KR200474316Y1

KR200474316Y1 - Vertical manipulator

Info

Publication number: KR200474316Y1
Application number: KR2020140000440U
Authority: KR
Inventors: 조준수; 이용관; 이현민
Original assignee: 주식회사 프로이천
Priority date: 2014-01-20
Filing date: 2014-01-20
Publication date: 2014-11-05

Abstract

본 고안에 따른 수직형 매니퓰레이터는, 메인 블록과, 메인 블록의 일단측에 승강 가능하게 배치되는 테스트 블록과, 메인 블록과 테스트 블록에 연결되어 테스트 블록이 메인 블록의 일단측에서 상하로 이동할 수 있도록 하는 가이드 부재와, 테스트 블록의 상하 유동시 메인 블록에 대하여 탄성력을 제공하는 탄성부를 구비하고, 테스트 블록은 평면 플레이트 형상의 제1 블록과 제1 블록의 일단에서 상방으로 형성된 제2 블록을 포함하여 ??자 형상으로 형성되고, 제2 블록의 폭은 제1 블록의 폭보다 작도록 형성되고, 가이드 부재는 제2 블록의 일측에 결합되고, 가이드 부재가 결합된 제2 블록은 메인 블록의 일측에 형성된 중공 영역에 수용되어 결합되도록 구성된다.The vertical manipulator according to the present invention includes a main block, a test block arranged to be able to move up and down at one end of the main block, and a test block connected to the main block and the test block so that the test block can be moved up and down at one end of the main block. The testing block includes a first block having a flat plate shape and a second block formed upward at one end of the first block. The test block includes a guide block for guiding the test block, The width of the second block is smaller than the width of the first block, the guide member is coupled to one side of the second block, and the second block to which the guide member is coupled is formed on one side of the main block As shown in FIG.

Description

Vertical Manipulator {VERTICAL MANIPULATOR}

본 고안은 수직형 매니퓰레이터에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 패널의 전기적 테스트를 안정적으로 수행할 수 있도록 한 수직형 매니퓰레이터에 관한 것이다.
The present invention relates to a vertical type manipulator, and more particularly, to a vertical type manipulator capable of stably performing an electrical test of the panel.

일반적으로, 일반적으로 액정표시장치(TFT-LCD)와 같은 디스플레이 패널은 양산기술 확보와 연구개발의 성과로 대형화와 고해상도화가 급속도로 진전되어 노트북 컴퓨터용 뿐만 아니라 대형 모니터, LCD, PDP, MOBILE 등과 같은 응용 제품으로도 개발되어 기존의 CRT(Cathode Ray Tube) 제품을 점진적으로 대체하고 있어 디스플레이 산업에서의 그 비중이 점차 증대되고 있다.In general, a display panel such as a liquid crystal display (TFT-LCD) generally has a large-sized and high-resolution display due to the achievement of mass production technology and research and development, so that it can be used not only for a notebook computer but also for a large-sized monitor, LCD, PDP, It has been developed as an application product, gradually replacing existing CRT (Cathode Ray Tube) products, and its proportion in the display industry is gradually increasing.

이와 같은 디스플레이 패널은 2개의 기판상에 2개의 전극이 각각 형성되어 있는 면이 마주 대하도록 배치하고, 2개의 기판사이에 액정 물질을 주입한 다음, 두 전극에 전압을 인가하여 생성되는 전기장에 의해 액정분자를 움직이게 함으로써 이에 따라 변화되는 빛의 투과율에 의해 화상을 표현하는 장치로서, 2개의 기판 사이에 액정이 주입되어 있는 액정패널과 액정패널 하부에 배치되고 광원으로 이용되는 백라이트, 그리고 액정패널 외곽에 위치하며 액정패널을 구동시키기 위한 구동부로 이루어진다.In such a display panel, a liquid crystal material is injected between two substrates so that the two substrates are opposed to each other with two electrodes formed thereon, and then an electric field is generated by applying a voltage to the two electrodes An apparatus for displaying an image by changing the transmittance of light by moving liquid crystal molecules, comprising: a liquid crystal panel in which liquid crystals are injected between two substrates; a backlight disposed under the liquid crystal panel and used as a light source; And a driving unit for driving the liquid crystal panel.

