JPH11225963A - 検眼測定装置 - Google Patents
検眼測定装置Info
- Publication number
- JPH11225963A JPH11225963A JP10048937A JP4893798A JPH11225963A JP H11225963 A JPH11225963 A JP H11225963A JP 10048937 A JP10048937 A JP 10048937A JP 4893798 A JP4893798 A JP 4893798A JP H11225963 A JPH11225963 A JP H11225963A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 不正乱視を含む被検眼のリング像を精度良く
解析して正確な検眼測定を行う。 【解決手段】 ＣＣＤ撮像素子９の素子要素は矩形状と
され、線Ｌ、Ｂ方向に沿って配列されており、フレーム
メモリには画像信号が概略素子要素毎に記憶され、また
信号強度が８ビット程度にデジタル化して記憶される。
演算手段でリング像Ｉ部分の２つの山のピーク位置を演
算し、縦線Ｌ、横線Ｂの各線についてピーク位置を求め
て交点とし、これらの交点を通る曲線を最小二乗法によ
り楕円に回帰して特定して、その楕円の大きさから球面
屈折値、楕円率から乱視度数、楕円主軸方向から乱視軸
角度をそれぞれ求める。
解析して正確な検眼測定を行う。 【解決手段】 ＣＣＤ撮像素子９の素子要素は矩形状と
され、線Ｌ、Ｂ方向に沿って配列されており、フレーム
メモリには画像信号が概略素子要素毎に記憶され、また
信号強度が８ビット程度にデジタル化して記憶される。
演算手段でリング像Ｉ部分の２つの山のピーク位置を演
算し、縦線Ｌ、横線Ｂの各線についてピーク位置を求め
て交点とし、これらの交点を通る曲線を最小二乗法によ
り楕円に回帰して特定して、その楕円の大きさから球面
屈折値、楕円率から乱視度数、楕円主軸方向から乱視軸
角度をそれぞれ求める。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、オートレフラクト
メータ、オートケラトメータ、角膜形状解析装置等に応
用が可能な検眼測定装置に関するものである。
メータ、オートケラトメータ、角膜形状解析装置等に応
用が可能な検眼測定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、被検眼に光束を投影し、その反射
光をリング像としてＣＣＤ撮像素子等のエリアアレイセ
ンサに受光し、そのリング像の形状を演算して屈折力測
定や角膜形状測定を行う装置が、例えば特開昭６３−１
６１９３４号公報に開示されている。
光をリング像としてＣＣＤ撮像素子等のエリアアレイセ
ンサに受光し、そのリング像の形状を演算して屈折力測
定や角膜形状測定を行う装置が、例えば特開昭６３−１
６１９３４号公報に開示されている。
【０００３】この装置では、エリアアレイセンサの信号
をデジタル信号として一旦記憶し、リング像の中心を原
点とする各放射方向の線とリング像との交点からリング
像の形状を決めている。また、リング像上の所定の３本
の平行線の信号を記憶して、リング像との交点から形状
を演算する技術が、特開昭６２−２６０４４号公報に開
示されている。
をデジタル信号として一旦記憶し、リング像の中心を原
点とする各放射方向の線とリング像との交点からリング
像の形状を決めている。また、リング像上の所定の３本
の平行線の信号を記憶して、リング像との交点から形状
を演算する技術が、特開昭６２−２６０４４号公報に開
示されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
従来例の特開昭６３−１６１９３４号公報の装置では、
信号がＸＹ方向に分割して記憶されているために、特定
の放射方向線上に相当する信号がなく、交点の計算を行
う際に精度を向上することができない。
従来例の特開昭６３−１６１９３４号公報の装置では、
信号がＸＹ方向に分割して記憶されているために、特定
の放射方向線上に相当する信号がなく、交点の計算を行
う際に精度を向上することができない。
【０００５】また、特開昭６２−２６０４４号公報の装
置は、平行線と垂直方向のリング像の両端の情報が含ま
れないために、不正乱視眼の解析等に限界がある。
置は、平行線と垂直方向のリング像の両端の情報が含ま
れないために、不正乱視眼の解析等に限界がある。
【０００６】本発明の目的は、上述の問題点を解消し、
不正乱視を含む被検眼のリング像を精度良く解析して正
確な検眼測定を行う検眼測定装置を提供することにあ
る。
不正乱視を含む被検眼のリング像を精度良く解析して正
確な検眼測定を行う検眼測定装置を提供することにあ
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明に係る検眼測定装置は、被検眼に光束を投影
し、被検眼からの反射光をエリアアレイセンサにリング
像として受光し、該リング像の形状を解析して検眼測定
を行う検眼測定装置において、前記エリアアレイセンサ
上のアレイ配列方向と直交する複数の線と前記リング像
との交点の位置から前記リング像の形状を特定して検眼
測定を行うことを特徴とする。
の本発明に係る検眼測定装置は、被検眼に光束を投影
し、被検眼からの反射光をエリアアレイセンサにリング
