KR20060075072A - 메모리 장치의 프리차지 타이밍 제어 방법 및 그 장치 - Google Patents
메모리 장치의 프리차지 타이밍 제어 방법 및 그 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20060075072A KR20060075072A KR1020040113629A KR20040113629A KR20060075072A KR 20060075072 A KR20060075072 A KR 20060075072A KR 1020040113629 A KR1020040113629 A KR 1020040113629A KR 20040113629 A KR20040113629 A KR 20040113629A KR 20060075072 A KR20060075072 A KR 20060075072A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- signal
- precharge
- auto
- pulse
- refresh
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/12—Bit line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, equalising circuits, for bit lines
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4091—Sense or sense/refresh amplifiers, or associated sense circuitry, e.g. for coupled bit-line precharging, equalising or isolating
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4094—Bit-line management or control circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2211/00—Indexing scheme relating to digital stores characterized by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C2211/401—Indexing scheme relating to cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C2211/406—Refreshing of dynamic cells
- G11C2211/4065—Low level details of refresh operations
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
Description
Claims (12)
- 메모리 장치의 프리차지 타이밍 제어 방법으로서,노말 동작을 제어하는 신호와 리프레쉬 동작을 제어하는 신호의 발생시간을 다르게 하여, 노말 동작시의 프리차지 시점을 결정하는 신호와 리프레쉬 동작시의 프리차지 시점을 결정하는 신호의 발생 시점을 다르게 한 것을 특징으로 하는 메모리 장치의 프리차지 타이밍 제어 방법.
- 제 1 항에 있어서,싱기 노말 동작은 read with auto-precharge 또는 write with auto-precharge 커맨드에 의한 동작을 포함하며,상기 리프레쉬 동작은 셀프 리프레쉬 또는 오토 리프레쉬 동작을 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 장치의 프리차지 타이밍 제어 방법.
- 메모리 장치의 프리차지 타이밍 제어 방법으로서,프리차지 동작을 제어하기 위한 제 1 및 제 2 펄스 신호를 생성하는 단계;노말 동작시에는 상기 제 1 펄스 신호를 수신하여 제 3 펄스 신호를 생성하며, 리프레쉬 동작시에는 상기 제 2 펄스를 수신하여 제 4 펄스 신호를 생성하는 단계;상기 제 3 펄스 신호 또는 제 4 펄스 신호를 수신하여 상기 메모리 장치의 프리차지 시점을 제어하는 프리차지 신호를 출력하는 단계를 구비하는 메모리 장치의 프리차지 타이밍 제어 방법.
- 제 3 항에 있어서,상기 제 1 및 제 2 펄스 신호의 발생 시점과 펄스 폭은 각각 상이한 것을 특징으로 하는 메모리 장치의 프리차지 타이밍 제어 방법.
- 제 3 항에 있어서,상기 제 1 및 제 2 펄스 신호는, 액티브 커맨드 후에 인에이블되고 상기 프리차지 신호 생성 후 디스에이블되는 것을 특징으로 하는 메모리 장치의 프리차지 타이밍 제어 방법.
- 제 5항에 있어서,상기 노말 동작시에 "read with auto-precharge 또는 write with auto-precharge "커맨드에 의한 동작을 수행하기 위한 프리차지 모드 신호가 상기 제 1 펄스 신호보다 먼저 인에이블되는 경우에는 상기 제 3 펄스 신호는 상기 제 1 펄스 신호에만 응답하여 인에이블되며,상기 노말 동작시에 상기 제 1 펄스 신호가 인에이블된 후에 "read with auto-precharge 또는 write with auto-precharge " 동작을 수행하기 위한 프리차지 모드 신호가 생성되는 경우에는 상기 제 3 펄스 신호는 상기 프리차지 모드 신호에 만 응답하여 인에이블되는 것을 특징으로 하는 메모리 장치의 프리차지 타이밍 제어 방법.
- 메모리 장치의 프리차지 타이밍 제어 장치에 있어서,프리차지 동작을 제어하기 위한 제 1 및 제 2 펄스 신호를 생성하는 제어신호 발생기와,상기 제 1 신호를 수신하며 노말 동작시 동작하는 오토 프리차지 제어기와,상기 제 2 신호를 수신하며 리프레쉬 동작시 동작하는 리프레쉬 제어기와,상기 오토 프리차지 제어기의 출력신호 또는 상기 리프레쉬 제어시의 출력신호에 응답하여 상기 메모리 장치의 프리차지 시점을 결정하는 신호를 출력하는 프리차지 펄스 발생기를 구비하는 메모리 장치의 프리차지 타이밍 제어 장치.
