KR20090008463A - 대상물을 이미징하는 시스템 및 방법 - Google Patents
대상물을 이미징하는 시스템 및 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20090008463A KR20090008463A KR1020087029800A KR20087029800A KR20090008463A KR 20090008463 A KR20090008463 A KR 20090008463A KR 1020087029800 A KR1020087029800 A KR 1020087029800A KR 20087029800 A KR20087029800 A KR 20087029800A KR 20090008463 A KR20090008463 A KR 20090008463A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- objects
- imaging area
- electrical components
- imaging
- imager
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 258
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 180
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 52
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 37
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims description 22
- 230000032258 transport Effects 0.000 claims description 20
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 17
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 15
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 5
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 4
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 33
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 4
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 230000002146 bilateral effect Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000003985 ceramic capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 1
- 150000003071 polychlorinated biphenyls Chemical class 0.000 description 1
- 230000000979 retarding effect Effects 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
- H04N1/04—Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa
- H04N1/113—Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa using oscillating or rotating mirrors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9515—Objects of complex shape, e.g. examined with use of a surface follower device
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Sorting Of Articles (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Medicines Containing Plant Substances (AREA)
- Studio Devices (AREA)
Abstract
Description
Claims (145)
- 전기 컴포넌트들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템으로서,제 1 이미징 영역에 위치한 전기 컴포넌트들의 상부 이미지와 2 개 측면 이미지를 획득하도록 구성된 제 1 이미저 (imager); 및상기 제 1 이미징 영역을 향해 가로 방향으로 전기 컴포넌트들을 이송하도록 구성된 가로 방향 이송기 (lateral transferor) 를 포함하고,상기 전기 컴포넌트들은 소형이며 연장되고,상기 가로 방향 이송기는 가스 압력 차분들을 이용하는, 이미지 획득 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 제 1 이미저는 상기 전기 컴포넌트들의 반대 측면들을 향해 광을 지향시키고, 상기 전기 컴포넌트들의 상기 반대 측면들로부터 반사되거나 산란된 광을 제 1 이미징 센서를 향해 지향시키도록 구성된 적어도 한 쌍의 경사진 거울들을 포함하는, 이미지 획득 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 제 1 이미저는 상기 제 1 이미징 영역에 위치한 2 개의 경사진 거울을 포함하고,상기 전기 컴포넌트들은 상기 제 1 이미징 영역에 위치한 경우 상기 2 개의 경사진 거울 사이에 위치하는, 이미지 획득 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 2 개의 경사진 거울들은 45 도의 각도로 배향되는 (oriented), 이미지 획득 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 제 1 이미저는 상부 수집 경로의 광학 길이 및 측면 수집 경로들의 광학 길이들을 사실상 같게 하도록 구성된 경로 길이 조정 광학계 (optics) 를 포함하는, 이미지 획득 시스템.
- 제 5 항에 있어서,상기 제 1 이미저는 상기 상부 수집 경로의 상기 광학 길이를 연장하는 경로 길이 조정 광학계를 포함하는, 이미지 획득 시스템.
- 제 5 항에 있어서,상기 제 1 이미저는 상기 측면 수집 경로들의 상기 광학 길이들을 사실상 단축하는 경로 길이 조정 광학계를 포함하는, 이미지 획득 시스템.
- 제 5 항에 있어서,상기 경로 길이 조정 광학계는 경사진 거울들과 접촉하도록 형성되고,상기 경사진 거울들은 상기 전기 컴포넌트들의 반대 측면들을 향해 광을 지향시키고, 상기 전기 컴포넌트들의 상기 반대 측면들로부터 반사되거나 산란된 광을 제 1 이미징 센서를 향해 지향시키도록 구성되는, 이미지 획득 시스템.
- 제 5 항에 있어서,상기 경로 길이 조정 광학계의 적어도 하나의 부분은 상기 부분을 향해 지향된 광을 산란시키도록 형성되는, 이미지 획득 시스템.
- 제 5 항에 있어서,상기 경로 길이 조정 광학계는 V 자 형상의 홈을 정의하는 하부를 포함하는 투명 엘리먼트들을 포함하는, 이미지 획득 시스템.
- 제 5 항에 있어서,상기 경로 길이 조정 광학계는 적어도 하나의 접이식 (folding) 거울을 포함하는, 이미지 획득 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 전기 컴포넌트들을 다수의 각도에서 조명하도록 구성된 조명 유닛을 더 포함하는, 이미지 획득 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 가로 방향 이송기는 상기 전기 컴포넌트들의 이송 경로를 따라 가스 압력 차분들을 도입하는 적어도 하나의 가스 입구 및 적어도 하나의 가스 출구를 포함하는, 이미지 획득 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 가로 방향 이송기는 규칙적으로 이격된 파티션들을 갖는 적어도 하나의 이송 엘리먼트들을 포함하고, 각 파티션은 하나의 전기 컴포넌트를 수신하도록 구성되는, 이미지 획득 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 가로 방향 이송기는 규칙적으로 이격된 파티션들을 갖는 적어도 하나의 지지 컨베이어 벨트를 포함하고, 각 파티션은 하나의 전기 컴포넌트를 수신하도록 구성되는, 이미지 획득 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 가로 방향 이송기는 상기 제 1 이미징 영역을 향해 가로 방향으로 배열된 전기 컴포넌트들의 2 차원 어레이를 전달하도록 구성되는, 이미지 획득 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 가로 방향 이송기에는 점검된 전기 컴포넌트들이 없어지면서 새로운 전기 컴포넌트들이 공급되는, 이미지 획득 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 전기 컴포넌트들과 접촉하도록 구성된 전기 접속 포인트들을 더 포함하는, 이미지 획득 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 가로 방향 이송기는 전기 컴포넌트들을 상기 제 1 이미징 영역으로 이송하고, 이미지 획득 세션 동안 사실상 정지 상태를 유지하고, 상기 이미지 획득 세션이 세션을 종료한 이후에 상기 제 1 이미징 영역 밖으로 점검된 전기 컴포넌트들을 이송하도록 구성되는, 이미지 획득 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 전기 컴포넌트들을 다수의 조명 방식으로 조명하도록 구성된 조명 유닛을 더 포함하는, 이미지 획득 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 가로 방향 이송기는 다수의 가로 방향 이송기 섹션들을 포함하고, 각 가로 방향 이송기 섹션은 상기 제 1 이미징 영역을 향해 전기 컴포넌트들의 시퀀스를 가로 방향으로 이송하도록 구성되는, 이미지 획득 시스템.
