JP2010090237A - Epoxy resin composition - Google Patents

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Shigeo Nakamura
茂雄 中村
Tadahiko Yokota
忠彦 横田
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a resin composition which is suitable for forming an insulating layer of a multilayer printed wiring board or the like, wherein, when the insulating layer obtained by heat-curing the resin composition is formed, the insulating layer has a low thermal expansion, a roughened surface that has low roughness and is uniform can be formed on a surface of the insulating layer, and a conductor layer formed on the roughened surface has excellent adhesiveness. <P>SOLUTION: The resin composition contains: (A) an epoxy resin; (B) a cyanate ester resin; (C) an adduct body of an imidazole compound and the epoxy resin; and (D) a metallic curing catalyst. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、多層プリント配線板等の絶縁層形成に好適な樹脂組成物に関する。   The present invention relates to a resin composition suitable for forming an insulating layer such as a multilayer printed wiring board.

近年、電子機器の小型化、高性能化が進み、多層プリント配線板は、電子部品の実装密度を向上させるため、導体配線の微細化が進んでいる。多層プリント配線板の絶縁層に使用する樹脂組成物としては、例えば、シアネートエステル樹脂を含有する樹脂組成物が誘電特性に優れた絶縁層を形成できることが知られている。例えば、特許文献1には、シアネートエステル樹脂、エポキシ樹脂およびフェノキシ樹脂を含有する多層プリント配線板用の樹脂組成物が開示され、また該樹脂組成物の硬化触媒として有機金属化合物が開示されている。   In recent years, electronic devices have been reduced in size and performance, and in multilayer printed wiring boards, conductor wiring has been miniaturized in order to improve the mounting density of electronic components. As a resin composition used for an insulating layer of a multilayer printed wiring board, for example, it is known that a resin composition containing a cyanate ester resin can form an insulating layer having excellent dielectric properties. For example, Patent Document 1 discloses a resin composition for a multilayer printed wiring board containing a cyanate ester resin, an epoxy resin, and a phenoxy resin, and discloses an organometallic compound as a curing catalyst for the resin composition. .

絶縁層上に高密度の微細配線を形成する方法としては、絶縁層表面を粗化処理後、無電解めっきで導体層を形成するアディティブ法や、無電解めっきと電解めっきで導体層を形成するセミアディティブ法などが知られている。これらの工法においては、一般に、アルカリ性過マンガン酸溶液等の酸化剤による湿式粗化を経て、絶縁層表面に粗化面を形成させ、該粗化面にめっきにより導体層を形成する。この湿式粗化工程は、絶縁層表面に比較的大きな物理アンカーを形成することで、その上に形成される導体層との密着強度を確保するプロセスである。しかしながら、近年さらに高密度微細配線の形成が望まれており、絶縁層表面の粗度を低く抑え(粗度が大きいと、そのアンカーに潜り込んだめっき部がエッチングで除去されず、高密度配線形成が困難である上、その後の絶縁信頼性を著しく悪化させる)、なおかつ十分な導体層との密着強度を得ることが重要な課題となっている。また配線が高密度化された多層プリント配線板では、銅配線と絶縁層との熱膨張率の違いによるクラック発生等の問題が生じやすくなるため、絶縁層の熱膨張率を低く抑えることも要求される。   As a method for forming a high-density fine wiring on the insulating layer, an additive method in which a conductive layer is formed by electroless plating after the surface of the insulating layer is roughened, or a conductive layer is formed by electroless plating and electrolytic plating. The semi-additive method is known. In these methods, generally, a roughened surface is formed on the surface of the insulating layer through wet roughening with an oxidizing agent such as an alkaline permanganate solution, and a conductor layer is formed on the roughened surface by plating. This wet roughening step is a process of ensuring adhesion strength with a conductor layer formed thereon by forming a relatively large physical anchor on the surface of the insulating layer. However, in recent years, the formation of high-density fine wiring has been desired, and the roughness of the insulating layer surface is kept low (if the roughness is large, the plated portion that has entered the anchor is not removed by etching, and high-density wiring is formed. However, it is important to obtain a sufficient adhesion strength with the conductor layer. In addition, multilayer printed wiring boards with high-density wiring tend to cause problems such as cracking due to the difference in thermal expansion coefficient between copper wiring and insulating layer, so it is also necessary to keep the thermal expansion coefficient of insulating layer low. Is done.

熱膨張率が低く、絶縁層表面が低粗度でありながら高ピール強度の導体層を形成可能な樹脂組成物としては、特許文献2に特定のナフトール型エポキシ樹脂を配合したエポキシ樹脂組成物が開示されている。   As a resin composition having a low coefficient of thermal expansion and a low roughness of the insulating layer surface and capable of forming a conductor layer having a high peel strength, an epoxy resin composition containing a specific naphthol type epoxy resin in Patent Document 2 is used. It is disclosed.

国際公開2003/099952号パンフレットInternational Publication 2003/099952 Pamphlet 国際公開2008/044766号パンフレットInternational Publication No. 2008/044766 Pamphlet

一方、本発明者らの知見によれば、特許文献2に開示されているような、エポキシ樹脂、シアネートエステル樹脂、金属系硬化触媒を含む組成物を絶縁層形成に使用した場合、内層回路基板上に絶縁層を形成し、絶縁層表面を粗化処理すると、内装回路基板表面の回路導体層上に形成されている絶縁層表面と下地絶縁層上に形成されている絶縁層表面では、導体層上の絶縁層の表面粗度がより大きくなる傾向にあり、絶縁層表面全体の粗度の均一性が低下する現象が見出された。このように絶縁層表面の粗度の均一性が低いと、該表面に形成される導体層のピール強度にも大きな差が生じるため、高密度微細配線の形成に不利となる。   On the other hand, according to the knowledge of the present inventors, when a composition containing an epoxy resin, a cyanate ester resin and a metal-based curing catalyst as disclosed in Patent Document 2 is used for forming an insulating layer, an inner layer circuit board When an insulating layer is formed on the surface and the surface of the insulating layer is roughened, a conductor is formed on the surface of the insulating layer formed on the circuit conductor layer on the surface of the internal circuit board and the surface of the insulating layer formed on the base insulating layer. It has been found that the surface roughness of the insulating layer on the layer tends to be larger, and the uniformity of the roughness of the entire surface of the insulating layer is reduced. Thus, when the uniformity of the roughness of the surface of the insulating layer is low, a large difference also occurs in the peel strength of the conductor layer formed on the surface, which is disadvantageous for the formation of high-density fine wiring.

従って、本発明は、多層プリント配線板等の絶縁層形成に好適な樹脂組成物であって、該樹脂組成物を熱硬化して得られる絶縁層を形成した場合に、該絶縁層が低熱膨張率であり、絶縁層表面に低粗度で均一な粗化面を形成でき、該粗化面に形成される導体層の密着性に優れる樹脂組成物を提供することを目的とする。   Accordingly, the present invention provides a resin composition suitable for forming an insulating layer such as a multilayer printed wiring board, and when the insulating layer obtained by thermosetting the resin composition is formed, the insulating layer has a low thermal expansion. An object of the present invention is to provide a resin composition that can form a uniform roughened surface with a low roughness on the surface of the insulating layer, and that is excellent in the adhesion of the conductor layer formed on the roughened surface.

本発明者らは、上記課題を解決すべく鋭意検討した結果、エポキシ樹脂、シアネートエステル樹脂、グアニジン化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体及び金属系硬化触媒を含有する樹脂組成物により形成される絶縁層が、低熱膨張率であり、絶縁層表面の粗化において、均一な粗化面が形成され、低粗度においても絶縁層と導体層の高い密着性を維持できる樹脂組成物となることを見出し、本発明を完成するに至った。すなわち本発明は以下の内容を含むものである。   As a result of intensive studies to solve the above-mentioned problems, the present inventors have found that an insulating layer formed of an epoxy resin, a cyanate ester resin, an adduct of a guanidine compound and an epoxy resin, and a resin composition containing a metal curing catalyst. However, it has been found that the resin composition has a low coefficient of thermal expansion, a uniform roughened surface is formed in roughening the surface of the insulating layer, and high adhesion between the insulating layer and the conductor layer can be maintained even at low roughness. The present invention has been completed. That is, the present invention includes the following contents.

[1](A)エポキシ樹脂、(B)シアネートエステル樹脂、(C)グアニジン化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体及び(D)金属系硬化触媒、を含有することを特徴とする樹脂組成物。
[2]樹脂組成物の不揮発分を100質量%とした場合、成分(A)の含有量が5〜60質量%%、成分(B)の含有量が5〜50質量、成分(C)のグアニジン化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体の含有量が0.1〜5質量%、及び(D)金属系硬化触媒に基づく金属の含有量が25〜500ppmであり、シアネートエステル基とエポキシ基との比率が1:0.4〜1:2である、上記[1]記載のエポキシ樹脂組成物。
[3]金属系硬化触媒が、コバルト 、銅、亜鉛、鉄、ニッケル、マンガンおよびスズから選択される1種以上の金属の、有機金属錯体又は有機金属塩である上記[1]又は[2]記載の樹脂組成物。
[4]グアニジン化合物がジシアンジアミドである上記[1]〜[3]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[5]さらにポリビニルアセタール樹脂、フェノキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、ポリエステル樹脂から選択される1種以上の高分子樹脂を含有する、上記[1]〜[4]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[6]高分子樹脂の含有量が、樹脂組成物(不揮発分100質量%)に対し1〜20質量%である、上記[5]記載の樹脂組成物。
[7]さらに無機充填材を含有する、上記[1]〜[6]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[8]無機充填材の含有量が、樹脂組成物(不揮発分100質量%)に対し、10〜70質量%である、上記[7]記載の樹脂組成物。
[9]無機充填材がシリカである、上記[7]又は[8]記載の樹脂組成物。
[10]上記[1]〜[9]のいずれかに記載の樹脂組成物が支持体上に層形成されてなる接着フィルム。
[11]上記[1]〜[9]のいずれかに記載の樹脂組成物が繊維からなるシート状補強基材中に含浸されてなるプリプレグ。
[12]上記[1]〜[9]のいずれかに記載の樹脂組成物の硬化物により絶縁層が形成されてなる多層プリント配線板。
[1] A resin composition comprising (A) an epoxy resin, (B) a cyanate ester resin, (C) an adduct of a guanidine compound and an epoxy resin, and (D) a metal-based curing catalyst.
[2] When the nonvolatile content of the resin composition is 100% by mass, the content of the component (A) is 5 to 60% by mass, the content of the component (B) is 5 to 50% by mass, and the component (C) The content of the adduct of the guanidine compound and the epoxy resin is 0.1 to 5% by mass, and the metal content based on the metal-based curing catalyst (D) is 25 to 500 ppm, and the cyanate ester group and the epoxy group The epoxy resin composition according to the above [1], wherein the ratio is 1: 0.4 to 1: 2.
[3] The above [1] or [2], wherein the metal-based curing catalyst is an organometallic complex or an organometallic salt of one or more metals selected from cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese, and tin. The resin composition as described.
[4] The resin composition according to any one of [1] to [3], wherein the guanidine compound is dicyandiamide.
[5] Further selected from polyvinyl acetal resin, phenoxy resin, polyimide resin, polyamideimide resin, polyetherimide resin, polysulfone resin, polyethersulfone resin, polyphenylene ether resin, polycarbonate resin, polyetheretherketone resin, polyester resin Resin composition in any one of said [1]-[4] containing 1 or more types of polymer resin.
[6] The resin composition according to the above [5], wherein the content of the polymer resin is 1 to 20% by mass with respect to the resin composition (nonvolatile content: 100% by mass).
[7] The resin composition according to any one of [1] to [6], further including an inorganic filler.
[8] The resin composition according to the above [7], wherein the content of the inorganic filler is 10 to 70% by mass with respect to the resin composition (nonvolatile content: 100% by mass).
[9] The resin composition according to the above [7] or [8], wherein the inorganic filler is silica.
[10] An adhesive film in which the resin composition according to any one of [1] to [9] is layered on a support.
[11] A prepreg obtained by impregnating the resin composition according to any one of [1] to [9] into a sheet-like reinforcing base material made of fibers.
[12] A multilayer printed wiring board in which an insulating layer is formed from a cured product of the resin composition according to any one of [1] to [9].

