JPH0933396A - レンズメーター - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 １個の光源でかつ低コストで機械的駆動部を
必要とせずしかも被検レンズの面の各位置の度数分布を
短時間で測定できるレンズメーターを提供する。 【解決手段】 本発明に係わるレンズメーターは、ＬＥ
Ｄ１からの光束を被検レンズ４に入射させ、被検レンズ
４を透過後の集光光束Ｐｉの変位量を受光センサ８によ
り検出し、この検出結果に基づいて被検レンズ４の前側
の面４ａの各位置における度数を測定することにより度
数分布が測定可能であり、二次元的に配列された多数の
微小レンズ３ａを有するマイクロレンズアレイ３がＬＥ
Ｄ１と被検レンズ４との間に配設されている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光源部からの光束
を被検レンズに入射させ、この被検レンズ透過後の光束
の変位量を受光センサにより検出し、この検出結果に基
づいて被検レンズの面の各位置における度数を測定する
ことにより度数分布を測定可能としたレンズメーターの
改良に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来から、被検レンズを検者がレンズ受
けにセットし、光源部からの光束を被検レンズに入射さ
せ、この被検レンズ透過後の光束の変位量を受光センサ
により検出し、この検出結果に基づいて被検レンズの面
のその位置における度数を測定するレンズメーターが知
られている。近年、眼鏡レンズとして累進多焦点レン
ズ、遠用非球面レンズが広く普及しつつあり、これに伴
って、被検レンズの面の各位置での度数の変化を測定す
ること、すなわち、度数分布を測定することが要望され
ているが、この従来のレンズメーターでは、検者が手動
で逐一被検レンズを光軸と直交する面内で移動させて、
その位置における度数の読み取りを行っている。

【０００３】また、この種のレンズメーターには被検レ
ンズをレンズ受けに対して駆動させる機構のものもあ
る。更に、被検レンズに平行光束を投射し、この被検レ
ンズを透過した光線の変位に基づくモアレ縞を観測する
ことにより被検レンズの二次元の度数分布を測定するレ
ンズメーターも知られている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、検者が
手動で被検レンズを移動させて面の各位置での度数を測
定する従来のレンズメーターでは、安価ではあるが測定
に手間がかかるという問題がある。また、被検レンズを
光軸と直交する面内で自動的に移動させる駆動機構を有
するレンズメーターは、機械的構成が複雑となりかつ高
価であるという問題点を有する。更に、モアレ縞を観測
することにより度数分布を測定するレンズメーターで
は、大口径のレンズを必要とするうえ、モアレ縞の解析
に時間がかかり、迅速に度数分布を測定できないという
問題がある。

【０００５】そこで、光源部の個数を１個とし、複数個
のピンホールを有するマスクを用いて、複数の光源部を
疑似的に生成することも考えられるが、ピンホール以外
の箇所は光源部からの光束がマスクにより遮光されるた
め、被検レンズ、ひいては受光センサに達する光量が著
しく減少し、Ｓ／Ｎ比の劣化を招き、検出困難な状況を
呈するに至り易く、検出困難な状況に至らないまでも検
出に時間が概してかかる。

【０００６】本発明は、上記各種の事情に鑑みて為され
たもので、その目的とするところは、低コストで機械的
駆動部を必要とせずしかも被検レンズの面の各位置の度
数分布を短時間で測定できるレンズメーターを提供する
ことを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明に係わる請求項１
に記載のレンズメーターは、上記の課題を解決するた
め、光源部からの光束を被検レンズに入射させ、該被検
レンズ透過後の光束の変位量を受光センサにより検出
し、この検出結果に基づいて前記被検レンズの面の各位
置における度数を測定することにより度数分布を測定可
能としたレンズメーターにおいて、二次元的に配列され
た多数の微小レンズを有するマイクロレンズアレイが前
記光源部と前記被検レンズとの間に配設されている。こ
の請求項１に記載の発明では、１個の光源部からの光束
が多数の微小レンズにより多数の集光光束として被検レ
ンズの面の各位置に投光される。各微小レンズの配設位
置と被検レンズの集光光束の入射側の面の入射位置との
間に一対一の対応関係がつけられるので、被検レンズの
入射瞳における度数分布が測定される。被検レンズが眼
鏡用の累進多焦点レンズなどの場合、その測定位置を規
定するマーク、印点は被検レンズの前側の面（発明の実
施の形態の欄に定義を記載した）に施されるので、印
点、マークとの対応関係を容易につけることができる。