- 제 21 항에 있어서,상기 제 1 이미저는 가로 방향 이송기 섹션마다 한 쌍의 경사진 거울을 포함하고, 한 쌍의 경사진 거울 각각은 상기 가로 방향 이송기 섹션에 의해 이송되는 전기 컴포넌트들의 반대 측면들을 향해 광을 지향시키고, 상기 전기 컴포넌트들의 상기 반대 측면들로부터 반사되거나 산란된 광을 제 1 이미징 센서를 향해 지향시키도록 구성되는, 이미지 획득 시스템.
- 제 21 항에 있어서,상기 2 개의 경사진 거울들은 45 도의 각도로 배향되는, 이미지 획득 시스템.
- 제 21 항에 있어서,상기 제 1 이미저는 상부 수집 경로의 광학 길이와 측면 수집 경로들의 광학 길이들을 사실상 같게 하도록 구성된 경로 길이 조정 광학계를 포함하는, 이미지 획득 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 가로 방향 이송기는 다른 전기 컴포넌트들의 이미지가 획득되는 동안에 새로운 전기 컴포넌트들을 수신하도록 구성되는, 이미지 획득 시스템.
- 전기 컴포넌트들의 다수의 이미지를 획득하는 방법으로서,제 1 이미징 영역을 향해 전기 컴포넌트들을 가로 방향으로 이송하는 단계; 및상기 제 1 이미징 영역에 위치한 전기 컴포넌트들의 상부 이미지와 2 개의 측면 이미지들을 획득하는 단계를 포함하고,상기 가로 방향으로 이송하는 단계는 가스 압력 차분들을 이용하는 단계를 포함하고,상기 전기 컴포넌트들은 소형이며 연장되는, 이미지 획득 방법.
- 제 26 항에 있어서,상기 전기 컴포넌트들의 반대 측면들을 향해 광을 지향시키고, 상기 전기 컴포넌트들의 상기 반대 측면들로부터 반사되거나 산란된 광을 제 1 이미징 센서를 향해 지향시키도록 구성된 적어도 한 쌍의 경사진 거울을 조명하는 단계를 더 포함하는, 이미지 획득 방법.
- 제 26 항에 있어서,상기 제 1 이미징 영역에 위치한 전기 컴포넌트들이 상기 2 개의 경사진 거울들 사이에 위치하는 동안에, 상기 제 1 이미징 영역에 위치한 2 개의 경사진 거울들을 조명하는 단계를 더 포함하는, 이미지 획득 방법.
- 제 26 항에 있어서,45 도의 각도로 배향되는 2 개의 경사진 거울들을 조명하는 단계를 더 포함하는, 이미지 획득 방법.
- 제 26 항에 있어서,상기 획득하는 단계는 상부 수집 경로의 광학 길이와 측면 수집 경로들의 광학 길이들을 사실상 같게 하도록 구성된 경로 길이 조정 광학계를 통과하는 광을 센싱하는 단계를 포함하는, 이미지 획득 방법.
- 제 30 항에 있어서,상기 획득하는 단계는 상기 상부 수집 경로의 상기 광학 길이를 연장하는 경로 길이 조정 광학계를 포함하는 경로 길이 조정 광학계를 통과하는 광을 센싱하는 단계를 포함하는, 이미지 획득 방법.
- 제 30 항에 있어서,상기 획득하는 단계는 상기 측면 수집 경로들의 상기 광학 길이들을 사실상 단축하는 경로 길이 조정 광학계를 포함하는 경로 길이 조정 광학계를 통과하는 광을 센싱하는 단계를 포함하는, 이미지 획득 방법.
- 제 30 항에 있어서,상기 획득하는 단계는 경사진 거울들과 접촉하도록 형성되는 경로 길이 조정 광학계를 통과하는 광을 센싱하는 단계를 포함하고,상기 이미지 획득 방법은, 상기 전기 컴포넌트들의 반대 측면들을 향해 광을 지향시키고, 상기 전기 컴포넌트들의 상기 반대 측면들로부터 반사되거나 산란된 광을 제 1 이미징 센서를 향해 지향시키도록 구성되는 상기 경사진 거울들을 조명하는 단계를 포함하는, 이미지 획득 방법.
- 제 30 항에 있어서,상기 이미지 획득 방법은 경로 길이 조정 광학계의 일부에 의해 산란된 광으로 전기 컴포넌트들을 조명하는 단계를 포함하는, 이미지 획득 방법.
- 제 30 항에 있어서,상기 획득하는 단계는, V 자 형상의 홈을 정의하는 하부를 포함하는 투명 엘리먼트들을 포함하는 경로 길이 조정 광학계를 통과하는 광을 센싱하는 단계를 포함하는, 이미지 획득 방법.
- 제 30 항에 있어서,상기 획득하는 단계는, 적어도 하나의 접이식 거울을 포함하는 경로 길이 조정 광학계를 통과하는 광을 센싱하는 단계를 포함하는, 이미지 획득 방법.
- 제 26 항에 있어서,상기 전기 컴포넌트들을 다수의 각도들에서 조명하는 단계를 더 포함하는, 이미지 획득 방법.
- 제 26 항에 있어서,상기 전기 컴포넌트들의 이송 경로를 따라 가스 압력 차분들을 도입하는 단계를 더 포함하는, 이미지 획득 방법.