本発明によれば、多層プリント配線板の絶縁層形成に好適な樹脂組成物であって、樹脂組成物により形成される絶縁層が、低熱膨張率であり、均一な粗化面が形成でき、低粗度においても絶縁層と導体層の高い密着性を維持できる樹脂組成物が提供される。   According to the present invention, a resin composition suitable for forming an insulating layer of a multilayer printed wiring board, the insulating layer formed of the resin composition has a low coefficient of thermal expansion, and a uniform roughened surface can be formed. Provided is a resin composition capable of maintaining high adhesion between an insulating layer and a conductor layer even at low roughness.

本発明において使用されるエポキシ樹脂はとしては、特に限定されるものではなく、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、アルキルフェノールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、アラルキル型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、フェノール類とフェノール性ヒドロキシル基を有する芳香族アルデヒドとの縮合物のエポキシ化物、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、フルオレン型エポキシ樹脂、キサンテン型エポキシ樹脂、トリグリシジルイソシアヌレート等を挙げることができる。エポキシ樹脂は2種以上を組み合わせて使用してもよい。エポキシ樹脂としては、耐熱性、絶縁信頼性、金属膜との密着性の観点から、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂が好ましい。エポキシ樹脂としては、特に下記一般式(1)で表されるナフトール型エポキシ樹脂が好ましい。   The epoxy resin used in the present invention is not particularly limited. For example, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, alkylphenol novolac type epoxy Resin, biphenyl type epoxy resin, aralkyl type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, epoxidized product of phenol and aromatic aldehyde having phenolic hydroxyl group, biphenyl Examples thereof include aralkyl type epoxy resins, fluorene type epoxy resins, xanthene type epoxy resins, triglycidyl isocyanurate and the like. Two or more epoxy resins may be used in combination. Epoxy resins include bisphenol A type epoxy resins, naphthol type epoxy resins, naphthalene type epoxy resins, biphenyl type epoxy resins, and epoxy resins having a butadiene structure from the viewpoint of heat resistance, insulation reliability, and adhesion to metal films. preferable. As the epoxy resin, a naphthol type epoxy resin represented by the following general formula (1) is particularly preferable.

Figure 2010090237
Figure 2010090237

(nは平均値として1〜6の数を示し、Xはグリシジル基又は炭素数1〜8の炭化水素基を示し、炭化水素基/グリシジル基の比率は0.05〜2.0である。)
エポキシ樹脂中の平均値としての炭化水素基とグリシジル基の比率は、炭化水素基/グリシジル基=0.05〜2.0の範囲であり、好ましくは0.1〜1.0の範囲である。Xが炭素数1〜8の炭化水素基を示す場合の炭化水素基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、アリル基、プロパルギル基、ブチル基、n−ペンチル基、sec−ペンチル基、tert−ペンチル基、シクロヘキシル基、フェニル基、ベンジル基等が挙げられ、特にメチル基が好ましい。式(1)で表されるナフトールエポキシ樹脂は特開2006−160868記載の公知の樹脂であり、該公報記載の製法に従って製造することができる。
(N shows the number of 1-6 as an average value, X shows a glycidyl group or a C1-C8 hydrocarbon group, and the ratio of a hydrocarbon group / glycidyl group is 0.05-2.0. )
The ratio of the hydrocarbon group and glycidyl group as an average value in the epoxy resin is in the range of hydrocarbon group / glycidyl group = 0.05 to 2.0, preferably in the range of 0.1 to 1.0. . Examples of the hydrocarbon group when X represents a hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms include methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, allyl group, propargyl group, butyl group, n-pentyl group, sec -Pentyl group, tert-pentyl group, cyclohexyl group, phenyl group, benzyl group and the like can be mentioned, and a methyl group is particularly preferable. The naphthol epoxy resin represented by the formula (1) is a known resin described in JP-A-2006-160868, and can be produced according to the production method described in the publication.

市販されているエポキシ樹脂としては、例えば、ジャパンエポキシレジン(株)製「jER828EL」(液状ビスフェノールA型エポキシ樹脂)、大日本インキ化学工業(株)製「HP4032」、「HP4032D](ナフタレン型2官能エポキシ樹脂)、大日本インキ化学工業(株)製「HP4700」(ナフタレン型4官能エポキシ樹脂)、東都化成(株)製「ESN−475V」(ナフトール型エポキシ樹脂)、ダイセル化学工業(株)製「PB−3600」(ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂)、日本化薬(株)製「NC3000H」、「NC3000L」(ビフェニル型エポキシ樹脂)、ジャパンエポキシレジン(株)製「YX4000」(ビフェニル型エポキシ樹脂)、ジャパンエポキシレジン(株)製「YX8800」(アントラセン骨格含有型エポキシ樹脂)、新日鐵化学(株)製「ESN−475V」(一般式(1)で表されるナフトール型エポキシ樹脂)などが挙げられる。   Examples of commercially available epoxy resins include “jER828EL” (liquid bisphenol A type epoxy resin) manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., “HP4032”, “HP4032D” (Naphthalene type 2) manufactured by Dainippon Ink & Chemicals, Inc. Functional epoxy resin), "HP4700" (naphthalene type tetrafunctional epoxy resin) manufactured by Dainippon Ink & Chemicals, Ltd., "ESN-475V" (naphthol type epoxy resin) manufactured by Toto Kasei Co., Ltd., Daicel Chemical Industries, Ltd. “PB-3600” (epoxy resin having a butadiene structure) manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., “NC3000H”, “NC3000L” (biphenyl type epoxy resin), “YX4000” (biphenyl type epoxy) manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd. Resin), "YX8800" manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd. (Anthracene skeleton-containing epoxy resin), (naphthol type epoxy resin represented by the general formula (1)) by Nippon Steel Chemical Co., Ltd. "ESN-475V", and the like.

樹脂組成物中のエポキシ樹脂の含有量は、特に限定されるものではないが、樹脂組成物(不揮発分100質量%)に対し、好ましくは5〜60質量%であり、より好ましくは10〜50質量%である。エポキシ樹脂の含有量が少なすぎると、粗化ムラが発生しやすくなる傾向にあるし、エポキシ樹脂の含有量が多すぎると、相対的にシアネートエステル樹脂の含有量が減少するため、熱膨張率が増大する傾向にある。   Although content of the epoxy resin in a resin composition is not specifically limited, Preferably it is 5-60 mass% with respect to a resin composition (nonvolatile content 100 mass%), More preferably, 10-50 % By mass. If the epoxy resin content is too small, roughening unevenness tends to occur, and if the epoxy resin content is too large, the cyanate ester resin content is relatively reduced, so the coefficient of thermal expansion. Tend to increase.

本発明において使用されるシアネートエステル樹脂は、特に限定されるものではなく、例えば、ノボラック型(フェノールノボラック型、アルキルフェノールノボラック型など)シアネートエステル樹脂、ビスフェノール型(ビスフェノールA型、ビスフェノールF型、ビスフェノールS型など)シアネートエステル樹脂およびこれらが一部トリアジン化したプレポリマーなどが挙げられる。シアネートエステル樹脂の重量平均分子量は、特に限定されるものではないが、好ましくは500〜4500であり、より好ましくは600〜3000である。   The cyanate ester resin used in the present invention is not particularly limited, and examples thereof include novolak type (phenol novolak type, alkylphenol novolak type, etc.) cyanate ester resin, bisphenol type (bisphenol A type, bisphenol F type, bisphenol S). Examples thereof include cyanate ester resins and prepolymers in which these are partially triazine. Although the weight average molecular weight of cyanate ester resin is not specifically limited, Preferably it is 500-4500, More preferably, it is 600-3000.

シアネートエステル樹脂の具体例としては、例えば、ビスフェノールAジシアネート、ポリフェノールシアネート(オリゴ(3−メチレン−1,5−フェニレンシアネート)、4,4’−メチレンビス(2,6−ジメチルフェニルシアネート)、4,4’−エチリデンジフェニルジシアネート、ヘキサフルオロビスフェノールAジシアネート、2,2−ビス(4−シアネート)フェニルプロパン、1,1−ビス(4−シアネートフェニルメタン)、ビス(4−シアネート−3,5−ジメチルフェニル)メタン、1,3−ビス(4−シアネートフェニル−1−(メチルエチリデン))ベンゼン、ビス(4−シアネートフェニル)チオエーテル、ビス(4−シアネートフェニル)エーテル等の2官能シアネート樹脂、フェノールノボラック、クレゾールノボラック、ジシクロペンタジエン構造含有フェノール樹脂等から誘導される多官能シアネート樹脂、これらシアネート樹脂が一部トリアジン化したプレポリマーなどが挙げられる。シアネートエステル樹脂は2種以上を組み合わせて使用してもよい。   Specific examples of the cyanate ester resin include, for example, bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate (oligo (3-methylene-1,5-phenylene cyanate), 4,4′-methylenebis (2,6-dimethylphenyl cyanate), 4, 4'-ethylidenediphenyl dicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis (4-cyanate) phenylpropane, 1,1-bis (4-cyanatephenylmethane), bis (4-cyanate-3,5- Bifunctional cyanate resins such as dimethylphenyl) methane, 1,3-bis (4-cyanatephenyl-1- (methylethylidene)) benzene, bis (4-cyanatephenyl) thioether, bis (4-cyanatephenyl) ether, phenol Novolac, cle Examples thereof include polyfunctional cyanate resins derived from urenovolak, dicyclopentadiene structure-containing phenol resins, etc., prepolymers in which these cyanate resins are partially triazines, etc. Cyanate ester resins may be used in combination of two or more. .

市販されているシアネートエステル樹脂としては、下式(2)で表されるフェノールノボラック型多官能シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン(株)製、PT30、シアネート当量124)、下式(3)で表されるビスフェノールAジシアネートの一部または全部がトリアジン化され三量体となったプレポリマー(ロンザジャパン(株)製、BA230、シアネート当量232)、ジシクロペンタジエン構造含有シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン(株)製、DT−7000)等が挙げられる。   As a commercially available cyanate ester resin, a phenol novolak type polyfunctional cyanate ester resin represented by the following formula (2) (manufactured by Lonza Japan Co., Ltd., PT30, cyanate equivalent 124), represented by the following formula (3): Bisphenol A dicyanate, part or all of which is a tripolymerized prepolymer (Lonza Japan KK, BA230, cyanate equivalent 232), dicyclopentadiene structure-containing cyanate ester resin (Lonza Japan KK) Manufactured, DT-7000) and the like.

Figure 2010090237
Figure 2010090237

Figure 2010090237
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樹脂組成物中のシアネートエステル樹脂の含有量は、特に限定されるものではないが、樹脂組成物(不揮発分100質量%)に対し、好ましくは5〜50質量%であり、より好ましくは20〜40質量%である。シアネートエステル樹脂の含有量が少なすぎると、耐熱性が低下する傾向、熱膨張率が増加する傾向にある。シアネートエステル樹脂の含有量が多すぎると、めっき導体層の密着強度が低下する傾向にある。   Although content of the cyanate ester resin in a resin composition is not specifically limited, Preferably it is 5-50 mass% with respect to a resin composition (nonvolatile content 100 mass%), More preferably, 20- 40% by mass. When there is too little content of cyanate ester resin, it exists in the tendency for heat resistance to fall and for a coefficient of thermal expansion to increase. When there is too much content of cyanate ester resin, it exists in the tendency for the adhesive strength of a plating conductor layer to fall.

シアネートエステル樹脂のシアネート当量と、エポキシ樹脂のエポキシ当量との比は、好ましくは1:0.4〜1:2であり、より好ましくは1:0.5〜1:1.5である。当量比が上記範囲外であると、絶縁層表面の低粗度化とめっき導体層の密着強度との両立が困難となる傾向にある。   The ratio of the cyanate equivalent of the cyanate ester resin to the epoxy equivalent of the epoxy resin is preferably 1: 0.4 to 1: 2, more preferably 1: 0.5 to 1: 1.5. If the equivalent ratio is out of the above range, it tends to be difficult to achieve both low roughness of the insulating layer surface and adhesion strength of the plated conductor layer.

