KR20040051165A - 동기신호 검출장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명의 동기신호 검출장치는 감광 드럼상에 정전잠상을 형성하는 레이저 빔을 검출하여 정전잠상이 맺히는 시작위치를 동기시키기 위한 동기신호를 발생하는 레이저 빔 검출 센서, 및 레이저 빔을 발생하는 반도체 레이저에서 레이저 빔 검출 센서까지 레이저 빔 검출 경로를 구성하도록 감광 드럼상에 정전잠상을 형성하는 레이저 빔 경로의 중간에 배치되어 감광 드럼상으로 진행하는 레이저 빔의 일부를 포커싱하여 레이저 빔 검출 센서의 감지영역으로 반사하는 하나의 포커싱 렌즈를 포함한다. 포커싱 렌즈는 반사면을 형성한 일면, 및 반사면에 감광 드럼상으로 진행하는 레이저 빔의 일부를 입사하는 입사면과 반사면에서 반사되는 레이저 빔을 레이저 빔 검출 센서의 감지영역으로 출사하는 출사면을 형성한 타면을 포함한다. 본 발명의 동기신호 검출장치는 반사 미러와 레이저 빔 검출 렌즈를 각각 별도로 형성하지 않고 일체로 구성함으로써 부품치수 및 조립편차에 따른 화상품질 불량 발생을 방지할 수 있을 뿐 아니라, 부품수를 감소시켜 조립공정을 감소시키고 제작 코스트를 절감할 수 있다.

Description

동기신호 검출장치{apparatus for detecting a synchronizing signal}
본 발명은 프린터, 팩시밀리, 복사기 등과 같은 화상형성 장치에 사용되는 광주사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 부품의 치수편차 및 조립편차 발생을 최소화하여 인쇄 품질을 균일하게 할 수 있는 광주사장치의 동기신호 검출장치에 관한 것이다.
일반적으로, 프린터, 팩시밀리, 복사기 등의 화상형성 장치에 사용되는 광주사장치는 감광드럼 또는 감광벨트와 같은 감광체상에 정전잠상(electrostatic latent image)을 형성하기 위하여, 레이저 빔과 같은 광 플럭스(flux)를 발생하는 광원을 이용하고 있다.
이러한 광주사장치는 반도체 레이저와 같은 광원에서 발생된 레이저 빔을 콜리메이터 렌즈(collimator lens)를 통해 소정 크기를 갖는 평행광으로 변화시켜 고속 회전하는 광 편향기로 유도하고, 광 편향기에서 레이저 빔의 반사방향을 편향시킨 후 에프-세타(f-theta) 렌즈와 같은 주사렌즈를 통해 감광체 상에 주사하여 정전잠상을 형성한다.
이 때, 감광체 상에 형성되는 정전잠상이 맺히는 시작위치, 즉 레이저 빔 주사라인의 형성위치는 화상 형성위치를 일정하게 동기시키기 위한 동기신호를 발생시키는 동기신호 검출장치를 통해 제어된다.
도 1을 참조하면, 감광체상에 정전잠상을 형성하기 위한 일반적인 광주사장치(10)가 개략적으로 도시되어 있다.
이 광주사장치(10)는 레이저 빔(14)을 방출할 수 있는 반도체 레이저(1), 반도체 레이저(1)에 대응하게 배치되어 평행광을 형성하는 콜리메이터 렌즈(2), 콜리메이터 렌즈(2)를 통과한 레이저 빔(14)을 정형화 시키는 슬릿(slit)(3), 슬릿(3)을 통과한 레이저 빔을 부주사 방향에 대해 수평방향의 선형광으로 만들어 주는 실린더 렌즈(4), 및 레이저 빔(14)의 반사방향을 편향시키는 광 편향기(5)를 포함한다.
광 편향기(5)는 도시하지 않은 스핀들 모터에 의해 지지되어 고속으로 회전하도록 구동되는 회전 다면경(5a)을 구비한다.
