KR20090125615A

KR20090125615A - 실장형 테스트 장비 및 그 방법

Info

Publication number: KR20090125615A
Application number: KR1020080051811A
Authority: KR
Inventors: 최인호; 최운섭; 김성열; 곽영기; 이재일; 장철웅; 유호선; 양인수; 장승호
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2008-06-02
Filing date: 2008-06-02
Publication date: 2009-12-07
Also published as: US8103927B2; CN101599306B; US20090300442A1; KR101452959B1; CN101599306A

Abstract

본 발명은 다양한 실장 환경의 테스트 조건을 모사하여 메모리 소자의 품질에 대한 신뢰성을 향상시키고, 실장 환경의 변경에 따른 로스(loss)를 최소화함으로써 테스트 시간과 비용을 줄여 제품의 경쟁력을 강화할 수 있는 실장형 테스트 장비 및 그 방법을 제공한다. 그 실장형 테스트 장비는 외부 장치로부터 테스트 로직을 위한 신호를 캡쳐(capture)하는 캡쳐 시스템; 상기 캡쳐 시스템으로부터의 로직 데이터를 저장하는 패턴 데이터 센터; 및 테스터 스케쥴에 따라 패턴 데이터 센터로부터 특정 패턴 데이터를 다운로드 받아 임시로 저장하고 이를 테스트 메인 보드로 전달하는 로컬 저장장치 및 전달된 패턴 데이터를 이용하여 DUT(Device Under Test)를 테스트하는 테스터 메인 보드를 구비한 테스터 메인 프레임;을 포함한다.

Description

실장형 테스트 장비 및 그 방법{Mount-type test equipment and method thereof}

본 발명은 테스터 장비에 관한 것으로, 특히 메모리 컴포넌트나 모듈을 실제 PC 환경에서 테스트하는 실장형 테스트 장비 및 그 방법에 관한 것이다.

FAB 공정을 거친 웨이퍼들은 후공정을 거쳐 완성된 소자로 되는데, 이러한 소자들은 패키징 작업 도중 또는 완료 후에 적절한 전기적, 열적 및 기능 테스트를 거쳐 양품과 불량품으로 가려지게 된다. 그러나 양품으로 판정되어 출하된 메모리 모듈이나 디바이스가 실제로 PC에 탑재되거나 또는 CE(Customer End) 디바이스와 같은 다른 장치에 장착된 후 제대로 동작하지 않는 경우가 종종 발생한다.

예컨대, 현재 테스트 장비로 자동 테스트 장비(Automatic Test Equipment: ATE)가 이용되고 있는데, ATE는 논리적 오류(Logical Failure)와 파라메트릭(parametric) 오류를 검출하는데 있어서 우수한 성능을 보이지만, 실제 동작 환경하에서의 오류를 빠르고 쉽게 검출하는 점에 있어서는 신뢰적이지 못하다. 즉, ATE의 테스트 공정을 거친 메모리는 여전히 실제 사용에 있어서는 오류의 가능성을 포함한다. 여기서, 논리적 오류는 Open/short 및 hard/soft 오류를 들 수 있고, 파 라메트릭 오류는 Icc, 누설전류(leakage), 셋업/홀드(Setup/Hold) 시간, 전압, 리프레쉬(Refresh) 오류 등을 들 수 있다.

그에 따라, 최근에는 테스트가 끝난 모듈이나 컴포넌트(component)를 다시 실제 PC 상황에서의 동작 여부를 검사는 테스트 공정이 도입되고 있다. 이러한 테스트를 실장 테스트라고 하는데, 실장 테스트는 크게 모듈 실장형 테스트와 컴포넌트(component) 실장형 테스트가 있다. 여기서, 메모리 모듈은 메모리 소자들이 원하는 용량만큼 저장되어 있는 회로 기판 전체를 가리키며, 컴포넌트는 메모리 소자, 즉 메모리 IC 각각을 의미한다.

실장 테스트는 실장(實裝) 환경의 테스트 조건을 모사(模寫)하여 메모리 소자를 테스트하게 되는데, 현재, BTT(Behavioral Test Technique) 테스터를 통해 이러한 실장 테스트를 하고 있다. 그러나 BTT 테스터는 테스트 동안 칩이 실장된 PC 마더보드가 반드시 필요하고, 동일한 테스트 로직을 반복 실험을 하는 경우에도 반드시 PC 마더보드가 존재해야 하는 불편이 있다. 또한, 실제 테스트될 메모리(DUT: Device Under Test)를 테스트할 로직 패턴(logic pattern)의 논리 값만을 캡쳐하여 이를 BTT Tester로 전달하여 실장 환경을 모사하기 때문에, 실장 환경 모사 범위가 제한적이다.

한편, BTT 테스터의 경우, 테스트 공정의 특성상 한가지 종류의 PC 마더보드를 대상으로 테스트하는 것이 아니므로, 여러 종류의 PC 마더보드를 준비하여 대응하여야 하며, 또한, 동일 메모리 종류를 대상으로 하더라도, PC 마더보드의 칩셋(Chipset)이 변경되거나 다른 경우, 매번 PC 마더보드를 새로 준비하여 대응하여 야 한다.

더욱이, DUT의 동작 여부를 확인하기 위한 로직 데이터 비교용으로 PC 마더보드 상의 버스 캡쳐(Bus Capture) 보드에 항상 기준 메모리(Reference memory)를 장착하여 사용해야 하는데, 그 기준 메모리는 테스트할 DUT와 동일하거나 더 큰 용량의 메모리를 필요로 한다.

본 발명은 다양한 실장 환경의 테스트 조건을 모사하여 메모리 소자의 품질에 대한 신뢰성을 향상시키고, 실장 환경의 변경에 따른 로스(loss)를 최소화함으로써 테스트 시간과 비용을 줄여 제품의 경쟁력을 강화할 수 있는 실장형 테스트 장비 및 그 방법을 제공하는 데에 있다.

상기 과제를 달성하기 위하여, 본 발명은 외부 장치로부터 테스트 로직을 위한 신호를 캡쳐(capture)하는 캡쳐 시스템; 상기 캡쳐 시스템으로부터의 로직 데이터를 저장하는 패턴 데이터 센터; 및 상기 패턴 데이터 센터로부터 입력된 로직 데이터를 이용하여 DUT(Device Under Test)를 테스트하는 테스터 메인 프레임;을 포함하는 실장형 테스트 장비를 제공한다.

본 발명에 있어서, 상기 외부 장치는 테스트 될 칩의 실장 환경을 모사 할 수 있는 장치로서, 예컨대 상기 외부 장치는 메모리 소자(또는 모듈)이 장착된 PC 마더보드(Mother Board) 및 CE(Customer End) 디바이스를 포함할 수 있다.