本発明において使用されるグアニジン化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体は、アミン化合物とエポキシ樹脂のアダクト体として公知化合物であり、例えば 特開平6−65356号公報等に記載されているように、グアニジン化合物とエポキシ樹脂とを加熱反応させて得ることができる。本発明におけるグアニジン化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体は、金属系硬化触媒と同様、硬化触媒乃至硬化促進剤として機能する。原料となるグアニジン化合物としては、ジシアンジアミド、1−メチルグアニジン、1−エチルグアニジン、1−シクロヘキシルグアニジン、1−フェニルグアニジン、1−(o−トリル)グアニジン、ジメチルグアニジン、ジフェニルグアニジン、トリメチルグアニジン、テトラメチルグアニジン、ペンタメチルグアニジン、1,5,7−トリアザビシクロ[4.4.0]デカ−5−エン、7−メチル−1,5,7−トリアザビシクロ[4.4.0]デカ−5−エン、1−メチルビグアニド、1−エチルビグアニド、1−n−ブチルビグアニド、1−n−オクタデシルビグアニド、1,1−ジメチルビグアニド、1,1−ジエチルビグアニド、1−シクロヘキシルビグアニド、1−アリルビグアニド、1−フェニルビグアニド、1−(o−トリル)ビグアニド等が挙げられる。好ましいグアニジン化合物としては、ジシアンジアミド、1−(o−トリル)ビグアニド等が挙げられ、特にジシアンジアミドが好ましい。市販されているグアニジン化合物としては、ジャパンエポキシレジン(株)製「jERキュアDICY−7」(ジシアンジアミド)、大内新興化学工業(株)製「ノクセラーBG」(1−(o−トリル)ビグアニド)などが挙げられる。原料となるエポキシ樹脂としては上記記載のエポキシ樹脂やフェニルグリシジルエーテルなどが挙げられる。グアニジン化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体は2種以上を組み合わせて使用してもよい。   The adduct of a guanidine compound and an epoxy resin used in the present invention is a known compound as an adduct of an amine compound and an epoxy resin. For example, as described in JP-A-6-65356, a guanidine compound And an epoxy resin can be obtained by heating reaction. The adduct body of the guanidine compound and the epoxy resin in the present invention functions as a curing catalyst or a curing accelerator, like the metal-based curing catalyst. Examples of the starting guanidine compound include dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, 1- (o-tolyl) guanidine, dimethylguanidine, diphenylguanidine, trimethylguanidine, and tetramethyl. Guanidine, pentamethylguanidine, 1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] dec-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] deca 5-ene, 1-methyl biguanide, 1-ethyl biguanide, 1-n-butyl biguanide, 1-n-octadecyl biguanide, 1,1-dimethyl biguanide, 1,1-diethyl biguanide, 1-cyclohexyl biguanide, 1-allyl Biguanide, 1-phenylbiguanide, 1- (o- Lil) biguanides, and the like. Preferred guanidine compounds include dicyandiamide, 1- (o-tolyl) biguanide and the like, and dicyandiamide is particularly preferable. As commercially available guanidine compounds, “JER Cure DICY-7” (Dicyandiamide) manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., “Noxeller BG” (1- (o-tolyl) biguanide) manufactured by Ouchi Shinsei Chemical Industry Co., Ltd. Etc. Examples of the epoxy resin used as a raw material include the epoxy resins described above and phenyl glycidyl ether. Two or more adducts of a guanidine compound and an epoxy resin may be used in combination.

グアニジン化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体の含有量は、樹脂組成物(不揮発分100質量%)に対し0.1〜5質量%、より好ましくは、0.2〜2質量%の範囲であるのが好ましい。0.1質量%未満であると、絶縁層表面の粗化の均一性が低下する傾向にあり、5質量%を超えると硬化物の熱膨張率が大きくなる傾向となる。   The content of the adduct body of the guanidine compound and the epoxy resin is 0.1 to 5% by mass, more preferably 0.2 to 2% by mass with respect to the resin composition (nonvolatile content 100% by mass). Is preferred. When the content is less than 0.1% by mass, the uniformity of the roughening of the surface of the insulating layer tends to be reduced.

本発明において使用される金属系硬化触媒としては、コバルト 、銅、亜鉛、鉄、ニッケル、マンガン、スズ等の金属の、有機金属錯体又は有機金属塩が挙げられる。有機金属錯体の具体例としては、コバルト(II)アセチルアセトナート、コバルト(III)アセチルアセトナート等の有機コバルト錯体、銅(II)アセチルアセトナート等の有機銅錯体、亜鉛(II)アセチルアセトナート等の有機亜鉛錯体、鉄(III)アセチルアセトナート等の有機鉄錯体、ニッケル(II)アセチルアセトナート等の有機ニッケル錯体、マンガン(II)アセチルアセトナート等の有機マンガン錯体などが挙げられる。有機金属塩としては、オクチル酸亜鉛、オクチル酸錫、ナフテン酸亜鉛、ナフテン酸コバルト、ステアリン酸スズ、ステアリン酸亜鉛などが挙げられる。金属系硬化触媒としては、硬化性、溶剤溶解性の観点から、コバルト(II)アセチルアセトナート、コバルト(III)アセチルアセトナート、亜鉛(II)アセチルアセトナート、ナフテン酸亜鉛、鉄(III)アセチルアセトナートが好ましく、特にコバルト(II)アセチルアセトナート、ナフテン酸亜鉛が好ましい。金属系硬化触媒は2種以上を組み合わせて使用してもよい。   Examples of the metal-based curing catalyst used in the present invention include organometallic complexes or organometallic salts of metals such as cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese and tin. Specific examples of the organometallic complex include organic cobalt complexes such as cobalt (II) acetylacetonate and cobalt (III) acetylacetonate, organic copper complexes such as copper (II) acetylacetonate, and zinc (II) acetylacetonate. Organic zinc complexes such as iron (III) acetylacetonate, organic nickel complexes such as nickel (II) acetylacetonate, and organic manganese complexes such as manganese (II) acetylacetonate. Examples of the organic metal salt include zinc octylate, tin octylate, zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin stearate, and zinc stearate. As metal-based curing catalysts, from the viewpoint of curability and solvent solubility, cobalt (II) acetylacetonate, cobalt (III) acetylacetonate, zinc (II) acetylacetonate, zinc naphthenate, iron (III) acetyl Acetonate is preferable, and cobalt (II) acetylacetonate and zinc naphthenate are particularly preferable. Two or more metal-based curing catalysts may be used in combination.

金属系硬化触媒の添加量は、樹脂組成物(不揮発分100質量%)に対し、金属系硬化触媒に基づく金属の含有量が25〜500ppm、より好ましくは40〜200ppmとなる範囲で添加するのが好ましい。25ppm未満であると、低粗度の絶縁層表面への密着性に優れる導体層の形成が困難となる傾向にあり、500ppmを超えると、樹脂組成物の保存安定性、絶縁性が低下する傾向となる。   The addition amount of the metal-based curing catalyst is such that the metal content based on the metal-based curing catalyst is 25 to 500 ppm, more preferably 40 to 200 ppm with respect to the resin composition (non-volatile content 100% by mass). Is preferred. If it is less than 25 ppm, it tends to be difficult to form a conductor layer having excellent adhesion to the surface of the low-roughness insulating layer, and if it exceeds 500 ppm, the storage stability and insulation of the resin composition tend to decrease. It becomes.

本発明の樹脂組成物は、さらに特定の高分子化合物を含有させることで、硬化物の機械強度や接着フィルムの形態で使用する場合のフィルム成型能を向上させることが可能である。このような高分子化合物としては、ポリビニルアセタール樹脂、フェノキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、ポリエステル樹脂を挙げることができる。高分子化合物は2種以上を組み合わせて使用してもよい。高分子化合物としては、特にポリビニルアセタール樹脂、フェノキシ樹脂が好ましい。   The resin composition of the present invention can further improve the film molding ability when used in the form of a mechanical strength of the cured product or an adhesive film by further containing a specific polymer compound. Examples of such a polymer compound include polyvinyl acetal resin, phenoxy resin, polyimide resin, polyamideimide resin, polyetherimide resin, polysulfone resin, polyethersulfone resin, polyphenylene ether resin, polycarbonate resin, polyetheretherketone resin, polyester. Resins can be mentioned. Two or more polymer compounds may be used in combination. As the polymer compound, polyvinyl acetal resin and phenoxy resin are particularly preferable.

ポリビニルアセタール樹脂としては、特にポリビニルブチラール樹脂が好ましい。ポリビニルアセタール樹脂の具体例としては、電気化学工業(株)製、電化ブチラール4000−2、5000−A、6000−C、6000−EP、積水化学工業(株)製エスレックBHシリーズ、BXシリーズ、KSシリーズ、BLシリーズ、BMシリーズ等が挙げられる。フェノキシ樹脂の具体例としては東都化成(株)製FX280、FX293、ジャパンエポキシレジン(株)製YX8100、YX6954、YL6974、YL7482、YL7553、YL6794、YL7213、YL7290等が挙げられる。ポリビニルアセタール樹脂はガラス転移温度が80℃以上のものが特に好ましい。ここでいう「ガラス転移温度」はJIS K 7197に記載の方法に従って決定される。なお、ガラス転移温度が分解温度よりも高く、実際にはガラス転移温度が観測されない場合には、分解温度を本発明におけるガラス転移温度とみなすことができる。なお、分解温度とは、JIS K 7120に記載の方法に従って測定したときの質量減少率が5%となる温度で定義される。   As the polyvinyl acetal resin, a polyvinyl butyral resin is particularly preferable. Specific examples of the polyvinyl acetal resin include those manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd., electrified butyral 4000-2, 5000-A, 6000-C, 6000-EP, and Sekisui Chemical Co., Ltd., ESREC BH series, BX series, and KS. Series, BL series, BM series and the like. Specific examples of the phenoxy resin include FX280 and FX293 manufactured by Toto Kasei Co., Ltd., YX8100, YX6954, YL6974, YL7482, YL7553, YL6794, YL7213, YL7290, and the like manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd. The polyvinyl acetal resin having a glass transition temperature of 80 ° C. or higher is particularly preferable. The “glass transition temperature” here is determined according to the method described in JIS K7197. When the glass transition temperature is higher than the decomposition temperature and the glass transition temperature is not actually observed, the decomposition temperature can be regarded as the glass transition temperature in the present invention. The decomposition temperature is defined as the temperature at which the mass reduction rate is 5% when measured according to the method described in JIS K 7120.

高分子化合物の重量平均分子量は5000〜200000の範囲であるのが好ましい。この範囲よりも小さいとフィルム成型能や機械強度向上の効果が十分発揮されない傾向にあり、この範囲よりも大きいとシアネートエステル樹脂及びエポキシ樹脂との相溶性が低下し、絶縁層表面の粗化処理後の粗度が増大する傾向にある。   The weight average molecular weight of the polymer compound is preferably in the range of 5,000 to 200,000. If it is smaller than this range, the effect of improving the film forming ability and mechanical strength tends to be insufficient. If it is larger than this range, the compatibility with the cyanate ester resin and the epoxy resin is lowered, and the surface of the insulating layer is roughened. Later roughness tends to increase.

なお本発明における重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法(ポリスチレンン換算)で測定される。GPC法による重量平均分子量は、具体的には、測定装置として(株)島津製作所製LC−9A/RID−6Aを、カラムとして昭和電工(株)社製Shodex K−800P/K−804L/K−804Lを、移動相としてクロロホルム等を用いて、カラム温度40℃にて測定し、標準ポリスチレンの検量線を用いて算出することができる。   In addition, the weight average molecular weight in this invention is measured by the gel permeation chromatography (GPC) method (polystyrene conversion). Specifically, the weight average molecular weight by the GPC method is LC-9A / RID-6A manufactured by Shimadzu Corporation as a measuring device, and Shodex K-800P / K-804L / K manufactured by Showa Denko KK as a column. -804L can be measured at a column temperature of 40 ° C. using chloroform or the like as a mobile phase, and can be calculated using a standard polystyrene calibration curve.