또한, 광주사장치(10)는 회전 다면경(5a)에 의해 편향된 레이저 빔(14)에 포함된 오차를 보정하여 감광드럼(20)으로 출사하는 에프-세타 렌즈와 같은 주사렌즈(6), 및 감광드럼(20)상에 주사되는 레이저빔 주사라인(20a)의 정전잠상 형성위치를 일정하게 동기시키기 위한 동기신호를 발생하는 동기신호 검출부(30)를 포함한다.
동기신호 검출부(30)는 주사 렌즈(6)의 단부를 통과하는 레이저 빔(14)의 일부 경로 상에서 스프링(7)에 고정된 반사미러(8), 반사미러(8)에서 반사되는 레이저 빔(14)을 주 주사방향으로 수렴하도록 구면 또는 실린더면 형상이나 평면 형상의 입사면 및 출사면을 갖는 레이저 빔 검출 렌즈(9), 및 레이저 빔 검출 렌즈(9)을 통과한 레이저 빔(14)을 검출하여 동기신호를 발생하도록 반도체 레이저 고정용인쇄회로 기판(printed circuit board: PCB)(12) 또는 별도의 PCB(도시하지 않음)에, 조립된 포토 다이오드 센서(photo diode sensor)와 같은 레이저 빔 검출 센서(11)로 구성된다.
이와 같이 구성되는 종래의 광주사장치(10)의 작용을 살펴보면, 입력 영상신호에 따라, 반도체 레이저(1)로부터 방출된 레이저 빔(14)은 콜리메이터 렌즈(2)에 의해 평행한 광으로 만들어 지고, 레이저 빔(14)의 형상을 정형화시키는 슬릿(3)를 통과한 후, 실린더 렌즈(4)를 경유하여 스핀들 모터에 의해 고속으로 회전하는 회전 다면경(5a)의 편향면에 반사되어 편향된다.
그 다음, 레이저 빔(14)은 주사 렌즈(6)를 경유하여 감광드럼(20) 상에 광 스팟으로서 집광되어, 유효주사폭을 갖는 주사라인(20a)을 주 주사방향에 따라 주사한다. 이 때, 감광드럼(20)은 구동모터(도시하지 않음)에 의해 부 주사방향으로 회전하도록 구동됨으로, 주 주사방향을 따른 광 스팟들의 주사 운동 및 부 주사방향에 따른 감광드럼(20)의 운동의 결과로 정전잠상이 감광드럼(20) 상에 형성된다.
한편, 회전 다면경(5a)에 의해 편향된 레이저 빔(14) 중 레이저 빔 주사라인(20a)의 유효주사폭 앞, 뒤의 레이저 빔(14)은 주사 렌즈(6)를 경유하여 반사미러(8)에 의해 반사되고, 레이저 빔 검출 렌즈(9)를 통해 주 주사방향으로 수렴된 후 레이저 빔 검출 센서(11)를 통해 PCB(12)의 동기신호 발생회로(도시하지 않음)에 전달되고, 그 결과 동기신호 발생회로는 동기 신호를 발생한다.
동기신호 발생회로에 의해 발생된 동기신호는 중앙처리 장치(도시하지 않음)로 입력되고, 중앙처리 장치는 감광드럼(20) 상의 광 스팟들의 주사시작 타이밍 및화상형성 타이밍을 제어한다.
그러나, 이와 같이 동작하는 종래의 광주사장치(10)에 따르면, 반사 미러(8)와 레이저 빔 검출 렌즈(9)는 광주사장치(10) 내의 좁은 공간에서 별도로 고정되는 등 복잡한 구조를 가지므로, 반사미러(8), 레이저 빔 검출 렌즈(9), 레이저 빔 검출 센서(11) 등의 부품의 제작 및 조립시 치수 및 조립편차가 발생하기 쉽다.
이와 같이, 제작부품의 치수 및 조립편차가 발생할 경우, 반사미러(8) 및 레이저 빔 검출 렌즈(9)의 광축 중심과 레이저 빔 검출 센서(11)의 감지영역을 서로 정확하게 일치시키기 어렵게 된다. 따라서, 레이저 빔(14)이 레이저 빔 검출 센서(11)에 입사되는 포인트가 균일하지 않게 되어 동기신호 검출위치가 변하게 되고, 그 결과 출력되는 인쇄물의 인쇄품질은 균일하지 않게 되는 문제를 발생하게 된다.