상기 외부 장치가 PC 마더보드인 경우, 상기 PC 마더보드는 중앙처리장치(CPU), 상기 CPU의 패턴 생성 프로그램에 의해 상기 테스트 로직을 위한 신호들을 발생시키는 칩셋(chipset), 상기 칩셋으로부터의 상기 테스트 로직을 위한 신호들을 저장하는 모듈 램(module RAM); 및 상기 칩셋 및 상기 모듈 램 사이에 연결되어 상기 테스트 로직을 위한 신호들을 상기 캡쳐 시스템으로 전달하는 인터포 저(interposer)를 포함할 수 있다. 한편, 상기 외부 장치가 CE 디바이스인 경우, 상기 CE 디바이스는 MCU(Micro Controller Unit) 또는 소정 기능의 컨트롤러, 및 상기 MCU 또는 컨트롤러에서 발생시킨 전기적 신호를 저장하는 모듈 램 또는 컴포넌트 램, 및 상기 MCU 또는 컨트롤러와 상기 모듈 램 사이에 연결되어 상기 전기적 신호를 상기 테스트 로직을 위한 신호로서 상기 캡쳐 시스템으로 전달하는 인터포저를 포함할 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 캡쳐 시스템은, 상기 테스트 로직을 위한 신호를 캡쳐하는 캡쳐 장치; 및 상기 캡쳐 장치로부터 출력된 데이터를 임시 저장하는 로컬 저장장치;를 포함할 수 있다. 또한, 상기 캡쳐 장치는 캡쳐된 신호를 상기 로직 데이터로 변환하며, 각 로직 데이터를 정렬 및 압축할 수 있다. 한편, 상기 패턴 데이터 센터는 상기 로직 데이터를 저장하기 위한 대용량 저장 장치를 포함하며, 상기 로직 데이터는 사용자 인터페이스(UI)에 의해 내용이 추가되거나 변경 또는 서로 병합될 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 테스터 메인 프레임은 상기 패턴 데이터 센터로부터 입력된 상기 로직 데이터를 저장하는 로컬 저장장치; 상기 로직 데이터로부터 상기 DUT 테스트를 위한 로직 신호를 생성하고 상기 DUT로부터 출력된 로직 결과 패턴을 검사하여 상기 DUT의 동작 상태를 판단하는 테스터 메인 보드; 및 상기 로직 신호를 상기 DUT로 인가하고, 상기 로직 결과 패턴을 검출하여 상기 메인 보드로 출력하는 헤더;를 포함할 수 있다. 상기 테스터 메인 보드는 상기 로직 결과 패턴을 상기 로컬 저장장치에 저장된 기대값과 비교하여 상기 DUT 동작의 정상 또는 비정상 여부를 판단할 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 실장형 테스터 장비는 상기 캡쳐 시스템, 패턴 데이터 센터, 및 테스트 메인 프레임에는 UI(User Interface)를 통해 연결된 컨트롤 PC를 포함할 수 있다. 한편, 상기 테스트 로직을 위한 신호는 테스트 될 칩에서 이용되는 모든 신호들을 포함하며, 상기 로직 데이터는 테스트 로직을 위한 논리값 정보, 메모리의 전원 정보, 상기 칩의 동작 온도에 대한 정보, 및 SI(Signal Integrity) 및 PI(Power Integrity)에 대한 정보를 포함할 수 있다.

본 발명은 또한 상기 과제를 달성하기 위하여 DUT의 실장환경을 모사하는 로직 데이터를 저장하는 대용량 저장장치; 및 상기 대용량 저장장치의 로직 데이터를 이용하여 상기 DUT를 테스트하는 테스터 메인 프레임;을 포함하는 실장형 테스트 장비를 제공한다.

본 발명에 있어서, 상기 로직 데이터는 상기 대용량 저장장치에 연결된 UI를 통해 내용이 추가되거나 변경 또는 서로 병합될 수 있으며, 상기 실장형 테스트 장비는 상기 로직 데이터를 이용하여 동일 또는 서로 다른 다수 개의 DUT를 동시에 테스트할 수 있다.

한편, 본 발명은 상기 과제를 달성하기 위하여, DUT의 실장환경을 제공하는 외부 장치로부터 캡쳐 장치를 이용하여 테스트 로직을 위한 신호를 캡쳐하는 단계; 캡쳐된 상기 테스트 로직을 위한 신호를 로직 데이터로서 대용량 저장장치에 저장하는 단계; 및 테스터 메인 프레임이 상기 대용량 저장장치로부터 상기 로직 데이터를 불러와 상기 실장 환경을 모사하여 DUT를 테스트하는 단계;를 포함하는 실장 테스트 방법을 제공한다.

본 발명에 있어서, 상기 외부 장치는 PC 마더보드(Mother Board) 및 CE(Customer End) 디바이스를 포함하고, 상기 캡쳐 장치가 상기 PC 마더보드 또는 CE 디바이스에 포함된 인터포저를 통해 상기 테스트 로직을 위한 신호를 캡쳐할 수 있다.

본 발명의 실장 테스트 방법은 상기 대용량 저장장치에 저장하는 단계 전에, 상기 캡쳐 장치가 캡쳐된 상기 테스트 로직을 위한 신호를 로직 데이터로서 변환, 정렬 및 압축하는 단계; 및 상기 압축된 로직 데이터를 로컬 저장장치에 임시 저장하는 단계;를 포함할 수 있다. 또한, 상기 대용량 저장 장치로의 저장단계에서, 사용자 인터페이스(UI)에 의해 사용자가 상기 로직 데이터의 내용을 추가, 변경 또는 서로 병합할 수 있다.

한편, 상기 DUT를 테스트하는 단계는 상기 대용량 저장장치로부터 상기 로직 데이터를 불러와 상기 DUT 테스트를 위한 로직 신호를 생성하는 단계; 상기 로직 신호를 상기 DUT로 인가하는 단계; 상기 DUT부터 출력된 로직 결과 패턴을 검출하는 단계; 및 상기 로직 결과 패턴을 분석하여 상기 DUT의 동작 상태를 판단하는 단계를 포함할 수 있다. 상기 DUT의 동작 상태를 판단 단계에서 상기 로직 결과 패턴을 로컬 저장장치에 저장된 기대값과 비교하여 상기 DUT 동작의 정상 또는 비정상 여부를 판단할 수 있다.

