KR20070105263A

KR20070105263A - 디스크 드라이브 및 디스크 드라이브의 제어 방법

Info

Publication number: KR20070105263A
Application number: KR1020070039814A
Authority: KR
Inventors: 노리아키 사토; 도요미 오사와; 유미 나가노; 고지 미야케; 요시아키 유지; 마사유키 구리타
Original assignee: 히다치 글로벌 스토리지 테크놀로지스 네덜란드 비.브이.
Priority date: 2006-04-25
Filing date: 2007-04-24
Publication date: 2007-10-30
Also published as: US7864474B2; US20080247079A1; EP1850333A2; JP2007294007A; EP1850333A3; CN101064171A

Abstract

본 발명의 목적은 헤드와 디스크 사이의 간극(clearance)을 조정하여 히터의 경년 열화(aged deterioration)에 기인하는 에러의 수를 줄이는 것이다.

본 발명의 일 양태에 따르면, TFC 제어기(231)는 미리 결정된 타이밍 내에서 히터(124)의 저항값의 측정을 실행한다. TFC 제어기(231)는 측정된 저항값이 미리 결정된 기준 범위 이내에 들어오는지의 여부를 판단한다. 측정된 저항값이 기준 범위 이내에 들어오는 경우, 임의의 다른 처리를 수행함 없이 처리는 종료된다. 측정된 저항값이 기준 범위를 벗어나는 경우, TFC 제어기(231)는 저항 파손에 응답하여 에러 핸들링 처리를 실행한다. 에러 핸들링 처리 중 하나로서, TFC 제어기(231)는 호스트(51)에게 TFC 히터(124)의 저항값에서 이상현상(저항 파손)이 검출되었음을 통지한다(경보).

Description

디스크 드라이브 및 디스크 드라이브의 제어 방법{DISK DRIVE AND CONTROL METHOD THEREOF}

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 HDD의 전체 구성을 개략적으로 예시하는 블록도이다.

도 2는 본 실시예에 따른 TFC에 사용되는 히터에 장착된 헤드 슬라이더의 구성을 개략적으로 예시하는 단면도이다.

도 3은 본 실시예에 따른 기능 소자들을 개략적으로 예시하는 블록도로서, 기능 소자들은 TFC 히터의 저항값의 측정에 관련되며, 저항값이 에러를 나타내는 경우, 그 에러에 응답하는 에러 핸들링 처리에 관련된다.

도 4는 본 실시예에 따른 TFC 히터의 측정된 저항값을 참조하여 저항 파손 판단이 행해지는 경우를 예시하는 흐름도이다.

도 5는 본 실시예에 따른 각각의 히터 전력 값에 대한 히터의 실제 측정된 저항값을 예시하는 그래프이다.

도 6은 본 실시예에 따른 에러율 또는 판독 진폭을 참조하여 저항 파손의 판단에 관련되는 기능 소자들을 개략적으로 예시하는 블록도이다.

도 7은 본 실시예에 따라서, 측정된 저항값뿐만 아니라 판독된 사용자 데이터의 에러율을 참조하여 저항 파손 판단이 행해지는 경우를 예시하는 흐름도이다.

도 8은 본 실시예에 따라서, 측정된 저항값뿐만 아니라 판독된 사용자 데이터의 판독 진폭을 참조하여 저항 파손 판단이 행해지는 경우를 예시하는 흐름도이다.

본 발명은 디스크 드라이브 및 디스크 드라이브의 제어 방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 헤드 소자와 디스크 사이의 간극(clearance)을 조정하는 히터가 장착된 디스크 드라이브의 히터 제어에 관한 것이다.

광 디스크, 광자기 디스크, 및 플렉시블 자기 디스크("플로피 디스크"라 칭한다)와 같은 다양한 유형의 매체를 이용하는 장치들이 종래의 디스크 드라이브로서 공지되어 있다. 이들 가운데서, 하드 디스크 드라이브(이하, "HDD"라 칭한다)는 오늘날의 컴퓨터 시스템에서 없어서는 안 되는 기억 장치들 중의 하나로 컴퓨터의 기억 장치로서 대중화되고 있다. 게다가, HDD는 전술한 바와 같이 컴퓨터에만 국한되지 않고, HDD의 우수한 특성으로 인해 보다 많은 응용 분야로 확장되고 있다. 예를 들어, HDD는 동영상 기록/재생 장치, 차량 항법 시스템(car navigation system), 휴대 전화, 및 디지털 카메라에 사용하는 탈착 가능한 메모리에 사용된다.

HDD에 사용되는 자기 디스크는 동심으로 형성된 복수의 데이터 트랙을 가지 고 있다. 어드레스 정보를 각각 가지고 있는 서보 데이터(servo data)의 복수의 단편들 및 사용자 데이터를 각각 포함하고 있는 복수의 데이터 섹터들은 각각의 데이터 트랙에 기록된다. 복수의 데이터 섹터들은 서보 데이터 영역들 사이에 기록된다. 서보 데이터의 어드레스 정보에 따라, 피봇 이동하는 액츄에이터(actuator)에 의해 지지되는 헤드 슬라이더의 헤드 소자를 사용하여 원하는 데이터 섹터에 액세스함으로써, 데이터 섹터에 데이터를 기록하거나 데이터 섹터로부터 데이터를 판독하는 것이 가능하다.

자기 디스크의 기록 밀도를 개선하기 위해서는, 자기 디스크와 이 자기 디스크 위를 부상하는(flying) 헤드 소자 사이의 간극(clearance)을 줄이는 것이 중요하다. 이러한 이유로, 간극을 조정하는 메커니즘들이 제안되고 있다. 제안된 메커니즘들의 일례로서, 헤드 슬라이더는 히터를 포함하고, 간극은 상기 히터를 사용하여 헤드 소자를 가열함으로써 조정된다. 본 발명의 상세한 설명에서는, 이것을 TFC(Thermal Fly height Control)라 부른다. TFC에 따르면, 전류는 열을 발생시키도록 히터에 공급되고, 열은 헤드 소자의 돌출을 일으킨다. 이것에 의해 자기 디스크와 헤드 소자 사이의 간극을 줄이는 것이 가능하게 된다. TFC는 예를 들어, 특허 문서 1에 개시되어 있다. 특허 문서 1은 온도에 응답하여 변화하는 히터 소자의 저항값이 측정되고 그 값에 응답하여 히터 전력을 보상하도록 히터 소자의 출력을 조정하는 것을 개시하고 있다.

[특허 문서 1] US20050213143

TFC가 적용되면, 히터는 HDD를 사용하는 동안에 반복적으로 턴온/턴오프를 수 조(兆)번 수행한다. 이것 때문에, TFC의 장기적인 신뢰성은 중요한 문제가 되고 있다. 발명자들의 연구 결과로서, 히터가 TFC에 의해 반복적으로 턴온/턴오프를 행할 경우, 열 팽창 및 열간 수축은 히터 재료의 금속 피로(metal fatigue)를 일으켜서, 히터의 파손, 및 일렉트로마이그레이션(electromigration)에 의한 단락을 일으킬 수도 있음이 발견되었다. 게다가, 히터와 그 히터의 주위 부재 사이의 경계에서는, 이들 사이의 재료의 차이로 인해 균열(crack)이 발생할 수도 있다. 그러므로, 히터 소자의 노화를 정확하게 검출하거나 평가하고, 그 검출 또는 평가에 응답하여 처리를 수행하는 것이 필요하다.

