KR101378506B1 - Testing device for display panel - Google Patents

Testing device for display panel Download PDF

Info

Publication number
KR101378506B1
KR101378506B1 KR1020120016601A KR20120016601A KR101378506B1 KR 101378506 B1 KR101378506 B1 KR 101378506B1 KR 1020120016601 A KR1020120016601 A KR 1020120016601A KR 20120016601 A KR20120016601 A KR 20120016601A KR 101378506 B1 KR101378506 B1 KR 101378506B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
pusher
display panel
pellet
test socket
inspection
Prior art date
Application number
KR1020120016601A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20130095130A (en
Inventor
전진국
박성규
김무준
김규선
Original Assignee
주식회사 오킨스전자
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 오킨스전자 filed Critical 주식회사 오킨스전자
Priority to KR1020120016601A priority Critical patent/KR101378506B1/en
Publication of KR20130095130A publication Critical patent/KR20130095130A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101378506B1 publication Critical patent/KR101378506B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2825Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere in household appliances or professional audio/video equipment
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607Circuits therefor
    • G01R31/2632Circuits therefor for testing diodes
    • G01R31/2635Testing light-emitting diodes, laser diodes or photodiodes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2834Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising
    • G01R31/2844Fault-finding or characterising using test interfaces, e.g. adapters, test boxes, switches, PIN drivers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2863Contacting devices, e.g. sockets, burn-in boards or mounting fixtures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2865Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
    • G01R31/2867Handlers or transport devices, e.g. loaders, carriers, trays
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2893Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers

Abstract

본 발명은 테스트 소켓이 장착된 푸셔;
상기 푸셔를 승하강시키는 구동부;
상기 푸셔의 하부에 위치하고, 구동부에 의해 푸셔가 하강할 때 플레이트 상에서 이동하여 테스트 소켓과 전기적 접촉을 이루는 디스플레이 패널이 장착된 펠렛;
을 포함하는 디스플레이 패널 검사장치를 제공한다.
The present invention is a pusher equipped with a test socket;
A driving unit for lifting and lowering the pusher;
A pellet mounted under the pusher and equipped with a display panel which moves on the plate and makes electrical contact with the test socket when the pusher is lowered by the driver;
It provides a display panel inspection device comprising a.