- 제 7 항에 있어서,상기 제 1 및 제 2 펄스 신호의 발생 시점과 펄스 폭은 각각 상이한 것을 특징으로 하는 메모리 장치의 프리차지 타이밍 제어 장치.
- 제 7 항에 있어서,상기 제어신호 발생기와 상기 오토 프리차지 제어기와 상기 프리차지 펄스 발생기는 상기 메모리의 각 뱅크마다 제공되며,상기 리프레쉬 제어기는 상기 메모리내의 모든 뱅크에 공통으로 사용되는 것 을 특징으로 하는 메모리 장치의 프리차지 타이밍 제어 장치.
- 제 7 항에 있어서,싱기 노말 동작은 read with auto-precharge 또는 write with auto-precharge 커맨드에 의한 동작을 포함하며,상기 리프레쉬 동작은 셀프 리프레쉬 또는 오토 리프레쉬 동작을 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 장치의 프리차지 타이밍 제어 장치.
- 제 7 항에 있어서,상기 제어신호 발생기는지연시간이 상이한 제 1 지연부와 제 2 지연부와상기 제 1 지연부와 제 2 지연부의 출력신호를 각각 디코딩하는 제 1 디코딩부와 제 2 디코딩부를 구비하며,상기 제어신호 발생부는 액티브 커맨드시 인에이블되는 초기 동작 신호를 수신하며,상기 초기 동작 신호는 상기 제 1 지연부와 제 1 디코딩부를 지나 상기 제 1 펄스 신호를 출력하고상기 초기 동작 신호는 상기 제 2 지연부와 제 2 디코딩부를 지나 상기 제 2 펄스 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 메모리 장치의 프리차지 타이밍 제어 장치.
- 제 11항에 있어서,상기 초기 동작 신호는 상기 프리차지 펄스 발생기의 출력 신호에 응답하여 디스에이블되는 것을 특징으로 하는 메모리 장치의 프리차지 타이밍 제어 장치.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020040113629A KR100650730B1 (ko) | 2004-12-28 | 2004-12-28 | 메모리 장치의 프리차지 타이밍 제어 방법 및 그 장치 |
US11/108,494 US7310273B2 (en) | 2004-12-28 | 2005-04-18 | Method for controlling precharge timing of memory device and apparatus thereof |
US11/834,136 US7379371B2 (en) | 2004-12-28 | 2007-08-06 | Method for controlling precharge timing of memory device and apparatus thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020040113629A KR100650730B1 (ko) | 2004-12-28 | 2004-12-28 | 메모리 장치의 프리차지 타이밍 제어 방법 및 그 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20060075072A true KR20060075072A (ko) | 2006-07-04 |
KR100650730B1 KR100650730B1 (ko) | 2006-11-27 |
Family
ID=36611324
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020040113629A KR100650730B1 (ko) | 2004-12-28 | 2004-12-28 | 메모리 장치의 프리차지 타이밍 제어 방법 및 그 장치 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7310273B2 (ko) |
KR (1) | KR100650730B1 (ko) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100911199B1 (ko) * | 2008-01-07 | 2009-08-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 프리차지 제어 회로 |
KR100920843B1 (ko) * | 2008-05-09 | 2009-10-08 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 오토리프레쉬 동작 제어회로 |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7761656B2 (en) * | 2007-08-22 | 2010-07-20 | Advanced Micro Devices, Inc. | Detection of speculative precharge |
KR101046996B1 (ko) * | 2009-02-12 | 2011-07-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 뱅크프리차지신호 생성회로 |
KR101047003B1 (ko) * | 2009-06-26 | 2011-07-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 프리차지신호 생성회로 및 반도체 메모리 장치 |
US8174918B2 (en) * | 2010-09-23 | 2012-05-08 | Apple Inc. | Passgate for dynamic circuitry |
JP6866333B2 (ja) * | 2018-08-16 | 2021-04-28 | エルジー・ケム・リミテッド | 4又は5位に芳香族アミノ基が置換したフルオレン誘導体を繰り返し単位として主鎖に含むポリマー、その正孔輸送材料としての使用、並びにそれを含む有機電子デバイス |
CN116072170A (zh) | 2021-11-03 | 2023-05-05 | 长鑫存储技术有限公司 | 存储器读写电路、存储器控制方法及电子设备 |
CN116072169A (zh) * | 2021-11-03 | 2023-05-05 | 长鑫存储技术有限公司 | 存储器读写电路、存储器控制方法及电子设备 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AU1075599A (en) * | 1997-10-10 | 1999-05-03 | Rambus Incorporated | Dram core refresh with reduced spike current |
JP3786521B2 (ja) * | 1998-07-01 | 2006-06-14 | 株式会社日立製作所 | 半導体集積回路及びデータ処理システム |
JP4270707B2 (ja) * | 1999-04-09 | 2009-06-03 | 株式会社東芝 | ダイナミック型半導体記憶装置 |
KR100427028B1 (ko) * | 2001-12-18 | 2004-04-14 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 소자 |
KR100529038B1 (ko) * | 2003-04-30 | 2005-11-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 소자 |
