KR20180123977A - Resin composition - Google Patents

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Abstract

An objective of the present invention is to provide a resin composition which has excellent thin film insulation properties even when an inorganic filler having a small average particle diameter or a large specific surface area is used; and allows users to obtain a balanced cured product capable of maintaining the adhesion with a conductive layer after environmental testing under a high temperature and high humidity environment. The resin composition includes (A) an epoxy resin, (B) a curing agent, (C) a polycarbonate resin, and (D) an inorganic filler, wherein the average particle diameter of (D) the inorganic filler is 100 nm or less; or includes (A) an epoxy resin, (B) a curing agent, (C) a polycarbonate resin, and (D) an inorganic filler, wherein the specific surface area of (D) the inorganic filler is 15 m^2/g or more.

Description

수지 조성물 {RESIN COMPOSITION}Resin composition {RESIN COMPOSITION}

본 발명은 수지 조성물에 관한 것이다. 또한, 당해 수지 조성물을 사용해서 얻을 수 있는, 수지 시트, 프린트 배선판, 및 반도체 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a resin composition. Further, the present invention relates to a resin sheet, a printed wiring board, and a semiconductor device which can be obtained by using the resin composition.

프린트 배선판의 제조 기술로서, 절연층과 도체층을 교대로 적층하는 빌드업 방식에 의한 제조 방법이 알려져 있다. 빌드업 방식에 의한 제조 방법에 있어서, 일반적으로, 절연층은 수지 조성물을 경화시켜서 형성된다. 예를 들어, 특허문헌 1에는, 에폭시 수지, 활성 에스테르 화합물, 카르보디이미드 화합물, 열가소성 수지 및 무기 충전재를 포함하고, 무기 충전재의 함유량이, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 했을 때, 40질량% 이상인 수지 조성물이 개시되어 있다.As a manufacturing technique of a printed wiring board, a manufacturing method by a build-up method in which an insulating layer and a conductor layer are alternately laminated is known. In the build-up method, generally, the insulating layer is formed by curing the resin composition. For example, Patent Document 1 discloses an epoxy resin composition comprising an epoxy resin, an active ester compound, a carbodiimide compound, a thermoplastic resin and an inorganic filler, wherein when the content of the inorganic filler is 100 mass% By mass or more and 40% by mass or more.

일본 공개특허공보 특개2016-27097호Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2016-27097

일반적으로, 무기 충전재를 대량으로 사용하면, 용융 점도의 상승에 의한 필름의 매립성의 저하 등에 의해, 라미네이트성의 컨트롤이 어려워지는 것이 알려져 있지만, 본 발명자들은, 수지 조성물 중에 평균 입자 직경이 작거나 또는 비표면적이 큰 무기 충전재를 함유시킨 경우, 고온 고습 환경 하에서의 환경 시험후, 구리박 등의 도체층과 절연층 사이의 밀착성을 유지하는 것이 곤란해짐을 발견하였다. 앞으로의 미세 배선의 요구에 응답하기 위해서는, 평균 입자 직경이 작거나 또는 비표면적이 큰 무기 충전재를 사용해도, 환경 시험 후의 밀착성을 유지하는 것이 요구된다.In general, it has been known that when a large amount of inorganic filler is used, it is difficult to control the lamination property due to lowering of the filling property of the film due to an increase in melt viscosity. The present inventors have found that when the average particle diameter is small It has been found that when an inorganic filler having a large surface area is contained, it becomes difficult to maintain the adhesion between the conductor layer such as copper foil and the insulating layer after the environmental test under a high temperature and high humidity environment. In order to respond to future demands for fine wiring, it is required to maintain adhesion after environmental testing even when an inorganic filler having a small average particle diameter or a large specific surface area is used.

본 발명의 과제는, 평균 입자 직경이 작거나 또는 비표면적이 큰 무기 충전재를 사용해도, 박막 절연성이 우수하고, 또한 고온 고습 환경 하에서의 환경 시험후, 도체층과의 사이의 밀착성을 유지할 수 있는, 균형 잡힌 경화물을 얻을 수 있는 수지 조성물; 당해 수지 조성물을 함유하는 수지 시트; 당해 수지 조성물을 사용하여 형성된 절연층을 구비하는 프린트 배선판, 및 반도체 장치를 제공하는 것에 있다.It is an object of the present invention to provide a resin composition which is excellent in thin film insulation property even when an inorganic filler having a small average particle diameter or a large specific surface area is used and can maintain adhesiveness with a conductor layer after an environmental test under a high temperature and high humidity environment, A resin composition capable of obtaining a balanced cured product; A resin sheet containing the resin composition; A printed wiring board having an insulating layer formed using the resin composition, and a semiconductor device.

본 발명의 과제를 달성하기 위해, 본 발명자들은 예의 검토한 결과, 평균 입자 직경이 작거나 또는 비표면적이 큰 무기 충전재를 사용해도, 수지 조성물 중에 폴리카보네이트 수지를 함유시킴으로써, 환경 시험 후라도 도체층과 절연층 사이의 밀착성을 유지할 수 있음을 발견하여, 본 발명을 완성시키기에 이르렀다.In order to achieve the object of the present invention, the inventors of the present invention have conducted intensive studies and, as a result, have found that even when an inorganic filler having a small average particle diameter or a large specific surface area is used, the polycarbonate resin is contained in the resin composition, And the adhesion between the insulating layers can be maintained, thereby completing the present invention.

즉, 본 발명은 이하의 내용을 포함한다.That is, the present invention includes the following contents.

[1] (A) 에폭시 수지, (B) 경화제, (C) 폴리카보네이트 수지, 및 (D) 무기 충전재를 포함하는 수지 조성물로서,[1] A resin composition comprising (A) an epoxy resin, (B) a curing agent, (C) a polycarbonate resin, and (D)

(D) 무기 충전재의 평균 입자 직경이 100nm 이하인 수지 조성물.(D) the inorganic filler has an average particle diameter of 100 nm or less.

[2] (A) 에폭시 수지, (B) 경화제, (C) 폴리카보네이트 수지, 및 (D) 무기 충전재를 포함하는 수지 조성물로서,[2] A resin composition comprising (A) an epoxy resin, (B) a curing agent, (C) a polycarbonate resin, and (D)

(D) 무기 충전재의 비표면적이 15㎡/g 이상인 수지 조성물.(D) the inorganic filler has a specific surface area of 15 m 2 / g or more.

[3] (D) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, 50질량% 이상인, [1] 또는 [2]에 기재된 수지 조성물.[3] The resin composition according to [1] or [2], wherein the content of the component (D) is 50% by mass or more based on 100% by mass of the nonvolatile component in the resin composition.

[4] (B) 성분이, 페놀계 경화제, 나프톨계 경화제, 활성 에스테르계 경화제, 벤조옥사진계 경화제, 시아네이트 에스테르계 경화제, 및 카르보디이미드계 경화제 중 어느 1종 이상인, [1] 내지 [3] 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.[4] The resin composition according to any one of [1] to [4], wherein the component (B) is at least one selected from the group consisting of a phenolic curing agent, a naphthol curing agent, an active ester curing agent, a benzoxazine curing agent, a cyanate ester curing agent and a carbodiimide curing agent. 3]. ≪ / RTI >

[5] (B) 성분이 활성 에스테르계 경화제를 포함하는, [1] 내지 [4] 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.[5] The resin composition according to any one of [1] to [4], wherein the component (B) comprises an active ester type curing agent.

[6] (C) 성분이, 지방족 골격 함유 폴리카보네이트 수지, 및 방향족 골격 함유 폴리카보네이트 수지 중 어느 1종 이상인, [1] 내지 [5] 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.[6] The resin composition according to any one of [1] to [5], wherein the component (C) is at least one of an aliphatic skeleton-containing polycarbonate resin and an aromatic skeleton-containing polycarbonate resin.

[7] (C) 성분의 수 평균 분자량이 1000 이상 200000 이하인, [1] 내지 [6] 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.[7] The resin composition according to any one of [1] to [6], wherein the component (C) has a number average molecular weight of 1,000 to 200,000.

[8] (C) 성분의 함유량이, 수지 성분을 100질량%로 한 경우, 0.1질량% 이상 30질량% 이하인, [1] 내지 [7] 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.[8] The resin composition according to any one of [1] to [7], wherein the content of the component (C) is 0.1% by mass or more and 30% by mass or less when the resin component is 100% by mass.

[9] 도체층을 형성하기 위한 절연층 형성용인, [1] 내지 [8] 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.[9] A resin composition according to any one of [1] to [8], which is used for forming an insulating layer for forming a conductor layer.

[10] 프린트 배선판의 절연층 형성용인, [1] 내지 [9] 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.[10] The resin composition according to any one of [1] to [9], which is used for forming an insulating layer of a printed wiring board.

[11] 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용인, [1] 내지 [10] 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.[11] The resin composition according to any one of [1] to [10], which is for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board.

[12] 지지체와, 당해 지지체 위에 마련된 [1] 내지 [11] 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물로 형성된 수지 조성물층을 포함하는, 수지 시트.[12] A resin sheet comprising a support and a resin composition layer formed from the resin composition according to any one of [1] to [11] provided on the support.

[13] 수지 조성물층의 두께가 15㎛ 이하인, [12]에 기재된 수지 시트.[13] A resin sheet according to [12], wherein the resin composition layer has a thickness of 15 μm or less.

[14] 제1 도체층과, 제2 도체층과, 제1 도체층과 제2 도체층 사이에 형성된 절연층을 포함하고, 제1 도체층과 제2 도체층 간의 간격이 6㎛ 이하인 프린트 배선판의 당해 절연층 형성용인, [12] 또는 [13]에 기재된 수지 시트.[14] A printed wiring board comprising a first conductor layer, a second conductor layer, and an insulating layer formed between the first conductor layer and the second conductor layer, wherein the interval between the first conductor layer and the second conductor layer is 6 [ [12] The resin sheet according to [12] or [13], wherein the resin sheet is for forming the insulating layer.

[15] 제1 도체층, 제2 도체층, 및, 제1 도체층과 제2 도체층 사이에 형성된 절연층을 포함하는 프린트 배선판으로서,[15] A printed wiring board comprising a first conductor layer, a second conductor layer, and an insulating layer formed between the first conductor layer and the second conductor layer,

당해 절연층은, [1] 내지 [11] 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물의 경화물인, 프린트 배선판.The insulating layer is a cured product of the resin composition according to any one of [1] to [11].

[16] 제1 도체층과 제2 도체층 간의 간격이 6㎛ 이하인, [15]에 기재된 프린트 배선판.[16] The printed wiring board according to [15], wherein the interval between the first conductor layer and the second conductor layer is 6 μm or less.

[17] [15] 또는 [16]에 기재된 프린트 배선판을 포함하는, 반도체 장치.[17] A semiconductor device comprising the printed wiring board according to [15] or [16].

본 발명에 따르면, 평균 입자 직경이 작거나 또는 비표면적이 큰 무기 충전재를 사용해도, 박막 절연성이 우수하고, 또한 고온 고습 환경 하에서의 환경 시험후, 도체층과의 사이의 밀착성을 유지할 수 있는, 균형 잡힌 경화물을 얻을 수 있는 수지 조성물; 당해 수지 조성물을 함유하는 수지 시트; 당해 수지 조성물을 사용하여 형성된 절연층을 구비하는 프린트 배선판, 및 반도체 장치를 제공할 수 있다.INDUSTRIAL APPLICABILITY According to the present invention, it is possible to provide a resin composition which is excellent in thin-film insulation even when an inorganic filler having a small average particle diameter or a large specific surface area is used and in which the adhesion between the conductor layer and the conductor layer can be maintained after environmental testing under a high- A resin composition capable of obtaining a cured product; A resin sheet containing the resin composition; A printed wiring board having an insulating layer formed using the resin composition, and a semiconductor device.

도 1은, 프린트 배선판의 일례를 모식적으로 나타낸 일부 단면도이다.1 is a partial cross-sectional view schematically showing an example of a printed wiring board.

이하, 본 발명의 수지 조성물, 수지 시트, 프린트 배선판, 및 반도체 장치에 대하여 상세히 설명한다.Hereinafter, the resin composition, resin sheet, printed wiring board, and semiconductor device of the present invention will be described in detail.

[수지 조성물][Resin composition]

본 발명의 제1 실시형태의 수지 조성물은, (A) 에폭시 수지, (B) 경화제, (C) 폴리카보네이트 수지, 및 (D) 무기 충전재를 포함하는 수지 조성물로서, (D) 무기 충전재의 평균 입자 직경이 100nm 이하이다. 또한, 본 발명의 제2 실시형태의 수지 조성물은, (A) 에폭시 수지, (B) 경화제, (C) 폴리카보네이트 수지, 및 (D) 무기 충전재를 포함하는 수지 조성물로서, (D) 무기 충전재의 비표면적이 15㎡/g 이상이다. 제1 및 제2 실시형태의 수지 조성물은, (C) 폴리카보네이트 수지를 함유함으로써, 평균 입자 직경이 작거나 또는 비표면적이 큰 무기 충전재를 사용해도, 박막 절연성이 우수하고, 또한 고온 고습 환경 하에서의 환경 시험 후라도 도체층과의 사이의 밀착성을 유지할 수 있는 경화물을 얻을 수 있게 된다. 그리고, 통상, 이와 같이 고온 고습 환경 하에서의 환경 시험 후라도 높은 밀착성을 유지할 수 있는 경화물은, 장기간에 걸쳐 높은 밀착성을 발휘할 수 있다.The resin composition of the first embodiment of the present invention is a resin composition comprising (A) an epoxy resin, (B) a curing agent, (C) a polycarbonate resin, and (D) an inorganic filler, wherein (D) The particle diameter is 100 nm or less. The resin composition of the second embodiment of the present invention is a resin composition comprising (A) an epoxy resin, (B) a curing agent, (C) a polycarbonate resin, and (D) Is not less than 15 m < 2 > / g. The resin compositions of the first and second embodiments are excellent in the thin film insulation property even when an inorganic filler having a small average particle diameter or a large specific surface area is contained in the polycarbonate resin (C) It is possible to obtain a cured product which can maintain the adhesion between the conductive layer and the conductive layer even after the environmental test. In general, a cured product capable of maintaining high adhesiveness even after an environmental test under such a high-temperature and high-humidity environment can exhibit high adhesiveness over a long period of time.

수지 조성물은, (A) 성분 내지 (D) 성분 외에 필요에 따라, (E) 경화 촉진제, (F) 난연제, 및 (G) 임의의 첨가제를 포함하고 있어도 좋다. 이하, 본 발명의 제1 및 제2 실시형태의 수지 조성물에 포함되는 각 성분에 대하여 상세히 설명한다. 여기에서, 제1 실시형태의 수지 조성물 및 제2 실시형태의 수지 조성물을 합쳐서, 「수지 조성물」이라고 말하는 경우가 있다.The resin composition may contain, in addition to the components (A) to (D), a curing accelerator (E), a flame retardant (F), and optional additives (G), if necessary. Hereinafter, each component contained in the resin composition of the first and second embodiments of the present invention will be described in detail. Here, the resin composition of the first embodiment and the resin composition of the second embodiment may be collectively referred to as " resin composition ".

<(A) 에폭시 수지>&Lt; (A) Epoxy resin >

수지 조성물은 (A) 에폭시 수지를 포함한다. 에폭시 수지로서는, 예를 들어, 비크실레놀형 에폭시 수지, 비스페놀A형 에폭시 수지, 비스페놀F형 에폭시 수지, 비스페놀S형 에폭시 수지, 비스페놀AF형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀형 에폭시 수지, 나프톨 노볼락형 에폭시 수지, 페놀 노볼락형 에폭시 수지, tert-부틸-카테콜형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 글리시딜 아민형 에폭시 수지, 글리시딜 에스테르형 에폭시 수지, 크레졸 노볼락형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 선형 지방족 에폭시 수지, 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지, 지환식 에폭시 수지, 복소환식 에폭시 수지, 스피로환 함유 에폭시 수지, 사이클로헥산형 에폭시 수지, 사이클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 나프틸렌 에테르형 에폭시 수지, 트리 메틸올형 에폭시 수지, 테트라페닐에탄형 에폭시 수지 등을 들 수 있다. 에폭시 수지는 1종 단독으로 사용하여도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용하여도 좋다.The resin composition comprises (A) an epoxy resin. Examples of the epoxy resin include epoxy resins such as biquilene type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, A naphthalene type epoxy resin, an anthracene type epoxy resin, a glycidylamine type epoxy resin, a glycidyl ether type epoxy resin, a glycidyl ether type epoxy resin, a glycidyl type epoxy resin, Alicyclic epoxy resin, heterocyclic epoxy resin, spiro-ring-containing epoxy resin, cyclohexane type epoxy resin, epoxy resin having a butadiene structure, Epoxy resin, cyclohexane dimethanol type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin , Tree and the like can be mentioned methyl olhyeong epoxy resin, tetraphenyl ethane epoxy resin. The epoxy resins may be used alone or in combination of two or more.

에폭시 수지는, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지를 포함하는 것이 바람직하다. 에폭시 수지의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우에, 적어도 50질량% 이상은 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지인 것이 바람직하다. 그 중에서도, 수지 조성물은, 온도 20℃에서 액상의 에폭시 수지(이하 「액상 에폭시 수지」라고 함.)와, 온도 20℃에서 고체상의 에폭시 수지(「고체상 에폭시 수지」라고도 함.)를 조합하여 포함하는 것이 바람직하다. 액상 에폭시 수지로서는, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 액상 에폭시 수지가 바람직하고, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 방향족계 액상 에폭시 수지가 보다 바람직하다. 고체상 에폭시 수지로서는, 1분자 중에 3개 이상의 에폭시기를 갖는 고체상 에폭시 수지가 바람직하고, 1분자 중에 3개 이상의 에폭시기를 갖는 방향족계 고체상 에폭시 수지가 보다 바람직하다. 본 발명에 있어서, 방향족계의 에폭시 수지란, 그 분자 내에 방향환을 갖는 에폭시 수지를 의미한다.The epoxy resin preferably contains an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule. When the nonvolatile component of the epoxy resin is defined as 100 mass%, it is preferable that at least 50 mass% or more is an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule. Among them, the resin composition includes a combination of a liquid epoxy resin (hereinafter referred to as &quot; liquid epoxy resin &quot;) and a solid epoxy resin (also referred to as &quot; solid epoxy resin & . As the liquid epoxy resin, a liquid epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule is preferable, and an aromatic liquid epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule is more preferable. As the solid epoxy resin, a solid epoxy resin having three or more epoxy groups in one molecule is preferable, and an aromatic solid epoxy resin having three or more epoxy groups in one molecule is more preferable. In the present invention, an aromatic epoxy resin means an epoxy resin having an aromatic ring in its molecule.

액상 에폭시 수지로서는, 비스페놀A형 에폭시 수지, 비스페놀F형 에폭시 수지, 비스페놀AF형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 글리시딜 에스테르형 에폭시 수지, 글리시딜 아민형 에폭시 수지, 페놀 노볼락형 에폭시 수지, 에스테르 골격을 갖는 지환식 에폭시 수지, 사이클로헥산형 에폭시 수지, 사이클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 글리시딜 아민형 에폭시 수지, 및 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지가 바람직하고, 비스페놀A형 에폭시 수지가 보다 바람직하다. 액상 에폭시 수지의 구체예로서는, DIC사 제조의 「HP4032」, 「HP4032D」, 「HP4032SS」(나프탈렌형 에폭시 수지), 미츠비시 카가쿠사 제조의 「828US」, 「jER828EL」, 「825」, 「에피코트 828EL」(비스페놀A형 에폭시 수지), 「jER807」, 「1750」(비스페놀F형 에폭시 수지), 「jER152」(페놀 노볼락형 에폭시 수지), 「630」, 「630LSD」(글리시딜 아민형 에폭시 수지), 신닛테츠 스미킨 카가쿠사 제조의 「ZX1059」(비스페놀A형 에폭시 수지와 비스페놀F형 에폭시 수지의 혼합품), 나가세 켐텍스사 제조의 「EX-721」(글리시딜 에스테르형 에폭시 수지), 다이셀사 제조의 「셀록사이드 2021P」(에스테르 골격을 갖는 지환식 에폭시 수지), 「PB-3600」(부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지), 신닛테츠 스미킨 카가쿠사 제조의 「ZX1658」, 「ZX1658GS」(액상 1,4-글리시딜사이클로헥산형 에폭시 수지), 미츠비시 카가쿠사 제조의 「630LSD」(글리시딜 아민형 에폭시 수지) 등을 들 수 있다. 이것들은 1종 단독으로 사용하여도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용하여도 좋다.Examples of the liquid epoxy resin include bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin , An alicyclic epoxy resin having an ester skeleton, a cyclohexane-type epoxy resin, a cyclohexane dimethanol-type epoxy resin, a glycidylamine-type epoxy resin, and an epoxy resin having a butadiene structure are preferable, and a bisphenol A- desirable. Specific examples of the liquid epoxy resin include "HP4032", "HP4032D", "HP4032SS" (naphthalene type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation, "828US", "jER828EL", "825", "Epikote 828EL (Bisphenol A type epoxy resin), "jER807", "1750" (bisphenol F type epoxy resin), "jER152" (phenol novolak type epoxy resin) "630" ZX1059 &quot; (a mixture of a bisphenol A type epoxy resin and a bisphenol F type epoxy resin) manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., and EX-721 (a glycidyl ester type epoxy resin (Cycloaliphatic epoxy resin having an ester skeleton), &quot; PB-3600 &quot; (epoxy resin having a butadiene structure), &quot; ZX1658 &quot;, &quot; ZX1658GS (Liquid 1,4-glycidyl cyclohexane type epoxy 630LSD &quot; (glycidylamine type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., Ltd., and the like. These may be used alone, or two or more kinds may be used in combination.