여기서, 상기 구동부는 다수의 게이트라인과 데이터라인이 교차하면서 규정하는 디스플레이 패널의 화소영역에 전기적 신호를 인가하여 화상을 표시하도록 하는 한편, 반도체 칩과 마찬가지로 상기 디스플레이 패널을 제품에 장착하기 전에 상기 구동부를 이용하여 디스플레이 패널에 전기적 신호를 인가하여 화소의 불량 유무를 검사하게 되며, 이러한 구동부는 디스플레이 패널의 각 배선에 전기적 신호를 인가하기 위한 구동IC(Drive Integrated Cicuit)를 포함하는데, 상기 구동IC를 액정패널에 실장(Packaging)시키는 방법에 따라, 칩 온 글래스(COG, Chip On Glass), 테이프 캐리어 패키지(TCP, Tape Carrier Package), 칩 온 필름(Chip On Film) 등으로 나누어진다.Here, the driver may display an image by applying an electrical signal to a pixel region of a display panel which is defined by intersecting a plurality of gate lines and a data line. In the same way as the semiconductor chip, The driving unit includes a driving integrated circuit (IC) for applying an electrical signal to each wiring of the display panel. The driving IC includes a driving IC (COG), a tape carrier package (TCP), a chip on film, and a chip on film according to a method of packaging the liquid crystal panel on a liquid crystal panel.

상기 칩 온 글래스(COG)는 디스플레이 패널의 어레이 기판상에 구동IC를 실장하는 기술이고, 상기 테이프 캐리어 패키지(TCP)와 칩 온 필름(COF)은 별도의 필름을 이용하여 구동IC를 실장하고 상기 구동IC가 내장된 필름을 디스플레이 패널의 배면으로 구부릴 수 있어 콤팩트한 구조를 가지게 된다.The chip on glass (COG) is a technique for mounting a driver IC on an array substrate of a display panel. The driver IC is mounted on the tape carrier package (TCP) and the chip on film (COF) The film with the built-in driving IC can be bent to the back surface of the display panel, resulting in a compact structure.

이와 같은 디스플레이 패널의 불량 유무를 검사하기 위한 검사장비는 각종 측정기기들이 내장된 검사시스템과, 상기 검사 시스템과 디스플레이 패널을 전기적으로 연결시켜 주는 프로브 블록을 구비하고 있고, 상기 프로브 블록은 디스플레이 패널의 구동IC와 연결된 다수의 전극패드에 직접 접촉하는 프로브가 구비된 프로브조립체와, 상기 프로브조립체 및 검사시스템과 각각 접속되어 상기 전극패드를 통해 상기 구동IC에 전기적 신호를 인가함과 동시에 출력을 검출할 수 있도록 상기 디스플레이 패널의 구동IC와 동일한 구동IC가 실장되어 있는 칩글라스를 포함하며, 상기 프로브와 구동IC를 통해 수행된 검사결과로부터 상기 디스플레이 패널에 구비된 다수의 게이트라인과 데이터라인 각각에 대한 불량 유무를 검사하게 된다.The inspection apparatus for inspecting the defective display panel may include an inspection system having various measuring instruments installed therein and a probe block electrically connecting the inspection system and the display panel, A probe assembly having a probe directly contacting a plurality of electrode pads connected to the driving IC, and a controller connected to the probe assembly and the inspection system to apply an electrical signal to the driving IC through the electrode pad, And a chip glass on which the same driving IC as that of the driving IC of the display panel is mounted so as to be capable of performing a test on the gate lines and the data lines on the display panel, It is checked whether there is a defect.

통상, 상기와 같은 전기적 신호를 테스트 하는 경우, 패널의 테스트 단자에 프로브를 물리적으로 접속시킨다.Normally, when testing such an electrical signal, the probe is physically connected to the test terminal of the panel.

이때, 프로브가 설치되는 프로브 블록이 상방으로 뜨거나 오정렬되는 경우 정상적인 전기적 테스 및 테스트 결과를 획득할 수 없는 문제점이 있다.At this time, when the probe block on which the probe is installed is upwardly or misaligned, normal electrical test and test results can not be obtained.