본 발명의 일 양태에 따르면, 회전 디스크 위를 부상하는 슬라이더와; 상기 슬라이더에 위치한 헤드 소자와; 상기 슬라이더에 위치하고, 상기 헤드 소자를 돌출시켜 상기 헤드 소자와 디스크 사이의 간극을 조정하도록 열 팽창을 이용하는 히터와; 미리 결정된 타이밍 내에서 히터의 저항값을 측정하는 측정 회로와; 상기 측정된 저항값을 참조하여 히터의 저항 파손(resistance failure)이 발생하였는지의 여부를 판단하고, 히터의 저항 파손이 발생한 것으로 판단된 경우, 그 저항 파손에 응답하여 에러 핸들링 처리를 수행하는 제어기를 포함하는 디스크 드라이브가 제공된다. 히터의 저항값이 감시되고, 저항 파손이 발생한 것으로 판단된 경우, 그 저항 파손에 응답하여 에러 핸들링 처리가 수행된다. 이것에 의해 히터의 경년 열화(aged deterioration)에 기인하는 저항 에러의 수를 줄이는 것이 가능하게 된다. 바람직한 일례로서, 에러 핸들링 처리에서, 제어기는 호스트에 히터의 저항 파손을 통지한다. 이것에 의해, 호스트 쪽에서 히터의 노화에 응답하여 처리를 수행하는 것이 가능하게 된다.

에러 핸들링 처리에서, 제어기가 헤드 소자에 의해 기록된 사용자 데이터를 검사하는 것이 바람직하다. 히터의 노화로 간극이 커질 경우, 데이터 기록 에러의 수를 줄이는 것이 가능하다. 게다가, 온도 센서의 검출된 온도가 기준 온도보다 낮거나 같을 경우, 제어기는 헤드 소자에 의해 기록된 사용자 데이터를 검사한다. 이것으로 데이터 기록 에러의 수를 줄이는 것이 가능하면서 성능 열화도 억제된다. 게다가, 히터가 정전류 구동되는 경우, 히터의 저항값이 기준 범위 미만으로 감소하면 제어기는 헤드 소자에 의해 기록된 사용자 데이터를 검사한다. 또 다른 경우, 히터가 정전압 구동되는 경우, 히터의 저항값이 기준 범위를 초과하여 증가하면, 제어기는 헤드 소자에 의해 기록된 사용자 데이터를 검사한다.

바람직한 일례로서, 에러 핸들링 처리에서, 제어기는 히터의 저항값을 측정하는 횟수를 증가시킨다. 이것에 의해 히터의 노화를 보다 신뢰성 있게 검출하는 것이 가능하다. 에러 핸들링 처리에서, 제어기는 히터에서 출력되는 신호의 슬루 레이트(slew rate)를 감소시킨다. 이것에 의해 히터의 노화를 줄이는 것이 가능하다.

히터의 저항값이 미리 결정된 값의 10% 이상으로 변화되는 경우, 제어기는 히터의 저항 파손이 발행하였는지를 판단한다. 이것에 의해 에러가 발행되기 전에, 히터의 개방회로/단락회로에 기인하는 에러를 보다 신뢰성 있게 방지하는 것이 가능하다.

제어기가 히터의 저항 파손이 발생하였는지의 여부를 판단하는데 헤드 소자의 판독 진폭을 참조하는 것이 더욱 바람직하다. 이것에 의해 보다 정확하게 저항 파손을 판단하는 것이 가능하다. 게다가, 히터의 저항값이 기준 범위를 벗어나는 경우, 제어기는 에러 핸들링 처리를 수행한다. 또한, 히터의 저항값이 기준 범위 내에 있는 경우, 그리고 판독 진폭의 변화가 기준 값을 벗어나는 경우, 제어기는 또한 에러 핸들링 처리를 수행한다.

제어기가 히터의 저항 파손이 발생하였는지의 여부를 판단하는데 헤드 소자에 의해 판독되는 데이터의 에러율을 참조하는 것이 더욱 바람직하다. 이것에 의해 보다 정확하게 저항 파손을 판단하는 것이 가능하다. 히터의 저항값이 기준 범위를 벗어나는 경우, 제어기는 에러 핸들링 처리를 수행한다. 또한, 히터의 저항값이 기준 범위 내에 있는 경우, 그리고 에러율의 변화가 기준 값을 벗어나는 경우, 제어기는 또한 에러 핸들링 처리를 수행한다.

본 발명의 또 다른 양태에 따르면, 회전 디스크 위를 부상하는 슬라이더와; 상기 슬라이더에 위치한 헤드 소자와; 상기 슬라이더에 위치하고, 상기 헤드 소자를 돌출시켜 상기 헤드 소자와 디스크 사이의 간극을 조정하도록 열 팽창을 이용하는 히터를 포함하는 디스크 드라이브의 제어 방법이 제공된다. 디스크 드라이브 제어 방법은, 미리 결정된 타이밍 내에서 히터의 저항값을 측정하는 단계와; 상기 측정된 저항값을 참조하여 히터의 저항 파손이 발생하였는지의 여부를 판단하는 단계와; 히터의 저항 파손이 발생한 것으로 판단된 경우, 그 저항 파손에 응답하여 에러 핸들링 처리를 수행하는 단계를 포함한다.

히터의 저항값이 감시되고, 저항 파손이 발생한 것으로 판단된 경우, 그 저항 파손에 응답하여 에러 핸들링 처리가 수행된다. 이것에 의해 히터의 경년 열화에 기인한 저항 에러의 수를 줄이는 것이 가능하게 된다.

이하에, 본 발명의 실시예들을 설명할 것이다. 설명을 명확히 하기 위해서, 이하의 상세한 설명 및 도면에서 생략 및 단순화가 사용되고 있다. 또한, 동일한 도면 부호가 도면들에서 공통적인 동일한 소자들은 지시하는데 사용되고 있고, 설명의 간결함을 위해서 중복된 설명은 마땅히 생략된다는 것을 유념하여야 한다. 디스크 드라이브의 실례로서, 하드 디스크 드라이브가 있다. 이하에, 실례로서 하드 디스크 드라이브(HDD)를 택하여 본 발명의 실시예를 설명할 것이다.

본 실시예의 특징 중 하나는 디스크 드라이브의 TFC(Thermal Fly height Control)에서 수행되는, 히터의 저항 파손이 발생하였는지의 여부의 판단 및 저항 파손에 대응하는 에러 핸들링 처리이다. TFC는 슬라이더 상의 히터로부터의 열에 기인하고 있는 열 팽창으로 인한 헤드 소자와 기록 디스크 사이의 간극을 조정한다. 본 실시예에 따른 HDD는 히터의 저항값을 측정한다. 그리고 나서, 저항 파손이 발생한 것으로 판단되는 경우, HDD는 그 저항 파손을 위해 에러 핸들링 처리를 수행한다. 이것으로 히터의 노화를 줄이고, TFC가 완벽하게 수행되지 않은 경우에 에러의 수를 줄이는 것이 가능하다.

