KR200476090Y1 - 핀 블록 오토 얼라인 장치 - Google Patents

Abstract

본 고안은 핀 블록 오토 얼라인 장치에 관한 것으로 더욱 상세하게는 전자기기에 사용되는 연성회로기판이나 투명전도성 패턴이 형성된 기판 등의 통전유무 등의 검사를 위하여 검사시료의 커넥터를 연속하여 핀블록에 형성된 커넥터 단자에 에 삽입하는 과정에서 검사시료가 이동하여 커넥터 단자에 안착되는 과정에서 검사시료의 위치가 변형되어 커넥터 단자에 정확히 안착이 안되는 경우 자동적으로 핀블록을 이동시켜 검사시료의 커넥터를 핀블록의 커넥터 단자에 정확히 삽입될 수 있도록 유도하는 핀 블록 오토 얼라인 장치에 관한 것이다.

Description

핀 블록 오토 얼라인 장치{Pin Block Auto Align Equipment}

본 고안은 핀 블록 오토 얼라인 장치에 관한 것으로 더욱 상세하게는 전자기기에 사용되는 연성회로기판이나 투명전도성 패턴이 형성된 기판 등의 통전유무 등의 검사를 위하여 검사시료의 커넥터를 연속하여 핀블록에 형성된 커넥터 단자에 에 삽입하는 과정에서 검사시료가 이동하여 커넥터 단자에 안착되는 과정에서 검사시료의 위치가 변형되어 커넥터 단자에 정확히 안착이 안되는 경우 자동적으로 핀블록을 이동시켜 검사시료의 커넥터를 핀블록의 커넥터 단자에 정확히 삽입될 수 있도록 유도하는 핀 블록 오토 얼라인 장치에 관한 것이다.

일반적으로 연성회로기판의 회로 패턴 말단에 접촉핀 커넥터를 검사장치에 형성된 커넥터 단자에 접촉시켜 회로의 쇼트(short)/오픈(open)에 따른 불량여부를 신속하게 판단해서 불량 시 해당 불량 내용을 모니터에 표시하고 프린트하는 비비티(BBT, Bare Board Test) 공정을 실시하고 있다.

이때 비비티 공정이 올바르게 진행되기 위해서는 검사품의 커넥터와 커넥터 단자의 접촉이 정밀하면서도 신속하게 이루어지도록 함으로써 검사품질 및 검사에 소요되는 시간을 단축시킬 수 있는 기술의 개발이 요구된다.

도 1은 종래 검사장치의 핀블록에 형성된 커넥터 단자의 개략도이다.

도시한 바와 같이 플레이트(1) 상면에 핀블록(2)이 고정볼트(3)로 고정설치되고 그 상부로 검사시료(4)의 커넥터(5)가 이송되어 안착됨을 알 수 있다.

상기와 같은 구성에 의하여 검사시료가 불량한 위치로 이송된 경우 커넥터(5)가 커넥터 단자에 안착되는 위치가 변형된 상태에서 검사시료가 가압됨으로서 검사시료의 커넥터에 가성불량이 발생되는 일이 빈번하게 발생하였다.

이와 관련하여,

특허등록 제10-1186204호(2012년 09월 20일) 연성회로기판 검사 장치는,

SMD형 커넥터를 가지는 연성회로기판의 전자회로가 정상적으로 작동하는지를 검사하는 연성회로기판 검사 장치로서,

상기 연성회로기판의 헤더 커넥터 단자와 암수 연결되는 검사 소켓을 포함하는 제1 검사 PCB;

상기 연성회로기판 및 상기 제1 검사 PCB가 안착되는 안착부재; 및

상기 제1 검사 PCB 상면의 상기 검사 소켓 외곽에 돌출되도록 배치되어서 상기 헤더 커넥터가 안착된 커넥터 안착부를 포함하며, 상기 커넥터 안착부 중앙부에는 상기 헤더 커넥터 단자가 관통되는 관통홀이 형성된 제1 가이드 블록;을 포함하며,

상기 커넥터 안착부의 돌출되는 두께는, 상기 연성회로기판의 헤더 커넥터 단자가 상기 검사 소켓에 결합 시에 전기적 연결은 유지되면서도 상기 헤더 커넥터 단자의 선단부가 상기 검사 소켓의 내측부에 이격되도록 삽입되는 가결합 상태를 유지하는 범위 내에서 이루어지는 것을 특징으로 한다.

그러나, 이와 같은 종래의 연성회로기판 검사 장치는 헤드 커넥터 단자가 검사소켓 단자에 정확히 삽입되지 못하는 경우 가성불량이 발생될 수 있는 문제점이 있다.

