JP2003344217A - メガネレンズの光学測定システム - Google Patents
メガネレンズの光学測定システムInfo
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- JP2003344217A JP2003344217A JP2002156568A JP2002156568A JP2003344217A JP 2003344217 A JP2003344217 A JP 2003344217A JP 2002156568 A JP2002156568 A JP 2002156568A JP 2002156568 A JP2002156568 A JP 2002156568A JP 2003344217 A JP2003344217 A JP 2003344217A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 アライメント工程を省いて、測定誤差のない
瞳孔間距離測定を簡単な構成にて実現可能にする。 【解決手段】 メガネ枠３におけるメガネレンズ４Ａ、
４Ｂの光軸とレンズメータ１の測定光軸との水平方向の
変位量と、メガネ枠の位置決めをする二つの位置決め部
材６、７間の水平距離または一つの位置決め部材６の水
平移動距離とを、一対のメガネレンズ４Ａ、４Ｂについ
て合算することによりメガネレンズ４Ａ、４Ｂの瞳孔間
距離を演算するマイクロプロセッサを設ける。
瞳孔間距離測定を簡単な構成にて実現可能にする。 【解決手段】 メガネ枠３におけるメガネレンズ４Ａ、
４Ｂの光軸とレンズメータ１の測定光軸との水平方向の
変位量と、メガネ枠の位置決めをする二つの位置決め部
材６、７間の水平距離または一つの位置決め部材６の水
平移動距離とを、一対のメガネレンズ４Ａ、４Ｂについ
て合算することによりメガネレンズ４Ａ、４Ｂの瞳孔間
距離を演算するマイクロプロセッサを設ける。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、メガネ枠に装着さ
れたメガネレンズの瞳孔間距離および瞳孔高さを光学測
定するメガネレンズの光学測定システムに関する。
れたメガネレンズの瞳孔間距離および瞳孔高さを光学測
定するメガネレンズの光学測定システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】メガネ枠に装着されたメガネレンズの瞳
孔間距離（ＰＤ）は、例えばレンズメータ上でメガネ枠
の片方のメガネレンズについて、レンズメータの測定光
軸とメガネレンズの光軸とを合致させるアライメント工
程を実施し、次に、他方のメガネレンズについてレンズ
メータの測定光軸とメガネレンズの光軸とを合致させる
アライメントを前記同様に実施して、各光軸が合致した
点で印点を行い、さらにこれらの二つの印点をスケール
で計測するという方法で求めている。
孔間距離（ＰＤ）は、例えばレンズメータ上でメガネ枠
の片方のメガネレンズについて、レンズメータの測定光
軸とメガネレンズの光軸とを合致させるアライメント工
程を実施し、次に、他方のメガネレンズについてレンズ
メータの測定光軸とメガネレンズの光軸とを合致させる
アライメントを前記同様に実施して、各光軸が合致した
点で印点を行い、さらにこれらの二つの印点をスケール
で計測するという方法で求めている。
【０００３】また、メガネ枠の鼻当てマットにエンコー
ダ等のセンサを接触させて、その鼻当てマットの検出位
置にもとづきメガネレンズの瞳孔間距離を測定するとい
う方法も提案されている。さらに、瞳孔高さは、レンズ
メータの光軸とメガネレンズの光軸を合致するアライメ
ント工程を実施し、次にレンズメータに設けられたメガ
ネ枠当て板をメガネ枠の下部に当てることにより計測し
ている。
ダ等のセンサを接触させて、その鼻当てマットの検出位
置にもとづきメガネレンズの瞳孔間距離を測定するとい
う方法も提案されている。さらに、瞳孔高さは、レンズ
