KR20060049531A - 안굴절력 측정장치 - Google Patents

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Abstract

산란광의 영향을 억제하여 정밀한 측정을 가능하게 하는 안굴절력 측정장치. 피검자안의 안굴절력을 측정하는 안굴절력 측정장치에 있어서, 광원을 가지며, 피검자안의 안저에 스폿형상의 측정광을 투사하는 투사광학계와, 광축과, 광축 상에 배치된 수광소자와, 피검자안의 동공과 공역적인 위치에 배치되어, 피검자안의 동공부변부를 통한 안저로부터 반사되는 반사광을 통과시키는, 광축을 중심으로 하는 링형상의 개구와, 광축상에 배치된, 동공주변부와 링형상의 개구를 통한 안저에서 반사되는 반사광을 수광소자 상에 링형상으로 결상시키는 결상광학부재와, 결상광학부재보다 안측에, 안저와 공역적인 위치에 배치된, 광축을 중심으로 하는 조리개, 를 가지는 수광광학계, 를 가지는 측정광학계와, 수광소자의 출력을 기초로 안굴절력을 구하는 연산부, 를 가지며, 조리개 사이즈는, 결상광학부재에 의한 조리개의 수광소자 상에서의 투영영역이 광축상에서 소정량 이상 중첩되지 않는 크기로, 또한 측정가능한 가장 큰 강도의 근시안에 측정광을 투사했을 때 조리개의 투영영역 내에 반사광이 결상하는 크기로, 설정되어 있다.
안굴절력, 결상광학부재, 반사광

Description

안굴절력 측정장치{Eye refractive power measurement apparatus}
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 안굴절력 측정장치의 광학계 및 제어계의 개략적인 구성도,
도 2는 링렌즈의 개략적인 구성도,
도 3은 수광광학계의 일부를 확대한 도, 및 촬상소자 상에서의 수광 조리개의 투영영역을 나타내는 도,
도 4는 수광 조리개의 촬상소자 상에서의 투영영역과, 안저로부터 반사되는 반사광에 의한 촬상소자 상에서의 링상과의 관계를 나타내는 도,
도 5는 수광 조리개의 작용에 대해서 설명하는 도,
도 6은 수광 광학계의 변용 예를 설명하는 도,
도 7은 촬상소자 상에서의 수광 조리개의 투영영역을 나타내는 도.
본 발명은, 피검자안의 안굴절력을 타관적으로 측정하는 안굴절력 측정장치에 관한 것이다.
동공중심부를 통해 안저에 스폿형상의 측정광을 투사하고, 동공주변부(※동 공내의 주변부(중심부에 대해서의)의 에지(edge)와, 동공과 광학적으로 공역관계인 위치에 배치된 링형상의 개구를 통해서 안저로부터 반사되는 반사광을 2차원 수광소자 등으로 수광하고, 그 수광결과를 기초로 안굴절력을 구하는 안굴절력 측정장치가 있다.
그러나, 종래의 장치에 있어서, 수정체, 각막 등에 의한 산란(散亂)광이 측정에 영향을 주는 경우가 있다. 특히, 강한 도수의 근시안의 경우에는, 산란광이 수광소자의 수광면의 중심부에 집중되어 그 영향이 커진다.
본 발명은, 상기 종래기술의 문제점을 감안하여, 산란광의 영향을 억제하여 정밀도가 높은 측정을 가능하게 하는 안굴절력 측정장치를 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.