먼저, 본 실시예의 특징을 보다 쉽게 이해하기 위해서, HDD의 전체 구성을 개략적으로 설명할 것이다. 도 1은 본 실시예에 따른 HDD(1)의 전체 구성을 개략적으로 예시하는 블록도이다. 도 1에 도시된 바와 같이, HDD(1)는 밀봉된 인클로 저(sealed enclosure)(10)를 포함하며, 상기 밀봉된 인클로저(10)는 기록 디스크(기록 매체)의 실례인 자기 디스크(11); 헤드 슬라이더(12); 아암 전자 장치(arm electronics: AE)(13); 스핀들 모터(spindle motor; SPM)(14); 보이스 코일 모터(voice coil motor; VCM)(15); 액츄에이터(16); 및 온도 센서(19)를 포함한다.

HDD(1)는 밀봉된 인클로저(10)의 외측에서 확보되는 회로 기판(20)을 더 포함한다. 회로 기판(20)에는, 판독/기록 채널(RW 채널)(21); 모터 구동 유닛(22); 하드 디스크 제어기(HDC) 및 MPU를 포함하는 집적 회로(23)(이하 "HDC/MPU"라 함); 및 RAM(24)를 포함하는 IC가 제공된다. 부수적으로, 상술한 회로들은 하나의 IC 내에 집적될 수 있거나, 각각의 회로는 상기 회로를 복수의 IC들로 분할함으로써 구현될 수 있다. 외부 호스트(51)로부터의 사용자 데이터는 HDC/MPU(23)에 의해 수신되고, 그 사용자 데이터가 헤드 슬라이더(12)에 의해 자기 디스크(11)에 기록되기 전에, RW 채널(21) 및 AE(13)를 통해 전송된다. 한편, 자기 디스크(11)에 저장된 사용자 데이터는 헤드 슬라이더(12)에 의해 판독된다. 이 사용자 데이터는 AE(13) 및 RW 채널(21)을 통해 전송되고 나서, HDC/MPU(23)에서 외부 호스트(51)로 출력된다.

자기 디스크(11)는 SPM(14)에 고정된다. SPM(14)은 지정된 각속도로 자기 디스크(11)를 회전시킨다. 모터 구동 유닛(22)은 HDC/MPU(23)로부터 수신된 제어 데이터에 따라 SPM(14)을 구동한다. 본 실시예에 따른 자기 디스크(11)는 양면에 기록면을 가지고 있다. 데이터는 각각의 기록면에 기록된다. 각각의 기록면에 대응하여 헤드 슬라이더(12)가 설치된다. 각각의 헤드 슬라이더(12)는 자기 디스크 위를 부상하는 슬라이더와, 상기 슬라이더에 고정되고 자기 신호와 전자 신호 사이에서 변환하는 헤드 소자를 포함한다. 본 실시예에 따른 헤드 슬라이더(12)는 가열로 헤드 소자를 돌출시켜 헤드 소자와 자기 디스크(11) 사이의 간극(부상 높이)을 조정하는 TFC에서 사용되는 히터를 포함한다. 헤드 슬라이더(12)의 구조는 도 2를 참조하여 나중에 상세하게 설명될 것이다.

각각의 헤드 슬라이더(12)는 액츄에이터(16)의 선단(tip)에 고정된다. 액츄에이터(16)는 VCM(15)에 연결되어 있다. 액츄에이터(16)는 피봇 축(pivot shaft)에 대해서 피봇 이동하며, 피봇 축으로 하여금 헤드 슬라이더(12)가 자기 디스크(11) 위에서 방사 방향으로 이동하게 한다. 모터 구동 유닛(22)은 HDC/MPU(23)로부터 수신된 제어 데이터(DACOUT라 함)에 따라 VCM(15)을 구동한다. 필요한 자기 디스크(11)의 수는 하나 이상이고, 기록면은 자기 디스크(11)의 한 면 또는 양면 위에 모두 형성될 수 있음을 유념하여야 한다.

AE(13)는 복수의 헤드 소자(12)들 중에서 자기 디스크(11)를 액세스하는데 사용되는 하나의 헤드 소자(12)를 선택하고, 선택된 헤드 소자(12)에 의해 판독되는 판독 신호를 일정한 이득으로 증폭하며, 그 증폭된 신호를 RW 채널(21)로 송신한다. 게다가, AE(13)는 RW 채널(21)로부터 기록 신호를 수신하고, 그 기록 신호를 선택된 헤드 소자(12)로 송신한다, 더욱이, AE(13)는 히터에 전류(전력)를 공급하고, 전류의 양을 조정하는 조정 회로로서 기능한다.

판독 처리에서, RW 채널(21)은 AE(13)로부터 공급된 판독 신호를 증폭하여, 증폭된 신호의 진폭을 일정하게 유지시키고, 획득된 판독 신호로부터 데이터를 추 출하여 디코드 처리를 수행한다. 판독된 데이터는 사용자 데이터 및 서보 데이터를 포함한다. 디코딩된 판독 사용자 데이터 및 서보 데이터는 HDC/MPU(23)에 공급된다. 부가적으로, 기록 처리에서, RW 채널(21)은 HDC/MPU(23)로부터 공급된 기록 데이터의 코드 변조를 수행하고, 코드 변조된 기록 데이터를 기록 신호로 변환하여 AE(13)에 그 기록 신호를 공급한다.

HDC/MPU(23)에서, MPU는 RAM(24) 내에 로드된 마이크로코드에 따라 동작한다. HDD(1)가 시작된 경우, MPU 상에서 동작하는 마이크로코드뿐만 아니라 제어에 필요한 데이터 및 데이터 처리도 자기 디스크(11)로부터 RAM(24)에 로드되거나 ROM(도면에 예시되어 있지 않음)에 로드된다. HDC/MPU(23)는 판독/기록 처리 제어, 명령 실행 순서의 관리, 서보 신호의 사용으로 인한 헤드 소자(12)의 위치 제어(서보 제어), 인터페이스 제어, 결함 제어 및 에러 발생 시의 ERP 등과 같은 데이터 처리에 요구되는 처리를 실행한다. 또한, HDC/MPU(23)는 HDD(1)의 전체 제어도 실행한다. 특히, 본 실시예에 따른 HDC/MPU(23)는 TFC에서 히터의 저항을 측정하고 히터 저항의 측정된 값이 저항 파손을 지시하는 경우, 에러 핸들링 처리를 수행한다. 이점은 나중에 설명될 것이다.

다음에, 본 실시예에 따른 TFC 헤드 슬라이더(12)의 구성을 설명할 것이다. 도 2는 헤드 슬라이더(12)의 공기 유출 단면(후측 단면)(121)에 근접해 있는 부분 영역의 단면도이다. 도 2에서, 자기 디스크(11)는 좌에서 우로 회전한다. 헤드 슬라이더(12)는 헤드 소자(122), 및 이 헤드 소자(122)를 지지하기 위한 슬라이더(123)를 포함한다. 본 실시예에 따른 TFC는 수직 자기 기록 방식을 채택한 HDD와 수평 자기 기록 방식을 채택한 HDD의 양쪽 모두에 적용될 수 있음을 유념하여야 한다.