【０００８】請求項２に記載のレンズメーターは、前記
各微小レンズから出射された各光束を透過・遮断する透
過・遮断領域を有する光束選択手段が前記マイクロレン
ズアレイと前記光源部との間に配設されている。請求項
３に記載のレンズメーターは、前記各微小レンズから出
射された各光束を透過・遮断する透過・遮断領域を有す
る光束選択手段が前記マイクロレンズアレイと前記被検
レンズとの間で前記マイクロレンズアレイの直後に配設
されている。

【０００９】被検レンズの度数によっては、被検レンズ
の前側の面での光束入射位置と受光センサ上での光束到
達位置とが一の集光光束と他の集光光束とで逆転するこ
とがあるが、この請求項２、３に記載の構成によれば、
透過・遮断領域を所定の手順に従って開閉することによ
り、各微小レンズから出射された集光光束とその受光セ
ンサ上での到達位置とを確実に対応させることができ
る。

【００１０】本発明に係わる請求項４に記載のレンズメ
ーターは、上記の課題を解決するため、光源部からの光
束を被検レンズに入射させ、該被検レンズ透過後の光束
の変位量を受光センサにより検出し、この検出結果に基
づいて前記被検レンズの面の各位置における度数を測定
することにより度数分布を測定可能としたレンズメータ
ーにおいて、二次元的に配列された多数の微小レンズを
有する２個のマイクロレンズアレイが前記光源部と前記
被検レンズとの間に互いに間隔を開けて配設され、該２
個のマイクロレンズアレイの間に、前記各微小レンズか
ら出射された各光束を透過・遮断する透過・遮断領域を
有する光束選択手段が配設されている。

【００１１】この請求項４に記載のレンズメーターによ
れば、請求項２、３に記載の発明とほぼ同様の作用に加
えて、個々の透過・遮断領域を小さくでき、透過・遮断
が高速で切り換えられ、測定時間の短縮ができる。

【００１２】本発明の請求項５に記載のレンズメーター
は、光源部からの光束を被検レンズに入射させ、該被検
レンズ透過後の光束の変位量を受光センサにより検出
し、この検出結果に基づいて前記被検レンズの面の各位
置における度数を測定することにより度数分布を測定可
能としたレンズメーターにおいて、前記各微小レンズの
近傍に絞りが設けられていることを特徴とする。

【００１３】この請求項５に記載のレンズメータによれ
ば、隣接する各微小レンズからの散乱光が受光センサ上
に達し、Ｓ／Ｎ比が劣化するのを防止できる。すなわ
ち、微小レンズの結像条件に従わない光線が受光センサ
に混在するのを防止できる。

【００１４】本発明の請求項６に記載のレンズメーター
は、光源部からの光束を被検レンズに入射させ、該被検
レンズ透過後の光束の変位量を受光センサにより検出
し、この検出結果に基づいて前記被検レンズの面の各位
置における度数を測定することにより度数分布を測定可
能としたレンズメーターにおいて、二次元的に配列され
た多数の微小レンズを有するマイクロレンズアレイが前
記光源部と前記被検レンズとの間に配設され、前記光源
部は複数個の光源を有し、各光源は前記微小レンズに対
応させて配列されていることを特徴とする。

【００１５】請求項７に記載のレンズメーターは、測定
光軸近傍に微小レンズの個数が少なくとも３個以上のマ
イクロレンズアレイを設け、測定光軸中心の値を求める
ことを特徴とする。

