KR20050055227A - 펄스 폭 제어 회로 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (8)
- 칩셋으로부터 입력된 명령에 의해 동작 주파수에 따른 다수의 CAS 레이턴시를 세팅하는 수단; 및상기 다수의 CAS 레이턴시에 따른 지연 시간을 이용하여 가변적인 폭을 갖는 펄스를 생성하는 펄스 생성 회로로 이루어진 펄스 폭 제어 회로.
- 제 1 항에 있어서, 상기 펄스 생성 회로는 다수의 제어 신호에 따라 펄스를 생성하기 위한 펄스 생성부;상기 펄스 생성부로부터 생성된 상기 펄스를 래치하기 위한 래치;상기 래치로부터 출력된 신호를 상기 다수의 CAS 레이턴시에 따른 지연 시간을 이용하여 지연시켜 펄스의 폭을 조절하기 위한 펄스 폭 조절부; 및상기 래치로부터 출력된 신호 및 상기 펄스 지연부를 통해 지연된 상기 신호를 조합하기 위한 논리 수단으로 구성된 펄스 폭 제어 회로.
- 제 2 항에 있어서, 상기 펄스 생성 회로는 상기 신호 생성부로부터 생성된 상기 펄스를 지연시키기 위한 다수의 지연 수단을 더 포함하는 펄스 폭 제어 회로.
- 제 2 항에 있어서, 상기 신호 생성부는 제 1 제어 신호 및 제 2 제어 신호를 입력하기 위한 NAND 게이트; 및상기 NAND 게이트의 출력 신호와 제 3 및 제 4 제어 신호를 입력하여 펄스를 생성하기 위한 NOR 게이트로 구성된 펄스 폭 제어 회로.
- 제 2 항에 있어서, 상기 펄스 폭 조절부는 상기 래치로부터 출력된 상기 신호를 지연시키기 위한 다수의 지연 수단; 및상기 다수의 지연 수단의 출력 단자에 각각 접속되며, 상기 모드 레지스터 셋으로부터 입력된 각각의 CAS 레이턴시에 따라 구동되어 지연 경로를 설정하기 위한 다수의 스위칭 수단으로 구성된 펄스 폭 제어 회로.
- 제 5 항에 있어서, 상기 스위칭 수단은 상기 다수의 CAS 레이턴시를 각각 반전시키기 위한 다수의 인버터; 및상기 다수의 CAS 레이턴시 및 상기 다수의 인버터의 출력 신호에 따라 각각 구동되는 다수의 전달 게이트로 구성된 펄스 폭 제어 회로.
- 제 2 항에 있어서, 상기 논리 수단은 NAND 게이트인 펄스 폭 제어 회로.
- 칩셋으로부터 입력된 명령에 따라 다수의 CAS 레이턴시를 세팅하는 수단;다수의 제어 신호에 따라 펄스를 생성하기 위한 펄스 생성부;상기 펄스 생성부로부터 생성된 상기 펄스를 래치하기 위한 래치;상기 래치로부터 출력된 신호를 상기 다수의 CAS 레이턴시에 따른 지연 시간을 이용하여 지연시켜 동작 주파수에 따라 가변적으로 펄스의 폭을 조절하기 위한 펄스 폭 조절부; 및상기 래치로부터 출력된 신호 및 상기 펄스 폭 조절부의 출력 신호를 조합하기 위한 논리 수단으로 구성된 펄스 폭 제어 회로.
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---|---|---|---|---|
KR100766385B1 (ko) * | 2006-10-13 | 2007-10-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 데이터 라이팅 회로 |
KR100784919B1 (ko) * | 2006-11-13 | 2007-12-11 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연 고정 루프 초기화 신호 발생장치 |
KR100818102B1 (ko) * | 2006-12-15 | 2008-03-31 | 주식회사 하이닉스반도체 | 컬럼 어드레스 선택 신호 발생 회로 |
KR100948080B1 (ko) * | 2008-06-30 | 2010-03-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 소자 |
KR100956778B1 (ko) * | 2008-08-12 | 2010-05-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 집적회로의 지연 장치 |
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---|---|---|---|---|
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US7319355B2 (en) * | 2006-01-03 | 2008-01-15 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Pulse generator |
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Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3444975B2 (ja) * | 1994-07-18 | 2003-09-08 | 富士通株式会社 | パルス幅伸長回路 |
KR100224718B1 (ko) | 1996-10-30 | 1999-10-15 | 윤종용 | 동기식 메모리장치의 내부 클락 발생기 |
JPH10228772A (ja) * | 1997-02-18 | 1998-08-25 | Mitsubishi Electric Corp | 同期型半導体記憶装置 |
KR100274602B1 (ko) * | 1997-11-20 | 2000-12-15 | 윤종용 | 동기형 메모리 장치 |
KR100311044B1 (ko) | 1999-10-05 | 2001-10-18 | 윤종용 | 클럭 주파수에 따라 레이턴시 조절이 가능한 레이턴시 결정 회로 및 레이턴시 결정 방법 |
JP3535788B2 (ja) * | 1999-12-27 | 2004-06-07 | Necエレクトロニクス株式会社 | 半導体記憶装置 |
KR100445062B1 (ko) * | 2001-11-02 | 2004-08-21 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체메모리장치의 클럭발생회로 |
KR100446291B1 (ko) * | 2001-11-07 | 2004-09-01 | 삼성전자주식회사 | 카스 레이턴시를 이용하여 락킹 레졸루션 조절이 가능한지연동기 루프 회로 |
KR100546213B1 (ko) * | 2003-12-05 | 2006-01-24 | 주식회사 하이닉스반도체 | 컬럼 어드레스 선택 신호의 펄스 폭 제어 회로 |
-
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-
2004
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100766385B1 (ko) * | 2006-10-13 | 2007-10-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 데이터 라이팅 회로 |
KR100784919B1 (ko) * | 2006-11-13 | 2007-12-11 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연 고정 루프 초기화 신호 발생장치 |
KR100818102B1 (ko) * | 2006-12-15 | 2008-03-31 | 주식회사 하이닉스반도체 | 컬럼 어드레스 선택 신호 발생 회로 |
KR100948080B1 (ko) * | 2008-06-30 | 2010-03-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 소자 |
US8149636B2 (en) | 2008-06-30 | 2012-04-03 | Hynix Semiconductor Inc. | Semiconductor memory device with pulse width determination |
KR100956778B1 (ko) * | 2008-08-12 | 2010-05-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 집적회로의 지연 장치 |
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