본 발명은 상기한 바와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 별도의 반사미러를 사용하지 않고 레이저 빔 검출 렌즈가 반사 미러의 기능을 갖도록 함으로서, 부품의 제작 및 조립시 치수편차 및 조립편차 발생을 최소화하여 인쇄 품질을 균일하게 한 동기신호 검출장치를 제공하는데 있다.
본 발명의 다른 목적은 부품수를 감소시켜 제작 코스트를 절감시키기 위한 동기신호 검출장치를 제공하는데 있다.
도 1은 종래의 광주사장치의 개략 평면도.
도 2는 도 1 에 도시한 광주사장치의 동기신호 검출장치의 평면도.
도 3은 본 발명에 따른 동기신호 검출장치가 적용된 광주사장치의 개략 평면도.
도 4은 도 3에 도시한 동기신호 검출장치의 포커싱 렌즈의 평면도.
도 5는 본 발명에 따른 동기신호 검출장치가 적용된 광주사장치의 변형예의 개략 평면도.
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*
1, 101: 반도체 레이저 2, 102: 콜리메이터 렌즈
3, 103: 슬릿 4, 104: 실린더 렌즈
5, 105: 광 편향기 5a, 105a: 회전 다면경
6, 106, 106': 주사 렌즈 8: 반사 미러
9: 레이저 빔 검출 렌즈 11, 111: 레이저 빔 검출 센서
12, 112: 인쇄회로 기판 14, 114: 레이저 빔
20, 120: 감광드럼 30, 130: 동기신호 검출장치
108: 포커싱 렌즈 109a: 반사면
110a: 입사면 110b: 출사면
상기 목적을 달성하기 위한 한 실시양태에 따르면, 본 발명은 감광체상에 정전잠상을 형성하는 광 플럭스를 검출하여 정전잠상이 맺히는 시작위치를 동기시키기 위한 동기신호를 발생하는 광 플럭스 검출 센서를 포함하는 광주사장치의 동기신호 검출장치에 있어서, 광 플럭스를 발생하는 광원에서 광 플럭스 검출 센서까지 광플럭스 검출 경로를 구성하도록 감광체상에 정전잠상을 형성하는 광 플럭스 경로의 중간에 배치되어 감광체상으로 진행하는 광 플럭스의 일부를 포커싱하여 광 플럭스 검출 센서의 감지영역으로 반사하는 하나의 포커싱 렌즈를 포함하는 동기신호 검출장치를 제공한다.
양호한 실시예에 있어서, 포커싱 렌즈는 반사면을 형성한 일면, 및 반사면에 감광체상으로 진행하는 광 플럭스의 일부를 입사하는 입사면과 반사면에서 반사되는 광 플럭스를 광 플럭스 검출 센서의 감지영역으로 출사하는 출사면을 형성한 타면을 구비한다.
입사면과 출사면은 각각 구면 및 실린더면 형상 중의 하나로 구성되고, 반사면은 평면 및 실린더면 형상 중의 하나로 구성되는 것이 바람직하다.
또한, 광 플럭스 검출 경로는 광원에서 방출된 광 플럭스를 편향시키는 광 편향기에서 편향된 광 플럭스의 오차를 보정하는 주사렌즈를 포함하도록 구성된다.
선택적으로, 광 플러스 검출 경로는 광원에서 방출된 광 플럭스를 편향시키는 광 편향기에서 편향된 광 플럭스의 오차를 보정하는 주사렌즈를 포함하지 않도록 구성될 수 있다.