이러한 상기 실장 테스트 방법은 상기 DUT 테스트 시에 상기 외부 장치와 연결할 필요 없이 상기 대용량 저장장치에 저장된 상기 로직 데이터만을 이용하여 동 일 또는 서로 다른 다수 개의 DUT를 동시에 테스트할 수 있다.

본 발명의 실장형 테스트 장비 및 그 방법은 DUT에 대한 실장 테스트 진행 시 PC 마더보드 및 CE 디바이스를 필요로 하지 않는다. PC 마더보드 및 CE 디바이스는 패턴 캡쳐 시 최초 1회만 필요하며, 이후 테스트 진행 공정상 필요치 않다. 그에 따라, 다양한 마더보드에 대한 정보를 단일 저장 공간에 보관할 수 있으므로, 마더보드나 CE 디바이스의 종류 및 특징 변경에 따른 테스트 공정상 비용을 절감할 수 있다.

또한, 본 발명의 실장형 테스트 장비 및 그 방법은 테스트를 위한 로직 데이터를 시스템의 저장공간에 보관함으로써, 로직 데이터의 사용자 조합이 가능하다. 즉, 로직 데이터의 내용 편집이 가능하고, 사용자가 필요한 부분만을 선별하여 테스트를 진행할 수 있다. 또한 마더보드 및 CE 디바이스의 종류를 구분하지 않으며, 다른 기종 간의 로직 데이터의 병합이 가능하다.

한편, 기존 실장형 테스트 장비의 경우 캡쳐 보드에서 기준 값을 저장하고 발생시키기 위한 기준 메모리를 항상 필요로 하는데, 이를 위해 선행 제품 테스트를 진행하여야 하므로, 고가이며 구하기가 용이하지 않다. 본 발명은 이러한 기준 메모리를 제거함으로써, 설계를 단순화하고, 비용 절감을 유도할 수 있다.

또한, 기존 실장형 테스트 장비의 경우 단지 PC 마더보드만을 지원하고, PC 마더보드의 로직 데이터만을 이용하여 실장 테스트를 모사하는데 반해, 본 발명은 PC 마더보드뿐만 아니라, CE 디바이스의 로직 데이터, 전원 정보, 동작 온도 정보, SI/PI 정보를 함께 저장하고 이를 재생함으로써, 실장 환경에 가장 가까운 모사가 가능하다는 장점이 있다.

이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 이하의 설명에서 어떤 구성 요소가 다른 구성 요소에 연결된다고 기술될 때, 이는 다른 구성 요소와 바로 연결될 수도 있지만, 그 사이에 제3의 구성 요소가 개재될 수도 있다. 또한, 도면에서 각 구성 요소의 구조나 크기는 설명의 편의 및 명확성을 위하여 과장되었고, 설명과 관계없는 부분은 생략되었다. 도면상에서 동일 부호는 동일한 요소를 지칭한다. 한편, 사용되는 용어들은 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 실장형 테스트 장비를 개략적으로 보여주는 블럭도이다.

도 1을 참조하면, 본 발명의 실장형 테스트 장비는 캡쳐 시스템(200), 패턴 데이터 센터(300), 테스터 메인 프레임(100) 및 퍼포먼스(Performance) 보드(400)를 포함한다.

캡쳐 시스템(200)은 외부 장치(1000)로부터 테스트 로직을 위한 신호를 캡쳐(capture)하는 시스템으로써, 실제로 테스트 로직을 위한 신호를 캡쳐하는 캡쳐 장치(220) 및 캡쳐된 신호를 임시 저장하는 로컬 저장장치(240)를 포함할 수 있다.

이러한 캡쳐 시스템(200)은 테스트될 메모리 모듈이나 컴포넌트의 실장 환경 인 PC 마더보드(1100)이나 CE(Customer End) 디바이스(1200)에 연결되어 메모리에서 이용되는 모든 신호를 캡쳐하게 된다. 캡쳐되는 신호 정보로는 PC 마더보드나 CE 디바이스의 메모리 모듈 램(또는 Electronic Device)에서 이용되는 모든 신호정보를 포함할 수 있다. 예컨대, PC 마더보드(1100)나 CE 디바이스(1200)의 메모리 모듈 램으로 입출력되는 ①로직 패턴에 해당하는 논리 값 정보, ②전원 정보, ③메모리가 동작하는 온도 정보, ④전기적 신호의 SI(Signal Integrity) 및 PI(Power Integrity) 정보 등을 들 수 있다. 이러한 신호 정보들은 예시적인 것이며, 캡쳐 시스템을 통해 캡쳐되는 신호 정보가 이에 한정되지 않고 DUT 테스트 시에 새롭게 요구될 수 있는 다른 정보들도 포함할 수 있음은 물론이다.

캡쳐 시스템(200)은 캡쳐된 신호를 테스트를 위한 로직 데이터로 변환하며, 각 로직 데이터를 정렬 및 압축하여 저장한다. 즉, 캡쳐 시스템(200)은 캡쳐 장치(220)를 이용하여 인터포저를 통해 전달된 신호를 캡쳐하고 또한 캡쳐된 신호를 논리 값으로 변환시킨다. 또한, 캡쳐 시스템(200)은 메모리의 전원 정보(전원의 전압 레벨), 동작 온도, SI/PI에 대한 정보를 수집한 뒤, 정보를 정렬하여 압축 과정을 거친다. 이는 대용량 저장장치(320)에 저장되는 파일의 크기를 줄여 메모리 활용도를 향상시키기 위함이다. 한편, 압축된 데이터는 무결성을 보장한다. 즉, 복원 시 원본 데이터와 동일하게 복원될 수 있다. 압축이 완료된 로직 데이터는 캡쳐 시스템(200)의 로컬 저장장치(240)에 1차적으로 보관된다.

한편, 캡쳐 시스템(200)은 사용자 인터페이스(User Interface: UI)를 통해 컨트롤 PC에 연결될 수 있고, UI를 통해 캡쳐되는 신호 정보를 사용자가 선택할 수 있도록 한다. 즉, 사용자가 필요한 정보만 선택적으로 캡쳐할 수 있다.

PC 마더보드(1100)는 테스트될 메모리 모듈이나 컴포넌트 칩들이 실장되는 보드로 현재 거의 100여 종의 PC 마더보드들이 출시되고 있는 실정이다. 이러한 PC 마더보드(1100)는 중앙처리장치(CPU, 1140), MCH(Memory Control Hub) 칩셋(1120), 및 메모리 모듈 램(또는 Electronic Device, 1180)을 포함하는 구조를 가진다. 한편 본 발명에서의 PC 마더보드(1100)는 사용자가 별도의 장치로 추가시켜 장착한 인터포저(Interposer, 1160)를 더 구비한다. 그에 따라, 캡쳐 시스템(200)은 인터포저(1160)를 통해 사용자가 지정한 신호를 캡쳐할 수 있다.