【００１６】この請求項７に記載のレンズメーターによ
れば、従来のレンズメーターに較べて光学素子のコスト
が安価となる。例えば、被検レンズの面の測定範囲を５
ｍｍのみとすると、少なくとも３個の微小レンズを有す
るマイクロレンズアレイば良く、その光学系の小型化を
図ることができ、従来のレンズメータの光学系より大幅
に安価な構成とすることができる。

【００１７】請求項８に記載のレンズメーターは、二次
元的に配列された複数個の微小レンズを有するマイクロ
レンズアレイが光源部と被検レンズとの間に配設されて
いる。

【００１８】この構成によれば、被検レンズが眼鏡用レ
ンズの場合、その測定位置を規定するマーク、印点は被
検レンズの前側の面に施されるので、印点、マークとの
対応関係を容易につけることができる。この場合、被検
レンズ上での光束の透過範囲が３ｍｍ以下となるように
微小レンズが構成されていても良い。

【００１９】

【発明の実施の形態】

【００２０】

【発明の実施の形態１】図１は本発明の実施の形態１に
係わるレンズメーターの光学系を示し、この図１におい
て、１はタングステンランプからなる光源、２はコリメ
ーターレンズ、３はマイクロレンズアレイ、４は被検レ
ンズ、５はレンズ受け、６はリレーレンズ、７はＣＣＤ
カメラ、７ａはＣＣＤカメラ７のレンズ、８はＣＣＤカ
メラ７の受光センサである。タングステンランプ１の直
前方には絞り９、フィルタ９´が設けられ、タングステ
ンランプ１、絞り９、フィルタ９´、コリメータレンズ
２は１個の光源部を構成している。フィルタ９´はｅ線
近傍の波長の光を透過し、ｅ線以外の光線を遮光する。
タングステンランプ１から出射された光束はコリメータ
ーレンズ２により平行光束とされて、マイクロレンズア
レイ３に導かれる。このマイクロレンズアレイ３は二次
元的に配列された多数の微小レンズ３ａを有する。この
微小レンズ３ａは図２の（イ）に示すような球面レン
ズ、（ニ）に示すようなフレネルレンズであっても良
く、微小レンズ３ａの外形は（イ）に示すような円形、
（ロ）に示すような六角形状、（ハ）に示すような矩形
状のいずれでも良い。各微小レンズ３ａは実質的に同一
の焦点距離を有し、各微小レンズ３ａの個数は約１００
０個であり、平行光束に基づきこの分に相当する集光光
束Ｐｉを生成する。被検レンズ４はマイクロアレイレン
ズ３の後側焦点位置近傍に位置されている。ここで、被
検レンズ４の前側の面４ａとは、眼鏡レンズを意味する
ときは装用した時に眼から遠い側の面を云う。裏側の面
４ｂとは、眼鏡レンズを意味するときは装用した時に眼
に近い側の面を云う。眼鏡レンズを製作する際、印点は
前側の面４ａに施されている。

【００２１】被検レンズ４にはその微小レンズ３ａに対
応する光源像が形成される。この被検レンズ４を透過し
た各光束Ｐｉはリレーレンズ６を介してＣＣＤカメラ７
のレンズ７ａに導かれ、ＣＣＤからなる受光センサ８に
結像される。被検レンズ４に入射する各微小レンズ３ａ
からの集光光束の主光線Ｐｓは光軸Ｏと平行である。こ
の主光線Ｐｓは被検レンズ４を透過後に偏向され、その
偏向の度合は入射高さｈ（被検レンズ４のその面４ａの
主光線Ｐｓの入射位置）とその入射位置における被検レ
ンズ４の度数とによって定まる。

【００２２】面４ａの各点における度数Ｓ（単位：ディ
オプター）は、透過後の主光線Ｐｓの偏向角をθとする
と、 Ｓ＝tan θ／（１０ｈ） …（１） である。

【００２３】各微小レンズ３ａに基づく主光線Ｐｓの高
さは既知であり、受光センサ８上での高さをｈｉ、リレ
ー倍率をβ、被検レンズ４の裏側の面４ｂからリレーレ
ンズ６までの距離をＺとすると、 θ＝tan^-1｛（ｈ−βｈｉ）／Ｚ｝ …（２） の関係式があるので、受光センサ８上での未知の高さｈ
ｉを求めれば、偏向角θが求められ、従って、度数Ｓが
（１）式により最終的に求まる。