メータの光軸とメガネレンズの光軸を合致するアライメ
ント工程を実施し、次にレンズメータに設けられたメガ
ネ枠当て板をメガネ枠の下部に当てることにより計測し
ている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
瞳孔間距離測定では前記印点間を測定するためのスケー
ルや鼻当てマットに接触させるエンコーダなどのセンサ
が必要になるばかりか、アライメント工程を必要とし、
従って計測機構が複雑となり、計測誤差の発生が避けら
れないという問題があった。
瞳孔間距離測定では前記印点間を測定するためのスケー
ルや鼻当てマットに接触させるエンコーダなどのセンサ
が必要になるばかりか、アライメント工程を必要とし、
従って計測機構が複雑となり、計測誤差の発生が避けら
れないという問題があった。
【０００５】本発明はこのような従来の問題を解決する
ものであり、その目的とするところは、アライメント工
程を省くことにより、このアライメントに伴う測定誤差
の発生を回避でき、これをスケールやセンサを用いない
簡単な構成にて実現できるメガネレンズの光学測定シス
テムを得ることを目的とする。
ものであり、その目的とするところは、アライメント工
程を省くことにより、このアライメントに伴う測定誤差
の発生を回避でき、これをスケールやセンサを用いない
簡単な構成にて実現できるメガネレンズの光学測定シス
テムを得ることを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】前記目的達成のために、
請求項１の発明にかかるメガネレンズの光学測定システ
ムは、メガネ枠におけるメガネレンズの光軸とレンズメ
ータの測定光軸との水平方向の変位量と、前記メガネ枠
の位置決めをする二つの位置決め部材間の水平距離また
は一つの位置決め部材の水平移動距離とを、一対の前記
メガネレンズについて合算してメガネレンズの瞳孔間距
離を演算するマイクロプロセッサを設けたことを特徴と
する。これにより、メガネレンズのアライメントなどの
煩雑な作業を行うことなく、従って測定誤差を生じるこ
とがないメガネレンズの瞳孔間距離の測定を、簡単な構
成にて迅速、正確に行うことができる。
請求項１の発明にかかるメガネレンズの光学測定システ
ムは、メガネ枠におけるメガネレンズの光軸とレンズメ
ータの測定光軸との水平方向の変位量と、前記メガネ枠
の位置決めをする二つの位置決め部材間の水平距離また
は一つの位置決め部材の水平移動距離とを、一対の前記
メガネレンズについて合算してメガネレンズの瞳孔間距
離を演算するマイクロプロセッサを設けたことを特徴と
する。これにより、メガネレンズのアライメントなどの
煩雑な作業を行うことなく、従って測定誤差を生じるこ
とがないメガネレンズの瞳孔間距離の測定を、簡単な構
成にて迅速、正確に行うことができる。
【０００７】また、請求項２の発明にかかるメガネレン
ズの光学測定システムは、前記マイクロプロセッサが、
メガネ枠における前記メガネレンズの光軸と前記レンズ
メータの測定光軸との垂直方向の変位量と、測定光軸と
メガネ枠位置との垂直方向の距離とから、瞳孔高さを演
算することを特徴とする。これにより、メガネレンズの
アライメントなどの煩雑な作業を行うことなく、測定誤
差を生じることがない瞳孔高さの測定を、簡単な構成に
て迅速、正確に行うことができる。
ズの光学測定システムは、前記マイクロプロセッサが、
メガネ枠における前記メガネレンズの光軸と前記レンズ
メータの測定光軸との垂直方向の変位量と、測定光軸と
メガネ枠位置との垂直方向の距離とから、瞳孔高さを演
算することを特徴とする。これにより、メガネレンズの
アライメントなどの煩雑な作業を行うことなく、測定誤
差を生じることがない瞳孔高さの測定を、簡単な構成に
て迅速、正確に行うことができる。
【０００８】また、請求項３の発明にかかるメガネレン
ズの光学測定システムは、前記メガネ枠位置がメガネ枠
の下部に当接されるメガネ枠当て部材の垂直方向移動量