PC 마더보드(1100)에서의 CPU(1140)는 PC를 전반적으로 제어하고 여러 연산처리를 수행하는데, 이러한 CPU(1140)의 패턴 생성 프로그램에 의해 MCH 칩셋(1120)이 여러 가지 전기신호들을 발생시킨다. 전기신호들로는 예컨대 어드레스(ADDR), 데이터(DQs), 제어신호(/RAS, /CAS, DQS 등) 신호 등을 들 수 있다. 이러한 전기신호들은 인터포저(1160)를 거쳐 모듈 램(1180)에 저장된다. MCH 칩셋(1120)에서 모듈 램(1180)으로 전달되는 이러한 전기신호들은 테스트를 위한 로직 신호들로서 캡쳐되게 되는데, 이는 인터포저(1160)를 통해 캡쳐 시스템(200)으로도 그러한 전기신호들이 전달됨으로써 이루어지게 된다.

좀더 상세히 설명하면, 인터포저(1160)는 MCH 칩셋(1120) 및 모듈 램(1180) 사이에 연결되는데, 모듈 램(1180) 슬롯에 장착되어 MCH 칩셋(1120)으로부터 전달되는 전기신호들, 즉 테스트를 위한 각종 신호들을 모듈 램(1180)과 캡쳐 시스템(200)으로 전달한다. MCH 칩셋(1120)은 인터포저(1160) 상에 설치된 모듈 램(1180)을 메모리로 인식하여 평소와 동일하게 동작한다.

한편, 본 실시예의 실장형 테스트 장비는 CE 디바이스(1200), 예컨대 PMP, 게임기, PDA, 프린터, MP3 등 사용자가 최종적으로 메모리를 사용하는 디바이스 환경에 대해서도 테스트를 위한 전기신호를 캡쳐할 수 있다. 즉, CE 디바이스(1200)의 경우, MCU(Micro Controller Unit, 1220)나 그와 유사한 기능의 컨트롤러, MCU(1220) 또는 유사 기능의 컨트롤러에서 발생시킨 전기적 신호를 저장하는 모듈 램 또는 컴포넌트 램(1260)을 포함하게 되는데, 이러한 CE 디바이스(1200)에도 앞서 PC 마더보드(1100)에서와 같이 MCU(1220)과 모듈 램(1260) 사이에 인터포저(1240)를 장착함으로써, 인터포저(1240)를 통해 MCU(1220)과 모듈 램(1260) 사이에 전달되는 전기신호들을 테스트를 위한 신호들로서 캡쳐할 수 있다.

캡쳐되는 전기신호는 전압 레벨을 통해 측정될 수 있는데, PC 마더보드의 모듈 램 또는 CE 디바이스의 메모리 소자의 종류에 따라 다르며, 모듈 램을 구성하는 복수 개의 메모리 소자 중 하나의 칩(chip)에 대한 모든 어드레스 신호(ADDR), 데이터 신호(DQs), 제어신호(/RAS, /CAS, DQS 등) 등을 포함할 수 있다. 예를 들어, 하나의 컴포넌트가 ADDR[0:15], BA[0:2]로 구성되어 있고, DQ[0:15], Control[0:13]의 총 49개 신호로 구성된다면, 캡쳐 시스템은 인터포저를 통해 이러한 신호 모두에 대한 정보를 캡쳐한다.

결국, 캡쳐 시스템(200)은 PC 마더보드 또는 CE 디바이스의 인터포저(1160. 1240)를 통해 모든 전기신호를 캡쳐하고 이렇게 캡쳐된 신호들을 파일형태로 로컬 저장장치(240)에 일시 저장한 후, 패턴 데이터 센터(300)의 대용량 저장장치(320) 에 저장한다. 이렇게 저장된 신호들은 테스트 메인 프레임(100)의 DUT 테스트 시에 적절히 출력되어 사용될 수 있다. 그에 따라, 본 실시예의 실장형 테스트 장비는 DUT 테스트 시에 PC 마더보드(1100) 또는 CE 디바이스(1200)가 항상 연결되어 있을 필요가 없다.

종래 메모리 컨트롤러로부터 모듈 램으로 전달되는 여러 가지 신호들, 예컨대, 어드레스(Address) 신호, 제어 신호, 데이터 신호, 전원 신호 등을 캡쳐하기 위하여 PC 마더보드의 모듈 램 부분으로 버스 캡쳐 보드(Bus Capture Board)가 장착되었고, 이러한 PC 마더보드와 버스 캡쳐 보드로 구성된 BTT PC가 테스터와 결합되어 DUT를 테스트하였다. 따라서, 전술한 바와 같이 DUT 테스트 시에 항상 PC 마더보드가 필요하였고, 또한 테스트 할 DUT의 종류에 따라 각각의 PC 마더보드가 준비되어야 하는 불편이 있었다.

패턴 데이터 센터(300)는 대용량 저장장치(Mass Storage, 320)를 포함하는 일종의 데이터 베이스이다. 이러한 패턴 데이터 센터(300)는 캡쳐 시스템(200)을 통해 캡쳐된 다양한 신호들을 테스트를 위한 로직 데이터로서 저장한다. 즉, 패턴 데이터 센터(300)는 다양한 종류의 칩셋, 다양한 종류의 PC 마더보드 및 CE 디바이스로부터 캡쳐된 로직 데이터, 전원 정보, 동작 온도, SI/PI 정보 등을 대용량 저장장치(320)에 저장하고, DUT 테스트 시에 테스터 메인 프레임(100)으로부터 요구되는 필요한 로직 데이터를 전달한다.

이러한 패턴 데이터 센터(300)는 컨트롤 PC와 연결되어 UI를 통해 사용자가 필요에 따라 저장된 로직 데이터를 가공할 수 있다. 즉, UI에 의해 로직 데이터의 내용이 추가되거나 변경 또는 서로 병합될 수 있으며, 또한 필요에 따라 불필요하게 된 로직데이터를 삭제할 수도 있다. 즉, 패턴 데이터 센터(300)는 캡쳐 시스템을 통해 캡쳐된 다양한 로직 데이터를 일괄적으로 종류에 따라 저장하고, 필요한 경우 이를 검색하여 실장 테스터 본체, 즉 테스터 메인 프레임(100)으로 적절한 정보를 제공한다.