【００２４】例えば、レンズ受け５に被検レンズ４がセ
ットされていない場合には、受光センサ８上に図３の
（イ）に示すように各微小レンズ３ａに対応した各光点
像３ａ´が形成される。この図３（イ）に示す各光点像
３ａ´の間隔ｄ´を基準として、被検レンズ４が正の球
面度数を有する場合には、図３（ロ）に示すように間隔
ｄ´よりも小さな間隔を有する各光点像３ａ´が受光セ
ンサ８上に形成され、被検レンズ４が負の球面度数を有
する場合には、間隔ｄ´よりも大きな間隔を有する各光
点像３ａ´が図３（ハ）に示すように形成され、被検レ
ンズ４が乱視用レンズの場合には、図２（イ）に示すよ
うに全体として正方形の頂点位置に配列された微小レン
ズ３ａによって形成される各光点像３ａ´の全体形状が
図３（ニ）に示すように歪んで平行四辺形状を呈し、被
検レンズ４が累進多焦点レンズの場合には、各光点像３
ａ´が図３（ホ）に示すように図３（ロ）と図３（ニ）
とが混合したものでかつ近用部程下方にち密となり、被
検レンズ４が偏心している場合、被検レンズ４がプリズ
ムである場合には図３（ヘ）に示すように光点像３ａ´
の全体形状が受光センサ８の中央からずれ、被検レンズ
４が強度の負のレンズの場合には、図３（ト）に示すよ
うに各光点像３ａ´の間隔が広がって、その周辺部の各
光点像３ａ´が受光センサ８上からはみ出すこととな
る。

【００２５】被検レンズ４のパワーが大きい場合には、
言い替えると、焦点距離の短い被検レンズ４の場合に
は、各微小レンズ３ａの中心から中心までの間隔（レン
ズ間距離）ｄ（図２（イ）参照）を大きくとり、単位面
積当りの各微小レンズ３ａの密度を小さくすれば、ある
いは、リレーレンズ６を被検レンズ４に近接して配置す
れば（リレーレンズ６を光軸Ｏに沿って可動の構成とし
て近接させる配置とすれば）、一の集光光束Ｐｉと他の
集光光束Ｐｉとを交差させることなく受光センサ８上に
導くことができ、例えば、図２（イ）に示す（ｎ，ｍ）
番目の微小レンズ３ａの集光光束を、図３（イ）に示す
受光センサ８の（ｎ，ｍ）番目の位置に確実に対応させ
ることができ、各微小レンズ３ａの間隔ｄは既知の値で
あるので、受光センサ８に複数の光束が同時に入射して
も、被検レンズ４の前側の面４ａでの入射位置（高さ
ｈ）を知ることができる。つまり、リレーレンズ６を光
軸Ｏに沿って可動させる構成とすることによりダイナミ
ックレンジが大きくなる。

【００２６】

【発明の実施の形態２】図４は本発明の実施の形態２に
係わるレンズメーターの光学系を示し、この発明の実施
の形態２においては、光束選択手段としての液晶シャッ
ター１０をマイクロレンズアレイ３とタングステンラン
プ１との間に、ここではコリメータレンズ２とマイクロ
レンズアレイ３との間に配設する構成としたものであ
る。液晶シャッター１０は、図５に示すように、各微小
レンズ３ａから出射された各光束を透過・遮断する透過
・遮断領域１０ａを有する。この液晶シャッター１０
は、図示を略す駆動回路によってその透過・遮光領域１
０ａが図５に示すように所定の順番で開閉される。この
透過・遮光領域１０ａの面積は各微小レンズ３ａの面積
に実質的に等しい。その図５において、符号１０ｂで示
す斜線領域は透過・遮光領域が閉じられていることを示
す。

