SU1191872A1 - Способ определени положени плоскости наводки зеркального фотоаппарата - Google Patents

Abstract

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛОЖЕНИЯ ПЛОСКОСТИ НАВОДКИ ЗЕРКАЛЬНОГО ФОТОАППАРАТА , заключающийс  в том. что совмещают плоскость наводки коллиматора с плоскостью изображени  ориентированного на бесконечность объектива, наблюдают изображение тест-объекта, производ т наводку на резкое изображение его посредством оптического сопр жени  -плоскости наводки фотоаппарата с плоскостью наводки коллиматора, отличающийс  тем, что, с целью повьгшени  точности, изображени  тестобъекта в виде световых полос, образованных при просвечивании микрорастра , наблюдают через коллиматор, при этом микрорастр, расположенный в плоскости наводки фотоаппарата, просвечивают в направле.нии, обратном ходу лучей коллиматора.

Description

W

ЧЧЧЧЧ 1

OD

00 1С

Фие. 1 9

11

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике дл  испытани  зеркальных фотоаппаратов, в частности дл  определени  рассто ни  от фокальной плоскости,установленноно на бесконечность объектива фотоаппарата до плоскости наводки, центральна  часть поверхности которой снабжена микрорастром.

Известен способ определени  положени  плоскости наводки зеркального фотоаппарата с помощью контрольного устройства (длиннофокусного ко- лиматора), плоскость сетки (мира) которого в начальном положении от- счетной шкалы совмещена с фокальной плоскостью его объектива,

В известном способе прозвод т оптическое сопр жение плоскости наводки с плоскостью установки сетки (миры ) контрольного устройства путем изменени  рассто ни  между плоскостью сетки и фокальной плоскостью объектива контрольного устройства с последующим отсчетом по шкале коллиматора рассто ни  между плоскостью наводки и фокальной плоскостью объектива фотоаппарата. При оптическом сопр жении плоскостей наблюдают резкое изображение -сетки через лупу, расположенную за мостовой пластиной Е 1.

Недостатком известного способа  вл етс  низка  точность определени  положени  плоскости наводки, котора  обусловлена большой глубиной резкости изображаемого пространства лупы увеличени  8-10 и, следовательно, низкой чувствительностью продольного наведени  на резкость, изображени  сетки (миры).

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому  вл етс  способ определени  положени  плоскости наводки зеркального аппарата, заключающийс  в том, что совмещают плоскость наводки коллиматора с плоскостью изображени  ориентированного на бесконечность объектива фотоаппарата , в плоскости наводки которого располагают поверхность наводки, наблюдают изображени  тест-объекта (миры), установленного в плоскости наводки коллиматора, производ т наводку на резкое изображение миры посредством оптического сопр жени  плоскости наводки объектива фотоапп

722

рата с плоскостью наводки коллиматора С23.

О/лнако данный способ имеет принципиальные ограничени  повьш1ени  точности из-за уменьшени  глубины резкости оптической системы наблюдени  изображени  тест-объекта, особенно в случае контрол  зеркальных фотоаппаратов , в центральной части поверхности наводки которых расположен микрорастр , представл ющий собой систему микропирамид.

Это вызвано тем, что наклонные поверхности микропирамид микрорастра

действуют как оптические клинь  при прохождении лучей, участвующих в построении изображени  сетки (миры), и внос т в оптическое изображение значительные искажени  (нерезкость,

размытость, хроматизм и т.п.). Эти искажени  при больших увеличени х, требующихс  дл  обеспечени  малой глубины резкости, достигают значительной величины и изображение становит-

с  настолько расплывчатым и окрашенным , что невозможно наведение на его резкость и проведение измерений при использовании оптических систем наблюдени , обеспечивающих глубину рез-

кости менее 10 мкм, дл  повьш1ени  точности измерений.

Целью изобретени   вл етс  повышение точности определени  положени  плоскости наводки зеркального

фотоаппарата, в центральной части поверхности которой расположен микрорастр .

Указанна  цель достигаетс  тем,

что по способу определени  положени  плоскости наводки зеркального фотоаппарата, заключающемус  в том, что совмещают плоскость наводки коллиматора с плоскостью изображени 

ориентированного на бесконечность объектива, наблюдают изображение тест-объекта, производ т наводку на резкое изображение его посредством оптического сопр жени  плоскости наводки фотоаппарата с плоскостью наводки коллиматора, изображени  тестобъекта в виде световых полос, образованных при просвечивании микрорастра , наблюдают через коллиматор,