패턴 데이터 센터(300)는 전체 실장형 테스트 장비에 장착되어 이용될 수도 있지만, 실장형 테스트 장비에서 분리되어 캡쳐 동작이나 테스트 시에만 인터페이스를 통해 캡쳐 시스템(200) 또는 테스터 메인 프레임(100)에 연결되어 로직 데이터를 저장하거나 전송할 수 있도록 구성되는 것이 바람직하다.

테스터 메인 프레임(100)은 로컬 저장장치(120), 테스터 메인 보드(140), 및 헤더(160)를 포함할 수 있다. 로컬 저장장치(120)는 테스트 스케쥴에 따라 상기 패턴 데이터 센터(300)로부터 테스트시 요구되는 패턴 데이터를 다운로드 받아 임시 저장하고, 상기 패턴 데이터를 테스터 메인 보드로 전달한다. 즉, 테스터 메인 프레임(100)은 DUT에 테스트 로직을 인가하기 위해 패턴 데이터 센터(300)로부터 필요한 로직 데이터, 전원 정보, 동작 온도, SI/PI를 자신의 로컬 저장장치(120)에 로딩(Loading)한다.

테스터 메인 보드(140)는 로컬 저장장치(120)에 저장된 로직 데이터를 이용하여 프로그램된 동작에 의해 테스트 논리를 위한 신호 파형, 즉 DUT 테스트를 위한 로직 신호를 생성하여 DUT로 인가한다. 좀더 상세히 설명하면, 테스터 메인 보드(140)는 압축된 로직 데이터를 DUT에 인가하기 위해 복원과정을 거쳐, 시간상으 로 데이터 정렬을 수행한다. 데이터 정렬이 완료된 후, 전원 정보와 동작 온도를 저장장치에 기록된 값과 동일하게 설정하고, 헤더(Header, 160)를 거쳐 퍼포먼스 보드(Performance Board, 400)를 통해 DUT에 정렬된 데이터를 로직 신호로서 인가한다. 여기서, 헤더(160)는 테스터 메인 보드(140)로부터 생성된 로직 신호를 DUT로 인가하고, DUT로부터 출력된 로직 결과 패턴을 검출하여 테스터 메인 보드로 전달하는 매개체 기능을 한다.

한편, 테스터 메인 보드(140)는 DUT로부터 출력된 로직 결과 패턴을 검사하여 DUT의 동작 상태를 판단하는 기능도 수행한다. 즉, 테스터 메인 보드(140)는 DUT로부터 출력된 로직 결과 패턴을 헤더(160)를 통해 검출하고, 로컬 저장장치(120)에 저장된 기대값과 비교함으로써, DUT 동작의 정상 또는 비정상 여부를 판단한다. 즉, 출력된 로직 결과 패턴이 기대값과 비교하여 같은 경우 정상(Pass)으로, 다른 경우는 비정상(Fail)으로 판단한다.

이러한, 테스터 메인 프레임(100)은 대용량 저장장치(320)에 저장된 다양한 종류의 로직 데이터를 이용함으로써, 해당 PC 마더보드(1100)나 CE 디바이스(1200)와 연결 없이 여러 종류의 DUT를 바로 테스트할 수 있다. 한편, 테스트 메인 프레임(100)의 경우에도 UI를 통해 컨트롤 PC가 연결됨으로써, 필요에 따라 DUT 테스트 방법이나 결과분석 방법 등이 변경되도록 할 수 있음은 물론이다.

퍼포먼스 보드(400)로는 테스트될 DUT가 실장 되게 되는데, 이러한 퍼포먼스 보드(400)로 DUT로서 개개의 컴포넌트(Component) 칩 또는 모듈 칩이 실장될 수 있다. 한편, DUT 테스트 시 다수 개의 퍼포먼스 보드(400)가 테스터 메인 프레 임(100)으로 장착됨으로써, 동시에 다수개의 DUT 테스트가 진행될 수 있다. 또한, 테스트 메인 프레임(100)의 적절한 변경을 통해 서로 다른 DUT가 동시에 테스트 되도록 할 수도 있다.

본 발명의 실장형 테스트 장비는 DUT 테스트 동작 시에 PC 마더보드나 CE 디바이스에 연결이 불필요하므로, PC 마더보드나 CE 디바이스의 의존도를 줄일 수 있고 그에 따라, 테스트 장비의 초기 설비 투자 비용 축소 및 테스트 시간 감소를 유도할 수 있다. 또한, 패턴 데이터 센터에 여러 종류, 예컨대 PC 마더보드 제조사별, 칩셋 종류별로 저장된 다양한 테스트 패턴 데이터를 선택하여 실장 테스트를 진행함으로써, 테스터의 범용성을 높일 수 있다.

도 2는 도 1의 실장형 테스트 장비 중 테스터 메인 프레임의 구조를 좀더 상세하게 보여주는 사시도이다.

도 2를 참조하면, 테스터 메인 프레임(100)은 하이픽스(Hi-Fix) 보드(110), 테스터 메인 보드(140) 및 헤더(미도시)를 포함한다. 한편, 테스터 메인 프레임(100)은 하이픽스(HiFix) 보드(120)와 연결되는 로컬 저장장치(미도시)를 더 포함할 수 있음은 물론이다.

하이픽스 보드(110)는 퍼포먼스 보드(400)와 DUT를 장착하는 소켓보드로 구성된 보드로서, 이러한 하이픽스 보드(110)로 다수 개의 테스터 메인 보드(140)가 연결된다. 한편, 테스터 메인 프레임(100)은 하이픽스 보드(110)와 테스터 메인 보드(140)의 보조기능을 수행하는 테스터 AUX 보드(130) 및 패턴 데이터 센터(300)와 같은 대용량 저장장치와 데이터 교환을 위한 SIF(Storage Interface) 보드(150)를 포함할 수 있다.

본 실시예에서, 하이픽스 보드(110)로 테스터 메인 보드(140)가 32개 연결되도록 구성되었지만, 그에 한정되지 않고 테스터 메인 보드(140)가 그 이상 또는 이하로 연결될 수 있도록 구성될 수 있음은 물론이다.

도 3은 도 1의 테스터 메인 보드를 좀더 상세하게 보여주는 블럭도이다.

도 3을 참조하면, 테스터 메인 보드(140) 외곽에는 파워 커넥터, LAN 커넥터, GOT(Gigabit Optical Transmission) 커넥터가 연결되어 있으며, 각각 마이크로 컨트롤러(u-Controller)와 벡터 프로세서(Vector Processor)에 연결되어 데이터를 전달한다. 여기서, 마이크로 컨트롤러는 컨트롤 PC(2000)와 연결되어 컨트롤 PC(2000)로부터 데이터나 제어명령을 수신하여 테스터 메인보드(140)에 대한 전체 제어를 담당한다. 한편, SIF(Storage Interface) 보드(150)를 통해 사용자가 필요에 따라 데이터 수정이나 추가 및 알고리즘 등을 변경할 수 있다.