본 발명의 또 다른 실시 양태에 따르면, 본 발명은 감광체상에 정전잠상을 형성하는 레이저 빔의 일부경로 상에 배치된 반사미러, 반사미러에서 반사되는 레이저 빔을 수렴 또는 발산하는 레이저 빔 검출 렌즈, 및 레이저 빔 검출 렌즈를 통과한 레이저 빔을 검출하여 정전잠상이 맺히는 시작위치를 일정하게 동기시키기 위한 동기신호를 발생하는 레이저 빔 검출 센서를 포함하는 광주사장치의 동기신호 검출장치에 있어서, 반사 미러와 빔 검출 렌즈가 서로 일체로 형성된 동기신호 검출장치를 제공한다.
양호한 실시예에 있어서, 반사 미러는 레이저 빔 검출 렌즈의 일면에 부착되며, 빔 검출 렌즈의 타면은 반사 미러에 레이저 빔을 입사하는 입사면과 반사 미러에서 반사되는 레이저 빔을 레이저 빔 검출 센서의 감지영역으로 출사하는 출사면을 갖는다.
반사 미러는 평면 및 실린더면 형상 중의 하나로 구성되고, 레이저 빔 검출 렌즈의 타면의 입사면과 출사면은 각각 구면 및 실린더면 형상 중의 하나로 구성되는 것이 바람직하다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하면서 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 동기신호 검출장치를 첨부도면에 관하여 상세히 설명한다.
도 3을 참조하면, 본 발명에 따른 동기신호 검출장치가 적용되는 광 주사장치(100)가 예시되어 있다.
본 발명의 동기신호 검출장치가 적용되는 광주사장치(100)는 레이저 빔(114)과 같은 광 플럭스를 방출하는 반도체 레이저(101), 평행광을 형성하는 콜리메이터 렌즈(102), 레이저 빔(114)을 정형화 시키는 슬릿(103), 레이저 빔을 부주사 방향에 대해 수평방향의 선형광으로 만들어 주는 실린더 렌즈(104), 레이저 빔(114)의반사방향을 편향시키는 광 편향기(105), 및 레이저 빔(114)에 포함된 오차를 보정하여 감광드럼(120)으로 출사하는 에프-세타 렌즈와 같은 주사렌즈(106)를 구비한다.
이들 구성부분들의 구성은 도 1에 도시한 광주사장치(10)의 그것과 동일 함으로 여기서 상세한 설명은 생략하기로 한다.
본 발명의 동기신호 검출장치(130)는 레이저 빔(114)을 검출하기 위한 레이저 빔 검출 경로를 구성하도록 감광 드럼(120)상에 정전잠상을 만드는 레이저 빔 주사라인(120a)을 형성하기 위한 레이저 빔 경로의 중간에 배치되어 레이저 빔(114)의 일부를 포커싱하여 반사하는 하나의 포커싱 렌즈(108), 포커싱 렌즈(108)에서 반사되는 레이저 빔(114)을 검출하여 레이저 빔 주사라인(120a)의 시작위치를 동기시키기 위한 동기신호를 발생하는 레이저 빔 검출 센서(111), 및 레이저 빔 검출 센서(111)를 고정하는 PCB(112)를 포함한다.
포커싱 렌즈(108)는 주사 렌즈(106)와 감광드럼(120) 사이에 배치된다. 따라서, 포커싱 렌즈(108)에 의해 형성되는 레이저 빔 검출 경로는 반도체 레이저(101), 콜리메이터 렌즈(102), 슬릿(103), 실린더 렌즈(104), 광 편향기(105), 주사 렌즈(106), 포커싱 렌즈(108) 및 레이저 빔 검출 센서(111)로 구성된다.
도 4에 도시한 바와 같이, 포커싱 렌즈(108)는 레이저 빔(114)을 반사하는 반사면(109a)을 형성한 제 1 면(109), 및 반사면(109a)에 감광 드럼(120)상으로 진행하는 레이저 빔(114)의 일부를 입사하는 입사면(110a)과 반사면(109a)에서 반사되는 레이저 빔(114)을 레이저 빔 검출 센서(111)의 감지영역으로 출사하는 출사면(110b)을 형성한 제 2 면(110)을 구비한다.
