KR20040103173A - 면진 광 디스크의 틸트 검출 방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 면진 광 디스크(optical disk)의 내주와 외주에서의 각 포커스 온(focus on)에 따른 각 전압의 평균치를 비교하여 면진 광 디스크의 틸트(tilt)를 검출하는 방법에 관한 것이다. 본 발명은 면진 광 디스크의 내주와 외주에서의 각 포커스 온에 따라 각기 검출되는 각 전압의 평균치를 비교하여 면진 광 디스크의 틸트 정도를 검출한다. 따라서, 이 정보를 이용하여 광 픽업을 보다 정밀하게 제어할 수 있다. 즉, 면진 광 디스크의 틸트는 면진 광 디스크와 광 픽업의 수평이 맞지않아 발생되므로 그 틸트 정도를 정확하게 검출해서 틸트 서보를 수행하여 면진 광 디스크의 광 픽업이 정상적으로 수행되도록 하는 것이다.
Description
본 발명은 면진 광 디스크(distorted optical disk)의 틸트(tilt) 검출 방법에 관한 것으로, 특히, 면진 광 디스크의 내주와 외주에서의 각 포커스 온(focus on)에 따른 각 전압의 평균치를 비교하여 면진 광 디스크의 틸트를 검출하는 방법에 관한 것이다.
일반적으로 광 디스크의 물리적 집적도가 높아짐에 따라 광 픽업을 보다 정밀하게 제어할 필요성이 높아지고 있다.
이와 같이 광 픽업을 보다 정밀하게 제어하기 위해서는 면진 광 디스크에 대해서도 틸트 정도를 정확하게 검출하여 그 틸트에 대응하는 서보를 수행하도록 해야한다. 즉, 면진 광 디스크의 틸트는 면진 광 디스크와 광 픽업의 수평이 맞지않아 발생되므로 그 틸트 정도를 정확하게 검출해서 틸트 서보를 수행하여 면진 광 디스크의 광 픽업이 정상적으로 수행되도록 하는 것이 매우 중요하다.
본 발명은 상술한 면진 광 디스크의 틸트 검출을 수행하기 위하여 안출한 것으로, 면진 광 디스크의 내주와 외주에서의 각 포커스 온에 따라 각기 검출되는 각 전압의 평균치를 비교하여 면진 광 디스크의 틸트 정도를 검출하는 면진 광 디스크의 틸트 검출 방법을 제공하는 데 그 목적이 있다.
이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 광 디스크의 광 픽업 장치에서 면진 광 디스크의 틸트 검출 방법에 있어서, 상기 면진 광 디스크의 내주의 광 픽업에 대응하는 전압의 평균치를 검출하는 제 1 단계와, 상기 면진 광 디스크의 외주의 광 픽업에 대응하는 전압의 평균치를 검출하는 제 2 단계와, 상기 내주의 광 픽업에 대응하는 전압의 평균치와 상기 외주의 광 픽업에 대응하는 전압의 평균치의 차이를 통해 상기 면진 광 디스크의 틸트 정도를 판별하는 제 3 단계와를 포함하는 것을 특징으로 한다.
도 1은 본 발명에 따른 면진 광 디스크의 틸트 검출 방법을 실시하기 위한 광 디스크의 광 픽업 장치의 일 실시예를 나타낸 블록도,
도 2는 본 발명에 따른 면진 광 디스크의 틸트 검출 방법의 일 실시예를 단계별로 나타낸 순서도.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 1은 본 발명에 따른 면진 광 디스크의 틸트 검출 방법을 실시하기 위한 광 디스크의 광 픽업 장치의 일 실시예를 나타낸 블록도로, 스핀들 모터(12)가 면진 광 디스크(10)를 회전시키고 광 픽업부(14)가 회전하는 면진 광 디스크(10)에 기록된 데이터를 광 픽업하도록 구성된다.
동 도면에 있어서, 스핀들 모터(12)는 소정의 구동 신호에 따라 면진 광 디스크(10)를 회전시킨다.
광 픽업부(14)는 좌우로 이송하면서 회전하는 면진 광 디스크(10)에 기록된 데이터를 광 픽업하여 그 광 픽업에 대응하는 전압을 발생시킨다. 이와 같이 광 픽업된 데이터가 오디오 신호나 영상 신호일 경우 다음 단의 기설정된 재생계에서 재생될 수 있다.
도 2는 본 발명에 따른 면진 광 디스크의 틸트 검출 방법의 일 실시예를 단계별로 나타낸 순서도이다.
먼저, 광 픽업부(14)는 면진 광 디스크(10)의 내주의 광 픽업에 대응하는 전압의 평균치를 검출한다(단계 20). 즉, 광 픽업부(14)는 면진 광 디스크(10)의 내주에서의 포커스 온에 따라 광 픽업에 대응하는 전압을 검출하여 평균치를 계산한다.
광 픽업부(14)는 면진 광 디스크(10)의 외주의 광 픽업에 대응하는 전압의 평균치를 검출한다(단계 22). 즉, 광 픽업부(14)는 광 디스크(10)의 외주에서의 포커스 온에 따라 광 픽업에 대응하는 전압을 검출하여 평균치를 계산한다.
광 픽업부(14)는 내주의 광 픽업에 대응하는 전압의 평균치와 외주의 광 픽업에 대응하는 전압의 평균치의 차이를 통해 면진 광 디스크(10)의 틸트 정도를 판별한다(단계 24).
틸트 서보를 수행하여 면진 광 디스크(10)의 틸트를 보정해서 면진 광 디스크(10)와 광 픽업부(14)가 수평을 유지하도록 한다(단계 24).
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명은 면진 광 디스크의 내주와 외주에서의 각 포커스 온에 따라 각기 검출되는 각 전압의 평균치를 비교하여 면진 광 디스크의 틸트 정도를 검출한다. 따라서, 이 정보를 이용하여 광 픽업을 보다 정밀하게 제어할 수 있다. 즉, 면진 광 디스크의 틸트는 면진 광 디스크와 광 픽업의 수평이 맞지않아 발생되므로 그 틸트 정도를 정확하게 검출해서 틸트 서보를 수행하여 면진 광 디스크의 광 픽업이 정상적으로 수행되도록 하는 것이다.
Claims (2)
- 광 디스크의 광 픽업 장치에서 면진 광 디스크의 틸트 검출 방법에 있어서,상기 면진 광 디스크의 내주의 광 픽업에 대응하는 전압의 평균치를 검출하는 제 1 단계와,상기 면진 광 디스크의 외주의 광 픽업에 대응하는 전압의 평균치를 검출하는 제 2 단계와,상기 내주의 광 픽업에 대응하는 전압의 평균치와 상기 외주의 광 픽업에 대응하는 전압의 평균치의 차이를 통해 상기 면진 광 디스크의 틸트 정도를 판별하는 제 3 단계와를 포함하는 면진 광 디스크의 틸트 검출 방법.
- 제 1 항에 있어서, 상기 전압의 평균치 검출은 포커스 온에 따른 상기 광 픽업에 대응하는 전압의 평균치 검출인 면진 광 디스크의 틸트 검출 방법.
Priority Applications (1)
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| KR1020030035101A KR20040103173A (ko) | 2003-05-31 | 2003-05-31 | 면진 광 디스크의 틸트 검출 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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| KR1020030035101A KR20040103173A (ko) | 2003-05-31 | 2003-05-31 | 면진 광 디스크의 틸트 검출 방법 |
Country Status (1)
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2003
- 2003-05-31 KR KR1020030035101A patent/KR20040103173A/ko not_active Application Discontinuation
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