【００２７】被検レンズ４のパワーが大きい場合には、
各微小レンズ３ａの中心から中心までの間隔（レンズ間
距離）ｄを小さくし、単位面積当りの各微小レンズ３ａ
の密度を大きくすると、集光光束Ｐｉが交差して受光セ
ンサ８上に導かれ、（ｎ，ｍ）番目の微小レンズ３ａの
光束が受光センサ８の（ｎ，ｍ）番目の位置に対応しな
くなる場合が生じるが、この液晶シャッター１０を用い
て、順番に透過・遮光領域１０ａを矢印方向に開成さ
せ、受光センサ８に光束を入射させることにすれば、被
検レンズ４とリレーレンズ６との間の距離Ｚ、微小レン
ズ３ａ間の距離ｄを変更しなくとも、受光センサ８上の
光束の位置と被検レンズ４の前側の面４ａでの入射位置
との間に対応関係をつけることができる。

【００２８】特に、被検レンズ４とリレーレンズ６との
間の距離Ｚを小さくすると、単位度数当りの受光センサ
８面上での光点像３ａ´の変位量が小さくなって測定精
度が低下するが、この発明の実施の形態２によれば、被
検レンズ４のパワーが大きい場合でも、被検レンズ４と
リレーレンズ６との間の距離Ｚを測定精度が低下しない
程度に大きく維持しつつ受光センサ８上の光束の位置と
被検レンズ４の前側の面４ａでの入射位置との間に対応
関係をつけることができる。また、微小レンズ３ａ間の
距離ｄを大きくすると、測定範囲（測定視野）内の光点
像３ａ´の個数が減少するので、同様に測定精度の低下
につながるが、この発明の実施の形態２によれば、これ
も解消できる。

【００２９】液晶シャッター１０の透過・遮光領域１０
ａの開成は、上述したように順番に行う他、以下に説明
する方法を採用できる。

【００３０】例えば、図６（イ）に示すように、透過・
遮光領域１０ａを同時に市松模様状に開成し、次に、透
過・遮光領域１０ａを閉じ、斜線領域１０ｂを同時に開
成させて、受光センサ８上の全光点像３ａ´を採取して
も良い。また、図６（ロ）に示すように、透過・遮光領
域１０ａの間隔を大きく開けても良く、被検レンズ４が
図３（ト）に示す強度の負のレンズ、強度のプリズムの
ような場合で、周辺部の光点像３ａ´が受光センサ８か
らはみ出しているときには、図６（ハ）に示すように一
度中央の透過・遮光領域１０ａを開成させ、この光点像
３ａ´に対応する微小レンズ３ａの位置を確かめ、これ
を基準として、全開あるいは図６（イ）、図６（ロ）に
示すように透過・遮光領域１０ａを開成させて測定を行
っても良い。

【００３１】また、被検レンズ４が＋２５ディオプタの
時に集光光束が交差しない間隔を開けて透過・遮断領域
１０ａを開成させ、次に、図６（ニ）に示すように、中
央付近の３個以上の透過・遮断領域１０ａを仮測定し、
この仮測定された被検レンズ４の度数に応じて、液晶シ
ャッタ１０の開閉方法を変更しても良い。

【００３２】例えば、被検レンズ４が強度の正の球面レ
ンズの場合には、図６（ロ）に示す開閉方法を採用し、
中度の正の球面レンズ、弱中度の正の球面レンズの場合
には図６（イ）に示す開閉方法を採用し、弱度の正の球
面レンズ、負の球面レンズの場合には、一度に液晶シャ
ッタ１０の全透過・遮断領域１０ａを開成する。要する
に、被検レンズ４の面４ａの光束の入射位置と受光セン
サ８上での光束位置とを時間的、空間的に対応つけるよ
うにすることができれば良い。

【００３３】この発明の実施の形態２によれば、マイク
ロレンズアレイ３とコリメータレンズ２との間に液晶シ
ャッター１０を配設する構成としたが、マイクロレンズ
アレイ３と被検レンズ４との間でマイクロレンズ３の直
後に配設しても良い。