벡터 프로세서는 DUT에 인가할 패턴을 생성하는 프로세서이며, 선택적으로 압축된 테스트 벡터의 복원(Test Vector Decompression) 기능을 수행할 수도 있다. 이 외에도 테스터 메인 보드(140)에는 DUT에 전원을 인가하기 위한 DPS와 PMU, 벡터 프로세서로부터의 로직 패턴을 전기적 신호로 변경시키는 드라이버(Driver) 및 DUT로부터의 출력신호를 수신하는 리시버(Receiver)가 포함될 수 있다.

지금까지 설명한 테스터 메인 보드(140) 내의 각 사양은 예시적인 것에 지나지 않으며, 필요에 따라 다른 다양한 사양을 가지고 구성될 수 있음은 물론이다.

이러한 테스터 메인 보드(140)는 GOT 커넥터에 연결되는 SIF 보드(150)를 통 해 로컬 저장장치(120)로 연결된다. 로컬 저장장치는 고속 이더넷(1Gbps)을 통해 대용량 저장장치를 포함하는 패턴 데이터 센터(300)로 연결된다. 그에 따라, 테스터 메인 보드(140)는 DUT 테스트 시에 필요한 적절한 데이터를 패턴 데이터 센터(300)로부터 바로 입력받아 사용할 수 있다.

도 4는 테스터 메인 보드와 저장 장치 사이의 스토리지 인터페이스(SIF) 보드 부분을 좀더 상세하게 보여주는 블럭도이다.

도 4를 참조하면, 각 테스터 메인 보드(140)들은 SIF 보드(150)를 통해 로컬 저장장치(120)로 연결됨을 확인할 수 있다. SIF 보드(150)와 로컬 저장장치(120)는 광케이블로 연결되며, SIF 보드(150)와 각 테스터 메인 보드(140)는 동선 케이블로 연결될 수 있다. 한편, SIF 보드(150)에서 각 테스터 메인 보드(140)로의 케이블 연결방식은 링 토폴로지(Ring Topology) 구조가 이용될 수 있고, 테스터 AUX 보드(130)와 테스터 메인 보드(140)는 시리얼 커넥션(Serial Connection)으로 연결되어 테스트 진행에 대한 흐름 제어 정보를 교환한다. 각 보드의 케이블 연결 방식이 링 토폴로지 구조에 한정되는 것은 아니다.

도 5는 도 1의 실장형 테스트 장비 중 테스터 시스템 내의 캡쳐 메인 보드를 좀더 상세하게 보여주는 블럭도이다.

도 5를 참조하면, 캡쳐 장치(220) 또는 캡쳐 메인 보드는 도 3의 테스터 메인 보드와 거의 유사하다. 차이점은 핀 커넥터들로 신호 캡쳐를 위해서 외부의 메모리 실장형 장치들, 예컨대 PC 마더보드(1100)나 CE 디바이스(1200)가 연결된다는 점과, 벡터 프로세서로부터의 로직 패턴을 전기적 신호로 변경시키는 드라이버와 DSP와 PMU 장치가 제거되었다는 점이다.

한편, GOT 커넥터로는 SIF 보드(미도시)를 통해 로컬 저장장치(240)를 거쳐 패턴 데이터 센터(300)가 연결되며, LAN 커넥터 부분으로는 컨트롤 PC(2000)가 연결될 수 있다. PC 마더보드(1100)는 내부에 포함된 인터포저(1160)를 통해 캡쳐 메인 보드(220)로 연결되는데, CE 디바이스(미도시)의 경우, 역시 인터포저(미도시)를 통해 캡쳐 메인 보드(220)로 연결됨은 물론이다.

이와 같이 캡쳐 메인 보드(220)는 테스터 메인 보드와 유사와 구조를 가지고 테스터 메인 프레임(100)의 하이픽스 보드(110)에 장착되어 테스트를 위한 신호 캡쳐 기능을 수행한다. 즉, 본 발명의 실장형 테스트 장비는 하나의 테스터 메인 프레임(100)을 가지고 신호 캡쳐 시에는 캡쳐 메인 보드(220)를 장착하여 PC 마더보드나 CE 디바이스로부터 테스트를 위한 신호들을 캡쳐하고, DUT 테스트 시에는 테스터 메인 보드를 장착하여 DUT 테스트를 수행한다.

도 6은 캡쳐 메인 보드와 저장 장치 사이의 인터페이스 부분을 좀더 상세하게 보여주는 블럭도이다.

도 6을 참조하면, 본 발명의 캡쳐 메인 보드(220)가 테스터 메인 보드(140)와 유사함에 기인하여 캡쳐 메인 보드와 저장 장치 사이의 인터페이스는 앞서 테스터 메인 보드(140)와 로컬 저장장치(120) 사이의 SIF 보드(150)가 그대로 사용될 수 있다. 즉 도 6 상의 SIF 보드(150)가 도 4의 SIF 보드(150)와 완전히 동일함을 확인할 수 있다. 따라서, 캡쳐 메인 보드(220)와 로컬 저장장치(240) 사이의 연결을 위한 별도의 인터페이스는 필요 없고, 테스터 메인 프레임(100)의 SIF 보드를 그대로 이용할 수 있다. 결국, 본 발명의 실장형 테스트 장비는 신호 캡쳐 시에만 캡쳐 메인 보드(220)를 테스터 메인 프레임 내에 장착하여 사용하면 되고, 그 이외에는 테스터 메인 보드(140)를 장착하여 DUT 테스트를 수행한다.

도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 실장형 테스트 과정을 보여주는 흐름도이다.

도 7을 참조하면, 먼저, DUT의 실장환경을 모사하는 외부 장치로부터 캡쳐 장치를 이용하여 테스트 로직을 위한 신호를 캡쳐한다(S100). 여기서 외부 장치는 PC 마더보드나 또는 모든 종류의 CE 디바이스를 의미한다. 이렇게 캡쳐된 신호들은 로직 데이터로 변환되고 정렬 및 압축된다(S200). 이러한 로직 데이터 변환이나 정렬 등은 저장 장치의 메모리 사용 효율성을 높이기 위한 것으로, 캡쳐 장치의 자동 알고리즘을 통해 수행할 수도 있지만, UI를 통해 수행할 수도 있다. 이와 같이 정리된 로직 데이터들을 로컬 저장장치에 임시 저장하였다가 패턴 데이터 센터의 대용량 저장장치에 저장한다(S300). 대용량 저장장치에 저장된 로직 데이터들은 역시 UI를 통해 가공이나 추가, 병합 또는 삭제될 수 있음은 물론이다.