US7085152B2 (en) * | 2003-12-29 | 2006-08-01 | Intel Corporation | Memory system segmented power supply and control |
KR20050101872A (ko) * | 2004-04-20 | 2005-10-25 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 |
-
2004
- 2004-12-28 KR KR1020040113629A patent/KR100650730B1/ko active IP Right Grant
-
2005
- 2005-04-18 US US11/108,494 patent/US7310273B2/en active Active
-
2007
- 2007-08-06 US US11/834,136 patent/US7379371B2/en active Active
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100911199B1 (ko) * | 2008-01-07 | 2009-08-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 프리차지 제어 회로 |
KR100920843B1 (ko) * | 2008-05-09 | 2009-10-08 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 오토리프레쉬 동작 제어회로 |
US8194488B2 (en) | 2008-05-09 | 2012-06-05 | Hynix Semiconductor Inc. | Auto-refresh operation control circuit for reducing current consumption of semiconductor memory apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7310273B2 (en) | 2007-12-18 |
US20070268763A1 (en) | 2007-11-22 |
US20060140032A1 (en) | 2006-06-29 |
US7379371B2 (en) | 2008-05-27 |
KR100650730B1 (ko) | 2006-11-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100757926B1 (ko) | 반도체 메모리 장치의 센스 앰프 제어 회로 및 방법 | |
US6226215B1 (en) | Semiconductor memory device having reduced data access time and improve speed | |
US7450448B2 (en) | Semiconductor memory device | |
US7379378B2 (en) | Over driving control signal generator in semiconductor memory device | |
US7379371B2 (en) | Method for controlling precharge timing of memory device and apparatus thereof | |
US7599238B2 (en) | Semiconductor memory device and driving method thereof | |
US6219292B1 (en) | Semiconductor memory device having reduced power requirements during refresh operation by performing refresh operation in a burst method | |
US7567469B2 (en) | Over driving pulse generator | |
US6542426B2 (en) | Cell data protection circuit in semiconductor memory device and method of driving refresh mode | |
US6980476B2 (en) | Memory device with test mode for controlling of bitline sensing margin time | |
US7042781B2 (en) | Semiconductor memory device for reducing write recovery time | |
US6894942B2 (en) | Refresh control circuit and method for semiconductor memory device | |
US6141275A (en) | Method of and apparatus for precharging and equalizing local input/output signal lines within a memory circuit | |
US6930952B2 (en) | Method of reading memory device in page mode and row decoder control circuit using the same | |
KR20000008774A (ko) | 동기식 디램의 자동 프리차지 장치 | |
JP2005166244A (ja) | メモリ装置のワードラインのオフ時間及びビットラインイクオライジング時間の動的選択方法及びシステム | |
US7668032B2 (en) | Refresh operation of memory device | |
KR100642395B1 (ko) | 반도체 장치 | |
US20080080273A1 (en) | Over-drive control signal generator for use in semiconductor memory device | |
KR20050056376A (ko) | 어드레스 억세스 타임 조절 회로를 구비한 반도체 메모리소자 | |
KR100413484B1 (ko) | 반도체 메모리 장치의 리프레쉬 회로 | |
KR100695287B1 (ko) | 반도체 메모리 장치의 센스앰프 제어 회로 | |
KR100781854B1 (ko) | 반도체 메모리 장치 | |
KR20030080667A (ko) | 반도체 메모리 소자의 비트라인 분리 제어신호 발생회로 | |
KR20070068616A (ko) | 반도체 메모리 장치의 센스 앰프 제어 회로 및 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121022 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131023 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141021 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151020 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161024 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171025 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181022 Year of fee payment: 13 |