고체상 에폭시 수지로서는, 비크실레놀형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프탈렌형 4관능 에폭시 수지, 크레졸 노볼락형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 비스페놀A형 에폭시 수지, 비스페놀AF형 에폭시 수지, 테트라페닐에탄형 에폭시 수지가 바람직하고, 비스페놀AF형 에폭시 수지, 및 비페닐형 에폭시 수지가 보다 바람직하다. 고체상 에폭시 수지의 구체예로서는, DIC사 제조의 「HP4032H」(나프탈렌형 에폭시 수지), 「HP-4700」, 「HP-4710」(나프탈렌형 4관능 에폭시 수지), 「N-690」(크레졸 노볼락형 에폭시 수지), 「N-695」(크레졸 노볼락형 에폭시 수지), 「HP-7200」(디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지), 「HP-7200HH」, 「HP-7200H」, 「EXA-7311」, 「EXA-7311-G3」, 「EXA-7311-G4」, 「EXA-7311-G4S」, 「HP6000」(나프틸렌 에테르형 에폭시 수지), 니혼 카야쿠사 제조의 「EPPN-502H」(트리스페놀형 에폭시 수지), 「NC7000L」(나프톨 노볼락형 에폭시 수지), 「NC3000H」, 「NC3000」, 「NC3000L」, 「NC3100」(비페닐형 에폭시 수지), 신닛테츠 스미킨 카가쿠사 제조의 「ESN475V」(나프탈렌형 에폭시 수지), 「ESN485」(나프톨 노볼락형 에폭시 수지), 미츠비시 카가쿠사 제조의 「YX4000H」, 「YX4000」, 「YL6121」(비페닐형 에폭시 수지), 「YX4000HK」(비크실레놀형 에폭시 수지), 「YX8800」(안트라센형 에폭시 수지), 오사카 가스 케미컬사 제조의 「PG-100」, 「CG-500」, 미츠비시 카가쿠사 제조의 「YL7760」(비스페놀AF형 에폭시 수지), 「YL7800」(플루오렌형 에폭시 수지), 미츠비시 카가쿠사 제조의 「jER1010」(고체상 비스페놀A형 에폭시 수지), 「jER1031S」(테트라페닐에탄형 에폭시 수지) 등을 들 수 있다. 이것들은 1종 단독으로 사용하여도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용하여도 좋다.Examples of the solid epoxy resin include epoxy resins such as bicalcylenol type epoxy resins, naphthalene type epoxy resins, naphthalene type tetrafunctional epoxy resins, cresol novolak type epoxy resins, dicyclopentadiene type epoxy resins, trisphenol type epoxy resins, naphthol type epoxy resins, Epoxy type epoxy resins, phenyl type epoxy resins, naphthylene ether type epoxy resins, anthracene type epoxy resins, bisphenol A type epoxy resins, bisphenol AF type epoxy resins and tetraphenyl ethane type epoxy resins are preferable. Bisphenol AF type epoxy resins and biphenyl type epoxy The resin is more preferable. Specific examples of the solid epoxy resin include HP4032H (naphthalene type epoxy resin), HP-4700, HP-4710 (naphthalene type tetrafunctional epoxy resin), N-690 HP-7200H "," HP-7200H "," EXA-7311 "(dicyclopentadiene type epoxy resin)," N-695 "(cresol novolak type epoxy resin) EXA-7311-G4 "," EXA-7311-G4S "," HP6000 "(naphthylene ether type epoxy resin)" EPPN-502H "(manufactured by Nippon Kayaku Co., Quot; NC3000L &quot;, &quot; NC3100L &quot; (biphenyl type epoxy resin), &quot; NC7000L &quot; ESN475V "(naphthalene type epoxy resin)," ESN485 "(naphthol novolak type epoxy resin)," YX4000H "," YX4000 ", and" YL6121 "(manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., PG-100 "," CG-500 "manufactured by Osaka Gas Chemical Co., Ltd.," YL7760 "manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., Ltd.)," YX4000HK "(biquileneol type epoxy resin) Quot; jER1010 &quot; (solid bisphenol A type epoxy resin) and &quot; jER1031S &quot; (tetraphenyl ethane type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., . These may be used alone, or two or more kinds may be used in combination.

(A) 성분으로서, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 병용할 경우, 그것들의 양비(액상 에폭시 수지:고체상 에폭시 수지)는, 질량비로, 1:1 내지 1:20의 범위가 바람직하다. 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지의 양비를 이러한 범위로 함으로써, ⅰ) 수지 시트의 형태로 사용할 경우에 적당한 점착성이 형성되고, ⅱ) 수지 시트의 형태로 사용할 경우에 충분한 가요성을 얻을 수 있고, 취급성이 향상되며, ⅲ) 충분한 파단 강도를 갖는 경화물을 얻을 수 있는 등의 효과를 얻을 수 있다. 상기 ⅰ) 내지 ⅲ)의 효과의 관점에서, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지의 양비(액상 에폭시 수지:고체상 에폭시 수지)는, 질량비로, 1:1 내지 1:5의 범위가 보다 바람직하고, 1:1 내지 1:3의 범위가 더욱 바람직하다.When the liquid epoxy resin and the solid epoxy resin are used together as the component (A), their ratio (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) is preferably in the range of 1: 1 to 1:20 in terms of the mass ratio. When the ratio of the liquid epoxy resin and the solid epoxy resin is in this range, sufficient adhesiveness is formed when i) the resin is used in the form of a resin sheet, ii) sufficient flexibility is obtained when the resin is used in the form of a resin sheet, And (iii) a cured product having sufficient breaking strength can be obtained. From the viewpoint of the effects of the above i) to iii), the ratio of the liquid epoxy resin to the solid epoxy resin (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) is more preferably in the range of 1: 1 to 1: 5, : 1 to 1: 3 is more preferable.

수지 조성물 중의 (A) 성분의 함유량은, 양호한 기계 강도, 절연 신뢰성을 나타내는 절연층을 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 10질량% 이상, 보다 바람직하게는 15질량% 이상, 더욱 바람직하게는 20질량% 이상이다. 에폭시 수지의 함유량의 상한은, 본 발명의 효과가 나타나는 한에서 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 40질량% 이하, 보다 바람직하게는 35질량% 이하, 더욱 바람직하게는 30질량% 이하이다.The content of the component (A) in the resin composition is preferably 10% by mass or more, more preferably 10% by mass or more when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass from the viewpoint of obtaining an insulating layer showing good mechanical strength and insulation reliability By mass or more, and more preferably 20% by mass or more. The upper limit of the content of the epoxy resin is not particularly limited as long as the effects of the present invention are exhibited, but it is preferably 40 mass% or less, more preferably 35 mass% or less, further preferably 30 mass% or less.

또한, 본 발명에 있어서, 수지 조성물 중의 각 성분의 함유량은, 별도 명시가 없는 한, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 했을 때의 값이다.In the present invention, the content of each component in the resin composition is a value obtained by assuming that the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass, unless otherwise specified.

(A) 성분의 에폭시 당량은, 바람직하게는 50 내지 5000, 보다 바람직하게는 50 내지 3000, 더욱 바람직하게는 80 내지 2000, 보다 더 바람직하게는 110 내지 1000이다. 이 범위가 됨으로써, 경화물의 가교 밀도가 충분해지고 표면 거칠기가 작은 절연층을 형성할 수 있다. 또한, 에폭시 당량은, JIS K7236에 따라 측정할 수 있고, 1당량의 에폭시기를 포함하는 수지의 질량이다.The epoxy equivalent of the component (A) is preferably 50 to 5000, more preferably 50 to 3000, still more preferably 80 to 2000, still more preferably 110 to 1000. With this range, the crosslinked density of the cured product becomes sufficient, and an insulating layer having a small surface roughness can be formed. The epoxy equivalent can be measured in accordance with JIS K7236, and is the mass of the resin containing one equivalent of epoxy group.

(A) 성분의 중량 평균 분자량은, 바람직하게는 100 내지 5000, 보다 바람직하게는 250 내지 3000, 더욱 바람직하게는 400 내지 1500이다. 여기에서, 에폭시 수지의 중량 평균 분자량은, 겔 침투 크로마토그래피(GPC)법에 의해 측정되는 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량이다.The weight average molecular weight of the component (A) is preferably 100 to 5000, more preferably 250 to 3000, and still more preferably 400 to 1500. Here, the weight average molecular weight of the epoxy resin is a weight average molecular weight in terms of polystyrene measured by a gel permeation chromatography (GPC) method.

<(B) 경화제><(B) Hardener>

수지 조성물은 (B) 경화제를 함유한다. (B) 성분으로서는, (A) 성분을 경화하는 기능을 갖는 것이면 특별히 한정되지 않고, 예를 들어, 페놀계 경화제, 나프톨계 경화제, 활성 에스테르계 경화제, 벤조옥사진계 경화제, 시아네이트 에스테르계 경화제, 및 카르보디이미드계 경화제 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 절연 신뢰성을 향상시키는 관점에서, (B) 성분은, 페놀계 경화제, 나프톨계 경화제, 활성 에스테르계 경화제, 벤조옥사진계 경화제, 시아네이트 에스테르계 경화제, 및 카르보디이미드계 경화제 중 어느 1종 이상인 것이 바람직하고, 활성 에스테르계 경화제, 페놀계 경화제, 및 나프톨계 경화제 중 어느 1종 이상인 것이 보다 바람직하고, 활성 에스테르계 경화제를 포함하는 것이 더욱 바람직하다. 경화제는 1종 단독으로 사용하여도 좋고, 또는 2종 이상을 병용하여도 좋다.The resin composition contains (B) a curing agent. The component (B) is not particularly limited as long as it has a function of curing the component (A), and examples thereof include a phenol series curing agent, a naphthol series curing agent, an active ester series curing agent, a benzoxazine series curing agent, a cyanate ester series curing agent, And carbodiimide-based curing agents. Among them, from the viewpoint of improving the insulation reliability, the component (B) is preferably selected from the group consisting of a phenol-based curing agent, a naphthol-based curing agent, an active ester-based curing agent, a benzoxazine-based curing agent, a cyanate ester-based curing agent and a carbodiimide- More preferably at least one species selected from the group consisting of an active ester-based curing agent, a phenol-based curing agent, and a naphthol-based curing agent, and more preferably an active ester-based curing agent. The curing agent may be used alone or in combination of two or more.

페놀계 경화제 및 나프톨계 경화제로서는, 내열성 및 내수성의 관점에서, 노볼락 구조를 갖는 페놀계 경화제, 또는 노볼락 구조를 갖는 나프톨계 경화제가 바람직하다. 또한, 도체층과의 밀착성의 관점에서, 함질소 페놀계 경화제가 바람직하고, 트리아진 골격 함유 페놀계 경화제가 보다 바람직하다.As the phenol-based curing agent and naphthol-based curing agent, a phenol-based curing agent having a novolak structure or a naphthol-based curing agent having a novolak structure is preferable from the viewpoints of heat resistance and water resistance. From the viewpoint of adhesion with the conductor layer, a nitrogen-containing phenol-based curing agent is preferable, and a phenazine-based curing agent containing a triazine skeleton is more preferable.

페놀계 경화제 및 나프톨계 경화제의 구체예로서는, 예를 들어, 메이와 카세이사 제조의 「MEH-7700」, 「MEH-7810」, 「MEH-7851」, 니혼 카야쿠사 제조의 「NHN」, 「CBN」, 「GPH」, 신닛테츠 스미킨 카가쿠사 제조의 「SN170」, 「SN180」, 「SN190」, 「SN475」, 「SN485」, 「SN495」, 「SN-495V」, 「SN375」, 「SN395」, DIC사 제조의 「TD-2090」, 「LA-7052」, 「LA-7054」, 「LA-1356」, 「LA-3018-50P」, 「EXB-9500」 등을 들 수 있다.Specific examples of the phenol-based curing agent and naphthol-based curing agent include "MEH-7700", "MEH-7810", "MEH-7851" manufactured by Meiwa Chemical Industries, Ltd., "NHN" SN375 "," SN-495V "," SN375 "," SN395 "," SN375 "," TD-2090 "," LA-7052 "," LA-7054 "," LA-1356 "," LA-3018-50P "and" EXB-9500 "manufactured by DIC Corporation.

활성 에스테르계 경화제로서는 특별히 제한은 없지만, 일반적으로 페놀 에스테르류, 티오페놀 에스테르류, N-하이드록시아민 에스테르류, 복소환 하이드록시 화합물의 에스테르류 등의, 반응 활성이 높은 에스테르기를 1분자 중에 2개 이상 갖는 화합물이 바람직하게 사용된다. 당해 활성 에스테르계 경화제는, 카복실산 화합물 및/또는 티오카복실산 화합물과 하이드록시 화합물 및/또는 티올 화합물과의 축합 반응에 의해 얻어지는 것이 바람직하다. 특히 내열성 향상의 관점에서, 카복실산 화합물과 하이드록시 화합물로부터 얻어지는 활성 에스테르계 경화제가 바람직하고, 카복실산 화합물과 페놀 화합물 및/또는 나프톨 화합물로부터 얻어지는 활성 에스테르계 경화제가 보다 바람직하다. 카복실산 화합물로서는, 예를 들어 벤조산, 아세트산, 석신산, 말레산, 이타콘산, 프탈산, 이소프탈산, 테레프탈산, 피로멜리트산 등을 들 수 있다. 페놀 화합물 또는 나프톨 화합물로서는, 예를 들어, 하이드로퀴논, 레조르신, 비스페놀A, 비스페놀F, 비스페놀S, 페놀프탈린, 메틸화 비스페놀A, 메틸화 비스페놀F, 메틸화 비스페놀S, 페놀, o-크레졸, m-크레졸, p-크레졸, 카테콜, α-나프톨, β-나프톨, 1,5-디하이드록시나프탈렌, 1,6-디하이드록시나프탈렌, 2,6-디하이드록시나프탈렌, 디하이드록시벤조페논, 트리하이드록시벤조페논, 테트라하이드록시벤조페논, 플로로글루신, 벤젠트리올, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 화합물, 페놀 노볼락 등을 들 수 있다. 여기에서, 「디사이클로펜타디엔형 디페놀 화합물」이란, 디사이클로펜타디엔 1분자에 페놀 2분자가 축합 해서 얻어지는 디페놀 화합물을 말한다.The active ester-based curing agent is not particularly limited, but generally, an ester group having high reactivity such as esters of phenol esters, thiophenol esters, N-hydroxyamine esters, and heterocyclic hydroxy compounds is used in an amount of 2 Are preferably used. The active ester-based curing agent is preferably obtained by a condensation reaction of a carboxylic acid compound and / or a thiocarboxylic acid compound with a hydroxy compound and / or a thiol compound. From the viewpoint of heat resistance improvement, an active ester type curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a hydroxy compound is preferable, and an active ester type curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a phenol compound and / or a naphthol compound is more preferable. Examples of the carboxylic acid compound include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid and pyromellitic acid. Examples of the phenol compound or naphthol compound include hydroquinone, resorcin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenolphthalein, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o- Cresol, catechol, alpha -naphthol, beta -naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone, Trihydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, fluoroglucine, benzene triol, dicyclopentadiene type diphenol compounds, phenol novolak, and the like. Here, the "dicyclopentadiene type diphenol compound" refers to a diphenol compound obtained by condensing two molecules of phenol in one dicyclopentadiene molecule.

구체적으로는, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물, 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물, 페놀 노볼락의 아세틸화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물, 페놀 노볼락의 벤조일화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물이 바람직하고, 그 중에서도 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물이 보다 바람직하다. 「디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조」란, 페닐렌-디사이클로펜틸렌-페닐렌으로 이루어지는 2가의 구조 단위를 나타낸다.Specifically, there can be mentioned an active ester compound containing a dicyclopentadiene type diphenol structure, an active ester compound containing a naphthalene structure, an active ester compound containing an acetylated phenol novolac, a benzoyl compound of phenol novolac Active ester compounds are preferable, and active ester compounds containing a naphthalene structure and active ester compounds containing a dicyclopentadiene-type diphenol structure are more preferable. The "dicyclopentadiene type diphenol structure" refers to a divalent structural unit comprising phenylene-dicyclopentylene-phenylene.

활성 에스테르계 경화제의 시판품으로서는, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물로서, 「EXB9451」, 「EXB9460」, 「EXB9460S」, 「HPC-8000-65T」, 「HPC-8000H-65TM」, 「EXB-8000L-65TM」, 「EXB-8150-65T」(DIC사 제조), 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물로서 「EXB9416-70BK」(DIC사 제조), 페놀 노볼락의 아세틸화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물로서 「DC808」(미츠비시 카가쿠사 제조), 페놀 노볼락의 벤조일화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물로서 「YLH1026」(미츠비시 카가쿠사 제조), 페놀 노볼락의 아세틸화물인 활성 에스테르계 경화제로서 「DC808」(미츠비시 카가쿠사 제조), 페놀 노볼락의 벤조일화물인 활성 에스테르계 경화제로서 「YLH1026」(미츠비시 카가쿠사 제조), 「YLH1030」(미츠비시 카가쿠사 제조), 「YLH1048」(미츠비시 카가쿠사 제조) 등을 들 수 있다.EXB9451 "," EXB9460 "," EXB9460S "," HPC-8000-65T "," HPC-8000H-65TM ", and the like are available as commercial products of the active ester- EXB9416-70BK "(manufactured by DIC) as an active ester compound containing a naphthalene structure, an acetal compound of phenol novolac as an active ester compound containing a naphthalene structure," EXB-8000L-65TM "," EXB-8150-65T " "YLH1026" (manufactured by Mitsubishi Kagaku) as an active ester compound containing benzoylate of phenol novolac, "DC808" (manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., Ltd.) as an active ester compound, , YLH1026 (manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., Ltd.), YLH1030 (manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., Ltd.), and YLH1048 (manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., Ltd.) as the active ester curing agent which is benzoylate of phenol novolac Kusadasi car manufacturer Mitsubishi) and the like.

벤조옥사진계 경화제의 구체예로서는, 쇼와 코분시사 제조의 「HFB2006M」, 시코쿠 카세이 코교사 제조의 「P-d」, 「F-a」를 들 수 있다.Specific examples of the benzoxazine type curing agent include "HFB2006M" manufactured by Showa Kobunshi Co., Ltd., "P-d" manufactured by Shikoku Kasei Corporation, and "F-a".

시아네이트 에스테르계 경화제로서는, 예를 들어, 비스페놀A디시아네이트, 폴리페놀시아네이트, 올리고(3-메틸렌-1,5-페닐렌시아네이트), 4,4'-메틸렌비스(2,6-디메틸페닐시아네이트), 4,4'-에틸리덴디페닐디시아네이트, 헥사플루오로비스페놀A디시아네이트, 2,2-비스(4-시아네이트)페닐프로판, 1,1-비스(4-시아네이트페닐메탄), 비스(4-시아네이트-3,5-디메틸페닐)메탄, 1,3-비스(4-시아네이트페닐-1-(메틸에틸리덴))벤젠, 비스(4-시아네이트페닐)티오에테르, 및 비스(4-시아네이트 페닐)에테르 등의 2관능 시아네이트 수지, 페놀 노볼락 및 크레졸 노볼락 등으로부터 유도되는 다관능 시아네이트 수지, 이들 시아네이트 수지가 일부 트리아진화한 프리폴리머 등을 들 수 있다. 시아네이트 에스테르계 경화제의 구체예로서는, 론자 재팬사 제조의 「PT30」 및 「PT60」(페놀 노볼락형 다관능 시아네이트 에스테르 수지), 「ULL-950S」(다관능 시아네이트 에스테르 수지), 「BA230」, 「BA230S75」(비스페놀A디시아네이트의 일부 또는 전부가 트리아진화되어 3량체가 된 프리폴리머) 등을 들 수 있다.Examples of the cyanate ester curing agent include bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate, oligo (3-methylene-1,5-phenylene cyanate), 4,4'- Dimethylphenyl cyanate), 4,4'-ethylidenediphenyl dicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis (4-cyanate) phenylpropane, 1,1- Cyanate phenylmethane), bis (4-cyanate-3,5-dimethylphenyl) methane, 1,3-bis Bifunctional cyanate resins derived from phenol novolacs and cresol novolacs such as bis (4-cyanophenyl) thioether and bis (4-cyanatephenyl) ether, and polyfunctional cyanate resins derived from these cyanate resins And a prepolymer. Specific examples of the cyanate ester curing agent include "PT30" and "PT60" (phenol novolac type polyfunctional cyanate ester resin), "ULL-950S" (multifunctional cyanate ester resin), "BA230 BA230S75 &quot; (a prepolymer obtained by trimerizing a part or all of bisphenol A dicyanate to form a trimer), and the like.

카르보디이미드계 경화제의 구체예로서는, 닛신보 케미컬사 제조의 「V-03」, 「V-07」 등을 들 수 있다.Specific examples of the carbodiimide-based curing agent include "V-03" and "V-07" manufactured by Nisshinbo Chemical Co.,

에폭시 수지와 경화제의 양비는, [에폭시 수지의 에폭시기의 합계수]: [경화제의 반응기의 합계수]의 비율로, 1:0.01 내지 1:2의 범위가 바람직하고, 1:0.05 내지 1:3이 보다 바람직하고, 1:0.1 내지 1:1.5이 더욱 바람직하다. 여기에서, 경화제의 반응기란, 활성 수산기, 활성 에스테르기 등이며, 경화제의 종류에 따라 다르다. 또한, 에폭시 수지의 에폭시기의 합계수란, 각 에폭시 수지의 고형분 질량을 에폭시 당량으로 나눈 값을 모든 에폭시 수지에 대해서 합계한 값이며, 경화제의 반응기의 합계수란, 각 경화제의 고형분 질량을 반응기 당량으로 나눈 값을 모든 경화제에 대해서 합계한 값이다. 에폭시 수지와 경화제의 양비를 이러한 범위 로 함으로써, 수지 조성물층의 경화물의 내열성이 보다 향상된다.The proportion of the epoxy resin and the curing agent is preferably in the range of 1: 0.01 to 1: 2, more preferably 1: 0.05 to 1: 3, in the ratio of [the total number of epoxy groups of epoxy resin]: [the total number of reactors of the curing agent] , More preferably from 1: 0.1 to 1: 1.5. Here, the reactive group of the curing agent is an active hydroxyl group, an active ester group, and the like, depending on the kind of the curing agent. The total number of epoxy groups in the epoxy resin refers to a value obtained by dividing the solid component weight of each epoxy resin by the epoxy equivalent for all epoxy resins and the total number of reactors in the curing agent means that the solid mass of each curing agent is equivalent to the reactor Divided by the total amount of the curing agent. By setting the ratio of the epoxy resin and the curing agent to this range, the heat resistance of the cured product of the resin composition layer is further improved.

(B) 성분의 함유량은, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 1질량% 이상, 더욱 바람직하게는 5질량% 이상, 보다 바람직하게는 10질량% 이상이다. 상한은, 바람직하게는 30질량% 이하, 보다 바람직하게는 25질량% 이하, 더욱 바람직하게는 21질량% 이하이다. (B) 성분의 함유량을 이러한 범위 내로 함으로써, 도체층과의 밀착성을 향상시킬 수 있다.The content of the component (B) is preferably 1% by mass or more, more preferably 5% by mass or more, and more preferably 10% by mass or more, based on 100% by mass of the nonvolatile component in the resin composition. The upper limit is preferably 30 mass% or less, more preferably 25 mass% or less, further preferably 21 mass% or less. By making the content of the component (B) fall within this range, the adhesion with the conductor layer can be improved.

<(C) 폴리카보네이트 수지>&Lt; (C) Polycarbonate resin >

수지 조성물은 (C) 폴리카보네이트 수지를 함유한다. 본 발명에서는, (C) 폴리카보네이트 수지를 수지 조성물에 함유시킴으로써, 평균 입자 직경이 작거나 또는 비표면적이 큰 무기 충전재를 사용해도, 고온 고습 환경 하에서의 환경 시험 후의 도체층과 절연층 사이의 밀착성을 유지할 수 있는 경화물을 얻을 수 있게 된다. (C) 폴리카보네이트 수지는, 아미드 수지 및 페녹시 수지 등의 열가소성 수지와 비교해서 높은 소수성을 나타내므로, (C) 폴리카보네이트 수지는 가수분해를 일으키기 어렵다. 그 결과, 고온 고습 환경 하에서의 환경 시험 후라도 절연층이 열화하지 않고 도체층과의 밀착력이 유지된다고 생각할 수 있다. 또한, (C) 폴리카보네이트 수지는, (A) 성분, (B) 성분 및 (D) 성분 사이에서 분자 간의 상호 작용이 일어난다고 생각되며, 그 결과, 각 성분 간에서의 결착력이 고온 고습 환경 하에서도 높게 유지된다. 특히, 상기의 상호 작용은, (D) 무기 충전재와 (A) 성분 내지 (C) 성분 등의 수지 성분과의 계면에서 크게 작용하고 있다고 생각할 수 있다. (D) 무기 충전재는, 평균 입자 직경이 작거나 또는 비표면적이 크므로 상기 계면이 넓다. 따라서, 상기의 상호 작용에 의해 상기 계면에서의 결착력을 높게 유지할 수 있는 것은, 고온 고습 환경 하에서의 환경 시험 후라도 절연층이 열화하지 않고 도체층과의 밀착력이 유지되는 데에 유리하게 작용하고 있다고 생각할 수 있다.The resin composition contains (C) a polycarbonate resin. In the present invention, by containing the polycarbonate resin (C) in the resin composition, the adhesion between the conductor layer and the insulating layer after the environmental test under a high-temperature and high-humidity environment can be improved even when an inorganic filler having a small average particle diameter or a large specific surface area is used It is possible to obtain a cured product that can be maintained. The polycarbonate resin (C) exhibits high hydrophobicity as compared with thermoplastic resins such as an amide resin and a phenoxy resin, so that the polycarbonate resin (C) hardly causes hydrolysis. As a result, it can be considered that the insulating layer is not deteriorated even after the environmental test under a high-temperature and high-humidity environment, and the adhesion with the conductor layer is maintained. The polycarbonate resin (C) is considered to cause intermolecular interaction between the component (A), the component (B) and the component (D), and as a result, the adhesion force between the components in the high temperature and high humidity environment . In particular, it can be considered that the above-mentioned interaction largely acts at the interface between the inorganic filler (D) and the resin component such as the component (A) or the component (C). (D) The inorganic filler has a small average particle diameter or a large specific surface area, and therefore the interface is wide. Therefore, it can be considered that the reason why the bonding force at the interface can be maintained at a high level by the above-described interaction is that the insulating layer does not deteriorate even after the environmental test under a high temperature and high humidity environment and the adhesive force with the conductor layer is maintained have.