이와 같은 테스터 로직을 위한 신호 캡쳐 및 저장과정은 새로운 테스트 로직이 발생할 때마다 수시로 수행할 수 있다. 즉 이하에서 설명하는 DUT 테스트 과정과 별도로 필요할 때마다 수시로 데이터를 저장하고 가공할 수 있다.

다음, 테스터 메인 프레임이 대용량 저장장치로부터 로직 데이터를 불러와 로컬 저장장치에 임시 저장한 후, 다시 DUT 테스트를 위한 로직 신호로 변환한다(S400). 즉, 대용량 저장장치로 압축되어 저장된 로직 데이터를 프로그램된 동작 에 의해 테스트 논리를 위한 신호 파형으로 변환한다. 이러한 로직 신호를 헤더를 통해 DUT로 인가하고(S500), DUT로부터 출력된 로직 결과 패턴을 검출하여 DUT의 동작 상태를 판단한다(S600). DUT의 동작 상태 판단은 로직 결과 패턴을 로컬 저장장치에 저장된 기대값과 비교하여 동일한 경우 정상으로, 동일하지 않은 경우 비정상으로 판단한다.

전술한 바와 같이 테스터 메인 프레임의 경우도 UI를 통해 DUT 테스트 동작을 사용자가 제어할 수 있음은 물론이다. 한편, 본 발명의 실장 테스트 방법은 앞서 설명한 실장형 테스트 장비를 이용하여 한번에 여러 개의 DUT를 동시에 테스트할 수 있으며, 또한 대용량 저장장치에 저장되어 있는 다양한 로직 데이터를 이용함으로써, 새로운 PC 마더보드나 CE 디바이스의 연결 없이 다양한 종류의 DUT를 바로 테스트 가능하다.

지금까지, 본 발명을 도면에 표시된 실시예를 참고로 설명하였으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.

<도면의 주요부분에 대한 설명>

100: 테스터 메인 프레임 120: 테스터 로컬 저장장치

130: 테스터 AUX 보드 150: SIF 보드

140: 테스터 메인 보드 160: 헤더

200: 캡쳐 시스템 220: 캡쳐 장치 또는 캡쳐 보드

240: 캡쳐 로컬 저장장치 300: 패턴 데이터 센터

320: 대용량 저장장치 400: 퍼포먼스 보드

420: DUT 또는 칩 1000: 외부 장치

1100: PC 마더보드 1140: CPU

1160, 1240: 인터포저 1180, 1260: 모듈 램

1200: CE 디바이스 1220: MCU

2000: 컨트롤 PC

Claims

외부 장치로부터 테스트 로직을 위한 신호를 캡쳐(capture)하는 캡쳐 시스템;

상기 캡쳐 시스템으로부터의 로직 데이터를 저장하는 패턴 데이터 센터; 및

상기 패턴 데이터 센터로부터 입력된 로직 데이터를 이용하여 DUT(Device Under Test)를 테스트하는 테스터 메인 프레임;을 포함하는 실장형 테스트 장비.
제1 항에 있어서,

상기 외부 장치는 테스트 될 칩의 실장 환경을 제공할 수 있는 장치로서, PC 마더보드(Mother Board) 및 CE(Customer End) 디바이스를 포함하는 것을 특징으로 하는 실장형 테스트 장비.
제2 항에 있어서,

상기 외부 장치기 PC 마더보드인 경우,

상기 PC 마더보드는 중앙처리장치(CPU), 상기 CPU의 패턴 생성 프로그램에 의해 상기 테스트 로직을 위한 신호들을 발생시키는 칩셋(chipset), 상기 칩셋으로부터의 상기 테스트 로직을 위한 신호들을 저장하는 모듈 램(module RAM); 및 상기 칩셋 및 상기 모듈 램 사이에 연결되어 상기 테스트 로직을 위한 신호들을 상기 모듈 램 및 상기 캡쳐 시스템으로 전달하는 인터포저(interposer)를 포함하며,

상기 외부 장치가 CE 디바이스인 경우,

상기 CE 디바이스는 MCU(Micro Controller Unit) 또는 소정 기능의 컨트롤러, 및 상기 MCU 또는 컨트롤러에서 발생시킨 전기적 신호를 저장하는 모듈 램 또는 컴포넌트 램, 및 상기 MCU 또는 컨트롤러와 상기 모듈 램 사이에 연결되어 상기 전기적 신호를 상기 모듈 램 및 상기 캡쳐 시스템으로 전달하는 인터포저를 포함하는 것을 특징으로 하는 실장형 테스트 장비.
제1 항에 있어서,

상기 캡쳐 시스템은,

상기 테스트 로직을 위한 신호를 캡쳐하는 캡쳐 장치; 및

상기 캡쳐 장치로부터 출력된 데이터를 임시 저장하는 로컬 저장장치;를 포함하는 것을 특징으로 하는 실장형 테스트 장비.
제4 항에 있어서,

상기 캡쳐 장치는 캡쳐된 신호를 상기 로직 데이터로 변환하며, 각 로직 데이터를 정렬 및 압축하는 것을 특징으로 하는 실장형 테스트 장비.
제1 항에 있어서,

상기 패턴 데이터 센터는

상기 로직 데이터를 저장하기 위한 대용량 저장 장치를 포함하며,

상기 로직 데이터는 사용자 인터페이스(UI)에 의해 내용이 추가되거나 변경 또는 서로 병합될 수 있는 것을 특징으로 하는 실장형 테스트 장비.
제1 항에 있어서,

상기 테스터 메인 프레임은

테스트 스케쥴에 따라 상기 패턴 데이터 센터로부터 테스트시 요구되는 패턴 데이터를 다운로드 받아 임시 저장하고, 상기 패턴 데이터를 테스터 메인 보드로 전달하는 로컬 저장장치;

상기 로직 데이터로부터 상기 DUT 테스트를 위한 로직 신호를 생성하고 상기 DUT로부터 출력된 로직 결과 패턴을 검사하여 상기 DUT의 동작 상태를 판단하는 테스터 메인 보드; 및

상기 로직 신호를 상기 DUT로 인가하고, 상기 로직 결과 패턴을 검출하여 상기 테스터 메인 보드로 출력하는 헤더;를 포함하는 것을 특징으로 하는 실장형 테스트 장비.
제7 항에 있어서,