본 발명의 기술적 과제를 달성하기 위하여 또한 본 발명의 목적에 따르면, 피검자안의 안굴절력을 측정하는 안굴절력 측정장치는, 광원을 가지며, 피검자안의 안저에 스폿형상의 측정광을 투사하는 투사광학계와, 광축과, 광축 상에 배치된 수광소자와, 피검자안의 동공과 공역적인 위치에 배치되어, 피검자안의 동공주변부를 통한 안저에서 반사되는 반사광을 통과시키는, 광축을 중심으로 하는 링형상의 개구와, 광축상에 배치된, 동공주변부와 링형상의 개구를 통한 안저에서 반사되는 반사광을 수광소자 상에 링형상으로 결상시키는 결상광학부재와, 결상광학부재보다 안측에, 안저와 공역적인 위치에 배치된, 광축을 중심으로 하는 조리개, 를 가지는 수광광학계, 를 가지는 측정광학계와, 수광소자의 출력을 기초로 안굴절력을 구하는 연산부, 를 가지며, 조리개 사이즈는, 결상광학부재에 의한 조리개의 수광소자 상에서의 투영영역이 광축상에서 소정량 이상 중첩되지 않는 크기로, 또한 측정가능한 가장 큰 강도의 근시안에 측정광을 투사했을 때 조리개의 투영영역 내에 반사광이 결상하는 크기로, 설정되어 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따르면, 피검자안의 안굴절력을 측정하는 안굴절력 측정장치는, 광원을 가지며, 피검자안의 안저에 스폿형상의 측정광을 투사하는 투사광학계와, 광축과, 광축 상에 배치된 수광소자와, 피검자안의 동공과 공역적인 위치에 배치되는 적어도 3 개의 개구와,- 광축을 중심으로 하는 동일 원주상의 적어도 3 경선방향으로 설치되어, 피검자안의 동공주변부를 통한 안저로부터 반사되는 반사광을 통과시키는-, 광축 상에 배치된, 동공주변부와 각 개구를 통한 안저로부터 반사되는 반사광을 광축에서 이격되는 방향으로 편향하여 수광소자 상에 도트형상으로 결상시키는 결상광학부재와, 결상광학부재보다 안측에, 안저와 공역적인 위치에 배치된, 광축을 중심으로 하는 조리개, 를 가지를 수광광학계, 를 가지는 측정광학계와, 수광소자의 출력을 기초로 안굴절력을 구하는 연산부, 를 가지며, 조리개 사이즈는, 결상광학부재에 의한 조리개의 수광소자 상에서의 투영영역끼리 각각 중첩되지 않는 크기로, 또한 측정가능한 가장 큰 도수의 근시안에 측정광을 투사하였을 때 조리개의 투영영역 내에 반사광이 결상하는 크기로 설정되어 있다.
이하, 본 발명에 바람직한 실시예를 도면을 참조하여 설명한다. 도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 안굴절력 측정장치의 광학계 및 제어계의 개략적인 구성 도이다.
측정광학계(10)는, 피검자안(E)의 동공중심부를 통하여 안저(Ef)에 스폿형상의 측정광을 투사하는 투사광학계(10a)와, 안저(Ef)에서 반사되는 반사광을 동공중심부를 통하여 수광하는 수광광학계(10b), 로 구성된다. 투사광학계(10a)는, 측정광축(L1) 상에 배치된, LED나 SLD 등의 적외점 광원(11), 릴레이 렌즈(relay lens)(12), 홀 미러(13), 및 측정용 대물렌즈(14)를 포함한다. 광원(11)은, 안저(Ef)와 광학적으로 공역적인 위치관계가 된다. 또한, 미러(13)의 개구부는, 안(E)의 동공과 광학적 공역적인 위치관계가 된다. 본 명세서에서 말하는 「공역」이라 함은, 엄밀하게 공역일 필요는 없으며, 측정 정밀도와의 관계에서 필요한 정도로 공역이면 좋음을 의미한다.
수광광학계(10b)는, 투사광학계(10a)의 렌즈(14) 및 미러(13)가 공용되며, 미러(13)의 반사방향의 광축(L1) 상에 배치된, 릴레이 렌즈(16) 및 반사미러(17)와, 미러(17)의 반사방향의 광축(L1) 상에 배치된, 수광 조리개(18), 콜리메이터 렌즈(19), 링 렌즈(20), 및 CCD 등의 2차원 수광소자인 촬상소자(22), 를 포함한다. 조리개(18)는, 렌즈(19)의 전측초점(前側焦点)에 위치하며, 촬상소자(22)는, 링 렌즈(20)의 후(後)측초점에 위치한다. 조리개(18) 및 촬상소자(22)는, 안저(Ef)와 광학적 공역적인 위치관계가 된다. 촬상소자(22)의 출력은, 화상처리부(71)를 통해서 연산제어부(70)로 입력된다.