(C) 성분으로서는, 카보네이트기를 갖고 있으면 특별히 한정되지 않고, 예를 들어, 지방족 골격 함유 폴리카보네이트 수지, 방향족 골격 함유 폴리카보네이트 수지, 방향족 골격 및 지방족 골격을 함유하는 폴리카보네이트 수지 등을 들 수 있다. (C) 성분은 1종 단독을 사용해도 좋고, 2종 이상을 병용해서 사용해도 좋다. 여기에서, 카보네이트기란, 「-O-C(=O)-」로 표시되는 기를 말한다.The component (C) is not particularly limited as long as it has a carbonate group, and examples thereof include an aliphatic skeleton-containing polycarbonate resin, an aromatic skeleton-containing polycarbonate resin, an aromatic skeleton and a polycarbonate resin containing an aliphatic skeleton. The component (C) may be used alone or in combination of two or more. Here, the carbonate group means a group represented by &quot; -O-C (= O) - &quot;.

(C) 성분은, 일반적으로 폴리하이드록시 화합물과 카보네이트기 전구체를 반응시켜서 제조할 수 있고, 폴리하이드록시 화합물 유래의 구조 단위를 갖는다. 폴리하이드록시 화합물 및 카보네이트기 전구체는 각각 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 병용해도 좋다. 또한, 2종 이상의 폴리하이드록시 화합물을 공중합시킨 공중합체와 카보네이트기 전구체를 반응시켜서 (C) 성분을 제조해도 좋다. 구조 단위란, 화합물에서 1개 또는 2개의 수소 원자를 제거한 구조를 의미한다.The component (C) can be generally produced by reacting a polyhydroxy compound with a carbonate group precursor, and has a structural unit derived from a polyhydroxy compound. The polyhydroxy compound and the carbonate group precursor may be used singly or in combination of two or more. The component (C) may also be produced by reacting a copolymer obtained by copolymerizing two or more polyhydroxy compounds with a carbonate group precursor. A structural unit means a structure in which one or two hydrogen atoms are removed from a compound.

카보네이트기 전구체로서는, 예를 들어, 탄산 에스테르, 포스겐 등을 들 수 있다.Examples of the carbonate group precursor include carbonic ester, phosgene, and the like.

폴리하이드록시 화합물로서는, 지방족 골격 함유 폴리하이드록시 화합물, 방향족 골격 함유 폴리하이드록시 화합물 등을 들 수 있다. 여기에서, 지방족 골격 함유 폴리하이드록시 화합물이란, 분자 내에 방향환을 포함하지 않는 폴리하이드록시 화합물을 말하고, 방향족 골격 함유 폴리하이드록시 화합물이란, 분자 내에 방향환을 포함하는 폴리하이드록시 화합물을 말한다. 또한, 지방족 골격 함유 폴리하이드록시 화합물을 사용하여 얻어진 폴리카보네이트 수지를 지방족 골격 함유 폴리카보네이트 수지, 방향족 골격 함유 폴리하이드록시 화합물을 사용하여 얻어진 폴리카보네이트 수지를 방향족 골격 함유 폴리카보네이트 수지, 및 지방족 골격 함유 디하이드록시 화합물과 방향족 골격 함유 디하이드록시 화합물을 사용하여 얻어진 폴리카보네이트 수지를 방향족 골격 및 지방족 골격을 함유하는 폴리카보네이트 수지라고 한다.Examples of the polyhydroxy compound include an aliphatic skeleton-containing polyhydroxy compound and an aromatic skeleton-containing polyhydroxy compound. Here, the aliphatic skeleton-containing polyhydroxy compound refers to a polyhydroxy compound containing no aromatic ring in the molecule, and the aromatic skeleton-containing polyhydroxy compound refers to a polyhydroxy compound containing an aromatic ring in the molecule. The polycarbonate resin obtained by using the aliphatic skeleton-containing polyhydroxy compound and the polycarbonate resin obtained by using the aliphatic skeleton-containing polycarbonate resin and the aromatic skeleton-containing polyhydroxy compound are mixed with the aromatic skeleton-containing polycarbonate resin and the aliphatic skeleton- A polycarbonate resin obtained by using a dihydroxy compound and an aromatic skeleton-containing dihydroxy compound is referred to as a polycarbonate resin containing an aromatic skeleton and an aliphatic skeleton.

방향족 골격 함유 폴리하이드록시 화합물로서는, 평균 입자 직경이 작거나 또는 비표면적이 큰 무기 충전재를 사용해도, 고온 고습 환경 하에서의 환경 시험후의 밀착성이 우수한 경화물을 얻는 관점에서, 방향족 골격 함유 디하이드록시 화합물이 바람직하다. 방향족 골격 함유 디하이드록시 화합물로서는, 예를 들어, 비스페놀, 나프탈렌디올 등을 들 수 있고, 평균 입자 직경이 작거나 또는 비표면적이 큰 무기 충전재를 사용해도, 고온 고습 환경 하에서의 환경 시험 후의 밀착성이 우수한 경화물을 얻는 관점에서, 비스페놀이 바람직하다. 즉, 방향족 골격 함유 폴리카보네이트 수지로서는, 비스페놀 구조 단위를 갖는 카보네이트 수지인 것이 바람직하다. 여기에서, 비스페놀이란, 2개의 하이드록시페닐기를 갖는 화합물의 총칭이다.From the viewpoint of obtaining a cured product having excellent adhesion after environmental testing under a high temperature and high humidity environment even when an inorganic filler having a small average particle diameter or a large specific surface area is used as the aromatic skeleton-containing polyhydroxy compound, the aromatic skeleton- . Examples of the aromatic skeleton-containing dihydroxy compound include bisphenol and naphthalene diol. Even when an inorganic filler having a small average particle diameter or a large specific surface area is used, the aromatic skeleton-containing dihydroxy compound is excellent in adhesion after environmental testing under a high- From the standpoint of obtaining a cured product, bisphenol is preferable. That is, the aromatic skeleton-containing polycarbonate resin is preferably a carbonate resin having a bisphenol structural unit. Here, bisphenol is a generic term for compounds having two hydroxyphenyl groups.

비스페놀 구조 단위를 구성하는 비스페놀로서는, 예를 들어, 비스페놀A, 비스페놀B, 비스페놀C, 비스페놀E, 비스페놀F, 비스페놀Z 등을 들 수 있고, 비스페놀A, 비스페놀C가 바람직하다.Examples of the bisphenol constituting the bisphenol structural unit include bisphenol A, bisphenol B, bisphenol C, bisphenol E, bisphenol F, and bisphenol Z, with bisphenol A and bisphenol C being preferred.

방향족 골격 함유 폴리카보네이트 수지로서는, 시판품을 사용할 수 있다. 시판품으로서는, 예를 들어, 미츠비시 가스 카가쿠사 제조의 「FPC2136」, 「FPC0220」, 「PCZ200」, 「FPC0330」 등을 들 수 있다.As the aromatic skeleton-containing polycarbonate resin, commercially available products can be used. Examples of commercially available products include "FPC2136", "FPC0220", "PCZ200", and "FPC0330" manufactured by Mitsubishi Gas Kagaku Co.,

지방족 골격 함유 폴리하이드록시 화합물로서는, 평균 입자 직경이 작거나 또는 비표면적이 큰 무기 충전재를 사용해도, 고온 고습 환경 하에서의 환경 시험후의 밀착성이 우수한 경화물을 얻는 관점에서, 지방족 골격 함유 디하이드록시 화합물이 바람직하다. 지방족 골격 함유 디하이드록시 화합물로서는, 예를 들어 디올 화합물 등을 들 수 있다. 즉, 지방족 골격 함유 폴리카보네이트 수지로서는, 디올 구조 단위를 갖는 카보네이트 수지인 것이 바람직하다. 디올 구조 단위를 구성하는 디올 화합물로서는, 예를 들어, 6-헥사메틸렌디올 등을 들 수 있다.As the aliphatic skeleton-containing polyhydroxy compound, from the viewpoint of obtaining a cured product excellent in adhesion after environmental testing under a high temperature and high humidity environment even when an inorganic filler having a small average particle diameter or a large specific surface area is used, . Examples of the aliphatic skeleton-containing dihydroxy compound include diol compounds and the like. That is, the aliphatic skeleton-containing polycarbonate resin is preferably a carbonate resin having a diol structural unit. The diol compound constituting the diol structural unit includes, for example, 6-hexamethylene diol.

지방족 골격 함유 폴리카보네이트 수지로서는, 시판품을 사용할 수 있다. 시판품으로서는, 예를 들어, 아사히 카세이사 제조의 「T5652」, 「G3452」, 「G4672」등을 들 수 있다.As the aliphatic skeleton-containing polycarbonate resin, commercially available products can be used. Commercially available products include, for example, "T5652", "G3452", and "G4672" manufactured by Asahi Kasei Corporation.

(C) 성분으로서는, 지방족 골격 함유 폴리카보네이트 수지, 및 방향족 골격 함유 폴리카보네이트 수지 중 어느 1종 이상인 것이 바람직하고, 디올 구조 단위를 갖는 카보네이트수지, 및 비스페놀 구조 단위를 갖는 폴리카보네이트 수지 중 어느 1종 이상인 것이 보다 바람직하다.The component (C) is preferably at least one selected from the group consisting of an aliphatic skeleton-containing polycarbonate resin and an aromatic skeleton-containing polycarbonate resin, and any one of a carbonate resin having a diol structural unit and a polycarbonate resin having a bisphenol structural unit Or more.

(C) 성분의 수 평균 분자량으로서는, 수지 조성물의 용융 점도를 저하시키는 관점에서, 바람직하게는 1000 이상, 보다 바람직하게는 1500 이상, 더욱 바람직하게는 2000 이상이다. 또한, 고온 고습 환경 하에서의 환경 시험 후의 밀착성이 우수한 경화물을 얻는 관점에서, 바람직하게는 200000 이하, 보다 바람직하게는 100000 이하, 더욱 바람직하게는 50000 이하, 또는 30000 이하이다. 수 평균 분자량은, 후술하는 <폴리카보네이트 수지의 수 평균 분자량의 측정>의 기재에 따라서 측정할 수 있다.The number average molecular weight of the component (C) is preferably 1000 or more, more preferably 1,500 or more, and still more preferably 2,000 or more, from the viewpoint of lowering the melt viscosity of the resin composition. Further, from the viewpoint of obtaining a cured product having excellent adhesion after environmental testing under a high temperature and high humidity environment, it is preferably 200,000 or less, more preferably 100,000 or less, further preferably 50,000 or less, or 30,000 or less. The number average molecular weight can be measured according to the description of &quot; Measurement of Number Average Molecular Weight of Polycarbonate Resin &quot;

(C) 성분의 함유량으로서는, 수지 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 0.1질량% 이상, 보다 바람직하게는 1질량% 이상, 더욱 바람직하게는 2질량% 이상이다. 상한은, 바람직하게는 30질량% 이하, 보다 바람직하게는 20질량% 이하, 더욱 바람직하게는 10질량% 이하이다. (C) 성분의 함유량을 이러한 범위 내로 함으로써, 평균 입자 직경이 작거나 또는 비표면적이 큰 무기 충전재를 사용해도, 고온 고습 환경 하에서의 환경 시험 후의 밀착성을 향상시킬 수 있다. 여기서 「수지 성분」이란, 수지 조성물을 구성하는 불휘발 성분 중, 후술하는 (D) 무기 충전재를 제외한 성분을 말한다.The content of the component (C) is preferably 0.1% by mass or more, more preferably 1% by mass or more, and even more preferably 2% by mass or more, based on 100% by mass of the resin component. The upper limit is preferably 30 mass% or less, more preferably 20 mass% or less, further preferably 10 mass% or less. When the content of the component (C) is within this range, adhesion after environmental testing under a high temperature and high humidity environment can be improved even when an inorganic filler having a small average particle diameter or a large specific surface area is used. Here, the "resin component" refers to a component other than the inorganic filler (D) to be described later, which is a nonvolatile component constituting the resin composition.

<(D) 무기 충전재><(D) Inorganic filler>

제1 실시형태의 수지 조성물은, (D) 무기 충전재를 함유하고, (D) 무기 충전재의 평균 입자 직경은 100nm 이하이다. 또한, 제2 실시형태의 수지 조성물은, (D) 무기 충전재를 함유하고, (D) 무기 충전재의 비표면적이 15㎡/g 이상이다.The resin composition of the first embodiment contains (D) an inorganic filler, and (D) the inorganic filler has an average particle diameter of 100 nm or less. The resin composition of the second embodiment contains (D) an inorganic filler, and (D) the inorganic filler has a specific surface area of 15 m 2 / g or more.

무기 충전재의 재료는 무기 화합물이면 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 실리카, 알루미나, 유리, 코디에라이트, 실리콘 산화물, 황산 바륨, 탄산 바륨, 활석, 클레이, 운모분, 산화 아연, 하이드로탈사이트, 베마이트, 수산화 알루미늄, 수산화 마그네슘, 탄산 칼슘, 탄산 마그네슘, 산화 마그네슘, 질화 붕소, 질화 알루미늄, 질화 망간, 붕산 알루미늄, 탄산 스트론튬, 타이타늄산 스트론튬, 타이타늄산 칼슘, 타이타늄산 마그네슘, 타이타늄산 비스무스, 산화 타이타늄, 산화 지르코늄, 타이타늄산 바륨, 타이타늄산 지르콘산 바륨, 지르콘산 바륨, 지르콘산 칼슘, 인산 지르코늄, 및 인산 텅스텐산 지르코늄 등을 들 수 있다. 이것들 중에서도 실리카가 특히 적합하다. 실리카로서는, 예를 들어, 무정형 실리카, 용융 실리카, 결정 실리카, 합성 실리카, 중공 실리카 등을 들 수 있다. 또한 실리카로서는 구상 실리카가 바람직하다. 무기 충전재는 1종 단독으로 사용하여도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용하여도 좋다.The material of the inorganic filler is not particularly limited as long as it is an inorganic compound. Examples of the filler include silica, alumina, glass, cordierite, silicon oxide, barium sulfate, barium carbonate, talc, clay, mica powder, zinc oxide, hydrotalcite, Magnesium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum nitride, manganese nitride, aluminum borate, strontium carbonate, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, Titanium, zirconium oxide, barium titanate, barium titanate zirconate, barium zirconate, calcium zirconate, zirconium phosphate, and zirconium tungstate phosphate. Of these, silica is particularly suitable. As the silica, for example, amorphous silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, hollow silica and the like can be given. As the silica, spherical silica is preferable. The inorganic fillers may be used singly or in combination of two or more kinds.

제1 실시형태에서의 무기 충전재의 평균 입자 직경은, 박막 절연성의 관점에서, 100nm 이하이고, 바람직하게는 90nm 이하, 보다 바람직하게는 80nm 이하이다. 평균 입자 직경의 하한은, 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 1nm 이상, 보다 바람직하게는 5nm 이상, 더욱 바람직하게는 10nm 이상 등으로 할 수 있다.The average particle diameter of the inorganic filler in the first embodiment is 100 nm or less, preferably 90 nm or less, and more preferably 80 nm or less, from the viewpoint of thin film insulation. The lower limit of the average particle diameter is not particularly limited, but is preferably 1 nm or more, more preferably 5 nm or more, and further preferably 10 nm or more.

또한, 제2 실시형태에서의 무기 충전재의 평균 입자 직경은, 박막 절연성의 관점에서, 바람직하게는 100nm 이하, 보다 바람직하게는 90nm 이하, 더욱 바람직하게는 80nm 이하이다. 평균 입자 직경의 하한은, 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 1nm 이상, 보다 바람직하게는 5nm 이상, 더욱 바람직하게는 10nm 이상 등으로 할 수 있다.The average particle diameter of the inorganic filler in the second embodiment is preferably 100 nm or less, more preferably 90 nm or less, and further preferably 80 nm or less, from the viewpoint of thin film insulation. The lower limit of the average particle diameter is not particularly limited, but is preferably 1 nm or more, more preferably 5 nm or more, and further preferably 10 nm or more.

이러한 평균 입자 직경을 갖는 무기 충전재의 시판품으로서는, 예를 들어, 덴키 카가쿠 코교사 제조 「UFP-30」 등을 들 수 있다.Examples of commercially available inorganic fillers having such an average particle diameter include &quot; UFP-30 &quot; manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd. and the like.

무기 충전재의 평균 입자 직경은 미(Mie) 산란 이론에 기초하는 레이저 회절·산란법에 의해 측정할 수 있다. 구체적으로는 레이저 회절 산란식 입자 직경 분포 측정 장치에 의해, 무기 충전재의 입자 직경 분포를 체적 기준으로 작성하고, 그 중간 직경을 평균 입자 직경으로 함으로써 측정할 수 있다. 측정 샘플은, 무기 충전재를 초음파에 의해 메틸에틸케톤 중에 분산시킨 것을 바람직하게 사용할 수 있다. 레이저 회절 산란식 입자 직경 분포 측정 장치로서는, 호리바 세사쿠쇼사 제조 「LA-500」, 시마즈 세사쿠쇼사 제조 「SALD-2200」 등을 사용할 수 있다.The average particle diameter of the inorganic filler can be measured by a laser diffraction / scattering method based on the Mie scattering theory. Specifically, the particle diameter distribution of the inorganic filler can be measured with a laser diffraction scattering type particle diameter distribution measuring apparatus, and the median diameter can be measured with an average particle diameter. As the measurement sample, an inorganic filler dispersed in methyl ethyl ketone by ultrasonic waves can be preferably used. As the laser diffraction scattering type particle diameter distribution measuring device, "LA-500" manufactured by Horiba Seisakusho Co., Ltd., "SALD-2200" manufactured by Shimadzu Corporation can be used.

제2 실시형태에서의 무기 충전재의 비표면적은, 박막 절연성의 관점에서, 15㎡/g 이상이고, 보다 바람직하게는 20㎡/g 이상, 더욱 바람직하게는 30㎡/g 이상이다. 상한값은 라미네이트성을 향상시키는 관점에서, 바람직하게는 60㎡/g 이하, 보다 바람직하게는 50㎡/g 이하, 더욱 바람직하게는 40㎡/g 이하이다. The specific surface area of the inorganic filler in the second embodiment is 15 m2 / g or more, more preferably 20 m2 / g or more, and further preferably 30 m2 / g or more, from the viewpoint of thin film insulation. The upper limit value is preferably 60 m 2 / g or less, more preferably 50 m 2 / g or less, and still more preferably 40 m 2 / g or less, from the viewpoint of improving the lamination property.

또한, 제1 실시형태에서의 무기 충전재의 비표면적은, 박막 절연성의 관점에서, 바람직하게는 15㎡/g 이상, 보다 바람직하게는 20㎡/g 이상, 더욱 바람직하게는 30㎡/g 이상이다. 상한에 특단의 제한은 없지만, 바람직하게는 60㎡/g 이하, 보다 바람직하게는 50㎡/g 이하, 더욱 바람직하게는 40㎡/g 이하이다.The specific surface area of the inorganic filler in the first embodiment is preferably at least 15 m 2 / g, more preferably at least 20 m 2 / g, even more preferably at least 30 m 2 / g, from the viewpoint of thin film insulation . The upper limit is not particularly limited, but is preferably 60 m 2 / g or less, more preferably 50 m 2 / g or less, and still more preferably 40 m 2 / g or less.

비표면적은, BET법에 따라서, 비표면적 측정 장치(마운텍사 제조 Macsorb HM-1210)를 사용하여 시료 표면에 질소 가스를 흡착시키고, BET 다점법을 사용하여 비표면적을 산출함으로써 얻어진다.The specific surface area is obtained by adsorbing nitrogen gas on the sample surface using a specific surface area measuring apparatus (Macsorb HM-1210, manufactured by Mountain Tex) according to the BET method and calculating the specific surface area using the BET multi-point method.

무기 충전재는, 내습성 및 분산성을 높이는 관점에서, 불소 함유 실란 커플링제, 아미노실란계 커플링제, 에폭시실란계 커플링제, 머캅토실란계 커플링제, 실란계 커플링제, 알콕시실란, 오가노실라잔 화합물, 티타네이트계 커플링제 등의 1종 이상의 표면 처리제로 처리되어 있는 것이 바람직하고, 아미노실란계 커플링제로 처리되어 있는 것이 보다 바람직하다. 표면 처리제의 시판품으로서는, 예를 들어, 신에츠 카가쿠 코교사 제조 「KBM403」(3-글리시독시프로필트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠 코교사 제조 「KBM803」(3-머캅토프로필트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠 코교사 제조 「KBE903」(3-아미노프로필트리에톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM573」(N-페닐-3-아미노프로필트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠 코교사 제조「SZ-31」(헥사메틸디실라잔), 신에츠 카가쿠 코교사 제조「KBM103」(페닐트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠 코교사 제조 「KBM-4803」(장쇄 에폭시형 실란 커플링제), 신에츠 카가쿠 코교사 제조 「KBM-7103」(3,3,3-트리플루오로프로필트리메톡시실란) 등을 들 수 있다.From the viewpoint of improving moisture resistance and dispersibility, the inorganic filler is preferably selected from the group consisting of a fluorine-containing silane coupling agent, an aminosilane coupling agent, an epoxy silane coupling agent, a mercaptosilane coupling agent, a silane coupling agent, an alkoxysilane, Compound, titanate-based coupling agent, and the like, and is more preferably treated with an aminosilane-based coupling agent. Examples of commercially available products of the surface treatment agent include KBM403 (3-glycidoxypropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., KBM803 (3-mercaptopropyltrimethoxy Silane), KBE903 (3-aminopropyltriethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., KBM573 (N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin- KBM103 "(phenyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.," KBM-4803 "manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. (long-chain epoxy-type silane couples , KBM-7103 (3,3,3-trifluoropropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., and the like.

표면 처리제에 의한 표면 처리의 정도는, 무기 충전재의 분산성 향상의 관점에서, (D) 성분 100질량부에 대하여, 0.2질량부 내지 5질량부의 표면 처리제로 표면 처리되어 있는 것이 바람직하고, 0.2질량부 내지 4질량부로 표면 처리되어 있는 것이 바람직하고, 0.3질량부 내지 3질량부로 표면 처리되어 있는 것이 바람직하다.The degree of surface treatment by the surface treatment agent is preferably surface-treated with 0.2 to 5 parts by mass of the surface treatment agent per 100 parts by mass of the component (D) from the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler, To 4 parts by mass, more preferably 0.3 part by mass to 3 parts by mass.