として測定することを特徴とする。これにより、レンズ
メータにおけるメガネ枠の垂直方向の位置を簡単な構成
にて正確に設定できる。
ズの光学測定システムは、前記メガネ枠位置がメガネ枠
の下部に当接されるメガネ枠当て部材の垂直方向移動量
として測定することを特徴とする。これにより、レンズ
メータにおけるメガネ枠の垂直方向の位置を簡単な構成
にて正確に設定できる。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態を図
について説明する。図１は本発明のメガネレンズの光学
測定システムを構成するレンズメータ１の正面図、図２
は同じく平面図である。このレンズメータ１は例えば加
工治具を未加工レンズに取り付ける機能などのほか、メ
ガネレンズの光学測定機能を有する。２はレンズメータ
１に設置されて、メガネ枠３に装着されたメガネレンズ
４Ａ、４Ｂを載置する計測台、Ｏ１ はレンズメータ１
の測定光軸である。
について説明する。図１は本発明のメガネレンズの光学
測定システムを構成するレンズメータ１の正面図、図２
は同じく平面図である。このレンズメータ１は例えば加
工治具を未加工レンズに取り付ける機能などのほか、メ
ガネレンズの光学測定機能を有する。２はレンズメータ
１に設置されて、メガネ枠３に装着されたメガネレンズ
４Ａ、４Ｂを載置する計測台、Ｏ１ はレンズメータ１
の測定光軸である。
【００１０】また、５はレンズメータ１に設けられ、計
測台２の上方において前後方向（矢印Ｐ方向）に移動可
能なメガネ枠当て部材としてのメガネ枠当て板、６、７
はメガネ枠３の鼻当てパッドを位置決めする位置決め部
材で、測定光軸Ｏ１ からそれぞれ距離ＸＬ 、ＸＲ 離
れた位置のメガネ枠当て板５上に設けられている。な
お、位置決め部材６、７はメガネ枠当て板５の前面に前
後方向に移動自在に取り付けられている。
測台２の上方において前後方向（矢印Ｐ方向）に移動可
能なメガネ枠当て部材としてのメガネ枠当て板、６、７
はメガネ枠３の鼻当てパッドを位置決めする位置決め部
材で、測定光軸Ｏ１ からそれぞれ距離ＸＬ 、ＸＲ 離
れた位置のメガネ枠当て板５上に設けられている。な
お、位置決め部材６、７はメガネ枠当て板５の前面に前
後方向に移動自在に取り付けられている。
【００１１】ここで、前記メガネ枠当て板５はメガネ枠
３の下面に対する当接面が平らに加工されており、ま
た、位置決め部材６、７は鼻当てパッドに密接可能な先
端形状に加工されている。
３の下面に対する当接面が平らに加工されており、ま
た、位置決め部材６、７は鼻当てパッドに密接可能な先
端形状に加工されている。
【００１２】次に、この光学測定システムによりメガネ
枠に装着したメガネレンズ４Ａ、４Ｂの瞳孔間距離を測
定する方法について説明する。まず、一方の位置決め部
材７にメガネ枠３の鼻当てパッドを当てて位置決めし、
左眼用のメガネレンズ４Ａを計測台２上に載置する。こ
こでは、メガネレンズ４Ａの光軸とレンズメータ１の測
定光軸Ｏ１ との平面位置における変位量（ＰＸＬ、Ｐ
ＹＬ）を計測する。
枠に装着したメガネレンズ４Ａ、４Ｂの瞳孔間距離を測
定する方法について説明する。まず、一方の位置決め部
材７にメガネ枠３の鼻当てパッドを当てて位置決めし、
左眼用のメガネレンズ４Ａを計測台２上に載置する。こ
こでは、メガネレンズ４Ａの光軸とレンズメータ１の測
定光軸Ｏ１ との平面位置における変位量（ＰＸＬ、Ｐ
ＹＬ）を計測する。
【００１３】また、測定光軸Ｏ１ と位置決め部材７と
の距離をＸＬ とし、測定光軸Ｏ１とメガネ枠当て板５
との距離をＹＯ とすると、前記のメガネレンズ４Ａの
光軸の位置は（ＸＬ ＋ＰＸＬ、ＹＯ ＋ＰＹＬ）とな
る。なお、この光軸の位置の演算は前記レンズメータ１
に設けたマイクロプロセッサ１Ａにより実行される。
の距離をＸＬ とし、測定光軸Ｏ１とメガネ枠当て板５
との距離をＹＯ とすると、前記のメガネレンズ４Ａの
光軸の位置は（ＸＬ ＋ＰＸＬ、ＹＯ ＋ＰＹＬ）とな