헤드 소자(122)는 자기 디스크(11)에/자기 디스크(11)로부터 자기 데이터를 기록/판독한다. 헤드 소자(122)는 판독 소자(32)와 헤드 소자의 후측에 존재하는 기록 소자(31)를 포함한다. 자기장은 기록 코일(311)을 통해 흐르는 전류에 의해 자극(magnetic pole)(312)의 양끝에서 발생된다. 기록 소자(31)는 자기장을 이용함으로써 자기 디스크(11)에 자기 데이터를 기록하는 유도성 소자(inductive element)이다. 판독 소자(32)는 자기저항체 소자(magnetoresistive element)이다. 판독 소자(32)는 자기 이방성(magnetic anisotropy)을 가지고 있는 자기저항체 소자(32a)를 포함한다. 자기 디스크(11)로부터의 자기장에 응답하여 변화하는 저항값에 따라, 판독 소자(32)는 자기 디스크(11)에 기록된 자기 데이터를 판독한다.

헤드 소자(122)는 도금, 스퍼터링 및 연마 등과 같은 박막 형성 처리를 이용하여, 슬라이더(123)를 구성하는 AlTiC(alumina titan carbide) 기판상에 형성된다. 자기저항체 소자(32a)는 자기 차폐(magnetic shield)(33a, 33b) 사이에 끼워져 있다. 기록 코일(311)은 절연막(313)에 의해 둘러싸여 있다. 게다가, 헤드 소자(122)에는 기록 소자(31)와 판독 소자(32) 주위에 (예를 들어, 알루미나로 만들어진)보호층(34)이 제공된다. 따라서, 전체 헤드 소자(122)는 보호층(34)에 의해 보호된다. 기록 소자(31)와 판독 소자(32)에 근접해 있는 영역에서, 박막으로 만들어진 저항을 포함하는 히터(124)는 박막 처리를 이용하여 제공된다. 이 실례에서, 히터(124)는 자기 디스크(11)의 반대 위치에 있는 헤드 소자(122) 내에 형성된다. 이것으로 퍼멀로이(permalloy)를 사용하는 박막 저항은 알루미나가 채워지는 간극을 따라 미앤더(meander)와 같은 형상을 갖는 방식으로 히터(124)를 형성하는 것이 가능하다.

AE(13)는 히터(124)에 전류를 인가하고(전력을 공급함), 히터(124)의 열로 인해 헤드 소자(122)에 근접해 있는 영역이 돌출되고 변형되게 한다. 히터(124)가 가열되지 않은 경우, 헤드 슬라이더(12)의 ABS 표면은 S1으로 나타나는 모양을 갖는다. 헤드 소자(122)와 자기 디스크 사이의 거리인 간극은 C1로 나타난다. 도 2는 히터(124)가 가열된 경우에 발견되는 돌출 모양(S2)을 파선을 이용하여 개략적으로 예시하고 있다. 헤드 소자(122)가 자기 디스크(11)에 접근하는 경우, 간극(C2)은 간극(C1)보다 작다. 부수적으로, 도 2는 개념도이며, 따라서 치수 관계는 정확하지 않다. 예를 들어, 돌출 표면(S2)의 모양은 nm의 차수(수 나노미터)로 돌출양에 대응한다.

헤드 소자(122)는 TFC에 의해 반복적으로 확장된다. 그 결과, 열 팽창 및 열간 수축은 히터(124) 재료의 금속 피로를 일으킨다. 따라서, 히터(124)의 파손(breakage) 및 일렉트로마이그레이션에 의한 단락이 발생할 수도 있다. 게다가, 히터(124)와 그 히터의 주위 부재 사이의 경계에서는, 이들 사이의 재료의 차이로 인해 균열이 발생할 수도 있다. 히터(124)가 개방회로/폐쇄회로인 경우, HDD(1)는 TFC를 실행할 수 없고, 사용자 데이터가 판독/기록되는 것을 방해한다. 그러므로, 히터가 개방회로/폐쇄회로가 되기 전에, HDD(1)는 히터(124)가 비정상적으로 되는 경향이 있음을 검출하여, 그 경향에 응답하여 처리를 수행할 것이 요구된다.

본 실시예에 따른 HDD(1)는 미리 결정된 타이밍으로 히터(124)의 저항값을 측정한다. 저항값이 미리 결정된 파손 저항값을 나타내는 경우, HDD(1)는 그 파손 저항값에 응답하여 에러 핸들링 처리를 실행한다. 보다 구체적으로, 도 3의 블록도에 도시된 바와 같이, TFC 제어기(231)는 히터(124)의 저항값의 측정을 제어하고, 또한 저항값이 에러를 나타내는 경우 에러 핸들링 처리의 실행을 제어한다.

MPU가 TFC 제어기(231)로서 기능하도록 마이크로코드에 따라 동작하는 MPU를 사용함으로써, 또는 마이크로코드의 조합에 따라 동작하는 HDC/MPU(23) 및 MPU 내에 포함된 하드웨어 회로의 일부분을 사용함으로써, TFC 제어기(231)를 구현하는 것이 가능하다. 게다가, HDC/MPU(23)는 RW 처리 유닛(232)으로서 기능한다. 통상, 마이크로코드에 따라 동작하는 HDC/MPU(23) 및 MPU 내에 포함된 하드웨어 회로의 일부분의 조합이 RW 처리 유닛(232)으로서 기능한다.

TFC 제어기(231)는 전체적으로 HDD(1) 내의 TFC를 제어한다. 보다 구체적으로, 서미스터(thermistor)와 같은 온도 센서(19)에 의해 검출되는 검출 온도(온도)에 따라서, TFC 제어기(231)는 AE(13)의 레지스터 내에 히터(124)로 출력되는 출력값(출력값)을 설정한다. AE(13)는 히터(124)를 구동하는 구동 회로를 포함하고, 히터(124)에 설정된 출력값의 출력(히터 전류)을 공급한다. 통상, AE(13)는 히터(124)를 정전류 구동 또는 정전압 구동한다. 보다 구체적으로, AE(13)는 TFC 제어기(231)에 의해 설정된 정전류 또는 정전압을 히터(124)에 공급한다. 이 외에도, AE(13)는 출력이 정전력이 되도록 히터(124)를 구동할 수도 있다. 부수적으로, 히터(124)의 출력은 온도뿐만 아니라 판독/기록 처리에 의해서도 변화된다.

TFC 제어기(231)는 미리 결정된 타이밍에 히터(124)의 저항값을 측정한다. 보다 구체적으로, AE(13)는 히터(124)의 저항값을 측정하는 측정 회로를 포함한다. TFC 제어기(231)는 지정된 타이밍에 AE(13)를 테스트 모드로 설정하고(모드 설정), 히터(124)의 저항값의 측정을 지시한다. AE(13)의 제어 레지스터에 설정 데이터를 저장함으로써, TFC 제어기(231)는 AE(13)가 저항값을 측정할 것을 요구한다. TFC 제어기(231)로부터 수신된 요구에 응답하여, AE(13)는 히터(124)의 저항값을 측정한다.