본 고안은 상기와 같은 사정을 고려하여 이루어진 것으로, 본 고안의 목적은 전자기기에 사용되는 연성회로기판이나 투명전도성 패턴이 형성된 기판 등의 통전검사를 위하여 검사시료의 커넥터를 연속하여 핀 블록에 형성된 커넥터 단자에 삽입하는 과정에서 검사시료가 커넥터 단자에 안착을 위하여 이동하는 과정에서 안착위치가 변형되더라도 변형된 위치 만큼 핀블록이 이동하여 정확한 검사위치로 유도할 수 있는 구성을 제공함으로써 검사중 검사시료에 발생될 수 있는 가성불량의 발생을 방지할 수 있는 새로운 형태의 핀 블록 오토 얼라인 장치를 제공함에 있다.

이와 같은 목적을 달성하기 위하여,

본 발명의 일 형태에 따르면,

핀 블록이 위치되는 상면에 여러 개의 암나사공(11)이 형성된 플레이트(10);

상기 플레이트(10)의 상면에 이동가능하게 밀착되며 상부와 하부에 각각 확장부(22)가 형성된 여러 개의 관통공(21)이 상기 암나사공(11)과 동일선상에 위치되는 베이스(20);

상기 관통공(21)의 하부 확장부(22)에 끼움되는 여러 개의 탄성오링(30);

상기 베이스(20)의 상부 확장부(22)에 볼트머리(41)가 위치되고 볼트(42)가 관통공(21)을 관통하여 플레이트(10)의 암나사공(11)에 나사체결되는 고정볼트(40);

상기 베이스(20)의 상면에 조립되며 상면에 커넥터 단자(51)가 전기적으로 연결되는 기판(50);을 포함하여 이루어짐을 특징으로 한다.

상기 탄성오링(30)은 합성수지 또는 고무재질의 탄성을 갖는 재질로 형성됨을 특징으로 한다.

상기 탄성오링(30)은 원형 또는 타원형 또는 각형 중에서 선택되는 하나의 단면을 갖음을 특징으로 한다.

이상과 같이 본 고안에 따른 핀 블록 오토 얼라인 장치는 연성회로기판이나 투명전도성 패턴이 형성된 기판 등의 통전검사를 위하여 기판의 커넥터를 핀블록에 형성된 커넥터 단자에 안착시키는 과정에서 안착되는 커넥터가 커넥터 단자에 정확히 안착되지 못하더라고 내부에 형성된 고무 오링의 변형됨과 탄성을 이용하여 상부에 안착된 핀블록을 이동시킴으로서 커넥터를 커넥터 단자의 정위치로 안착을 유도함으로써 통전검사가 가성불량 없이 원만하게 이루어져 검사품질 및 검사효율을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

도 1은 종래의 핀블럭을 나타낸 개략도
도 2는 본 고안에 따른 핀 블록 오토 얼라인 장치의 사시도
도 3은 본 고안에 따른 핀 블록 오토 얼라인 장치의 분해 사시도
도 4는 본 고안에 따른 핀 블록 오토 얼라인 장치의 결합된 상태의 단면도

이하, 본 고안이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본 고안의 실시예에 대하여 첨부한 도면을 참고로 하여 상세히 설명한다. 그러나 본 고안은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.

다음 본 고안의 실시 예를 도면에 의거하여 구체적으로 설명한다.

도 2는 본 고안에 따른 핀 블록 오토 얼라인 장치의 사시도이고, 도 3은 본 고안에 따른 핀 블록 오토 얼라인 장치의 분해 사시도이며, 도 4는 본 고안에 따른 핀 블록 오토 얼라인 장치의 결합된 상태의 단면도이다.

도시한 바와 같이 본 고안에 따른 핀 블록 오토 얼라인 장치(100)는 검사장치(미도시)의 플레이트(10) 상면에 안착되는 베이스(20)와 상기 베이스(20)의 상면에 조립되는 기판(50) 및 상기 기판(50)의 상면에 조립되며 전기적으로 연결되는 커넥터 단자(51)로 구성된다.

또한, 상기 베이스(20)의 내부에 형성된 관통공(21)의 확장부(22)에는 탄성오링(30)이 끼움된다.

상기 플레이트(10)는 검사장치(미도시) 중 핀블록이 조립되는 위치에 형성되는 것으로 여러 개의 암나사공(11)이 형성된다.

상기 베이스(20)는 상기 플레이트(10)의 상면에 바닥면이 미끄럼 이동가능하게 안착되며 내부에 형성된 여러 개의 관통공(21)이 플레이트(10)의 암나사공(11)과 동일선상에 위치되도록 형성되며 가장자리로 여러 개의 연결공(23)이 일체로 형성된다.

또한, 상기 관통공(21)의 상부와 하부에는 관통공(21)의 지름보다 확장된 확장부(22)를 형성하고 하부에 형성된 확장부(22)에 탄성오링(30)을 끼움한다.

상기 기판(50)은 상기 베이스(20)의 상면에 밀착되고 가장자리에 형성된 관통공(53)에 베이스(20)의 연결공(23)이 연통되게 위치한 상태에서 볼트(52)로 나사체결하여 기판(50)과 베이스(20)를 견고하게 조립하며 상면 중앙부분에 커넥터 단자(51)가 전기적으로 연결된다.