- 제 26 항에 있어서,상기 가로 방향으로 이송하는 단계는 규칙적으로 이격된 파티션들을 갖는 적어도 하나의 이송 엘리먼트들 상에 전기 컴포넌트들을 배치하는 단계를 포함하고, 각 파티션은 하나의 전기 컴포넌트를 수신하도록 구성되는, 이미지 획득 방법.
- 제 26 항에 있어서,상기 가로 방향으로 이송하는 단계는 규칙적으로 이격된 파티션들을 갖는 적어도 하나의 지지 컨베이어 벨트 상에 전기 컴포넌트들을 배치하는 단계를 포함하 고, 각 파티션은 하나의 전기 컴포넌트를 수신하도록 구성되는, 이미지 획득 방법.
- 제 26 항에 있어서,상기 가로 방향으로 이송하는 단계는 상기 제 1 이미징 영역을 향해 가로 방향으로 배열된 전기 컴포넌트들의 2 차원 어레이를 전달하는 단계를 포함하는, 이미지 획득 방법.
- 제 26 항에 있어서,상기 가로 방향 이송기의 점검된 전기 컴포넌트들이 없어지면서 새로운 전기 컴포넌트들을 상기 가로 방향 이송기에 공급하는 단계를 더 포함하는, 이미지 획득 방법.
- 제 26 항에 있어서,상기 전기 컴포넌트들을 전기적으로 테스트하는 단계를 더 포함하는, 이미지 획득 방법.
- 제 26 항에 있어서,상기 제 1 이미징 영역에 위치한 전기 컴포넌트들의 상부 이미지와 2 개의 측면 이미지들을 획득하는 단계는 상기 획득하는 단계 동안 이미징되는 상기 전기 컴포넌트들을 사실상 정지 상태로 유지하는 단계를 포함하는, 이미지 획득 방법.
- 제 26 항에 있어서,상기 전기 컴포넌트들을 다수의 조명 방식으로 조명하는 단계를 더 포함하는, 이미지 획득 방법.
- 제 26 항에 있어서,상기 가로 방향으로 이송하는 단계는 다수의 가로 방향 이송기 섹션에 의해 다수의 전기 컴포넌트들을 가로 방향으로 이송하는 단계는 포함하고, 각 가로 방향 이송기 섹션은 상기 제 1 이미징 영역을 향해 전기 컴포넌트들의 시퀀스를 가로 방향으로 이송하도록 구성되는, 이미지 획득 방법.
- 제 46 항에 있어서,각각의 가로 방향 이송 섹션마다 한 쌍의 경사진 거울들을 조명하는 단계를 더 포함하고, 상기 한 쌍의 경사진 거울들은 상기 전기 컴포넌트들의 반대측들을 향해 광을 지향시키고 상기 전기 컴포넌트들의 상기 반대측들로부터 반사되거나 산란된 광을 제 1 이미징 센서를 향해 지향시키도록 구성되는, 이미지 획득 방법.
- 제 46 항에 있어서,상기 조명하는 단계는 45 도의 각도로 배향되는 다수의 경사진 거울들을 조명하는 단계를 포함하는, 이미지 획득 방법.
- 제 46 항에 있어서,상기 획득하는 단계는 상부 수집 경로의 광학 길이와 측면 수집 경로들의 광학 길이들을 사실상 같게 하도록 구성된 경로 길이 조정 광학계를 통과하는 광을 센싱하는 단계를 포함하는, 이미지 획득 방법.
- 제 26 항에 있어서,다른 전기 컴포넌트들의 획득 이미지들이 획득되는 동안에, 새로운 전기 컴포넌트들을 수신하는 단계를 더 포함하는, 이미지 획득 방법.
- 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템으로서,제 1 이미징 영역에 위치한 대상물들의 상부 이미지와 2 개의 측면 이미지들을 획득하도록 구성된 제 1 이미저;상기 제 1 이미징 영역을 향해 대상물들을 가로 방향으로 이송하도록 구성된 가로 방향 이송기; 및제 2 이미징 영역을 향해 대상물들을 세로 방향으로 이송하도록 구성된 세로 방향 이송기 (longitudinal transferor) 를 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 51 항에 있어서,상기 제 1 이미저에 의해 이미징되지 않은 상기 대상물들의 적어도 하나의 다른 부분의 이미지를 획득하도록 구성된 제 2 이미저를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 51 항에 있어서,상기 제 2 이미징 영역에 위치한 대상물들의 하부 이미지와 2 개의 다른 측면 이미지들을 획득하도록 구성된 제 2 이미저를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 51 항에 있어서,상기 제 2 이미저는 상기 대상물들의 다른 반대 측면들을 향해 광을 지향시키고, 상기 대상물들의 상기 다른 반대 측면들로부터 반사되거나 산란된 광을 제 2 이미징 센서를 향해 지향시키도록 구성된 적어도 한 쌍의 경사진 거울을 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 51 항에 있어서,상기 제 2 이미저는 상기 제 2 이미징 영역에 위치한 2 개의 경사진 거울들을 포함하고,상기 대상물들은 상기 제 2 이미징 영역에 위치하는 경우 상기 2 개의 경사진 거울들 사이에 위치하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 55 항에 있어서,상기 2 개의 경사진 거울들은 45 도의 각도로 배향되는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 51 항에 있어서,상기 제 2 이미저는 하부면 수집 경로의 광학 길이와 다른 측면 수집 경로들의 길이들을 사실상 같게 하도록 구성된 경로 길이 조정 광학계를 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 57 항에 있어서,상기 경로 길이 조정 광학계는 경사진 거울들과 접촉하도록 형성되고,상기 경사진 거울들은 상기 대상물들의 다른 반대 측면들을 향해 광을 지향시키고, 상기 대상물들의 상기 다른 반대 측면들로부터 반사되거나 산란된 광을 제 1 이미징 센서를 향해 지향시키도록 구성되는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 57 항에 있어서,상기 경로 길이 조정 광학계의 적어도 하나의 부분은 상기 부분을 향해 지향된 광을 산란시키도록 형성되는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 57 항에 있어서,상기 경로 길이 조정 광학계는 V 자 형상의 홈을 정의하는 하부를 포함하는 투명 엘리먼트들을 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 57 항에 있어서,상기 경로 길이 조정 광학계는 적어도 하나의 접이식 거울을 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 57 항에 있어서,상기 대상물들을 다수의 각도들에서 조명하도록 구성된 조명 유닛을 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 