Description

디스플레이 패널 검사장치{TESTING DEVICE FOR DISPLAY PANEL}Display panel inspection device {TESTING DEVICE FOR DISPLAY PANEL}
본 발명은 디스플레이 패널 검사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 디스플레이 패널의 성능검사시 일일이 수작업을 통해 검사하지 않고, 자동으로 단시간내에 대량으로 정밀하게 검사할 수 있는 디스플레이 패널 검사장치에 관한 것이다.
The present invention relates to a display panel inspecting apparatus, and more particularly, to a display panel inspecting apparatus capable of automatically inspecting a large amount of precisely within a short period of time without manually inspecting the display panel.
일반적으로, PMP(Portable Media Player), 노트북 컴퓨터, 고선명 텔레비전, 통신 단말기, 휴대용 수신기와 같은 제품들의 대중화와 함께 이러한 제품들의 디스플레이로서 평판 디스플레이 패널이 널리 이용되고 있다.In general, flat panel display panels are widely used as displays of these products with the popularization of products such as portable media players (PMPs), notebook computers, high definition televisions, communication terminals, and portable receivers.
이러한 평판 디스플레이 패널은 복수의 광원을 통해 빛을 제어하게 되는데, 빛을 제어하는 방법으로는 각각의 광원에서 빛을 발생하도록 하는 방법과, 빛을 자체적으로 발생하지 않고 반사 또는 투과 과정을 통해 빛의 양을 조정하는 방법이 존재한다.Such a flat panel display panel controls light through a plurality of light sources. The light control method includes a method of generating light from each light source, and a reflection or transmission process without generating light by itself. There is a way to adjust the amount.
전자의 경우를 능동 디스플레이라고 하며 LED(Light Emitting Diode)가 이에 속하고, 후자의 경우를 수동 디스플레이라고 하며 LCD(Liquid Crystal Display)가 이에 속한다.The former is called an active display, and the LED (Light Emitting Diode) belongs to this, and the latter is a passive display, and an LCD (Liquid Crystal Display) belongs to this.
한편, 현대에는 LED 관련 기술이 발달함에 따라 지속적인 신기술 개발과 함께 대다수의 디스플레이 영역에 LED 기술이 채용되면서 그 시장성이 커지고 있는 시점에 있으며, 이러한 기술 발달은 다양한 종류의 LED 모듈 검사 장치를 요구하고 있는 실정이다.On the other hand, with the development of LED-related technology in modern times, the marketability is increasing as LED technology is adopted in the majority of display area with continuous development of new technology, and this technology development requires various kinds of LED module inspection devices. It is true.
이에 따라, 육안에 의한 목시검사, 일반 점측정 휘도계에 의한 검사 등이 사용되고 있으나, 육안 검사의 경우에는 LED 모듈의 검사가 검사자의 육안에 의존되므로 작업 결과가 매우 주관적이고, 실수로 인한 문제 발생의 가능성이 높고, 일반 점측정 휘도계에 의한 검사의 경우에는 샘플링 검사에 적합하다는 한계가 있다.
Accordingly, visual inspection by the naked eye, inspection by a general point measuring luminance meter, etc. are used, but in the case of the visual inspection, the inspection of the LED module depends on the human eye, and thus the work results are very subjective, and problems caused by mistakes are caused. There is a high possibility of, and there is a limit that it is suitable for sampling inspection in the case of inspection by a general point measuring luminance meter.
본 발명은 상기한 바와 같이 종래기술이 가지는 문제를 해결하기 위해 안출된 것으로, 그 목적은 디스플레이 패널의 성능검사시 일일이 수작업을 통해 검사하지 않고, 자동으로 단시간내에 대량으로 정밀하게 검사할 수 있는 디스플레이 패널 검사장치를 제공함에 있다.
The present invention has been made to solve the problems of the prior art as described above, the purpose of the display panel can be inspected in large quantities and precisely within a short time automatically without manual inspection during the performance test of the display panel The present invention provides a panel inspection apparatus.
상기한 바와 같은 본 발명의 기술적 과제는 다음과 같은 수단에 의해 달성되어진다.
The technical problem of the present invention as described above is achieved by the following means.
(1) 테스트 소켓이 장착된 푸셔;(1) a pusher equipped with a test socket;
상기 푸셔를 승하강시키는 구동부;A driving unit for lifting and lowering the pusher;
상기 푸셔의 하부에 위치하고, 구동부에 의해 푸셔가 하강할 때 플레이트 상에서 이동하여 테스트 소켓과 전기적 접촉을 이루는 디스플레이 패널이 장착된 펠렛;A pellet mounted under the pusher and equipped with a display panel which moves on the plate and makes electrical contact with the test socket when the pusher is lowered by the driver;
을 포함하는 디스플레이 패널 검사장치.
Display panel inspection device comprising a.
(2) 제 1항에 있어서,(2) The method according to claim 1,
상기 푸셔의 하면에 테스트 소켓이 장착되고, 상기 펠렛의 상면에 디스플레이 패널을 수용하는 장착홈이 수평하게 복수개 배치되어, 각 장착홈에 디스플레이 패널이 장착될 때 장착홈의 상단에 디스플레이 패널의 회로부가 위치하여 푸셔가 하강할 때 테스트 소켓의 단자가 상기 디스플레이 패널의 회로부 단자에 전기적으로 접촉될 수 있도록 구성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.