히터(124)의 저항값이 측정되는 타이밍의 바람직한 실례로서, TFC 제어기(231)는 HDD(1)의 전력이 켜지는 파워 온 리셋(POR; power-on reset) 시간에 저항값을 측정한다. 다른 경우에, TFC 제어기(231)는 HDD(1)가 동작하는 동안에 동작 시간을 측정한다. 측정된 동작 시간이 미리 결정된 시간에 도달하는 경우, 히터(124)의 저항값의 측정을 시작하는 것이 가능하다. 이 외에도, TFC 제어기(231)는 특정 온도 영역에서 동작 시간을 참조하여 저항값을 측정할 수도 있다.

TFC 제어기(231)는 헤드 슬라이더(12)의 각 히터의 저항값을 동시에 또는 서로 다른 타이밍에 측정할 수 있다. 예를 들면, TFC 제어기(231)는 각 헤드 슬라이더(12)의 동작 시간을 측정한다. 각각의 동작 시간이 미리 결정된 설정 시간에 도달하는 경우, TFC 제어기(231)는 문제의 헤드 슬라이더(12)의 히터의 저항값만 측정한다.

도 4에 도시된 흐름도를 참조하면, AE(13)는 히터(124)의 저항값을 측정하고, AE 자신의 레지스터에 측정된 값을 저장한다(S11). TFC 제어기(231)는 AE(13) 의 레지스터에 액세스하여, 히터의 저항의 측정된 값(저항값)을 획득한다. TFC 제어기(231)는 획득되어 측정된 저항값이 미리 결정된 기준 범위 이내에 들어오는지의 여부를 판단한다(S12). 측정된 저항값이 기준 범위 이내에 들어오는 경우(도 4의 S12에서 긍정), 임의의 다른 처리를 수행함 없이 처리는 종료된다. 측정된 저항값이 기준 범위를 벗어나는 경우(도 4의 S12에서 부정), TFC 제어기(231)는 저항 파손에 응답하여 에러 핸들링 처리를 실행한다(S13).

에러 핸들링 처리중 하나로서, TFC 제어기(231)는 호스트(51)에게 TFC 히터(124)의 저항값에서 이상현상(저항 파손)이 검출되었음을 통지한다(경보). 예를 들어, TFC 제어기(231)는 저항 파손의 검출을 나타내는 데이터와, 저항 파손 상태를 나타내는 데이터를 HDC/MPU(23)에 포함된 레지스터에 저장한다. 지정된 타이밍에 이 레지스터를 참조함으로써, 호스트(51)는 히터의 저항의 이상현상이 발생했음을 검출할 수 있다.

히터(124)의 저항값이 초기 저항값에서 10% 이상 변화하는 경우, TFC 제어기(231)는 저항 파손이 발생한 것으로 판단한다. 바람직하게, 저항 파손이 발생하였는지의 여부를 판단하는 기준으로서, 저항 파손이 발생하기 전에 저항 파손에 기인하는 에러를 방지하는 관점에서, 측정된 값이 초기 저항값의 5% 이상 변하는 경우, TFC 제어기(231)는 저항 파손이 발생한 것으로 판단한다. 또한, 측정된 값 또는 초기값은 온도 센서(19)의 검출된 온도에 응답하여 정정 또는 변화될 수도 있음을 유념하여야 한다.

도 5는 히터 저항의 실제 측정값을 예시하는 그래프이다. 가속시 험(acceleration test)이 복수의 헤드 슬라이더에 수행되어, 히터(124)의 저항값의 변화를 측정한다. 보다 구체적으로, 도 5에 도시된 바와 같이, 히터(124)에 공급되는 전력이 점차적으로 증가하는 동안, 공급된 전력에 대응하는 히터(124)의 각각의 저항값이 측정된다. 측정은 복수의 헤드 슬라이더에서 수행된다.

도 5에 도시된 그래프로부터 이해된 바와 같이, 각각의 초기값은 100% 라는 가정에 있어서, 저항값은 95% 까지 점차적으로 감소한다. 그 후, 저항값은 95%에서 85%로 급격하게 변화한다. 저항값이 85%로 감소하는 경우, 와이어의 파손으로 저항값이 무한대가 되는 파손 모드로 존재하게 된다. 그러므로, 저항값이 초기 저항값의 90% 이하로 감소하는 영역에서, TFC 제어기(231)가 저항 파손이 되는 저항값을 판단하여, 호스트(51)에 경고하는 것이 바람직하다. 게다가, 신뢰성을 증가시키기 위해서, 저항값이 급격하게 변화하기 시작하는, 95% 이하로 저항값이 감소하는 영역에서, TFC 제어기(231)가 적어도 저항 파손이 되는 저항값을 판단하는 것이 바람직하다.

부수적으로, 각 저항값이 적어도 저항값이 초기값의 90% 이하거나, 95% 이하일 경우에 저항 파손으로 판단된다. 그러므로, 예를 들어, 기준값을 97%로 설정하고, 97% 이하의 범위에 있는 저항값이 저항 파손으로 판단되도록 구성될 수도 있다. 그러나, 빈번하게 발생하는 경고를 피하기 위해서, 기준값을 너무 큰 값으로 설정하지 않는 것이 중요하다. 그러므로, 기준값을 90% 또는 95%로 설정하면, TFC 제어기(231)는 측정된 저항값과 그 기준값을 비교할 수 있고, 측정된 저항값이 기준값 보다 작거나 같은 경우, 저항 파손이 발생하였음을 판단한다.

에러 핸들링 처리의 바람직한 일례로서, 히터(124)의 저항값을 측정하는 횟수가 증가된다. TFC 제어기(231)는 저항값을 측정하는 시간 간격을 단축하거나, 과거에 아직 사용되지 않은 타이밍에 측정을 시작한다. 예를 들어, TFC 제어기(231)가 파손 판정 이전에 미리 정해진 동작 시간의 간격으로 측정을 수행하는 경우, TFC 제어기(231)는 파손 판정 이후에 POR에서도 측정을 수행하거나, 측정에 사용되는 미리 정해진 동작 시간을 단축한다. 이것으로 저항값의 급격한 변화를 감시할 가능성을 줄이는 것이 가능하다.

에러 핸들링 처리의 또 다른 바람직한 실례는 히터(124)에 출력되는 신호의 슬루 레이트(slew rate)를 제어하는 것에 관한 것이다. 히터(124)의 노화를 줄이기 위해서, 히터(124)에 출력되는 신호의 슬루 레이트를 감소시키는 것이 바람직하다. 슬루 레이트는 AE(13)에서부터 히터(124)로의 출력 신호의 상승 속도 및 하강 속도에 대응한다. 고속의 슬루 레이트에서, 히터(124)에 공급되는 전류 및 전압의 상승 에지 또는 하강 에지는 빠르다. 한편, 저속의 슬루 레이트에서, 히터(124)에 공급되는 전류 및 전압의 상승 에지 또는 하강 에지는 느리다.

보다 구체적으로, 슬루 레이트는 AE(13)에서 히터(124)로의 출력의 변화가 시작될 때부터, 변화가 출력의 변화로부터 포화 값에 도달할 때까지의 시간으로 표현될 수 있다. 예를 들어, 정전류 구동의 상승 에지에서, AE(13)가 전류를 공급하기 시작할 때부터 전류의 값이 포화 값에 도달할 때까지의 시간을 이용하여 상승 에지에서 슬루 레이트를 정의하는 것이 가능하다. 이와 유사하게, 정전류 구동의 하강 에지에서, AE(13)의 출력 전류가 감소하기 시작할 때부터 출력 전류의 값이 포화 값에 도달할 때까지(다시 말하면, 값이 0 레벨에 도달하는 경우)의 시간을 이용하여 하강 에지에서 슬루 레이트를 정의하는 것이 가능하다. 정전압 구동의 경우, 전압 값을 이용하여 슬루 레이트를 정의하는 것이 가능하다.