【００３４】なお、透過・遮断領域１０ａを図６（二）
に示すように、中央（光軸Ｏに相当）を境に対称形に４
個開成した場合には、通常のレンズメーターとして使用
することができる。

【００３５】

【発明の実施の形態３】図７は本発明の実施の形態３に
係わるレンズメーターの光学系を示し、この発明の実施
の形態３においては、コリメーターレンズ２と被検レン
ズ４との間に２個のマイクロレンズアレイ３、１１を互
いに間隔を開けて配設し、マイクロレンズアレイ３の後
側焦点位置に液晶シャッター１０を配置する構成とした
ものである。ここでは、マイクロレンズアレイ１１は微
小レンズ１１ａを有し、各微小レンズ１１ａは各微小レ
ンズ３ａにそれぞれ対応され、光源部と被検レンズ４と
が共役となるようにアレイレンズ１１を配設する。

【００３６】この発明の実施の形態３によれば、光束の
集束箇所に透過・遮光領域１０ａが設けられているの
で、透過・遮光領域１０ａの面積を発明の実施の形態２
の場合に較べて小さくでき、従って、迅速に透過・遮断
の切り替えを行うことができるという効果を奏する。

【００３７】

【発明の実施の形態４】図８は図１、図４、図７に示す
マイクロレンズアレイに絞り１２を設けたもので、絞り
１２は各微小レンズ１３ａに対応する各開口１２ａを有
する。絞り１２は各開口１２ａ以外の領域は遮光部とな
っている。この絞り１２は、図１に示す光学系の場合に
は、図８（イ）に示すようにマイクロレンズアレイ３と
コリメータレンズ２との間でマイクロレンズアレイ３の
直前に設けても良く、また、図８（ロ）に示すようにマ
イクロレンズアレイ３と被検レンズ４との間でマイクロ
レンズアレイ３の直後に設けても良い。また、絞り１２
は図４に示す光学系の場合には液晶シャッター１０とマ
イクロレンズアレイ３との間に設けるか、又はでマイク
ロレンズアレイ３の直後に設ける。更に、図７に示す光
学系の場合には、マイクロレンズアレイ３、マイクロレ
ンズアレイ１１の近傍に設ける。また、マイクロレンズ
アレイ３をホトエッチング法により形成する場合には、
絞り１２の遮光部１２ｂ（第８図（ハ）参照）をホトエ
ッチングの過程においてマイクロレンズアレイ３に直接
形成しても良い。

【００３８】このレンズメータによれば、隣接する各微
小レンズ３ａからの散乱光が受光センサ８上に達して受
光センサ８上に光線の点像が形成されるのを防止でき
る。すなわち、微小レンズ３ａの結像条件に従わない光
線の点像が受光センサ８に混在するのを防止できる。

【００３９】

【発明の実施の形態５】図９は本発明の実施の形態５に
係わるレンズメーターの光学系を示し、この発明の実施
の形態５においては、光源部を複数個（例えば、１００
０個）のＬＥＤ１３により構成することとしたもので、
各ＬＥＤ１３はマイクロレンズアレイ３の微小レンズ３
ａに対応させて配列されている。

【００４０】この実施例によれば、各ＬＥＤ１３を順番
に点灯させて、光点像３ａ´の位置を測定できるので、
液晶シャッタ１０を使用しなくとも液晶シャッタ１０を
有するものと同様に各微小レンズ３ａと光点像３ａ´と
の対応関係をつけることができる。液晶シャッタ１０を
用いない分だけ光量損失を防止できる。