A test socket is mounted on the lower surface of the pusher, and a plurality of mounting grooves for accommodating the display panel are horizontally disposed on the upper surface of the pellet, and when the display panel is mounted in each mounting groove, And the terminal of the test socket is electrically connected to the circuit terminal of the display panel when the pusher is lowered.
(3) 제 1항에 있어서,(3) The method according to claim 1,
플레이트의 하부에 이를 지지하는 베이스를 더 포함하고, 상기 베이스의 측면에 캠바가 장착되며, 상기 캠바는 링커를 매개하여 푸셔를 승강 혹은 하강하도록 구성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.
And a base for supporting it at the bottom of the plate, wherein a cam bar is mounted on a side of the base, and the cam bar is configured to raise or lower the pusher via a linker.
(4) 제 1항에 있어서,(4) The method according to claim 1,
푸셔의 측면에 수직하게 장착되고, 펠렛의 일측에 형성된 안내편의 이동을 안내하는 경사 가이드홈이 형성되어, 상기 푸셔가 하강할 때, 상기 안내편이 가이드홈을 따라 이동하면서 펠렛이 플레이트 상에서 슬라이딩하여 테스트 소켓과 전기적 접촉을 이루는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.
It is mounted perpendicular to the side of the pusher, the inclined guide groove for guiding the movement of the guide piece formed on one side of the pellet is formed, when the pusher descends, the guide piece moves along the guide groove while the pellet slides on the plate to test Display panel inspection device characterized in that the electrical contact with the socket.
(5) 제 1항에 있어서,(5) The method according to claim 1,
디스플레이 패널은 엘이디 모듈인 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.
Display panel inspection device, characterized in that the LED module.
본 발명에 의하면, 디스플레이 패널의 성능검사시 일일이 수작업을 통해 검사하지 않고, 자동으로 단시간내에 대량으로 정밀하게 검사할 수 있는 디스플레이 패널 검사장치를 제공한다.
According to the present invention, there is provided a display panel inspection apparatus capable of automatically inspecting a large amount of precisely within a short time without inspecting the display panel manually by hand.
도 1은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 사시도.
도 2는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치를 구성하는 구동부와, 구동부의 동작에 의해 테스트 소켓이 디스플레이 패널(엘이디 모듈)과 전기적 접촉을 이루는 상태를 나타내는 평면도.
도 3은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 동작설명도.
도 4는 본 발명에 따른 테스트 소켓 및 이의 설치상태도.
1 is a perspective view of a display panel inspection device according to the present invention.
2 is a plan view showing a state in which the test socket is in electrical contact with the display panel (LED module) by the drive unit constituting the display panel inspection apparatus according to the present invention, and the operation of the drive unit.
3 is an operation explanatory diagram of a display panel inspecting apparatus according to the present invention;
4 is a test socket and an installation state thereof according to the present invention.
본 발명은 테스트 소켓이 장착된 푸셔;The present invention is a pusher equipped with a test socket;
상기 푸셔를 승하강시키는 구동부;A driving unit for lifting and lowering the pusher;
상기 푸셔의 하부에 위치하고, 구동부에 의해 푸셔가 하강할 때 플레이트 상에서 이동하여 테스트 소켓과 전기적 접촉을 이루는 디스플레이 패널이 장착된 펠렛;A pellet mounted under the pusher and equipped with a display panel which moves on the plate and makes electrical contact with the test socket when the pusher is lowered by the driver;
을 포함하는 디스플레이 패널 검사장치를 제공한다.
It provides a display panel inspection device comprising a.
이하 본 발명의 내용을 실시예로서 도면을 참조하여 보다 상세하게 설명하면 다음과 같다.
Hereinafter, the content of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 사시도를 나타낸다. 1 is a perspective view of a display panel inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
본 발명에 따른 검사장치는 베이스(10), 플레이트(20), 펠렛(30) 및 푸셔(40)를 포함하고, 푸셔를 승하강시키는 구동부(50)가 장착되어진다.The inspection apparatus according to the present invention includes a base 10, a plate 20, a pellet 30, and a pusher 40, and is equipped with a driving unit 50 for lifting and lowering the pusher.
본 발명의 검사장치는 펠렛(30)의 상면에 디스플레이 패널(200)을 수용하는 장착홈(31)이 수평하게 복수개 배치되어진다. In the inspection apparatus of the present invention, a plurality of mounting grooves 31 accommodating the display panel 200 are horizontally disposed on an upper surface of the pellet 30.