57 항에 있어서,상기 세로 방향 이송기는 상기 전기 컴포넌트들의 이송 경로를 따라 가스 압력 차분들을 도입하는 적어도 하나의 가스 입구 및 적어도 하나의 가스 출구를 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 51 항에 있어서,전달 (conveyance) 및 점검 세션 동안 상기 대상물들과 접촉하도록 구성된 전기 접속 포인트들을 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 51 항에 있어서,상기 세로 방향 이송기는 상기 대상물들을 상기 제 2 이미징 영역으로 이송하고, 이미지 획득 세션 동안 사실상 정지 상태를 유지하고, 제 1 이미지 획득 세션이 종료된 이후에 상기 제 2 이미징 영역 밖으로 점검된 대상물들을 이송하도록 구성되는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 51 항에 있어서,상기 대상물들을 다수의 조명 방식으로 조명하도록 구성된 조명 유닛을 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 51 항에 있어서,상기 세로 방향 이송기는 다수의 세로 방향 이송기 섹션들을 포함하고, 각 세로 방향 이송기 섹션은 상기 제 2 이미징 영역을 향해 대상물들의 시퀀스를 세로 방향으로 이송하도록 구성되는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 67 항에 있어서,상기 제 2 이미저는 세로 방향 이송기 섹션마다 한 쌍의 경사진 거울들을 포함하고, 한 쌍의 경사진 거울들 각각은 상기 세로 방향 이송기 섹션에 의해 이송되 는 대상물들의 다른 반대 측면들을 향해 광을 지향시키고, 상기 대상물들의 상기 다른 반대 측면들로부터 반사되거나 산란된 광을 제 2 이미징 센서를 향해 지향시키도록 구성되는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 67 항에 있어서,상기 2 개의 경사진 거울들은 45 도의 각도로 배향되는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 67 항에 있어서,상기 제 2 이미저는 하부 수집 경로의 길이와 다른 측면 수집 경로들의 길이를 사실상 같게 하도록 구성된 경로 길이 조정 광학계를 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 51 항에 있어서,상기 가로 방향 이송기로부터 대상물들을 수신하고 상기 수신된 대상물들을 상기 세로 방향 이송기에 제공하도록 구성된 인터페이스를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 71 항에 있어서,상기 인터페이스는 가로 방향 이송기 섹션마다 도관 (conduit) 을 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 51 항에 있어서,대상물 컨테이너 내에 위치한 대상물들을 진동시키는 진동 엘리먼트를 포함하는 상기 대상물 컨테이너를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 51 항에 있어서,대상물 컨테이너 내에 위치한 대상물들을 진동시키는 진동 엘리먼트를 포함하는 상기 대상물 컨테이너를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 51 항에 있어서,상기 대상물들의 이미지들을 프로세싱하도록 구성된 프로세서를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 51 항에 있어서,상기 대상물들의 기능성 (functionality) 을 결정하도록 구성된 프로세서를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 76 항에 있어서,상기 대상물들의 기능성에 따라 상기 대상물들을 분류하도록 구성된 분류 유닛을 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 77 항에 있어서,상기 분류 유닛은 상기 대상물의 기능성에 응답하여 다수의 출력 도관들 중에서 일 출력 도관으로 전기 회로를 지향시키도록 구성된 가스 구동 선택 엘리먼트 및 다수의 출력 도관들을 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 51 항에 있어서,제 1 이미징 영역에 위치한 대상물들의 하부 이미지를 획득하도록 구성된 제 2 이미저를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 51 항에 있어서,제 2 이미징 영역에 위치한 대상물들의 하부 이미지를 획득하도록 구성된 제 2 이미저를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 51 항에 있어서,상기 가로 방향 이송기는 상기 제 1 이미징 영역을 향해 전파하는 대상물을 지지하도록 구성된 적어도 하나의 이송 엘리먼트를 포함하고,상기 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템은, 상기 적어도 하나의 이송 엘리먼트에 의해 지지된 상기 대상물들이 이미징된 이후에 상기 적어도 하나의 이송 엘리먼트들을 초기 위치로 리턴하도록 구성된 이송 엘리먼트 리턴 유닛을 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 81 항에 있어서,상기 이송 엘리먼트 리턴 유닛은 상기 가로 방향 이송기 아래에 위치하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 51 항에 있어서,상기 가로 방향 이송기는 상기 제 1 이미징 영역을 향해 전파되는 대상물들을 지지하도록 구성된 적어도 하나의 이송 엘리먼트들을 포함하고,상기 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템은, 상기 적어도 하나의 이송 엘리먼트들에 의해 지지된 상기 대상물들이 이미징된 이후에 적어도 하나의 이송 엘리먼트를 초기 위치로 리턴하도록 구성된 이송 엘리먼트 리턴 유닛을 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 제 83 항에 있어서,상기 이송 엘리먼트 리턴 유닛은 상기 가로 방향 이송기 아래에 위치하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 시스템.