입사면(110a)과 출사면(110b)은 각각 구면 및 실린더면 형상 중의 하나로 구성되고, 반사면(109a)은 평면 및 실린더면 형상 중의 하나로 구성된다.
따라서, 포커싱 렌즈(108)의 입사면(110a)/반사면(109a)/출사면(110b)의 형상은 구면/실린더면/구면, 구면/평면/구면, 실린더면/실린더면/실린더면, 또는 실린더면/평면/실린더면으로 형성된다.
반사면(109a)은 포커싱 렌즈(108)의 제 1 면(109)을 적당한 형태로 가공한 후 박막 형태의 반사필름을 증착 또는 부착하거나, 별도의 반사 미러부재를 부착하는 것에 의해 포커싱 렌즈(108)의 제 1 면(109)에 형성될 수 있다.
이와 같이, 본 발명의 동기신호 검출장치(130)의 포커싱 렌즈(108)는 종래의 광주사장치(10)와 같이 반사 미러(8)와 레이저 빔 검출 렌즈(9)를 별도로 형성하지 않고 일체로 구성함으로써 반사 미러(8)와 레이저 빔 검출 렌즈(9)의 제작치수 및 조립편차에 따른 화상품질 불량 발생을 방지할 수 있게 된다.
레이저 빔 검출 센서(111)는 포토 다이오드 센서로 구성되는 것이 바람직하며, 레이저 빔(114)을 발생하는 반도체 레이저(101)와 같은 광원이 설치된 PCB(112)에 고정된다.
선택적으로, 레이저 빔 검출 센서(111)는 PCB(112) 대신 별도의 레이저 빔 검출 센서(111)를 고정하기 위한 PCB 또는 홀더(도시하지 않음)에 고정될 수 있다.
이상에서 설명한 본 발명의 동기신호 검출장치(130)의 작용을 도 3 및 도 4에 관하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
먼저, 도 1 에 관하여 설명한 광주사장치(10)와 같이, 반도체 레이저(101)에서 방출되어 콜리메이터 렌즈(102), 슬릿(103), 및 실린더 렌즈(104)를 경유하여 광 편향기(105)의 회전 다면경(105a)에 의해 편향된 레이저 빔(114) 중 레이저 빔 주사라인(120a)의 유효주사폭 앞, 뒤의 레이저 빔(114)은 주사 렌즈(106)를 경유하여 포커싱 렌즈(108)의 입사면(110a)으로 일정한 입사각을 가지면서 입사된다.
입사면(110a)에 입사된 레이저 빔(114)은 입사면(110a)의 형상에 따라 소정의 굴절률로 굴절된 후 반사면(109a)에 입사되고, 반사면(109a)에서, 레이저 빔(114)은 입사면(110a)에 의해 굴절되어 입사된 입사각과 대칭인 각도로 반사되어 출사면(110b)을 통하여 출사면(110b)의 형상에 상응하는 소정의 굴절률로 굴절되어 주 주사방향으로 수렴된 후 레이저 빔 검출 센서(111)를 통해 PCB(112)의 동기신호 발생회로(도시하지 않음)에 전달된다.
그 결과 동기신호 발생회로는 도 1에 관하여 설명한 광주사장치(10)와 같이, 동기 신호를 발생하여 중앙처리 장치(도시하지 않음)로 출력하고, 중앙처리 장치는 감광드럼(120) 상의 광 스팟들의 주사시작 타이밍 및 화상형성 타이밍을 제어한다.
도 5를 참조하면, 본 발명의 동기신호 검출장치(130)를 적용한 광주사장치(100')의 변형예가 예시되어 있다.
이 광주사장치(100')는 포커싱 렌즈(108)가 레이저 빔(115)을 광 편향기(105)에서 레이저 빔 검출 센서(111)로 바로 반사하도록 변형된 주사렌즈(106')를 갖는 것을 제외하고는 도 3에 도시한 광주사장치(100)의 구성 및작용과 동일하다.