도 3에 도시된 바와 같이, 저항 파손이 발생한 것으로 판단되는 경우, TFC 제어기(231)는 AE(13)의 설정 레지스터에 저속 슬루 레이트 값(슬루 레이트)을 설정한다. AE(13)는 그 설정에 기초하여 슬루 레이트로 히터(124)에 전류/전압을 출력한다. 슬루 레이트를 감소시킴으로써, 히터(124)의 노화를 줄이는 것이 가능하다.

또 다른 경우에, 지정된 조건 하에서 에러 핸들링 처리의 기록 및 검증 처리를 수행하는 것이 바람직하다. 기록 및 검증 처리에서, 사용자 데이터가 자기 디스크(11)의 기록면에 기록된 후에, 사용자 데이터가 정확하게 기록되었는지의 여부에 대한 검사가 행해진다. 호스트(51)에 송신되는 통지(경고)는 물론, 통지의 송신 없이도, HDC/MPU(23)는 기록 및 검증 처리를 수행한다.

히터(124)의 저항값이 변화되는 경우, 헤드 소자(122)의 돌출양은 히터(124)의 구동 방법에 따라 변화된다. 보다 구체적으로, 정전류 구동의 경우에, 저항값의 감소로 인해 히터 전력은 감소하고, 이 결과로 돌출양이 감소한다. 이에 반해서, 정전압 구동의 경우에, 저항값의 증가로 인해 히터 전력은 감소하고, 이 결과로 돌출양이 감소한다. 그러므로, 각각의 구동 방법의 이러한 에러 조건하에서, HDC/MPU(23)가 기록 및 검증 처리를 수행하는 것이 바람직하다.

보다 구체적으로, 도 3을 참조하면, 저항 파손이 발생한 것으로 판단되는 경 우, TFC 제어기(231)는 판독/기록 처리 유닛(RW 처리 유닛)(232)에 판단 결과를 통지한다. RW 처리 유닛(232)은 판독/기록 사용자 데이터의 처리를 제어 및 실행한다. 기록 처리에서, RW 처리 유닛(232)은 호스트(51)로부터 획득된 사용자 데이터를 RAM(24)에 포함되어 있는 버퍼(241)에 일시적으로 저장한다. 이후에, RW 처리 유닛(232)은 버퍼(241)로부터 사용자 데이터를 추출하고, 그 사용자 데이터를 RW 채널(21)에 송신한다. RW 채널(21)에 송신된 데이터는 AE(13)를 통해 헤드 슬라이더(12)에 송신된다. 그러면, 헤드 슬라이더(12)는 목표 어드레스(섹터)에 데이터를 기록한다. 판독 처리에서, RW 처리 유닛(232)은 RW 채널(21)로부터 획득된 사용자 데이터를 버퍼(241)에 저장한다. 그 후에, RW 처리 유닛(232)은 버퍼(241)로부터 사용자 데이터를 추출하고, 그 사용자 데이터를 호스트(51)에 송신한다.

저항 파손이 통지된 RW 처리 유닛(232)은 미리 결정된 조건하에서 기록 및 검증 처리를 수행한다. 온도 센서(19)에 의해 검출되는 온도가 미리 결정된 기준 온도보다 낮거나 같은 경우, 기록 및 검증 처리가 수행되는 것이 바람직하다. 낮은 온도 영역에서는, 데이터 기록에 결함이 있을 수도 있기 때문이며, 특히 취약한 중첩 기록(overwriting)이 기록의 초기 단계에서 발생하기 쉬워서, 기록 및 검증 처리가 HDD(1)의 성능의 저하를 일으킬 수도 있다.

기록 및 검증 처리에서, RW 처리 유닛(232)은 사용자 데이터를 자기 디스크(11)에 기록하고, 헤드 소자(12)에 의해 기록된 데이터를 판독한다. RW 처리 유닛(232)은 RW 채널(21)로부터 획득된 판독 데이터와 버퍼(241)에 저장된 데이터를 비교하여 사용자 데이터가 자기 디스크(11)에 정확하게 기록되어 있는지의 여부를 검사한다. 사용자 데이터가 정확하게 기록되어 있지 않은 경우, RW 처리 유닛(232)은 기록 처리를 다시 한번 실행한다. 부수적으로, 실제로 자기 디스크(11)로부터 판독된 데이터는 기록된 데이터의 전부이거나 일부분이다. 초기 기록 단계에서 많은 에러가 발생하기 때문에, 기록 판단은 또한 초기 단계에서 기록되는 데이터의 일부분만 비교함으로써 행해질 수도 있다. 기록 및 검증 처리는 또한 환경 온도에 상관없이 수행될 수도 있음을 유념해야 한다.

전술한 저항의 변화와 대조를 이루어, 정전류 구동의 경우에, 저항값의 증가로 히터 전력이 증가하고, 그 결과로 돌출양이 증가한다. 한편, 정전압 구동의 경우에, 저항값의 감소로 히터 전력이 증가하고, 그 결과로 돌출양이 증가한다. 그러므로, 각각의 구동 방법의 이러한 저항 에러 조건하에서, 히터(124)에 공급되는 전류 또는 전압의 값이 줄어드는 것이 바람직하다. 부수적으로, 저항값이 무한대인 경우(저항값이 기준값보다 크거나 같음), 이것은 개방 상태가 발생하였다는 것을 의미한다. 따라서, 히터(124)는 기능하지 않는다. 그러므로, 이러한 경우에는, 전술한 바와 같이, 기록 및 검증 처리를 수행하는 것이 바람직하다.

상기 실례에서, TFC 제어기(231)는 에러 핸들링 처리가 실행되어야 하는지의 여부를 결정하기 위해서 측정된 저항값만을 참조한다. 그러나, 바람직한 모드 중 하나는 측정된 값뿐만 아니라 다른 조건도 참조한다. 바람직한 모드 중 하나에서, TFC 제어기(231)는 판독된 사용자 데이터의 에러율을 참조한다.

도 6의 블록도에 도시된 바와 같이, RW 처리 유닛(232)에 포함되어 있는 ECC 처리 유닛(233)은 사용자 데이터를 위한 ECC 처리를 실행한다. 기록 처리 시에, ECC 처리 유닛(233)은 호스트(51)로부터 수신된 데이터에 ECC(Error Checking Code)를 부가한다. ECC가 부가된 데이터는 RW 채널(21)에 송신된다. 게다가, 판독 처리 시에, ECC 처리 유닛(233)은 RW 채널(21)로부터 송신된 데이터의 ECC를 이용하여 에러 정정 처리를 실행하고 나서, 버퍼(241)에 에러 정정 처리가 행해진 데이터를 저장한다.

