 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름(린텍(주) 제조 「AL5」, 두께 38 ㎛)의 이형면 상에, 건조후의 수지 조성물층의 두께가 40 ㎛가 되도록 다이코터로 균일하게 도포하고, 80∼110℃(평균 95℃)에서 5분간 건조시켜 접착 필름을 얻었다. Naphthalene-type epoxy resin ("HP4032SS" manufactured by DIC Corporation) 10 parts, liquid bisphenol-type epoxy resin (``ZX1059" manufactured by Shinitetsu Chemical Corporation, 1:1 mixture of bisphenol A type and bisphenol F type) 5 parts , Naphthol type epoxy resin (Shinitetsu Chemical Co., Ltd. ``ESN-475V'') 20 parts, phenoxy resin (weight average molecular weight 35000, Mitsubishi Chemical Co., Ltd. ``YL7553BH30''), non-volatile component 30 mass% MEK and A 1:1 solution of cyclohexanone) 5 parts was dissolved by heating while stirring in 50 parts of solvent naphtha, and then cooled to room temperature. Next, 10 parts of an active ester compound ("HPC8000-65T" manufactured by DIC Corporation, an active ester equivalent of 223, a toluene solution of 65% solid content), a prepolymer of bisphenol A dicyanate ("BA230S75" manufactured by Ronza Japan, Ltd.), Cyanate equivalent of about 232, non-volatile content of 75 mass% MEK solution) 20 parts, phenol novolak type polyfunctional cyanate ester resin (Lonza Japan Co., Ltd. ``PT30S'', cyanate equivalent of about 133, non-volatile content 85 mass% MEK solution) 10 parts, rubber particles (manufactured by Kantsu Chemical Co., Ltd., Starphiloid AC3816N) 4 parts swelled in 16 parts of solvent naphtha at room temperature for 12 hours, flame retardant ("HCA-HQ" manufactured by Sanko Corporation) , 10-(2,5-dihydroxyphenyl)-10-hydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide, average particle diameter 1 μm) 3 parts, curing accelerator (4-dimethylaminopyridine, 0.5 parts of solid content 4 mass% MEK solution), 4.5 parts of hardening accelerator (manufactured by Tokyo Chemical Co., Ltd., cobalt(III) acetylacetonate, solid content 1 mass% MEK solution) 4.5 parts are added, and 150 parts of inorganic filler 1 are further mixed And uniformly dispersed in a rotary mixer to prepare a resin varnish. Next, on the release surface of a polyethylene terephthalate film (“AL5” manufactured by Lintec Co., Ltd., thickness 38 μm) obtained by subjecting this resin varnish to an alkyd release treatment, a die coater so that the thickness of the resin composition layer after drying is 40 μm. And uniformly applied at 80 to 110°C (average 95°C) for 5 minutes to obtain an adhesive film.

<실시예 2> <Example 2>

무기 충전재 1의 150부를 무기 충전재 2의 175부로 변경하고, 액상 비스페놀형 에폭시 수지(신니테츠화학(주) 제조 「ZX1059」, 비스페놀 A형과 비스페놀 F형의 1:1 혼합품) 5부를 비페닐형 에폭시 수지(미쯔비시화학(주) 제조 「YX4000HK」) 5부로 변경하고, 비스페놀 A 디시아네이트의 프리폴리머(론자재팬(주) 제조 「BA230S75」, 시아네이트 당량 약 232, 불휘발분 75 질량%의 MEK 용액) 20부를 25부로 변경하고, 페놀노볼락형 다작용 시아네이트에스테르 수지(론자재팬(주) 제조 「PT30S」, 시아네이트 당량 약 133, 불휘발분 85 질량%의 MEK 용액) 10부를 6부로 변경하고, 고무 입자 4부를 3부로 변경한 것 외에는, 실시예 1과 완전히 동일하게 하여 수지 와니스를 제작했다. 이어서, 실시예 1과 완전히 동일하게 하여 접착 필름을 얻었다. 150 parts of inorganic filler 1 are changed to 175 parts of inorganic filler 2, and 5 parts of liquid bisphenol type epoxy resin (``ZX1059'' manufactured by Shinitetsu Chemical Co., Ltd., 1:1 mixture of bisphenol A type and bisphenol F type) is biphenyl -Type epoxy resin (``YX4000HK'' manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) was changed to 5 parts, and a prepolymer of bisphenol A dicyanate (``BA230S75'' manufactured by Ronza Japan Co., Ltd. Solution) 20 parts are changed to 25 parts, and 10 parts are changed to 6 parts of a phenol novolak type polyfunctional cyanate ester resin ("PT30S" manufactured by Ronza Japan, a cyanate equivalent of about 133, a MEK solution of 85% by mass of non-volatile content) And, except having changed 4 parts of rubber particles into 3 parts, it carried out completely similarly to Example 1, and produced the resin varnish. Next, it carried out completely similarly to Example 1, and obtained the adhesive film.