이 광주사장치(100')에서, 포커싱 렌즈(108)에 의해 형성되는 레이저 빔 검출 경로는 반도체 레이저(101), 콜리메이터 렌즈(102), 슬릿(103), 실린더 렌즈(104), 광 편향기(105), 포커싱 렌즈(108) 및 레이저 빔 검출 센서(111)로 구성된다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명의 동기 신호 검출장치는 반사 미러와 빔 검출 렌즈를 각각 별도로 형성하지 않고 일체로 구성함으로써 부품치수 및 조립편차에 따른 화상품질 불량 발생을 방지할 수 있을 뿐 아니라, 부품수를 감소시켜 조립공정을 감소시키고 제작 코스트를 절감할 수 있다.
이상에서, 본 발명의 특정한 바람직한 실시예에 대하여 도시하고 또한 설명하였다. 그러나, 본 발명은 상술한 실시예에 한정되지 아니하며, 특허청구의 범위에서 청구하는 본 발명의 요지와 사상을 벗어남이 없이 당해 발명에 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자라면 누구든지 다양한 수정과 변형실시가 가능할 것이다.

Claims (12)

  1. 감광체상에 정전잠상을 형성하는 광 플럭스 검출하여 정전잠상이 맺히는 시작위치를 동기시키기 위한 동기신호를 발생하는 광 플럭스 검출 센서를 포함하는 광주사장치의 동기신호 검출장치에 있어서,
    광 플럭스를 발생하는 광원에서 상기 광 플럭스 검출 센서까지 광 플럭스 검출 경로를 구성하도록 상기 감광체상에 정전잠상을 형성하는 광 플럭스 경로의 중간에 배치되어 상기 감광체상으로 진행하는 광 플럭스의 일부를 포커싱하여 상기 광 플럭스 검출 센서의 감지영역으로 반사하는 하나의 포커싱 렌즈를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 동기신호 검출장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 포커싱 렌즈는,
    반사면을 형성한 일면; 및
    상기 반사면에 상기 감광체상으로 진행하는 광 플럭스의 일부를 입사하는 입사면과 상기 반사면에서 반사되는 광 플럭스를 상기 광 플럭스 검출 센서의 감지영역으로 출사하는 출사면을 형성한 타면을 포함하는 것을 특징으로 하는 동기신호 검출장치.
  3. 제 2 항에 있어서, 상기 반사면은 평면 및 실린더면 형상 중의 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 동기신호 검출장치.
  4. 제 2 항에 있어서, 상기 입사면은 구면 및 실린더면 형상 중의 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 동기신호 검출장치.
  5. 제 2 항에 있어서, 상기 출사면은 구면 및 실린더면 형상 중의 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 동기신호 검출장치.
  6. 제 1 항에 있어서, 상기 광 플럭스 검출 경로는 상기 광원에서 방출된 광 플럭스를 편향시키는 광 편향기에서 편향된 광 플럭스의 오차를 보정하는 주사렌즈를 포함하는 것을 특징으로 하는 동기신호 검출장치.
  7. 제 1 항에 있어서, 상기 광 플러스 검출 경로는 상기 광원에서 방출된 광 플럭스를 편향시키는 광 편향기에서 편향된 광 플럭스의 오차를 보정하는 주사렌즈를 포함하지 않는 것을 특징으로 하는 동기신호 검출장치.
  8. 감광체상에 정전잠상을 형성하는 레이저 빔의 일부경로 상에 배치된 반사미러, 상기 반사미러에서 반사되는 레이저 빔을 수렴 또는 발산하는 레이저 빔 검출 렌즈, 및 상기 레이저 빔 검출 렌즈를 통과한 레이저 빔을 검출하여 정전잠상이 맺히는 시작위치를 일정하게 동기시키기 위한 동기신호를 발생하는 빔 검출 센서를 포함하는 광주사장치의 동기신호 검출장치에 있어서,
    상기 반사 미러와 상기 빔 검출 렌즈는 서로 일체로 형성된 것을 특징으로 하는 동기신호 검출장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 반사 미러는 상기 빔 검출 렌즈의 일면에 부착되며;
    상기 빔 검출 렌즈의 타면은 상기 반사 미러에 레이저 빔을 입사하는 입사면과 상기 반사 미러에서 반사되는 레이저 빔을 상기 레이저 빔 검출 센서의 감지영역으로 출사하는 출사면을 포함하는 것을 특징으로 하는 동기신호 검출장치.