표면 처리제에 의한 표면 처리의 정도는, 무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량에 의해 평가할 수 있다. 무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량은, 무기 충전재의 분산성 향상의 관점에서, 0.02mg/㎡ 이상이 바람직하고, 0.1mg/㎡ 이상이 보다 바람직하고, 0.2mg/㎡ 이상이 더욱 바람직하다. 한편, 수지 바니시의 용융 점도 및 시트 형태에서의 용융 점도의 상승을 억제하는 관점에서, 1mg/㎡ 이하가 바람직하고, 0.8mg/㎡ 이하가 보다 바람직하고, 0.5mg/㎡ 이하가 더욱 바람직하다.The degree of surface treatment by the surface treatment agent can be evaluated by the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler. The amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler is preferably at least 0.02 mg / m 2, more preferably at least 0.1 mg / m 2, and most preferably at least 0.2 mg / m 2 from the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler. On the other hand, from the viewpoint of suppressing the increase of the melt viscosity and the melt viscosity in the sheet form of the resin varnish, it is preferably 1 mg / m 2 or less, more preferably 0.8 mg / m 2 or less and still more preferably 0.5 mg / m 2 or less.

무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량은, 표면 처리 후의 무기 충전재를 용제(예를 들어, 메틸에틸케톤(MEK))에 의해 세정 처리한 후에 측정할 수 있다. 구체적으로는, 용제로서 충분한 양의 MEK를 표면 처리제로 표면 처리된 무기 충전재에 첨가하여, 25℃에서 5분간 초음파 세정한다. 상청액을 제거하고, 고형분을 건조시킨 후, 카본 분석계를 사용하여 무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량을 측정 할 수 있다. 카본 분석계로서는, 호리바 세사쿠쇼사 제조 「EMIA-320V」 등을 사용할 수 있다.The amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured after the surface-treated inorganic filler is washed with a solvent (for example, methyl ethyl ketone (MEK)). Specifically, a sufficient amount of MEK as a solvent is added to the inorganic filler surface-treated with the surface treatment agent, and ultrasonically cleaned at 25 占 폚 for 5 minutes. After the supernatant is removed and the solid content is dried, the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured using a carbon analyzer. As the carbon analyzer, "EMIA-320V" manufactured by Horiba Seisakusho Co., Ltd. and the like can be used.

(D) 성분의 함유량은, 유전 정접을 향상시키는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 50질량% 이상, 보다 바람직하게는 51질량% 이상, 더욱 바람직하게는 52질량% 이상이다. 상한은, 바람직하게는 80질량% 이하, 보다 바람직하게는 70질량% 이하, 더욱 바람직하게는 65질량% 이하이다.The content of the component (D) is preferably 50% by mass or more, more preferably 51% by mass or more, still more preferably 50% by mass or more, more preferably 100% Is not less than 52% by mass. The upper limit is preferably 80 mass% or less, more preferably 70 mass% or less, further preferably 65 mass% or less.

수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우의 (D) 성분의 함유량을 d라고 하고, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우의 (C) 성분의 함유량을 c라고 한 경우, c/d가, 바람직하게는 0.001 이상, 보다 바람직하게는 0.003 이상, 더욱 바람직하게는 0.005 이상이며, 바람직하게는 1 이하, 보다 바람직하게는 0.5 이하, 더욱 바람직하게는 0.1 이하이다. c/d를 이러한 범위 내로 함으로써, 평균 입자 직경이 작거나 또는 비표면적이 큰 무기 충전재를 사용해도, 고온 고습 환경 하에서의 환경 시험 후의 밀착성을 향상시킬 수 있다.When the content of the component (D) is d and the content of the component (C) is c when the content of the nonvolatile component in the resin composition is 100 mass% and the content of the component (D) is 100 mass% , and c / d is preferably 0.001 or more, more preferably 0.003 or more, further preferably 0.005 or more, preferably 1 or less, more preferably 0.5 or less, further preferably 0.1 or less. By making c / d fall within this range, adhesion after environmental testing under a high temperature and high humidity environment can be improved even when an inorganic filler having a small average particle diameter or a large specific surface area is used.

<(E) 경화 촉진제><(E) Curing accelerator>

일 실시형태에 있어서, 수지 조성물은 (E) 경화 촉진제를 함유할 수 있다. 경화 촉진제로서는, 예를 들어, 인계 경화 촉진제, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 구아니딘계 경화 촉진제, 금속계 경화 촉진제 등을 들 수 있고, 인계 경화 촉진제, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 금속계 경화 촉진제가 바람직하고, 아민계 경화 촉진제가 보다 바람직하다. 경화 촉진제는, 1종 단독으로 사용하여도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용하여도 좋다.In one embodiment, the resin composition may contain (E) a curing accelerator. Examples of the curing accelerator include phosphorus hardening accelerators, amine hardening accelerators, imidazole hardening accelerators, guanidine hardening accelerators and metal hardening accelerators. Phosphorus hardening accelerators, amine hardening accelerators, imidazole hardening accelerators, Accelerators and metal-based curing accelerators are preferable, and amine-based curing accelerators are more preferable. The curing accelerator may be used singly or in combination of two or more kinds.

인계 경화 촉진제로서는, 예를 들어, 트리페닐포스핀, 포스포늄보레이트 화합물, 테트라페닐포스포늄테트라페닐보레이트, n-부틸포스포늄테트라페닐보레이트, 테트라부틸포스포늄데칸산염, (4-메틸페닐)트리페닐포스포늄티오시아네이트, 테트라페닐포스포늄티오시아네이트, 부틸트리페닐포스포늄티오시아네이트 등을 들 수 있고, 트리페닐포스핀, 테트라부틸포스포늄데칸산염이 바람직하다.Examples of phosphorus hardening accelerators include triphenylphosphine, phosphonium borate compounds, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, n-butylphosphonium tetraphenylborate, tetrabutylphosphonium decanoate, (4-methylphenyl) triphenyl Phosphonium thiocyanate, tetraphenylphosphonium thiocyanate, butyltriphenylphosphonium thiocyanate, and the like, and triphenylphosphine and tetrabutylphosphonium decanoate are preferable.

아민계 경화 촉진제로서는, 예를 들어, 트리에틸아민, 트리부틸아민 등의 트리알킬아민, 4-디메틸아미노피리딘, 벤질디메틸아민, 2,4,6,-트리스(디메틸아미노 메틸)페놀, 1,8-디아자비사이클로(5,4,0)-운데센 등을 들 수 있고, 4-디메틸아미노 피리딘, 1,8-디아자비사이클로(5,4,0)-운데센이 바람직하다.Examples of the amine-based curing accelerator include trialkylamines such as triethylamine and tributylamine; amines such as 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6-tris (dimethylaminomethyl) Diazabicyclo (5,4,0) undecene, and 4-dimethylaminopyridine and 1,8-diazabicyclo (5,4,0) -undecene are preferable.

이미다졸계 경화 촉진제로서는, 예를 들어, 2-메틸이미다졸, 2-운데실이미다졸, 2-헵타데실이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 2-페닐이미다졸, 2-페닐-4-메틸이미다졸, 1-벤질-2-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸, 1-시아노에틸-2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸륨트리멜리테이트, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸륨트리멜리테이트, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-운데실이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-에틸-4'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진이소시아눌산 부가물, 2-페닐이미다졸이소시아눌산 부가물, 2-페닐-4,5-디하이드록시메틸이미다졸, 2-페닐-4-메틸-5-하이드록시메틸이미다졸, 2,3-디하이드로-1H-피롤로[1,2-a]벤즈이미다졸, 1-도데실-2-메틸-3-벤질이미다졸륨클로라이드, 2-메틸이미다졸린, 2-페닐이미다졸린 등의 이미다졸 화합물 및 이미다졸 화합물과 에폭시 수지의 어덕트체를 들 수 있고, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸이 바람직하다.Examples of the imidazole-based curing accelerator include 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, Imidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl- Benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl- 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium Trimellitate, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1 ')] -ethyl-s-triazine, 2,4- diamino-6- [ Imidazolyl- (1 ')] - ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-ethyl-4'-methylimidazolyl- Triazine, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1 ')] - ethyl- , 2-phenylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2,3- Dihydro-1H-pyrrolo [1,2-a] benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl-3-benzylimidazolium chloride, 2-methylimidazoline and 2-phenylimidazoline An imidazole compound, and an adduct of an imidazole compound and an epoxy resin, and 2-ethyl-4-methylimidazole and 1-benzyl-2-phenylimidazole are preferable.

이미다졸계 경화 촉진제로서는, 시판품을 사용하여도 좋고, 예를 들어, 미츠비시 카가쿠사 제조의 「P200-H50」 등을 들 수 있다.As the imidazole-based curing accelerator, a commercially available product may be used, for example, &quot; P200-H50 &quot; manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation.

구아니딘계 경화 촉진제로서는, 예를 들어, 디시안디아미드, 1-메틸구아니딘, 1-에틸구아니딘, 1-사이클로헥실구아니딘, 1-페닐구아니딘, 1-(o-톨릴)구아니딘, 디메틸구아니딘, 디페닐구아니딘, 트리메틸구아니딘, 테트라메틸구아니딘, 펜타메틸구아니딘, 1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 7-메틸-1,5,7-트리 아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 1-메틸비구아니드, 1-에틸비구아니드, 1-n-부틸비구아니드, 1-n-옥타데실비구아니드, 1,1-디메틸비구아니드, 1,1-디에틸비구아니드, 1-사이클로헥실비구아니드, 1-알릴비구아니드, 1-페닐비구아니드, 1-(o-톨릴)비구아니드 등을 들 수 있고, 디시안디아미드, 1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔이 바람직하다.Examples of the guanidine curing accelerator include dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, 1- (o-tolyl) guanidine, dimethylguanidine, , Trimethylguanidine, tetramethylguanidine, pentamethylguanidine, 1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] deca-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] 1-n-butylbiguanide, 1-n-octadecylbiguanide, 1,1-dimethylbiguanide, 1, 1-cyclohexylbiguanide, 1-allylbiguanide, 1-phenylbiguanide, 1- (o-tolyl) biguanide, and the like, and dicyandiamide, 1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] deca-5-ene is preferred.

금속계 경화 촉진제로서는, 예를 들어, 코발트, 구리, 아연, 철, 니켈, 망간, 주석 등의 금속의, 유기 금속 착체 또는 유기 금속염을 들 수 있다. 유기 금속 착체의 구체예로서는, 코발트(Ⅱ)아세틸아세토네이트, 코발트(Ⅲ)아세틸아세토네이트 등의 유기 코발트 착체, 구리(Ⅱ)아세틸아세토네이트 등의 유기 구리 착체, 아연(Ⅱ)아세틸아세토네이트 등의 유기 아연 착체, 철(Ⅲ)아세틸아세토네이트 등의 유기 철 착체, 니켈(Ⅱ)아세틸아세토네이트 등의 유기 니켈 착체, 망간(Ⅱ)아세틸아세토네이트 등의 유기 망간 착체 등을 들 수 있다. 유기 금속염으로서는, 예를 들어, 옥틸산 아연, 옥틸산 주석, 나프텐산 아연, 나프텐산 코발트, 스테아르산 주석, 스테아르산 아연 등을 들 수 있다.Examples of the metal-based curing accelerator include organic metal complexes or organic metal salts of metals such as cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese and tin. Specific examples of the organometallic complexes include organic cobalt complexes such as cobalt (II) acetylacetonate and cobalt (III) acetylacetonate, organic copper complexes such as copper (II) acetylacetonate, and zinc (II) acetylacetonate An organic iron complex such as an organic zinc complex and iron (III) acetylacetonate, an organic nickel complex such as nickel (II) acetylacetonate, and an organic manganese complex such as manganese (II) acetylacetonate. Examples of the organic metal salt include zinc octylate, tin octylate, zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin stearate and zinc stearate.

수지 조성물이 경화 촉진제를 함유할 경우, 경화 촉진제의 함유량은, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 0.01질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.05질량% 이상, 더욱 바람직하게는 0.08질량% 이상이다. 상한은, 바람직하게는 3질량% 이하, 보다 바람직하게는 2질량% 이하, 더욱 바람직하게는 1질량% 이하이다. 경화 촉진제의 함유량을 이러한 범위 내로 함으로써, 평균 입자 직경이 작거나 또는 비표면적이 큰 무기 충전재를 사용하여도, 고온 고습 환경 하에서의 환경 시험 후의 밀착력이 우수한 경화물을 얻을 수 있다.When the resin composition contains a curing accelerator, the content of the curing accelerator is preferably 0.01% by mass or more, more preferably 0.05% by mass or more, more preferably 0.05% by mass or more, Is 0.08 mass% or more. The upper limit is preferably 3 mass% or less, more preferably 2 mass% or less, further preferably 1 mass% or less. By setting the content of the curing accelerator within this range, a cured product having excellent adhesion after environmental testing under a high temperature and high humidity environment can be obtained even when an inorganic filler having a small average particle diameter or a large specific surface area is used.

<(F) 난연제><(F) Flame Retardant>

일 실시형태에 있어서, 수지 조성물은 (F) 난연제를 함유할 수 있다. 난연제로서는, 예를 들어, 포스파겐 화합물, 유기 인계 난연제, 유기계 질소 함유 인 화합물, 질소 화합물, 실리콘계 난연제, 금속 수산화물 등을 들 수 있고, 포스파겐 화합물이 바람직하다. 난연제는 1종 단독으로 사용하여도 좋고, 또는 2종 이상을 병용하여도 좋다.In one embodiment, the resin composition may contain (F) a flame retardant. Examples of the flame retardant include a phosgene compound, an organic phosphorus flame retardant, an organic nitrogen-containing phosphorus compound, a nitrogen compound, a silicon-based flame retardant, a metal hydroxide, and the like. The flame retardant may be used alone, or two or more thereof may be used in combination.

포스파겐 화합물은, 질소와 인을 구성 원소로 하는 환상 화합물이면 특별히 한정되지 않지만, 포스파겐 화합물은, 페놀성 수산기를 갖는 포스파겐 화합물인 것이 바람직하다.The phosgene compound is not particularly limited as long as it is a cyclic compound containing nitrogen and phosphorus as constituent elements, but the phosgene compound is preferably a phosgene compound having a phenolic hydroxyl group.

포스파겐 화합물의 구체예로서는, 예를 들어, 오츠카 카가쿠사 제조의 「SPH-100」, 「SPS-100」, 「SPB-100」 「SPE-100」, 후시미 세야쿠쇼사 제조의 「FP-100」, 「FP-110」, 「FP-300」, 「FP-400」 등을 들 수 있고, 오츠카 카가쿠사제조의 「SPH-100」이 바람직하다.Specific examples of the phosgene compound include "SPH-100", "SPS-100", "SPB-100" and "SPE-100" manufactured by Otsuka Chemical Co., FP-110 "," FP-300 ", and" FP-400 ", and" SPH-100 "manufactured by Otsuka Kagaku Co., Ltd. is preferable.

포스파겐 화합물 이외의 난연제로서는, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들어, 산코사 제조의 「HCA-HQ」, 다이하치 카가쿠 코교사 제조의 「PX-200」 등을 들 수 있다. 난연제로서는 가수 분해하기 어려운 것이 바람직하고, 예를 들어, 10-(2,5-디하이드록시페닐)-10-하이드로-9-옥사-10-포스파페난트렌-10-옥사이드 등이 바람직하다.As the flame retardant other than the phosgene compound, a commercially available product may be used, and examples thereof include "HCA-HQ" manufactured by Sanko Co., Ltd. and "PX-200" manufactured by Daihatsu Kagakuko Co., As the flame retardant, it is preferable that hydrolysis is difficult, and for example, 10- (2,5-dihydroxyphenyl) -10-hydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide and the like are preferable.

수지 조성물이 난연제를 함유할 경우, 난연제의 함유량은, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 0.3질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.5질량% 이상, 더욱 바람직하게는 0.7질량% 이상이다. 상한은, 바람직하게는 5질량% 이하, 보다 바람직하게는 4질량% 이하, 더욱 바람직하게는 3질량% 이하이다.When the resin composition contains a flame retardant, the content of the flame retardant is preferably not less than 0.3% by mass, more preferably not less than 0.5% by mass, further preferably not less than 0.7% by mass, based on 100% by mass of the nonvolatile component in the resin composition to be. The upper limit is preferably 5 mass% or less, more preferably 4 mass% or less, further preferably 3 mass% or less.

<(G) 임의의 첨가제>&Lt; (G) Optional additives >

일 실시형태에 있어서, 수지 조성물은, 또한 필요에 따라, 임의의 첨가제를 포함하고 있어도 좋고, 이러한 임의의 첨가제로서는, 예를 들어, 열가소성 수지, 유기 충전재, 유기 구리 화합물, 유기 아연 화합물 및 유기 코발트 화합물 등의 유기 금속 화합물, 및 증점제, 소포제, 레벨링제, 밀착성 부여제, 및 착색제 등의 수지 첨가제 등을 들 수 있다.In one embodiment, the resin composition may further contain optional additives, if necessary. Examples of such optional additives include thermoplastic resins, organic fillers, organic copper compounds, organic zinc compounds, and organic cobalt An organic metal compound such as a compound, and a resin additive such as a thickener, a defoaming agent, a leveling agent, an adhesion-imparting agent, and a coloring agent.

열가소성 수지로서는, 예를 들어, 페녹시 수지, 폴리비닐아세탈수지, 폴리올레핀 수지, 폴리부타디엔 수지, 폴리이미드 수지, 폴리아미드이미드 수지, 폴리에테르이미드 수지, 폴리설폰 수지, 폴리에테르설폰 수지, 폴리페닐렌에테르 수지, 폴리에테르에테르케톤 수지, 폴리에스테르 수지 등을 들 수 있다. 단, 여기에서 말하는 열가소성 수지는 (C) 폴리카보네이트 수지를 포함하지 않는다.Examples of the thermoplastic resin include thermoplastic resins such as phenoxy resin, polyvinyl acetal resin, polyolefin resin, polybutadiene resin, polyimide resin, polyamideimide resin, polyetherimide resin, polysulfone resin, polyether sulfone resin, Ether resins, polyether ether ketone resins, and polyester resins. However, the thermoplastic resin referred to herein does not include the (C) polycarbonate resin.

열가소성 수지로서는, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들어, 미츠비시 카가쿠사 제조의 「YX7553BH30」, 「YX7891BH30」, 세키스이 카가쿠 코교사 제조의 KS 시리즈, 신닛폰 리카사 제조의 「리카 코트 SN20」, 「리카 코트 PN20」, 미츠비시 가스 카가쿠사 제조의 「OPE-2St 1200」 등을 들 수 있다.As the thermoplastic resin, a commercially available product may be used. For example, "YX7553BH30", "YX7891BH30" manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., Ltd., KS series manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd., "Rika coat SN20" "Rika coat PN20", "OPE-2St 1200" manufactured by Mitsubishi Gas Kagaku Co., Ltd., and the like.

유기 충전재로서는, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 사용할 수 있는 임의의 유기 충전재를 사용해도 좋고, 예를 들어, 고무 입자, 폴리아미드 미립자, 실리콘 입자 등을 들 수 있다. 고무 입자로서는, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들어, 다우 케미컬 닛폰사 제조의 「EXL2655」, 아이카 코교사 제조의 「AC3401N」, 「AC3816N」 등을 들 수 있다.As the organic filler, any organic filler which can be used for forming the insulating layer of the printed wiring board may be used, and examples thereof include rubber particles, polyamide fine particles, silicon particles and the like. As the rubber particles, commercially available products may be used, for example, "EXL2655" manufactured by Dow Chemical Co., Ltd., "AC3401N" manufactured by Aikoko Co., Ltd., and "AC3816N".

<수지 조성물의 물성, 용도>&Lt; Physical properties and uses of resin composition >

수지 조성물을, 100℃에서 30분간, 이어서 180℃에서 20분간 열경화시킨 경화물은, 박막 절연성, 즉 경화물이 박막이라도 우수한 절연 저항값을 나타낸다. 상세하게는, 수지 조성물을, 100℃에서 30분간, 추가로 180℃에서 30분간 열경화시켜서 얻어진 경화물의 표면에 조화 처리 시험을 행하였을 때, 그 경화물이 얇아도, 그 경화물은 높은 절연 저항값을 나타낸다. 두께가 5±0.5㎛의 경화물에서의 절연 저항값으로서는, 바람직하게는 0.1×108Ω 이상, 보다 바람직하게는 0.5×108Ω 이상, 더욱 바람직하게는 1×108Ω 이상이다. 상한은 특별히 한정되지 않지만, 100×1012Ω 이하 등으로 할 수 있다. 절연 저항값의 측정은, 후술하는 <절연층의 절연 신뢰성의 평가>에 기재된 방법에 따라서 측정할 수 있다.The cured product obtained by thermosetting the resin composition at 100 占 폚 for 30 minutes and then at 180 占 폚 for 20 minutes exhibits excellent insulation resistance even in the case of thin film insulation, that is, even when the cured product is a thin film. Specifically, when the resin composition is thermally cured at 100 占 폚 for 30 minutes and further at 180 占 폚 for 30 minutes, when the surface of the cured product is subjected to the roughening treatment test, even if the cured product is thin, It represents the resistance value. The insulation resistance value of a cured product having a thickness of 5 ± 0.5 μm is preferably not less than 0.1 × 10 8 Ω, more preferably not less than 0.5 × 10 8 Ω, and still more preferably not less than 1 × 10 8 Ω. The upper limit is not particularly limited, but may be 100 x 10 < 12 > The measurement of the insulation resistance value can be performed according to the method described in &quot; Evaluation of insulation reliability of insulation layer &quot;

수지 조성물을, 190℃에서 90분간 열경화시킨 경화물은, 환경 시험 전의 구리박 박리 강도(밀착성)이 우수하다는 특성을 나타낸다. 즉, 환경 시험 전의 밀착성이 우수한 절연층을 형성한다. 환경 시험 전의 구리박 박리 강도로서는, 바람직하게는 0.45kgf/cm 이상, 보다 바람직하게는 0.50kgf/cm 이상, 더욱 바람직하게는 0.55kgf/cm 이상이다. 상한은 특별히 한정되지 않지만, 10kgf/cm 이하 등으로 할 수 있다. 환경 시험 전의 구리박 박리 강도는, 후술하는 <구리박 박리 강도(밀착성 1)의 측정>의 기재에 따라 측정할 수 있다.The cured product obtained by thermally curing the resin composition at 190 占 폚 for 90 minutes exhibits excellent copper peel strength (adhesion) before environmental testing. That is, the insulating layer having excellent adhesion before the environmental test is formed. The copper foil peel strength before environmental testing is preferably at least 0.45 kgf / cm, more preferably at least 0.50 kgf / cm, and even more preferably at least 0.55 kgf / cm. The upper limit is not particularly limited, but may be 10 kgf / cm or less. The copper foil peel strength before the environmental test can be measured according to the description of &quot; Measurement of copper foil peel strength (adhesion 1) &quot;

수지 조성물을 190℃에서 90분간 열경화시킨 경화물은, 환경 시험 후의 구리박 박리 강도(밀착성)이 우수하다는 특성을 나타낸다. 즉, 환경 시험 후의 밀착성이 우수하고, 장기간에 걸쳐 높은 밀착성을 발휘할 수 있는 절연층을 형성한다. 환경 시험 후의 구리박 박리 강도로서는, 바람직하게는 0.20kgf/cm 이상, 보다 바람직하게는 0.21kgf/cm 이상, 더욱 바람직하게는 0.25kgf/cm 이상이다. 상한은 특별히 한정되지 않지만, 10kgf/cm 이하 등으로 할 수 있다. 환경 시험 전의 구리박 박리 강도는, 후술하는 <내환경 시험(HAST) 후의 구리박 박리 강도(밀착성 2)의 측정>의 기재에 따라 측정할 수 있다.The cured product obtained by thermosetting the resin composition at 190 占 폚 for 90 minutes shows a characteristic that the copper foil peel strength (adhesion) after the environmental test is excellent. That is, an insulating layer which is excellent in adhesion after an environmental test and can exhibit high adhesiveness over a long period of time is formed. The copper foil peel strength after the environmental test is preferably at least 0.20 kgf / cm, more preferably at least 0.21 kgf / cm, even more preferably at least 0.25 kgf / cm. The upper limit is not particularly limited, but may be 10 kgf / cm or less. The copper foil peel strength before the environmental test can be measured according to the description of &quot; Measurement of copper foil peel strength (adhesion 2) after internal environmental test (HAST) &quot;

본 발명의 수지 조성물은, 박막 절연성이 우수하고, 또한 고온 고습 환경 하에서의 환경 시험 후, 도체층과의 사이의 밀착성을 유지할 수 있는 절연층을 형성할 수 있다. 따라서, 본 발명의 수지 조성물은, 절연 용도의 수지 조성물층으로서 적합하게 사용할 수 있다. 구체적으로는, 본 발명의 수지 조성물은, 프린트 배선판의 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물(프린트 배선판의 절연층용 수지 조성물)로서 적합하게 사용할 수 있고, 프린트 배선판의 층간 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물(프린트 배선판의 층간 절연층용 수지 조성물)로서 보다 적합하게 사용할 수 있다. 또한, 본 발명의 수지 조성물은, 부품 매립성이 양호한 절연층을 형성할 수 있으므로, 프린트 배선판이 부품 내장 회로판인 경우에도 적합하게 사용할 수 있다. 또한, 본 발명의 수지 조성물은, 절연층 위에 도체층(재배선층을 포함함.)을 형성하기 위한 당해 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물(도체층을 형성하기 위한 절연층 형성용 수지 조성물)로서 적합하게 사용할 수 있다.The resin composition of the present invention is excellent in thin film insulation and can form an insulating layer capable of maintaining adhesiveness with a conductor layer after an environmental test under a high temperature and high humidity environment. Therefore, the resin composition of the present invention can be suitably used as a resin composition layer for insulation purposes. Specifically, the resin composition of the present invention can be suitably used as a resin composition (a resin composition for an insulating layer of a printed wiring board) for forming an insulating layer of a printed wiring board, and a resin composition for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board (A resin composition for an interlaminar insulating layer of a printed wiring board). Further, the resin composition of the present invention can be suitably used even when the printed wiring board is a component built-in circuit board, because an insulating layer with a good part filling property can be formed. The resin composition of the present invention is a resin composition for forming the insulating layer for forming a conductor layer (including a rewiring layer) on an insulating layer (a resin composition for forming an insulating layer for forming a conductor layer) It can be suitably used.