링 렌즈(20)는, 도 2(a),(b)에 도시한 바와 같이, 투명평판 상의 한 측에 원통 렌즈가 링형상으로 형성된 렌즈부(20a)와, 렌즈부(20a)의 링형상 원통렌즈 부분 이외에 설치된 차광용의 코팅에 의한 차광부(20b), 로 구성되어 있다. 그리고, 이러한 구성으로 인해, 링 렌즈(20)에는 링형상의 개구가 형성되어 있다. 또한, 링 렌즈(20)는, 형성된 링형상의 개구가 동공과 광학적으로 공역적인 위치관계을 이룬다. 이 때문에, 안저(Ef)로부터 반사되는 반사광은, 동공주변부를 통하여, 형성된 링형상의 개구에 대응하는 사이즈로 링형상으로 취출(取出)된다. 링 렌즈(20)에 평행광이 입사하면, 그 초점위치에 배치된 촬상소자(22) 상(上)에는, 링형상의 개구와 같은 사이즈의 링상(像)이 결상된다. 즉, 링 렌즈(20)는, 안저(Ef)로부터 반사되는 반사광을 링형상으로 분산하고, 그 집광작용에 의해 촬상소자(22) 상에 링상을 결상하는 결상하는 결상광학부재를 구성한다. 또한, 링 렌즈(20)는, 렌즈부(20a)와 차광부(20b)를 별개의 부재로 구성하여도 좋다.
또한, 바람직하게는, 투사광학계(10a)의 광원(11)과, 수광광학계(10b)의 조리개(18), 렌즈(19), 링 렌즈(2), 촬상소자(22), 는, 이동부(26)에 의해 일체적으로 광축(L1) 방향으로 이동가능하게 되어 있다. 이들의 이동위치(이동량)는, 전위차계(potentiometer)(27)에 의해 검출된다. 또한, 미러(13) 및 링 렌즈(20)는, 그들의 이동량과 관계없이, 일정의 배율로 동공과 광학적으로 공역적인 위치관계를 이룬다.
광원(11)으로부터 나오는 측정광은, 렌즈(12)에서 렌즈(14)를 통해 안저(Ef)에 투사되어, 안저(Ef) 상에 스폿형상의 점광원상(点光源像)을 형성한다. 안저(Ef) 상에 형성된 점광원상의 광은, 반사ㆍ산란되어 안(E)을 사출(射出)하여, 렌즈(14)에 의해 집광되며, 미러(13)의 개구 주변부에서 반사되고, 렌즈(16) 및 미러(17)를 통해서 조리개(18)의 개구면 상에서 다시 집광되고, 렌즈(19)에 의해 대략 평행광이 되어, 링 렌즈(20)에 의해 링형상의 광이 되어, 촬상소자(22)로 수광된다. 투사광학계(10a)에서는 동공중심부를 통해 좁은 측정광을 안저(Ef)로 투사하고, 수광광학계(10b)에서는 안저(Ef)로부터 반사되는 반사광을 동공 주변부를 통해 수광한다(취출한다). 링 렌즈(20)에 의해, 예를 들면, 동공면 상에서 내경 2.0mm, 외경 2.8mm의 링형상의 광이 수광된다(취출된다).