る。なお、この光軸の位置の演算は前記レンズメータ１
に設けたマイクロプロセッサ１Ａにより実行される。
【００１４】続いて、他方の位置決め部材６にメガネ枠
３の鼻当てパッドを当てて位置決めをし、右眼用のメガ
ネレンズ４Ｂを計測台２上に載置する。これにより、メ
ガネレンズ４Ｂの光軸とレンズメータ１の測定光軸Ｏ１
との平面位置における変位量（ＰＸＲ、ＰＹＲ）を計
測する。
３の鼻当てパッドを当てて位置決めをし、右眼用のメガ
ネレンズ４Ｂを計測台２上に載置する。これにより、メ
ガネレンズ４Ｂの光軸とレンズメータ１の測定光軸Ｏ１
との平面位置における変位量（ＰＸＲ、ＰＹＲ）を計
測する。
【００１５】また、測定光軸Ｏ１ と位置決め部材６と
の距離をＸＲ とし、測定光軸Ｏ１とメガネ枠当て板５
との距離をＹＯ とすると、メガネレンズ４Ｂの光軸の
位置は、マイクロプロセッサ１Ａの演算によって（ＸＲ
＋ＰＸＲ、ＹＯ ＋ＰＹＲ）となる。
の距離をＸＲ とし、測定光軸Ｏ１とメガネ枠当て板５
との距離をＹＯ とすると、メガネレンズ４Ｂの光軸の
位置は、マイクロプロセッサ１Ａの演算によって（ＸＲ
＋ＰＸＲ、ＹＯ ＋ＰＹＲ）となる。
【００１６】従って、メガネレンズ４Ａ、４Ｂの瞳孔間
距離は、前記メガネレンズ４Ａ、４Ｂの光軸位置のうち
座標面上のＸ成分を加算した値のＸＬ ＋ＰＸＬ＋ＸＲ
＋Ｐ ＸＲとなる。この加算処理もマイクロプロセッサ１
Ａが実行する。そして、この瞳孔間距離の測定は、従来
のようなレンズメータ１の測定光軸とメガネレンズの光
軸を合致させるなどのアライメント工程を実施すること
なく、マイクロプロセッサ１Ａの演算によって、誤差の
発生なく、迅速かつ正確に実行される。また、この測定
作業に当ってスケールやセンサを用いる必要もない。
距離は、前記メガネレンズ４Ａ、４Ｂの光軸位置のうち
座標面上のＸ成分を加算した値のＸＬ ＋ＰＸＬ＋ＸＲ
＋Ｐ ＸＲとなる。この加算処理もマイクロプロセッサ１
Ａが実行する。そして、この瞳孔間距離の測定は、従来
のようなレンズメータ１の測定光軸とメガネレンズの光
軸を合致させるなどのアライメント工程を実施すること
なく、マイクロプロセッサ１Ａの演算によって、誤差の
発生なく、迅速かつ正確に実行される。また、この測定
作業に当ってスケールやセンサを用いる必要もない。
【００１７】また、各メガネレンズ４Ａ、４Ｂにおける
瞳孔の高さ位置は、前記瞳孔間の距離測定の演算過程で
それぞれ得られるＹＯ ＋ＰＹＬ、ＹＯ ＋ＰＹＲとな
り、この場合にも従来のアライメントという煩雑な作業
を省くことができ、この計測値の高精度化、計測作業の
単純化を図ることができる。
瞳孔の高さ位置は、前記瞳孔間の距離測定の演算過程で
それぞれ得られるＹＯ ＋ＰＹＬ、ＹＯ ＋ＰＹＲとな
り、この場合にも従来のアライメントという煩雑な作業
を省くことができ、この計測値の高精度化、計測作業の
単純化を図ることができる。
【００１８】なお、前記実施の形態では被検眼の瞳孔と
メガネレンズ４Ａ、４Ｂの各光軸が一致する場合を前提
にして説明したが、斜視眼矯正のために実施されるプリ
ズム処方の場合には、光のＸ方向およびＹ方向の屈折力
に応じたプリズム量を前記演算結果に加算すればよい。
メガネレンズ４Ａ、４Ｂの各光軸が一致する場合を前提
にして説明したが、斜視眼矯正のために実施されるプリ
ズム処方の場合には、光のＸ方向およびＹ方向の屈折力
に応じたプリズム量を前記演算結果に加算すればよい。
【００１９】また、前記実施の形態では、瞳孔間距離を
ＸＬ ＋ＰＸＬ＋ＸＲ ＋ＰＸＲとして求めたが、ＸＬ
とＸＲ の和は一定値のＸであるため、結局、瞳孔間距
離はＸ＋ＰＸＬ＋ＰＸＲとして求めることができる。こ
の結果、位置決め部材６、７の測定光軸Ｏ１ に対する
距離を求める必要がなくなる。
ＸＬ ＋ＰＸＬ＋ＸＲ ＋ＰＸＲとして求めたが、ＸＬ
とＸＲ の和は一定値のＸであるため、結局、瞳孔間距
離はＸ＋ＰＸＬ＋ＰＸＲとして求めることができる。こ
の結果、位置決め部材６、７の測定光軸Ｏ１ に対する