像として受光し、該リング像の形状を解析して検眼測定
を行う検眼測定装置において、前記エリアアレイセンサ
上のアレイ配列方向と直交する複数の線と前記リング像
との交点の位置から前記リング像の形状を特定して検眼
測定を行うことを特徴とする。
【０００８】
【発明の実施の形態】本発明を図示の実施例に基づいて
詳細に説明する。図１は実施例の構成図を示し、光路O1
上には被検眼Ｅの正視眼底Ｒと共役な測定用光源１、レ
ンズ２、角膜Ｃと共役な中心開口絞り３、孔あきミラー
４、対物レンズ５が順次に配列されており、孔あきミラ
ー４の反射方向である光路O2上には角膜Ｃと共役なリン
グ絞り６、逆円錐状のプリズム７、レンズ８、正視眼底
Ｒと共役なエリアアレイセンサであるＣＣＤ撮像素子９
が配列されている。ＣＣＤ撮像素子９の出力はフレーム
メモリ１０、演算手段１１に順次に接続されている。
詳細に説明する。図１は実施例の構成図を示し、光路O1
上には被検眼Ｅの正視眼底Ｒと共役な測定用光源１、レ
ンズ２、角膜Ｃと共役な中心開口絞り３、孔あきミラー
４、対物レンズ５が順次に配列されており、孔あきミラ
ー４の反射方向である光路O2上には角膜Ｃと共役なリン
グ絞り６、逆円錐状のプリズム７、レンズ８、正視眼底
Ｒと共役なエリアアレイセンサであるＣＣＤ撮像素子９
が配列されている。ＣＣＤ撮像素子９の出力はフレーム
メモリ１０、演算手段１１に順次に接続されている。
【０００９】測定用光源１からの光束は、レンズ２、中
心開口絞り３、孔あきミラー４、対物レンズ５を介し
て、被検眼Ｅの瞳孔Ｐの中心から眼底Ｒに点状光束とし
て投影される。眼底Ｒからの反射光は対物レンズ５を通
って孔あきミラー４で反射し、リング絞り６、プリズム
７、レンズ８を通り、瞳孔Ｐの周辺を通った光束により
ＣＣＤ撮像素子９上に図２に示すようなリング像を結像
する。このとき、被検眼Ｅの屈折度によりリング像の大
きさが変わり、乱視があるときはリング像は楕円とな
り、不正乱視があると中心非対称なリング像となる。Ｃ
ＣＤ撮像素子９の信号は一旦フレームメモリ１０に記憶
され、演算手段１１で形状が解析されて屈折値が算出さ
れる。
心開口絞り３、孔あきミラー４、対物レンズ５を介し
て、被検眼Ｅの瞳孔Ｐの中心から眼底Ｒに点状光束とし
て投影される。眼底Ｒからの反射光は対物レンズ５を通
って孔あきミラー４で反射し、リング絞り６、プリズム
７、レンズ８を通り、瞳孔Ｐの周辺を通った光束により
ＣＣＤ撮像素子９上に図２に示すようなリング像を結像
する。このとき、被検眼Ｅの屈折度によりリング像の大
きさが変わり、乱視があるときはリング像は楕円とな
り、不正乱視があると中心非対称なリング像となる。Ｃ
ＣＤ撮像素子９の信号は一旦フレームメモリ１０に記憶
され、演算手段１１で形状が解析されて屈折値が算出さ
れる。
【００１０】図２はＣＣＤ撮像素子９上のリング像Ｉと
解析に使用する縦線Ｌ及び横線Ｂを示している。ＣＣＤ
撮像素子９の素子要素は矩形状とされ、線Ｌ、Ｂ方向に
沿って配列されている。フレームメモリ１０には画像信
号が概略素子要素毎に記憶され、また信号強度は８ビッ
ト程度にデジタル化して記憶される。
解析に使用する縦線Ｌ及び横線Ｂを示している。ＣＣＤ
撮像素子９の素子要素は矩形状とされ、線Ｌ、Ｂ方向に
沿って配列されている。フレームメモリ１０には画像信
号が概略素子要素毎に記憶され、また信号強度は８ビッ
ト程度にデジタル化して記憶される。
【００１１】図３はフレームメモリ１０に記憶された横
線B1の信号を示し、横軸は素子要素の横方向位置、縦軸
は信号強度即ち受光光強度である。演算手段１１により
リング像Ｉ部分の２つの山のピーク位置を演算する。縦
線Ｌ、横線Ｂの各線について、このようにピーク位置を
求めて交点とし、これらの交点を通る曲線を最小二乗法
により楕円に回帰して特定する。この楕円の大きさか
ら、球面屈折値、楕円率から乱視度数、楕円主軸方向か
ら乱視軸角度をそれぞれ求める。全周を１つの楕円に回
帰したときは全経線方向の平均的な屈折値が求まり、１
／２周や１／４周を等部分的にそれぞれの楕円に回帰す
れば、それらの値により定量的に不正乱視が解析でき
る。
線B1の信号を示し、横軸は素子要素の横方向位置、縦軸
は信号強度即ち受光光強度である。演算手段１１により
リング像Ｉ部分の２つの山のピーク位置を演算する。縦
線Ｌ、横線Ｂの各線について、このようにピーク位置を
求めて交点とし、これらの交点を通る曲線を最小二乗法
により楕円に回帰して特定する。この楕円の大きさか
ら、球面屈折値、楕円率から乱視度数、楕円主軸方向か
ら乱視軸角度をそれぞれ求める。全周を１つの楕円に回
帰したときは全経線方向の平均的な屈折値が求まり、１
／２周や１／４周を等部分的にそれぞれの楕円に回帰す
れば、それらの値により定量的に不正乱視が解析でき
る。
【００１２】リング像Ｉの縦線Ｌと傾斜が近い円周部分
は横線Ｂにより位置を検出し、また横線Ｂと傾斜が近い
円周部分は縦線Ｌにより位置を検出し、縦線Ｌと横線Ｂ
によって全円周をカバーするようにする。線の数は多い
ほど精度が良くなるので、素子要素のピッチで計算する
ことが好ましい。
は横線Ｂにより位置を検出し、また横線Ｂと傾斜が近い
円周部分は縦線Ｌにより位置を検出し、縦線Ｌと横線Ｂ
によって全円周をカバーするようにする。線の数は多い
ほど精度が良くなるので、素子要素のピッチで計算する
ことが好ましい。
【００１３】角膜形状測定の場合には、レンズ５の円周
に複数のリング光源を設け、このリング光源からの光束