<비교예 1> <Comparative Example 1>

무기 충전재 1을 무기 충전재 3으로 변경한 것 외에는, 실시예 1과 완전히 동일하게 하여 수지 와니스를 제작했다. 이어서, 실시예 1과 완전히 동일하게 하여 접착 필름을 얻었다. A resin varnish was produced in exactly the same manner as in Example 1 except that the inorganic filler 1 was changed to the inorganic filler 3. Next, it carried out completely similarly to Example 1, and obtained the adhesive film.

<비교예 2> <Comparative Example 2>

무기 충전재 1을 무기 충전재 4로 변경한 것 외에는, 실시예 1과 완전히 동일하게 하여 수지 와니스를 제작했다. 이어서, 실시예 1과 완전히 동일하게 하여 접착 필름을 얻었다. A resin varnish was produced in exactly the same manner as in Example 1 except that the inorganic filler 1 was changed to the inorganic filler 4. Next, it carried out completely similarly to Example 1, and obtained the adhesive film.

<비교예 3> <Comparative Example 3>

무기 충전재 1을 무기 충전재 5로 변경한 것 외에는, 실시예 1과 완전히 동일하게 하여 수지 와니스를 제작했다. 이어서, 실시예 1과 완전히 동일하게 하여 접착 필름을 얻었다. A resin varnish was produced in exactly the same manner as in Example 1 except that the inorganic filler 1 was changed to the inorganic filler 5. Next, it carried out completely similarly to Example 1, and obtained the adhesive film.

결과를 표 1에 나타낸다. 또한, 이하에 나타내는 「무기 충전재 함유량」에서, 아미노알콕시실란 등에서 유래하는 비율은 무시할 수 있는 정도이기 때문에, 「아미노알콕시실란 등으로 표면 처리된 무기 충전재」의 함유량은, 표면 처리되지 않은 「무기 충전재」의 함유량과 동일시할 수 있다. Table 1 shows the results. In addition, in the ``inorganic filler content'' shown below, since the ratio derived from aminoalkoxysilane or the like is negligible, the content of ``inorganic filler surface-treated with aminoalkoxysilane, etc.'' It can be identified with the content of ".

Figure 112013065655476-pat00005
Figure 112013065655476-pat00005

표 1의 결과에서, 실시예의 수지 조성물은, 산술 평균 거칠기의 값, 제곱 평균 평방근 거칠기의 값이 작고, 필 강도가 충분한 값을 얻을 수 있고, 선열팽창 계수도 작은 것을 알 수 있다. 한편, 비교예에서는, 산술 평균 거칠기의 값, 제곱 평균 평방근 거칠기의 값이 커지고, 필 강도도 작은 값이 되었다.From the results of Table 1, it can be seen that the resin composition of the example has a small arithmetic mean roughness value and a square mean square root roughness value, a sufficient peel strength value can be obtained, and a small linear thermal expansion coefficient. On the other hand, in the comparative example, the value of the arithmetic mean roughness and the value of the square mean square roughness became large, and the peeling strength also became a small value.