  10. 제 9 항에 있어서, 상기 반사 미러는 평면 및 실린더면 형상 중의 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 동기신호 검출장치.
  11. 제 9 항에 있어서, 상기 입사면은 구면 및 실린더면 형상 중의 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 동기신호 검출장치.
  12. 제 9 항에 있어서, 상기 출사면은 구면 및 실린더면 형상 중의 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 동기신호 검출장치.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100611976B1 (ko) * 2004-04-12 2006-08-11 삼성전자주식회사 주사 광학장치 및 동기 신호 검출방법

Families Citing this family (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8103496B1 (en) 2000-10-26 2012-01-24 Cypress Semicondutor Corporation Breakpoint control in an in-circuit emulation system
US8176296B2 (en) 2000-10-26 2012-05-08 Cypress Semiconductor Corporation Programmable microcontroller architecture
US8160864B1 (en) 2000-10-26 2012-04-17 Cypress Semiconductor Corporation In-circuit emulator and pod synchronized boot
US6724220B1 (en) 2000-10-26 2004-04-20 Cyress Semiconductor Corporation Programmable microcontroller architecture (mixed analog/digital)
US8149048B1 (en) 2000-10-26 2012-04-03 Cypress Semiconductor Corporation Apparatus and method for programmable power management in a programmable analog circuit block
US7406674B1 (en) 2001-10-24 2008-07-29 Cypress Semiconductor Corporation Method and apparatus for generating microcontroller configuration information
US8078970B1 (en) 2001-11-09 2011-12-13 Cypress Semiconductor Corporation Graphical user interface with user-selectable list-box
US8042093B1 (en) 2001-11-15 2011-10-18 Cypress Semiconductor Corporation System providing automatic source code generation for personalization and parameterization of user modules
US7844437B1 (en) 2001-11-19 2010-11-30 Cypress Semiconductor Corporation System and method for performing next placements and pruning of disallowed placements for programming an integrated circuit
US8069405B1 (en) 2001-11-19 2011-11-29 Cypress Semiconductor Corporation User interface for efficiently browsing an electronic document using data-driven tabs
US6971004B1 (en) 2001-11-19 2005-11-29 Cypress Semiconductor Corp. System and method of dynamically reconfiguring a programmable integrated circuit
US7770113B1 (en) 2001-11-19 2010-08-03 Cypress Semiconductor Corporation System and method for dynamically generating a configuration datasheet
US7774190B1 (en) 2001-11-19 2010-08-10 Cypress Semiconductor Corporation Sleep and stall in an in-circuit emulation system
US8103497B1 (en) 2002-03-28 2012-01-24 Cypress Semiconductor Corporation External interface for event architecture
US7308608B1 (en) 2002-05-01 2007-12-11 Cypress Semiconductor Corporation Reconfigurable testing system and method
US7761845B1 (en) 2002-09-09 2010-07-20 Cypress Semiconductor Corporation Method for parameterizing a user module
US7295049B1 (en) 2004-03-25 2007-11-13 Cypress Semiconductor Corporation Method and circuit for rapid alignment of signals
US7480082B2 (en) * 2004-03-31 2009-01-20 Carestream Health, Inc. Radiation image scanning apparatus and method
US8286125B2 (en) 2004-08-13 2012-10-09 Cypress Semiconductor Corporation Model for a hardware device-independent method of defining embedded firmware for programmable systems
US8069436B2 (en) 2004-08-13 2011-11-29 Cypress Semiconductor Corporation Providing hardware independence to automate code generation of processing device firmware