본 고안과 관련된 선행문헌으로는 대한민국 공개특허 제10-2008-0070133호 (공개일 : 2008년 07월 30일)가 있으며, 상기 선행문헌에는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록에 대한 기술이 기술된다.
A prior art related to the present invention is Korean Patent Laid-Open No. 10-2008-0070133 (Published on July 30, 2008), and the prior art describes a description of a probe block for a display panel inspection.

본 고안의 목적은, 패널의 전기적 테스트 위치에 테스트 블록을 탄성적으로 접촉되도록 상하를 따라 안내하는 경우 테스트 블록이 오정렬되는 것을 방지하여 안정적인 전기적 테스트를 수행할 수 있도록 한 수직형 매니퓰레이터를 제공함에 있다.It is an object of the present invention to provide a vertical manipulator for preventing misalignment of a test block and performing a stable electrical test when the test block is guided vertically so as to be elastically contacted to an electrical test position of the panel .

본 고안의 다른 목적은, 테스트 블록의 승강 경로를 테스트 블록의 프로프 위치와 근접 또는 일치되도록 구성하고, 상기 테스트 블록의 탄성 지지 위치를 프로브 위치와 대향되는 방향을 따라 승강 경로로부터 이격되도록 배치하여, 상기 프로브 위치로 탄성력을 제공하여 테스트 블록의 들뜸 형산을 방지하고, 프로브와 패널 테스트 단자와의 접촉력을 일정하게 유지시킬 수 있는 수직형 매니퓰레이터를 제공함에 있다.
Another object of the present invention is to construct a test block so that the ascending / descending path of the test block is close to or coincident with the probe position of the test block, and the elastic support position of the test block is arranged so as to be spaced apart from the ascending / A vertical manipulator capable of providing a resilient force to the probe position to prevent lifting of the test block and maintaining a contact force between the probe and the panel test terminal at a constant level.

바람직한 일실시예에 있어서, 본 고안은 메인 블록과; 상기 메인 블록의 일단측에 승강 가능하게 배치되는 테스트 블록과; 상기 메인 블록과 상기 테스트 블록에 연결되어 상기 테스트 블록이 상기 메인 블록의 일단측에서 상하로 이동할 수 있도록 하는 가이드 부재와; 상기 테스트 블록이 상하 유동시 상기 메인 블록에 대하여 탄성력을 제공하는 탄성부를 구비하고, 상기 테스트 블록은, 평면 플레이트 형상의 제1 블록과 상기 제1 블록의 일단에서 상방으로 형성된 제2 블록을 포함하여 ??자 형상으로 형성되고, 상기 제2 블록의 폭은 상기 제1 블록의 폭보다 작도록 형성되고, 상기 가이드 부재는 상기 제2 블록의 일측에 결합되고, 상기 가이드 부재가 결합된 상기 제2 블록은 상기 메인 블록의 일측에 형성된 중공 영역에 수용되어 결합되도록 구성될 수 있다.In a preferred embodiment, the present invention relates to a method comprising: a main block; A test block disposed on one end side of the main block so as to be movable up and down; A guide member connected to the main block and the test block to allow the test block to move up and down at one end of the main block; Wherein the test block includes a first block having a flat plate shape and a second block formed upwardly at one end of the first block, The width of the second block is formed to be smaller than the width of the first block, the guide member is coupled to one side of the second block, and the second member The block may be configured to be received and coupled to a hollow region formed on one side of the main block.

상기 가이드 부재는, 상기 제2 블록의 일측에 결합되는 제1 가이드 부재와; 일측이 상기 제1 가이드 부재와 결합되고, 타측이 상기 메인 블록과 결합되는 제2 가이드 부재를 포함하여 구성될 수 있다.The guide member includes: a first guide member coupled to one side of the second block; And a second guide member having one side coupled to the first guide member and the other side coupled to the main block.

상기 가이드 부재는 LM 가이드일 수 있다.The guide member may be an LM guide.

상기 탄성부는, 상기 메인 블록의 하면과 상기 제1 블록의 상면 사이에 개재되는 복수의 탄성 부재를 포함할 수 있다.The elastic portion may include a plurality of elastic members interposed between a lower surface of the main block and an upper surface of the first block.