상기 펠렛(30)은 플레이트(20) 상에서 전후방향으로 레일(미도시)을 통해 슬라이딩이 가능하며, 푸셔(40)의 승하강 동작과 연계하여 동작이 제어되어진다.The pellet 30 is slidable through the rail (not shown) in the front and rear direction on the plate 20, the operation is controlled in conjunction with the lifting operation of the pusher 40.
본 발명의 바람직한 실시예에서 도 4에 도시된 바와 같이 상기 푸셔(40)의 하면에 디스플레이 패널의 성능을 테스트 하기 위한 테스트 소켓(100)이 장착되어진다. In the preferred embodiment of the present invention, as shown in Figure 4, the test socket 100 for testing the performance of the display panel is mounted on the lower surface of the pusher 40.
상기 테스트 소켓(100)은 도 4에 도시된 바와 같이 디스플레이 패널(200)의 회로부(혹은 인터페이스부)(210)의 단자와 전기적 접촉을 이루는 PCB(110) 단자 즉, 프로브핀(110a) 및 그라운드핀(110b)이 장착되어 있다. As illustrated in FIG. 4, the test socket 100 is a PCB 110 terminal that is in electrical contact with a terminal of the circuit unit (or interface unit) 210 of the display panel 200, that is, the probe pin 110a and the ground. The pin 110b is attached.
따라서, 푸셔(40)가 하강할 때, 펠렛(30)은 푸셔(40) 방향으로 이동하도록 하고, 푸셔가 하강을 완료한 시점에서 테스트 소켓의 프로브핀(110a)이 디스플레이 패널(200)의 회로부 단자와 전기적으로 접속될 수 있도록 각 단자의 위치가 정해진다.Therefore, when the pusher 40 descends, the pellet 30 moves in the direction of the pusher 40, and the probe pin 110a of the test socket moves to the circuit portion of the display panel 200 when the pusher completes the lowering. Each terminal is positioned so that it can be electrically connected to the terminals.
테스트가 완료되면 위와는 반대 동작에 의해 푸셔(40)가 상승할 때 펠렛(30)은 푸셔로부터 멀어지면서 검사를 완료한 디스플레이 패널을 탈거할 수 있도록 외부로 노출되어진다. When the test is completed, when the pusher 40 is raised by the operation opposite to the above, the pellet 30 is exposed to the outside so that the display panel can be removed after being removed from the pusher.
푸셔(40)와 펠렛(30)의 동작을 연계시키기 위해, 바람직하게는 푸셔(40)의 일측 하단에 슬라이드(60)가 수직하게 장착된다. In order to link the operation of the pusher 40 and the pellets 30, the slide 60 is preferably mounted vertically at one lower end of the pusher 40.
상기 펠렛의 일측에 안내편(32)이 형성되고, 상기 슬라이드(60)에는 경사 가이드홈(61)이 장착되어, 안내편(32)이 상기 경사 가이드홈(61)에 삽입되어 안내되어지도록 한다.Guide piece 32 is formed on one side of the pellet, the inclined guide groove 61 is mounted on the slide 60, the guide piece 32 is inserted into the inclined guide groove 61 to be guided. .
상기와 같은 구성에 의해 푸셔(40)가 하강하면서 슬라이드(60)가 하강하게 되면, 동시에 경사 가이드홈(61)이 하강하면서 펠렛의 안내편(32)이 가이드 홈(61)의 경사면을 타고 상단으로 인도되어 펠렛(30)은 푸셔(40)의 위치로 레일상에서 슬라이딩되어진다.When the slide 60 descends while the pusher 40 descends by the configuration as described above, the guide piece 32 of the pellet rides the inclined surface of the guide groove 61 while the inclined guide groove 61 descends. Guided to the pellet 30 is slid on the rail to the position of the pusher 40.
반대로, 푸셔가 상승할 때는 이와 반대과정에 의해 슬라이드(60)가 함께 상승하게 되고, 이에 따라 경사 가이드홈(61)이 상승하면서 펠렛의 안내편(32)이 가이드 홈(61)의 경사면을 타고 하단으로 인도되면서 펠렛(30)은 푸셔(40)로부터 멀어져 초기의 위치로 슬라이딩되어진다.On the contrary, when the pusher rises, the slide 60 rises together by the reverse process. As a result, the inclined guide groove 61 rises so that the guide piece 32 of the pellet rides the inclined surface of the guide groove 61. The pellet 30 slides to an initial position away from the pusher 40 while being guided to the lower end.
도 2는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치를 구성하는 구동부와, 구동부의 동작에 의해 테스트 소켓이 디스플레이 패널(엘이디 모듈)과 전기적 접촉을 이루는 상태를 나타내는 평면도를 나타낸다.2 is a plan view showing a driving unit constituting the display panel inspecting apparatus according to the present invention and a state in which the test socket is in electrical contact with the display panel (LED module) by the operation of the driving unit.
본 발명에 의하면 구동부(50)는 캠 구조를 이룰 수 있으며, 캠바(51) 및 링커(52)를 포함한다. According to the present invention, the driving unit 50 may have a cam structure, and includes a cam bar 51 and a linker 52.
캠바(51)는 특별히 한정되는 것은 아니나 베이스(10)의 측면에 제1고정부(51a)가 회전가능하게 고정되고, 캠바의 제2고정부(51b)는 링커(52)의 제1고정부(52a)와 회전가능하게 결합된다. 또 링커의 제2고정부(52b)는 푸셔(40)의 일측과 회전가능하게 결합되어진다.
The cam bar 51 is not particularly limited, but the first fixing part 51a is rotatably fixed to the side of the base 10, and the second fixing part 51b of the cam bar is the first fixing part of the linker 52. Rotatably coupled with 52a. In addition, the second fixing part 52b of the linker is rotatably coupled to one side of the pusher 40.
