KR20090097404A - 현상 왜곡을 최소화한 3차원 자동 안경테/패턴 형상 측정장치 및 측정 방법 - Google Patents
현상 왜곡을 최소화한 3차원 자동 안경테/패턴 형상 측정장치 및 측정 방법 Download PDFInfo
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- 안경테 또는 패턴을 고정하는 고정부;상기 안경테 또는 패턴에 접하고, 상기 안경테 또는 패턴에 접한 상태에서 회전하는 탐침부를 포함하며, 상기 탐침부의 회전을 통하여, 상기 안경테 또는 패턴의 접점의 위치 정보를 얻는 스타일러스부; 및상기 위치 정보로부터, 상기 접점에 있어서, 상기 탐침부 진행방향의 법선 벡터 기울기 및 상기 법선 벡터 기울기의 변화를 산출하고, 상기 법선 벡터 기울기의 변화를 기초로 상기 탐침부의 회전 속도 및/또는 작용 압력을 조절하는 제어부를 포함하는 3차원 자동 안경테/패턴 형상 측정 장치.
- 상기 제1항에 있어서, 상기 탐침부는 등각도로 회전하는 것인 3차원 자동 안경테/패턴 형상 측정 장치.
- 상기 제1항에 있어서, 상기 탐침부의 진행방향의 법선 벡터 기울기의 변화에 따라, 상기 탐침부의 회전 속도 및/또는 작용 압력이 자동으로 제어되는 것인 3차원 자동 안경테/패턴 형상 측정 장치.
- 탐침부가 안경테 또는 패턴에 접한 상태에서 회전하는 단계;상기 안경테 또는 패턴의 접점에서의 회전 각도, R축 방향 위치 변위, 및 Z 축 방향 위치 변위를 포함하는 위치 정보를 얻는 단계;상기 위치 정보로부터, 상기 접점에 있어서, 상기 탐침부 진행방향의 법선 벡터 기울기 및 법선 벡터 기울기 변화를 산출하는 단계;상기 법선 벡터 기울기의 변화를 기초하여, 상기 탐침부의 회전 속도 및/또는 작용 압력을 조절하는 단계를 포함하는 3차원 자동 안경테/패턴 형상 측정 방법.
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