상기 제1 블록의 하단에는, 프로브 블록이 설치되는 보조 블록이 더 설치되고, 상기 제1 블록에는 상하를 관통하는 복수의 관통홀이 형성되고, 상기 보조 블록에는, 상기 복수의 관통홀과 위치가 일치되는 복수의 안착홈이 형성되고, 상기 복수의 탄성 부재 각각의 상단은, 상기 제1 블록의 하면에 고정되고, 상기 복수의 탄성 부재 각각의 하단은, 상기 관통홀 각각을 관통하여 상기 안착홈 각각에 탄성 지지될 수 있다.Wherein a plurality of through holes are formed in the first block, the plurality of through holes being vertically passed through the first block, and the plurality of through holes and the plurality of through holes are formed in the first block, And a lower end of each of the plurality of elastic members is passed through each of the through holes so that the upper end of each of the plurality of elastic members is fixed to the lower surface of the first block, Respectively.

상기 프로브 블록은 체결 부재를 통하여 상기 보조 블록과 결합되고, 상기 체결 부재가 결합되는 위치는 상기 가이드 부재의 승강 경로를 기준으로 상기 프로브 블록의 프로브와 반대되는 상기 보조 블록의 일단에 형성될 수 있다.
The probe block may be coupled to the sub-block through a fastening member, and a position at which the fastening member is coupled may be formed at one end of the sub-block opposite to the probe of the probe block with reference to an ascending path of the guide member .

본 고안은, 패널의 전기적 테스트 위치에 테스트 블록을 탄성적으로 접촉되도록 상하를 따라 안내하는 경우 테스트 블록이 오정렬되는 것을 방지하여 안정적인 전기적 테스트를 수행할 수 있는 효과를 갖는다.The present invention has an effect of preventing a test block from being misaligned when guiding the test block along the vertical direction so as to elastically contact the electrical test position of the panel, thereby performing a stable electrical test.

또한, 본 고안은, 테스트 블록의 승강 경로를 테스트 블록의 프로브 위치와 근접 또는 일치되도록 구성하고, 상기 테스트 블록의 탄성 지지 위치 또한 테스트 블록의 승강 경로와 근접 또는 일치되도록 구성함으로써 테스트시 테스트 블록의 들뜸 현상을 방지하고, 프로브와 패널 테스트 단자와의 접촉력을 일정하게 유지시킬 수 있는 효과를 갖는다.
In the present invention, the elevating path of the test block is configured to be close to or coincident with the probe position of the test block, and the elastic supporting position of the test block is also made to be close to or coincident with the elevating path of the test block. It is possible to prevent lifting phenomenon and maintain a constant contact force between the probe and the panel test terminal.

도 1은 본 고안의 수직형 매니퓰레이터를 보여주는 사시도이다.
도 2는 본 고안의 수직형 매니퓰레이터를 보여주는 분해 사시도이다.
도 3은 본 고안의수직형 매니퓰레이터를 보여주는 측면도이다.1 is a perspective view showing a vertical manipulator of the present invention.
2 is an exploded perspective view showing the vertical manipulator of the present invention.
3 is a side view showing the vertical manipulator of the present invention.

본 고안에 따른 소형액정패널을 검사하기 위한 니들 타입 핀 보드는, TSP패드(102) 및 AVT패드(103)가 각각 상부면의 서로 다른 모서리 방향 가장자리에 형성되는 액정패널(101)을 검사하기 위하여 상기 이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 고안의 수직형 매니퓰레이터를 설명한다.In order to inspect the liquid crystal panel 101 in which the TSP pad 102 and the AVT pad 103 are formed at different edge edges of the upper surface, the needle type pin board for inspecting the small liquid crystal panel according to the present invention Hereinafter, a vertical manipulator according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 고안의 수직형 매니퓰레이터를 보여주는 사시도이고, 도 2는 본 고안의 수직형 매니퓰레이터를 보여주는 분해 사시도이고, 도 3은 본 고안의수직형 매니퓰레이터를 보여주는 측면도이다.FIG. 1 is a perspective view showing the vertical manipulator of the present invention, FIG. 2 is an exploded perspective view showing the vertical manipulator of the present invention, and FIG. 3 is a side view of the vertical manipulator of the present invention.