도 3은 상기와 같은 구조를 갖는 구동부에 의한 본 발명 검사장치의 동작설명도를 나타낸다. 3 shows an operation explanatory diagram of the inspection apparatus of the present invention by the drive unit having the above structure.
상기와 같은 구동부의 구성에 따라 캠바(51)가 제1고정부(51a)를 회전축으로 하여 일방향(예로, 시계 방향)으로 회전하면, 제2고정부(51b)에 결합한 링커(52)의 제1고정부(52a)가 아랫방향으로 이동하고, 동시에 링커의 제2고정부(52b)에 연결된 푸셔(40)가 하강하게 된다.According to the configuration of the drive unit as described above, when the cam bar 51 rotates in one direction (for example, clockwise direction) with the first fixing part 51a as the rotation axis, the linker 52 coupled to the second fixing part 51b is formed. The first fixing portion 52a moves downward, and at the same time, the pusher 40 connected to the second fixing portion 52b of the linker is lowered.
이 과정에서 펠렛(30)의 안내편(32)이 가이드 홈의 경사면을 타고 상단으로 안내되어 이동되면서 펠렛은 푸셔(40)의 하부로 이동하게 된다.In this process, while the guide piece 32 of the pellet 30 is guided and moved to the upper side on the inclined surface of the guide groove, the pellet moves to the lower part of the pusher 40.
이와는 반대로 캠바(51)가 제1고정부(51a)를 회전축으로 하여 타방향(예로, 반시계 방향)으로 회전하면, 제2고정부(51b)에 결합한 링커(52)의 제1고정부(52a)가 상방향으로 이동하고, 동시에 링커의 제2고정부(52b)에 연결된 푸셔(40)가 상승하게 된다.On the contrary, when the cam bar 51 rotates in the other direction (for example, counterclockwise) with the first fixing part 51a as the rotation axis, the first fixing part of the linker 52 coupled to the second fixing part 51b ( 52a) moves upward, and at the same time, the pusher 40 connected to the second fixing part 52b of the linker is raised.
이 과정에서 펠렛(30)의 안내편(32)이 가이드 홈의 경사면을 타고 하단으로 안내되어 이동되면서 펠렛은 푸셔(40)로부터 멀어지게 된다.In this process, while the guide piece 32 of the pellet 30 is guided and moved to the lower side of the guide groove along the inclined surface, the pellet is moved away from the pusher 40.
상기와 같이 본 발명의 실시예에서는 구동부(50)을 캠구조를 갖도록 예시하고 있지만 반드시 이에 한정될 필요는 없으며, 또 캠바(51)가 베이스(10)에 결합된 형태로 구현되어 있지만 이 역시 플레이트에 고정되어도 무방하다. As described above, in the embodiment of the present invention, the driving unit 50 is illustrated to have a cam structure, but is not necessarily limited thereto, and the cam bar 51 is implemented in the form of being coupled to the base 10, but this is also a plate. It may be fixed to.
따라서, 본 발명의 실시예에서 상기 베이스(10)는 필수적으로 요구되어지지는 않으며, 플레이트와 베이스가 일체로 구성된 형태의 것도 본 발명의 실시예를 구성한다.Therefore, in the embodiment of the present invention, the base 10 is not necessarily required, and the plate and the base integrally constitute the embodiment of the present invention.
또, 상기 구동부는 수동으로 동작시킬 수도 있지만, 자동으로 동작되도록 하는 것이 바람직하다. 예를 들어, 캠바의 일단에 액츄에이터(미도시)를 장착하여 동작을 자동으로 제어하도록 한다. In addition, although the driving unit may be operated manually, it is preferable to operate automatically. For example, an actuator (not shown) is mounted at one end of the cam bar to automatically control the operation.
결국 상기와 같은 동작에 의해 푸셔(40)의 하면에 장착된 테스트소켓(100)은 하강이 완료되는 시점에서 플레이트 상에서 슬라이드의 동작에 의해 안내된 펠렛에 장착된 디스플레이 패널(200)의 인터페이스 단자와 전기적으로 접촉이 이루어질 수 있게 되어 테스트 과정을 수행할 수 있다. As a result, the test socket 100 mounted on the lower surface of the pusher 40 by the above operation is connected to the interface terminal of the display panel 200 mounted on the pellet guided by the operation of the slide on the plate at the time when the lowering is completed. Electrical contact can be made to perform the test procedure.
테스트가 완료되면 구동부에 의해 푸셔가 상승되어 테스트 소켓(100)과 디스프레이 패널(200)은 분리되고, 디스플레이 패널이 장착된 펠렛(30)은 플레이트 상에서 슬라이딩되면서 초기의 위치로 이동되어진다.
When the test is completed, the pusher is lifted by the driver to separate the test socket 100 and the display panel 200, and the pellet 30 on which the display panel is mounted is moved to an initial position while sliding on the plate.
상기와 같이, 본 발명의 바람직한 실시 예를 참조하여 설명하였지만 해당 기술 분야의 숙련된 당업자라면 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it will be understood by those of ordinary skill in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. It can be understood that
10: 베이스
20: 플레이트
30: 펠렛
40: 푸셔
50: 구동부
51: 캠바
52: 링커
60: 슬라이드
61: 가이드홈
100: 테스트 소켓
200: 디스플레이 패널
210: 회로부
10: Base
20: plate
30: pellet
40: pusher
50:
51: camba
52: linker
60: slide
61: guide groove
100: test socket
200: display panel
210: circuit part