[수지 시트][Resin sheet]

본 발명의 수지 시트는, 지지체와, 당해 지지체 위에 형성된, 본 발명의 수지 조성물로 형성된 수지 조성물층을 포함한다. The resin sheet of the present invention comprises a support and a resin composition layer formed on the support and formed from the resin composition of the present invention.

수지 조성물층의 두께는, 프린트 배선판의 박형화, 및 박막이라도 절연성이 우수한 경화물을 제공할 수 있다는 관점에서, 바람직하게는 15㎛ 이하, 보다 바람직하게는 13㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 10㎛ 이하, 또는 8㎛ 이하이다. 수지 조성물층의 두께의 하한은, 특별히 한정되지 않지만, 통상, 1㎛ 이상, 1.5㎛ 이상, 2㎛ 이상 등으로 할 수 있다.The thickness of the resin composition layer is preferably 15 占 퐉 or less, more preferably 13 占 퐉 or less, still more preferably 10 占 퐉 or less from the viewpoint of reducing the thickness of the printed wiring board and providing a cured product excellent in insulation property , Or 8 탆 or less. The lower limit of the thickness of the resin composition layer is not particularly limited, but may be usually 1 占 퐉 or more, 1.5 占 퐉 or more, 2 占 퐉 or more, and the like.

지지체로서는, 예를 들어, 플라스틱 재료로 이루어진 필름, 금속박, 이형지를 들 수 있고, 플라스틱 재료로 이루어진 필름, 금속박이 바람직하다.As the support, for example, a film made of a plastic material, a metal foil and a release paper can be mentioned, and a film or a metal foil made of a plastic material is preferable.

지지체로서 플라스틱 재료로 이루어진 필름을 사용할 경우, 플라스틱 재료로서는, 예를 들어, 폴리에틸렌테레프탈레이트(이하 「PET」라고 약칭하는 경우가 있음.), 폴리에틸렌나프탈레이트(이하 「PEN」이라고 약칭하는 경우가 있음.) 등의 폴리에스테르, 폴리카보네이트(이하 「PC」라고 약칭하는 경우가 있음.), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA) 등의 아크릴, 환상 폴리올레핀, 트리아세틸셀룰로오스(TAC), 폴리에테르설파이드(PES), 폴리에테르케톤, 폴리이미드 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트가 바람직하고, 저렴한 폴리에틸렌테레프탈레이트가 특히 바람직하다.When a film made of a plastic material is used as the support, examples of the plastic material include polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as "PET"), polyethylene naphthalate (hereinafter sometimes abbreviated as "PEN" (TAC), polyether sulfide (PES), polyether sulfone (PES), and the like, such as polyesters, polycarbonates ), Polyether ketone, polyimide and the like. Among them, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate are preferable, and inexpensive polyethylene terephthalate is particularly preferable.

지지체로서 금속박을 사용할 경우, 금속박으로서는, 예를 들어, 구리박, 알루미늄박 등을 들 수 있고, 구리박이 바람직하다. 구리박으로서는, 구리의 단금속으로 이루어진 박을 사용하여도 좋고, 구리와 다른 금속(예를 들어, 주석, 크롬, 은, 마그네슘, 니켈, 지르코늄, 규소, 타이타늄 등)과의 합금으로 이루어진 박을 사용하여도 좋다.When a metal foil is used as the support, examples of the metal foil include copper foil and aluminum foil, and copper foil is preferable. As the copper foil, a foil made of a single metal of copper or a foil made of an alloy of copper and another metal (for example, tin, chromium, silver, magnesium, nickel, zirconium, silicon, May be used.

지지체는, 수지 조성물층과 접합하는 면에 매트 처리, 코로나 처리, 대전 방지 처리를 실시해도 좋다.The support may be subjected to a mat treatment, a corona treatment, and an antistatic treatment on the surface to be bonded to the resin composition layer.

또한, 지지체로서는, 수지 조성물층과 접합하는 면에 이형층을 갖는 이형층 부착 지지체를 사용하여도 좋다. 이형층 부착 지지체의 이형층에 사용하는 이형제로서는, 예를 들어, 알키드 수지, 폴리올레핀 수지, 우레탄 수지, 및 실리콘 수지로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 이형제를 들 수 있다. 이형층 부착 지지체는, 시판품을 사용하여도 좋고, 예를 들어, 알키드 수지계 이형제를 주성분으로 하는 이형층을 갖는 PET 필름인, 린텍사 제조의 「SK-1」, 「AL-5」, 「AL-7」, 토레사 제조의 「루미러 T60」, 테이진사 제조의 「퓨렉스」, 유니치카사 제조의 「유니필」 등을 들 수 있다.As the support, a support having a release layer having a release layer on the surface to be bonded to the resin composition layer may be used. As the release agent used for the release layer of the release layer-adhered support, for example, one or more release agents selected from the group consisting of an alkyd resin, a polyolefin resin, a urethane resin, and a silicone resin can be mentioned. SK-1, &quot; &quot; AL-5 &quot;, and &quot; AL-5 &quot;, manufactured by LINTEX Corporation, which is a PET film having a releasing layer mainly composed of an alkyd resin releasing agent as a main component, -7 &quot; manufactured by Toray Industries, Inc., &quot; Lumirror T60 &quot; manufactured by Toray Industries, Inc., Purex manufactured by Teijin, and Unipyl manufactured by Uniqica Corporation.

지지체의 두께로서는, 특별히 한정되지 않지만, 5㎛ 내지 75㎛의 범위가 바람직하고, 10㎛ 내지 60㎛의 범위가 보다 바람직하다. 또한, 이형층 부착 지지체를 사용할 경우, 이형층 부착 지지체 전체의 두께가 상기 범위인 것이 바람직하다.The thickness of the support is not particularly limited, but is preferably in the range of 5 탆 to 75 탆, more preferably in the range of 10 탆 to 60 탆. When the release layer-adhered support is used, it is preferable that the thickness of the entirety of the release layer-adhered support is in the above range.

일 실시형태에 있어서, 수지 시트는, 또한 필요에 따라, 그 밖의 층을 포함하고 있어도 좋다. 이러한 그 밖의 층으로서는, 예를 들어, 수지 조성물층의 지지체와 접합하고 있지 않은 면(즉, 지지체와는 반대측의 면)에 형성된, 지지체에 준한 보호 필름 등을 들 수 있다. 보호 필름의 두께는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어, 1㎛ 내지 40㎛이다. 보호 필름을 적층함으로써, 수지 조성물층의 표면으로의 먼지 등의 부착이나 흠집을 억제할 수 있다.In one embodiment, the resin sheet may further include other layers as required. As such other layers, for example, a protective film based on a support formed on a surface of the resin composition layer not bonded to a support (that is, a surface opposite to the support) may, for example, be mentioned. The thickness of the protective film is not particularly limited, but is, for example, 1 탆 to 40 탆. By laminating a protective film, adhesion and scratches of dust and the like to the surface of the resin composition layer can be suppressed.

수지 시트는, 예를 들어, 유기 용제에 수지 조성물을 용해한 수지 바니시를 조제하고, 이 수지 바니시를, 다이 코터 등을 사용하여 지지체 위에 도포하고, 또한 건조시켜서 수지 조성물층을 형성시킴으로써 제조할 수 있다.The resin sheet can be produced, for example, by preparing a resin varnish obtained by dissolving a resin composition in an organic solvent, coating the resin varnish on a support using a die coater or the like, and drying the resin varnish to form a resin composition layer .

유기 용제로서는, 예를 들어, 아세톤, 메틸에틸케톤(MEK) 및 사이클로헥산온 등의 케톤류, 아세트산에틸, 아세트산부틸, 셀로솔브아세테이트, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트 및 카비톨아세테이트 등의 아세트산에스테르류, 셀로솔브 및 부틸카비톨 등의 카비톨류, 톨루엔 및 크실렌 등의 방향족 탄화수소류, 디메틸포름아미드, 디메틸아세트아미드(DMAc) 및 N-메틸피롤리돈 등의 아미드계 용제 등을 들 수 있다. 유기 용제는 1종 단독으로 사용하여도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용하여도 좋다.Examples of the organic solvent include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone (MEK) and cyclohexanone, acetic acid esters such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate and carbitol acetate, And the like; aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene; amide solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide (DMAc) and N-methylpyrrolidone; and the like. The organic solvents may be used alone, or two or more kinds may be used in combination.

건조는, 가열, 열풍 분사 등의 공지의 방법에 의해 실시해도 좋다. 건조 조건은 특별히 한정되지 않지만, 수지 조성물층 중의 유기 용제의 함유량이 10질량% 이하, 바람직하게는 5질량% 이하가 되도록 건조시킨다. 수지 바니시 중의 유기 용제의 비점에 따라서도 다르지만, 예를 들어 30질량% 내지 60질량%의 유기 용제를 포함하는 수지 바니시를 사용할 경우, 50℃ 내지 150℃에서 3분간 내지 10분간 건조시킴으로써, 수지 조성물층을 형성할 수 있다.The drying may be carried out by a known method such as heating or hot air jetting. The drying conditions are not particularly limited, but the drying is carried out so that the content of the organic solvent in the resin composition layer is 10 mass% or less, preferably 5 mass% or less. For example, 30 to 60 mass% of the organic solvent is used, the resin varnish is dried at 50 to 150 DEG C for 3 minutes to 10 minutes, whereby the resin composition Layer can be formed.

수지 시트는, 롤 형상으로 권취하여 보존하는 것이 가능하다. 수지 시트가 보호 필름을 갖는 경우, 보호 필름을 벗김으로써 사용 가능해진다.The resin sheet can be rolled and stored. When the resin sheet has a protective film, it can be used by peeling off the protective film.

본 발명의 수지 시트는, 얇아도, 박막 절연성 및 고온 고습 환경 하에서의 환경 시험 후, 도체층과의 사이의 밀착성을 유지할 수 있는 절연층(수지 조성물층의 경화물)을 형성한다. 따라서 본 발명의 수지 시트는, 프린트 배선판의 절연층을 형성하기 위한(프린트 배선판의 절연층 형성용의) 수지 시트로서 적합하게 사용할 수 있고, 프린트 배선판의 층간 절연층을 형성하기 위한 수지 시트(프린트 배선판의 층간 절연층용 수지 시트)로서 보다 적합하게 사용할 수 있다. 또한, 예를 들어, 제1 도체층과, 제2 도체층과, 제1 도체층 및 제2 도체층 사이에 형성된 절연층을 포함하는 프린트 배선판에 있어서, 본 발명의 수지 시트에 의해 절연층을 형성함으로써, 제1 및 제2 도체층 간의 간격(제1 및 제2 도체층 간의 절연층의 두께)을 6㎛ 이하(바람직하게는 5.5㎛ 이하, 보다 바람직하게는 5㎛ 이하)로 하면서 박막 절연성이 우수한 것으로 할 수 있다.The resin sheet of the present invention forms an insulating layer (cured product of the resin composition layer) capable of maintaining adhesion between the resin layer and the conductor layer even after the environmental test under a thin film insulation property and a high temperature and high humidity environment. Therefore, the resin sheet of the present invention can be suitably used as a resin sheet (for forming an insulating layer of a printed wiring board) for forming an insulating layer of a printed wiring board, and can be suitably used as a resin sheet for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board Resin sheet for an interlayer insulating layer of a wiring board). Further, for example, in a printed wiring board comprising a first conductor layer, a second conductor layer, and an insulating layer formed between the first conductor layer and the second conductor layer, (Preferably not more than 5.5 탆, more preferably not more than 5 탆) between the first and second conductor layers (the thickness of the insulating layer between the first and second conductor layers) Can be made excellent.

[프린트 배선판][Printed circuit board]

본 발명의 프린트 배선판은, 본 발명의 수지 조성물의 경화물에 의해 형성된 절연층, 제1 도체층, 및 제2 도체층을 포함한다. 절연층은, 제1 도체층과 제2 도체층 사이에 형성되어 있어, 제1 도체층과 제2 도체층을 절연하고 있다(도체층은 배선층이라고 하는 경우가 있다).The printed wiring board of the present invention comprises an insulating layer, a first conductor layer, and a second conductor layer formed by a cured product of the resin composition of the present invention. The insulating layer is formed between the first conductor layer and the second conductor layer to insulate the first conductor layer from the second conductor layer (the conductor layer may be referred to as a wiring layer).

절연층은, 본 발명의 수지 조성물의 경화물에 의해 형성되므로, 박막 절연성이 우수하다. 이 때문에, 제1 및 제2 도체층 간의 절연층의 두께는, 바람직하게는 6㎛ 이하, 보다 바람직하게는 5.5㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 5㎛ 이하이다. 하한에 대해서는 특별히 한정되지 않지만 0.1㎛ 이상 등으로 할 수 있다. 제1 도체층과 제2 도체층 간의 간격(제1 및 제2 도체층 간의 절연층의 두께)이란, 도 1에 일례를 나타낸 바와 같이, 제1 도체층(1)의 주면(11)과 제2 도체층(2)의 주면(21) 간의 절연층(3)의 두께(t1)를 말한다. 제1 및 제2 도체층은 절연층을 개재하여 서로 이웃하는 도체층이며, 주면(11) 및 주면(21)은 서로 마주 보고 있다.Since the insulating layer is formed by the cured product of the resin composition of the present invention, it has excellent thin film insulation. Therefore, the thickness of the insulating layer between the first and second conductor layers is preferably 6 占 퐉 or less, more preferably 5.5 占 퐉 or less, and further preferably 5 占 퐉 or less. The lower limit is not particularly limited, but may be 0.1 탆 or more. The distance between the first conductor layer and the second conductor layer (the thickness of the insulating layer between the first and second conductor layers) means the distance between the major surface 11 of the first conductor layer 1 and the distance Refers to the thickness t1 of the insulating layer 3 between the main surfaces 21 of the two conductor layers 2. The first and second conductor layers are conductor layers which are adjacent to each other with an insulating layer interposed therebetween, and the main surface 11 and the main surface 21 face each other.

또한, 절연층 전체의 두께 t2는, 바람직하게는 15㎛ 이하, 보다 바람직하게는 13㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 10㎛ 이하이다. 하한에 대해서는 특별히 한정되지 않지만, 통상, 1㎛ 이상, 1.5㎛ 이상, 2㎛ 이상 등으로 할 수 있다.The total thickness t2 of the insulating layer is preferably 15 占 퐉 or less, more preferably 13 占 퐉 or less, and further preferably 10 占 퐉 or less. The lower limit is not particularly limited, but may be usually 1 占 퐉 or more, 1.5 占 퐉 or more, 2 占 퐉 or more, or the like.

프린트 배선판은, 상술한 수지 시트를 사용하고, 하기 (Ⅰ) 및 (Ⅱ)의 공정을 포함하는 방법에 의해 제조할 수 있다.The printed wiring board can be produced by a method comprising the following steps (I) and (II) using the resin sheet described above.

(Ⅰ) 내층 기판 위에, 수지 시트의 수지 조성물층이 내층 기판과 접합하도록 적층하는 공정(I) Step of laminating a resin composition layer of a resin sheet on an inner layer substrate so as to be bonded to an inner layer substrate

(Ⅱ) 수지 조성물층을 열경화해서 절연층을 형성하는 공정(II) a step of thermally curing the resin composition layer to form an insulating layer

공정 (Ⅰ)에서 사용하는 「내층 기판」이란, 프린트 배선판의 기판이 되는 부재로서, 예를 들어, 유리 에폭시 기판, 금속 기판, 폴리에스테르 기판, 폴리이미드 기판, BT 레진 기판, 열경화형 폴리페닐렌에테르 기판 등을 들 수 있다. 또한, 당해 기판은, 그 편면 또는 양면에 도체층을 갖고 있어도 좋고, 이 도체층은 패턴 가공되어 있어도 좋다. 기판의 편면 또는 양면에 도체층(회로)이 형성된 내층 기판은 「내층 회로 기판」이라고 하는 경우가 있다. 또한 프린트 배선판을 제조할 때에, 추가로 절연층 및/또는 도체층이 형성되어야 할 중간 제조물도 본 발명에서 말하는 「내층 기판」에 포함된다. 프린트 배선판이 부품 내장 회로판인 경우, 부품을 내장한 내층 기판을 사용할 수 있다.The term &quot; inner layer substrate &quot; used in the step (I) means a member to be a substrate of a printed wiring board, and examples thereof include glass epoxy substrate, metal substrate, polyester substrate, polyimide substrate, BT resin substrate, Ether substrates and the like. The substrate may have a conductor layer on one side or both sides thereof, and the conductor layer may be patterned. An inner layer substrate on which a conductor layer (circuit) is formed on one side or both sides of the substrate is sometimes referred to as an &quot; inner layer circuit substrate &quot;. Further, in manufacturing a printed wiring board, an intermediate product in which an insulating layer and / or a conductor layer is to be further formed is also included in the &quot; inner layer substrate &quot; When the printed wiring board is a component built-in circuit board, an inner-layer board containing components can be used.

내층 기판과 수지 시트의 적층은, 예를 들어, 지지체측에서 수지 시트를 내층 기판에 가열 압착함으로써 행할 수 있다. 수지 시트를 내층 기판에 가열 압착하는 부재(이하, 「가열 압착 부재」라고도 함.)로서는, 예를 들어, 가열된 금속판(SUS 경판 등) 또는 금속 롤(SUS 롤) 등을 들 수 있다. 또한, 가열 압착 부재를 수지 시트에 직접 프레스하는 것이 아니고, 내층 기판의 표면 요철에 수지 시트가 충분히 추종되도록, 내열 고무 등의 탄성재를 개재하여 프레스하는 것이 바람직하다.The lamination of the inner layer substrate and the resin sheet can be performed, for example, by heating and pressing the resin sheet to the inner layer substrate on the support side. Examples of the member for heating and pressing the resin sheet to the inner layer substrate (hereinafter, also referred to as "hot pressed member") include a heated metal plate (SUS hard plate) or a metal roll (SUS roll). It is also preferable to press the heat-press member through an elastic material such as heat-resistant rubber such that the heat-press member is not pressed directly onto the resin sheet but the resin sheet sufficiently follows the surface unevenness of the inner layer substrate.

내층 기판과 수지 시트의 적층은, 진공 라미네이트법에 의해 실시해도 좋다. 진공 라미네이트법에 있어서, 가열 압착 온도는, 바람직하게는 60℃ 내지 160℃, 보다 바람직하게는 80℃ 내지 140℃의 범위이고, 가열 압착 압력은, 바람직하게는 0.098MPa 내지 1.77MPa, 보다 바람직하게는 0.29MPa 내지 1.47MPa의 범위이며, 가열 압착 시간은, 바람직하게는 20초간 내지 400초간, 보다 바람직하게는 30초간 내지 300초간의 범위이다. 적층은, 바람직하게는 압력 26.7hPa 이하의 감압 조건 하에서 실시한다.The lamination of the inner layer substrate and the resin sheet may be performed by a vacuum lamination method. In the vacuum laminating method, the heat-pressing temperature is preferably in the range of 60 占 폚 to 160 占 폚, more preferably 80 占 폚 to 140 占 폚, the heat pressing pressure is preferably 0.098 MPa to 1.77 MPa, Is in the range of 0.29 MPa to 1.47 MPa, and the heat pressing time is preferably in the range of 20 seconds to 400 seconds, more preferably 30 seconds to 300 seconds. The lamination is preferably performed under a reduced pressure of 26.7 hPa or less.

적층은, 시판의 진공 라미네이터에 의해 행할 수 있다. 시판의 진공 라미네이터로서는, 예를 들어, 메이키 세사쿠쇼사 제조의 진공 가압식 라미네이터, 닛코 머티리얼즈사 제조의 베큠 어플리케이터, 배치식 진공 가압 라미네이터 등을 들 수 있다.The lamination can be performed by a commercially available vacuum laminator. Examples of commercially available vacuum laminators include a vacuum pressurized laminator manufactured by Meikishesakusho Co., Ltd., a plastic applicator manufactured by Nikko Materials Company, and a batch type vacuum pressure laminator.

적층 후에, 상압 하(대기압 하), 예를 들어, 가열 압착 부재를 지지체측에서 프레스함으로써, 적층된 수지 시트의 평활화 처리를 행하여도 좋다. 평활화 처리의 프레스 조건은, 상기 적층의 가열 압착 조건과 동일한 조건으로 행할 수 있다. 평활화 처리는, 시판의 라미네이터에 의해 행할 수 있다. 또한, 적층과 평활화 처리는, 상기의 시판의 진공 라미네이터를 사용하여 연속적으로 행하여도 좋다.After lamination, the laminated resin sheet may be subjected to smoothing treatment under atmospheric pressure (under atmospheric pressure), for example, by pressing the hot press member on the support side. The pressing condition of the smoothing treatment can be performed under the same conditions as the heat pressing conditions of the lamination. The smoothing process can be performed by a commercially available laminator. The lamination and smoothing process may be performed continuously using the commercially available vacuum laminator.

지지체는, 공정 (Ⅰ)과 공정 (Ⅱ) 사이에 제거해도 좋고, 공정 (Ⅱ) 후에 제거해도 좋다.The support may be removed between the step (I) and the step (II) or may be removed after the step (II).

공정 (Ⅱ)에 있어서, 수지 조성물층을 열경화해서 절연층을 형성한다.In the step (II), the resin composition layer is thermally cured to form an insulating layer.

수지 조성물층의 열경화 조건은 특별히 한정되지 않고, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 통상 채용되는 조건을 사용해도 좋다.The thermosetting condition of the resin composition layer is not particularly limited, and a condition that is generally adopted when forming the insulating layer of the printed wiring board may be used.