도 1 내지 도 3을 참조 하면, 본 고안의 수직형 매니퓰레이터는 크게 메인 블록(100)과, 테스트 블록(200)과, 보조블록(300)과, 가이드 부재(400)로 구성된다.
1 to 3, the vertical manipulator of the present invention comprises a main block 100, a test block 200, an auxiliary block 300, and a guide member 400.

메인 블록(120)의 상부에는 체결부재가 삽입되어 체결될 수 있도록 하는 다수의 체결홀(125, 127)이 형성된다. A plurality of fastening holes 125 and 127 are formed in the upper portion of the main block 120 so that fastening members can be inserted and fastened.

메인 블록(120) 중 프로브 블록(600)이 결합되는 위치에 대응되는 일측단에는 테스트 블록(200)의 제2 블록(200)이 삽입될 수 있도록 중공 영역이 형성된다. 이러한 중공 영역에 제2 블록(200)이 삽입되어 승강 경로가 프로브 블록(600)의 프로브(620)의 위치와 일치 또는 근접하도록 되는데 이에 대해서는 후술한다. A hollow region is formed at one end of the main block 120 corresponding to the position where the probe block 600 is coupled to allow the second block 200 of the test block 200 to be inserted. The second block 200 is inserted into the hollow region so that the ascending / descending path coincides with or is close to the position of the probe 620 of the probe block 600, which will be described later.

테스트 블록(200)은 제1 블록(210)과 제2 블록(200)을 포함하여 구성된다. 제1 블록(210)은 평면 플레이트 형상으로 형성되고, 제2 블록(200)은 제1 블록(210)의 일단에서 상방으로 연결되도록 구성된다. 제1 블록(210) 및 제2 블록(220)의 결합 형상으로 도 2에서 보는 바와 같이 'ㄴ'자 형상을 가진다.The test block 200 includes a first block 210 and a second block 200. The first block 210 is formed in a flat plate shape and the second block 200 is configured to be connected upward at one end of the first block 210. 2, the first block 210 and the second block 220 have a 'B' shape as shown in FIG.

제2 블록(220)의 안쪽에는 가이드 부재(400)가 안착 결합되기 위한 홈이 형성되어 있으며, 홈에 가이드 부재(400)가 체결 부재를 통하여 결합 고정된다. Inside the second block 220, a groove for receiving the guide member 400 is formed, and the guide member 400 is coupled and fixed to the groove through a fastening member.

가이드 부재(400)는 제1 가이드 부재(410)와 제2 가이드 부재(420)를 포함하여 구성된다. 제1 가이드 부재(410)는 체결 부재를 통하여 위에서 설명한 홈에 체결부재를 통하여 결합되고, 제2 가이드 부재(420)는 체결홀(125)에 삽입되는 체결 부재(50)를 통하여 메인 블록(120)에 고정될 수 있다.The guide member 400 includes a first guide member 410 and a second guide member 420. The first guide member 410 is coupled to the groove described above through the fastening member and the second guide member 420 is coupled to the main block 120 through the fastening member 50 inserted into the fastening hole 125 ).

가이드 부재(400)는 상하의 수직 운동을 가능하게 하는 다양한 형태의 가이드 부재일 수 있다. 예를 들어, 가이드 부재는 LM 가이드일 수 있다.The guide member 400 may be various types of guide members capable of vertically moving up and down. For example, the guide member may be an LM guide.

도 2 및 도 3을 참조하면, 복수의 탄성부(60, 70)가 메인 블록(120) 및 테스트 블록(200) 사이에 배치될 수 있다. Referring to FIGS. 2 and 3, a plurality of elastic portions 60 and 70 may be disposed between the main block 120 and the test block 200.

구체적으로, 테스트 블록(200)의 제1 블록(210)에는 복수의 체결홀(212, 214)이 형성되고, 테스트 블록(200)의 하면에 결합되는 보조 블록(300)에도 제1 블록(210)의 복수의 체결홀(212, 214)에 대응되는 위치에 안착홈들이 형성된다. A plurality of coupling holes 212 and 214 are formed in the first block 210 of the test block 200 and a plurality of coupling holes 212 and 214 are formed in the auxiliary block 300 coupled to the lower surface of the test block 200, (Not shown) are formed at positions corresponding to the plurality of fastening holes 212,

도 2에서 도시되지는 않았지만, 탄성부(70)이 삽입되기 위한 체결홀 및 안착홈이 제1 블록(210) 및 보조 블록(300)에 더 형성될 수 있다.Although not shown in FIG. 2, a fastening hole and a seating groove for inserting the elastic portion 70 may be further formed in the first block 210 and the auxiliary block 300.