- 6 면체 대상물들을 이미징하는 시스템으로서,제 1 이미징 영역과 제 2 이미징 영역 사이에 위치한 미리 결정된 포인트에서 각 대상물을 플립하고 회전시키도록 구성된 플립-회전 유닛;대상물들이 전파될 수 있는 적어도 하나의 트랙;상기 제 1 이미징 영역 위에 위치하며, 상기 대상물이 상기 제 1 이미징 영역을 통해 전달되는 동안에 상기 대상물의 상부면과 2 개의 측면들을 이미징하도록 구성되는 제 1 이미저; 및상기 제 2 이미징 영역 위에 위치하며, 상기 대상물이 상기 제 2 이미징 영역을 통해 전달되는 동안에 상기 제 1 이미저에 의해 이미징되지 않은 상기 대상물의 다른 면들을 이미징하도록 구성되는 제 2 이미저를 포함하고,상기 대상물의 측면들은 상기 제 1 이미징 영역 및 상기 제 2 이미징 영역에 위치한 경사진 거울들을 조명함으로써 이미징되는, 6 면체 대상물들을 이미징하는 시스템.
- 제 85 항에 있어서,수직 및 측면 광학 경로들의 광학 길이를 같게 하는 포커스 조정 수단을 더 포함하는, 6 면체 대상물들 이미징하는 시스템.
- 제 86 항에 있어서,상기 포커스 조정 수단은 경로 접이식 거울들을 포함하는, 6 면체 대상물들 이미징하는 시스템.
- 제 86 항에 있어서,상기 포커스 조정 수단은 2 개의 유리 프리즘들을 포함하는, 6 면체 대상물들 이미징하는 시스템.
- 제 86 항에 있어서,상기 포커스 조정 수단은 2 개의 포-프리즘 (pore-prism) 들을 포함하는, 6 면체 대상물들 이미징하는 시스템.
- 제 85 항에 있어서,상기 제 1 이미저 및 상기 제 2 이미저는 상기 대상물의 상부면을 이미징하도록 구성된 제 1 부분 및 상기 대상물의 측면들을 이미징하도록 구성된 제 2 부분을 포함하는, 6 면체 대상물들 이미징하는 시스템.
- 제 85 항에 있어서,상기 제 1 이미저는 상기 대상물의 상부면과 2 개의 측면들을 사실상 동시에 이미징하도록 구성되는, 6 면체 대상물들 이미징하는 시스템.
- 제 85 항에 있어서,상기 제 1 이미저는 라인 스캐너인, 6 면체 대상물들을 이미징하는 시스템.
- 제 85 항에 있어서,제 1 이미저는 비디오 카메라인, 6 면체 대상물들을 이미징하는 시스템.
- 제 85 항에 있어서,상기 대상물의 6 개의 면 이미지를 발생시키도록 구성된 프로세서를 더 포함하는, 6 면체 대상물들을 이미징하는 시스템.
- 제 85 항에 있어서,상기 적어도 하나의 트랙의 폭이 일정한, 6 면체 대상물들을 이미징하는 시스템.
- 제 85 항에 있어서,상기 경사진 거울들은 45 도의 각도로 배향되는, 6 면체 대상물들을 이미징하는 시스템.
- 제 85 항에 있어서,상기 대상물의 이송 경로를 따라 가스 압력 차분들을 도입하는 적어도 하나 의 가스 입구 및 적어도 하나의 가스 출구를 더 포함하는, 6 면체 대상물들을 이미징하는 시스템.
- 제 85 항에 있어서,상기 제 1 이미징 영역을 향해 다수의 대상물들을 전달하도록 구성된 다수의 트랙들을 포함하고,상기 제 1 이미저는 다수의 대상물들의 이미지들을 동시에 획득하도록 구성되는, 6 면체 대상물들을 이미징하는 시스템.
- 제 85 항에 있어서,상기 전기 컴포넌트들과 접촉하도록 구성된 전기 접속 포인트들을 더 포함하는, 6 면체 대상물들을 이미징하는 시스템.
- 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법으로서,제 1 이미징 영역을 향해 대상물들을 가로 방향으로 이송하는 단계;상기 제 1 이미징 영역에 위치한 대상물들의 상부 이미지와 2 개의 측면 이미지들을 획득하는 단계; 및세로 방향 컴포넌트 이송기에 의해 제 2 이미징 영역을 향해 대상물들을 세로 방향으로 이송하는 단계를 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 100 항에 있어서,상기 제 2 이미징 영역에 위치한 상기 대상물들의 하부 이미지와 2 개의 다른 측면 이미지들을 획득하는 단계를 더 포함하고,상기 대상물들이 상기 제 1 이미징 영역에 위치한 경우 상기 하부 이미지와 2 개의 다른 측면 이미지들이 획득되지 않은, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 100 항에 있어서,상기 대상물들의 다른 반대 측면들을 향해 광을 지향시키고, 상기 대상물들의 상기 다른 반대 측면들로부터 반사되거나 산란된 광을 제 2 이미징 센서를 향해 지향시키도록 구성된 적어도 한 쌍의 경사진 거울들을 조명하는 단계를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 100 항에 있어서,상기 제 2 이미징 영역에 위치한 2 개의 경사진 거울들을 조명하는 단계를 더 포함하고,상기 대상물들은 상기 제 2 이미징 영역에 위치한 경우 상기 2 개의 경사진 거울들 사이에 위치하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 100 항에 있어서,45 도의 각도로 배향된 2 개의 경사진 거울들을 조명하는 단계를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 100 항에 있어서,상기 획득하는 단계는 하부면 수집 경로의 광학 길이와 다른 측면 수집 경로들의 길이들을 사실상 같게 하도록 구성된 경로 길이 조정 광학계를 통과하는 광을 센싱하는 단계를 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 105 항에 있어서,상기 획득하는 단계는 경사진 거울들과 접촉하도록 형성된 경로 길이 조정 광학계를 통과하는 광을 센싱하는 단계를 포함하고,상기 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법은 상기 경사진 거울들을 조명하는 단계를 포함하고, 상기 경사진 거울들은 상기 대상물들의 다른 반대 측면들을 향해 광을 지향시키고, 상기 대상물들의 상기 다른 반대 측면들로부터 반사되거나 산란된 광을 제 1 이미징 센서를 향해 지향시키도록 구성되는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 105 항에 있어서,상기 획득하는 단계는 상기 제 1 이미징 센서를 향해 지향된 광을 산란시키 는 경로 길이 조정 광학계를 통과하는 광을 센싱하는 단계를 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 105 항에 있어서,상기 획득하는 단계는 V 자 형상의 홈을 정의하는 하부를 포함하는 투명 엘리먼트들을 통과하는 광을 센싱하는 단계를 