樹脂組成物中の高分子化合物の含有量は、特に限定されるものではないが、樹脂組成物(不揮発分100質量%)に対し、好ましくは1〜20質量%であり、より好ましくは2〜15質量%である。熱可塑性樹脂の含有量が少なすぎるとフィルム成型能や機械強度向上の効果が発揮されにくい傾向にあり、多すぎると粗化工程後の絶縁層表面の粗度が増大する傾向にある。   Although content of the high molecular compound in a resin composition is not specifically limited, Preferably it is 1-20 mass% with respect to a resin composition (nonvolatile content 100 mass%), More preferably, it is 2- 15% by mass. If the content of the thermoplastic resin is too small, the effect of improving the film forming ability and the mechanical strength tends to be hardly exhibited, and if too large, the roughness of the surface of the insulating layer after the roughening process tends to increase.

本発明の樹脂組成物には、当該樹脂組成物から得られる絶縁層の熱膨張率をさらに低下させるために無機充填材を添加してもよい。無機充填材としては、例えば、シリカ、アルミナ、硫酸バリウム、タルク、クレー、雲母粉、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、酸化マグネシウム、窒化ホウ素、ホウ酸アルミニウム、チタン酸バリウム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸マグネシウム、チタン酸ビスマス、酸化チタン、ジルコン酸バリウム、ジルコン酸カルシウムなどが挙げられ、これらの中でも無定形シリカ、溶融シリカ、結晶シリカ、合成シリカ等のシリカが特に好適である。シリカとしては球状のものが好ましい。無機充填材は2種以上を組み合わせて使用してもよい。無機充填材の平均粒径は、特に限定されるものではないが、絶縁層への微細配線形成の観点から好ましくは5μm以下、より好ましくは1μm以下、さらに好ましくは0.7μm以下である。なお、無機充填材の平均粒径が小さくなりすぎると、エポキシ樹脂組成物を樹脂ワニスとした場合に、ワニスの粘度が上昇し、取り扱い性が低下する傾向にあるため、平均粒径は0.05μm以上であるのが好ましい。上記無機充填材の平均粒径はミー(Mie)散乱理論に基づくレーザー回折・散乱法により測定することができる。具体的にはレーザー回折式粒度分布測定装置により、無機充填材の粒度分布を体積基準で作成し、そのメディアン径を平均粒径とすることで測定することができる。測定サンプルは、無機充填材を超音波により水中に分散させたものを好ましく使用することができる。レーザー回折式粒度分布測定装置としては、(株)堀場製作所製 LA−500等を使用することができる。   An inorganic filler may be added to the resin composition of the present invention in order to further reduce the thermal expansion coefficient of the insulating layer obtained from the resin composition. Examples of the inorganic filler include silica, alumina, barium sulfate, talc, clay, mica powder, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum borate, barium titanate, Examples include strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, barium zirconate, and calcium zirconate. Among these, silica such as amorphous silica, fused silica, crystalline silica, and synthetic silica Particularly preferred. The silica is preferably spherical. Two or more inorganic fillers may be used in combination. The average particle diameter of the inorganic filler is not particularly limited, but is preferably 5 μm or less, more preferably 1 μm or less, and even more preferably 0.7 μm or less from the viewpoint of forming fine wiring on the insulating layer. If the average particle size of the inorganic filler is too small, when the epoxy resin composition is used as a resin varnish, the viscosity of the varnish tends to increase and the handleability tends to decrease. It is preferable that it is 05 μm or more. The average particle diameter of the inorganic filler can be measured by a laser diffraction / scattering method based on Mie scattering theory. Specifically, the particle size distribution of the inorganic filler can be created on a volume basis by a laser diffraction particle size distribution measuring device, and the median diameter can be measured as the average particle diameter. As the measurement sample, an inorganic filler dispersed in water by ultrasonic waves can be preferably used. As a laser diffraction type particle size distribution measuring apparatus, LA-500 manufactured by Horiba Ltd. can be used.

無機充填材は、エポキシシランカップリング剤、アミノシランカップリング剤、チタネート系カップリング剤等の表面処理剤で表面処理してその耐湿性を向上させたものが好ましい。無機充填材の添加量は、樹脂組成物(不揮発分100質量%)に対し、通常10〜70質量%、好ましくは20〜55質量%の範囲である。無機充填材の含有量が多すぎると、硬化物が脆くなる傾向や、ピール強度が低下する傾向にある。   The inorganic filler is preferably one that has been surface treated with a surface treatment agent such as an epoxy silane coupling agent, an amino silane coupling agent, or a titanate coupling agent to improve its moisture resistance. The addition amount of the inorganic filler is usually 10 to 70% by mass, preferably 20 to 55% by mass with respect to the resin composition (non-volatile content 100% by mass). When there is too much content of an inorganic filler, it exists in the tendency for hardened | cured material to become weak and for the peel strength to fall.

本発明の樹脂組成物には、メッキ密着性の観点から、ゴム粒子をさらに添加してもよい。本発明において使用され得るゴム粒子は、例えば、当該樹脂組成物のワニスを調製する際に使用する有機溶剤にも溶解せず、必須成分であるシアネートエステル樹脂やエポキシ樹脂などとも相溶しないものである。従って、該ゴム粒子は、本発明の樹脂組成物のワニス中では分散状態で存在する。このようなゴム粒子は、一般には、ゴム成分の分子量を有機溶剤や樹脂に溶解しないレベルまで大きくし、粒子状とすることで調製される。   From the viewpoint of plating adhesion, rubber particles may be further added to the resin composition of the present invention. The rubber particles that can be used in the present invention are, for example, those that do not dissolve in the organic solvent used when preparing the varnish of the resin composition, and are incompatible with the essential components such as cyanate ester resin and epoxy resin. is there. Accordingly, the rubber particles exist in a dispersed state in the varnish of the resin composition of the present invention. Such rubber particles are generally prepared by increasing the molecular weight of the rubber component to a level at which it does not dissolve in an organic solvent or resin and making it into particles.

本発明で使用され得るゴム粒子の好ましい例としては、コアシェル型ゴム粒子、架橋アクリロニトリルブタジエンゴム粒子、架橋スチレンブタジエンゴム粒子、アクリルゴム粒子などが挙げられる。コアシェル型ゴム粒子は、コア層とシェル層とを有するゴム粒子であり、例えば、外層のシェル層がガラス状ポリマーで構成され、内層のコア層がゴム状ポリマーで構成される2層構造、または外層のシェル層がガラス状ポリマーで構成され、中間層がゴム状ポリマーで構成され、コア層がガラス状ポリマーで構成される3層構造のものなどが挙げられる。ガラス層は、例えば、メタクリル酸メチルの重合物などで構成され、ゴム状ポリマー層は、例えば、ブチルアクリレート重合物(ブチルゴム)などで構成される。ゴム粒子は2種以上を組み合わせて使用してもよい。コアシェル型ゴム粒子の具体例としては、スタフィロイドAC3832、AC3816N(商品名、ガンツ化成(株)製)、メタブレンKW−4426(商品名、三菱レイヨン(株)製)が挙げられる。架橋アクリロニトリルブタジエンゴム(NBR)粒子の具体例としては、XER−91(平均粒径0.5μm、JSR(株)製)などが挙げられる。架橋スチレンブタジエンゴム(SBR)粒子の具体例としては、XSK−500(平均粒径0.5μm、JSR(株)製)などが挙げられる。アクリルゴム粒子の具体例としては、メタブレンW300A(平均粒径0.1μm)、W450A(平均粒径0.2μm)(三菱レイヨン(株)製)を挙げることができる。   Preferable examples of rubber particles that can be used in the present invention include core-shell type rubber particles, cross-linked acrylonitrile butadiene rubber particles, cross-linked styrene butadiene rubber particles, and acrylic rubber particles. The core-shell type rubber particles are rubber particles having a core layer and a shell layer. For example, a two-layer structure in which an outer shell layer is formed of a glassy polymer and an inner core layer is formed of a rubbery polymer, or Examples include a three-layer structure in which the outer shell layer is made of a glassy polymer, the intermediate layer is made of a rubbery polymer, and the core layer is made of a glassy polymer. The glass layer is made of, for example, a polymer of methyl methacrylate, and the rubbery polymer layer is made of, for example, a butyl acrylate polymer (butyl rubber). Two or more rubber particles may be used in combination. Specific examples of the core-shell type rubber particles include Staphyloid AC3832, AC3816N (trade name, manufactured by Ganz Kasei Co., Ltd.), and Metabrene KW-4426 (trade name, manufactured by Mitsubishi Rayon Co., Ltd.). Specific examples of the crosslinked acrylonitrile butadiene rubber (NBR) particles include XER-91 (average particle size: 0.5 μm, manufactured by JSR Corporation). Specific examples of the crosslinked styrene butadiene rubber (SBR) particles include XSK-500 (average particle size 0.5 μm, manufactured by JSR Corporation). Specific examples of the acrylic rubber particles include Methbrene W300A (average particle size 0.1 μm) and W450A (average particle size 0.2 μm) (manufactured by Mitsubishi Rayon Co., Ltd.).

配合するゴム粒子の平均粒径は、好ましくは0.005〜1μmの範囲であり、より好ましくは0.2〜0.6μmの範囲である。本発明で使用されるゴム粒子の平均粒径は、動的光散乱法を用いて測定することができる。例えば、適当な有機溶剤にゴム粒子を超音波などにより均一に分散させ、濃厚系粒径アナライザー(FPAR−1000;大塚電子(株)製)を用いて、ゴム粒子の粒度分布を質量基準で作成し、そのメディアン径を平均粒径とすることで測定することができる。   The average particle diameter of the rubber particles to be blended is preferably in the range of 0.005 to 1 μm, more preferably in the range of 0.2 to 0.6 μm. The average particle diameter of the rubber particles used in the present invention can be measured using a dynamic light scattering method. For example, rubber particles are uniformly dispersed in an appropriate organic solvent by ultrasonic waves, etc., and a particle size distribution of rubber particles is created on a mass basis using a concentrated particle size analyzer (FPAR-1000; manufactured by Otsuka Electronics Co., Ltd.). And it can measure by making the median diameter into an average particle diameter.

ゴム粒子の含有量は、樹脂組成物(不揮発分100質量%)に対し、好ましくは1〜10質量%であり、より好ましくは2〜5質量%である。   The content of the rubber particles is preferably 1 to 10% by mass and more preferably 2 to 5% by mass with respect to the resin composition (nonvolatile content 100% by mass).

本発明のエポキシ樹脂組成物は、本発明の効果を損なわない範囲で難燃剤を含有しても良い。難燃剤としては、例えば、有機リン系難燃剤、有機系窒素含有リン化合物、窒素化合物、シリコーン系難燃剤、金属水酸化物等が挙げられる。有機リン系難燃剤としては、三光(株)製のHCA、HCA−HQ、HCA−NQ等のホスフィン化合物、昭和高分子(株)製のHFB−2006M等のリン含有ベンゾオキサジン化合物、味の素ファインテクノ(株)製のレオフォス30、50、65、90、110、TPP、RPD、BAPP、CPD、TCP、TXP、TBP、TOP、KP140、TIBP、北興化学工業(株)製のPPQ、クラリアント(株)製のOP930、大八化学(株)製のPX200等のリン酸エステル化合物、東都化成(株)製のFX289、FX310等のリン含有エポキシ樹脂、東都化成(株)製のERF001等のリン含有フェノキシ樹脂等が挙げられる。有機系窒素含有リン化合物としては、四国化成工業(株)製のSP670、SP703等のリン酸エステルミド化合物、大塚化学(株)社製のSPB100、SPE100、(株)伏見製作所製FP−series等のホスファゼン化合物等が挙げられる。金属水酸化物としては、宇部マテリアルズ(株)製のUD65、UD650、UD653等の水酸化マグネシウム、巴工業(株)社製のB−30、B−325、B−315、B−308、B−303、UFH−20等の水酸化アルミニウム等が挙げられる。   The epoxy resin composition of the present invention may contain a flame retardant as long as the effects of the present invention are not impaired. Examples of the flame retardant include an organic phosphorus flame retardant, an organic nitrogen-containing phosphorus compound, a nitrogen compound, a silicone flame retardant, and a metal hydroxide. Examples of organophosphorus flame retardants include phosphine compounds such as HCA, HCA-HQ, and HCA-NQ manufactured by Sanko Co., Ltd., phosphorus-containing benzoxazine compounds such as HFB-2006M manufactured by Showa Polymer Co., Ltd., and Ajinomoto Fine Techno. Reefos 30, 50, 65, 90, 110, TPP, RPD, BAPP, CPD, TCP, TXP, TBP, TOP, KP140, TIBP, PPQ manufactured by Hokuko Chemical Co., Ltd., Clariant Phosphorus ester compounds such as OP930 manufactured by Daihachi Chemical Co., Ltd., PX200 manufactured by Daihachi Chemical Co., Ltd., phosphorus-containing epoxy resins such as FX289 manufactured by Toto Kasei Co., Ltd., and FX310, and phosphorus-containing phenoxy such as ERF001 manufactured by Toto Kasei Co., Ltd. Examples thereof include resins. Examples of organic nitrogen-containing phosphorus compounds include phosphate ester compounds such as SP670 and SP703 manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd., SPB100 and SPE100 manufactured by Otsuka Chemical Co., Ltd., and FP-series manufactured by Fushimi Seisakusho Co., Ltd. Examples thereof include phosphazene compounds. As the metal hydroxide, magnesium hydroxide such as UD65, UD650, UD653 manufactured by Ube Materials Co., Ltd., B-30, B-325, B-315, B-308 manufactured by Sakai Kogyo Co., Ltd. Examples thereof include aluminum hydroxide such as B-303 and UFH-20.