여기서, 안(E)이 정시안(正視眼)인 경우, 촬상소자(22)와 안저(Ef)가 공역관계가 되며, 안저(Ef)로부터 반사되는 반사광은 링 렌즈(20)로 대략 평행광으로서 입사하기 때문에, 촬상소자(22) 상에는 링 렌즈(20)의 링형상의 개구와 같은 사이즈 및 형상의 링상이 결상된다. 한편, 안(E)에 구면굴절 성분의 이상(異常)이 생긴 경우에, 촬상소자(22) 상에는 그 구면굴절 성분오차에 대응하는 사이즈의 링상이 결상된다. 또한, 난시(주면) 굴절성분에 이상이 생긴 경우에는, 촬상소자(22) 상에는 그 난시굴절 성분오차에 대응하는 타원형상의 링상이 결상된다. 따라서, 촬상소자(22) 상에 결상된 링상의 사이즈 및 형상을 해석하는 것에 의해, 각 길이방향의 굴절오차를 구할 수 있고, 이것에 소정의 처리를 수행함으로써, S(구면도수), C(난시(주면)도수), A(난시(주면)축 각도)의 값을 구할 수 있다. 또한, 링상의 사이즈 및 형상은, 링상의 에지위치나, 링상의 광량레벨의 중심위치 혹은 피크위치 등으로부터 구할 수 있다.
또한, 광원(11), 조리개(18), 렌즈(19), 링 렌즈(20), 및 촬상소자(22), 를 일체적으로 광축(L1) 방향으로 이동시켜, 촬상소자(22) 상의 링상이 가장 좁게되거 나 혹은 가장 밝게되거나, 또는 링상의 평균 사이즈가 링 렌즈(20)의 링 사이즈와 같아지게 하여, 광원(11), 조리개(18) 및 촬상소자(22)가 안저(Ef)와 공역적인 위치관계로 되도록 한다. 그리고, 전위차계(potentiometer)(27)에 의해 검출된 이동위치(이동량)를 구면굴절 성분오차로 교환한다. 안(E)의 각 경선방향의 굴절오차는, 이 구면굴절 성분오차와 촬상소자(22) 상의 링상으로부터 구해지는 각 경선방향의 굴절오차와의 합으로서 구해질 수 있다. 이와 같이, 조리개(19)에서 촬상소자(22)까지의 광학계를 안(E)의 굴절오차에 따라서 안저(Ef)와 공역적인 위치로 이동시키는 구성으로 하여, 링상 해석에 있어서 해상도를 떨어뜨리지 않고, 또한, 촬상소자(22)의 수광면의 사이즈를 크게하지 않고, 큰 굴절오차의 측정에 대응할 수 있다.
도 3(a)는 수광광학계(10b)의 일부를 확대한 도이다. 도 3(b)는 촬상소자(22) 상에서의 조리개(18)의 투영영역(18P)을 나타내는 도이다. 또한, 이 조리개(18)의 투영영역(18P)은, 조리개(18)를 미러(17) 측에서 균일하게 조명한 경우에 렌즈(19) 및 링 렌즈(20)를 통해 촬상소자(22) 상에 형성되는 조리개(18)의 투영상의 영역을 나타내는 것이다.
촬상소자(22)의 검출(수광) 범위는, 본 실시예에서는 링 렌즈(20)의 링형상 개구의 직경(Rr)의 2배 이상으로 하고 있다. 여기서, 렌즈(19)의 초점거리를 Fc로 하고, 링 렌즈(20)의 초점거리를 Fr로 하면, 조리개의(18)의 투영배율(β)은
β=-Fr/Fc
로 표현된다. 조리개(18)의 직경(조리개(의 개구) 사이즈)을 D1, 촬상소자 (22) 상에서의 조리개(18)의 투영영역(18P)의 크기(폭)를 D2로 하면,
D2=D1×│β│
의 관계가 된다. 여기서,
D2≤Rr
이 되도록, 조리개(18)의 직경(D1)의 최대 사이즈를 설계한다. 즉,
D1≤Rr/│β│
이 되는 것에 의해, 렌즈(19) 및 링 렌즈(20)에 의해 링형상으로 분리되어 촬상소자(22) 상에 투영되는 조리개(18)의 투영상은, 촬상소자(22)의 수광면의 중심부에서 중첩되지 않게 된다. 바람직하게는,
D1=Rr/│β│
이며, 이것은 정확하게 광축(L1)을 포함하는 영역이다.