판독 처리의 시간에 에러 정정 처리에서, ECC 처리 유닛(233)은 에러율을 카운트하고, 보다 구체적으로는 코드워드당 정정 비트의 수(에러 비트의 수)를 카운트한다. TFC 제어기(231)는 ECC 처리 유닛으로부터 이 에러율을 나타내는 데이터를 획득하고, 이 데이터에 따라 에러 핸들링 처리가 실행되어야 하는지의 여부를 결정한다. 보다 구체적으로, TFC 제어기(231)는 에러율의 초기값에 대한 에러율의 변화를 식별한다. 그리고 나서, 이 변화에 응답하여, TFC 제어기(231)는 에러 핸들링 처리가 실행되어야 하는지의 여부를 결정한다. 초기값은 HDD(1)내에 저장될 수 있으며, 예를 들어 발송 전에 제조 단계에서 저장될 수 있다.

본 발명의 바람직한 양태 중 하나를 도 7에 도시된 흐름도를 참조하여 설명할 것이다. TFC 제어기(231)는 각각의 측정된 저항값에 대응하는 2개의 기준 범위를 이용한다. 예를 들어, TFC 제어기(231)는 제1 기준 범위로서 변화의 범위가 5% 보다 작은 저항값의 변화를 정의한다. 게다가, TFC 제어기(231)는 제2 기준 범위로서 변화의 범위가 2% 보다 작은 저항값의 변화를 정의한다. 여기서, 제2 기준 범위는 제1 기준 범위보다 협소하다. 도 6을 참조하면, AE(13)가 히터의 저항값을 측정할 경우(S21), TFC 제어기(231)는 측정된 저항값이 제1 기준 범위 이내에 들어오는 지의 여부를 판단한다. 다시 말하면, TFC 제어기(231)는 측정된 저항값이 초기값의 5% 이상 변화되었는지의 여부를 판단한다(S22). 저항값이 5% 이상 변화되었을 경우(S22에서 부정), TFC 제어기(231)는 에러 핸들링 처리를 실행해야 하는지를 판단한다. 따라서, HDC/MPU(23)는 에러 핸들링 처리를 실행한다(S25).

측정된 저항값이 제1 기준 범위 이내에 들어온다고 판단된 경우, 다시 말하면, 저항값의 변화가 5% 보다 작은 경우(S22에서 긍정), TFC 제어기(231)는 측정된 저항값이 제2 기준 범위 이내에 들어오는지의 여부를 판단한다(2% 보다 작음)(S23). 저항값의 변화가 제2 기준 범위 이내에 들어오는 경우, 다시 말하면, 측정된 저항값의 변화가 2% 보다 작은 경우, 에러 핸들링 처리를 수행함 없이 처리는 종료된다(S25). 이러한 변화로부터의 판단으로 인해서, 측정 에러 또는 히터(124)가 일반 범위 이내에 있다고 간주된다.

저항값의 변화가 제2 기준 범위 이내에 들어오지 않을 경우, 다시 말하면, 측정된 저항값의 변화가 2% 이상 5% 미만인 경우, TFC 제어기(231)는 에러율을 참조한다. TFC 제어기(231)는 초기값으로부터 에러율의 변화를 식별하고, 에러율이 악화되는 범위가 미리 결정된 기준 값 이상인지의 여부를 판단한다(S24). 에러율의 변화가 기준 범위 이내에 들어오는 경우(S24에서 긍정), 에러 핸들링 처리를 수행함 없이 처리는 종료된다(S25). 에러율이 악화되는 범위가 미리 결정된 기준 값보다 크거나 같다고 판단되는 경우(S24에서 부정), HDC/MPU(23)는 에러 핸들링 처리를 실행한다(S25).

전술한 바와 같이, 저항값뿐만 아니라 에러율도 참조함으로써, 히터(124)의 저항 파손을 보다 신뢰성있고 보다 정확하게 검출하는 것이 가능하다. 특히, 각 저항값에 대해 복수의 기준 범위를 이용함으로써, 그리고 적당한 기준 범위에 있는 에러율을 참조함으로써, 개방/단락되기 전에, 히터(124)가 개방/단락되는 것을 방지하는 것이 가능하다. 부수적으로, 에러율 또는 에러율의 변화를 직접적으로 나타내는 데이터를 이용하는 대신에, TFC 제어기(231)는 에러율을 간접적으로 나타내는 데이터를 이용하여 에러율을 참조할 수도 있다. 더욱이, 에러율 또는 기준 범위는 온도 조건을 기초로 하여 정정될 수도 있다. 이하의 사용자 데이터의 판독 진폭도 동일한 방식으로 취급된다.

또 다른 바람직한 모드로서, TFC 제어기(231)는 측정된 저항값뿐만 아니라 사용자 데이터의 판독 진폭도 참조한다. AE(13)의 레지스터로부터 판독 진폭을 획득함으로써, 또는 RW 채널(21)로부터 VGA(Variable Gain Amplifier: 가변이득 증폭기)의 이득값을 획득함으로써(VGA는 도 6에 도시됨), TFC 제어기(231)는 판독 진폭을 검출할 수 있다. TFC 제어기(231)는 히터(124)의 측정된 저항값의 변화가 판독 진폭의 변화와 같은 방향에 있는지의 여부를 식별한다. 이들 변화가 같은 방향에 있을 경우, TFC 제어기(231)는 에러 핸들링 처리가 실행되어야 하는지를 판단한다.

예를 들어, 정전류 구동의 경우, 히터 저항의 증가는 간극의 감소를 의미한다. 그러므로, 판독 진폭이 증가할 것으로 기대되고 있다. 한편, 히터 저항의 감소는 간극의 증가를 의미한다. 그러므로, 판독 진폭이 감소할 것으로 기대되고 있다.

정전압 구동의 경우, 히터 저항의 증가는 간극의 증가를 의미한다. 그러므로, 판독 진폭이 감소할 것으로 기대되고 있다. 한편, 히터 저항의 감소는 간극의 감소를 의미한다. 그러므로, 판독 진폭이 증가할 것으로 기대되고 있다. TFC 제어기(231)는, 예를 들어 제조 단계에서 기록되는 판독 진폭의 초기값을 측정된 값과 비교한다. 그 결과, TFC 제어기(231)는 변화의 방향 및 변화의 양을 식별할 수 있다.

히터를 구동하는 각각의 방법에서, 히터 저항 변화의 방향이 판독 진폭의 방향과 동일할 경우, TFC 제어기(231)는 저항 파손이 발생한 것으로 판단한다. 바람직하게, 에러율이 참조되는 판단의 경우에 있어서, TFC 제어기(231)는 각 저항값에 대응하는 복수의 기준 범위를 갖는다. 기준 범위 중의 하나 이내에 들어오는 저항값의 판단에서, TFC 제어기(231)는 또한 동시에 판독 진폭을 참조한다. 특정 처리 방법이 도 8에 도시된 흐름도를 참조하여 설명될 것이다.