즉, 용수철 등과 같은 탄성부(60, 70)는 체결홀(212) 등에 삽입되어 보조 블록(300)에 형성된 안착홈에 안착될 수 있다. 즉, 제1 블록(210)에 형성된 홀들은 상하로 관통하는 관통홀이며, 보조블록(300)에 형성되는 홈은 상하로 관통되는 홀이 아닌 하면이 막힌 홈에 해당한다. That is, the elastic portions 60 and 70, such as springs, may be inserted into the fastening holes 212 or the like to be seated in the seating grooves formed in the auxiliary block 300. That is, the holes formed in the first block 210 are vertically penetrating holes, and the grooves formed in the auxiliary block 300 correspond to the closed grooves other than the holes penetrating the upper and lower portions.

탄성부(60, 70)은 메인 블록(120)의 하면과 보조 블록(300)의 안착홈에 의하여 상하로 지지되면서 수직형 매니퓰레이터(100)의 테스트시 탄성력을 제공한다. The elastic portions 60 and 70 are vertically supported by the lower surface of the main block 120 and the seating grooves of the auxiliary block 300 to provide an elastic force during testing of the vertical manipulator 100.

즉, 도 3에 도시된 바와 같이 가이드 부재(400)가 상하로 유동할 수 있는 간극(G: gap)이 존재하는데, 이러한 간극 만큼 수직형 매니퓰레이터(100)는 패널 테스트시 마진(margin)을 가질 수 있다. That is, as shown in FIG. 3, there is a gap (G) in which the guide member 400 can move up and down. The vertical manipulator 100 has a margin .

도 2 및 도 3을 참조하면, 제1 블록(210)의 체결홀(214)를 관통하여 체결 부재(500)가 삽입되고, 보조 블록(300)에 대응되는 위치에 형성된 관통홀을 관통하여 프로브 블록(600)의 상부와 결합됨으로써 프로브 블록(600)이 수직형 매니퓰레이터(100)의 하단에 결합될 수 있다.2 and 3, the fastening member 500 is inserted through the fastening hole 214 of the first block 210 and passes through the through hole formed at the position corresponding to the sub-block 300, The probe block 600 can be coupled to the lower end of the vertical manipulator 100 by engaging with the upper portion of the block 600. [

이때, 체결 부재(500)는 가이드 부재(400)가 제공하는 상하의 승강 경로를 기준으로 프로브(620)의 위치와 반대되는 위치에 존재한다. At this time, the fastening member 500 exists at a position opposite to the position of the probe 620 with respect to the up and down route provided by the guide member 400.

이러한 구조를 가짐으로써 프로브 블록(600)의 일단 측 하단에 부착되는 프로브(620)를 테스트 블록(200) 또는 가이드 부재(400)가 제공하는 승강 경로와 최대한 근접 또는 일치되도록 구성할 수 있다. With this structure, the probe 620 attached to the lower end of the one end of the probe block 600 can be configured to be as close or as close as possible to the lifting path provided by the test block 200 or the guide member 400.

프로브(620)가 부착되는 부분에는 프로브 블록(600)의 내부에 경사지도록 형성된 홈이 생성되고, 그 홈에 탄성부재(610)가 삽입되어 끝단이 돌출되도록 구성됨으로서 필름 등으로 구성되는 프로브(620)의 끝단에 테스트시 탄성력을 제공할 수 있다. A groove formed to be inclined inside the probe block 600 is formed at a portion where the probe 620 is attached and an elastic member 610 is inserted into the groove to protrude the end of the probe block 600, ) May provide an elastic force at the end of the test.