を角膜Ｃに投影し、前眼部を撮像してそのリング像を解
析する。角膜Ｃを連続した一般曲面と見做し、リング像
Ｉの部分毎に多項式で回帰し、リング像Ｉの形状を特定
して角膜形状を解析する。
に複数のリング光源を設け、このリング光源からの光束
を角膜Ｃに投影し、前眼部を撮像してそのリング像を解
析する。角膜Ｃを連続した一般曲面と見做し、リング像
Ｉの部分毎に多項式で回帰し、リング像Ｉの形状を特定
して角膜形状を解析する。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る検眼測
定装置は、エリアアレイセンサ上のアレイ配列方向に直
交する複数の線とリング像との交点位置から、リング像
の形状を特定して検眼測定を行うことにより、不正乱視
を含む被検眼のリング像を精度良く解析して正確な測定
を行うことができる。
定装置は、エリアアレイセンサ上のアレイ配列方向に直
交する複数の線とリング像との交点位置から、リング像
の形状を特定して検眼測定を行うことにより、不正乱視
を含む被検眼のリング像を精度良く解析して正確な測定
を行うことができる。
【図１】実施例の構成図である。
【図２】リング像の説明図である。
【図３】リング像信号のグラフ図である。
１ 測定用光源 ３ 中心開口絞り ４ 孔あきミラー ６ リング絞り ７ プリズム ９ ＣＣＤ撮像素子 １０ フレームメモリ １１ 演算手段
Claims (1)
- 【請求項１】 被検眼に光束を投影し、被検眼からの反
射光をエリアアレイセンサにリング像として受光し、該
リング像の形状を解析して検眼測定を行う検眼測定装置
において、前記エリアアレイセンサ上のアレイ配列方向
と直交する複数の線と前記リング像との交点の位置から
前記リング像の形状を特定して検眼測定を行うことを特
徴とする検眼測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10048937A JPH11225963A (ja) | 1998-02-13 | 1998-02-13 | 検眼測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10048937A JPH11225963A (ja) | 1998-02-13 | 1998-02-13 | 検眼測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11225963A true JPH11225963A (ja) | 1999-08-24 |
Family
ID=12817190
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10048937A Pending JPH11225963A (ja) | 1998-02-13 | 1998-02-13 | 検眼測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11225963A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001269315A (ja) * | 2000-03-27 | 2001-10-02 | Canon Inc | 眼科装置 |
| US7275825B2 (en) | 2004-06-02 | 2007-10-02 | Nidek Co., Ltd. | Eye refractive power measurement apparatus |
| US7316480B2 (en) | 2003-09-30 | 2008-01-08 | Nidek Co., Ltd. | Eye refractive power measurement apparatus |
| US7416301B2 (en) | 2003-12-25 | 2008-08-26 | Nidek Co., Ltd. | Eye refractive power measurement apparatus |
-
1998
- 1998-02-13 JP JP10048937A patent/JPH11225963A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001269315A (ja) * | 2000-03-27 | 2001-10-02 | Canon Inc | 眼科装置 |
| JP4545871B2 (ja) * | 2000-03-27 | 2010-09-15 | キヤノン株式会社 | 眼科装置 |
| US7316480B2 (en) | 2003-09-30 | 2008-01-08 | Nidek Co., Ltd. | Eye refractive power measurement apparatus |
| US7416301B2 (en) | 2003-12-25 | 2008-08-26 | Nidek Co., Ltd. | Eye refractive power measurement apparatus |
| US7275825B2 (en) | 2004-06-02 | 2007-10-02 | Nidek Co., Ltd. | Eye refractive power measurement apparatus |
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