本発明の樹脂組成物には、本発明の効果を阻害しない範囲で、必要に応じて他の成分を配合することができる。他の成分としては、例えば、シリコンパウダー、ナイロンパウダー、フッ素パウダー等の有機充填剤、オルベン、ベントン等の増粘剤、シリコーン系、フッ素系、高分子系の消泡剤又はレベリング剤、イミダゾール系、チアゾール系、トリアゾール系、シラン系カップリング剤等の密着性付与剤、フタロシアニン・ブルー、フタロシアニン・グリーン、アイオジン・グリーン、ジスアゾイエロー、カーボンブラック等の着色剤等を挙げることができる。   In the resin composition of the present invention, other components can be blended as necessary within a range not inhibiting the effects of the present invention. Other components include, for example, organic fillers such as silicon powder, nylon powder, and fluorine powder, thickeners such as olben and benton, silicone-based, fluorine-based, polymer-based antifoaming agents or leveling agents, and imidazole-based materials. Examples thereof include adhesion imparting agents such as thiazole, triazole, and silane coupling agents, and coloring agents such as phthalocyanine / blue, phthalocyanine / green, iodin / green, disazo yellow, and carbon black.

本発明の樹脂組成物の調製方法は、特に限定されるものではなく、例えば、配合成分を、必要により溶媒等を添加し、回転ミキサーなどを用いて混合する方法などが挙げられる。   The method for preparing the resin composition of the present invention is not particularly limited, and examples thereof include a method in which the components are mixed using a rotary mixer or the like, if necessary, by adding a solvent or the like.

本発明の樹脂組成物は、多層プリント配線板の製造において絶縁層を形成するために好適に使用することができる。本発明の樹脂組成物は、ワニス状態で回路基板に塗布して絶縁層を形成することもできるが、工業的には一般に、接着フィルム、プリプレグ等のシート状積層材料の形態で用いるのが好ましい。樹脂組成物の軟化点は、シート状積層材料のラミネート性の観点から40〜150℃が好ましい。   The resin composition of the present invention can be suitably used for forming an insulating layer in the production of a multilayer printed wiring board. The resin composition of the present invention can be applied to a circuit board in a varnish state to form an insulating layer, but in general, it is preferably used in the form of a sheet-like laminated material such as an adhesive film or a prepreg. . The softening point of the resin composition is preferably 40 to 150 ° C. from the viewpoint of the laminate property of the sheet-like laminated material.

本発明の接着フィルムは、当業者に公知の方法、例えば、有機溶剤に樹脂組成物を溶解した樹脂ワニスを調製し、この樹脂ワニスを、ダイコーターなどを用いて、支持体に塗布し、更に加熱、あるいは熱風吹きつけ等により有機溶剤を乾燥させて樹脂組成物層を形成させることにより製造することができる。   The adhesive film of the present invention is prepared by a method known to those skilled in the art, for example, by preparing a resin varnish in which a resin composition is dissolved in an organic solvent, and applying the resin varnish to a support using a die coater or the like. It can be produced by drying the organic solvent by heating or blowing hot air to form the resin composition layer.

有機溶剤としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、カルビトールアセテート等の酢酸エステル類、セロソルブ、ブチルカルビトール等のカルビトール類、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン等が挙げられる。有機溶剤は2種以上を組みわせて用いてもよい。   Examples of the organic solvent include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone and cyclohexanone, acetates such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate and carbitol acetate, and carbitols such as cellosolve and butyl carbitol. , Aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene, dimethylformamide, dimethylacetamide, N-methylpyrrolidone and the like. Two or more organic solvents may be used in combination.

乾燥条件は特に限定されないが、樹脂組成物層への有機溶剤の含有量が通常10質量%以下、好ましくは5質量%以下となるように乾燥させる。ワニス中の有機溶剤量、有機溶剤の沸点によっても異なるが、例えば30〜60質量%の有機溶剤を含むワニスを50〜150℃で3〜10分程度乾燥させることにより、樹脂組成物層が形成される。当業者であれば、簡単な実験により適宜、好適な乾燥条件を設定することができる。   The drying conditions are not particularly limited, but the drying is performed so that the content of the organic solvent in the resin composition layer is usually 10% by mass or less, preferably 5% by mass or less. Depending on the amount of organic solvent in the varnish and the boiling point of the organic solvent, for example, a resin composition layer is formed by drying a varnish containing 30 to 60% by mass of an organic solvent at 50 to 150 ° C. for about 3 to 10 minutes. Is done. Those skilled in the art can appropriately set suitable drying conditions through simple experiments.

接着フィルムにおいて形成される樹脂組成物層の厚さは、通常、導体層の厚さ以上とする。回路基板が有する導体層の厚さは通常5〜70μmの範囲であるので、樹脂組成物層は10〜100μmの厚さを有するのが好ましい。   The thickness of the resin composition layer formed in the adhesive film is usually not less than the thickness of the conductor layer. Since the thickness of the conductor layer of the circuit board is usually in the range of 5 to 70 μm, the resin composition layer preferably has a thickness of 10 to 100 μm.

支持体としては、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル等のポリオレフィンのフィルム、ポリエチレンテレフタレート(以下「PET」と略称することがある。)、ポリエチレンナフタレート等のポリエステルのフィルム、ポリカーボネートフィルム、ポリイミドフィルムなどの各種プラスチックフィルムが挙げられる。また離型紙や銅箔、アルミニウム箔等の金属箔などを使用してもよい。支持体及び後述する保護フィルムには、マッド処理、コロナ処理等の表面処理が施してあってもよい。また、シリコーン樹脂系離型剤、アルキッド樹脂系離型剤、フッ素樹脂系離型剤等の離型剤で離型処理が施してあってもよい。   Examples of the support include polyolefin films such as polyethylene, polypropylene, and polyvinyl chloride, polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as “PET”), polyester films such as polyethylene naphthalate, polycarbonate films, and polyimide films. Various plastic films are listed. Moreover, you may use release foil, metal foil, such as copper foil and aluminum foil. The support and a protective film described later may be subjected to surface treatment such as mud treatment or corona treatment. The release treatment may be performed with a release agent such as a silicone resin release agent, an alkyd resin release agent, or a fluororesin release agent.

支持体の厚さは特に限定されないが、通常10〜150μmであり、好ましくは25〜50μmである。   Although the thickness of a support body is not specifically limited, Usually, it is 10-150 micrometers, Preferably it is 25-50 micrometers.

樹脂組成物層の支持体が密着していない面には、支持体に準じた保護フィルムをさらに積層することができる。保護フィルムの厚みは、特に限定されるものではないが、例えば、1〜40μmである。保護フィルムを積層することにより、樹脂組成物層の表面へのゴミ等の付着やキズを防止することができる。接着フィルムは、ロール状に巻きとって貯蔵することもできる。   A protective film according to the support can be further laminated on the surface of the resin composition layer on which the support is not in close contact. Although the thickness of a protective film is not specifically limited, For example, it is 1-40 micrometers. By laminating the protective film, it is possible to prevent dust and the like from being attached to the surface of the resin composition layer and scratches. The adhesive film can also be stored in a roll.

次に、上記のようにして製造した接着フィルムを用いて多層プリント配線板を製造する方法の一例を説明する。   Next, an example of a method for producing a multilayer printed wiring board using the adhesive film produced as described above will be described.

まず、接着フィルムを、真空ラミネーターを用いて回路基板の片面または両面にラミネートする。回路基板に用いられる基板としては、例えば、ガラスエポキシ基板、金属基板、ポリエステル基板、ポリイミド基板、BTレジン基板、熱硬化型ポリフェニレンエーテル基板等が挙げられる。なお、ここで回路基板とは、上記のような基板の片面又は両面にパターン加工された導体層(回路)が形成されたものをいう。また導体層と絶縁層とを交互に積層してなる多層プリント配線板において、該多層プリント配線板の最外層の片面又は両面がパターン加工された導体層(回路)となっているものも、ここでいう回路基板に含まれる。なお導体層表面には、黒化処理、銅エッチング等により予め粗化処理が施されていてもよい。   First, an adhesive film is laminated on one side or both sides of a circuit board using a vacuum laminator. Examples of the substrate used for the circuit substrate include a glass epoxy substrate, a metal substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a BT resin substrate, a thermosetting polyphenylene ether substrate, and the like. In addition, a circuit board means here that the conductor layer (circuit) patterned was formed in the one or both surfaces of the above boards. Also, in a multilayer printed wiring board in which conductor layers and insulating layers are alternately laminated, one of the outermost layers of the multilayer printed wiring board is a conductor layer (circuit) in which one or both sides are patterned. It is included in the circuit board. The surface of the conductor layer may be previously roughened by blackening, copper etching, or the like.

上記ラミネートにおいて、接着フィルムが保護フィルムを有している場合には該保護フィルムを除去した後、必要に応じて接着フィルム及び回路基板をプレヒートし、接着フィルムを加圧及び加熱しながら回路基板に圧着する。本発明の接着フィルムにおいては、真空ラミネート法により減圧下で回路基板にラミネートする方法が好適に用いられる。ラミネートの条件は、特に限定されるものではないが、例えば、圧着温度(ラミネート温度)を好ましくは70〜140℃、圧着圧力を好ましくは1〜11kgf/cm(9.8×10〜107.9×10N/m)とし、空気圧20mmHg(26.7hPa)以下の減圧下でラミネートするのが好ましい。また、ラミネートの方法は、バッチ式であってもロールでの連続式であってもよい。 In the above laminate, when the adhesive film has a protective film, after removing the protective film, the adhesive film and the circuit board are preheated as necessary, and the adhesive film is pressed and heated to the circuit board. Crimp. In the adhesive film of the present invention, a method of laminating on a circuit board under reduced pressure by a vacuum laminating method is preferably used. Lamination conditions are not particularly limited. For example, the pressure bonding temperature (laminating temperature) is preferably 70 to 140 ° C., and the pressure bonding pressure is preferably 1 to 11 kgf / cm 2 (9.8 × 10 4 to 107). 9.9 × 10 4 N / m 2 ), and lamination is preferably performed under reduced pressure with an air pressure of 20 mmHg (26.7 hPa) or less. The laminating method may be a batch method or a continuous method using a roll.

真空ラミネートは、市販の真空ラミネーターを使用して行うことができる。市販の真空ラミネーターとしては、例えば、ニチゴー・モートン(株)製バキュームアップリケーター、(株)名機製作所製真空加圧式ラミネーター、(株)日立インダストリイズ製ロール式ドライコータ、日立エーアイーシー(株)製真空ラミネーター等を挙げることができる。   The vacuum lamination can be performed using a commercially available vacuum laminator. Commercially available vacuum laminators include, for example, a vacuum applicator manufactured by Nichigo-Morton Co., Ltd., a vacuum pressurizing laminator manufactured by Meiki Seisakusho, a roll dry coater manufactured by Hitachi Industries, Ltd., and Hitachi AIC Co., Ltd. ) Made vacuum laminator and the like.