상기 테스터 메인 보드는 상기 로직 결과 패턴을 상기 로컬 저장장치에 저장된 기대값과 비교하여 상기 DUT 동작의 정상 또는 비정상 여부를 판단하는 것을 특징으로 하는 실장형 테스트 장비.
제1 항에 있어서,

상기 실장형 테스트 장비는 테스트를 위해 상기 DUT가 실장 되는 퍼포먼스 보드(Performance Board)를 포함하고,

상기 퍼포먼스 보드는 상기 DUT로서 개개의 컴포넌트(Component) 칩 또는 모듈 칩을 실장할 수 있는 것을 특징으로 하는 실장형 테스트 장비.
제 1항에 있어서,

상기 캡쳐 시스템, 패턴 데이터 센터, 및 테스트 메인 프레임에는 UI(User Interface)를 통해 컨트롤 PC가 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 실장형 테스트 장비.
제1 항에 있어서,

상기 테스트 로직을 위한 신호는 테스트 될 칩에서 이용되는 신호들을 포함하며,

상기 로직 데이터는 테스트 로직을 위한 논리값 정보, 메모리의 전원 정보, 상기 칩의 동작 온도에 대한 정보, 및 SI(Signal Integrity) 및 PI(Power Integrity)에 대한 정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 실장형 테스트 장비.
제1 항에 있어서,

상기 실장형 테스트 장비는 상기 외부 장치와 연결 없이 상기 대용량 저장장 치에 저장된 로직 데이터를 이용하여 동일 또는 서로 다른 다수 개의 DUT를 동시에 테스트할 수 있는 것을 특징으로 하는 실장형 테스트 장비.
DUT의 실장환경을 모사하는 로직 데이터를 저장하는 대용량 저장장치; 및

상기 대용량 저장장치의 로직 데이터를 이용하여 상기 DUT를 테스트하는 테스터 메인 프레임;을 포함하는 실장형 테스트 장비.
제13 항에 있어서,

상기 대용량 저장장치는 캡쳐 장치를 이용하여 외부 장치로부터 테스트 로직을 위한 신호를 캡쳐하여 상기 로직 데이터로서 저장하며,

상기 테스트 로직을 위한 신호는 테스트 될 칩에서 이용되는 신호들을 포함하며,

상기 캡쳐 장치는 신호 캡쳐 시에 상기 테스터 메인 프레임 내의 메인 프레임 보드와 교환장착되어 이용되는 것을 특징으로 하는 실장형 테스트 장비.
제14 항에 있어서,

상기 외부 장치는 PC 마더보드(Mother Board) 및 CE(Customer End) 디바이스를 포함하며,

상기 캡쳐 장치는 상기 PC 마더보드 또는 CE 디바이스에 포함된 인터포저를 통해 상기 테스트 로직을 위한 신호를 캡쳐하는 것을 특징으로 하는 실장형 테스트 장비.
제13 항에 있어서,

상기 테스터 메인 프레임은 상기 로직 데이터로부터 상기 DUT 테스트를 위한 로직 신호를 생성하고 상기 DUT로부터 출력된 로직 결과 패턴을 검사하여 상기 DUT의 동작 상태를 판단하는 테스터 메인 보드, 및 테스트 스케쥴에 따라 상기 패턴 데이터 센터로부터 테스트 시 요구되는 패턴 데이터를 다운로드 받아 임시 저장하고, 상기 패턴 데이터를 테스터 메인 보드로 전달하는 로컬 저장장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 실장형 테스트 장비.
제13 항에 있어서,

상기 로직 데이터는 상기 대용량 저장장치에 연결된 UI를 통해 내용이 추가되거나 변경 또는 서로 병합될 수 있으며,

상기 실장형 테스트 장비는 상기 로직 데이터를 이용하여 동일 또는 서로 다른 다수 개의 DUT를 동시에 테스트할 수 있는 것을 특징으로 하는 실장형 테스트 장비.
DUT의 실장환경을 제공하는 외부 장치로부터 캡쳐 장치를 이용하여 테스트 로직을 위한 신호를 캡쳐하는 단계;

캡쳐된 상기 테스트 로직을 위한 신호를 로직 데이터로서 대용량 저장장치에 저장하는 단계; 및

테스터 메인 프레임이 상기 대용량 저장장치로부터 상기 로직 데이터를 불러와 실장환경의 모사하여 DUT를 테스트하는 단계;를 포함하는 실장 테스트 방법.
제18 항에 있어서,

상기 외부 장치는 PC 마더보드(Mother Board) 및 CE(Customer End) 디바이스를 포함하고,

상기 캡쳐 장치가 상기 PC 마더보드 또는 CE 디바이스에 포함된 인터포저를 통해 상기 테스트 로직을 위한 신호를 캡쳐하는 것을 특징으로 하는 실장 테스트 방법.
제18 항에 있어서,

상기 대용량 저장장치에 저장하는 단계 전에,

상기 캡쳐 장치가 캡쳐된 상기 테스트 로직을 위한 신호를 로직 데이터로서 변환, 정렬 및 압축하는 단계; 및

상기 압축된 로직 데이터를 로컬 저장장치에 임시 저장하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 실장 테스트 방법.
제18 항에 있어서,

상기 대용량 저장 장치로의 저장단계에서,

사용자 인터페이스(UI)에 의해 사용자가 상기 로직 데이터의 내용을 추가, 변경 또는 서로 병합할 수 있는 것을 특징으로 하는 실장 테스트 방법.
제18 항에 있어서,

상기 DUT를 테스트하는 단계는

테스트 스케쥴에 따라 상기 대용량 저장장치로부터 테스트 시 요구되는 패턴 데이터를 다운로드 받아 임시 저장하는 단계;

상기 패턴 데이터를 불러와 상기 DUT 테스트를 위한 로직 신호를 생성하는 단계;

상기 로직 신호를 상기 DUT로 인가하는 단계;

상기 DUT부터 출력된 로직 결과 패턴을 검출하는 단계; 및

상기 로직 결과 패턴을 분석하여 상기 테스터 메인 프레임 내의 로컬 저장장치에 저장된 기대값과 비교하여 상기 DUT의 동작 상태를 판단하는 단계;를 포함하는 실장 테스트 방법.
제18 항에 있어서,

상기 실장 테스트 방법은 상기 DUT 테스트 시에 상기 외부 장치와 연결할 필요 없이 상기 대용량 저장장치에 저장된 상기 로직 데이터만을 이용하여 동일 또는 서로 다른 다수 개의 DUT를 동시에 테스트할 수 있는 것을 특징으로 하는 실장 테스트 방법.