도 8에서, 단계 S31부터 단계 S33까지의 처리는 도 7에 도시된 단계 S21부터 단계 S23까지의 처리와 유사하다. 저항값의 변화가 제2 기준 범위를 벗어나는 경우(S33에서 부정), TFC 제어기(231)는 판독 진폭을 참조하여 판독 진폭이 기준 범위 이내에 들어오는지의 여부를 판단한다(S34). 예를 들어, RW 채널(21)이 VGA 이득 값을 획득하고 나면, TFC 제어기(231)는 그 VAG 이득 값을 초기값과 비교하여 VAG 이득값의 변화가 기준 범위 이내에 들어오는지의 여부를 판단한다. 전술한 바와 같이, 기준 범위는 히터(124)의 구동 방법에 의해 변한다. 게다가, 저항값의 변화의 방향에 의해, 다시 말하면, 저항값이 감소 또는 증가하는지의 여부에 의해, 범위가 변한다. 판독 진폭의 변화가 기준 범위 이내에 들어오는 경우(S34에서 긍정), 에러 핸들링 처리를 수행함 없이 처리는 종료된다. 판독 진폭의 변화가 기준 범위를 벗어나는 경우(S34에서 부정), HDC/MPU(23)는 에러 핸들링 처리를 실행한다(S35).

보다 구체적으로, 정전류 구동의 경우에, 히터의 저항이 증가할 때, 판독 진폭이 기준값 이상으로 증가하면, TFC 제어기(231)는 저항 파손이 발생한 것으로 판단한다. 한편, 히터의 저항이 감소할 때, 판독 진폭이 기준값 이하로 감소하면, TFC 제어기(231)는 저항 파손이 발생한 것으로 판단한다. 정전압 구동의 경우에, 히터의 저항이 증가할 때, 판독 진폭이 기준값 이하로 감소하면, TFC 제어기(231)는 저항 파손이 발생한 것으로 판단한다. 한편, 히터의 저항이 감소할 때, 판독 진폭이 기준값 이하로 감소하거나 판독 진폭이 기준값 이상으로 증가하면, TFC 제어기(231)는 저항 파손이 발생한 것으로 판단한다.

이제까지 본 발명은 바람직한 실시예들을 실례로 하여 설명되었다. 그러나, 본 발명은 상술한 실시예들에만 국한된 것이 아니다. 당업자는 본 발명의 범위 내에서 상기 실시예들의 각각의 소자들에 대한 변형, 부가 및 변경을 용이하게 행할수 있을 것이다. 예를 들어, 상기 기술된 TFC의 실례 각각을 판독 소자 또는 기록 소자만을 포함하는 헤드 슬라이더에 장착된 HDD 또는 HDD 이외의 디스크 드라이브에 적용하는 것이 가능하다.

본 발명에 따르면, 헤드와 디스크 사이의 간극을 조정하여, 히터의 경년 열화에 기인하는 저항 에러의 수를 줄이는 것이 가능하게 된다.

Claims

회전 디스크 위를 부상하는 슬라이더와;

상기 슬라이더에 위치한 헤드 소자와;

상기 슬라이더에 위치하고, 상기 헤드 소자를 돌출시켜 상기 헤드 소자와 디스크 사이의 간극을 조정하도록 열 팽창을 이용하는 히터와;

미리 결정된 타이밍 내에서 상기 히터의 저항값을 측정하는 측정 회로와;

상기 측정된 저항값을 참조하여, 상기 히터의 저항 파손이 발생하였는지의 여부를 판단하고, 상기 히터의 저항 파손이 발생한 것으로 판단된 경우, 상기 저항 파손에 응답하여 에러 핸들링 처리를 수행하는 제어기

를 포함하는 디스크 드라이브.
제1항에 있어서, 상기 에러 핸들링 처리에서, 상기 제어기는 호스트에게 상기 히터의 저항 파손을 통지하는 것인 디스크 드라이브.
제1항에 있어서, 상기 에러 핸들링 처리에서, 상기 제어기는 상기 헤드 소자에 의해 기록된 사용자 데이터를 검사하는 것인 디스크 드라이브.
제3항에 있어서, 온도 센서를 더 포함하고,

상기 온도 센서에 의해 검출된 온도가 기준 온도보다 낮거나 같을 경우, 상 기 제어기는 상기 헤드 소자에 의해 기록된 사용자 데이터를 검사하는 것인 디스크 드라이브.
제3항에 있어서, 상기 히터는 정전류 구동되고,

상기 히터의 저항값의 감소가 기준 범위를 벗어나는 경우, 상기 제어기는 상기 헤드 소자에 의해 기록된 사용자 데이터를 검사하는 것인 디스크 드라이브.
제3항에 있어서, 상기 히터는 정전압 구동되고,

상기 히터의 저항값의 증가가 기준 범위를 벗어나는 경우, 상기 제어기는 상기 헤드 소자에 의해 기록된 사용자 데이터를 검사하는 것인 디스크 드라이브.
제1항에 있어서, 상기 에러 핸들링 처리에서, 상기 제어기는 상기 히터의 저항값을 측정하는 횟수를 증가하는 것인 디스크 드라이브.
제1항에 있어서, 상기 에러 핸들링 처리에서, 상기 제어기는 상기 히터로 출력되는 신호의 슬루 레이트를 감소하는 것인 디스크 드라이브.
제1항에 있어서, 상기 히터의 저항값이 미리 결정된 값의 10% 이상으로 변화할 경우, 상기 제어기는 상기 히터의 저항 파손이 발생하였음을 판단하는 것인 디스크 드라이브.
제1항에 있어서, 상기 제어기는 상기 히터의 저항 파손이 발생하였는지의 여부를 판단하기 위해 상기 헤드 소자의 판독 진폭을 더 참조하는 것인 디스크 드라이브.
제1항에 있어서, 상기 제어기는 상기 히터의 저항 파손이 발생하였는지의 여부를 판단하기 위해 상기 헤드 소자에 의해 판독되는 데이터의 에러율을 더 참조하는 것인 디스크 드라이브.
제10항에 있어서, 상기 히터의 저항값이 기준 범위를 벗어나는 경우, 상기 제어기는 상기 에러 핸들링 처리를 수행하고; 상기 히터의 저항값이 기준 범위 이내에 들어오는 경우, 그리고 상기 판독 진폭의 변화가 기준값을 벗어나는 경우, 상기 제어기는 상기 에러 핸들링 처리를 수행하는 것인 디스크 드라이브.
제11항에 있어서, 상기 히터의 저항값이 기준 범위를 벗어나는 경우, 상기 제어기는 상기 에러 핸들링 처리를 수행하고; 상기 히터의 저항값이 기준 범위 이내에 들어오고 상기 에러율의 변화가 기준값을 벗어나는 경우, 상기 제어기는 상기 에러 핸들링 처리를 수행하는 것인 디스크 드라이브.
회전 디스크 위를 부상하는 슬라이더와;

상기 슬라이더에 위치한 헤드 소자와;

상기 슬라이더에 위치하고, 상기 헤드 소자를 돌출시켜 상기 헤드 소자와 디스크 사이의 간극을 조정하도록 열 팽창을 이용하는 히터를 포함하는 디스크 드라이브의 제어 방법으로서,

미리 결정된 타이밍 내에서 상기 히터의 저항값을 측정하는 단계와;

상기 측정된 저항값을 참조하여 상기 히터의 저항 파손이 발생하였는지의 여부를 판단하는 단계와;

상기 히터의 저항 파손이 발생한 것으로 판단된 경우, 상기 저항 파손에 응답하여 에러 핸들링 처리를 수행하는 단계

를 포함하는 디스크 드라이브 제어 방법.