при этом микрорастр, расположенный в плоскости наводки фотоаппарата, просвечивают в направлении, обратном ходу лучей коллиматора. На фиг. 1 показана схема устрой ства дл  реализации способа; на фиг. 2 узел I на фиг. 1. Устройство, реализующее предлага емый способ, включает источник 1 света, установленный за линзой Френел  2 в канале визировани  испыту емого зеркального фотоаппарата 3. Линза Френел  2 имеет микрорастр 4 центре матовой поверхности а, обра щенной к зеркалу 5 фотоаппарата 3 и  вл ющейс  поверхностью наводки, котора  в отъюстированном фотоаппа рате 3 должна совпадать с фокаль ной плоскостью фотообъектива 6, ус тановленного на бесконечность. Beличину несовпадени  поверхности а наводки с фокальной плоскостью опре дел ют с помощью оптического контрольного устройства (коллиматора), состо щего из длиннофокусного объек тива 7, положение которого вдоль оп тической оси может быть отсчитано по шкале 8, и сетки 9, установленно в плоскости наводки коллиматора, наблюдаемой с помощью окул ра IО или с помощью оптической системы ми роскопа (не показан ). При просвечивании микрорастра 4 источника 1 света в направлении зер кала 5 после прохождени  света через микрорастр 4 по вл ютс   ркие световые полосы (не показано), обра зование которых происходит следующи образом. Микрорастр 4 зеркального фотоаппарата 3 представл ет собой систему микропирамидок 1I, расположенных в центре матовой поверхности а,  вл ющейс  поверхностью навод ки фотоаппарата, при этом вершины б пересечени  наклонных поверхностей в микропирамидок 11 наход тс  в пл кости, совмещенной с матовой поверх ностью а. Поскольку кажда  микропирамидка имеет округлени  радиусом г в верши нах г, то каждый участок двугранного угла отдельной микропирамидки 11 ограниченный с одной стороны на дуге АВ радиусом t- округлени , ас другой плоской поверхностью д, де ствует как цилиндрическа  микролин- зочка, задн   главна  плоскость Н которой согласно законам геометриче кой оптики совпадает с вершиной г округлени . При освещении со стороны плоскости д световые лучи при прохождении цилиндрических микролин- зочек микрорастра 4 фокусируютс  в их фокусах и образуют  ркие световые полосы на рассто нии 5р, г/п-1 от вершин t округлений (fi 1,5 - показатель преломлени  материала растра 4 ; и на рассто нии и от вершин . При значени х г, не превьпаающих 1,5- 2 мкм (с погрешностью 4 1,2 мкм, пренебрежимо малой дл  точности юстировки и контрол  зеркальных фотоаппаратов ), можно считать, что плоскость, в которой образуютс   ркие световые полосы, совпадает с поверхностью а плоскости наводки зеркального фотоаппарата 3, а наведение на резкость изображени  полос можно использовать дл  наведени  на поверхность а плоскости наводки. При определении положени  плоскости наводки зеркального фотоаппарата просвечивают источником 1 света мик- рорастр 4 в направлении зеркала 5 фотоаппарата 3, проецируют объективами 6 и 7 световые полосы (не показано ), образуемые микрорастром 4 при при просвечивании, в плоскость наводки (плоскость установки сетки 9 ) коллиматора , котора  в начальном положении отсчетной шкалы 8 совпадает с фокальной плоскостью объектива 6, затем производ т оптическое сопр жение поверхности а плоскости наводки фотоаппарата 3 с плоскостью наводки контрольного устройства (коллиматора ) путем изменени  рассто ни  между плоскостью наводки коллиматора и фокальной плоскостью объектива 7 коллиматора с целью наведени  на резкость изображени   рких световых полос, образованных при просвечивании микрорастра в направлении, обратном ходу лучей коллиматора, наблюдаемых со стороны коллиматора в плоскости наводки последнего. После этого по шкале 8 контрольного устройства производ т регистрацию величины рассто ни  между поверхностью а плоскости наводки фотоаппарата и фокальной плоскостью объектива 6 фотоаппарата 3. Таким образом, при использовании в качестве изображени  тест-объекта  рких световых полос, в образовании которых не участвуют лучи, прошедшие через плоские наклонные поверхности микропирамидок растра и внос щие наибольшие искажени  при проецировании увеличенного оптического изобра-

жени  полос в плоскости наводки контрольного устройства коллиматора, обеспечиваетс  возможность создани  оптической системы контрольного уст ройства , глубина резкости и увеличение изображени  световых полос которого не менее чем на пор док более высоки, чем в приборах , использующих известный метод .

Claims (1)

1. СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛОЖЕНИЯ ПЛОСКОСТИ НАВОДКИ ЗЕРКАЛЬНОГО ФОТОАППАРАТА, заключающийся в том, что совмещают плоскость наводки коллиматора с плоскостью изображения ориентированного на бесконечность объектива, наблюдают изображение тест-объекта, производят наводку на резкое изображение его посредством оптического сопряжения плоскости наводки фотоаппарата с плоскостью наводки коллиматора, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, изображения тестобъекта в виде световых полос, образованных при просвечивании микрорастра, наблюдают через коллиматор, при этом микрорастр, расположенный в плоскости наводки фотоаппарата, просвечивают в направлении, обратном ходу лучей коллиматора.

   Фиг. 1