도 4는, 조리개(18)의 촬상소자(22) 상에서의 투영영역(18P)과, 안저(Ef)로부터 반사되는 반사광에 의한 촬상소자(22) 상에서의 링상과의 관계를 나타내는 도이다. 20Pr은 링상의 수광레벨의 피크위치를 나타낸다. 조리개(18) 및 촬상소자(22) 등을 광축(L1) 방향으로 이동하지 않은 경우, 링상의 직경은, 안(E)의 구면굴절 성분오차에 비례한 크기가 된다.
링 렌즈(20)는 원형으로, 경선방향의 굴절력만을 갖고 있기 때문에, 촬상소자(22) 상에서의 조리개(18)의 투영영역(18P)은, 광축(L1)을 중심으로 한 내측의 포락선(包絡線)(H1) 및 외측의 포락선(H2)으로 둘러싸여진 영역으로서 표현된다. 조리개(18)의 조리개 사이즈를 작게하면, 내측의 포락선(H1)의 직경은 커지게 되 고, 외측의 포락선(H2)의 직경은 작아지게 된다.
여기서, 투영영역(18P)은, 조리개(18)를 미러(17) 측부터 균일하게 조명한 경우에 촬상소자(22) 상에 형성되는 조리개(18)의 투영상의 영역이기 때문에, 조리개(18)를 통과하는 광은 포락선(H1 및 H2)으로 둘러싸여진 영역 내에서만 존재가능하다. 따라서, 안저(Ef)로부터 반사되는 반사광에 의한 링상은, 그 산란성분도 포함하며, 포락선(H1 및 H2)으로 둘러싸여진 영역 내에서만 존재가능하다.
따라서, 조리개(18)의 최소 사이즈는, 안(E)의 구면굴절 성분오차의 측정가능 범위와의 관계로 결정된다. 즉, 결정가능한 가장 강한 도수의 근시안(예를 들면, -25.0D의 안)을 측정했을 때, 링상(안저(Ef)로부터 반사되는 반사광의 결상위치)이 투영영역(18P) 내에 존재하도록, 조리개(18)의 최소 사이즈를 결정한다. 또한, 측정가능한 가장 강한 도수의 원시안(예를 들면, +25.0D의 안)을 측정했을 때에도, 링상이 투영영역(18P) 내에 존재하도록 한다.
다음으로, 도 5를 참조하여 조리개(18)의 작용에 대해서 설명한다. 도 5(a)는, 조리개(18)를 설치하지 않은 경우에 촬상소자(22)에 있어서 수평 경선방향으로 검출되는 링상의 수광량을 나타내는 도이다. Ka는 링형상의 개구의 왼쪽의 반에 의한 링상의 광량분포를 나타내며, Pa는 그 피크위치를 나타낸다. Kb는 링형상의 개구의 오른쪽의 반에 의한 링상의 광량분포를 나타내며, Pb는 그 피크위치를 나타낸다. 광량분포(Ka 및 Kb)는, 광축(L1)를 넘어서 겹쳐져 있다. Kc는 광량분포(Ka 및 Kb)를 서로 겹친 것이다. 즉, 촬상소자(22) 상에서는, 광량분포(Ka)와 광량분포(Kb)를 구분하지 않고 광량분포(Kc)로서 검출된다. Pca 및 Pcb는, 광축(L1)를 경계 로 나누어진 광량분포(Kc)의 피크위치를 나타낸다. 여기서, 링상의 위치를 검출하기 위한 일반적인 방법으로서, 광량분포의 피크위치를 검출하는 것으로 하면, 피크위치(Pca 및 Pcb)가 검출되어버리고, 본래의 (정)피크위치(Pa 및 Pb)와는 달라진다. 그 결과, 측정결과에 오차가 생겨버린다. 또한, 광량분포의 피크위치를 검출하는 것이 아니라, 예를 들면, 소정의 문턱값을 넘는 2점 간의 중간위치를 검출하는 경우에도, 같은 문제가 생긴다.