接着フィルムを回路基板にラミネートした後、室温付近に冷却してから、支持体を剥離する場合は剥離し、熱硬化することにより回路基板に絶縁層を形成することができる。熱硬化の条件は、樹脂組成物中の樹脂成分の種類、含有量などに応じて適宜選択すればよいが、好ましくは150℃〜220℃で20分〜180分、より好ましくは160℃〜200℃で30〜120分の範囲で選択される。   After laminating the adhesive film on the circuit board, it is cooled to around room temperature, and when the support is peeled off, the insulating film can be formed on the circuit board by peeling and thermosetting. The thermosetting conditions may be appropriately selected according to the type and content of the resin component in the resin composition, but preferably 150 ° C. to 220 ° C. for 20 minutes to 180 minutes, more preferably 160 ° C. to 200 ° C. It is selected in the range of 30 to 120 minutes at ° C.

絶縁層を形成した後、硬化前に支持体を剥離しなかった場合は、ここで剥離する。次いで必要により、回路基板上に形成された絶縁層に穴開けを行ってビアホール、スルーホールを形成する。穴あけは、例えば、ドリル、レーザー、プラズマ等の公知の方法により、また必要によりこれらの方法を組み合わせて行うことができるが、炭酸ガスレーザー、YAGレーザー等のレーザーによる穴あけが最も一般的な方法である。   If the support is not peeled off after the insulating layer is formed, it is peeled off here. Next, if necessary, holes are formed in the insulating layer formed on the circuit board to form via holes and through holes. Drilling can be performed, for example, by a known method such as drilling, laser, or plasma, or by combining these methods as necessary. However, drilling by a laser such as a carbon dioxide gas laser or a YAG laser is the most common method. is there.

次いで、乾式メッキ又は湿式メッキにより絶縁層上に導体層を形成する。乾式メッキとしては、蒸着、スパッタリング、イオンプレーティング等の公知の方法を使用することができる。湿式メッキの場合は、まず、硬化した樹脂組成物層(絶縁層)の表面を、過マンガン酸塩(過マンガン酸カリウム、過マンガン酸ナトリウム等)、重クロム酸塩、オゾン、過酸化水素/硫酸、硝酸等の酸化剤で粗化処理し、凸凹のアンカーを形成する。酸化剤としては、特に過マンガン酸カリウム、過マンガン酸ナトリウム等の水酸化ナトリウム水溶液(アルカリ性過マンガン酸水溶液)が好ましく用いられる。次いで、無電解メッキと電解メッキとを組み合わせた方法で導体層を形成する。また導体層とは逆パターンのメッキレジストを形成し、無電解メッキのみで導体層を形成することもできる。その後のパターン形成の方法として、例えば、当業者に公知のサブトラクティブ法、セミアディティブ法などを用いることができる。   Next, a conductor layer is formed on the insulating layer by dry plating or wet plating. As the dry plating, a known method such as vapor deposition, sputtering, or ion plating can be used. In the case of wet plating, first, the surface of the cured resin composition layer (insulating layer) is coated with permanganate (potassium permanganate, sodium permanganate, etc.), dichromate, ozone, hydrogen peroxide / Roughening treatment is performed with an oxidizing agent such as sulfuric acid or nitric acid to form an uneven anchor. As the oxidizing agent, an aqueous sodium hydroxide solution (alkaline permanganate aqueous solution) such as potassium permanganate and sodium permanganate is particularly preferably used. Next, a conductor layer is formed by a method combining electroless plating and electrolytic plating. Alternatively, a plating resist having a pattern opposite to that of the conductor layer can be formed, and the conductor layer can be formed only by electroless plating. As a subsequent pattern formation method, for example, a subtractive method or a semi-additive method known to those skilled in the art can be used.

本発明のプリプレグは、本発明の樹脂組成物を繊維からなるシート状補強基材にホットメルト法又はソルベント法により含浸させ、加熱して半硬化させることにより製造することができる。すなわち、本発明の樹脂組成物が繊維からなるシート状補強基材に含浸した状態となるプリプレグとすることができる。繊維からなるシート状補強基材としては、例えば、ガラスクロスやアラミド繊維等のプリプレグ用繊維として常用されている繊維からなるものを用いることができる。   The prepreg of the present invention can be produced by impregnating the resin composition of the present invention into a sheet-like reinforcing base material made of fibers by a hot melt method or a solvent method, and heating and semi-curing. That is, it can be set as the prepreg which will be in the state which the resin composition of this invention impregnated the sheet-like reinforcement base material which consists of fibers. As the sheet-like reinforcing substrate made of fibers, for example, those made of fibers that are commonly used as prepreg fibers such as glass cloth and aramid fibers can be used.

ホットメルト法は、樹脂を、有機溶剤に溶解することなく、該樹脂との剥離性の良い塗工紙に一旦コーティングし、それをシート状補強基材にラミネートする、あるいは樹脂を、有機溶剤に溶解することなく、ダイコーターによりシート状補強基材に直接塗工するなどして、プリプレグを製造する方法である。またソルベント法は、接着フィルムと同様にして樹脂を有機溶剤に溶解して樹脂ワニスを調製し、このワニスにシート状補強基材を浸漬し、樹脂ワニスをシート状補強基材に含浸させ、その後乾燥させる方法である。   In the hot melt method, the resin is once coated on a coated paper having good releasability from the resin without dissolving it in an organic solvent, and then laminated on a sheet-like reinforcing substrate, or the resin is used in an organic solvent. This is a method for producing a prepreg by directly coating a sheet-like reinforcing substrate with a die coater without dissolving it. In the solvent method, a resin varnish is prepared by dissolving a resin in an organic solvent in the same manner as the adhesive film, and a sheet-like reinforcing base material is immersed in the varnish, and then the resin-like varnish is impregnated into the sheet-like reinforcing base material. It is a method of drying.

次に、上記のようにして製造したプリプレグを用いて多層プリント配線板を製造する方法の一例を説明する。回路基板に本発明のプリプレグを1枚あるいは必要により数枚重ね、離型フィルムを介して金属プレートで挟み、加圧・加熱条件下でプレス積層する。加圧・加熱条件は、好ましくは、圧力が5〜40kgf/cm(49×10〜392×10N/m)、温度が120〜200℃で20〜100分である。また接着フィルムと同様に、プリプレグを真空ラミネート法により回路基板にラミネートした後、加熱硬化することも可能である。その後、上記で記載した方法と同様にして、硬化したプリプレグ表面を粗化した後、導体層をメッキにより形成して多層プリント配線板を製造することができる。 Next, an example of a method for producing a multilayer printed wiring board using the prepreg produced as described above will be described. One or several prepregs of the present invention are stacked on a circuit board, sandwiched between metal plates through a release film, and press-laminated under pressure and heating conditions. The pressurizing / heating conditions are preferably a pressure of 5 to 40 kgf / cm 2 (49 × 10 4 to 392 × 10 4 N / m 2 ) and a temperature of 120 to 200 ° C. for 20 to 100 minutes. Similarly to the adhesive film, the prepreg can be laminated on a circuit board by a vacuum laminating method and then cured by heating. Thereafter, in the same manner as described above, the surface of the cured prepreg is roughened, and then a conductor layer is formed by plating to produce a multilayer printed wiring board.

以下、本発明を実施例により具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。   EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.

ビスフェノールAジシアネートのプレポリマー(ロンザジャパン(株)製「BA230S75」、シアネート当量約232、不揮発分75質量%のメチルエチルケトン(以下MEKと略す)溶液)30質量部、フェノールノボラック型多官能シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン(株)製「PT30」、シアネート当量約124)を10質量部、MEK10部と共に攪拌混合し、ナフトール型エポキシ樹脂として東都化成(株)製「ESN−475V」(下記一般式(1)で表されるエポキシ当量約340の不揮発分65質量%のMEK溶液)40質量部、さらに液状ビスフェノールA型エポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン(株)製「jER828EL」、エポキシ当量約185)8質量部、フェノキシ樹脂溶液(ジャパンエポキシレジン(株)製「YX−6954」、不揮発分30質量%のMEKとシクロヘキサノンとの混合溶液)20質量部、グアニジン化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体(ジシアンジアミド15質量部(ジャパンエポキシレジン(株)製「jERcure DICY7」)とビスフェノールA型エポキシ樹脂30質量部(ジャパンエポキシレジン(株)製「jER 828US」とを1−メトキシプロパノール溶液55質量部中で100℃、2時間反応させた不揮発分45質量%の溶液)を3質量部、コバルト(II)アセチルアセトナート(東京化成(株)製)の1質量%のN,N−ジメチルホルムアミド(DMF)溶液4質量部、および球形シリカ((株)アドマテックス製「SOC2」をアミノシランで表面処理したもの、平均粒子径0.5μm)50質量部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、熱硬化性樹脂組成物のワニスを作製した。
樹脂組成物の不揮発分中、エポキシ樹脂27質量%、シアネートエステル樹脂26質量%、イミダゾール化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体1.1質量%、有機金属系触媒として添加した金属(コバルト)58ppm、高分子樹脂5質量%、無機充填材41質量%となる。
次に、かかる樹脂組成物ワニスをポリエチレンテレフタレートフィルム(厚さ38μm、以下PETフィルムと略す)上に、乾燥後の樹脂組成物層の厚みが40μmとなるようにダイコーターにて均一に塗布し、80〜120℃(平均100℃)で6分間乾燥した(樹脂組成物層中の残留溶媒量:約1.5質量%)。次いで、樹脂組成物層の表面に厚さ15μmのポリプロピレンフィルムを貼り合わせながらロール状に巻き取った。ロール状の接着フィルムを幅507mmにスリットし、507×336mmサイズのシート状の接着フィルムを得た。
Prepolymer of bisphenol A dicyanate ("BA230S75" manufactured by Lonza Japan Co., Ltd.), 30 parts by mass of methyl ethyl ketone (hereinafter abbreviated as MEK) solution having a cyanate equivalent of about 232 and a nonvolatile content of 75% by mass, a phenol novolac type polyfunctional cyanate ester resin ( "PT30" manufactured by Lonza Japan Co., Ltd., cyanate equivalent of about 124) was mixed with 10 parts by mass and 10 parts of MEK and mixed with "ESN-475V" manufactured by Tohto Kasei Co., Ltd. as a naphthol type epoxy resin (the following general formula (1) 40 parts by mass of a MEK solution having a nonvolatile content of 65% by mass with an epoxy equivalent of about 340 represented by the following: 8 parts by mass of a liquid bisphenol A type epoxy resin (“jER828EL” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., epoxy equivalent of about 185) Phenoxy resin solution (Japan Epoxy "YX-6554" manufactured by Gin Co., Ltd., 20 parts by mass of a mixed solution of MEK and cyclohexanone having a nonvolatile content of 30% by mass, adduct of guanidine compound and epoxy resin (15 parts by mass of dicyandiamide (Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) “JERcure DICY7”) and 30 parts by mass of bisphenol A type epoxy resin (“jER 828US” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) were reacted at 100 ° C. for 2 hours in 55 parts by mass of 1-methoxypropanol solution. 3 parts by mass of a solution (by mass%), 4 parts by mass of a 1% by mass N, N-dimethylformamide (DMF) solution of cobalt (II) acetylacetonate (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.), and spherical silica ( ) Admatex "SOC2" surface-treated with aminosilane, average particle size 0.5μ ) 50 parts by mass were mixed and uniformly dispersed in a high-speed rotary mixer to prepare a varnish of a thermosetting resin composition.
In the nonvolatile content of the resin composition, 27% by mass of epoxy resin, 26% by mass of cyanate ester resin, 1.1% by mass of adduct of imidazole compound and epoxy resin, 58 ppm of metal (cobalt) added as an organometallic catalyst, high The molecular resin is 5% by mass and the inorganic filler is 41% by mass.
Next, such a resin composition varnish is uniformly applied on a polyethylene terephthalate film (thickness 38 μm, hereinafter abbreviated as PET film) with a die coater so that the thickness of the resin composition layer after drying is 40 μm, It dried for 6 minutes at 80-120 degreeC (average 100 degreeC) (residual solvent amount in a resin composition layer: about 1.5 mass%). Subsequently, it wound up in roll shape, bonding a 15-micrometer-thick polypropylene film on the surface of a resin composition layer. The roll-like adhesive film was slit to a width of 507 mm to obtain a sheet-like adhesive film having a size of 507 × 336 mm.