【００４１】

【発明の実施の形態６】図１０（イ）又は図１０（ロ）
は本発明の実施の形態６に係わるレンズメーターの光学
系を示し、この発明の実施の形態６においては、微小レ
ンズ３ａの個数を３個とし、測定光軸近傍の５ｍｍ範囲
に光束を投影して従来と同様に測定光軸中心の平均的な
度数を求めることとしたものであり、図１０（イ）は光
源部にタングステンランプ１を設け、絞り９、フィルタ
１０´を介して出射された光束をリレーレンズにより平
行光束として出射させ、微小レンズ３ａ´により３本の
光束を被検レンズ４に照射した実施例を示し、図１０
（ロ）は光源部に３個のＬＥＤ１３を３個の微小レンズ
３ａ´にそれぞれ対応させる構成として、微小レンズ３
ａ´により３本の光束を被検レンズ４に照射した実施例
を示したものである。

【００４２】このレンズメーターによれば、従来のレン
ズメーターに較べて光学素子のコストが大幅に安価とな
り、かつ、小型化も図ることができる。この発明の実施
の形態６においては、被検レンズ４上での光束の透過範
囲を５ｍｍ以下としたが、コンタクトレンズの場合には
３ｍｍ以内であることが望ましい。なお、この微小レン
ズ３ａの個数は３個に限る必要はなく４個以上であって
も良い。

【００４３】

【発明の効果】本発明の請求項１ないし請求項４に記載
のレンズメーターによれば、１個の光源でかつ低コスト
で機械的駆動部を必要とせずしかも被検レンズの面の各
位置の度数分布を短時間で測定できる。

【００４４】本発明の請求項５に記載のレンズメーター
によれば、隣接する各微小レンズからの散乱光が受光セ
ンサ上に達するのを防止し、Ｓ／Ｎ比が劣化するのを防
止できる。

【００４５】本発明の請求項６に記載のレンズメーター
によれば、液晶シャッタを用いない分だけ光量損失を防
止できる。

【００４６】本発明の請求項７に記載のレンズメーター
によれば、従来のレンズメーターに較べて光学素子のコ
ストが大幅に安価となり、かつ、小型化を図ることがで
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 発明の実施の形態１に係わるレンズメータの
光学系を示す図である。

【図２】 図１に示すマイクロレンズアレイの形状を説
明する平面図であって全て凸レンズであり、（イ）は微
小レンズが円形の球面凸レンズである場合、（ロ）は微
小レンズが六角形状の球面凸レンズである場合、（ハ）
は微小レンズが矩形状の球面凸レンズである場合、
（ニ）は微小レンズがフレネルレンズである場合をそれ
ぞれ示す。

【図３】 図１に示す光学系により受光センサ上に形成
される光点像の説明図で、（イ）はレンズがセットされ
ていないときの光点像の説明図、（ロ）は被検レンズが
正の球面レンズである場合の光点像の説明図、（ハ）は
被検レンズが負の球面レンズである場合の光点像の説明
図、（ニ）は被検レンズが乱視用レンズである場合の光
点像の説明図、（ホ）は被検レンズが累進多焦点レンズ
である場合の光点像の説明図、（ヘ）は被検レンズが偏
心している場合、プリズムである場合の光点像の説明
図、（ト）は被検レンズが強度の負のレンズである場合
の光点像の説明図である。

【図４】 発明の実施の形態２に係わるレンズメータの
光学系を示す図である。

【図５】 図４に示す液晶シャッタの平面図である。

【図６】 図４に示す液晶シャッタの開閉方法の説明図
で、（イ）は市松模様に透過・遮断領域を開閉した状態
を示し、（ロ）は間隔を開けて透過・遮断領域を開閉し
た状態を示し、（ハ）は中央のみの透過・遮断領域を開
閉した状態を示し、（ニ）は中央の左右上下対称位置に
ある４個の透過・遮断領域を開閉した状態を示す。

【図７】 発明の実施の形態３に係わるレンズメータの
光学系を示す図である。

【図８】 発明の実施の形態４に係わるレンズメータの
マイクロレンズアレイを示し、（イ）はマイクロレンズ
アレイの直前近傍に絞りを設けた例を示し、（ロ）はマ
イクロレンズアレイの直後近傍に絞りを設けた例を示
し、（ハ）はマイクロレンズアレイそのものに絞りを設
けた例を示している。