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 105 항에 있어서,상기 획득하는 단계는 적어도 하나의 접이식 거울을 통과하는 광을 센싱하는 단계를 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 105 항에 있어서,상기 대상물들을 다수의 각도들에서 조명하는 단계를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 105 항에 있어서,상기 대상물들의 이송 경로를 따라 가스 압력 차분들을 도입하는 단계를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 100 항에 있어서,상기 대상물들을 전기적으로 테스트하는 단계를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 100 항에 있어서,상기 하부 이미지와 2 개의 다른 측면 이미지들을 획득하면서 상기 대상물들을 사실상 정지 상태로 유지하는 단계를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 100 항에 있어서,상기 대상물들을 다수의 조명 방식들로 조명하는 단계를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 100 항에 있어서,상기 가로 방향으로 이송하는 단계는 상기 제 1 이미징 영역을 향해 가로 방향으로 배열된 대상물들의 2 차원 어레이를 전달하는 단계를 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 100 항에 있어서,상기 세로 방향으로 이송하는 단계는 다수의 가로 방향 이송기 섹션들에 의 해 대상물들을 세로 방향으로 이송하는 단계를 포함하고, 각 가로 방향 이송기 섹션은 상기 제 2 이미징 영역을 향해 대상물들의 시퀀스를 세로 방향으로 이송하도록 구성되는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 116 항에 있어서,각각의 세로 방향 이송기 섹션마다 한 쌍의 경사진 거울들을 조명하는 단계를 더 포함하고,상기 한 쌍의 경사진 거울들은 상기 대상물들의 반대 측면들을 향해 광을 지향시키고, 상기 대상물들의 상기 반대 측면들로부터 반사되거나 산란된 광을 제 2 이미징 센서를 향해 지향시키도록 구성되는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 116 항에 있어서,상기 조명하는 단계는 45 도의 각도로 배향되는 다수의 경사진 거울들을 조명하는 단계를 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 116 항에 있어서,상기 획득하는 단계는 하부 수집 경로의 광학 길이와 다른 측면 수집 경로들의 광학 길이들을 사실상 같게 하도록 구성된 경로 길이 조정 광학계를 통과하는 광을 센싱하는 단계를 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 100 항에 있어서,가로 방향 이송기로부터 대상물들을 수신하는 단계 및 상기 수신된 대상물들을 상기 세로 방향 컴포넌트 이송기에 제공하는 단계를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 100 항에 있어서,상기 수신하는 단계는 가로 방향 이송기 섹션마다 도관을 포함하는 인터페이스에 의해 상기 대상물들을 수신하는 단계를 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 100 항에 있어서,대상물들 컨테이너 내에서 대상물들을 진동시키는 단계를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 100 항에 있어서,대상물들의 이미지들을 프로세싱하는 단계를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 100 항에 있어서,상기 대상물들의 기능성을 결정하는 단계를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 124 항에 있어서,상기 대상물들의 기능성에 따라 상기 대상물들을 분류하는 단계를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 124 항에 있어서,상기 분류하는 단계는 상기 대상물들의 기능성에 응답하여 다수의 출력 도관들 중에서 일 출력 도관으로 전기 회로를 지향시키는 가스 구동 선택 유닛을 조명하는 단계를 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 100 항에 있어서,상기 제 1 이미징 영역에 위치한 대상물들의 하부 이미지를 획득하는 단계를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 100 항에 있어서,상기 제 2 이미징 영역에 위치한 대상물들의 하부 이미지를 획득하는 단계를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 제 100 항에 있어서,상기 대상물들의 상부 이미지와 2 개의 측면 이미지들을 획득하는 단계 이후에 적어도 하나의 이송 엘리먼트들을 초기 위치로 리턴하는 단계를 더 포함하는, 대상물들의 다수의 이미지를 획득하는 방법.
- 6 면체 대상물들을 이미징하는 방법으로서,상기 대상물이 제 1 이미징 영역을 통해 전달되는 동안에, 상기 대상물의 상부면과 2 개의 측면들을 상기 제 1 이미징 영역 위에 위치한 제 1 이미저에 의해 이미징하는 단계;상기 제 1 이미징 영역과 상기 제 2 이미징 영역 사이에 위치한 미리 결정된 포인트에서 각 대상물을 플립 및 회전시키는 단계; 및상기 대상물이 상기 제 2 이미징 영역을 통해 전달되는 동안에, 상기 제 1 이미저에 의해 이미징되지 않은 상기 대상물의 다른 면들을 상기 제 2 이미징 영역 위에 위치한 제 2 이미저에 의해 이미징하는 단계를 포함하고,상기 제 1 이미저에 의해 이미징하는 단계는 상기 제 1 이미징 영역 및 제 2 이미징 영역에 위치한 경사진 거울들을 조명하는 단계를 포함하는, 6 면체 대상물들을 이미징하는 방법.
- 제 130 항에 있어서,상기 제 1 이미저에 의해 이미징하는 단계는 수직 및 측면 광학 경로들의 광 학 길이를 같게 하는 포커스 조정 수단을 통과하는 광을 센싱하는 단계를 포함하는, 6 면체 대상물들을 이미징하는 방법.
- 제 130 항에 있어서,상기 제 1 이미저에 의해 이미징하는 단계는 경로 접이식 거울들을 포함하는 포커스 조정 수단을 통과하는 광을 센싱하는 단계를 포함하는, 6 면체 대상물들을 이미징하는 방법.