경화하여 절연층으로 한 경우에 습식 조화 공정에서 절연층 표면의 산술 평균 거칠기의 값이 작을 뿐만 아니라, 제곱 평균 평방근 거칠기의 값도 작고, 게다가 충분한 필 강도를 갖는 도금 도체층을 형성할 수 있고, 선열팽창 계수도 작은 수지 조성물을 제공할 수 있게 되었다. 또한 그것을 이용한 시트형 적층 재료, 다층 프린트 배선판, 반도체 장치를 제공할 수 있게 되었다. 또한 이들을 탑재한 컴퓨터, 휴대 전화, 디지털 카메라, 텔레비젼 등의 전기 제품이나, 자동 이륜차, 자동차, 전차, 선박, 항공기 등의 탈것도 제공할 수 있게 되었다.In the case of curing and forming an insulating layer, not only the arithmetic mean roughness of the surface of the insulating layer is small in the wet roughening process, but also the value of the root mean square roughness is small, and a plated conductor layer having sufficient peel strength can be formed. It has become possible to provide a resin composition with a small coefficient of linear thermal expansion. Further, it became possible to provide a sheet-like laminate material, a multilayer printed wiring board, and a semiconductor device using the same. In addition, electric appliances such as computers, mobile phones, digital cameras, and televisions equipped with them, and vehicles such as motorcycles, automobiles, tanks, ships, and aircraft can be provided.

Claims (20)

에폭시 수지, 경화제 및 무기 충전재를 함유하는 수지 조성물로서,
상기 무기 충전재가 아미노알킬실란으로 표면 처리되어 있고,
상기 아미노알킬실란이 아미노메틸기, 아미노에틸기, 아미노프로필기, 아미노이소프로필기 및 아미노시클로프로필기에서 선택되는 1종 이상을 포함하고,
상기 에폭시 수지가 비페닐형 에폭시 수지를 포함하고,
상기 에폭시 수지는, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 병용하며, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지의 질량비가 1:0.1~1:3이고,
상기 경화제가 하기 식 (2) 또는 식 (3)으로 표시되는 시아네이트에스테르 수지 및 활성 에스테르계 경화제이고,
수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, 상기 무기 충전재의 함유량이 55∼90 질량%이고,
상기 수지 조성물의 경화물의 선열팽창 계수가 25 ppm 이하인 것을 특징으로 하는 수지 조성물:
Figure 112020069808388-pat00006

[식 중, n은 0∼20을 나타낸다.]
Figure 112020069808388-pat00007
.
As a resin composition containing an epoxy resin, a curing agent and an inorganic filler,
The inorganic filler is surface-treated with aminoalkylsilane,
The aminoalkylsilane includes at least one selected from an aminomethyl group, an aminoethyl group, an aminopropyl group, an aminoisopropyl group, and an aminocyclopropyl group,
The epoxy resin comprises a biphenyl type epoxy resin,
The epoxy resin is a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin are used in combination, the mass ratio of the liquid epoxy resin and the solid epoxy resin is 1:0.1 to 1:3,
The curing agent is a cyanate ester resin and an active ester curing agent represented by the following formula (2) or formula (3),
When the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass, the content of the inorganic filler is 55 to 90% by mass,
A resin composition, characterized in that the coefficient of linear thermal expansion of the cured product of the resin composition is 25 ppm or less:
Figure 112020069808388-pat00006