이에 대해서, 도 5(b)는, 상기한 바와 같이 결정된 조리개 사이즈를 가지는 조리개(18)를 설치한 경우에 촬상소자(22)에 있어서 수평 경선방향으로 검출되는 링상의 수광량을 나타내는 도이다. 광량분포(Ka 및 Kb)에 대해서, 조리개(18)는 내측의 포락선(H1)을 넘는 부분(Ka에 있어서 점선 Na부분, Kb에 있어서 점선 Nb부분)의 산란광을 사전에 커트한다. 이 때문에, 도 5(a)와 같이 산란광을 포함하는 안저반사광이 겹치는 일이 없다. 따라서, 본래의 피크위치(Pa 및 Pb)를 검출하는 것이 가능하기 때문에, 측정오차가 발생하는 요인이 해소된다.
또한, 측정가능범위를 넓히기 위해서는, 투영영역(18P)이 광축(L1)을 포함하는 것으로 하여, 조리개(18)의 직경(D1)의 최대 사이즈를 D2=Rr이 되도록 하면 바람직하다. 실제로는, 투영영역(18P)이 광축(L1)을 넘어서 다소 중첩되어도, 그 중첩되는 검출광량과 도 5(b)에 있는 본래의 피크위치(Pa 및 Pb)가 각각 검출이 가능하면, 실용상 문제는 없다. 본 발명에 있어서 그 경우도 포함된다.
상기 형태는, 여러가지 변형이 가능하다. 예를 들면, 렌즈(19)와 촬상소자(22) 간에 결상광학부재로서 링 렌즈(20)을 설치하는 대신, 도 6의 수광광학계를 구성하는 것도 가능하다. 도 6에 있어서, 조리개(18)에서 촬상소자(22)까지의 광로에는, 렌즈(19), 동공과 공역적인 위치에 배치되어 동일 원주상에서 적어도 3 경선방향으로 설치된 개구를 가지는 개구부재(30), 각 개구의 위치에 대응하여 배설된 편향 프리즘(31), 결상렌즈(32)가 배치되어 있다. 개구부재(30)의 개구 수는, 예를 들면 6 개이며, 프리즘(31)도 그 6 개의 개구에 대응한 쐐기(wedge) 프리즘이다. 6 개의 개구를 통과한 안저(Ef)로부터 반사되는 반사광은, 각각의 프리즘(31)에 의해 광축(L1)에서 이격되는 방향으로 편향되며, 결상렌즈(32)에 의해 촬상소자(22) 상에서 6 개의 도트 형상으로 결상된다.
이 수광광학계에 있어서는, 렌즈(19)~렌즈(32)의 결상광학부재에 의해, 조리개(18)의 투영상도 광축(L1)으로부터 각각 이격되는 방향으로 투영된다. 도 7은 촬상소자(22) 상에서의 조리개(18)의 투영영역(18P)을 나타내는 도이다. 이 광학계에 있어서는, 이웃하는 투영영역(18P1)끼리 겹쳐지는 않는 크기가 되도록 조리개(18)의 조리개 사이즈를 설정함으로써, 산란광의 영향을 배제하고, 도트 형상의 상(S)를 정밀하게 검출할 수 있다. 이 경우에도, 측정가능한 가장 강한 도수의 근시안을 설정했을 때, 및 가장 강한 도수의 원시안을 측정했을 때, 투영영역(18P1) 내에 상(S)이 결상하는 크기로 설정해 둔다. 나아가, 앞의 예와 마찬가지로, 안의 굴절오차에 따라서 조리개(18)~촬상소자(22)까지의 수광광학계 및 광원(11)을 안저(Ef)와 공역적인 위치로 이동시킴으로써, 상(S)의 검출 해상도를 저하시키지 않고, 큰 굴절오차의 측정에 대응가능하다.