- 제 130 항에 있어서,상기 제 1 이미저에 의해 이미징하는 단계는 2 개의 유리 프리즘들을 포함하는 포커스 조정 수단을 통과하는 광을 센싱하는 단계를 포함하는, 6 면체 대상물들을 이미징하는 방법.
- 제 130 항에 있어서,상기 제 1 이미저에 의해 이미징하는 단계는 2 개의 포-프리즘 (pore-prism) 들을 포함하는 포커스 조정 수단을 통과하는 광을 센싱하는 단계를 포함하는, 6 면체 대상물들을 이미징하는 방법.
- 제 130 항에 있어서,상기 제 1 이미저에 의해 이미징하는 단계는, 상기 제 1 이미저의 제 1 부분 에 의해 상기 대상물들의 상부면을 이미징하고 상기 제 1 이미저의 제 2 부분에 의해 상기 대상물들의 측면들을 이미징하는 것을 포함하는 포커스 조정 수단을 통과하는 광을 센싱하는 단계를 포함하는, 6 면체 대상물들을 이미징하는 방법.
- 제 130 항에 있어서,상기 제 1 이미저에 의해 이미징하는 단계는 상기 대상물의 상부면과 2 개의 측면들을 사실상 동시에 이미징하는 단계를 포함하는, 6 면체 대상물들을 이미징하는 방법.
- 제 130 항에 있어서,상기 제 1 이미저에 의해 이미징하는 단계는 라인 이미징을 수행하는 단계를 포함하는, 6 면체 대상물들을 이미징하는 방법.
- 제 130 항에 있어서,상기 대상물들의 6 개 면의 이미지를 발생시키는 단계를 더 포함하는, 6 면체 대상물들을 이미징하는 방법.
- 제 130 항에 있어서,상기 대상물을 상기 제 1 이미징 영역으로 전달하는데 이용된 적어도 하나의 트랙의 폭을 조정하는 단계를 더 포함하는, 6 면체 대상물들을 이미징하는 방법.
- 제 1 항에 있어서,컴포넌트 아웃렛을 통해 가스 펄스들을 주입하면서, 다수의 가스 인렛 및 상기 컴포넌트 아웃렛을 포함하는 전기 회로 컨테이너로부터 상기 가로 방향 이송기에 전기 컴포넌트들을 제공하는 단계를 더 포함하는, 6 면체 대상물을 이미징하는 방법.
- 제 140 항에 있어서,상기 컴포넌트 아웃렛에 일 엔드 (end) 가 접속된 컴포넌트 도관의 제 2 엔드를 통해 상기 가스 펄스들을 주입하는 단계를 더 포함하는, 6 면체 대상물들을 이미징하는 방법.
- 제 140 항에 있어서,상기 컴포넌트 아웃렛에 일 엔드가 접속된 컴포넌트 도관의 다수의 추가 엔드들을 통해 상기 전기 컴포넌트들을 제공하는 단계를 더 포함하는, 6 면체 대상물들을 이미징하는 방법.
- 제 1 항에 있어서,다수의 가스 인렛들 및 컴포넌트 아웃렛을 포함하는 전기 컴포넌트 컨테이너를 더 포함하고, 상기 컴포넌트 아웃렛을 통해 가스 펄스들이 주입되는, 이미지 획 득 시스템.
- 제 143 항에 있어서,상기 컴포넌트 아웃렛에 일 엔드가 접속되며 진공 펄스들을 선택적으로 수신하는 제 2 엔드를 갖는 컴포넌트 도관을 더 포함하는, 이미지 획득 시스템.
- 제 143 항에 있어서,상기 컴포넌트 아웃렛에 일 엔드가 접속되며 다수의 추가 엔드들을 갖는 컴포넌트 도관을 더 포함하고,추가 엔드들 각각은 가로 방향 이송기 섹션에 가까이 위치하는, 이미지 획득 시스템.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
IL175455 | 2006-05-07 | ||
IL175455A IL175455A0 (en) | 2006-05-07 | 2006-05-07 | A system and a method for imaging, automatic and at once, objects' six-faces |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090008463A true KR20090008463A (ko) | 2009-01-21 |
KR100990728B1 KR100990728B1 (ko) | 2010-10-29 |
Family
ID=38668172
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020087029800A Expired - Fee Related KR100990728B1 (ko) | 2006-05-07 | 2007-05-07 | 대상물을 이미징하는 시스템 및 방법 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100990728B1 (ko) |
CN (1) | CN101529444B (ko) |
IL (1) | IL175455A0 (ko) |
TW (1) | TWI454690B (ko) |
WO (1) | WO2007129322A2 (ko) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9645097B2 (en) | 2014-06-20 | 2017-05-09 | Kla-Tencor Corporation | In-line wafer edge inspection, wafer pre-alignment, and wafer cleaning |
US9885671B2 (en) | 2014-06-09 | 2018-02-06 | Kla-Tencor Corporation | Miniaturized imaging apparatus for wafer edge |
KR20190009625A (ko) | 2017-07-19 | 2019-01-29 | 최기원 | 안경 걸이구 |
GB2606492A (en) * | 2020-02-07 | 2022-11-09 | Gripping Innovations Ltd | A device for holding spectacles |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009216698A (ja) * | 2008-02-07 | 2009-09-24 | Camtek Ltd | 対象物の複数の側面を画像化するための装置および方法 |
TWI440846B (zh) * | 2008-11-19 | 2014-06-11 | Ust Technology Pte Ltd | 物件之檢視裝置及方法 |
WO2010061388A1 (en) * | 2008-11-27 | 2010-06-03 | Camtek Ltd. | Method and system for imaging multiple sides of objects |
US9004284B2 (en) * | 2009-10-01 | 2015-04-14 | Vitrinite Services, Llc | Mineral slurry drying method and system |
JP2012040466A (ja) * | 2010-08-13 | 2012-03-01 | Camtek Ltd | 物体の複数の側面を撮像するシステムおよび方法 |
US20140017017A1 (en) * | 2011-01-10 | 2014-01-16 | Shy Cohen | Syetems and methods for electrically testing objects |
CN105157601A (zh) * | 2015-06-10 | 2015-12-16 | 北京领邦仪器技术有限公司 | 单相机三维影像测量仪 |
JP7155004B2 (ja) * | 2015-12-21 | 2022-10-18 | フィリップ・モーリス・プロダクツ・ソシエテ・アノニム | 細長い物体の寸法に関連するデータを取得するための装置および方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4414749A (en) * | 1979-07-02 | 1983-11-15 | Optimetrix Corporation | Alignment and exposure system with an indicium of an axis of motion of the system |
JPH0587744A (ja) * | 1991-03-01 | 1993-04-06 | Fujisawa Pharmaceut Co Ltd | 物品の表面検査方法およびそれに使用する装置 |
KR0162331B1 (ko) * | 1995-02-09 | 1998-12-15 | 구자홍 | 광 픽업장치 |
JP3647146B2 (ja) * | 1996-06-20 | 2005-05-11 | 松下電器産業株式会社 | 電子部品実装装置および電子部品実装方法 |
JPH10170446A (ja) * | 1996-12-13 | 1998-06-26 | Nippon Eranko Kk | 錠剤の姿勢変換機構及び錠剤の外観検査装置 |