[In formula, n represents 0-20.]
Figure 112020069808388-pat00007
.
삭제delete 제1항에 있어서, 상기 아미노알킬실란이 3-아미노프로필실란인 것을 특징으로 하는 수지 조성물. The resin composition according to claim 1, wherein the aminoalkylsilane is 3-aminopropylsilane. 제1항에 있어서, 상기 아미노알킬실란의 분자량이 100∼2000인 것을 특징으로 하는 수지 조성물.The resin composition according to claim 1, wherein the aminoalkylsilane has a molecular weight of 100 to 2000. 제1항에 있어서, 상기 무기 충전재의 평균 입경이 0.01∼5 ㎛인 것을 특징으로 하는 수지 조성물.The resin composition according to claim 1, wherein the inorganic filler has an average particle diameter of 0.01 to 5 µm. 제1항에 있어서, 상기 무기 충전재가 실리카인 것을 특징으로 하는 수지 조성물. The resin composition according to claim 1, wherein the inorganic filler is silica. 제1항에 있어서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, 상기 무기 충전재의 함유량이 60∼85 질량%인 것을 특징으로 하는 수지 조성물. The resin composition according to claim 1, wherein when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass, the content of the inorganic filler is 60 to 85% by mass. 제1항에 있어서, 상기 무기 충전재 100 질량부에 대하여, 상기 아미노알킬실란을 0.05∼5 질량부로 표면 처리하는 것을 특징으로 하는 수지 조성물. The resin composition according to claim 1, wherein the aminoalkylsilane is surface-treated in an amount of 0.05 to 5 parts by mass per 100 parts by mass of the inorganic filler. 제1항에 있어서, 상기 무기 충전재의 단위 표면적당 카본량이 0.05∼1 ㎎/㎡인 것을 특징으로 하는 수지 조성물.The resin composition according to claim 1, wherein the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler is 0.05 to 1 mg/m 2. 삭제delete 삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서, 수지 조성물을 경화하여 절연층을 형성하고, 그 절연층 표면을 조화 처리한 후의 산술 평균 거칠기가 10∼300 nm이고, 제곱 평균 평방근 거칠기가 20∼500 nm인 것을 특징으로 하는 수지 조성물. The method according to claim 1, wherein the resin composition is cured to form an insulating layer, and the arithmetic mean roughness after roughening the surface of the insulating layer is 10 to 300 nm, and the root mean square roughness is 20 to 500 nm. Resin composition. 제1항에 있어서, 수지 조성물을 경화하여 얻어지는 절연층과, 상기 절연층 표면을 조화 처리하고 도금하여 얻어지는 도체층과의 필 강도가 0.35∼1.5 kgf/cm인 것을 특징으로 하는 수지 조성물.The resin composition according to claim 1, wherein the peel strength between the insulating layer obtained by curing the resin composition and the conductor layer obtained by roughening and plating the surface of the insulating layer is 0.35 to 1.5 kgf/cm. 제1항, 제3항 내지 제9항, 제13항 및 제14항 중 어느 한 항에 있어서, 다층 프린트 배선판의 절연층용 수지 조성물인 것을 특징으로 하는 수지 조성물. The resin composition according to any one of claims 1, 3 to 9, 13 and 14, which is a resin composition for insulating layers of a multilayer printed wiring board. 제1항, 제3항 내지 제9항, 제13항 및 제14항 중 어느 한 항에 있어서, 도금에 의해 도체층을 형성하는 다층 프린트 배선판의 절연층용 수지 조성물인 것을 특징으로 하는 수지 조성물. The resin composition according to any one of claims 1, 3 to 9, 13, and 14, which is a resin composition for insulating layers of a multilayer printed wiring board in which a conductor layer is formed by plating. 제1항, 제3항 내지 제9항, 제13항 및 제14항 중 어느 한 항에 있어서, 다층 프린트 배선판의 빌드업층용 수지 조성물인 것을 특징으로 하는 수지 조성물. The resin composition according to any one of claims 1, 3 to 9, 13, and 14, which is a resin composition for a build-up layer of a multilayer printed wiring board. 제1항, 제3항 내지 제9항, 제13항 및 제14항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 함유하는 것을 특징으로 하는 시트형 적층 재료. A sheet-like laminated material comprising the resin composition according to any one of claims 1, 3 to 9, 13, and 14. 제1항, 제3항 내지 제9항, 제13항 및 제14항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물의 경화물에 의해 절연층이 형성된 다층 프린트 배선판. A multilayer printed wiring board in which an insulating layer is formed by a cured product of the resin composition according to any one of claims 1, 3 to 9, 13, and 14. 제19항에 기재된 다층 프린트 배선판을 이용하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치.A semiconductor device comprising the multilayer printed wiring board according to claim 19.
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