상기 탄성오링(30)은 합성수지 또는 고무재질의 충격이나 눌림에 원상복귀성을 갖는 재질로 형성하며, 원형 또는 타원형 또는 각형 등의 단면을 갖는다.

상기와 같이 구성된 본 고안에 따른 핀 블록 오토 얼라인 장치의 동작과정을 도 4를 참조하여 구체적으로 설명하면 다음과 같다.

도 4에 도시한 바와 같이 베이스(20)의 관통공(21) 하부에 형성된 확장부(22)에 원상복귀성을 갖는 탄성오링(30)을 삽입한 상태에서 플레이트(10)에 안착한다.

이때, 플레이트(10)에 형성된 암나사공(11)과 베이스(20)에 형성된 관통공(21)이 동일선상에 위치하며, 고정볼트(40)를 관통공(21)에 삽입하고 플레이트(10)의 암나사공(11)에 나사체결한다.

상기와 같이 플레이트(10)와 베이스(20)가 조립됨으로써 베이스(20)는 고정볼트(40)의 볼트(42) 지름보다 크게 형성된 관통공(21)의 지름에 따라 형성된 간격만큼 이동범위(A)가 형성된다.

즉, 베이스(20)는 상기 이동범위(A)의 공간 내에서 전후좌우 이동할 수 있게 형성되며 이동한 후에는 베이스(20)의 하부에 형성된 탄성오링(30)에 의하여 원상태의 위치로 복귀된다.

상기와 같은 구성의 탄성오링(30)이 삽입된 베이스(20)와 플레이트(10) 및 상기 플레이트(10)와 베이스(20)를 연결하는 고정볼트(40)의 구성에 의하여 베이스(20)의 상부에 조립되는 커넥터 단자(51)는 전후좌우 이동이 가능하게 형성됨으로써 커넥터 단자(51)로 착탈되는 커넥터(5)의 착탈위치가 변형되어 유입되더라도 베이스(20)가 이동하며 커넥터(5)를 유도함으로써 커넥터(5)에 가성불량 발생 없이 커넥터 단자(51)로 안전하게 삽입될 수 있으며 이러한 이동 후 베이스(20)는 원상태로 복귀함으로써 다음 시료의 검사가 원활하게 이루어질 수 있는 것이다.

또한, 상기 베이스(20)의 이동은 고정볼트(40)의 나사체결 상태를 조절하여 슬라이딩을 조절할 수 있다.

본 고안은 첨부된 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 설명한 것이나, 당해 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자들에게는 다양한 변형 및 다른 실시예가 가능하다는 점이 이해될 것이다.

10 : 플레이트 11 : 암나사공
20 : 베이스 21 : 관통공
22 : 확장부 23 : 연결공
30 : 탄성오링 40 : 고정볼트
41 : 볼트머리 42 : 볼트
50 : 기판 51 : 커넥터 단자

Claims (3)

1. 핀 블록이 위치되는 상면에 여러 개의 암나사공(11)이 형성된 플레이트(10);
   상기 플레이트(10)의 상면에 이동가능하게 밀착되며 상부와 하부에 각각 확장부(22)가 형성된 여러 개의 관통공(21)이 상기 암나사공(11)과 동일선상에 위치되는 베이스(20);
   상기 관통공(21)의 하부 확장부(22)에 끼움되는 여러 개의 탄성오링(30);
   상기 베이스(20)의 상부 확장부(22)에 볼트머리(41)가 위치되고 볼트(42)가 관통공(21)을 관통하여 플레이트(10)의 암나사공(11)에 나사체결되는 고정볼트(40);
   상기 베이스(20)의 상면에 조립되며 상면에 커넥터 단자(51)가 전기적으로 연결되는 기판(50);을 포함하며,
   상기 플레이트(10)의 상면에 베이스(20)가 안착되고 고정볼트(40)로 결합된 상태에서 고정볼트(40)가 관통공(21)에 삽입된 상태에서 가장자리로 형성된 여유공간을 이동범위(A)로 하여 상기 플레이트(10)의 상면을 사방으로 미끄럼 이동하여 검사시료(4)의 커넥터(5)를 커넥터 단자(51)에 안전하게 유입시킴을 특징으로 하는 핀 블록 오토 얼라인 장치.
   
2. 제 1항에 있어서,
   상기 탄성오링(30)은 합성수지 또는 고무재질의 탄성을 갖는 재질로 형성됨을 특징으로 하는 핀 블록 오토 얼라인 장치.
   
3. 제 1항에 있어서,
   상기 탄성오링(30)은 원형 또는 타원형 또는 각형 중에서 선택되는 하나의 단면을 갖음을 특징으로 하는 핀 블록 오토 얼라인 장치.

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