Figure 2010090237
(nは平均値として1〜6の数を示し、Xはグリシジル基又は炭素数1〜8の炭化水素基を示し、炭化水素基/グリシジル基の比率は0.05〜2.0である。)
Figure 2010090237
(N shows the number of 1-6 as an average value, X shows a glycidyl group or a C1-C8 hydrocarbon group, and the ratio of a hydrocarbon group / glycidyl group is 0.05-2.0. )

<実施例2>
実施例1のグアニジン化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体3質量部を、(1−o−トリルビグアニド20質量部(大内新興化学工業(株)製「ノクセラーBG」)とフェニルグリシジルエーテル20質量部とを1−メトキシプロパノール溶液60質量部中で100℃、2時間反応させた不揮発分40質量%の溶液)5質量部に変更した熱硬化性樹脂組成物のワニスを使用する以外は、実施例1と全く同様にして接着フィルムを得た。
<Example 2>
3 parts by mass of an adduct of the guanidine compound and the epoxy resin of Example 1 were mixed with 20 parts by mass of (1-o-tolylbiguanide (“Noxeller BG” manufactured by Ouchi Shinsei Chemical Co., Ltd.)) and 20 parts by mass of phenylglycidyl ether. Example 1 except that a varnish of a thermosetting resin composition changed to 5 parts by mass) was used. An adhesive film was obtained in the same manner as in 1.

<比較例1>
実施例1において、グアニジン化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体を添加しない熱硬化性樹脂組成物のワニスを使用する以外は、実施例1と全く同様にして接着フィルムを得た。
<Comparative Example 1>
In Example 1, an adhesive film was obtained in exactly the same manner as in Example 1 except that a varnish of a thermosetting resin composition without adding an adduct of a guanidine compound and an epoxy resin was used.

<比較例2>
実施例1において、コバルト(II)アセチルアセトナート溶液を添加しない熱硬化性樹脂組成物のワニスを使用する以外は、実施例1と全く同様にして接着フィルムを得た。
<Comparative example 2>
In Example 1, an adhesive film was obtained in exactly the same manner as in Example 1, except that a varnish of a thermosetting resin composition to which no cobalt (II) acetylacetonate solution was added was used.

<比較例3>
実施例1において、グアニジン化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体3質量部の代わりに、ジシアンジアミド(ジャパンエポキシレジン(株)製「jERcure DICY7」)の10質量%N,N−ジメチルホルムアミド溶液)5質量部に変更した熱硬化性樹脂組成物のワニスを作製したところ、室温2時間を越えた時点でジシアンジアミドの結晶が析出してしまい、大きな塊のある不均一な樹脂組成物のため、接着フィルムの製造を行うことが出来なかった。
<Comparative Example 3>
In Example 1, instead of 3 parts by mass of an adduct of a guanidine compound and an epoxy resin, 5 parts by mass of dicyandiamide (10% by mass N, N-dimethylformamide solution of “JERcure DICY7” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) When the varnish of the thermosetting resin composition changed to 1 was prepared, the dicyandiamide crystals were precipitated at a time exceeding 2 hours at room temperature. Could not be done.

<比較例4>
実施例1において、グアニジン化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体3質量部の代わりに、1−o−トリルビグアニド(大内新興化学工業(株)製「ノクセラーBG」の10質量%N,N−ジメチルホルムアミド溶液)10質量部に変更した熱硬化性樹脂組成物のワニスを作製したところ、室温2時間を越えた時点でゲル状物が発生し、接着フィルムの製造を行うことが出来なかった。
<Comparative example 4>
In Example 1, instead of 3 parts by mass of an adduct of a guanidine compound and an epoxy resin, 1-o-tolylbiguanide (10% by mass N, N-dimethyl of “Noxeller BG” manufactured by Ouchi Shinsei Chemical Co., Ltd.) Formamide solution) When a varnish of a thermosetting resin composition changed to 10 parts by mass was produced, a gel-like material was generated when the temperature exceeded 2 hours at room temperature, and an adhesive film could not be produced.

<ピール強度および表面粗度の測定用サンプルの調製>
(1)積層板の下地処理
内層回路を形成したガラス布基材エポキシ樹脂両面銅張積層板[銅箔の厚さ18μm、基板厚み0.3mm、松下電工(株)製R5715ES]の両面をメック(株)製CZ8100に浸漬して銅表面の粗化処理をおこなった。
(2)接着フィルムのラミネート
実施例及び比較例で作成した接着フィルムを、バッチ式真空加圧ラミネーターMVLP-500(名機(株)製商品名)を用いて、積層板の両面にラミネートした。ラミネートは、30秒間減圧して気圧を13hPa以下とし、その後30秒間、100℃、圧力0.74MPaでプレスすることにより行った。
(3)樹脂組成物の硬化
ラミネートされた接着フィルムからPETフィルムを剥離し、100℃、30分さらに、180℃、30分の硬化条件で樹脂組成物を硬化した。
(4)粗化処理
積層板を、膨潤液である、アトテックジャパン(株)のジエチレングリコールモノブチルエーテル含有のスエリングディップ・セキュリガンドPに浸漬し、次に粗化液として、アトテックジャパン(株)のコンセントレート・コンパクトP(KMnO4:60g/L、NaOH:40g/Lの水溶液)に浸漬、最後に中和液として、アトテックジャパン(株)のリダクションショリューシン・セキュリガントPに40℃で5分間浸漬した。粗化条件:膨潤液に80℃で10分間浸漬、粗化液に80℃で20分間浸漬した。この粗化処理後の積層板について、表面粗度の測定を行った。
(5)セミアディティブ工法によるメッキ
絶縁層表面に回路を形成するために、積層板を、PdClを含む無電解メッキ用溶液に浸漬し、次に無電解銅メッキ液に浸漬した。150℃にて30分間加熱してアニール処理を行った後に、エッチングレジストを形成し、エッチングによるパターン形成の後に、硫酸銅電解メッキを行い、30±5μmの厚さで導体層を形成した。次に、アニール処理を180℃にて60分間行った。この積層板についてメッキ銅のピール強度の測定を行った。
<Preparation of samples for measuring peel strength and surface roughness>
(1) Substrate treatment of laminate board Both sides of glass cloth base epoxy resin double-sided copper-clad laminate [copper foil thickness 18μm, substrate thickness 0.3mm, Matsushita Electric Works R5715ES] on which inner layer circuit was formed The copper surface was roughened by immersing in CZ8100 manufactured by Co., Ltd.
(2) Lamination of adhesive film The adhesive films prepared in Examples and Comparative Examples were laminated on both surfaces of a laminate using a batch type vacuum pressure laminator MVLP-500 (trade name, manufactured by Meiki Co., Ltd.). Lamination was performed by reducing the pressure for 30 seconds to a pressure of 13 hPa or less, and then pressing at 100 ° C. and a pressure of 0.74 MPa for 30 seconds.
(3) Curing of resin composition The PET film was peeled from the laminated adhesive film, and the resin composition was cured under curing conditions of 100 ° C for 30 minutes and 180 ° C for 30 minutes.
(4) Roughening treatment The laminate is dipped in a swelling dip securigand P containing diethylene glycol monobutyl ether of Atotech Japan Co., Ltd., which is a swelling liquid, and then the outlet of Atotech Japan Co., Ltd. as a roughening liquid. Immerse in rate compact P (KMnO4: 60 g / L, NaOH: 40 g / L aqueous solution), and finally as a neutralizing solution, immerse in Atotech Japan Co., Ltd. Reduction Sholysin Securigant P at 40 ° C for 5 minutes did. Roughening conditions: immersed in a swelling liquid at 80 ° C. for 10 minutes and immersed in a roughening liquid at 80 ° C. for 20 minutes. About the laminated board after this roughening process, the surface roughness was measured.
(5) Plating by semi-additive method In order to form a circuit on the surface of the insulating layer, the laminate was immersed in an electroless plating solution containing PdCl 2 and then immersed in an electroless copper plating solution. After annealing for 30 minutes at 150 ° C., an etching resist was formed. After pattern formation by etching, copper sulfate electrolytic plating was performed to form a conductor layer with a thickness of 30 ± 5 μm. Next, annealing was performed at 180 ° C. for 60 minutes. About this laminated board, the peel strength of the plated copper was measured.

<メッキ導体層の引き剥がし強さ(ピール強度)の測定>
積層板の導体層に、幅10mm、長さ100mmの部分の切込みをいれ、この一端を剥がしてつかみ具で掴み、室温中にて、50mm/分の速度で垂直方向に35mmを引き剥がした時の荷重を測定した。
なお、粗化ムラを検証するため、内層回路の全面導体上に積層された樹脂組成物上のピール強度と、内層回路の全面基材上に積層された樹脂組成物上のピール強度の両方を測定した。
<Measurement of peel strength (peel strength) of plated conductor layer>
When the conductor layer of the laminate is cut into a 10 mm wide and 100 mm long part, this end is peeled off and gripped with a gripping tool, and 35 mm is peeled off vertically at a speed of 50 mm / min at room temperature. The load of was measured.
In order to verify roughening unevenness, both the peel strength on the resin composition laminated on the entire surface conductor of the inner layer circuit and the peel strength on the resin composition laminated on the entire surface substrate of the inner layer circuit were measured. It was measured.

<粗化後の表面粗度の測定>
非接触型表面粗さ計(ビーコインスツルメンツ社製WYKO NT3300)を用いて、VSIコンタクトモード、50倍レンズにより測定範囲を121μm×92μmとして得られる数値により算術平均粗さ(Ra値)を求めた。また10点の平均粗さを求めることにより測定した。なお、表面粗度の均一性を検証するため、全面が導体層となっている内層回路基板表面の該導体層上に形成された絶縁層の表面粗度と、前面が絶縁層となっている内層回路基板表面の該下地絶縁層上に形成された絶縁層の表面粗度の両方を測定した。
<Measurement of surface roughness after roughening>
Using a non-contact type surface roughness meter (WYKO NT3300 manufactured by BEIKO INSTRUMENTS Co., Ltd.), an arithmetic average roughness (Ra value) was obtained from numerical values obtained by measuring the measurement range to 121 μm × 92 μm with a VSI contact mode and a 50 × lens. Moreover, it measured by calculating | requiring the average roughness of 10 points | pieces. In order to verify the uniformity of the surface roughness, the surface roughness of the insulating layer formed on the conductor layer on the surface of the inner circuit board where the entire surface is a conductor layer, and the front surface is an insulating layer. Both the surface roughness of the insulating layer formed on the underlying insulating layer on the inner layer circuit board surface were measured.

<線熱膨張率の評価>
実施例1、2および比較例1、2、3で得られた接着フィルムを190℃で90分熱硬化させてシート状の硬化物を得た。その硬化物を、幅約5mm、長さ約15mmの試験片に切断し、(株)リガク製熱機械分析装置(Thermo Plus TMA8310)を使用して、引張加重法で熱機械分析を行った。試験片を前記装置に装着後、荷重1g、昇温速度5℃/分の測定条件にて連続して2回測定した。2回目の測定における25℃から150℃までの平均線熱膨張率を算出した。
<Evaluation of linear thermal expansion coefficient>
The adhesive films obtained in Examples 1 and 2 and Comparative Examples 1, 2, and 3 were thermally cured at 190 ° C. for 90 minutes to obtain a sheet-like cured product. The cured product was cut into a test piece having a width of about 5 mm and a length of about 15 mm, and thermomechanical analysis was performed by a tensile load method using a thermomechanical analyzer manufactured by Rigaku Corporation (Thermo Plus TMA8310). After mounting the test piece on the apparatus, the test piece was measured twice continuously under the measurement conditions of a load of 1 g and a heating rate of 5 ° C./min. The average linear thermal expansion coefficient from 25 ° C. to 150 ° C. in the second measurement was calculated.