【図９】 発明の実施の形態５に係わるレンズメータの
光学系を示す図である。

【図１０】 発明の実施の形態６に係わるレンズメータ
の説明図であって、（イ）は光源部にタングステンラン
プを設け、絞り、フィルタを介して出射された光束をリ
レーレンズにより平行光束として出射させ、微小レンズ
により３本の光束を被検レンズに照射した実施例を示
し、（ロ）は光源部に３個のＬＥＤを３個の微小レンズ
にそれぞれ対応させる構成として、微小レンズにより３
本の光束を被検レンズに照射した実施例を示す。

【符号の説明】

１…タングステンランプ ２…コリメータレンズ ３…マイクロレンズアレイ ３ａ…微小レンズ ４…被検レンズ ８…受光センサ

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光源部からの光束を被検レンズに入射さ
   せ、該被検レンズ透過後の光束の変位量を受光センサに
   より検出し、この検出結果に基づいて前記被検レンズの
   面の各位置における度数を測定することにより度数分布
   を測定可能としたレンズメーターにおいて、 二次元的に配列された多数の微小レンズを有するマイク
   ロレンズアレイが前記光源部と前記被検レンズとの間に
   配設されているレンズメーター。
2. 【請求項２】 前記各微小レンズから出射された各光束
   を透過・遮断する透過・遮断領域を有する光束選択手段
   が前記マイクロレンズアレイと前記光源部との間に配設
   されている請求項１に記載のレンズメーター。
3. 【請求項３】 前記各微小レンズから出射された各光束
   を透過・遮断する透過・遮断領域を有する光束選択手段
   が前記マイクロレンズアレイと前記被検レンズとの間で
   前記マイクロレンズアレイの直後に配設されている請求
   項１に記載のレンズメーター。
4. 【請求項４】 光源部からの光束を被検レンズに入射さ
   せ、該被検レンズ透過後の光束の変位量を受光センサに
   より検出し、この検出結果に基づいて前記被検レンズの
   面の各位置における度数を測定することにより度数分布
   を測定可能としたレンズメーターにおいて、 二次元的に配列された多数の微小レンズを有する２個の
   マイクロレンズアレイが前記光源部と前記被検レンズと
   の間に互いに間隔を開けて配設され、該２個のマイクロ
   レンズアレイの間に、前記各微小レンズから出射された
   各光束を透過・遮断する透過・遮断領域を有する光束選
   択手段が配設されているレンズメーター。
5. 【請求項５】 光源部からの光束を被検レンズに入射さ
   せ、該被検レンズ透過後の光束の変位量を受光センサに
   より検出し、この検出結果に基づいて前記被検レンズの
   面の各位置における度数を測定することにより度数分布
   を測定可能としたレンズメーターにおいて、 前記各微小レンズに対応した絞りが設けられていること
   を特徴とするレンズメーター。
6. 【請求項６】 光源部からの光束を被検レンズに入射さ
   せ、該被検レンズ透過後の光束の変位量を受光センサに
   より検出し、この検出結果に基づいて前記被検レンズの
   面の各位置における度数を測定することにより度数分布
   を測定可能としたレンズメーターにおいて、 二次元的に配列された多数の微小レンズを有するマイク
   ロレンズアレイが前記光源部と前記被検レンズとの間に
   配設され、前記光源部は複数個の光源を有し、各光源は
   前記微小レンズに対応させて配列されていることを特徴
   とするレンズメーター。
7. 【請求項７】 測定光軸近傍に少なくとも３個以上の微
   小レンズを有するマイクロレンズアレイを設け、測定光
   軸中心の値を求めることを特徴とするレンズメーター。
8. 【請求項８】 二次元的に配列された複数個の微小レン
   ズを有するマイクロレンズアレイが光源部と被検レンズ
   との間に配設されているレンズメーター。
9. 【請求項９】 前記被検レンズ上での光束の透過範囲が
   ３ｍｍ以下となるように前記微小レンズが構成されてい
   る請求項８に記載のレンズメーター。