예를 들어, 수지 조성물층의 열경화 조건은, 수지 조성물의 종류 등에 따라서도 다르지만, 경화 온도는 바람직하게는 120℃ 내지 240℃, 보다 바람직하게는 150℃ 내지 220℃, 더욱 바람직하게는 170℃ 내지 200℃이다. 경화 시간은 바람직하게는 5분간 내지 120분간, 보다 바람직하게는 10분간 내지 100분간, 더욱 바람직하게는 15분간 내지 90분간으로 할 수 있다.For example, the thermosetting condition of the resin composition layer varies depending on the kind of the resin composition and the like, but the curing temperature is preferably 120 deg. C to 240 deg. C, more preferably 150 deg. C to 220 deg. C, To 200 캜. The curing time is preferably 5 minutes to 120 minutes, more preferably 10 minutes to 100 minutes, and further preferably 15 minutes to 90 minutes.

수지 조성물층을 열경화시키기 전에, 수지 조성물층을 경화 온도보다도 낮은 온도에서 예비 가열해도 좋다. 예를 들어, 수지 조성물층을 열경화시키기에 앞서, 50℃ 이상 120℃ 미만(바람직하게는 60℃ 이상 115℃ 이하, 보다 바람직하게는 70℃ 이상 110℃ 이하)의 온도에서, 수지 조성물층을 5분간 이상(바람직하게는 5분간 내지 150분간, 보다 바람직하게는 15분간 내지 120분간, 더욱 바람직하게는 15분간 내지 100분간) 예비 가열해도 좋다.The resin composition layer may be preheated at a temperature lower than the curing temperature before thermosetting the resin composition layer. For example, before the resin composition layer is thermally cured, the resin composition layer is heated at a temperature of 50 ° C or more and less than 120 ° C (preferably 60 ° C or more and 115 ° C or less, more preferably 70 ° C or more and 110 ° C or less) It may be preheated for 5 minutes or more (preferably 5 minutes to 150 minutes, more preferably 15 minutes to 120 minutes, more preferably 15 minutes to 100 minutes).

프린트 배선판을 제조할 때에는, (Ⅲ) 절연층에 천공하는 공정, (Ⅳ) 절연층을 조화 처리하는 공정, (V) 도체층을 형성하는 공정을 추가로 실시해도 좋다. 이들 공정 (Ⅲ) 내지 공정 (V)는, 프린트 배선판의 제조에 사용되는, 당업자에게 공지의 각종 방법에 따라서 실시해도 좋다. 또한, 지지체를 공정 (Ⅱ) 후에 제거할 경우, 당해 지지체의 제거는, 공정 (Ⅱ)와 공정 (Ⅲ) 사이, 공정 (Ⅲ)과 공정 (Ⅳ) 사이, 또는 공정 (Ⅳ)와 공정 (V) 사이에 실시해도 좋다. 또한, 필요에 따라, 공정 (Ⅱ) 내지 공정 (V)의 절연층 및 도체층의 형성을 반복해서 실시하고, 다층 배선판을 형성해도 좋다. 이 경우, 각각의 도체층 간의 절연층의 두께(도 1의 t1)은 상기 범위 내인 것이 바람직하다.In the production of the printed wiring board, the step of (III) piercing the insulating layer, (IV) the step of roughening the insulating layer, and the step of forming the conductor layer (V) may be further performed. These steps (III) to (V) may be carried out according to various methods known to those skilled in the art, which are used in the production of printed wiring boards. When the support is removed after the step (II), the removal of the support is carried out between the step (II) and the step (III), between the step (III) and the step (IV) ). Further, the multilayer wiring board may be formed by repeatedly forming the insulating layer and the conductor layer in the process (II) to the process (V), if necessary. In this case, it is preferable that the thickness of the insulating layer (t1 in Fig. 1) between the respective conductor layers is within the above range.

공정 (Ⅲ)은, 절연층에 천공하는 공정이며, 이로써 절연층에 비아홀, 스루홀 등의 홀을 형성할 수 있다. 공정 (Ⅲ)은, 절연층의 형성에 사용한 수지 조성물의 조성 등에 따라, 예를 들어, 드릴, 레이저, 플라즈마 등을 사용해서 실시해도 좋다. 홀의 치수나 형상은, 프린트 배선판의 디자인에 따라서 적절히 결정해도 좋다.The step (III) is a step of perforating the insulating layer, whereby holes such as via holes and through holes can be formed in the insulating layer. The step (III) may be carried out using, for example, a drill, a laser, a plasma or the like depending on the composition of the resin composition used for forming the insulating layer. The dimensions and shape of the holes may be appropriately determined in accordance with the design of the printed wiring board.

공정 (Ⅳ)는, 절연층을 조화 처리하는 공정이다. 조화 처리의 수순, 조건은 특별히 한정되지 않고, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 통상 사용되는 공지의 수순, 조건을 채용할 수 있다. 예를 들어, 팽윤액에 의한 팽윤 처리, 산화제에 의한 조화 처리, 중화액에 의한 중화 처리를 이 순으로 실시해서 절연층을 조화 처리할 수 있다. 조화 처리에 사용하는 팽윤액으로서는 특별히 한정되지 않지만, 알칼리 용액, 계면 활성제 용액 등을 들 수 있고, 바람직하게는 알칼리 용액이며, 당해 알칼리 용액으로서는, 수산화 나트륨 용액, 수산화 칼륨 용액이 보다 바람직하다. 시판되고 있는 팽윤액으로서는, 예를 들어, 아토텍 재팬사 제조의 「스웰링 딥 시큐리간스 P」, 「스웰링 딥 시큐리간스 SBU」 등을 들 수 있다. 팽윤액에 의한 팽윤 처리는 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 30℃ 내지 90℃의 팽윤액에 절연층을 1분간 내지 20분간 침지시킴으로써 행할 수 있다. 절연층의 수지의 팽윤을 적당한 레벨로 억제하는 관점에서, 40℃ 내지 80℃의 팽윤액에 절연층을 5분간 내지 15분간 침지시키는 것이 바람직하다. 조화 처리에 사용하는 산화제로서는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 수산화 나트륨의 수용액에 과망간산 칼륨이나 과망간산 나트륨을 용해한 알카리성 과망간산 용액을 들 수 있다. 알카리성 과망간산 용액 등의 산화제에 의한 조화 처리는, 60℃ 내지 80℃로 가열한 산화제 용액에 절연층을 10분간 내지 30분간 침지시켜서 행하는 것이 바람직하다. 또한, 알카리성 과망간산 용액에서의 과망간산염의 농도는 5질량% 내지 10질량%가 바람직하다. 시판되고 있는 산화제로서는, 예를 들어, 아토텍 재팬사 제조의 「콘센트레이트 컴팩트 CP」, 「도징 솔루션 시큐리간스 P」 등의 알카리성 과망간산 용액을 들 수 있다. 또한, 조화 처리에 사용하는 중화액으로서는, 산성의 수용액이 바람직하고, 시판품으로서는, 예를 들어, 아토텍 재팬사 제조의 「리덕션 솔루션 시큐리간트 P」를 들 수 있다. 중화액에 의한 처리는, 산화제에 의한 조화 처리가 이루어진 처리면을 30℃ 내지 80℃의 중화액에 5분간 내지 30분간 침지시킴으로써 행할 수 있다. 작업성 등의 점에서, 산화제에 의한 조화 처리가 이루어진 대상물을, 40℃ 내지 70℃의 중화액에 5분간 내지 20분간 침지하는 방법이 바람직하다.Step (IV) is a step of roughening the insulating layer. The procedure and condition of the roughening treatment are not particularly limited, and a known procedure and condition commonly used in forming the insulating layer of the printed wiring board can be adopted. For example, a swelling treatment with a swelling liquid, a roughening treatment with an oxidizing agent, and a neutralization treatment with a neutralizing liquid are carried out in this order to roughen the insulating layer. The swelling liquid used for the harmonic treatment is not particularly limited, but examples thereof include an alkali solution and a surfactant solution. Preferably, the swelling liquid is an alkali solution. More preferably, the alkali solution is a sodium hydroxide solution or a potassium hydroxide solution. Examples of commercially available swelling liquids include "Swelling Deep Sucrygan G P" and "Swelling Deep Sucralgan SBU" manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. The swelling treatment by the swelling liquid is not particularly limited, but can be performed, for example, by immersing the swelling liquid at 30 캜 to 90 캜 for 1 minute to 20 minutes. From the viewpoint of suppressing the swelling of the resin in the insulating layer to an appropriate level, it is preferable to immerse the insulating layer in the swelling liquid at 40 占 폚 to 80 占 폚 for 5 minutes to 15 minutes. The oxidizing agent used for the harmonic treatment is not particularly limited, and for example, an alkaline permanganic acid solution obtained by dissolving potassium permanganate or sodium permanganate in an aqueous solution of sodium hydroxide may be mentioned. The roughening treatment with an oxidizing agent such as an alkaline permanganic acid solution is preferably carried out by immersing the insulating layer in an oxidizing agent solution heated to 60 占 폚 to 80 占 폚 for 10 minutes to 30 minutes. The concentration of the permanganate in the alkaline permanganic acid solution is preferably 5% by mass to 10% by mass. As commercially available oxidizing agents, for example, alkaline permanganic acid solutions such as "Concentrate Compact CP" manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. and "Dozing Solution Securigans P" may be mentioned. An acidic aqueous solution is preferable as the neutralization solution used in the harmonization treatment, and commercially available products include, for example, &quot; Reduction Solution Securigant P &quot; manufactured by Atotech Japan Co., The treatment with the neutralizing liquid can be performed by immersing the treated surface subjected to the roughening treatment with the oxidizing agent in a neutralizing solution at 30 ° C to 80 ° C for 5 minutes to 30 minutes. From the standpoint of workability and the like, it is preferable to immerse the object subjected to the roughening treatment with an oxidizing agent in a neutralizing solution at 40 to 70 캜 for 5 to 20 minutes.

일 실시형태에 있어서, 조화 처리 후의 절연층 표면의 산술 평균 거칠기(Ra)는, 바람직하게는 400nm 이하, 보다 바람직하게는 350nm 이하, 더욱 바람직하게는 300nm 이하이다. 하한에 대해서는 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 0.5nm 이상, 보다 바람직하게는 1nm 이상 등으로 할 수 있다. 또한, 조화 처리 후의 절연층 표면의 자승 평균 평방근 거칠기(Rq)는, 바람직하게는 400nm 이하, 보다 바람직하게는 350nm 이하, 더욱 바람직하게는 300nm 이하이다. 하한에 대해서는 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 0.5nm 이상, 보다 바람직하게는 1nm 이상 등으로 할 수 있다. 절연층 표면의 산술 평균 거칠기(Ra) 및 자승 평균 평방근 거칠기(Rq)는, 비접촉형 표면 조도계를 사용하여 측정할 수 있다.In one embodiment, the arithmetic mean roughness (Ra) of the surface of the insulating layer after the roughening treatment is preferably 400 nm or less, more preferably 350 nm or less, further preferably 300 nm or less. The lower limit is not particularly limited, but is preferably 0.5 nm or more, more preferably 1 nm or more. The square root mean square roughness (Rq) of the surface of the insulating layer after the roughening treatment is preferably 400 nm or less, more preferably 350 nm or less, still more preferably 300 nm or less. The lower limit is not particularly limited, but is preferably 0.5 nm or more, more preferably 1 nm or more. The arithmetic mean roughness (Ra) and square-root mean square roughness (Rq) of the insulating layer surface can be measured using a non-contact surface roughness meter.

공정 (V)는 도체층을 형성하는 공정이다. 내층 기판에 도체층이 형성되어 있지 않은 경우, 공정 (V)는 제1 도체층을 형성하는 공정이며, 내층 기판에 도체층이 형성되어 있는 경우, 당해 도체층이 제1 도체층이며, 공정 (V)는 제2 도체층을 형성하는 공정이다.Step (V) is a step of forming a conductor layer. Step (V) is a step of forming a first conductor layer in the case where a conductor layer is not formed on the innerlayer substrate, and when the conductor layer is formed on the innerlayer substrate, the conductor layer is the first conductor layer, V) is a step of forming the second conductor layer.

도체층에 사용하는 도체 재료는 특별히 한정되지 않는다. 적합한 실시형태에서는, 도체층은, 금, 백금, 팔라듐, 은, 구리, 알루미늄, 코발트, 크롬, 아연, 니켈, 타이타늄, 텅스텐, 철, 주석 및 인듐으로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 금속을 포함한다. 도체층은, 단금속층이라도 합금층이라도 좋고, 합금층으로서는, 예를 들어, 상기의 그룹으로부터 선택되는 2종 이상의 금속의 합금(예를 들어, 니켈·크롬 합금, 구리·니켈 합금 및 구리·타이타늄 합금)으로 형성된 층을 들 수 있다. 그 중에서도, 도체층 형성의 범용성, 비용, 패터닝의 용이성 등의 관점에서, 크롬, 니켈, 타이타늄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 또는 구리의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금, 구리·니켈 합금, 구리·타이타늄 합금의 합금층이 바람직하고, 크롬, 니켈, 타이타늄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 또는 구리의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금의 합금층이 보다 바람직하고, 구리의 단금속층이 더욱 바람직하다.The conductor material used for the conductor layer is not particularly limited. In a preferred embodiment, the conductor layer comprises at least one metal selected from the group consisting of gold, platinum, palladium, silver, copper, aluminum, cobalt, chromium, zinc, nickel, titanium, tungsten, iron, tin and indium do. The conductor layer may be a single metal layer or an alloy layer, and examples of the alloy layer include alloys of two or more metals selected from the above-mentioned group (for example, nickel-chromium alloy, copper-nickel alloy, Alloy). Among them, a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper or a nickel-chromium alloy, a copper-nickel alloy And an alloy layer of a copper-titanium alloy is preferable and a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper or an alloy layer of a nickel- chromium alloy is more preferable, Is more preferable.

도체층은, 단층 구조라도, 다른 종류의 금속 또는 합금으로 이루어지는 단금속층 또는 합금층이 2층 이상 적층한 복층 구조라도 좋다. 도체층이 복층 구조일 경우, 절연층과 접하는 층은, 크롬, 아연 또는 타이타늄의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금의 합금층인 것이 바람직하다.The conductor layer may have a single-layer structure or a multi-layer structure in which two or more single metal layers or alloy layers made of different metals or alloys are stacked. When the conductor layer has a multilayer structure, the layer in contact with the insulating layer is preferably a single metal layer of chromium, zinc or titanium, or an alloy layer of nickel-chromium alloy.

도체층의 두께는, 원하는 프린트 배선판의 디자인에 따르지만, 일반적으로 3㎛ 내지 35㎛, 바람직하게는 5㎛ 내지 30㎛이다.The thickness of the conductor layer is generally 3 mu m to 35 mu m, preferably 5 mu m to 30 mu m, though it depends on the design of the desired printed wiring board.

일 실시형태에 있어서, 도체층은, 도금에 의해 형성해도 좋다. 예를 들어, 세미 어디티브법, 풀 어디티브법 등의 종래 공지의 기술에 의해 절연층의 표면에 도금하여, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있고, 제조의 간편성의 관점에서, 세미 어디티브법에 의해 형성하는 것이 바람직하다. 이하, 도체층을 세미 어디티브법에 의해 형성하는 예를 나타낸다.In one embodiment, the conductor layer may be formed by plating. For example, a conductor layer having a desired wiring pattern can be formed by plating on the surface of an insulating layer by a conventionally known technique such as a semi-custom method or a pull-on-fill method. In view of simplicity of manufacture, It is preferable to form it by a customary method. Hereinafter, an example in which the conductor layer is formed by the semi-

우선, 절연층의 표면에, 무전해 도금에 의해 도금 시드층을 형성한다. 이어서, 형성된 도금 시드층 위에, 원하는 배선 패턴에 대응해서 도금 시드층의 일부를 노출시키는 마스크 패턴을 형성한다. 노출한 도금 시드층 위에, 전해 도금에 의해 금속층을 형성한 후, 마스크 패턴을 제거한다. 그 후, 불필요한 도금 시드층을 에칭 등에 의해 제거하여, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있다.First, a plating seed layer is formed on the surface of the insulating layer by electroless plating. Subsequently, a mask pattern is formed on the formed plating seed layer to expose a part of the plating seed layer corresponding to the desired wiring pattern. A metal layer is formed on the exposed plating seed layer by electrolytic plating, and then the mask pattern is removed. Thereafter, an unnecessary plating seed layer is removed by etching or the like, and a conductor layer having a desired wiring pattern can be formed.

본 발명의 수지 시트는, 부품 매립성도 양호한 절연층을 형성하므로, 프린트 배선판이 부품 내장 회로판인 경우에도 적합하게 사용할 수 있다. 부품 내장 회로판은 공지의 제조 방법에 의해 제작할 수 있다.Since the resin sheet of the present invention forms an insulating layer with good part embedding property, the resin sheet can be suitably used even when the printed wiring board is a component built-in circuit board. The component built-in circuit board can be manufactured by a known manufacturing method.

본 발명의 수지 시트를 사용하여 제조되는 프린트 배선판은, 수지 시트의 수지 조성물층의 경화물인 절연층과, 절연층에 매립된 매립형 배선층을 구비하는 형태라도 좋다.The printed wiring board manufactured using the resin sheet of the present invention may be provided with an insulating layer which is a cured product of the resin composition layer of the resin sheet and a buried wiring layer embedded in the insulating layer.

[반도체 장치][Semiconductor device]

본 발명의 반도체 장치는, 본 발명의 프린트 배선판을 포함한다. 본 발명의 반도체 장치는, 본 발명의 프린트 배선판을 사용하여 제조할 수 있다.The semiconductor device of the present invention includes the printed wiring board of the present invention. The semiconductor device of the present invention can be manufactured by using the printed wiring board of the present invention.

반도체 장치로서는, 전기 제품(예를 들어, 컴퓨터, 휴대 전화, 디지털 카메라 및 텔레비전 등) 및 탈 것(예를 들어, 자동 이륜차, 자동차, 전차, 선박 및 항공기 등) 등에 제공되는 각종 반도체 장치를 들 수 있다.Examples of the semiconductor device include various semiconductor devices provided in an electric product (e.g., a computer, a mobile phone, a digital camera and a television) and a vehicle (e.g., a motorcycle, an automobile, a tank, .

본 발명의 반도체 장치는, 프린트 배선판의 도통 개소에, 부품(반도체 칩)을 실장함으로써 제조할 수 있다. 「도통 개소」란, 「프린트 배선판에서의 전기 신호를 전달하는 개소」로서, 그 장소는 표면이라도, 매립된 개소라도 어느 곳이라도 상관 없다. 또한, 반도체 칩은 반도체를 재료로 하는 전기 회로 소자이면 특별히 한정되지 않는다.The semiconductor device of the present invention can be manufactured by mounting a component (semiconductor chip) to a conductive portion of a printed wiring board. The "conduction point" is a "point for transmitting electrical signals on the printed wiring board", and may be a surface or a buried point. The semiconductor chip is not particularly limited as long as it is an electric circuit element made of a semiconductor material.

반도체 장치를 제조할 때의 반도체 칩의 실장 방법은, 반도체 칩이 유효하게 기능하기만 하면 특별히 한정되지 않지만, 구체적으로는, 와이어 본딩 실장 방법, 플립 칩 실장 방법, 범프리스 빌드업층(BBUL)에 의한 실장 방법, 이방성 도전 필름(ACF)에 의한 실장 방법, 비도전성 필름(NCF)에 의한 실장 방법, 등을 들 수 있다. 여기에서, 「범프리스 빌드업층(BBUL)에 의한 실장 방법」이란, 「반도체 칩을 프린트 배선판의 오목부에 직접 매립하고, 반도체 칩과 프린트 배선판 위의 배선을 접속시키는 실장 방법」을 말한다.The method of mounting the semiconductor chip at the time of manufacturing the semiconductor device is not particularly limited as long as the semiconductor chip can function effectively. Specifically, the method can be applied to a wire bonding mounting method, a flip chip mounting method, a bumpless buildup layer (BBUL) A mounting method using an anisotropic conductive film (ACF), a mounting method using a non-conductive film (NCF), and the like. Here, the "mounting method using the bumpless buildup layer (BBUL)" refers to a "mounting method in which a semiconductor chip is directly embedded in a concave portion of a printed wiring board to connect the semiconductor chip and the wiring on the printed wiring board".

실시예Example

이하, 본 발명을 실시예에 의해 구체적으로 설명한다. 본 발명은 이들 실시 예에 한정되는 것이 아니다. 또한, 이하에 있어서, 양을 나타내는 「부」 및 「%」는, 별도 명시가 없는 한, 각각 「질량부」 및 「질량%」를 의미한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to examples. The present invention is not limited to these examples. In the following description, &quot; parts &quot; and &quot;% &quot; representing quantities mean &quot; part by mass &quot; and &quot;% by mass &quot;, respectively, unless otherwise specified.

<실시예 1: 수지 조성물 1의 제작>&Lt; Example 1: Production of Resin Composition 1 >

비스페놀A형 에폭시 수지(미츠비시 카가쿠사 제조 「828US」, 에폭시 당량 약 180) 10부, 비페닐형 에폭시 수지(미츠비시 카가쿠사 제조 「YX4000H」, 에폭시 당량 약 190) 15부, 및 비스페놀AF형 에폭시 수지(미츠비시 카가쿠사 제조 「YL7760」, 에폭시 당량 약 238) 10부, 포스파겐 수지(오츠카 카가쿠사 제조 「SPH-100」) 3부, 폴리카보네이트 수지(미츠비시 가스 카가쿠사 제조 「FPC2136」, 수 평균 분자량 20895) 3부를 MEK 50부로 교반하면서 가열 용해시켰다., 10 parts of a bisphenol A type epoxy resin ("828US" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy equivalent weight 180), 15 parts of a biphenyl type epoxy resin ("YX4000H" manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., Ltd., epoxy equivalent weight: about 190) , 10 parts of an epoxy resin ("YL7760" manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., Ltd., epoxy equivalent of about 238), 3 parts of a phosgene resin (SPH-100 manufactured by OTSUKA KAGAKUSA CORPORATION), 10 parts of a polycarbonate resin ("FPC2136" manufactured by Mitsubishi Gas Kagaku Co., 20895) were dissolved by heating in 50 parts of MEK while stirring.

실온으로까지 냉각한 후, 활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조 「HPC-8000-65T」, 활성기 당량 약 223, 고형분 65질량%의 톨루엔 용액) 20부, 페놀계 경화제 (DIC사 제조 「LA-3018-50P」, 활성기 당량 약 151, 고형분 50%의 2-메톡시프로판올 용액) 25부, 경화 촉진제(4-디메틸아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK 용액) 3부, 구상 실리카(덴키 카가쿠 코교사 제조 「UFP-30」, 평균 입자 직경 0.078㎛, 비표면적 30.7㎡/g) 75부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산한 후에, 카트리지 필터(ROKITECHNO사 제조 「SHP020」)로 여과하여, 수지 조성물 1을 제작하였다.After cooling to room temperature, 20 parts of an active ester-based curing agent ("HPC-8000-65T" manufactured by DIC Corporation, active group equivalent of about 223, a toluene solution of a solid content of 65% by mass), 20 parts of a phenolic curing agent , 25 parts of a curing accelerator (4-dimethylaminopyridine (DMAP), 5 parts by mass of a solid content of MEK solution), 3 parts of a spherical silica 75 parts of UFP-30 manufactured by Kagaku Kogyo Co., Ltd., average particle diameter 0.078 mu m, specific surface area 30.7 m2 / g) were mixed and uniformly dispersed by a high-speed rotary mixer, Followed by filtration to obtain a resin composition 1.