CN100397249C (zh) * 2004-11-29 2008-06-25 光宝科技股份有限公司 激光打印装置的图像校正装置及其操作方法
US7332976B1 (en) 2005-02-04 2008-02-19 Cypress Semiconductor Corporation Poly-phase frequency synthesis oscillator
US7400183B1 (en) 2005-05-05 2008-07-15 Cypress Semiconductor Corporation Voltage controlled oscillator delay cell and method
US8089461B2 (en) 2005-06-23 2012-01-03 Cypress Semiconductor Corporation Touch wake for electronic devices
JP4238866B2 (ja) * 2005-11-28 2009-03-18 コニカミノルタビジネステクノロジーズ株式会社 画像形成装置
US8085067B1 (en) 2005-12-21 2011-12-27 Cypress Semiconductor Corporation Differential-to-single ended signal converter circuit and method
US8067948B2 (en) 2006-03-27 2011-11-29 Cypress Semiconductor Corporation Input/output multiplexer bus
US7737724B2 (en) 2007-04-17 2010-06-15 Cypress Semiconductor Corporation Universal digital block interconnection and channel routing
US8040266B2 (en) 2007-04-17 2011-10-18 Cypress Semiconductor Corporation Programmable sigma-delta analog-to-digital converter
US9564902B2 (en) 2007-04-17 2017-02-07 Cypress Semiconductor Corporation Dynamically configurable and re-configurable data path
US8516025B2 (en) 2007-04-17 2013-08-20 Cypress Semiconductor Corporation Clock driven dynamic datapath chaining
US8092083B2 (en) 2007-04-17 2012-01-10 Cypress Semiconductor Corporation Temperature sensor with digital bandgap
US8026739B2 (en) 2007-04-17 2011-09-27 Cypress Semiconductor Corporation System level interconnect with programmable switching
US8130025B2 (en) 2007-04-17 2012-03-06 Cypress Semiconductor Corporation Numerical band gap
US8266575B1 (en) 2007-04-25 2012-09-11 Cypress Semiconductor Corporation Systems and methods for dynamically reconfiguring a programmable system on a chip
US8065653B1 (en) 2007-04-25 2011-11-22 Cypress Semiconductor Corporation Configuration of programmable IC design elements
US9720805B1 (en) 2007-04-25 2017-08-01 Cypress Semiconductor Corporation System and method for controlling a target device
US8049569B1 (en) 2007-09-05 2011-11-01 Cypress Semiconductor Corporation Circuit and method for improving the accuracy of a crystal-less oscillator having dual-frequency modes
US9448964B2 (en) 2009-05-04 2016-09-20 Cypress Semiconductor Corporation Autonomous control in a programmable system
CN109689376A (zh) * 2016-07-08 2019-04-26 托卡诺控股有限公司 具有改进的打印质量控制的打印装置
WO2018092830A1 (ja) * 2016-11-17 2018-05-24 キヤノン株式会社 光学走査装置及び画像形成装置
JP2018146615A (ja) * 2017-03-01 2018-09-20 コニカミノルタ株式会社 画像書込装置及び画像形成装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4720632A (en) * 1985-01-25 1988-01-19 Ricoh Co., Ltd. Synchronizing light beam detector
JPH08334716A (ja) * 1995-06-08 1996-12-17 Asahi Optical Co Ltd 反射型光走査装置
JPH09120034A (ja) * 1995-10-24 1997-05-06 Canon Inc マルチビーム走査光学装置
JP3506840B2 (ja) * 1996-04-20 2004-03-15 株式会社リコー 画像形成装置の走査光学系
JP2001033716A (ja) * 1999-07-16 2001-02-09 Canon Inc 偏向走査装置
US6476955B1 (en) * 1999-09-13 2002-11-05 Canon Kabushiki Kaisha Multi-beam scanning optical system and image forming apparatus using it

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100611976B1 (ko) * 2004-04-12 2006-08-11 삼성전자주식회사 주사 광학장치 및 동기 신호 검출방법

Also Published As

Publication number Publication date
CN1506713A (zh) 2004-06-23
KR100456021B1 (ko) 2004-11-08
US6825869B2 (en) 2004-11-30
US20040114029A1 (en) 2004-06-17

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