Claims (5)

  1. 테스트 소켓이 장착된 푸셔;
    상기 푸셔를 승하강시키는 구동부;
    상기 푸셔의 하부에 위치하고, 구동부에 의해 푸셔가 하강할 때 플레이트 상에서 이동하여 테스트 소켓과 전기적 접촉을 이루는 디스플레이 패널이 장착된 펠렛;을 포함하되, 상기 구동부는,
    플레이트의 하부에 이를 지지하는 베이스의 측면에 장착된 캠바를 포함하고, 상기 캠바가 링커를 매개하여 상기 푸셔를 승강 혹은 하강하도록 구성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.
    Pusher with test socket;
    A driving unit for lifting and lowering the pusher;
    A pellet mounted on the lower part of the pusher and mounted with a display panel which moves on the plate and is in electrical contact with the test socket when the pusher descends by the driving part.
    And a cam bar mounted to a side of the base supporting the lower part of the plate, wherein the cam bar is configured to raise or lower the pusher via a linker.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 푸셔의 하면에 테스트 소켓이 장착되고, 상기 펠렛의 상면에 디스플레이 패널을 수용하는 장착홈이 수평하게 복수개 배치되어, 각 장착홈에 디스플레이 패널이 장착될 때 장착홈의 상단에 디스플레이 패널의 회로부가 위치하여 푸셔가 하강할 때 테스트 소켓의 단자가 상기 디스플레이 패널의 회로부 단자에 전기적으로 접촉될 수 있도록 구성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.
    The method of claim 1,
    A test socket is mounted on the lower surface of the pusher, and a plurality of mounting grooves for accommodating the display panel are horizontally disposed on the upper surface of the pellet, and when the display panel is mounted in each mounting groove, And the terminal of the test socket is electrically connected to the circuit terminal of the display panel when the pusher is lowered.
  3. 삭제delete
  4. 제 1항에 있어서,
    푸셔의 측면에 수직하게 장착되고, 펠렛의 일측에 형성된 안내편의 이동을 안내하는 경사 가이드홈이 형성되어, 상기 푸셔가 하강할 때, 상기 안내편이 경사가이드 홈을 따라 이동하면서 펠렛이 플레이트 상에서 이동하여 테스트 소켓과 전기적 접촉을 이루는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.
    The method of claim 1,
    It is mounted perpendicular to the side of the pusher, the inclined guide groove for guiding the movement of the guide piece formed on one side of the pellet is formed, when the pusher descends, the guide piece moves along the inclined guide groove while the pellet moves on the plate Display panel inspection device characterized in that the electrical contact with the test socket.
  5. 제 1항에 있어서,
    디스플레이 패널은 엘이디 모듈인 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.
    The method of claim 1,
    Display panel inspection device, characterized in that the LED module.
KR1020120016601A 2012-02-17 2012-02-17 Testing device for display panel KR101378506B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120016601A KR101378506B1 (en) 2012-02-17 2012-02-17 Testing device for display panel

