KR20040103172A - 광 디스크의 틸트 검출 방법 - Google Patents

광 디스크의 틸트 검출 방법 Download PDF

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KR20040103172A
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권영만
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주식회사 대우일렉트로닉스
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Abstract

본 발명은 광 디스크(optical disk)의 내주와 외주에서의 각 포커스 온(focus on)에 따른 각 전압을 비교하여 광 디스크의 틸트(tilt)를 검출하는 방법에 관한 것이다. 본 발명은 광 디스크의 내주와 외주에서의 각 포커스 온에 따라 각기 검출되는 각 전압을 비교하여 광 디스크의 틸트 정도를 검출한다. 따라서, 이 정보를 이용하여 광 픽업을 보다 정밀하게 제어할 수 있다. 즉, 광 디스크의 틸트는 광 디스크와 광 픽업의 수평이 맞지않아 발생되므로 그 틸트 정도를 정확하게 검출해서 틸트 서보를 수행하여 광 디스크의 광 픽업이 정상적으로 수행되도록 하는 것이다.

Description

광 디스크의 틸트 검출 방법{METHOD FOR DETECTING TILT OF OPTICAL DISK}
본 발명은 광 디스크(optical disk)의 틸트(tilt) 검출 방법에 관한 것으로, 특히, 광 디스크의 내주와 외주에서의 각 포커스 온(focus on)에 따른 각 전압을 비교하여 광 디스크의 틸트를 검출하는 방법에 관한 것이다.
일반적으로 광 디스크의 물리적 집적도가 높아짐에 따라 광 픽업을 보다 정밀하게 제어할 필요성이 높아지고 있다.
이와 같이 광 픽업을 보다 정밀하게 제어하기 위해서는 광 디스크의 틸트 정도를 정확하게 검출하여 그 틸트에 대응하는 서보를 수행하도록 해야한다. 즉, 광 디스크의 틸트는 광 디스크와 광 픽업의 수평이 맞지않아 발생되므로 그 틸트 정도를 정확하게 검출해서 틸트 서보를 수행하여 광 디스크의 광 픽업이 정상적으로 수행되도록 하는 것이 매우 중요하다.
본 발명은 상술한 광 디스크의 틸트 검출을 수행하기 위하여 안출한 것으로, 광 디스크의 내주와 외주에서의 각 포커스 온에 따라 각기 검출되는 각 전압을 비교하여 광 디스크의 틸트 정도를 검출하는 광 디스크의 틸트 검출 방법을 제공하는 데 그 목적이 있다.
이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 광 디스크의 광 픽업 장치에서 광 디스크의 틸트 검출 방법에 있어서, 상기 광 디스크의 내주의 광 픽업에 대응하는 전압을 검출하는 제 1 단계와, 상기 광 디스크의 외주의 광 픽업에 대응하는 전압을 검출하는 제 2 단계와, 상기 내주의 광 픽업에 대응하는 전압과 상기 외주의 광 픽업에 대응하는 전압의 차이를 통해 상기 광 디스크의 틸트 정도를 판별하는 제 3 단계와를 포함하는 것을 특징으로 한다.
도 1은 본 발명에 따른 광 디스크의 틸트 검출 방법을 실시하기 위한 광 디스크의 광 픽업 장치의 일 실시예를 나타낸 블록도,
도 2는 본 발명에 따른 광 디스크의 틸트 검출 방법의 일 실시예를 단계별로 나타낸 순서도.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 1은 본 발명에 따른 광 디스크의 틸트 검출 방법을 실시하기 위한 광 디스크의 광 픽업 장치의 일 실시예를 나타낸 블록도로, 스핀들 모터(12)가 광 디스크(10)를 회전시키고 광 픽업부(14)가 회전하는 광 디스크(10)에 기록된 데이터를 광 픽업하도록 구성된다.
동 도면에 있어서, 스핀들 모터(12)는 소정의 구동 신호에 따라 광디스크(10)를 회전시킨다.
광 픽업부(14)는 좌우로 이송하면서 회전하는 광 디스크(10)에 기록된 데이터를 광 픽업하여 그 광 픽업에 대응하는 전압을 발생시킨다. 이와 같이 광 픽업된 데이터가 오디오 신호나 영상 신호일 경우 다음 단의 기설정된 재생계에서 재생될 수 있다.
도 2는 본 발명에 따른 광 디스크의 틸트 검출 방법의 일 실시예를 단계별로 나타낸 순서도이다.
먼저, 광 픽업부(14)는 광 디스크(10)의 내주의 광 픽업에 대응하는 전압을 검출한다(단계 20). 즉, 광 픽업부(14)는 광 디스크(10)의 내주에서의 포커스 온에 따라 광 픽업에 대응하는 전압을 검출한다.
광 픽업부(14)는 광 디스크(10)의 외주의 광 픽업에 대응하는 전압을 검출한다(단계 22). 즉, 광 픽업부(14)는 광 디스크(10)의 외주에서의 포커스 온에 따라 광 픽업에 대응하는 전압을 검출한다.
광 픽업부(14)는 내주의 광 픽업에 대응하는 전압과 외주의 광 픽업에 대응하는 전압의 차이를 통해 광 디스크(10)의 틸트 정도를 판별한다(단계 24).
틸트 서보를 수행하여 광 디스크(10)의 틸트를 보정해서 광 디스크(10)와 광 픽업부(14)가 수평을 유지하도록 한다(단계 24).
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명은 광 디스크의 내주와 외주에서의 각 포커스 온에 따라 각기 검출되는 각 전압을 비교하여 광 디스크의 틸트 정도를 검출한다. 따라서, 이 정보를 이용하여 광 픽업을 보다 정밀하게 제어할 수 있다. 즉, 광 디스크의 틸트는 광 디스크와 광 픽업의 수평이 맞지않아 발생되므로 그 틸트 정도를 정확하게 검출해서 틸트 서보를 수행하여 광 디스크의 광 픽업이 정상적으로 수행되도록 하는 것이다.

Claims (2)

  1. 광 디스크의 광 픽업 장치에서 광 디스크의 틸트 검출 방법에 있어서,
    상기 광 디스크의 내주의 광 픽업에 대응하는 전압을 검출하는 제 1 단계와,
    상기 광 디스크의 외주의 광 픽업에 대응하는 전압을 검출하는 제 2 단계와,
    상기 내주의 광 픽업에 대응하는 전압과 상기 외주의 광 픽업에 대응하는 전압의 차이를 통해 상기 광 디스크의 틸트 정도를 판별하는 제 3 단계와
    를 포함하는 광 디스크의 틸트 검출 방법.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 전압 검출은 포커스 온에 따른 상기 광 픽업에 대응하는 전압 검출인 광 디스크의 틸트 검출 방법.
KR1020030035100A 2003-05-31 2003-05-31 광 디스크의 틸트 검출 방법 KR20040103172A (ko)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100774619B1 (ko) * 2006-04-05 2007-11-08 엘지전자 주식회사 광디스크장치의 틸트 조정방법

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