結果を表1に示す。

Figure 2010090237
The results are shown in Table 1.
Figure 2010090237

表1の結果から、実施例1及び2で得られた接着フィルムにより形成された絶縁層は、線熱膨張率が40ppm以下と低く、また表面粗度がRa値260nm以下と低粗度で、かつ導体層ピール強度は0.6kgf/cm以上と高く、また導体層上と下地絶縁層上における絶縁層表面の粗度の差も小さいことが分かる。
一方、グアニジン化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体を含まず、硬化促進剤が金属系硬化触媒のみの比較例1は、導体層上の絶縁層表面と下地絶縁層上の絶縁層表面とで粗度の差が大きく、導体層のピール強度にも大きな差が生じるため、高密度微細配線の形成に不利となる。また、金属系硬化触媒を含まず、硬化促進剤がグアニジン化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体のみの比較例2においては、導体層上と下地絶縁層上の絶縁層表面ともに粗度が大きく、導体層のピール強度もやや低い結果となった。一方、比較例3、4のように、またグアニジン化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体の代わりにグアニジン化合物そのものを使用した場合、結晶性や保存安定性の悪さから、接着フィルムを製造することができなかった。
From the results of Table 1, the insulating layer formed by the adhesive films obtained in Examples 1 and 2 has a low coefficient of linear thermal expansion of 40 ppm or less, and a surface roughness with a Ra value of 260 nm or less and a low roughness. It can also be seen that the conductor layer peel strength is as high as 0.6 kgf / cm or more, and the difference in roughness between the surface of the insulating layer on the conductor layer and the underlying insulating layer is small.
On the other hand, Comparative Example 1 which does not include an adduct of a guanidine compound and an epoxy resin and the curing accelerator is only a metal-based curing catalyst has a roughness between the insulating layer surface on the conductor layer and the insulating layer surface on the base insulating layer. This is a disadvantage in the formation of high-density fine wiring because the difference between the two is large and the peel strength of the conductor layer is also large. Further, in Comparative Example 2 that does not include a metal-based curing catalyst and the curing accelerator is only an adduct of a guanidine compound and an epoxy resin, both the surface of the insulating layer on the conductor layer and the base insulating layer have a large roughness. The peel strength was slightly lower. On the other hand, as in Comparative Examples 3 and 4, and when the guanidine compound itself is used instead of the adduct of the guanidine compound and the epoxy resin, an adhesive film can be produced due to poor crystallinity and storage stability. There wasn't.

Claims (12)

(A)エポキシ樹脂、(B)シアネートエステル樹脂、(C)グアニジン化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体及び(D)金属系硬化触媒、を含有することを特徴とする樹脂組成物。   A resin composition comprising (A) an epoxy resin, (B) a cyanate ester resin, (C) an adduct of a guanidine compound and an epoxy resin, and (D) a metal-based curing catalyst. 樹脂組成物の不揮発分を100質量%とした場合、成分(A)の含有量が5〜60質量%%、成分(B)の含有量が5〜50質量、成分(C)のグアニジン化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体の含有量が0.1〜5質量%、及び(D)金属系硬化触媒に基づく金属の含有量が25〜500ppmであり、シアネートエステル基とエポキシ基との比率が1:0.4〜1:2である、請求項1記載のエポキシ樹脂組成物。   When the nonvolatile content of the resin composition is 100 mass%, the content of the component (A) is 5 to 60 mass%, the content of the component (B) is 5 to 50 mass, and the guanidine compound of the component (C) The content of the adduct body with the epoxy resin is 0.1 to 5% by mass, and the metal content based on the metal-based curing catalyst (D) is 25 to 500 ppm, and the ratio of the cyanate ester group to the epoxy group is 1 The epoxy resin composition according to claim 1, wherein the ratio is 0.4 to 1: 2. 金属系硬化触媒が、コバルト 、銅、亜鉛、鉄、ニッケル、マンガンおよびスズから選択される1種以上の金属の、有機金属錯体又は有機金属塩である請求項1又は2記載の樹脂組成物。   The resin composition according to claim 1 or 2, wherein the metal-based curing catalyst is an organometallic complex or an organometallic salt of one or more metals selected from cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese and tin. グアニジン化合物がジシアンジアミドである請求項1〜3のいずれか1項に記載の樹脂組成物。   The resin composition according to any one of claims 1 to 3, wherein the guanidine compound is dicyandiamide. さらにポリビニルアセタール樹脂、フェノキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、ポリエステル樹脂から選択される1種以上の高分子樹脂を含有する、請求項1〜4のいずれか1項に記載の樹脂組成物。   Further, one or more selected from polyvinyl acetal resin, phenoxy resin, polyimide resin, polyamideimide resin, polyetherimide resin, polysulfone resin, polyethersulfone resin, polyphenylene ether resin, polycarbonate resin, polyetheretherketone resin, polyester resin The resin composition of any one of Claims 1-4 containing the high molecular resin. 高分子樹脂の含有量が、樹脂組成物(不揮発分100質量%)に対し1〜20質量%である、請求項5記載の樹脂組成物。   The resin composition according to claim 5, wherein the content of the polymer resin is 1 to 20% by mass relative to the resin composition (nonvolatile content: 100% by mass). さらに無機充填材を含有する、請求項1〜6のいずれか1項に記載の樹脂組成物。   Furthermore, the resin composition of any one of Claims 1-6 containing an inorganic filler. 無機充填材の含有量が、樹脂組成物(不揮発分100質量%)に対し、10〜70質量%である、請求項7記載の樹脂組成物。   The resin composition of Claim 7 whose content of an inorganic filler is 10-70 mass% with respect to a resin composition (non-volatile content 100 mass%). 無機充填材がシリカである、請求項7又は8記載の樹脂組成物。   The resin composition according to claim 7 or 8, wherein the inorganic filler is silica. 請求項1〜9のいずれか1項に記載の樹脂組成物が支持体上に層形成されてなる接着フィルム。   The adhesive film formed by carrying out the layer formation of the resin composition of any one of Claims 1-9 on a support body. 請求項1〜9のいずれか1項に記載の樹脂組成物が繊維からなるシート状補強基材中に含浸されてなるプリプレグ。   A prepreg formed by impregnating a sheet-like reinforcing base material made of fibers with the resin composition according to claim 1. 請求項1〜9のいずれか1項に記載の樹脂組成物の硬化物により絶縁層が形成されてなる多層プリント配線板。   The multilayer printed wiring board by which an insulating layer is formed with the hardened | cured material of the resin composition of any one of Claims 1-9.
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Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2365020A1 (en) * 2010-03-11 2011-09-14 Nitto Denko Corporation Resin Composition for Electronic Component Encapsulation and Electronic Component Device
JP2011232676A (en) * 2010-04-30 2011-11-17 Panasonic Electric Works Co Ltd Metal-clad laminate, photoelectric composite wiring board, method for manufacturing metal-clad laminate, and method for manufacturing photoelectric composite wiring board
WO2012157135A1 (en) * 2011-05-17 2012-11-22 三共化成株式会社 Method for manufacturing molded circuit board
JPWO2011138865A1 (en) * 2010-05-07 2013-07-22 住友ベークライト株式会社 Epoxy resin composition for circuit board, prepreg, laminate, resin sheet, laminate substrate for printed wiring board, printed wiring board, and semiconductor device
US20140005318A1 (en) * 2011-03-16 2014-01-02 Toray Industries, Inc. Epoxy resin composition, method for producing same, and semiconductor device using same
CN103709748A (en) * 2013-12-30 2014-04-09 苏州大学 Self-repairing cyanate ester resin system and preparation method thereof
JP2015203038A (en) * 2014-04-11 2015-11-16 パナソニックIpマネジメント株式会社 Metal foil-clad adhesive sheet, metal foil-clad laminate, metal foil-clad multilayer substrate, circuit-board production method
JP2016072472A (en) * 2014-09-30 2016-05-09 住友ベークライト株式会社 Multilayer circuit board, and method for manufacturing multilayer circuit board
JP2016106395A (en) * 2012-07-06 2016-06-16 日本発條株式会社 Circuit board laminate, metal base circuit board, and power module
JP2017193691A (en) * 2016-04-22 2017-10-26 日立化成株式会社 Adhesive film for multilayer printed board
JPWO2016129655A1 (en) * 2015-02-10 2017-11-30 インテル・コーポレーション Interlayer insulating resin film, interlayer insulating resin film with an auxiliary adhesion layer, and printed wiring board
KR20190040197A (en) 2016-08-15 2019-04-17 히타치가세이가부시끼가이샤 Adhesive film for multilayer printed circuit boards
WO2023153485A1 (en) * 2022-02-14 2023-08-17 Agc株式会社 Composition, film, laminate, and method for manufacturing laminate
KR20240017101A (en) 2016-02-19 2024-02-06 가부시끼가이샤 레조낙 Adhesive film for multilayer printed wiring boards

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2365020A1 (en) * 2010-03-11 2011-09-14 Nitto Denko Corporation Resin Composition for Electronic Component Encapsulation and Electronic Component Device
JP2011232676A (en) * 2010-04-30 2011-11-17 Panasonic Electric Works Co Ltd Metal-clad laminate, photoelectric composite wiring board, method for manufacturing metal-clad laminate, and method for manufacturing photoelectric composite wiring board
JPWO2011138865A1 (en) * 2010-05-07 2013-07-22 住友ベークライト株式会社 Epoxy resin composition for circuit board, prepreg, laminate, resin sheet, laminate substrate for printed wiring board, printed wiring board, and semiconductor device
US20140005318A1 (en) * 2011-03-16 2014-01-02 Toray Industries, Inc. Epoxy resin composition, method for producing same, and semiconductor device using same
KR20140020905A (en) 2011-03-16 2014-02-19 도레이 카부시키가이샤 Epoxy resin composition, method for producing same, and semiconductor device using same
US9123689B2 (en) * 2011-03-16 2015-09-01 Toray Industries, Inc. Epoxy resin composition, method for producing same, and semiconductor device using same
WO2012157135A1 (en) * 2011-05-17 2012-11-22 三共化成株式会社 Method for manufacturing molded circuit board
JP2016106395A (en) * 2012-07-06 2016-06-16 日本発條株式会社 Circuit board laminate, metal base circuit board, and power module
CN103709748A (en) * 2013-12-30 2014-04-09 苏州大学 Self-repairing cyanate ester resin system and preparation method thereof
JP2015203038A (en) * 2014-04-11 2015-11-16 パナソニックIpマネジメント株式会社 Metal foil-clad adhesive sheet, metal foil-clad laminate, metal foil-clad multilayer substrate, circuit-board production method
JP2016072472A (en) * 2014-09-30 2016-05-09 住友ベークライト株式会社 Multilayer circuit board, and method for manufacturing multilayer circuit board
JPWO2016129655A1 (en) * 2015-02-10 2017-11-30 インテル・コーポレーション Interlayer insulating resin film, interlayer insulating resin film with an auxiliary adhesion layer, and printed wiring board
KR20240017101A (en) 2016-02-19 2024-02-06 가부시끼가이샤 레조낙 Adhesive film for multilayer printed wiring boards
JP2017193691A (en) * 2016-04-22 2017-10-26 日立化成株式会社 Adhesive film for multilayer printed board
KR20190040197A (en) 2016-08-15 2019-04-17 히타치가세이가부시끼가이샤 Adhesive film for multilayer printed circuit boards
JPWO2018033950A1 (en) * 2016-08-15 2019-06-20 日立化成株式会社 Adhesive film for multilayer printed wiring board
JP7138398B2 (en) 2016-08-15 2022-09-16 昭和電工マテリアルズ株式会社 Interlayer insulation resin film, interlayer insulation resin film with adhesion auxiliary layer, and printed wiring board
US11930594B2 (en) 2016-08-15 2024-03-12 Resonac Corporation Adhesive film for multilayer printed-wiring board
WO2023153485A1 (en) * 2022-02-14 2023-08-17 Agc株式会社 Composition, film, laminate, and method for manufacturing laminate

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