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120016601A KR101378506B1 (en) 2012-02-17 2012-02-17 Testing device for display panel

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20130095130A KR20130095130A (en) 2013-08-27
KR101378506B1 true KR101378506B1 (en) 2014-03-27

Family

ID=49218633

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020120016601A KR101378506B1 (en) 2012-02-17 2012-02-17 Testing device for display panel

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101378506B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019054762A3 (en) * 2017-09-14 2019-05-09 (주)디이엔티 Pallet for oled panel inspection

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106324298B (en) * 2016-09-30 2020-08-11 京东方科技集团股份有限公司 Lighting test equipment

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000026546A (en) * 1998-10-21 2000-05-15 구자홍 Apparatus and method for checking flat display
KR20050063812A (en) * 1998-12-31 2005-06-28 폼팩터, 인크. Test assembly including a test die for testing a semiconductor product die
KR101077910B1 (en) * 2011-08-22 2011-10-31 우리마이크론(주) Test device for panel
KR101174860B1 (en) * 2012-02-15 2012-08-17 (주)버금시스템 Display panel test device for aligning tested object with testing board

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000026546A (en) * 1998-10-21 2000-05-15 구자홍 Apparatus and method for checking flat display
KR20050063812A (en) * 1998-12-31 2005-06-28 폼팩터, 인크. Test assembly including a test die for testing a semiconductor product die
KR101077910B1 (en) * 2011-08-22 2011-10-31 우리마이크론(주) Test device for panel
KR101174860B1 (en) * 2012-02-15 2012-08-17 (주)버금시스템 Display panel test device for aligning tested object with testing board

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019054762A3 (en) * 2017-09-14 2019-05-09 (주)디이엔티 Pallet for oled panel inspection

Also Published As

Publication number Publication date
KR20130095130A (en) 2013-08-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105445972B (en) Probe moving device
KR100784274B1 (en) Apparatus For Inspecting Of Display Panel
CN103135268A (en) Detection device of liquid crystal display panel
US9372302B2 (en) Backlight simulating device
US20120126718A1 (en) LED Array Inspection Fixture
KR101378506B1 (en) Testing device for display panel
KR20140080166A (en) Pcb substrate inspection device
KR100733276B1 (en) apparatus for inspecting panel display and method for inspecting panel display using the same
KR101320646B1 (en) Testing module for display panel and the device comprising the same
CN102253508B (en) Liquid crystal display tester and testing method thereof
KR20150103845A (en) Structure of the carrier mobility F PCB inspection equipment
CN202126546U (en) LCD (liquid crystal display) testing machine
TW201411117A (en) Inspection device
KR101579090B1 (en) Device for Testing Display Panel
CN102508175B (en) Pneumatic veneer optical-fiber light emitting diode (LED) indicator lamp test instrument
CN203705287U (en) Flat cable antifriction testing device
CN207165214U (en) A kind of detection means of multifunctional lift position segment liquid crystal screen
KR101383032B1 (en) Probe card detaching structure of probe test apparatus
TWM452334U (en) Detecting device
CN104317081A (en) Lighting device
KR102121887B1 (en) Moving probe unit for testing OLED panel
KR100999862B1 (en) Probe block for the lcd
KR102023926B1 (en) Method and apparatus for testing flat panel display
KR200474316Y1 (en) Vertical manipulator
CN205049700U (en) PCBA board test rack

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E90F Notification of reason for final refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170320

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180302

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190319

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20200220

Year of fee payment: 7