<실시예 2: 수지 조성물 2의 제작>&Lt; Example 2: Production of Resin Composition 2 >

실시예 1에 있어서, 폴리카보네이트 수지(미츠비시 가스 카가쿠사 제조 「FPC2136」) 3부를, 폴리카보네이트 수지(미츠비시 가스 카가쿠사 제조 「FPC0220」, 수 평균 분자량 18911) 3부로 바꾸었다. 이상의 사항 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여, 수지 조성물 2를 제작하였다.In Example 1, 3 parts of polycarbonate resin ("FPC2136" manufactured by Mitsubishi Gas Kagaku Co., Ltd.) was changed to 3 parts of polycarbonate resin ("FPC0220" manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Company, number average molecular weight 18911). Resin composition 2 was produced in the same manner as in Example 1 except for the above.

<실시예 3: 수지 조성물 3의 제작>&Lt; Example 3: Production of resin composition 3 >

실시예 1에 있어서, 폴리카보네이트 수지(미츠비시 가스 카가쿠사 제조 「FPC2136」) 3부를, 폴리카보네이트 수지(아사히 카세이사 제조 「T5652」, 수 평균 분자량 2035) 3부로 바꾸었다. 이상의 사항 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여, 수지 조성물 3을 제작하였다.In Example 1, 3 parts of a polycarbonate resin ("FPC2136" manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Company) was changed to 3 parts of a polycarbonate resin ("T5652" manufactured by Asahi Kasei Corporation, number average molecular weight: 2035). Resin composition 3 was produced in the same manner as in Example 1 except for the above.

<실시예 4: 수지 조성물 4의 제작>&Lt; Example 4: Production of Resin Composition 4 >

실시예 1에 있어서, 활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조 「HPC-8000-65T」, 활성기 당량 약 223, 고형분 65질량%의 톨루엔 용액) 20부를, 활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조 「EXB9416-70BK」, 활성기 당량 약 274, 고형분 70질량%의 MIBK(메틸이소부틸케톤) 용액) 18부로 바뀌었다. 이상의 사항 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여, 수지 조성물 4를 제작하였다.20 parts of an active ester-based curing agent ("HPC-8000-65T" manufactured by DIC Corporation, active group equivalent: about 223, solid component: 65% by mass toluene solution) in Example 1 was mixed with an active ester type curing agent (EXB9416-70BK (MIBK (methyl isobutyl ketone) solution having an active group equivalent of about 274 and a solid content of 70% by mass). A resin composition 4 was prepared in the same manner as in Example 1 except for the above.

<실시예 5: 수지 조성물 5의 제작>&Lt; Example 5: Production of Resin Composition 5 >

실시예 1에 있어서, 추가로 카르보디이미드계 경화제(닛신보 케미컬사 제조 「V-03」, 활성기 당량 약 216, 고형분 50질량%의 톨루엔 용액) 10부를 첨가하였다. 이상의 사항 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여, 수지 조성물 5를 제작하였다.In Example 1, 10 parts of a carbodiimide-based curing agent ("V-03" manufactured by Nisshinbo Chemical Co., Ltd., active agent equivalent approximately 216, toluene solution having a solid content of 50 mass%) was added. Resin composition 5 was produced in the same manner as in Example 1 except for the above.

<실시예 6: 수지 조성물 6의 제작>&Lt; Example 6: Production of Resin Composition 6 >

실시예 1에 있어서, In Example 1,

활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조 「HPC-8000-65T」, 활성기 당량 약 223, 고형분 65질량%의 톨루엔 용액) 20부를, 나프톨계 경화제(토토 카세이사 제조 「SN-485-60M」, 활성기 당량 약 215, 고형분 60%의 MEK 용액) 12부로 바꾸고, 페놀계 경화제(DIC사 제조 「LA-3018-50P」, 활성기 당량 약 151, 고형분 50%의 2-메톡시프로판올 용액) 25부를, 페놀계 경화제(DIC사 제조 「LA-7054」, 활성기 당량성 약 124, 고형분 60%의 MEK 용액) 12부로 바꾸었다. 이상의 사항 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여, 수지 조성물 6을 제작하였다.20 parts of an active ester type curing agent ("HPC-8000-65T" manufactured by DIC Corporation, active group equivalent of about 223, and a toluene solution of 65% by mass of solid content) was added to 20 parts of a naphthol type curing agent ("SN-485-60M" 25 parts of a phenolic curing agent (&quot; LA-3018-50P &quot;, manufactured by DIC Co., Ltd .; active agent equivalent weight: about 151, 2-methoxypropanol solution having a solid content of 50%), And 12 parts of a curing agent (&quot; LA-7054 &quot;, manufactured by DIC, 124 equivalents of active group and MEK solution of 60% solid content). A resin composition 6 was produced in the same manner as in Example 1 except for the above.

<실시예 7: 수지 조성물 7의 제작>&Lt; Example 7: Production of Resin Composition 7 >

실시예 2에 있어서,In Example 2,

활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조 「HPC-8000-65T」, 활성기 당량 약 223, 고형분 65질량%의 톨루엔 용액) 20부를, 나프톨계 경화제(토토 카세이사 제조 「SN-485」, 활성기 당량 약 215)의 고형분 60%의 MEK 용액) 12부로 바꾸고, 페놀계 경화제(DIC사 제조 「LA-3018-50P」, 활성기 당량 약 151, 고형분 50%의 2-메톡시프로판올 용액) 25부를, 페놀계 경화제(DIC사 제조 「LA-7054」, 활성기 당량성 약124, 고형분 60%의 MEK 용액) 12부로 바꾸었다. 이상의 사항 이외에는 실시예 2와 동일하게 하여, 수지 조성물 7을 제작하였다.20 parts of an active ester type curing agent ("HPC-8000-65T" manufactured by DIC Corporation, active group equivalent of about 223, and a toluene solution of 65% by mass of solid content) was added to 20 parts of a naphthol curing agent (SN- ), 25 parts of a phenolic curing agent (&quot; LA-3018-50P &quot;, manufactured by DIC Co., Ltd .; active agent equivalent weight: about 151, 50% solid content of 2-methoxypropanol solution) ("LA-7054" manufactured by DIC Corporation, active agent equivalent weight: 124, MEK solution having a solid content of 60%). Resin composition 7 was produced in the same manner as in Example 2 except for the above.

<실시예 8: 수지 조성물 8의 제작>&Lt; Example 8: Production of Resin Composition 8 >

실시예 3에 있어서,In Example 3,

활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조 「HPC-8000-65T」, 활성기 당량 약 223, 고형분 65질량%의 톨루엔 용액) 20부를, 나프톨계 경화제(토토 카세이사 제조 「SN-485」, 활성기 당량 약 215)의 고형분 60%의 MEK 용액) 12부로 바꾸고,20 parts of an active ester type curing agent ("HPC-8000-65T" manufactured by DIC Corporation, active group equivalent of about 223, and a toluene solution of 65% by mass of solid content) was added to 20 parts of a naphthol curing agent (SN- ) &Lt; / RTI &gt; solid content 60% MEK solution)

페놀계 경화제(DIC사 제조 「LA-3018-50P」, 활성기 당량 약 151, 고형분 50%의 2-메톡시프로판올 용액) 25부를, 페놀계 경화제(DIC사 제조 「LA-7054」, 활성기 당량성 약 124, 고형분 60%의 MEK 용액) 12부로 바꾸었다. 이상의 사항 이외에는 실시예 3과 동일하게 하여, 수지 조성물 8을 제작하였다., 25 parts of a phenol-based curing agent ("LA-3018-50P" manufactured by DIC Corporation, active agent equivalent weight of about 151, and a 50% solids content solution) were mixed with 50 parts of a phenolic curing agent ("LA-7054" About 124, 60% solids in MEK solution). A resin composition 8 was prepared in the same manner as in Example 3 except for the above.

<비교예 1: 비교 수지 조성물 1의 제작>&Lt; Comparative Example 1: Production of comparative resin composition 1 >

실시예 1에 있어서, 구상 실리카(덴키 카가쿠 코교사 제조 「UFP-30」, 평균 입자 직경 0.078㎛, 비표면적 30.7㎡/g) 75부를, 아민계 실란 커플링제(신에츠 카가쿠 코교사 제조 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.77㎛, 비표면적 5.9㎡/g, 아도마텍스사 제조 「SO-C2」) 75부로 바꾸었다. 이상의 사항이외에는 실시예 1과 동일하게 하여, 비교 수지 조성물 1을 제작하였다.In Example 1, 75 parts of spherical silica ("UFP-30" manufactured by Denki Kagakuko Co., Ltd., average particle diameter: 0.078 μm, specific surface area: 30.7 m 2 / g) was mixed with an amine series silane coupling agent (Average particle diameter 0.77 mu m, specific surface area 5.9 m2 / g, "SO-C2" manufactured by Adomex Co., Ltd.) Comparative resin composition 1 was produced in the same manner as in Example 1 except for the above.

<비교예 2: 비교 수지 조성물 2의 제작>&Lt; Comparative Example 2: Production of comparative resin composition 2 >

실시예 2에 있어서, 구상 실리카(덴키 카가쿠 코교사 제조 「UFP-30」, 평균 입자 직경 0.078㎛, 비표면적 30.7㎡/g) 75부를, 아민계 실란 커플링제(신에츠 카가쿠 코교사 제조 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.77㎛, 비표면적 5.9㎡/g, 아도마텍스사 제조 「SO-C2」) 75부로 바꾸었다. 이상의 사항 이외에는 실시예 2와 동일하게 하여, 비교 수지 조성물 2를 제작하였다.75 parts of spherical silica ("UFP-30" manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd., average particle diameter: 0.078 μm, specific surface area: 30.7 m 2 / g) in Example 2 was mixed with an amine series silane coupling agent (Average particle diameter 0.77 mu m, specific surface area 5.9 m2 / g, "SO-C2" manufactured by Adomex Co., Ltd.) Comparative resin composition 2 was prepared in the same manner as in Example 2 except for the above.

<비교예 3: 비교 수지 조성물 3의 제작>&Lt; Comparative Example 3: Production of comparative resin composition 3 >

실시예 6에 있어서, 구상 실리카(덴키 카가쿠 코교사 제조 「UFP-30」, 평균 입자 직경 0.078㎛, 비표면적 30.7㎡/g) 75부를, 아민계 실란 커플링제(신에츠 카가쿠 코교사 제조 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.77㎛, 비표면적 5.9㎡/g, 아도마텍스사 제조 「SO-C2」) 75부로 바꾸었다. 이상의 사항이외에는 실시예 6과 동일하게 하여, 비교 수지 조성물 3을 제작하였다.In Example 6, 75 parts of spherical silica ("UFP-30" manufactured by Denki Kagakuko Co., Ltd., average particle diameter: 0.078 μm, specific surface area: 30.7 m 2 / g) was mixed with an amine series silane coupling agent (Average particle diameter 0.77 mu m, specific surface area 5.9 m2 / g, "SO-C2" manufactured by Adomex Co., Ltd.) Comparative resin composition 3 was prepared in the same manner as in Example 6 except for the above.

<비교예 4: 비교 수지 조성물 4의 제작>&Lt; Comparative Example 4: Production of comparative resin composition 4 >

실시예 8에 있어서, 구상 실리카(덴키 카가쿠 코교사 제조 「UFP-30」, 평균 입자 직경 0.078㎛, 비표면적 30.7㎡/g) 75부를, 아민계 실란 커플링제(신에츠 카가쿠 코교사 제조 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.77㎛, 비표면적 5.9㎡/g, 아도마텍스사 제조 「SO-C2」) 75부로 바뀌었다. 이상의 사항 이외에는 실시예 8과 동일하게 하여, 비교 수지 조성물 4를 제작하였다.75 parts of spherical silica ("UFP-30" manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd., average particle diameter: 0.078 μm, specific surface area: 30.7 m 2 / g) in Example 8 was mixed with an amine series silane coupling agent (Average particle diameter 0.77 mu m, specific surface area 5.9 m2 / g, &quot; SO-C2 &quot; manufactured by Adomex Co., Ltd.). Comparative resin composition 4 was prepared in the same manner as in Example 8 except for the above.

<비교예 5: 비교 수지 조성물 5의 제작>&Lt; Comparative Example 5: Production of comparative resin composition 5 >

실시예 1에 있어서, 폴리카보네이트 수지(미츠비시 가스 카가쿠사 제조 「FPC2136」, 수 평균 분자량 20895) 3부를, 페녹시 수지(미츠비시 카가쿠사 제조 「YL7553BH30」, 고형분 30질량%의 MEK와 사이클로헥산온의 1:1 용액) 10부로 바꾸었다. 이상의 사항 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여, 비교 수지 조성물 5를 제작하였다.3 parts of a polycarbonate resin ("FPC2136" manufactured by Mitsubishi Gas Kagaku Co., Ltd., number average molecular weight: 20895) was mixed with 100 parts by weight of a phenoxy resin ("YL7553BH30" manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., Ltd .; MEK having a solid content of 30% by mass and cyclohexanone 1: 1 solution). Comparative resin composition 5 was prepared in the same manner as in Example 1 except for the above.

<비교예 6: 비교 수지 조성물 6의 제작>&Lt; Comparative Example 6: Production of Comparative Resin Composition 6 >

실시예 1에 있어서, 폴리카보네이트 수지(미츠비시 가스 카가쿠사 제조 「FPC2136」, 수 평균 분자량 20895) 3부를, 에스테르형 페녹시 수지(미츠비시 카가쿠사 제조 「YL7891BH30」, 고형분 30질량%의 MEK와 사이클로헥산온의 1:1 용액) 10부로 바꾸었다. 이상의 사항 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여, 비교 수지 조성물 6을 제작하였다.3 parts of a polycarbonate resin ("FPC2136" manufactured by Mitsubishi Gas Kagaku Co., Ltd., number average molecular weight 20895) were mixed in the same manner as in Example 1 except that an ester type phenoxy resin ("YL7891BH30" manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., Gt; 1: 1 &lt; / RTI &gt; solution). Comparative resin composition 6 was produced in the same manner as in Example 1 except for the above.

<비교예 7: 비교 수지 조성물 7의 제작>&Lt; Comparative Example 7: Production of comparative resin composition 7 >

실시예 6에 있어서, 폴리카보네이트 수지(미츠비시 가스 카가쿠사 제조 「FPC2136」, 수 평균 분자량 20895) 3부를, 에스테르형 페녹시 수지(미츠비시 카가쿠사 제조 「YL7891BH30」, 고형분 30질량%의 MEK와 사이클로헥산온의 1:1 용액) 10부로 바꾸었다. 이상의 사항 이외에는 실시예 6과 동일하게 하여, 비교 수지 조성물 7을 제작하였다.3 parts of a polycarbonate resin ("FPC2136" manufactured by Mitsubishi Gas Kagaku Co., Ltd., number average molecular weight: 20895) was added to 100 parts by weight of an ester type phenoxy resin ("YL7891BH30" manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., Ltd .; MEK having a solid content of 30% Gt; 1: 1 &lt; / RTI &gt; solution). Comparative resin composition 7 was prepared in the same manner as in Example 6 except for the above.

<무기 충전재의 평균 입자 직경의 측정>&Lt; Measurement of average particle diameter of inorganic filler &

무기 충전재 100mg, 분산제(산노푸코사 제조 「SN9228」) 0.1g, 메틸에틸케톤 10g을 바이알병에 칭량하여 달고, 초음파로 20분간 분산하였다. 레이저 회절식 입자 직경 분포 측정 장치(시마즈 세사쿠쇼사 제조 「SALD-2200」)를 사용하여, 회분 셀 방식으로 입자 직경 분포를 측정하고, 중간 직경에 의한 평균 입자 직경을 산출하였다.100 g of inorganic filler, 0.1 g of dispersant ("SN9228" manufactured by Sanno Fuko Co., Ltd.) and 10 g of methyl ethyl ketone were weighed into a vial bottle and dispersed by ultrasonic wave for 20 minutes. The particle diameter distribution was measured in a batch cell system using a laser diffraction particle diameter distribution measuring apparatus ("SALD-2200" manufactured by Shimadzu Corporation), and the average particle diameter by the intermediate diameter was calculated.

<무기 충전재의 비표면적의 측정>&Lt; Measurement of specific surface area of inorganic filler &

BET 전자동 비표면적 측정 장치(마운텍사 제조 Macsorb HM-1210)를 사용하고, 시료 표면에 질소 가스를 흡착시키고, BET 다점법을 사용하여 비표면적을 산출함으로써 무기 충전재의 비표면적을 측정하였다.The specific surface area of the inorganic filler was measured by calculating the specific surface area using a BET automatic specific surface area measuring apparatus (Macsorb HM-1210 manufactured by Mountain Tex), adsorbing nitrogen gas on the sample surface, and using the BET multi-point method.

<폴리카보네이트 수지의 수 평균 분자량의 측정>&Lt; Measurement of number average molecular weight of polycarbonate resin >

각 폴리카보네이트 수지 100mg, 분산제(칸토 카가쿠사 제조 「N-메틸피롤리돈」) 5g을 바이알병에 칭량하여 달고, 초음파로 20분간 분산하였다. 멤브레인 필터(토요 로시사 제조 「아도반텍」, 0.5㎛ 컷트)를 사용해서 여과를 행한 후, 겔 침투 크로마토그래프 측정 장치(쇼코 사이언티픽사 제조 「Shodex GPC-101」)를 사용하고, 수 평균 분자량(Mn)의 산출을 행하였다. 결과는 이하와 같았다.100 mg of each polycarbonate resin and 5 g of a dispersing agent ("N-methylpyrrolidone" manufactured by Kanto Kagaku Co., Ltd.) were weighed in a vial bottle and dispersed by ultrasonic wave for 20 minutes. (Shodex GPC-101, manufactured by Shoko Scientific Co., Ltd.) was used after filtration using a membrane filter ("ADOVANTEC" manufactured by Toyobo Co., Ltd., 0.5 μm cut) (Mn) was calculated. The results were as follows.

「FPC2136」의 수 평균 분자량: 20895Number average molecular weight of &quot; FPC2136 &quot;: 20895

「FPC0220」의 수 평균 분자량: 18911Number average molecular weight of &quot; FPC0220 &quot;: 18911

「T5652」의 수 평균 분자량: 2035Number average molecular weight of &quot; T5652 &quot;: 2035

[수지 시트의 제작][Production of Resin Sheet]

지지체로서, 알키드 수지계 이형제(린텍사 제조 「AL-5」)로 이형 처리한 PET 필름(토레사 제조 「루미러 R80」, 두께 38㎛, 연화점 130℃, 이하 「이형 PET」라고 말하는 경우가 있음.)을 준비하였다.As a support, a PET film ("Lumirror R80" manufactured by Toray Industries, Inc., thickness 38 μm, softening point 130 ° C., hereinafter sometimes referred to as "release PET") having been subjected to release treatment with an alkyd resin releasing agent (AL- .

<수지 시트 A의 제작>&Lt; Production of Resin Sheet A &

각 수지 조성물을, 건조 후의 수지 조성물층의 두께가 15㎛가 되도록, 이형 PET 위에 다이 코터로 균일하게 도포하고, 80℃에서 3분간 건조함으로써, 이형 PET 위에 수지 조성물층을 얻었다. 이어서, 수지 조성물층의 지지체와 접합하고 있지 않은 면에, 보호 필름으로서 폴리프로필렌 필름(오지 에프텍스사 제조 「알판 MA-411」, 두께 15㎛)의 거친 면을, 수지 조성물층과 접합하도록 적층하였다. 이로써, 이형 PET(지지체), 수지 조성물층, 및 보호 필름의 순으로 이루어지는 수지 시트 A를 얻었다.Each of the resin compositions was uniformly coated on the mold releasing PET with a die coater so that the thickness of the resin composition layer after drying was 15 占 퐉 and dried at 80 占 폚 for 3 minutes to obtain a resin composition layer on the releasing PET. Subsequently, a rough surface of a polypropylene film ("ALPAN MA-411" manufactured by Oji-Fetex Co., Ltd., thickness: 15 μm) as a protective film was laminated on the surface of the resin composition layer not bonded to the support, Respectively. Thus, a resin sheet A comprising a release PET (support), a resin composition layer, and a protective film in this order was obtained.

<수지 시트 B의 제작>&Lt; Production of Resin Sheet B &

각 수지 조성물을, 건조 후의 수지 조성물층의 두께가 6㎛가 되도록, 이형 PET 위에 다이 코터로 균일하게 도포하고, 80℃에서 1분간 건조함으로써, 이형 PET 위에 수지 조성물층을 얻었다. 이어서, 수지 조성물층의 지지체와 접합하고 있지 않은 면에, 보호 필름으로서 폴리프로필렌 필름(오지 에프텍스사 제조 「알판 MA-411」, 두께 15㎛)의 거친 면을, 수지 조성물층과 접합하도록 적층하였다. 이로써, 이형 PET(지지체), 수지 조성물층, 및 보호 필름의 순으로 이루어지는 수지 시트 B를 얻었다.Each resin composition was uniformly coated on the mold releasing PET with a die coater so that the thickness of the resin composition layer after drying was 6 占 퐉 and dried at 80 占 폚 for 1 minute to obtain a resin composition layer on the mold releasing PET. Subsequently, a rough surface of a polypropylene film ("ALPAN MA-411" manufactured by Oji-Fetex Co., Ltd., thickness: 15 μm) as a protective film was laminated on the surface of the resin composition layer not bonded to the support, Respectively. Thus, a resin sheet B comprising a release PET (support), a resin composition layer, and a protective film in this order was obtained.

[구리박 박리 강도의 측정][Measurement of peel strength of copper foil]

<샘플의 제작><Production of sample>

(1) 구리박의 하지 처리(1) Treatment of copper foil

미츠이 킨조쿠 코잔사 제조 「3EC-Ⅲ」(전계 구리박, 35㎛)의 광택면을 맥크사 제조 멕크 엣치 본드 「CZ-8101」에 침지해서 구리 표면에 조화 처리(Ra값=1㎛)를 행하여, 방청 처리(CL8300)를 실시하였다. 이 구리박을 CZ 구리박이라고 한다. 추가로, 130℃의 오븐에서 30분간 가열 처리하였다.(Ra value = 1 mu m) was applied to the copper surface by immersing the glossy surface of "3EC-III" (electric copper foil, 35 mu m) produced by Mitsui Kinzoku Kozan Co., Ltd. in a Macro Etch bond "CZ-8101" And subjected to anti-corrosive treatment (CL8300). This copper foil is called CZ copper foil. Further, heat treatment was performed in an oven at 130 캜 for 30 minutes.

(2) 구리박의 라미네이트와 절연층 형성(2) Formation of laminate and insulating layer of copper foil

실시예 및 비교예에서 제작한 각 수지 시트 A로부터 보호 필름을 벗겨내고, 배치식 진공 가압 라미네이터(메이키사 제조 「MVLP-500」)를 사용하고, 수지 조성물층이 내층 회로를 형성한 유리포 기재 에폭시 수지 양면 동장 적층판(구리박의 두께 18㎛, 기판의 두께 0.4mm, 파나소닉사 제조 「R1515A」)과 접합하도록, 상기의 적층판의 양면에 라미네이트 처리하였다. 라미네이트 처리는, 30초간 감압하여 기압을 13hPa 이하로 한 후, 100℃, 압력 0.74MPa로 30초간 압착함으로써 행하였다. 라미네이트 처리된 수지 시트로부터 지지체인 이형 PET를 박리하였다. 그 수지 조성물층 위에, CZ 구리박의 처리면을, 상기와 동일한 조건으로 라미네이트하였다. 그리고, 190℃, 90분의 경화 조건으로 수지 조성물층을 경화해서 절연층을 형성함으로써 샘플을 제작하였다.A protective film was peeled off from each resin sheet A prepared in Examples and Comparative Examples, and a vacuum type vacuum laminator ("MVLP-500" manufactured by Meikisha Co., Ltd.) was used. Both surfaces of the laminate were laminated so as to be bonded to an epoxy resin double-sided copper-clad laminate (thickness of copper foil: 18 mu m, thickness of substrate: 0.4 mm, &quot; R1515A &quot; The lamination treatment was carried out by reducing the pressure for 30 seconds to bring the air pressure to 13 hPa or lower, followed by pressing at 100 deg. C and a pressure of 0.74 MPa for 30 seconds. The release PET was peeled from the laminated resin sheet. On the resin composition layer, the treated surface of the CZ copper foil was laminated under the same conditions as above. Then, the resin composition layer was cured at 190 占 폚 for 90 minutes under a curing condition to form an insulating layer to prepare a sample.