또한, 상술한 본 실시예는, 다음과 같이 변경하여 구체화하는 것도 가능하 다. 예를 들면, 조리개(18)의 형상은, 원형이 아니고 사각형이어도 좋다. 또한, 조리개(18)는, 미러(17)와 렌즈(19) 사이에 있는 안저(Ef)와 공역적인 위치가 아니고, 렌즈(14)와 미러(13) 간의 안저(Ef)와 공역적인 위치에 배치하여도 좋다. 이 경우, 광원(11)으로부터 나오는 측정광을 좁게하여 조리개(18)를 충분히 통과가능하면, 광량손실을 받지 않고, 같은 효과를 올릴 수 있다. 이와 같은 변형에도, 기술사상을 동일하게 하는 범위에 있어서, 본 발명에 포함되는 것이다.
본 발명은 산란광의 영향을 억제하여 정밀도가 높은 측정을 가능하게 하는 안굴절력 측정장치를 제공한다.

Claims (4)

  1. 피검자안의 안굴절력을 측정하는 안굴절력 측정장치에 있어서,
    이하를 가지는 측정광학계와,
    - 광원을 가지며, 피검자안의 안저에 스폿형상의 측정광을 투사하는 투사광학계,
    광축과, 광축 상에 배치된 수광소자와, 피험자안의 동공과 공역적인 위치에 배치되어, 피검자안의 동공주변부를 통한 안저에서 반사되는 반사광을 통과시키는, 광축을 중심으로 하는 링형상의 개구와, 광축상에 배치된, 동공주변부와 링형상의 개구를 통한 안저에서 반사되는 반사광을 수광소자 상에 링형상으로 결상시키는 결상광학부재와, 결상광학부재보다 안측에서, 안저와 공역적인 위치에 배치된, 광축을 중심으로 하는 조리개, 를 가지는 수광광학계-,
    수광소자의 출력을 기초로 안굴절력을 구하는 연산부, 를 가지며,
    조리개 사이즈는, 결상광학부재에 의한 조리개의 수광소자 상에서의 투영영역이 광축상에서 소정량 이상 중첩되지 않는 크기로, 또한 측정가능한 가장 큰 강도의 근시안에 측정광을 투사했을 때 조리개의 투영영역 내에 반사광이 결상하는 크기로, 설정되어 있는, 안굴절력 측정장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 조리개에서 수광소자까지의 광학계를 안의 굴절오차에 따라서 이동시켜, 조리개 및 광학소자를 안저와 공역적인 위치에 배치시키는 이동부 를 더 포함하는, 안굴절력 측정장치.
  3. 피검자안의 안굴절력을 측정하는 안굴절력 측정장치에 있어서,
    이하를 가지는 측정광학계와,
    -광원을 가지며, 피검자안의 안저에 스폿형상의 측정광을 투사하는 투사광학계,
    광축과, 광축 상에 배치된 수광소자와, 피검자안의 동공과 공역적인 위치에 배치되는 적어도 3 개의 개구와,- 광축을 중심으로 하는 동일 원주상의 적어도 3 경선방향으로 설치되어, 피검자안의 동공 주변부를 통한 안저로부터 반사되는 반사광을 통과시키는-, 광축 상에 배치된, 동공주변부와 각 개구를 통한 안저로부터 반사되는 반사광을 광축에서 이격되는 방향으로 편향하여 수광소자 상에 도트형상으로 결상시키는 결상광학부재와, 결상광학부재보다 안측에서, 안저와 공역적인 위치에 배치된, 광축을 중심으로 하는 조리개, 를 가지를 수광광학계-
    수광소자의 출력을 기초로 안굴절력을 구하는 연산부, 를 가지며,
    조리개 사이즈는, 결상광학부재에 의한 조리개의 수광소자 상에서의 투영영역끼리 각각 중첩되지 않는 크기로, 또한 측정가능한 가장 큰 도수의 근시안에 측정광을 투사하였을 때 조리개의 투영영역 내에 반사광이 결상하는 크기로 설정되어 있는, 안굴절력 측정장치.
  4. 제 3 항에 있어서, 조리개부터 수광소자까지의 광학계를 안의 굴절오차에 따 라 이동시켜, 조리개 및 수광소자를 안저와 공역적인 위치에 배치시키는 이동부를 가지는, 안굴절력 측정장치.
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