GB0016976D0 (en) * | 2000-07-12 | 2000-08-30 | Renishaw Plc | Aligning optical components |
JP2002202220A (ja) * | 2000-12-27 | 2002-07-19 | Nikon Corp | 位置検出方法、位置検出装置、光学特性測定方法、光学特性測定装置、露光装置、及びデバイス製造方法 |
US7123765B2 (en) * | 2002-07-31 | 2006-10-17 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Apparatus and method for inspecting articles |
-
2006
- 2006-05-07 IL IL175455A patent/IL175455A0/en unknown
-
2007
- 2007-05-07 TW TW096116201A patent/TWI454690B/zh not_active IP Right Cessation
- 2007-05-07 KR KR1020087029800A patent/KR100990728B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2007-05-07 CN CN200780023926.0A patent/CN101529444B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2007-05-07 WO PCT/IL2007/000554 patent/WO2007129322A2/en active Application Filing
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9885671B2 (en) | 2014-06-09 | 2018-02-06 | Kla-Tencor Corporation | Miniaturized imaging apparatus for wafer edge |
US9645097B2 (en) | 2014-06-20 | 2017-05-09 | Kla-Tencor Corporation | In-line wafer edge inspection, wafer pre-alignment, and wafer cleaning |
KR20190009625A (ko) | 2017-07-19 | 2019-01-29 | 최기원 | 안경 걸이구 |
GB2606492A (en) * | 2020-02-07 | 2022-11-09 | Gripping Innovations Ltd | A device for holding spectacles |
GB2606492B (en) * | 2020-02-07 | 2024-05-15 | Kathleen Blaylock | A device for holding spectacles |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW200804799A (en) | 2008-01-16 |
WO2007129322A2 (en) | 2007-11-15 |
IL175455A0 (en) | 2007-08-19 |
CN101529444B (zh) | 2014-03-12 |
KR100990728B1 (ko) | 2010-10-29 |
CN101529444A (zh) | 2009-09-09 |
WO2007129322A3 (en) | 2009-04-30 |
TWI454690B (zh) | 2014-10-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100990728B1 (ko) | 대상물을 이미징하는 시스템 및 방법 | |
US7599075B2 (en) | Automatic optical inspection using multiple objectives | |
KR920002175B1 (ko) | 물품의 외관검사 방법과 장치 | |
US6522777B1 (en) | Combined 3D- and 2D-scanning machine-vision system and method | |
US8670031B2 (en) | High speed optical inspection system with camera array and compact, integrated illuminator | |
ES2622853T3 (es) | Aparato para transferir un objeto que debe ser inspeccionado y aparato de inspección del aspecto | |
CN112469992A (zh) | 利用图像传感器的表面缺陷检查装置及检查方法 | |
JP2009216698A (ja) | 対象物の複数の側面を画像化するための装置および方法 | |
JP2007114180A (ja) | 外観検査方法とその装置 | |
JP4669819B2 (ja) | 整列検査システム及び検査用照明装置 | |
KR20150054663A (ko) | 외관 검사 장치 | |
JP6491000B2 (ja) | ねじ検査装置 | |
US5648853A (en) | System for inspecting pin grid arrays | |
JP7032633B2 (ja) | 物品検査装置 | |
JPH10104165A (ja) | 撮像式の評価装置 | |
JP2001264256A (ja) | 粉粒体検査装置 | |
JP2003097931A (ja) | 光学検査方法及びその装置 | |
JP2009115489A (ja) | 外観検査装置 | |
KR20120015976A (ko) | 검사 대상체의 다수의 측방들을 이미지 촬영하기 위한 시스템 및 방법 | |
US20140010602A1 (en) | Method for imaging multiple sides of objects | |
JP2001099782A (ja) | 果実等の撮像装置 | |
JP5954757B2 (ja) | 外観検査装置 | |
JP2010014735A (ja) | 外観検査装置 | |
JP2012197182A (ja) | 対象物を検査・選別するための装置および方法 | |
WO2011056976A1 (en) | High speed optical inspection system with adaptive focusing |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0105 | International application |
Patent event date: 20081205 Patent event code: PA01051R01D Comment text: International Patent Application |
|
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20081205 Comment text: Request for Examination of Application |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20100331 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20100927 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20101022 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20101022 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131017 Year of fee payment: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20131017 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141016 Year of fee payment: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20141016 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151021 Year of fee payment: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20151021 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |
Termination category: Default of registration fee Termination date: 20170801 |