상기와 같이 메인 블록(120)의 일측단에 중공 영역을 형성하고, 상기 형성된 중공 영역에 가이드 부재(400)가 결합된 제2 블록(220)을 수용하여 결합시킴으로써 가이드 부재(400)가 제공하는 상하의 승강 경로가 프로브(620)의 위치와 최대한 근접 또는 일치됨으로써 패널 테스트시 발생하는 압력 등에 의해 발생하는 수직형 매니퓰레이터(100)의 각 구성의 뒤틀림 등을 방지하여 테스트시의 오차를 최소화할 수 있다. As described above, a hollow region is formed at one end of the main block 120, and the second block 220 coupled with the guide member 400 is received in the hollow region, The upper and lower lifting and lowering paths are as close as possible to or coincide with the positions of the probes 620 so that distortion of each constitution of the vertical manipulators 100 caused by the pressure generated during the panel test can be prevented, .

또한, 탄성부(60, 70)가 가이드 부재(400)가 제공하는 승강 경로와 일치하도록 구성됨으로써 승강 경로와 탄성 부재의 수직 위치가 틀어짐에서 발생하는 수직형 매니퓰레이터(100)의 뒤틀림을 미연에 방지할 수 있다.In addition, since the elastic portions 60 and 70 are configured to coincide with the elevating path provided by the guide member 400, it is possible to prevent the vertical manipulator 100 from being twisted due to the vertical positional deviation of the elevating path and the elastic member can do.

또한, 프로브 블록(600)이 수직형 매니퓰레이터(100)의 저면에 결합되는 위치를 가이드 부재(400)가 제공하는 승강 경로 안쪽으로 배치되게 함으로써, 프로브 블록(600)의 소형화를 이룰 수 있으며, 프로브(620)의 접합 위치가 가이드 부재(400)가 제공하는 승강 경로와 최대한 근접 또는 일치되도록 할 수 있다.
The probe block 600 can be miniaturized by arranging the position where the probe block 600 is coupled to the bottom surface of the vertical manipulator 100 inside the vertical path provided by the guide member 400, The joining position of the guide member 620 may be as close as possible to or coincident with the lift path provided by the guide member 400.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 고안의 실시예들을 설명하였으나, 본 고안은 상기 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 제조될 수 있으며, 본 고안이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 고안의 기술적 사상이나 필수적인 특징으로 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the present invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, It will be understood that the invention may be embodied in other specific forms without departing from the spirit or essential characteristics of the invention. It is therefore to be understood that the above-described embodiments are illustrative in all aspects and not restrictive.

100 : 수직형 매니퓰레이터
120: 메인 블록
200: 테스트 블록
300: 보조 블록
400: 가이드 부재
500: 체결 부재
600: 프로브 블록 100: vertical manipulator
120: main block
200: test block
300: auxiliary block
400: guide member
500: fastening member
600: Probe block

Claims

A main block;
A test block disposed on one end side of the main block so as to be able to move up and down;
A guide member connected to the main block and the test block to allow the test block to move up and down at one end of the main block; And
And an elastic portion that provides an elastic force to the main block when the test block flows up and down,
Wherein the test block is formed in a 'B' shape including a first block having a flat plate shape and a second block formed upwardly from one end of the first block, Width,
Wherein the guide block is coupled to one side of the second block and the second block to which the guide member is coupled is received and coupled to a hollow area formed on one side of the main block,
Wherein the elastic portion includes a plurality of elastic members interposed between a lower surface of the main block and an upper surface of the first block,
Wherein a plurality of through holes are formed in the first block, the plurality of through holes being vertically passed through the first block, and the plurality of through holes and the plurality of through holes are formed in the first block, And a lower end of each of the plurality of elastic members is passed through each of the through holes, and the upper end of each of the plurality of elastic members is fixed to the lower surface of the first block, Wherein the elastic member is elastically supported on each of the first and second elastic members.

The method according to claim 1,
The guide member
A first guide member coupled to one side of the second block;
And a second guide member having one side coupled to the first guide member and the other side coupled to the main block.

3. The method of claim 2,
Wherein the guide member is an LM guide.

delete

The method according to claim 1,
Wherein the probe block is coupled to the auxiliary block through a fastening member,
Wherein a position at which the coupling member is engaged is formed at one end of the sub-block opposite to the probe of the probe block with reference to a lifting path of the guide member.