距離を求める必要がなくなる。
【００２０】また、前記位置決め部材を二つ設けなくて
も、一つの位置決め部材を移動可能として、この移動距
離を測定すれば、前記のＸＬ 、ＸＲ の測定を行うこと
ができる。従ってこれらの測定値から前記同様に瞳孔間
距離を求めることができる。
も、一つの位置決め部材を移動可能として、この移動距
離を測定すれば、前記のＸＬ 、ＸＲ の測定を行うこと
ができる。従ってこれらの測定値から前記同様に瞳孔間
距離を求めることができる。
【００２１】なお、メガネ枠３の鼻当てパッドを位置決
めする位置決め部材６、７をメガネ枠当て板５に設ける
ほか、レンズメータ１のいずれかの部位に設けてもよ
い。
めする位置決め部材６、７をメガネ枠当て板５に設ける
ほか、レンズメータ１のいずれかの部位に設けてもよ
い。
【００２２】さらに、前記位置決め部材６、７をメガネ
枠３のいずれの部位の、例えばテンプルなどに対する水
平方向の位置決めを行うものとして構成することもでき
る。この場合にも、その位置決め部材６、７を二つ設け
ずに、一つを水平移動可能として用いてもよい。この場
合には、その移動距離が特定できればよい。
枠３のいずれの部位の、例えばテンプルなどに対する水
平方向の位置決めを行うものとして構成することもでき
る。この場合にも、その位置決め部材６、７を二つ設け
ずに、一つを水平移動可能として用いてもよい。この場
合には、その移動距離が特定できればよい。
【００２３】
【発明の効果】以上のように、本発明によればメガネ枠
におけるメガネレンズの光軸とレンズメータの測定光軸
との水平方向の変位量と、メガネ枠の位置決めをする二
つの位置決め部材間の水平距離または一つの位置決め部
材の水平移動距離とを、一対のメガネレンズについて合
算してメガネレンズの瞳孔間距離を演算するマイクロプ
ロセッサを設けたので、メガネレンズのアライメントな
どの煩雑な作業を行うことなく、瞳孔間距離の測定を簡
単な構成にて迅速、正確に行うことができる。
におけるメガネレンズの光軸とレンズメータの測定光軸
との水平方向の変位量と、メガネ枠の位置決めをする二
つの位置決め部材間の水平距離または一つの位置決め部
材の水平移動距離とを、一対のメガネレンズについて合
算してメガネレンズの瞳孔間距離を演算するマイクロプ
ロセッサを設けたので、メガネレンズのアライメントな
どの煩雑な作業を行うことなく、瞳孔間距離の測定を簡
単な構成にて迅速、正確に行うことができる。
【００２４】また、前記マイクロプロセッサが、メガネ
枠におけるメガネレンズの光軸とレンズメータの測定光
軸との垂直方向の変位量と、測定光軸とメガネ枠位置と
の垂直方向の距離とから、瞳孔高さを演算するので、メ
ガネレンズのアライメントなどの煩雑な作業を行うこと
なく、瞳孔高さの測定を簡単な構成にて迅速、正確に行
うことができる。
枠におけるメガネレンズの光軸とレンズメータの測定光
軸との垂直方向の変位量と、測定光軸とメガネ枠位置と
の垂直方向の距離とから、瞳孔高さを演算するので、メ
ガネレンズのアライメントなどの煩雑な作業を行うこと
なく、瞳孔高さの測定を簡単な構成にて迅速、正確に行
うことができる。
【００２５】また、メガネ枠位置をメガネ枠の下部に当
接されるメガネ枠当て部材の垂直方向移動量として測定
することで、レンズメータにおけるメガネ枠の垂直方向
の位置を正確に設定できるという効果が得られる。
接されるメガネ枠当て部材の垂直方向移動量として測定
することで、レンズメータにおけるメガネ枠の垂直方向
の位置を正確に設定できるという効果が得られる。
【図１】本発明の実施の一形態によるメガネレンズの光
学測定システムを構成するレンズメータの正面図であ
る。
学測定システムを構成するレンズメータの正面図であ
る。
【図２】図１に示すレンズメータの平面図である。
【符号の説明】
１ レンズメータ
３ メガネ枠
４Ａ、４Ｂ メガネレンズ
５ メガネ枠当て部材
６、７ 位置決め部材
Claims (3)
- 【請求項１】 メガネレンズの光学測定機能を有するメ