<구리박 박리 강도(밀착성 1)의 측정>&Lt; Measurement of Copper Peeling Strength (Adhesiveness 1)

제작한 샘플을 150×30mm의 소편으로 절단하였다. 소편의 구리박 부분에, 커터를 이용해서 폭 10mm, 길이 100mm의 부분의 절개를 넣고, 구리박의 일단을 벗겨서 집기 도구(티에스이사 제조, 오토컴형 시험기, 「AC-50C-SL」)로 집고, 인스트론 만능 시험기를 사용하여, 실온 중에서, 50mm/분의 속도로 수직 방향으로 35mm를 박리하였을 때의 하중을 JIS C6481에 준거해서 측정하였다.The prepared sample was cut into small pieces of 150 x 30 mm. An end of a 10 mm width and 100 mm length was cut into a piece of copper foil of a small piece with a cutter and one end of the copper foil was peeled and held with a holding tool (AC-50C-SL, , And a load of 35 mm in a vertical direction at a rate of 50 mm / min at room temperature using an Instron universal testing machine was measured according to JIS C6481.

<내환경 시험(HAST) 후의 구리박 박리 강도(밀착성 2)의 측정>&Lt; Measurement of Copper Peeling Strength (Adhesion Property 2) after Inner Environmental Test (HAST) >

제작한 샘플을, 고도 가속 수명 시험 장치(쿠쓰모토 카세이사 제조 「PM422」)를 사용하여, 130℃, 85%RH의 조건으로 100시간의 가속 환경 시험을 실시하였다. 그 후, 밀착성 1의 측정과 동일하게, 구리박의 일단을 벗겨서 집기 도구(티에스이사 제조, 오토컴형 시험기, 「AC-50C-SL」)로 집고, 인스트론 만능 시험기를 사용하여, 실온 중에서, 50mm/분의 속도로 수직 방향으로 35mm를 박리하였을 때의 하중을 JIS C6481에 준거해서 측정하였다.The produced sample was subjected to an accelerated environmental test under the conditions of 130 ° C and 85% RH for 100 hours using an advanced accelerated life test device ("PM422" manufactured by Kusumoto Chemical Industry Co., Ltd.). Thereafter, one end of the copper foil was peeled off and held with a holding tool (automobile tester, AC-50C-SL, manufactured by TS Seisakusho Co., Ltd.) and measured with an Instron universal testing machine at room temperature, The load at the time of peeling 35 mm in the vertical direction at a speed of 50 mm / min was measured according to JIS C6481.

또한, 밀착성 2에서의 측정 결과가 0.20kgf/cm 미만의 경우를 「×」로 하고, 0.20kgf/cm 이상의 경우를 「○」로 하여 평가하였다.Further, the case where the measurement result at the adhesion 2 was less than 0.20 kgf / cm was evaluated as &quot; X &quot;, and the case where the measurement result was 0.20 kgf / cm or more was evaluated as &quot;

[도체층 간의 절연층의 두께 및 절연층의 절연 신뢰성의 측정][Measurement of thickness of insulating layer between conductor layers and insulation reliability of insulating layer]

(평가용 기판의 조제)(Preparation of substrate for evaluation)

(1) 내층 회로 기판의 하지 처리(1) ground treatment of inner layer circuit board

내층 회로 기판으로서, L/S(라인/스페이스)=2㎛/2㎛의 배선 패턴으로 형성된 회로 도체(구리)를 양면에 갖는 유리포 기재 에폭시 수지 양면 동장 적층판(구리박의 두께 3㎛, 기판 두께 0.15mm, 미츠비시 가스 카가쿠사 제조 「HL832NSF LCA」, 255×340mm 사이즈)을 준비하였다. 당해 내층 회로 기판의 양면을, 맥크사 제조 「FlatBOND-FT」로 구리 표면의 유기 피막 처리를 행하였다.A copper clad epoxy resin double-sided copper clad laminate (copper foil having a thickness of 3 占 퐉 and a thickness of 3 占 퐉) having circuit conductors (copper) formed on the both surfaces thereof with wiring patterns of L / S (line / space) = 2 占 퐉 / Thickness: 0.15 mm, &quot; HL832NSF LCA &quot;, manufactured by Mitsubishi Gas Kagaku Co., Ltd., size of 255 x 340 mm) was prepared. Both surfaces of the inner layer circuit board were subjected to an organic film treatment of the copper surface with &quot; FlatBOND-FT &quot;

(2) 수지 시트의 라미네이트(2) Laminate of resin sheet

실시예 및 비교예에서 제작한 각 수지 시트 B로부터 보호 필름을 벗기고, 배치식 진공 가압 라미네이터(닛코 머티리얼즈사 제조, 2스테이지 빌드업 라미네이터, CVP700)를 사용하여, 수지 조성물층이 내층 회로 기판과 접하도록, 내층 회로 기판의 양면에 라미네이트하였다. 라미네이트는, 30초간 감압하여 기압을 13hPa 이하로 하고, 130℃, 압력 0.74MPa에서 45초간 압착시킴으로써 실시하였다. 다음으로, 120℃, 압력 0.5MPa에서 75초간 열 프레스를 행하였다.The protective film was peeled off from each resin sheet B prepared in the examples and the comparative example, and the resin composition layer was bonded to the inner layer circuit board using a batch type vacuum pressure laminator (Nikkiso Materials, 2 stage buildup laminator, CVP700) Laminated on both sides of the inner layer circuit board. The laminate was subjected to pressure reduction for 30 seconds to set the air pressure to 13 hPa or less and compression bonding at 130 DEG C and a pressure of 0.74 MPa for 45 seconds. Next, hot pressing was performed at 120 DEG C and a pressure of 0.5 MPa for 75 seconds.

(3) 수지 조성물층의 열경화(3) Thermal curing of the resin composition layer

수지 시트가 라미네이트된 내층 회로 기판을, 100℃의 오븐에 투입 후 30분간, 이어서 180℃의 오븐으로 바꾼 후 30분간, 열경화해서 두께가 5㎛의 절연층을 형성하여, 이형 PET를 박리하였다. 이것을 기판 A라고 한다.An inner layer circuit board laminated with a resin sheet was placed in an oven at 100 캜, changed into an oven at 180 캜 for 30 minutes, and thermally cured for 30 minutes to form an insulating layer having a thickness of 5 탆, . This is referred to as substrate A.

(4) 조화 처리를 행하는 공정(4) Step of performing harmonic treatment

기판 A의 절연층에 조화 처리로서의 디스미어 처리를 행하였다. 또한, 디스미어 처리로서는, 하기의 습식 디스미어 처리를 실시하였다.The insulating layer of the substrate A was subjected to desmear treatment as a roughening treatment. As the desmear treatment, the following wet desmear treatment was carried out.

습식 디스미어 처리:Wet desmear treatment:

팽윤액(아토텍 재팬사 제조 「스웰링 딥 시큐리간트 P」, 디에틸렌글리콜모노부틸에테르 및 수산화나트륨의 수용액)에 60℃에서 5분간, 이어서 산화제 용액(아토텍 재팬사 제조 「콘센트레이트 컴팩트 CP」, 과망간산 칼륨 농도 약 6%, 수산화나트륨 농도 약 4%의 수용액)에 80℃에서 10분간, 마지막으로 중화액(아토텍 재팬사 제조 「리덕션 솔루션 시큐리간트 P」, 황산 수용액)에 40℃에서 5분간, 침지한 후, 80℃에서 15분간 건조하였다. 이것을 조화 기판 A라고 한다.(60 占 폚) for 5 minutes in an aqueous solution of a swelling solution ("Swelling Deep Securigant P" manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., diethylene glycol monobutyl ether and sodium hydroxide) and then with an oxidizing agent solution (Concentrate Compact CP (Aqueous solution of potassium permanganate concentration of about 6% and sodium hydroxide concentration of about 4%) at 80 DEG C for 10 minutes and finally at 40 DEG C in a neutralizing solution ("Reduction Solution Securigant P" manufactured by Atotech Japan Co., After immersing for 5 minutes, it was dried at 80 DEG C for 15 minutes. This is referred to as a coarse substrate A.

(5) 도체층을 형성하는 공정(5) Step of forming conductor layer

(5-1) 무전해 도금 공정(5-1) Electroless plating process

상기 조화 기판 A의 절연층의 표면에 도체층을 형성하기 위해, 하기 1 내지 6의 공정을 포함하는 도금 공정(아토텍 재팬사 제조의 약액을 사용한 구리 도금 공정)을 행하여 도체층을 형성하였다.In order to form a conductor layer on the surface of the insulating layer of the coarse substrate A, a plating process (a copper plating process using a chemical solution manufactured by Atotech Japan Co., Ltd.) including the following steps 1 to 6 was performed to form a conductor layer.

1. 알칼리 클리닝(비아홀이 마련된 절연층의 표면의 세정과 전하 조정)1. Alkali cleaning (Cleaning and charge control of the surface of the insulating layer provided with via holes)

조화 기판 A의 표면을, Cleaning Cleaner Securiganth 902(상품명)를 사용하여 60℃에서 5분간 세정하였다.The surface of the coarse substrate A was cleaned using a Cleaning Cleaner Securiganth 902 (trade name) at 60 ° C for 5 minutes.

2. 소프트 에칭(비아홀 내의 세정)2. Soft etching (cleaning in via hole)

조화 기판 A의 표면을, 황산 산성 퍼옥소2황산나트륨 수용액을 사용하여, 30℃에서 1분간 처리하였다.The surface of the coarsened substrate A was treated with an aqueous solution of sulfuric acid-oxidized peroxo 2-sodium sulfate at 30 占 폚 for 1 minute.

3. 프리딥(Pd 부여를 위한 절연층의 표면의 전하의 조정)3. Pre-dip (adjustment of charge on the surface of insulating layer for Pd application)

조화 기판 A의 표면을, Pre. Dip Neoganth B(상품명)를 사용하여, 실온에서 1분간 처리하였다.The surface of the coarsened substrate A is referred to as Pre. Dip Neoganth B (trade name) for 1 minute at room temperature.

4. 액티베이터 부여(절연층의 표면으로의 Pd의 부여)4. Assignment of activator (application of Pd to the surface of insulating layer)

조화 기판 A의 표면을, Activator Neoganth 834(상품명)를 사용하여, 35℃에서 5분간 처리하였다.The surface of the coarsened substrate A was treated with Activator Neoganth 834 (trade name) at 35 DEG C for 5 minutes.

5. 환원(절연층에 부여된 Pd를 환원)5. Reduction (reduction of Pd given to insulating layer)

조화 기판 A의 표면을, Reducer Neoganth WA(상품명)와 Reducer Acceralator 810 mod.(상품명)의 혼합액을 사용하여, 30℃에서 5분간 처리하였다.The surface of the harmonizing substrate A was treated with a mixed solution of Reducer Neoganth WA (trade name) and Reducer Accelerator 810 mod. (Trade name) at 30 ° C for 5 minutes.

6. 무전해 구리 도금 공정(Cu를 절연층의 표면(Pd 표면)에 석출)6. Electroless copper plating process (depositing Cu on the surface of the insulating layer (Pd surface))

조화 기판 A의 표면을, Basic Solution Printganth MSK-DK(상품명)와, Copper solution Printganth MSK(상품명)와, Stabilizer Printganth MSK-DK(상품명)과, Reducer Cu(상품명)과의 혼합액을 사용하여, 35℃에서 20분간 처리하였다. 형성된 무전해 구리 도금층의 두께는 0.8㎛였다.The surface of the coarsened substrate A was treated with a solution of Basic Solution Printganth MSK-DK (trade name), Copper solution Printganth MSK (trade name), Stabilizer Printganth MSK-DK (trade name) and Reducer Cu Lt; 0 &gt; C for 20 minutes. The thickness of the formed electroless copper plating layer was 0.8 mu m.

(5-2) 전해 도금 공정(5-2) Electroplating process

다음에, 아토텍 재팬사 제조의 약액을 사용하여, 비아홀 내에 구리가 충전되는 조건으로 전해 구리 도금 공정을 행하였다. 그 후에, 에칭에 의한 패터닝을 위한 레지스트 패턴으로서, 비아홀에 도통된 직경 1mm의 랜드 패턴, 및 하층 도체와는 접속되어 있지 않은 직경 10mm의 원형 도체 패턴을 이용해서 절연층의 표면에 10㎛의 두께로 랜드 및 도체 패턴을 갖는 도체층을 형성하였다. 다음에, 어닐 처리를 200℃에서 90분간 행하였다. 이 기판을 「평가용 기판 B」라고 했다.Next, the electrolytic copper plating process was performed under the condition that copper was filled in the via hole by using the chemical solution manufactured by Atotech Japan. Thereafter, as a resist pattern for patterning by etching, a land pattern having a diameter of 1 mm, which is conducted to a via hole, and a circular conductor pattern having a diameter of 10 mm which is not connected to the lower layer conductor, A conductor layer having a land and a conductor pattern was formed. Next, annealing was performed at 200 캜 for 90 minutes. This substrate was referred to as &quot; evaluation substrate B &quot;.

<도체층 간의 절연층의 두께의 측정>&Lt; Measurement of thickness of insulating layer between conductor layers >

평가용 기판 B를 FIB-SEM 복합 장치(SII 나노테크놀로지사 제조 「SMI3050SE」)를 사용하여 단면 관찰을 행하였다. 상세하게는, 도체층의 표면에 수직인 방향에서의 단면을 FIB(집속 이온 빔)에 의해 깎아 내고, 단면 SEM 화상으로부터, 도체층 간의 절연층 두께를 측정하였다. 각 샘플에 대하여, 무작위로 뽑은 5개소의 단면 SEM 화상을 관찰하고, 그 평균값을 도체층 간의 절연층의 두께(㎛)로 하여, 하기 표에 나타내었다.The evaluation substrate B was subjected to a cross-section observation using an FIB-SEM composite device ("SMI3050SE" manufactured by SII Nanotechnology Co., Ltd.). Specifically, the cross section in the direction perpendicular to the surface of the conductor layer was cut off by a FIB (focused ion beam), and the thickness of the insulation layer between the conductor layers was measured from the cross-sectional SEM image. For each sample, five cross-sectional SEM images taken randomly were observed, and the average value is shown in the following table as the thickness (占 퐉) of the insulating layer between the conductor layers.

<절연층의 절연 신뢰성의 평가>&Lt; Evaluation of Insulation Reliability of Insulating Layer &

상기에서 얻어진 평가용 기판 B의 지름 10mm의 원형 도체측을 +전극으로 하고, 직경 1mm의 랜드와 접속된 내층 회로 기판의 격자 도체(구리)측을 -전극으로 하여, 고도 가속 수명 시험 장치(ETAC사 제조 「PM422」)를 사용하고, 130℃, 85% 상대 습도, 3.3V 직류 전압 인가의 조건으로 200시간 경과시켰을 때의 절연 저항값을, 일렉트로케미컬 마이그레이션 테스터(J-RAS사 제조 「ECM-100」)로 측정하였다. 이 측정을 6회 행하고, 6점의 시험 피스 전체에서 그 저항값이 107Ω 이상의 경우를 「○」라고 하고, 1개라도 107Ω 미만의 경우는 「×」라고 해서, 평가 결과와 절연 저항값과 함께 하기 표에 나타내었다. 하기 표에 기재된 절연 저항값은, 6점의 시험 피스의 절연 저항값의 최저값이다.The side of the circular conductor with a diameter of 10 mm of the evaluation substrate B obtained above was used as a positive electrode and the side of the lattice conductor (copper) of the inner-layer circuit board connected to a land having a diameter of 1 mm was used as a negative electrode, (Manufactured by J-RAS Co., Ltd., &quot; ECM-2200 &quot; manufactured by J-RAS Co., Ltd.) at 130 ° C under conditions of 85% relative humidity and 3.3V DC voltage, 100 &quot;). This measurement was carried out six times. When the resistance value of all the six test pieces was 10 7 Ω or more, it was evaluated as "◯", and when one of them was less than 10 7 Ω, "x" The resistance values are shown in the following table. The insulation resistance values shown in the following table are the lowest values of the insulation resistance values of the six test pieces.

수지 조성물 1 내지 8 및 비교 수지 조성물 1 내지 7의 조제에 사용한 성분과 그 배합량을 하기 표에 나타내었다. 또한, 하기 표 중의 「(C) 성분의 함유량」이란 수지 성분을 100질량%라고 한 경우의 (C) 성분의 함유량(질량%)을 나타내고, 「(D) 성분의 함유량」이란 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우의 (D) 성분의 함유량(질량%)을 나타낸다.The components used in the preparation of the resin compositions 1 to 8 and the comparative resin compositions 1 to 7 and their blending amounts are shown in the following Tables. The "content of the component (C)" in the following table represents the content (mass%) of the component (C) when the resin component is 100 mass% (Mass%) of the component (D) when the foot component is 100 mass%.

Figure pat00001
Figure pat00001

Figure pat00002
Figure pat00002

실시예 1 내지 8에 있어서, (E) 내지 (F) 성분을 함유하지 않은 경우라도, 정도에 차는 있지만 상기 실시예와 같은 결과에 귀착됨을 확인하고 있다.In Examples 1 to 8, even when the components (E) to (F) are not contained, it is confirmed that the results are the same as those of the above-described embodiment although the degree is different.

1: 제1 도체층
11: 제1 도체층의 주면
2: 제2 도체층
21: 제2 도체층의 주면
3: 절연층
t1: 제1 도체층과 제2 도체층 간의 간격(제1 및 제2 도체층 간의 절연층의 두께)
t2: 절연층 전체의 두께
1: first conductor layer
11: Main surface of first conductor layer
2: second conductor layer
21: Main surface of second conductor layer
3: Insulating layer
t1: the distance between the first conductor layer and the second conductor layer (the thickness of the insulating layer between the first and second conductor layers)
t2: thickness of the entire insulating layer

Claims (17)

(A) 에폭시 수지, (B) 경화제, (C) 폴리카보네이트 수지, 및 (D) 무기 충전재를 포함하는 수지 조성물로서,
(D) 무기 충전재의 평균 입자 직경이 100nm 이하인 수지 조성물.
A resin composition comprising (A) an epoxy resin, (B) a curing agent, (C) a polycarbonate resin, and (D)
(D) the inorganic filler has an average particle diameter of 100 nm or less.
(A) 에폭시 수지, (B) 경화제, (C) 폴리카보네이트 수지, 및 (D) 무기 충전재를 포함하는 수지 조성물로서,
(D) 무기 충전재의 비표면적이 15㎡/g 이상인 수지 조성물.
A resin composition comprising (A) an epoxy resin, (B) a curing agent, (C) a polycarbonate resin, and (D)
(D) the inorganic filler has a specific surface area of 15 m 2 / g or more.
제1항 또는 제2항에 있어서, (D) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, 50질량% 이상인, 수지 조성물.The resin composition according to Claim 1 or 2, wherein the content of the component (D) is 50% by mass or more when the content of the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass. 제1항 또는 제2항에 있어서, (B) 성분이, 페놀계 경화제, 나프톨계 경화제, 활성 에스테르계 경화제, 벤조옥사진계 경화제, 시아네이트 에스테르계 경화제, 및 카르보디이미드계 경화제 중 어느 1종 이상인, 수지 조성물.The curable resin composition according to claim 1 or 2, wherein the component (B) is at least one member selected from the group consisting of a phenol-based curing agent, a naphthol-based curing agent, an active ester-based curing agent, a benzoxazine-based curing agent, a cyanate ester-based curing agent and a carbodiimide- By weight. 제1항 또는 제2항에 있어서, (B) 성분이 활성 에스테르계 경화제를 포함하는, 수지 조성물.The resin composition according to claim 1 or 2, wherein the component (B) comprises an active ester-based curing agent. 제1항 또는 제2항에 있어서, (C) 성분이, 지방족 골격 함유 폴리카보네이트 수지, 및 방향족 골격 함유 폴리카보네이트 수지 중 어느 1종 이상인, 수지 조성물.The resin composition according to claim 1 or 2, wherein the component (C) is at least one of an aliphatic skeleton-containing polycarbonate resin and an aromatic skeleton-containing polycarbonate resin. 제1항 또는 제2항에 있어서, (C) 성분의 수 평균 분자량이 1000 이상 200000 이하인, 수지 조성물.3. The resin composition according to claim 1 or 2, wherein the component (C) has a number average molecular weight of 1,000 or more and 200,000 or less. 제1항 또는 제2항에 있어서, (C) 성분의 함유량이, 수지 성분을 100질량%로 한 경우, 0.1질량% 이상 30질량% 이하인, 수지 조성물.The resin composition according to any one of claims 1 to 3, wherein the content of the component (C) is 0.1% by mass or more and 30% by mass or less when the resin component is 100% by mass. 제1항 또는 제2항에 있어서, 도체층을 형성하기 위한 절연층 형성용인, 수지 조성물.The resin composition according to claim 1 or 2, which is for forming an insulating layer for forming a conductor layer. 제1항 또는 제2항에 있어서, 프린트 배선판의 절연층 형성용인, 수지 조성물.The resin composition according to claim 1 or 2, which is for forming an insulating layer of a printed wiring board. 제1항 또는 제2항에 있어서, 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용인, 수지 조성물.The resin composition according to claim 1 or 2, which is used for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board. 지지체와, 당해 지지체 위에 마련된 제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물로 형성된 수지 조성물층을 포함하는, 수지 시트.A resin sheet comprising a support and a resin composition layer formed from the resin composition according to any one of claims 1 to 11 provided on the support. 제12항에 있어서, 수지 조성물층의 두께가 15㎛ 이하인, 수지 시트.The resin sheet according to claim 12, wherein the thickness of the resin composition layer is 15 占 퐉 or less. 제12항 또는 제13항에 있어서, 제1 도체층과, 제2 도체층과, 제1 도체층과 제2 도체층 사이에 형성된 절연층을 포함하고, 제1 도체층과 제2 도체층 간의 간격이 6㎛ 이하인 프린트 배선판의 당해 절연층 형성용인, 수지 시트.14. The semiconductor device according to claim 12 or 13, further comprising a first conductor layer, a second conductor layer, and an insulating layer formed between the first conductor layer and the second conductor layer, wherein the first conductor layer and the second conductor layer Wherein the resin sheet is for forming the insulating layer of a printed wiring board having an interval of 6 占 퐉 or less. 제1 도체층, 제2 도체층, 및, 제1 도체층과 제2 도체층 사이에 형성된 절연층을 포함하는 프린트 배선판으로서,
당해 절연층은, 제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물의 경화물인, 프린트 배선판.
A printed wiring board comprising a first conductor layer, a second conductor layer, and an insulating layer formed between the first conductor layer and the second conductor layer,
Wherein the insulating layer is a cured product of the resin composition according to any one of claims 1 to 11.
제15항에 있어서, 제1 도체층과 제2 도체층 간의 간격이 6㎛ 이하인, 프린트 배선판.The printed wiring board according to claim 15, wherein a distance between the first conductor layer and the second conductor layer is 6 탆 or less. 제15항 또는 제16항에 기재된 프린트 배선판을 포함하는, 반도체 장치.A semiconductor device comprising the printed wiring board according to claim 15 or 16.
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