ガネレンズの光学測定システムにおいて、メガネ枠にお
ける前記メガネレンズの光軸とレンズメータの測定光軸
との水平方向の変位量と、前記メガネ枠の位置決めをす
る二つの位置決め部材間の水平距離または一つの位置決
め部材の水平移動距離とを、一対の前記メガネレンズに
ついて合算してメガネレンズの瞳孔間距離を演算するマ
イクロプロセッサを設けたことを特徴とするメガネレン
ズの光学測定システム。 - 【請求項２】 前記マイクロプロセッサが、メガネ枠に
おける前記メガネレンズの光軸と前記レンズメータの測
定光軸との垂直方向の変位量と、測定光軸とメガネ枠位
置との垂直方向の距離とから、瞳孔高さを演算すること
を特徴とする請求項１に記載のメガネレンズの光学測定
システム。 - 【請求項３】 前記メガネ枠位置がメガネ枠の下部に当
接されるメガネ枠当て部材の垂直方向移動量として測定
されることを特徴とする請求項１に記載のメガネレンズ
の光学測定システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002156568A JP2003344217A (ja) | 2002-05-30 | 2002-05-30 | メガネレンズの光学測定システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002156568A JP2003344217A (ja) | 2002-05-30 | 2002-05-30 | メガネレンズの光学測定システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003344217A true JP2003344217A (ja) | 2003-12-03 |
Family
ID=29772735
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002156568A Pending JP2003344217A (ja) | 2002-05-30 | 2002-05-30 | メガネレンズの光学測定システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003344217A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20050031978A (ko) * | 2003-09-30 | 2005-04-06 | 펜탁스 가부시키가이샤 | 동공거리 측정방법 및 측정장치 |
| JP2016114432A (ja) * | 2014-12-12 | 2016-06-23 | 株式会社ニデック | レンズメータ、及び演算プログラム |
| CN107228756A (zh) * | 2017-07-19 | 2017-10-03 | 芜湖市奥尔特光电科技有限公司 | 一种方便使用的焦度计 |
-
2002
- 2002-05-30 JP JP2002156568A patent/JP2003344217A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20050031978A (ko) * | 2003-09-30 | 2005-04-06 | 펜탁스 가부시키가이샤 | 동공거리 측정방법 및 측정장치 |
| JP2016114432A (ja) * | 2014-12-12 | 2016-06-23 | 株式会社ニデック | レンズメータ、及び演算プログラム |
| CN107228756A (zh) * | 2017-07-19 | 2017-10-03 | 芜湖市奥尔特光电科技有限公司 | 一种方便使用的焦度计 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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